质谱透射电镜

Glacios 2 冷冻透射电镜概述Thermo Scientific Glacios 2 冷冻透射电子显微镜 (cryo-TEM) 可帮助您从各种生物靶标中轻松收集近原子数据。与上一代产品相比，Glacios 2 冷冻透射电镜具有更高的通量，而且提升了冷冻电镜的易用性。其配备了集成式 Thermo Scientific Falcon 4i 直接电子探测器、Thermo Scientific EPU 软件和全新的完整机身，致力提高图像质量、实现数据采集自动化并简化您的工作流程。Glacios 2 冷冻透射电镜非常适用于单颗粒分析、冷冻电子断层扫描 (cryo-ET) 和微电子衍射 (MicroED)。Glacios 2 冷冻透射电镜的优势结果更优Falcon 4i 直接电子探测器、新设计的机身和智能 EPU 软件合力为显微镜和用户提供指引，帮助用户从样本中获得最佳结果。实操时间更短智能 EPU 软件的自动化功能和 AI 驱动型插件可在关键决策点为您提供指导，在某些情况下还可自动做出决策，从而减少在手动干预上的需求数据收集更快Falcon 4i 直接电子探测器的采集速率可达 320 fps，而无条纹成像 (FFI) 和自动化操作搭配智能插件可帮助您加快实验流程。简化的工作流程智能 EPU 软件可协助进行实验设置，并在整个实验过程中提供实时反馈，从而减少了对事先专业知识的需求。Glacios 2 冷冻透射电镜的主要特点高分辨率 TEMGlacios 2 冷冻透射电镜提供近原子分辨率。以经改进的硬件和具有可将对环境影响降到最低的全新机身，现在 Glacios 2 冷冻透射电镜的信息限制为 2.1 &angst 。同样，已将24小时内因冰生长而导致的透射损耗减少到 2%，让您在收集高分辨率图像时事半功倍。如果 Glacios 2 冷冻透射电镜配有 Thermo Scientific Selectris X 成像过滤器，还可进一步提升速度和分辨率。高通量冷冻透射电镜图像采集与上一代产品相比，集成式 Falcon 4i 直接电子探测器以更的时间提供更佳的图像质量。为进一步提高生产率和图像质量，Glacios 2 冷冻透射电镜配备了无条纹成像 (FFI) 功能（它可消除电子束边缘的条纹效应）、更稳定的载物台，并加快了自动数据采集。借助这些改进，您可在每个铝箔孔处收集更多图像，加快每个铝箔孔的单颗粒分析，进而加快单颗粒分析和冷冻电子断层扫描。添加 Selectris X 成像过滤器后，您可使用非常稳定的窄缝宽度 (10 eV) 在单颗粒冷冻电镜和冷冻电子断层扫描中获取更佳的对比度，不仅可提高分辨率，还可以更少的数据获得更快的结果，最大限度提高您的解析效率。最大程度提高易用性和效率智能 EPU 软件可实现更快、更简单的设置和处理，显微镜专业用户和非专业用户均可得益于此。已自动化几个关键设置步骤，例如在可能的情况下镜筒对齐和系统状态修复。此外，该软件和各种可选插件还可让用户充分利用操作显微镜时的时间并获取最佳结果。带有 EPU 质量监测软件的可选智能 EPU 软件是一种 AI 型软件解决方案，可分析中间结果、提供即时反馈并指导进行实时数据收集。带有嵌入式 CryoSPARC Live 的可选智能 EPU 软件是一种对数据质量进行实时结构性反馈的整体解决方案，它附带了全方位服务和应用支持。可选 EPU 多重载网软件可在远离显微镜的情况下完成多达12个载网的数据采集，从而确保生产率最大化。开放式应用编程接口 (API) 可让用户自己定制 Glacios 2 冷冻透射电镜功能。工作流程连通性样本筛选是成功冷冻电镜工作流程的重要组成部分，可在生化和玻璃化方面验证样本质量。Glacios 2 冷冻透射电镜可无缝集成到单颗粒分析和冷冻电子断层扫描工作流程中，并且可在整个工作流程中实现便捷、无污染的样本转移。Glacios 2 冷冻透射电镜可轻松接入其他 Thermo Scientific 仪器上的工作流程，包括：Thermo Scientific Krios 冷冻透射电镜Thermo Scientific Tundra 冷冻透射电镜Thermo Scientific Talos Arctica 冷冻透射电镜Thermo Scientific Aquilos 2 冷冻 FIBThermo Scientific Arctis 冷冻等离子体 FIB除了最佳的机械连通性外，由 Thermo Scientific Athena 软件提供支持的智能 EPU 数据管理还可实现数据连接，以便进行可重现的操作及存储采集的数据。占用空间更小Glacios 2 冷冻透射电镜的硬件结构经过专门设计，与其他配备自动上样系统的 200kV 显微镜相比，占用空间更小，样本取放更容易。

