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圆偏振荧光仪

仪器信息网圆偏振荧光仪专题为您提供2024年最新圆偏振荧光仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括圆偏振荧光仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的圆偏振荧光仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合圆偏振荧光仪相关的耗材配件、试剂标物,还有圆偏振荧光仪相关的最新资讯、资料,以及圆偏振荧光仪相关的解决方案。

圆偏振荧光仪相关的仪器

  • 偏振片 400-628-5299
    1.偏振片:通常是指将二向色性物质涂在透明薄片上制成的偏振片,此种偏振片损伤阈值较小,而且无法分离出p偏振光和s偏振光;A. OPSP系列偏振片偏振片(Plastic Sheet Polarizers)选型表:偏振片(Plastic Sheet Polarizers)型号名称尺寸(mm)通光孔径Ф0(mm)波长范围(nm)OPSP12.7偏振片Ф12.7*4mm8.9400-700OPSP25.4偏振片Ф25.4*4mm20.3400-700B. 偏振片(进口)1)偏光板示意图及尺寸图:相关说明: 1.把含有卤化银的玻璃融解,再经过热处理,延伸,研磨和还原工序而制成的偏光器件。其制作过程大致如 下:在热处理工序中沉淀出卤化银粒子,然后把玻璃加热到软化点附近并延伸,这样卤化银粒子就会变成 椭圆形,研磨后再进行氢还原,把卤化银粒子还原为银。 2.玻璃中的银椭圆粒子的长轴方向平行的电场被吸收,具有和其长轴垂直方向的电场的光通过。 3.透过方向:100W/cm2(CW)、6J/cm2、脉冲宽度13ns(脉冲)吸收方向:25W/cm2(CW)、0.1J/cm2、 脉冲宽度13ns(脉冲)有效尺寸(mm)8.5× 8.5PLC系列铬膜分束镜(SIGMA)选型表:型号保护框尺寸(mm)波长范围(nm)最小透过率(%)PLC-10-660ø 30× 6630~70083PLC-10-800ø 30× 6740~86091PLC-10-900ø 30× 6840~96094PLC-10-1060ø 30× 6960~116095PLC-10-1310ø 30× 61275~134598PLC-10-1550ø 30× 61510~1590982)薄膜偏光板示意图及曲线图:相关说明: 1.薄膜偏光板是一种薄膜滤光镜,此膜夹在两块玻璃中间,并安装在一个铝框内; 2.它不仅可以从一个非偏光中提取线偏光,而且,还可以象ND 滤光片一样用作光衰减器; 3.三种波长可选:紫外用(320~400nm);可见光用(400~700nm);近红外用(760~2000nm); 4.使两块偏光板处于通光状态(开),通过一束直线偏光{两块透过率(平行放置)} 使两块偏光板处于 不通光状态(关),没有光通过{两块透过率(正交放置)}。我们称此时的透过率为消光比。薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号使用波长(nm)保护框尺寸(mm)厚度(mm)通光孔径(mm)防反射膜NSPFU-30C320~400Ф30× 62.4ø 24SLAR (双面)SPF-30C-32400~700Ф30× 63ø 24BMAR(双面)SPF-50C-32400~700Ф30× 63ø 44BMAR(双面)SPFN-30C-26760~2000Ф30× 63ø 24SLAR (双面) 3)塑料薄膜偏光板(进口)示意图及曲线图:塑料薄膜偏光板(SIGMA)选型表:型号设计波长(nm)D(mm)T(mm)USP-25.4C-38400~700ø 25.40.8USP-30C-38400~700ø 30.00.8USP-50C-38400~700ø 50.00.8USP-100C-38400~700ø 1000.8C. 超快激光用偏振片(进口)曲线图、示意图及相关参数: 选型表:
