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原子散乱分析仪

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原子散乱分析仪相关的论坛

  • STEM能分辨散乱分布的单原子吗?

    STEM能分辨散乱分布的单原子吗?

    请教大神:如题。一直对这样的结果持有很多怀疑。原子衬度的存在貌似都是信息分辨率极高的结果,而这都是基于thin film的理论…而散乱分布没有了周期晶格,怎么分辨出原子呢……如图所示,散乱分布的原子本身能造成那么高的衬度呢?[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708101314_01_1692864_3.png[/img]

  • 深圳求购二手散乱光光弹应力测试仪SLP1000/2000一套

    深圳求购二手散乱光光弹应力测试仪SLP1000/2000一套

    深圳求购二手散乱光光弹应力测试仪SLP1000/2000一套本装置可以用散乱光光弹性的原理测定以往无法测定的锂钠离子交换的化学强化玻璃。若表面附近有钾离子层的话,可以与表面应力计FSM-6000LE的数据相合成以分析断面的应力分布不依存屈折率分。方便对应曲面玻璃能够定点测量激光光点直径10um能够与FSM-6000的数据进行合成散乱光光弾性应力仪SLP-2000规格参数测量范围:应力值0-2000Mpa、应力层深度10-600μm测量精度:(应力值)±5Mpa、(深度)5μm光源:LD (518nm) 30mw Class 3B测量对象:化学强化玻璃,2次化学强化玻璃,物理强化玻璃测量尺寸:平面-1000R 10*10mm以上PC:专用(OS、测量软件已安装)OS:Windows 10 professional edition重量:10kg(本体)尺寸:W320*D280*H220mm(本体)欢迎同行介绍[img=slp2000应力仪,406,315]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/08/201908211433155388_5537_2863862_3.png!w406x315.jpg[/img]

  • 华南转让二手散乱光应力仪,日本折原二强玻璃应力仪SLP-2000

    华南转让二手散乱光应力仪,日本折原二强玻璃应力仪SLP-2000

    日本折原SLP-2000散乱光应力仪是利用双折射来改变极化激光束的延迟,并且散乱光的强度随着激光束的延迟的变化而改变,通过偏振光光路上因激光束的延迟而出现的光程差和偏振特性来计算表面压应力和压应力层厚度。本文对散乱光弹性法测量化学钢化玻璃的表面应力的理论依据、测量技术等进行了介绍。SLP-2000散乱光应力测试仪为大部分国家较好一款化学钢化钠离子玻璃内应力检测仪器,用于测量化学强化和物理强化玻璃的内应力。该仪器采用无损检测方式,使用操作方便,既缩短了测量所需时间,又对玻璃生产过程进行及时监控,能很好的分析化学钢化玻璃的内应力分布情况,进而判断产品的钢化程度。[img=,690,346]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/09/202209211015394525_7007_1918511_3.jpg!w690x346.jpg[/img]【仪器特点】1.具有其他型号没有的较好的测量方法(激光束光弹性分析原理)。2.自动测量,因测试者造成的个人误差小。3.能够用电脑保存数据,便于品质管理。4.相位图与应力的映射关系算法可设计。5.使用LED光源,使用寿命长,达到10,000小时 (以前500小时)。6.使用了玻璃校准片因此可将机器误差控制到较小。7. .能够用电脑自动保存数据,便于品质管理。8.实现连续测量的同时并根据设置区间自动判断合格/不合格。9、在连续测量时系统自动保存测量的数据,并累计测量数目(合格数目/不合格数目)。10、除了连续测量,也可以自由选择单次测量、手动测量等测量方式。【技术参数】1. 测定对象 :化学强化玻璃、化学2次强化玻璃、 物理强化玻璃2. 测定形状 :平面-1000R 10*10mm以上3. 测定范围 :应力值0-2000Mpa、 应力层高层度10-600μm4. 测定分辨能力:应力 5Mpa 高层度5μm5. 测定精度 :从表面算起50μm之后 应力值±10MPa高层度±10μm(以标准片为基准)6. 光源 :LD 520nm 30mW Glass3B 棱镜:S-LAL-10 ND=1.727. PC:***(Windows 10、测量软件已安装)8. 电源:AC220V±5V 高等9. 尺寸:300×600×200mm10. 重量:约 16kg【配置】1. DELL主机;2. CPU:inter core i5及以上;3. 2、系统及软件;4. Windows 10 professional edition 64bit;5. SLP分析、计算软件;6. PMC拟合软件;7. 3、包含主板、视频/音频、网卡、显示器、操作系统、键盘、鼠标等配件。【使用注意事项】1.请操作机器时要轻拿轻放被测样品,以免对棱镜部分造成损伤。2.当检测图像显示不清晰时,请自行用棉签棒沾工业酒精轻轻擦拭棱镜表面和斜面。3.***连通互联网和局域网以及含有***的 USB 接口的软盘或硬盘。4.请在室内使用该机器,避免强光照射,室内空气不可太潮湿,且酸碱度要适中。5.请远离其他化学品。6.请务必保存好配套的密码狗,如有丢失责任自负。7.请正确操作本机器配套的电脑配置,切勿随意强制关机,以免造成电脑毁坏。8.使用环境 :18 -28,45~85%的环境,不结露(建议暂放在无尘车间)。

