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紫外偏振测仪

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紫外偏振测仪相关的资讯

  • 国家纳米中心在圆偏振发光材料研究中取得进展
    具有圆偏振发光性能的手性材料在三维成像、光学信息存储、不对称合成等方面颇具应用潜力,在手性科学研究中具有重要意义。手性基元在氢键、静电相互作用及π-π堆积等相互作用的协同下,可以自组装成各种各样的手性结构,表现出独特的圆偏振发光性质。而在自组装过程中,非手性基元如何参与并影响到最后的圆偏振发光性能,手性如何在组装结构中实现转移、传递和放大仍有未知。因此,如何构筑圆偏振发光材料并实现其性能提升在手性科学领域是重要的研究方向。  中国科学院国家纳米科学中心研究员段鹏飞团队在高效圆偏振发光材料的构筑和性能提升研究方面取得了新进展。利用卤键相互作用构筑了一种二维手性分形结构,实现了手性发光材料发光各项异性因子的显著提升(Angew. Chem. Ed. Int. 2021, 60, 22711-22716);在自组装手性多孔晶态材料中实现了无机纳米粒子到有机发光分子之间的辐射能量转移,并显著放大了材料的发光各项异性因子(Adv. Mater. 2021, 33, 2101797)。  卤键本质上是一种静电相互作用,关于卤键驱动的共组装体系已有报道。科研团队合成了两种含有吡啶基团的联二萘手性分子(R/S-1,R/S-2),其与1,4-二碘四氟苯(F4DIB)可以共组装,自发形成了不同形貌的二维手性分形结构。单晶结构的分析发现,晶体中吡啶基团的N原子与F4DIB中的碘原子通过卤键形成一维的超分子聚合物链,而后在π-π和C-FH的协同作用下形成最终的组装结构(图1)。由于R/S-1与F4DIB分子间相互作用更强所以形成的手性分形结构更加致密。在共组装过程中,手性由R/S-1,R/S-2分子传递给了超分子聚合物链,再经过进一步的组装从超分子聚合物链传递到手性分形结构,实现了手性的多级次放大。从基态和激发态手性光谱上也可以观察到,分形结构的手性各项异性因子相较于单分子手性信号呈现出两个数量级的放大。卤键驱动的手性自组装实现了手性从分子手性到分形结构的转移和放大,为设计、提升圆偏振发光材料性能提供了新思路。相关研究成果发表在Angew. Chem. Ed. Int.(2021, 60, 22711-22716)上。  手性多孔晶态材料具有有序的组装结构,在圆偏振发光材料的构筑和性能提升方面具有重要意义。近日,团队工作人员通过设计“Turn-on”型二芳基乙烯(DAEC)和上转换纳米粒(UCNPs)负载的手性金属有机框架复合材料,实现了紫外光、可见光、近红外光多重光源响应的圆偏振发光固态开关,并通过UCNPs到DAEC的能量转移实现了圆偏振发光的放大(图2)。  研究人员选择了一种具有一维孔道的手性镧系框架结构,将上转换纳米粒子和具有光响应性质的二芳基乙烯同时负载于手性框架结构中,通过手性诱导分别实现了二芳基乙烯和UCNPs的圆偏振发光。UCNPs上转换发光的能量可以转移至二芳基乙烯,实现二芳基乙烯的上转换圆偏振发光。该手性多孔框架结构复合物中,二芳基乙烯可以在紫外光和近红外光照射下到达关环发光态,分别表现出下转换和上转换的圆偏振发光。在可见光照射下变为开环暗态,实现圆偏振发光的“关闭”。此外,研究发现上转换的发光各项异性因子(glum)大于下转换的发光各项异性因子,可能是手性体系中的能量转移造成的,这是首次发现无机给体到有机受体能量转移实现的圆偏振发光放大。  该手性晶态多孔复合材料实现了固态下多重光响应的圆偏振发光开关,并在不同光输入的条件下的下转换和上转换过程可以实现荧光信息和圆偏振信息的多级光信号输出,在多维度光响应和输出的存储与加密方面具有重要应用价值。相关研究成果发表在Adv. Mater.(2021, 33, 2101797)上。研究工作得到国家自然科学基金、中科院战略性先导科技专项(B类)、国家重点研发计划等的支持。
  • 偏振遥感:让石油污染监测更简约快捷
    在石油的开采、炼制、贮运、使用过程中,原油和各种石油制品进入环境而造成的污染成了一个世界性的问题。因此,建立探测系统,对油田区进行监测和管理,特别是对石油污染所发生的位置、溢油量和扩散趋势等的监测尤为重要。  在国家自然科学基金、“863”计划等的资助下,东北师范大学城市与环境科学学院教授盛连喜带领的课题组以偏振度作为偏振光遥感的定量指标,在近红外波段对不同含水量和含油量的土壤进行偏振光谱测量,为今后利用偏振光遥感监测土壤石油污染的应用打下基础。这一成果发表在《科学通报》2008年第23期上。  难以避免的石油土壤污染  石油对土壤的污染主要表现为:破坏土壤的结构和透水性。石油污染物还会与土壤中有效的氮、磷、钾发生反应,破坏土壤的肥力。尽管采取了一系列措施,但在石油的生产、加工、运输各个环节,都有可能发生泄漏溢出事故,石油污染物对土壤的污染难以避免。  “石油开采时可能产生的泄漏或溢油现象造成的落地油污染,可使土壤的环境容量逐年减少 在气田开发时,钻井过程中产生废弃泥浆,如果没有泥浆坑,废弃的钻井泥浆就会被排放到土壤中,造成污染。”盛连喜说。  盛连喜解释说,如果在原油开采过程中发生井喷等事故,可能使大量石油烃类直接进入土壤。另外,石油管线和采油井的井口设备如果发生跑冒滴漏,也有一些石油泄漏到地面。石油及其产品在运输、使用和贮存过程中的渗漏、溢油现象时有发生,会造成石油烃类直接进入土壤。而石油及其产品在运输、使用和贮存过程中的渗漏、溢油现象同样会对土壤造成危害。  “当石油渗透进入土壤后,如果植物吸收了石油,会破坏植物的新陈代谢过程,或阻断植物需要的水分和养料,从而使植物死亡,植被遭到破坏。而且被石油污染物污染的土壤在几年甚至几十年内都会丧失农耕和畜牧的功能。石油还可能通过进入食物链影响人体健康。另外,油气会从地表挥发至大气,表现为油气挥发物,被太阳紫外线照射后,可能与其他有害气体发生物理化学反应,生成光化学烟雾,产生致癌物和温室效应,破坏臭氧层等。”盛连喜说。  既然污染难以杜绝,作为及时了解石油开采所在区域的环境质量状况,包括大气环境质量、水体和土壤环境质量状况,发现油气田生产中环境问题的有效手段,环境监测就变得至关重要。  “尤其是对土壤污染的监测,关系到周边地区的生态环境安全、食品安全问题,不容忽视。”盛连喜说。  大有可为的偏振遥感  目前,在石油开采区域最常用的环境监测方法是现场采样实验室分析监测,也有些地方开展了航空和遥感监测。  盛连喜指出,常规的土壤石油污染监测方法是从野外取样带回实验室分析,由于事前对污染范围及污染程度的了解有局限性,监测过程不仅费时而且耗费大量人力、物力和财力,结果却往往不够全面准确,只能对采样点局部进行评价和估量。如何对土壤石油污染范围及程度进行定量定位的测量,有效节省工作时间和经费,提高环境污染监测的准确性成为一个重要的科学问题。  在苦苦寻找解决办法的时候,电磁波的一个重要特征——偏振,引起了盛连喜的关注。  偏振在微波谱段称为极化。地球表面和大气中的目标在反射、散射、透射及发射电磁辐射的过程中,会产生由它们自身性质决定的特征偏振,即偏振特性中蕴涵着目标的各种信息。  “偏振遥感正是利用这一特征为遥感目标提供新的、潜在的信息。”盛连喜说,“与其他遥感技术比较,偏振光的特性使其在遥感中能够解决许多实际问题。使用偏振信息不仅能够更准确地定位土壤石油污染的范围和程度,并可反演相应地物目标的结构、化学成分、水分含量等多方面信息,甚至了解造成污染油井的年龄,因此具有非常广阔的应用前景。”  目前,盛连喜课题组对污染土壤偏振光遥感的监测主要研究方向是在不同湿度条件下鉴别石油种类,并进一步确定湿度条件影响的曲线临界值。重点研究土壤中受到石油污染的范围和程度,为研究土壤的石油环境容量、控制石油污染提供依据。  该课题组以吉林省松原油田原油和当地典型表层土壤为实验原料,在实验室内对4个水平的含油量、3个水平的含水量土壤样品在近红外波段进行了多角度探测模拟实验。又在室外实地测量了各种条件下的石油污染土壤与清洁土壤的偏振度值。他们发现,当土壤含水量较低时,土壤表面反射光的偏振度会随土壤中石油含量的增加而增大 当土壤含水量较高时,土壤表面反射光的偏振度会随土壤中石油含量的增加而降低。  事实上,盛连喜所在的偏振实验室已经通过几年的工作,对黄土、黑土、红土等土壤类型的基础偏振反射特性进行了测量和研究,接下来的工作是通过多因素的模拟正交实验,为更广泛地应用偏振特性进行石油的土壤污染监测提供科学依据。  盛连喜指出,不同土壤类型的临界值会因土壤有机质含量、机械组成等因素的不同而不同,对偏振光的测量带来难度。这也是他们今后工作中需要重点研究的问题。
  • 紫外高光谱大气成分探测仪等随大气环境监测卫星进入预定轨道
    4月16日2时16分,大气环境监测卫星在太原卫星发射中心成功发射。卫星上装载了中科院合肥研究院安光所自主研发的三台载荷——紫外高光谱大气成分探测仪EMI、多角度偏振成像仪DPC、高精度偏振扫描仪POSP。图片来源:新华社(郑斌摄)大气环境监测卫星是国家民用空间基础设施首批启动的综合探测卫星,由国家生态环境部牵头、中国航天科技集团有限公司八院抓总研制,是国家民用空间基础设施中长期发展规划中的科研卫星,也是世界首颗具备二氧化碳激光探测能力的卫星。它装载了包括EMI、DPC、POSP在内的五台遥感仪器,国际上首次采用了主被动结合、多手段综合的探测体制,能够大幅提升全球碳监测和大气污染监测能力。卫星在轨应用后将显著提升生态环境、气象和农业等多领域定量遥感服务能力,助力我国实现碳中和与碳达峰、生态文明建设等国家战略,推动航天强国建设。EMI仪器具有2600千米观测幅宽,最小可探测光谱波长间隔0.6纳米,通过对多种气体吸收光谱“指纹”信息的准确识别,可实现单日覆盖全球,对二氧化氮、二氧化硫、臭氧和甲醛等污染气体开展监测。DPC仪器获取的全球大气气溶胶和云的时空分布信息和POSP仪器通过穿轨扫描获取的高精度大气气溶胶参数,在国际上首次实现了DPC和POSP 的“偏振交火”探测方案,可实现对PM2.5、灰霾等颗粒物污染的定量观测,以满足全球气候变化研究、大气环境监测、遥感数据高精度大气校正等应用需求。此次合肥研究院承担的大气环境监测卫星载荷于2021年3月完成正样交付,2022年2月大气环境监测卫星试验队进入发射场以来,不辱使命,奋力攻关,圆满完成了发射前各阶段测试任务。大气环境监测卫星的成功发射和在轨应用标志着我国在大气遥感领域达到国际领先水平。载荷开机运行后,将与2021年9月发射的“高光谱观测卫星”组网运行,增加我国大气环境卫星观测频次,提高重访能力和全球覆盖能力,为我国实现减污降碳协同增效、建设美丽中国的目标提供有力支撑。
  • 液相维护小贴士:紫外检测器篇
    小伙伴们大家好,之前我们讨论了泵和进样器的维护之后,今天我们来聊聊检测器。有人说Chemistry代表Chem is try很有意思。化学的美妙在于它的无限可能性。中学化学老师曾经说过“结构决定性质,性质决定用途。”扩展到我们的分析工作中,也决定了分析手段,所有的分析都有规律可循,缘分“结构”注定!在色谱实验室中紫外检测器是必备的,70%以上的物质都可以用紫外检测器来分析,今天我们就扒一扒紫外可见检测器。一、紫外检测器的原理紫外-可见光检测器(UV-Vis Detector, UVD)是应用最广泛的检测器,遵循的原理是朗勃比尔定律。吸光度(A)=摩尔吸光度(ε)×光程(b)×浓度(c)。吸光度定义为透射率的负对数,它是透射光与入射光的强度之比。吸光度(A)= lg(1/透射率(T))。紫外检测器的灵敏度与溶剂的影响、背景吸收、示差折光效应有关,不同种类溶剂有其截止波长,溶剂的质量好坏对其截止波长有影响,溶剂质量与含紫外吸收的杂质、溶解在其中的氧气、缓冲液溶质的紫外吸收等因素有关;背景吸收减少线性范围、许多溶剂会产生背景吸收。常见结构的紫外吸收紫外可见检测器还有个Plus的兄弟——二极管阵列检测器。光电二极管矩阵检测器简称PDA(Photo-Diode Array),有的品牌也称为DAD(Diode Array Detector),一般来说,紫外检测器比DAD的灵敏度高约1倍。但DAD也有它的优势,一是可以对未知物进行波长扫描确定zui佳吸收波长,二是可以同时检测多个波长,三是可以进行峰纯度的检査。 紫外检测器与DAD的区别为:紫外检测器是光源发出的光先分光,让特定波长的光通过狭缝,这样光的强度可以调节,然后通过流通池,光束被流通池里的样品吸收,未吸收的光达到光电二极管,产生电流变化,DAD光源发出的光不分光,让全波段波长的光通过狭缝,然后通过流通池,光束被流通池里的样品吸收,未吸收光被分光,各种波长的光落在不同位置的二极管上,各二极管产生电流变化。因为是后分光,所以DAD不同波长处光强度并不一致,波长分辨率也不及单波长的紫外检测器,需要通过其他手段来提高某些波长的灵敏度。二、紫外检测器的优缺点切勿用裸手触摸石英灯泡,因为在后来打开灯时指纹会不可避免地损坏灯。灯的位置在设备中精确确定,不需要进一步调整。灯更换后的组装步骤与拆卸相同,只是按相反的顺序。打开本机并点亮灯,如果没有发生错误,请关闭灯,然后进行新灯泡的校准。更换钨灯的步骤近似,感兴趣的小伙伴可以单聊。以Wisys5000为例清洗流通池窗片/更换流通池窗片污染的流通池会降低光的传输,增加噪声,很难使信号归零。最简单的清洗方法是用合适的溶剂冲洗拆除的流通池。清洗前必须从仪器取出流通池。根据污染物的特性选择互溶性系列的溶剂。它可以使用有机和无机溶剂和稀释酸溶液(如用1:10 到 1:20的稀硫酸或硝酸溶液)。此操作完成后用纯溶剂冲洗流通池。连接流通池到系统,当有液体流过时,观察是否泄漏。如果有必要更换有裂纹或受污染的窗片,或改变制备流通池的光学路径,拧下螺钉,拆下流通池盖并取出窗片和密封件。使用干燥的注射器往里推空气可以更好的移除密封的流通池窗片,不要用手触摸窗片。指纹会阻挡紫外线辐射的通道,并有可能损坏的窗片表面。将干净的窗片插入到流通池中,以便在流通池中调整所需的光路。检查垫片的完好情况 和密封件的密封面是否有窗片碎片或任何其他杂质。损坏的密封件须更换。今天的话题就扒到这里了,下期见。
  • “DNA损伤单分子偏振成像检测装置研制”项目通过验收
    12月9日,中国科学院计划财务局组织专家对生态环境研究中心汪海林研究员承担的“DNA损伤单分子偏振成像检测装置研制”项目进行现场验收。验收组专家听取了项目组的工作报告、使用报告、财务报告、测试组的测试报告,现场检查了实验装置的运行情况,审核了相关档案材料,经提问和讨论,验收专家组认为,该项目完成了任务书规定的各项任务,一致同意通过验收。  研制完成的“DNA损伤单分子偏振成像检测装置”,将高效快速分离和激光诱导荧光检测技术集成为一体,可高灵敏地检测DNA损伤产物 融入荧光偏振成像技术,可提供污染物引起DNA损伤的分子转动和构象等动态信息。  该装置为阐明环境暴露引起的DNA损伤的分子识别、修复及突变机制等环境健康风险评估研究提供了新颖的分析平台,在提高人们的健康卫生水平方面也具有潜在的应用价值。
  • 讲座:紫外可见近红外分光光度计在材料分析中的最新应用和通用技巧
    紫外-可见-近红外分光光度计是分析光学材料的主要工具。材料样品形状各异(如薄膜、透镜、小尺寸、大尺寸等),测量要求多变(透过、反射、角度、偏振等),对分光光度计有很高的要求。作为世界一流的光谱仪器制造商,日立高新技术公司高度关注此方面,在此为大家介绍光学材料领域的最新应用和解决方案。   在3月24日上午10:00-12:00的网络讲堂上,我们将以“日立紫外可见近红外分光光度计在材料分析中的最新应用和通用技巧”为主题,给大家介绍镀膜材料、偏振片、棱镜、遮热涂料等典型样品的应用实例,对光学性能分析常见的问题,分析原因并提供测量建议,期待大家的参与!? 报名网址:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/1791关于日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计,请点击:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C185793.htm 关于日立高新技术公司: 日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/
