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红外膜度测量

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  • 中红外定量测量系列之二-波长校准

    中红外定量测量系列之二-波长校准

    傅里叶红外变化光谱技术兴起于上世纪80年代,由于其诸多优点,目前在我国已经得到了广泛应用,在煤炭,石油,医疗,化工,半导体,法庭科学,气象,染织等诸多领域发挥了重要作用。傅里叶红外变化光谱技术的具体实现需要依托傅里叶变换光谱仪,然而限于傅里叶变换光谱仪校准技术的发展以及相关规程规范的不健全,导致大多数使用者只是将傅里叶红外变换光谱仪作为一种定性分析仪器,大大限制了傅里叶变换光谱仪的应用,其中,中红外波段的波长校准技术也是其中一项。影响傅里叶变换红外光谱仪波长测量不确定度的因素很多,例如干涉仪相位误差,切趾函数,分辨率等。傅里叶变换红外光谱仪波长校准的方法有多种,最为精确的方法一般采用低压气体(CO,NO等)的红外吸收峰进行标定,但标准样制备较为繁琐,一般适用于波数精度极高的科研级光谱仪;对于普通傅里叶变换红外光谱仪,可以采用经过标定的聚苯乙烯薄膜进行标定。本文介绍了一种较为简单利用水和二氧化碳吸收峰的校准方法以及应用聚苯乙烯薄膜校准时需要注意的相关事项。1.利用水和二氧化碳标定方法空气中水蒸气,二氧化碳等物质在红外波段均有大量的吸收峰,利用这些吸收峰标定仪器的波长是一种简洁方便的方法。不过需要注意的是,A.大气温度以及压力的变化对吸收峰有一定的影响;B.湿度过低,无法获得足够的吸收深度,湿度过大,会严重影响乃至潮解红外窗片。大气中水和二氧化碳的吸收峰精确位置可以参照NIST相关文献中的水和二氧化碳波长标准数据1],实际应用时选取合适的波长,就可以直接用于校准仪器波长。图 1为在BRUKER,EQUNION 55仪器上,设定波长分辨率为0.5cm[sup]-1[/sup],使用该方法,,连续测量5遍所得到的波长数据的平均与NIST标准数据的差值分布图。[align=center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486281_1795438_3.jpg[/img][/align][align=center]图1波长测量(5次平均)误差[/align]需要说明的是,NIST公布的数据是基于0.2波数分辨率进行测量的,因此,其中部分数据间隔太密的波长点(小于0.5),会引起峰的重叠,该部分峰均已被剔除。实际有效用于校准波长的点为42个。从图 1中也可以看出,波长误差最大不超过0.2波数,这说明我们实验的设备的波长准确度是很高的。尤其需要注意的是,该方法不可常用,否则可能会导致设备红外窗片的潮解,导致一定的经济损失。2.利用聚苯乙烯薄膜进行红外波长校准利用聚苯乙烯薄膜的吸收峰进行傅里叶红外变换光谱仪的波长校准是一种较为简便,也是国际通行的做法。我们国家多部相关规程规范[[url=#_ENREF_2]2-4]中均提到了该方法,不过,在这些规程中对具体的应用方法以及薄膜质量的规定不一,导致在具体实施时存在一定的问题。2.1薄膜厚度在日常校准聚苯乙烯薄膜吸收峰中发现,常用的聚苯乙烯薄膜厚度有三种,分别为0.03mm,0.038mm和0.05mm。其中0.038mm为国际通行厚度。实际测量过程中发现,不同厚度的聚苯乙烯薄膜测得的光谱透射比曲线有所差别,见图2[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486282_1795438_3.jpg[/img][align=center]图2.不同厚度聚苯乙烯膜光谱透射曲线[/align]由于薄膜厚度很薄,红外光在样品前后表面之间会形成干涉现象,导致了干涉峰的出现。显然,干涉峰和吸收峰相互叠加,使得聚苯乙烯薄膜自身固有的吸收峰峰位,在实际测量时很可能会出现偏差。在这种情况下,部分规程要求直接查阅标准值的做法会导致校准结果的不确定度偏大,在这种情况下,必须要将聚苯乙烯薄膜送到上级计量机构进行校准,以避免出现较大偏差。实际上,聚苯乙烯薄膜厚度主要影响的吸收峰的深度,对峰位基本没有影响,厚度不是主要原因,NIST的解决方案是,在聚苯乙烯薄膜两面进行粗糙处理,使得两面不再平行,从而避免了干涉峰的出现。但是,即便如此,也不推荐利用聚苯乙烯薄膜吸收峰的标准值直接校准仪器,因为聚苯乙烯薄膜的纯度,加工工艺等诸多因素均可能导致峰值的偏移。2.2光谱参数的影响 在实际校准工作过程中发现,即使聚苯乙烯薄膜的问题得到了很好解决,校准时,仪器光谱参数设定不一致导致的问题也很严重。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401010923_486283_1795438_3.jpg[/img][align=center]图3.不同分辨率下对聚苯乙烯某吸收峰测量结果的影响[/align]由于聚苯乙烯薄膜的吸收峰不是由单一的两能级间越迁所致,是多峰叠加的结果,不同分辨率下测量结果会出现一定差异。除此之外,切趾函数和光谱峰值读取方法[[url=#_ENREF_5]5]也是一个极为重要的影响因素,由于该部分比较复杂,此处不再详细展开,具体可以参考相关文献[[url=#_ENREF_6]6, [url=#_ENREF_7]7]。在校准过程中,必须要尽量使得仪器设定和上级计量部门量传时的设定一致,避免产生不必要的不确定度损失。

