瞬态荧光光谱仪

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度? 高动态范围和数据获取速度? 独特的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现很高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

OmniFluo900系列稳态瞬态荧光光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo900系列全功能稳态/瞬态荧光光谱仪参数指标型号OmniFluo960主要功能稳态测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围/稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪激发光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@300nm600g/mm BLZ@500nm 通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

本系统主要是针对光电器件的动力学分析，利用周期性的脉冲单色光源，产生光电流或者光电压的信号。 并对此信号进行时域或者频域的分析，得到光生电的响应时间，如上升 / 下降时间，瞬态光电流与 瞬态光电压曲线 , 从而可以分析器件内部的动力学过程，如载流子的迁移率、载流子的寿命、 载流子的扩散长度等。产品特点：■ 支持多路激光器■ 系统采用显微光路，多种物镜可以切换■ 样品台三维可移动，方便光斑与样品重合■ 支持探针台结构■ 支持高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μszolix瞬态光电性能测试系统DSR800适用范围：■ 钙钛矿太阳能电池，有机太阳能电池，有机无机杂化太阳能电池，薄膜太阳能电池，燃料敏化太阳能电池■ 金属半导体异质结器件■ 光电传感器件测量模式：■ 稳态IV测试(Steady State Current-Voltage Characterization)■ 瞬态光电压/光电流测试(Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 开路光电压衰减/电荷抽取(Open-Circuit Voltage Decay/Time-Resolved Charge Extraction)■ 电压调制瞬态光电压/光电流(Electrical Modulated Transient Photovoltage/Transient Photocurrent)■ 自定义测量模式(Customized Measurement)配置参数：更多配置说明咨询销售激光光源a纳秒激光器：可选波长：375nm-1310nm范围内多种波长可选，具体咨询销售半导体激光器：可选波长：266nm-2200nm范围内多种波长可选，具体咨询销售高稳定性高亮度可程控LED光源支持高速频闪，响应时间低于100ns, 频闪响应时间低至10μs 显微镜模块4个显微镜安装孔，支持多个显微物镜切换内置LED照明模块 多个显微物镜：10x ,20X ,50X等 数据采集模块时间分辨率：4ns/2ns/1.14ns/800ps/400ps可选通道：2/4通道可选 采样率：2.5 GS/s 记录长度：10M 输入阻抗：1MΩ，50Ω 样品台探针台适正面电极或者异面电极的样品3M夹子样品台适用于：间距为2.54mm的背电极样品 支持定制样品台，适用多种器件结构IPCE测试（扩展功能）波长范围300-1100nm，可以扩展到1700nm功能：光谱响应度，量子效率，单色光IV特性a，根据不同寿命测试需要选择不同类型的，如测试上升或者下降沿需求为μs量级，选择纳秒激光器。zolix瞬态光电性能测试系统DSR800 应用测量结果■ 光电器件表征上图为使用ps 激光器测试的不同类型的探测器的瞬态光电流曲线，点线是实测曲线，实线为拟合曲线。样品1 硅基探测器，样品感光面积10mm×10mm，下降时间2.99μs ；样品2 氮化镓，样品感光面积1mm2，下降时间82ns ；样品3，氮化镓器件，样品感光面积0.04mm2，下降时间6ns。■ 光伏器件表征大功率LED 光源作为白光偏光光源，也可以选择不同波长LED 光源。对于瞬态测试，532nm 纳秒脉冲激光作为脉冲光源。硅基太阳能电池在无偏置光情况下瞬态光电压信号随脉冲光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电压信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池瞬态光电流信号随偏置光强的变化硅基太阳能电池器件微分电容和偏置光电压的关系曲线硅基太阳能电池器件电荷量和偏置光电压的关系曲线

产品关键词：稳瞬态荧光光、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、电致瞬态、TREL、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、变温荧光、时间分辨光致荧光光谱、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、超快光谱、动力学扫描、多发射谱扫描、多同步扫描▌ 产品简介光电一体化时间分辨光谱仪HiLight是东谱科技自主研发的业内首款光电一体化时间分辨光谱仪（又称光致/电致稳瞬态/时间分辨荧光光谱仪TRPL），该设备拥有光致和电致荧光光谱模块，可以对各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）和电致发光样品进行全面的稳、瞬态测试分析，可在200 nm 至5500 nm、宽波长、2.5 ns至1200 s宽时域范围上对微弱发光信号进行精准测量。基于其光电一体的独特优势，HiLight可同时用于材料与器件的研究，从而极大地拓展了传统荧光光谱仪的适用范围。基于模块化的设计理念，HiLight可以提供灵活的配置方案，以适应多样化的测试需求，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 模块化设计，可选配置丰富灵活，易升级维护；□ 光电一体，同时适用于材料与器件； □ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射电致荧光/磷光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光时间分辨电致发光光谱变温荧光比较荧光电致发光响应时间低温荧光时间相关动力学多维光谱显微荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器电致发光部件SMU电压范围±15 V电流范围±40 mA电压设置分辨率10 mV电流设置分辨率10 μA电压测量分辨率1 mV电流测量分辨率1 μA瞬态电致发光驱动源输出电压范围-10V~+10V电压分辨率16 bits信号频率范围10 mHz~10 MHz驱动电压信号类型脉冲、正弦波、三角波、方波等水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 荧光粉□ 上转换材料□ TADF□ 光伏材料□ 荧光微球□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件▌ 产品型号型 号特 点光电一体化时间分辨光谱仪HiLight 990 模块化，可选配置功能；升级与拓展功能强稳瞬态荧光光谱仪HiLight HS15 一体机；稳态和瞬态荧光功能荧光寿命测量仪HiLight T30 寿命测量功能；可选滤光片分光瞬态电致发光光谱仪HiLight E60瞬态电致发光功能荧光光谱仪HiLight S20稳态和磷光功能

TPL300-稳态/瞬态荧光光谱系统采用稳态、瞬态一体化设计，其结构紧凑、稳定性好。可实现稳态、瞬态荧光光谱测量、荧光寿命测量。配有专业数据采集软件、数据分析软件。可实现稳态/瞬态三维数据采集、数据拟合等系统主要技术指标● 稳态荧光模块1） 光谱探测器∶光谱仪+PMT或CCD 2） 光谱采集模式∶波长扫描或CCD一次成谱3）光谱探测范围∶250-900nm；900-1700nm ●瞬态TCSPC模块∶1） 时间窗口∶50ns-5μs，5μs-1ms（取决于激光重复频率）2） IRF（仪器响应函数）∶200ps 3） 时间分辨率：50ps 4） 可见光谱探测范围：350nm-900nm,35%@500mm 5） 近红外光谱探测范围：900nm-1700nm,25%@1550nm●可选配激光器1）波长∶405nm2）光纤耦合输出3）脉冲宽度：100ps4）重复频率可调：0.1MHz-40MHz 5）峰值功率：200mW 6）平均功率：0.4mW@40MHz●配备液态样品池，薄膜样品架和粉末样品夹具●磷光（长寿命）检测拓展模块∶1） 光源闪烁光源2）激发波长选择单色仪3）探测模式∶单点检测器配门控光子计数模式4）检测时间窗口范围∶可将时间窗口范围拓展至秒●数据采集软件∶可实现稳态/瞬态三维数据采集应用实例样品：样品CdSe

