自动化显微镜

AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能，还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析，实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率，自动探针安装，自动光轴调整，自动参数优化；&bull 排除人为操作失误导致的测量误差，一键自动测量/处理/分析（提高整体测试效率） 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS（Sampling Intelligent Scan）样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点，自动控制探针位置，完全消除对测量不利的水平力，可测量吸附力较大或粗糙的样品，同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤，有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌，还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM（可用于定量和灵敏度等不同场景）除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外，AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比，信号主要来自于探针的尖端，电位检测灵敏度更高，在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等，FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料，两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置，实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试，可以对目标视野进行多维度解析，实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察，实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动，或通过全新的AFM标记功能，可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野，进一步扩大了联动分析的应用范围。

自动化显微成像模组Automatic Microscope Module针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。产品特性和核心技术：激光自动聚焦：&bull 自主研制的激光辅助离焦量传感器。&bull 可在无图案晶圆上实现精确自动聚焦和表面跟踪。&bull 辅以图形边缘识别，实现双模式自动调焦。明场成像和照明系统：&bull 自主研制的小型化科勒照明系统。&bull 照明视场均匀、无暗角，成像视场中心和边角均有高对比度和解析度。全自动操作：&bull 全软件控制，自动调焦、寻区、切换物镜……。供应链国产可控。性能参数：激光自动聚焦显微成像不同倍数物镜下典型成像效果

蔡司多功能正置显微镜Axioscope[ 产品简介 ]蔡司多功能正置显微镜多样，广泛应用于生命科学、医学和材料实验室日常工作和研究。Axioscope可以配置多种观察方式，自带编码和自动化功能，特别适合于对数据质量和可重复性要求较高的检测工作。智能显微镜功能让显微数码成像更快速，单击一下，即可拍摄四个荧光通道。 Axioscope也善于进行材料科学研究中的高级光学显微分析。为科研与工业中的金相学和材料科学提供了一套完整的解决方案。此外，Axioscope 还能够搭配Vario主机，最大样品高度可达 380 mm，是更多非标准样品的理想解决方案[ 产品特点 ]&bull 可配置多种观察方式：明场，偏光，暗场，微分干涉（DIC），相差，荧光等&bull 具备带编码和自动化功能，特别适合于对数据质量和可重复性要求较高的工作&bull 智能光强管理和一键多通道荧光成像&bull Vario 主机体提供大样品空间[ 应用领域 ]&bull 生物医学研究&bull 人类医学和兽医学 &bull 微生物学&bull 植物学 &bull 法医学&bull 电子半导体行业&bull 金属材料行业&bull 油气地质行业&bull 矿物鉴定行业&bull 汽车行业&bull 航空航天行业兔子肌肉组织，微分干涉，63X物镜水貂子宫内膜上皮细胞，波形蛋白 – 红色，F 肌动蛋白 – 绿色，细胞核 – 蓝色；使用蔡司 Axioscope 5、Colibri 3 和 Axiocam 202 mono在单机模式下获得，物镜：Plan-Apochromat 40×/ 0.95铬酸钾晶体，微分干涉铸铁中的石墨，明场蔡司智能正置显微镜Axiolab 5[ 产品简介 ]蔡司智能正置显微镜Axiolab 5，适用于实验室中进行的常规显微镜检查工作。其紧凑且符合人体工程学的设计可节省空间且易于操作。凭借其编码部件和智能相机的结合，只需聚焦样品并按下一个按钮，便可轻松获得清晰的真彩图像。数字图像与您从目镜中观察的效果一致，所有细节和细微色差均清晰可辨。[ 产品特点 ]&bull 5位编码型物镜转盘适用于快速、大量样品检测并极易操作&bull 4位编码型模块转盘使得各种观察方式间切换简便&bull Eco节能模式能够节能的同时还能延长光源的使用寿命&bull 人体工程学设计-您可以一手就触及到 Axiolab 5的所有主要部件 [ 应用领域 ]&bull 组织病理学 &bull 细胞学 &bull 血液学 &bull 微生物学 &bull 细胞遗传学&bull 食品和农业&bull 男科和妇科&bull 金相学&bull 矿物学&bull 材料样品制备&bull 材料检验和记录大鼠视网膜切片，核固红，明场，20X物镜血涂片，40X物镜铁素体和珠光体钢，含0.2%的碳，明场，50X物镜水泥薄片，透射偏光，10X物镜

[ 产品简介 ]蔡司智能数码显微镜Smartzoom 5，可解决光学显微镜的传统局限性，如景深或金属表面的反射。全自动化配置，向导式工作流程，简易式设置，没有操作经验的人员也能够轻松获得满意的结果，是工业领域的质量保证和控制应用的理想解决方案。[ 产品特点 ]&bull 配备不同的物镜可放大倍数实现从10x-2022x连续可调集变焦、全景照相和同轴照明三功能为一体的光学引擎&bull 宏记录模式—使得同一类型样品重复分析工作流程更加高效&bull 可实现样品快速导航定位，让操作更加轻松简单&bull 简易实现注释图像及导出报告至word模板功能[ 应用领域 ]&bull 常规光学检测与数据记录&bull 自动化质量保证&bull 失效分析&bull 表面形貌测量&bull 金相/断口分析&bull 高级尺寸测量&bull 植物学&bull 昆虫学&bull 海洋生物学&bull 地质学和古生物学&bull 刑侦痕检和文检印刷电路板，倾斜角度观察金属棒的表面磨损情况，环形光

ProScan 显微镜自动化系统制造厂商： 英国 Prior它为您的显微镜提供先进和精确的自动化系统这是高级成像的理想系统！平面式载物台（H101F）可保证高水平的精度。压电载物台（NZ200FCE）可以使样品在Z轴方向上精确移动，而对焦电机（PS3H122R）则能在更宽的Z轴范围内快速移动。用户可以使用该系统完成高质量的Z轴层叠应用。Lumen 200可为各种荧光基团提供高质量的荧光性能，同时Brightfield LED能为其他反差技术提供绝佳的照明。滤光片、光阑、载物台、明场和聚焦电机均通过ProScan III进行控制，从而实现了先进的成像技术和长时间的全自动实验。该系统包括电动载物台、荧光性能和明场照明，为您的显微镜提供先进的自动化。这是高级成像的理想系统！平面式载物台（H101F）可保证高水平的精度。压电载物台（NZ200FCE）可以使样品在Z轴方向上精确移动，而对焦电机（PS3H122R）则能在更宽的Z轴范围内快速移动。用户可以使用该系统完成高质量的Z轴层叠应用。Lumen 200可为各种荧光基团提供高质量的荧光性能，同时Brightfield LED能为其他反差技术提供绝佳的照明。滤光片、光阑、载物台、明场和聚焦电机均通过ProScan III进行控制，从而实现了先进的成像技术和长时间的全自动实验。 OptiScan III为寻求自动显微镜解决方案的用户提供了经济实惠的选择。ES111载物台适用于各种常用的正置显微镜，可为许多常规显微镜应用提供高度的重复性。这种载物台可根据具体的成像样品安装各种样品架。聚焦电机 (PS3H122R)可以安装在许多正置显微镜上，以提供Z轴方向的精确控制。

