可变形反射镜

紫外可见分光光度计一般台式的居多，同时使用比色池分析液体样品的也居多。但是不知大家对于那种落地式的大紫外熟悉否？这种大紫外的功能主要是测试以光学固体样品为主，同时使用了许多附件；今天就将一款用于测量固体样品的角度可变绝对反射附件展现给大家：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205012028_364412_1602290_3.jpg图-1 含有大样品仓的落地式大紫外的分光光度计外观。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011042_364375_1602290_3.jpg图-2 这种可变角附件用于测量固体样品的透射率的状态；此时样品转台和检测器（积分球）转台均处于0角度，目的是测样品的透射值。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011047_364376_1602290_3.jpg图-3 这种可变角附件用于测量固体样品的反射率的状态；此时样品转台和检测器（积分球）的角度均可改变。其有效角度在20°~60°范围内改变。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011049_364377_1602290_3.jpg图-4 这是样品转台的细部照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011050_364378_1602290_3.jpg图-5 这是样品转台和检测器转台改变角度的调节刻度的细部照片http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/05/201205011051_364379_1602290_3.jpg图-6 这是样品光束起偏器的细部图。当测量样品的反射率的入射光的入射角大于15°时，如果不采用起偏器来测量就会产生测量误差。因为入射光束是具有各向异性光，而仪器单色器的光栅的刻槽的方向是固定的，这种各向异性的入射光射在光栅的反射强度也会不同。为此可以通过起偏器将入射光分别调整为垂直光栅刻槽和平行光栅刻槽的两束光。用这两束光分别测试样品，最后求和，就可得到近似真值的样品的透过率或吸光度。

我在玻璃基底上涂了一层太阳能热反射膜，想测它的可见到红外的反射率，就是想得到附件里的文献里的反射率图谱，可见到近红外，我用紫外-可见-近红外分光光度计测试反射率，得到的曲线跟文献中还类似；红外波段，我试过了FTIR的ATR附件，可变角度SR镜面反射附件，测出来的曲线都不理想，得到的都是透过率曲线，还有很强的吸收峰，仪器操作员也不太懂，给我转换成反射率并归一化后，也不理想。。我想得到的不是对样品化学成分的分析曲线，而是想看看样品对红外光的反射率，应该是反射光强/原始入射光强，我就纳闷了，这么简单的实验，竟然这么难。。。请各位大牛给指点，希望跟大家交流。我的qq：1557362947。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/06/201406211731_502684_2904588_3.jpg

[size=3][font=宋体][color=#000000][url=http://www.instrument.com.cn/activity/2010yc/voteCode.asp?ID=927][img]http://www.instrument.com.cn/ilog/pic/20100901/201091151543.jpg[/img][/url][/color][color=#f10b00]维权声明：本文为[/color][size=4][url=http://www.instrument.com.cn/ilog/zwyu]zwyu[/url][/size][color=#f10b00]原创作品，本作者与仪器信息网是该作品合法使用者，该作品暂不对外授权转载。其他任何网站、组织、单位或个人等将该作品在本站以外的任何媒体任何形式出现的，均属侵权违法行为，我们将追究法律责任。[/color]==============================zwyu的分割线======================================zwyu红外课堂开讲啦！来签到先。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008121218_236182_1645275_3.jpg[/img]==============================zwyu的分割线======================================[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061321_234685_1645275_3.jpg[/img]魔镜魔镜我问你。。。[flash=400,55]http://cd04.static.jango.com/music/00/29/18/0029182925.mp3[/flash]==============================zwyu的分割线======================================镜面反射对红外光谱来说，一直好像很神秘的样子。那么，红外镜面反射到底都有哪些应用呢？我从无所不知的“魔镜”那里得到了答案，且听我一一道来。