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  • A. 激光波长偏振分光立方体:Narrow Band Polarizing Beamsplitter命名规则:OPBS边长-波长型号名称透射率TP反射率RS波长消光比边长OPBS10-488488nm偏振分光立方体>95%>99%488>100:110mmOPBS20-488488nm偏振分光立方体>95%>99%488>100:120mm OPBS10-514514nm偏振分光立方体>95%>99%514>100:110mmOPBS20-514514nm偏振分光立方体>95%>99%514>100:120mm OPBS10-532532nm偏振分光立方体>95%>99%532>100:110mmOPBS20-532532nm偏振分光立方体>95%>99%532>100:120mm OPBS10-632.8632.8nm偏振分光立方体>95%>99%632.8>100:110mmOPBS20-632.8632.8nm偏振分光立方体>95%>99%632.8>100:120mm OPBS10-10641064nm偏振分光立方体>95%>99%1064>100:110mmOPBS20-10641064nm偏振分光立方体>95%>99%1064>100:120mmB. 宽带偏振分光立方体 Broadband Polarizing Beamsplitter命名规则:OBPS边长-波长范围(取微米数)型号名称波长范围透射率TP反射率RS边长OBPS20-0406宽带偏振分光立方体450-680>95%>99%20OBPS20-0608宽带偏振分光立方体650-850>95%>99%20OBPS20-0912宽带偏振分光立方体900-1200>95%>99%20OBPS20-1215宽带偏振分光立方体1200-1550>95%>99%20
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  • 圆偏振荧光光谱仪CPL-300 在圆二色的基础上,人们发现手性发光体系发射出的左、右圆偏振光强度不同,这种现象称为圆偏振发光(Circularly Polarized Luminescence ,简称CPL),常规的圆二色谱仪CD仅能检测材料基态的手性,而该仪器能检测材料激发态的手性信息。主要用于研究手性发光体系的发射态(激发态)结构的特征。 主要应用:* 对镧系锕系离子配合物的光学性能研究* 对有机小分子的研究* 对生物体系的研究* 对过渡金属配合物及晶体的研究 测试原理:当发光手性分子被光激发后,产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性,这种现象被认为是圆偏振发光性(CPL)。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性,而该仪器能检测材料激发态的手性信息。 技术特点:-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比
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  • 圆偏振荧光光谱仪 型号:CPL-300概要手性等化合物在单色光激发下,发射出左右圆偏振光强度不同,这样的现象被叫圆偏振发光现象(CPL)。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息,而CPL能够测量得到激发态手性物资的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法。 标准的无臭氧150W Xe灯可由用户更换为Hg / Xe源。 仪器的双棱镜激发和发射单色器提供非常低的杂散光,并且没有衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷Hg-Xe灯等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)Em (发射)部分均为双棱镜单色仪测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动响应时间扫描扫描速度最大到10000 nm /min测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL),DC (DC 电子元件=荧光),HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg量程± 8000 mdeg功率240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包Spectra Manager 2