  • 【资料】压力/差压变送器介绍

    压力/差压变送器介绍差压变送器除了测量两个被测量压力的差压值外,它还可以配合各种节流元件来测量流量,可以直接测量受压容器的液位和常压容器的液位以及压力和负压。在诸类仪表中,变送器的应用最广泛、最普遍,变送器大体分为压力变送器和差压变送器。变送器常用来测量压力、差压、真空、液位、流量和密度等。变送器有两线制、三线制和四线制之分,两线制变送器尤多。有智能和非智能之分,智能变送器渐多。有气动和电动之分,电动变送器居多。另外,仪器仪表按应用场合有本安型和隔爆型之分。按应用工况变送器的主要种类如下: 低(微)压/低差压变送器 中压/中差压变送器 高压/高差压变送器 绝压/真空/负压差压变送器 高温/压力、差压变送器 耐腐蚀/压力、差压变送器 易结晶/压力、差压变送器变送器的选型通常根据安装条件、环境条件、仪表性能、经济性和应用介质等方面考虑。实际运用中分为直接测量和间接测量;其用途有过程测量、过程控制和装置联锁。常见的变送器有普通压力变送器、差压变送器、单法兰变送器、双法兰变送器、插入式法兰变送器等。压力变送器和差压变送器单从名词上讲测量的是压力和两个压力的差,但它们间接测量的参数是有很多的。如压力变送器,除测量压力外,它还可以测量设备内的液位。在常压容器测量液位时,需用一台压变即可。当测量受压容器液位时,可用两台压变,即测量下限一台,测量上限一台,它们的输出信号可进行减法运算,即可测出液位,一般选用差压变送器。在容器内液位与压力值不变的情况下它还可以用来测量介质的密度。压力变送器的测量范围可以做的很宽,从绝压0开始可以到100MPa(一般情况)。原理从压力和差压变送器制作的结构上来分有普通型和隔离型。普通型的测量膜盒为一个,它直接感受被测介质的压力和差压;隔离型的测量膜盒接受到的是一种稳定液(一般为硅油)的压力,而这种稳定液是被密封在两个膜片中间,接受被测压力的膜片为外膜片。原普通型膜盒的膜片为内膜片,当外膜片上接受压力信号时通过硅油的传递原封不动的将外膜片的压力传递到了普通膜盒上,测出了外膜片所感受的压力。隔离型变送器主要是针对特殊的被测量介质使用的,如被测介质离开设备后会产生结晶,而使用普通型变送器需要取出介质,会将导压管和膜盒室堵塞使其不能正常工作,所以必须选用隔离型。隔离型通常作成法兰式安装,即在被测设备上开口加法兰使变送器安装后它的感应膜片是设备壁的一部分,红外测温仪这样它不会取出被测介质,一般不会造成结晶堵塞。当被测介质需求结晶温度较高时,可选用将膜片凸出的结构,这样可将传感膜片插入到设备内部,从而感应到的介质温度不会降低,这样测量是有保障的,即选用插入式法兰变送器。隔离型变送器有远传型和一体型。远传型即外膜盒与测量膜盒之间用加强毛细管连接,红外测温仪一般毛细管为 3~5米,这样外膜盒装在设备上,内膜盒及变送器可以安装在便于维护的支架上;另一种形式是外膜盒与变送器作成一体直接由法兰安装在设备上。对于隔离型压力变送器它还可以作成螺纹连接型,即外膜盒或外弹性元件可在安装螺纹的前面,只要在被测设备上焊接上内螺纹凸台,便可将变送器直接拧到设备上,安装非常方便。隔离型压力/差压变送器的制作复杂,材质要求高,所以它的价格通常是普通型的3倍。选型原则在压力/差压变送器的选用上主要依据:以被测介质的性质指标为准,以节约资金、便于安装和维护为参考。如被测介质为高黏度易结晶强腐蚀的场合,必须选用隔离型变送器。在选型时要考虑它的介质对膜盒金属的腐蚀,一定要选好膜盒材质,风速仪否则使用后很短时间就会将外膜片腐蚀坏,法兰也会被腐蚀坏造成设备和人身事故,所以材质选择非常重要。变送器的膜盒材质有普通不锈钢、304不锈钢、316L不锈钢、钽膜盒材质等。在选型时要考虑被测介质的温度,如果温度高一般为200℃~400℃,要选用高温型,否则硅油会产生汽化膨胀,使测量不准。在选型时要考虑设备工作压力等级,变送器的压力等级必须与应用场合相符合。从经济角度上讲,外膜盒及插入部分材质比较合适,但连接法兰可以选用碳钢、镀铬,这样会节约很多资金。隔离型压力变送器选用最好是选用螺纹连接形式的,风速仪这样既节约资金安装又方便。对于普通压力和差压变送器选型,也要考虑被测介质的腐蚀性问题,但使用的介质温度可以不考虑,因为普通型压变是引压到表内,长期工作温度为常温,但普通型使用的维护量要比隔离型大。首先是保温问题,在北方冬季零下,导压管会结冰,变送器无法工作甚至损坏,这就需要增加伴热和保温箱等。从经济角度上来讲,选用变送器时,只要不是易结晶介质都可以采用普通型变送器,而且对于低压易结晶介质也可以加吹扫介质来间接测量(只要工艺允许用吹扫液或气),应用普通型变送器就是要求维护人员多进行定时检查,包括各种导压管是否泄漏、吹扫介质是否正常、保温是否良好等,只要维护好,大量使用普通型变送器一次性投资会节约很多。从选用变送器测量范围上来说,一般变送器都具有一定的量程可调范围,最好将使用的量程范围设在它量程的1/4~3/4段,这样精度会有保证,对于微差压变送器来说更是重要。实践中有些应用场合(液位测量)需要对变送器的测量范围迁移,根据现场安装位置计算出测量范围和迁移量,迁移有正迁移和负迁移之分。目前,智能变送器已相当普及,它的特点是精度高、可调范围大,而且调整非常方便、稳定性好,选型时应多考虑。川仪横河EJA、北京远东1751、霍尼韦尔ST3000、ARK800系列等,使用都非常可靠。按照设计规范,在工程设计选型中,究竟采用气动变送器还是电动变送器,因其各有特长,应该根据装置的具体条件进行综合考虑和分析。以下几点可供选用时参考:集中操作程度; 是否与DCS计算机相操作配合; 响应速度; 经济性; 可靠性及使用维护方面; 安全性(防爆、停电、气源故障等); 环境条件及传输距离。一般来说,下列条件以选用气动仪表为宜:自变送器至显示调节仪表间的距离较短,通常以不超过150m较为合适; 工艺物料是易燃易爆介质及相对湿度很大的场合; 要求仪表投资少; 一般中小型企业要求易维修,经济可靠; 在以电动仪表为主的大型装置里,有些现场就地调节回路不要求引入中央控制室集中操作。下列条件以选择电动仪表为宜:变送器至显示调节单元间的距离超过150m以上; 大型企业要求高度集中管理的中央控制; 设置有DCS计算机进行控制及管理的对象; 要求响应速度快,信息处理及运算复杂的场合。实际中,在现代化生产装置中都是发挥它们各自的特点进行混合选用的。差压变送器的选型差压变送器根据以下几点选型:(1) 测量范围、需要的精度及测量功能;(2) 测量仪表面对的环境,如石油化工的工业环境,

