手持式镀层测厚仪

浪声重磅发布了新一代桌面式镀层测厚仪—ScopeX PILOT，ScopeX PILOT采用下照式设计，搭载先进的Muti-FP算法软件和微焦技术，旨在为您提供最优化的镀层分析解决方案。 新品ScopeX PILOT镀层测厚仪的特点包括： l可选配微焦X射线装置测试各类极微小的样品，即使检测面积微小的样品也可轻松、精准检测。l多准直器/滤光片多滤光片和多准直器可选或软件自动切换组合，使得仪器的多功能性得以显著提升，以灵活应对不同尺寸的零件。l下照式设计从下往上测量，无需额外对焦，可轻松实现对镀层样品的高效测量。l无损检测X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。l变焦装置可对各种异形凹槽样品进行检测，凹槽深度测量范围可达0~30 mm。l高精度手调X-Y平台搭载高精度手调X-Y平台，高精度可达25μm，使微区测量更便捷。 浪声一直秉承创新精神和匠心精神，拥有十几年的镀层分析专业知识沉淀，开发了多种镀层应用，其中包括一系列产品：微焦斑、台式和手持式XRF仪器，还提供多样的光斑尺寸、探测器、样品台配置，为客户日益复杂化和多样化的社会课题以及需求提供完全集成的分析解决方案。浪声一直坚持以客户为导向，不断的创新，持续提升核心竞争力，不遗余力助力国产科学仪器自主创新。 更多关于ScopeX PILOT镀层测厚仪，请联系我们！

2018年6月19日，英国牛津：日立分析仪器公司（日立分析仪器），是日立高新技术公司（TSE：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器拓展了XRF镀层测厚仪 X-Strata920 的功能，添置了新型高分辨率探测器和新型样品台配置。 日立分析仪器XRF镀层测厚仪系列在电子和金属表面处理行业已有超过40年镀层分析的成功经验。X-Strata920可确保镀层符合规格要求，并将镀层过量或过少镀层废料造成的浪费减至最少。随着X-Strata功能的扩展，用户可以通过该仪器进行更多工作。 这一款新型X-Strata意味着可选择高分辨率硅漂移探测器（SDD）或正比计数器定制仪器，以优化其性能。此外，它现在拥有四个腔室和基座配置，可处理各种形状和尺寸的样品，包括汽车行业中的复杂几何形状。 对于复杂的镀层结构，SDD可以提供优于正比计数器的优势，因为它更易分析具有类似XRF特征的元素，例如镍和铜。这扩大了可以用于分析的元素范围，包括磷 — 对于化学镀镍分析非常关键，并且可以更精确地测量较薄镀层，例如符合IPC-4552A的纳米范围的金。 日立分析仪器产品业务发展经理Matt KREINER表示：“X-Strata920以及日立分析仪器产品系列的其他XRF仪器因其未来前景、可靠性和易用性而闻名。SDD的加入以及多种配置选择能提高我们客户的分析能力和灵活性，以测量大量零件的复杂镀层。我们保留了高度直观的SmartLink软件，因此任何操作员（无论经验水平如何）都能够快速学会使用仪器并获得准确可靠的结果。我们的镀层产品，包括高级FT150微焦斑镀层测厚仪、手持式XRF光谱仪以及可进行快速便携式分析的CMI系列，40多年来在镀层测量领域一直深受信赖，我们很高兴能够提供这些改进成果。”

天瑞仪器新一代Thick 800A核心技术已取得突破性进展。　　镀层测厚仪市场一直对高精度仪器有着很高的需求，天瑞仪器作为国内镀层测试企业的行业领先龙头，一直以满足市场客户需求为目标，致力于新技术的研究和新产品的更新换代。　　在此之前，国内小功率仪器无法测试0.5mm以下微小尺寸的镀层样品，国际同类仪器如不借助透镜聚焦也只能达到0.2-0.3mm的标准。此次我司推出的新一代Thick 800A，测试精度目标已达0.2mm以下。　　在董事长刘召贵博士、应刚总经理的亲切关怀、指导并时刻关注下，公司常务副总经理兼研发项目管理委员会主任委员王耀斌亲自挂帅负责此项目的研发工作，我司研发部研发人员和生产部技术部配合人员经过多次对比试验、数据分析，摸索、总结出了自己的一套独特的测试、加工和装配技术，并应用了几项本公司的发明专利，终于攻克技术难关，取得了突破性进展。据对比测试结果分析，国外同类测试仪器最小测试光斑为0.2-0.22mm，我司研制推出的新一代Thick 800A最小测试光斑为0.15-0.18mm，天瑞仪器镀层测厚仪已进入新一阶段。　　为了尽快满足广大客户对微小样品镀层测厚仪的迫切需求，本研发成果取得成功后立即转入产品调试、应用阶段，目前新一代镀层测厚仪Thick 800A已投入批量生产，最迟在本月底前揭开神秘而绚丽的面纱，和广大客户会面。

Thick 800是我司专门研发的能散型镀层厚度测试仪，天瑞最新科技与智慧的结晶，领先国际水平，为新一代镀层厚度分析利器，是电镀业、实验室、科研机构等不可多得的检测和实验助手。 Thick 800可精确测量各类镀层的厚度，精确度达到0.01&mu m，同时镀层分析能力多达5层，能分析单镀层、双镀层、合金镀层等多种镀层类型。整台机器具有精度高、稳定性好、测量范围宽、非破坏、非接触、多层合金测量等优秀特点。 天瑞仪器Thick800镀层测厚仪全国路演于5月16日在深圳启动，历东莞、广州、厦门、昆山、嘉兴、温州等地，于6月13日在青岛胜利结束。经公司领导密切关注和亲临指导，整个路演活动非常成功。顾客对镀层测厚原理、Thick800的性能特点、Thick800的比较优势有了全面的了解。 在深圳、东莞站，许多顾客对仪器表现出浓厚的兴趣，他们仔细询问了仪器的技术指标、配置、功能等。在昆山站，顾客围着仪器进行了仔细的观摩，他们认真察看了操作人员的演示。在温州站，顾客踊跃提问，积极表达自己的关切点，主动了解公司的售后服务、仪器应用和销售等情况。他们纷纷表示，参加我司的全国路演活动，不但了解了一款技术领先的仪器，而且了解了一个魅力四射的公司，体验了一种服务顾客、关注需求的企业文化。 至此，我司Thick800镀层测厚仪全国路演活动胜利落下帷幕。 天瑞仪器副总经理胡晓斌在昆山站作Thick800镀层测厚仪专门报告 主持人正在演示Thick800的产品说明、技术参数及配置 客户仔细聆听路演报告 客户向主持人询问产品的性能及售后服务等问题

英飞思科学仪器X射线荧光镀层测厚仪EDX8000T plus全新发布经过多年研发，英飞思科学仪器全新推出X射线荧光光谱镀层测厚仪。主要优点：微光斑垂直光路，专为镀层厚度分析而设计高计数率硅漂移检测器 (SDD) 可实现快速，无损，高精度测量高分辨率样品观测系统，精确的点位测量功能有助于提高测量精度全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量 背景介绍材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000T Plus镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。 XRF镀层测厚仪工作原理镀层测厚仪EDX8000T Plus是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。 膜厚仪EDX8000T Plus产品特点全新的下照式一体化设计，测试快速，无需样品制备可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物。软件配备距离补正算法，实现了对不规则样品（如凹凸面，螺纹，曲面等）的异型件的精准测试备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品可覆盖元素周期表Mg镁到U铀SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率自动切换准直器和滤光片（0.15mm,0.2mm,0.3mm） 膜厚仪EDX8000T Plus应用场景EDX8000T Plus镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，金属电镀镀层分析；测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品钢上锌等防腐涂层电路板和柔性PCB上的涂层插头和电触点的接触面贵金属镀层，如金基上的铑材料分析分析电子和半导体行业的功能涂层分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN 或 TiCN可拓展增加RoHS有害元素分析功能，电镀液离子浓度分析

这款Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪是涂层厚度无损测量技术的一次创新优化，其重量轻、测量简便的优点能协助您在工艺早期测量涂层厚度，避免出现严重的生产缺陷。国外已经有多家知名企业正在使用，并对其十分赞赏。远程非接触式测试Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪基于光热法测量原理，测温镜头外围为电脑控制的脉冲闪光灯，测量过程中闪光灯会对所测的涂层进行加温。表面温度随着时间的变化过程将提供涂层厚度的有关信息。无需与产品表面接触、也无需等待涂层完全干透即可测量涂层厚度。不限底材形状由于无需与产品进行接触测试，Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪可用于各种复杂表面工件的涂层厚度检测使用。 而且不受底材的材质限制，可用于金属，塑料，橡胶，木材，碳纤维(CFRP), 玻璃等多种基材。不限涂层颜色使用Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪进行测试不会受到涂层颜色的影响。除常规涂层之外，也可用于润滑剂和聚合物涂层、湿膜、粉末涂料、粘合剂、热喷涂涂层等的测试。手持式设计，易于携带手持式的设计使得Coatmaster Flex手持非接触式测厚仪的使用和携带十分方便。 避免返工修补和客户拒收在工艺早期能发现偏差并及时进行修正。节省材料减少高达30%的涂层材料消耗量。有效节约资源和保护环境。保证产品质量生产高质量涂料并协助制定新的质量标准。技术参数固化粉末/干膜1~1000μm干燥前湿漆1~400μm未固化粉末涂料1–400μm测量时间0.25 s测量距离2–15 cm允许倾斜角度± 70°测量移动工件可以相对标准偏差 1%适用于所有颜色(包括白色)可以通过ERP和浏览器实时访问数据可以重量（不含电池）1.3 kg尺寸374 mm x 91 mm x 203 mm创新点：Coatmaster Flex手持非接触式湿膜测厚仪属于便携式的湿膜测厚仪器，解决了传统涂层喷涂厚度测试中，需要接触测试（会破坏涂层表面）以及无法测量复杂表面的工件（如拐角、边角、曲面等），无法适用特殊底材的难题。仪器采用光热法作为测量原理，测量时无需与涂层表面接触，不受基材材质的影响，且不受涂层的颜色影响，可实现即时测量，并得出读数，即可实现涂层喷涂厚度的即时检测，修正喷涂厚度不良的问题，缩短工艺流程、大幅度的提升良品率。

