红外反射分析

从药品到食品，从聚合物到石油，各个行业里，对于从事QA/QC工作和更高端的化学计量学测试的分析人员而言，通常需要在样品所在的地方进行实验操作——既可能是在现场，亦可能是通过远程控制。但是您愿意为了便携性而牺牲仪器的性能吗？事实上你无需纠结，无论是在实验室内还是在户外，Spectrum Two N™ 傅里叶变换近红外光谱仪都能提供相同水准的灵敏度、分辨率和样品通量。这正是该系统秉持的设计理念。这套系统可以充分满足实验室对高端性能的迫切需求，同时又是方便易用的便携式仪器，实在是你的理想之选。无论是初出茅庐的新手，还是经验丰富的专业研究人员，都能立刻上手熟练操作。还有多种软件供您选择，包括结合了触屏简易性和安全性的软件包，这尤其适合法规严格控制的实验室。但真正让Spectrum Two N分外引人注目的是其即插即用的前沿应用附件。它配备了近红外反射附件、专供液体和油品使用的可加热透射附件（含三个样品位）、以及直接穿透包装进行测量的远程采样附件。另外，基于业界备受青睐的红外光谱平台，它还可以使用第三方附件。Spectrum Two N系统：高性能、随时随地为您所用的傅里叶变换近红外光谱仪。食品行业Spectrum Two N系统能确定调味料、食用油等食品的安全性和可靠性，可现场筛查营养指标以及潜在的污染物或掺杂物。多种可选择的软件和可替换的附件相结合，比如食用油专用的可加热透射附件（HTM）和很容易清洗的近红外反射附件（NIRM），意味着你可以在同一个系统中检测多种样品类型。药品行业Spectrum Two N系统尤其适合受法规管控的实验室，可以使用简单的工作流方法进行配置，是对原材料定性定量的理想之选，同时还能提供审查跟踪、电子签名和权限控制，协助您遵循21 CFR Part 11的严格要求。另外，远程采样附件（RSM）可实现直接透过包装分析和直接采样分析，无需取样检测。石油和能源行业对于建筑设备、柴油和燃气发动机制造商而言，坚固耐用的Spectrum Two N系统能对燃料油和生物燃料进行高性能的测量。对于炼油厂、配送中心和检测实验室而言，高性能液体分析系统可使用ASTM或定制化方法，提供高灵敏度、高成本效益的解决方案。聚合物和回收利用行业Spectrum Two N系统能够定性和定量分析工业/聚合物应用中的大量相关化合物，是一种检测物理和化学性能的非破坏性方法。无论您处于制造链中的哪一个环节，Spectrum Two N系统都能配合不同的采样附件（例如，适用于聚合物颗粒的NIRM，单体溶液的HTM和聚合物识别的RSM），帮您完成聚合物的分析工作。Spectrum Two N系统结构紧凑，灵敏度高，可以容纳各种各样的采样附件。包括即插即用的近红外反射附件、可加热液体采样附件和远程直接采样附件，是目前市场上功能齐全的傅里叶变换近红外光谱仪，把仪器和附件从箱子里拿出来，您就可以轻松对安装在仪器上的固体反射、液体透射或远程样品分析附件进行切换。首屈一指的反射附件Spectrum Two N系统可配置基于高灵敏度、方法可转移性和易清洁特性而设计的近红外反射附件（NIRM）。它的测量操作快速简单，非常适合制药行业的原材料检验，以及对奶制品、坚果、调味料和其他食品中的掺杂物进行定性和定量分析。我们的NIRM技术采用一次性玻璃瓶和塑料培养皿，表面易清洁。包边盖板设计可以阻止样品进入系统。磁性可拆卸的旋转台使得采样表面和旋转台本身易于清洁，因此可有效节省做样时间。食用油检测的理想之选可加热透射附件（HTM）是为全球食用油生产商而量身定制的。5/8/12mm采样瓶均可以加热，可容纳多种食用油。您可以一次性加热三个玻璃瓶，在预热两个玻璃瓶的同时分析第三个玻璃瓶，从而提高样品分析通量。更便捷的透过包装直接分析远程采样附件（RSM）是便携式测试有用的功能之一，无论身处何地您都能透过包装直接分析样品。触发式探针使得操作简单无误，无需取样和样品制备，尤其适合在收货区的新手用户。另外RSM配备了一个固定支架，能够在移动小车或推车上安全地使用该系统。为功能而造就的强大技术我们的Spectrum Two N系统基于久经考验的红外光谱技术，它为各种日常应用提供卓越的光谱，具有超高的信噪比，先进的电子设计和极高的灵敏度。凭借其强大的便携式设计和无与伦比的易用性，它可以部署在您需要的地方。创新的旋转干涉仪免除动态校正，长期可靠工作拥有Dynascan™ 干涉仪设计，系统无需通过动态校正来补偿动镜在运动中造成的的误差。通过实际验证和久经考验的干涉仪技术融合了可靠的旋转轴承，能在仪器的整个使用寿命中提供可靠的服务。先进的数据处理算法干扰更少，结果更准确、更一致Spectrum Two N系统拥有大气背景校正（Atmospheric VaporCompensation）™ 技术，能够实时自动补偿水分吸收。这一特性能在日常使用中帮助得到更准确、更一致的结果。光学卫士（OpticsGuard）™ 技术提供了一道防潮屏障，能够保护Spectrum Two N系统不受环境影响，确保系统能在严峻的工作环境下正常使用。即便是在严苛的条件下，长效除湿技术能够保障仪器运行时间。保障不同仪器之间的数据精度绝对标准仪器（Absolute Virtual Instrument™ ）技术采用了以气体光谱为基准的标准化技术，能确保仪器准确校准，与传统的方法相比较，仪器的波数和线形能够更精确地实现标准化。有了AVI技术，不管使用哪一台仪器，你都能得到同样的数据结果。强大且直观的Spectrum 10™ 软件结合了高效操作和多种傅里叶变换近红外的功能。帮助具有不同经验水平的分析人员获得样品的近红外光谱，只需片刻时间即可与参照光谱进行对比验证。快速定性定量检测不仅可以保证获得高品质的光谱结果，还能让您留有时间执行其他的QA/QC程序。一键式的简单操作和强大的数据与结果管理相结合，无论是新手还是高级光谱专家，它都是理想的软件之选。同时，Spectrum 10 ES软件还具备更强的安全性与数据完整性，确保符合21 CFR Part 11的规定。软件具有增强型访问控制特征，能够自动保存数据、实验参数，在SQL安全数据库中保存审计跟踪信息，以便日后检索。另外，您还能获得完整的电子签名功能和全面的软件验证文档，尤其适合受法规管控的实验室。应对不同应用的解决方案您可以选择多种专业软件模块，包括：? Spectrum Touch™ ，用于反式脂肪、润滑油、奶制品和碳氢化合物测试的触摸式简化工作流软件，带有预设方法和起始校准? Spectrum Adulterant Screen，用于简便灵敏地检测掺杂物? Spectrum Quant™ Advanced Algorithms Pack，用于开发多元定量方法? Spectrum AssureID，用于开发Spectrum 10的SIMCA产品验证方法、宏命令或AssureID工作流另外，Spectrum Two N系统融合了云技术，支持远程诊断和方法开发与校准，因此您可以随时随地上传和下载全部傅里叶变换近红外方法。我们正在引入方法开发服务，将您的投资转化成专用分析仪。