  • 深紫外激光二极管室温下发射连续波
    由2014年诺贝尔物理学奖获得者、日本名古屋大学材料与系统可持续发展研究所的天野弘领导的一个研究小组,与旭化成株式会社合作,成功地对深紫外激光二极管(波长低至UV-C区)进行了世界上第一个室温连续波激光发射。研究结果近日发表在《应用物理快报》上,代表这项技术朝着广泛应用迈出了一步。  从2017年开始,天野弘研究小组与提供2英寸氮化铝基板的旭化成公司合作,开始开发深紫外激光二极管。起初,向该装置注入足够的电流太困难,阻碍了紫外可见(UV-C)激光二极管的进一步发展。  2019年,天野弘的研究小组使用偏振诱导掺杂技术解决了上述问题,首次制造了一种短波长的UV-C半导体激光器,它可以在短脉冲电流下工作。这些电流脉冲所需的输入功率为5.2W,这对于连续波激光来说太高了,因为功率会导致二极管迅速升温并使激光停止。  研究人员此次重塑了设备本身的结构,将激光器在室温下运行所需的驱动功率降低至仅1.1W。研究人员发现,强晶体应变会阻碍有效电流路径。通过巧妙地剪裁激光条纹的侧壁,他们克服了缺陷,实现了流向激光二极管有源区的高效电流,并降低了工作功率。  这项研究是半导体激光器在所有波长范围内实际应用和发展的一个里程碑。未来,UV-C激光二极管可应用于医疗保健、病毒检测、颗粒物测量、气体分析和高清晰度激光处理,尤其有利于需要消毒手术室和自来水的外科医生和护士们。
  • 黑洞追踪者:伽马暴偏振探测仪
    在宇宙深处,像黑洞这样的神秘天体一直吸引着大量的天文学家和天文爱好者的目光,但是目前能够很好观测这种星体的手段并不多。  而天宫二号空间实验室携带的一台天文观测设备,就有可能在这一领域获得突破,它就是伽马暴偏振探测仪。  这台设备叫做伽马射线暴偏振探测仪,它的任务是对宇宙当中的伽马射线暴进行探测。在宇宙中,只有温度极高、密度极高、磁场极强的星体里,才可能产生这种射线,因此它的存在可能就是黑洞留下的痕迹。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:因为伽马射线暴,伽马射线的产生,是从极端相对论性的喷流里面产生的,这种极端相对论性的喷流,它的速度接近光速,这是在黑洞附近,或者是在中子星附近,极端的引力场里面所产生出来的。  在过去,对伽马射线的测量只能测到它的能量,方向,和时间等信息,但是这一次,天宫二号要从全新的领域来探寻这种宇宙中的神秘射线,这就是伽马射线的偏振信息。那么什么是偏振呢?这其实是电磁波,也就是光的一种特性。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:如果我们到海边,我们看到海面,白茫茫的一片,因为从海面来的这种光的偏振的,如果戴上偏振的镜子之后,我们就能够看到海面上的波浪,看得比较清楚。  同样伽马射线的偏振特性里,也记录了产生它的星体的结构甚至磁场的形态信息。解读这些信息,很可能让我们对黑洞有新的认识。所以天宫二号携带的这台伽马射线偏振探测仪就是要以独特的设计,对伽马暴的偏振性质进行系统性地高精度测量,填补这个国际天文研究的空白。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:它是一种特殊的天文望远镜,它实际上是由1600个,对伽马射线光子敏感的器件组成的,通过分析伽马射线在这1600个敏感器件上的信号分布,我们最终来推算伽马射线的偏振性质。  为了打造这个探索宇宙秘密的特殊望远镜,来自瑞士和波兰的科学家也参与到了它的研制当中,这也成了天宫二号上所携带的唯一一台国际合作的科学设备,因此,全世界的科学家都在对这次任务充满期待。  伽马暴偏振探测仪首席科学家 张双南研究员:我们希望这台仪器设计的灵敏度比国际上已有的,专门用于伽马射线暴偏振的仪器的灵敏度提高至少十倍,所以无论是从它的灵敏度和它的精度两方面来讲我们这个仪器都是最好的。
  • 日立高新UH4150 紫外/可见/近红外分光光度计发售
    [导读] 本次所开发的UH4150 紫外/可见/近红外分光光度计(以下简称UH4150)具有高度的可靠性、更高的样品通量以及方便的操作性(图1)。下面将简单介绍UH4150的特点。 日立高新技术公司于2013年9月2日发布了UH4150 紫外/可见/近红外分光光度计。 紫外可见分光光度计是一种使用棱镜和衍射光栅,将白光分解成单色光,照射在样品上,通过对透过的光进行检测,来对物质进行鉴定和计算浓度的装置,广泛用于材料、环保、制药和生物等领域。 U-4100紫外/可见/近红外分光光度计可实现足以令&ldquo 著名日立光度计品牌&rdquo 自豪的精度,对于在实际固体样品检测方面需要高质量数据的用户,例如半导体开发、光学样品和新材料领域的用户而言,是最佳的选择。UH4150在秉承U-4100的高度可靠性的同时,提供更高通量的测定,技术更加先进(图1)。下面将简单介绍UH4150的特点。 图1. UH4150的外观UH4150的特点: (1)切换检测器波长时UH4150可实现高精度的测定。 安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等,将检测器切换时(信号水平的差异)吸光度值的变化降到最小。检测器切换时附近波长测定数据例(金纳米棒的吸收光谱)(2)日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统,可实现低杂散光和低偏振。 UH4150采用棱镜-光栅(P-G)双单色器的光学系统,秉承U-4100光学系统的特点。棱镜-光栅(P-G)系统与常见的光栅-光栅(G-G)系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品,UH4150也可实现低噪音测定。镜面反射率测定示例(3)平行光束可实现反射光和散射光的精确测定。 入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束,由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同,因此,像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。 但对于平行光束,相对于样品入射角始终相同,实现了高精度镜面反射率的测定。此外,平行光束可用于扩散率(雾度)的评价和透镜透过率的测定。(4)可提供适合不同测定目的的多种检测器。 可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。检测器产品线(5)采用全新人体工学设计。 改进样品室门,提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作,采用了符合人体工学的设计。 (6)兼容多种U-4100附件。 通用附件适用于两种型号,U-4100型附件也可用在UH4150型,由于附件可拆卸,适合更多的测定类型。 (7)比U-4100型更高的样品通量。 在秉承U-4100型光学系统高性能的同时,UH4150提供更高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时,扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定,显著缩短测定时间。UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品,如太阳能反射材料,尤其有效。 扫描速度为600 nm/min的太阳能反射材料的反射光谱 扫描速度为1,200 nm/min的 太阳能反射材料的反射光谱 关于此产品的更多信息请参考:http://www.hitachi-hitec.com/global/cn/zh/science/uv_vis/uh4150.html   关于日立高新技术公司:  日立高新技术公司是一家全球雇员超过10,000人,有百余处经营网点的跨国公司。企业发展目标是&ldquo 成为独步全球的高新技术和解决方案提供商&rdquo ,即兼有掌握最先进技术水准的开发、设计、制造能力和满足企业不同需求的解决方案提供商身份的综合性高新技术公司。日立高新技术公司的生命科学系统本部,通过提供高端的科学仪器,提高了分析技术和工作效率,有力推进了生命科学领域的研究开发。我们衷心地希望通过所有的努力,为实现人类光明的未来贡献力量。更多信息请关注日立高新技术公司网站:http://www.hitachi-hitec.cn
  • 安光所承担的“多角度偏振成像仪”项目通过验收
    2月25日,中科院合肥物质科学研究院安光所光学遥感中心牵头承担的民用航天技术预先研究项目“多角度偏振成像仪”通过了专家验收。专家组认为,该项技术将大力推动我国卫星载荷新技术的发展。  多角度偏振成像仪项目组针对全球大气环境及气候变化研究、高精度定量化遥感大气校正等需求,应用多角度偏振探测技术,突破大气气溶胶高精度卫星遥感关键技术,完成了工程化设计的多角度偏振成像仪原理样机,搭建了多角度成像仪的实验室辐射/偏振/几何定标系统。样机主要性能指标均达到或接近国际同类型载荷水平,其研究成果涵盖了欧美两大技术路线的技术特点。  验收会上,专家组一致认为项目组瞄准国际上全球大气环境及气候变迁研究的技术前沿,多年来致力于发展偏振遥感技术,积极开展大气多角度偏振卫星遥感技术研究,在大气气溶胶高精度卫星遥感探测技术、实验室偏振定标技术、大气多角度偏振信息反演技术等方面取得了一系列重要成果。  该项目是中科院安光所牵头承担并顺利完成的第一个民用航天项目,5年多的研究除取得了一些科研成果外,也为安光所锻炼培养了一个年轻、富有朝气的航天有效载荷工程承研技术团队,为其在“十二五”承担航天载荷型号任务打下了良好的技术及人才基础。
  • 科学家研制出稳定且双折射可调的深紫外液晶光调制器
    近日,中国科学院院士、中科院深圳先进技术研究院碳中和技术研究所(筹)所长成会明与副研究员丁宝福团队,联合清华大学深圳国际研究生院教授刘碧录团队、中科院半导体研究所研究员魏大海团队,首次发现了二维六方氮化硼(h-BN)液晶具有巨磁光效应,其磁光克顿-穆顿效应高出传统深紫外双折射介质近5个数量级,进而研制出稳定工作在深紫外日盲区的透射式液晶光调制器。   双折射是引起偏振光相位延迟的一个基本光学参数。有机液晶因双折射可受外场连续调制,而被广泛用作光调制器的核心材料。然而,传统有机液晶在深紫外光照射下吸收强且不稳定,液晶光调制器仅能工作在可见及部分红外光波段,无法工作在紫外及深紫外波段。同时,透射式深紫外光调制器在紫外医学成像、半导体光刻加工、日盲区光通讯等领域颇具应用前景。因此,发展一种在深紫外光谱区稳定、透明度高及具有场致双折射效应的新型液晶材料,有望推进透射式深紫外液晶光调制器的发展。   科研团队研制出一种基于二维六方氮化硼无机液晶的磁光调制器。研究采用的氮化硼二维材料具有极大的光学各向异性因子(6.5 × 10-12C2J-1m-1)、巨比磁光克顿-穆顿系数(8.0 × 106T-2m-1)、高循环工作稳定性(270次循环工作后性能保留率达99.7%)和超宽带隙等优点,同时二维六方氮化硼是通过“自上而下”的高粘度纯溶剂辅助研磨法剥离制备而成。由于超宽的带隙,二维六方氮化硼液晶在可见、紫外和部分深紫外光谱区具有颇高透明度。在磁场作用下,基于二维六方氮化硼液晶的磁光器件在正交偏振片下呈现出明显的磁控光开关效应。   科研人员通过观察入射光偏振态与磁场作用下液晶透射率关系的实验揭示了二维六方氮化硼在外场作用下顺磁场的排布方式。在入射光的偏振态被调整为平行和垂直于磁场的两种状态下,后者呈现较高的光透射率,间接印证了二维六方氮化硼纳米片平行于磁场方向排布。该研究针对层状二维六方氮化硼薄膜的磁化率各向异性测试揭示了面内易磁化方向,进一步证实了二维六方氮化硼纳米片顺磁场排布的物理机制。结合二维氮化硼纳米片的极大的光学各向异性,研究发现了二维六方氮化硼液晶的巨磁致双折射效应。   该研究选用波长处于深紫外UV-C日盲区的266 nm激光,测试二维氮化硼液晶在该光谱区的光学调制性能。通过开启和关闭0.8特斯拉的磁场,研究实现了该调制器在深紫外光波段的透明与不透明两种状态之间的切换。经过270个不间断开关循环测试后,性能的保持率达99.7%。   鉴于二维材料家族成员庞大、带隙覆盖宽,基于无机超宽带隙二维材料液晶的光调制器的光谱覆盖范围有望向更短深紫外波段延伸,促进液晶光调制器在深紫外光刻、高密度数据存储、深紫外光通讯和生物医疗成像重要领域的应用。   相关研究成果以Magnetically tunable and stable deep-ultraviolet birefringent optics using two-dimensional hexagonal boron nitride为题,发表在Nature Nanotechnology上。研究工作得到国家自然科学基金、科技部、广东省科学技术厅、深圳市科技创新委员会等的支持。六方氮化硼无机二维液晶及其磁控光开关效应 六方氮化硼无机二维液晶的磁致排列和磁致双折射效应表征基于六方氮化硼无机二维液晶的深紫外光调制器性能研究及对比
  • HORIBA |“光谱技术在半导体领域中的应用”Q&A集锦——拉曼、椭圆偏振、光学光谱