  • 散乱光SLP-2000都能测那些玻璃及原理

    散乱光SLP-2000应力仪工作原理和概况SLP-2000应力仪是利用通过玻璃内部应力的双折射来改变极化激光束的延迟,并且散乱光的强度随着激光束的延迟的变化而改变,通过偏振光光路上因激光束的延迟而出现的光程差和偏振特性来计算表面压应力和压应力层厚度。SLP-2000型散乱光应力测试仪(二强钠离子应力仪)为quan qiu wei yi一款化学钢化钠离子玻璃内应力检测仪器,用于测量化学强化和物理强化玻璃的内应力。该仪器采用无损检测方式,使用操作方便,既缩短了测量所需时间,又对玻璃生产过程进行及时监控,能很好的分析化学钢化玻璃的内应力分布情况,进而判断产品的钢化程度。[img=,690,]https://pic3.zhimg.com/80/v2-4152ab114a3ec8a4cd3db452656d4d3e_720w.jpg[/img]【SLP-2000应力仪仪器特点】1.具有其他型号没有的wei yi的测量方法(激光束光弹性分析原理)。2.自动测量,因测试者造成的个人误差小。3.能够用电脑保存数据,便于品质管理。4.相位图与应力的映射关系算法可设计。5.使用LED光源,使用寿命长,达到10,000小时 (以前500小时)。6.使用了玻璃校准片因此可将机器误差控制到zui小。7. 能够用电脑自动保存数据,便于品质管理。8.实现连续测量的同时并根据设置区间自动判断合格/不合格。9.在连续测量时系统自动保存测量的数据,并累计测量数目(合格数目/不合格数目)。10.除了连续测量,也可以自由选择单次测量、手动测量等测量方式。【SLP-2000应力仪技术参数】1. 测定对象 :化学强化玻璃、化学2次强化玻璃、 物理强化玻璃、二次强化微晶玻璃2. 测定形状 :平面-1000R 10*10mm以上3. 测定范围 :应力值0-2000Mpa、 应力层深度10-600μm4. 测定分辨能力:应力 5Mpa 深度5μm5. 测定精度 :从表面算起50μm之后 应力值±10MPa深度±10μm(以标准片为基准)6. 光源 :LD 520nm 30mW Glass3B 棱镜:S-LAL-10 ND=1.727. PC:专用(Windows 10、测量软件已安装)8. 电源:AC220V±5V 5A9. 尺寸:300×600×200mm10. 重量:约 16kg【SLP-2000应力仪配置清单】1. DELL主机:CPU:inter core i5及以上2.系统及软件:3.Windows 10 professional edition 64bit4.SLP分析、计算软件5.PMC拟合软件6.包含主板、视频/音频、网卡、显示器、操作系统、键盘、鼠标等配件【SLP-2000应力仪注意事项】1.请操作机器时要轻拿轻放被测样品,以免对棱镜部分造成损伤。2.当检测图像显示不清晰时,请自行用棉签棒沾工业酒精轻轻擦拭棱镜表面和斜面。3.杜绝连通互联网和局域网以及含有的 USB 接口的软盘或硬盘。4.请在室内使用该机器,避免强光照射,室内空气不可太潮湿,且酸碱度要适中。5.请远离其他化学品。6.请务必保存好配套的密码狗,如有丢失责任自负。7.请正确操作本机器配套的电脑配置,切勿随意强制关机,以免造成电脑毁坏。8.使用环境 :18 -28,45~85%的环境,不结露(建议暂放在无尘车间)。

  • 求原子形态分析仪资料

    各位老师,小弟准备转战元素检测项目,科室有台原子形态分析仪,吉天SA-10的,有哪位老师有原子形态分析仪的资料可以共享下吗?现在这方面的资料都比较难找。在这里先谢过各位了,拜托拜托!

