红外发射测量

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统发射光谱/光源测量系统介绍 发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。 针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-&lambda 150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-&lambda 300、Omni-&lambda 500、Omni-&lambda 750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

E5000发射光谱仪具有全谱多元素同时分析、分析速度快、分析精准、稳定性好等优点，分析性能达到了国际领先水平。作为全球首创粉末样品元素分析的台式全谱直读发射光谱仪，E5000发射光谱仪拥有创新的高功率数控电弧光源、全自动激光对准的光源装置、稳定可靠的帕型-龙格全谱分光系统以及阵列CCD全谱测量技术，同时，E5000发射光谱仪结合时序分析、光谱自动校正等先进技术，采用固体样品直接进样的方法，全面解决了传统技术分析繁琐、效率低下、准确性差等问题，是光谱元素分析领域的重大突破。E5000发射光谱仪产品结构设计　　电弧发射光谱技术与全谱直读光谱技术结合，新一代固体粉末分析技术；　　Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统，能测定需要分析的所有常规元素；　　紧凑的小型台式设计，确保稳定可靠、易用便捷；　　防溢出CCD高速数采系统，信噪比高、动态范围大；　　高功率数控可编程光源，电流、电压、频率可控，提供更优的分析方法；　　多重连锁和监控，确保操作安全可靠；　　全自动电极激光对准系统；　　粉末样品直接进样，方便迅速；　　一键激发，立刻获得分析结果； 　　内置工作曲线，客户无需手动建线，切实提高工作效率；　　软件开放所有高级功能，为客户提供完美的方法开发平台。E5000发射光谱仪全谱测量技术　　全谱平台拥有丰富的谱线信息，更易于元素扩展与方法开发；　　基于全谱测量的数据，能够正确区分背景和谱线，有效提高测量精度；　　- 方便查看谱线及干扰情况　　- 支持斜背景、左右背景等不同的扣除方式　　强大的自动谱线去干扰算法；　　- 通过算法扣除干扰谱线获得干净的待分析谱线　　- 基于全谱测量数据的多峰拟合技术可将谱线完全分开，有效消除谱线的干扰　　根据元素的含量范围选择不同的分析谱线，大含量范围的测量更准确；　　- 多谱线结合，扩展分析范围的同时，有效保证分析精度； 　　- 避免灵敏线饱和，不需要消释样品，取得更大的分析范围；CCD高速数采系统　　防溢出线阵CCD；　　采用动态积分，有效扩展CCD的动态范围；Paschen-Runge（帕型-龙格）全谱光学系统　　恒温型全固定光学系统；　　全反射式光路；　　光室结构紧凑；　　一体式固定；　　光学器件少，性能稳定；　　基于CCD的全谱采集和分析；全新一代电弧数控光源 　　数控光源体积小、效率高；　　基于数控可编程技术，光源的电流、电压、频率可调节；　　分析不同含量的元素，选择最佳的激发参数，降低元素分析的检出线，改善元素分析的准确度；　　可设置及读取不同检测阶段的数据；一键激发及全自动对准电极　　样品装载激发一气呵成，方便快捷；　　多元素同时分析，直接得到最终结果；　　设计精良的电极挟持旋钮；　　红外激光对准、先进的电极激光自动对准技术；　　水冷电极夹提高检测稳定性；多重连锁和安全保护　　可靠的水冷系统，分别对电弧光源和激发电极散热； 　　实时监控仪器的运行状态，所有的连锁状态如冷却水、排风、炬室门等都通过界面和指示灯等多种形式直接提醒；　　界面上有关键温度的显示，第一时间查看仪器的运行情况；　　排风监控，消除废气影响；　　特殊的风道设计提高稳定性；水冷系统 强大的分析软件　　便捷易用的分析软件；　　- 操作直观、便捷、层次化的软件界面，非专业人员也能方便操作　　- 简单的方法开发过程，各种检测条件都可调节　　强大的多元素分析平台；　　- 便捷的全谱查看 　　- 多元素分析及多谱线选择　　- 一键激发，直接在软件上得到分析结果　　- 丰富的方法库有利于方法的传承、学习和维护可分析元素及多谱线选择　　全面智能的软件算法；　　- 内置工作曲线，完善的时序分析，能够实现定性、定量分析　　- 丰富的处理技术，支持内标法、基底扣除、干扰元素校正等分析方法　　- 功能强大的高级处理功能，为客户带来更全面、更精确的分析体验　　独创的智能漂移校正技术。

