光栅制直读仪

看到很多版友都问过直读光谱中光栅的区别，整理了几个老帖子的回答~~汇总优质资源啦！！！！1、知识简介 —— 光栅摄谱仪http://bbs.instrument.com.cn/topic/41402962、凹面光栅和平面光栅的区别http://bbs.instrument.com.cn/topic/38543273、火花直读光谱的光栅基本上固定不动的吧？只能微调？http://bbs.instrument.com.cn/topic/4421323~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~目前只看到这些，大家还有看到好帖子，欢迎在本帖下留言，推荐给我哦~~

直读光谱有一米（1000mm）光栅，750mm光栅，500mm光栅，到底哪种光栅最好？直读光谱光栅是否越长越好？请大家发表高论。

有人目测过直读光谱仪光栅的实际尺寸吗？包括PMT和CCD的。

直读光谱用的是什么光栅？平面光栅？凹面光栅？阶梯光栅？或其他光栅？

我们这将要引进一台火花直读光谱。在这方面我是新手。刚看了下原理，感觉比较简单。　　　我想问一下：火花直读光谱的光栅应该是基本固定的吧？最多只能微调。是不是这样？　　　我的感觉是：这种光谱仪把经光栅出来的光分光后一次性全给光电倍增管接收了，一起测。是不是有点类似于高效液相色谱中的光电二极管阵列一样？只是这里是光电倍增管阵列。　　　其它的光谱一般是一次测一个波长的光线。所以每次要转光栅，把它调到合适的位置，使在固定在一个位置上的光电倍增管接收相应的信号。　　　　　　从原理上来说，就像我们把太阳光用棱镜（火花直读是光栅）分光成七彩虹一样，然后如果我们在不同位置接收不同颜色的光线（相当于检测），这样就知道每种彩色的强度。由于在火花直读光谱仪里光电倍增管是固定的（应该是固定的吧？），所以只有在一个合适的角度才有可能让这些东东入射到相应的光电倍增管上。因为波长的排列顺序是固定的。　　　从这个方面来说，我觉得火花直读光谱仪的抗震性很重要，位置稍有偏离可能就不好测了，或测不到了。　　　不知我的理解对不对？

光栅摄谱仪和光电直读光谱仪的优缺点比较：　　光栅摄谱仪的优点是： 　　(1)适用的波长范围广; 　　(2)具有较大的线色散率和分辨率，且色散率仅决定于光栅刻线条数而与光栅材料无关; 　　(3)线色散率与分辨率大小基本上与波长无关。其不足之处是光栅会产生罗兰鬼线以及多级衍射线间的重叠而出现谱线干扰。 　　光电直读光谱仪的优点是： 　　(1)分析速度快; 　　(2)准确度高，相对误差约为1%; 　　(3)适用于较宽的波长范围; 　　(4)光电倍增管对信号放大能力强，对强弱不同谱线可用不同的放大倍率，相差可达10000倍，因此它可用同一分析条件对样品中多种含量范围差别很大的元素同时进行分析; 　　(5)线性范围宽，可做高含量分析。 　　缺点为：出射狭缝固定，能分析的元素也固定，也不能利用不同波长的谱线进行分析;价格昂贵。

如果直读光谱光学室漏油，光栅被油污染了，有什么办法清理吗？

我单位现有ICP－D光源和WP－2L平面光栅，由于经费问题，想改造成光电直读光谱仪（光电倍增管、CCD都可），不知如何制定方案？

直读光谱仪的色散系统色散系统的作用：将各种波长的复合光按波长顺序区分开来。光栅色散原理 光栅是在一个光学平面或凹面上的许多等距等宽相互平行的狭缝（或刻槽），如果光线通过这些狭缝产生衍射和干涉现象，这一类光栅称为透射光栅；如果光线从一个镀有金属的光学表面的刻槽上反射产生衍射和干涉现象，这一类光栅成为反射光栅。在直读光谱仪中用的光栅均属反射光栅。 光栅的种类按光栅刻制的方式不同：可划分机刻光栅和全息光栅按光学平面的形状不同：可划分为平面光栅和凹面光栅