  • 原子荧光分析仪器发展的研究方向

    以激光作为荧光激发光源,与其它分离技术联用组成专用的分析仪器。有关激发光源和原子化器的进一步完善--以电感耦合等离子仪器作为原子化器的原子荧光光谱仪。

  • 【讨论】波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪

    随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近,国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X荧光分析技术(XRF)作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于ROHS指令的场合时,波长色散和能量色散则各有优缺点,测量对象各有侧重;以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散 能量色散 (Si-Pin)型 (SDD)型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高,约15eV较低,约160eV较低,约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命>10年>5年>5年仪器价格46万(国产)25万左右(国产)60万左右(进口)50万(国产)1、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为Si-Pin类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级,基本在20~50ppm左右。2、测量时间:由于波长色散配备较大功率的X光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求:由于技术特点的差异,波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作处理直接进行测量,对样品也没有任何损坏,直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围:由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点,两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同;波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度,但同时需要对被测量样品进行简单处理,更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制;能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差,但具有快速、直接测量各种形状样品的优点,因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率:能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标,分辨率数值越小,分辨率越高,仪器性能越好。6、荧光强度:对于X荧光分析仪器来说,各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系;荧光强度越高,则统计误差越小,测量的准确度越高,仪器性能越好。7、使用寿命:波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上;能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年,影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]