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）是采用红外反射成像技术扫描系统，被广泛用于材料鉴定分析，也适用于油画，壁画，唐卡等艺术品修复及研究，文物保护，考古发掘研究。我们的用户：斯坦福大学，剑桥大学，牛津大学，伦敦苏富比拍卖行，伦敦大学学院，大英博物馆，英国国家美术馆，荷兰国立博物馆（Rijksmuseum），美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆，洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆，挪威国家博物馆，梵高美术馆，德国汉堡美术馆，纽约大学美术学院，法国Arcanes，等等Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射扫描成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部机械微动扫描光学机构和红外面阵列传感器，在900-1700um的红外光谱波段，生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。 Apollo红外反射成像仪的扫描系统可以用于研究艺术作品的各个方面。不仅可以研究作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以实现多个光谱波段下的图像采集分析，高达65000级灰度图像，可以轻松区分不同物质和材料。如果您想采集到用于细节分析，目标识别鉴定等应用高对比度和高分辨率的红外反射图像，Apollo（阿波罗）是适合您的红外反射扫描成像系统Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-25分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

410 - Vis 便携式可见/近红外反射计Field Portable Hand-Held Reflectometers and Emissometers 410-Vis测量400 &ndash 1100 nm波谱范围内4个波段的总反射率。可输出20度入射角的总反射、散射反射和镜面反射数据。一次测量循环可以输出12个数据点。测量操作简单，只需扣动仪器扳机即可，数据记录并可以图表或数字形式显示在显示屏上。是一款真正便携、电池操作、内置PDA的反射计。 特点：测量400 &ndash 1100 nm范围4个波段的反射率测量总反射、漫反射和镜面反射电池操作、完全便携测量大目标反射率无须仪器调准可野外工作测量绝对反射率值

410Vis-IR 可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的 Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点 在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率 半球热辐射的预测 测量太阳能吸收/反射 在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量 可测量光谱范围：从可见到中远红外 NIST可溯源标准 快速和便携式使用 PDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制技术参数 410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

410Vis-IR可见-红外反射率/发射率仪是为了替换经典的Gier Dunkle DB100反射率仪而开发的，可测量13个光谱波段的反射率。可见光测量头测量范围为335nm~2500nm，红外测量头测量范围为1.5μm~21μm。利用太阳辐照度函数或黑体函数，通过20°和60°两个角度计算太阳能吸收率或热辐射，通过计算定向发射率推测半球总发射率。两个测量头可以互换使用，可现场测量，操作极为简便。测量时只需把样品放置在测量单元的顶部即可直接测定。通过与手柄连接，该仪器可作为一个手持单元操作，一次完整的测量用时仅约10秒。随机配备镜面金质标样，并可选提供NIST可溯源标定。功能特点n在接近法线和掠角两个角度测量定向热发射率n半球热辐射的预测n测量太阳能吸收/反射n在335至2500nm光谱范围内，测量总辐射、镜面反射和漫反射能量n可测量光谱范围：从可见到中远红外nNIST可溯源标准n快速和便携式使用nPDA触摸屏操作，内置SD卡应用领域n航空工业n天文望远镜检查n涂层领域n太阳能领域优化太阳能利用性能n节能建筑n光学材料质量控制技术参数410Vis-IR便携式太阳反射率及发射率测量仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549、ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数总发射比，漫反射比，和20°角的镜面反射波段区间335~2500nm范围内7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nmIR范围内6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热光源VIS：钨灯，IR：铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围：200nm-400nm