摘要：针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障，采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分，发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中，Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀，铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3，从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高，引发过热故障。针对此次故障，提出了解决措施和建议。关键词：手持式X射线荧光光谱仪；隔离开关触头；电刷镀银；银氧化锡；腐蚀中图分类号：TQ153.16 文献标志码：A 文章编号：1004 – 227X (2019) 23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行，长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽，以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响，因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件，承担着转接、隔离、接通、分断等任务，其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜，但纯铜易被腐蚀，会造成表面接触电阻升高，引发过热故障，影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻，DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定：隔离开关触头表面必须镀银，且镀银层厚度不小于20 μm，以获得较低的接触电阻，从而保证良好的导电性。然而，在实际运行中，很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障，一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成，这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期，四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例，镀银层厚度检测结果合格，但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现，厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层，该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现，非常隐蔽，很容易因未进行镀层成分分析而误判合格，严重威胁电网的安全运行，希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运，当地大气污秽等级为E级，大气类型为工业污染。周边潮湿多雨，化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集，空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高，大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头，防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重，动、静触头接触面大部分呈绿色，少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障，若继续运行，可能会造成隔离开关烧毁，甚至大面积停电等恶性事故，运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关，并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点，被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为：由激发源产生高能量X射线照射被测样品，样品表面元素内层电子被击出后，轨道形成空穴，外层高能电子自发向内层空穴跃迁，同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线，具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长，仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类，各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分，属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并进行检测，从而确定元素成分和含量，可以同时测定样品中几乎所有的元素，激发源使用的X射线管功率较低，且使用半导体探测器，避开了复杂的分光晶体结构，因此仪器工作稳定，体积小，便携性高，价格也较低，能够在数秒内准确、无损地获得检测结果，被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪，它不受分析样品的大小、形状、位置限制，无需拆卸隔离开关，可以携带至变电站现场，能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析使用XL2 800手持式X射线荧光光谱仪对110 kV隔离开关触头不同颜色区域的镀层和铜基体进行分析，结果见表1。银白色区域中Ag、Cu和Sn的质量分数分别为91.48%、1.83%和5.71%。Cu是隔离开关触头的基体成分，查阅文献[14]可知，该银锡比例是第二相SnO2颗粒弥散分布于银基质层中的Ag–SnO2金属基复合材料，不符合DL/T 486-2010、DL/T 1424–2015和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》中隔离开关触头应镀银的要求。黑色区域的Ag含量低至75.33%，Cu含量和Sn含量则较高，这是因为Ag-SnO2镀层中的Ag与空气中的SO2、H2S等含硫化合物反应生成黑色的腐蚀产物β-Ag2S和Ag2SO3。随着腐蚀反应的进行，Ag-SnO2镀层表面逐渐由银白色转变为深灰色及黑色。绿色区域的Cu质量分数已升至82.31%，Sn的质量分数则与灰色区域相近，而Ag已检测不到，表明Ag-SnO2镀层中银的腐蚀产物发黑并脱落后，镀层中分散的SnO2无法保护铜基体，使得铜在潮湿环境下与空气中的O2、CO2和H2O反应生成绿色的碱式碳酸铜Cu2(OH)2CO3(俗称铜绿)。将绿色区域打磨后分析铜基体发现其中含99.72% Cu和0.15% Sn，说明该隔离开关触头的基体材质为纯铜，检出的少量锡来源于残余的镀层。表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果3. 2 镀层厚度检测使用XL2 800手持式X射线荧光光谱仪检测110 kV隔离开关触头的镀银层厚度，结果显示银白色、黑色和绿色区域的镀银层厚度分别为23.953、16.885和0.000 μm。这说明随腐蚀反应的进行，镀层逐渐被消耗，直至完全损失。DL/T 486–2010、DL/T 1424–2015和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》中明确规定隔离开关触头的镀银层厚度不应小于20 μm。为节约成本，厂家最常用的造假手段就是用镀锡代替或减少镀银量，这两种手段都可直接通过镀层测厚发现。但本次的造假是采用Ag-SnO2层代替Ag层，也是呈银白色，并且镀层厚度大于20 μm，仅通过颜色判断和测厚均无法发现，隐蔽性较强。Ag-SnO2镀层触头因为电导率较纯银低，主要用于继电器、低压开关等低压电器。若用于高压隔离开关，在大电流下很容易发热，存在严重安全隐患。4 结语和建议针对一起110 kV隔离开关触头腐蚀故障，使用手持式X射线荧光光谱仪分析触头的镀层成分，发现厂家使用Ag-SnO2镀层代替Ag镀层，Ag-SnO2镀层中的银被空气中的硫化物腐蚀后，铜基体被腐蚀，导致导电回路接触电阻升高，引发过热故障，是造成该故障的主要原因。为保证此类故障不再发生，应采取以下措施：(1)高度重视在役高压隔离开关触头表面镀银层的腐蚀发黑、发绿现象，发黑说明镀银层已被腐蚀，发绿说明镀银层已被腐蚀完，腐蚀延伸到铜基体，会导致隔离开关触头的接触电阻升高，易引发隔离开关过热、烧毁、全站失压等安全事故，应尽快安排停电，及时更换失效的高压隔离开关触头。(2)联系生产厂家，将同批次产品全部更换为合格产品，以消除安全隐患。(3)加强对新建输变电工程高压隔离开关触头镀银层的检测，镀层成分和厚度均合格后方可入网。参考文献：[1] 曹胜利, 苑金海, 赵昌. 户外高压隔离开关腐蚀与防护分析[J]. 电气制造, 2007 (6): 46-48.[2] 钟振蛟. 户外隔离开关导电回路过热的原因及对策[J]. 高压电器, 2005, 41 (4): 307-312.[3] 闫斌, 邓大勇, 何喜梅, 等. 高压导电触头电镀工艺与失效分析[J]. 青海电力, 2008, 27 (3): 6-9.[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.[5] 刘海龙, 龚杰, 万亦农, 等. 某110 kV变电站隔离开关普遍发热原因分析及防范措施[J]. 电工技术, 2016 (8): 99-101.[6] 赵庆, 茅大钧. 户外高压隔离开关触头发热机理分析及预防过热故障措施探讨[J]. 电气应用, 2016, 35 (3): 72-76.[7] 国家电网有限公司. 国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明[M]. 北京: 中国电力出版社, 2018.[8] 刘纯, 谢亿, 胡加瑞, 等. 电网金属技术监督现状与发展趋势[J]. 湖南电力, 2016, 36 (3): 39-42.[9] 徐雪霞, 冯砚厅, 柯浩, 等. 高压隔离开关触头镀银层质量检测分析[J]. 河北电力技术, 2013, 32 (3): 3-5, 11.[10] 胡波, 武晓梅, 余韬, 等. X射线荧光光谱仪的发展及应用[J]. 核电子学与探测技术, 2015, 35 (7): 695-702, 706.[11] 赵晨. X射线荧光光谱仪原理与应用探讨[J]. 电子质量, 2007 (2): 4-7.[12] 金鑫, 金涌川, 李学斌, 等. 电气设备金属元素检测分析[J]. 电气应用, 2018, 37 (18): 80-85.[13] 何翠强. 手持式X射线荧光光谱仪在金属材料分析中的应用研究[J]. 冶金与材料, 2018, 38 (4): 134-135.[13] 谢明, 王松, 付作鑫, 等. AgSnO2电接触材料研究概述[J]. 电工材料, 2013 (2): 36-39.

日立分析仪器是日立高新技术公司（tse：8036）旗下一家从事分析和测量仪器的制造与销售业务的全资子公司。今日，日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案，以应对涂镀层行业的常见挑战。ft系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用，其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。ft110a 和 ft150 系列为复杂形状的大型零件测量以及小型特征超薄涂层测量提供了新型解决方案。这两种仪器均属于台式 edxrf（能量色散x射线荧光）光谱仪，具有功能强大的软件和硬件，旨在提高样品分析量，任何操作员都可获得高质量的结果。ft110aft150轻松处理复杂样品ft110a 包含多个特征，用于测量通常难以处理的零件。可配置全封闭或开槽门的大型腔室，可装入汽车零部件和装饰五金件，与处理小型紧固件一样容易。自动对焦程序可以在离样品表面 80mm 的位置进行测量，非常适合测量凹陷区域或快速测量不同高度的多个零件。自动接近功能提供一键式定位功能，可将x射线组件设置在理想距离，以获得有复验性的结果。宽视角摄像头将呈现整个样品的图像，以便轻松定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征，它将自动对准进行分析。测量纳米级的涂层ft150 配置高端组件，可以提供精细结构上的超薄涂层的元素分析。毛细聚焦管聚焦x射线束直径小于20μm，实现在样品上聚焦更大强度，并测量小于传统准直器可测量的特征。高灵敏度、高分辨率vortex硅漂移探测器（sdd）充分利用光学元件测量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样品特征，以提高样品分析量。日立分析仪器产品经理 matt kreiner 表示：“受到40年xrf镀层测厚仪研发经验启发，ft110a 和 ft150 使用的智能功能解决了涂镀层分析中最难的一些挑战。ft110a 的样品处理能力和 ft150 的微焦分析能力补全了我们全套涂镀层测厚仪系列，我们很高兴为客户提供这些新型解决方案。”关于日立高新技术公司日立高新技术公司总部位于日本东京，从事科学和医疗系统、电子设备系统、工业系统和先进工业产品等广泛领域的活动。公司2017财年的综合销售额约为6877亿日元（约合63亿美元）。关于日立分析仪器公司日立分析仪器是2017年7月成立并隶属于日立高新技术集团的全球性公司，总部位于英国牛津。其研发和生产运营部门位于芬兰、德国和中国，在全球许多国家可提供销售和支持服务。我们的产品系列包括：ft系列、x-strata 和 maxxi 微焦斑 xrf 分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度，可应用于质检和过程控制和科研实验室。lab-x5000 和 x-supreme8000 台式 xrf 分析仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制。我们的 pmi-master、foundry-master 和 test-master 系列直读光谱仪被世界各行各业用来进行快速和精确的金属分析。这些仪器采用光学发射光谱技术可测定所有重要元素，其检测限低，精度高，包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要元素和微量元素。x-met8000 手持分析设备，采用高精度 xrf 技术，可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析，包括废旧金属分拣和金属品级筛选。vulcan 手持分析设备，采用 libs 激光技术，可一秒检测金属合金，为检测量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。