  • 原子吸收分析仪操作步骤

    [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析仪操作步骤(一)因水溶性及固体废弃物的基质复杂性及变异性,通常必须经过适当之前处理。固体、污泥及悬浮物质在分析前必须先加以溶解,此程序随因待测分析的金属及样品特性的不同而异。(二)所有[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]需执行适当的背景校正。 (三)由于不同厂牌及机型的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]会有差异,详细的使用说明无法格式化以适用于每一部仪器,因此分析人员在使用仪器时必须遵循该厂商的使用说明书。下列为操作应当注意事项: 1.选择适当的灯管后,通常需要先让灯管预热 15 分钟。 2.可利用这段期间调整仪器,将单光器调至正确的波长,选择适当的单光器狭缝宽度,并依照厂商的建议调整电流。 3.点火并调节燃料及氧化剂的流量,调整燃烧头及喷雾器的流速以达到最大的吸收及稳定度,保持光度计的平衡。 4.量测一系列待测元素的标准溶液,绘制吸光度对应浓度建立检量线。 5.吸入样品溶液并直接读出或由检量线测定其浓度。每分析一个或一系列样品时须同时量测一次标准溶液。 (四)检量线制作与确认 1.对于非直接读出浓度的仪器,则制作一涵盖适当浓度范围的检量线。通常亦即制备可产生 0.0 到 0.7 吸收度的空白及标准溶液。 (1)每分析一批次样品时,需制备新的检量线标准溶液。若以当天制备之检量线确认溶液(以下简称 ICV)测试结果在可接受的范围,毋需每天制备检量线标准溶液,只要经由当天制备之 ICV 确认后即可使用。若 ICV 超过可接受的规范,必须重新制备新的检量线标准溶液并重新校正仪器。检量线制备须有一个空白溶液和至少五种浓度的检量线标准溶液,此五种浓度须落在校正曲线直线区域的适当范围内。 (2)配制标准溶液所使用的酸或酸组合的种类及其浓度应与样品处理后之结果相同。 (3)先以空白溶液开始,再由低浓度至高浓度吸取标准品溶液,并记录其读值。 (4)重复多次吸取标准溶液与样品,以确保能得到每一溶液之可信赖的平均读值。 2.检量线必须是线性且相关系数 R 值至少大于 0.995以上。 (1)完成检量线制作后,必须以检量线空白及在中间浓度附近的 ICV 确认检量线。ICV 之测值偏差必须在 10 % 以内,且检量线空白所含的待测物浓度不能高于 MDL,此检量线才可认为有效。若标准曲线在指定范围内无法被确认,则应找出原因并在样品分析前重新校正仪器。 (2)每批次分析结束时 / 或每隔 10 个样品后,检量线必须以检量线空白及检量线中间浓度附近的 CCV 确认。CCV 之测值偏差必须在 10 % 以内,且检量线空白所含的待测物浓度不能高于 MDL,此检量线才可认为有效。若 CCV 测值偏差大于 10 % 以上,则应停止分析样品,找出原因并在样品分析前重新校正仪器,且在最后一个可接受的 CCV 之后的所有样品必须重新分析。 3.重复测量标准溶液的浓度,取其平均值,两次测值的相对差异百分比在 10 %以内。 4.若进行微量分析时,检量线第一点的浓度必须在实验室可定量的范围浓度,假如样品浓度值低于检量线最低点的浓度,此报告只能当成估计值。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析仪操作要点一般火焰式[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]之操作参数包括以下五点: (1)火焰高度的调整: 每一个元素最佳的反应高度并不一样,故必须调整其高度以达到最佳吸收度。图二为铬、镁、银在不同火焰高度吸收度差异。 (2)燃料比例: 每一个元素的操作灵敏度受气燃比之影响相当大,某些元素可能适合氧化焰(Lean,因二次空气的供给,燃烧完全,焰温较高,置于此焰层内之金属多被氧化成金属氧化物。),但有些可能适合还原焰(Rich,此焰层能使含氧化合物还原,例如重金属氧化物,置于此焰中灼烧,会失去其所含的氧,被还原成金属。)。图三为铬在不同火焰操作条件下其吸收度之差异 (3)灯管电流: 电流的大小也会影响吸收度。如果灯管的电流太小,则吸收度会下降,但如果太高则可能因自身吸收效应(Self Absorption Effect)使其吸收度下降。图四为镁在不同灯管电流操作下,吸收度之差异性比较。(电流太强,会导致灯管寿命降低) (4)狭缝宽度: 狭缝太小则使进入的光能量太弱,使吸收度下降,太宽则使进入的光线太多,易造成干扰,故于分析前可参考操作手册之建议条件或是自行测试选择较适当的狭缝宽度。图五为镍在不同狭缝宽度设定下其吸收度之差异性比较。 (5)波长选择: 元素吸收灵敏度与所选择的波长有很大的关系,通常每一个元素多有数个波长可供选择,可依据分析的需求选择适当的波长。 影响仪器之干扰 [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]法可能面临的干扰可概分六类,(1)光谱干扰(Spectral Interference)、(2)火焰放射干扰(Flame Emission Interference)、(3)化学干扰(Chemical Interference)、(4)基质干扰(Matrix Interference)、(5)非特定性散射(Non-Specific Scatter)及(6)离子化干扰(Ionization Interference)。 (1)光谱干扰:此干扰主要是样品中存在其它元素造成的干扰。此干扰近年来因中空阴极射线技术的提升已很少发生。 (2)放射干扰:此干扰主要来自于样品放射出与欲吸收的波长相同。此干扰可藉由提高电流强度或降低狭缝宽度来解决。 (3)化学干扰:此干扰最常发生于利用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]来分析镁、钙、锶及钡等金属。最常见的干扰物种有硅酸盐、磷酸盐及铝酸盐等化合物。一般解决的方法有两种,一为利用螯合剂(EDTA)与金属错合,二为添加氯化镧与造成干扰的阴离子错合;或者可利用笑气-乙炔来解决化学干扰的问题。 (4)基质干扰:一般此干扰原因有(a)溶液中含有机溶剂而造成吸收度的增加,(b)因溶液的黏滞性较高因雾化效率下降而造成吸收度下降,(c)溶液的盐度较高而造成吸收度下降。 以上四种干扰可藉由标准添加法(Standard Addition)或是萃取法将金属自溶液中萃取出来或者改用其它的分析技术。 (5)非特定性干扰:此干扰来自样品中含有高浓度的盐类,此情形最常发生于波长在250 nm以下,此干扰可用萃取技术及背景校正来克服。 (6)离子化干扰:此干扰最常发生于低游离能元素,如碱金族及碱土族元素。解决的方法可在样品中加入比待测元素更容易解离的化合物,如分析钙时可添加1000 ppm的氯化钾溶液。 [em61]

  • 【有奖调查】原子光谱分析仪器应用之前处理方法

    目前,原子光谱分析仪器多种多样,应用于各行各业的不同领域,为保证人类健康提供了有利的检测手段,成为我们身边不可缺少的分析仪器之一。该类分析仪器的前处理方法有其共性的地方,欢迎大家投票讨论!