    10月30日HORIBA举办了2017 Optical School系列在线讲座第五场——光谱技术在半导体领域中的应用,涉及:拉曼、椭圆偏振、光学光谱和辉光放电,四种光学光谱技术,为大家带来满满的知识技能包。课上同学们积留言互动,那么针对这三种光学光谱技术,大家都有哪些疑问呢,我们一起来看一看。光学光谱1. 什么是CCD TE制冷?CCD探测器的制冷方式一般分为两种:热电制冷(TE)和液氮制冷(LN2)。热电制冷就是通过帕尔贴效应,将热量从芯片带走;液氮制冷是通过液氮气化吸收热量来降低温度。2. 5K和10K的低温是怎么实现的。采用低温恒温器,闭循环低温恒温器或消耗液氦型低温恒温器可以实现5K和10K的低温,将样品放置在低温恒温器中测量。3. PL Mapping测量的是什么?相对宏观测试而言,微观尺寸的光致发光光谱更能表征样品的性质,并且能够展现更多的细节信息,在进行显微测量时,我们对整个样品表面进行扫描,得到所有测量点的光致发光光谱,这个过程称为Mapping。4. MicOS的PL和拉曼光谱仪测试的PL谱是一样的吗?原理上是一样的,都属于光致发光光谱,区别在于:MicOS光谱仪所采用的光谱仪焦距长度跟拉曼光谱仪不一样,光谱分辨率也不一样;拉曼光谱仪主要是为了拉曼测试而设计,它的探测器CCD通常覆盖到1000nm左右,有些型号的拉曼光谱仪不能拓展光谱范围到近红外波段,而MicOS可以灵活方便地拓展光谱范围从紫外到近红外(200-1600nm)。5. 激光测试固体光谱时需要滤光片吗?推荐加滤光片,因为激发激光的能量很强,激发样品的同时,部分激发光会通过反射与信号光一起进入探测系统,可能产生杂散光,为了避免干扰,建议加入滤光片将激发光滤除。因为信号光能量较低,波长比激发光长,所以只需要加入截止波长在激发光和信号光之间的滤光片即可。此外,如果激发光的二级衍射光与信号光波长重叠的话,那么也需要加入滤光片将激发光波长滤除从而消除激发光的二级衍射光。6. 这里的PL发光和寿命测量与荧光光谱仪测得荧光光谱和寿命有什么区别?荧光也是一种光致发光,但是荧光光谱仪通常用氙灯作为激发光源,能量比较低,对于宽带隙材料可能无能为力,定制化光致发光系统用激光作为激发光源,可以成功激发大部分样品。此处提到的寿命测试功能与HORIBA荧光光谱仪的寿命功能原理相同,并无区别,不过MicOS中测量荧光寿命是在显微下测量的,而荧光光谱仪通常是在宏观光路中测量的。7. 使用光纤导入光谱仪(iHR550)时,狭缝的宽度对分辨率还会有影响吗?采用光纤导入信号光到iHR550光谱仪时,一般会采用光纤适配器将光纤连接到光谱仪,此时狭缝宽度对光谱分辨率的影响需要分两种情况讨论:(1)如果光纤出来的信号光光斑通过光纤适配器耦合到光谱仪狭缝上是小于狭缝宽度,那么狭缝宽度的变化对光谱分辨率无影响;(2)如果光纤出来的信号光光斑通过光纤适配器耦合到光谱仪狭缝上是大于狭缝宽度,那么狭缝宽度的变化对光谱分辨率有影响,狭缝越大分光谱分辨率越低。8. 光栅的刻线密度怎么去选择?光栅刻线密度的选择主要考虑两个因素:分辨率和光谱范围。相同焦长光谱仪配置的光栅刻线密度越高,光谱分辨率越高,但是所能使用的长波长范围越窄;光栅刻线密度越低,光谱分辨率越低,但是低刻线密度光栅能覆盖的长波长越长;所以要综合平衡考虑,一块光栅覆盖范围不够可以选择多块光栅以拓展光谱范围。9. MicOS激光照射到样品上的光强和光斑大小?MicOS的激光光斑照射到样品上的光强与所采用的激光器功率大小相关,所采用激光器功率越高照射到样品的光强越大。激光照射到样品的光斑大小与耦合方式(光纤耦合还是自由光路耦合)以及所采用的物镜倍率相关,如采用100倍物镜,采用光纤耦合激光,光斑小于10um;采用自由光路耦合激光,光斑小于2um。拉曼光谱1. 用532nm激光测试的深度为多少?(实验中测试不到厚度为100nm薄膜的Raman光谱)总体来说,入射深度与激光器的波长和材料本身消光系数相关。激光越偏红光,其入射深度越深;消光系数越小,入射深度越深。所以,532 nm针对不同材料的入射深度不一样,一般来说,对单晶硅的入射深度约为1微米。厚度不到100 nm的薄膜需要考虑使用325 nm激光器检测。2. 老师,实际测试比如石墨烯,532,633,785测试D,G,2D频移和相对强度都不一样,这是什么原因呢?可以考虑的原因:三个激光器是否校准好;激光器的能量是否合适,是否某一个激光能量过高将样品破坏。一般石墨烯测试,激光能量的选择建议从低到高尝试;考虑机理方面解释,激光和样品的是否有耦合效应。墨烯测试,推荐532 nm激光器。3. HORIBA提供拉曼与SEM联用的改装服务吗?我们实验室对这个比较干兴趣,想了解一下我们的电镜可不可以改装?国内和国外都有已经完成的案例。若有需求,请进一步联系!4. 我们处理拉曼光谱的时候有时候要使用归一化的方法,这个对结果分析会有影响吗?归一化一般不会对结果分析产生影响。归一化操作是对光谱中所有的拉曼峰等比例的放大和缩小,不会影响峰的位置和形状。若还有担心,可以考虑提高光谱的信噪比。5. 半高宽和强度是怎么成像的?若使用的是Labspec 6软件,至少有两种成像方法可以实现半高宽和强度成像。夹峰法:用线夹住需要成像的峰,在Analysis中,进入 Map characterization中选择对应的Height, area, position, width进行成像。分峰拟合法:对所需成像的峰进行分峰拟合后,直接选择各参数成像。夹峰法,目前多同时可以做三个峰的成像;分峰拟合理论上可以实现所有峰的成像。6. 如何用325nm激光器测拉曼光谱,PL和BPF这两块滤光片怎么用?使用325nm测试和其它的激光器测试类似,需要注意的是:激光器稳定半小时,软件中勾选紫外测试,使用紫外物镜,激光光斑进行聚焦。PL和BPF滤光片都是为了滤去激光器的等离子体线,PL和BPF分别针对测试PL和拉曼。7. 老师,做拉曼成像的时候勾选SWIFT,老是提示不兼容是怎么回事?可以考虑:是否工作在单窗口的模式下;成像区域的选择是否是长方形;控制盒上的开关是拨到SWIFT模式下。8. 100nm薄膜测试不到信号(532nm激发)答案见问题一。9. 老师,可不可以用显微共聚焦拉曼测重金属的浓度?重金属的浓度目前还没有用拉曼直接测试的好方法。但有间接的方法:加入指示剂,通过指示剂间接测试重金属的浓度;做成传感器(DNA/蛋白/小分子等为传感元件),以拉曼信号为输出。10. 老师您好,树脂样品532nm激光器基线上飘严重,降低hole值仍然,切换785nm后基线下飘,这个是荧光引起的吗,应如何调节或者加激光器呢?荧光背景干扰的可能性比较大。缩小Hole只能抑制荧光,不能消除荧光。建议先利用532 nm做个PL光谱看一看。降低激光能量;更换测量点;若荧光背景还是比较高,可以考虑选用紫外和更红外激光器试一试。椭圆偏振1. 请问在测试的时候起偏器不动但是检偏器旋转吗?在UVISEL系列椭偏仪中,起偏器和检偏器均保持固定,由相位调制器PEM起到调制偏振光的作用,没有机械转动的干扰,保证了仪器对椭偏角测试的高精度。2. 为什么可以测SIGe的组分?研究表明SiGe合金的含量与介电方程的实部有关,介电方程实部是通过椭偏仪分析得到的,因此在进行了大量标准样品与实部的关系推导后,可以根据未知含量样品的介电方程实部推算出合金含量。3. 要测试膜厚度,需要这个样品是透明的吗?样品可以是不透明的硅基底或透明的玻璃基底等,待测试薄膜需要是光学透明的,以便椭偏仪分析反射之后的偏振光信号。4. 不转怎么测椭偏角?UVISEL系列椭偏仪采用PEM相位调制技术,调制器虽然保持静止,但其内部光学元件的双光轴相位以50KHz高频发生变化,从而实现偏振光的调制。5. 椭偏仪的入射角是可调的吗?是固定几个值还是连接可调?入射角是连续可调的,但通常测试使用55-75度,主要与样品的布儒斯特角相近即可。例如,大多数半导体样品的布儒斯特角在70度附近,玻璃等样品在55度附近。6. 测SiGe的组分与测带隙宽度有关吗?没有7. 椭偏仪可以测不透明的样品吗?无法用肉眼判断样品是否光学透明,一般来说肉眼看到透明的样品,可透过可见光,而有些样品如SOI中的顶层硅薄膜,可见不透过,但仍然可以使用椭偏测试分析,因为其对近红外透过。8. 可以测碳纳米管吗?可以测试均匀的CNT薄膜,由于光斑大小限制不能测试单根纳米管9. 是相位调制器每变一下,收集一组光强吗?那请问相位改变一个周期内会采集多少组数据来计算psi 和delta。是的,通常8-16点HORIBA科学仪器事业部结合旗下具有近 200 多年发展历史的 Jobin Yvon 光学光谱技术,HORIBA Scientific 致力于为科研及工业用户提供先进的检测和分析工具及解决方案。如:光学光谱、分子光谱、元素分析、材料表征及表面分析等先进检测技术。今天HORIBA 的高品质科学仪器已经成为全球科研、各行业研发及质量控制的首选。
  • 珀金埃尔默发布LAMBDA 850+紫外-可见分光光度计新品
    LAMBDA 850+延续了LAMBDA家族平台经典设计,提供更快的扫描速度、更高的分辨率和灵敏度、更好的光度计精度和稳定性,在整个光谱范围内获得优异的测试性能。为达到最高程度的自动化,将一些基本的检测附件,如样品光束衰减器、起偏器和消偏器、光束遮挡器,均可在测试分析方法中直接选择,全部软件控制。完整的表征您的产品光学性能,珀金埃尔默公司给您提供全面的光学应用与测试解决方案。对于只进行紫外-可见波段测试的企业和产品来说,LAMBDA 850+就是您所需要的。LAMBDA 850+配置尖端水平的R6872无格栅PMT增管检测器,是一款专为在紫外/可见波段有高精度测试要求的用户度身定制的仪器,并有特别为专用积分球用户设置的配置。在175nm ~900 nm波段内具有优异的灵敏度,波长精度可以达到0.08nm。该仪器还可以配备一系列可控而且灵活的采样附件,包括:• 大体积双样品舱• 通用反射附件• 插入式积分球• 万能光学平台典型应用领域化妆品和防晒产品产品外观与紫外线防护能力是消费者购买时重点考虑的问题。光谱测试对于了解SPF指数、确定材料的真实颜色等是非常关键的。平板显示器在多个方面的显示性能提升需求是持续存在的。颜色、亮度、视角以及能耗都是非常重要的。光谱测试对于显示器整体性能提升是必需的。油墨,染料,颜料,涂料随着数码摄影的爆炸式增长,能够反映真实色彩而且不易褪色的油墨和染料的研制是必需的。这些材料都需要准确的光谱测试。眼镜近视眼镜、太阳眼镜和隐性眼镜的透光性能是至关重要的光学参数。配置150mm积分球是针对这一分析领域的不二之选,并具备极高性价比。特殊要求的测试应用珀金埃尔默为LAMBDA系列高性能紫外/可见分光光度计专门开发了Opthalmo meter附件(图1),该附件为LAMBDA系列高性能紫外/可见分光光度计独有的Q-COM快速可拔插切换光学台模块式附件(图1),同时,附件包含了定制的符合标准规定的可装满盐溶液和接触镜片的湿式多样品架和积分球,可以自动、快速地进行大批量合规样品测试。针对样品量不大,但预算有限的用户,参照Opthalmo meter附件的设计和国标的要求,珀金埃尔默公司同时开发了在150mm积分球上加装接触镜测试套件的测试方案(图2),该方案使用垂直放置的湿式单样品池,便于样品量不大,或者有通用性测试需求的用户灵活地测试单个样品。通过配备的UV WinLab软件,可直接一步得到符合标准要求的光透过率、平均透过率以及校正后的透过率等各项参数。LAMBDA独特附件设计150mm 积分球光学聚四氟乙烯涂层,涂层在可见区的反射率优于99%,长期使用不发黄变性,光学性能稳定;内径150mm.包含光阱,可直接测量漫反射和剩余反射;150mm积分球为ASTM和国际CIE推荐色度测量时采用附件。与150mm积分球配套的聚焦附件小样品聚焦附件可以把光束聚焦到1mm左右,大大提高小样品的透过、反射和吸收的测试准确度。6? 度角镜面反射附件6度角镜面反射附件俗称“剩余反射附件”,是防反膜测试的利器。通用反射附件作为绝对反射率高灵敏度测试的一个突破,通过自动改变样品角度,我们独特的,专利设计的通用反射附件(URA)极大地改善了传统的测试方法。以前,多角度测试需要使用多个附件和很多手动调整。现在,鼠标单击即可预先设置测试角度,通用反射附件可以自动完成所有调整。此外,样品放置在水平采样板上,避免了垂直夹放可能造成的破坏。两个大体积样品舱加倍灵活,加倍简便。所有LAMBDA系列仪器都可以配置两个样品舱,而且是业内体积最大的样品舱。基础样品舱用于一系列标准反射与透射附件和偏振测试,而第二个样品舱可以配置用于各种智能采样附件或模块,包括积分球、通用反射附件或者透射光学组件。仅仅需要几秒钟的时间,LAMBDA 850+就可以从标准大体积样品舱模式切换到积分球、通用反射附件或者万能光学平台。创新点:1、LAMBDA 850+为达到最高程度的自动化,将一些基本的检测附件,如样品光束衰减器、起偏器和消偏器、光束遮挡器,均可在测试分析方法中直接选择,全部软件制。2、配置尖端水平的R6872无格栅PMT增管检测器,是一款专为在紫外/可见波段有高精度测试要求的用户度身定制的仪器,并有特别为专用积分球用户设置的配置。在175nm ~900 nm波段内具有优异的灵敏度,波长精度可以达到0.08nm。该仪器还可以配备一系列可控而且灵活的采样附件。3、专门开发了Opthalmo meter附件,该附件为LAMBDA系列高性能紫外/可见分光光度计独有的Q-COM快速可拔插切换光学台模块式附件。同时,附件包含了定制的符合标准规定的可装满盐溶液和接触镜片的湿式多样品架和积分球,可以自动、快速地进行大批量合规样品测试。LAMBDA 850+紫外-可见分光光度计
  • 珀金埃尔默发布LAMBDA 1050+紫外-可见-近红外分光光度计新品
    作为长期以来分光光度计的行业标准,LAMBDA1050+使用无格栅PMT检测器和Peltier冷却PbS检测器,在整个光谱范围内获得优异的测试性能,最大波长可达3300 nm。紫外-可见区域的波长精度可以达到0.025 nm,近红外区域的波长精度可以达到0.02 nm。此外,该仪器还可以配备一系列行业领先的、可控而且灵活的采样附件,包括:• 大体积双样品舱• 通用反射附件• 插入式积分球• 万能光学平台典型应用领域建筑和特殊用途玻璃节约能源的重要性越来越显著。镀膜玻璃的光谱分析可以为热效率和其他关键设计参数提供重要的信息。平板显示器在多个方面的显示性能提升需求是持续存在的。颜色、亮度、视角以及能耗都是非常重要的。光谱测试对于显示器整体性能提升是必需的。光学性能测试繁忙的光学实验室必须能够用各种测试技术处理各种类型的样品。LAMBDA系列分光光度计的采样灵活性可以帮助您面对千变万化的测试需求。太阳能研究作为可再生能源的一种来源,以硅材料为基础的太阳能电池越来越重要。但是,过高的成本使其以前只能用于空间科学和军事领域。降低太阳能电池成本、提高其性能的研究是始终不断的。LAMBDA 1050+的近红外波段测试能力使其可以对太阳能电池进行全面表征,不仅是电池活性材料,还有压花玻璃和底面反射层材料等的测试。LAMBDA独特附件设计150mm 积分球光学聚四氟乙烯涂层,涂层在可见区的反射率优于99%,长期使用不发黄变性,光学性能稳定;内径150mm.包含光阱,可直接测量漫反射和剩余反射;150mm积分球为ASTM和国际CIE推荐色度测量时采用附件;270mm积分球专为高散射样品测试开发的大尺寸积分球,可以确保经高散射样品的透过光进入积分球,获得准确的透过率数据。通过软件设置分别测试透过率和反射率。与150mm积分球配套的聚焦附件小样品聚焦附件可以把光束聚焦到1mm左右,大大提高小样品的透过、反射和吸收的测试准确度。6? 度角镜面反射附件6度角镜面反射附件俗称“剩余反射附件”,是防反膜测试的利器。双向的IV或VW型镜绝对反射附件可在8~80度的正负角度对镜材料进行透射或反射模式的高精度测量,包括激光准直及起偏器及两个反射标准镜双光栏附件可校正检测器的非线性误差,从而提高仪器的线性范围及光 度计精度通用反射附件作为绝对反射率高灵敏度测试的一个突破,通过自动改变样品角度,我们独特的专利设计的通用反射附件(URA)极大地改善了传统的测试方法。以前,多角度测试需要使用多个附件和很多手动调整。现在,鼠标单击即可预先设置测试角度,通用反射附件可以自动完成所有调整。此外,样品放置在水平采样板上,避免了垂直夹放可能造成的破坏。两个大体积样品舱加倍灵活,加倍简便。所有LAMBDA系列仪器都可以配置两个样品舱,而且是业内体积最大的样品舱。基础样品舱用于一系列标准反射与透射附件和偏振测试,而第二个样品舱可以配置用于各种智能采样附件或模块,包括积分球、通用反射附件或者透射光学组件。仅仅需要几秒钟的时间,LAMBDA 1050+就可以从标准大体积样品舱模式切换到积分球、通用反射附件或者万能光学平台。万能光学平台万能光学平台(GPOB)设计用于测试体积较大或者形状不规则的样品,为您提供几分钟内配置测试方法的灵活性。大玻璃附件独有的成品大玻璃附件:可检测大到2~3米的钢化、平板等大尺寸玻璃样品创新点:Lambda 1050+使用无格栅PMT 检测器和Peltier冷却PbS检测器,在整个光谱范围内获得良好的测试性能,吸光度可到8A。采用四扇区分光技术,波长准确度可达0.025nm,紫外-可见区域的分辨率可以达到0.05 nm,近红外区域的分辨率可以达到0.20 nm。此外,该仪器可配备一系列可控而且灵活的采样附件。LAMBDA 1050+都可以配备独特的偏振测试能力,可以满足您的分析需求。LAMBDA 1050+紫外-可见-近红外分光光度计
  • Molecular Devices 网络讲座:开始荧光偏振实验--应用和检测系统介绍