ParkNX-3DM自动化工业级原子力显微镜助力高分辨率3D测量Park Systems推出的NX-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角测量设计。借助独有的XY轴和Z轴独立扫描系统和倾斜式Z轴扫描器，NX-3DM成功克服精确侧壁分析中的法向和喇叭形头所带来的挑战。在True Non-Contact&trade 模式下，NX-3DM可实现带有高长宽比尖端的柔软光刻胶的无损测量。 前所未有的精确度随着半导体越变越小，设计如今需要做到纳米级，但是传统的测量工具无法满足纳米级设计和制造所要求的精确度。面对这一行业测量挑战，Park原子力显微镜取得众多技术突破，如串扰消除，其可以实现无伪影和无损成像；全新的3D原子力显微镜，让侧壁和侧凹特征的高分辨率成像成为可能。前所未有的通量 受限于低通量，纳米级设计无法用于生产质量控制中，但原子力显微镜让这一切成为可能。随着Park Systems发布的高通量解决方案，原子力显微镜也得以进入自动化线上制造领域。这其中包括创新的磁性探针更换功能，成功率高达99%，高于传统的真空技术。此外，流程和通量优化需要客户积极配合，提供完整的原始数据。前所未有成本效益纳米测量的精确性和高通量需要搭配高成本效益的解决方案，才能够从研究领域扩展到实际生产应用中。面对这一成本挑战，Park Systems带来了工业级的原子力显微镜解决方案，让自动化测量更快、更高效，让探针更耐久！我们放弃了慢速又昂贵的扫描电子显微镜，转而采用高效、自动化且价格实惠的3D原子力显微镜，进一步降低线上工业制造的测量成本。现如今，制造商需要3D信息来表现沟槽轮廓和侧壁变异特征，从而准确找到新设计中的缺陷。模块化原子力显微镜平台实现快速的软硬件更换，从而是升级更划算，不断优化复杂且苛刻的生产质量控制测量。此外，我们的原子力显微镜探针使用寿命延长至少2倍，进一步减少购置成本。传统的原子力显微镜采用轻敲式扫描，这让探针更易磨损，但我们的True Non-Contact&trade 模式能够有效地保护探针，延长其使用寿命。——————————————————————————————————————侧壁和侧凹高分辨率成像侧壁和侧凹临界尺寸(CD)测量NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器设计让探针能够扫描到光刻胶的侧壁和侧凹结构。独有的XY轴和Z轴解耦扫描系统和倾斜式Z轴扫描器Z轴扫描器可在 -19到+19度和-38到+38度之间随意摆动法向高长宽比的探针带来高分辨率成像XY轴扫描范围可达100 μm x 100 μm高强度Z轴扫描器带来最大25 μm的Z轴扫描范围——————————————————————————————————————完整的侧壁3D测量高分辨率侧壁粗糙度借助超锋利的探针尖端，NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器可接近侧壁，带来高分辨率的侧壁粗糙度细节。侧壁粗糙度测量精确的侧壁角度测量垂直侧壁的临界尺寸测量——————————————————————————————————————True Non-Contact&trade 模式实现无损临界尺寸和侧壁测量光刻胶沟槽临界尺寸测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的细节。业内最小的细节线上测量柔软光刻胶无损测量探针磨损更少，让高质量和高分辨率成像效果更佳持久无需轻敲式成像中的参数依赖结果——————————————————————————————————————Park NX-3DM的特点倾斜式Z轴扫描系统NX-3DM独具匠心地将Z轴扫描器倾斜设计，且通过专利的串扰消除原子力显微镜平台，XY轴与Z轴扫描器完全解耦。用户可以扫描到垂直侧壁以及各种角度的侧凹结构。与配有喇叭形头的系统不同，XE-3DM可使用高分辨率高长宽比的探针。全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件，Park NX-HDM让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让XE-3DM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统，XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力，而非相互排斥力。因此，在真正非接触模式下，探针与样品间的距离可以保持在几纳米，从而盖上原子力显微镜的图像质量，保证探针尖端的锋利度，延长使用寿命。 行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面，Park推出行业本底噪声最低（ 0.5?）的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。由于悬臂与样品表面接触，因此系统噪声是在如下条件下单点测量：扫描范围为0 nm x 0 nm，探针停留在一个点 0.5增益，接触模式256 x 256像素——————————————————————————————————————高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能，自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据，自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能，成功率高达99%，高于传统的真空技术。自动晶片装卸器(EFEM或FOUP)您可以在XE-3DM中加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证NX-3DM用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。离子化系统NX-3DM可搭载离子化系统，以有效消除样品的静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡，便可以稳定地离子化带电物体，且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

产品描述智能化设计，智能化工作流程，智能化输出Smartzoom 5 - 一款智能型数码显微镜，适用于质量保证与控制领域的所有应用。快速简单的安装，全自动化的系统装配有质量控制领域的专用组件，使得操作十分简便，即使未经培训的人员也能快速上手。 如何简便？Smartzoom 5 拥有宏记录模式，使得同一类型样品重复分析工作流程的效率倍增。 智能化设计Smartzoom 5 数码显微镜运用了高度智能化质量控制 (QA/QC) 检验技术。数码显微镜集成了集变焦、全景照相和同轴照明三功能为一体的光学引擎。Smartzoom 5 可显示所有主要组件的状态信息，并具有自动校正偏差的功能。智能化工作流程Smartzoom 5 拥有宏记录模式，使得同一类型样品重复分析工作流程更加高效。集成了手势控制的 QA/QC 用户操作界面，支持从宏观到微观工作流程的无缝对接，轻松实现快速导航。图像预设和增强功能可以获得更高质量的图像。运用大量图像算法实现自动化测量。 智能化输出Smartzoom 5 对日常检测和失效分析提供快速可重复的QA/QC 检测结果。系统指导的工作流程结合校正的组件，支持用户独立完成测量检测工作。轻松注释图像并导出 word 格式的报告。 智能化设计Smartzoom 5 可选用能达到 10× 至 1,011× 放大倍率的三款不同物镜。通过触点为集成至物镜内的分段式 LED 环形灯供电，并能够单独从物镜上查看几何校正值。它的智能化安全功能绝不容小觑。例如，当物镜接触到样品或手时，电机会自动停止，以保护操作人员和样品。智能化工作流程Smartzoom 5 的集成 QA/QC 图形用户界面可以实现从宏观到微观工作流程的无缝对接，让快速向导更简单。因此，您可以使用独立的光学器件来记录整个样品表面，并立即查看样品的哪块区域需要执行显微检测。此外，系统还会记录工作流程中的所有步骤，以方便之后重复执行显微分析操作。使用出色图像或者如 HDR、噪声过滤、锐化、图像稳定等实时图像增强功能，为您呈现出色的演示效果。智能化工作输出您能够使用软件实时监测每个组件的工作状态，并将此类信息与图像一起保存。此外，Smartzoom 5 还配备用户管理系统，通过控制每位操作人员的权限来确保结果可重复。标注图像，然后创建报告并导出至 Word 模板中。

