影像校正光栅仪

高性能影像校正光谱仪 OmniEvo&ldquo 谱王&rdquo OmniEvo光谱仪是卓立汉光最新推出的将自有的&ldquo 谱王&rdquo 系列（Omni-&lambda 180i）影像校正光栅光谱仪与英国Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代高性能光谱仪产品，充分发挥了&ldquo 谱王&rdquo 系列产品顶尖的光学分光性能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能，具有极高的性价比，是进行荧光、拉曼光谱实验的最佳选择之一。成熟的光学设计能力 OmniEvo高性能光谱仪的光学设计，均采用经典的C-T结构，并结合公司多年的研发经验加以改进，在光学分辨率、通光效率和杂散光抑制等各项关键指标上达到完美的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-&lambda 180i型影像校正光谱仪，更是国内首款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪，其性能达到了国际一流水平。全进口光栅 OmniEvo光谱仪完全采用进口光栅（Newport公司生产），高质量的光栅确保了仪器的光谱性能指标。高灵敏的弱光探测能力OmniEvo高性能光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件，在400-1000nm范围内进行了响应度优化，最高的量子效率达到60%；芯片的制冷温度达到了-60℃，使得其读出噪声仅为6.2e/count，因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更低至-100℃的背感光CCD可选，噪声更低，峰值量子效率高达80%以上；还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器，可用于近红外波段的光谱信号探测。 灵活的光输入结构选择OmniEvo高性能光谱仪采用的是标准的狭缝入口，开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择；通过可以选配光纤作为光输入附件，既可用于单点测量，也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。

Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪功能及特点光谱范围广，灵敏度高，测量精度高；优良的机械和温度稳定性，绝对保证产品的一致性；预留各种接口，兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能，方便集成到系统中 成本低，操作简单，是OEM应用的理想选择 采用超环面影像校准设计，光谱影像校正， 多通道光谱研究的*佳解决方案；出色的杂散光抑制比（5X10-5）；双光栅塔台设计，覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围，即插即用，只需零级校正，实验操作更加方便；多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选多种附件可选，包括：滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等；可与光源、探测器自由组合，实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。规格参数表（@1200g/mm光栅）Omni-λ200i系列焦距（mm）200相对孔径F/3.5光学结构C-T扫描步距（nm）0.01杂散光5X10-5焦平面(mm)30 (w)X14 (h)光轴高度（mm）146光栅规格mm50X50光栅台双光栅狭缝规格缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选外形尺寸（mm）300X216X213重量（Kg）14功耗峰值100W@24V通讯接口标配USB2.0规格参数表@不同光栅光栅（g/mm）24001800120060030015075倒线色散(nm/mm)@435.83nm 1.4 2.16 3.58 7.68 15.76 31.89 64.09机械扫描范围（nm）0-6000-8000-12000-24000-48000-96000-19200扫描步距（nm）0.0050.0070.010.020.040.080.16光谱分辨率（nm）@PMT 0.08 0.1 0.15 0.3 0.6 1.2 2.4光谱分辨率（nm）@CCD（15um） 0.106 0.163 0.27 0.58 1.19 2.41 4.84CCD单次摄谱范围（nm）@30mmCCD 42 64.8 107.4 230.4 472.8 956.7 1922.7波长准确度（nm）±0.1±0.14±0.2±0.4±0.8±1.6±3.2波长重复性（nm）0.050.070.10.20.40.81.6注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；注2：200i光谱仪，只有侧入口，且CCD只能配置侧出口 注3：CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱 范围变窄；注4：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小；随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪典型型号表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2015i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜Omni-λ2017i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜Omni-λ2045i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜Omni-λ2047i200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；注2：本型号系列，需要额外选配光栅，*多可配置2块光栅；注3：本型号系列，不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。典型光谱仪Omni-λ2003i外形尺寸图：Omni-λ200i入口Omni-λ200i出口 光栅规格型号表5：光栅（本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪）注：凡蓝色的标注的均为常备库存光栅，建议优先选择型号使用范围（nm）光栅刻线（g/mm）闪耀波长（nm）规格尺寸（mm）9-240-240-NP190-600240024050X509-180-400-NP300-800180040050X509-120-300-NP200-600120030050X509-120-500-NP350-1100120050050X509-060-300-NP200-60060030050X509-060-500-NP330-100060050050X509-060-750-NP500-150060075050X509-060-1200-NP800-2400600120050X509-030-300-NP200-60030030050X509-030-500-NP300-100030050050X509-030-1000-NP600-2000300100050X509-030-2000-NP1400-4000300200050X509-030-3000-NP2000-4800300300050X509-015-500-NP330-110015050050X509-015-800-NP400-160015080050X509-015-1000-NP600-2000150100050X509-015-1250-NP800-2500150125050X509-015-2000-NP1100-4000150200050X509-015-3000-NP2200-6000150300050X509-015-4000-NP2500-8000150400050X50光栅规格型号表6：经济型光栅（本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪）注：凡蓝色的标注的均为常备库存光栅，建议优先选择型号使用范围（nm）光栅刻线（g/mm）闪耀波长（nm）规格尺寸（mm）9-120-300200-600120030050X509-120-500350-1100120050050X509-060-300200-60060030050X509-060-500330-100060050050X509-060-750500-150060075050X509-060-1250800-2400600125050X509-030-500330-100030050050X509-030-750450-150030075050X509-030-1250850-2500300125050X509-015-500330-110015050050X509-015-1000600-2000150100050X50典型光栅效率曲线

“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点：1.180mm，320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高 了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；3.多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；4.光栅采用40×40mm或68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；5.适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；6.更好的杂散光抑制比，达到1×10-5；7.仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；9.可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；10.电子快门可选；11.自动狭缝可选；规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）：Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，10，14mm可选光栅尺寸(mm)40×4068×68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

“影像谱王”系列光栅单色仪/光谱仪功能及特点： 1.320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高 了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；3.多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；4.光栅采用68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；5.适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；6.更好的杂散光抑制比，达到1×10-5；7.仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；9.可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；10.电子快门可选；11.自动狭缝可选；“影像谱王”系列光栅光谱仪规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）：　Omni-λ300iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)320500750相对孔径f/4.2f/6.5f/9.7光学结构C-T光谱范围200nm-22um（根据合适的光栅）机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.210.150.09倒线色散(nm/mm)2.31.71.1波长准确度(nm)±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.08±0.01扫描步距(nm)0.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，14mm可选光栅尺寸(mm)68×68光栅台三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪 特点n 光谱范围广，灵敏度高，测量精准度高；n 优良的机械和温度稳定性，绝对保证产品的一致性；n 预留各种接口，兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能，方便集成到系统中 n 成本低，操作简单，是OEM应用的理想选择 n 采用超环面影像校准设计，光谱影像校正，多通道光谱研究的最佳解决方案n 出色的杂散光抑制比（1*10-5）n 双光栅塔轮设计，覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围，即插即用，只需零级校正，实验操作更加方便；n 多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选n 多种附件可选，包括：滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等n 可与光源、探测器自由组合，实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。 Mercury Light Source 435.83 nmFWHM: 0.15 nmPeak wavelength: 435.80 nmGrating: 1200 l/mm, Blaze@300 nm Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪规格参数表（@1200g/mm光栅）Omni-λ200i焦距（mm）200相对孔径f/3.5光学结构C-T分辨率(nm)-PMT0.15分辨率(nm)-CCD(26um)0.28倒线色散(nm/mm)3.6波长准确度(nm)±0.2波长重复性(nm)±0.1扫描步距(nm)0.01杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×14 (h)光轴高度(mm)146狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，14mm可选光栅尺寸(mm)50×50光栅台双光栅外形尺寸(mm)300×216×213重量(Kg)14通讯接口USB2.0 光路示意图 Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪选型表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正单色仪，侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正单色仪，侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正单色仪，侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正单色仪，侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅光谱仪内部光学元件可实现镀银、镀金或紫外增强处理等特殊要求，欢迎洽询。 CCD单次摄谱范围型号光栅（g/mm）倒线色散（nm/mm）分辨率(nm)-CCD（26um）分辨率(nm)-PMT 单次摄谱范围(nm)@ 30mm CCDOmni-λ200i360010.10.053024001.40.140.084218002.160.20.16412003.60.280.151089004.960.40.21486007.680.560.323030015.771.120.647315031.892.241.2956★表中3600刻线光栅计算值对应的参考波长为253.65nm，其余刻线光栅计算值对应的参考波长为435.83nm。光栅选型表ModelRange(nm)Grooves(g/mm)Blaze(nm)Size(mm)9-360-180-500-NP180-4003600300（全息）50×509-240-250-800-NP250-6002400300（全息）50×509-240-190-800-NP190-6002400250（全息）50×509-200-300-900-NP300-7202000475（全息）50×509-180-350-900-NP350-8001800500（全息）50×509-180-190-900-NP190-8001800250（全息）50×509-120-190-800-NP190-8001200250（全息）50×509-120-400-1200-NP400-12001200700（全息）50×509-240-240-NP190-600240024050×509-240-300-NP250-600240030050×509-180-400-NP300-800180040050×509-180-500-NP350-800180050050×509-120-250-NP200-500120025050×509-120-300-NP200-600120030050×509-120-400-NP200-1000120040050×509-120-500-NP330-11001200 50050×509-120-750-NP500-1200120075050×509-090-550-NP350-160090055050×509-083-1200-NP700-1700830120050×509-060-300-NP200-60060030050×509-060-500-NP330-1000600 50050×509-060-750-NP500-1500600 75050×509-060-1000-NP650-2200600100050×509-060-1200-NP800-2400600120050×509-060-1600-NP1000-2400600160050×509-030-300-NP200-60030030050×509-030-500-NP300-100030050050×509-030-760-NP450-150030076050×509-030-1000-NP600-2000300100050×509-030-1200-NP800-2200300120050×509-030-2000-NP1400-4000300 200050×509-030-3000-NP2000-4800300300050×509-015-300-NP200-60015030050×509-015-500-NP330-110015050050×509-015-800-NP400-160015080050×509-015-1000-NP600-2000150109050×509-015-1250-NP800-2500150125050×509-015-2000-NP1100-4000150200050×509-015-3000-NP2200-4000150300050×509-015-4000-NP2500-8000150400050×509-0075-8000-NP6000-1600075800050×509-0075-10000-NP6000-18000751000050×509-0070-12000-NP9000-20000751200050×509-0050-12000-NP8000-22000501200050×50 Omni-λ200i 光谱仪入口配件选型： Omni-λ200i 光谱仪出口配件选型： 附件选型表型号描述SD25六档滤光片轮，不含滤光片，可安装滤光片直径：25mmEMSLIT电动狭缝-入射缝OMSLIT电动狭缝-出射缝BFC-441光谱仪光纤束连接器（13mm直径接口）BFC-442光谱仪光纤束连接器（SMA905接口）BFC-443光谱仪光纤束连接器（10mm直径接口）BFC-447谱仪-光纤连接器（适合13mm圆柱接口，10mm圆柱接口，SMA905接口）SHT-9002侧入口可接电子快门 Omni-λ200i“影像谱王”系列光栅光谱仪外观尺寸图