优秀的可见光透射率/反射率测量系统集成的可见光光谱分析仪集成的氙灯，或者卤钨灯，作为光源内置探头可以实现纺织品颜色检测纺织品透过率检测眼镜透过率检测半导体膜厚检测LED灯泡检测等应用举例一：布料反射率测量案例测试系统搭建如上图测试要求，计算近红外区域780-880nm的反射率和可见光区域610-710nm的反射率之比1. 左边是卤钨灯350-2500nm光源，光源由德国进口的灯泡2. 中间是反射式积分球，3. 右侧是采用日本进口滨松探测器的光谱仪器 SPM3-350-1050，波长范围350-1050nm，分辨率最小0.6nm，美国产进口600线光栅4. 搭配电脑，数据通过USB采集测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置1000ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率应用举例二：高分子材料/纳米材料相对石英的反射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（下面一条曲线），350-1000nm范围反射率72%， 样品2（上面一条曲线），350-1000nm范围反射率 82%，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率测试二过程，相对于黑板1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置黑板，采集参比光谱3. 移除黑板，放置被测物，采集被测物光谱，此数据表明，样品1和样品2的反射光谱， 样品1（上面一条曲线），350-1000nm范围相对于黑板的反射率， 样品2（下面一条曲线）相对于黑板的反射率，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的是被测物相对黑板的反射率应用举例三：薄膜材料的透射率测量测试一过程1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声2. 打开光源，设置500ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱3. 移除白板，放置被测物，采集被测物薄膜的光谱

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池

仪器简介：ZF-3紫外透射反射分析仪简介： 使用说明： （一）、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央，开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源，调节反射紫外灯架高度与角度，使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近，则萤光越强。 （二）、拍摄样品照片 （1）打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯，利用白炽灯照明，调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 （2）开启透射紫外灯电源，进行拍摄，应根据不同的样品确定不同的曝光时间，以清晰满意的底片。 （三）注意：如使用时不用暗箱，必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品： ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪（手提式紫外分析仪） ZF-6型三用紫外分析仪（台灯式ZF-1三用紫外分析仪） ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪（暗箱式三用紫外分析仪） ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪（暗箱式四用紫外分析仪） ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数：ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数： 1、电源：AC220V± 10%50HZ 2、功率透射：48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射：ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点：ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点： ZF系列紫外射反射分析仪（配暗箱）是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小，是紫外分析仪的更新换代产品，它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察，可检测蛋白质，核甘酸等，在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量，对薄层分析，各种同功酶，纸层分析进行观察分析和摄影，并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源，分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组，供用户选择：一组254nm；二组302nm；三组365nm；四组白炽灯；紫外反射有二组；一组254nm；二组365nm。

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。我是沈阳亿贝特光电有限公司，我们是一家具有多年生产光学产品经验的专业厂家。产品主要包括：衍射光栅、球面透镜、反射镜、非球面镜、柱面透镜、平面镜等各种高精度的光学元件。我公司依据ISO9001：2015质量管理体系，提供高质量高精度的产品供应给全国客户。现了解到您公司的光谱仪型号，想确认贵司是否会用到衍射光栅、球面透镜、反射镜等光学产品，我们会提供非常有竞争力的价格供您参考。

用途：背光照明；环境光测试目标；激光测试目标； 光学反射。 特点：WRC 6080 Spectralonâ Spectraflectâ ，Duraflectâ 及Infragoldâ 高漫反射率，最高可达99%良好的朗伯特性覆盖紫外、可见和红外区域良好的耐久性、防水性、耐腐蚀，广泛用于航天及激光应用不易脱落，使用寿命长无味，无毒 材料选择：Spectralon 标准反射白板Spectralon 反射对比板Infragold 镀金红外反射目标板 以上材料均为Labsphere公司专利技术涂层*

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um范围内效果最好。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：1.独特的设计满足了客户多样化的需求2.业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：1.材料反射率和透射率2.不透明物体的反射率3.混浊样品的透过率4.颜色特性5.反射系统设计6.红外反射7.反射率与角度的关系适用于固体、浑浊液体、粉末和薄膜不透明样品反射率等太阳能等材料发射率透过率测量漫反射率测量漫透射率测量半球反射率测量散射光测量吸收测量测量光谱反射率光谱透过率透过色特性测定反射系统设计红外反射率反射率随角度变化不同规格尺寸的积分球? 1、最小到2英寸，最大到76英寸或更大? 2、各种内部反射涂层的积分球? 3、Spectraflect（经济实用型）? 4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）? 5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围，）? 6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

