显微薄膜测厚仪

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显微薄膜测厚仪相关的厂商

  • 青岛显微科技有限公司总部位于青岛,主营洛氏硬度计,布氏硬度计,里氏硬度计,维氏硬度计,显微维氏硬度计,超声波硬度计,金相显微镜,金相切割机,金相镶嵌机,金相磨抛机,金相预磨机,光谱仪,探伤仪,粗糙度仪,测厚仪,影像仪等产品。公司秉承 “规范化、专业化、人性化”的发展道路,信守“客户为尊,诚信为本,创新为魂”的经营之道,专注于产品创新和品牌打造。 公司客户涵盖农林、医疗、刑侦、航天、航空、船舶、军工、机械、冶金、电力、石化、地质等行业,在高等院校、科研院所、工矿企业、工业材料、军工系统、精密仪器制造等领域具有相当的知名度与影响力。我们不仅致力于为不同领域的用户提供产品,而且更着重于为客户提供整套的的实验室解决方案。 青岛显微科技有限公司响应“中国制造2025”强国战略的号召,以先进的设计思路、精湛的制作工艺和强大的科研实力,为中国制造业的提升和“中国梦”的实现做出自己的贡献。公司愿景:成为客户信赖的企业。企业使命:让客户享受技术创新带来的便利,为客户提供高性价比的产品和服务。核心价值观:诚实守信,以人为本,成就客户。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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  • 全国免费销售咨询热线:400-630-7761公司官网:https://www.leica-microsystems.com.cn/徕卡显微系统(Leica Microsystems)是德国著名的光学制造企业。具有160年显微镜制造历史,现主要生产显微镜, 用户遍布世界各地。早期的“Leitz”显微镜和照相机深受用户爱戴, 到1990年徕卡全部产品统一改为“Leica”商标。徕卡公司是目前同业中唯一的集显微镜、图像采集产品、图像分析软件三位一体的显微镜生产企业。公历史及荣誉产品1847年 成立光学研究所 1849年 生产出第一台工业用显微镜 1872年 发明并生产出第一台偏光显微镜 1876年 生产出第一台荧光显微镜 1881年 生产出第一台商用扫描电镜 1887年 生产出第10,000台 1907年 生产出第100,000台 1911年 世界上第一台135照相机 1921年 第一台光学经纬仪 1996年 第一台立体荧光组合 2003年 美国宇航局将徕卡的全自动显微镜随卫星送入太空,实现地面遥控 2005年推出创新的激光显微切割系统:卓越的宽带共聚焦系统。内置活细胞工作站: 2006年组织病理学网络解决方案:徕卡显微系统公司第三次获得“Innovationspreis”(德国商业创新奖): 2007年徕卡 TCS STED 光学显微镜的超分辨率显微技术超越了极限。 徕卡显微系统公司新成立生物系统部门:推出电子显微镜样本制备的三种新产品 2008年徕卡显微系统公司成为总部设于德国海德堡的欧洲分子生物学实验室 (EMBL) 高级培训中心的创始合作伙伴。徕卡 TCS SP5 X 超连续谱共聚焦显微镜荣获2008年度《科学家》杂志十大创新奖。徕卡显微系统公司凭借 FusionOptics 融合光学技术赢得 PRODEX 奖项,该技术能够形成高分辨率、更大景深、3D效果更佳的图像。推出让神经外科医生看得更清楚、更详细的徕卡 M720 OH5 小巧的神经外科显微镜, 2009年新一代光学显微镜取得独家许可证:Max Planck Innovation 为徕卡显微系统的全新 GSDIM(紧随基态淬灭显微技术的单分子返回)超分辨率技术颁发独家许可证。 2010年远程医疗服务概念奖:徕卡显微系统公司在年度互联世界大会上获得 M2M 价值链金奖,Axeda Corporation 被誉为徕卡获得此奖项的一大助力。Kavo Dental 和徕卡显微系统在牙科显微镜领域开展合作。Frost & Sullivan 公司颁发组织诊断奖:徕卡生物系统公司获得研究和咨询公司 Frost & Sullivan 颁发的北美组织诊断产品战略奖。 2011年学习、分享、贡献。 科学实验室 (Science Lab) 正式上线:徕卡生物系统(努斯洛赫)公司荣获2011年度卓越制造 (MX) 奖:徕卡生物系统公司获得2011年度“客户导向”类别的卓越制造奖。 