在线板厚测量仪

在线PCB板厚测量仪用途：在线板厚测量仪，应用于PCB/PCBA、汽车、机加工等行业，采用非接触式激光测量，能够在线精密测量PCB压合后板材及塑胶、模类等的厚度。 特征:1、 高质量：在线检测减少不良品的产出，采用非接触式激光测量，无破坏性；2、 高效率：测量效率为6-8S/pc；3、数据准：测试精度高达±5μm，同时在线检测可减少人为记录和测试误差；4、测试板厚：0-12mm，适用板材厚度范围广。 技术参数： 项目BT11测量类型非接触式激光测量测试点 1.自定义 2.软件指定，均布5点，9点 板厚测量范围0-12mm测试精度±5μm（标准片）0-25μm（PCB板与千分尺实测对比，PCB翘曲＜0.8mm）测试板尺寸范围250mm*250mm—650mm*620mm测量效率6-8S/pc测试点定位精度±3mm

用途：在线板厚测量仪，应用于PCB/PCBA、汽车、机加工等行业，采用非接触式激光测量，能够在线精密测量PCB压合后板材及塑胶、模类等的厚度。 特征:1、 高质量：在线检测减少不良品的产出，采用非接触式激光测量，无破坏性；2、 高效率：测量效率为6-8S/pc；3、数据精度：测试精度高达±5μm，同时在线检测可减少人为记录和测试误差；4、测试板厚：0-12mm，适用板材厚度范围广。 技术参数： 项目BT11测量类型非接触式激光测量测试点 1.自定义 2.软件指定，均布5点，9点 板厚测量范围0-12mm测试精度±5μm（标准片）0-25μm（PCB板与千分尺实测对比，PCB翘曲＜0.8mm）测试板尺寸范围250mm*250mm—650mm*620mm测量效率6-8S/pc测试点定位精度±3mm传感器型号LK系列（基恩士）传感器分辨率0.025μm传感器激光直径φ50μm （光点直径）平台输送速度6M/min、12M/min统计功能yse收板功能选配工作环境温度22±3℃电源要求AC220V 50HZ气源要求0.6-0.8Mpa 功率2KW重量 500KG外形尺寸L*W*H（mm）1536*1245*1420(平台900)

自动板厚测量仪BH32用途在线板厚测量仪，应用于PCB/PCBA、汽车、机加工等行业，采用非接触式激光测量，能够在线精密测量PCB压合后板材及塑胶、模类等的厚度以及PCB成品金手指板厚的测量。特征1.全自动上下料，OK、NG板自动分堆。2.采用激光传感器测量，切换料号便捷，不用更换治具。3.测量效率快，0.5S/点。技术参数：项目规格仪器功能PCB板厚测量测量类型非接触式激光测量测试点1、自定义2、 软件指定,均布5点,9点板厚测量范围0.4-5mm测试精度士5um (标准片)0-15um (PCB板与千分尺实测对比,PCB翘曲0.8mm)测试板尺寸范围100mm *80mm- -400mm *400mm测量效率0.5S/点位+6S定位测试点定位精度士0.1mm传感器型号CL-P030激光同轴位移器(基恩士)传感器分辨率0.025um传感器激光直径50um (光点直径Thelaser)平台输送速度60M/min操作高度950mm士25mm统计功能YES收板功能选配电源要求AC220V 50HZ气源要求0.5-0.8Mpa功率5KW重量1500KG外形尺寸L'W'H (mm)4000* 1200*1800(平台1900* 1100)

广东正业生产的长臂板厚测量仪，专用于PCB板行业的，用于检测覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量，以及其它板材厚度的测量。 长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪用途： 主要用于覆铜层压板和多层板压层后的厚度测量，以及其它板材厚度的测量。长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪特点:● 喉深大，能对大型板材中间部位的厚度进行测量● 板厚测量范围大，测量精度高● 能进行mm/inch公制、英制单位切换● 测量数据液晶屏幕显示，非常直观● 能任意位置&ldquo 置零&rdquo ● 桌面为电木板，不会划伤被测板的表面● 性能稳定可靠、操作简单、使用方便长臂板厚测量仪|PCB板厚度测量仪技术规格:外形:宽mm900× 深mm× 990高× mm1150喉深（mm）:530板厚测量范围（mm）:0～25测量行程（mm）:25桌面尺寸（mm）:900× 870测量精度（mm）:0.003额定电压/额定功率:220V～50Hz/100W重量（Kg）:120

长臂板厚测量仪，PCB板厚测量仪PCB板厚测量仪用途：用于精密测量覆铜层压板，印制线路板和其它板材的厚度。数字显示读数为小数点后三位，该机配制脚踏开关，以便操作者更方便测量、取数。 PCB板厚测量仪特征：1、喉深大，可满足大型板材测量要求； 2、板厚测量范围大，测量精度高，可达0.003mm；3、公制、英制单位任意切换；4、测量数据液晶屏幕显示；5、可任意位置“置零”；6、花岗岩台面，经久耐用，美观大方；7、性能稳定可靠、操作简单、使用方便；8、可选配SPC（统计过程控制）软件，提高质量管控。