  • 【讨论】金属原位分析仪与火花源原子发射光谱仪的比较

    不知目前国内有多少人使用过金属原位分析仪,大家谈谈它与火花源原子发射光谱仪的异同吧。。。国内的金属原位分析仪能否走向世界,能否被国外所接受,它的发展前景如何,大家谈谈自已的看法吧。。。[img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif[/img]

  • 【欢迎评论】BCEIA金奖--SA-10型原子荧光形态分析仪

    【欢迎评论】BCEIA金奖--SA-10型原子荧光形态分析仪

    [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/10/200710221659_67571_1609636_3.jpg[/img]SA-10型原子荧光形态分析仪 北京吉天仪器有限公司技术参数 元素 形态 最小检出量(ng) 分析时间(min) 精密度 线性范围 相关系数 As As(III)  0.04   DMA    0.08     0.999   MMA    0.08   As(V)   0.2 Se SeCys   0.3   SeMeCys  1.0     0.999   Se(IV)   0.3   SeMet   2.0 主要特点 用于As、Se、Hg、Sb等元素的形态分析 在线消解装置(专利):使得管路大大缩短,避免了柱后峰形展宽,提高了仪器分析性能。 气液分离装置(专利):旋风式的载气进气方式大大降低了进入原子荧光检测器的水汽含量,提高了分析灵敏度,其与采用Nafion管除水效果相当,另外,其排废方式使得基线平稳。 专用的液相色谱和氢化物发生原子荧光光谱仪接口(专利):可以有效的把柱后流出液和氢化物发生液体混合。 数据可以COM形式输出,配接本公司专用的液相色谱-原子荧光检测软件,可以实现连续的检测。数据也可以电平方式输出,直接可配接色谱工作站软件。 原有吉天公司原子荧光用户可以升级到形态分析功能。 应用领域: 食品卫生检验、环境样品检测、地质冶金样品检测、水样品检测、农业及其产品检测、临床监测、教育及科研 仪器介绍 SA-10形态分析仪系统采用在线色谱分离-原子荧光检测法进行形态分析,快速简单,峰形尖锐,完全基线分离。SA-10形态分析仪可用于能够形成氢化物的金属元素的形态分析,如砷、硒、汞元素。 、

  • 【转帖】能量色散光谱分析仪与波长色散光谱分析仪的区别

    能量色散分析仪只有一个探测器,它对测量X射线能量范围是不受限制的,而且这个探测器能同时测量到所有能量的X射线。也就是说只要激发样品的X射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件,对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量X射线:密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 能量色散的条件是当样品被激发后产生的X射线通过窗口进入探测器探测器把X射线能量转换成电荷脉冲,每个X射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲,当这些电压脉冲经充分放大后,被送入脉冲处理器,脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号,由计算机进行分类,分别存入多道分析器(MCA)的相应通道内,一般使用1024-2048道MCA。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。 波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长,由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置,以满足布拉格定律的要求。 X射线荧光分析和其它光谱分析一样,也是一种相对分析。这就是说,要有一套参考标样,这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量,记录欲分析元素的强度,建立浓度(含量)、强度(CPS)校准曲线,存入处理数据的计算机,供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线,强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。 另外由于校准线要在很长一段时间内使用,所以应对仪器的漂移作出调整,尽管这种漂移不大,但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作SUS(调整样)的特殊样品,它们含有适量的分析元素,有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。