分光计是用来把光源激发出来的复合光展开成光谱的一种仪器，这种仪器的主要作用使复合光色散。使之成为各种不同波长的光叫做光的色散或叫分光。有棱镜和光栅二种，以棱镜为色散元件做成的分光仪，有水晶、玻璃、萤石等多种分光仪。以光栅为色散元件的分光仪又有平面衍射光栅或凹面衍射光栅分光仪之分。由于光栅刻划技术和复制技术进一步的提高，光栅已广泛应用于光电直读光谱仪中。光栅与棱镜比较具有一系列优点。首先棱镜的工作光谱区受到材料透过率的限制；在小于120nm真空紫外区和大于50微米的远红外区是不能采用的，而光栅不受材料透过率的限制，它可以在整个光谱区中应用。 光栅的角色率几乎与波长无关，光栅角色散在第一级光谱中比棱镜大，不过在紫外250nm时石英角色散比光栅角色率大。光栅的分辨率比棱镜大；由于光栅具有上述优点将更进一步得到应用。

有哪些公司生产的光栅适合应用在光电直读分析仪上啊？

问下何谓直读光谱的光栅焦距？光栅焦距多大为好呢？

最近在一本书上看到“光谱仪上使用的入射狭缝是固定的直缝，但也有使用弯缝的，所谓弯缝就是两刀口不是直的，而是弯的（一般为圆弧弯形），用于补偿由光栅产生的谱线弯曲和光栅的像散。”在我的印象中直读光谱仪的入射狭缝一般都是使用直的，不知道目前市场上有没有哪家仪器的入射狭缝是弯缝的对于使用直缝的仪器，由光栅产生的谱线弯曲和光栅的像散对仪器的性能有多大的影响呢？欢迎各位高手讨论！