纸张测厚仪_纸板厚度测量仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 纸张测厚仪_纸板厚度测量仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

在线X射线荧光膜厚测量仪厂家：k-Space Associates, Inc.型号：kSA XRF技术介绍对于膜层厚度太薄的金属薄膜和介电薄膜，光学方法测量其厚度显得不是很可靠。kSA XRF 系统的推出主要就是为了解决该问题，它可以在线测量许多不同材料基底（例如：玻璃和太阳能电池组件）上的薄膜厚度。设备详情配备保护性定制框架外壳，放置X射线源和探测器。该设备桥接了输送线，以便于设备安装和工厂用户对系统的访问。当 X 射线源正在使用时，会有警示灯闪烁提示。配备面板的前/后边缘光电检测器，用于触发设备自动启停。柜式控制器提供数据处理及存储功能。配备小型灯塔用于指示检测情况。产品优势某些薄的介电薄膜，光学方法难以测量其厚度，如低于100nm厚度薄膜；在这种情况下，kSA XRF可以很好地测量。可在多种基板上测量金属薄膜厚度。实时数据采集，检测薄膜厚度缺陷并进行在线反馈。软件功能可定制，用户可以依据特定要求设置。检测过程中可对质量控制进行验证，以确保涂层厚度在公差范围内。工厂集成功能：使工厂用户能够将计量整合到现有系统（工厂警报、PLC、电子邮件警报等）中。操作便捷，几乎不需要额外设置，只需操作员定期进行设备校准。工作原理 该系统由一个带有高压发生器的 X 射线管和一个 X 射线探测器系统组成。其 X 射线检测系统组合了固态探测器、放大器、脉冲高度分析仪和多通道分析仪。光谱仪能量校准后，系统自动识别 X 射线光谱峰值，并收集峰值强度以进行进一步处理。该工具可根据客户的薄膜配方和测量需求测量对应的原子种类。软件功能使用专有的 k-Space 软件测量，分析和存储数据。可与现有质量控制系统对接通讯。利用光电检测器的触发器启动和停止数据采集。专为典型的玻璃和太阳能电池板输送速度而设计。完全自动化，能够与工厂自动化通信对接。报警信号可便捷的自定义配置。单个检测头可以放置在面板宽度上的任何位置，并且可选配使用多个检测头。厚度测量范围为 0~500 nm±1 nm，灵敏度和测量不确定度取决于被测元素。软件截图

铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品用途：菲希尔铜厚测量仪属于一款手持式设备，用于非破坏性的测量多种基材上的，包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。适用于测量：测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20ZN）钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头ESD2.4）钢铁上的电镀镍层（探头ESD20NI,频率60KHZ或240KHZ） 铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪产品特点：测量印刷线路板上覆铜板，即使在阻焊剂下的厚度。测量印刷线路板上通孔内的铜壁厚度。测量锌，铜，铝等镀层在钢或铁上的厚度。尤其适合于在粗糙的表面测量。测量锌镀层在较小的钢部件上。由于它较小的测量面积以及相位感度涡流方法带来的优点，使得对于不同几何尺寸的部件不需要特别的校准。测量钢或铁部件上的电镀镍层。可以根据镍层的厚度范围选择两种不同的测量频率。铜厚测量仪，菲希尔PCB铜厚测量仪检测探头：特别适合于Cu/Iso 探头ESD20CuNi/Fe 探头 ESD20NiNFe/Fe 探头ESD20ZnZn/Fe 探头ESD2.4PCB通孔上的Cu 探头ESL080

无纺布厚度测量仪测量物体厚度的仪器适用于精确测量薄膜、复合薄膜、纸张、金属箔、硬件、纸板等硬软材料的厚度。分辨率为1um，广泛应用于薄膜、铝箔制造商、质量检验机构等单位。 技术特征彩色大液晶显示测试结果，以及每次测量值、统计值。触摸屏控制，无需计算机，主机可独立操作，可存储，查询测试结果，节省每次测试必须连接计算机的繁琐。仪器具有足够的密码保护等级（3级）。每个操作人员只有独特的登录名和密码组合才能进入仪器操作，以确保数据的完整性和标准化。配备微型打印机，快速打印每次测量结果和统计大值、小值、平均值。仪器自动保存多500组测试结果，随时检查打印。专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地向用户展示测试结果。配备标准RS232接口，方便系统与计算机的外部连接和数据传输。系统程序具有ISP在线升级功能，可提供个性化服务。 技术参数 测量范围 0-10mm （其他量程可定制） 分辨率 1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 20±0.5kPa（纸板） 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张）1000mm² （纸板） 注：纸板、薄膜、纸张任选一种 机器尺寸 450mm×340mm×450mm (长宽高) 重 量 28Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机无纺布厚度测量仪此为广告