日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800，操作的一体化和自动化程度都有明显提高。随着时代的发展和科技的进步，全数字化必将是透射电镜的发展趋势。数字化的优势具体表现在以下几个方面：一、HT7800采用日立全新设计的第二代双隙物镜，很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念，即兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察可在同一仪器上一键切换等。对比于其他厂家的独立模式设计，HT7800可在同一台透射电镜上实现两台电镜的功能。集高衬度和高分辨两种模式于一体，可同时满足软材料/纳米材料类和生命科学类客户对电镜的需求。二、使用高速高灵敏度的CMOS荧光屏相机取代了传统的荧光屏观察窗，将 TEM 操作统一于显示器上，实现透射电镜操作的全数字化，可以在明亮的室内进行观察。三、标准搭载涡轮分子泵(TMP)，实现绿色真空。HT7800所使用的真空泵包括机械泵和涡轮分子泵，均为标准配置。四、标配三维重构功能及±70°倾转样品台。一般情况下透射电子显微镜只能提供样品的平面投影图像，而无法直接获知其三维立体信息。在标准配置下，HT7800就可以通过±70°的连续倾转、拍摄及电脑重构，得到样品的立体形貌信息。五、强大的自动拼图功能。这是数字化带来的另一个优势。HT7800可通过样品台移动和电子束移动两种方式实现全倍率下的自动拼图，可得到像素16倍于主相机的无缝拼接大视野样品图片。图片存储时，自动保存样品位置与样品杆旋转信息，在自动拼接过程中实现高精度对中。自动连拍和自动拼图速度快，举例来说，一次3×3的拼接，全过程可在4min左右完成。六、方便而准确的自动连续拍摄功能。HT7800具有自动聚焦、自动定位并拍摄多张图片的功能。自动连拍功能可以一次性设置多达10000个拍摄的位置及放大倍数，通过快速的自动聚焦系统和智能化定位系统， 自动的完成拍摄任务，而无需人员看管。

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

日立紫外清洗设备是利用紫外光和臭氧对样品表面污染物进行清理的前处理设备，主要针对样品表面的有机污染物，相比等离子清洗更加温和，对样品损伤小。清洗系统:2种清洗模式真空清洗和真空储存清洗时间范围为1min-30min（步幅1min）真空系统:无油真空系统（干泵3.8L/min）3min内达到所需真空度真空范围为100-500torr(100步) 样品杆:3孔或5孔可选适合于各型号透射电镜样品杆有效清理区域直径3mm