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  • 该产品基于第一原理设计,具有极高的圆偏正和荧光偏振特性,价格非常有竞争力,尺寸仅为竞争对手产品的1/4,且具有出色的灵敏度和稳定性。 明亮且稳定的滤波LED源可实现最大的激励;使用高通量单色仪和门控光子计数检测器可实现最大的发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能,即无需锁定放大器,无需G因子校正。两种型号,一种用于UV/Vis,另一种用于NIR。可以增强UV/Vis型号以测量磷光寿命,从而测量CPP。所有配置均可以实现极化和非极化激励。
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  • OLIS CPL Solo UV/Vis小巧、经济且全数字化的圆偏振发光该型号以最高灵敏度CPL和荧光偏振的第一原理设计,价格是竞争对手产品的三分之一,尺寸是竞争对手产品的四分之一,但具有出色的灵敏度和稳定性。使用明亮且稳定的滤波LED 光源实现最大激发 ;使用高通量单色器和门控光子计数检测器可实现最大发射灵敏度。具有工厂锁定校准的所有数字性能,即无需锁定放大器,无需 G 因子校正。两种型号,一种用于 UV/Vis,另一种用于NIR。可以增强 UV/Vis 模型以测量磷光寿命,从而测量 CPP。所有配置均可实现极化和非极化激发。应用领域:OLED发展镧系元素表征蛋白质折叠-展开转换光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能:圆偏振光荧光荧光偏振支持升级:极化激励磷光寿命珀耳帖热池支架薄膜支架DeSa永磁体CPL-SOLO.pdf
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  • JASCO日本分光株式会社1961年研制生产出圆二色光谱仪投入科研使用后,经多年发展,圆二色光谱仪(CD)产品技术和各项性能均稳定可靠,随着产品及技术升级,JASCO推出手性全系列产品如圆二色光谱仪、振动圆二色光谱仪、圆偏振发光测量系统、旋光仪等,其先进的技术和更加卓越的性能满足和实现手性物质各方面复杂研究应用。1、应用范围-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究-聚集诱导发光领域研究………2、测试原理手性等化合物在单色光激发下,发射出左右圆偏振光强度不同,这样的现象被称为圆偏振发光现象(Circularly Polarized Luminesence: CPL)。常规的ECD测量可得到基态手性分子的信息,通过CPL测量可以获取手性分子在激发态的信息。 CPL-300使用由Steinberg提出的原始180°荧光收集方法,采用标准的无臭氧150W Xe灯或者可更换为Hg / Xe源,仪器双棱镜激发和发射单色器提供极低杂散光,可消除衍射光栅引起的杂散线性偏振效应。CPL-300是迄今结合手性测定技术而推出的一款高灵敏度圆偏振发光测量装置3、技术特点&bull 双光源设计,软件自由切换标配150W无臭氧氙灯,满足紫外可见近红外波长测试需求;内置汞灯设计,可实时根据需要自主进行波长校准检验。&bull 双棱镜分光系统系统激发侧和发射侧都采用双棱镜单色仪,极大限度的抑制杂散光,同时避免了使用光栅过程二阶衍射、伍德异 常及线偏振的影响,确保测试数据的准确性。&bull 180°非偏振光直接激发样品对于溶液、固体或者难溶性样品,180°直接激发,避免样品激发过程中伪影的产生。&bull 快速数据收集和处理CPL信号和荧光信号同时测量,可一键转换△I和Glum数据。 4、樟脑醌的CPL案例介绍樟脑醌的CPL光谱测量,通过测量CD和CPL对樟脑醌在激发态和基态下手性结构分析。
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  • 1、应用范围:-镧系锕系复合物的光学性能研究-手性发光材料的光学活性研究-手性发光纳米粒子的光学活性研究2、测试原理当发光手性分子被光激发后,产生的荧光在左右圆极化强度方面会体现出一定的差异性,这种现象被认为是圆偏振发光性(CPL)。常规的CD波谱仪仅能检测材料基态的手性,而该仪器能检测材料激发态的手性信息。