为了更好地帮助仪器用户通过此次财政贴息贷款选购适合的仪器设备，仪器信息网联合多家优质仪器厂商上线了专门的仪器展示专题，提升用户选购仪器的效率；同时面向广大仪器厂商发起征稿活动，仪器厂商可围绕“2000亿贴息贷款政策下，如何助力快速选型采购”这一主题进行原创稿件创作（字数1000字左右），稿件一经采用将发布在仪器信息网上并收录到相关专题中。专题链接：https://www.instrument.com.cn/topic/txdk2022.html近期，2000亿贴息贷款政策正进行的如火如荼，高校和相关企业都在加紧申报购买需要的仪器设备。金属材料，作为目前工业中使用量最大的材料种类，一直就是科研攻关的热点领域，同时，相关企业生产也离不开金属材料的检测分析。为了帮助高校和相关企业更好更快的选择心仪的仪器设备，朗铎科技特别推出了此文章，希望对金属材料及涂层相关的高校和生产企业提供一定的帮助。对于生产企业来说，为保障产品的可靠性和生产过程中的和安全性，用于制造质量保证和控制的金属合金验证十分重要。从金属生产到服务中心和分销商，从组件制造到最终产品组装——材料混淆的可能性非常大，可追溯性的需求现在是重中之重。对于生产企业金属材料检测可以采用的检测方式有很多，如原子吸收光谱法（AAS）、滴定法、电感耦合等离子体光谱法（ICP）等，但这些方法都无法做到无损检测，而且检测周期长，无法对来料进行全部检测，这时候X射线荧光光谱法（XRF）就可以大展拳脚！XRF的优势在于无损、快速、准确，可以对所有来料进行快速筛查，对生产过程中的质量进行实时监控，是相关金属企业的必备工具，其中手持式XRF使用最为广泛，它方便携带，且可以检测成品及一些不好触及的位置，已经成为一些企业的必备仪器。手持式XRF分析仪可在多个领域进行材料检查：1. 过程物料识别——管道系统和其他工艺组件的例行检查，以确保加工流中不存在不相容合金（Retro PMI）2.维护和制造相关的材料标识——确保在施工和维护程序（新管道、阀门等）期间不会将不相容的合金插入工艺流中。3. 来料 QA/QC——确保您收到的材料与订单相符4. 出货 QA/QC——对客户进行最终检验和认证装运5.库存管理与恢复——确保材料的隔离受到控制，也可协助回收“丢失”的材料以正确地重新放入供应链除上述合金材料外，金属涂层工艺在金属制造中也非常普遍，其工艺可用于装饰目的或增强金属制品表面的物理或化学性能。金属镀层可用于增强金属的耐蚀性、耐磨性、耐热性、导电性、附着力、可焊性和润滑性。涂层过厚会显着增加制造成本，而涂层过薄会导致产品失效。为了避免这些可能，控制涂层重量或涂层厚度在金属表面处理、制造、汽车和航空航天工业中至关重要，以确保组件具有正确的特性并同时优化生产成本。过去，XRF分析技术一直用于固定式或台式仪器测量涂层厚度。但是，必须将样品放入分析仪样品仓内或靠近分析仪样品仓以便使用固定式 XRF 方法进行分析，这使得在不切割样品的情况下测量大型和重型零件上的涂层厚度变得不切实际。现在，使用手持式 XRF 分析仪可以克服这一限制，手持式XRF涂层测厚分析技术俨然成为一种成熟的金属和合金鉴定技术。朗铎科技 Niton XL2、XL3 和 XL5 系列由朗铎科技代理的赛默飞世尔 Niton XRF 分析仪（全国总代理）可在几秒钟内提供合金等级鉴定和化学分析。它们被用于制造车间、铸造厂、服务中心和石化精炼厂，以验证来料合金、恢复丢失的材料可追溯性并确认成品——所有这些都是无损完成的。朗铎科技的客户已经确定他们不能再依赖工厂测试报告 (MTR)，而是亲自动手来确认材料成分的全检。 从低合金钢到不锈钢再到超级合金，从钛合金到稀有元素——Niton 合金分析仪为您提供无法从一张纸上获得的材料可靠性信心。从最简单的到最复杂的涂层样品，Niton 手持式XRF分析仪涂层模式均可满足分析要求，并提供准确的结果。用 Niton 手持式XRF分析仪进行涂层分析的操作界面简单直观，用户可根据 AISI/ASTM、DIN 或 GB 标准选择涂层类型，并使用元素列表或可用合金库输入涂层和基材的组成即可使用，近乎“开箱即用”无过多调整及设置。为确保满足客户的涂层规格，需要在生产前、在线或最终产品 检验期间进行质量控制。Niton XRF 分析仪帮助操作员: • 通过测量金属等级和成分，确保收到的货物与采购订单相符 • 通过最小化生产错误降低生产成本- 涂层太薄Niton XRF 分析仪可能导致耐腐蚀性差、保修成本高和 / 或产品故障 - 涂层太厚会增加生产成本- 无损分析意味着不需要切割或损坏高价值产品 • 通过多次测量和自动平均，确保整个产品的涂层一致，从而提高质量 • 提供更快的运行速度，立即产生结果，无需样品制备(与统计取样和实验室分析相比，后者耗时) • 通过简单的报表生成工具生成质量报告和证书 • 创建从进货检验到产品出厂的产品审计跟踪 • 遵守国际方法 ISO 3497 和 ASTM B568，实现安全生产 无论是在现场还是在车间，Niton XRF 分析仪都能使您随时应对最具挑战的工业环境，操作人员可检测各种材料，满足不同分析需求。识别纯金属和合金，检测杂质元素或获取涂镀层数据，真正实现多应用合一—— Niton XRF分析仪随时应对各种分析挑战。 除了金属材料检测和涂层快速无损检测外，朗铎科技 Niton XRF 分析仪还可以应用于石油化工、能源电力、汽车制造、地质地矿、文博考古等领域。感兴趣的老师欢迎联系朗铎科技，点击进入朗铎科技展位（https://www.instrument.com.cn/netshow/SH103331/），了解更多信息。

p style="text-indent: 2em "strongspan style="text-indent: 2em "仪器信息网讯/span/strongspan style="text-indent: 2em " 2月25日，日立高新技术公司（TSE：8036）的全资子公司日立分析仪器（HitachiHigh-Tech Analytical Science）推出strongspan style="text-indent: 2em color: rgb(0, 112, 192) "新型FT160XRF光谱仪/span/strong，该分析仪提供三种基座配置选择方案用于纳米级镀层分析。日立分析仪器主要致力于分析和测量仪器的制造和销售。/span/pp style="text-align: center"img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 451px height: 301px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c29354c7-1547-456d-ac6a-6c7087db5a33.jpg" title="日立新品.png" alt="日立新品.png" width="451" height="301" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "FT/spanspan style="color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em "160 XRF镀层分析仪/span/pp style="text-indent: 2em "随着新型FT160系列在日本率先推出，日立分析仪器目前已在中国、北美、欧洲、中东和非洲销售FT160系列镀层分析仪并提供相关服务。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "日立推出的该款最新一代镀层分析仪旨在应对测量小型部件上的超薄镀层所带来的挑战。/spanFT160是一种台式EDXRF（能量色散x射线荧光）分析仪，配有强大的软件和硬件，能实现高样品处理量，且任何操作员均能获取高质量结果。由于FT160系列专为在生产质量控制中发挥关键作用而设计，span style="color: rgb(0, 112, 192) "因此其可在半导体、电路板和电子元件市场中被广泛应用/span。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong▋/strong/spanstrong测量纳米级的镀层/strong/pp style="text-indent: 2em "FT160配置高端部件，可以提供精细结构上的超薄镀层的元素分析。毛细管聚焦光学镜能聚焦直径小于30μm的X射线束，从而在样品上集中更大强度且其可测量的部件尺寸小于传统准直器可测量的部件尺寸。高灵敏度、高分辨率日立分析仪器硅漂移探测器（SDD）充分利用光学系统测量微电子和半导体上的纳米级镀层。高精度样品台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样件，以提高样品处理量。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "日立分析仪器产品经理Matt Kreiner表示/span：“在之前产品的成功基础上所推出的FT160能提供重新设计的照明布置以提高零件的可视性并便于定位，且新的配置选择方案可确保特定应用的最佳性能并为繁忙的测试实验室提供新的紧凑型基座配置要素。该产品系列硬件和分析能力的不断发展使我们的客户更容易在快速发展的微电子领域控制生产。FT160是对我们镀层仪器综合系列的补充，这归功于日立45多年的XRF镀层分析仪的开发经验。”/pp style="text-indent: 2em "FT160系列现已允许订购。可通过点击文末a href="https://www.instrument.com.cn/netshow/SH104100/product.htm" target="_blank" style="color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline "span style="color: rgb(0, 176, 240) "日立分析仪器厂商展位/span/a联系日立分析仪器。/pp style="text-align: left text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "strong▋/strong/spanstrong关于日立分析仪器/strong/pp style="text-align: left text-indent: 2em "img style="max-width: 100% max-height: 100% width: 354px height: 80px " src="https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/db00c146-e659-42ad-b762-773a6727b57f.jpg" title="00.png" alt="00.png" width="354" height="80" border="0" vspace="0"//pp style="text-align: left text-indent: 2em "日立分析仪器是日立高新技术集团于2017年7月创立的全球性公司。其总部位于英国牛津，其在芬兰、德国和中国从事研发和装配业务并在全球多个国家开展销售和支持业务。其产品系列包括：/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光谱仪，能测量单层和多层镀层（包括合金层）的镀层厚度，可成为质量控制或过程控制程序以及研究实验室的专用分析仪。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span EA1000、EA6000和HM1000 RoHS（有害物质限制指令）分析仪适用于RoHS 1和RoHS 2测试，使用便捷，能够很好适应限制指令的变化。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span DSC7000X、DSC7020、NEXT STA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列热分析仪已经过优化，可检测最小反应并使其可视化，同时具有坚固耐用、可靠且易于使用的特点。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span EA8000 x射线颗粒污染物分析仪用于锂离子电池生产中快速有效的质量控制。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span Lab-X5000和X-Supreme8000台式XRF光谱仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制服务。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析仪被世界各地的行业用于进行快速和精确的金属分析。该仪器采用直读光谱分析技术，可测定所有重要元素，能提供低检测限和高精度，包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要和痕量元素。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span X-MET8000手持式光谱仪被成千上万的企业用于通过XRF精密技术进行简单、快速和无损的合金分析、废金属分拣和金属牌号筛选。/pp style="text-indent: 2em "span style="color: rgb(0, 112, 192) "□/span 采用LIBS激光技术的Vulcan手持式光谱仪只需一秒即可识别金属合金，是世界上分析速度最快的分析仪之一。这对需要处理大量金属的企业而言非常有利。/ppbr//p

德国EPK公司为世界著名的表面处理检测设备生产厂商，在进口涂镀层测厚仪市场一直保有最大的市场占有量，近期德国EPK公司携其专利技术SIDSP探头技术的新品minitest70系列涂层测厚仪进入中国，使广大中国用户用6000元左右的价格就能享受到价值上万元的德国高品质涂层测厚仪，详情请咨询德国EPK公司中国总代理：深圳市华丰科技有限公司，网址www.epkchina.net