    What网络应用讲座:开始荧光偏振实验&mdash &mdash 应用和检测系统介绍主讲人:Cathy Olsen 和 Yvonne Fitzgerald探究如何用荧光偏振技术加快您的实验和筛选工作。不管您是在设计您自己的荧光偏振实验,还是将要把荧光偏振加入到您的实验和筛选工具中,或是想要了解更多关于荧光偏振的技术和应用,这个网络讲座都会为您讲解!WhenSep 26 2012 11:00 PM - Sep 27 2012 12:00 AM (CST)荧光偏振技术是一种可以检测分子相互作用的技术。荧光偏正技术可以检测生物分子相互作用时分子的移动和方向的变化,例如,蛋白质之间或受体与配体之间的相互作用。荧光偏振技术的其他应用还包括:DNA与蛋白质之间的相互作用、竞争性免疫分析和激酶检测。还经常被应用于确认hERG通道的阻断化合物、鉴定家畜的病原体和监测食品中的酶活性等。讲座内容包括:荧光偏振技术原理介绍荧光偏振实验设计技巧荧光偏振技术的常见应用荧光偏振实验的检测和分析的仪器与软件介绍SpectraMax® Paradigm® 和M5多功能读板机SoftMax® Pro 软件错过了前面的活动?点击阅读!二十五周年活动记录 庆典还在继续!持续支持您的研究:Molecular Devices University
  • 紫外分光光度计9月热度榜单,值得收藏
    小编整理了2023年9月热度榜单,收录了9月最热门的5款紫外分光光度计仪器产品,供有采购此类仪器的用户参考。TOP1、T700/T600 系列紫外可见分光光度计品牌型号:普析通用 | T700/T600 价格:7万 - 10万生产商:北京普析通用仪器有限责任公司产品介绍:普析秉承“为了分析测试工作的高效、便捷、准确、可靠“的宗旨,隆重推出T600/T700系列紫外可见分光光度计。我们潜心研发,提高产品性能;加快扫描速度,减少客户等待时间;提升指标参数,减少系统误差;9.7寸彩色触屏为客户带来了友好新体验。仪器特点01 易于操作,自由扩展科学合理的流程设计,三次点击即可开始您的测量工作。仪器系统平台可扩展应用,实现在线教学、智能考核、水质检测等功能。可定制用户的专属方法,方法支持存储设备和网络形式移植。数据可导出至U盘,存储空间支持扩展。02 稳定的性能保障应用测试快速、可靠、误差小。2秒即可完成一次光谱扫描,光谱扫描速度达30000nm/min。-4~+4 Abs吸光度范围,无惧高浓度样品。最小光谱带宽0.2nm,轻松应对复杂样品的检测。仪器指标通过权威机构计量院测试,准确度I级。网口通讯,稳定迅速。03 美感与实用兼具的工业设计镜面外观,线条硬朗流畅。9.7寸电容触摸屏。漆面耐酸、碱和有机溶剂的腐蚀。样品池防打翻漏液,可轻松移出冲洗。 功能丰富、全面的可选附件主机快速选型表型号准双光束双光束5档可变狭缝固定狭缝彩色触控屏T700AS√√√T700A√√√T700S√√T700B√√T600AS√√√T600A√√√T600S√√T600B√√厂商简介:北京普析通用仪器有限责任公司,创立于 1991 年 , 是一 家集科学仪器研发、制造、销售和服务于一体的高新技术企 业。1996 年通过 ISO9001 质量管理体系认证;1999 年通过 ISO14001 环境管理体系认证;2017 年通过 ISO45001 职业 健康安全管理体系认证;获得全国分析检测人员能力培训委 员会(NTC)培训、考核双认证。自主研发制造的产品多次 获得国家重点新产品、国家火炬计划等多项殊荣,产品陆续 通过欧盟 CE 认证。TOP2、上海元析紫外可见分光光度计Q-6品牌型号:上海元析 | Q-6系列价格:15万 - 25万生产商:上海元析仪器有限公司产品介绍:四大产品优势多种附件可选 汞灯校准波长光谱带宽连续可调 快速响应Part1 匠心打造 品质积淀Q-6精选优质元件,配色舒适,从实用性、通用性、稳定性、灵活性等多方面研发理念出发,匠心打造,降低背景干扰,避免系统误差,提高分辨率;工艺精湛外壳采用精密注塑工艺,尺寸精度高,且能够保持长久尺寸稳定性,刚性加强,外观平滑,外形线条更流畅,仪器更耐用;节能环保精巧结构设计,安装空间浓缩,内置散热风扇更快达到热平衡,节能10%,光学稳定性强;稳定可靠内置氘灯、钨灯、汞灯三种光源,经测试,配置的汞灯波长稳定性高,不会因辐射强度的变化产生光谱不能正常分辨的问题,测试结果更准确,契合药典要求;独特C-T式双光束光学结构,不仅解决了传统光路导致的杂散光大、严重次级衍射的问题,还可以补偿慧差,优于0.01%的超低杂散光水平,保证全波段都有高分辨率;优异的镜片质量,镜片镀膜涂层,测量重复性更好;实时的暗电流自动校正技术,确保测量结果准确可靠;光学基座设计采取计算机仿真分析优化,即使车载环境测试光路系统仍不发生偏移;双光束光路系统既可以减少光源能量漂移的影响,还可以减少温度变化引起的溶液密度与折光率改变的影响;可完成多次拟合,曲线回归更加准确; 检测灵敏优质光电倍增管配置,增益范围宽,响应快,灵敏度高,特别适合于弱辐射能的检测; 带宽可调光谱带宽连续可调在实际测试中发挥极大优势,光谱带宽0.1nm~5nm连续可调,可变间隔为0.1nm,当RBW≤1时,该光谱仪器可满足99%的样品分析要求,且精度在99以上。Aobs/A RBWAobs为吸光度实际值 A为吸光度理论值 RBW=SBW/NBW多维测试附件扩展性能强,除固定样品架外,还有自动八联池、多功能自动进样器、恒温池架、光学积分球、镜面反射附件、可变光程样品架、可变角度固体样品架等专用附件可供选择,扩展了仪器的应用范围,兼顾了经典样品和个性化样品的测试需求;高效便捷从智能化操作出发,选配自动八联池,配合100位多功能自动进样器,完成高通量、高效、低误差检测;软件界面友好、可操作性强;软件遵循GLP/GMP规范,方便实现用户管理、日志记录及数据追踪等功能:独立的模块化设计,插座式氘灯和钨灯单元,换灯免光学调试,仪器维护更简便;配备易于取出和放入的大样品室,轻松更换样品;Part2 营造专业体验Q-6在品质上的革新,给用户提供专业化的操作体验,提升数据安全,提高智能化平台管理。 遵循GLP/GMP规范,方便实现用户管理、日志记录及数据追踪等功能用户管理界面允许管理员创建新用户,并进行权限管理;每个用户凭借相应账号和密码登录操作平台;可根据需要将操作员升级为管理员;日志管理界面日常操作记录均可自动记录;管理员可根据需求检索指定时间段的日志内容,也可将日志导出以相应格式保存;测量功能界面分析软件可实现光度测量、定量测量、光谱扫描、动力学分析等测量功能,同时具有强大的数据处理能力。光谱扫描界面有0.025 nm/0.05 nm/0.1 nm/0.2 nm/0.5 nm/1 nm/2 nm/5 nm八种扫描间隔可选,扫描速度四级可选,并覆盖多种测量模式(Abs、T%、E或R%),用户可根据需求进行峰谷检索,提取定向数据;光度测量界面用户可进行固定波长下的吸光度、透过率、反射率或能量测量;时间扫描界面用户可进行动力学相关分析,自定义扫描波长范围(波长起点及波长终点)、扫描间隔、测量模式;定量分析界面系统提供mg/l、ng/ml、ng/ml、mg/ml、mg/ml、mg/l、ppb、ppm、mol/l等多种浓度单位选择,满足了各种标准或药典的测试需求;系统自动记录光源累计使用时间,更换光源后一键清零恢复计时;通过软件控制,实现多功能自动进样器的定位、复位、进样、清洗等功能;Q-6仪器软件具有自动保存功能,自动保存测量数据到系统盘,用户也可以将文件保存到指定文件夹,避免错误操作导致数据丢失;软件直连打印机进行报告打印,支持报告预览;Part3 产品参数表光学系统双光束检测器PMT光源氘灯、钨灯、汞灯操作方式计算机控制光谱带宽0.1nm-5nm(以0.1nm间隔连续可调)波长示值误差±0.3nm波长重复性≤0.1nm光度重复性≤0.1%透射比示值误差±0.3 %杂散光≤0.01%(@220nm&360nm)基线平直度±0.0008Abs稳定性≤0.0001Abs/h电源AC 220 V/ AC 110 V,50/60Hz,500W尺寸大小 (L′W′H)500′550′260mm厂商简介:上海元析仪器有限公司(英文名称:SHANGHAI METASH INSTRUMENTS CO., LTD.)是专业从事实验室科学仪器研发、生产、销售和服务的高新技术企业,公司成立于2008年,总部位于上海市松江工业园区。公司高度重视技术创新,通过自主研发,掌握多项核心技术,已获得多项国家专利及软著证书。公司获“上海市专精特新企业“、“高新技术企业”、“2019年度科学仪器成长潜力企业”等多项荣誉称号。截至2020年11月,国内已在国内设立26个销售和服务网点,服务全国客户。同时,我们还是一个对国际市场非常重视的公司,我们的产品已经销往全球80多个国家和地区。TOP3、1901系列紫外可见分光光度计品牌型号:普析通用 | TU-1901/TU-1900价格:5万 - 7万生产商:北京普析通用仪器有限责任公司产品介绍:紫外可见分光光度计是一种历史悠久、覆盖面很广、使用很多的分析仪器,在有机化学、生物化学、药品分析、食品检验、医药卫生、环境保护、生命科学等各个领域的科研、生产工作中都得到了极其广泛的应用。北京普析通用仪器有限责任公司作为分析仪器的专业制造企业,多年的紫外分光光度计设计和制造经验在TU1901系列上得到了更充分地体现。TU-1901、TU-1900紫外可见分光光度计系列产品以其出色的技术指标和稳定可靠的工作特性,友好直观的显示界面,流畅的人机对话操作,成功实现了超高精度和可靠性测量的严格要求,能极大地满足最专业用户分析工作需要。技术参数:1、 波长范围: 190nm~900nm 2、 波长准确度:±0.3nm(开机自动校准) 3、 波长重复性:0.1nm 4、 光谱带宽: TU-1900:2nm TU-1901:0.1nm、0.2nm、0.5nm、1.0nm、2.0nm、5.0nm 5、 杂散光: ≤0.01%T(220nm,NaI; 340nm,NaNo2) 6、 光度方式: 透过率、吸光度、反射率、能量 7、 光度范围: -4.0~4.0Abs 8、 光度准确度:±0.002Abs(0~0.5Abs);±0.004Abs(0.5~1.0Abs);±0.3%T(0~100%T) 9、 光度重复性:0.001Abs(0~0.5Abs);0.002Abs(0.5~1.0Abs)10、基线平直度:±0.001Abs11、基线漂移: 0.0004Abs/h(500nm, 0Abs预热2小时后) 12、光度噪声: ±0.0004Abs主要特点:1、强劲的仪器性能:极其优良的光学系统,先进的电子学系统,高水准的机械系统,保证了0.010%T的超低杂散光;2、稳定可靠的品质:双光束动态反馈比例记录测光系统保证了基线稳定性;氘灯、光电倍增管等关键器件均用进口件,保证仪器的稳定可靠和长寿命;3、精准的测量:采用进口优质全息光栅,进一步降低仪器的杂散光,使仪器分析更加准确;4、轻松高效的人机对话:基于WINDOWS环境设计的UVWin中文操作软件,提供了丰富的仪器控制和操作功能。简单易用,灵活高效,轻松满足使用者的分析要求;5、优异的可扩展性:有蠕动进样器、超微量池架、恒温池架、光学积分球、镜面反射、光纤附件和比色皿系列等大量用户可选专用附件,使仪器的应用范围大大扩展;6、简单方便设备维护:独特的插座式钨灯和氘灯,换灯时免去光学调试,使设备仪器调试、维护更加简便。厂商简介:北京普析通用仪器有限责任公司,创立于 1991 年 , 是一 家集科学仪器研发、制造、销售和服务于一体的高新技术企 业。1996 年通过 ISO9001 质量管理体系认证;1999 年通过 ISO14001 环境管理体系认证;2017 年通过 ISO45001 职业 健康安全管理体系认证;获得全国分析检测人员能力培训委 员会(NTC)培训、考核双认证。自主研发制造的产品多次 获得国家重点新产品、国家火炬计划等多项殊荣,产品陆续 通过欧盟 CE 认证。TOP4、日立UH4150紫外可见近红外分光光度计品牌型号:日立 | UH4150价格:面议生产商:日立科学仪器(北京)有限公司产品介绍:固体分析分光光度计专家U-4100,实现了进一步的技术提高, UH4150问世!现在,UH4150型分光光度计已经面世,秉承了U-4100的高度可靠性。U-4100已累计发售1,500*1多台。特点切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定。安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等,将检测器切换时(信号水平的差异)吸光度值的变化降到最小。 检测器切换时附近波长测定数据例
(金纳米棒的吸收光谱)日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂散光和低偏振。UH4150采用棱镜-光栅(P-G)双单色器的光学系统,秉承U-4100光学系统的特点。 棱镜-光栅(P-G)系统与常见的光栅-光栅(G-G)系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品,UH4150也可实现低噪音测定。平行光束可实现反射光和散射光的精确测定。入射角对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束,由于入射角根据透镜的焦距等因素会不同,因此,像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。但对于平行光束,相对于样品入射角始终相同,实现了高精度镜面反射率的测定。此外,平行光束可用于扩散率(雾度)的评价和透镜透过率的测定。镜面反射率测定示例可提供适合不同测定目的的多种检测器。可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。*2*3检测器产品线采用全新人体工学设计。改进样品室门,提升操作性。为了便于更换样品和附件的操作,采用了符合人体工学的设计。兼容多种U-4100附件。通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,适合更多的测定类型。比U-4100型更高的样品通量。在秉承U-4100型光学系统高性能的同时,UH4150提供更高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时,扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定,显著缩短测定时间。*5 UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品,如太阳能反射材料,尤其有效。扫描速度为600 nm/min的太阳能反射材料的反射光谱扫描速度为1,200 nm/min的太阳能反射材料的反射光谱系统产品线积分球检测系统可使用各种60 mm积分球。选配件:150 mm积分球或角度连续可变绝 对反射附件(此处列出的是60 mm标准积分球)。直射光检测系统直射光检测器内置于分光光度计内。提供其他选配检测器替换直射光检测器, 如各种积分球和角度连续可变绝 对反射附件。应用范例微小样品透过率测定微小样品透过率测定附件可用于像微型玻璃和摄像镜头等样品的透过率测定。摄像镜头测定示例微小样品透过率测定(P/N 1J0-0204)规格掩膜类型适合样品尺寸3 mm 掩膜 (标配)5 - 20, 厚度等于或小于3 mm1 mm 掩膜 (选配)3 - 20, 厚度等于或小于3 mm* 更换光源掩膜必须要使用随附4-mm光源掩膜。漫反射率测定可将样品放在积分球后面(样品侧的入射角为0°)测定粉末等样品的漫反射率。