产品关键词：稳瞬态荧光光谱、稳态瞬态荧光光谱、TRPL、TRES、荧光寿命、荧光光谱、瞬态荧光、荧光量子产率、PLQY、时间分辨光致荧光光谱、分光光度计、激发谱、发射谱、同步谱、瞬态磷光、磷光寿命、荧光磷光衰减寿命、动力学扫描▌ 产品简介稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15，该设备采用一体式设计，包括稳态、瞬态等模块，工作波长200 nm 至5500 nm,时间范围2.5 ns至1200 s（时间分辨精度305fs）。适用于各类型的光致（荧光、磷光、延迟荧光等）进行全面的稳、瞬态测试分析，可广泛应用于材料科学、分析科学、生物医药、食品科学、石油化工、地质学、考古、法医学等领域。▌ 产品特点□ 一体式设计，具有高稳定性、高灵敏性优点；□ 宽时域时间分辨：2.5ns-1200s； □ 时间分辨率：最小305fs； □ 宽波长范围可选：200-5500nm； □ 多种光源、光栅、探测器可选； □ 全反射式光路设计，影像校准技术； □ 配置SpectraHub软件，功能丰富。▌ 产品功能荧光/磷光时间分辨发射谱吸收与透射变温荧光荧光磷光寿命量子产率上转换荧光多维光谱变温荧光▌ 规格参数光谱范围激发光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-2500nm发射光谱标配：200nm-900nm，可选：200nm-5500nm时间范围SPC动力学1 ms~10 hMCS10 ns~1200 sTCSPC50 ps~100 μs激发源稳态MCSTCSPC350W氙灯脉冲氙灯Mic-MLD微秒激光器Mic-MLED微秒LED光源Pina-PLD皮秒激光器Pina-PLED皮秒LED光源NanoQ-NLD纳秒激光器NanoQ-NLED纳秒LED光源皮秒白光光源纳秒OPO可调谐激光器水拉曼信噪比12,000:1；可选配优化信噪比▌ 产品应用□ 有机发光材料□ 荧光探针□ 天然染料□ 镧族稀土元素□ 碳点□ 钙钛矿材料□ AIE□ 二维材料□ 室温磷光材料□ 稀土发光材料□ 量子点□ 纳米微球□ 量子棒□ 合成染料□ 各类电致发光器件

英国Edinburghinstruments，一个由科学家群体组成的研发团队，专注于生产和研发高性能研究级光谱仪的公司。产品线覆盖从紫外可见到近红外区域，从稳态光谱测量到瞬态光谱测量，以及激光闪光光解光谱仪等等。这是爱丁堡苏格兰工厂全新打造的新一代紧凑型一体化荧光光谱仪。这款仪器基于高标准进行设计，具有高灵敏度，快速数据获取，操作简单的特点，同时还有丰富的样品支架可以进行选择。拥有爱丁堡仪器在荧光光谱仪上超过35年的制造经验，FS5可以为您提供您所能想到的各种测试需求。FS5为中档价位的荧光光谱仪在全球分析和研究市场上设立了一个全新的标准，针对不同的应用方向，我们都有相应测量模式可以进行选择。? 单光子计数的超高灵敏度? 高动态范围和数据获取速度? 独一无二的软件——为荧光光谱仪量身定做? 升级的可选模式 PSP——纯光谱，极低的杂散光，无高级散射光干扰 NIR——可扩展光谱范围至1650nm POL——测量荧光各向异性和偏振度 MCS——完成微秒到秒级的寿命测试 TCSPC——完成皮秒到微秒的寿命测试? 极其丰富的样品支架选项 FS5 – TCSPC 荧光寿命升级除了拥有FS5标准荧光测试功能以外，这款升级还能实现皮秒、纳秒到微秒范围的寿命测量（10μs）。FS5-TCSPC型号需要皮秒脉冲二极管和LED作为激发光源，我们只需要简单地将光源连接到FS5-TCSPC特制的样品仓中，这个样品仓与所有样品支架相兼容。寿命测试的时候不需要单独的激光驱动和数据分析模块。软件完全兼容所有的测试功能，提供重卷积和曲线拟合。皮秒激光二极管（EPL）和皮秒脉冲发光二极管（EPLED）都是单一波长输出。我们至少需要一个或者一个以上的皮秒脉冲光源来激发样品，激发波长根据用户的具体应用方向进行选择。TCSPC寿命测试可以使用FS5标准的检测器，可以实现150ps-10us的测量。当我们使用快速响应检测器的时候可以优化仪器响应函数，可实现低至50ps的寿命测量。FS5 – NIR 近红外光谱区域扩展进行近红外波长测试的扩展，在目前的紧凑型荧光光谱仪中只有FS5能够实现。通过接入第二个近红外的检测器，FS5轻松地实现测试波长范围的扩展，而无需牺牲紫外可见区的灵敏度。有多种近红外检测器可以进行选择：FS5-NIR额外扩展一个制冷侧窗PMT和近红外光栅可以达到1100nm；FS5-NIR+可以升级电制冷的近红外PMT和近红外光栅实现远至1650nm的测试。这两种升级选项全部基于单光子计数技术以实现最高的灵敏度，并且能与任何寿命升级选项相兼容。FS5-POL 荧光偏振度和各向异性的测量偏振荧光升级选项包括位于激发和发射侧的由软件控制的自动偏振片。借助于偏振片可以完成偏振荧光和荧光各向异性的测量。测量可以自动计算得到各向异性曲线，包含原始数据和G因子校正的数据。如果和TCSPC联用，可以进行时间分辨的荧光各向异性分析。FS5-POL 标准配置紫外可见区，我们还可以选配近红外偏振片使发射侧的偏振测量范围扩展到1650nm。FS5-MCS 微秒级到秒级寿命测试FS5-MCS除了拥有FS5所有的标配功能以外，还可以实现10μs的长寿命测量，特别适用于强发光的荧光粉和稀土样品。标准的连续氙灯光源和脉冲闪烁氙灯光源之间的切换由软件自动控制完成。测量模式也同时会在标准的光子计数和时间分辨光子计数之间进行切换。如果需要长时间进行寿命测试的时候连续氙灯会通过软件自动关闭，这会节省氙灯的能量，增加使用的寿命。几乎针对所有应用，FS5都有相应的样品支架可供用户进行选择。这些附件的安装使用十分简单方便。绝大多数的附件安装只需要十几秒的时间就可以完成。专用的Fluoracle软件可以自动识别每一个样品支架，用户使用界面十分友好，操作十分便捷。

作为市场上高端科研级荧光光谱仪的领导厂商，IBphotonics公司一直致力于在已有技术优势的基础上，不断创新，结合用户不断升级的实验需求，将我们的系列仪器持续完善，增加更多样性的功能模块，丰富用户的选择，更好地服务于所有荧光光谱用户的实验工作。KEY FEATURESEmission time-resolved measurements insolutions, vapor cells and thin films,Fluorescence anisotropy measurements,Optimized for MHz Ti:Sa Oscilators,Covers fluorescence phenomena fromfemtoseconds to 2 ns,Sub-100fs time resolution,Easy alignment. DetectionRange:320-1300nm Excitation:SHG Time Resolution: 100fs(for laser pulsewidth 70fs)Optical Delay:2-ns travel, 3 fs step 4ns optionalDark Count Rate:3.106cps Software:Standalone and LabView TMDimentions:90 x 70 x 18.5cm (35.4 x 27.5 x 7.3 in.) Input Parameters Pulse Energy: 3 nJ(230mW@76MHz)Pulsewidth:30 - 200 fsBeam Diameter:2 - 5 mm Near TEM00Polarization:Linear, HorizontalRepetition rate:1-200 MHzWavelenght:770-820 nmBeam height:110 mm 作为市场上高端科研级荧光光谱仪的领导厂商，IBphotonics公司一直致力于在已有技术优势的基础上，不断创新，结合用户不断升级的实验需求，将我们的系列仪器持续完善，增加更多样性的功能模块，丰富用户的选择，更好地服务于所有荧光光谱用户的实验工作。KEY FEATURESEmission time-resolved measurements insolutions, vapor cells and thin films,Fluorescence anisotropy measurements,Optimized for MHz Ti:Sa Oscilators,Covers fluorescence phenomena fromfemtoseconds to 2 ns,Sub-100fs time resolution,Easy alignment. DetectionRange:320-1300nm Excitation:SHG Time Resolution: 100fs(for laser pulsewidth 70fs)Optical Delay:2-ns travel, 3 fs step 4ns optionalDark Count Rate:3.106cps Software:Standalone and LabView TMDimentions:90 x 70 x 18.5cm (35.4 x 27.5 x 7.3 in.) Input Parameters Pulse Energy: 3 nJ(230mW@76MHz)Pulsewidth:30 - 200 fsBeam Diameter:2 - 5 mm Near TEM00Polarization:Linear, HorizontalRepetition rate:1-200 MHzWavelenght:770-820 nmBeam height:110 mm