功能及特点● 180mm，320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；● 光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；● 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；● 光栅采用40× 40mm或68× 68mm（68× 84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；● 适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；● 更好的杂散光抑制比，达到1× 10-5；● 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；● 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；● 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等。● 电子快门可选● 自动狭缝可选 规格参数表（@1200g/mm光栅条件下） 　Omni-&lambda 180iOmni-&lambda 320iOmni-&lambda 500iOmni-&lambda 750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26&mu m)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)± 0.2± 0.15± 0.1波长重复性(nm)± 0.1± 0.08± 0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1× 10-5焦面尺寸(mm)30(w)× 10(h)30(w)× 14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，10，14mm可选光栅尺寸(mm)40× 4068× 68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

ImSpector系列光谱仪是一种以透射光栅为分光元件的成像光谱仪；通过将这种成像光谱仪附加到CCD相机前，可通过空间扫描获得目标物的影像和连续的光谱信息。 ImSpector系列成像光谱仪，采用高集成度的机械设计，配合绝对的影像修正光学设计，真正可实现无光学像差的成像，同时设计中考虑最佳的光通效率，既满足实验室的使用性能，同时也能够满足工业在线的长期使用的稳定性需求。 ImSpector系列成像光谱仪的入射端采用狭缝设计，并采用独创的全密封式设计，可保证在实际使用中不会因为环境的灰尘等影响光谱仪的内部光学元件，确保仪器的长期正常使用；出射端采用标准的C型接口或U型接口，可与各种标准C型或U型CCD相机直接接配。 根据ImSpector-成像光谱仪的功能，有标准版、增强版及快速版等多个版本可供选择；根据所覆盖的光谱范围，有如下分类：适用光谱范围可选型号VNIR400-1000nmV10H, V10M,V10, V10E, NIR900-1700nmN17ESWIR1000-2500nmN25EMWIR3.0~5.0umM50M Imspector光栅分光模组高光谱成像应用：1、实验室研究（农产品表面检测、人体表面检测、包装材料表面检测等）2、产品在线检测（如显示器、纺织业、药品、酒类、印刷、染料、太阳能电池片）3、生医上的研究（如荧光检测、生物芯片穿透率量测）4、建筑古迹上的鉴定、真钞假钞辨识、真画假画的辨别、桥梁盐分的检测5、环保上的应用（如垃圾分类、海洋上漏油的分析、塑料材料分类）6、农业上的检测（可以观测喷洒农药前后的比较）7、航空遥感（如地形、地表、地貌） Imspector光栅分光模组一、可见近红外波段版本： 可见近红外版本包括400-1000nm，350-1000nm，600-1600nm等多个版本，规格参数如下：标准版V10V10HV10E光谱范围400-1000nm400-1000nm400-1000nm倒线色散93.9nm/mm139nm/mm97.5nm/mm光谱分辨率3.5nm5nm2.8nm像面尺寸(光谱×空间)6.6×8.8mm4.3×6.6mm6.15×14.2mm空间分辨率40μm, rms40μm, rms9μm, rms像差略有像散枕形畸变：45μm梯形畸变：40μm略有像散枕形畸变：30μm梯形畸变：20μm无像散枕形畸变:1.5μm梯形畸变:1μm狭缝宽度30μm(25,50，80,150可选)30μm(25,50，80,150可选)30μm(18,30，50,80,150可选)狭缝长度9.8mm9.8mm14.2 mm通光效率50%50%50%杂散光0.5%0.5%0.5%镜头接口C型C型C型相机接口C型C型C型主体材料铝铝铝外形尺寸Φ35×139mmΦ35×139mm60×60×175mm重量300g300g1100g 二、近红外波段版本： 近红外成像光谱仪可提供900-1700nm（NIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版N17E 光谱范围900-1700nm 倒线色散110nm/mm 光谱分辨率5nm 像面尺寸(空间×光谱) 7.6×14.2mm 空间分辨率15μm, rms 无像散像差枕形畸变:5μm 梯形畸变:5μm 相对孔径F/2.0 狭缝宽度30μm(50,80,150可选) 狭缝长度14.2 mm 通光效率50% 杂散光0.5% 镜头接口C型相机接口C型主体材料铝外形尺寸60×60×220mm 重量1500g 三、短波红外波段版本： 短波红外成像光谱仪可提供1000-2500nm（SWIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版N25E光谱范围1000-2500nm倒线色散208nm/mm光谱分辨率10nm像面尺寸(空间×光谱)7.6×14.2mm空间分辨率15μm, rms像差无像散枕形畸变:5μm梯形畸变:5μm相对孔径F/2.0狭缝宽度30μm(50,80,150可选)狭缝长度14.2 mm通光效率50%杂散光0.5%镜头接口C型相机接口C型主体材料铝外形尺寸60×60×220mm重量1500g 四、中波红外波段版本： 短波红外成像光谱仪可提供3~5um（SWIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版M50M 光谱范围3.0-5.0um 倒线色散560nm/mm 光谱分辨率35nm 像面尺寸(空间×光谱) 3.57×9.6mm RMS spot size 60um 相对孔径F/2.0 狭缝宽度120um 狭缝长度19 mm 通光效率65% 外形尺寸70×100×100mm 重量770g 相机接口定制镜头M43 M23 光谱范围3.0-5.0um 3.0-5.0um 视场角24度45度外形尺寸52X23mm 30X28mm 重量100g 70g

RTS2多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统RTS2 多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统，基于新一代显微共焦技术，具有良好扩展性，可根据需求拓展为以拉曼为主要功能的显微光谱工作站，是您科学研究的优质选择！ RTS2多功能激光共聚焦显微拉曼光谱系统典型优势 紧凑稳定的拉曼光路，减小光程，提高系统稳定度和重复性 内置532,638,785 常用激光器，激光光路固化无需切换和调节 可扩展第四路单模光纤激光器或者自由光路耦合，兼容各类激光器 狭缝-CCD 和光纤针孔两种耦合方式，任意切换，兼顾显微成像和共聚焦模式 未经任何改造的科研级正置显微镜，可保证显微镜原有功能不受影响 标配320mm 焦长影像校正高通光量光谱仪，高像素深制冷光谱CCD 相机 可扩展EMCCD，ICCD，InGaAs 阵列等探测器，扩展系统功能 采用超高精度电动平台，1um 定位精度，可升级拉曼Mapping 功能 提供与开环，闭环高低温等各类样品台等的多种联用方案 可与高光谱系统直接联用，进行微区透反吸，暗场散射光谱，宽场荧光光谱采集① 拉曼接口盒：内置常用激光器及滤光片组，扩展激光器包含自由光和单模光纤输入② 光路转向控制：光路转向控制可向下和向左，与原子力，低温，探针台等外设联用，可升级振镜选项③ 明视场相机：明视场相机代替目镜④ 拉曼显微镜：正置科研级金相显微镜，标配落射式明暗场照明，其他照明方式可升级⑤ 电动样品台：75x50mm 行程高精度电动载物台，1um 定位精度⑥ 光纤共聚焦耦合：光纤共聚焦耦合为可选项，提高空间分辨率⑦ CCD- 狭缝共聚焦耦合：标配自由光CCD- 狭缝耦合方式，可使用光谱仪成像模式，高通光量⑧ 光谱CCD：背照式深耗尽型光谱CCD 相机，200-1100nm 工作波段，峰值QE90%⑨ 320mm 光谱仪：F/4.2 高通光量影响校正光谱仪，1x10-5 杂散光抑制比硅三阶峰信噪比20:1，硅四阶峰可见检测条件：532nm 激光器，100um 狭缝宽度，50um 像元尺寸，100x 物镜（0.9NA），样品上激光功率10mW，积分时间300s， 累积次数1，600刻线光栅低波数性能：80cm-1 典型值，100cm-1 保证值，样品：硫，积分时间0.1s。提供30cm-1 选项光谱分辨率（半高宽）：≤ 1.5cm-1；典型值，2cm-1 保证值（320mm光谱仪）, （测量氖 灯线585nm半高宽）检测条件：在可见波段：采用氖灯测量，10x 物镜，1800g/mm 光栅，光栅在+1 级条件下工作，狭缝宽度为10mm。实验时将氖灯置于显微镜下，测量谱线为 585 nm ，全半高宽（FWHM） 1.5cm-1；

卓立汉光Omni-iSpecT是专为拉曼等需要高光通量与高灵敏度应用场景特殊设计的高性能光谱仪，目前具有可见532nm与近红外785nm两个不同波 长范围的配置。Omni-iSpecT光谱仪具有收光效率高、信噪比好等特点，这对于测量微弱的发光信号例如拉曼等是非常重要的，同时与深度制冷的高灵敏度CCD探测器完美结合，为可见光和近红外波段的微弱光信号采集应用提供了解决方案。Omni-iSpecT整体设计非常紧凑而且光学元件固化封装，因此得到的数据结果非常稳定，对于外界振动敏感度极低，不但适合科学研究，更加适合工业与恶劣环境下的现场应用，同时可以提供SDK开发包用于软件的二次开发。透射光栅光谱仪Omni-iSpecT 应用： 气体探测 聚焦拉曼 等离子体光谱检测 工业过程控制 体内或体外医疗诊断 现场工业应用 其他微弱光信号采集 主要技术特点 超高的光通量 F数：F/2.3完美的光纤耦合能力：能够100%收集NA0.22光纤导入的光信号 超高的光收集效率 高透射VPH光栅保证了高衍射效率，增透镀膜透镜确保了最大的通光效率，从而实现了可见或近红外最大的通光量 宽波段范围 大面阵CCD相机实现的宽光谱采集范围 几乎完美的光谱成像质量 与传统的C-T模式光谱仪相比，在30mm像面上进行了出 色的光学像差校正，获得了极佳的图像质量，从而获得了更好的空间分辨率和光谱分辨率，也保证了近轴多通道采集的最小串扰和拉曼偏移 紧凑坚固的设计 所有部件作为一个整体模块进行预调校，光路稳定，不会受到运输过程中的碰撞影响极高的衍射效率应用：透射光栅光谱仪Omni-iSpecT技术规格装箱单 光谱仪底座单元×1，带XY可调通用光纤适配器和手动入口狭缝。 CCD探测×1，带电源和USB2.0电缆操作和储存条件 工作温度：10℃至40℃环境温度 相对湿度：80%（不凝结） 入口保护：IP20 储存温度：-20℃至70℃级电源要求 PS-12:110-240V交流电压，50-60Hz OEM PSU建议：+12V，± 5%，最大5A可选附件 532nm长通滤光片 785nm长通滤光片 快门尺寸：结构：1、光纤输入端口2、增透膜透镜3、VPH光栅4、深度制冷CCD