XRF分析仪有多种配置可供选择：探测器类型、光学系统类型、自动化配置，甚至是台式或手持式分析仪。在本文中，我们将探讨使用XRF测量电子元件镀层所存在的挑战，并讨论在生产环境中实现可靠和快速测量的最*佳配置。外形因素：手持式还是台式XRF分析仪？今天，手持式和台式分析仪均可在几乎所有类型的基材上测量0.001-50μm（0.05-2000 微英寸）的金属镀层厚度。两种配置该选择哪一个更取决于实用性，而不是性能。如果您测量的是非常大的部件，有相对大的镀层面积，肉眼很容易看到（并且可以用手轻松地将分析仪抵近到位），那么手持式分析仪是最合适的。然而，许多电子元件完全不是这样。这些电子元件非常微小，需要通过显微镜和照相机装置定位，并使用精密载物台和专用光学器件，来确保准确地分析正确的特定测点。对于电子元件来说，台式分析仪几乎总是人们选择的类型。决定因素：元件的尺寸和被测特定测点的尺寸。您能把您的元件带到实验室吗？如果不能的话，那么您需要一台手持式分析仪。您需要测量小于1mm的面积吗？如果是的话，那么您需要一台台式分析仪。光圈类型：准直器还是毛细管光学机构？分析仪的光圈将产生的x射线引导并聚焦到样品表面。产生的光斑必须小于您需要测量的零件，您选择的光学器件将由您的零件尺寸决定。XRF分析仪通常配有两种类型光圈中的一种：准直器或毛细管光学机构。准直器是一个有孔的金属块，一部分X射线信号通过孔到达样品。对于测量100µm和更大的零件，这是一个不错的选择。毛细管光学机构使用特殊的玻璃毛细管收集几乎所有的X射线信号，并将其聚焦到一个非常小的点。这使您能够测量小于50 µm的零件。与准直器配置相比，由于使用了更高比例的X射线，因此这项技术对较薄的镀层也有更好的精度。决定因素：光斑大小。对于小于50µm的零件，您需要毛细管光学机构，若大于此尺寸，准直器配置可能会更合适。探测器类型：比例计数器还是硅漂移探测器？XRF分析仪中主要有两种类型的探测器：比例计数器和基于半导体的探测器，硅漂移探测器（SDD）是最常见的半导体探测器。决定哪种技术最适合您的应用可能很棘手，因为这两种技术在不同的情况下均有各自的优势。比例计数器由惰性气体封装于金属圆柱体中构成，当惰性气体受到X射线轰击时会发生电离。它们对像锡或银这样的高能量元素有很好的灵敏度，对于元素较少的简单分析非常有效。SDD是半导体器件，当受到X射线轰击时会产生特定数量的电荷。当您对样品中的几种元素感兴趣时，或者在检测低能量元素，如磷时，它们能提供更好的分辨率。下图说明了同一样品中比例计数器和SDD的输出差异。红色峰表示SDD输出，灰色光谱表示比例计数器。决定因素：这很复杂，但如果您需要测量多种不同的元素或非常薄或复杂的镀层，那么SDD是最*佳选择。想了解更多？如果您对此感兴趣，并且想了解更多实用的方法来提高您对微小电子部件的XRF分析的可靠性和准确性，那么您可以关注日立分析仪器的微信公众号点击“阅读原文”下载我们的免费指南《了解您的XRF：电子元件电镀指南》。除了讨论最适合您应用的XRF技术，这份综合指南还包括：• 您的XRF是如何工作的• 如何提高分析量• 如何确保您的分析仪正常工作• 错误的源头

德国EPK公司minitest600涂层测厚仪保修期延长： 为回馈广大用户多年来对华丰科技的关注和支持，公司决议将 德国EPK公司minitest600涂层测厚仪主机保修期由原来的1年延长至2年；探头保修期1年。 希望新老客户随时来电咨询！ EPK涂镀层测厚仪中国总代 华丰科技

贵金属主要指金、银和铂族金属元素(钌、铑、钯、锇、铱、铂)。贵金属纯度检测一般依据两项国家标准来进行，国家质检总局发布的国家标准GB/T18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》中明确指出可使用X荧光来进行贵金属含量的无损检测方法。目前在贵金属制造行业已经形成大规模使用X荧光光谱仪(XRF)来测试贵金属含量。那光谱分析仪在珠宝首饰行业镀层检测方面有哪些优势呢?今天就和光谱分析仪生产厂家一六仪器的小编来了解一下吧。　　标准：产品符合国家相关行业标准和技术标准，并通过质监局等相关检验机构检验，并可以提供校准证书 　　快速：对样品无需前处理，一般只需要20～200秒即可判定金、银、铂、钯等含量，方便对饰品做大量抽样的检测 　　精准：ppm级精确度，可靠的检测数据 　　无损：测试前后，样品无任何形式的变化 　　直观：实时谱图，可直观显示贵金属和杂质元素含量 　　简易：操作简易，无需专业测试人员，无需严格的测试条件 　　安全：三重保护装置，确保安全无误 　　经济：测试过程基本不需要任何耗材，降低测试与维护费用 　　可靠：为化学分析提供测量依据，减少成本，提高效率。　　因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其精准检测。　　技术难点：因贵金属饰品的装饰需求，其成品结构形状复杂多变，测试区域小，市面上很多测厚仪根本无法实现对其精准检测。一六仪器全系列仪器具有变焦功能，搭载垂直光路设计，加上小孔准直器，可精确定位复杂结构上的微小区域准确测试。　　以上就是光谱分析仪生产厂家一六仪器给大家整理的全部内容，如果大家想要了解更多关于光谱分析仪的内容，欢迎咨询我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务。公司产品广泛的应用于环保、涂镀层、粮食、地质地矿、电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、航空航天等制造领域。

为积极响应——国务院印发《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》，回馈广大客户对天瑞仪器的长期支持与信任。助力用户提升检测能力，提高产品品质，降本增效。我司特针对镀层检测仪器产品开展“以旧换新”活动，具体活动内容如下：一、活动时间：2024年5月10日一2024年11月10日二、活动内容：（1）补贴范围：原我司用户的旧款X射线镀层测厚仪及国外品牌的X射线镀层测厚仪。（2）参与换新产品及型号：EDX-T能量色散X荧光光谱仪；EDX2000A能量色散X荧光光谱仪；EDX600PLUS能量色散X荧光光谱仪；EDX-Thick800能量色散X荧光光谱仪。（3）具体形式及补贴标准：详询天瑞销售人员。咨询热线：400-7102-888三、特别说明：此次活动的最终解释权归我公司所有。 江苏天瑞仪器股份有限公司2024-05-10

转化膜是通过化学或电化学工艺在金属基底表面形成的涂层，它可以改变金属表面颜色并改善金属的耐腐蚀性、油漆附着力等物理和化学性能。常见的转化膜有：阳极氧化膜，铬酸盐转化膜或磷酸盐转化膜等。磷酸锌等相关的复合转化膜长期以来都被用于汽车车身、零部件的预处理。在过去的十年中，基于锆（zr）和钛（ti）的新型涂层被越来越多的被使用，取代了磷酸盐基涂层作为预处理层1,2。锆和锆 / 钛基涂层比锌和锌锰镍磷酸盐具有许多优势 1,2 ：• 更好的耐腐蚀性• 更薄的涂层• 减少环境影响和废水排放• 降低运营成本（减少废物和化学品消耗） 锆基和钛基转化镀膜提高了涂料的附着力，增强了对铝合金车身的防腐性能此前，尼通xl3t 手持式光谱仪已广泛应用于化学涂层生产商、汽车企业以及许多工业企业中。尼通xl3t 手持式光谱仪可以对铝合金、冷轧钢（crs）、电镀锌（eg）和热浸镀锌钢（hdg）等基材上的锆和钛涂层进行质量控制。新型的尼通xl5 plus 手持式光谱仪具备强大的基本参数算法，可以为此类应用提供更加简便的工作流程。使用尼通xl5 plus 手持式光谱仪对钛和锆转化镀膜进行非标检测尼通xl5 plus 手持式光谱仪是一款新型的高性能 x 射线荧光（xrf）光谱分析仪，它的几何结构紧凑，又小又轻，同时具备石墨烯窗口的大面积硅漂移探测器和功能强大的5w x射线管，为苛刻的应用（如薄涂层测量）提供了优秀的灵敏度。尼通xl5 plus 手持式光谱仪尼通xl5 plus 手持式光谱仪的非标涂层模式可准确确定纯金属、合金、塑料或木材各种基底上最多4层涂层的厚度3。检测合金（如钢或铝合金）上的钛和锆转化镀层的涂层厚度也十分轻松。不仅如此，尼通xl5 plus 手持式光谱仪操作简单，用户开机即可使用，无需校准，也无需接受复杂的技术培训。结果与讨论下述案例中，利用尼通xl5 plus 手持式光谱仪对 hdg、crs 和铝合金表面 zr和ti转化膜的多个样品进行了分析。首先在配置曲线（分析方法）中设定基底材料（例如钢或铝合金牌号）、涂层元素（例如镀锌钢的锌、锆或钛）以及测量单位和测量时间。图 1a-d 显示了实验室获得的参考值与使用尼通xl5 plus 手持式光谱仪在不同基地材料上进行 zr 和 ti 测量的相关图。线性回归的相关系数r2、斜率和截距如图 1a-d 所示。r2 值表示数据相互关联的程度，其中相关性r2为1。理想情况下，相关性的斜率应等于或接近 1。当 r2 大于 0.98时，使用尼通xl5 plus 手持式光谱仪镀层模式可直接测得不同基底上 zr 和 ti的涂层厚度，与实验室参考值具有很强的相关性。当 r2 值在 0.93 左右时，hdg 上的 zr（图 1b）以及铝合金上的 zr 和 ti 的斜率也接近于 1（图 1c 和 1d），zr 在 crs 上的斜率为 0.804（图 1a）。这种偏离理想值 1 的情况很有可能与涂层中除 zr 以外的化合物及元素有关，其影响基体的密度和质量吸收系数，从而影响 zr 的信号。在这种情况下，对于给定的公式，可以使用标准化功能进行简单的微调整，以提高精度。另一个需要注意的案例，在测量铝合金板上的 zr 涂层时，图中线性回归的截距值为 9.03。这与基底材质中也含有 zr 有关。事实上，锆和钛通常以微量的形式存在于铝合金中，合金牌号标准中没有具体规定。因此，对于给定批次和配方的锆基转化镀膜，只需测量一个涂层样品和一个未涂层样品，然后计算结果的差异即可。如图 3a 所显示的一个示例，其中铝合金板上的锆涂层测量涂层重量为 23.9 mg/m2，而预期值为 15 mg/m2。同一批次的未涂覆基板的 zr为 9.0 mg/m2（图 3b），应从涂覆样品的结果中减去该值。得到的 zr 净值为 14.9 mg/m2，非常接近预期值 15 mg/m2。只有当涂层很薄时，才能进行这样的减法。图 3 a) 涂有 15 mg/m2 zr 的 aa5082 铝合金样品的分析结果，b) 同批次 aa5082 合金未进行涂层样品的分析结果结论尼通xl5 plus 手持式光谱仪非常适合检测现代转化膜，测量的zr 和 ti 在钢、镀锌钢或铝合金等不同基体上的预期值和测量值之间取得了良好的相关性和一致性。与尼通xl3t手持式光谱仪的经验校准法相比，尼通xl5 plus 手持式光谱仪的基本参数模式更易于使用，更灵活，并且不需要许多参考样品。无需标准样品进行校准，仅使用每种涂层类型的少量样品进行检测，即可获得准确数据。如果需要更高精度，用户可以微调分析仪的配置曲线，达到更好准确度。尼通xl5 plus 手持式光谱仪是汽车和金属表面处理行业中控制 zr 和ti 转化镀膜的涂层厚度的理想设备。可以快速获得投资回报：• 提高生产力。尼通xl5 plus 手持式光谱仪在几秒钟内实时显示测量的涂层厚度。在涂层过程中实现及时控制，辅助在成品或半成品的质量控制中快速作出决策。• 具有较低的初始投资和较低的运营成本，而分析性能可与实验室仪器相匹配。• 易于使用。尼通xl5 plus 手持式光谱仪的方法开发和操作不需要实验室人员即可完成。• 无损分析。分析仪接触样品表面不会造成损伤。手持式设计可以直接在成品上进行测量，无需切割样品将其带到实验室。• 用途广泛。尼通xl5 plus 手持式光谱仪不仅可以用于涂层测量，还可用于确定非涂层材料（如铝合金）的合金牌号等。参考文献1.gardobond x 4707 product info, www.chemetall.com, chemetall gmbh, frankfurt am main, germany 2012.2.i. milosev, g. s. frankel, review—conversion coatingsbased on zirconium and/or titanium, journal of the electrochemical society, 165 (3) c127-c144 (2018).3. m. bauer, application note: measuring metal coating thickness at line using the thermo scientific niton xl5 plus, thermo fisher scientific, tewksbury, ma, usa