一、产品介绍能谱科技出品IRA-51漫反射附件珠宝漫反射附件是一款设计独特的仓外大样品漫反射附件产品。可以直接测量超大样品。测量平台位于仓外，大尺寸样品可直接置于样品台上。适用于进口及国产各品牌公司的红外光谱仪。分中红外和近红外两种配置，可不取出样品，直接测量样品瓶中的样品。反射镜采用整体材料加工而成。精确设计的部件位置和优化调整的红外光路，使能谱漫反射附件具有很好的光通量和信噪比。IRA-51漫反射附件灵活的测样方式，完全摆脱了珠宝尺寸大小的局限，小到颗粒碎钻，大到各类玉器工艺品，材料鉴别瞬间完成。二、漫反射附件工作原理：漫反射，是投射在粗糙表面上的光向各个方向反射的现象。当一束平行的入射光线射到粗糙的表面时，表面会把光线向着四面八方反射，所以入射线虽然互相平行，由于各点的法线方向不一致，造成反射光线向不同的方向无规则地反射，这种反射称之为“漫反射”或“漫射”。这种反射的光称为漫射光。漫反射光是指从光源发出的光进入样品内部，经过多次反射、折射、散射及吸收后返回样品表面的光。漫反射光是分析与样品内部分子发生作用以后的光，携带有丰富的样品结构和组织信息。与漫透射光相比，虽然透射光中也负载有样品的结构和组织信息，但是透射光的强度受样品的厚度及透射过程光路的不规则性影响，因此，漫反射测量在提取样品组成和结构信息方面更为直接可靠。三、能谱红外光谱珠宝检测配置方案：四、能谱红外光谱珠宝漫反射附件检测谱图：

红外辐射源，TO39，带反射器，开式产品单价非实际销售价格，详细报价请咨询客服！！！带有反射器的红外辐射源，具有高调制频率• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长• 测量距离为2厘米描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳组成，其薄膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。带反射器的包装形式适用于测量2 cm以上的截面。技术指标型号JSIR350-4-AL-R-D6.0-0-0项目编号6355.04-A.00套管TO39附加组件Reflektor红外辐射源，TO39，带反射镜，填充气体K和滤光片A4红外辐射源，带有反射器和滤光片，透射紫外线-14μm，具有较佳性能• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长• 较低的输入功率和相同的光功率• 测量距离为2厘米描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源 MEMS红外发射器的高性能膜由纳米非晶碳组成，其膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到14 μm波长范围内的发射。反射器包装形式适用于测量2 cm以上的截面。与MTS热电堆传感器配合使用。技术指标标题反射器，填充气体k和过滤器A4 | 微型混合动力型号JSIR350-4-AL-R-D6.0-2-A4项目编号6355.04-8.02套管TO39附加装置Reflektor窗口/滤光片Available填充气体Ja有效区域[mm2]2.2 x 2.2能量消耗Normal红外辐射源，TO39，带反射镜和滤光片A4带有反射器的红外辐射源，用于透射紫外线的气体分析-14 μm• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长• 测量距离为2厘米描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能膜由纳米非晶碳组成，其膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到14 μm波长范围内的发射。反射器包装形式适用于测量2 cm以上的截面。与MTS热电堆传感器配合使用。技术指标型号JSIR350-4-AL-R-D6.0-1-A4项目编号6355.04-8.41套管TO39附加装置Reflektor窗口/滤光片Available填充气体Ja有效区域[mm2]2.2 x 2.2能量消耗Normal红外辐射源，TO39，带反射镜和滤光片A2红外辐射源，带有反射器和透射紫外线的滤光片-12 μm• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长• 测量距离为2厘米描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能膜由纳米非晶碳组成，其膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到12 μm波长范围内的发射。 反射器包装形式适用于测量2 cm以上的截面。与MTS热电堆传感器配合使用。技术指标型号JSIR350-4-AL-R-D6.0-1-A2项目编号6355.04-8.31套管TO39附加装置Reflektor窗口/滤光片Available填充气体Ja有效区域[mm2]2.2 x 2.2能量消耗Normal红外辐射源，TO39，带反射镜和滤光片A1带有反射器的红外辐射源，用于透射紫外线的气体分析-5.5μm• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长• 测量距离为2厘米描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能膜由纳米非晶碳组成，其膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到5.5 μm波长范围内的发射。反射器包装形式适用于测量2 cm以上的截面。与MTS热电堆传感器配合使用。技术指标型号JSIR350-4-AL-R-D6.0-1-A1项目编号6355.04-8.11套管TO39附加装置Reflektor窗口/滤光片Available填充气体Ja有效区域[mm2]2.2 x 2.2能量消耗Normal红外辐射源，TO39，带盖，打开具有高调制频率的辐射源，适用于所有NDIR气体分析应用• 高调制频率• 高辐射功率• 使用寿命长描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。用于MTS热电堆和MPS热电探测器。MEMS红外发射器的高性能膜由纳米非晶碳组成，其膜温度高达850°C。它可以实现长期稳定的高辐射输出。带盖的包装形式适用于测量Max.2 cm的截面。技术指标型号JSIR350-4-AL-C-D5.8-0-0项目编号6355.04-2.00套管TO39附加装置Kappe窗口/滤光片Nein填充气体Nein有效区域[mm2]2.2 x 2.2能量消耗Normal光谱功率[μm]Typ. 1 … 20温度系数Typ. 500时间常数[ms]Typ. 17额定功率[W]0,65

透反射积分球Labsphere 的反射率/ 透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量， 有Spectraflect® 和Infragold® 涂层可供选择。Spectraflect® 在300-2400nm 范围具有高反射率；Infragold® 在波长为 0.7um-20um 范围内效果最好。RT 积分球有5 个1 英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5 英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC 积分球在RT 积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT 积分球可以测量镜面反射的9 ° /h 结构，RTC 结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集大角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器最大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。产品特性：? 独特的设计满足了客户多样化的需求? 业界高度认可的反射率测量结构设计应用领域：? 材料反射率和透射率? 不透明物体的反射率? 混浊样品的透过率? 颜色特性? 反射系统设计? 红外反射? 反射率与角度的关系