UltraMicroscope Blaze自动化的光片显微镜全新视野开启光片成像 探索全新的专为多样品或超大样品亚细胞结构成像设计的全自动光片显微镜UltraMicroscope Blaze。用与众不同的显微成像开启您的研究项目并为开启崭新视野奠定基础。我们开创性的UltraMicroscope 技术与先进的光片光学技术、样品制备技术的完美结合，为完美成像效果提供保障。全自动令操控更简单 UltraMicroscope Blaze 基于十年来的经验积累，专为加速您的研究项目而诞生。用户的反馈和需求是我们创造这款UltraMicroscope 新产品的驱动力。上样和不同放大倍数镜头之间的转换从未如此轻松。随UltraMicroscope Blaze 一起步入研究快车道，为获得新发现奠定基础。多样品成像功能新的UltraMicroscope 遵循一个简单原则：“ 以较简单的操作，实现对大样本或多样本的较高质量成像”。现在，您可以省去耗时费力的样品转换工作，还可以避免传统切片带来的伪信号，从而获取高质量的数据。一次放置好所有样品，运行预设的过夜扫描程序即可。UltraMicroscope Blaze将为您完成一切工作，第二天清晨高质量3D 数据就已获取完备了。更深层次的光片成像 我们成功研发的UltraMicroscope 技术与先进的光片技术的完美结合，为获得理想数据提供了保障。MI Plan 系列物镜及其平视野校正功能，更能满足大样本高分辨率成像的需求。与此同时，镜头兼容从水到高折射指数的有机成像试剂。一起来体验超宽的放大选择，无论从0.66× 的整体成像还是30× 的亚细胞结构成像，均可实现。UltraMicroscope Blaze 采用先进的光学照明方法，从侧分别以微倾的三束光片照明，并以瑞利（Rayleighlengths）覆盖整个视野。所谓瑞利长度，就是光信号得到检测的区域，此处光片的厚度最薄，有助于获得均一的照明效果和较高的成像质量。以优质的光学片层为您的样品提供优质的成像效果。获得生物学新视野只需三步： 凭借前沿的光学技术，工程学方法和智能的界面设计，UltraMicroscope Blaze 通过其设计和工作方式，呈现了一个完美的有机整体。 不费吹灰之力，观察生物系统复杂的三维结构得益于自动化的图像处理功能。 完善的样品制备是整个工作流程的关键起始步骤，Miltenyi Biotec 提供完备的解决方案，包括经验证的抗体及荧光素偶联的抗体，还有简单易用的透明化试剂盒。选择正确的工具开始实验，方可取得理想的实验结果。

? 自动化工业级原子力显微镜，带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体（尺寸200 mm和300 mm）提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact™ 模式，即便是在结构柔软的样品，例如光刻胶沟槽表面，XE-Wafer可以实现无损测量。? 现有问题目前，硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是，FIB/SEM会破坏样品，且速度慢，成本高昂。? 解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量，且速度快、精度高、成本低。? 益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能，并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器，且成本显著低于FIB/SEM。? 应用l 串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征特亮和行业领先的仪表统计功能 卓越的工具匹配l CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时，也为重复性与再现性研究带来最高的分辨率和最低的仪表西格玛值。l 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业最低的噪声和创新的True Non-ContactTM模式，XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。l 精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。l 沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。l 精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能，Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。? Park NX-Wafer特点l 全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件，Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。l 自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。l 真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统，XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力，而非相互排斥力。因此，在真正非接触模式下，探针与样品间的距离可以保持在几纳米，从而盖上原子力显微镜的图像质量，保证探针尖端的锋利度，延长使用寿命。l 解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品，而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量，让平面外移动降到最低。此外，XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。l 行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面，Park推出行业本底噪声最低（）的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时，在如下情况下测量系统噪声： 0 nm x 0 nm扫描范围，停在一个点 0.5增益，接触模式256 x 256像素l 选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能，自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据，自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能，成功率高达99%，高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。长距离移动平台，助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面，可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm；10 mm时小于5 nm；50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡，便可以稳定地离子化带电物体，且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

电动载物台作为显微镜手动位移台的自动化替代品，能实现显微镜XY载物台电动化，具有响应速度快，稳定性好，重复定位精度高等特点。 电动载物台的移台行程面积达150mm*100mm，采用紧凑一体化设计，并在位移台上方和下方提供丰富的接口，方便用户进行安装和使用。PMS系列电动位移台使用直流电机，确保了产品的快速性能。由于具有高速扫描功能以及定位精度高的特点，该位移台是多种类型的显微镜或成像技术和应用中手动或自动定位大范围的标本和样品的理想选择。 另外，我们还可以提供电动载物台配套产品：小巧但功能强大稳定的驱动器，丰富的SDK接口和例程(C++/C#/Python)，并可全程指导用户进行二次开发和集成；还可提供手动操作的操纵杆，可显微镜恒温载物台主要用于对显微镜的温度进行控制。主要特点： 可在-20°C至+100°C的任何温度下保存样品； 设置和运行的温度可通过液晶屏显示； 控制精度在0.1°C以内； 适配市面上绝大多数的显微镜； 内置数字温度计和测温探头；TS-4MP/ER 恒温载物台可使显微镜玻片或培养皿内的样本温度保持在-20至+10°C间的任何温度；设置简单，控制器会保证载物台的温度浮动范围在0.1°C内；TS-4MP 是热电（珀尔帖效应）装置，无可拆卸部件；无需使用 CO2 或液氮进行制冷；只需交流电和连续的水流进行操作；有两个版本可供选择：范围：TS-4MP：-20 至 +60°CTS-4MP/ER：-20 至 +100°CTS-4MP 包含载物台、控制器和可选的泵组件：载物台为镀镍铜材质，并在一侧（参见图片）设有热电组件。塑料基座与玻璃片尺寸和厚度相同，适用于显微镜的医疗载物台，与载玻片使用方式相同。恒温载物台因此可通过正常机械载物台控制根据光进行移动。金属片中间的漏洞可允许光通过。TS-4MP型恒温控制器的载物台因珀尔帖效应对载物台的制冷产生的多余热量需要用水带走。两支水管自我封闭连接以防止溅出。可使用来自水龙头的流动水。如果水龙头的流动水不易获取，我们的水泵和水箱装置，PTU-3结构紧凑、便于使用。安装在载物台上的感应器可提供温度监控以控制目标温度，并监控安全。安全感应器可阻止过热情况以防制冷流水供应或其他故障带来的失败。结构与运行示意图：载物台的热电组件控制器可在5伏直流电的情况下产生较大10安培的电流。当载物台需从加热转变至制冷时，或相反状况时，输出极性会自动转换。在调整所需温度过程中，SV 数字显示器会显示控制温度的选定，同时PV 显示器会读出实际温度。TS-4MP 的测温电路也可在独立温度计中使用，可同提供的微型探头或任何其他类型的 T 型热电偶传感器一同使用。热电偶的范围为 -100至+200°C。单独的热电偶微型探头于 TS-4 中提供。可选的水泵和水箱装置（PTU-3）与控制器后方的辅助 AC 输出装置连接。水箱可提供充足的循环，以保持载物台的冷却。所有水连接装置都配有自封装。TS-4MP的使用：TS-4 MP的标准恒温载物台可以很容易地安装到大多数显微镜上，而且可通过机械载物台控制。表面的弹簧夹可用来将载玻片固定在保温载物台上。控制器有两个显示设置。在“Set”(设置) 位置，可以通过前面板上的旋钮来调整控制温度。数字显示屏上会显示温度选择。在“Run”(运行) 位置，显示载物台的实际温度(载物台温度的自动调节是连续的，与开关设置无关)。可根据需要选择其他型号的载物台：除了标准的保温载物台，Physitemp还提供两种可选的专为培养皿设计的保温载物台。TS-4SMP(下图)35mm培养皿保温载物台可将培养皿和显微镜载物台上样品的温度维持在-10至+60°C之间(TS-4SMPER可将范围扩展至-10至+100°C)。载物台上的环圈被设计成为可容纳一个"Nunc"35mm的培养皿。该环圈也可以被移除使其也可以适用于盛放载玻片。培养皿载物台型号：TS-4SMP，孔径尺寸35mmTS-4/LMP(培养皿保温载物台是为容纳"Nunc"60mm或100mm培养皿而设计的。TS-4/LMP保温载物台可将显微镜台上的温度保持在-5至+60℃之间。这些培养皿载物台适用于大多数正置和倒置的显微镜皮氏培养皿载物台型号：TS-4/LMP，孔径尺寸100mm下单时请注明载物台的型号，例如TS-4SMP/PTU标准载物台(带水泵和水箱单元)。请务必包括要使用的显微镜的厂家和型号，以便我们可以确认所选的载物台是否适合该显微镜。同时可以对载物台进行改装以适配显微镜。水泵和水箱单元：PTU-3型水泵和水箱单元是为与Physitemp的恒温载物台一起使用而设计的。当恒温载物台及显微镜附近没有自来水来源并且长时间以冷却模式运行时，水泵和水箱单元可提供方便的冷却水蓄水池，以冷却加热装置的加热单元。储水箱可容纳7加仑的水，足以使TS-4MP系列的恒温载物台冷却长达8小时。PTU-3型水泵和水箱单元水的循环是通过使用安静的1/25马力单相电机和磁力驱动泵，因此，没有泄漏或需要更换的密封件。进水口和出水口连接处使用自密封接头，以防止泄漏。同时可以将冰块添加到水箱中，以延长工作时间或降低加热单元可以冷却到的最低温度。所有加热单元和电源后部的开关附件插座用于为泵供电，因此，当控制器打开时，水可以立即开始流动。产品主要规格：请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