  • 红外窗片有镀金刚石膜的吗?

    【转帖】锗/硅红外光学镜头(片)镀类金刚石碳膜的方法 本工艺发明属于在锗硅光学镜头(片)上镀红外超硬膜技术。是在溅射机中,充入丁烷和氩气的混合气体,选择适当的射频电压产生辉光放电,使混合气体电离,在电场作用下,使正离子撞击到负电极上沉积薄膜的方法,从而使锗硅镜头(片)上获得类金刚石超硬膜。本发明所镀制出的膜属类金刚石碳膜,它具有机械强度高,耐磨性能好,红外光学特性优良,且适于镀制大面积光学透镜等优点。适用于一切红外光学镜头(片)及光学仪器窗口材料的镀制。 该专利全部权利属于昆明物理研究所。

  • 【求助】金膜厚度测量

    【求助】金膜厚度测量

    我不是很清楚哪个版块有技术可以解决这个问题,估计电镜也许可以,所以先发在这个版块,要是有其他版块有此项技术请告知一下,我再转发。谢谢!我们需要测量的金膜是溅射在玻璃基片上的。玻璃基片约0.5mm厚,大小约1cm*1cm。基片上有一层很薄很薄的铬,完全可以忽略,金膜溅射在铬上的,厚度约50nm左右,我们想比较准确测量一下其厚度,误差 1-3nm以内吧。误差5-10nm左右呢???示意图如下[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/03/200903231024_140067_1613111_3.jpg[/img]

  • 近红外光谱能测量气体吗?

    [font=宋体][url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]可以测量气体,其优势是可以测量混合气体成分,通常为了提高气体测试的准确度,会设计较长距离的气体通路,增加气体的光谱吸收,进而提高检测精度。尤其是在挥发性混合气体测试方面极有优势,因为普通的气体传感器存在交叉响应问题,而[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]分析的优点就在于可以通过一次测量,利用数学建模来将多种不同光谱吸收形态的气体同时检测出来。[/font]

  • 【讨论】椭偏仪测量薄膜厚度

    在si片上镀一层纳米碳膜,碳膜表面光洁如镜面,采用椭偏仪测量薄膜的厚度,测量时选择基底材料为si,将k设为0(透明薄膜,不知是否准确或透明薄膜如何定义?),根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921),采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量,测量得到的结果还行,基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确?1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜?2.采用同一n值测量厚度是否合适?希望高手指点,谢谢!

  • 【求助】测量薄膜厚度

    我现在需要测量ITO薄膜的厚度,透明的薄膜,大概200纳米左右。用椭偏仪行不行?是不是还需要薄膜的折射率?希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

  • 用eds能谱测量氧化膜厚度

    铝表面自然生长的氧化膜通常小于10nm,如果经过退火处理,氧化膜会随温度升高而增厚,曾经有人用SEM-EDS 测量铝样品表面区的氧的相对含量(面积比),并利用ESCA 化学分析电子光谱测量氧化膜的厚度,最后得出氧化膜厚度和氧相对含量的关系式,这样就可以通过电镜能谱得到氧化膜的厚度。但以上方法对于电镜的试验条件变化比较敏感。又听说利用辉光光谱GDS或GDOES可以测量类似的氧化膜厚度,即通过测量氧的浓度分布来反映膜的厚度,我相信这是可行的,各位谁知道上海哪里有这样的仪器?又听说可以用XPS来测量膜厚,谁知道这方面的信息?