  • 元素分析仪之 原子吸收分光光度计故障和解决方法

    元素分析仪之 原子吸收分光光度计故障和解决方法 元素分析仪原子吸收分光光度计的特点是灵敏度高、分析速度快、测定元素多、数据准确、操作简便和干扰少,作为金属分析的主要精密仪器发展迅速。不过在使用的时候,或多或少会出现一些故障问题,下面就经常出现的问题原因和排除方法做一些总结,以供参考。  1、样品不进入仪器或进样速度缓慢故障现象   原因分析1:进样毛细管和雾化器堵塞。   排除方法:观察毛细管内气泡提升状态可大致断定进样毛细管或雾化器是否被堵塞,如被堵塞,可更换毛细管或用10%硝酸进行清洗。   原因分析2:空气压力低.   排除方法:检查空气管路的气密性,如有漏气密闭好即可。   原因分析3:样品溶液粘度较大。   排除方法:适当的对样品溶液进行稀释处理,如果故障未能解除,应重新对样品进行处理。   原因分析4:温度过低,喷雾器无法正常工作。   排除方法:元素分析仪仪器的环境温度应在10~30℃之间,若温度过低,低温高速气体将使样品无法雾化,甚至结成冰粒,遇到此故障可提高气温予以解决。   2、火焰异常故障现象   原因分析:燃气不稳或纯度不够。   排除方法:首先要排除气路故障,应检查燃气和助燃器通道是否漏气或气路堵塞。钢瓶中的乙炔是溶解于吸收在活性炭上的丙酮中的,由于丙酮的挥发导致燃烧火焰变红,遇到此故障更换乙炔瓶即可。另外,周围环境的干扰,也会使火焰异常。当空气流动严重或者有灰尘干扰时,应及时关闭门窗,以免对测定结果造成影响。   3、元素分析仪仪器没有吸收或吸光度值不稳定故障现象   原因分析1:空心阴极灯使用时不亮或灯闪。   排除方法:空心阴极灯使用一段时间或长时间不用,会因为气体吸附、释放等原因而导致灯内气体不纯或损坏,导致发射能力的减弱。因此,不经常使用的灯,每隔三、四个月取出点燃2~3h。每次使用时应充分预热灯30min以上,如果因电压不稳导致灯闪,应立即关闭电源以免造成空心阴极灯损坏。连接稳压电源,待电压稳定后再开机使用。如未能解决,应更换空心阴极灯。   原因分析2:工作电流过大。   排除方法:对于空心阴极较小的元素灯,工作电流过大,使灯丝发热温度较高,导致原子发射线的热变宽和压力变宽,同时空心阴极灯的自吸增大,使辐射的光强度降低,导致无吸收.因此,空心阴极灯发光强度在满足需要的条件下,应尽可能的采用较小的工作电流。   原因分析3:雾化系统内管路不畅通。   排除方法:这有可能是吸入浓度较高或分子量较大的测试液造成的,清洗雾化器即可。   原因分析4:样品前处理不彻底。   排除方法:观察样品中有无沉淀或悬浮物,如有沉淀,应重新对样品进行处理。4、燃烧器火焰成V字型燃烧故障现象   原因分析:燃烧器缝口有污渍或水滴导致火焰不连续燃烧。 排除方法:元素分析仪仪器关闭后,可用柔软的刀片轻轻刮去燃烧器缝口的污渍或擦干燃烧器内腔及缝口的水滴。

  • 【在线分析仪知识普及】说说在线分析仪三…现在的在线分析仪(收集)

    三、现在的在线分析仪(90年代的初期…现在)进入九十年代,新建装置自动化水平也越来越高,对在线分析仪的要求也越来越高,主要变化在三个方面:第一个是数据处理方面:过去的分析仪,只是将分析结果以4…20MA的信号远程传输,在中央控制仪实时显示,操作人员根据显示结果,进行流程调整。而现在,信号传输过去后,输入的是中央数据处理系统。此系统收集所有的温度、压力、流量、物位、阀门定位及分析数据,组成一个物料平衡系统。每一项数据的改变,也就意味着其它数据跟着要改变,以促成一个新的平衡产生。这也就意味着,靠过去的实验室分析的分析结果,在数据上已不能保证它的时效性,没有时效性,分析结果的准确性也就无从谈起。实验室分析结果证明的是过去,在线分析仪分析数据说明的是现在。当然这个现在也是有一定的滞后性的,一般有几分钟。我们缩短的就是滞后时间。第二个方面:分析数据的储存。上一节我说到,中期的分析数据是靠记录仪走纸书面保存的。随着CPU的出现,一些数据显示已经从走纸信号显示发展到数字显示且能储存一周左右的数据啦,可通过软盘,随时下载保存,数据显示开始由书面走进了电子文件显示。分析数据不光能显示,而且可能通过设定高低报警值,来监视数据运行,一旦超限,即可发出声和光报警。发展到如今,分析数据的保存,只要你的硬盘足够大,可无限保存,读取更是不成问题。分析结果的趋势少则查一周,多则查一月,再长,只好调硬盘啦。这对仪器运行判断和流程变化判断都提供了无可比拟的方便。第三方面 仪器更新:仪器信号线也从无屏蔽线变成有屏蔽线,大大降低了信号衰减,分析仪测量数值与中央控制系统上的显示数值基本一致。同时,分析仪器的检测器也在突飞猛进。检测器结构更加紧凑,仪器布局更加合理,小型化趋势也越来越明显。检测器核心材质也发生了很大变化,检测数据更加灵敏,仪器适应性和适应领域也逐步普及。过去一台仪器所占有的空间,现在可以放2台,甚至4台仪器。仪器无论从重量还是体积,都在大幅缩水,而检测性能却呈现数量级式的上升。仪器常规维护量也在大幅下降。例如:过去的电解式微量氧,一个银电极有近30克重,拉直啦,有近十米长,蒸馏水和电解液消耗量大,两到三天就要加液一次,中期的这类仪器,其检测器核心部件…银电极,只有3克左右,网状布局,接触面大,外形只有过去的三分之一,维护保养量不及前者的五分之一;后期的同类仪器,则采用多对电极平衡,仪器测量反应速度快速,偏差小。后期的在线分析仪重在发展仪器的准确、快速、稳定上下了不少功夫。各类仪器都有显著进步,后面咱们分门别类再稍加叙述吧。现在的在线分析仪,广泛应用于石化、化工、炼油、天然气、热电、冶金、化纤、轻工、城市公用工程、环境监测、分析仪器制造、电子、医药生产等多种领域。四、在线分析仪分类