仪器简介：影像校正光栅光谱仪SR-500i高分辨影象校正光栅光谱仪作为Shamrock系列中销售量最大的光谱仪，SR-500i在各种不同的实验环境里，具有最大的使用灵活性，深受广大用户的欢迎。影像校正光栅光谱仪技术参数：SR-500i的主要技术指标： 焦距长度500mm通光孔径f/6.5焦平面尺寸28mmX14mm光谱分辨率0.05nm波长重复性± 0.05nm光栅尺寸68mmX68mm光谱仪外观尺寸550mmX343mmX206.5mm影像校正光栅光谱仪主要特点：在出厂之前，SR-500i已经做了精确的校准，所以在用户现场安装时非常方便，同时也有利于减少用户的维护工作量。SR-500i可以根据用户的实验需求，提供多至2个入口，2个出口，可以方便地接用两种光源/两台探测器，或通过光学器件的导引，同时服务于两个不同的光学实验，真正做到一机多用，极大地提高了使用过程中的便利性。

研究级影像校正光栅光谱仪SR303i是专门针对弱光应用而开发的研究级、高性能、带有影像校正功能的通用型光栅光谱仪。可以根据实验需求选择不同的光耦合方式。可匹配Andor的CCD、ICCD、EMCCD以及InGaAs阵列探测器等，很容易搭建一套世界上灵敏度最高的光谱系统。同时Andor Solis软件提供友好的用户界面，所有的控制均可通过软件控制完成，避免手动操作带来的误差。研究级影像校正光栅光谱仪主要特点：l 优化的超环面反射镜，完美的光谱影像校正，多通道光谱研究的最佳解决方案l 无与伦比的波长准确度（0.04nm）和重复精度（0.004nm），远远领先于同类商品l 出色的杂散光抑制比（2.2×10-5），实验结果更加真实和可靠l 三光栅塔轮设计，即插即用，无需重新做光学校正，实验操作更加方便l 独特的12mm宽度的动态狭缝，完美匹配各种显微镜，同时得到微区光谱和图像信息l 功能强大的可视化软件控制，实时反馈和显示光谱等信息 SR-303i研究级影像校正光栅光谱仪技术参数指标：型号SR300i输入输出口焦距长度303mm通光孔径（F/#）F/4焦平面尺寸28mm×14mm波长精度±0.04nm光谱分辨率0.05nm@2400l/mm,300nm 0.1nm@1200l/mm,500nm 波长重复精度4pm杂光抑制比2.2×10-5光栅尺寸68mm×68mm配置选项：SR-303i-A电动狭缝输入口，1个CCD输出口SR-303i-A -SIL电动狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-303i-B电动狭缝输入口，2个CCD输出口SR-303i-B-SIL电动狭缝输入口，1CCD输出口，镀银选项附件选项：光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚

新款的影像光谱仪-SR193i，其有如下典型特点： 1. 自适应聚焦主动聚焦追踪，根据光栅不同的衍射角或者不同的光栅自动调整聚焦镜的位置以保证最佳分辨率自动聚焦，无需手动调整，仅需要点下按钮即可实现最好的分辨率2. 带有RFID技术的双光栅塔伦精密的索引和容易使用的舱口设计，可现场升级自动的光栅识别和光栅参数读取在轴扫描3. 193nm焦距，光谱分辨率0.21nm@1200g/mm,500nm；0.1nm@2400g/mm，300nm4. F/3.6数值孔径，高光通量设计适合弱光光谱实验5. 影像校正光学设计，采用超环面镜允许多通道光纤探测和出色的成像质量通过显微镜和0级光栅6. 可作为单色仪单独使用通过和单点探测器使用光谱范围可拓展至12um可作为可调谐光源分光器件7. 双探测器出口，可以配合ANDOR公司的UV-NIR波长的CCD/EMCCD/ICCD/InGaAs，并可以选择狭缝组件作为单色仪来使用8. 银膜元件选项，在NIR/SWIR波段达到最高的效率，当配合InGaAs阵列探测器或者PbS，InSb，MCT单点探测器使用时9. 预调焦，预校准仪器，出厂时单独调教和校准光谱仪和探测器，在用户现场拆箱即可使用10. 无缝链接显微镜可调高度的垫脚以及可供选择连接光谱仪的直接C口接口，透镜接口和笼式接口15mm宽度的动态狭缝拓展的成像区域和光谱分析可通过同一光路得到 11. MicroManager软件整合同一软件平台可同时控制ANDOR相机、光谱仪和大量显微镜以及附件专用的，容易使用的光谱处理界面12. 紧凑和坚固的设计，完美整合在OEM仪器中和空间有限实验架构中13. USB接口，即插即用，方便易用 新款的影像光谱仪，主要应用方向：显微光谱吸收-反射-透射率荧光和拉曼光谱瞬态吸收和泵浦探测等离子光谱诊断LIBS

科学级影像矫正光栅光谱仪性能SR193i特点? 专利自适应聚焦技术，一键优化，保证不同光栅角度下最好的分辨率? RFID 光栅塔轮识别，更换塔轮无需手动设置? 光栅在轴扫描? F/3.6 高光通量? 采用超环面镜影像矫正，出色的成像质量和多通道光谱功能? 双出口，可配接两个 CCD 探测器? 可配置狭缝出口作为单色仪使用? 无缝连接显微镜? 支援 MicroManager 控制科学级影像矫正光栅光谱仪主要技术参数项目参数焦距193mm相对口径F/3.6分辨率0.21nm (1200g/mm 光栅，13.5 微米 CCD 探测器）0.10nm (2400g/mm 光栅，13.5 微米 CCD 探测器）光谱覆盖98nm (1200g/mm 光栅，13.5 微米 CCD 探测器）56nm (1200g/mm 光栅，13.5 微米 CCD 探测器）光谱准确度0.15nm光谱可重复性75pm 光栅塔轮双光栅塔轮，RFID 识别，快卸式

研究级高性能光谱仪SR303i谱仪是专门针对弱光应用而开发的研究级、高性能的光栅光谱仪。SR303i是一款通用型的光栅光谱仪，可以根据实验需求选择不同的光耦合方式、多种光栅。Andor生产的各种科学级的CCD、ICCD、EMCCD以及InGaAs阵列等都可以直接与SR303i配合使用，这样可以很容易搭建一套世界上灵敏度最高的光谱系统。Andor Solis软件采用非常友好的用户界面，只需点击鼠标即可对探测器、光谱仪、以及狭缝等进行控制。优势和特点：优化的超环面反射镜，完美的光谱影像校正，多通道光谱研究的最佳解决方案无与伦比的波长准确度（0.04nm）和重复精度（0.004nm），远远领先于同类商品出色的杂散光抑制比（2.2*10-5），实验结果更加真实和可靠三光栅塔轮设计，即插即用，无需重新做光学校正，实验操作更加方便独特的12mm宽度的动态狭缝，完美地匹配各种显微镜，同时得到微区光谱和图像信息多种高性能的紫外-可见CCD、InGaAs探测器和独特的EMCCD和ICCD探测器可供选择多种可供选择的附件，包括：滤光片轮、显微镜附件、电动快门、光纤收光器和光纤等功能强大的可视化软件控制，实时反馈和显示光谱等信息所有的控制均电动完成，避免手动操作带来的误差技术参数：焦距长度303mm通光孔径f/4焦平面尺寸28mmX14mm光谱分辨率0.1nm波长重复性4pm波长精度0.04nm光栅尺寸68mmX68mm外形尺寸394X238X208mm重量20Kg配置选项：SR-303i-A电动狭缝输入口，1个CCD输出口SR-303i-A -SIL电动狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-303i-B电动狭缝输入口，2个CCD输出口SR-303i-B-SIL电动狭缝输入口，1CCD输出口，镀银选项附件选项：光纤、法兰、动态狭缝、快门、光栅、可调底脚

Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪功能及特点光谱范围广，灵敏度高，测量精度高；优良的机械和温度稳定性，绝对保证产品的一致性；预留各种接口，兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能，方便集成到系统中 成本低，操作简单，是OEM应用的理想选择 采用超环面影像校准设计，光谱影像校正， 多通道光谱研究的*佳解决方案；出色的杂散光抑制比（5X10-5）；双光栅塔台设计，覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围，即插即用，只需零级校正，实验操作更加方便；多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选多种附件可选，包括：滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等；可与光源、探测器自由组合，实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。规格参数表（@1200g/mm光栅）Omni-λ200i系列焦距（mm）200相对孔径F/3.5光学结构C-T扫描步距（nm）0.01杂散光5X10-5焦平面(mm)30 (w)X14 (h)光轴高度（mm）146光栅规格mm50X50光栅台双光栅狭缝规格缝宽0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝。缝高：2、4、14mm可选外形尺寸（mm）300X216X213重量（Kg）14功耗峰值100W@24V通讯接口标配USB2.0规格参数表@不同光栅光栅（g/mm）24001800120060030015075倒线色散(nm/mm)@435.83nm 1.4 2.16 3.58 7.68 15.76 31.89 64.09机械扫描范围（nm）0-6000-8000-12000-24000-48000-96000-19200扫描步距（nm）0.0050.0070.010.020.040.080.16光谱分辨率（nm）@PMT 0.08 0.1 0.15 0.3 0.6 1.2 2.4光谱分辨率（nm）@CCD（15um） 0.106 0.163 0.27 0.58 1.19 2.41 4.84CCD单次摄谱范围（nm）@30mmCCD 42 64.8 107.4 230.4 472.8 956.7 1922.7波长准确度（nm）±0.1±0.14±0.2±0.4±0.8±1.6±3.2波长重复性（nm）0.050.070.10.20.40.81.6注1：分辨率的测试条件为中心波长435.83nm；注2：200i光谱仪，只有侧入口，且CCD只能配置侧出口 注3：CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值，随着中心波长增加，摄谱 范围变窄；注4：随着中心波长的增大，倒线色散数值减小；随着中心波长的减小，倒线色散数值增大。Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪典型型号表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2015i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜Omni-λ2017i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，红外镀膜Omni-λ2045i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜Omni-λ2047i200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅，紫外增强镀膜注1：本型号系列，为手动狭缝（电动狭缝需要额外选择）；注2：本型号系列，需要额外选配光栅，*多可配置2块光栅；注3：本型号系列，不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门，这些附件需要额外选择；注4：更多配置型号，请咨询本公司相关销售。典型光谱仪Omni-λ2003i外形尺寸图：Omni-λ200i入口Omni-λ200i出口 光栅规格型号表5：光栅（本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪）注：凡蓝色的标注的均为常备库存光栅，建议优先选择型号使用范围（nm）光栅刻线（g/mm）闪耀波长（nm）规格尺寸（mm）9-240-240-NP190-600240024050X509-180-400-NP300-800180040050X509-120-300-NP200-600120030050X509-120-500-NP350-1100120050050X509-060-300-NP200-60060030050X509-060-500-NP330-100060050050X509-060-750-NP500-150060075050X509-060-1200-NP800-2400600120050X509-030-300-NP200-60030030050X509-030-500-NP300-100030050050X509-030-1000-NP600-2000300100050X509-030-2000-NP1400-4000300200050X509-030-3000-NP2000-4800300300050X509-015-500-NP330-110015050050X509-015-800-NP400-160015080050X509-015-1000-NP600-2000150100050X509-015-1250-NP800-2500150125050X509-015-2000-NP1100-4000150200050X509-015-3000-NP2200-6000150300050X509-015-4000-NP2500-8000150400050X50光栅规格型号表6：经济型光栅（本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪）注：凡蓝色的标注的均为常备库存光栅，建议优先选择型号使用范围（nm）光栅刻线（g/mm）闪耀波长（nm）规格尺寸（mm）9-120-300200-600120030050X509-120-500350-1100120050050X509-060-300200-60060030050X509-060-500330-100060050050X509-060-750500-150060075050X509-060-1250800-2400600125050X509-030-500330-100030050050X509-030-750450-150030075050X509-030-1250850-2500300125050X509-015-500330-110015050050X509-015-1000600-2000150100050X50典型光栅效率曲线

“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点：1.180mm，320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高 了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；3.多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；4.光栅采用40×40mm或68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；5.适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；6.更好的杂散光抑制比，达到1×10-5；7.仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；9.可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；10.电子快门可选；11.自动狭缝可选；规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）：Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，10，14mm可选光栅尺寸(mm)40×4068×68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

“影像谱王”系列光栅单色仪/光谱仪功能及特点： 1.320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高 了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；3.多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；4.光栅采用68×68mm（68×84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；5.适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；6.更好的杂散光抑制比，达到1×10-5；7.仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；9.可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等；10.电子快门可选；11.自动狭缝可选；“影像谱王”系列光栅光谱仪规格参数表（@1200g/mm光栅条件下）：　Omni-λ300iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)320500750相对孔径f/4.2f/6.5f/9.7光学结构C-T光谱范围200nm-22um（根据合适的光栅）机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.210.150.09倒线色散(nm/mm)2.31.71.1波长准确度(nm)±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.08±0.01扫描步距(nm)0.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，14mm可选光栅尺寸(mm)68×68光栅台三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

功能及特点● 180mm，320mm，500mm等多种焦距可选，适应不同光谱带宽需求；● 光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术，最大限度了抑制了像散，使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置，获得了清晰的成像，从而提高了信号强度，提升了光谱仪信号收集的能力；● 多光栅塔台设计，更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势，并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率；● 光栅采用40× 40mm或68× 68mm（68× 84mm）大面积光栅，提高了光收集效率；● 适应不同光谱波段使用的光栅选择，覆盖UV-IR全波段范围；针对红外（1um）波段的最优化设计，光学镜片采用镀金膜设计，提高红外光反射效率；● 更好的杂散光抑制比，达到1× 10-5；● 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制，并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口，不仅使仪器的连接更加简单化，更极大提高了通讯速率；● 采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性，可根据需要选择双入、出口；双入、出口的控制通过计算机软件自动控制，定位更精准；● 可灵活与卓立光源、探测器（单点探测器和阵列CCD等）组合搭建，实现任意光谱系统解决方案，如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等。● 电子快门可选● 自动狭缝可选 规格参数表（@1200g/mm光栅条件下） 　Omni-&lambda 180iOmni-&lambda 320iOmni-&lambda 500iOmni-&lambda 750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26&mu m)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)± 0.2± 0.15± 0.1波长重复性(nm)± 0.1± 0.08± 0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1× 10-5焦面尺寸(mm)30(w)× 10(h)30(w)× 14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽：0.01-3mm连续手动可调，可选配自动狭缝；缝高：2，4，10，14mm可选光栅尺寸(mm)40× 4068× 68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0，可选RS-232

ImSpector系列光谱仪是一种以透射光栅为分光元件的成像光谱仪；通过将这种成像光谱仪附加到CCD相机前，可通过空间扫描获得目标物的影像和连续的光谱信息。 ImSpector系列成像光谱仪，采用高集成度的机械设计，配合绝对的影像修正光学设计，真正可实现无光学像差的成像，同时设计中考虑最佳的光通效率，既满足实验室的使用性能，同时也能够满足工业在线的长期使用的稳定性需求。 ImSpector系列成像光谱仪的入射端采用狭缝设计，并采用独创的全密封式设计，可保证在实际使用中不会因为环境的灰尘等影响光谱仪的内部光学元件，确保仪器的长期正常使用；出射端采用标准的C型接口或U型接口，可与各种标准C型或U型CCD相机直接接配。 根据ImSpector-成像光谱仪的功能，有标准版、增强版及快速版等多个版本可供选择；根据所覆盖的光谱范围，有如下分类： 适用光谱范围可选型号UV200-400UV4EVIS380-780nmV8H, V8, V8ERaman530-630nm, 770-980nmR6E, R10EVNIR400-1000nmV10H, V10, V10E, Fast10VNIR350-1000nmV10MVNIR600-1600nmV16MNIR900-1700nmN17ESWIR1000-2500nmN25E 高光谱成像应用：l 实验室研究（农产品表面检测、人体表面检测、包装材料表面检测等）l 产品在线检测（如显示器、纺织业、药品、酒类、印刷、染料、太阳能电池片）l 生医上的研究（如荧光检测、生物芯片穿透率量测）l 建筑古迹上的鉴定、真钞假钞辨识、真画假画的辨别、桥梁盐分的检测l 环保上的应用（如垃圾分类、海洋上漏油的分析、塑料材料分类）l 农业上的检测（可以观测喷洒农药前后的比较）l 航空遥感（如地形、地表、地貌）

型号FVA2515FVA3020FVA4030测量行程（mm）250 x 150 x 200300 x 200 x 200400 x 300 x 200外形尺寸（mm）750 x 575 x 1650805 x 635 x 1650931 x 735 x 1650重量（kg）230300380工作台承重（kg）303030运动控制全闭环四轴自动控制测量精度（μm）X/Y轴E2 = (2.3 + L/200)Z轴E1 = (5.0 + L/200)最大速度（mm/s）X/Y轴300Z轴200光源控制表面光五环八区四十项程控式LED冷光源轮廓光程控式LED平行冷光源，256级可调同轴光可选配放大倍率光学放大0.7 ~ 4.5x，影像放大22 ~ 145x影像系统CCD高灵敏度高分辨率1/2” 黑白/彩色CCD光栅尺分辨率0.5μm 进口光栅尺软件FRIMS专用测量软件（FVA版）工作环境温度20±2℃湿度30% ~ 80%振动＜0.002g, 低于15Hz电源210V ~ 230V, 50Hz/60Hz 1. 采用德国FRIEDRICH公司典型结构2. 配置美国NAVITAR光学镜头，可实现全自动连续变焦，任意变倍测量而无需校正3. 全鼠标操作，可选配摇杆，简单易用4. 四十项程控式LED冷光源，可实现对复杂工件的高精度表面测量5. Z轴自动对焦，满足辅助测高需求，避免人为误差6. 可选配激光或接触式探针实现3D测量需求7. 配备专为影像测量仪系统设计的FRIMS软件8. 提供多种行程规格配置