日立发布的200kV球差校正透射电镜HF5000，具有高稳定冷场发射电子枪，自动球差校正器，可一键操作实现自动球差校正，HAADF-STEM分辨率可以达到0.78埃；可配置EDS双探头，固体角最大可达2.0sr；具备TEM、STEM，SEM和电子衍射等多种图像观测模式；镜筒和样品台经过了重新设计，显著提升了仪器的性能和稳定性......HF5000将是材料学、生命科学、半导体制造、石油煤炭等研究领域的可靠助手。特点：　 1、高度自动化球差校正，尽量减少人员介入，适用于繁忙的分析测试中心或设备平台 　　2、三位一体呈现(TEM、STEM、SEM)，内部结构成像和表面结构成像可同时进行同时获取 　　3、EDS超大球面角，无窗口探头。可实现快速，高灵敏度化学成分分析 　　4、前瞻性平台总体设计，为性能扩增预留选项，例如可扩增为气体环境电镜。参数配置：

2016年新年伊始，日本电子株式会社（JEOL）即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能，JEM-F200进行了全新设计，在保障各种功能达到极限的同时，追求操作的简单化和自动化，为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为： 1）精炼的全新设计：在提高机械和电气稳定性的同时，凭借对透射电镜的丰富经验，对电镜整体进行了精炼全新设计，力求为用户提供全新感受； 2) 四级聚光镜设计：为了最大程度发挥出STEM功能，JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计，亮度和汇聚角可以分别控制； 3）高端扫描系统：在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能（选购件）可以获得大范围的STEM-EELS； 4）皮米样品台控制：标配的压电陶瓷控制样品台，可以在原子尺度上获得精准的移动； 5）全自动装样测角台（SPECPORTER）：样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现，彰显其便利性及安全性； 6）成熟的冷场发射技术：将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上，可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析； 7）双超级能谱设计：可安装双超级能谱，将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度； 8）节能减排：启用省电模式耗电量降低80%。

MAG*I*CAL透射电镜校准标样这个独特的MAG*I*CAL透射电镜校准标样直接溯源于硅晶体的晶格常数，它能用来对所有透射电镜进行三项专业的标定和校正： &bull 放大倍率（全范围） &bull 相机常数 &bull 像与衍射花样之间的磁转角 放大倍率校准是电镜中很普遍的校准，因为确定电镜本身显示的或图像上的放大倍率数值是否准确，以及如果不准该如何修正，这是很重要的工作。有了独特的MAG*I*CAL校准标样，你就可以在大约1000x至1,000,000x全范围内对一台透射电镜的放大倍率进行校准。由于样品本身是一个单晶体，它也能用来对相机常数以及像/衍射花样的磁转角进行校准。尽管MAG*I*CAL校准标样是为TEM在材料科学领域应用而研发的，但在生命科学领域也同样有用。 MAG*I*CAL校准的参考标准是一个离子减薄过的硅基半导体多层截面TEM样品。它含有4组由5层10nm厚SiGe合金层和13nm厚纯硅层相间隔组成的结构。分子束外延（MBE）法生长的高质量外延层作为单晶硅001衬底上的应变层。这样的4组交替相间的结构层（超晶格）为TEM成像提供明暗对比，并且是以硅111面晶格间距作为单晶硅衬底上的测量依据通过高分辨透射电镜（HREM）直接校准的，标样上的校准标记直接引用一个自然常数，即硅的晶格常数，这样MAG*I*CAL透射电镜校准标样就可完整追溯到一个自然的基本常数。

TEAM™ 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器，为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口（SUTW）和无窗口（XLTW）两种型号。由于可以完整地传输低能X射线，Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比，其轻元素的测量灵敏度提高了500%，重元素的计数率增加了30%，从而大大提高了元素面分布的采集速度，增强了低含量轻元素的检测。 特点和好处所有电子部件均集成在探测器内，方便安装、服务、校准和远程访问自动校准程序实现快速、可重复、准确设置，校准数据驻留于探测器上，远程访问时无需重新校准紧凑型的探测器提供了安装的灵活性，适合于各种TEM30 mm2 SDD芯片技术，优化了立体角超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能，C分辨率均优于59 eVMn 的分辨率优于129 eV直到100 kcps，分辨率稳定性都小于1 eV峰位偏移直至250 kcps 都小于1 eV放大器时间常数从120 ns 到7.65 s 可选，便于获得最佳采集效果高速以太网通信当背散射电子过量时由马达控制自动缩回针对TEM薄样品的定量算法 Apollo XLT SDD 系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内，取消了单独的数据采集机箱，简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计，提高了性能，方便了远程访问，用户可以通过以太网线接入，消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM™ TEM 能谱仪的核心。智能化已经植入探测器，为探测器提供最好的保护，防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时，探头能够自动缩回至一个安全的位置，而无需用户人工干预，从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候，通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问，以便进行快速、准确的评估。TEAM™ 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面，可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何，每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM™ 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素，监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD 系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备，采用了TEAM™ 智能软件，是 TEM 上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品，进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM™ 智能软件自动化的工作流程，革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何，TEAM™ 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD 系列探测器结合TEAM™ 智能软件，为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