红外发射率测量仪ET10，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，红外发射率测量仪ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。红外发射率测量仪ET10主要特点： 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便红外发射率测量仪ET10应用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度红外发射率测量仪ET10技术参数：ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率波段 2个波段：3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境： -25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。发射率测量仪ET100可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。发射率测量仪ET100可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。发射率测量仪ET100应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

发射率测量仪ET10高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，发射率测量仪ET10主要用于测量不透明样品的发射率。发射率测量仪ET10进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比 输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射 样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

20240701 RLK650 pro便携式红外发射率测量仪规格书一份V1.0-立鼎光电.pdfRLK650 pro 是便携式红外发射率测量仪 RLK650 的升级产品，采 用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术， 以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反 射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um 和 8-14um）发射 率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多 项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、 操作简单等优点，测量结果保存在 SD 卡中。可广泛应用于飞机、 舰船、车辆的红外隐身性能现场评估，红外隐身涂覆材料的研 究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。详见附件。

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

红外反射发射率仪410Vis-IR是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。红外反射发射率仪410Vis-IR功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡红外反射发射率仪410Vis-IR应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射 波段区间 335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm IR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 光源 VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

ET10 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET10 科研级仪器可测量任何不透明材料的发射率 特点： 可同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射率 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 应用： 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度ET10： 用于测量红外测温成像技术的重要参数—红外发射率 利用两个探测器同时测量3～5、8～12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能： 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据推算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。　　进行测量时，将仪器对准测量面，按下扳机即可记录数据。测量一次的时间只需要7秒钟。 技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值：发射率 波段：3～5、8～12 微米2个波段 精度：±1% 可重复性：±0.0002 入射角：20° 法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径曲面，12” 半径曲面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(2 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源： 可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25~ 70°C 操作环境 0~40°C, 非冷凝

便携式红外发射率测量仪ET10型介绍 便携式发射率测量仪ET10可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数 —--红外发射率。 当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在 500°K 高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10 主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要 7 秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供 NIST 可溯源标定。 ET10 主要特点利用两个探测器同时测量 3~5、8~12 微米 2 个波段的发射系数对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏 PDA 图文操作界面可同时提供十种设备运行信息 NIST 标准 快速、便携 电池操作非常方便 应 用为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度

便携式红外发射率测量仪ET100介绍 发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。 应用领域 n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制 主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

ET100 便携式红外光谱发射计 Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers ET100 可测量6个波段范围的总反射比， 可取代已经停产的经典红外反射率测定计Gier Dunkle DB 100，并在性能和保养性方面都更优越。 特点： 测量2个入射角、 1.0～21 微米之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60度入射角的定向热发射比 计算半球热发射比 ET100： 软件操作简便 强大的测量和数据处理功能 触摸屏PDA操作界面 可同时提供十种设备运行信息性能 ET100可以测量6个波段的总反射比，波段的反射比可以转换为光谱信息。使用黑体函数，20度和60度角来计算定向发射比。基于计算的定向反射比来推算半球总反射比。 进行测量时，将仪器对准测量面，压动扳机记录数据。测量一次的时间需要几秒钟。技术参数： 测量参数： 定向半球反射比 (DHR) 方法： 一个波段的积分总反射比 测量值： 定向热发射比 波段： 1.5-2.0, 2-3, 3-4, 4-5, 5-10, 10-21 入射角：20°& 60°法线入射 精 度：±1.5% 表面弯曲： 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间： 10秒/测量，用户可设(6 波段) 预热时间：90秒 运行时间： 电池工作2小时，可更换电池后接续测量 电源：可充电镍氢电池 充电时间: 1小时 重量：4.7 lbs.带电池 IR源： 铬铝钴合金灯丝，使用温度：1,000°C 尺寸： 手持式，H 11.54”, L 9.04”, W 3.72” 模块部件： 模块化设计，测量头可更换 操作界面： LCD 图形界面，触摸屏，软件按钮 测量： 测量数据直接在屏幕上显示并存储 数据存储：265MB CF卡 数据格式： Excel或Text格式打开 环境： 储存： -25～70°C 操作环境 0～40°C, 非冷凝

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

模块化红外光发射灯头（Modular Infrared Light Head）研究者有时需要红外光源来非侵入式观察动物的行为，有时候目标动物较小，需要用体视显微镜来观察，怎么便捷实现呢？介绍SFA-LH-IR850给你：红外光发射灯头，发出850nm红外光，与NIGHTSEA的体视显微镜荧光适配系统通用！可以直接插入适配系统中的灯座。这个灯头并不是荧光观测的必备件，可以作为补充件备用！条件允许的话，你可以单独购买灯头和灯座，作为一个独立的实验室红外光源使用！该灯头采用高功率850 nm LED和中等光束宽度的扩散透镜，以创造一个平滑的照明区域。输出以850nm为中心，具有大约50nm的FWHM(半宽度上限)，在波长小于750 nm的情况下，几乎没有发射。请注意，红外光对于人眼和许多照相机是不可见的。您需要一个适当的相机来记录观察结果。货号产品描述规格SFA-LH-IR850Modular Infrared Light Head个SYS-IR850Modular Infrared Light Head w/DIM Base个