二氧化钛漫反射率测定示例60 mm标准积分球(全反射和漫反射)(P/N 1J1-0120)规格入射角0°波长范围240 - 2,600 nm参数规格项目积分球检测系统直射光检测系统检测器 光电倍增管(UV-VIS) 和 冷却型PbS检测器(NIR)标准积分球(内涂层:BaSO4) 60 mm 标准积分球(4口):反射样品上的入射角:样品侧:8º, 参比侧:0º 60 mm 标准积分球(4口):反射样品上的入射角:样品侧和参比侧:10º 60 mm 标准全积分球(2口)高灵敏度积分球(内涂层:Spectralon®) 60 mm 高灵敏度积分球(4口):反射样品上的入射角:样品侧:8º, 参比侧:0º 60 mm 高灵敏度全积分球(2口)直射光检测器设置波长范围175 - 3,300 nm单色器棱镜-光栅,双单色器,预单色器:使用棱镜的Littrow单色器,主单色器:使用衍射光栅的Czerny-Turner单色器(2个可切换的衍射光栅)数据处理单元PC操作系统:Windows® 7 专业版(32位或64位)操作环境温度15 - 35C°操作环境湿度25 - 80%(不结露,温度大于或等于30°时要小于或等于70%)外观尺寸,重量900(宽)×760(深)×1,180(高) mm, 160 kg *1:以 U-4000型和U-4100型合计,数据截止到2012年10月*2:积分球检测系统购买校准和性能检查用分光光度计时,必须包括任一个上述60 mm积分球。*3:直射光检测系统分光光度计内置的直射光检测器用于校准和性能检查。如需更换分光光度计内置的检测器,请购买任一个上述积分球检测器。*4:某些附件不通用。更换检测器相关附件时,必须进行调整或更换电缆。*5:请根据样品特性和测定目的设定适当的测定参数,包括扫描速度。*请向经销商咨询150mm标准、高灵敏度积分球或角度连续可变绝 对反射附件的系统规格。*本系统仅用于科研,不能用于任何动物或人类的治疗或诊断。厂商简介:日立科学仪器是日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。主要产品包括:扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束(FIB)、原子力显微镜(AFM)等表面科学仪器和前处理设备,以及各类液相色谱(LC)、荧光分光光度计(FL)、紫外分光光度计(UV)、原子吸收分光光度计(AAS)、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务。TOP5、上海仪电分析-L9 紫外可见分光光度计(UV-VIS)品牌型号:仪电分析 | L9价格:4.32万生产商:上海仪电分析仪器有限公司产品介绍:技术指标: ● 测光方式: 双光束 ● 单色器: Czerny - Turner ● 焦距: 200mm ● 光栅: 1600 线/mm ● 检测器: 进口接收器 ● 光谱带宽: 0.5nm、1nm、2nm、4nm、5nm ● 波长设定: 触控屏输入 ● 波长范围: 190 ~ 1100nm ● 波长准确度: ±0.3nm(实测≤±0.2nm) ● 波长重复性: ≤ 0.1nm ● 波长扫描速度: 快、中、慢 ● 光源切换波长: 340nm ● 杂散光: ≤ 0.02%(在220nm处以NaI测定) (在360nm处以NaNO2测定) ● 光度范围: 0.0 ~ 200.0% T -0.301 ~ 4.000A 0.000 ~ 9999C ● 光度准确度: ±0.3%T ±0.002Abs(0 ~ 0.5A) ±0.004Abs(0.5 ~ 1A) ● 光度重复性: ≤ 0.15%T 0.001Abs(0 ~ 0.5A) 0.002Abs(0.5 ~ 1A)● 基线平直度: ≤ ±0.0008A ● 噪声: 0.1%T ● 基线漂移: 0.0003(A/h) 在波长 250nm 和 500nm 处测定(开机预热2小时)● 电源电压: AC220V±22V 50Hz±1Hz ● 功率: 200W主要特点: ● 全新的光学平台,使仪器的主机具有优良的光学性能和测 光性能,杂散光和噪声低,测光精度和稳定性高。● 独特的氘灯和钨灯安装,光源自动切换及自动查找理想位 置的工作方式,使用户操作仪器和维修替换光源更为方便、 正确和安全。 ● 先进的硬件和软件设计, 使仪器有强大的光谱数据处理 功能和储存功能。自动扫描测量光谱、多波长(1 ~ 3λ)测定、 动力学测定、1 ~ 3 次曲线拟合、1 ~ 4 阶导数光谱、存取打印 光谱图和分析数据。● 采用 8英寸彩色触控屏, 良好的人机对话界面,操作便捷。 ● 采用进口长寿命氘灯,进口OSRAM 钨灯 ● 带USB通讯口,可通过U盘直接导出数据,标配1cm比色 皿架。选 配: ● UVwin8 紫外光谱软件 ● 5cm或10cm比色皿架厂商简介:上海仪电分析仪器有限公司(原上海精密科学仪器有限公司分析事业部独立改制而成,其前身是上海分析仪器厂和上海第三分析仪器厂),系上海仪电控股(集团)公司的控股子公司,,上海首批高新技术企业。是国内最大的分析仪器制造公司之一。 主要产品有:气相色谱仪、液相色谱仪、可见分光光度计、紫外可见分光光度计、原子吸收分光光度计、荧光分光光度计、火焰光度计和监控系统集成等50余个品种的数字化、智能化分析仪器。公司产品广泛地应用和服务于石油化工、冶金、矿山、电站、环境保护、医疗卫生、科研、大专院校、食品饮料、日化用品、农业生产等行业,是必备的检测手段和科学实验的计量器具。紫外分光光度计简介:紫外可见分光光度计是基于紫外可见分光光度法原理,利用物质分子对紫外可见光谱区的辐射吸收来进行分析的一种分析仪器。无论在物理学、化学、生物学、医学、材料学、环境科学等科学研究领域还是化工、医药、环境监测等生产部门,都有着广泛的使用。紫外可见分光光度计是由光源、单色器、吸收池、检测器和信号显示系统五大结构部分组成。2023年9月紫外分光光度计仪器产品热度榜单就介绍到这里,点击查看更多紫外可见分光光度计产品。
  • 激光偏振检测新技术可分析太空垃圾成分
    p  据物理学家组织网20日报道,美国麻省理工学院(MIT)的工程师最近开发出一种激光偏振检测新技术,不仅能确定太空垃圾位置,还能分析其成分。/pp  在地球空间轨道上,数以亿计的太空垃圾高速旋转着,给航天器和卫星带来巨大威胁。目前,美国国家航空航天局(NASA)和国防部在用陆基望远镜和激光雷达(Ladars)跟踪17000块碎片,但这一系统只能确定目标的位置。研究人员指出,新技术能分析出一块残骸由什么组成,有助于确定其质量、动量及可能造成的破坏力。/pp  该技术利用激光来检测材料对光的偏振效应。MIT航空航天系的迈克尔· 帕斯科尔说,涂料的反射光偏振模式和金属铝有明显区别,所以识别偏振特征是鉴定太空残骸的一种可靠方法。/pp  为检验这一理论,研究人员设计了一台偏光仪来检测反射光的角度,所用激光波长为1064纳米,与Ladars激光类似,并选择了6种卫星中常用的材料:白色、黑色涂料、铝和钛,还有保护卫星的两种膜材料聚酰亚胺和特氟龙(聚四氟乙烯),用偏振滤镜和硅探测器检测它们反射光的偏振状态。他们识别出16种主要的偏振态,并将这些状态特征与不同材料对应起来。每种材料的偏振特征都非常独特,足以和其他5种区别开来。/pp  帕斯科尔认为,其他航天材料如防护膜、复合天线、太阳能电池、电路板等,其偏振效应可能也各有特色。他希望用激光偏振仪建一个包含各种材料偏振特征的数据库,给现有陆基Ladars装上滤波器,就能直接检测太空残骸的偏振态,与特征库数据对比,就能确定残骸构成。/p
  • 考虑探测器非理想性的红外偏振成像系统作用距离分析
    在背景与目标红外辐射量差距不大或背景较为复杂等情况下,传统红外成像技术对目标进行探测与识别的难度较大。而红外偏振探测在采集目标与背景辐射强度的基础上,还获取了多一维度的偏振信息,因此在探测隐藏、伪装和暗弱目标和复杂自然环境中人造目标的探测和识别等领域,有着传统红外探测不可比拟的优势。但同时,偏振装置的加入也增加了成像系统的复杂度与制作成本,且对于远距离成像,在红外成像系统前加入偏振装置对成像系统的探测距离有多大的影响,也有待进一步的研究论证。据麦姆斯咨询报道,近期,中国科学院上海技术物理研究所、中国科学院红外探测与成像技术重点实验室和中国科学院大学的科研团队在《红外与毫米波学报》期刊上发表了以“考虑探测器非理想性的红外偏振成像系统作用距离分析”为主题的文章。该文章第一作者为谭畅,主要从事红外偏振成像仿真方面的研究工作;通讯作者为王世勇研究员,主要从事红外光电系统技术、红外图像信号处理方面的研究工作。本文将从分析成像系统最远探测距离的角度出发,对成像系统的探测能力进行评估。综合考虑影响成像系统探测能力的各个因素,参考传统红外成像系统作用距离模型,基于系统的偏振探测能力,建立了红外偏振成像系统的作用距离模型,讨论了偏振装置非理想性对系统探测能力的影响,并设计实验验证了建立模型的可靠性。红外成像系统作用距离建模目前较为公认的对扩展源目标探测距离进行估算的方法是MRTD法。该方法规定,对于空间频率为f的目标,人眼通过红外成像系统能够观察到该目标需要满足两个条件:①目标经过大气衰减到达红外成像系统时,其与背景的实际表观温差应大于或等于该频率下的成像系统最小可分辨温差MRTD(f)。②目标对系统的张角θT应大于或等于相应观察要求所需要的最小视角。只需明确红外成像系统的各项基本参数与观测需求,我们就可以计算出系统的噪声等效温差与最小可分辨温差,进而求解出它的最远探测距离。红外偏振成像系统作用距离建模偏振成像根据成像设备的结构特性可分为分振幅探测、分时探测、分焦平面探测和分孔径探测。其中分时探测具有设计简单容易计算等优点,但只适用于静态场景;分振幅探测可同时探测不同偏振方向的辐射,但存在体积庞大、结构复杂,计算偏振信息对配准要求高等问题;分孔径探测也是同时探测的一种方式,且光学系统相对稳定,但会带来空间分辨率降低的问题;分焦平面偏振探测器具有体积小、结构紧凑、系统集成度高等优势,可同时获取到不同偏振方向的偏振图像,是目前偏振成像领域的研究热点,也是本文的主要研究对象。图1为分焦平面探测系统示意图。图1 分焦平面探测器系统示意图本文仿真的分焦平面偏振探测器,是在红外焦平面上集成了一组按一定规律排列的微偏振片,一个像元对应着一个微偏振片,其角度分别为 0°、45°、90°和135°,相邻的2×2个微像元组成一个超像元,可同时获取到四种不同的偏振态。图1为分焦平面探测系统结构示意图。传统方法认为在红外成像系统前加入偏振装置后,会对系统的噪声等效温差与调制传递函数MTF(f)产生影响,改变系统的最小可分辨温差,进而改变系统的最远探测距离。本文将从偏振装置的偏振探测能力出发,分析成像系统的最小可分辨偏振度差,建立红外偏振成像系统的探测距离模型。我们首先建立一个探测器偏振响应模型,该模型将探测器视为一个光子计数器,光子被转换为电子并在电容电路中累积,综合考虑探测器井的大小、偏振片消光比、信号电子与背景电子的比率以及入射辐射的偏振特性,通过应用误差传播方法对结果进行处理。从噪声等效偏振度(NeDoLP)的定义出发,NeDoLP是衡量偏振探测器探测能力的指标,即探测器对均匀极化场景成像时产生的标准差。对其进行数学建模,进而分析得到红外偏振成像系统的最远探测距离。图2 DoLP随光学厚度变化曲线对于探测器来说,积分时间越长,累积的电荷越多,探测器的信噪比(SNR)就越高,但这种增加是有限度的。随着积分时间的增加,光生载流子有更多的时间被收集,增加信号。然而,同时,暗电流及其相关噪声也会增加。对于给定的探测器,最佳积分时间是在最大化信噪比和最小化暗电流及噪声的不利影响之间取得平衡,为方便分析,我们假设探测器工作在“半井”状态下。通过以下步骤计算红外偏振成像系统最远作用距离:a. 根据已知的目标和背景偏振特性以及环境条件,计算在给定距离下,目标与背景之间的偏振度差在传输路径上的衰减。b. 结合系统的探测器性能参数,确定目标在给定距离下是否可被观察到。如果不能则减小设定的距离。目标被观察到需同时满足衰减后的偏振度差大于或等于系统对应于该频率的最小可分辨偏振度差MRPD,目标对系统的张角θT大于或等于相应观察要求所需要的最小视场角。c. 逐步增加距离,直到目标与背景之间的偏振度差不再满足观察要求。这个距离即为成像系统最远作用距离。τp (R)为大气对目标偏振度随探测距离的衰减函数,可根据不同的天气条件,根据已有的测量数据进行插值,计算出不同探测距离下大气对目标偏振度的衰减,图4. 5给出了根据文献中测量数据得到的偏振度随光学厚度增加衰减关系图。这里给出的横坐标是光学厚度,不同天气条件下,光学厚度对应的实际传播距离与介质的散射和吸收系数有关。综上,我们建立了传统红外成像系统和考虑了偏振片非理想性的红外偏振成像系统的作用距离模型,下面我们将对模型的可靠性进行验证,分析讨论探测器各参数对成像系统探测能力的影响。验证与讨论由噪声等效偏振度的定义可知,其数值越小,代表偏振探测器的性能越优秀。下面我们对影响红外偏振成像系统探测性能的各因素进行讨论,并设计实验验证本文建立模型的正确性。偏振片消光比消光比是衡量偏振片性能的重要参数,市售的大面积偏振片的消光比可以超过200甚至更多。对其他参数按经验进行赋值,从图3可以看到,对于给定设计参数的探测器,偏振片消光比超过20后,随着偏振片消光比的增加,探测器性能上的提升微乎其微。对于分焦平面探测器,为实现更高的消光比,不可避免地要牺牲探测器整体辐射通量。由于辐射通量降低而导致的信噪比损失可能远远超过消光比增加所获得的收益。这一结果同样可以对科研人员研制偏振片提供启发,对需要追求高消光比的偏振片来说,增大透光轴方向的最大透射率要比降低最小透射率更有益于成像系统的性能。图3 偏振片消光比与探测器噪声等效偏振度关系图探测器井容量红外探测器的井容量是指探测器像素在饱和之前能够累积的电荷数量的最大值。井容量是衡量红外探测器性能的一个关键参数,井容量通常以电子数(e-)表示。较大的井容量意味着探测器可以在饱和之前存储更多的电荷,从而能够在更大的亮度范围内准确检测信号。这对于在具有广泛亮度变化的场景中捕获清晰图像至关重要。从图4可以看出,增大探测器井的容量,同样能很好的提高成像系统的偏振探测能力。图4 探测器井容量与探测器噪声等效偏振度关系图然而,井容量的增加可能会导致像素尺寸增大或探测器面积减小,这可能对系统的整体性能产生负面影响。因此,在设计红外探测器时,需要权衡井容量、像素尺寸和其他性能参数,以实现最佳性能。目标偏振度虽然推导出的噪声等效偏振度公式包含目标偏振度这一参量,但目标的偏振度本身对探测器的噪声等效偏振度没有直接影响。NeDolp 是一个衡量探测器性能的参数,它主要受探测器内部噪声、电子学和其他系统组件的影响。然而,目标的偏振度会影响探测器接收到的信号强度,从而影响信噪比(SNR)。从图5也可以看出,探测器的NeDolp受目标的偏振度影响不大。图5 目标偏振度与探测器噪声等效偏振度关系图读取噪声与产生复合噪声比值读取噪声主要来自于探测器的读出电路、放大器和其他电子元件。它通常在整个光强范围内保持相对恒定。产生复合噪声是由光子的随机到达和电荷生成引起的,与光子数成正比。在低光强下,产生复合噪声通常较小;而在高光强下,它会逐渐变大。通过计算读取噪声和产生复合噪声的比值,可以确定系统的性能瓶颈。如果读取噪声远大于产生复合噪声,这意味着系统在低光强下受到读取噪声的限制。在这种情况下,优化读出电路和放大器等元件可能会带来性能提升。如果产生复合噪声远大于读取噪声,这意味着系统在高光强下受到产生复合噪声的限制。在这种情况下,提高信号处理和光子探测效率可能有助于改善性能。从图6可以看出,降低读取噪声与产生复合噪声比值可以有效提升系统偏振探测能力。图6 δ与探测器噪声等效偏振度关系图信号电子比例综合图4~6可以看出,提升β的数值可有效提高探测器的偏振探测能力,由β的定义可知,对于确定井容量的探测器,β的取值主要取决于探测器的各种噪声与积分时间,降低探测器的工作温度、优化探测器结构、减少表面和界面缺陷等途径都可以降低探测器的噪声,调节合适的积分时间也有助于探测系统的性能提升。