荧光上转换系统 FluoMax是研究溶液、固体样品和hin薄膜中的荧光动力学的关键系统。它的时间窗为2ns，具有低于100fs的固有时间分辨率。该检测方法依赖于利用飞秒光选通技术对非线性光学晶体进行和频生成。FluoMax的光谱范围覆盖了可见光和近红外区域。它被设计用于匹配任何类型的飞秒钛蓝宝石振荡器(1 - 100mhz, SC版本)和再生放大器(0.5 - 10kHz, MP版本)。 高性价比 操作简单 拓展光谱 由光谱学专家设计 多样化的工具和配件探测荧光波长范围(350-1300 nm)100fs内在时间分辨率 全电脑操作 时 间 窗 口 2 n s （标 配） 4ns（可选） 排放各向异性测量 超高信噪比 激光诱导荧光是由飞秒激光脉冲产生，并指向一个光学非线性晶体。只有在存在延迟飞秒栅脉冲时，非线性晶体才会产生和频辐射。由于光学延迟扫描的结果，荧光上升或衰减动力学被测量在一个波长由单色仪和非线性晶体调整。系统灵敏度取决于荧光激发光的平均功率、脉冲重复率、发射寿命的样本,转换有效率光谱仪的暗计数的光子计数系统,和测量时间。有机化学:合成化合物中的电荷转移 瞬态排放获得动力学与FluoMax-MP TAA-based有机化合物在溶液中与激发Clark-MXR CPA2010™ 倍频输出。用2uj, 1kHz, 388 nm脉冲激发。时间动力学拟合(实线)是用复指数函数和高斯函数进行的。

瞬态吸收技术主要用于测量光化学反应的过渡态；由于光化学的反应速度很快通常是纳秒（10-9 -10-6），短时间脉冲激光是理想的泵浦光，因此早起的瞬态吸收技术也被称为“激光闪光光解”。CEL-TAS2000瞬态吸收光谱(Transient absorption spectrum) 测试系统。在激光泵浦作用下，物质产生中间态的物种，通过对瞬态吸收光谱的探测可以得到中间态物种及浓度信息。瞬态吸收作为化学、新材料、生物领域必要的测试工具，探测灵敏度往往是科学探索中最重要的制约因素之一。瞬态吸收光谱测试系统采用新型的激光等离子体光源作为探测光，采用优化设计的低噪声探测器以及12-16bit的高动态范围示波器，将瞬态吸收的灵敏度（检测限）提升至0.1mOD以上，即便是在1000-1700nm近红外波段，也可轻松达到0.1mOD。激光闪光光解(Laser flash photolysis)是用来观测分子受光激发后，由基态S0跃迁到激发态Sn过程中发生的一系列变化和反应。它主要由激发光源、检测光源、信号检测和数据处理系统组成，通过利用一定强度的激发光源入射到所研究的体系中，结合时间分辨吸收和发射瞬态光谱及相应的动力学衰减曲线等方法来研究反应过程中激发单重态、激发三重态、自由基和正、负离子等瞬态反应中间体的一种有效手段。主要用来测量液体、固体、半导体、催化剂的瞬态吸收光谱的动力学分析及时间分辨的吸收光谱，包括以下几个方面：①光敏化反应研究，探讨激发态物种的能量转移、电子转移和质子转移等；②光解离机制研究，探讨解离中间体的反应动力学过程，吸收光谱参数的表征等；③光物理过程研究，解析物质分子被激发后衰变过程中发射光谱的特征和相关动力学参数表征；④光致氧化反应研究，通过光诱导产生氧化性自由基与目标物反应。产品优势u 等离子体超连续光源LDLSu 全反射光路u 四光栅，高杂散光抑制比，高光谱分辨率u 自主研发的高灵敏度探测器，超低噪声供电电源u 透射式，反射式，原位测试，低温样品测试环境u 高测试灵敏度，OD可达到5*10-5u 纳秒到秒级的时间尺度的优化测量u 全自动一键式测试瞬态吸收光谱测试系统的特点：1. 200-1700nm全波段范围内测试灵敏度均可达到0.1mOD以上；2. 针对损伤阈值低的样品，易光学漂白的样品、光电功能薄膜等材料优化设计；3. 内置电动滤光片轮，根据测试波段进行自动滤光，有效保护样品且降低系统杂散光干扰；4. 探测光采用激光等离子体白光光源；百微米尺寸点光源，更高收集和聚焦效率，更高的能量密度；极高的空间稳定性以及长达1万小时的寿命；5. 不仅局限于常规样品室。优质的探测光性能，允许进行更多实验环境的光路定制。如：显微镜微区光谱、低温样品环境、强磁场样品环境等；6. 四光栅光谱仪，更易拓展且保证系统效率；7. 针对瞬态吸收自主研发的低噪声探测器；无需对数据平均降燥亦无需牺牲时间分辨率即可得到0.1mOD的测试灵敏度；8. 最高16bit数据位可调示波器，超高的电压分辨率精度位系统灵敏度提供有力保障。 技术参数项目参数测试波长范围350nm-1700nm（瞬态吸收专用高动态范围Si探测器；波长探测范围：350-1000nm；[选配：InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm]）时间分辨率优于5ns探测灵敏度优于0.1mOD光谱仪焦距长度：350mm焦距 ；光栅：3光栅自动切换光谱分辨率：0.04nm ；电动入口/出口狭缝及CCD出口；原装整机进口光谱探测器带有低噪声放大器的Si以及InGaAs探测器（单点模式）数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器探测光激光诱导白光光源190-2100nm；输出光斑尺寸100*100μm；使用寿命1万小时 ；光斑空间稳定性：1μm（光斑中心）；能量波动：0.1% ；能量衰减（1000小时）：1%样品室样品类型：澄清低散射稳定液体或固体薄膜／晶体（可测量带有荧光的样品） 样品架：液体/固体 标配常规样品室，根据要求定制的样品，支持低温设备泵浦光OPO激光器（原装整机进口）输出波长范围：210-2400nm；波长调节：计算机控制 ； 峰值输出能量：大于20mj重复频率：20Hz选配（1）近红外探测器NIR 探测器：瞬态吸收专用高动态范围InGaAs探测器；波长探测范围：900-1700nm（2）低温恒温器： DN2 77k-300k牛津液氮低温恒温器及支架

产品简介： FLS1000是一款测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度35,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

OmniFluo990稳态瞬态光谱仪 OmniFluo900系列荧光光谱仪拥有稳态荧光和瞬态荧光光谱仪两大系列产品。本系统以高性能Omni-λ 系列单色/光谱仪、高亮度复色光源及多波长单色光源、高灵敏度单光子探测器和大容量样品室为主要核心部件，配合精心优化的激发与发射光路设计，显著地提高了荧光信号探测的灵敏度，纯水拉曼信噪比可达10,000：1 以上。OmniFluo900系列以模块化设计为原则，以我公司 15 年丰富的光谱系统设计、制造及品控经验为基础，搭配时间分辨率达到皮秒量级多通道扫描单光子计数器，可方便地实现荧光（PL）光谱、激光诱导荧光（LIF）光谱、电致发光（EL）光谱及荧光量子产率（QY）等多种稳态、瞬态测试功能。本系列荧光光谱仪，还可搭配牛津仪器（Oxford Instruments）公司的温控单元及滨松(Hamamatsu)公司的各类高灵敏度探测器，便捷地在不同波段范围内获取荧光信号的温度扫描光谱，从而有效地从根本上消除传统荧光分光光度计波长测量范围有限及光谱测试种类不足等各类缺陷。在红外波段测试的稳态和瞬态数据，以及时间分辨的光谱OmniFluo990稳态瞬态光谱仪参数指标型号OmniFluo990主要功能稳态、瞬态寿命测试水拉曼信噪比?≥10000:1寿命时间范围≥500ps-ns- -10s稳态测试激发光源Gloria75X-75W光谱仪发射光谱仪 Omni-λ3027i焦距（mm）320杂散光1*10-5光谱分辨率（nm）?0.08波长准确度（nm）?±0.2波长重复性（nm）?±0.1光栅配置1200g/mm BLZ@500nm600g/mm BLZ@750nm300g/mm BLZ@1250nm通用样品室SAC-FLS样品架③标配比色皿样品架、粉末、固体样品架遮光板配有自动遮光板，防止更换样品时探测器曝光探测器带制冷的红敏光电倍增管 CR131光谱范围④185-900nm暗计数≤100CPS（制冷至 -10℃）数据采集器DCS900PC主要性能指标计数率：100Mcps分辨率：16ps/128ps-1.024ns/2.048ns--33.55us；通道数：65535时间扫描：1.05us@64ps 2.2s@33.55输入信号：±触发沿，高阻/50Ω 阈值±2V可调控制软件新版ZolixScan控制、数据采集、分析软件稳态测试功能：激发扫描，发射扫描，同步扫描，三维扫描可选功能：偏置测试，温度控制扫描瞬态测试功能：动力学扫描，寿命扫描，时间分辨光谱扫描数据处理功能：量子产率计算，TRES Slicing，光谱校正标配计算机Intel i3 双核CPU、4G内存、显示器1920*1080分辨率标配操作系统Windows 10 Home Edition注? 水拉曼测试条件：激发波长350nm，扫描范围370-450nm，狭缝带宽5nm，积分时间1s注? 测试条件：1200g/mm 500nm闪耀光栅，435.84nm，狭缝高4mm，宽10注③ 可选旋转、磁搅拌、水浴样品架注④ 可选R928（200-900nm），R13456（185-980nm），H10330C-75（950-1700nm）, R5509-73（300-1700nm）