Bruker 全自动原子力显微镜 InSight AFP——第五代AFP具有业界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射InSight AFP是世上性能*高、行业首-选的先进技术节点CMP轮廓和蚀刻深度计量系统。将其现代尖-端扫描仪与固有的稳定电容式压力计和精确的空气轴承定位系统相结合，可以在模具的活动区域进行非破坏性的直接测量。 0.3纳米长期稳定提供NIST可追踪的参考计量，并在一年内保持测量的稳定性260-340个站点/小时内联应用程序的*高生产效率减少MAM时间和优化的晶圆处理可保持高达50个晶圆/小时的吞吐量高达36000微米/秒仿形速度通过热点识别提供高分辨率3D特征*高分辨率，尖-端寿命长InSight AFP的TrueSense技术，具有原子力分析器经验证的长扫描能力。亚微米特征的蚀刻深度、凹陷和侵蚀可以完全自动化地监控，具有无与伦比的可重复性，无需依赖测试键或模型。-----蚀刻和CMP晶片的全自动在线过程控制Insight AFP结合了原子力显微镜的新创新，包括Bruker的专有CDMode，用于表征侧壁特征和粗糙度。CDmode减少了所需的横截面数量，实现了显著的成本节约。此外，AFP数据提供了无法通过其他技术获得的直接侧壁粗糙度测量。自动缺陷审查和分类当今集成电路的器件缺陷比以往任何时候都小，需要快速解决HVM需求。InSight AFP提供了有关半导体晶片和PHTOmask缺陷的快速、可操作的地形和材料信息，使制造商能够快速识别缺陷源并消除其对生产的影响。100倍高分辨率配准光学元件和AFM全局对准可使图案化晶圆和掩模的原始图像放置精度低于±250 nm，确保感兴趣的缺陷是测量的缺陷。该系统与KLARITY和大多数其他YMS系统完全兼容。3D模具映射和HyperMap&trade 分析速度高达36000μm/sec，能够对33mm x 26mm及更大的闪光场进行快速、完整的3D CMP后表征和检查。超2纳米的平面外运动，实现真正的大规模地形和全自动抛光后热点检测。在本例中，在24小时内以1微米x 1微米像素大小获得了完整的标准26毫米x 33毫米十字线场扫描。然后可以使用Bruker的热点检测和审查功能自动检测和重新扫描热点。售后服务Bruker 全自动原子力显微镜 InSight CAP——紧凑型高性能剖面仪和AFMBruker的InSight CAP自动原子力轮廓仪是专门为半导体制造商和供应商设计的CMP和蚀刻计量组合平台。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。 0.5 nm长期动态再现性用于关键工艺决策的直接、稳定的在线计量 亚纳米CMP自动计量的灵敏度，专用碟形和腐蚀计量包，用于无与伦比的过程控制和开发 20nm仿形平面度大于26mm针对关键EUV光刻技术开发和过程控制的高精度CMP后平面度计量 在线计量结果以分钟为单位，适用于蚀刻和CMP的技术开发和过程控制在高级技术节点，多模式光刻技术对CMP提出了纳米级的过程控制要求，以满足聚焦深度需求。InSight CAP围绕新一代AFM扫描仪构建，在65μm X/Y扫描范围内提供改进的平坦度，小于10纳米。该系统的NanoScopeV 64位AFM控制器提供了5倍更快的啮合性能和5倍更快的调整速度，以提高生产效率，所有这些都提高了可靠性。其DT自适应扫描模式也有助于加快扫描速度和改进计量。InSight CAP高分辨率剖面仪结合了多项先进功能，可在宏观凹陷和侵蚀中实现埃级精度测量。灵活的配置支持从100毫米到300毫米的晶圆尺寸，可实现广泛终端应用的精确测量。从高生产率的实验室到全自动化的工厂，InSight CAP profiler可以优化配置，以获得具成本效益的计量解决方案。售后服

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点1. 自动化功能高度集成自动化功能追求高效率检测，降低检测中的人为操作误差2. 可靠性排除机械原因造成的误差，大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

DM6 B 全自动研究级显微镜全自动万能生物显微镜。是生物医学研究和临床实验应用的理想之选，显著提升工作效率通过自动化功能和便捷的软件简化工作流程利用 19-mm sCMOS 摄像头成像端口轻松摄取画质媲美出版物的图像LAS X Navigator - 显微成像的导航系统: 快速生成样品全景图，瞬间识别目标所在点!灵活选择功能多样的附件，如卤素或 LED 照明花更少时间看到更多内容图像摄取时间缩短，意味着您有更多的时间放在核心内容上。下面仅罗列提高您日常工作效率的新产品功能：充分利用 sCMOS 摄像头的优势，如Leica DFC9000！19 mm 视场摄像头端口良好匹配通用 sCMOS 传感器的尺寸。快速地以高分辨率查看载玻片。选择适合您应用目的的物镜 – 有 300 多种卓越的光学器件可供选择，如可选用独特的 1.25 倍概览物镜，实现出色的概览效果。显微镜操作智能自动化，节省更多精力投入到试验中！让您专注于想要实现的结果，不再为实现的过程大伤脑筋。智能自动化的作用就在于此：只需按下一个按钮就能完成多个步骤，显著简化您的工作流程，节省您宝贵的时间，将更多精力投入到试验中，而不是显微镜上。按下一个按钮即可更改对比度 – 一切所需轻松搞定任意选择卤素或 LED 照明，轻松摄取画质达到出版要求的图像使用照明（光强）和对比度管理功能简化您的工作 – 例如，用于荧光图像的荧光光强管理系统 (FIM) 和荧光激发管理系统 (ExMan)，或用于Koehler 图像的 Koehler 照明管理。