2012年徕卡显微系统公司总部荣获2012年度卓越制造奖:位于德国韦茨拉尔的徕卡显微系统运营部门由于采用看板管理体系而荣获“物流和运营管理”卓越制造奖。徕卡 GSD 超分辨率显微镜获得三项大奖:《R&D》杂志为卓越技术创新颁发的百大科技研发奖、相关的三项“编辑选择奖”之一、美国杂志《今日显微镜》(Microscopy Today) 颁发的2012度十大创新奖。 2013年徕卡 SR GSD 3D 超分辨率显微镜获奖徕卡生物系统公司和徕卡显微系统公司巩固在巴西的市场地位:收购合作超过25年的经销商 Aotec,推动公司在拉丁美洲的发展。 2014年超分辨率显微镜之父斯特凡黑尔 (Stefan Hell) 荣获诺贝尔奖:斯特凡黑尔因研制出超分辨率荧光显微镜而荣获诺贝尔化学奖。 他与徕卡显微系统公司合作,将该原理转化为第一款商用 STED 显微镜。徕卡 TCS SP8 STED 3X 荣获两大奖项:《科学家》杂志十大创新奖和《R&D》杂志百大科技研发奖均将超分辨率显微镜评定为改变生命科学家工作方式的创新成果之一。日本宇宙航空研究开发机构的宇航员若田光一 (Koichi Wakata) 使用徕卡 DMI6000 B 研究用倒置显微镜在国际空间站进行了活细胞实验。 2015年首台结合光刺激的高压冷冻仪是一项非常精确的技术徕卡显微系统公司收购光学相干断层扫描 (OCT) 公司 Bioptigen: 2016年徕卡显微系统公司独家获得了哥伦比亚大学 SCAPE 生命科学应用显微技术许可证,同时独家获得了伦敦帝国理工学院 (Imperial College) 的斜面显微镜 (OPM) 许可证。徕卡 EZ4 W 教育用体视显微镜获得世界教具联合会 (Worlddidac) 大奖:新的图像注入技术可引导外科医生进行手术:CaptiView 技术可将来自图像导航手术 (IGS) 软件的图像注入显微镜目镜。 2017年全新 SP8 DIVE 系统的推出,徕卡显微系统公司提供了世界上首个可调光谱解决方案,可实现多色、多光子深层组织成像。 徕卡的 DMi8 S 成像解决方案将速度提高了5倍,并将可视区域扩大了1万倍。为获得超分辨率和纳米显微成像而添加的 Infinity TIRF 模块能够以单分子分辨率同时进行多色成像, 由此开启宽视场成像的新篇章。 2018年LIGHTNING 从以前不可见或不可探测的精细结构和细节中提取有价值的图像信息,将传统共焦范围以内和衍射极限以外的成像能力扩展到120纳米。SP8 FALCON(快速寿命对比)系统的寿命对比记录速度比以前的解决方案快10倍。 细胞培养实验室的日常工作实现数字化PAULA(个人自动化实验室助手)有助于加快执行日常细胞培养工作并将结果标准化快速获取阵列断层扫描的高质量连续切片ARTOS 3D ,标志着超薄切片机切片质量和速度的新水平。随着 PROvido 多学科显微镜的推出,徕卡显微系统公司在广泛的外科应用中增强了术中成像能力。 2019年实现 3D 生物学相关样本宽视场成像THUNDER 成像系统使用户能够实时清晰地看到生物学相关模型(例如模式生物、组织切片和 3D 细胞培养物)厚样本内部深处的微小细节。 2020年STELLARIS是一个经彻底重新设计的共聚焦显微镜平台,可与所有徕卡模块(包括FLIM、STED、 DLS和CRS)结合使用。术中光学相干断层扫描(OCT)成像系统EnFocus 2021年Aivia以显微镜中的自动图像分析推动研究工作,强大的人工智能(AI)引导式图像分析与可视化解决方案相结合,助力数据驱动的科学探索。Cell DIVE超多标组织成像分析整体解决方案是基于抗体标记的超多标平台,适用于癌症研究。Emspira 3数码显微镜——启发灵感的简单检查方法该系统荣获2022年红点产品设计大奖, 不仅采用创新的模块化设计,而且提供广泛的配件和照明选项。2022年Mica——徕卡创新推出的多模态显微成像分析中枢,让所有生命科学研究人员都能理解空间环境LAS X Coral Cryo:基于插值的三维目标定位,沿着x轴和y轴对切片进行多层扫描(z-stack)。这些标记可在所有相关窗口中交互式移动具有高精度共聚焦三维目标定位功能的Coral Cryo工作流程解决方案徕卡很自豪能成为丹纳赫的一员:丹纳赫是全球科学与技术的创新者,我们与丹纳赫在生物技术、诊断和生命科学领域的其他业务共同释放尖端科学和技术的变革潜力,每天改善数十亿人的生活。
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显微薄膜测厚仪相关的仪器