纳秒/微秒瞬态吸收光谱系统系统设计和飞秒-纳秒激光相结合，与超快瞬态吸收系统不同，纳秒 瞬态吸收系统采用电控延迟系统和独立超连续白光光源，用于检测样品在亚纳秒 到毫秒尺度的光诱导动力学演化过程。Micro-TA100系统配备独立的pump-probe 闪光光源，用于检测样品在微秒到秒尺度的光诱导动力学演化过程。检测模式：透射、反射模式可切换光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器采用法国LEUKOS-DISCO（ＵＶ）超连续白光激光器白光光谱范围380 - 1800 nm 、重频2KHz、平均功率5mW采用双通道（采集和参比）光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率时间检测窗口范围： 450μs时间分辨率：1ns检测灵敏度：≤0.1mOD（可见和近红外）可在超快瞬态吸收光谱系统上拓展纳秒系统，共用检测器微秒瞬态吸收光谱拓展模块(选配):激发光源：滨松脉冲氙灯光源（脉宽2.9μs）氙灯平均功率60W ；波长范围：240-2000nm；重频范围：100到1Ｈｚ探测光源：滨松CW探测氙灯光源，平均功率35W，光谱范围： 240-2000nm光谱检测：光谱仪配高速CMOS线阵传感器，光谱范围一次采集（无需扫描单色仪） （与ns或飞秒系统共用光谱检测部件）光谱探测范围：可见光300-950nm；近红外850-1700nm检测时间窗口：～35μs－s时间分辨率（CMOS相机最小门宽决定）：～35μs（可见光）；～14μs（近红外）采用双通道采集和参比光谱检测, 即两套数据采集和光谱探测系统，可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率数据采集软件系统：2D/3D数据采集模式，实现采集数据实时观测分析。专业数据分析软件：动力学曲线拟合、时间零点矫正、均一化处理等多种强大功能（可根据用户需求添加自定义功能）

超快瞬态吸收光谱系统一体机TA-ONE系列一体式超快瞬态吸收光谱是基于我司的超快时间分辨光谱技术, 模块化结构和飞秒激光光源实现的一体化设计系统。该系列系统稳定性高，一体 化设计，无需复杂光路调节，并配备飞秒激光光源，性价比极高。能够适用于半 导体材料、太阳能电池材料、二维材料、光催化材料、光电检测材料等广泛的材 料研究领域。主要技术指标检测模式：透射、反射模式可切换 光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器 光谱检测范围：可见光：480-940nm 时间窗口：8ns 仪器响应函数（IRF）时间：典型值500fs（1.5倍激光脉宽） 检测灵敏度: 0.3 mOD 激发光源：1030nm、515nm、343nm可软件控制切换 紫外拓展模块： 采用BBO晶体和蓝宝石拓展白光光谱探测范围至紫外区域 光谱探测范围：380-750nm 近红外拓展模块： 加配近红外光谱检测系统，包括近红外光谱仪、高速近红外 CMOS 传感器 光谱探测范围：1100-1650nm系统配有高稳定飞秒激光器:平均功率：20W中心波长:1030±5nm脉冲宽度：＜ 500fs重频：100K单脉冲能量：40μJ

产品简介： FLS1000是一款最先进，测量光致发光的模块化光谱仪，专注于稳态及时间分辨光谱测试。系统具有超高的灵敏度，可以根据需要从紫外可见到中红外光谱范围进行灵活配置，寿命测试的时间范围覆盖从皮秒到秒的12个数量级。 产品特点：模块化搭建，配置灵活，升级功能强大高灵敏度30,000:1 （均方根方法）深紫外到中红外覆盖的光谱范围 （185nm-5,500nm）无与伦比的单色器性能，配备即插即用的三光栅塔轮，且标配自动滤光片轮，单色器焦长可达325mm，带来优异的杂散光抑制率多种可选光源及检测器，可选单光栅及双光栅单色器全新Fluoracle 软件实现稳态瞬态数据获取以及标准分析模式和高级寿命分析选项 应用领域：材料科学生命科学环境科学法医科学与安全地质学

闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。

TGPLS MatriX-1Ultrafast Spectroscopy超快光谱仪 Overview概述TGPLS MatriX-1 [Time-Resolved Photoluminescence spectroscopy] is the first commercially available broadband fluorescence spectrometer designed for femtosecond amplifier laser systems. Time-resolved fluorescence (or photoluminescenc e) spectroscopy is widely used to reveal electronic excited state dynamics in emissive materials ranging from semiconductors, to nanomaterials, dyes, and proteins. Other time resolved fluorescence spectrometers fall in two categories broadband spectral resolution with time resolution limited to tens of picoseconds or longer or ultrafast time resolution limited to single wavelength scans. Neither of these approaches adequately captures ultrafast spectral evolution associated with a host of critical photophysical processes. TGPLS MatriX-1 breaks this tradeoff with the unique ability to capture broadband fluorescence spectra on femtosecond timescales, with high signal quality, low background noise, and rapid data acquisition. The TGPLS MatriX-1 instrument is based on patented transient grating gate technology developed by ultrafast spectroscopy researchers at Victoria University of Wellington, New Zealand. Combining the intrinsic advantages of transient grating gate, and hardware and software user interfaces developed by spectroscopists, TGPLS MatriX-1 is the benchmark next generation time resolved fluorimeter.TGPLS MatriX-1 [时间分辨光致发光光谱仪]，是第一台商用的设计用于飞秒放大激光系统的宽带荧光光谱仪。时间分辨荧光(或光致发光)光谱广泛用于揭示发射材料中的电子激发态动力学，从半导体到纳米材料、染料和蛋白质。其他时间分辨荧光光谱仪可分为两类：宽带光谱分辨率，时间分辨率限制在几十皮秒或更长；超快时间分辨率，仅限于单波长扫描。这两种方法都不能充分捕捉到与许多关键光物理过程相关的超快光谱演化。TGPLS MatriX-1 打破了这一局限，它具有捕捉飞秒级宽带荧光光谱的独特能力，具有高信号质量、低背景噪声和高速数据采集。TGPLS MatriX-1 是基于由新西兰惠灵顿维多利亚大学（Victoria University of Wellington, New Zealand）的超快光谱研究人员开发的瞬态光栅专利技术。结合瞬态光栅的固有优势，以及光谱仪开发的软硬件用户界面，TGPLS MatriX-1 是下一代时间分辨荧光计的基准。 Product Specification主要规格：- Wavelength range: 350 - 750 nm and 850-1300 or 350 - 950 nm and 1050 - 1400 nm 1 波长范围：350-750mm和850-1300nm，或350-950nm和1050-1400nm 1- Wavelength resolution: depends on polychrometer 波长分辨率：取决于多色仪- Delay range: user defined, 600 ps, 1 ns 延迟范围：用户自定义，600ps，1ns- Time resolution: 200 fs based on 100 fs laser source 2 时间分辨率：200fs（基于100fs激光源）2- laser source: femtosecond amplifier, Ti-sapphire or Fiber or Yb:KGW 激光源：飞秒放大器、Ti-Sapphire、光纤或YB:KGW激光器- Polychrometer: image spectrometer+CCD or monochrometer+PMT 多色仪：图像光谱仪+CCD或单色仪+PMT- Dimensions: 600 × 900 × 250mm 尺寸：600×900×250mm 1. For Ti-sapphire laser system: 350 – 750 nm and 850-1300. Fiber and Yb:KGW laser system: or 350 – 950 nm and 1050 – 1400 nm. The wavelength range also depends on the detectors对于钛蓝宝石(Ti-sapphire)激光系统：350-750nm和850-1300nm；光纤或Yb:KGW激光系统：350-950nm和1050-1400nm。波长范围也取决于探测器2. Time resolution depends on the pulse width of the laser source and response time of the gate medium时间分辨率取决于激光源的脉冲宽度和门介质的反应时间Highlights优势The TGPLS MatriX-1 is the only spectrometer in the market that allows users to capture broadband fluorescence spectra on femtosecond timescales. The TGPLS MatriX-1 enables users to rapidly acquire high quality spectral data, reduce time spent on cleaning noisy data and integrate into existing spectroscopic workflows. Specifically:TGPLS Matrix-1是市场上唯一能够在飞秒时间尺度上捕获宽带荧光光谱的光谱仪，它使用户能够快速获取高质量的光谱数据，减少清理噪声数据所花费的时间，并容易集成到现有的光谱工作系统中。特别是：1. Rapid spectral data acquisition 快速光谱数据采集? Full fluorescence spectral dynamics on sub picosecond timescales (not just kinetics of a single wavelength)亚皮秒级的全荧光光谱动力学(不仅仅是单个波长的动力学)? Tunable ultrafast gate time window (200 fs to 1 ps)*可调超快快门时间窗口(200 fs 到 1 ps)*? Single high spectral resolution transient spectrum in 2 seconds (with high repetition rate laser source)2秒内的单一的高光谱分辨率瞬态光谱(高重复率激光源)? Near UV to near IR fluorescence range, compatible with high efficiency photon detectors and high-quality optics in this spectral region近紫外到近红外的荧光范围，在这个光谱区域与高效率的光子探测器和高质量的光学兼容2. High-quality scientific data 高质量的科学数据? Minimal dispersion and aberration with aspherical reflective optics非球面反射镜片，具有最小的色散和像差? Intuitive and repeatable alignment procedure to minimize impact on data noise直观和可重复的校准程序，以尽量减少对数据噪声的影响? High quality signals with low excitation intensity (nJ/pulse)高质量信号，低激励强度(nJ/pulse)3. Ease of integration 易于集成? Easy and fast spectral calibration简单快速的光谱校准? Easy-to-use data acquisition software for automated measurement简单易用的可自动测量的数据采集软件? Ready to be implemented with various ultrafast laser sources: Ti-sapphire, Fiber, Yb:KGW可用于各种超快激光源：钛蓝宝石、光纤、Yb:KGW? Broadband ultrafast spectral evolution selectively probes electronic excited state dynamics and complementary information to other ultrafast spectroscopy techniques宽带超快光谱演化选择性地探测电子激发态动力学和与其他超快光谱技术的互补信息* Time resolution depends on the pulse width of the laser source and response time of the gate medium时间分辨率取决于激光源的脉冲宽度和栅极介质的响应时间 Fig.1.The scheme of TGPLS MatriX-1图1. TGPLS MatriX-1原理示意图 Applications应用Ultrafast photo-excitation dynamics in optoelectronic materials光电材料中的超快光激发动力学Ultrafast PL spectral evolution reveals charge and exciton dynamics in advanced optoelectronic materials.超快PL光谱演化揭示了先进光电材料中的电荷和激子动力学Fig. 2. The spectral contours of CH3NH3PbI3 thin film (a) 1 uJ/cm2, (b) 3 uJ/cm2, (c) 6 uJ/cm2, and (d)15 uJ/cm2.The ultrafast carrier cooling processes can be directly investigated by the dynamics of carrier temperature extracted from TRPL spectrum.图2. CH3NH3PbI3薄膜的光谱轮廓 (a) 1 μJ/cm2，(b) 3 μJ /cm2，(c) 6 μJ /cm2，(d)15 μJ /cm2。利用TRPL谱中载流子温度的动态变化可以直接研究超高速载流子冷却过程 Ultrafast energy transfer(d) 超快能量转移Intramolecular resonance energy transfer in multichromophore arrays is studied by TGPLS.利用TGPLS研究多色团阵列的分子内共振能量转移Fig. 3. (a) TRPL spectra of dimer (b) kinetics of the donor and acceptor图3. (a) 二聚体的TRPL谱，(b) 供体和受体的动力学

荧光寿命/瞬态吸收分析系统 欢迎您登陆滨松中国全新中文网站 查看该产品更多详细信息！产品目录：紧凑型荧光寿命测量仪Quantaurus-Tau 紧凑单盒型荧光寿命测量系统用于操作简单而高精度地测量荧光寿命和光致发光谱。皮秒荧光寿命测量系统 采用二维光子计数法来测量多光谱荧光寿命的高灵敏度和高时间分辨率（5 ps）荧光寿命测量系统。近红外荧光寿命测量系统 具有亚纳秒到皮秒的时间分辨率的近红外（650—1700 nm）荧光寿命测量系统。紧凑型近红外光致发光寿命测量仪 紧凑型近红外光致发光寿命测量仪是专门为测量近红外波段（580—1400 nm）光致发光谱（PL Spectrum）和光致发光寿命（PL Life）而设计的。

PI时间分辨瞬态、稳态光谱系统一、时间分辨光谱成像系统的探测器-ICCD配置：2.1、 探测器芯片类型：Kodak KAI-1003科学级芯片2.2、 分辨率：1024 x 10242.3、 像元尺寸：12.8um x 12.8um2.4、 芯片尺寸：13.1mm x 13.1mm2.5、 光谱响应范围：200nm-900nm2.二、HRS500光谱仪配合ICCD进行时间分辨瞬态光谱测量，不同光栅下的光谱分辨率展示如下： 全系列支持三光栅塔轮 0.083nm@300刻线，500nm闪耀光栅 0.041nm@600刻线，500nm闪耀光栅 0.019nm@1200刻线，500nm闪耀光栅 光谱分辨率：0.083nm@300刻线，500nm闪耀光栅b)  光谱分辨率：0.041nm@600刻线，500nm闪耀光栅c)  光谱分辨率：0.019nm@1200刻线，500nm闪耀光栅 瞬态配置下的ICCD主要参数展示： 制冷温度：-25°C风冷 @环境20°C 暗电流：2 e-/p/sec @-25°C 动态范围：16bit 像增强器类型：P43，P46 最小门宽：3ns 32MHz/16bit动态范围，在1024x1024分辨率下提供高达26fps的帧速 独有高压门控技术，提供高达1MHz的重复频率 光电阴极制冷，把EBI降低到平均水平的1/20 内置PTG，通过软件线性精确控制门宽和延时 门延迟：0.01ns到21sec（from T0） GigE数据接口，支持大于50m的远距离传输下图为主要型号的ICCD量子效率曲线2.12、 专业技术：抗干涉eXcelon PIX-100BX相机（配合HRS光谱仪——稳态光谱）： 探测范围180nm 至 1100nm:可满足各类实验需求，高于95%的量子效率，可选紫外增强镀膜，结合eXcelon技术，提升相机的敏感度，普林斯顿仪器独特的真空技术，真空质保；长时间曝光下的超低暗噪声 ，单层透射窗口增加芯片的敏感度，无需额外的维护；顶级的eXcelon技术，减少背照式CCD的近红外干涉现象；三、稳态配置下的探测器推荐：3.1分辨率：1340 x 100, 20 x 20 um3.2深度制冷：-80°C；恒温精度：±0.05°C3.3峰值QE 95%，eXcelon专利技术UV-NIR波段量子效率增强。‘’软件可选增益：1, 2, 4 e- (high sensitivity) 4, 8, 16 e- (high capacity)；暗电流0.001 (typical) @ -80°C（e- / p / sec）满肼：High Sensitivity 300 ke- (typical), 250 ke- (min)High Capacity 1 Me- (typical), 750 ke- (min)操作系统：Windows 8/7/XP (32-bit), Windows 8/7 (64-bit) and Linux 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.129nm@300刻线。 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.063nm@600刻线。 稳态光谱：光谱仪HRS500+探测器PIX100BX，分辨率：光谱分辨率：0.028nm@1200刻线。 LightField数据采集软件（兼容PI光谱仪，科研相机） 完整的PI相机和光谱仪的控制软件 内置强大的数学引擎，可在采集数据的同时进行数据处理，从而能够大量分析数据并快速给出结果 集成Labview和Matlab，可在程序里控制软件 智能搜索功能 支持多种数据格式 实验状态的邮件通知 软件可以通过已有数据重现所有实验 支持不同用户独立保存自己的实验参数及布局设置，可以迅速区分出不同的实验和设置 提供直观的“示波器式”的同步界面五、系统配置功能应用如下：HRS300&系统DEMO模拟图 超快领域：可应用于成像与成谱的实验，例如时间分辨荧光光谱，等离子体测试，燃烧实验，光子计数，以及时域/频域 荧光寿命成像（FLIM）,飞秒激光微纳加工过程检测等。 高度集成化，低噪声设计的科学光谱相机，可应用于紫外到近红外各类实验。 光谱应用：拉曼光谱 | 荧光光谱 | 光致发光 | 等离子体光谱 | 吸收光谱 | 透射光谱 | 激光诱导击穿光谱(LIBS) | 显微光谱。