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

产品简介红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是，根据基尔霍夫定律（Kirchhoff’s Law），任何物质在温度高于绝对零度时，其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级，在返回基态能级时通过发射释放能量；并且在热平衡条件下，物质的发射能量和其吸收率的比值，仅和物质的温度和发射的波长有关，即在热平衡时，物质发射的能量一定等于吸收的能量。黑体是最理想的吸收体，其发射率也是最大的。按照应用领域的不同，黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下，平板式黑体适用的温度范围在200°C以内，空腔式黑体适用的温度更高，有的甚至到达2000°C以上。在计算某些材料的发射率时，往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度，接着立即测量样品的发射谱图强度，然后将两者相除，即可归一化得到该温度下，该材料不同波长的发射率。下图为三种不同温度下黑体的发射谱图，我们可以从谱图中了解到，随着温度的不断升高，发射的强度是逐渐增大的，这是由普朗克定律（Planck’s Law）所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外，我们也发现，不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的，温度越高，峰位极大值越向高波数位移，也就是移向短波的方向，该现象符合维恩位移定律，nmax=1.93T。 黑体IR-563/301的技术参数n 温度范围：50 – 1050 °Cn 温度调节精度：0.1 °Cn 发射口最大尺寸：1英寸n 发射率：0.99n 发射源类型：空腔黑体n 8个可调光阑 FOLI 10-RE是荧飒光学自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台，可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FOLI 10-RE也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图变形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。 产品应用领域n 研究材料的发射谱图特性n 计算材料的发射率n 艾柱燃烧的发射光谱n 陶瓷片在不同温度下的发射光谱n 医疗器械中各种理疗仪的测试n (近)红外光源的测试n 超高温样品的光谱测试n 等离子体的发射测量n 人体穴位的发射研究n 玻璃及建筑材料的发射测量n 太阳能集热管的发射测量n 各类织物的发射测量 产品特点n 干涉仪：高级迈克尔逊干涉仪，光路永久准直，稳定性极佳，10年质量保证n 固态激光器：性能稳定，使用寿命达10年以上n 发射源：聚焦光路，用户的样品或者热源或者黑体 n 分束器：ZnSe材质分束器和ZnSe窗片，防止光学器件潮解（可选KBr、石英分束器）n 检测器：内置双检测器位置，可选择常温检测器或者低温MCT、铟镓砷，可以实现软件自动切换n 光路设计：专用的发射光路设计，简洁紧凑，降低辐射损失，提高辐射通量n 发射附件：可定制各种附件满足客户的实际测试需求 产品技术参数n 光谱范围：标准范围500～5000 cm-1（可选400-7500cm-1、400-10000cm-1、或扩展到近红外12500 cm-1）n 光谱分辨率：优于2 cm-1，通常使用8 cm-1n 测量方式：将样品放置在聚焦点，可以选择不同的温控仪或者黑体n 工作条件：工作温度：-5～40℃；工作湿度：0～100%R.H. n 电源：100～240VAC，50～60Hz, 20W；n 重量：12kgn 尺寸：44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含发射挡板) 产品配置选型型号名称说明FOLI 10-RE傅里叶变换红外发射光谱仪单检测器(DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选)FOLI 10-RE Pro傅里叶变换红外发射光谱仪双检测器，软件自动切换，DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选FOLI 10-RE NIR傅里叶变换红外发射光谱仪近红外检测系统，软件自动切换（铟镓砷检测器和石英分束器）IR-563/301黑体适合高温发射平板式加热装置适合中低温样品的实验空腔式加热装置适合高温样品的实验聚焦附件等方便用户聚焦 对于室温下的物质的红外发射测量，荧飒光学提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询荧飒的应用工程师。

优云谱纺织品远红外发射率测试仪YP-FZ1适用范围： 用于测量纺织品远红外线发射率。仪器特点：将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度；用光谱响应范围覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别测定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到的稳定后的辐射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率。适用标准：GB/T 30127(4.1)-2013技术参数：辐射源：5-14um热板尺寸：直径不低于60mm的圆面热板温度：（34±0.1）℃测试精度：±0.1%标准黑体发射率：0.95以上尺寸：390×335×320mm