  • 仪器介绍:广州标际所生产的高端测厚仪,测厚仪,薄膜测厚仪适用于包装薄膜,片材等的氧气透过率的检测。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪功能用途GH-D型数字测厚仪是一种集光、机、电、算为一体的高精度数字测厚仪,操作方便。测量结果为数字显示。并且可以连接计算机进行自动控制。主要用于对塑料薄膜,纸张等直接测量或比较测量。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪产品特点测量精确,运行可靠,测量分辨率高达0.1微米;支持手动、自动双重测量模式;可单点测试也可多点测试自动进样间距、测量点数可调;液晶显示,可微机打印测试结果;测量过程即时显示最大值、最小值、平均值及当前值 可连接计算机,专业软件支持(可选)。 高端测厚仪_测厚仪_薄膜测厚仪技术参数测量范围:0~5mm分 辨 率:0.1&mu m进样间距:0~1000mm测量点数:0~10点
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  • SGC-10薄膜测厚仪 400-860-5168转1374
    产品简介:SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,是与美国new-span公司合作研制的,采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。产品型号SGC-10薄膜测厚仪主要特点1、非接触式测量,用光纤探头来接收反射光,不会破坏和污染薄膜;2、测量速度快,测量时间为秒的量级;3、可用来测薄膜厚度,也可用来测量薄膜的折射率n和消光吸收k;4、可测单层薄膜,还可测多层膜系;5、可广泛应用于各种介质,半导体,液晶等透明半透明薄膜材料;6、软件的材料库中整合了大量材料的折射率和消光系数,可供用户参考;7、内嵌微型光纤光谱仪,结构紧凑, 光纤光谱仪也可单独使用。8、强大的软件功能:界面友好,操作简便,用户点击几下鼠标就可以完成测量。便捷快速的保存、读取测量得到的反射谱数据数据处理功能强大,可同时测量多达四层的薄膜的反射率数据。一次测量即可得到四层薄膜分别的厚度和光学常数等数据。材料库中包含了大量常规的材料的光学常数数据。用户可以非常方便地自行扩充材料数据库。9、仪器具有开放性设计,仪器的光纤探头可很方便地取出,通过仪器附带的光纤适配器(如图所示)连接到带C-mount适用于微区(10μm,与显微镜放大率有关)薄膜厚度的显微镜(显微镜需另配),就可以使本测量仪测量。技术参数1、厚度范围: 20nm-50um(只测膜厚),100nm-25um(同时测量膜厚和光学常数n,k),根据薄膜材料的种类,其范围有所不同。2、准确度: 1nm或0.5%3、重复性: 0.1nm4、波长范围: 380nm-1000nm5、可测层数: 1-4层6、样品尺寸: 样品镀膜区直径1.2mm7、测量速度: 5s-60s8、光斑直径: 1.2mm-10mm可调9、样品台: 290mm*160mm10、光源: 长寿命溴钨灯(2000h)11、光纤: 纯石英宽光谱光纤12、探测器: 进口光纤光谱仪13、电源:AC110V-240V,50HZ-60HZ产品规格尺寸:300mm*300mm*350mm,重量:18kg
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  • 薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪_高精度保鲜膜测厚仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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显微薄膜测厚仪相关的资讯