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

美国Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统F60-c 光学膜厚测量仪先进的薄膜光谱反射系统，可以很简单快速地获得薄膜的厚度及 n&k， 采用 r-θ 极坐标移动平台，可以在几秒钟的时间内快速的定位所需测试的点并测试厚度， 可随意选择一种或极坐标形、 或方形、或线性的图形模式，也可以编辑自己需要的测试点。 针对不同的晶圆尺寸，盒对盒系统可以很容易的自动转换，匹配当前盒子的尺寸。 49点的分布图测量只需耗时约 45秒。可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如氧化硅 氮化硅 类金刚石 DLC光刻胶 聚合物 聚亚酰胺多晶硅 非晶硅 硅免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示！请联系我们，我们的应用工程师会在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪Filmetrics 光学膜厚测量仪 F60-C膜厚测量仪

产品特点： ? 薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。? 高性能的低价光学薄膜测量仪。? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。? 无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型样品尺寸最大8寸晶圆（厚度5mm）膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30μm15μm~1.5mm波长范围450nm~780nm300nm~800nm900nm~1600nm1470nm~1600nm膜厚精度±0.2nm以内±0.2nm以内--重复再现性(2σ)0.1nm以内0.1nm以内--测量时间0.1s～10s以内测量口径约Φ3mm光源卤素灯UV用D2灯卤素灯卤素灯通讯界面USB尺寸重量280（W）×570（D）×350（H）mm，约24kg软件功能标准功能波峰波谷解析、FFT解析、最适化法解析、最小二乘法解析选配功能材料分析软件、薄膜模型解析、标准片解析 应用范围： ? 半导体晶圆膜(光阻、SOI、SiO2等)? 光学薄膜(OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等)应用范例： ? PET基板上的DLC膜? Si基板上的SiNx

产品特点： ? 薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。? 高性能的低价光学薄膜测量仪。? 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。? 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。? 无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。? 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 型号FE-300VFE-300UVFE-300NIR对应膜厚标准型薄膜型厚膜型超厚膜型样品尺寸最大8寸晶圆（厚度5mm）膜厚范围100nm~40μm10nm~20μm3μm~30μm15μm~1.5mm波长范围450nm~780nm300nm~800nm900nm~1600nm1470nm~1600nm膜厚精度±0.2nm以内±0.2nm以内--重复再现性(2σ)0.1nm以内0.1nm以内--测量时间0.1s～10s以内测量口径约Φ3mm光源卤素灯UV用D2灯卤素灯卤素灯通讯界面USB尺寸重量280（W）×570（D）×350（H）mm，约24kg软件功能标准功能波峰波谷解析、FFT解析、最适化法解析、最小二乘法解析选配功能材料分析软件、薄膜模型解析、标准片解析 应用范围： ? 半导体晶圆膜(光阻、SOI、SiO2等)? 光学薄膜(OC膜、AR膜、ITO、IZO膜等)应用范例： ? PET基板上的DLC膜? Si基板上的SiNx

C11011-01W 微米膜厚测量仪 C11011-01W型光学微米膜厚测量仪利用激光相干度量学原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，选配的映射系统可以测量指定样品的厚度分布。C11011-01W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！特性利用红外光度测定进行非透明样品测量测量速度高达60 Hz测量带图纹晶圆和带保护膜的晶圆长工作距离映射功能可外部控制参数型号C11011-01W可测膜厚范围（玻璃）25 μm to 2900 μm*1可测膜厚范围（硅）10 μm to 1200 μm*2测量可重复性（硅）100 nm*3测量准确度（硅） 500 μm: ±0.5 μm； 500 μm: ±0.1 %*3光源红外LED（1300 nm）光斑尺寸φ60 μm*4工作距离155 mm*4可测层数一层（也可多层测量）分析峰值探测测量时间22.2 ms/点*5外部控制功能RS-232C / PIPE接口USB2.0电源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗50W*1：SiO2薄膜测量特性*2：Si薄膜测量特性*3：测量6 μm厚硅薄膜时的标准偏差*4：可选配1000mm工作距离的模型C11011-01WL*5：连续数据采集时间不包括分析时间