直读光谱中，用全息光栅是不是对短波效果不好啊？能不好到什么程度？

线色散率、分辨率、集光本领是评价光谱仪性能的重要指标，而这些性能又主要取决于所采用的色散元件—光栅，制造高性能的光栅一直是光谱仪技术追求的目标。ICP分光系统中，全直谱图的很多都是采用中阶梯光栅。从光栅色散率公式可知，在自准条件下（a=b=e）dl/dλ=(m·f)/(d·cosb)提高线色散率可采用长焦距f、大衍射角b、高光谱级次m、减少两刻线间的距离d（提高每毫米刻线数）。从光栅分辨率公式可知R=λ/Dλ=m·N提高分辨率可增加光栅刻线总数N、用高衍射级次来解决。在常规的光栅设计中，都是通过增加每毫米刻线数来提高线色散率和分辨率。事实上由于制造技术及成本原因，精确、均匀地在每毫米刻制2400条线已很困难，采用全息技术制造的全息光栅最高可达10000条，但由于槽面成正弦形，使闪耀特性受影响，集光效率下降。1949年美国麻省理工学院的Harrison教授摆脱常规光栅的设计思路，从增加衍射角b，利用“短槽面”获得高衍射级次m着手，增加两刻线间距离d的方法研制成中阶梯光栅（Echelle），这种光栅刻线数目较少（8～80条），使用的光谱级次高（m=28～200），具有光谱范围宽、色散率大、分辨率好等突出优点。但由于当时无法解决光谱级次间重叠的问题，在五、六十年代未受到重视，直到七十年代由于实现了交叉色散，将一维光谱变为二维光谱，方得到实际应用。随着九十年代初二维半导体检测器（CID）和(CCD)的应用，中阶梯光栅的优点才在ICP光谱分析中充分的展现出来。光栅方程d(Sina+Sinb)=mλ 同样也适用于中阶梯光栅。在“自准”（a=b=e）时，m=2d·Sine/λ。中阶梯光栅不同于平面光栅，采用刻槽的“短边”进行衍射，即闪耀角e很大（60°- 70°）；采用减少每毫米刻线数，即增大光栅常数d，因此，光谱级次m大大增加。例如IRIS Ad.全谱直读ICP的光栅刻线为52.6条/mm，闪耀角e=64°，可计算出对应λ=175nm的光谱级次m=189级，对应λ=800nm的光谱级次m=42级。对于衍射级次从42～189时，其闪耀波长分别在800～175nm光谱分析段内，且这些闪耀波长间隔较近，即形成全波长闪耀。中阶梯光栅的角散率：db/dλ=(2·tgb)/λ线色散率 dl/dλ=(2·f·tgb)/λ分辨率 R=λ/Dλ=2·W/(λ·Sinb)从上面三个公式可知，中阶梯光栅的角色散率、线色散率和分辨率都与衍射角b有关，并随着b增大而增大。因此，只要取足够大的b值（取闪耀角接近衍射角b=64°），即相当于在较高级次下工作，就能获得很大的角色散率、线色散率和分辨率。对于一般平面光栅，线色散率dl/dx =(f·m)/d，必须依靠增大仪器的焦距f，减小刻线间距d（增加刻线条数）来增加线色散率。而中阶梯光栅由于角色散率很大，不必依赖焦距的增加，就能获得较大的线散率。例如焦距1米，3600条/mm的平面光栅在200nm处，一级光谱的倒数线色散率仅为0.22nm/mm，而0.5米焦距，52.6条/mm的中阶梯光栅光谱仪在168级处同一波长的倒数线色散率可达0.14nm/mm。由于中阶梯光栅的角色散率足够大，焦距反而可缩小（如0.5米），因此，仪器光室的体积大为缩小，使相对孔径变大，光谱光强也得到提高。由于线色散率大，中阶梯光栅每一级光谱的波长范围相当小，在这个范围内各波长的衍射角基本一致，而且各级基本上是在同一角度下（闪耀角）观察整个波长范围，所以均可达到很大闪耀强度，即“全波长闪耀”。另外，这种中阶梯光栅它们相邻的衍射光谱级次之间的能量分布如上图所示，从图中可以看出，同一波长的入射光的能量多被分布在两个相邻衍射光谱的级次里，由于最佳闪耀波段两侧能量锐减，如图中虚线下方所示。故入射光强能量几乎都被集中到如图中虚线上方的闪耀波段中的该波长上，由此可知，中阶梯光栅在175~800nm全波段范围内均有很强的能量分布，中阶梯光栅其光谱图象可聚焦在200 mm2的焦面上，非常适合于半导体检测器来检测谱线。中阶梯光栅光谱仪各级之间的重叠用交叉色散棱镜的办法来解决，即棱镜的色散方向与中阶梯光栅的色散方向互相垂直，这样在仪器的焦面上形成二维光谱图象。

直读光谱仪又叫原子发射光谱仪，应用于铸造，钢铁，金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检，质检等单位。随着CCD技术的不断发展，直读光谱仪开始朝小型化、全谱型方向发展。小型化仪器功耗小，占用空间小且易于维护；全谱直读光谱仪能够获得全波段范围内的光谱，满足多基体分析要求，谱线选择灵活，可以有效扣除光谱干扰，分析更准确，而多道直读光谱仪只能检测有限数量的光谱，很难做到这一点。直读光谱仪分类1.根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪2..根据光栅所处的环境不同，可分为真空型和非真空型直读光谱仪，其中非真空型直读光谱仪又可分为空气型直读光谱仪和充惰性气体型直读光谱仪（可以测定真空紫外元素）；2.根据仪器的结构不同，又可分为多道直读光谱仪和全谱直读光谱仪，其中前者多采用光电倍增管作为检测器，后者多采用阵列检测器。4.根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为棱镜光谱仪, 衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.直读光谱仪器的误差来源分析1.系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。 2.偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；检测时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。3.过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不精确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。