简介：瞬态光电流（TPC)/瞬态光电压（TPV）测量系统主要用于太阳能电池在稳态，瞬态以及交流条件下的光电性能测量（载流子迁移率测量Photo-CELIV，瞬态光电流测量TPC、瞬态光电性能测量TPV、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS以及阻抗IS,CV等量测）为光电器件微观机理研究提供了有力的测试平台；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、强度调制光电流谱IMPS、强度调制光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。可量测器件类型： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能： * 最大功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子浓度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和Langevin复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：载流子迁移率量测 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量； 应用案例：1.第三代太阳能电池的表征2. Consistent Device Simulation Model Describing Perovskite Solar Cells in Steady-State, Transient and Frequency Domain

Nano-TA100系统设计和飞秒-纳秒激光相结合，与超快瞬态吸收系统不同，纳秒瞬态吸收系统采用电控延迟系统和独立超连续白光光源，用于检测样品在亚纳秒到毫秒尺度的光诱导动力学演化过程。系统主要技术指标l 检测模式:透射/反射模式可切换l 时间窗口:≤450μsl 时间分辨率:1nsl 仪器响应函数(IRF)时间: 1nsl 零点前TA信号抖动:可见光≤0.2mOD，近红外: ≤0.5mODl 参比模块: 两套数据采集和光谱探测系统可有效去除探测白光的抖动噪音，实现较高的信造比和采集效率l 配超连续白光激光器: 采用法国LEUKOS-DISCO(UV)白光光谱范围350-1800 nm重频2KHz 平均功率5mW应用实例样品：染料分子（PtOEP）

仪器简介： 美国高分辨深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS。 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具有很高检测灵敏度的实验方法，能检测半导体中微量杂质、缺陷的深能级及界面态。通过对样品的温度扫描，给出表征半导体禁带范围内的杂质、缺陷深能级及界面态随温度（即能量）分布的DLTS谱，集成多种全自动的测量模式及全面的数据分析，可以确定杂质的类型、含量以及随深度的分布。 也可用于光伏太阳能电池领域中，分析少子寿命和转化效率衰减的关键性杂质元素和杂质元素的晶格占位，确定是何种掺杂元素和何种元素占位影响少子寿命。 感谢中国科学院宁波材料研究所,国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 南昌大学 西安电子科技大学成为此设备的专业用户！！ 此设备在全球用户众多，比欧洲设备性能价格比高，是研究材料深能级领域的理想工具！！使用闭循环液氦制冷机，从低温到高温只需要升温一次，就能完全得到所有频率的曲线，不同频率不再需要再做一次升降温, 这是其它设备所不具有的功能！Semetrol 的DLTS系统温度范围：25K - 700K，液氦制冷，性能价格比高系统配置:DLTS数据采集及分析软件 (DLTS, ODLTS, DDLTS)Semetrol型快速电容测试器自动电容零点界面数据采集卡及中断箱 ODLTS穿导件机柜安装硬件及电缆设备机柜GPIB 接口卡电脑是双核, 2GB 内存, 19”显示器. USB 接口, CD书写用于数据传输.可调节探针(2)闭环液氦制冷机 (25-700K)温度控制器 电容测试器指标:型号: Semetrol电容零点界面: Yes全自动电容补偿: Yes全自动范围设置: Yes响应时间: ~25μsec补偿范围: 256pF测试频率: 1MHz测试信号级别: 15, 30, 50, 100 mV电容范围: 2000pF灵敏度: 1fF电压范围: +100V to –100V (Boonton) +10V to –10V (数据采集卡)灵敏度: 1mV (电压小于 20V时), 10mV (电压大于 20V时) 0.3mV (数据采集卡)脉冲宽度: 15ms to 0.1sec (Boonton内置偏压) 5μs to 0.1sec (数据采集卡)脉冲幅度: 到 200V, slew rate 20V/ms (Boonton) 到 20V, slew rate of 20V/μs (数据采集卡)电流: 5mA 数据采集卡瞬时记录:采样速率: 可至 1μs. 一般使用 50μs 采样次数: 10,000.记录分辨率: 50ns暂时分辨率, 优于 50aF 电容分辨率过滤: 全自动检测及正弦噪音消除

飞秒瞬态吸收光谱仪 瞬态吸收光谱仪通过用“泵浦”脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。 我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。 特点&优势 1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。 2. 全电脑控制 3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm） 4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项） 5. 瞬态吸收各向异性测量 6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现 技术规格 激发 SHG THG Rainbow 20F 泵浦光谱范围 230-12,00nm 探测光源 连续白光 探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional 扫描范围 2ns，1fs resolution； （4ns，2fs optional） 时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth 噪音级别 1.3 x 104OD typical 软件 Standalone and Lab ViewTM 尺寸 89L*64W*25H cm 重量 34Kg 输入参数 能量 ＞0.3mJ 脉冲宽度 30—150fs 光束直径 5---10mm （near TEM） 偏振 Linear，horizontal 重复率 0.3---3kHz 波长 750---850nm 光束高度 110nm 应用领域 1.三线态吸收2.分子动力学3.材料科学4.光催化5.激光晶体6.太阳能晶体