  • 天津港东SGC-10型薄膜测厚仪新品发布
    SGC-10薄膜测厚仪,适用于介质,半导体,薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪,由我公司与美国new-span公司合作研制,填补了国内多项空白。该产品采用new-span公司先进的薄膜测厚技术,基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数(折射率n,消光系数k)。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱,用相应的软件来拟合运算,得到单层或多层膜系各层的厚度d,折射率n,消光系数k。该设备关键部件均为国外进口,也可根据客户需要整机进口。详细信息可直接登录我公司网站www.tjgd.com 。或者来电咨询 022-83711190 。
  • Coatmaster发布 手持非接触式湿膜测厚仪新品
    这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化,其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度,避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用,并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理,测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯,测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试,Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制,可用于金属,塑料,橡胶,木材,碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外,也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计,易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量(不含电池)1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点:Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器,解决了传统涂层喷涂厚度测试中,需要接触测试(会破坏涂层表面)以及无法测量复杂表面的工件(如拐角、边角、曲面等),无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理,测量时无需与涂层表面接触,不受基材材质的影响,且不受涂层的颜色影响,可实现即时测量,并得出读数,即可实现涂层喷涂厚度的即时检测,修正喷涂厚度不良的问题,缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。
  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml

显微薄膜测厚仪相关的方案

显微薄膜测厚仪相关的资料

显微薄膜测厚仪相关的试剂

显微薄膜测厚仪相关的论坛

  • 薄膜测厚仪的知识你知道吗?

    薄膜测厚仪的知识你知道吗?

    随着科技的发展,市场上出现了很多高科技的产品,随着各式各样的产品出现,对我们生活、工作中带来巨大的影响,下面小编要为大家普及薄膜测厚仪知识,希望能给您带来帮助!  薄膜测厚仪的应用范围很广,可以进行诸多产品的测量,所以,它被广泛应用于各个行业;在产品检测方面有着非常突出的应用,有时候可以超乎人们的想象,有些没有使用过它的工作者,从它的身上得到了非常多的好处。有了它,能够提高用户的检测效率,使得生产工作进一步加快,建议那些还没有尝试过的客户,可以去尝试一下,应该会得到很有效的帮助。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/04/201604051141_589010_3085714_3.jpg  薄膜测厚仪帮助实现高精度的测量,就算是非接触式的测量也可以,大家都知道,在某些行业进行精确测量是非常重要的一件事情,更好的产品由此而生,测量出了偏差,一切就都不行了。大成精密薄膜测厚仪作为专门检测产品厚度的设备,它在这方面的能力就非常强,可以实现高效的检测服务。  薄膜测厚仪的出现,大大提高了产品的生产效益,尤其是在自动化生产线上,如此高科技又好用的设备,如果你的车间还没有配备相关的设备,建议大家为提高生产为检测车间配备一台测厚仪,时代在前进,使用高效的设备,打造更好的产品,这才是保证不落后的方法。

  • 在线薄膜测厚仪,求购

    求购在线薄膜测厚仪,做压敏胶带用。现在有八条线,薄膜厚度25u,涂层厚度25u。大家有没有推荐的。

  • 【原创】薄膜测厚仪

    【原创】薄膜测厚仪

    电容性薄膜测厚仪 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646126_2244676_3.jpg 名称属性 测厚仪组成部分发射探头 1个接受探头 1个电脑控制转换器 1个工业触摸屏 1个操作柜 1台U型探头支架 1个技术指标检测厚度: 10um-20mm检测精度:土0.1um检测宽度:根据产品宽度循环测厚设定在线速度 max:60m\min作业环境海拔低于1500米,三相380v电。适用于POF、牛奶包装膜、彩印膜、大棚膜等各类薄膜产品。

显微薄膜测厚仪相关的耗材

  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米;波长范围:200-1100nm精度:0.5%分辨率:0.02nm光源:使用显微镜光源光斑大小:由显微镜物镜决定计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:120x120x120mm重量:1.2kg薄膜厚度测试仪配件应用测量薄膜吸收率,透过率测量化学薄膜和生物薄膜测量光电子薄膜结构测量半导体制造聚合物测量在线测量光学镀膜测量
  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量(n, k)的变化。为了这种特色的测量,孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法,使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标:例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg),热分解温度,薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元,使用白光反射光谱技术(WLRS),实时测量薄膜厚度和折射率,并通过专业软件记录下这些数据,能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据,并且能够控制薄膜加热和制冷的速度,是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究,例如:薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究,薄膜光学性质随温度的变化,薄膜预烘烤Post Apply Bake,光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量,这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的,背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks,给出两个参数:例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能,光刻薄膜的热处理影响分析,Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 5nm-150微米;波长范围:200-1100nm 精度:0.5%分辨率:0.02nm 测量点光斑大小:0.5mm可测样品大小:10-100mm计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:360x400x180mm重量:13.5kg 电力要求:110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量,传感测量光电子薄膜结构测量半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
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