[font=SimSun][size=4][b]制造光学光栅的历史[/b] 光栅是光学光谱仪的心脏部分。在过去的50年中，电子、软件及自动化都得到快速的发展，而光栅的改进却是滞缓而固难。1949年George R Harrison在马省理工学院（MIT）发明了中阶梯光栅。中阶梯光栅解决了一个在刻制光栅时所碰到的问题，即如何制止钻石工具的磨损问题。即使光栅是刻制在相当柔软的材料，如铝、金和铜上，当在金属表面上精细地加工光栅时，这些金属也将很细微地磨损钻石工具。钻石工具的磨损将导致整个光栅刻槽形状的改变，使其分辨率降低而杂散光增强。我们可以设想一下，在一块面为50X100mm的空白光栅上，刻制每毫米为2400线的光栅，钻石工具将在表面材料上走动12000 m （相当7.5英里）。为了获得优于2400条/mm刻线光栅的分辨率，同时降低钻石工具的走刀路程，Harrison设计了中阶梯光栅，中阶梯光栅每毫米仅为50条刻线，在相同的50X100mm的空白光栅上，钻石工具走动250m（相当820英尺）！今天，我们采用中阶梯光栅不但是因为减少了钻石刀头的磨损，而且是因为当它与棱镜交叉色散时可获得的高分辨率二维中阶梯光谱，该二维光谱与电荷转移阵列检测器（例如CID）实现最佳匹配。[b]原来的刻线机[/b]在二十世纪50年代，Jarrell-Ash公司（Thermo Elemental的前生）先后研制了两台机械光栅刻制机。一号机具有可以在每英寸中刻制确切槽数的传动装置，而二号机可设定刻制每毫米特定的条数。上述机械中的关键部件，诸如Nitr-合金（Nitralloy）的滑台导轨、导向螺杆以及导向螺杆传动装置，在其制造时是非常小心且费力地用手工研磨抛光而成，以获得最好精度。60年代，二号机的精度由于增加了一个测量放置光栅胚模（Grating blank）滑台位置的干涉仪而大大提高。其原理是通过传动装置的差异，干涉仪用作为反馈回路以校正导致螺杆的微小但必然存在的误差。这两台仪器在其服务的三十年里作出了令人满意的贡献。1990年，科学家们对二号机作了一个彻底的现代化改造，将其技术水平提高为“艺术级”，以满足刻制机械所要求的最严竣的挑战，它被用于刻制中阶梯光栅。[/size][/font]

请问大家在荧光分光光度计中，刻制光栅和全息光栅有什么区别？各自的优缺点是什么？

最新型号的全谱直读光谱仪性能比较厂商及仪器型号光学系统全谱检测方式TJA IRIS AdvantageTM系列(全谱直读ICP、DCP仪器)中阶梯光栅—石英棱镜刻线：54.5条／mm，焦距381mm波长范围：　165—300nmC I D二维阵列，面积：28×28mm检测单元：512×512个感光点(262，144)BAIRD One Spark(全谱直读Spark仪器)中阶梯光栅-石英棱镜C I D二维阵列，260，000个感光点P-E Optima 3000系列(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅—光栅、棱镜双色散刻线：79条／mm，波长范围：　165—782nmS C D 面阵检测器，面积：13×19mm检测单元：235区段，6000个感光点有5000条谱线可供选用VARIAN VISTA CCD(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅-CaF2棱镜刻线：94.7条／mm，焦距：0.4m波长范围：　167—785nmC C D二维检测器，具有图象匹配技术检测单元：70，000个感光点，SPECTRO CIROSCCD(全谱直读ICP仪器)全息光栅，120—800nmC C D线阵式检测器可分析10，000条谱线SPECTROLABJ RCCD Spark(台式金属分析仪)全息光栅，175—550nmC C D线阵式检测器HILGER ASSURE Spark(台式全谱光谱仪)全息光栅，焦距200mm波长范围：170—410nm[t