卫生纸厚度测量仪测厚仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度，适用于薄膜、复合膜、纸张、金属箔片、硬片、纸板等硬质和软质材料厚度精确测量。分辨率达1um，广泛应用于薄膜、铝箔生产企业、质检机构等单位。 技术特征 彩色大液晶显示测试结果，及每次测量值、统计值触摸屏控制，无需借助计算机，主机即可单独独立操作，可存储、查询测试结果，省去每次测试必须链接电脑的繁琐仪器具有充分的密码防护等级（3级）每个操作人员具有独特的登录名和密码组合才能进入仪器操作，保证数据的完整性和规范性 配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计最大值、最小值、平均值仪器自动保存最多500组测试结果，随时查看并打印 专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地将测试结果展示给用户 配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和数据传输系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务 技术参数 测量范围 0-10mm （其他量程可定制） 分辨率 1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 20±0.5kPa（纸板） 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张）1000mm² （纸板） 注：纸板、薄膜、纸张任选一种 机器尺寸 450mm×340mm×450mm (长宽高) 重 量 28Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机卫生纸厚度测量仪 此为广告

卫生巾底膜厚度测量仪测量物体厚度的仪器适用于精确测量薄膜、复合薄膜、纸张、金属箔、硬件、纸板等硬软材料的厚度。分辨率为1um，广泛应用于薄膜、铝箔制造商、质量检验机构等单位。 技术特征彩色大液晶显示测试结果，以及每次测量值、统计值。触摸屏控制，无需计算机，主机可独立操作，可存储，查询测试结果，节省每次测试必须连接计算机的繁琐。仪器具有足够的密码保护等级（3级）。每个操作人员只有独特的登录名和密码组合才能进入仪器操作，以确保数据的完整性和标准化。配备微型打印机，快速打印每次测量结果和统计大值、小值、平均值。仪器自动保存多500组测试结果，随时检查打印。专业软件提供测试结果图形统计分析，准确直观地向用户展示测试结果。配备标准RS232接口，方便系统与计算机的外部连接和数据传输。系统程序具有ISP在线升级功能，可提供个性化服务。 技术参数 测量范围 0-10mm （其他量程可定制） 分辨率 1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 20±0.5kPa（纸板） 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张）1000mm² （纸板） 注：纸板、薄膜、纸张任选一种 机器尺寸 450mm×340mm×450mm (长宽高) 重 量 28Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTMD645、ASTMD374、ASTMD1777、TAPPIT411、ISO4593、ISO534、ISO3034、 DIN53105、DIN53353、JISK6250、JISK6328、JISK6783、JISZ1702、BS3983、BS4817 产品配置 标准配置：主机、标准量块、微型打印机卫生巾底膜厚度测量仪此为广告

西林瓶底厚测量仪玻璃瓶瓶身测厚仪是检测玻璃瓶塑料瓶壁厚底厚的检测仪器，瓶子在生产的过程中外形和表面可以通过模具控制来保证*，瓶子的内表面是没法控制的。当前玻璃瓶轻量化趋势已经越来越明显，玻璃瓶过重过厚的缺陷使得它与塑料瓶竞争中丧失了机会，同时，对于厂家来说耗费更多的原材料也意味着成本的增加，因此，这几年玻璃瓶包装的轻量化、减重的呼声越来越高。玻璃瓶的瓶身测厚指标成为生产厂家关注的重点指标之一。 壁厚测厚仪技术指标1.拥有触摸显示屏，可实时显示测量点位置及厚度值 ；2.*用户分级权限管理功能，保证数据的完整性和规范性3.配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计zui大值、zui小值、平均值4. 可存储不少于100组数据，每组数据10个测量点5.试验空间可调，使用产品范围广6.系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务 是济南三泉中石实验仪器有限公司参照GGB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准研发生产的包装容器检测仪器。用于制药、食品、药品等行业，测试输液瓶、啤酒瓶、口服液瓶、安瓿瓶 、西林瓶、矿泉水饮料瓶等产品 。 壁厚测厚仪技术特征 触摸显示屏， 可实时显示测量点位置及厚度值 用户分级权限管理功能， 保证数据的完整性和规范性 配备微型打印机，快速打印每次测量结果及统计最大值、最小值、平均值 仪器可存储不少于100组数据， 每组数据10个测量点 试验空间可调，使用产品范围广 系统程序具备ISP在线升级功能，可提供个性化服务 技术参数 测量范围 0-12.5mm 分 度 值 0.001mm 样品直径 10-120mm （其他尺寸可定制） 样品高度 10-290mm（其他尺寸可定制） 外形尺寸 420×280×655（mm ） 重 量 25Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 最高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准 GB12415-90、GB2641-90、GB2639-90、2015年国家药包材标准西林瓶底厚测量仪此为广告