  • 影响红外测温仪测量精度有哪些

    由于红外测温技术对工业等领域运用广泛,因此,对其测量精确度也提出了更高的要求。非接触红外人体测温仪在功能和技术上越来越完善,但是,也存在影响其精确度的因素,如果不多加留意,将会导致红外测温仪测量精度有所偏差,对此,小编结合仪商资讯也整理了几个因素。[b] 测量角度[/b] 为了保证测量准确,仪器在测量时应尽量沿着被测物体表面的法线方向(垂直于被测目标表面)进行测量。如果不能保证在法线方向上,也应当在与法线方向成45°角内进行测量,否则仪器显示值会偏低。[b] 环境温度[/b] 应严格按照仪器技术指标所标明的环境温度使用仪器,超过此范围仪器测量误差将会增大,甚至损坏。当环境温度较高时,可使用风冷、水冷装置或热保护套,热保护套可使仪器在高达200℃的环境下正常使用。 手持式测温仪从一个环境拿到另一个环境温度相差较大的环境中使用时,将会导致仪器精度的暂时降低,为得到理想的测量结果,应将仪器在工作现场放置一段时间(建议最少30分钟)使仪器温度与环境温度达到平衡后再使用。[b] 空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量[/b] 烟雾、灰尘和空气中的其它污染物以及不清洁的透镜会使仪器不能接收到满足测量精度的足够红外能量,仪器的测量误差将增大。因此,最好经常保持透镜清洁,空气吹扫器有助于使透镜不受污染。[b] 电磁干扰[/b] 仪器要尽可能远离潜在的电干扰源,如负荷变化大的电动设备。在线式仪器的输出和输入连接使用屏蔽线并确保屏蔽线良好接地。在强干扰环境下,使用外部保护导管,刚性导管比柔性导管好。不得将其它设备的交流电源引入同一导管内。[b] 环境辐射[/b] 当被测目标周围有其它温度较高的物体、光源或太阳的辐射时,这些辐射会直接或间接的进入测量光路,造成测量误差。为了克服环境辐射的影响,首先要避免环境辐射直接进入光路,应该尽量使被测目标充满仪器视场,对于环境辐射的间接干扰,可采用遮挡的方法消除。[b] 视场与目标大小[/b] 要确保目标进入仪器测量视场。目标越小,则应离得越近。在实际测量时,为了减小误差,最好能使目标的大小为视场光斑的两倍以上。因此,使用红外测温仪测量时,注意其测量角度、环境温度、电磁干扰等问题,便可获取精确度高的数据,同时也避免出现不必要的麻烦。

  • 硅片上镀膜,膜的红外吸收测试问题

    在硅片上沉积了膜,膜无法取下,现需要测试膜的吸收,考虑到膜有反射,希望测试透过率光谱及反射率光谱来得到膜的吸收。现在试了几种方法:1、用傅立叶变换红外光谱测试。透过率用空白双面抛光硅片做背景,测试透过率;以金镜为背景用镀金的积分球附件测试反射率。结果有些出现反射率?透过率大于100%。2、用显微红外光谱仪测试。以空气为背景,测试硅片透过率T1,假设硅片对红外光不吸收,其反射率R1=1-T1;以硅片做背景,测试硅片上镀膜反射率R2,样品实际反射率R=R1*R2;以硅片做背景测试样品透过率T。样品吸收=1-T-R=1-T-(1-T1)*R2。结果也会出现反射?投射大于100%。若用显微红外测试以金镜做背景也会出现这种情况。各位老师帮我分析一下原因吧,还有测试基底上的膜中红外的吸收应该用什么仪器,用什么测试方法。谢谢谢谢

  • 【转帖】电子产品的温度测量机理与方法(热电偶和红外测温)