Park FX40纳米科学研发界应运而生的的新型全自动原子力显微镜该产品可以通过多样化的应用程序，不费吹灰之力即可获得敏锐、清晰、高分辨率的扫描图像。通过前所未有的速度和精度，推动您研发进步并助力您的科学新发现——FX40将人工智能运用得淋漓尽致，全自动化的过程能实现用户纳米级显微镜的需求。额外的轴向自动激光校准、早期预警系统和故障自动保险、同步化信息提取和存储，让即便是未经原子力显微镜专业培训的研究科学家们也可以轻松快速地获得最满意的扫描结果。纳米级的显微镜 硬核级的科技进步- 鼎力相助时代前沿的科技研发- 研究型AFM中首次采用的双摄像头系统- 能全自动化实时更新海量数据实现全自动技术的智能原子力显微镜Park FX只需鼠标一键操作，就能实现自动换针，以避免探针被污染或因操作不当而导致的探针损坏等问题。用户还可以根据提示，选择不同的探针类型，应用类型和使用信息等。 通过自动换针方式，用户可轻松安全地进行自动换针。利用装有8个针盒和磁控机制的便利性，用户无需操作便可安装探针。探针识别摄像头可以加载探针芯片载体上的二维码，提取并显示每个可用探针的探针类型，应用类型和使用信息等全部相关信息。自动激光校准功能将SLD光定位到悬臂梁的适当位置，并进一步分别优化PSPD的垂直和横向位置。用户只需简单点击，移动X,Y和Z轴便可得到毫不失真的高清扫描图。 双摄像头系统自动校准探针和样品位置 样品摄像头样品台上最多可以同时放置四个不同量级的样品。即便如此，样品摄像头也可以毫不费力地定位到相关位置进行精确扫描。 探针识别摄像头探针识别系统可以帮助用户搜索相关探针的全部信息（包括探针类型，应用类型和使用信息等）使研究工作事半功倍。只需一键便可轻松选择您所需要的探针。智能自动化FX40拥有智能视觉系统，能自动检测探针是否正确定位。软件界面通过定位加载探针的位置至纳米级别，并在必要时生成错误状态报告，同时将这些数据与成千上万个可能发生的模拟问题进行比较，以此不断更新升级软件。 原子力显微镜中最快速精确的真正非接触模式对于针尖样品，非接触模式展现了其强大的控制力，距离达到了亚纳米级别。Park FX40拥有快速且精确的非接触模式。环境传感器智能扫描仪显示并储存传感器的测量。传感器主要测量基本的环境条件，如温度，湿度，水平和振动。由此帮助用户在不同环境条件下扫描图像，为您筛选环境指标。 安全的探针安装系统用户可以自选手动或自动探针安装功能，同时内置的智能系统会自动检测并在用户错误安装探针时发出警告，从而有效提高测量准确度。极好的AFM体验——专为FX设计的Park OS SmartScan简易单击成像设置自动探针检测，自动激光校准简要的教学动画分分钟让您学会如何进行样品放置以及仪器成像设置1. 准确定位定位样品位置AFM自动执行悬臂的频率性扫描，接近样品的Z移动台, 然后自动聚焦，帮助您扫描任何您想要的区域。 2. 高清成像自动识别探针完成定位之后，系统会设置理想的参数，连接悬臂并扫描样品，直到为您扫出高解析度高分辨率的图像。

AFM5500M是操作性和测量精度大幅提高，配备4英寸自动马达台的全自动型原子力显微镜。设备在悬臂更换，激光对中，测试参数设置等环节上提供全自动操作平台。新开发的高精度扫描器和低噪音3轴感应器使测量精度大幅提高。并且，通过SEM-AFM共享坐标样品台可轻松实现同一视野的相互观察分析。特点 1. 自动化功能 高度集成自动化功能追求高效率检测 降低检测中的人为操作误差 ? 4英寸自动马达台 自动更换悬臂功能2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描 采用管型扫描器的原子力显微镜，针对扫描器圆弧运动所产生的曲面，通常通过软件校正方式获得平面数据。但是，用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响，图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了最新研发的水平扫描器，可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 ：硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量 普通的原子力显微镜所采用的扫描器，在竖直伸缩的时候，会发生弯曲（crosstalk）。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器，在竖直方向上不会发生弯曲（crosstalk） ，可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。 样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构) * 使用AFM5100N（开环控制）时 3. 融合性亲密融合其他检测分析方式通过SEM－AFM的共享坐标样品台，可实现在同一视野快速的观察分析样品的表面形貌，结构，成分，物理特性等。 SEM-AFM在同一视野观察实例（样品：石墨烯/SiO2） 上图是AFM5500M拍摄的形貌像（AFM像）和电位像（KFM像）分别和SEM图像叠加的应用数据。 通过分析AFM图像可以判断，SEM对比度表征石墨烯层的厚薄。 石墨烯层数不同导致表面电位（功函数）的反差。 SEM图像对比度不同，可以通过SPM的高精度3D形貌测量和物理特性分析找到其原因。 与其他显微镜以及分析仪器联用正在不断开发中。

苏州汇光是专业的光学显微镜,工业显微镜厂家,我司供应的显微镜都是品牌显微镜,如奥林巴斯,舜宇,价格1000起,欢迎大家前来咨询选购.我们将有专业的技术人员根据您需求做出智能解决方案.目前，苏州汇光供应的视频显微镜种类齐全，根据其外观，性能不同可分为高清测量视频显微镜、高清检查视频显微镜、视频一体机、自动对焦视频显微镜、大视频检测视频显微镜、三维检查显微镜，万向支架视频显微镜，万向支架体视视频显微镜，三目视频显微镜，三目体视视频显微镜等。欢迎有需要的朋友前来咨询选购。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。您如果想要购置金相显微镜，苏州汇光可以欢迎您带着样品来我公司实际体验观察效果，如果您不方便，可以将产品寄到我司，我们把效果调节好以后再拍照,或者邮件的形式发您查看，并把您的样品寄到您公司，如果您觉得该样品设计到机密问题，我们可以带着样机到您公司观察效果。总之，在不损害双方利益的前提下，苏州汇光都愿意配合您。【联系方式】电话：传真：产品详情： 地址：苏州市吴中区东方大道258号好得家产业园苏州工业园区汇光科技有限公司 欢迎大家前来咨询显微镜相关信息！！

仪器简介：采用系统控制器（SyCop）和人机交互控制器（H.I.P）控制显微镜的所有动作（自动倍数切换，自动聚焦，自动色温），自动化程度高，操作极为方便、舒适。用于产品的宏观检验,能够检验断口内的裂纹（挤压裂纹、淬火裂纹、铸造裂纹），裂口，纵向裂纹，焊和不良，疏松，氧化膜，气孔等宏观缺陷。 图像质量： 提供最高反差、最高衬度、最高分辨率的三维图象 光学系统： 国际最先进标准的Telescope（CMO）光学原理设计 显微观察新技术(蔡司专利)： 防眩光技术 设计理念： 人机工程学原理, 模块化设计和开放式结构，保留了所有选择项，便于日后的升级和功能增强 使用寿命：60年 原产地：德国(国内无合资厂) 技术参数：1、总放大倍率： 12X-375x 2、工作距离为81mm，行程为340mm基本物体视场直径为25mm 3、调焦精度：350nm， 4、实际视场范围：2.3-28.8mm 5、冷光源： 15V150W （ 24V250W） 6、可扩展性：可配图像分析系统(数码相机,摄像头,图像分析软件)

自动对焦显微镜苏州卓显ZEX-200系列是一款自动对焦高清视频显微镜，该产品具备实时自动对焦功能，传统光学显微镜，需要放大过程中对其焦距进行手动调节；ZEX-200系列，在实时自动对焦的功能下，在不同的工作距离下所观察的视野也将不同；从而实现了大尺寸产品实时全面观察，区域放大检测的功能。应用领域∶产品广泛用于PCB、SMT元件外观和焊锡检测、工业检测、电子丶汽车，五金等领域自动对焦显微镜产品特点∶◆自动对焦，无须调节◆高清实时成像，1080P实时画面◆配置四面全驱光源，照射角度可调 ◆支持HDMI高清显示器实时显示光学系统无穷远光学系统，变倍比 1：6.5，物镜变倍范围 0.7x~4.5x， 标准工作距离 90mm；采用模块化设计，可选配 CCD 接筒或附加物镜， 满足从 7x~1000x 的放大倍率的选择。技术参数光学系统无穷远变焦光学系统变焦范围1~140mm电子放大倍率1X~15X工作距离300mm图像传感器1/2像素200万分辨率1920*1080帧率60fps图像输出HDMI图像存储TF卡底座尺寸380*260*20mm升降范围300mm调焦范围60mm光源LED四面全驱光源，照明角度可调显示器21.5软件功能自动曝光，自动白平衡，拍照、录像、画线选配定制移动平台，可根据客户的要求进行定制