  • 【分享】-----原子吸收分析仪操作步骤

    [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析仪操作步骤(一)因水溶性及固体废弃物的基质复杂性及变异性,通常必须经过适当之前处理。固体、污泥及悬浮物质在分析前必须先加以溶解,此程序随因待测分析的金属及样品特性的不同而异。(二)所有[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]需执行适当的背景校正。(三)由于不同厂牌及机型的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]会有差异,详细的使用说明无法格式化以适用于每一部仪器,因此分析人员在使用仪器时必须遵循该厂商的使用说明书。下列为操作应当注意事项:1.选择适当的灯管后,通常需要先让灯管预热 15 分钟。2.可利用这段期间调整仪器,将单光器调至正确的波长,选择适当的单光器狭缝宽度,并依照厂商的建议调整电流。3.点火并调节燃料及氧化剂的流量,调整燃烧头及喷雾器的流速以达到最大的吸收及稳定度,保持光度计的平衡。4.量测一系列待测元素的标准溶液,绘制吸光度对应浓度建立检量线。5.吸入样品溶液并直接读出或由检量线测定其浓度。每分析一个或一系列样品时须同时量测一次标准溶液。(四)检量线制作与确认1.对于非直接读出浓度的仪器,则制作一涵盖适当浓度范围的检量线。通常亦即制备可产生 0.0 到 0.7 吸收度的空白及标准溶液。(1)每分析一批次样品时,需制备新的检量线标准溶液。若以当天制备之检量线确认溶液(以下简称 ICV)测试结果在可接受的范围,毋需每天制备检量线标准溶液,只要经由当天制备之 ICV 确认后即可使用。若 ICV 超过可接受的规范,必须重新制备新的检量线标准溶液并重新校正仪器。检量线制备须有一个空白溶液和至少五种浓度的检量线标准溶液,此五种浓度须落在校正曲线直线区域的适当范围内。(2)配制标准溶液所使用的酸或酸组合的种类及其浓度应与样品处理后之结果相同。(3)先以空白溶液开始,再由低浓度至高浓度吸取标准品溶液,并记录其读值。(4)重复多次吸取标准溶液与样品,以确保能得到每一溶液之可信赖的平均读值。2.检量线必须是线性且相关系数 R 值至少大于 0.995以上。(1)完成检量线制作后,必须以检量线空白及在中间浓度附近的 ICV 确认检量线。ICV 之测值偏差必须在 10 % 以内,且检量线空白所含的待测物浓度不能高于 MDL,此检量线才可认为有效。若标准曲线在指定范围内无法被确认,则应找出原因并在样品分析前重新校正仪器。(2)每批次分析结束时 / 或每隔 10 个样品后,检量线必须以检量线空白及检量线中间浓度附近的 CCV 确认。CCV 之测值偏差必须在 10 % 以内,且检量线空白所含的待测物浓度不能高于 MDL,此检量线才可认为有效。若 CCV 测值偏差大于 10 % 以上,则应停止分析样品,找出原因并在样品分析前重新校正仪器,且在最后一个可接受的 CCV 之后的所有样品必须重新分析。3.重复测量标准溶液的浓度,取其平均值,两次测值的相对差异百分比在 10 %以内。4.若进行微量分析时,检量线第一点的浓度必须在实验室可定量的范围浓度,假如样品浓度值低于检量线最低点的浓度,此报告只能当成估计值。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析仪操作要点一般火焰式[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]之操作参数包括以下五点:(1)火焰高度的调整:每一个元素最佳的反应高度并不一样,故必须调整其高度以达到最佳吸收度。图二为铬、镁、银在不同火焰高度吸收度差异。(2)燃料比例:每一个元素的操作灵敏度受气燃比之影响相当大,某些元素可能适合氧化焰(Lean,因二次空气的供给,燃烧完全,焰温较高,置于此焰层内之金属多被氧化成金属氧化物。),但有些可能适合还原焰(Rich,此焰层能使含氧化合物还原,例如重金属氧化物,置于此焰中灼烧,会失去其所含的氧,被还原成金属。)