背景技术及优势 表面光电压是固体表面的光生伏特效应，是光致电子跃迁的结果。1876年，W.GAdam就发现了这一光致电子跃迁现象 1948年才将这一光生伏特效应作为光谱检测技术应用于半导体材料的特征参数和表面特性研究上，这种光谱技术称为表面电压技术（Surface Photovoltaic Technique，简称SPV）或表面光电压谱（Surface Photovoltaic Spectroscopy，简称SPS）。表面光电压技术是一种研究半导体特征参数的好途径，这种方法是通过对材料光致表面电压的改变进行分析来获得相关信息的。1970年，表面光伏研究获得重大突破，美国麻省理工学院Gates教授的研究小组在用低于禁带宽度能量的光照射CdS表面时，历史性的获得入射光波长与表面光电压的谱图，以此来确定表面态的能级，从而形成了表面光电压这一新的研究测试手段。SPV技术是灵敏的固体表面性质研究的方法之一，其特点是操作简单、再现性好、不污染样品，不破坏样品形貌，因而被广泛应用于解析光电材料光生电荷行为的研究中。SPV技术所检测的信息主要是样品表层（一般为几十纳米）的性质，因此不受基底或本体的影响，这对光敏表面的性质及界面电子转移过程的研究显然很重要。由于表面电压技术的原理是基于检测由入射光诱导的表面电荷的变化，其检测灵敏度很高，而借助场诱导表面光电压谱技术可以用来测定半导体的导电类型（特别是有机半导体的导电类型）、半导体表面参数，研究纳米晶体材料的光电特性，了解半导体光激发电荷分离和电荷转移过程，实现半导体的谱带解释，并为研究符合体系的光敏过程和光致界面电荷转移过程提供可行性方法。瞬态吸收光谱研究光生载流子反应动力学，半导体受激光激发后产生载流子，在其衰减过程中可发生一系列的变化和反应.时间分辨紫外可见吸收光谱可监测其随时间变化。首先应需确定载流子的检测波长，光生电子和空穴的特征吸收波长可调控电极一种载流子浓度而测量另一种载流子的瞬态光吸收与波长的关系。 l 瞬态表面光电压谱的应用 瞬态光电压主要应用于半导体材料或者器件的TPV测试和机理分析，光催化材料TiO2、C3N4、CdS、磷化物等、催化材料、分子筛、太阳能电池（单晶、多晶、染料敏化、钙钛矿）、光电化学的TPV、电化学材料的TPV等。产品优势：采用白光偏置光路激发材料；大功率原装进口脉冲激光器；采用专有技术的电磁屏蔽，无任何外界干扰；测试光路，水平与垂直可任意在线切换，实现固体样品和液体样品均可测试分析。光生载流子动力学主要测试技术，载流子动力学测试技术主要有电学和谱学两类.电学方法主要是光电化学，测量方式又分时间域和频率域.时间域方法主要有瞬态光电压（TPV）和瞬态光电流（TPC）,频率域方法主要有电化学阻抗谱（EIS）和光强度调制光电压谱（IPVS）和光强度调制光电流谱（IMPS）等.谱学方法主要是瞬态吸收光谱和瞬态荧光光谱。这里主要介绍时间域的光电化学测量方法（以TPV为例）。瞬态吸收光谱是研究半导体光生载流子动力学过程和反应历程的强有力手段之一,它可以获得半导体体内光生载流子产生、俘获、复合、分离过程的重要微观信息。半导体激光器从某一稳定工作状态过渡到另一稳定工作状态的过程中所出现的瞬态现象，或对阶跃电流的响应。主要有激射延迟、张弛振荡和自脉动。这些现象限制着半导体激光器振幅调制或频率调制的性能，特别是高调制速率。 瞬态光电压谱(Transient photovoltage spectrum)给出了不同样品光生电荷分离的动力学信息, 正向光伏信号代表光生电子由表面向内部转移。 通常半导体材料的瞬态光伏分为漂移和扩散过程，分别对应短时间范围和长时间范围的光伏信号。 l 瞬态表面光电压工作原理瞬态表面光电压实验光源为激光器, 脉冲纳秒激光经棱镜分光后被分别射入光电倍增管和样品池中，激光强度通过渐变圆形中性滤光片进行调节. 光电倍增管记录参比信号, 样品信号经放大器的数字示波器进行记录。 样品池由具有良好屏蔽电磁噪音的材料制成。样品池内部结构由上至下分别为: 铂网电极, 云母片, 被测样品, FTO电极。瞬态光电压研究光生电子的传输行为，其光电压响应包括上升和衰退两部分，光电压上升部分在物理上对应于TiO电极导电基底电子浓度增加（类似于电容充电过程），此过程由光生电子扩散到达基底引起，光电压下降部分主要对应于电子离开导电基底的复合过程（类似于电容放电过程）。瞬态表面光电压谱光生载流子动力学；瞬态光电压研究光生电子的传输行为。 技术参数 项目参数激光器Nd:YAG脉冲纳秒激光器（整机原装进口）激光器参数波长1064nm@320mJ；532nm@180mJ；355nm@60mJ；266nm@40mJ；脉冲宽度 (1064 nm) 10 - 14 ns；控温精度0.05℃；内部预热器，可快速预热OPO激光器(选配)波长范围：210-2200nm连续可调，计算机控制波长调节，峰值能量输出20mJ，重复频率20HZ系统时间分辨率5ns探测灵敏度0.1mOD数据采集12bit/16bit高分辨率数字示波器光路采用全封闭结构设计，无任何外部环境干扰样品室激光耦合装置；激光光斑聚焦调整；水平及垂直光路切换；可调光阑；匹配固体粉末及液体样品池的光路结构标配三明治结构样品池，可根据要求定制样品空间，允许进行更多实验环境的光路定制，如支持低温样品环境、显微镜微区光谱、强磁场环境等。光功率计测试波长范围190-11000nm，功率范围0-2000mw 配合软件实时数据采集，软件还内置了量子效率计算功能软件软件集成控制脉冲激光器、OPO激光器、数据同步、数据采集、数据放大、数据分析、全自动处理、数据导出等功能。支持单次采集，多次积分平均，本底扣除等；2D瞬态光电压谱，寿命曲线拟合；支持3D变波长瞬态光电压谱显示。太阳能电池光电压谱

瞬态吸收光谱仪通过用&ldquo 泵浦&rdquo 脉冲激发分子系统,延迟后用探测脉冲获取系统信息的方式来研究分子特性。我司瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量最广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择&ldquo 泵浦&rdquo 和&ldquo 探测&rdquo 脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。特点&优势1. 探测液体、固体以及薄膜中的瞬态吸收和模拟发射，分辨率可达100fs。2. 全电脑控制3. 宽波长范围瞬态谱的获得（200-1000nm）4. 4ns时间窗口（-DP 选项），8ns（-DDP选项）5. 瞬态吸收各向异性测量6. 双光束规格（-U选项）提供超高信噪比表现激发 SHG THG Rainbow 20F泵浦光谱范围 230-12,00nm探测光源 连续白光探测光谱范围 300-750nm；240-620nm and 380-1100nm optional扫描范围 2ns，1fs resolution；（4ns，2fs optional）时间分辨 ＜1.7 X pump pulsewidth噪音级别 1.3 x 104OD typical软件 Standalone and Lab ViewTM尺寸 89L*64W*25H cm重量 34Kg输入参数能量 ＞0.3mJ脉冲宽度 30&mdash 150fs光束直径 5---10mm （near TEM）偏振 Linear，horizontal重复率 0.3---3kHz波长 750---850nm光束高度 110nm