半球发射率测量仪AE1/RD1产品介绍： 半球发射率测量仪AE1/RD1用于测量发射率的专用仪器。低温加热被测样品，仪器通过探测器接受样品材料表面辐射出来的红外能量后换算出发射率，根据设定的标准体发射率准参数，计算并读出被测样品发射率。符合《ASTM C1371》、《JG_T 235-2014 建筑反射隔热涂料》、《GBT 25261-2010 建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。发射率通过两个步骤获取：（1）把辐射计放在高发射率标准体上，设定 RD1 来表示发射率； （2）把辐射计放在待测样品上并直接读出 RD1 上的发射率。 产品特点：重复性高，重复精度达到±0.01发射单位；易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪仅对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。 技术参数：读数 器: D&S 微型数字伏特计，型号RD1。输 出: 材料温度为25℃时，2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9线 性: 检测器输出和发射率成线性关系，精度为±0.01发射单位。测量时间： 10s加热装置：加热被测样品，使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度：最大130华氏度，约为55℃漂移：输出可能会随着环境而变化，但是在短时间测量内可以忽略不计。标准体：提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体，其中一套标准可用来测量时使用，另一套标准体备用并作为参比。电源：100-240V/50-60Hz，12V直流输出测量波长：3——30μm测量范围：0——1测量精度：±0.01被测样品尺寸：Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器)测量温度：10℃——55℃ 外形尺寸：探测头Φ57X107mm，测量台 H46mm×宽105mm×D152mm标准配置：AE1探测头，高发射率标定块和低发射率标定块各2个，发射率测量仪，电源线，CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。 选配：AE-AD3测量模块 : 测量直径Min 2.54cmAE-ADP: 测量适配器，可测量小至Φ3.8cm的扁平材料以及低导热、大曲率圆柱表面或者粗糙结构表面的样品材料。 订货指南： AE1/RD1 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑体 槽，100/240V 通用电源，便携箱 AE1/RD1-12V 辐射率仪套装: 包括 AE1 辐射率仪，RD1 微型数字伏特计，2 个高发射率标准体，2 个低发射率标准体，黑 体槽，可连续使用 12 小时的 12V 电池和充电器，100/240V 通用电源，便携箱 可选项: RD1-10X – 10 倍增益选项，RD1 发射率精确到 0.001 Model AE-AD1 - 测量直径小于 3.8cm（1.5 inch）的平滑样品 Model AE-AD3 - 测量直径小于 2.54cm（0.75 inch 测量区域）的平滑样品 AE-ADP –测量适配器，端口内直径为 1 3/8 inch，用来测量较小尺寸、低导热性、大曲率(2 inches)圆柱表面或者粗糙结 构表面的样品材料

Micro Hybrid红外发射器JSIR 350-4产品型号：JSIR 350-4产品介绍红外发射器，TO8 接头上有 4 个芯片，用于测量浓度低的气体或吸收特性低的气体。标准 TO8 外壳中带有无窗反射器的版本也适用于从 30 厘米起的长测量距离。这种基于 MEMS 的灯丝发射器对应物具有显着更长的寿命和更少的漂移。与灯丝红外源不同，JSIR 350 Quad 发射器是可调制/可脉冲的，不需要额外的斩波器。高性能纳米无定形碳膜片可实现高达 850 °C 的膜片温度，以实现长期稳定的辐射输出。 JSIR 350 Quad IR 发射器非常适合工业航空航天和其他要求苛刻的应用中的各种气体分析应用。IR 照明器可与 MTS 热电堆探测器或 MPS pyro 探测器一起使用。与 Micro-Hybrid IR 检测器的组合可确保在分析气体浓度时获得更好的性能并确保准确的测量结果。性能特点 宽发射率 2 - 15 µ m 膜温度高达 850 °C 高辐射输出 调制频率高 长寿命（膜的高稳定性带来的可靠性） 提供 HermeSEAL 技术 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

技术介绍：系统采用双传感器设计，可在石墨盘旋转同时进行整个石墨盘的漫反射率、镜面反射率及发射率二维分布Mapping 测量；原理用途：物体的发射率与物体的表面状态(包括物体表面温度、表面粗糙度、面形以及表面氧化层、涂层、缺陷、残留物、表面杂质等)有关。所以，通过对石墨盘各个点发射率的测量可以直接反映出石墨盘表面肉眼难以观测到的表面细节，同时基于黑体辐射原理进一步评估石墨盘表面温度的分布情况。这对有效控制器件的质量，以及优化生长工艺有帮助。技术指标及特点：1. 扫描尺寸：700mm；2. 适配石墨盘：大部分商用石墨盘；3. 扫描分辨率：径向分辨率0.05mm，角度分辨率0.1°，用户可自定义；4. 扫描时间：10 分钟（465mm 尺寸的石墨盘，以径向1mm，角度0.1°测量）；5. 测量光点尺寸：2mm6. 光源波长：940nm 或660nm（可选）；7. 镜漫反射率分辨率：±0.005；镜漫反射率准确度：±0.01；发射率分辨率：±0.01；发射率准确度：±0.02；8. 系统为离线测量设备，便于石墨盘的装卸。软件操作简单，专为操作员及工程师设计；

