红外薄膜测试

C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR——本产品基于红外法水分分析传感器的测试原理，参照ISO 15106-2/ASTM F1249标准设计制造，为中、高水蒸气阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测试验。拥有专利的一体式3个测试腔，高精度传感器，内置专用计算机控制系统，提供精确的温度、湿度、流量的调节与控制，具有极高的测试灵敏度和重复性。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏电子等领域的薄膜、片材、纸张、包装件及相关材料的水蒸气透过性能测试。C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR产品特点：1、独创传感器核心技术——Labthink新一代水蒸气分析传感器，由Labthink全球研发中心自主研制，凝聚了中美传感器技术领域的顶尖科技成果，掌握传感器行业核心技术，精度和稳定性达到世界先进水平。2、成熟工艺 锻造优质产品——30年经验，使Labthink拥有成熟且可靠的气体渗透检测仪器制造技术。细节精雕细琢，设计不断完善，性能不断提升，为用户呈现了“设计优、材料优、性能优、传感器优”的高端阻隔系列产品。3、洞悉标准 打造世界全面产品线——Labthink准确掌握各类水蒸气透过检测方法的特点和差异，针对重量测试法ASTM E96/GB 1037、红外传感器法ISO 15106-2/ASTM F1249、电解传感器法ISO15106-3、湿度传感器法ISO15106-1/ASTME398四大类测试方法打造了数款久经市场检验的成熟产品，形成了全球范围内全面的水蒸气透过率检测仪器产品线。4、懂你所需 倾我所有——Labthink致力于为客户提供适合的产品。无论您寻求科学溯源方法还是商业应用方法，无论应用于科学研究还是品控检测，我们都可以为您匹配合适的产品，C390M就是这精心组合的系列产品之一。√ 精确调节测试气体的流量、湿度、温度√ 预热时间短，测试条件能够更快到达设定要求√ 不需要添加液体冷却剂、催化剂或特殊气体混合物√ 专家测试模式和快速测试模式，满足不同应用场景和阻隔材料的测试要求√ 提供系统校准用参考膜√ 核心传感器等重要部件有多重自我保护功能√ 不需要外配计算机，内置专用计算机系统√ 包装件测试功能√ 智能节气功能，可以减少测试气体使用量√ 网线和USB数据接口√ 软件功能专业直观，人员权限严格分级，报表输出形式多样√ Labthink独有DataShieldTM数据盾系统，方便数据集中管理和对接信息系统√ 提供中国GMP要求的计算机系统管理，满足医药行业需要√ 提供CFR 21 Part 11C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，具有稳定相对湿度的氮气在薄膜的一侧流动，干燥氮气在薄膜的另一侧流动；由于湿度差的存在，水蒸气会从高湿侧穿过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气携带至红外水分传感器，不同的水蒸气浓度产生不同的光信号，通过分析计算得出浓度数值，进而计算试样的水蒸气透过率。对于包装件而言，干燥氮气则在包装件内流动，包装件外侧处于高湿状态。参照标准：GB/T 26253-2010 塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定 红外检测器法ASTM F1249 利用调幅红外线传感器对水蒸气透过塑料薄膜和薄板穿透率的测试方法ISO 15106-2 塑料.薄膜和薄片.水蒸气传输率的测定.第2部分:红外探测传感器法JIS K7129 塑料.薄膜和薄片.水蒸气透过率的测定.仪器法TAPPI T557 PM-1995 通过塑料薄膜的水蒸气传输率和片材使用调制的红外传感器YBB00092003-2015 水蒸气透过量测定法C390M水蒸气透过率测试仪 红外法薄膜透湿仪WVTR测试参数：C390M型号： 测试范围：0.05～40 g/(m2d) (标准)；0.00025～0.2 g/(pkgd)(包装件)分辨率：0.001 g/(m2d)重复性：0.05或2%取大者 g/(m2d)测试温度：10～55±0.2 ℃测试湿度：5%～90%±1%,100% RH附加功能：包装件测试(最大3L)：可选DataShieldTM数据盾：可选GMP计算机系统要求：可选CFR21 Part11：可选技术规格：测试腔：3套样品尺寸：108mm × 108mm样品厚度：≤3mm标准测试面积：50cm2载气规格：99.999%高纯氮气（气源用户自备）气源压力：≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸：1/8 英寸金属管