汽车的历史新闻：　　近几年，汽车的质量问题屡见不鲜。时下的汽车安全问题，一直是汽车行业消费最关注的话题之一。那么，如今的汽车质量是否能跟上其日新月异的发展节奏呢？本次我们讨论的话题是，汽车电器中电器接插件方面的质量问题与其对应方法。在金属镀厚的过程中，主要有以下几种因素会影响其镀层质量： 镀前处理：生产实践证明造成镀层质量事故多数是由于金属制品的镀前处理不当或欠缺所致。镀前处理的每道工序都会直接问影响到镀层质量。电镀溶液：镀液的性质、各组成成分的含量以及附加盐、添加剂的含量等都会影响镀层质量。基体金属：镀层金属与基体金属的结合是否良好，与基体金属的化学性质有密切关系。如基体金属的电位负于镀层金属的电位，或对易于钝化的基体或中间层，若不采取适当的措施，难以获得结合牢固的镀层。电镀过程：电流密度、镀液温度、送电方式、移动和搅拌的速度等，也会直接影响镀层质量。析氢反应：在宁波电镀过程中大多数镀液的阴极反应都伴随着氢气的析出。当析出的氢气黏附在阴极表面上时会产生针孔或麻点；当一部分被还原的氢原子渗入基体金属或镀层中，会使基体金属及镀层的韧性下降而变脆，叫氢脆。氢脆对高强度钢及弹性零件产生的危害尤其严重。镀后处理：镀后对镀件的清洗、钝化、除氢、抛光、保管方法等都会继续影响镀层质量。电源问题：近年来除采用一般的直流电外，根据实际需要广泛采用换向电镀的方法，使用周期换向电流，还有脉冲电源提供的脉冲电流等都会对镀层质量产生影响。 　　那么，成品镀件的质量究竟该如何管控呢？　　镀层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。目前镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β 射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。　　X射线和β 射线法是无接触无损测量，测量范围较小，X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β 射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。　　随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用X射线镀层测厚仪 向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。　　金属表面处理技术广泛应用于电子行业，而电镀处理更是其主要的表现形式，电镀效果也将直接影响电子设备的性能发挥，汽车电子行业也不例外，其中汽车电子连接器端子的电镀将会影响汽车电子设备的导电和信号传输等方面的性能发挥。 目前在汽车电子连接器端子中较为常见的是Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn等镀层结构，日立FT110系列产品能够有效地对应Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn、Sn/Ni/CuSn、Au/Ni/CuSn结构的膜厚测量，使用日立FT110对Sn/Ni/CuZn、Au/Ni/CuZn结构的测量来讨论电镀工艺在质量管理上的重要性。解决方案请见： http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100718/s544330.htm

您是否与XRF供应商建立长期合作关系，但目前仍在寻找新的产品？也许您从未拥有过日立XRF镀层分析仪，也许您已经有一段时间没有关注过日立分析仪的新性能。FT230镀层分析仪完全能让您看清当前形势从而不再错失良机。时间就是金钱，更快获得分析结果即可省钱抓取零件、在XRF中设置零件并依照结果采取行动所花费的时间对您的生产效率和材料成本有着重大影响。花费的时间越长，堆积的电镀材料就越多——如果材料不符合规格，需要将其作为全损处理，予以彻底报废。即使材料符合规格，您的镀层和化学物质用量也可能超过必要用量。FT230旨在缩短这一时间，以便您能够更快地做出决策。以下是其使用方式和您可以预期的结果：广域相机 – XRF测量的第*一步是找到您的测量位置。虽然所有XRF光谱仪中的标准相机都非常适合微调，但有时难以通过其查看大型零件以寻找单个特定测点。广域相机能为操作员显示整个可测量区域，并可通过让点击使正确的特定测点呈现于十字线下（利用强大的变焦辅助）。这可以节省20%的设置时间。自动对焦 – 确定位置后，操作员需要对焦零件。传统仪器通过激光对焦或视频对焦完成该操作。FT230可以使用激光对焦，但也提供两种自动对焦功能来加速和简化这一步骤。自动接近功能能测量从X射线管到零件之间的距离，并自动将X射线管移动到预定义的工作距离。自动接近比激光对焦快33%。 自动对焦（有时又称“与距离无关的测量”）也会测量从X射线管到零件之间的距离，但不会移动X射线管，而是将X射线管保持在相同的高度，并使用该距离来校正新的几何计算模式。自动对焦允许装载不同高度的零件或测量凹陷或凸出的零件，比使用激光对焦快62%Find My PartTM – 为最*大程度地简化这一操作，只需就处理零件的方法向仪器提供一次指示即可。随后，操作员只需将零件放入仪器中，运行Find My Part™ （查找我的样品），FT230便能通过机器视觉识别零件并加载整个分析程序，包括测量位置、校准曲线、准直器尺寸、工作距离、测量时间以及处理结果的方法。Find My Part™ 比传统设置快72%。此外，还可通过名称查找和扫描二维码或条形码来加载测量程序。简单而强大的软件使用XRF镀层仪器时，操作员几乎所有的时间都花在测量界面上。借助FT230上的全新FT Connect软件，可根据“以操作员为中心”的原则来简化分析流程。新型智能软件 –如今使用的软件平台通常是基于几十年前的设计要求、限制和用户偏好。虽然它们确实有许多有价值的功能，但培训新的操作员可能十分困难，原因在于自首次开发这些工具以来，其界面已经发生巨大变化。过去二十年间，人们的手机、平板电脑、电脑、电视、汽车甚至是烤面包机上的软件都已经发生过变化。借助FT230上的FT Connect，XRF镀层分析仪软件又有了新的优势。以用户为中心 – 与既往软件平台的用户界面相比，FT Connect的软件界面完全具有颠覆性。FT Connect测量界面呈现的不是被按钮、控件和设置包围的零件样品的小视图，而是关注操作员需要做的两件最重要的事情：设置测量流程和依照结果采取行动。FT Connect拥有市场上最*大的样品视图，占据60%的显示屏面，并具有极*佳的灵活照明控制功能。用户可以将数十盏LED调整为环形、楔形，也可以对单盏LED进行调整，以确保获得最*佳样品视觉效果。用户可以使用工厂预设配置或创建新的定制照明设置来简化未来的测量流程。分析结果将清楚显示在相机视图旁边，并且还附有用于评价趋势和统计数据、创建报告或导出结果以及查看历史结果的工具。可展开每张结果卡，以查看有关先前测量的更多详细信息，以便快速解读。其所具备的数据处理能力可解锁工业4.0解决方案。可将分析结果导出为电子表格或综合JSON格式，以便与SCADA、QMS、MES或ERP系统集成。简单而强大的软件我们深知自己的工作不仅仅局限于完成FT230的安装。我们还将在仪器的整个生命周期内与您保持合作，以确保您获得全面支持——无论您是需要额外培训、技术支持，还是包括预防性维护和认证或维修在内的日常维护。全球专家支持 – 日立驻美国、英国、德国、印度、中国和日本的办事处能够提供顶*级的技术支持，并且具备顶*级的应用开发能力。经过工厂培训的全球合作伙伴团队是日立办事处的一股补充力量，他们同样致力于让用户满意。远程诊断 – FT230具有多层诊断功能，可确保XRF按预期运行。它具有仪器健康检查功能，能够进行日常检查，可在您测量生产零件和运行全面仪器诊断之前，验证您的校准曲线。通过ExTOPE Connect这一基于云的数据管理和存储解决方案，可以与日立的专家支持团队直接自动共享选定的诊断数据。这是将数据提供给日立工程师的最快方式，由此其可以在到达现场之前检查用户的仪器并精*准找出问题点。这有助于确保工程师选择正确的零件，并让用户尽快投入正常运行。FT230只是日立为镀层行业提供的解决方案之一。我们提供各种专用仪器：XRF镀层分析仪；用于镀层和材料分析的手持式XRF；用于油漆、阳极氧化和PCB铜厚度测量的电磁测量仪；用于溶液分析的扩展功能仪器；以及用于材料性能测试的热分析仪。为何不再了解一下日立，并选择我们的产品呢？