菲希尔台式镀层测量仪膜厚仪 手持式、台式、在线：XAN500型X射线荧光仪器是菲希尔到目前为止功能多样化的设备。 它既可以作为手持式设备使用，也可以作为封闭式的台式机或是直接整合到生产线中。 在配备了平板电脑后，XAN500同样采用久经考验的WinFTM软件。 基于基本参数法的WinFTM软件不仅能进行材料分析，还能测量镀层厚度，并可实现无校准（不需标准片）测量。 手持式便携X射线荧光仪器为镀层厚度测量和合金分析而优化3点支撑，保证每次测量时的位置准确带有WinFTM软件的平板电脑WiFi和蓝牙接口可选的测试箱 应用:在生产过程中，实时检测镀层厚度（如：Zn、ZnNi、Ag、Au）可便捷且稳定地测量大尺寸部件，如管道、外壳或机械零件。将仪器放置到测量箱中，XAN500即成为全功能的台式仪器，可准确地测量小尺寸零件，如螺母和螺栓。还可整合到生产线的控制系统中，可以实现100%的质量监控 准确货期&价格请与客服咨询为准！谢谢

T0022高蓬松度无纺织纤维厚度测量仪，此仪器用于测量高蓬松度无纺织纤维厚度并以数字显示读数。测试方法：在一定压力下，可动平行面板在垂直方向上的直线运动距离即为测定的厚度。厚度是无纺布的一个基本物理性质。在某些工业应用中，厚度需要控制在一个限度内。 应用:高蓬松度无纺织纤维、纺织品、无纺布 产品特点:压板： 300mm x 300mm量程:：200mm可*到:0.01mm基座: 400mm x 400mm数字显示负荷精度: 0.1mm样品大小: 300mm x 300mm样品质量不*过: 288g垂直高度可调 参考标准:ASTM D5736-95 (2001) 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or 110 VAC @ 60 HZ (可根据客户需求定制) 外形尺寸: H: 500mm W: 450mm D: 450mm重量: 40kg

超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪是一款利用超声波测量原理，采用高速处理器、高集成芯片设计，实现便携式、无损、快速、精准地测量多种材料厚度及声速的高精度便携式测厚仪。能以恒定速度穿透物体且产生反射波的材料都可以使用。　　适用于各种材料的高精度厚度测量需求，可应用于各种金属(钢铁、不锈钢、铝、铜、等)石英、玻璃、塑料等材质的被测物体厚度测量。 只需要将探头放置于被测物体一侧的接触面上，既可以迅速准确测量出被测物体厚度。　　 超声波样品厚度测量仪 金属数显厚度测量仪功能特征：　　几乎适合于所有材质的厚度测量,如：金属,玻璃,塑料等材料 　　仪器精美，小巧，直观，采用2.3寸大彩屏显示，手持式携带方便,适合现场检测　　两种测量模式：标准模式/穿透模式(穿透型专用)　　测量精度高，测量范围大，一个标准探头完成全量程　　中英文双语言版本　　蓝牙互联数据传输功能(适用于蓝牙版测厚仪)　　校准：探头标准块校准,声速校准，可通过已知厚度求声速, 通过方向键自由调整数值　　手动关机和自动关机两种，用户可随意选择 　　内置7种常用材料的声速，并可编辑，方便用户使用 　　人性化数据保存模式：大容量存储，并且可分组保存数据，可存储10组数据，每组可保存200个数据，可存储2000个数据，手动保存更有自主性，利于结果分析 　　大容量存储，查看，删除操作，方便简单　　多探头配合使用，高温环境测量可选配高温探头耐高温(300℃)

无标题文档Filmetrics F20 薄膜厚度测量仪测量厚度从 1nm 到 10mm 的先进膜厚测量系统不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，F20适用于各种应用。一：测量厚度、折射率、反射率和穿透率：单层膜或多层膜叠加单一膜层液态膜或空气层二：不同条件下的测量，包括： 在平面或弯曲表面光斑最小可达20微米桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线配置所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网支持（24小时/每周5工作日）。这就是Filmetrics的优势，欢迎您试一试！ 膜层范例基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几乎所有的电介质与半导体材料，例如：应用范围SiNXTiO2DLC光刻胶SU-8聚合物有机电致发光器AIQ材料非晶硅ITO硒化铜铟镓CIGS 厚度测量范围测量原理为何？软件功能以使用者为导向 其他的选用配件选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量专家24小时电话，E-mail和在线支持所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果应用半导体膜层 液晶显示器光刻胶 OLED加工膜层玻璃厚度介电层ITO和TCOs光学镀层生物医学硬涂层 聚对二甲苯抗反射层 医疗器械