CIF透射电镜样品杆存储仪 CIF 透射电镜（TEM）样品杆存储仪采用无油隔膜泵，通过抽真空产生100 Pa恒定洁净无污染的真空环境，特别适用于TEM透射电镜样品杆的日常真空储存或水汽去除，简单方便实用。产品特点u 洁净无污染u 真空度稳定u 方便实用 技术参数产品型号CIF-VS真空泵双级无油隔膜真空泵，抽速0.7 m3/h 气体控制采用质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响，测量范围1Pa-100kPa真空保证真空计和电磁阀安全互锁，自动保证恒定真空存储气压200-1000Pa存储数量5支样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动界面质量保证二年质保，终身维护

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CIF透射电镜样品杆存储仪 CIF 透射电镜（TEM）样品杆存储仪采用无油隔膜泵，通过抽真空产生100 Pa恒定洁净无污染的真空环境，特别适用于TEM透射电镜样品杆的日常真空储存或水汽去除，简单方便实用。 产品特点u 洁净无污染u 真空度稳定u 方便实用 技术参数产品型号CIF-VS真空泵双级无油隔膜真空泵，抽速0.7 m3/h 气体控制标配一路清洗气体，采用质量流量计（MFC），自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响，测量范围1Pa-100kPa真空保证真空计和电磁阀安全互锁，自动保证恒定真空存储气压200pa存储数量5支样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动界面质量保证二年质保，终身维护

透射电镜原位电学分析系统——纳米尺度原位电学成像分析解决方案透射电镜原位电学分析系统在先进材料科学、纳米技术开发、半导体器件开发及失效分析中发挥着至关重要的作用，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。该系统能够适配所有具备外部扫描控制接口的透射电镜，通过深度集成的硬件及软件协同，能够实现对所有电学信号的放大、获取及分析，每个信号均能够实现自动量化，覆盖µ A/nA/pA等电流范围。该系统主要技术优势・ 采集系统兼容所有带有外部扫描接口的透射电镜(与EDS或EELS类似)・ 所有放大和采集设置均由软件控制・ 信号自动量化并以电流值(µ A, nA, pA)显示硬件设备特点・ 快速放大优化成像・ 宽增益范围，以适应所有技术・ 小型化的固定式电子设备・ 自动信号路由为透射电镜原位电学样品杆设计的低噪声前置电流放大器 主要技术优势：・ 最靠近原始信号的初级放大，能大幅降低信号噪音・ 内置电压偏压和电流补偿・ 自动信号路由，避免放电为透射电镜配备的电学分析放大器 主要技术优势：・ 第二级放大以达到最大范围・ 出厂精确校准的增益和偏移・ 可选锁定配置电学分析成像仪(DISS6) 主要技术优势：・ 集成扫描发生器和图像采集・ 像素分辨率高，扫描速度快・ 高位深电学分析模数转换・ 同时输入明场, 高角环形暗场和电学分析信号软件设备特点：DISS6 -控制和采集应用程序 主要技术优势：・ 电学分析放大器控制・ 电学分析, 高角环形暗场和明场图像采集・ 自动定量到µ A…fA・ 电流-电压扫描工具・ 实时图像颜色混合工具・ 标准文件格式DIPS6 -数据处理程序 主要技术参数：・ 完整的图像和元数据查看器・ 自动定量到µ A…fA・ 基于梯度的变色效果・ 用于可视化的信号颜色混合・ 导出定量像素值 应用案例图一. STEM-EBIC技术:・ 非弹性损失诱导了片层中的电子-空穴对・ 内部电场将电子-空穴对分开・ 电流被数字化以获得电子束诱生电流(EBIC) STEM图像图二. 揭示内部电场:・ 分析器件中的接点和触点・ 根据设计验证掺杂分布・ 与设备模型和参数相关联图三. 研究每一层结构中的电学性能：・ 定位重组活性增加的位点・ 区分有/没有电学活动的缺陷・ 使用高分辨率技术图四. 基本物理参数测定:・ 少数载流子的扩散长度・ 位错的复合强度图五. FIB/SEM薄片制备:・ 应用标准FIB工作流程进行原位偏压・ 利用扫描电镜中的电学分析视场选择目标・ 在扫描电镜中筛选薄片以观察制备过程中的损伤