“谱光”(Imspector)系列光栅分光模组ImSpector系列光谱仪是一种以透射光栅为分光元件的成像光谱仪；通过将这种成像光谱仪附加到CCD相机前，可通过空间扫描获得目标物的影像和连续的光谱信息。 ImSpector系列成像光谱仪，采用高集成度的机械设计，配合*对的影像修正光学设计，真正可实现无光学像差的成像，同时设计中考虑*佳的光通效率，既满足实验室的使用性能，同时也能够满足工业在线的长期使用的稳定性需求。 ImSpector系列成像光谱仪的入射端采用狭缝设计，并采用独创的全密封式设计，可保证在实际使用中不会因为环境的灰尘等影响光谱仪的内部光学元件，确保仪器的长期正常使用；出射端采用标准的C型接口或U型接口，可与各种标准C型或U型CCD相机直接接配。 根据ImSpector-成像光谱仪的功能，有标准版、增强版及快速版等多个版本可供选择；根据所覆盖的光谱范围，有如下分类：适用光谱范围可选型号VNIR400-1000nmV10H, V10M,V10, V10E,NIR900-1700nmN17ESWIR1000-2500nmN25EMWIR3.0~5.0umM50M 高光谱成像应用：1、实验室研究（农产品表面检测、人体表面检测、包装材料表面检测等）2、产品在线检测（如显示器、纺织业、药品、酒类、印刷、染料、太阳能电池片）3、生医上的研究（如荧光检测、生物芯片穿透率量测）4、建筑古迹上的鉴定、真钞假钞辨识、真画假画的辨别、桥梁盐分的检测5、环保上的应用（如垃圾分类、海洋上漏油的分析、塑料材料分类）6、农业上的检测（可以观测喷洒农药前后的比较）7、航空遥感（如地形、地表、地貌） 一、可见近红外波段版本：可见近红外版本包括400-1000nm，350-1000nm，600-1600nm等多个版本，规格参数如下：标准版V10V10HV10E光谱范围400-1000nm400-1000nm400-1000nm倒线色散93.9nm/mm139nm/mm97.5nm/mm光谱分辨率3.5nm5nm2.8nm像面尺寸(光谱×空间)6.6×8.8mm4.3×6.6mm6.15×14.2mm空间分辨率40μm, rms40μm, rms9μm, rms像差略有像散枕形畸变：45μm梯形畸变：40μm略有像散枕形畸变：30μm梯形畸变：20μm无像散枕形畸变:1.5μm梯形畸变:1μm狭缝宽度30μm(25,50，80,150可选)30μm(25,50，80,150可选)30μm(18,30，50,80,150可选)狭缝长度9.8mm9.8mm14.2 mm通光效率50%50%50%杂散光0.5%0.5%0.5%镜头接口C型C型C型相机接口C型C型C型主体材料铝铝铝外形尺寸Φ35×139mmΦ35×139mm60×60×175mm重量300g300g1100g 二、近红外波段版本：近红外成像光谱仪可提供900-1700nm（NIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版N17E光谱范围900-1700nm倒线色散110nm/mm光谱分辨率5nm像面尺寸(空间×光谱)7.6×14.2mm空间分辨率15μm, rms无像散像差枕形畸变:5μm梯形畸变:5μm相对孔径F/2.0狭缝宽度30μm(50,80,150可选)狭缝长度14.2 mm通光效率50%杂散光0.5%镜头接口C型相机接口C型主体材料铝外形尺寸60×60×220mm重量1500g 三、短波红外波段版本：短波红外成像光谱仪可提供1000-2500nm（SWIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版N25E光谱范围1000-2500nm倒线色散208nm/mm光谱分辨率10nm像面尺寸(空间×光谱)7.6×14.2mm空间分辨率15μm, rms像差无像散枕形畸变:5μm梯形畸变:5μm相对孔径F/2.0狭缝宽度30μm(50,80,150可选)狭缝长度14.2 mm通光效率50%杂散光0.5%镜头接口C型相机接口C型主体材料铝外形尺寸60×60×220mm重量1500g 四、中波红外波段版本：短波红外成像光谱仪可提供3~5um（SWIR）波段，设计上采用了更优化的像差修正设计，成像质量更好，几无失真。增强版M50M光谱范围3.0-5.0um倒线色散560nm/mm光谱分辨率35nm像面尺寸(空间×光谱)3.57×9.6mmRMS spot size60um相对孔径F/2.0狭缝宽度120um狭缝长度19 mm通光效率65%外形尺寸70×100×100mm重量770g相机接口定制镜头M43M23光谱范围3.0-5.0um3.0-5.0um视场角24度45度外形尺寸52X23mm30X28mm重量100g70g

型号FVM2515FVM3020FVM4030测量行程（mm）250 x 150 x 200300 x 200 x 200400 x 300 x 200外形尺寸（mm）682 x 585 x 1650735 x 605 x 1650865 x 705 x 1650重量（kg）270380450工作台承重（kg）303030测量精度（μm）X/Y轴E2 = (3.0 + L/200)光源控制表面光五环八区四十项程控式LED冷光源轮廓光程控式LED平行冷光源，256级可调同轴光可选配放大倍率光学放大0.7 ~ 4.5x，影像放大22 ~ 145x影像系统CCD高灵敏度高分辨率1/2” 黑白/彩色CCD光栅尺分辨率1.0μm软件FRIMS专用测量软件（FVM版）工作环境温度20±2℃湿度30% ~ 80%振动＜0.002g, 低于15Hz电源210V ~ 230V, 50Hz/60Hz ◆ 采用德国FRIEDRICH公司典型结构◆ 独立精加工车间，优良装配工艺，保证仪器质量◆ 全新设计的Z轴，采用了直线导轨加丝杆垂直叠加方式◆ 配置国内高端光学镜头，灵活变倍切换而无需校正◆ 四十项程控式LED冷光源，实现工件表面测量◆ 可选配接触式探针实现更高测量需求◆ 配备专为影像测量仪系统设计的FRIMS软件◆ 提供多种行程规格配置

型号 FVA2515SFVA3020SFVA4030S测量行程（mm）250 x 150 x 200300 x 200 x 200400 x 300 x 200外形尺寸（mm）750 x 575 x 1650805 x 635 x 1650931 x 735 x 1650重量（kg）230300380工作台承重（kg）303030运动控制全闭环四轴自动控制测量精度（μm）X/Y轴E2 = (1.5 + L/200)Z轴E1 = (3.0 + L/200)最大速度（mm/s）X/Y轴300Z轴200光源控制表面光五环八区四十项程控式LED冷光源轮廓光程控式LED平行冷光源，256级可调同轴光可选配放大倍率光学放大0.7 ~ 4.5x，影像放大22 ~ 145x影像系统CCD高灵敏度高分辨率1/2” 黑白/彩色CCD光栅尺分辨率0.1μm Renishaw光栅尺软件FRIMS专用测量软件（FVA-S版）工作环境温度20±2℃湿度30% ~ 80%振动＜0.002g, 低于15Hz电源210V ~ 230V, 50Hz/60Hz1. 超高精度测量，全闭环四轴自动控制2. 采用德国FRIEDRICH公司典型结构3. 原装进口核心部件，实验室级环境下精密装配4. 精密花岗石底座及立柱，保证机械稳定性5. 配置美国NAVITAR光学镜头，可实现全自动连续变焦，任意变倍测量而无需校正6. 配置Renishaw开放式光栅尺，保障高测量精度7. 全鼠标/摇杆操作，更便捷的操作体验8. 四十项程控式LED冷光源，可实现对复杂工件的高精度表面测量9. Z轴自动对焦，满足辅助测高需求，避免人为误差10. 可选配激光或接触式探针实现3D测量需求11. 配备专为影像测量仪系统设计的FRIMS软件12. 提供多种行程规格配置