如果光谱光学室真空泵漏油，使光谱的光栅表面沾了油怎么处理？

光栅作为重要的分光器件，它的选择与性能直接影响整个系统性能。光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂薄金属表面机械刻划而成；复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息光栅通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围广，杂散光低，且可作到高光谱分辨率。◆如何选择光栅选择光栅主要考虑如下因素：1、光栅刻线，光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率，刻线多光谱分辨率高，刻线少光谱覆盖范围宽，两者要根据实验灵活选择；2、闪耀波长，闪耀波长为光栅最大衍射效率点，因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实验需要波长附近。如实验为可见光范围，可选择闪耀波长为500nm；3、使用范围，3、光栅效率，光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高，信号损失愈小。为提高此效率，除提高光栅制作工艺外，还采用特殊镀膜，提高反射效率。◆光栅方程反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽，一系列平行刻槽的间隔与波长相当，光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长，在大多数方向消失，只在一定的有限方向出现，这些方向确定了衍射级次。如图所示，光栅刻槽垂直辐射入射平面，辐射与光栅法线入射角为α，衍射角为β，衍射级次为m，d为刻槽间距，在下述条件下得到干涉的极大值：Mλ=d（sinα+sinβ）定义φ 为入射光线与衍射光线夹角的一半，即φ=(α-β)/2；θ 为相对于零级光谱位置的光栅角，即θ=(α+β)/2,得到更方便的光栅方程：mλ=2dcosφsinθ从该光栅方程可看出：对一给定方向β，可以有几个波长与级次m 相对应λ 满足光栅方程。比如600nm 的一级辐射和300nm 的二级辐射、200nm 的三级辐射有相同的衍射角，这就是为什么要加消二级光谱滤光片轮的意义。衍射级次m 可正可负。对相同级次的多波长在不同的β 分布开。含多波长的辐射方向固定，旋转光栅，改变α，则在α+β 不变的方向得到不同的波长。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/03/201703121735_01_1841897_3.jpg

等离子体发射光谱仪分类与“全谱直读”一词陆文伟上海交通大学分析测试中心, 上海　200030摘　要　本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题。指出“全谱直读”一词用于仪器分类的不严谨性。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词。主题词　等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅 固态检测器 全谱直读中图分类号:O657131 　　文献标识码:B 　　文章编号:100020593 (2002) 0220348202　收稿日期:2000208205 ,修订日期:2000212212　作者简介:陆文伟,1951 年生,上海交通大学分析测试中心高级工程师　　早期国外把等离子体发射光谱仪( ICP2OES) 仪器分成同时型(Simultanous) 和顺序型(Sequential) 二类。国内把色散系统区分为多色器(Polychromator) 、单色器(Monochromator) ,仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道) ,顺序型(单道扫描) 仪器[ 1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能,仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP2OES 仪器在其发展期间,又有N + 1 的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1～2 nm 内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。1991 年新的中阶梯光栅固态检测器ICP2OES 仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultaneous) 仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“Echelle grating solid state detector ICP2OES”的命名。1993 年该类仪器进入中国市场,国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗入期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[ 3 ]中。纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨,并含糊地影射二方面意思:11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 21 全部谱线的总体信号同时采集读出。从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavelength coverage range) 来看,一般仪器都在160～800 nm 左右。如有的仪器在167～782 nm ,有的在165～800 nm ,有的在175～900 nm ,有的在165～1 000 nm ,有的是在122～466 nm 基础上另加590 ,670 ,766 nm 的额外单个检测器。有的在超纯Ar 装置下短波段区扩展至134nm ,其长波段区能扩展至1 050 nm。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离“全谱”还是有距离的,而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围!实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的,不同级次的光谱波长区甚至重迭。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm 以上的间隙,其间隙随着级数增大而变小,严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在,尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应,固态检测器的分段或分个处理,都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪,光谱级次间波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条) 多得多。如目前仪器有6 000 多条的,有2 万7 千条的,有在2 万4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“全谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Direct reading) 出现在摄谱仪之后、光电倍© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片2读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活,为了适应样品分析元素高低浓度大小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(Subarray) 控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel) 控制曝光。“全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP2AES 英文缩写名词,因AES 含义面广,易与俄歇电子光谱[ 4 ]混淆,现在逐渐被ICP2OES 取代。切入实际的名词才会在发展中生存。参考文献　[ 1 ] 　化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则,中华人民共和国国家标准GB10725289.　[ 2 ] 　发射光谱仪检定规程,中华人民共和国国家计量检定规程J TG768294.　[ 3 ] 　感耦等离子体原子发射光谱方法通则 感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程,1997. (第一版) 科学技术文献出版社,现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程.　[ 4 ] 　英汉仪器仪表词汇,科学出版社,1987 (第一版) .