SciAps手持式光谱仪 X-550手持式XRF合金光谱仪是美国SciAps研发的一种能量色散型X射线荧光光谱分析仪，简称 XRF分析仪或XRF光谱仪，XRF 是英文X-RAY Fluorescence（X射线荧光）的缩写。SciAps手持式光谱仪 X-550合金分析仪小巧便携，可以单手操作；有些客户称其为手持式XRF光谱仪，手提式光谱仪, 便携式XRF分析仪或便携式XRF光谱仪。SciAps X-550 X射线荧光光谱分析仪能现场快速精确的分析出金属中所包含的元素种类，含量，并且不用像其它方法一样损坏样品，被广泛应用于金属制品行业的上，中，下游的各类企业，也被金属行业从业者称为手持合金分析仪，手持式金属成分分析仪，手持式不锈钢牌号分析仪，手提不锈钢材质分析仪。SciAps X-550金属成分分析仪结果以数字的形式呈现给用户，直观易理解，功能能和直读光谱仪类似，但更便携，因此被一些台式火花直读光谱仪的使用者称为手持直读光谱仪。技术优势易于使用开箱即用， 一键式操作，锂电池供电，满足野外一天的工作需求。舒适符合人体工程学，设计紧凑，尺寸小，重量轻，即使使用一天也不觉得累。耐用仪器防水防尘，坚固耐用，通过铝合金直接高效散热，快速将仪器内部电子元器件的热量通过机身的铝合金散热片导出。无语伦比的检测效率，超长使用寿命运行速度快，单个样品的测试时间为1-2秒，单位时间检测效率是同类产品的几倍；即使是测试老款XRF比较难测的铝合金样品，也可以在2-4秒出结果，分析速度比市场上常见同类老款设备快5倍左右。由于X射线管寿命一定，在检测的样品总量相同的情况下，仪器的使用寿命是老一代XRF产品的几倍。高精度以经济实用的si-pin 型探测器XRF测不锈钢304样品为例，Cr, Ni 等客户关心的贵金属元素的误差在0.15左右， 性能和配SDD 探测器的老款XRF的相当。低拥有成本基本无耗材，终身免费培训，软件升级，本地化服务 无语伦比的数据分享功能安卓系统，适得仪器具有无与伦比的数据共享系统和安全性能，可以像老款XRF一样通过WIFI,蓝牙，将数据共享到电脑，也可以通过实时将数据共享到手机，通过手机实时查看或共享测试结果。技术参数1、环境工作温度：-20℃—50℃；2、环境湿度：0-95%；3、元素分析范围：19号元素K到92号元素U之间的元素，标准分析包包含以下元素： Mg, Al, Si, P, S, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, As, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb （31种）；可根据客户需求定制分析元素包4、显示器：工业级高分辨率POWERVR SGX540 3D 5英寸高清彩色智能触摸屏。5、数据显示：百分比（%）显示元素含量。6、尺寸与重量: 外形尺寸：185x114x266mm；重量1.3KG7、激发源：大功率微型直板电子X射线管，内置6kV~50kV多段可选择的电压8、射线管靶材：Rh靶9、探测器：高性能，高精度，高灵敏度标准型大面积SDD探测器，窗口有智能防扎装置，实时保护探测器。10、探测器保护装置：测试窗口有智能防扎装置，保护探测器11、冷却系统：采用了Peltier恒温冷却系统，控测器在-20℃下工作，保证仪器的检测精度，和不受外界温度的影响12、滤波器：配置多个滤波器，可根据不同的电压自动切换，不同的元素采用不同的滤波器，产生最好的分析效果13、射线管规格：采用了完全重新设计的高功率射线管，最大激发电压40KV，最大激发电流500uA14、内置标准块：无需外置标准块校准仪器，仪器内置标准块，在仪器上可自行校准15、多光束：多个光束段，不同的元素采用不同的电压与电流，产生好的分析效果16、主机供电系统：2块锂电池17、测试软件：合金专用测试软件18、平衡性：仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感.并可根据客户需求添加元素19、显示器 整机一体化设计，工业级高分辨率PowerVR SGX540 3D 4.5英寸智能触摸屏，白光显示技术，无LCD高原反应，室內低光源与強光环境下也能有优异可視性，能耗低，比传统低一半白光显示增加各种环境的显示性能20、显示器固定方式：一体机设计,整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低21、双屏显示：独特双屏显示；方便客户任意角度测试样品时查阅结果22、数据显示：百分比（%）显示元素含量，元素显示顺序可按能量、浓度值、用户自定义等方式排序,可统计多次测试的平均值,可通过Wifi蓝牙等直接连接台式电脑或手机显示 在测试过程中同步动态显示化学成份24、数据存储：1GB DDR2 RAM, 1GB NAND，8G SD卡，可存储205000组数据与光谱23、数据传输：USB、无线WIFI、蓝牙进行数据传输，文件可采用TXT,EXCEL、PDF格式输出24、数据分享功能：可通过蓝牙实时直接将仪器的测试结果共享到手机，现场就可以通过手机微信，QQ或邮箱将结果发给相关人员，方便快捷25、处理器CPU：ARM Cortex -A9 dual-core / 1.2GHz ，浮点运算方式，速度大幅提高26、摄像头：高清摄像头，可实现定点分析27、操作系统：用户化安卓系统，可通过专用App蓝牙连接手机或电脑 实现无线同步操作，无需借助电脑，可在现场查看，放大相关元素的光谱图28、自动诊断与故障报告：可通过INTERNET远程诊断机器故障与升级软件，为客户提供及时服务29、建模方式：独特简单易操作的Profile Builder 建模软件；允许客户根据自已样品的特点二次开发独特的分析模型30、辐射安全警示：仪器工作时仪器自带警示灯闪烁提示，空测自动保护功能31 、随机配件：防水运输箱，锂电池及充电器，备用测试窗，操作说明书，数据线，U盘应用领域SciAps X-550手持式X射线荧光光谱仪可快速精确地辨别纯金属和合金的牌号。这些金属和合金包含但不限于以下所列项目l 铝合金l 镁合金l 工具钢l 贵金属l 锌合金l 镍合金l 钛合金l 钴合金l 不锈钢l 锆合金l 异常合金l 铬钼钢l 镍/钴合金l 锻铝合金l 铜合金SciAps X-550手持X射线荧光合金分析仪被广泛应用于以下领域。（这里请和对应标题的解决方案连接到一起）PMI 材料可靠性鉴别， 锅炉压力容器检测， 焊接质量管控， 化工厂或电厂管道硫化物腐蚀监控， 流动加速腐蚀预防， 磨损金属元素分析， 石油石化天然气行业中汞污染金属监测， 汽车催化剂回收锂电池回收， 汽车镀层检测， 电器开关镀层厚度分析， 紫铜杂质分析， 阀门板材等金属制品金属材料品质内控， 航空发动机材料检测， 锂电池生产过程中金属异物管控， 帮助广大球磨机用户降低成本， 炉渣分析， 供水管道及其部件的合规检测， 桥梁工程用材料合规检测， 医疗器械的合规检测， 不锈钢餐具材料合规检测及重金属检测， 食品，制药，烟草行业材料合规和重金属控制， 专业学术科研与教育创新点：（1）更小更轻，符合人体工程学，外形尺寸：185x114x266mm；重量1.3KG，（2）运行速度快，单个样品的测试时间为1-2秒，单位时间检测效率是同类产品的几倍；即使是测试老款XRF比较难测的铝合金样品，也可以在2-4秒出结果，分析速度比市场上常见同类老款设备快5倍左右（3）由于X射线管寿命一定，在检测的样品总量相同的情况下，仪器的使用寿命是老一代XRF产品的几倍。手持式光谱仪

2018年9月8日，为了更好地服务于客户，朗铎科技与赛默飞世尔科技（以下简称“赛默飞”）携手举办的“2018赛默飞世尔尼通手持式光谱仪技术交流会（西北站）”在古城西安圆满落幕，来自西北地区的近百位客户出席了会议。共同探讨了材料检测相关仪器的应用、操作维护和使用技巧，以及最新的检测技术。会议现场会议首先由赛默飞化学分析仪器部市场总监周华先生致辞，周华先生向所有参会者介绍了赛默飞世尔科技公司及其产品，并对朗铎科技多年来所取得的成绩予以肯定。周华先生还表示：“赛默飞将继续推进和深化与朗铎科技的战略合作伙伴关系。充分发挥自身的技术优势、创新能力以及服务平台，鼎力支持朗铎科技的Thermo Scientific Niton手持式X射线荧光光谱仪业务，为广大中国客户的材质鉴定与检测提供全面的保障。”赛默飞化学分析仪器部市场总监周华先生致辞随后，朗铎科技副总经理李勇先生向广大用户做了朗铎科技公司介绍，并对广大用户多年来给予朗铎科技的支持与厚爱表示衷心的感谢。朗铎科技副总经理李勇先生做朗铎科技公司介绍会上，赛默飞世尔科技应用经理刘静女士做了“赛默飞Niton手持式XRF用于材料可靠性鉴定和镀层厚度检测”的应用介绍，报告分别从Niton手持式XRF原理、最新XL5分析仪简介、材料可靠性鉴定、镀层厚度分析等方面为用户讲解了Niton手持式XRF的前沿技术与最新应用。赛默飞世尔科技应用经理刘静女士作精彩报告接着，朗铎科技技术工程师隗合雷作了题为“Niton手持式光谱仪仪器规范操作与日常维修保养方法介绍”的技术报告，分别介绍了Niton手持式光谱仪在合金、矿石、考古、涂层、镀层等领域的应用情况，并以案例形式介绍了其详细解决方案。隗工还就Niton手持式光谱仪的操作使用、日常维护、常见问题处理方法等几个方面进行了详细透彻地讲解，将他多年来在光谱检测分析方面的经验分享给各位参会嘉宾。朗铎科技技术工程师隗合雷作精彩报告Niton手持式光谱仪具有快速、无损、便携等现场检测的特点，可协助工作人员对材料进行全方位检测与分析，并做出快速且准确地判断，大大提高企业的生产效率。会议期间，朗铎科技工作人员特展出了Niton手持式XL5系列合金分析仪、XL3t系列合金分析仪、XL3t系列矿石分析仪、XL2系列合金分析仪、XL2系列矿石分析仪，供参会嘉宾进行参观体验。参会嘉宾合影留念本次会议的成功召开对促进西北地区用户的交流与学习有着重要意义，朗铎科技将一如既往为广大新老用户提供强大的技术支持，共同推动西北地区材料分析检测事业更快更好地发展。关于朗铎科技朗铎科技，全球科学服务领域的领导者-赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific）中国区域战略合作伙伴。作为工业检测分析系统解决方案服务商，我们致力于为中国客户提供全球高品质的分析仪器、专业的应用技术支持、优质的售后服务等系统解决方案。朗铎科技是赛默飞世尔尼通（Niton）手持式光谱仪在合金/地矿行业的中国区总经销商，同时也是赛默飞世尔ARL全谱直读光谱仪中国区总经销商。目前朗铎科技主要产品包括手持式合金光谱仪、手持式矿石光谱仪、直读光谱仪等系列产品。

概况SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用先进的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。与X 系列的其它仪器相比，SciAps 合金分析仪 采用一种新的X射线管及全新的分析方法（专利申请中），该方法将铝合金材料分析的速度又提高了一个档次，且对高温合金和不锈钢等金属的分析性能与其它仪器一样。软件特性特 点：技术先进，分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，最轻，最小，最省力，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用顶新技术5”大显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。应 用：合金牌号识别快速识别各类合金牌号快速分拣铝合金90%以上的铝合金在2-5秒钟之内就可以识别开来；极大的提高了铝合金的分拣速度及效率。合金元素合规检测X-200 无与伦比的轻元素分析功能，可以快速精确的分析低含量的Mg, Si, Al, P, S, 及其它常规金属元素Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Y, Zr, Nb, Mo, W, Ta, Hf, Re, Au, Pb, Bi, Ru, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb。分析镀层元素厚度（选配）客户可以根据公司分析需求选配镀层分析模式创新点：1.首先品牌不同，新款手持式合金光谱仪可以更短时间内看到检测结果2.仪器重量更轻，更便携3.设计更符合人体力学，手柄指纹设计，防滑，底座设计，在使用中稳定