    电子产品的温度测量机理与方法 在电子产品设计定型时,为防止表面温度过高伤害用户或由于温度超出材料件所能承受的限值而导致着火、绝缘失效和触电危险,需要分别在正常工作状态和模拟故障状态下对设备各个部分的温度进行测试,目前一般采用热电偶测量或外加红外测温监控的方式进行。 热电偶通过把非电学量(温度)转化成电学量(电动势)来测量,这种方法有许多优点,如测温范围宽、灵敏度和准确度较高、结构简单不易损坏、受热点可做得很小等,因其对温度变化响应快,对测量对象的状态影响小,可以用于温度场的实时测量和监控。热电偶的温差电动势虽然主要取决于所选用的材料和两个接头的温度,但材料中所含的杂质和加工工艺过程也会对它产生一定的影响,所以,尽管是由相同材料组成的热电偶,它们的温差电动势与温度的关系却可能不完全相同。对于每一支热电偶的选择要根据使用温度范围、所需精度、使用环境、响应时间和经济效益来综合考虑。温度在1000~1300℃并且精度要求比较高的,可用S型热电偶和N型热电偶;1000℃以下一般用K型热电偶和N型热电偶;低于400℃一般用E型热电偶;250℃以下和负温测量一般用T型 电偶,在低温时稳定而且精度高;S型、B型、K型热电偶适合于强的氧化和弱的还原气氛中使用;J型和T型热电偶适合于弱氧化和还原气氛,有化学污染的环境要求有保护管;铠装热电偶响应时间快,而且有一定的耐久性。 焊好的热电偶都应先进行分度,即测定出温差电动势与温度间的确定关系,然后才能用它来测量温度。采用补偿导线用它们连接热电偶与测量装置,以补偿它们与热电偶连接处的温度变化所产生的误差。合金丝是构成补偿导线的导体,可分为两种:延长型合金丝的名义化学成分及热电势标称值与配用热电偶丝相同,用字母“X”附加在热电偶分度号之后表示;补偿型合金丝的名义化学成分与配用热电偶丝不同,但其热电势值在0~100℃或0~200℃时,与配用热电偶丝标称值相同,用字母“C”附加在热电偶分度号之后表示。在使用之前,应将热电偶的内部绝缘体从顶端向后剥露约1.5mm,外部绝缘体则从顶端向后剥约15mm,顶端用单点焊接来连接后与要测处相连。为了达到与被测点同样的温度,接点要与被测部件的表面紧密接触。现在一般通过胶合、焊接等方法固定,胶合法将高龄粉和硅酸钠溶液以同等比例相混合,再与氰丙烯酸酯胶合。在胶合前应固定热电偶的位置,对于焊接剂易于黏附的金属表面,采用焊接法在热传导性方面优于胶合法。 接下来谈谈红外测温技术。高温区是位于光带最边缘处红光的外面,称为“热线”或者红外线,红外线的波长在0.76_100μm之间,按波长的范围可分为近红外、中红外、远红外、极远红外4类,它在电磁波连续频谱中的位置是处于无线电波与可见光之间的区域。任何物体在常规环境下都会产生自身的分子和原子无规则的运动,并不停地辐射出热红外能量,分子和原子的运动愈剧烈,辐射的能量愈大,反之,辐射的能量愈小。红外测温仪是通过接收物体发出的红外线(红外辐射),从而准确判断物体表面的温度分布情况。和接触式测温方法相比,红外测温有非接触、响应时间快、使用安全及使用寿命长等优点。红外测温仪器主要有3种类型:红外热像仪、红外热电视和红外测温仪(包括便携式、在线式和扫描式)。红外热像仪是利用红外探测器、光学成像物镜和光机扫描系统,接受被测目标的红外辐射能量,并反映到红外探测器的光敏元件上。 红外热电视是将被测目标的红外辐射线通过透镜聚焦成像到热释电摄像管,热释电摄像管是一种具有中等分辨率的实时宽谱成像器件,主要由透镜、靶面和电子枪三部分组成。通过热释电摄像管接受被测目标物体的表面红外辐射,并把目标内热辐射分布的不可见热图像转变成视频信号。 常用的便携红外测温仪是由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理显示输出等部分组成,光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号再经换算转变为被测目标的温度值,其测量精度可达1度或更高。我们要根据被测设备尺寸和环境条件从测温范围、测量精度、工作波长、响应时间、光学分辨率、显示和输出、价格等方面来选用便携红外测温仪。测温范围是最重要的一个性能指标,不同型号的测温仪都有自己特定的测温范围,一般来说,测温范围越窄监控温度的输出信号分辨率越高,测温范围过宽会降低测量精度。如果被测设备尺寸超过视场大小的50%,测温仪就不会受到测量区域外面的背景影响造成误差,可以选择单色测温仪;反之,如目标尺寸小于视场,双色测温仪是最佳选择,其温度是由两个独立的波长带内辐射能量的比值来确定的。因此当被测目标很小,即使测量通路上存在烟雾、尘埃、阻挡对辐射能量有衰减时,仍能保证测量精度。由于设备组成材料的发射率和表面特性不同,测温仪的光谱相应波长也不同,如测量高温金属材料的最佳波长是近红外,可选用0.8~1.0mm,测温时应尽量选用短波。在测量快速加热的目标时,要选用快速响应红外测温仪,否则缺乏足够的信号响应,会降低测量精度。而对于静止的或目标热过程存在热惯性时,测温仪的响应时间就可以放宽要求了。需要强调的是红外测温仪必须经过校准才能使它正确地显示出被测目标的温度,特别是要进行定期检定,试验人员在实际运用过程中也要不断积累经验和掌握测试技巧,避免读数偏差而得出错误结果。

  • 铝氧化膜厚度的测量

    请问谁知道正常氧化条件下铝的氧化膜厚度的测量方法,估计在10nm以下。听说用辉光光谱可以测,上海哪里有这个仪器呢?另外ESCA 化学分析电子光谱也能测,谁知道具体信息。还有人说XPS也能测,谁知道?

  • 机器人的红外线距离测量原理

    超声波并不是测量机器人与物体间距离的唯一方法,也可以利用红外线。和超声波测量不同,红外线距离传感器不会去探测线光束的传播时间。因为对于我们感兴趣的距离,传输时间为10—15—10-12秒数量级。只有那些极为昂贵的电路才能应付这样的速度。红外线系统采用所谓视差技术。即测量已知光源和它的反射光束之间的反射角。它的工作方式是:红外线光束照射在一个场景上。光束经过传感器前的物体反射后。再照射到传感器。物体越接近,由于视差引起的角度变化就越大。反射光束照在一个非常小的线性光检测器矩阵上。光检测器矩阵连接分析物体距离的电路。这个电路可以提供数字或模拟输出。

  • XRF测量薄膜厚度的原理是什么?