全自动影像仪（LK-G30激光测头） （图片仅供参考，具体按技术协议）仪器特点：三轴均采用台湾HIWIN高精度直线导轨、研磨级滚珠丝杆传动，噪音低振动小，动态几何误差变形最小。采用优质花岗岩大理石底座、立柱，具有良好的温度稳定性、抗实效变形能力 。采用花岗岩大理石+航空铝工作台，小惯性、保证高速运行的定位精度及稳态性能。有限元结构分析及优化结构设计为该系列保证了系统整体的高精度及高稳定性。采用多功能集成式控制器和进口高性能伺服电机驱动,实现双闭环控制 。具备测量导航功能，方便快速找寻测量位置点。仪器外形图：多功能控制器：规格参数：CNC-3020J 长度单位：mm型号CNC-3020JCNC-4030JCNC-5040JCNC-6050JX\Y\Z测量行程300*200*200400*300*200500*400*200600*500*200工作距离90mm90mm90mm90mm外形尺寸Lx*Ly*Lz960*715*17101160*815*1710915*1360*17101015*1460*1710最大载荷30Kg30kg30Kg30Kg仪器重量260Kg360Kg450Kg550Kg光学测量精度≤（2.5＋L/200）μm光学重复精度3μm激光传感器分辨率0.5μm运行速度X/Y轴：≥400mm/S, Z轴：≥200mm/S计算机(选配）工控主板，处理器I3 4160，内存4G，固态硬盘500G，24寸液晶显示器传动丝杆台湾TBI精密级滚珠丝杆传动导轨台湾HIWIN高精密静音级直线导轨伺服电机以色列Servotronix高性能伺服电机测量软件 CNC-3D复合式影像测量软件运动控制器CNC-420多功能运动控制器光栅尺普迈 0.5μm 分辨率光栅尺CCD相机SONY-CCD/700TVL高清彩色相机， 影像放大倍数20 X -180X光学镜头高清连续变倍光学镜头/放大倍率0.7-4.5X激光测头基恩士LK-G30激光传感器光源系统程控五环八区256级环形LED表面光源+平行轮廓LED冷光源供应电源AC220V、50/60HZ 、10-15A工作环境温度20℃±2℃、温度变化＜2℃，湿度：45%-75%仪器硬件配置：序号名称品牌产地 型号规格数量1主机结构山东济南青石00级花岗岩大理石底座+立柱+移动台12工作台美国凯撒7050航空铝硬氧处理13伺服电机以色列ServotronixServotronix高性能伺服电机34CCD相机日本SONY高清彩色700TVL CCD相机15光学镜头台湾MTG0.7-4.5倍连续变倍镜头16导航镜头自研V200大视野导航镜头17激光测头日本基恩士LK-G30激光传感器18光栅尺广东PUMAI分辨率0.5um39传动丝杆台湾TBI精密级滚珠丝杆310直线导轨台湾HIWINP级高精密静音级直线导轨311测量软件自研CNC-3D复合式多功能测量软件112运动控制器自研 CNC-420双闭环运动控制器113操作手柄自研V-310三轴操纵手柄114工作台玻璃广东KSMKSM/光学玻璃115光学校正片广东KSMKSM/光学116光源系统自研上光：256级程控五环八区LED冷光源，底光：平行轮廓LED底光源117开关电源台湾明纬台湾明纬/LRS-200-24118电脑智诚工控工控主板，处理器I3 4160，内存4G，固态硬盘500G，24寸液晶显示器119使用说明书定制专用120电脑放置桌定制专用1测量软件：CNC-3D测量软件是一款多功能的复合式软件，研发团队多年专业量测软体的成功开发经验，将激光、测头和影像完美结合的一款全新的复合式量测软件。操作简单、功能强大，集合了CAD导入比对、全图形化显示、快速点击操作、即时数据比对、报告格式多样化、演算法先进等多项特点，在演算法的先进和准确度上，也一样给予保证。广泛地应用于机械加工、电子、汽车、五金、模具、精密制造、塑膠橡膠品、光电、手机、PCB板、电子元件、半导体、触控式屏幕、液晶面板、医疗器材、刀具、轴承、端子等行业。软件功能介绍：功能：包括三次元、二次元、工具显微镜、投影仪的功能。功能强大的2D/3D测量系统 ①光学座标系统为基点测量产品的任意二维尺寸。 ②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。 ③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量完美结合。基本功能介绍：完整的几何尺寸（点、线、面、圆、球、圆柱、弧、圆锥）、形位公差（直线度、平面度、真圆度、真球度、圆柱度、位置度、平行度、垂直度）测量功能。组合元素量测，如角度,,圆心距,圆切线,两线距，两线中线,中心点，垂直距离，角平分线,两线交点等形位误差量测，如同心度,真圆度,直线度,平行度等强大之数学运算分析影像直接经由计算机屏幕显示观察直接量测存盘利用影像工具可快速进行2D轮廓边界点扫描量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转TXT、WORD、EXCEL及AUTOCAD档案式提供公差分析，可进行有效之品管检验工件的对象化可直接对对象进行几何基本运算兼容于WIN7, WIN10操作系统高级功能介绍：自动对焦影像自动捕捉，操作简便，量测精度高IUI功能，以尽可能少的时间完成操作AUTOCAD读档，图形比对全自动同心变倍，同一工件可在不同倍率下量测（选配）工作不必摆正，有座标转换功能，量测效率高编程序自学习、阵列复制等功能实现大批量自动检测，提高工作效率。SPC功能静态量测功能。工件测量图片取像功能。提供强大的线性与非线性补偿功能，保证机台精度更高。工作不必摆正，有座标转换功能，测量测效率高 激光功能软件主介面：详解：强大的激光测量功能，解决影像及探针无法测量问题。对于高速测量平面度，及细微的凸点，凹点，V型角及高精度曲面扫描等影像及探针无法测量的问题，激光有非常好的测量优势。CNC影像测量软件中可整合激光测量，目前通过激光可以测量点、扫描直线、扫描圆、激光测量高度、激光测量平面度及曲面的表面扫描。并可以将激光扫描得到的数据保存为DXF及IGS格式。 操作：要进行激光测量首先要对激光进行设置。具体设置如下： 在测量菜单中，选择激光测量。如下图所示,然后点设置菜单。 会弹出设置的对话框：在这个对话框中，可以设置激光接在哪个串行口上以及激光的类型。目前能接基恩士LK-G30/LK-G5000，欧姆龙ZW-7000。指令速度： 即电脑向激光控制器发送取点指令的时间，单位为ms，这个指令主要在进行扫描直线或圆或面是会用到。移动速度：即为用激光进行扫描直线或圆或面时，其扫描时所移动的速度。扫描间隔：这个主要用在扫描平面时所用到，即扫描平面时每两条线之间的间隔。1座标系同步校正： 为了同步影像座标与激光座标，需要进行激光与影像的座标校正。 座标系同步校正方法： 第一步：先用影像测量一个球(最清晰位置当圆来测量)。 第二步：用激光测量一个球。记下圆心座标及球心的座标，然后点击座标系同步校正。会弹出如下对话框： 输入激光座标及影像座标点确定按纽，完成座标系同步校正。.2激光测量激光测量单点： 有两种方式完成激光测量单点。一种是直接取激光所在位置的点数据，通过点击，就会自动将激光当前的点最出。 第二种方式就是先通过影像取到一个点，通过影像确定激光要取点的位置，然后再用激光去测量该位置。具体影像取单点的方法，参见前面所介绍的影像取点工具，当通过影像取到点后，用鼠标选中该点，然后点击鼠标右键，在弹出的菜单中选激光测量，机器会自动将激光移置该位置，然后完成激光取点动作。激光扫描直线： 操作方法与点相同，先通过影像测量一条直线，用鼠标选中这条直线，再点右键在弹出的菜单中选择激光测量，机器会自动直线的起点，然后开始从直线起点扫描到直线的终点，得到的结果为点数据。激光扫描圆: 具体操作方式与测量点相同，先通过影像测量圆，然后再选中该圆元素，在右键弹出的菜单中选激光测量。只是在扫描圆时，会从X方向和Y方向两个方向进行扫描，所得的数据全为点数据。激光扫描面： 点击激光测量菜单―――面扫描。会弹出下面的对话框：在上面的对话框中输入起点及终点，这两点所组成的矩形范围，即为激光所扫描的范围。要注意的是：起点和终点都为影像座标。激光扫描最高点： 欧姆龙ZW7000为例，扫描3D手机玻璃窄边为例激光扫描最高点使用方法：(激光控制器有相关参数也要设定好)1.参数设置：移动速度：扫描最高点或扫描曲线时候的一个扫描移动速度。扫描点数：激光触发点数。扫描最高点方法：方法一： 适用抛物线状的窄边 方法二：适用于半边抛物线状的窄边参数匹配： 比如：激光的测量周期为200us扫描3mm的一个长度扫描速度15mm/S理论上以这个速度扫描，扫描时间为0.2s那么0.2s时间内，激光要触发1000（0.2/0.0002）个点，点与点之间的间距为3um(3/1000)。 情况1：如果想扫描速度更快点，把扫描速度设置成30mm/s，扫3mm需要0.1s，激光触发的点数为500个，点与点之间间距为6um。这种方式可能会影响精度（边很窄）情况2：把扫描速度设置成30mm/s，扫3mm需要0.1s，如果想保证点与点之间的距离3um，那么可以将测量周期设置成100us ，那么扫3mm激光也触发了1000个点，那么点与点之间的间距为3um。假如软件里面的测量点数理论上是1000个点（匀速运动），实际上，机器运动是有个加减速时间，所以这个测量点数我们可以设置成1100-1200之间，确保3mm距离都有点，避免出现0-2.5mm有点，2.5-3mm一个点都没有！编程的时候尽量保证最高点在3mm线的中间位置。所以：在保证精度的情况下，我们可以把速度适当的加大点，但是相关的参数要设置正确！ 建议15mm/s左右的速度比较合适！2.操作方法： 影像和激光做好同步后，用影像在窄边位置画一条3mm左右的垂直线，然后选中这条线点击鼠标右键，点击 激光扫描最高点 ，激光会沿着这条线取一个最高点出来。 影像画出来的直线可以删除或设为不测量！假如想要求最高点到底面的距离，可以先用激光在面上打多个点，选中这些点构造一个面，再求最高点到面的距离。 厚度测量：激光厚度测量只适用于透明材质： 软件切换到厚度模式： 在厚度模式下，点击激光踩点按钮，会得到一个厚度元素，该厚度元素会有很多信息， 以手机玻璃为例，注意：这里面编程的时候，要保证玻璃两个面都在激光的测量范围以内，否则会出现距离2 的数据为0，那么厚度就有问题的！ 选中这个厚度，点击构造点，会弹出一个对话框，这里面选第一层、第二层分别构造一个点出来，两点构造一个高度，这个高度与 厚度1 相同！ 折射率：通过更改折射率，让得出的厚度值和理论厚度值一样！其实就是校正厚度！一块手机玻璃，测量软件这边在一个程序里面可以 厚度模式下测量厚度、扫描窄边最高点、距离模式下激光打点。两种模式切换不冲突！激光测量平面度示意:验收规范：1. 检定项目：A 、外观及各部分的相互作用。B 、计算机、及软件功能。C 、示值误差（E1）。2. 测量重复性： 在透射照明下变倍物镜最大倍率进行检验,将标准玻璃线纹尺置于玻璃工作台中心位置,并使其平行于纵向导轨,清晰成像以后,用十字线对准玻璃线纹尺"0"刻线影像并把仪器清零,佶后用从线对标准玻璃线纹尺"100"刻度线影像进行瞄准并读数,重复上述试验4次,任意两次读数之差均应符合要求,横向按同样的方法,对标准玻璃线纹尺"0"刻线与"100"刻线之间的长度进行试验,任意两次读数之差均应符合本标准。（同种可以用1级量规量块进行同线纹尺一样类似检验，重样时进行4次读取二次的平均值。）3. 验收交接：A、以检定纪录、装箱单和合同为准，双方交接、验收。B、验收合格，双方代表在验收报告上签字。若有异议，协商解决。遗留问题 可签署备忘录，以便服务、解决。4. 环境要求确认: 依照安装使用环境技术要求通过自检合格并确认后方可安装调试。请按照合同及安装说明书技术要求准备好安装环境，如下表：序号项目技术要求是否满足1正常工作温度20±2℃　2检定温度20±2℃　3温度梯度0.5℃/h 2℃/24h 0.5℃/h　4湿度相对湿度45%-70% 气源湿度＜15%　5振动振动频率≤10HZ时,振幅≤1UM　10HZ＜振动频率≤30HZ时,振幅≤0.5UM　振动频率＞30HZ时,振幅≤3UM　6清洁度洁净、最好无尘　7电源AC220V，50HZ，1KVA　8安装环境配套要求具备独立可靠的接地系统，接地电阻小于4Ω 　质保期