。图三为铬在不同火焰操作条件下其吸收度之差异 (3)灯管电流:电流的大小也会影响吸收度。如果灯管的电流太小,则吸收度会下降,但如果太高则可能因自身吸收效应(Self Absorption Effect)使其吸收度下降。图四为镁在不同灯管电流操作下,吸收度之差异性比较。(电流太强,会导致灯管寿命降低)(4)狭缝宽度: 狭缝太小则使进入的光能量太弱,使吸收度下降,太宽则使进入的光线太多,易造成干扰,故于分析前可参考操作手册之建议条件或是自行测试选择较适当的狭缝宽度。图五为镍在不同狭缝宽度设定下其吸收度之差异性比较。(5)波长选择:元素吸收灵敏度与所选择的波长有很大的关系,通常每一个元素多有数个波长可供选择,可依据分析的需求选择适当的波长。影响仪器之干扰[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]法可能面临的干扰可概分六类,(1)光谱干扰(Spectral Interference)、(2)火焰放射干扰(Flame Emission Interference)、(3)化学干扰(Chemical Interference)、(4)基质干扰(Matrix Interference)、(5)非特定性散射(Non-Specific Scatter)及(6)离子化干扰(Ionization Interference)。 (1)光谱干扰:此干扰主要是样品中存在其它元素造成的干扰。此干扰近年来因中空阴极射线技术的提升已很少发生。(2)放射干扰:此干扰主要来自于样品放射出与欲吸收的波长相同。此干扰可藉由提高电流强度或降低狭缝宽度来解决。(3)化学干扰:此干扰最常发生于利用[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]来分析镁、钙、锶及钡等金属。最常见的干扰物种有硅酸盐、磷酸盐及铝酸盐等化合物。一般解决的方法有两种,一为利用螯合剂(EDTA)与金属错合,二为添加氯化镧与造成干扰的阴离子错合;或者可利用笑气-乙炔来解决化学干扰的问题。(4)基质干扰:一般此干扰原因有(a)溶液中含有机溶剂而造成吸收度的增加,(b)因溶液的黏滞性较高因雾化效率下降而造成吸收度下降,(c)溶液的盐度较高而造成吸收度下降。以上四种干扰可藉由标准添加法(Standard Addition)或是萃取法将金属自溶液中萃取出来或者改用其它的分析技术。 (5)非特定性干扰:此干扰来自样品中含有高浓度的盐类,此情形最常发生于波长在250 nm以下,此干扰可用萃取技术及背景校正来克服。(6)离子化干扰:此干扰最常发生于低游离能元素,如碱金族及碱土族元素。解决的方法可在样品中加入比待测元素更容易解离的化合物,如分析钙时可添加1000 ppm的氯化钾溶液。

  • 【有奖调查】原子光谱分析仪器应用之前处理方法

    目前,原子光谱分析仪器多种多样,应用于各行各业的不同领域,为保证人类健康提供了有利的检测手段,成为我们身边不可缺少的分析仪器之一。该类分析仪器的前处理方法有其共性的地方,欢迎大家投票讨论!http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09505.gifhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09505.gifhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09505.gifhttp://bbs.instrument.com.cn/shtml/20101205/2977424/

  • 求助"三元素分析仪"的分析原理和方法

    由于我们公司刚建实验室.在买的仪器中有三元素分析仪,可是GB的分析方法里没有用这的方法.我又是刚参加工作的,不知道三元素分析仪的分析结果能否符合国家的标准.那位大侠要是知道麻烦说下,小弟在这谢谢了!!!

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