产品简述：适用于测定塑料薄膜、铝箔塑膜、防水材料、金属箔片等高阻隔材料的水蒸气渗透性能。可扩展测试瓶、袋等容 器。技术参数：测量范围（膜） 0.01～40 g/(m2day) (标准) 0.1～1000 g/(m2day) (可选) 试样数量 3 分辨率 0.001 g/(m2day) 样品尺寸 Φ108mm 测试面积 50cm2 试样厚度 ≤3mm 测试模式 三腔数据独立 温控范围 15℃～55℃(分辨率±0.01℃) 控温精度 ±0.1℃控湿范围 0～100%RH 控湿精度 ±1%RH载 气 99.999%高纯氮气（气源用户自备） 载气流量 0~200ml/min（全自动控制） 气源压力 ≥0.28MPa/40.6psi 接口尺寸 1/8" 校正方式 标准膜校正 主机尺寸 350mm (L)×695 mm (W)×410mm (H) 主机重量 60Kg 电源 AC 220V 50Hz测试原理及产品描述：采用红外传感器法原理。具有一定湿度的加湿氮气在材料的一侧流动，干燥氮气在材料的另一侧以固定的流量流 动；湿度梯度差的存在，导致水蒸气从高湿侧透过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气（载 气）携带至红外传感器；传感器对载气的水蒸气浓度会产生对应的电信号；精确测量传感器电信号，计算试样的水蒸 气透过率等参数。参照标准：YBB 00092003、GBT 26253、ASTM F1249、ISO 15106-2、TAPPI T557、JIS K7129ISO 15106-3、GB/T 21529、 DIN 53122-2、YBB 00092003产品特点： 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最da限度的满足用户的个性化需求 自动流量控制：测试流量，包括载气与湿气，均须自动控制，无需人工干预； 全自动温度控制，水浴冷热控温技术，设备可在 5~40 摄氏度环境变化下拟变整机温度，可任意升温、降温，控制精度高，稳定可靠，设 备不受外部环境温度干扰； 自动湿度控制：湿度自动控制，无机械旋钮，无需人工干预； 可选触控屏操作界面 专业测试软件，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采集芯片，有效保证测试准确性与实时性 配置标准串行通讯口 一键式操作，简单方便，即学即会 全自动测试：设定测试参数，开始后测试自动进行，自动判断试验结束并保存测试结果； 激光式脉冲调制的红外传感器，长光程吸收，测量精度更高； 精密管道与阀门，专利的管道冲洗技术，保证载气的洁净度，测试效率更高； 独有的试样防侧漏密封安装技术，增强试样密封； 高效测试，氮气低消耗； 符合中国 GMP 对数据可追溯性、权限管理等功能的要求，计算机化系统完全满足医药行业需要（选购）产品配置：系统配置:测试主机、计算机、测试软件、通讯线缆、水吸收阱、取样器、氮气瓶精密减压阀、真空密封脂、打印机 选配件：容器测试附件和容器温度控制装置 备注： 气源和蒸馏水（用户自备）普创-WVTR-E3（红外法）水蒸气透过率检测仪 普创-WVTR-E3（红外法）水蒸气透过率检测仪

FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备 如果您对该产品感兴趣的话，可以给我留言！ 产品名称：FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备产品型号：FSM 128， 500TC, 900TC1. 简单介绍 FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备:美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，总部位于圣何塞，多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备，客户遍布全世界, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)1. 产品简介：FSM128 薄膜应力及基底翘曲测试设备 在衬底镀上不同的薄膜后, 因为两者材质不一样，以及不同的材料不同温度下特性不一样, 所以会引起应力。 