德国LAUDA Scientific公司研发生产的LSA MOB-X视频光学接触角测量仪是LSA系列光学接触角测量仪中的独特成员，它是一款基于俯视法（Top-View method）来测量液体和固体表面形成的接触角的接触角测量设备，俯视法（Top-View method）是通过从正上方观测在固体表面形成的液滴的形状来获得液滴的接触角以及与液/固-润湿现象相关的参数的一种测量方法。 在线接触角测量仪LSA MOB-P是一款基于俯视法的在线型接触角测量设备，它是在LSA MOB-M手持便携式接触角测量仪的基础上结合自动加液单元和液滴转移装置，或者通过采用非接触式自动液体分配装置，以及相应的软件模块，可以独立运行或被整合到已有的在线测量系统中，用于实时测量样品表面的接触角、润湿性、洁净度等，以实现产品质量的在线控制。 在线接触角测量仪LSA MOB-P不受样品尺寸的限制，也不受样品形貌的限制，可以测量平整的、凹凸的、或测量点周围有视线障碍的表面，而且可以准确、可靠地测量低至0度的接触角。测量时，可与样品表面保持高达25mm的距离。测量的结果可以通过TTL信号，或者通过软件接口形式反馈给上一层的控制系统或用户。LSA MOB-P可以在约1-2秒内完成一个测量。 LSA MOB-P的特性：---不受样品尺寸、形貌的限制---可以准确、可靠地测量低至0°的接触角---测量时，可与样品表面保持高达25mm的距离---全自动测量---测量的结果可以通过TTL信号，或者软件接口形式反馈

膜厚测量仪-MPROBE - MAKING THIN FILMS THICKNESS MEASUREMENT EASY产品负责人：姓名：魏工(David)电话：（微信同号）邮箱：美国Semisonsoft公司MProbe系列薄膜测厚仪测量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃级分辨率，非接触式无损快速测量。广泛应用在各种生产或研究中，比如测量薄膜太阳能电池的CIGS层，触摸屏中的ITO层等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。测量原理：当指定波长范围的光照射到薄膜上时，从不同界面上反射的光相位不同，从而引起干涉导致强度相长或相消。而这种强度的振荡是与薄膜的结构相关的。通过对这种振荡拟合和傅里叶变换就可获得样品厚度和相关的光学常数。比如：半导体（硅，单晶硅，多晶硅）半导体化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）微电子机械（MEMS）氧化物/氮化物光刻胶硬涂层（碳化硅，类金刚石炭）聚合物涂层（聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）高分子聚合物MProbe膜厚测量仪操作简单，只需一键操作即可获得样品的厚度、折射率（n, k）和表面粗糙度等信息，膜厚测量设备可支持不同光谱范围，光谱范围可达200-1700nm，因此可测量厚度范围可从1nm到2mm。 设备中无移动组件，所以测量结果几乎是即时得到的；TFCompanion测量软件使得测量过程非常简单且透明，测量历史、动态测量、模拟、颜色分析、直接在样品图像上显示结果。膜厚测量仪分类：1、单点膜厚测量——MPROBE-20MPROBE-20膜厚测量仪是一款台式单点膜厚测量设备，设备操作简单，一键获得样品的厚度和折射率，并可提供不同波段范围（适用于不同厚度薄膜）选择。MPROBE-20具有以下几种型号，客户可根据自己所需的波长范围和薄膜厚度进行选择。可供选择型号：型号波长范围核心配置厚度范围VIS200nm -1100nmF3 Ariel Spectrometer, 2048/4096 pix cmos, 16 bit ADC, 5W Tungsten-Halogen lamp10nm – 75 μmUVVISSR700nm -1100nmF4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp1nm -75μmVIS-HR900nm-1700nmF4 Spectrometer, 2048 pix (backthinned),16 bit ADC, 5W TH lamp 1μm-400μmNIR200nm-800nmF4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp50nm – 85μmUVVisF200nm -1700nmF4 spectrometer, Si detector 2048 pixels ccd, 16 bit ADC, 10W Xe flash lamp1nm – 5μmUVVISNIR1500nm-1550nmF4 Spectrometer, 2048pix (backthinned),16 bit ADC 20W TH lamp, 30W Deuterium short-ark lamp. F4spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp1nm -75μmNIRHR200nm -1100nmF4 spectrometer, InGaAs detector 512 pix., 16 bit ADC, 5W TH lamp or SLDoption 10μm-1800μm (glass)4μm-400μm (Si)2、单点手持膜厚测量——MPROBE HCMPROBE HC膜厚测量仪是一款基于MPROBE-20平台开发专用于测量曲面和大型零件上的涂层，用手动探针代替样品台。膜厚测量仪主要参数：精度0.01nm或0.01%准确度0.2%或1nm稳定性0.02nm或0.03%聚焦点尺寸0.2mm或0.4mm样品尺寸25mm厚度范围0.05-70um3、聚焦光斑膜厚测量仪——MPROBE 40MPROBE 40是一款聚焦的小光斑膜厚测量系统，该产品将显微系统和膜厚测量设备结合起来，用于对膜厚的微区测量，光斑可达2μm。该设备集成相机和软件，可精确显示待测位置，并同时显示测量结果。该设备有不同波长范围可选，可供选择的产品型号如下：4、原位测量膜厚测量仪——MPROBE 50 INSITUMPROBE 50 INSITU是一款支持原位测量膜厚测量仪，该设备采用门控数据采集方式因此可以在高环境光的条件下工作。此外该型号膜厚测量仪支持定制以满足不同形状的真空腔。根据可用的光学窗口，支持斜入射和垂直入射。光线可以聚焦样品表面或准直,探测探头可以放置在沉积室光学端口内部或外部，由于该膜厚测量仪没有移动部件，通常测量时间约10ms。此外该型号还有多种波段范围可选，可供选择型号如下5、支持Mapping的聚焦膜厚测量仪——MPROBE 60MPROBE 60是一款聚焦并可做mapping的膜厚测量设备，重复精度可达0.01nm，精度可达1nm，mapping面积可达300*300mm。并支持多种波长范围可选。可选波长型号：6、在线膜厚测量仪——MProbe 70MProbe 70是一款高性能膜厚测量仪，主要设计用于24/7生产线上的连续测量。该设备主要有两种配置一个是在产线上配备多个固定的探头，第二种是将探头装在扫描仪上扫描。