我们的杜瓦透射/反射附件适用于在-196°C至350°C温度范围内的受控环境中检测固体样品。电池由耐化学腐蚀的316不锈钢制成，并配有K型热电偶用于温度测量。杜瓦瓶被安装在这个附件中，用于低温操作。对于高温操作，提供低压加热器与适当的控制器（如Harrick温度控制器）一起使用。此附件配置用于传输测量，带有指定分光计的底座。它也可以重新配置为近正常（12°）镜面反射与我们的可变角度反射附件。特征化学惰性316不锈钢内部。冷却液冷指，例如液氮或干冰和丙酮混合物，用于-196°C以下的操作。光谱测量用加热器，温度高达350°C。可容纳直径25毫米、长度35毫米的透射或外反射样品。使用一个25x2mm或25x4mm窗口和一个32x3mm窗口。带O形密封圈的车窗支座。K型热电偶。低压加热器。两个1/4“316不锈钢VCO配件。与所有的红外光谱仪和一些紫外可见光谱仪兼容。与Harrick的可变角度反射附件一起用于近正常镜面反射测量。包括:用于传输测量的指定光谱仪的安装硬件。窗片需要单独订购。

Osiris是一款应用于油画/壁画/唐卡/绢本等物体鉴定，细节区分与备案记录的红外反射成像扫描系统。Osiris是应用于全球艺术品领域的红外反射成像的仪器。“Osiris(欧西里斯)”是与英国国家美术馆(伦敦)合作开发的，是首先在便携式系统中提供高分辨率、高速图像的红外反射成像系统。无论是研究油画绘图、研究绘画的历史和起源，还是记录修复油画作品，Osiris(欧西里斯)都是一种用于红外反射成像(IRR)的高灵敏、高分辨率的成像系统。Osiris采用红外全反射成像系统，配备专用的基于Windows系统的分析软件程序进行图像解析和研究。产品特点：1.红外反射成像技术，分析画作表面纹理及底稿细节与笔触等详细信息。2.可以识别后期修复及补色的微观变化。3.快速捕捉画面，拍摄整幅画作仅仅需要2分钟，不再需要额外的后期处理。4.优化光源亮度检查功能，可以减小光源误差影响。5.采用双向辅助光源，补偿环境光线变化对成像效果的影响。6.提供优化取景计算软件，自动计算成像的拍摄距离与光源布置位置。7. 拍摄高达1600万像素分辨率图像8. 拍摄画作的平面分辨率可以达到0.05mm9. 相机积分时间可以进行用户自定义，选择积分时间10. 用户可以通过镜头光圈调节景深，选择光圈。11. 体积紧凑，便于携带，可装入航空旅行箱。12. 配置自动控制软件，具备内置自动图像校准，缩放功能，快速聚焦模式及 64个独立红外反射图像。13. 具备图像黑电平校正功能，可以取得更洁净的图像质量

隔热材料太阳光反射比、近红外光反射比测试系统（JP-TL2800）适用标准：GB/T25261-2018《建筑用反射隔热材料》；JG/T235-2014《建筑反射隔热涂料》；GB_T 25968-2010 材料太阳透射比、太阳吸收比试验方法。主要特点 ：1.强劲的仪器性能：极其优良的光学系统，先进的电子学系统，高水准的机械系统，保证了0.010%T的超低杂散光，高精度PID温度控制及24位电压数字采样。2.稳定可靠的品质：双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性，氘灯、光电倍增管等关键器件均用进口件，保证仪器的稳定可靠和长寿命。3.精准的测量：采用进口优质全息光栅，进一步降低仪器的杂散光，使仪器分析更加准确。4.轻松高效的人机对话：基于Windows环境设计的JP系列智能型建筑涂料太阳光反射比、吸收比、半球发射率、等效热阻中文操作软件，提供了丰富的仪器控制和操作功能，简单易用，灵活高效，轻松满足使用者的分析需求。5.优异的可扩展性：反射光学积分球可选专用附件，使仪器的应用范围大大扩展。6.设备维护简单方便：独特的插座式钨灯和氘灯，换灯时免去光学调试，使设备仪器调试、维护更加简单方便，真空压力机进行油液的检测。7.日志记录功能：自动记录用户的操作；日志文件采用更为可靠的数据库格式保存；管理员可对日志进行分类查阅和其他处理。8.采用综合的光学及半球发射一体装置测试系统，性价比高，便于测试。9.质量控制功能：可根据用户的设置对测量数据进行监控；超出控制范围的数据系统将会显示提示信息、进行颜色标记或自动重新测量。10.报告输出功能：可实现与其他系统共享数据的功能；可将测量结果保存为Microsoft Word格式、Microsoft Excel格式、文本文件格式；可对报告格式进行个性化的设置；可提前预览结果报告的打印效果。技术参数：

Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量，Spectraflect和Infragold涂层可供选择。Spectraflect在300-2400nm范围具有高反射率；Infragold适用于 0.7um-20um范围。RT积分球有5个1英寸开口可容纳样品和9°反射光束的结构；在球的顶部有一个0.5英寸探测器口；镜面光束光阱用于去除镜面反射光束。RTC积分球在RT积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率；探测器端口在底部；RT积分球可以测量镜面反射的9°/h结构，RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，挡板采用最小化的设计，允许探测器大限度地看到球内壁表面。探测口位于球的顶部和底部，并使用挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 应用领域：材料反射率和透射率不透明物体的反射率混浊样品的透过率 颜色特性反射系统设计红外反射反射率与角度的关系 不同用途的积分球1、通用型积分球2、反射透射率测量积分球3、光测量积分球4、均匀光源积分球不同规格尺寸的积分球1、积分球尺寸2英寸-76英寸或更大2、各种内部反射涂层的积分球3、Spectraflect（经济实用型）4、Duraflect（防水、防潮、耐腐蚀型）5、Spectralon（高反射率、宽光谱范围）6、Infragold（近红外/中红外波段适用）

红外光源，TO46，带反射镜，开放式具有反射器和高调制频率的红外光源，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 低功耗输入描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装变型帽适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-0-0项目编号6352.04-0.04外壳TO46窗口/滤光片No填充气体No有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low红外光源，TO46，带反射器，填充气体Kr和滤光片A4红外光源，带反射器和透射紫外线的滤光片-14 μm，优化性能，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 输入功率低但光学性能相同，因此效率很高描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到14 μm波长范围内的发射。发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装变型帽适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-2-A4项目编号6352.04-1.12外壳TO46附加装置Reflector窗口/滤光片Available填充气体Yes有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low红外光源，TO46，带反射器，填充气体Kr和滤光片A2红外光源，带反射镜和透射紫外线的滤光片-12 μm，优化性能，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 输入功率低但光学性能相同，因此效率很高描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到12 μm波长范围内的发射。发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装变型帽适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-2-A2项目编号6352.04-1.02外壳TO46附加组件Reflector窗口/滤光片Available填充气体Yes有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low红外光源，TO46，带反射镜和滤光片A4红外光源，带反射镜和滤光片，透射紫外线-14 μm，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 低功耗输入描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到14 μm波长范围内的发射。发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装变型帽适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-1-A4项目编号6352.04-1.31外壳TO46附加装置Reflector窗口/滤光片Available填充气体Yes有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low红外光源，TO46，带反射镜和滤光片A1红外光源，带反射镜和滤光片，透射紫外线-5.5 μm，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 低功耗输入• 滤光片坚固耐用，不受环境影响描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。填充气体和滤光片的组合可优化从UV到5.5 μm波长范围内的发射。发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装型瓶盖适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-1-A1项目编号6352.04-1.21外壳TO46附加装置Reflector窗口/滤光片Available填充气体Yes有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low红外光源，TO46，带反射镜和滤光片A2红外光源，带反射器和透射紫外线的滤光片-12 μm，有效面积0.65x0.65• 高调制频率• 高辐射输出• 使用寿命长• 低功耗输入描述用于NDIR气体分析和其他红外测量应用的红外辐射源。 MEMS红外发射器的高性能薄膜由纳米非晶碳制成，可达到高达850°C的薄膜温度。它具有长期稳定的辐射性能。 填充气体和滤光片的组合可优化从UV到12 μm波长范围内的发射。 发射器的低输入功率要求也允许其独立和手持式应用。包装变型帽适合测量2厘米起的距离。可以与MTS热电堆传感器一起使用。技术数据型号JSIR350-5-BL-R-D3.6-1-A2项目编号6352.04-1.01外壳TO46附加组件Reflector窗口/滤光片Available填充气体No有效区域[mm2]0.65 x 0.65能量消耗Low