    听说可以用XRF来测量薄膜厚度,并且可以测多层膜的厚度,但是不知道原理是什么。请版上的各位老师介绍一下技术原理与操作时注意要点。 万分感谢!

  • 【分享】正确使用红外线测温仪AR882的温度准确测量

    、只测量物体的表面温度。红外测温仪不能测量内部温度。 2、不要透过玻璃进行温度测量。玻璃的反射和透射性能不同于其它材料,因而得出的红外温度读数受到影响。 3、建议不要用红外测温仪测量光亮或抛光金属表面(不锈钢、铝等)。 4、注意环境条件。蒸汽、灰尘、烟雾等遮住镜头,妨碍精确测量。 5、注意环境温度。如果测温仪遇到10度以上的突变环境温差,让仪器适应新的环境温度至少二十分钟。 6、不同的物体用调不同的发射率。

  • [国家标准物质网]浅谈红外测温仪在钢轧关键测量点的应用

    随着高专板、品种板的研发,为了保证产品质量的要求,满足客户的需求,控温轧制成为决定钢板机械性能的一个重要的因素。因此,我厂把终轧温度列为关键测量点,并对其进行有效的控制。实际工艺要求测量仪器必须是非接触式、响应快、稳定性好和寿命长的产品。如何保证选用的红外测温仪正常运转,确保温度测量的准确,为生产过程及产品质量控制提供一个可靠的数据支持成为一个难题。本文通过对红外测温仪的选型、辐射系数设定、安装位置的确定等方面的应用进行了试验和探讨,积累了一些经验,并取得了满意的效果。1 红外测温仪在轧钢生产应用过程中存在的问题(1)红外测温仪受现场高温 、粉尘 、振动的影响温度显示波动比较大。(2)经过检定合格的红外测温仪在现场安装后,受安装角度的不同,温度显示相差太大。(3)辐射系数的设置不好确定,造成温度测量的不一致。(4)红外测温仪在经过使用一定时期使用后,容易出现视值与实际值不符,现场完全靠工人经验生产,需要定期比对。(5)未运用科学的数据分析工具对红外测温仪的测量数据进行研究分析。2 红外测温仪在轧钢生产过程中应用问题的解决方案2.1 红外测温仪的选型由于轧钢系统现场环境复杂,钢坯在经过加热炉加热后容易导致钢坯表面产生一些氧化铁皮。另外,由于现场高压水对钢板表面的除磷,容易造成钢板周围存在大量的水蒸气。因此,红外测温仪的选型成为保证数据的基础,具体实施如下:(1) 红外测温仪存在质量问题,其防护等级偏低,现场湿度大、水气渗透至仪表内部,损坏器件。导致无输出信号和无显示,数据传输滞后等故障,而现场的高温环境对红外测温仪的高温烘烤容易导致红外测温仪的损坏及探头表面黏附灰尘,必须人工不定期拿酒精棉球擦拭清洗,并且用手持式红外测温仪每月与现场红外测温仪进行校准、比对。因此,红外测温仪的选型必须考虑到能否适应现场潮湿、脏的影响。(2)为了尽可能地减少测量现场的烟尘 、水气以及距离变化、物体局部被遮挡等因素的影响而发展起来的红外测温仪,从工作原理分析全辐射、亮度式以及双色红外测温仪的优缺点,利用双色红外测温仪不是根据直接接受到的物体热辐射能量的大小来判别温度,而是分别接受物体红外热辐射中的两个相邻波长的能量,并求其比,在根据这个比值的大小来确定物体的温度的特点,我厂选择了LAND SYSTEM4 系列双色红外测温仪进行现场测温。综上所述,现场红外测温仪最好采用封闭风冷式防护罩,使红外测温仪始终处在一个干燥、密闭的工作环境,这样初步解决了现场水蒸气、高温对红外测温仪的影响。2.2 红外测温仪的安装准确的测温与测温仪的安装位置及其密切。为了测得带钢温度变化的真实情况必须根据现场情况采用合适的安装位置,同时安装方式的选择对测温的准确与否也是至关重要的。经过现场调研和与专家探讨,初步定位红外测温仪的安装最好在垂直于被测物体的基础上,采用背光的安装为最好,使测温仪光轴尽量垂直于钢板,使钢板表面的辐射能量损失减至最少,减少测量误差。2.3 红外测温仪辐射系数的设定红外测温仪的选型和安装仅仅是保证红外测温仪测得数据的基础,其辐射系数的设定恰恰是红外测温仪测得真实数据的关键。为了更好的设定辐射系数,保证数据的有效性,借鉴原有的经验和参考相关书籍,我厂结合生产实际过程做了一个验证。即:模仿现场工艺环境,建立一个模拟加热炉,通过热电偶连接检定合格的二次数显表显示炉内温度,采用检定合格的手持式红外测温仪与二次表显示数值进行比对,通过不同的辐射系数设定来确定红外测温仪最终的系数范围。应用单因子方差分析法分析红外测温仪、热电偶测量结果的一致性关系与辐射系数的关系(见图1)。http://a-403849-80-3887732287.www-jlck-cn.anquanbao.cn/files/file/2012/9/5/200(1).jpg由图可以看出,ε=0.85 时,红外测温仪和热电偶测量结果的一致性最好 ;ε=0.83、0.87时,温度差分别为16.2583℃ 、8.76667℃,红外测温仪和热电偶测量结果的一致性也较好。结论:通过比对得出,测量带有氧化层的钢板、钢坯时,将辐射系数设置为0.83~0.87 是比较合理的,工业用红外测温仪辐射系数最好控制在0.85 为最好 。经过上述的一些改造,红外测温仪在经过半年多的应用,基本解决了红外测温仪测量不准确的问题,保证了为生产过程提供准确的数据支持。2.4 红外测温仪测量过程的控制现场红外测温仪经过一定时期的使用后,由于受现场恶劣环境的影响,容易出现现场视值显示与钢板实际温度不符,工人们往往根据个人的经验来控制生产。为此,我们结合关键生产工艺情况,将其测量的过程定为关键测量过程,并对其实施高度控制,制定出《钢坯温度检控制办法》。办法中规定应对影响板坯出炉、钢板轧制温度检测测量过程的测量设备、测量方法、操作人员及测量结果等要素进行控制。2.5 运用 spc 对测量数据进行分析现场测量人员将测量数据录入SPC 控制系统,对测量结果进行监控、分析;设备管理部门应用MSA系统对测量系统进行监控并判定是否稳定。当判定测量参数或测量系统发生偏离时,由生产/管理部门组织分析偏离原因并制定纠偏措施,通过采取上述措施使开轧温度、终轧温度都控制在标准要求范围内,保证了钢板内在质量。3 结束语通过对红外测温仪的选型,位置的安装,辐射系数设定等方面的研究和应用,实现轧制过程中应用红外测温仪的准确测温,满足生产控制过程的需要,提高了产品质量。摘自:国家标准物质网