德瑞检测 半自动影像测试仪DR-YX-3020机台型号DR-YX-2010FDR-YX-3020FDR-YX-4030FDR-YX-5040FX、Y测量行程（mm）200*100300*200400*300500*400Z测量行程（mm）200(可定制至400mm)外形尺寸（mm）1250*580*16001450*680*16001650*780*16001750*1120*1700工作台尺寸(mm)350*250450*350550*450650*550玻璃尺寸(mm)240*140340*240440*340540*440机台重量（kg）150230350420工件限重（kg）30基座材质00级精密花岗石底座机构材质特制碳合金工作台、精密级花岗石立柱X 、Y轴测量精度(μm)2+L/200Z轴测量精度(μm)5+L/50重复精度（μm）3操作方式手动传动方式无牙螺杆＋V型导轨光栅尺0.0005mm密封玻璃光栅影像系统高清彩色数字成像系统（高清图像，大小自由切换）放大倍率20～260X工作电源220V单相50Hz工作环境温度20℃±2℃，湿度30～80%德瑞检测 三坐标检测仪器DR-YX-2010软件功能1.CNC编程自动测量：以软件控制测量仪的工作台面及Z轴移动方向，使测量更方便，可选配操纵杆手柄控制，让操作更人性化。可根据客户产品所测尺寸，进行测量编程，保存测量路径后，即能进行批量自动测量，大大提高测量效率； 2.设置自动测量重复操作次数：测量同一产品所要检测的尺寸，设置自动测量的重复次数，则不需要每次重复绘图、标注，节省了时间；3.光学对焦：由计算机自动判定每次的对焦面，以保证变换焦距时测量的重现性及精准度；4.光学对焦测高：通过光学对焦功能，用软件自动计算Z轴高度；5.“全图” 导航定位窗口：可以实时浏览所有绘制的像素，并可让鼠标点哪走哪,更让测量之数据统统在掌控之中；6. “浏览”窗口：可观察工件的全图形并具有类似AutoCAD的缩放功能；7.在“浏览”视图中进行标注： 可以直接在“浏览”视图中进行尺寸的标注；8.亚像素找边：让软件实时刷新,实时跟踪鼠标，自动捕捉鼠标离*清晰边缘的*近点，更大程度的节约测绘时间；9.图形自动捕捉：可对线、圆、弧进行自动扫描边缘并自动取得图形；自定义圆：可按客户需要自定义标准的图（由客户自行定义圆的圆心坐标、直径、半径）。再以标准的圆和影像中的工件作对比，从而找到工件与标准图形之间的误差；10.自定义线段：客户自行定义线段的起点坐标、长度、旋转的角度，再与影像中的工件作重迭对比，从而找到工件与标准图形之间的误差；11.标注：可测量平面上的任何几何尺寸（直径、半径、角度、两线距离、点到线的距离、两圆间距等等）；12.坐标标注：以设定之坐标原点（0，0）为基准，标注像素上任意一点的坐标位置；13.自设客户坐标： 可以根据客户本身的需要在影像中的实际工件上自行设定坐标原点（0，0），再以（0，0）点为基准在画面任一点上标示该点X，Y坐标位置；14.绘图：可将实时影像中的实际工件外形进行描绘，形成完整的工程图，绘图方式和 AutoCAD相似；15.操数：可将产品外形简易描出，描出的图形可转入AutoCAD经修改形成工程图；16.设置像素颜色： 可更改所绘制及标注的所有像素颜色，更容易区分便认；17.自动捕捉像素上的各结点：可以自动捕捉线的起点、中点、终点及两线的交点、圆心及圆周上的三个结点，用于辅助标注绘图等应用功能；18.形位公差：真圆度，真直度，同心度，可计算出产品上圆形真圆度、直线边真直度及两圆心的同心度；19.设置公差：可设置产品的实际尺寸超出范围，超出则以红色背景警示；20.发送至AutoCAD：可将实时影像中按实际工件外形所描绘的像素直接输出到AutoCAD；21.保存高像素照片：可保存更清晰的测绘图元及产品照片，可以更大倍数的在看图软件中观察所保存的图片；22.CCD校正：对CCD制作中产生的误差进行补偿，使测量更精准；23.光栅尺校正：对光栅尺所产生的误差进行补偿，使测量更精准；24.Z轴校正：对Z轴的移动偏差进行补偿，使测量更精准；25.运动系数控制：可以更快速的在工作台中进行定位，节约大量的测量时间。

型号FVA2515MFVA3020MFVA4030M测量行程（mm）250 x 150 x 200300 x 200 x 200400 x 300 x 200外形尺寸（mm）750 x 575 x 1650805 x 635 x 1650931 x 735 x 1650重量（kg）230300380工作台承重（kg）303030运动控制全闭环三轴自动控制测量精度（μm）X/Y轴E2 = (3.0 + L/200)Z轴E1 = (5.0 + L/200)最大速度（mm/s）X/Y轴300Z轴200光源控制表面光五环八区四十项程控式LED冷光源轮廓光程控式LED平行冷光源，256级可调同轴光可选配放大倍率光学放大0.7 ~ 4.5x，影像放大22 ~ 145x影像系统CCD高灵敏度高分辨率1/2” 黑白/彩色CCD光栅尺分辨率0.5μm软件FRIMS专用测量软件（FVA-M版）工作环境温度20±2℃湿度30% ~ 80%振动＜0.002g, 低于15Hz电源210V ~ 230V, 50Hz/60Hz ◆ 全闭环三轴自动控制◆ 采用德国FRIEDRICH公司典型结构◆ 配置国内高端光学镜头，灵活变倍切换而无需校正◆ 全鼠标操作，可选配摇杆，简单易用◆ 四十项程控式LED冷光源，实现工件表面测量◆ 可选配激光或接触式探针实现3D测量需求◆ 配备专为影像测量仪系统设计的FRIMS软件◆ 提供多种行程规格配置

龙门式全自动影像仪 （仪器外观参考图）仪器特点：三轴均采用台湾HIWIN高精度静音级直线导轨、台湾TBI研磨级滚珠丝杆传动，噪音低振动小，动态几何误差变形最小。采用00级优质花岗岩大理石底座、横梁，具有良好的温度稳定性、抗实效变形能力 。有限元结构分析及优化结构设计为该系列保证了系统整体的高精度及高稳定性。采用多功能集成式控制器和进口高性能伺服电机驱动,实现全闭环控制 。具备测量导航功能，方便快速找寻测量位置点。外形结构图：多功能控制器：规格参数： 长度单位：mm型号CNC-5040CNC-6050CNC-8060CNC-1080CNC-1210X\Y\Z测量行程mm500*400*200600*500*200800*600*2001000*800*2001200*1000*200工作距离90mm外形尺寸mmLx*Ly*Lz1090*1270*17501100*1550*17501200*1750*17501500*1950*17501700*2200*1750最大载荷≤60Kg仪器重量1200Kg电源220V+10%, 50HZ-60HZ光栅尺分辨率X/Y/Z轴0.0005MM（0.5UM）测量精度X/Y轴≤（3.0＋L/200）μm，Z轴≤（5.0+L/200）μm，L代表测量长度（单位mm)重复定位精度≤3μm（标准器）运行速度X/Y轴：≥400mm/S, Z轴：≥200mm/S计算机CPU:10代 I5 10400/内存:16G/主板：技嘉H410/硬盘:512G固态/显示器: 24＂ IPS屏传动丝杆台湾TBI高精密研磨级滚珠丝杆传动导轨台湾HIWIN高精密静音级直线导轨伺服电机以色列Servotronix高性能伺服电机测量软件 CNC-3D多功能影像测量软件运动控制器CNC-420多功能全闭环运动控制器光栅尺日本NIDEC金属贴片光栅尺，分辨率0.5μmCCD相机海康200W高清彩色1/2数字CCD相机， 影像放大倍数20-180X光学镜头MTG 高清自动变倍镜头，放大倍率0.7-5X光源系统程控五环八区256级环形LED表面光源+平行轮廓LED冷光源工作环境温度20℃±2℃、温度变化＜2℃，湿度：45%-75%硬件配置：序号名称品牌产地 型号规格数量1主机结构山东花岗岩00级花岗岩大理石底座+横梁+立柱12工作台支架美国凯撒7075航空铝硬氧处理13伺服电机以色列Servotronix高性能交流伺服电机34CCD相机海康威视200W像素高清彩色1/1.2 数字CCD相机15光学镜头慕藤光0.7-5X全自动变倍镜头16导航镜头自研V-200/大视野导航镜头17光栅尺日本NIDEC金属贴片光栅尺，分辨率0.5μm38传动丝杆台湾TBI台湾TBI/C5研磨级滚珠丝杆39直线导轨台湾HIWIN台湾HIWIN高精密静音级直线导轨310测量软件自研CNC-IN3D多功能测量软件111运动控制器自研 CNC-420全闭环运动控制器112操作手柄自研V-310三轴操纵手柄113工作台玻璃科思铭光学玻璃114光学校正片科思铭光学网格115光源系统自研上光：256级程控五环八区LED冷光源，底光：平行轮廓LED底光源116开关电源台湾明纬台湾明纬/LRS-200-24117电脑工控CPU:10代 I5 10400/内存:16G/主板：技嘉H410/硬盘:512G固态/显示器: 24＂ IPS屏118使用说明书广雄CNC系列119电脑放置桌定制GX120加密锁定制GX1选装配件：名称品牌产地 型号规格探针测头英国MCPMCP探针组（标配φ1mm/φ2mm红宝石测针) 激光测头日本keyenceCL-P030光谱共焦激光位移传感器测量软件：CNC-IN3D测量软件是一款多功能的复合式软件，研发团队多年专业量测软体的成功开发经验，将激光、测头和影像完美结合的一款全新的复合式量测软件。操作简单、功能强大，集合了CAD导入比对、全图形化显示、快速点击操作、即时数据比对、报告格式多样化、演算法先进等多项特点，在演算法的先进和准确度上，也一样给予保证。广泛地应用于机械加工、电子、汽车、五金、模具、精密制造、塑膠橡膠品、光电、手机、PCB板、电子元件、半导体、触控式屏幕、液晶面板、医疗器材、刀具、轴承、端子等行业。软件功能介绍：功能：包括三次元、二次元、工具显微镜、投影仪的功能。功能强大的2D/3D测量系统 ①光学座标系统为基点测量产品的任意二维尺寸。 ②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。 ③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量完美结合。基本功能介绍：完整的几何尺寸（点、线、面、圆、球、圆柱、弧、圆锥）、形位公差（直线度、平面度、真圆度、真球度、圆柱度、位置度、平行度、垂直度）测量功能。组合元素量测，如角度,,圆心距,圆切线,两线距，两线中线,中心点，垂直距离，角平分线,两线交点等形位误差量测，如同心度,真圆度,直线度,平行度等强大之数学运算分析影像直接经由计算机屏幕显示观察直接量测存盘利用影像工具可快速进行2D轮廓边界点扫描量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转TXT、WORD、EXCEL及AUTOCAD档案式提供公差分析，可进行有效之品管检验工件的对象化可直接对对象进行几何基本运算兼容于WIN7, WIN10操作系统高级功能介绍：自动对焦影像自动捕捉，操作简便，量测精度高IUI功能，以尽可能少的时间完成操作AUTOCAD读档，图形比对全自动同心变倍，同一工件可在不同倍率下量测（选配）工作不必摆正，有座标转换功能，量测效率高编程序自学习、阵列复制等功能实现大批量自动检测，提高工作效率。SPC功能静态量测功能。工件测量图片取像功能。提供强大的线性与非线性补偿功能，保证机台精度更高。工作不必摆正，有座标转换功能，量测效率高