==============================zwyu的分割线======================================[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061415_234721_1645275_3.gif[/img][size=2]Tips：反射有多种形式，有镜面反射，有漫反射，有内反射。今天咱们只谈发生在平滑表面的镜面反射。[/size][size=3]==============================zwyu的分割线======================================[/size]前言[/font][font=Arial][/font][/size][size=3][font=宋体]光从任何平滑材料表面反射，反射角等于入射角，这种反射称为镜面反射。在红外光谱分析中，镜面反射又有三种常见的典型应用，即全镜面反射（[/font][font=Arial]Fresnel reflection[/font][font=宋体]）、透射反射（[/font][font=Arial]transflection[/font][font=宋体]）和掠角反射（[/font][font=Arial]grazing incidence reflection[/font][/size][font=宋体][size=3]）。本文将分别对这三种情况做简单的介绍。[/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061233_234657_1645275_3.jpg[/img][/font][font=宋体][/font][size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线======================================[/font][/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061245_234661_1645275_3.jpg[/img]30度角镜反射附件[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061326_234686_1645275_3.jpg[/img]30度角镜反射典型光路[size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线======================================[/font][/size][size=3][font=Arial]1. [/font][font=宋体]全镜面反射[/font][font=Arial][/font][/size][size=3][font=宋体]对有一定厚度的块、片状材料，如半导体材料、塑料片、单晶等，可能由于或太厚，或太硬等原因而不适合用透射、[/font][font=Arial]ATR[/font][font=宋体]等常规方法测量时，可以考虑采用镜反射方法。对聚合物等大多数有机分子，此时测到的原始光谱在吸收谱带处会表现出“微分特性”，要经过[/font][font=Arial]Kramers–Kronig[/font][font=宋体]变换处理之后才和通常透射测量得到的光谱相似。[/font][/size][font=Arial][/font][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061235_234660_1645275_3.jpg[/img][size=3][font=宋体]上图中[/font][font=Arial]PMMA[/font][font=宋体]（有机玻璃）材料的原始光谱在吸收峰（如[/font][font=Arial]1720cm[/font][font=Arial]-1[/font][font=宋体]）附近有剧烈的变化，类似“微分光谱”的形状；用红外光谱仪[/font][font=宋体]软件的“[/font][font=Arial]K-K[/font][font=宋体]变换”功能处理后，光谱形状变的与平常的透射光谱很接近，更便于理解和后续数据处理。[/font][font=Arial][/font][/size][font=宋体][size=3]在实际使用中，较为理想的全镜面反射样品应有较为光滑平整的前表面（必要时可抛光处理）；相对粗糙、没有高反射背衬的后表面（必要时可打毛处理）；有一定的厚度（不要太薄）；内部均匀（如内部的某些填料非常容易引入漫反射的干扰）。实测时尽量采用近法线（小角度）入射以减小光偏振可能引入的不确定性。[/size][/font][font=Arial][size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线======================================[/font][/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061415_234721_1645275_3.gif[/img]Tips：对自立薄膜，会由于在后表面也发生反射而与前表面反射形成干涉，这也提供了一种测膜厚的方法。若不想有干涉，可将后表面打毛，或成斜面，或干脆加高反射镜面成为透射反射。[size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线======================================[/font][/size][/font][size=3][font=Arial]2. [/font][font=宋体]透射反射[/font][font=Arial][/font][/size][size=3][font=宋体]对于高反射基质（如金属）上的薄膜、镀层等，如果该薄膜层的厚度大于等于入射光的波长时（通常膜厚在[/font][font=Arial]0.5~20μm[/font][font=宋体]），则所得到的镜反射光谱与该薄膜层材料的透射光谱很相似，并且吸收峰的强度几乎大了一倍，对材质的定性分析很有用。