反射率/透射率积分球 最适宜测量内容： 材料反射率和透射率 不透明物体的反射率 混浊样品的透过率 颜色特性 反射系统设计 红外反射 反射率与角度的关系 Labsphere的反射率/透射率测量积分球可用于各种媒介的反射率和透射率测量。可提供两种积分球涂层：Spectraflect，在300-2400nm防范围具有高反射率；Infragold，设计工作在0.7um-20um。 RT积分球有5个1inch开口可容纳样品和9° 反射光束的结构。在球的顶部有一个0.5inch探测器口。镜面光束光阱用于去除镜面反射束的方法。RTC积分球则在积分球内增加了一个中心安装的样品架，用户可以针对一定角度测量反射率和透射率。探测器端口在底部。 RT积分球可以测量镜面反射9° /h结构和排除镜面反射9° /d结构。RTC结构除了以上功能外还可以测量可变角度入射情况下的反射率。 积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许探测器最大限度地看到球表面。探测口位于球的顶部和底部，并被挡板遮挡防止样品和参考口光束的直接照射。 RT--060-SF和RT-060-IG反射率透射率积分球 Labsphere 的 RT-060-XX 积分球具有五个1英寸直径的口来容纳样品和9° 双光束结构中参考光束，同样包括用于9° 单光束结构测量中的端口盖。与积分球一起的两个1英寸样品架用于安装样品和放射率透射率标准板。积分球顶部具有0.5英寸的探测口，探测罩限制探测视场范围。还包括一镜面光阱去除镜面反射光束。 积分球适合于镜面测量，包括非镜面反射测量，前散射和背散射测量，以及混浊或散射样品的透射率的测量。积分球的开口处采用刀刃形式有助于收集宽角度散射，阻挡效应可以最小化，允许有效的积分。为了保证高积分球效率，总开口面积应小于积分球表面积的5%。每个积分球拥有一个支架配件，由支杆底座和1/4-20支架组成，这样积分球的高度可以方便调节。 RTc-060-SF 和 RTc-060-IG 具有中心支架的反射率透射率积分球 增加了中心样品架，Labsphere RTc-060-XX 用户能够测量反射率与辐射入射角度的关系，一些情况下，还能测透射率与辐射入射角度的关系。 RTC-060-IG 积分球具有5个开口来容纳样品和参考光束:三个1英寸直径的口，两个1.25英寸直径的口。中心样品台安装在积分球的顶部，0.5英寸探测口在积分球底部。探测罩限制探测视场范围。RTC 系列积分球配件包括四个样品架:一个中心样品架，两个1.25英寸直径样品架和一个1英寸用于进一步灵活备用。中心样品架允许各种样品反射率与入射角度变化的测量。积分球包括颚式中心样品架，同时夹式和槽式中心样品架可供选择。颚式可以夹住1英寸*2英寸，最厚达0.38英寸的样品。夹式中心样品架设计用于薄膜或硬度不能承受颚式样品架的样品。夹式中心样品架可以夹住样品尺寸最大为1.50&rdquo x 2&rdquo x 0.125&rdquo 的样品。槽式样品架为12.5平方毫米容器，可以承装液体和粉末，用于测试吸收和散射特性。 系统指标 型号RT-060-SFRT-060-IGRTC-060-SFRTC-060-IG积分球直径6 inches6 inches6 inches6 inches积分球涂料SpectraflectInfragoldSpectraflectInfragold® 光谱范围250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m250 - 2500 nm0.7 &mu m - 20 &mu m探测口直径0.5 inch0.5 inch0.5 inch0.5 inch样品和参考口FiveFiveFiveFive样品和参考口直径(数量)1 inch (5)1 inch (5)1 inch (3)1.25 inch (2)1 inch (3)1.25 inch (2)积分球支架1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座1/4 - 20 凸台,安装支杆和底座可调 H 型支架结构可调 H 型支架结构预定编号AS-02484-100AS-02485-100AS-02484-000AS-02485-000 可选配件 KI-120, Kohler Illuminator套件 AS-02509-100 反射率可选择的标准反射板 个人选择 SC 6000 辐射度计/光度计 系统控制 AS-02702-000 Labsphere 探测器配件 个人选择 CSMH-RTC-CLIP-SF, 夹式中心样品架 AS-02759-000 CSMH-RTC-CUV-SF, 槽式中心样品架 AS-02728-000 PA-100-74S, 连接积分球与OOI 74系列的准直镜头适配器 AS-02764-000

电催化原位红外附件产品详情 图1：原理示意图 电化学原位红外光谱分析是红外分析技术的一个重要分支，能够定性分析电催化(如CO2电还原等)反应、各种类型电池(如锂离子、锂硫电池等)充放电过程中电极表面的产物或中间产物随时间(电位)不断变化的趋势，是研究电化学反应机理以及电化学反应动力学的重要手段之一。一 基本原理：内反射模式:(1)在单晶硅(Si)上化学镀或真空镀一层纳米金膜，纳米金属膜具有表面增强效应。(2)纳米金膜可作为导电基底，在导电基底上滴涂或电沉积上电催化剂，作为工作电极。(3)表面增强红外，可得到电催化剂吸附态产物以及中间产物信息。 图2：内反射模式基本原理外反射模式:(1)在基底电极(如GCE)表面电沉积或滴涂电催化剂作为工作电极。(2)工作电极距离晶体的距离可以调节。(3)晶体可选Ge，ZnSe，CaF2，Si等。 图3：外反射模式基本原理二 附件组成：(1)红外光谱仪主机适配底板,适配主流红外光谱仪。(2)平面镜加曲面镜。(3)入射角度调节系统。(4)衰减全反射晶体。(5)玻璃电化学池(单池或H型池)以及PEEK外反射池。(6)电极(玻碳电极、对电极、参比电极)。(7)距离调节系统。 三 主要特点：(1)可变入射角光学台，30-80度连续可调，以保证不同电催化剂处于最大光通量状态。(2)衰减全反射晶体上具有一层增透膜，光通量增大10％以上(3)电化学池密封性能好，可通入反应气体。(4)晶体拆卸简单，方便打磨清洗。(5)晶体种类可选，如Si，CaF2，ZnSe等。(6)电化学单池或H型池，切换方便。(7)提供现场技术服务。(7)可根据客户需求定制反应池并提供可行性方案。 四 ATR Crystal characteristics for FTIR samplingCrystalpH rangeSpectrum range(cm-1)Diamond1-14250/525-4000Ge1-14575-5000Silicon1-121200-8900ZnSe5-9525-15000CaF25-81100-7700 应用案例CO2电还原 J. Am. Chem. Soc.2022, 144, 259&minus 269氧气析出反应 J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 21, 9271–9279