PCB切片分析,是苏州汇光科技专业的金相显微镜分析软件，目前苏州汇光供应的PCB切片分析显微镜有多种，如HGO系列切片分析显微镜，CX系列切片分析显微镜，RX系列切片分析显微镜,您可根据自身需求选择，如果您不确定选择那台显微镜比较合适，也可以咨询我们技术，他们讲根据您检测产品需求为您定制智能解决方案哦。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。 产品主要服务于各类电子工业研发制造领域，通讯电子领域，IC芯片制造领域，LCD显示技术领域，半导体封装测试领域，手机及触摸屏、半导体集成电路、LCD液晶面板、太阳能光伏、柔性电路板等电子类、元器件类以及光学与材料类相关新兴制造行业，汽车部件研发制造领域，新能源新材料研究分析领域，教育教学等等领域；公司在华东乃至全国拥有各类制造业客户，包括世界500强企业与各种知名民营私企。公司全体员工秉承专注、创新、坚持、担当的职业精神与理念，为客户提供高品质的产品及优质的服务；愿成为国内外广大客户的忠实合作伙伴，为科技与工业的发展努力！

金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像，测量和分析？无论是显微镜新手还是专业人士，徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型，您可以轻松调用以前的显微镜设置，并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间，改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级，颗粒分析，相或晶粒分析等应用中，重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间：借助照明管理器和对比度管理器，显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜，准确地打开和关闭光圈和视场光阑，并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果！使用Leica Microscope Assistant（Leica LAS存储和调用模块）存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档，并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统：Leica Application Suite（LAS）软件平台将显微镜，软件和相机集成到一个软件包中，着重于界面，功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M，您可以使用其他模块，例如Steel Expert，Cleannesss Expert，Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快！使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮，可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适，快速地工作：清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场（BF），高动态暗场（HDF），微分干涉对比（DIC），荧光（FL）还是偏振（POL），LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下，都可以在恒定色温下查看样品：无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效：LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时，更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比（DIC）和1.25倍全景物镜，甚至可以检测到最精细的细节：轻松实现目标：只需按一下按钮，Leica DM6 M的所有系统组件（例如检偏器，偏振器和适当的棱镜）都会自动进入光路，同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M，您可以精确，精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗？ Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台，可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗？Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析，您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜，然后使用二合一解决方案进行快速，精确的材料分析。

金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像，测量和分析？无论是显微镜新手还是专业人士，徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型，您可以轻松调用以前的显微镜设置，并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间，改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级，颗粒分析，相或晶粒分析等应用中，重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间：借助照明管理器和对比度管理器，显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜，准确地打开和关闭光圈和视场光阑，并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果！使用Leica Microscope Assistant（Leica LAS存储和调用模块）存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档，并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统：Leica Application Suite（LAS）软件平台将显微镜，软件和相机集成到一个软件包中，着重于界面，功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M，您可以使用其他模块，例如Steel Expert，Cleannesss Expert，Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快！使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮，可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适，快速地工作：清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场（BF），高动态暗场（HDF），微分干涉对比（DIC），荧光（FL）还是偏振（POL），LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下，都可以在恒定色温下查看样品：无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效：LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时，更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比（DIC）和1.25倍全景物镜，甚至可以检测到最精细的细节：轻松实现目标：只需按一下按钮，Leica DM6 M的所有系统组件（例如检偏器，偏振器和适当的棱镜）都会自动进入光路，同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M，您可以精确，精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗？ Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台，可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗？Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析，您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜，然后使用二合一解决方案进行快速，精确的材料分析。

金相显微镜 徕卡DM4 M和DM6 M您是否需要对许多样品以及材料科学和分析中的相似特征进行成像，测量和分析？无论是显微镜新手还是专业人士，徕卡DM4 M和徕卡DM6 M都是适合的工业显微镜。使用Leica DM4 M进行手动例行检查使用Leica DM6 M进行全自动材料分析对于每种样品类型，您可以轻松调用以前的显微镜设置，并通过独特的存储和调用软件功能立即重现成像参数。一键式智能自动化使您的重复工作变得容易。每次都可以使用显微镜的记忆功能来减少调整时间，改善工作流程并获得出色的成像结果。 在诸如钢夹杂物等级，颗粒分析，相或晶粒分析等应用中，重现性至关重要。您可以依靠Leica DM4 M和Leica DM6 M显微镜系统提供可重复的结果。节省宝贵的时间：借助照明管理器和对比度管理器，显微镜可以自动识别所使用的对比技术和物镜，准确地打开和关闭光圈和视场光阑，并适应光强度。随时随地共享和比较您的结果！使用Leica Microscope Assistant（Leica LAS存储和调用模块）存储和调用显微镜设置和相机参数。它们与图像一起保存和存档，并且可以随时还原。 选择适合您要求的个人图像分析系统：Leica Application Suite（LAS）软件平台将显微镜，软件和相机集成到一个软件包中，着重于界面，功能和工作流程各个方面的效率。使用Leica DM6 M，您可以使用其他模块，例如Steel Expert，Cleannesss Expert，Grain Expert和Phase Expert。掌握时间快！使用Leica SmartTouch触摸屏或Leica DM6 M以及Leica SmartMove遥控器上的自由可编程功能按钮，可以加快工作流程。使用Leica DM4 M可以舒适，快速地工作：清晰排列的显示屏使所有显微镜设置一目了然。六个功能键可轻松访问常用功能-无需从样本中查找。 高质量、多用途光源无论使用明场（BF），高动态暗场（HDF），微分干涉对比（DIC），荧光（FL）还是偏振（POL），LED照明都能带来可重现的结果。在任何显微镜设置下，都可以在恒定色温下查看样品：无需每次更改亮度或重置白平衡时都重置相机。选择一种或几种可用的对比方法来检测样品上的更多瑕疵和缺陷。节能高效：LED照明节省能源–使用寿命长达25.000小时，更换灯泡会导致显微镜停机已成为过去。 寻找快速借助全自动差分干涉对比（DIC）和1.25倍全景物镜，甚至可以检测到最精细的细节：轻松实现目标：只需按一下按钮，Leica DM6 M的所有系统组件（例如检偏器，偏振器和适当的棱镜）都会自动进入光路，同时针对每个物镜存储精细的调整。 使用1.25x全景物镜获得样品的详细概览。借助Leica DM4 M，您可以精确，精细地查看每个细节。 选择最适合您的系统您是否需要显微镜来快速概览样品或进行详细检查–立式显微镜Leica DM4 M和Leica DM6 M始终以正确的设置为您提供支持。 您需要显微镜进行手动例行检查吗？ Leica DM4 M是为您提供的手动编码例行检查系统。 手动2档对焦驱动器 编码的6倍或7倍物镜转镜 符合人体工程学的手动三板式载物台，可编程按钮 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 您需要显微镜进行全自动材料分析吗？Leica DM6 M是具有准确性和再现性的检测系统。 电动高精度2档聚焦驱动器 电动6折或7折物镜转接镜 手动或电动扫描台 触摸屏控制 照明管理 对比管理 适用于所有对比度模式的LED照明 对比模式：明场，暗场，微分干涉对比，偏振，荧光 Leica Application Suite X（LAS X）软件 结合LAS X也可以使用自动对焦对于视觉和化学分析，您可以使用LIBS系统改装DM6 M复合显微镜，然后使用二合一解决方案进行快速，精确的材料分析。