而且，相比[/font][font=Arial]ATR[/font][font=宋体]技术（单反射[/font][font=Arial]ATR[/font][font=宋体]的典型透射深度在[/font][font=Arial]0.5~5μm[/font][font=宋体]），镜反射光谱能提供更多的材料内层信息。[/font][/size][font=Arial][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061255_234676_1645275_3.jpg[/img][/font][size=3][font=宋体]上图是某种果汁饮料包装盒的镜反射光谱与[/font][font=Arial]ATR[/font][font=宋体]光谱的比较。显然，用镜反射得到的光谱中材料的吸收更强（图中情况下，[/font][font=Arial]2916cm[/font][font=Arial]-1[/font][font=宋体]和[/font][font=Arial]2916cm[/font][font=Arial]-1[/font][font=宋体]的两个强吸收峰已经因为吸收过强而发生谱带展宽变形）；并且，在镜反射光谱中看到了[/font][font=Arial]ATR[/font][font=宋体]光谱中没能反映出来的内层材料的信息（如[/font][font=Arial]1703cm[/font][font=Arial]-1[/font][font=宋体]出的吸收峰）。[/font][font=Arial][/font][/size][size=3][font=宋体]定量分析时，对透射反射光谱最关心的其实是从后表面高反射层反射回来的部分（这部分光相当于在薄膜层中做了往返两次穿透的透射光谱），而不是直接从前表面反射的部分（这部分光类似全镜面反射光谱），后者光谱会在吸收带处发生变形，从而使透射反射光谱偏离[/font][font=Arial]Lambert-Beer[/font][font=宋体]定律，引起定量误差。应该选择在该薄膜层材料的[/font][font=Arial]Brewster[/font][font=宋体]角下，用[/font][font=Arial]p[/font][font=宋体]偏振光（电矢量与入射面平行）入射（此时前表面反射接近为零），以最小化前表面的干扰（见下图，经过优化后，镜反射光谱与透射光谱几乎一致）。[/font][/size][font=Arial][/font][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061256_234678_1645275_3.jpg[/img][size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线======================================[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/08/201008061415_234721_1645275_3.gif[/img][size=2]Tips：很多时候，全镜面反射和透射反射成分往往同时存在。我们只能根据需要达到的实验目的，选择性的“强化”某一成分的比例，同时减小另一组分对测量结果的干扰。[/size][/font][/size][size=3][font=宋体]==============================zwyu的分割线====================================== [url=http://www.instrument.com.cn/activity/2010yc/voteCode.asp?ID=927][img]http://www.instrument.com.cn/ilog/pic/20100901/201091151543.jpg[/img][/url][/font][/size]

现在在用PE的lambda 750S 紫外可见分光计，平常不是很熟悉，我主要做拉曼。现需要测试银纳米薄膜的多角度反射谱（银纳米薄膜贴在玻璃基片上）， 手头有两个附件，5度反射附件（图1）和一个可变角度的反射附件（15度到90度，图二），包含一个铝镜。 现遇到四个问题：1）我认为这两个都是相对反射附件，参比光路不需要放任何东西，不知对不对？2）我看了一个关于lambda 950的PPT，上面写道“1. 在样品位置放反射标准做自动调零 2.扫描样品 3.将测量结果与标准的反射率值相乘,得到真实的反射率 ”这句话有几个地方不懂，一是这个反射标准是铝镜么？二是如果只关心相对反射率，测量的结果是否可以直接用，不用“测量结果与标准的反射率值相乘”？三是自动调零是否就是做基线，二者有区别么？3）测得的光谱总是在850附近有突变，我知道这可能是换光源或换光栅，但是别人的图上多数没有这个，需要后期处理掉么？多数用什么软件？别家的仪器也有这个问题么？4）多角度反射谱测量时，由于没有偏振片，是否测量的结果在大角度时差的比较多？用上偏振片，是否能准确说明不同偏振光的多角度的反射谱。很抱歉，提了这么多问题，但是真的很想弄懂这些问题，谢谢了。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203131826_354409_2166985_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/03/201203131827_354410_2166985_3.jpg