有谁用过布鲁克Q2光谱仪，其光栅的焦距及刻线数是多少或者仪器光谱分辨率如何？谢谢

光电直读光谱仪为发射光谱仪，主要通过测量样品被激发时发出代表各元素的特征光谱光（发射光谱）的强度而对样品进行定量分析的仪器。 目前无论国内还是国外的光电直读光谱仪，基本可按照功能分为4个模块，即：1、激发系统：任务是通过各种方式使固态样品充分原子化，并放出各元素的发射光谱光。2、光学系统：对激发系统产生出的复杂光信号进行处理（整理、分离、筛选、捕捉）。3、测控系统：测量代表各元素的特征谱线强度，通过各种手段，将谱线的光强信号转化为电脑能够识别的数字电信号。控制整个仪器正常运作4、计算机中的软件数据处理系统：对电脑接收到的各通道的光强数据，进行各种算法运算，得到稳定，准确的样品含量。二、光电直读光谱仪4个模块的种类和特点：1、激发系统：（1）高能预燃低压火花激发光源+高纯氩气激发气氛：采用高能预燃，大幅降低了样品组织结构对原子化结果的影响（2）高压火花激发光源+高纯氩气激发气氛：采集光强不稳定（3）低压火花激发光源+高纯氩气激发气氛：对同一样品光强稳定，但是对于样品组织结构对原子化的影响无能为力（4）直流电弧激发光源+高纯氩气激发气氛：对样品中的痕量元素光谱分辨率和检出限有好效果。（5）数控激发光源+高纯氩气激发气氛：按照样品中各元素的光谱特性，把激发过程分为灵活可调的几个时间段，每段时间只针对某几个情况相近的元素给出最佳的激发状态进行激发，并仅采集这几个元素。把各元素的激发状态按照试验情况进行分类讨论）2、光学系统：（1）帕邢-龙格光学系统（固定光路，凹面光栅及排列在罗兰轨道上的固定出射狭缝阵列）：光学系统结构稳定，笨重，体积大。（2）中阶梯光栅交叉色散光学系统（采用双单色器交叉色散技术，达到了高级次同级的高分辨率，同时又用二次色散解决了光谱的级次重叠问题）：体积小，分辨率高，一般采集接固体成像系统。3、测控系统：（一）测量系统：（1）光电倍增管+积分电路+模数转化电路：一般作为帕邢-龙格光学系统或C-T光学系统的光谱采集器，一个光电倍增管加上之后的电路只能采集一根谱线 的强度。（2）CCD/CID检测器+DSP：一般作为中阶梯光栅交叉色散光学系统的采集器，灵敏度略低于光电倍增管，但是可做全谱采集。（二）控制：（1）多层光电隔离的激发控制+光路控制+采集控制（2）采用高抗干扰的通讯协议进行可又数据反馈的高效率控制。4、计算机软件及数据处理系统：（1）内标法（2）通过标准物质绘制曲线。（3）通过PDA技术筛选数据。（4）通过软件通道的测量数据进行背景、以及第三元素干扰的去干扰运算。（5）通过控制样品找回仪器的漂移量。