设备名称: 全自动CNC影像测量仪型 号: CNC3020 一.公司简介德迅公司作为一家高科技公司采用德国装配工业技术 所生产的工业测量仪器及光学设备配件等领域在全国居于领先地位，地位不断增强，为行业提供最高品质的测量机产品及先进全面的工业测量解决方案，并和全球众多的用户建立了实质而有效的合作。德迅公司是全权负责中国地区的销售、培训及技术支持，拥有现代化的办公，研发及生产设施，售后服务网络覆盖，全部具备德国高标准的技术能力及敬业精神。德迅公司测量方案遍及各个行业及顶尖领域，与中国计量科学研究院、中国科学院、中国工程物理研究院、清华大学、上海大学、同济大学、奔驰、宝马、通用、大众、西门子、博世、舍弗勒、卡特彼勒、苹果、三星、空客、波音、中航工业、南车与北车集团等单位有着多年的合作与发展。这一刻，您不仅获知了问题所在，更得到了专业的解决方案。 诚信为本，客户至上，竭诚为用户服务 , 追求同客户的共同发展。二.技术规格 Technical Specifications全自动三维影像测量仪专为平面和三维尺寸测量而设计，其最大行程达500×400mm，适用于PCB、LCD、钣金、航空航天等行业的大行程测量。它采用移动桥式结构，汇集了行业内最先进的设计理念，以最完善的设计和最严格的生产流程控制，确保机台的精度和稳定性。基本参数 德迅影像测量仪型号行程（mm）外部尺寸（mm）重量（kg）承重（kg）CNC3020300×200×180580*680*98024020测量精度XY轴*Z轴**（3+L/200）µ m（5+L/200）µ m*L表示测量长度，以毫米为单位**Z轴的机械精度，聚焦的精度与工件表面有很大关系速度XY轴Z轴280mm/s100mm/s工作环境温度：20℃±2℃温度变化：2℃/hr湿度：30～80%振动：＜0.002g，＜15Hz电源：200~240Vac，50/60Hz，单相： 700W配置清单 仪器配置重点介绍：1.摄像头： 海康威视千兆网高速数字相机优势：千兆网数字高速传输像素数据 不需要搭载视频图像卡 ， 清晰度 细腻度 抗干扰能力以及传输速度完美 PK需要搭载图像卡的模拟相机 可接受客户市场问询2.光栅尺：SINPO 闭合式光栅尺，分辨率1µ m稳定度强 使用广泛性 完美PK其他品牌 可接受客户市场问询 3.导轨： FY-V平行精密滚珠交叉导轨优势：订制高平恒交叉导轨 从材料 工艺 稳定性完美PK国内以及小众导轨 可接受客户市场问询4.电机：精密伺服一体式电机组优势：精度高、适应性强、定位稳定、运行流畅、使用寿命长 完美PK小众驱动电机 可接受客户市场问询5.镜头：香港普密斯微焦距可变倍镜头优势：知名品牌 清晰度高 寿命长 选配同轴光 自动变倍 完美PK小众品牌镜头6.三维测头：英国雷尼绍三维MCP 测头+红宝石测针 (选配)优势：世界顶级知名品牌 寿命长 精度高 完美PK小众品牌三维测头7.软件系统：ZONSON2D 智能测量软件 支持多语言优势：国内知名品牌 近20年市场检验 功能强大 操作简单 抓取准确 完美PK小众以及那些操作繁杂的测量软件三.仪器特点 Features移动桥式结构，大行程全自动测量，叁轴CNC控制。精密花岗岩机台，精度高、稳定性好。全鼠标、手柄式的自动化控制，简单易用。SINPO闭合式光栅尺，精度高、稳定性好。可变倍光学镜头，可实现变倍测量。可程控5环8区环形表面光源，LED轮廓光源。自动对焦测高，可加装接触式测头。ZONSON2D全自动影像测量软件。提供多种规格标准配置，并可根据要求进行个性化定制。四.软件系统 基本测量功能 可测量几何、点、线、圆（最大、最小和平均）、弧、样条曲线、椭圆、矩形、四边形、槽、R角、环、间距、距离、点等等。构建：中心点、极值点、端点、交点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、合并、轮廓分割、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。影像测量工具：绘图点、最近边缘点、聚焦点、圆形框取点、最佳边缘点、最近点、整体提取、多段提取、纹理分割、多段纹理分割、电子卡尺、快速整理取圆、开放轮廓线、最大闭合轮廓线、最近闭合轮廓线。形位公差：直线度、圆度、位置度、平行度、垂直度、倾斜度、同心度等。坐标系：夹具定位坐标系、点线、两点X、两点Y、三点、两线、图像配准坐标系；平移、旋转、手工调整坐标系。编程与自动化操作 可生成任务进行全自动批量测量，并支持自动和手工交互操作。镜头可手动变倍，变倍后无需重新校正。光源实现自动控制，支持自动打光。支持表面光五环八区、轮廓光的各区段自动控制。可快速自动聚焦，聚焦测量高度。输出及数据统计 1.可输出Word、Excel、TXT报表和AutoCAD文件。2.支持实时输出至excel模版，可定制模版。3.可以只输出最后一次任务运行的数据。4.运行任务时自动生成.rst格式文件，记录任务运行的详细信息。5.运行完打印：任务运行完直接打印。6.输出任务数据到文件：输出任务运行结果至文本中，同名任务的数据输出至同文件。7.可按指定目录，根据任务名称自动输出任务结果至csv文本中，便于同种工件结果的统一分析。SPC统计功能，导入rst文件，可进行有效的品管控制。8.基元属性区域，实时显示当前正在测量的基元数据。9.基元超差区，分类显示正常基元，超差基元，未测量基元等等。其他增强型功能SPC：对测量数据管制分析。全景扫描：任意选择区域进行影像的扫描拼图。图纸比对：可载入图纸与测量数据进行比对。试验筛：自动取样扫描试验筛，生成任务，运行结果直接分析输出。温度补偿：根据环境温度与标准温度差值，计算膨胀系数，使得结果更精确。聚焦测高：用聚焦方式测量高度差。自动轮廓提取：给定起始结束点，对指定轮廓进行提取。显示边缘图：显示图像的边缘轮廓，快速查看边缘情况。十字线提取模式：多种显示模式，十字，井字，圆形，网格，方便快速比对。导航：图片导航，类似于电子地图，可快速定位。导入CAD图纸：可导入DXF图纸，与CAD互相导入导出，完成图形处理。3D显示：显示图像的三维状态。可多语言切换：简体、繁体、英语、日语、韩语。镜头标定：自动镜头校准，省去繁琐的完全标定步骤。各种快捷键操作，常用快捷键一应俱全，软件更易用。系统设置中各种细节设置选项。客户现场培训案列：公司拥有完善全面的监测方案，全国4000多家客户案例，以质量求生存，以服务求发展期待和您长期合作！七.售后服务承诺书1、安装调试该仪器到达甲方仪器安装地点后，甲方应立即通知我公司。我方将在和甲方协商的日期内到达用户所在地进行安装，甲方仪器使用人员需提供必要的协助。 安装工作一般在一天内完成，包含机台及各零件定位、机台调水平、三轴复原、CCD定位、线路检查及功能电路测试等。 调试工作一般也在一天内完成，包含校验精度等。培训（1）培训地点：在甲方指定所在地。（2）培训人数：在仪器安装验收之后,由乙方安装工程师对用户1-2人进行操作培训（受训人员应具有基本的测量常识和电脑知识）。（3）培训内容：包含机台操作使用培训和测量软件培训，直到操作者能掌握基本操作为止。3、保修期内售后服务(1) 自安装、调试、培训完成之日起一年内为产品的保修期。保修期期内，在正常使用条件下，若发生任何因产品本体或组件（含机台、电控系统、镜头、CCD、软件）损坏引发的故障，本公司免费为客户做修换服务。(2) 保修期内测量软件免费升级。(3) 接到客户报修通知，本公司承诺在1个工作日内回复并提出解决方案。如需现场解决，2个工作日内到达现场。(4) 在保修期内，由于如下原因导致产品故障，本公司需酌情收取成本费用。(4.1) 在本公司指定维修站外进行修理、搬运引起的故障和损坏。(4.2) 人为因素操作不当而造成的故障和损坏。(4.3) 自行改装或私自拆机而造成的故障和损坏。(4.4) 由于天灾、地震、火灾或其他不可抗力因素而造成的故障和损坏。(4.5) 使用非本公司指定的零配件所引起的故障和损坏。4、一年保修期后的售后服务一年后实行按次上门收费服务，或客户可签订收费年服务合约。

PW-OMV2018超大行程影像测量仪 、产品特点： 全大理石移动桥式结构，工件固定不动；四轴CNC全自动闭环控制，全自动测 量；大理石基座和横梁，稳定可靠；开放式光栅尺，分辨率0.1um，精度高， 稳定性好；精密直线导轨、研磨滚珠螺杆和交流伺服电机，确保机台运动系统 定位精度的稳定性；高分辨率数字相机，满足清晰观察和稳定测量的需求； 6.5X高清晰光学镜头，准确自动变倍，一次像素校正即可；程控式5环8区LED 表面光源，智能实现256级亮度调节；标配自主产权全自动影像测量软件，功 能强大，简单易用； 可选配接触式探针，激光测头等配置，也可根据要求进行 客户定制化设计。

高速便携光纤光栅传感解调仪SI155Application　应用 ?桥梁、大坝、建筑物等长期健康监测?震区坝体、道路、桥梁的损坏和险情评估?舰船和飞行器结构完好状态的连续监测 ?风力涡轮机的实时反馈控制 ?深井油压和温度测量,深海石油平台提升装置监测?碳纤维或钢筋混凝土结构中嵌入式应力测量 ?电磁场或恶劣腐蚀环境中测量 ?公路、铁路、海岸线监测?医学、化学、军用测量Features 　特点 ?四个通道，大功率扫描激光光源，同时监测多个传感器 ?使用灵活，适合于应变、温度、压力、加速度等多种测量，在一根光纤上可以接入多个传感器 ?所有通道的全部传感器以1K Hz频率同时扫描?无需校准。SI155在每次扫描时会自动校准。 ?分辨率小于1pm，可重复性2 pm ?内置单板机 ?标准以太网接口使数据通信容易，便于TCP/IP远程控制（可配置无线模块） Description 　描述SI155是一个大功率、高速度、多传感器的测量系统，主要为力学传感应用进行改进。使用了Micron Optics专利技术校正波长扫描激光器，SI155具有高功率快扫描（最高可达5KHz），它是一个完善的系统，具有扫描式光源，通过4个测量器可同时测量每根光纤反射回的光信号。Specifications 　指标 光学指标 光学通道数4（16可选）波长范围1460~1620nm稳定性1pm精度 1pm重复性0.5pm at full speed, 0.05pm with 250 averages)典型光栅要求切趾，反射率﹥90%，带宽﹤0.25nm动态范围25dB扫描频率5kHz光学接头FC/APC电气特性电源供应+7~36VDC（ 含100~240VAC AC/DC Convertor）外部数据传输接口以太网功率25W典型，50W最大机械特性工作温度0~50℃储存温度-20~70℃工作湿度80%（无凝结）外型尺寸132×267×135mm重量2.5kg可选配件外置电源12V蓄电池