[color=#990000]摘要：本文针对航天器尺寸高稳定性复合材料桁架结构的热变形测试，从样品的热膨胀系数测试到桁架全场大尺寸热变形测试，全方位提出了相应的解决方案。特别针对激光干涉法在大气环境下的高精度热变形测量，介绍了上海依阳公司开展的方案性试验结果，证明了激光干涉法完全可以用于大气环境下的位移测量，尽管测量精度有所降低，但完全可以满足百纳米量级的全场热变形测量，同时也证明了此方案的可行性，为打通整个技术路线奠定了基础。　　[/color][color=#990000]关键词：尺寸稳定性,桁架,激光干涉法,热变形,热膨胀系数,航天器[/color][align=center][img=,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232018598367_8587_3384_3.jpg!w690x387.jpg[/img][/align][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][color=#990000][b]1. 引言[/b][/color]　　从目前公开报道的相关文献来看，国内在航天器尺寸高稳定性复合材料桁架结构热变形测量方面还刚刚起步，还没找到有效可行的测试技术方向和手段，而对于尺寸高稳定性复合材料桁架的热变形测试，需要满足以下几方面的要求：　　（1）为长期控制结构在轨期间的变形，除需测量材料的热膨胀系数之外，还需测量材料的湿热膨胀系数。　　（2）为进一步降低复合材料的热膨胀系数，并获得超稳定的结构，还需深入研究复合材料的铺层设计、热膨胀系数的预测方法，同时提高样品级别的热膨胀系数测量准确性，要具备测量热膨胀系数1~5×10-8/K范围的能力。　　（3）为进一步提高复合材料桁架结构整体变形测量的准确性、减小测量不确定度，需具备模拟空间环境的真空（低气压）条件下的原位测量能力，利用真空环境消除或减弱热对流所带来的不确定度。更准确的说，要对大尺寸桁架结构0.1 um的总变形量要有准确的测试能力。　　本文针对上述要求，从样品的热膨胀系数测试到桁架全场大尺寸热变形测试，全方位提出了相应的解决方案。特别针对激光干涉法在大气环境下的高精度热变形测量，介绍了上海依阳公司开展的方案性试验结果，证明了激光干涉法完全可以用于大气环境下的位移测量，尽管测量精度有所降低，但完全可以满足百纳米量级的全场热变形测量。同时也证明了此方案的可行性，为打通整个技术路线奠定了基础。[b][color=#990000]2. 技术方案[/color][/b]　　技术方案主要针对材料样品和整体桁架两个尺度级别的测试进行设计。样品级别的热膨胀和湿膨胀系数测试还采用顶杆法，整体桁架的热变形和热膨胀系数采用目前位移测量精度最高的激光干涉法，并实现激光干涉法既可以在大气环境下又可以在真空环境下进行测量。整体技术方案如图2-1所示。[align=center][img=,500,354]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232024059437_8538_3384_3.png!w690x489.jpg[/img][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图2-1 热变形测试技术方案框图[/color][/align][color=#990000]2.1. 顶杆法高精度热膨胀系数测试方案[/color]　　为了实现样品级别的高精度-8量级热膨胀系数测量，测试方案包括以下几方面的内容：　　（1）采用传统顶杆法进行样品级别的热膨胀系数测量，顶杆的作用是将样品的尺寸变化传递出来，而不是非接触式激光干涉法直接对镜面样品表面进行测量。选择顶杆法的目的是降低样品制作难度和测量光路的调整难度。　　（2）顶杆法超低热膨胀系数测量装置放置在放置在大气环境中，由此在实现变温测量的同时，还可以进行变湿测量。另外，在大气环境下样品的辐射加热速度要比真空条件下快很多，这使得大气环境下的测试效率远高于真空条件下的测试。　　（3）普通热膨胀仪中的顶杆材料一般选用的是热膨胀系数为5.3×10-7/K的熔融石英，这限制了顶杆法热膨胀仪的测试能力。在±50℃范围内，可选用热膨胀系数小于1×10-8/K零膨胀材料，并结合基线修正，可使顶杆法具有非常高的测量精度。　　（4）在±50℃范围内，样品温度的热电偶测温传感器和电加热控制方式很容易造成将近1℃的测量不确定度，室温附近热物理性能测试的最大误差源往往都是温度项。为此选用高精度的液体循环浴加热方式和热敏电阻温度传感器，可大幅度降低温度项误差。　　（5）热膨胀测试中的位移传感器直接选用绝对测量的激光干涉仪，这样可以保证几个纳米的测量精度（不是分辨率）。　　（6）在超低热膨胀系数测试中，位移传感器随环境温度变化所带来的影响非常明显，所有高精度的位移传感器都有温漂指标。为此，要对位移传感器采取恒温措施，根据不同位移传感器的温漂指标确定传感器环境温度的稳定性和恒温手段。[color=#990000]2.2. 激光干涉法全场测试方案[/color]　　为了实现尺寸高稳定性复合材料桁架结构的全场热变形测量，如图2-1所示，测试方案选择采用激光干涉测试技术，这主要是基于以下几方面原因：　　（1）激光干涉测试技术是目前工程应用中测量精度最高的成熟技术，由于是基于波长长度的测量，所以激光干涉法是一种绝对测试方法，比较容易实现几个纳米的位移测量精度。　　（2）目前成熟的激光干涉测试技术，既可以测量热变形位移，又同时可以测量角度变化，非常适合桁架结构的全场热变形测量。　　