实验验证根据噪声等效偏振度的定义,利用面源黑体与红外可控部分偏振透射式辐射源创建一组均匀极化场景。如下图7所示,黑体发出的红外辐射,经过两块硅片,发生四次折射,产生了偏振效应,通过调节硅片的角度,即可产生不同线偏振度的红外辐射。以5°为间隔,将面源黑体平面与硅片间的夹角调为10°~40°共七组。每组将面源黑体设置为40℃和70℃两个温度,用国产自主研制的红外分焦平面偏振探测器采取不少于128帧图像并取平均,然后将每组两个温度下相同角度获得的图像作差,以减少实验装置自发辐射和反射辐射对测量结果的干扰,差值图像就是透射部分的红外偏振辐射。对差值图像进行校正和去噪后,即可按公式计算出探测器对均匀极化场景产生的偏振度图像。计算出红外辐射的线偏振度,为减小测量误差,仅取图像中心区域的像元进行分析。该区域像元的标准差就是该成像系统的噪声等效偏振度(NeDoLP)。探测器具体参数如表1所示。图7 实验示意图表1 偏振探测器参数利用本文建立的探测器仿真模型计算出硅片的线偏振度仿真值,公式19计算出硅片线偏振度的理论值,与实验的测量值进行对比,图8展示了三组数据的变化曲线,从图中可以看出,三组数据存在一定偏差,这可能与硅片调节角度误差、面源黑体稳定性、干涉效应、硅片摆放是否平行等因素有关,但在误差允许的范围内,实验验证了偏振探测系统的性能,也证明了本文建立仿真模型的可靠性。NeDoLP测量结果如表2所示。图8 线偏振度理论值、测量值与本文模型仿真值曲线图表2 实验结果从上表可以看到NeDoLP的测量值与仿真值的差值基本能控制在5%以内,实验结果再次印证了本文设计的模型的可靠性。实例计算应用建立的模型对高2.3m,宽2.7m,温度47℃,发射率为1的目标的最远探测距离进行预测,目标差分温度6℃;背景温度27℃;发射率1;目标偏振度30%,背景偏振度1%,使用3.2节中样机的探测器参数,最后,采用文献中介绍的“等效衰减系数-距离”关系的快速逼近法对红外探测系统最远作用距离R进行求解,得到表3的结果。表3 红外成像系统的最远作用距离根据红外探测系统最远探测距离,利用本文第二节提出的方法,得到不同探测概率下红外偏振成像系统最远作用距离结果如表4所示。表4 红外偏振成像系统的最远作用距离所选例子为目标与背景偏振度差异大于其温差,所以在这种探测场景下红外偏振成像系统的探测能力要优于红外成像系统。探测器的参数不同,探测场景与目标的变化都会对模型的结果产生影响,但本文提供的成像系统作用距离模型可为实际探测中不同应用场景下的成像系统选择提供参考。结论针对不同的探测场景,红外成像系统与红外偏振成像系统在最远探测距离方面哪个更有优势并没有定论,探测目标的大小,背景与目标的温差与偏振度差,大气透过率,具体探测器的参数等因素都会对成像系统的最远探测距离产生影响。经实验验证,本文所建立的非理想红外偏振成像系统的响应模型是可靠的,可以用于估算成像系统的最远作用距离,针对不同的探测场景,读者可通过实验确定探测器的具体性能参数,利用仿真软件或实验测量的方式获取探测目标的温度与偏振信息,明确探测环境的具体大气参数,利用模型对红外成像系统与偏振成像系统的最远作用距离进行预估,选择更具优势的成像系统。这项研究获得上海市现场物证重点实验室基金(No. 2017xcwzk08)和上海技术物理研究所创新基金(No. CX-267)的资助和支持。论文链接:http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/article/abstract/2023041
  • 等离子体“彩虹”芯片级智能光谱仪,可实现“光谱+偏振”双功能传感
    近年来,研究人员和业内主要厂商已将研发重心转向微型化、便携式且低成本的光谱仪系统,使之可以在日常生活中实现现场、实时和原位光谱分析的许多新兴应用。然而,受到过度简化的光学设计和紧凑型架构的机械限制,微型光谱仪系统的实际光谱识别性能通常远低于台式光谱仪系统。如今,克服这些限制的一种策略便是在光子方法学中引入深度学习(DL)进行数据处理。据麦姆斯咨询报道,近日,美国纽约州立大学布法罗分校(University at Buffalo,the State University of New York)与沙特阿卜杜拉国王科技大学(King Abdullah University of Science & Technology)的联合科研团队在Nature Communications期刊上发表了以“Imaging-based intelligent spectrometer on a plasmonic rainbow chip”为主题的论文。该论文第一作者为Dylan Tua,通讯作者为甘巧强(Qiaoqiang Gan)教授。在这项研究工作中,研究人员开发了一种紧凑型等离子体“彩虹(rainbow)”芯片,能够实现快速、准确的双功能传感,其性能可在特定条件下超越传统的便携式光谱仪。其中的分光纳米结构由一维或二维的梯度金属光栅构成。该紧凑型等离子体光谱仪利用普通相机拍摄的单幅图像,即可精确地获得照明光源光谱的光谱信息和偏振信息。在经过适当训练的深度学习算法的辅助下,研究人员仅用单幅图像就能表征葡萄糖溶液在可见光光谱范围内的双峰和三峰窄带照明下的旋光色散(ORD)特性。该微型光谱仪具有与智能手机和芯片实验室(lab-on-a-chip)系统集成的潜力,为原位分析应用提供新的可能。研究人员利用彩虹捕获效应(rainbow trapping effect)来开发片上光谱仪系统。图1展示了该研究工作所提出的片上光谱仪和一维彩虹芯片的设计原理。如图1a所示,该光谱仪利用等离子体啁啾光栅实现分光功能。这种表面光栅几何形状的逐渐变化,导致了局部等离子体共振的空间调谐(即为光捕获“彩虹”存储)。如图1b所示,研究人员采用聚焦离子束铣削技术,在300 nm的银(Ag)薄膜上制备了啁啾光栅。当白光垂直入射时,通过简单的反射显微镜系统(如图1c),就可以观察到明显的“彩虹”色图像,如图1d的顶部所示,该现象源于光栅引发的等离子体共振。图1 片上光谱仪的等离子体啁啾光栅根据这些空间模式图像,可以建立共振模式与入射波长一一对应的关系,这是片上光谱仪的基础。因此,研究人员探讨了该光谱仪对任意光谱特征的空间分辨能力。通过深度学习辅助的数据处理和重建方法,研究人员利用这种分光功能可以构建用于光学集成的智能化、微型化光谱仪平台。具体而言,研究人员提出了基于深度学习的智能彩虹等离子体光谱仪概念,并构建了带有等离子体啁啾光栅的光谱仪示例,如图2所示。该光谱仪利用深度神经网络预测了所测量的共振模式图像中的未知入射光光谱,而无需使用传统的线性响应函数模型。实验中的光谱仪架构如图2a所示。智能光谱仪主要由三部分构成:空间模式、预训练神经网络以及对应的波长。图2 基于深度学习的数据重建光谱分辨率是评价传统光谱仪性能的重要参数之一。因此,研究人员对该光谱仪的分辨率做了详细测试,测试结果如图3所示。图3 智能等离子体光谱仪的分辨率以上初步测试数据表明,智能彩虹芯片光谱仪具有实现高分辨率光谱分析的潜力,其性能可与传统台式光谱仪相媲美。随后,研究人员将一维光栅扩展到二维,以利用紧凑型智能等离子体光谱仪实现偏振光谱的测定,其性能超越了传统的光学光谱仪系统。同时,研究人员展示了等离子体彩虹芯片光谱仪可以引入简化、紧凑且智能的光谱偏振系统,具有准确且快速的光谱分析能力。图4a为具有梯度几何参数的二维光栅。图4 用于测定偏振光谱的二维啁啾光栅接着,研究人员利用该二维偏振光谱仪芯片对旋光色散进行了简单而智能的表征。图5a为传统的旋光色散系统测量由物质引起的旋光度随入射波长的函数变化。最后,研究人员展示了将二维光栅作为光谱偏振系统,并介绍了用于葡萄糖传感应用的示例。图5 更简单、准确且智能的光谱偏振分析综上所述,本研究中提出了一种集成了片上彩虹捕获效应与紧凑型光学成像系统的智能芯片级光谱仪。研究结果表明,该等离子体芯片可以在可见光光谱(470 nm - 740 nm)范围内区分不同的照明峰值。该芯片充分利用其波长敏感结构,能够根据照明光谱峰值显示不同的等离子体共振模式。随后将芯片扩展到二维结构,共振模式的复杂性增加,从而在入射光偏振方面提供更多信息。通过使用片上共振模式的空间和强度分布图像来训练深度学习算法,研究人员在同一系统内分别实现了光谱分析和偏振分析。随后,研究人员利用一种将旋光引入透射光的手性物质(即葡萄糖),证明了所提出光谱仪在旋光色散传感方面的可行性,旋光色散是一种有助于手性物质检测和定量的偏振特异性特征。深度学习模型的分析表明,该算法能够基于等离子体芯片的共振模式准确预测葡萄糖引入的旋光。即使在分析多峰照明下的共振模式时,这种性能也得到了保留。这种由深度学习支持的基于图像的光谱仪能够通过利用纳米光子平台的单幅图像同时进行光谱分析和偏振分析。因此,该光谱仪标志着在单一紧凑型且轻量化设计中实现了高性能的光谱偏振分析,为深度光学和光子学在医疗保健监测、食品安全传感、环境污染检测、药物滥用传感以及法医分析等领域的应用赋能。这项研究获得了沙特阿卜杜拉国王科技大学物理科学与工程部的科研基金(BAS/1/1415-01-01)和NTGC-AI项目(REI/1/5232-01-01)的资助和支持。
  • 集成有亚波长光栅的台面型InGaAs基短波红外偏振探测器
    红外辐射(760nm-30μm)作为电磁波的一种,蕴含着物体丰富的信息。红外光电探测器在吸收物体的红外辐射后,通过光电转换、电信号处理等手段将携带物体辐射特征的红外信号可视化。其具有全天候观测、抗干扰能力强、穿透烟尘雾霾能力强、高分辨能力的特点,在国防、天文、民用领域扮演着重要的角色,是当今信息化时代发展的核心驱动力之一,是信息领域战略性高技术必争的制高点。众所周知,波长、强度、相位和偏振是构成光的四大基本元素。其中,光的偏振维度可以丰富目标的散射信息,如表面形貌和粗糙度等,使成像更加生动、更接近人眼接收到的图像。因此偏振成像在目标-背景对比度增强、水下成像、恶劣天气下探测、材料分类、表面重建等领域有着重要应用。在短波红外领域,InGaAs/InP材料体系由于其带隙优势,低暗电流,和室温下的高可靠性已经得到了广泛的应用。目前,一些关于短波偏振探测技术的研究已经在平面型InGaAs/InP PIN探测器上开展。然而,平面结构中所必须的扩散工艺导致的电学串扰使得器件难以向更小尺寸发展。同时,平面结构中由对准偏差导致的偏振相关的像差效应也不可避免。与平面结构相比,深台面结构在物理隔离方面具有优势,具有克服上述不足的潜力。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心E03组长期从事化合物半导体材料外延生长与器件制备的研究。E03组很早就开始了对近红外及短波红外探测器材料与器件的研究,曾研制出超低暗电流的硅基肖特基结红外探测器【Photonics Research, 8, 1662(2020)】,研究过短波红外面阵探测器小像元之间的暗电流抑制及串扰问题【Results in Optics, 5, 100181 (2021)】等。最近,E03组研究团队的张珺玚博士生在陈弘研究员,王文新研究员,邓震副研究员地指导下,针对光的偏振成像,并结合亚波长光栅制备技术,片上集成了一种台面型InGaAs/InP基PIN短波红外偏振探测器原型器件。该原型器件具有的深台面结构可以有效地防止电串扰,使其潜在地实现更小尺寸短波红外偏振探测器的制备。图1是利用湿法腐蚀和电子束曝光等微纳加工技术制备红外探测器及亚波长光栅的工艺流程。图2和图3分别是制备完成后的红外探测器光学显微镜图片和不同取向的亚波长光栅结构SEM图片。图1. 集成有亚波长Al光栅的台面型InGaAs PIN基偏振探测器的工艺流程示意图。图2. 两种台面尺寸原型器件的光学显微镜图片 (a) 403 μm×683 μm (P1), (b) 500 μm×780 μm (P0)。图3. 四种角度 (a) 0°, (b) 45°, (c) 90°, (d) 135° Al光栅形貌。图4是不同台面尺寸的P1和P0器件(无光栅)在不同条件下的J-V特性曲线和响应光谱。在1550 nm光激发,-0.1 V偏压下,P1和P0器件的外量子效率分别为 63.2% and 64.8%,比探测率D* 分别达到 6.28×1011 cm?Hz1/2/W 和6.88×1011 cm?Hz1/2/W,表明了原型器件的高性能。图4. InGaAs PIN原型探测器(无光栅)的J-V特性曲线和响应光谱。(a) 无光照下,P1和P0的暗电流密度Jd-V特性曲线;不同入射光功率下,(b) P1和(c) P0的光电流密度Jph-V特性曲线,插图是-0.1V下光电流密度与入射光功率之间的关系曲线; (d) P1和P0的响应光谱曲线。图5表明器件的偏振特性。从图5可以看出,透射率随偏振角度周期性变化,相邻方向间的相位差在π/4附近,服从马吕斯定律。此外, 0°, 45°, 90°和135°亚波长光栅器件的消光比分别为18:1、18:1、18:1和20:1,TM波透过率均超过90%,表明该偏振红外探测器件具有良好的偏振性能。图5. (a) 1550 nm下,无光栅器件和0°, 45°, 90°和135°亚波长光栅器件的电学信号随入射光极化角度的变化关系;(b) 光栅器件透射谱。综上所述,研究团队制备的台面结构InGaAs PIN探测器,其响应范围为900 nm -1700 nm,在1550 nm和-0.1 V (300K) 下的探测率为6.28×1011 cmHz1/2/W。此外,0°,45°,90°和135°光栅的器件均表现出明显的偏振特性,消光比可达18:1,TM波的透射率超过90%。上述的原型器件作为一种具有良好偏振特性的台面结构短波红外偏振探测器,有望在偏振红外探测领域具有潜在的广泛应用前景。近日,相关研究成果以题“Opto-electrical and polarization performance of mesa-structured InGaAs PIN detector integrated with subwavelength aluminum gratings”发表在Optics Letters【47,6173(2022)】上,上述研究工作得到了基金委重大、基金委青年基金、中国科学院青年创新促进会、中国科学院战略性先导科技专项、怀柔研究部的资助。另外,感谢微加工实验室杨海方老师在电子束曝光等方面的细心指导和帮助。物理所E03组博士研究生张珺玚为第一作者。
  • 基于硫废物的高灵敏红外偏振器面世
    偏振图像可提供诸如阴影和表面形貌的信息,但目前的红外偏振器主要由昂贵且易碎的陶瓷制成,且其拥有的纳米光栅通常需通过耗时且成本高昂的干涉光刻法制造而成。现在,韩国科学家基于富硫聚合物,研制出一款高灵敏度基偏振器,不仅成本低廉且制造方法简单,相关研究刊发于最新一期《先进材料》杂志。通过“逆硫化”合成的富硫聚合物因在红外区域固有的高透射率而成为红外光学器件的合适候选材料,受到广泛关注。富硫聚合物主要由基于元素硫的主链组成,石油精炼过程中每年会产生700万吨硫磺,因此这种富硫聚合物可大规模生产。与常规红外材料不同,富硫聚合物可溶解在有机溶剂中,这意味着其可应用于基于溶液的旋涂方法。此外,富硫聚合物拥有的粘滞弹性和动态共价二硫键使其可被热纳米压印光刻(热NIL)技术模塑成不同的纳米结构。而且,基于富硫聚合物制造而成的偏振器,也能拥有双层结构,可通过以下3个步骤获得:旋涂富硫聚合物溶液、在旋涂的富硫聚合物基膜上使用热NIL工艺,以及在纳米光栅上进行金属沉积,由此得到的富硫聚合物基偏振器由自对准双层金属光栅和间隔层(用作光学腔)组成。基于上述方法,韩国汉阳大学研究人员制作了一种高灵敏度的富硫聚合物基偏振器。他们微调了热NIL条件,以高质量复制设计纳米光栅,并研究了间隔层的厚度,以最大化所有中波红外区域的透射。通过数值模拟设计,并考虑到光学性能和制造难度,该偏振器的节距为400纳米,经由包括温度、压力和时间在内的热NIL条件的系统研究,获得了面积为1平方厘米的高保真纳米光栅。