  • 影响红外测温仪测量精度的因素有哪些?

    由于红外测温技术对工业等领域运用广泛,因此,对其测量精确度也提出了更高的要求。非接触红外人体测温仪在功能和技术上越来越完善,但是,也存在影响其精确度的因素,如果不多加留意,将会导致红外测温仪测量精度有所偏差,那么,这些影响因素有哪些?[b] 测量角度[/b] 为了保证测量准确,仪器在测量时应尽量沿着被测物体表面的法线方向(垂直于被测目标表面)进行测量。如果不能保证在法线方向上,也应当在与法线方向成45°角内进行测量,否则仪器显示值会偏低。[b] 环境温度[/b] 应严格按照仪器技术指标所标明的环境温度使用仪器,超过此范围仪器测量误差将会增大,甚至损坏。当环境温度较高时,可使用风冷、水冷装置或热保护套,热保护套可使仪器在高达200℃的环境下正常使用。 手持式测温仪从一个环境拿到另一个环境温度相差较大的环境中使用时,将会导致仪器精度的暂时降低,为得到理想的测量结果,应将仪器在工作现场放置一段时间(建议最少30分钟)使仪器温度与环境温度达到平衡后再使用。[b] 空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量[/b] 烟雾、灰尘和空气中的其它污染物以及不清洁的透镜会使仪器不能接收到满足测量精度的足够红外能量,仪器的测量误差将增大。因此,最好经常保持透镜清洁,空气吹扫器有助于使透镜不受污染。[b] 电磁干扰 [/b] 仪器要尽可能远离潜在的电干扰源,如负荷变化大的电动设备。在线式仪器的输出和输入连接使用屏蔽线并确保屏蔽线良好接地。在强干扰环境下,使用外部保护导管,刚性导管比柔性导管好。不得将其它设备的交流电源引入同一导管内。[b] 环境辐射[/b] 当被测目标周围有其它温度较高的物体、光源或太阳的辐射时,这些辐射会直接或间接的进入测量光路,造成测量误差。为了克服环境辐射的影响,首先要避免环境辐射直接进入光路,应该尽量使被测目标充满仪器视场,对于环境辐射的间接干扰,可采用遮挡的方法消除。[b] 视场与目标大小[/b] 要确保目标进入仪器测量视场。目标越小,则应离得越近。在实际测量时,为了减小误差,最好能使目标的大小为视场光斑的两倍以上。 因此,使用红外测温仪测量时,注意其测量角度、环境温度、电磁干扰等问题,便可获取精确度高的数据,同时也避免出现不必要的麻烦。[align=center][/align]