（3）目前成熟的激光干涉测试技术已经解决了以往激光干涉法测量对环境振动的苛刻要求问题，不再需要特殊和昂贵的抗震减震措施，在普通实验室的一般隔振台上就可以进行高精度测量。　　激光干涉法全场测试方案是基于真空条件下的全场热变形测试，整个测试系统主要由真空系统、试验系统和测量系统三部分组成，整个测试系统放置在气浮隔振台上，如图2-2所示。[align=center][img=,690,274]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232024226897_8935_3384_3.png!w690x274.jpg[/img][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图2-2 真空型激光干涉法桁架全场热变形测试系统结构示意图[/color][/align]　　在实际测试过程中，根据被测对象情况，将激光干涉仪的分布位置设计为双端和单端测量布局两种形式。　　双端测量布局形式如图2-3所示。[align=center][color=#990000][img=,690,246]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232137181177_6207_3384_3.png!w690x246.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图2-3 双端测量结构示意图[/color][/align]　　双端测量布局具有以下特点：　　（1）光程差小，两端反射镜平行度要求不高，有利于保证测量精度。　　（2）多通道测量和扩展成本高，两台干涉仪只能测量一个试样。　　单端测量布局形式如图2-4所示。[align=center][color=#990000][img=,690,439]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232137381187_8450_3384_3.png!w690x439.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图2-4 单端测量结构示意图[/color][/align]　　单端测量布局具有以下特点：　　（1）光程差大（试件长度），两反射镜平行度要求高，可能会带来一定误差。　　（2）优点是便于今后多通道测量和扩展，一台激光器可带三台干涉仪进行三个试件测量。　　（3）关键是可以进行空载测量，确定系统误差。　　总之，对于尺寸高稳定性复合材料桁架结构的热变形高精度测量，采用真空型激光干涉法基本是国际上的主流测试方法，而且基本都是采用上述单端测量结构形式，由此可实现模拟空间真空环境的航天器桁架的原位热变形准确测量。　　尽管真空型激光干涉法可以实现很高精度的热变形原位测量，且非常适合航天器桁架结构的整体性能评价和考核，但在实际应用中还存在以下几方面的不足：　　（1）为满足庞大尺寸的航天飞行器桁架结构热变形测试，需要将整个桁架结构件完整放置在相应庞大的真空腔体内，并需要对真空腔体的光学窗口和真空度进行长时间的精确控制，以消除真空度变化带来的一系列影响，这使得整个测试系统非常复杂和造价昂贵。　　（2）在真空环境下热传递速度很慢，桁架的整体加热和控温方式很容易造成温度不均匀，而且桁架温度达到稳定需要漫长的恒温时间。因此对于大尺寸桁架的热变形测试需要采用分区加热方式，这造成加热系统也非常复杂，且恒温时间同样的漫长。　　（3）真空型激光干涉法测试系统的兼容性和灵活性较弱，需要采用巨大的真空腔体才能满足各种尺寸规格桁架的热变形测试，相应的调试工作量巨大。　　综上所述，对于航天器尺寸高稳定性复合材料桁架的热变形测量，特别是对于桁架管材和整体结构的研制和考核，更大的需求是测试简便快速、覆盖广和造价低的大气环境下的激光干涉法测试系统，在测量精度上至少要比国内目前采用的数字散斑法提高1~2个数量级。[b][color=#990000]3. 大气环境下激光干涉法位移测量试验考核[/color][/b]　　在大气环境下，大气中气体的波动会造成激光波长的改变，从而影响激光干涉法测量的准确性和稳定性，且非常容易造成试验过程中断，因此绝大多数激光干涉法测量基本都是在精确真空度控制条件下进行。　　为了考核大气环境下激光干涉法测量的准确性和稳定性，采用激光干涉仪位移测量系统，并结合各种不同的实验环境和密封手段，对不同光程长度进行了测试。[color=#990000]3.1. 可行性试验装置和方法[/color]　　可行性试验装置是在一个可拆装式木箱中放入一块0.6 m左右的石英板，石英板上分别放置参考反射镜和测量反射镜，并在石英板一侧固定激光器和干涉仪，整个木箱放置在气悬浮隔振台上，整个装置结构如图3-1所示。[align=center][color=#990000][img=,690,305]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232025524053_1160_3384_3.png!w690x305.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图3-1 可行性考核试验装置结构示意图[/color][/align]　　为考核方案的可行性，设计了两种测量模式，如图3-2所示。[align=center][color=#990000][img=,690,215]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232026226487_6991_3384_3.png!w690x215.jpg[/img][/color][/align][color=#990000][/color][align=center][color=#990000]图3-2 测量模式示意图[/color][/align]　　在空载测量模式下，测量光和参考光都照射在一个平面反射镜上，这时激光干涉仪的位移测量值应为零。