产品简介可将最多4个样品同时置入透射电镜中，与市面常见的3孔样品杆相比，大幅提高透射电镜的使用效率。全新的结构设计及超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。 我们的优势 低漂移提供高质量成像创新的弹性铜片固定方式和超高精度旋钮，减小漂移，提高成像质量。创新设计，提高实验效率1．一次可放置4个样品。2．高精度旋钮控制方式，简便实用。技术参数类别项目参数基本参数杆体材质高强度钛合金样品直径3mm样品数量4个旋转角α ≥±25°，具体以实际电镜型号为准兼容电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi(HR)TEM/STEM支持(HR)EDS/EELS/SAED支持应用案例Pd纳米颗粒高分辨表征

CIF透射电镜样品杆清洗机CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计，自动切换，一机多用，清洗快速高效。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 快速高效低损伤 技术参数产品型号CIF-TEM真空泵Agilent 、IDP-3涡轮式真空干泵入口压力1.0个大气压（0psig），出口压力1.4个大气压（6.5psig）抽速60L/min，极限真空3.3 x 10-1 mbarKF16入口接口等离子电源13.56MHz等离子射频电源，射频功率5-100W可调两种等离子体清洗源，原位等离子源和远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸(长X宽X高)150X150X150mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源220V，50/60Hz，300W质量保证二年质保，终身维护

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CIF透射电镜样品杆清洗机CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计，自动切换，一机多用，清洗快速高效。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 快速高效低损伤 技术参数产品型号CIF-TEM真空泵Agilent 、IDP-3涡轮式真空干泵入口压力1.0个大气压（0psig），出口压力1.4个大气压（6.5psig）抽速60L/min，极限真空3.3 x 10-1 mbarKF16入口接口等离子电源13.56MHz等离子射频电源，射频功率5-100W可调两种等离子体清洗源，原位等离子源和远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸(长X宽X高)150X150X150mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源220V，50/60Hz，300W质量保证二年质保，终身维护

CIF透射电镜样品杆清洗机CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计，自动切换，一机多用，清洗快速高效。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。 产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 快速高效低损伤 技术参数产品型号CIF-TEM真空泵Agilent 、IDP-3涡轮式真空干泵入口压力1.0个大气压（0psig），出口压力1.4个大气压（6.5psig）抽速60L/min，极限真空3.3 x 10-1 mbarKF16入口接口等离子电源13.56MHz等离子射频电源，射频功率5-100W可调两种等离子体清洗源，原位等离子源和远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸(长X宽X高)150X150X150mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配双路50毫升/分气体质量流量控制器（MFC），精确测量自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制美国MKS公司925-12010皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源220V，50/60Hz，300W质量保证二年质保，终身维护