  • 首个使用偏振的超快光处理器面世
    科技日报北京6月19日电 (记者张梦然)据近日发表在《科学进展》上的一篇论文,英国牛津大学研究人员开发了一种使用光的偏振来实现最大化信息存储密度的设备。新研究使用多个偏振通道展开了并行处理,计算密度比传统电子芯片提高了几个数量级。自1958年第一块集成电路发明以来,将更多晶体管封装到特定尺寸的电子芯片中,一直是实现最大化计算密度的首选方法。然而,人工智能和机器学习需要专门的硬件突破现有计算的界限,因此电子工程领域面临的主要问题是:如何将更多功能打包到单个晶体管中?科学家已知不同波长的光不会相互影响,同样,不同偏振的光也不会相互影响。因此,每个极化都可作为一个独立的信息通道,使更多信息可存储在多个通道中,这就大大提高了信息密度。而光子学相对于电子学的优势在于,光在大带宽上速度更快,功能也更强大。新研究的目标就是充分利用光子学与可调谐材料相结合的这些优势,实现更快、更密集的信息处理。鉴于此,十多年来,牛津大学研究人员一直致力于使用光作为计算手段。团队此次开发了一种HAD(混合活性电介质)纳米线,该纳米线使用一种混合玻璃材料,该材料在光脉冲照射时具有可切换的特性,每条纳米线都显示出对特定偏振方向的选择性响应,因此可使用不同方向的多个偏振同时处理信息。利用这个概念,研究人员开发出第一个利用光偏振的光子计算处理器。光子计算通过多个偏振通道进行,纳米线则由纳秒光脉冲调制,与传统电子芯片相比,其计算速度更快,计算密度因此提高了几个数量级。研究人员表示,对于人们希望看到的未来愿景来说,现在仅仅是个开始,这种偏振光子计算处理器结合了电子、非线性材料和复杂计算,已经是一个超级令人兴奋的想法。总编辑圈点   随着传统电子芯片尺寸越来越小,芯片上的晶体管数量接近极限,摩尔定律也日益逼近“天花板”。这些年,科学家和工程师们开始为芯片发展寻找新的“增长点”,利用光子计算便是思路之一。例如,2015年美国科学家研发出用光处理信息的光电子芯片,它依旧使用电子来计算,但是可以直接使用光来处理信息。上述成果则利用了光的偏振特性。这些研究都为芯片迭代升级提供了更多可能。
  • 从完整肌腱到单纤丝:偏振红外光谱强势助力胶原蛋白的分子取向研究
    在过去的十年里,红外(IR)光谱已被广泛应用于哺乳动物组织中的胶原蛋白研究。对有序胶原蛋白光谱的更好理解将有助于评估受损胶原蛋白和疤痕组织等疾病。因此,利用偏振红外光研究胶原蛋白(I型胶原和II型胶原)的层状结构和径向对称性逐渐成为研究热点。目前,基于焦平面阵列检测器的偏振远场(FF)傅立叶变换红外(FTIR)成像、偏振远场(FF)、光学光热红外(O-PTIR)以及散射型扫描近场光学显微镜(s-SNOM)的纳米红外技术在胶原蛋白领域得到广泛应用。偏振远场(FF)方法可应用于完整肌腱的截面,其纤维平行且垂直于偏振光排列。光学光热IR红外(O-PTIR)和纳米傅立叶变换红外(nano-FTIR)方法则应用于直径为100~500 nm的原纤维,在生物聚合物上共同实现互相印证和互补的结果。 通常,I型胶原蛋白在偏振红外光下反应不同。采用基于焦平面阵列(FPA)检测的远场傅里叶变换IR(FF-FTIR)对其进行成像时,受制于蛋白质酰胺I和II的红外特征峰吸收带的波长(~7 μm)的分辨率限,难以获取高质量的成像结果。而采用散射型扫描近场光学显微镜(s-SNOM)方法的纳米FTIR(nano-FTIR)光谱技术,可以获得空间分辨率约为20nm的红外光谱,解决了受限于IR辐射波长的限制(通常5-10 μm)。此外,采用光学光热红外技术(O-PTIR)成像和光谱学的方法,也可以摆脱红外波长的限制,实现亚微米(500nm)的空间分辨率,为完整组织和原纤维胶原蛋白的研究打开了一个新窗口。 近期,在Kathleen M. Gough等人的研究中[1],作者采用基于光学光热红外(O-PTIR)技术的PSC非接触亚微米分辨红外拉曼同步测量系统 mIRage对样品~500 nm单点区域收集振动光谱,如图1所示。该光学光热红外(O-PTIR)技术的工作原理是光热检测,其中红外量子联激光器(QCL)激发样品在1800–800 cm-1光谱范围内的分子振动。产生的光热效应通过短波长探测激光器检测。图2A-B中的光谱表明,固有的激光偏振所获得的高对比度所产生的光谱与使用FTIR焦平面阵列和偏振器组合进行的光谱测试近乎一致。并且对于安装在玻璃显微镜的不同载玻片,样品均获得了具有良好SNR的高质量光谱。图1. 完整肌腱的光学光热IR(O-PTIR)光谱,?500 nm测量点。(A)利用线性偏振量子联激光器(QCL)从CaF2窗口在平行和垂直两个不同方向上获得光谱。插入的可视图像显示了6个采谱位置;比例尺= 70 μm。(B)对比从CaF2(部)和玻璃(底部)载玻片在线性偏振QCL的平行和垂直方向上获得的光谱。 光学光热红外(O-PTIR)技术可以通过在载物台上轻易地旋转样品来测试平行和垂直于红外激光偏振方向的光谱。并利用光学光热红外(O-PTIR)技术在几个单一频率下对原纤维成像,以获得表观物理宽度的确定性估计。如图2右侧所示,在垂直方向上, 1655 cm-1处记录的单波长图像的红黄带表明该原纤维的宽度不超过500 nm。该尺寸将目标物标定为真正的原纤维,并且可与红外s-SNOM实验中检测到的300 nm原纤维相当。光学光热红外(O-PTIR)技术与nano-FTIR的测试结果相互印证,反映了“原纤维”宽度的标准范围。此外作者观察到,来自原纤维的酰胺I和II谱带比完整肌腱的窄,并且相对强度和谱带形状都发生了变化。这些光谱反映出在偏振红外光下正常I型胶原纤维的更多有用信息,并可作为研究胶原组织的基准。图2. 从CaF2窗口利用O-PTIR测试控制肌腱原纤维获得的光谱。用平行于激光偏振的原纤维获得的光谱(红色);蓝色是垂直方向上的光谱。右侧是在垂直方向基于1655 cm-1的单波长图像。正方形表示光谱采集位置。比例尺= 1 μm。 与基于焦平面阵列检测器的偏振远场傅立叶变换红外(FF-FTIR)光谱相比,光学光热红外(O-PTIR)具有更高的空间分辨率,且可提供单波长光谱。使用FF-FTIR FPA探测往往包括其他非胶原材料。同时,光学光热红外(O-PTIR)还可以提供偏振平行于原纤维取向的原纤维光谱。这也是光学光热红外(O-PTIR)和纳米FTIR光谱对直径为100~500 nm的胶原原纤维给出证实性和互补性结果的次证明。综上所述,这些结果为进一步研究生物样品中的胶原蛋白提供了广阔的基础。 参考文献:[1]. Gorkem Bakir, Benoit E. Girouard, Richard Wiens, Stefan Mastel, Eoghan Dillon, Mustafa Kansiz, Kathleen M. Gough, Molecules 2020, 25, 4295 doi:10.3390/molecules25184295.
  • 长春光机所在光学系统偏振像差理论研究中取得进展
    p  中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室的黄玮课题组在光学系统偏振像差理论的研究中取得新进展:首次提出了一种能同时表征偏振像差在光学系统的光瞳与视场上分布规律的正交多项式,该多项式在偏振像差的测量与补偿方面有很大潜在应用价值。相关结果发表于近期的Optics Express(Opt. Express 23,21, 27911-27919, 2015, doi:10.1364/OE.23.027911)。/pp  对于高数值孔径的光学系统,如光刻物镜和显微物镜,偏振照明成为一种提高分辨率的方法。但偏振照明光束经光学系统后,受偏振像差影响,其偏振状态会发生改变,进而影响分辨率。已有的研究多集中于偏振像差在光学系统的光瞳处的分布规律,很少关注视场。但对偏振像差的测量和补偿,需要在整个视场上进行。一般的方法是选择多个离散视场点来近似整个视场,精度由视场点个数决定。因此,揭示偏振像差在光学系统视场上的分布规律,对偏振像差的测量和补偿研究具有重要价值。/pp  该研究将方向泽尼克多项式与条纹泽尼克多项式相结合,依据光学系统的旋转对称性,推导出一系列正交多项式,并将其命名为视场-方向泽尼克多项式(Field-orientation Zernike polynomials,FOZP)。FOZP将偏振像差的分布规律从光瞳扩展到了视场,更完整地表述了光学系统的偏振像差。/pp  该工作得到了国家重大专项子课题基金的支持。/ppimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201512/insimg/636c3cea-ce6b-40d7-8aab-5c3a5b476b93.jpg" style="width: 600px height: 429px " title="W020151217536871222917.jpg" width="600" height="429" border="0" hspace="0" vspace="0"//ppimg src="http://img1.17img.cn/17img/images/201512/insimg/7db4bd1d-c6c6-4517-9b33-346fa05251e2.jpg" style="width: 600px height: 465px " title="W020151217536871237159.jpg" width="600" height="465" border="0" hspace="0" vspace="0"//pp style="text-align: center "span style="font-size: 16px "视场-方向泽尼克多项式的视场分布图/spanbr//ppbr//p
  • 南通首用紫外仪检测用电设备
    连日来,在南通市多个变电站内,供电公司高压试验人员正运用新型紫外检测仪,对用电设备的放电情况进行检测。据悉,这也是当地首次将紫外检测仪用于放电&ldquo 诊断&rdquo 。  此前,电力设备放电检测都是使用超声波检测仪,这对电力设备的内部结构放电检测具有良好的效果,但对设备外表的放电状况却难以检测得到。而紫外检测仪则解决了这一难题,它对设备表面的电晕感应非常敏感,可识别因设备绝缘污染、安装不良等问题造成的电晕放电问题,有效提高设备的运行可靠性。  目前,南通供电公司已完成46座变电站相关设备的紫外检测工作。检测人员将对存在缺陷的设备跟踪监测,并抓紧实施余下24座变电站的紫外检测工作。
  • 【新书推荐】宽禁带半导体紫外光电探测器
    基于宽禁带半导体的固态紫外探测技术是继红外、可见光和激光探测技术之后发展起来的新型光电探测技术,是对传统紫外探测技术的创新发展,具有体积小、重量轻、耐高温、功耗低、量子效率高和易于集成等优点,对紫外信息资源的开发和利用起着重大推动作用,在国防技术、信息科技、能源技术、环境监测和公共卫生等领域具有极其广阔的应用前景,成为当前国际研发的热点和各主要国家之间竞争的焦点。我国迫切要求在宽禁带半导体紫外探测技术领域取得新的突破,以适应信息技术发展和国家安全的重大需要。本书是作者团队近几年来的最新研究成果的总结,是一本专门介绍宽禁带紫外光电探测器的科技专著。本书的出版可以对我国宽禁带半导体光电材料和紫外探测器的研发及相关高新技术的发展起到促进作用。本书从材料的基本物性和光电探测器工作原理入手,重点讨论宽禁带半导体紫外探测材料的制备、外延生长的缺陷抑制和掺杂技术、紫外探测器件与成像芯片的结构设计和制备工艺、紫外单光子探测与读出电路技术等;并深入探讨紫外探测器件的漏电机理、光生载流子的倍增和输运规律、能带调控方法、以及不同类型缺陷对器件性能的具体影响等,展望新型结构器件的发展和技术难点;同时,介绍紫外探测器产业化应用和发展,为工程领域提供参考,促进产业的发展。本书作者都是长年工作在宽禁带半导体材料与器件领域第一线、在国内外有影响的著名学者。本书主编南京大学陆海教授是国内紫外光电探测领域的代表性专家,曾研制出多种性能先进的紫外探测芯片;张荣教授多年来一直从事宽禁带半导体材料、器件和物理研究,成果卓著;参与本书编写的陈敦军、单崇新、叶建东教授和周幸叶研究员也均是在宽禁带半导体领域取得丰硕成果的年轻学者。本书所述内容多来自作者及其团队在该领域的长期系统性研究成果总结,并广泛地参照了国际主要相关研究成果和进展。作者团队:中国科学院郑有炓院士撰写推荐语时表示:“本书系统论述了宽禁带半导体紫外探测材料和器件的发展现状和趋势,对面临的关键科学技术问题进行了探讨,对未来发展进行了展望。目前国内尚没有一本专门针对宽禁带半导体紫外探测器的科研参考书,本书的出版填补了这一空白,将会对我国第三代半导体紫外探测技术的研发起到重要的推动作用。”目前市面上还没有专门讲述宽禁带半导体紫外探测器的科研参考书,该书的出版可以填补该领域的空白。本书可为从事宽禁带半导体紫外光电材料和器件研发、生产的科技工作者、企业工程技术人员和研究生提供一本有价值的科研参考书,也可供从事该领域科研和高技术产业管理的政府官员和企业家学习参考。详见本书目录:本书目录:第1章 半导体紫外光电探测器概述1.1 引言1.2 宽禁带半导体紫外光电探测器的技术优势1.3 紫外光电探测器产业发展现状1.4 本书的章节安排参考文献第2章 紫外光电探测器的基础知识2.1 半导体光电效应的基本原理2.2 紫外光电探测器的基本分类和工作原理2.2.1 P-N/P-I-N结型探测器2.2.2 肖特基势垒探测器2.2.3 光电导探测器2.2.4 雪崩光电二极管2.3 紫外光电探测器的主要性能指标2.3.1 光电探测器的性能参数2.3.2 雪崩光电二极管的性能参数参考文献第3章 氮化物半导体紫外光电探测器3.1 引言3.2 氮化物半导体材料的基本特性3.2.1 晶体结构3.2.2 能带结构3.2.3 极化效应3.3 高Al组分AlGaN材料的制备与P型掺杂3.3.1 高Al组分AlGaN材料的制备3.3.2 高Al组分AlGaN材料的P型掺杂3.4 GaN基光电探测器及焦平面阵列成像3.4.1 GaN基半导体的金属接触3.4.2 GaN基光电探测器3.4.3 焦平面阵列成像3.5 日盲紫外雪崩光电二极管的设计与制备3.5.1 P-I-N结GaN基APD3.5.2 SAM结构GaN基APD3.5.3 极化和能带工程在雪崩光电二极管中的应用3.6 InGaN光电探测器的制备及应用3.6.1 材料外延3.6.2 器件制备3.7 波长可调超窄带日盲紫外探测器参考文献第4章 SiC紫外光电探测器4.1 SiC材料的基本物理特性4.1.1 SiC晶型与能带结构4.1.2 SiC外延材料与缺陷4.1.3 SiC的电学特性4.1.4 SiC的光学特性4.2 SiC紫外光电探测器的常用制备工艺4.2.1 清洗工艺4.2.2 台面制备4.2.3 电极制备4.2.4 器件钝化4.2.5 其他工艺4.3 常规类型SiC紫外光电探测器4.3.1 肖特基型紫外光电探测器4.3.2 P-I-N型紫外光电探测器4.4 SiC紫外雪崩光电探测器4.4.1 新型结构SiC紫外雪崩光电探测器4.4.2 SiC APD的高温特性4.4.3 材料缺陷对SiC APD性能的影响4.4.4 SiC APD的雪崩均匀性研究4.4.5 SiC紫外雪崩光电探测器的焦平面成像阵列4.5 SiC紫外光电探测器的产业化应用4.6 SiC紫外光电探测器的发展前景参考文献第5章 氧化镓基紫外光电探测器5.1 引言5.2 超宽禁带氧化镓基半导体5.2.1 超宽禁带氧化镓基半导体材料的制备5.2.2 超宽禁带氧化镓基半导体光电探测器的基本器件工艺5.3 氧化镓基日盲探测器5.3.1 基于氧化镓单晶及外延薄膜的日盲探测器5.3.2 基于氧化镓纳米结构的日盲探测器5.3.3 基于非晶氧化镓的柔性日盲探测器5.3.4 基于氧化镓异质结构的日盲探测器5.3.5 氧化镓基光电导增益物理机制5.3.6 新型结构氧化镓基日盲探测器5.4 辐照效应对宽禁带氧化物半导体性能的影响5.5 氧化镓基紫外光电探测器的发展前景参考文献第6章 ZnO基紫外光电探测器6.1 ZnO材料的性质6.2 ZnO紫外光电探测器6.2.1 光电导型探测器6.2.2 肖特基光电二极管6.2.3 MSM结构探测器6.2.4 同质结探测器6.2.5 异质结探测器6.2.6 压电效应改善ZnO基紫外光电探测器6.3 MgZnO深紫外光电探测器6.3.1 光导型探测器6.3.2 肖特基探测器6.3.3 MSM结构探测器6.3.4 P-N结探测器6.4 ZnO基紫外光电探测器的发展前景参考文献第7章 金刚石紫外光电探测器7.1 引言7.2 金刚石的合成7.3 金刚石光电探测器的类型7.3.1 光电导型光电探测器7.3.2 MSM光电探测器7.3.3 肖特基势垒光电探测器7.3.4 P-I-N和P-N结光电探测器7.3.5 异质结光电探测器7.3.6 光电晶体管7.4 金刚石基光电探测器的应用参考文献第8章 真空紫外光电探测器8.1 真空紫外探测及其应用8.1.1 真空紫外探测的应用8.1.2 真空紫外光的特性8.2 真空紫外光电探测器的类型和工作原理8.2.1 极浅P-N结光电探测器8.2.2 肖特基结构光电探测器8.2.3 MSM结构光电探测器8.3 真空紫外光电探测器的研究进展8.3.1 极浅P-N结光电探测器的研究进展8.3.2 肖特基结构光电探测器的研究进展8.3.3 MSM结构光电探测器的研究进展