  • 非线性测量模型不确定度评定的思考

    为什么不少非线性测量模型 可按JJF1059.1评定测量不确定度 JJF1059.1—2012《测量不确定度评定与表示》(以下简称JJF1059.1),第1章范围中就指出本规范主要适用的条件之一:测量模型为线性模型、可以转化为线性的模型或可用线性模型近似的模型。其第4.2.8条也明确指出:本规范主要适用于测量模型为线性函数的情况。如果是非线性函数,应采用泰勒级数展开并忽略其高阶项,将被测量近似为输入量的线性函数,才能进行测量不确定度评定。若测量函数为明显非线性,合成标准不确定度评定中必须包括泰勒级数展开中的主要高级项。 这是因为JJF1059.1评定不确定度依据的不确定度传播律,其必要条件就是当被测量Y是由N个其他量X1,X2,…,XN通过线性测量函数f确定。 但是,在计量学中最典型的测量模型:相对误差 = (示值-真值)/真值,也是非线性测量模型。为什么平时并没有进行泰勒级数展开并忽略其高阶项,将该被测量近似为输入量的线性函数。即并没有将该测量模型进行线性化,能直接据该非线性测量模型正确地评定测量不确定度。而且在JJF1059.1之附录A.2 合成标准不确定度评定方法举例中,给出的四个例子,有两个测量模型是非线性的。JJF1059.1同样也没有进行泰勒级数展开并忽略其高阶项,将其测量模型线性化。 这是因为按JJF1059.1评定测量不确定度,进行合成标准不确定度计算时,对被测量Y与有关的输入量Xi之间函数,求输入量xi的偏导,即求输入量xi的灵敏系数。实际上相当于进行微分近似,即对于非线性函数y对于自变量Δxi = xi2-xi1的增量Δy = y2- y1。用非线性函数y对自变量在xi1处的曲面(或曲线)对于xi的切线所构成的线性函数,进行近似计算。也许这也是导致有的文献说到,不确定度传播律在求灵敏系数很困难时不适用的原因之一。 当然,如果这样的线性的近似,不满足测量任务对测量不确定度评定的要求时。则应对非线性测量函数用泰勒级数展开,并在合成标准不确定度评定中包括泰勒级数展开中的主要高阶项。如果仍不能满足测量任务对测量不确定度评定的要求,则可考虑采用JJF1059.2—2012《用蒙特卡洛法评定测量不确定度》进行不确定度评定。

  • 【求助】中红外光谱测量系统

    请问有没有同志做中红外光谱的?有的话你们的仪器的探测器和光的收集装置是怎么做的啊?现在实验室买了台做中红外的光谱测量系统 但是一直调试不出来测量范围在1—5.5微米探测器用的是锑化铟探测器——液氮制冷型红外探测器使用范围:1~5.5μmhttp://www.zolix.com.cn/view.asp?id=623光谱仪是卓立汉光的谱王 http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=274还有用的Model 300CD型斩波器 和SCITEC公司410/420型锁相放大器http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=330http://www.zolix.com.cn/view.asp?id=328但是调试的时候一直调试不出应该有的光谱来。不知道那位兄弟用过相似的装置,这种装置调试的时候要注意那些?

  • 【原创】近红外粒径测量应用

    【原创】近红外粒径测量应用

    “粒径测量”应用---------------美国Brimrose公司漫反射测量是[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的主要测量方式。一个内在的困难通常是基线的漂移和由于样品的粒径不同而产生的内在的不均匀光散射。漫反射光线的物理性质作为研究主题已有一百多年。在课题(1-4)中已刊印了大量文章。对不透明固体分析的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的很多定量应用,关注的是使样品的粒径均匀并最大限度地再现。这经常导致较大近红外样品的研磨、过筛和磨碎。由不均匀或不同粒径样品引起的“讨厌”的毛病,然而却服从物理定则。如果峰或基线漂移发生,那么它服从的那些现象能用来测量他们的直接原因。换句话,粒径能从我们经常不得不处理的“问题”中确定。分类法一套Luminar 2000 声光可调滤波器[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url],配有光纤反射探头,用于粉末测量,[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]由相同化学组成,只有粒径不同的多种物质获得,这些光谱被比较。使用二阶微分变换来提高光谱中的差异。[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]的早期工作显示微分变换能减少粒径问题。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41724_1638147_3.jpg[/img] 即使忽略水的吸收峰(大约在1440 nm 和1920 nm),在两个样品尺寸中仍有两个峰的尺寸和波长不同,两个样品光谱中的波长不同只能是由颗粒尺寸不同引起的。在先前的著作(5)中这些吸收差异服从一个可预测的模式。这对有机或无机物质是正确的。在最初两个糖的吸收光谱中见到基线漂移通过二阶微分处理只是大部分被消除,解释为所有的光学因素不能被轻易消除。使用标准化功能已做了一些工作,有这种用途的少数商业软件包是可以得到的。几种代表性医药材料被测定大小,它们的平均粒径由参照方法(激光散射)测定。在图2中显示了三个有代表性的筛子孔径的阿司匹林的吸收光谱(摘自美国药典)。40、100、200目的晶粒包括了从颗粒到“微米化的”(所以这么叫因为颗粒大小是微米级的或百万分之一米)的全部。物质的主要特征是一样的,只是吸收值随粒径增长。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41725_1638147_3.jpg[/img] 在长波区的差异较大的事实在图3中被证实。在这张图中,粒径的倒数作为四个不同波长吸收的函数被绘制成图。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2007/02/200702071023_41726_1638147_3.jpg[/img]对无机盐、有机盐及不确定化合物得到类似的结果。它们甚至不需要有传统的近红外生色团,因为散射是物理现象,而不是化学现象。能够看出[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]可以用于快速测定固体物质的粒径。然而一个公司的每一个产品可能要求专用的校正集,近红外提供一种低廉的、易于操作的能够定量测定粒径的方式。

  • 红外测量油含量的技术!

    网上查了测油技术,许多都介绍了红外分析方法。我需要测量氮气中的微量油或油蒸汽含量。请教一:红外测油如何测量?如何取样?请教二:有否有将样气直接通入测量腔,特定红外波长检测,直读油含量。我们通常用红外测量其它微量组分就是采用的此方法,是否能应用到油含量分析中。请教三:能否通过直接滤波轮的密封油过滤片,来改变不同油品的分析?欢迎大家指教,或提供相关资料!

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