CIF透射电镜样品杆清洗机CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用双等离子清洗源设计，自动切换，一机多用，清洗快速高效。远程等离子体清洗快速高效低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏用途。产品特点u 双等离子清洗源u 一机多用u 快速高效低损伤 技术参数产品型号CIF-TEM真空泵前级泵 抽气速率2L/s分子泵 分子泵抽速＞80L/s（N2)极限真空：CF:5x10-6pa，ISO-K:3x10-5pa入口法兰：DN100CF/DN100 ISO-K等离子电源13.56MHz等离子射频电源，射频功率5-120W可调远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸Φ180xH100mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配单路质量流量计（MFC)可选双路，50毫升/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制质量流量计（MFC),皮拉尼真空计， 测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面电源220V，50/60Hz，300W质量保证二年质保，终身维护

透射电子显微镜原位TEM-STM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统是在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 光纤指标：● 光纤外径250 um，保证电镜系统真空指标；● 可选光纤探针、平头光纤、光纤透镜；● 可选SMA接头、FC接头。 产品特色（1）采用双向光纤，可应用于CL光谱、光电探测及电致发光光谱等研究；（2）光电一体化解决方案，具有高拓展性；（3）高稳定性，保证电镜原有分辨率。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，详细咨询：

? 透射电镜多孔样品杆使研究者们可以将最多三个样品同时置入透射电镜中，大大提高了透射电镜的使用效率。该产品还可以选择双倾版本，每个样品都可以独立实现双向倾转。性能指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 保证电镜原有分辨率；● 保证电镜真空度；● 可选双倾（β方向±25°，同时受限于极靴）；● 高精度电机控制的β角度倾转。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜多孔样品杆，详细咨询：

透射电镜原位拉伸样品杆，可在室温条件下对材料施加拉力，结合透射电镜原位观察材料结构的变化。 本套系统包括：单倾拉伸样品杆、拉伸控制器、专用拉伸样品载片。 应用方向：研究金属材料、纳米材料、薄膜等的力学变化机制。性能指标：● 适用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射电镜● 兼容指定类型极靴● 保证透射电镜原有分辨率● zui大拉伸位移：2 mm● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s● 拉伸步长：小于100nm以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜原位拉伸样品杆，详细咨询：

一、产品简介CIF 透射电镜（TEM）样品杆存储仪采用无油隔膜泵，通过抽真空产生100 Pa恒定洁净无污染的真空环境，特别适用于TEM透射电镜样品杆的日常真空储存或水汽去除，简单方便实用。二、产品特点1. 洁净无污染2. 真空度稳定3. 方便实用三、技术参数产品型号CIF-VS真空泵双级无油隔膜真空泵，抽速0.7 m3/h 气体控制标配一路清洗气体，采用质量流量计（MFC），自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响，测量范围1Pa-100kPa真空保证真空计和电磁阀安全互锁，自动保证恒定真空存储气压200Pa 存储数量5支样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动界面质量保证二年质保，终身维护

一、产品简介CIF透射电镜（TEM）样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计，清洗快速高效，低轰击损伤，同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。二、产品特点1. 远程离子清洗源2. 一机多用3. 清洗快速高效，低轰击损伤三、技术参数产品型号CIF-TEM等离子电源13.56MHz等离子射频电源，射频功率5-120W可调远程等离子源，自动匹配器清洗室清洗室尺寸Ø 180xH100mm清洗数量可同时清洗3支TEM样品杆适配品牌THERMO FISHER（FEI）、日立HITACHI、捷欧路JEOL气体控制标配单路质量流量计（MFC）可选双路。50毫升/分，自动控制气体流量，不会受环境温度和压力变化影响气源选择根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择真空控制质量流量计（MFC），皮拉尼真空计，测量范围1E-5Torr真空保证真空计和电磁阀安全互锁操控方式7寸全彩触摸屏控制，中英文互动操作界面真空泵前级泵抽气速率2 L/s分子泵极限真空:CF:5x10-6Pa，ISO-K: 3x10-5Pa分子泵抽速 80L/s （N2）入口法兰：DN100CF/DN100 ISO-K 质量保证二年质保，终身维护电 源220V，50/60Hz，300W