一直以来，高品质的显微镜组件都是用户所值得信赖的“工作伙伴“，高效实用也一直都是Evident在显微镜组件开发上的追求。作为BX显微镜系列的一部分，全新BXC显微镜组件正式与大家见面，其结构紧凑，专为OEM集成和开发而设计。同时，全新BXC系列显微镜组件，将以其多功能性和模块化构建，成为检测或成像应用的理想选择，无论是晶圆对准、凸块测量还是图像拼接，都可自如应对。系统设计和自动化高级选项，效率再提升多功能定向暗场暗场用于观察来自样品的散射或衍射光（例如：镜面或半导体晶圆上的划痕或缺陷），而MIX滑块无需专用的暗场光学组件，并通过16个可单独控制的LED增强了传统暗场，使您能够控制照射在样品上的光线方向。此外，这种通过使用MIX滑块实现的定向暗场技术，可以与明场、简单偏光或荧光观测相结合。自动对焦装置在BXC-FSU中，1级激光器使用主动多点传感来监测焦点位置的方向和焦点状态。这种传感器针对低对比度的样品（如裸晶圆）效果很好。使用独特的算法可输出稳定的对焦信号，而不受物镜放大倍率和周边光线所造成噪音的影响。命令参考手册、指导手册和示例软件，之后可在我们的网站上自行下载。多种多样的物镜转盘随着自动化需求的增加，对电动物镜转盘的需求也随之增加。随着自动化需求的增加，对电动物镜转盘的需求也随之增加。现在，U-D5BDREMC-VA 1级无尘室兼容电动物镜转换器，将使用抽真空方式来清除灰尘和其他颗粒。系统集成化，快速、简单BXC-CBRML和BXC-CBB控制盒占地面积小，无风扇，有多种安装方式（例如可安装到设备罩壳内的侧壁或顶部）

简介FAST-EM是一款超快的自动多束电子显微镜，旨在使复 杂且大型的显微观测项目变得简单高效。FAST-EM具有 自动数据采集功能，因此这种高通量系统非常适合对大 型或多个样本进行成像以进行定量分析。系统提供强大 的显微成像能力，同时极大地简化工作流程，使用户可 以将工作重点从显微镜操作转移到真正高价值的数据分 析上。FAST-EM可用于探索细胞结构，神经元回路网络以及生 命科学中的各种生物材料的分析。对于大规模3D结构解 析以及批量2D成像都十分有帮助。另外作为通用工具， 还可以显著加快日常其他常规显微成像工作的速度。64束电子显微成像为了实现高通量成像，FAST-EM使用64 束独立电子束。这些光束在样品上并行扫 描，并使用高速、高灵敏的硅光电倍增管 (SiPM)阵列记录光信号。这种方法可 以显着提高数据采集速度缩短驻留时间FAST-EM系统基于扫描透射电子显微镜 (STEM)，将样品直接放在闪烁屏上， 使用STEM模式进行成像。闪烁体在受 到透过样品的电子撞击时会产生局域阴 极发光，利用高速高灵敏硅光电倍增管 (SiPM)阵列检测所得的光，并对其进 行处理获得最终的灰度图像。即使在短至 400 ns的驻留时间，独特的检测系统能获 得优异的信噪比。自动化软件使用强大的自动化功能和人性化原生软 件，您可实现轻松创建和管理FAST-EM 成像项目。可靠的显微系统和强大的自动化软件的 应用，操作员再也无需对电镜保姆式的 照管，系统可自动持续可靠运行。一次加载多个样品在电镜的工作流程中，主要消耗的辅助时 间主要是样品的更换。这意味着操作员必 须经常中断成像过程， 更换样品，等待 真空度到达工作状态，造成过多等待时 间。 FAST-EM允许同时装载多达九个基 板，每个基板可容纳数十个甚至数百个 超薄切片。一次装样，轻松实现长达72 小时的连续成像。

技术参数：测量模式： STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀) 扫描方式：样品扫描测量头部：AFM和SPM（全内置自动切换），可选配液相模式和纳米压痕测量头最大样品尺寸：直径20mm，厚度10mmXY样品定位装置：移动范围5×5um，软件控制电动定位XY样品定位装置最小步进：0.3um扫描范围：100×100×10um（三维全量程闭环控制扫描器），3×3×2um（低电流模式扫描器）XY方向非线性度：≤0.1%（闭环控制扫描器）Z方向噪音水平（带宽10~1000Hz时的RMS值）：闭环控制扫描器（典型值0.03nm，最大0.04nm），低电流模式扫描器（0.02nm）激光光路系统：电动调节，全自动准直视频显微系统：软件控制电动变焦和连续变倍，软件控制变换视野，分辨率2um样品温度控制：室温~150℃主要特点：全自动化桌面型SPM直观易用的软件界面全自动切换AFM和STM扫描头自动调整激光光路（悬臂—激光—四象限光电探测器）软件控制的电动样品定位平台视频显微镜系统软件控制电动聚焦和变倍视频显微镜系统软件控制定位样品观察视野电动开关样品室门切换不同的测量模式，软件自动调节最优参数人体工程学设计

苏州汇光供应的进口体视显微镜主要有3大类：SZN系列体视显微镜,SZM系列体视显微镜,SZX系列体视显微镜，报价信息可咨询0512-67625945了解详情.下面我简单的给大家介绍一些对于的体视显微镜特点。SZN系列体视显微镜采用紧凑舒适的外观设计，清晰锐利的立体图像，灵活多样的部件组合，广泛应用于现代生物、医学、科研、现代电子工业在线检测和其他科技工业领域等高精度方面的要求。SZM系列体视显微镜经典的设计，使得机体的稳定性更好，出色的光学性能、齐全的附件，多样化的组合配置，满足现代生物、医学、科研、现代电子工业的在线检测。SZX系列平行光路体视显微镜拥有卓越的伽利略光学系统和优异的成像性能，为用户提供真实完美的显微图像；同时，出色的人机工程学原理和人性化的操作系统，真正让用户体验到简单而舒适的工作感受。SZX 可满足生物医学、微电子、半导体领域的研究需求。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。公司拥有专业化的营销团队与技术服务团队，可为客户提供优质的产品和精湛的技术服务，量身定制智能光学检测解决方案。

您想了解更多显微镜价格,显微镜多少钱一台,显微镜报价信息吗？苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年，是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像，自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。其中，按显微镜种类分，体视显微镜价格1000起，视频显微镜价格2000起，金相显微镜5000起，测量显微镜60000起。在选购显微镜的过程中，您可以根据自己需求搭配，我们也有专业的技术人员根据您需要检测的产品给出合理的建议，祝您早日选到价格合理的视频显微镜哦。苏州汇光主要经营的产品主要如下视频显微镜：高清测量视频显微镜、高清检查视频显微镜、视频一体机、自动对焦视频显微镜、大视频检测视频显微镜、三维检查显微镜，万向支架视频显微镜，万向支架体视视频显微镜，三目视频显微镜，三目体视视频显微镜；.或直接浏览 视频显微镜网站金相显微镜：材料分析显微镜、切片分析显微镜、半导体检查显微镜、LCD导电粒子检查显微镜、LED检查显微镜、镀层检测显微镜、熔深检测显微镜、孔隙率检测显微镜、清洁度检测显微镜、线束端子检测显微镜、超景深3D显微镜，红外显微镜、紫外显微镜、明场显微镜、暗场显微镜、偏光显微镜、微分干涉显微镜、舜宇显微镜、奥林巴斯显微镜；体视显微镜：环形光体视显微镜、同轴光体视显微镜、上下光源体视显微镜、斜光源体视显微镜、冷光源体视显微镜、万向支架体视显微镜；测量显微镜（主要包含3大系列，HJG系列，MS系列，STM7系列）、显微镜配件、金相制样设备及非标智能检测设备等。苏州汇光真诚欢迎需要显微镜的朋友前来我司咨询哦。我们会为您需要的产品做详细的报价信息。做到高性价比，您还在等什么呢。