5月17日，朗铎科技携手赛默飞世尔科技（中国）有限公司举办的“2019赛默飞世尔尼通手持式光谱仪技术交流会（南京站）”在六朝古都南京圆满落幕。来自江苏地区的一百多位客户出席了会议，共同探讨了材料检测相关仪器的应用、操作维护和使用技巧，以及最新的检测技术。上午，朗铎科技技术工程师团队为携带Thermo Scientific Niton手持光谱仪参会的老客户现场进行设备的维护与保养，对于客户在使用用过程中遇到的问题进行了详细的解答，还为客户分享了Niton手持光谱仪在平时使用中维护保养的技巧，受到客户的一直好评。下午13:30会议正式开始，首先由赛默飞世尔科技便携式仪器渠道管理经理田莉女士致辞，田莉女士向所有参会者介绍了赛默飞世尔科技公司及其产品，并对朗铎科技多年来所取得的成绩予以肯定。随后，朗铎科技副总经理李勇先生向广大用户做了朗铎科技公司介绍，并对广大用户多年来给予朗铎科技的支持与厚爱表示衷心的感谢。会上，赛默飞世尔科技应用经理刘静女士作了“赛默飞Niton手持式XRF用于材料可靠性鉴定和镀层厚度检测”的应用介绍，报告分别从Niton手持式XRF原理、最新XL5分析仪简介、材料可靠性鉴定、镀层厚度分析等方面为用户讲解了Niton手持式XRF的前沿技术与最新应用。接着，朗铎科技华东服务经理周阳先生作了“Niton手持式光谱仪仪器规范操作与日常维修保养方法介绍”和“ARL essySpark 1160全谱直读火花光谱仪及相关应用介绍”，分别介绍了Niton手持式光谱仪和ARL essySpark 1160全谱直读火花光谱在各行业中的应用，并以案例形式介绍了其详细解决方案。本次会议是朗铎科技服务Ntion老用户的重要市场活动。未来，朗铎科技将持续推出此类技术培训会议，为客户提供一个技术交流与互动平台，大家共同材料检测产品的应用范围，总结经典案例，将产品使用价值发挥到极致。关于朗铎科技朗铎科技，全球科学服务领域的领军者-赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific）中国区域战略合作伙伴。作为工业检测分析系统解决方案服务商，我们致力于为中国客户提供全球高品质的分析仪器、专业的应用技术支持、优质的售后服务等系统解决方案。朗铎科技是赛默飞世尔尼通（Niton）手持式光谱仪在合金/地矿行业的中国区总经销商，同时也是赛默飞世尔ARL全谱直读光谱仪中国区总经销商。目前朗铎科技主要产品包括手持式合金光谱仪、手持式矿石光谱仪、直读光谱仪等系列产品。

5月31日，朗铎科技携手赛默飞世尔科技（中国）有限公司举办的“2019赛默飞世尔尼通手持式光谱仪技术交流会（成都站）”在“天府之国”成都圆满落幕。来自成都地区的六十多位客户出席了会议，共同探讨了材料检测相关仪器的应用、操作维护和使用技巧，以及最新的检测技术。Thermo Scientific Niton手持光谱仪维护与保养现场上午，朗铎科技技术工程师团队为携带Thermo Scientific Niton手持光谱仪参会的老客户现场进行设备的维护与保养，对于客户在使用用过程中遇到的问题进行了详细的解答，还为客户分享了Niton手持光谱仪在平时使用中维护保养的技巧。朗铎科技副总经理李勇先生致辞下午13:30会议正式开始，首先朗铎科技副总经理李勇先生致开幕辞，并介绍了朗铎科技的产品结构和发展历程，对广大用户多年来给予朗铎科技的支持与厚爱表示衷心的感谢。赛默飞世尔科技化学分析部高级应用工程师张晋博先生作技术应用报告会上，赛默飞世尔科技化学分析部高级应用工程师张晋博先生作了题为《Niton手持式XRF用于材料可靠性鉴定和矿产勘查开采的应用介绍》技术报告，报告分别从Niton手持式XRF原理、材料可靠性鉴定、矿产勘查开采的应用等方面为用户讲解了Niton手持式XRF的前沿技术与最新应用。嘉宾提问互动接着，朗铎科技技术部经理马金波先生作《Niton手持式光谱仪仪器规范操作与日常维修保养方法介绍》，为参会嘉宾详细介绍了Niton手持式光谱仪使用时的注意事项以及设备维护与保养的方法和技巧。同事还介绍了Niton设备在合金、贵金属、矿石、考古、涂层、镀层等领域的应用情况，并以案例形式介绍了详细的解决方案。朗铎科技技术部经理马金波先生作技术应用报告最后，由朗铎科技ARL产品全国销售经理李乾辉先生作《ARL essySpark 1160全谱直读火花光谱仪及相关应用介绍》，主要介绍了ARL品牌起源，该产品的光源、激发室、入射光系统等8项专利细节，保证了其样品处理简单、检测快速、检测元素多、精度高、稳定性好、维护成本低等特点。朗铎科技ARL产品全国销售经理李乾辉先生作ARL技术应用报告本次会议是朗铎科技服务Ntion老用户的重要市场活动。朗铎科技一直致力于与客户共同成长，为国内广大用户提供国际水平的分析检测技术、产品与服务。同时朗铎科技也非常愿意与各界同仁携手，在材料化学分析、质量控制、科研和前沿创新技术等领域共创辉煌。合影留念

X射线荧光光谱（XRF），作为一种快速的、非破坏式化学成分分析方法，以其分析元素多、分析浓度范围广、多种元素同时分析等特点被广泛应用。近年来，XRF需求规模不断增长的同时，市场竞争也日趋激烈。在这样的局势下，推出“有实力”的XRF产品成为企业成败的关键，展现XRF产品的“硬实力”是企业争取市场的重要途径之一。基于此，仪器信息网特组织“晒晒XRF明星产品的硬实力”主题活动，发布系列稿件，通过不同渠道进行推广，以帮助仪器企业展现自身实力、争取更多市场，也帮助广大用户了解前沿XRF技术、解决选型难题。本期要“晒”的明星产品是浪声TrueX手持式X荧光分析仪。浪声TrueX手持式X荧光分析仪仪器信息网：请介绍贵司概况，当前发展情况如何？浪声：苏州浪声科学仪器有限公司成立于2012年，一直致力于研究分析和工业仪器技术。伴随着数十个重大创新和突破，浪声在薄膜分析（XRF）、X射线荧光光谱学(TXRF/EDXRF)、X射线晶体学、X射线衍射（XRD）、拉曼光谱学（Raman）、X射线光学器件、实验室自动化、X射线源等领域愈加专业成熟。截止目前，浪声拥有专利50余项，获得“江苏省民营科技企业”、“ 江苏省高新技术企业”、“江苏省X射线光谱分析工程技术研究中心”、“国际认证ISO9001质量管理体系认证企业”、“ISO14001环境管理体系认证企业”等荣誉称号，建立了80个遍布世界各地的专业代理机构负责销售及售后服务，产品远销俄罗斯、巴西、土耳其、南非等50多个国家和地区。仪器信息网：请介绍一款贵司的XRF“明星产品”，具有哪些核心竞争力？浪声：TrueX手持式X荧光分析仪作为浪声的明星产品，具有轻便携带、坚固耐用、检测迅速等优点。内置独家DoubleBeam技术，可自动感知仪器前方有无样品，提高了射线的安全性和防护等级；以及Ultrashort光路设计，在无需充氮的情况下，显著提高了轻元素的激发效果。此外，还配置了全新净强度拟合算法，优化了光谱解析过程，使得手持式XRF分析仪也能拥有与实验室大型设备相媲美的低检出限。仪器信息网：这款明星产品应用最好（或销售最好）的领域是哪个？用得好（或销售好）的原因是什么？浪声：TrueX手持式X荧光分析仪可应用于有害元素检查、工业现场成分分析、贵金属检测、废旧金属回收、地质勘探、环境监测、考古研究、镀层层厚分析等领域。截至目前，其在金属材料、环境保护等方面的应用最为广泛。在金属行业应用中，TrueX手持式X荧光分析仪可对金属材料进行现场/工厂检测和快速分类，在数秒内完成检测，即便是苛刻环境中也可为使用者提供迅速高效、准确的数据信息，提高检测的效率。目前，其在该领域中实现了从“跟跑”到“并跑”乃至“领跑”。在土壤重金属检测方面，TrueX手持式X荧光分析仪能够对土壤中的重金属进行实时定性、定量测试，被广泛应用于环保领域，客户有新余市公安局、哈尔滨市公安局、厦门市人民检察院、鹰潭市人民检察院、河北恒一检测科技集团有限公司等。仪器信息网：贵司针对这款明星产品制定了怎样的售前/售中/售后服务方案？浪声：TrueX手持式X荧光分析仪备受赞誉，除了产品的性能优异以外，还得益于浪声为客户带来的极致服务。为满足用户在分析技术应用方面的需求，浪声在全国设立了多个办事处和服务点，就近原则为客户提供“售前—售中—售后三个环节服务，如分析咨询、演示分析、仪器培训、售后处理、技术交流等。仪器信息网：用户是否对XRF提出了更高的技术要求？贵司是否制定了应对之策？浪声：近年来，随着XRF分析仪与新材料、新技术不断融合，XRF仪器正朝集成化、智能化和多功能化方向发展。此外，客户的需求也决定了XRF的未来发展方向，特别是众多领域细分后其检测需求更为凸显。为满足不同细分领域的不同客户需求，浪声陆续推出了AOA系列环境在线监测仪、PeDX RAMAN便携式X射线拉曼联用仪、界FRINGE系列桌面式X射线衍射仪等产品。仪器信息网：请展望XRF市场前景，预测其技术发展方向。浪声：从自身而言，产品是浪声的立身之本，技术创新是浪声的优势所在，我们将深耕客户需求，持续优化现有产品的便捷性、智能化和功能性，为更多的客户提供整体解决方案！

产品简介：球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法，是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置，用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量，也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后，在镀层样品上形成一球坑，通过正确的测量分析，可快速得出镀层的准确厚度。主要特点：球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外，配合POD销盘磨损试验机，可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μm）的厚度。技术参数：技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知，如有疑问请联系我们创新点：采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作，使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层（1 μ m）的厚度.欧屹球坑测厚仪