透射电镜真空转移样品杆采用可伸缩的样品杆端头设计，从而实现将样品从真空室或手套箱的真空环境下转移到透射电镜内的目的，避免样品被大气环境影响。性能指标：● 兼容指定型号电镜及极靴；● 保证电镜原有分辨率；● 保证电镜真空度；● 可选双倾方案，β方向倾转角为±25°，同时受限于极靴。以上就是小编提供的PicoFemto透射电镜真空转移样品杆，详细咨询：

透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。性能指标透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。以上就是PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统，详细咨询：

? PicoFemto透射电子显微镜原位STM-TEM测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统在标配的STM-TEM样品杆上集成低温环境控制单元，从而实现在透射电镜中进行原位低温电学测量的目的。性能指标 透射电镜指标：● 兼容指定电镜型号及极靴；● 可选双倾版本，双倾电学测量样品杆Y轴倾角±25°（同时受限于极靴间距）；● 保证透射电镜原有分辨率。 电学测量指标：● 包含一个电流电压测试单元；● 电流测量范围：１ nA-30 mA，9个量程；● 电流分辨率：优于100 fA；● 电压输出范围：普通模式±10 V，高压模式±150 V；● 自动电流-电压（I-V）测量、电流-时间（I-t）测量，自动保存。 扫描探针操纵指标：● 粗调范围：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；● 细调范围：XY方向18 um，Z方向1.5 um；● 细调分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。 低温参数指标：● 兼容指定型号透射电镜及极靴；● 全温区结构分辨率优于0.2 nm；● 变温范围为85 K-380 K，温度稳定性优于±0.1 K。 产品特色 （1）温度连续可控，稳定性高；（2）低温下可实现对样品施加应力及电学研究。以上就是提供的PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统，详细咨询：

日立新一代全数字化120kV透射电子显微镜HT7800，操作的一体化和自动化程度都有明显提高。随着时代的发展和科技的进步，全数字化必将是透射电镜的发展趋势。数字化的优势具体表现在以下几个方面：一、HT7800采用日立全新设计的第二代双隙物镜，很好地继承了日立120kV-TEM的基本理念，即兼顾低倍率与宽视野观察、高衬度与高分辨率观察可在同一仪器上一键切换等。对比于其他厂家的独立模式设计，HT7800可在同一台透射电镜上实现两台电镜的功能。集高衬度和高分辨两种模式于一体，可同时满足软材料/纳米材料类和生命科学类客户对电镜的需求。二、使用高速高灵敏度的CMOS荧光屏相机取代了传统的荧光屏观察窗，将 TEM 操作统一于显示器上，实现透射电镜操作的全数字化，可以在明亮的室内进行观察。三、标准搭载涡轮分子泵(TMP)，实现绿色真空。HT7800所使用的真空泵包括机械泵和涡轮分子泵，均为标准配置。四、标配三维重构功能及±70°倾转样品台。一般情况下透射电子显微镜只能提供样品的平面投影图像，而无法直接获知其三维立体信息。在标准配置下，HT7800就可以通过±70°的连续倾转、拍摄及电脑重构，得到样品的立体形貌信息。五、强大的自动拼图功能。这是数字化带来的另一个优势。HT7800可通过样品台移动和电子束移动两种方式实现全倍率下的自动拼图，可得到像素16倍于主相机的无缝拼接大视野样品图片。图片存储时，自动保存样品位置与样品杆旋转信息，在自动拼接过程中实现高精度对中。自动连拍和自动拼图速度快，举例来说，一次3×3的拼接，全过程可在4min左右完成。六、方便而准确的自动连续拍摄功能。HT7800具有自动聚焦、自动定位并拍摄多张图片的功能。自动连拍功能可以一次性设置多达10000个拍摄的位置及放大倍数，通过快速的自动聚焦系统和智能化定位系统， 自动的完成拍摄任务，而无需人员看管。