让检测工作更简单：用于日常检测和失效分析的自动化数码显微镜智能化设计、智能化工作流程、智能化输出蔡司工业显微镜代表着出色的光学质量和卓越性能，且为您的工作注入智能。应用案例分析：Smartzoom5是一款智能型数码显微镜，适用于工业领域的质量保证应用。设置快速简便、全自动化且配备有专业质量保证和控制组件。操作简单，即便是未接受过培训的人员也能快速上手，轻松获得出色的检测结果。蔡司Smartzoom 5 为工业质保注入智能。更简单、更智能、更高度集成智能化设计Smartzoom 5标配智能化质量保证和控制分析（QA/QC）技术。其智能化程度如何？它采用独一无二的专业 QA/QC 硬件设计，包含大量集成化组件。例如，光学系统还将变焦、全景相机和同轴照明技术集成至单个组件中。所有组件均置于一套轻质、便捷式系统内，易于组装和安装，无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可以一直显示所有主要组件的状态信息，并能自动校正组件偏差。这就是智能化设计。智能化工作流程Smartzoom 5配备了一系列智能化功能及工作流程向导的应用软件，让您的检测工作更加顺畅。其高效程度如何？它能够通过宏记录和学习模式来逐步增强同一类型样品重复分析工作流程的效率。内置 QA/QC 图形用户界面结合手势控制，以支持从宏观到微观工作流程的无缝对接，轻松实现快速导航。Smartzoom 5 系统集上述功能于 一体，操作简单，即便是未接受过培训的人员也能快速上手。图像预设和增强功能是您获取最佳图像的好帮手，运用大量图像算法实现自动化测量。这就是智能化工作流程。智能化输出Smartzoom 5性能可靠稳定，能够为日常检测和失效分析任务提供快速且可重复的 QA/QC 测量。其可靠程度如何？由校准组件指导的工作流程让用户独立获取检测结果。此外，系统还配备了几项全自动化功能，在全面提升效率的同时实现了快速且可靠的分析。这就意味着，Smart-zoom 5 可以随时让您生成高品质的图像。简单标注图像，然后创建报告并导出至 Word 模板中。这就是智能化输出。洞察产品背后的科技智能化设计Smartzoom 5包含大量智能化集成组件。最少的线缆配置，且完全置入系统内以消除杂波干扰。光学系统是显微镜的核心，它集变焦、全景相机和同轴光照明技术于一体。系统装配仅需 1 分钟，且无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可选用能达到 10× 至 1,011× 放大倍率的三款不同物镜。* 它们均配有卡口式镜头座，方便物镜快速更换及电源连接。通过触点为集成至物镜内的分段式LED 环形灯供电，并能够单独从物镜上查看几何校正值。它的智能化安全功能绝不容小觑。例如，当物镜接触到样品或手时，电机会自动停止，以保护操作人员和样品。智能化工作流程Smartzoom 5的集成 QA/QC 图形用户界面可以实现从宏观到微观工作流程的无缝对接，让快速向导更简单。因此，您可以使用独立的光学器件来记录整个样品表面，并立即查看样品的哪块区域需要执行显微检测。然后，在触摸屏或控制单元上使用手势移至相应位置。您还可以设置一个坐标系来执行后续组件检测。以清晰直观的结构显示记录的图像和使用的工具，从而让您对整个检测工作流程一目了然。此外，系统还会记录工作流程中的所有步骤，以方便之后重复执行显微分析操作。凭借自动特征探测功能，Smart-zoom 5 可以基于预设值的参数自动识别和测量样品。使用最佳图像或者如HDR、噪声过滤、锐化、图像稳定等实时图像增强功能，为您呈现最佳的演示效果。 智能化输出至于倾角和物镜，所有 Smartzoom 5 组件均是编码或电动控制的。因此，您能够使用软件实时监测每个组件的工作状态，并将此类信息与图像 一起保存。此外，Smartzoom 5 还配备用户管理系统，通过控制每位操作人员的权限来确保结果可重复。标注图像，然后创建报告并导出至Word 模板中。技术参数

徕卡DM6M产品简介：莱卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计，可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。概述徕卡全自动万能金相显微镜DM6M.正置模块化设计，可实现透反射观察.可配接摄像头、数码相机等装置扩展数码显微镜.适合金属、高分子材料、电子元器件、粉尘等样品观察分析。DM6M高级全自动智能数字式正置金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件、粉尘颗粒等样品的观察分析模块化设计，正置显微镜可实现反射观察、透反射观察配置复消色差光路，整体光路支持25mm视野直径6孔位电动物镜转盘，配接32mm直径工业物镜内置电动调焦系统，精度0.015um可实现全自动明场、暗场、偏光、干涉观察方式数码显微镜机身内置12v100w的透、反射照明电源，智能光强变化的控制照明方式能自动记忆在不同物镜下和不同观察方式下最佳的光强，光阑大小及聚光镜的组合，自动恢复到位，操作简单快速 产品特点全自动材料分析您可轻松调用之前的显微镜设置并通过独特的软件功能“保存和调用”(Store and Recall) 即时复制成像参数。适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果—始终如一。管理器节省时间节省宝贵时间：凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager)，显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜，准确打开和关闭孔径光阑和视场光阑，且调整光线强度。共享和比较您的结果—随时随地！通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant，Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档，并可随时恢复。无忧照明LED照明有助于结果的可复制—无论您以明场(BF)、高动态暗场(HDF)、微分干涉相衬(DIC)、荧光(FL) 还是偏振(POL) 状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品：无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法，在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。

“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、晶粒度评级、相位或颗粒分析等应用中，可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM 6 M 工业正置显微镜系统值得您的信赖，获得可复制的结果，始终如一！一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果 — 始终如一。节省宝贵时间：凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager)，徕卡DM系列工业正置显微镜能够自动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜，准确打开或关闭孔径光阑和视场光阑，且自动调整光线强度。共享和比较您的结果 — 随时随地！通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant，Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档，并可随时恢复。Leica DM4 M 正是为您打造的手动编码日常检查系统。2-齿轮手动调焦驱动器6 位或 7 位编码物镜转盘手动 3 叠式载物台，6 个符合人体工学设计的可编程按钮照明管理系统对比度管理器LED 照明装置可实现所有对比度模式相衬模式：明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光Leica Application Suite X (LAS X)与 LAS X 结合使用还可实现自动对焦无忧照明！LED 照明有助于结果的可复制 — 无论是以明场 (BF)、高动态暗场 (HDF)、微分干涉相衬 (DIC)、荧光 (FL) 还是偏振 (POL) 状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品：无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法，在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。节省能源和成本：LED 照明可节省能源，使用寿命长达72,000 小时，从而使因更换灯泡而导致的显微镜停机成为过去。配置： Leica DM4M 研究级半自动正置金相显微镜反射光明场、暗场、单偏光、正交偏光，5x-10x-20x-50x明暗场物镜。