空载测量模式常用来考核激光干涉仪的系统测量误差，即考核各种试验环境条件对激光干涉仪位移测量的影响。　　在差分测量模式下，测量光和参考光分别照射在测量反射镜和参考反射镜上，两反射镜之间的距离变化量就代表被测物热变形大小，由此来考核大气环境下空气波动对激光干涉仪位移测量稳定性的影响。[color=#990000]3.2. 考核测试条件和结果[/color]　　为了模拟不同大气环境条件，设计了以下几种试验环境，如表3-1所示。[align=center][color=#990000]表3-1 大气环境试验条件[/color][/align][align=center][img=,690,202]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232026395370_1501_3384_3.png!w690x202.jpg[/img][/align]　　在以上测试环境条件下，分别进行空载和差分两种模式测量，每种模式下的测试持续15分钟（选择更长测试时间会受到环境温度变化带来的影响），并进行多次重复测量，计算出不同环境条件和测量模式下的测量误差平均值。测量结果如表3-2所示。[align=center][color=#990000]表3-2 考核试验结果[/color][/align][align=center][img=,690,323]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232026537688_1320_3384_3.png!w690x323.jpg[/img][/align]　　由表3-2所示的测试结果可以看出，通过增加密闭形式的木箱，可以大幅度降低空调和大气环境对测量带来的影响，在狭窄的密闭空间内，即使是大气环境下也能达到纳米量级的测量精度，由此证明了密闭容器大气环境下采用激光干涉法测量热变形技术方案的可行性。[color=#990000][b]4. 参考文献[/b][/color]　　（1）刘国青, 阮剑华, 罗文波, 白刚. 航天器高稳定结构热变形分析与试验验证方法研究. 航天器工程, 2014, 23(2):64-70.　　（2）马立, 杨凤龙, 陈维强, 齐卫红,李艳辉. 尺寸高稳定性复合材料桁架结构的研制. 航天器环境工程, 2016, 33(3).[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][align=center] [img=,690,215]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/01/201901232023218793_4119_3384_3.png!w690x215.jpg[/img][/align]

下图为一检测器光栅衍射分光的实拍图：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501280955_533330_2960432_3.png上述反射光栅的光路原理应该和下面的原理相似，但也有不同之处：http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/01/201501281105_533343_2960432_3.png图F5-1是离轴抛物镜光学系统图。光源或照明系统发出的光均匀地照亮位于离轴抛物镜焦面上的入射狭缝S1，光经过离轴抛物镜6fl平行照射到光栅G上，经光栅衍射回到M1，经反射镜M2会聚到出射狭缝S2，最后经过滤光片M3到接收元件上。由于光栅的分光作用，从出射狭缝出来的光束为单色光。当光栅转动时.使不同波长的光束经出射狭缝S2射出。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504201928_542753_2960432_3.jpg简单说，光栅是将光源射出的不同波长混合在一起的复色光分开为一个扇形分布的光谱带，狭缝的作用是只让这个扇形光谱带中的某一部分波长通过。这两个部件组合起来使用才能获得检测用的“单色光”。对于单色器的详细解读下面一贴更详细：主题：【讨论】说说大家所知道的光栅单色器 昵 称：xiejun110 网址：http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130716/4853417/index_1.shtml file:///c:/documents and settings/aaa/application data/360se6/User Data/temp/2015013102041867.png

各位前辈，大家好。我这里有一个样品，前一段时间做了x射线镜面反射曲线，但是不知道该怎么解释，查了各种资料，关于x射线镜面反射方面的资料很少，希望在这里能够得到各位前辈的指点，不胜感激。 我的样品为在蓝宝石衬底上生长的GaN基LED外延片，首先是在蓝宝石衬底上生长GaN缓冲层，然后生长1个微米左右的n型GaN，然后在生长150nm厚的InGaN/GaN超晶格结构层，然后再生长550nm左右的p型GaN。下图是在bede D1设备上做的x射线镜面反射曲线，不知道该怎么分析，希望能够得到各位前辈的不吝赐教。谢谢。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/04/200904161111_144457_1874631_3.jpg[/img]