激光厚度测量仪采用现代化工艺制造，测量仪采用先进的专用激光位移传感器，配备可调式伸缩测试工作平台适合各种尺寸手机及平板玻璃厚度检测功能。搭配专业的控制系统，简洁化的校准修正功能通俗易懂，能自动保存测试数据，能让用户更好的对材料数据进行管控。该测量仪设计美观大方、操作简单、符合用户所需。能自动识别产品NG与OK以及各种厚度玻璃分箱识别等.技术参数检测模式正反射检测距离25± 1mm检测范围0-2mm光源红色半导体激光、波长 650nm / 输出功率达到 390 μ W激光等级IEC/JISCLASS 1FDAClass光斑尺寸 *1约25x35 μ m感光元器件线性图像传感器线性精度± 0.05% F.S.分辨率 *20.3 μ m测量精度2μ m采样周期 *3100/200/400/800/1 温度漂移 *4± 0.01%F.S. / ℃电源电压由专用控制器供给防护等级IP67 (包括连接器部)环境温度-10 ～ +50℃(无结露、冻结)/保存时：-20 ～ +60℃环境湿度35% ～ 85%RH/保存时：35% ～ 85%RH环境照度3,000lx以下(采用白炽灯的受光面照度)抗震动10～55Hz双振幅1.5mm X、Y、Z各方向二小时材质感应头壳体：压铸铝 投受光部护罩：玻璃重量1.5Kg

F60 薄膜厚度测量仪生产环境的自动测绘Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。不同的 F60-t 仪器根据波长范围加以区分。 较短的波长 (例如， F60-t-UV) 一般用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。 选择Filmetrics的优势 桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件 附加特性 嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效存储，重现与绘制测试结果

F50 薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统，可以很简单快速地获得最大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台，可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度，测试非常快速，大约每秒能测试两点。用户可以自己绘制需要的点位地图。F50系统配置高精度使用寿命长的移动平台，确保能够做成千上万次测量。系统中预设了许多极坐标形、方形和线性的图形模式，也可以编 辑自己需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括：选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家24小时电话，E-mail和在线支持所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效存储，重现与绘制测试结果

Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪 结合显微镜的薄膜测量系统 Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是你的好选择。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。* 取决于材料1.使用5X物镜参考2.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2 薄膜样品连续测量100次所得厚度值的标准偏差的平均值3.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2薄膜样品连续测量100次所得厚度值的2倍标准偏差的平均值 选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果相关应用半导体制造 生物医学原件&bull 光刻胶 &bull 聚合物/聚对二甲苯&bull 氧化物/氮化物 &bull 生物膜/球囊壁厚度&bull 硅或其他半导体膜层 &bull 植入药物涂层微电子 液晶显示器&bull 光刻胶 &bull 盒厚&bull 硅膜 &bull 聚酰亚胺&bull 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜 &bull 导电透明膜

Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪 结合显微镜的薄膜测量系统 Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是不错的选择。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。* 取决于材料1.使用5X物镜参考2.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2 薄膜样品连续测量100次所得厚度值的标准偏差的平均值3.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2薄膜样品连续测量100次所得厚度值的2倍标准偏差的平均值 选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果相关应用半导体制造 生物医学原件&bull 光刻胶 &bull 聚合物/聚对二甲苯&bull 氧化物/氮化物 &bull 生物膜/球囊壁厚度&bull 硅或其他半导体膜层 &bull 植入药物涂层微电子 液晶显示器&bull 光刻胶 &bull 盒厚&bull 硅膜 &bull 聚酰亚胺&bull 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜 &bull 导电透明膜