KEWLAB旗下熔融石英标准精度平面反射镜均可根据您的需求添加镀膜，镀膜方式可选：1. 普通铝膜+保护2. 紫外反射铝膜+保护3. 银膜+保护4. 金膜+保护 产品概述：材料：熔融石英表面面型：波长/ 5 @ 633 nm平行差：小于3分反射面光洁度：3~4级背面：细磨直径误差：+0.0/-0.1mm厚度公差：±0.2mm倒边：0.2mmX45° 产品规格：图纸直径Dia (mm) 15厚度（mm）2

红外镜面反射聚焦炉（镀金） 钨丝密封在石英玻璃管中的高能流密度红外灯为热源，产生的红外线经过镀金多种抛物镜面反射然后聚焦到中心炉管，使其对中心炉管进行加热从而使温度快速升高。为增加反射比和遏制衰减，反射镜设计为高精度曲率；经镜面抛光处理后镀金，反射性能良好；内部结构分为椭圆型（棒状）和抛物线型（片状），适于不同形状的试样。 技术优点： & 甄选知名品牌合作：美国（GE）和日本牛尾（USHIO）；优化水路设计，无需经常清洗炉体水路。红外灯寿命可达5000小时；波长峰值约为1.15μm；炉体工艺达到光学平台级别（微米）。& 快速控温：高能流密度红外灯和镀金反射镜的设计，使仪器可以快速加热至高温；同时，炉体的热容小；炉身的水冷却系统和附加气体冷却装置，使样品实现快速冷却；提高工作效率。& 高精度控温：使用红外镀金聚焦炉和专用温度控制器，可以高精度控制试样的温度、冷却速度和恒温控制。& 洁净控温：红外灯的加热元件密封在石英玻璃中，加热元件不产生污染气体；炉中没有使用绝热保温材料，与电阻加热炉相比，不产生浑发物和污染气体，更适合在洁净环境中使用。& 满足各种工作条件：可以在各种环境如真空、惰性、氧化、还原气氛中进行加热、冷却。石英保护管。& 可定制不同功率、不同恒温区尺寸和温度范围的炉体 应 用 * 试验机控温炉体、热分析快速加热炉体、高温表面分析控温、逸出气体分析炉等；* 电子材料热源和控温、陶瓷材料/无机材料退火炉和温度控制； * 钢制材料/金属材料加热炉和分析炉、复合材料加热炉体和控温；* 金属或陶瓷超高温分析试验、合金粉末烧结；* 快速加热/冷却，高效加热提高试验效率、热冲击和热分析系统控温；超高温聚焦炉系列 CIF-H 管状炉型 号CIF-H48CIF-H424CIF-H612CIF-H636温度范围（℃）1500150014001500恒温区（mm）100225100225炉体长度（mm）220345220345开孔直径 (mm)50507575聚焦直径（mm）10102020红外灯数量4466额定电压200480200480功率（KW）8.024.012.036.0水冷参数4.0l/min3kgf/ cm212.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm218.0l/min3kgf/ cm2冷却气 （l/min）400400400l400重量 （Kg）10.016.020.030.0 椭圆型聚焦炉系列 CIF-E椭圆管状炉型 号CIF-E23CIF-E24CIF-E26CIF-E22CIF-E25CIF-E27CIF-E28CIF-E212温度范围（℃）12001200100010001200120012001200恒温区（mm）14026542070140200265420炉体长度（mm）240365520170245300365520开孔直径 (mm)3232325252525252聚焦直径（mm）7771010101010红外灯数量22244444额定电压14420030050144200200300功率（KW）2.44.06.02.04.86.48.012水冷参数1.2l/min3kgf/ cm22.0l/min3kgf/ cm23.0l/min3kgf/ cm21.5l/min3kgf/ cm22.5l/min3kgf/ cm23.5l/min3kgf/ cm24.0l/min3kgf/ cm25.0l/min3kgf/ cm2重量 （Kg）4.06.07.05.06.69.010.015.0 抛物线管式炉系列 CIF-P 抛物线管状炉型 号CIF-P68CIF-P610CIF-P612CIF-P618CIF-P816CIF-P824CIF-P1224CIF-P1236温度范围（℃）100010001000100010001000900900恒温区（mm）140200265420265420265420炉体长度（mm）240300365520365520365520开孔直径 (mm)104104104104124124204204聚焦直径（mm）4040404050508080红外灯数量6666881212额定电压144200200300200300200300功率（KW）7.29.612.018.016.024.024.036.0水冷参数4.0l/min3kgf/ cm25.0l/min3kgf/ cm26.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm27.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm28.0l/min3kgf/ cm210.0l/min3kgf/ cm2重量 （Kg）8.09．012.015.014.020.022.030.0 专业定制：垂直炉体（1000mm恒温区） 高低温炉体（可定制） & 温度范围：-269—RT/220℃；-196—RT/220℃；-150—500℃& 控温精度：±1℃& 可按照用户要求定制不同尺寸和功能参数程序温度控制器PTC Au1000 & 可连接PC通过软件控制 & 高精度地从慢速加热到瞬时等温控制。& 预热功能和报警功能，确保红外炉炉安全工作 控制方法PID VS闭环控制系统加热速率0-300k/min恒温时间1sec-99h显示实际温度、设定温度，加热时间，PID输出功率热电偶型号K.S.B.C等设置程序键数字显示；用上、下键数字设定分辨率±1℃ 采集时间0.2 sec尺寸/重量长*宽*高 （300*280*150 mm）/10.0kg