瞬态光电流/光电压测试系统用于太阳能电池瞬态光电性能测量（载流子迁移率测量，瞬态光电流测量、光电压测量、瞬态光电性能测量、强度调制光电压谱IMVS、强度调制光电流谱IMPS），对于光电器件微观机理研究提供了有力的测试工具；多功能一体化高性能瞬态测试平台，不但可以测量器件的载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程、阻抗谱等，还可以对瞬态光电流谱TPC，瞬态光电压谱TPV、调制光电流谱IMPS、瞬态光电压谱IMVS等进行测量分析，全面分析器件中的载流子特性和瞬态过程。主要应用： * 无机半导体光电器件，有机半导体光电器件； * 有机太阳能电池OPV； * 钙钛矿太阳能电池Perovskite Solar Cell，钙钛矿LED； * 无机太阳能电池（例如：单晶硅、多晶硅、非晶硅等硅基太阳能电池）； * 染料敏化太阳能电池DSSC；主要测量功能 * 功率点MPP、FF、Voc、Isc、VS 光强，迁移率（I-V测试 & I-V-L测试，空间电荷限制电流SCLC法） * 载流子密度，载流子动力学过程（瞬态光电流法 TPC） * 载流子寿命，载流子符合动力学过程（瞬态光电压/瞬态开路电压法 TPV） * 载流子迁移率（暗注入瞬态法 DIT，单载流子器件&OLED） * 串联电阻，几何电容，RC时间（电压脉冲法 Pulse Voltage） * 参杂密度，电容率，串联电阻，载流子迁移率（暗态线性增加载流子瞬态法 Dark-CELIV） * 载流子迁移率，载流子密度（光照线性增加载流子瞬态法 Photo-CELIV） * 载流子复合过程，朗之万函数复合前因子（时间延迟线性增加载流子瞬态法 Delaytime-CELIV） * 不同工作点的载流子强度，载流子迁移率（注入线性增加载流子瞬态法 Injection-CELIV） * 几何电容，电容率（MIS线性增加载流子瞬态法 MIS-CELIV） * 陷阱强弱度，等效电路（阻抗谱测试 IS） * 迁移率，陷阱强弱度，电容，串联电阻（电容VS频率 C-f） * 内建电压，参杂浓度，注入势垒，几何电容（电容VS电压 C-V） * 陷阱分析（深能级瞬态谱DLTS） * 载流子传输时间分析（强度调制光电流谱 IMPS）； * 载流子复合时间、收集效率等分析（强度调制光光电压谱IMVS）； * 点亮电压（电流电压照度特性 I-V-L） * 发光寿命，载流子迁移率（瞬态电致发光法 TEL） *载流子迁移率（TEL瞬态电致发光，Photo-CELIV线性增压抽取载流子） *OLED/钙钛矿LED发光特性测量（发光器件测量）；测量技术： 1）IV/IVL特性：IV和IVL曲线是针对OLED和OPV标准的量测手法，通过曲线可以得到样品的电流电压特性关系、电流电压与光强的特性关系；*对于有机半导体材料可通过空间电荷限制电流SCLC分析Pmax、FF、Voc、Isc和迁移率等； 2）瞬态光电流（TPC）：研究载流子动力学过程和载流子密度等； 3）瞬态光电压（TPV）：研究载流子寿命和复合过程； 4) 双脉冲瞬态光电流（Double Transient Photocurrent）：分析电荷载流子俘获动态过程； 5) 暗注入瞬态法（Dark Injection）：对于单载流子器件和OLED，研究其载流子迁移率； 6) 电压脉冲法（Voltage Pulse）：串联电阻、几何电容和RC效应分析； 7) 暗态线性增压载流子瞬态法（Dark-CELIV）：参杂浓度、相对介电常数、串联电阻、电荷载流子迁移率测量； 8) 光照线性增压载流子瞬态法（Photo-CELIV）：提取有机太阳能电池片内载流子迁移率mobility，及载流子浓度分析等； 9) 时间延迟线性增压载流子瞬态法（Delaytime-CELIV）：复合动态过程分析和郎之万复合因子分析等； 10）注入线性增压载流子瞬态法（Injection-CELIV）：电荷载流子浓度和电荷载流子迁移率测量分析； 11）MIS-CELIV：几何电容和相对介电常数分析； 12）阻抗谱测量（Impedance Spectroscopy）：器件等效电路分析等； 13）电容频率测量法（C-f）: 迁移率、陷阱、几何电容和串联电阻测量； 14）电容电压测量法（C-V）：内建电压、参杂浓度和几何电容等测量； 15) 深能级瞬态谱（DLTS）：陷阱分析； 16）强度调制光电流谱（IMPS）：载流子传输时间分析； 17）强度调制光光电压谱（IMVS）：载流子复合时间、收集效率等分析； 18）瞬态电致发光测试（Transient Electroluminescence）：抽取OLED器件的载流子，磷光寿命测量；另外，我公司提供专业太阳能测试设备制造商为客户提供全套专业的设备： 1.太阳能电池光谱响应测试系统、IPCE测试系统、量子效率测试系统； 2.太阳能电池测量系统（光谱响应测试系统,IPCE测试系统,量子效率测试系统，I-V曲线测量系统），太阳能电池测试仪； 3.太阳能电池I-V曲线测量系统； 4.I-V 数据采集系统； 5.大面积太阳能模拟器/太阳光模拟器/全光谱太阳光模拟器； 6.太阳能电池分选机； 7.太阳能电池I-V测试仪； 8.分光辐射度计， 9.参考电池/标准电池， 10.太阳能模拟器均匀性图像分析系统； 11.有机太阳能电池载流子迁移率测量系统； 12.钙钛矿太阳能电池载流子迁移率测量系统； 13.太阳能电池少数载流子测量系统；

产品关键词：瞬态光电流、瞬态光电压、瞬态光电荷、TPV、TPC、TPQ、电荷抽取、开路电压上升衰减、载流子复合寿命、电池器件内部载流子、瞬态光电压谱、瞬态光电流谱、载流子动力学、Charge Extraction，CE、光电器件瞬态特性（时域/频域测试）、探测器瞬态上升、下降时间、TRTF、载流子浓度、电荷载流子寿命、电荷载流子迁移率、载流子寿命、电荷载流子密度瞬态光电流/光电压/光电荷测量系统瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测量平台，集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式，包括最早于2020年帝国理工首次报道的瞬态光电荷TPQ测量功能。设备应用瞬态光电压TPV、瞬态光电流TPC、瞬态光电荷TPQ测试是揭示光伏、光催化、光电导等光电器件微观工作机理的关键手段。利用TPV、TPC、TPQ检测的数据进行分析，可以得到器件内部载流子的传输、积累、复合等动力学过程的相关信息。TPV、TPC、TPQ测试是直接基于最终的工况器件进行的，因而得到的参数可以直接反映工况条件下的光物理过程，这是一个相对于其它检测手段的很大的优势。TranPVC基于东谱科技的MagicBox主机研制而成，是专为光伏、光催化、光探测等研究领域开发的高性能TPV、TPC、TPQ测量平台，集成了数种最前沿的瞬态测量模式，为光电器件的机理研究提供了强有力的、便捷的测试工具。设备发展 2017年，开始向业内提供搭建式的TPV、TPC测试系统TranPVC 100；2019年，率先在业内推出全自动化、高度集成化的TPV、TPC测试系统TranPVC 300； 2020年，推出集成Charge Extraction（CE）和探测器时间响应功能的TranPVC升级版TranPVC 600，同时推出大功率稳瞬态白光光源HiFire；2021年，推出全球首款商业化瞬态光电荷TPQ测量仪，并将TPQ功能集成到TranPVC系列产品中，从而将TranPVC的产品名称扩展为“瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪”，同时对全系列的产品进行了升级，得到了新一代在售的TranPVC产品TranPVC 900；2023年，在TranPVC 900产品矩阵中，新增J900和Y900系列，新发布on-off TPV/TPC功能，为客户提供更多高性价比的产品选项。主要功能TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等。主要应用□ 太阳能电池器件：硅基太阳能电池、有机太阳能电池、钙钛矿太阳能电池、铜铟镓硒太阳能电池、碲化镉太阳能电池等□ 光探测器：光电二极管、光电晶体管□ 光电导器件□ 光催化器件□ 其它光电转换器件产品特点□ 集成了TPV、TPC、TPQ、CE、Voc Rise and Decay、Photodetector Response、On-off TPV、On-off TPC等数种前沿的测量模式；□ 测试条件设置功能丰富，典型的如光强（偏置）、激发波长、脉冲频率、电压等，为构建丰富的测试场景提供条件，有利于综合评估器件性能；□ 具有自动化、高度集成化的特点，测试过程由软件控制，使用便捷，对操作人员的专业技能要求低；□ 软件自带拟合功能，方便对数据进行灵活分析；□ 样品台带位移功能，方便对同一基片上的不同子器件进行测试，多子器件测试切换由软件进行，测试效率高；□ 集成样品仓，方便更换样品和电学互联，样品仓可视化监测系统，实时观察测试光照射器件情况，便于调整样品的光斑照射位置；□ 样品夹具可实现惰性气体氛围测试，器件不封装的情况下，可从手套箱转移测试，满足多样化的测试需求；□ 所有光路均置于封闭暗箱内，无外界光源影响，光路进行了优化设置，一般不需要额外调整光路；□ 集成光阑，可调节激发光斑；□ 可灵活耦合不同类型激光器；□ 可集成偏置光，方便进行光偏压测量；□ 可集成其他定制功能。规格型号测试样例论文推荐太阳能电池领域采用TranPVC测试的相关论文典型用户：华南师范大学、华北电力大学、江西师范大学、华南理工大学、太原理工大学、华中科技大学、上海交通大学、深圳技术大学、兰州大学、陕西科技大学、南京邮电大学、哈尔滨工程大学...