煤炭在线水分测量仪QL系列红外水份仪是采用光栅式红外水份仪，其稳定性比六光束、八光速大大提高。平均测试精度可达0.1%-0.5%左右（视被测物料而定），满足生产工艺要求。而红外水份仪可以在传送带上快速连续测量，且非接触被测物料，实现在线动态实时检测，反应时间仅为8ms，实现了对产品含水率的实时控制。红外水分仪原理：1. 水分子中的氢-氧键会吸收特定波长的近红外线（特定测量波段1.94μm），在特定波长下，所反射回去的近红外线能量和物料中水分子吸收的近红外线能量成反比，根据能量的损失量计算出被测物料的含水率。2. 当水分子被特定的能量带激发时变成振动态，在光谱的近红外部位，该波段对于水分子特别强烈，同时仪器在发射、过滤和接收能量方面更容易实现。3. 近红外线测量技术是一种非破坏性，非接触式的实时测量技术。探头是内部执行所有系统测量和处理功能的智能设备，并直接输出经校准的测量值。还能生成微型电脑和触控电脑上的显示内容。功能特点：1. 非接触式，应用红外技术以慢反射方式对水份进行测定2. 多通道设置，同一台仪器满足测量不同类型物料的需求，QL系列水分仪共有10个通道，编号从1-10，每个通道编号代表一组上述的通道参数，改变通道编号，即选择了不同的通道参数，以适应同一台仪器测量不同类型的物料的需求。3. 基本不受外界光变影响、具有温度自动补偿基本不受外界温度变化的影响长期稳定性好。4. 安装简单、操作方便快捷，仪器的安装调试只需几天，安装调试期间不影响正常生产。QL-300系列水份仪采用预定标，现场只需修正截距（零位）就可以完成标定工作。仪器采用单片机进行数字运算，简化的触摸式操作，非常适用于一般的操作工人。煤炭在线水分测量仪特点：1. 高度集成的电子器件，SMT技术的电路板，故障率低、质量稳定可靠2. 动态的实时诊断系统、无需定期保养 3. 可加内置式冷却系统4. 可加内置式产品温度测量系统5. 对物料颜色/配方的敏感性：最小，适用性更佳。 6. 滤光片比传统品牌设计的更小，受带宽的影响更小。7. 电源以及数字信号输出和主机分离，避免了传统品牌输出信号受到探头内部温度的影响，信号不稳定。 8. 输出信号方式更多， RS485、4-20mA模拟信号和RS232可三选二配备。红外水分仪规格参数：型号QL-300QL-300B适合于测量物料白色 黄色等亮色物黑色 灰色等暗色物波长1940nm、1818nm双波长探测1940nm、1818nm双波长探测探头玻璃出光玻璃采用高棚石英玻璃，避免污渍和和水汽附着.出光玻璃采用高棚石英玻璃，避免污渍和和水汽附着.测量范围0～95%0～95%测量精度±0.2%-±0.01%（绝dui值）±0.2%-±0.01%（绝dui值）分辨率0.01%0.01%光斑直径60mm直径60mm测量速度0.0125秒0.0125秒探测器加滤镜封装，避免外界光干扰加滤镜封装，避免外界光干扰标定调校快速标定、预标定，无需日常再标定快速标定、预标定，无需日常再标定滤波时间线性或指数（0.1-180秒）线性或指数（0.1-180秒）信号输出RS232、 RS485、4-20mA模拟信号（3选2）RS232、 RS485、4-20mA模拟信号（3选2）通讯协议选择自由协议或MUDBUS-RTU协议选择自由协议或MUDBUS-RTU协议标定档案可以存储31个标定档案可以存储31个标定档案工作温度-10～80℃-10～80℃工作距离150～400mm150～400mm工作电源24VDC/35VA24VDC/35VA尺寸大小130×149×277mm130×149×277mm重量5kg5kg清洁吹扫接口吹扫口直径6mm，压缩空气0.25MPa吹扫口直径6mm，压缩空气0.25MPaQL-300红外水分仪应用领域：钢铁行业：烧结混合料、球团原料、干燥前后、造球等。有色金属：铝土矿、铜精矿、矿物砂、镍矿、金银铅锌精矿、氧化铝以及有色冶炼等烟草行业：烟包、烟梗、烟叶、烟丝、复烤、烟枝等粮食行业、食品加工、陶瓷行业、玻璃行业、水泥行业、制药行业、化工行业、木材行业、造纸行业等等

菲希尔膜厚测量仪菲希尔膜厚测量仪X-RAY系列产品主要用于检测各产品部件上的涂层，镀层，膜厚，元素等的测量分析。其在各个环节中的用途如下：菲希尔膜厚测量仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 菲希尔膜厚测量仪产品特点：快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）分析固态，粉末或液态样品有害特痕量分析高精度和准确度十分广泛的应用准确测量基材是磁性和导电的材料样品制备非常简单测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品无耗品，物超所值 菲希尔膜厚测量仪应用领域：钟表，首饰，眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB更多关于菲希尔膜厚测量仪请致电咨询。我司不仅是菲希尔膜厚测量仪代理商，同时也是一家PCB精密检测仪器及材料的生产厂家。