用于透射电镜电子衍射的高性能探测器相机ASI的Chee-tah是一种适合于电子显微镜应用的混合像素探测器。Chee-tah卓越的灵敏度和速度为获得电子衍射、成像及断层扫描提供了可能性。Chee-tah 含有一个硅二极管传感器，硅二极管被分成512x 512或1024 x 1024的像素阵列。每个像素通过bump-bonds与集成在芯片上的读出电子器件相连，芯片位于传感器下方。每个像素的电子器件单独处理来自该像素传感器的信号。每个独立像素对其相应区域中检测到的事件进行计数和处理。闪烁体CCD探测器探测不到噪声量级的微弱信号，而Chee-tah可以获得。与其它类型的直接探测器相机比较，Chee-tah的动态范围很大，电子束灵敏度很高，常用于衍射实验。Chee-tah的高速特点使之成为观察动态过程和捕捉快速衰减信号的理想工具。探测器优点1）ASI的新型超高灵敏探测器提供了一种通过电子衍射研究微米和纳米尺度晶体的解决方案，并可安装在现有的透射电镜底部，或也可侧装。高灵敏度以及高读出速率及宽动态范围使得用户能够收集远超过CCD和CMOS相机所限制的数据。对(4D)STEM应用来说，这意味着能够对大面积进行快速扫描。2）多功能设计使我们的探测器向后兼容几乎所有的电子显微镜，也可进一步调整以满足用户新需求。3）X射线晶体学是测定蛋白质和其它光束敏感材料之原子结构常用的方法。要获得高分辨率的X射线数据，通常需要比较大的晶体。然而，在许多情况下，只生长出微米或纳米尺度的晶体。近期的研究结果表明，微米和纳米尺度晶体可以用TEM电子衍射来研究。应用领域能量分辨X射线计算机断层扫描快速生产线X射线检查电子显微镜质谱Chee-tah120TimepixChee-tah1800Timepix3RXChee-tah(event)Timepix3Pixels(55um)512 x 512 / 1k x 1k512 x 512 / 1k x 1k512 x 512Sensitive Area2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 / 5.6 x 5.6 cm2.8 x 2.8 cmMax Speed120 Hz1800 / 425 Hz1.6 ns (500 MHz)Counter Depth13.5 bit12/24 bit14bitSensorsSi, GaAsSi, GaAsSi, GaAsConnection1 GB / 4 x 1 GBEthernet10 GB Ethernet10 GB EthernetOperationCounting, TOA, TOTCounting, CSMSimultaneous, TOA, TOT型号及配置荷兰ASI公司(Amsterdam Scientific Instruments B.V.)出品的Chee-tah系列用于TEM ED的光子计数型混合像素探测器相机有多种型号及配置可选：1）可选型号：Chee-tah120（Timepix技术，ToT、ToA等应用，帧频120f/s，阈值数1个）；Chee-tah 1800（Medipix3RX技术，CSM&SPM模式等应用，帧频1800f/s，阈值数1或2个）；Chee-tah(event)（Timepix3技术，ToT、ToA、光子时间戳、速度映射成像和符合成像等应用，可与同步加速器或自由电子激光等配套，时间分辨率1.6纳秒，超高速帧频500 MHz，阈值数1个）等。2）可选传感器材料类型：Si, GaAs, CdTe, ... 常用硅，可选砷化镓（高能量用途），碲化镉（更高能量用途）。3）可选传感器厚度：300um/500um/1000um（标配300um，高能量应用请选较厚的厚度）4）可选像素数：65k、262k、524k、1M、2M等不同活区面积。5）可选底装或侧装。上述总有一款及其配置适合您的TEM ED晶体学分析和结构解析以及X射线检测和成像应用，欢迎选购！