如应力太大会引起薄膜脱落, zui终引致组件失效或可靠性不佳的问题。 薄膜应力激光测量仪利用激光测量样本的形貌,透过比较镀膜前后衬底曲率半径的变化, 以Stoney’s Equation计算出应力, 是品检及改进工艺的有效手段。 1) 快速、非接触式测量 2) 128型号适用于3至8寸晶圆 128L型号适用于12寸晶圆 128G 型号适用于470 X 370mm样品， 另可按要求订做不同尺寸的样品台 3) 专利双激光自动转换技术 如某一波长激光在样本反射度不足，系统会自动使用 另一波长激光进行扫瞄，满足不同材料的应用 4) 全自动平台，可以进行2D及3D扫瞄（可选) 5) 可加入更多功能满足研发的需求 电介质厚度测量 光致发光激振光谱分析 （III-V族的缺陷研究） 6) 500 及 900°C高温型号可选 7) 样品上有图案亦适用1. 规格: 1) 测量方式: 非接触式(激光扫瞄) 2) 样本尺寸: FSM 128NT: 75 mm to 200 mm FSM 128L: 150 mm/ 200 mm/ 300mm FSM 128G: *大550×650 mm 3) 扫瞄方式: 高精度单次扫瞄、2D/ 3D扫瞄(可选) 4) 激光强度: 根据样本反射度自动调节 5) 激光波长: 650nm及780nm自动切换(其它波长可选) 6) 薄膜应力范围: 1 MPa — 4 GPa(硅片翘曲或弯曲度变化大于1 micron) 7) 重复性: 1% (1 sigma)* 8) 准确度: ≤ 2.5% 使用20米半径球面镜 9) 设备尺寸及重量: FSM 128: 14″(W)×22″(L)×15″(H)/ 50 lbs FSM128L:14″(W)×26″(L)×15″/ 70 lbs FSM128G:37″(W)×48″(D)×19″(H)/ 200 lbs 电源 : 110V/220V, 20A********************************************************************************FSM413 红外干涉测量设备如果您对该产品感兴趣的话，可以给我留言！ 产品名称：FSM 413 红外干涉测量设备产品型号：FSM 413EC, FSM 413MOT，FSM 413SA DP FSM 413C2C, FSM 8108 VITE C2C1. 简单介绍FSM 128 薄膜应力及基底翘曲测试设备:美国Frontier Semiconductor(FSM)成立于1988年，总部位于圣何塞，多年来为半导体行业等高新行业提供各式精密的测量设备，客户遍布全世界, 主要产品包括:光学测量设备: 三维轮廓仪、拉曼光谱、 薄膜应力测量设备、 红外干涉厚度测量设备、电学测量设备:高温四探针测量设备、非接触式片电阻及 漏电流测量设备、金属污染分析、等效氧化层厚度分析 (EOT)1. 产品简介：FSM 413 红外干涉测量设备1) 专利红外干涉测量技术, 非接触式测量 2) 适用于所有可让红外线通过的材料硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、碳化硅、玻璃、石 英、聚合物… 2. 应用: 衬底厚度(不受图案硅片、有胶带、凹凸或者粘合硅片影响) 平整度 厚度变化 (TTV) 沟槽深度 过孔尺寸、深度、侧壁角度 粗糙度 薄膜厚度 环氧树脂厚度 衬底翘曲度 晶圆凸点高度(bump height) MEMS 薄膜测量 TSV 深度、侧壁角度… TSV应用Total Thickness Variation (TTV) 应用1. 规格: 1) 测量方式: 红外干涉(非接触式) 2) 样本尺寸: 50、75、100、200、300 mm， 也可以订做客户需要的产品尺寸 3) 测量厚度: 15 — 780 μm (单探头) 3 mm (双探头总厚度测量)4) 扫瞄方式: 半自动及全自动型号, 另2D/3D扫瞄(Mapping)可选5) 衬底厚度测量: TTV、平均值、*小值、*大值、公差。。。 6) 粗糙度: 20 — 1000? (RMS) 7) 重复性: 0.1 μm (1 sigma)单探头* 0.8 μm (1 sigma)双探头*8) 分辨率: 10 nm 9) 设备尺寸: 413-200: 26”(W) x 38” (D) x 56” (H) 413-300: 32”(W) x 46” (D) x 66” (H) 10) 重量: 500 lbs11) 电源 : 110V/220VAC 12) 真空: 100 mm Hg13) 样本表面光滑（一般粗糙度小于0.1μm RMS) 150μm厚硅片（没图案、双面抛光并没有掺杂）技术/销售热线：邮箱：