1、光电直读光谱主要特点：SPECTROMAXx型直读光谱仪性能特点介绍激发光源:最新全数字化（DDD）等离子光源，不需辅助间隙，能完成单基体和多基体分析任务火花台板使用时限及冷却方式:开放式火花台，适合于各种形状大小(最重可分析30Kg)的样品分析，能选配各种小样品分析夹具（最细可分析0.8mm细丝,最薄可分析0.1mm薄片），火花台板能完成至少30万次激发，空气冷却入射光方式:直射式采光+1根光导纤维采光导光光学系统数量:2个，一个专为紫外光设计，一个专为可见光设计光栅个数及刻线数:二块全息光栅，刻线数分别为3600，2400条/mm光室恒温控制:温度稳定的罗兰圆结构，光室需恒温在35±0.5°C，自动描迹最大通道容量及分析基体,程序:全谱接收，有效波长范围内全元素分析，分析通道不增加费用，能完成多基体和多程序分析，以后增加无需增加硬件，方便灵活工作曲线:在德国用国际标样预制持久工作曲线，用户无需花大量的金钱和时间在现场制作工作曲线，且厂家随机提供仪器漂移校正标样分析软件及数据管理软件:专用Windows XP操作软件，界面友好，操作简单，专用数据管理软件实现数据的再现存储2、全谱直读等离子发射光谱仪主要特点：1.一维色散＋32个CCD检测器设计，检测器无需超低温冷却，无需氩气吹扫保护2.全波长覆盖，唯一为130－770nm的波长范围，唯一可以分析ppm级卤素3.专利密闭充氩循环光路系统，检测190nm以下谱线，无需气体吹扫4.3秒实现真正全谱数据采集，分析速度最快5.所有气体流量采用质量流量计计算机控制，矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高3、便捷式直读光谱技术参数：1.16块CCD作为接收器，对分析基体，元素无限制2.光栅焦距400mm，分辨率好，精度高3.波长范围174--520nm，可分析C，P，S，B，Sn4.工作温度：0-50度5.重量24公斤主要特点：1.采用全新设计的光学系统，密封吹氩气，使仪器免受外界环境影响2.ICAL标准化功能，实现了1块标准化样品完成所有程序的校准工作3.多种特殊形状样品夹具，满足各种分析要求4.WINDOWS 2000软件，高硬件配置，多种输出接口，并可上网传输数据5.采用交直流双电源，应用范围不受限制

大家好！我刚刚开始接触直读光谱仪器，看了些原理，与AA原子吸收相比，关于光电倍增管型火花直读光谱仪分光是怎样的？如帕邢-龙格光学系统：1、光栅是固定的还是可旋转角度的？2、光电倍增管都是固定位置的，那么n个光电倍增管就决定一次可同时分析n个元素，这样理解对吗？

[b][color=#cc0000]如果直读[font=&]光谱仪的光学室被油污染，[font=&]光栅也肯定被污染，[/font][/font]如何处理？[/color][/b]

（1）光栅尺传感器与数显表插头座插拔时应关闭电源后进行。 （2）尽可能外加保护罩，并及时清理溅落在尺上的切屑和油液，严格防止任何异物进入光栅尺传感器壳体内部。 （3）定期检查各安装联接螺钉是否松动。 （4）为延长防尘密封条的寿命，可在密封条上均匀涂上一薄层硅油，注意勿溅落在玻璃光栅刻划面上。 （5）为保证光栅尺传感器使用的可靠性，可每隔一定时间用乙醇混合液（各50%）清洗擦拭光栅尺面及指示光栅面，保持玻璃光栅尺面清洁。 （6）光栅尺传感器严禁剧烈震动及摔打，以免破坏光栅尺，如光栅尺断裂，光栅尺传感器即失效了。 （7）不要自行拆开光栅尺传感器，更不能任意改动主栅尺与副栅尺的相对间距，否则一方面可能破坏光栅尺传感器的精度；另一方面还可能造成主栅尺与副栅尺的相对摩擦，损坏铬层也就损坏了栅线，以而造成光栅尺报废。 （8）应注意防止油污及水污染光栅尺面，以免破坏光栅尺线条纹分布，引起测量误差。 （9）光栅尺传感器应尽量避免在有严重腐蚀作用的环境中工作，以免腐蚀光栅铬层及光栅尺表面，破坏光栅尺质量