72DL PLUS™ 超声波测厚仪，一款能够测量超薄和多层材料的高频高速仪器。这款便携式、易于操作的仪器可以解决各行业的广泛性的棘手的厚度测量应用，比如汽车、航空航天、制造和发电等行业。为了帮助您熟悉，本文将探讨我们在您的检测工作流程中采用72DL PLUS测厚仪的主要原因。精密测厚：如何开始与如何进行更高的频率使您能够测量更薄的测试材料。过去，大多数精密超声波测厚仪的最大频率限于为20 MHz左右，最小测量厚度仅为0.005英寸（0.127 mm）左右。现在，72DL PLUS测厚仪驱动频率高达125 MHz，您可以进行超过传统超声波测厚仪最小厚度能力的测量，最小测量厚度为0.001英寸（0.025 mm）或更薄。72DL PLUS测厚仪的高速（高达2 kHz测量速率和60 Hz屏幕刷新）足以优化您的测量工作流程，无论您使用的是高频或低频的探头。这个能力结合用户友好的界面，使72DL PLUS测厚仪成为支持不同频率的大厚度范围测量的利器。以下是推荐采用72DL PLUS测厚仪的八个原因：测量比以往更薄的材料使用72DL PLUS测厚仪，基于应用，可以测量单层材料低至约0.0005英寸（0.0127 mm）。例如，您可以测量低至0.008英寸（0.20 mm）单层钢片和约0.0005英寸（0.0127 mm）单层塑料膜。要注意的是，最小厚度测量能力取决于探头频率、探头类型和待测试材料。一次显示多达6层的厚度激活多层测量软件选项，72DL PLUS测厚仪可以测量一系列多层材料，包括油漆、塑料、金属和涂层。它甚至具有同时显示多达六层厚度的能力，比38DL PLUS ™ 多出两层测量能力。高速厚度测量高速厚度测量对于时间敏感应用（如涡轮叶片测量）非常重要。作为一款测量速度高达2 kHz的高速仪器，极大地提高了生产车间的周转率。通过5种多功能测量视图监测厚度变化虽然我们的手持式测厚仪的屏幕较小，但72DL PLUS测厚仪采用全彩7英寸的触摸屏，具有高可视性。仪器支持五种不同测量视图—A扫描、B扫描、A/B扫描、趋势线和缩放，以帮助发现和跟踪厚度变化。简易设置简化厚度测量该测厚仪简化了日常厚度测量的仪器设置过程，无需在每次测量之前手动选择和调整设置。只需进入启动屏幕上的“我的应用”菜单，菜单将引导您完成创建应用程序的每个步骤。或者，您可以使用PC接口应用程序从电脑创建应用程序。易于收集、回顾和管理厚度数据内置数据记录和机载文件管理实现了高效的厚度数据采集和处理，而电脑端的PC界面应用程序支持交互工具，便于查看和管理多个设备和部件的数据。通过无线进行连接，仪器可以支持连接到‘云’端，实现工业4.0实践。它能够连接到奥林巴斯科学事业云™ （OSC），助您访问基于云的免费的的功能。工业环境中的更耐用与我们所有的测厚仪一样，该仪器的设计目标是在恶劣的工业环境中延长运行时间。它具有较好的坚固性（MIL-STD-810G），做好意外跌落或冲击的防护，并可抵抗灰尘和湿气（设计符合IP65）。该仪器可在高温和寒冷气候下进行可靠测量，工作温度范围广（–10°C至50°C或14°F至122°F）。兼容各种探头于不同厚度应用72DL PLUS测厚仪与标准频率（0.2–30 MHz）和高频（20–125 MHz）探头兼容。为了支持超薄材料测量的应用，我们扩大了高频探头的产品线。M2102（75 MHz）和M2104（125 MHz）是耐用的接触式探头，可实现非常小的频率衰减和理想的检测范围。其它探头解决方案，包括改进的给水耦合装置，均在开发中，以支持客户的特定需求。OLYMPUS现有的用于超薄材料测量的高频探头的一部分。从左到右：B126给水耦合装置和M2104探头

激光诱导击穿光谱（Laser Induced Breakdown Spectroscopy,简称LIBS）是一种原子发射光谱。它利用高能量聚焦脉冲激光光束激发样品表面，对产生的原子光谱进行分析得到对应元素成分及含量。是一种快速、定性的分析手段。随着激光器以及光谱仪小型化技术的发展，轻便的手持LIBS光谱仪成为现实。其优势在于能将精密的分析仪器带到生产的一线，主要用于铁基、铝基、铜基、镍基等金属合金材料的现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定。手持LIBS光谱仪能对生产过程进行高速，高效的监控，完善企业质量管理体系，提高生产效率，是工业生产过程中的一个不可或缺的环节。 手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪，它利用高能量聚焦脉冲激光光束激发样品表面，对产生的原子光谱进行分析得到对应元素成分及含量。是一种快速、定性的分析手段。随着激光器以及光谱仪小型化技术的发展，轻便的手持式光谱仪成为现实。其优势在于能将精密的分析仪器带到生产的一线，主要用于铁基、铝基、铜基、镍基等金属合金材料的现场牌号鉴别及合金元素成分的快速鉴定。手持LIBS光谱仪能对生产过程进行高速，高效的监控，完善企业质量管理体系，提高生产效率，是工业生产过程中的一个不可或缺的环节。 手持式LIBS激光诱导击穿光谱仪，其工作原理是利用脉冲激光产生的等离子体烧蚀并激发样品中的物质，并通过光谱仪获取被等离子体激发的原子所发射的光谱，以此来识别样品中的元素组成成分，进而可以进行材料的识别、分类、定性以及定量分析。LIBS作为一种新的材料识别及定量分析技术，既可以用于实验室，也可以应用于工业现场的在线检测。在检测领域中，传统的原子吸收和发射光谱仍然占据主导地位，但其存在试剂消耗量大、检测元素受限，不能便携，难用于现场检测等缺点。由于LIBS技术具有快速直接分析，几乎不需要样品制备，可以检测几乎所有元素、同时分析多种元素，对样品表面风化、尘土层形成清洁，可实现逐层分析且可以检测几乎所有固态样品，远距离探测，适用于现场分析等，因而LIBS弥补了传统元素分析方法的不足，尤其在微小区域材料分析、镀层/薄膜分析、缺陷检测、珠宝鉴定、法医证据鉴定、粉末材料分析、合金分析等应用领域优势明显，同时，LIBS还可以广泛适用于石油勘探、水文和地质勘探、冶金和燃烧、制药、环境监测、科研、军事及国防、航空航天等不同领域的应用。

8月下旬，立讯精密相关负责人，技术人员来我司考察仪器，送样品检测。我司技术人员详细介绍了仪器的参数，应用，解释了客户针对性的各种问题。客户提供的几种样品检测分析后，我司仪器给出的各项数据指标都准确合格。立讯精密在和其他厂家对比仪器各项性能指标价格后，于9月初选择英飞思的能量色散X荧光光谱仪--镀层分析仪和RoHS检测仪，用于产品的镀层，镀液检测分析，RoHS检测分析，为产品质量牢牢把关。英飞思镀层测厚仪/膜厚仪微光斑X 射线聚焦光学器件通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。高分辨率样品观测系统精确的点位测量功能有助于提高测量精度。全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。英飞思RoHS检测仪1-一键式自动测试，使用更简单，更方便，即使非技术人员也能快速上手2-采用美国AmpTek最新型Si-pin/SDD探测器，电致冷技术，体积小、数据分析准确且维护成本低。3-采用自主研发的探测器信号增强处理系统，提高信噪比，达到实验室级别低1ppm检出限。4-八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换。最小0.2mm准直器可以用于样品微点测试，检测光斑更小，射线能量更集中。内置高清CCD摄像头，能清晰地显示仪器所检测的样品部位5-采用7位滤光片自动切换系统，不同滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖6-多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级7-先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，提高核心部件使用寿命8-的芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，降低使用成本9-可定制化报告，可以自由设定元素检测限，软件自动标示超标元素（Fail/Pass）10-多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全11-优化了Cl，Cr等元素的检测，大大提高了低含量Cl和Cr元素的测试灵敏度和稳定性，为用户的无卤分析提供了更精准的检测方法12-可拓展应用：镀层厚度分析，八大重金属分析，合金成分分析

日本精工电子纳米科技有限公司最新推出X射线荧光镀层厚度测量仪的新机型[SFT-110]　　通过自动定位功能，可简单迅速地测量镀层厚度。　　 　　日本精工电子有限公司的子公司精工电子纳米科技有限公司将在5月初推出配备自动定位功能的[X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110]，使操作性进一步提高。　　对半导体材料、电子元器件、汽车部件等的电镀、蒸镀等的金属薄膜和组成进行测量管理，可保证产品的功能及品质，降低成本。精工从1971年首次推出非接触、短时间内可进行高精度测量的X射线荧光镀层厚度测量仪以来，已经累计销售6000多台，得到了国内外镀层厚度、金属薄膜测量领域的高度关注和支持。　　为了适应日益提高的镀层厚度测量需求，精工开发了配备有自动定位功能的X射线荧光镀层厚度测量仪SFT-110。通过自动定位功能，仅需把样品放置到样品台上，就可在数秒内对样品进行自动对焦。由此，无需进行以往的手动逐次对焦的操作，大大提高了样品测量的操作性。　　近年来，随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。SFT-110实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。　　精工今后还会通过X射线技术产品的开发，更多地支持制造业的品质管理及环境管制对应。［SFT-110的主要特征］ 1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时，以往需花费约10秒的样品对焦，现在3秒内即可完成，大大提高样品定位的操作性。 2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等，致使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件，即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 4. 广域观察系统（选配） 可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 5. 对应大型印刷线路板（选配） 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 6. 低价位 与以往机型相比，既提高了功能性又降低20%以上的价格。［主要产品规格］ 检测器： 比例计数管 X射线源： 空冷式小型X射线管 准直器： 0.1、0.2mmφ2种 样品观察： CCD摄像头 样品台移动量：250（X）×200（Y）mm 样品最大高度：150mm

近日，Evident对其开发的专为工业环境打造的精密超声测厚仪72DL PLUS做出了重大升级。72DL PLUS测厚仪的PC接口应用程序引入了智能工具，用于控制和加快生产车间的精密厚度检测。通过智能监控正在进行的检查质量和进度，确保工作正确完成，从而获得更高的安全性。智能监控，省时省力√ 更快地开始工作：通过遵循自定义零件图上的标准化检测指南，检测人员可以更快、更轻松地完成工作。您知道您正在每个所需的厚度检测位置采集数据，因此充满信心。√ 节省时间和资源培训检查员：只需创建一次自定义零件图和设置，然后将它们推送到您的所有仪器上 所有检查员都遵循相同的流程来一致地评估零件的厚度。√ 通过数据分析提高产品质量：监控厚度趋势，发现质量问题并生成报告，以帮助保持一致的产品质量并改进流程。72DL PLUS超声测厚仪小巧便携、易于使用，可以高速提供精准的厚度测量值。该测厚仪具备快速扫查、高级算法和Evident迄今为止最高的最小可测厚度的能力，可使您充满信心地测量超薄层的厚度，完成具有挑战性的应用。72DL PLUS测厚仪提供标准频率和高频率两种型号。高频率型号可以测量超薄材料，包括多层漆料、塑料、金属和涂层，其多层测量软件可以同时显示最多六个独立层的厚度。所有72DL PLUS型号都具有快速、准确测量厚度的功能，且均可提供内置数据记录功能，数据存储量高达2GB，同时还提供方便的机载文件管理功能。多层测量软件提供多达6层的多层厚度测量功能。多层测量软件提供多达6层的多层厚度测量功能。每层的测量设置，包括材料、声速、目标厚度范围和报警阈值，都可以通过配置工作流程和触摸屏控制轻松访问。Evident的超声测厚仪可准确测量多种类型材料厚度。我们的数字式测厚仪功能齐备，可提供高级测量性能。您可以了解Evident所提供的各种不同的测厚仪（从简单的手持式测厚仪到高级型号测厚仪），找到一款可以满足您应用需求的测厚仪。我们的所有超声波测厚仪超声测厚仪可以对大多数工程材料进行测量，包括塑料、金属、金属复合材料、橡胶及内部腐蚀的材料。Evident也是知名的霍尔效应测厚仪制造商，如果您要对塑料瓶等非铁性薄壁材料进行快速、准确的测量，霍尔效应测厚仪就是您理想的选择。