产品详情 Optosol Absorber Control K1 太阳能平板集热器膜层吸收与发射率快速测量仪一、测量原理说明Alphameter 吸收 测量了相当精确的太阳能吸收的测试结果。Alphameter是基于一个具有光谱性窄带光源的积分球。这些参考标准或样本进行测量 是在一个球面上孔的位置。对面是两个平行样品检测器。当其中一个光源照亮球体， 探测器测量样本光的反射。从这个反射信号，检测反射或吸收率值。为了获得必要的光谱信息，4 个发光二极管，蓝色，绿色，红色和红外波长照亮球体。 反射发光二极管信号使用硅探测器测量。钨卤素超亮电灯结合一个最大灵敏度在1.3μm 的过滤锗探测器使用。 5个不同的光源，alphameter是一种非常稳定但分辨率底的光谱仪类型。它非常适合测 出缓坡谱线，比如典型的太阳能选择性吸收层谱线。Emissiometer K1 发射 emissiometer包括一个积分球，作为热源的发热条和 敏感度在波长范围8μm到14μm的 探测器。从发热条发射出来的辐射是单一分布的积分球，作为一个散辐射源。探测器安 装在一个度角为10°的样品表面。辐射是样本反射测量。2个样本被测信号进行测量校准 在已知的发射率值波长范围内：：一个如玻璃的高发射率样本与一个低发射率样本或接 近样品的发射率进行测量。此仪器为目前全球具有权威测量仪

TIR 100-2发射率快速测定仪德国原装进口！简要描述： TIR100-2 是一款紧密型手持式测定仪，用于测量无损的表面的发射率。测量元件,操作界面,控制设备还有输出电路全部集于该手持式测量设备中。该设备的运行只需要一个电源供电，通过一个触摸屏对设备进行操作。 TIR100-2 可以用于涂料的质量控制，也可以用于协助实验室中的多种研发试验。用于玻璃的测量，测量结果与EN 12898的结果相同。涂层材料的发射率测量符合prEN 15976标准。具体功能： 被测目标表面接收100℃半球形黑体辐射出的红外辐射，目标表面反射的红外辐射被接收测出反射率并根据校准值得到发射率。校准值由校准标准得到。测量结果直接显示在触摸屏上。 该设备配套有一个详细的手册，关于设备的原理、测量步骤和精密的测量方法。 典型应用:&bull 镀膜玻璃的质量检测&bull 太阳能集热器涂层的质量检测&bull 箔片涂层的质量检测 &bull 卫星的热涂层的质量检测 技术参数：测量范围发射率 0,020 … 0,980重复精度 (精度): +- 0,005 (lowE)..+-0,01(hiE)波段2,5 µ m - 40 µ m能量最强波段8 µ m黑黑体温度100 °C测量时间5 sec测量光斑ca. 5 mm功率 最大. 130 W at 230 V~/115 V~接口RS232 (可选的输出接口) 尺寸230 mm x 140 mm x 120 mm 重量2,0 kg 校准标准低发射端: 抛光铝高发射端: 黑色遮光罩 参考发射率低发射端标准值 ~ 0,012高发射端标准值 0,96个别校准可参考国家物理实验室校准标注

便携式半球发射率测试系统（JP-AQL2）测试项目：建筑节能材料半球发射率测试。适用标准：JG/T 235-2014（6.4规定进行）建筑反射隔热材料；JGJT 287-2014建筑反射隔热材料节能检测标准；JGJB2502.3 涂层实验方法-半球发射率。技术参数：重复性：±1%；规格：150×70mm；测量精度：0.01；测量范围：0-0.99。主要特点：1.在国内首次采用计算机直接比例记录原理；2.采用一块高能量的光源覆盖整个工作波段；3.采用通用高性能计算机进行仪器控制和数据处理；4.配备最新开发的中文操作软件；5.采用进口真空热电偶红外接收器件，保证了仪器的高性能和可靠性；6.可以配置专门的分析软件进行建筑半球发射率分析。