  • 偏振能量色散X射线荧光光谱仪XEPOS在拉链行业的应用
    相关法规背景 REACH法规即“化学品注册、评估、许可和限制”,是欧盟对进入其市场的所有化学品进行预防性管理的法规,该法规自2007年实施以来,不仅对我国出口化工企业带来了一系列长期的冲击,也对包括纺织、机电、玩具、家具等在内的下游产品企业的生产、管理和出口产生深远影响。近年来,欧盟对于REACH法规的消费品监管内容不断更新,仅2015年就将有(EU) No 474/2014、(EU) No 1272/2013等四个修订案生效,涉及十多种消费产品,同时欧盟对消费品符合REACH法规的执行监管也不断强化,出口企业应引起重视和关注。 REACH法规与消费品密切相关的主要是法规附件XVII,附件中对消费品中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制,中国消费品因不符合欧盟REACH法规被各成员国海关拒绝进口或责令召回的通报近年来不断增长,已成为我国消费品出口的重要技术壁垒。根据欧盟非食用消费品快速通报系统(RAPEX)的公开数据统计,2014年我国出口欧盟的消费品因不符合REACH法规被通报高达301起,同比上年增长91.7%,其中涉及增塑剂的达180起,涉及重金属的97起。从产品类别来看,针对玩具及儿童用品的通报260起,同比增长111.4%,针对一般消费品的41起,同比增长4.9%。通报数据的快速增长一方面表明,欧盟对于REACH法规的执行监管日趋严格,另一方面也说明,我国输欧消费品在DEHP等禁用化学品的控制上存在较大不足,企业的风险防范意识有待进一步强化。 XEPOS如何帮助拉链行业有效应对欧盟REACH法规 拉链作为服装大类,配件分类,REACH法规对其中可能存在的危险化学物质的使用要求和含量要求有严格的限制。一般而言,人们尤其关注里面含有的各种重金属元素,尤其应用于儿童服装类的拉链,拉链中的铅(Pb)含量更是有着更严格要求。随着企业风险防范意识的强化,不少企业都纷纷购置各种精密分析仪器对产品质量进行监控,以应对相关行业法规。但拉链企业对拉链重金属含量的日常监控中往往会遇到如下问题:(1) 检测时间长,效率低下,影响生产(2) 检测人才的培养成本高(3) 检测结果偏差大,达不到内控要求(4) 送检成本高 SPECTRO XEPOS 台式偏振X射线荧光光谱仪是德国斯派克分析仪器公司推出的新一代仪器,能很好有效地解决上述拉链行业质量监控中所遇到的困惑。在日常的重金属检测中,斯派克台式偏振X射线荧光光谱仪XEPOS有着无与伦比的巨大优势。(1)3-5分钟内可以完成一个样品的检测,检测元素范围:Na-U;(2)操作简单,并不需要十分专业的技术人员操作,节约人力成本;(3)无损检测,无须进行样品前处理,轻松解决样品前处理复杂、耗时、危险等问题。(4)检测下限极低,在某些材质检测方面,偏振式X射线荧光光谱仪(简称ED(P)XRF)灵敏度和检测限都是普通X射线荧光光谱仪(EDXRF)的5-10倍;(5)性能大幅度领先于普通X射线荧光光谱仪。无论是对轻元素还是重金属元素,偏振式X射线荧光光谱仪XEPOS皆有优秀的测试能力。普通的EDXRF虽然也能宣称可以达到Na-U的分析能力,如Na的检测限指标一般是3000ppm,常见重金属为10-30ppm,所以对于某些痕量元素的测试应用意义不大。而偏振ED(P)XRF的元素检测限一般为:Na:100ppm Mg:30ppm Al:30ppm Si:2ppm S:0.6ppm等其的重金属元素检测限一般为(以GB15618-1995,和美国EPA标准为例,硅基,300s测试时间):V:0.6ppm Cr:0.5ppm As:0.7ppm Cu:0.6ppm Cd:0.3ppm Sb:0.7ppm Hg:0.3ppm Pb:0.3ppm La:2.1ppm Ce:2.5ppm Pr:3ppm Nd:4ppm(6)仪器性能认同度高,不少检测单位都有该设备,如中国CQC,TUV实验室,深圳计量院,广州分析测试中心,广东省环保局。企业在有仪器自检的情况下,可以减少甚至无须对样品送第三方检测,降低企业经营成本。 另外,SPECTRO XEPOS可广泛地应用于石油、化工、冶金、矿业、制药、食品、环保、地质、建材、废物处理以及再加工工业等。以油中各种元素的分析为例。使用SPECTO XEPOS,在氦气保护状态下,在300秒钟之内,对于P、S、Cl、Ca、Cu、Zn、Ba的检测下限在1-7μg/g以上。 XEPOS型X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、(汞)等元素分析,检出下限低,灵敏度高、稳定性好,可应对欧洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083标准。XEPOS型X射线荧光光谱仪真正做到高性能,多功能,一机多用,是企业单位添置精密仪器的,提升自身综合能力的一个不错选择。
  • 半导体所在二维GeSe的偏振光学特性研究中获进展
    style type="text/css".TRS_Editor P{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor DIV{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor TD{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor TH{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor SPAN{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor FONT{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor UL{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor LI{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }.TRS_Editor A{margin-top:0px margin-bottom:12px line-height:1.8 font-family:宋体 font-size:10.5pt }/stylep  光在传波过程中振动方向对于传播方向的不对称性叫做偏振,偏振是光作为电磁波的重要特征之一。偏振光探测在线性偏光镜(LPL)、偏振遥感以及医疗诊断治疗等方面已展现出广泛的应用前景。目前,对可见波段的偏振检测研究已比较普及,而对其它特殊波段的偏振探测有待进一步探索。近日,中国科学院半导体研究所超晶格室研究员李京波、魏钟鸣,与天津大学教授胡文平合作,围绕二维GeSe材料在短波近红外波段(700-1100 nm)的偏振光探测取得新进展。/pp  GeSe是一种典型的二元IV-VI硫族化合物,研究显示,GeSe是以高度各向异性的层状正交晶系方式结晶(空间群Pcmn- ,比黑磷的空间群Bmab- 对称性低)。此外,GeSe的带隙范围为1.1-1.2eV,使其适用的二向色性波段分布在1100nm波段以内(可见/短波近红外波段)。在靠近带边处,高态密度直接导致高吸收系数。鉴于上述特性,GeSe在面内各向异性等方面的独特性质有待研究,来实现其在可见/短波近红外波段光偏振探测方面的应用。/pp  在此背景下,该研究员团队利用GeSe材料高蒸气压的特点,采用真空气相沉积法,获得了高质量的GeSe层状单晶。通过XRD以及TEM表征,证实获得的二维GeSe纳米片具有很高的结晶度。同时,通过拉曼光谱、光吸收谱和光探测器件研究,系统分析了GeSe在晶格振动以及光学方面的各向异性(如图)。由于GeSe的几个典型的拉曼振动模的强度随着入射光和散射光的偏振方向以及样品的夹角而变化,拉曼光谱检测为GeSe晶向的确定提供了快速简便的方法。在光学方面,GeSe的各向异性体现在偏振度可分辨的光吸收谱和光电流谱等方面,在532nm激光波长下二向色性比为1.09,在638nm下为1.44,在808nm下为2.16,与吸收谱测试结果基本符合(对应的各向异性吸收比分别是1.09,1.26,3.02),这两种测试方法系统地确定了GeSe最佳的各向异性的光响应在808nm波长附近。结合理论计算的佐证,系统探测显示8-16nm厚度的GeSe有助于实现最优质的光探测结果。该研究成果显示出,二维GeSe在线偏振探测领域有潜在的应用价值。/pp  相关研究成果近期发表在emJournal of the American Chemical Society/em上。研究工作得到中科院和国家自然科学基金委员会的资助。/pp style="text-align:center "img alt="" oldsrc="W020171123391449326616.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201711/uepic/753d9b4e-23b3-45db-b3a8-e7fd4a6082c2.jpg" uploadpic="W020171123391449326616.jpg"//pp style="text-align: center "由GeSe低晶格对称性导致的角度依赖各向异性拉曼信号和808nm激光下的探测性能。/p
  • 紫外光催化技术应用 - 日化篇
    迷人的香味让人心旷神怡其实,你闻到的不是香味,而是有机物 香精香料行业的目标产品就是形成浓度低、挥发时间长、香味明显的有机产品。低浓度该类有机物可能会对人体产品愉悦的感觉,但高浓度下就会刺激人体呼吸系统,甚至眼睛、皮肤等。国家标准也限定了该类物质的最高允许排放浓度以及臭气浓度,以控制其对周围环境、居民和生产员工的伤害。紫外光催化技术(Ultraviolet,简称UV技术)是目前工业废气处理技术中最先进的技术之一。贺利氏UV技术自推出以来,一直备受废气治理行业的关注。该技术充分考虑工业废气浓度不稳定及组分复杂等特性,为大风量、低浓度、异味明显的工况带来全新有效的经济型解决方案。案例分享案例一欧洲某香料有限公司上海生产车间废气处理现场检测该客户厂址位于上海市浦东新区,主要原料及产物为烯烃类、醛类、酯类物质。客户为了防止异味扩散,不断改进生产工艺,并采用喷淋、吸附等多种工艺处理车间废气,但是结果始终不甚理想。因此,我司在该公司生产车间高浓度废气管路中引出一股废气进行实地测试。以下为测试数据:进出口废气GC-MS谱图通过上述现场PID及GC-MS测试结果显示,贺利氏紫外技术可有效降低各种有机污染物的浓度。客户还通过现场人体嗅辨方法检测了出口废气臭气指标,也一致同意此实验末端出口臭气浓度大幅度降低,从而大大降低了生产车间对周边环境的影响,对改进客户的公众形象大有益处。案例二美洲某日化用品公司江苏生产车间废气处理现场检测该客户的生产车间废气中包含80 %的溶剂醇类,其余20%为添加的醇类、脂类的香精物质。虽然废气中非甲烷总烃已经达到当地环保排放标准,但是香精类物质的异味仍严重影响了周围500m范围内居民的生活起居,因此客户急需解决此问题。我们在现场测试中发现,客户废气中含有的大量醇类溶剂会消耗较多紫外线能量,降低紫外线与香精类物质的碰撞几率。但是贺利氏高能紫外灯管仍能有效降低非甲烷总烃和臭气浓度。通过以上第三方检测单位的报告可以看出,使用气相色谱检测非甲烷总烃浓度和人工嗅辨的方法检测臭气浓度,贺利氏UV测试设备出口NMHC转化率达83%,臭气浓度明显下降,达到了生产企业的要求,降低对周围居民的影响。放大招贺利氏紫外光催化氧化设备不仅可以单独使用,也可以和RCO/RTO/转轮浓缩设备有效结合。当高浓度废气经过RCO/RTO/转炉浓缩设备进行富集或高温氧化处理后,未被处理完全的VOC还可能存在异味物质。通过在上述设备后端与紫外设备结合的工艺路线可以有效降低异味,完美解决客户问题。
  • 美宇航局筹划更先进的望远镜——X射线成像偏振探测器
    美国宇航局预计在2017年初宣布概念研究方案,航天器的科学仪器预算为1.25亿美元  据腾讯太空(罗辑/编译):在地球轨道上,美国宇航局所管辖的空间望远镜是全球最多的,性能也最为先进,几乎覆盖了所有的观测波段。2018年,美国宇航局将发射迄今最先进的空间望远镜,詹姆斯-韦伯望远镜,这是一具红外线天文台。不过,美国宇航局又在筹划一种更先进的望远镜,主要工作波段为X射线,被命名为X射线成像偏振探测器,目前已经入围了三个方案,预计在2020年底会发射升空,将作为X射线天文学观测上的主力。  目前入围的三个方案都是目前X射线观测上的顶尖水平,比如来自加利福尼亚技术研究所的SPHEREX望远镜,美国宇航局马歇尔太空飞行中心提出的IXPE计划,以及美国宇航局戈达德太空飞行中心的PRAXyS方案。每个科学小组会获得100万美元的资金支持,美国宇航局也会进行为期11个月的任务概念研究。预计在2017年初宣布概念研究方案,航天器的科学仪器预算为1.25亿美元,并安排了5000万美元的发射费用。  IXPE和PRAXyS这两个方案主要目标是个宇宙中高能事件,比如恒星工厂和恒星死亡后的情景,这些过程可产生强大的X射线信号。此外,科学家还希望收集黑洞周围的X射线信号,超致密的中子星、恒星爆炸、遥远星系中央内核的X射线信号等。IXPE采用X射线偏振技术,可以对中子星、脉冲星星云、恒星、黑洞等主要宇宙天体进行研究,符合美国宇航局的任务要求。  PRAXyS方案则使用了一种不同的方法来研究X射线天文学,PRAXyS任务的首席研究员基思认为PRAXyS方案类似于GEMS引力与极端磁场研究项目,后者在2012年被美国宇航局取消。SPHEREX任务概念将对天空进行全面扫描,时间至少持续两年,还可以观测宇宙中的引力波。此外,SPHEREX任务还可以对一些恒星系统演化的早期阶段进行研究,比如冰是否存在于恒星周围。
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