3、技术特点:-灵敏度高-空冷150W氙灯光源-高的信噪比规格光源150W 空冷氙灯(选配:150W 空冷HgXe等)检测器光电子倍增管PMT调幅器压电弹性调幅器电气系统锁定放大器单色器Ex (激发)和 Em (发射)部分均为双棱镜单色器测量波长范围250到 850 nm400 到1100 nm (选配 PMT检测器)波长精度±0.2 nm (250 to 500 nm)±0.5 nm (500 to 800 nm)±1.5 nm (800 to 1100 nm)波长重现性±0.05 nm (250 to 500 nm)±0.1 nm (500 to 800 nm)±0.5 nm (800 to 1100 nm)狭缝宽度1 - 4000 μm数字积分时间(D.I.T.)0.1 msec to 30 sec扫描方式连续扫描步进扫描自动反应(D.I.T)扫描扫描速度10000 nm /分钟测光模式CD (AC电子元件元件 = CPL),DC (DC 电子元件=荧光),HT (高电压f PMT), and AC/DCCPL分辨率0.00001 mdeg波长分辨率0.025 nm杂散光小于0.001%外部输入端子双通道数据采集(输入范围: -1 to 1 V DC)汞灯用于仪器校准遮板在EX激发和Em发射单色器样品室150 mm (W) x 310 mm (D) x 165 mm (H)尺寸2000 mm (W) x 700 mm (D) x 1000 mm (H)重量180 kg满量程± 8000 mdeg功率100 - 240 V 50/60 Hz, 400 VA程序软件包光谱管理器2
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  • 布鲁氏菌病强化监测项目推荐产品!型号规格:平和FLUPO Ⅶ 系列青岛中创汇科生物科技有限公司联系电话:,网址:基本原理:某一分子在液体介质中的自旋速度与其分子质量有关,分子质量越小其自旋速度越快,偏振光束去极化越高,而分子质量越大自旋速度越慢, 偏振光越弱。 FPA以mP(milli-Polariaztion ) 为单 位 测 定 分 子 的去极化程度。用异 硫 氰 酸 盐 标 记(FITC) 某种特异性抗原/抗体,若检测样本中存在该病抗体/抗原,抗原抗体结合后立即观察结果,则可通过相关仪器检测到产生的大量荧光复合物,通过给定的角度(68.5°),利用偏振光测量其去极化光。在阴性样本中,抗原/抗体呈现非复合状态,由于该单体物质的分子量较小,自旋较快,因此,产生的去极化光较阳性复合物强。检测样本:血清及其它样品如全血、血浆、脑脊液、淋巴液、奶液等。主要功能:检测人血清中的全部布鲁氏菌抗体,包括IgG1,IgG2、IgG3、IgG4、IgM、IgA、IgD等全部类型的抗体。仪器特点:1、中国自主知识产权,一种便携式的针对荧光偏振测定方法的仪器,用于检测人抗所有平滑型布鲁氏菌抗体的分析仪器。本仪器可以通过仪器中的预先设计的程序直接计算显示结果,最短时间 2 分钟出结果,使用单个试管,手提箱包括荧光偏仪器全部设备。   2、德国钢、金属制成外壳,仪器简单、轻巧、便携、耐用。是理想的现地检测的试验工具,同样适用于实验室应用。   3、光源为发光二极管,探测器为光电倍增管,这种结合仪器让仪器使用更持久,更精确,运行速度更小快、更准确。   5、操作温度:-20-50℃(负 20 度至 50 度)   6、接口:配套数据线连接仪器与计算机   7、电源:计算机电源驱动仪器,无电源情况下也能操作实验   8、滤光器:激发光:485nm;发射光:535nm   9、试管规格:10x75mm 硼硅酸盐玻璃或高硼硅玻璃试管   10、测量时间:最短 2 分钟   11、精度:0.3mp 标准偏差 1nM 荧光素,每次打开软件可以检测 1000 个样品以上。   12、外观:宽:150 毫米 长:220 毫米 高:110 毫米   13、自带软件,操作极其简单,结果颜色显现,浅显易懂;也可以连接打印机及电子传输数据,也可以直接输出为 Excel 表格形式,易于编辑、传送和长久保存。
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  • 荧光偏振仪型号:FLUPO VII 检测原理:采样独特的荧光偏振检测原理,利用偏振光测量其旋转时间,检测血清中含有抗体,根据 FPA检测仪显示的mp读值判断结果阴阳性;荧光偏振测定法是均一、无需清洗步骤或去除未反应的成分的检测方法。 主要应用:用于实验室和采样现场人抗布鲁氏菌抗体检测分析。 适用样本:血清及其它样品如全血、血浆、脑脊液、淋巴液、奶液等。 仪器特点:1、中国自主知识产权的一种简捷的针对荧光偏振测定方法的仪器,结合德国先进技术,仪器简单、轻巧、便携、耐用;用于流行病学调查和疫情处置现场检测、临床实验室和疾控实验室疑似样本的快速检测。2、可检测人血清中的全部布鲁氏菌抗体,包括IgG1,IgG2、IgG3、IgG4、IgM、IgA、IgD等全部类型的抗体。3、采用计算机软件驱动,无需额外电源,仪器自带校正功能,仪器稳定,软件操作简单。4、光源:发光LED及LCD复合光源,水平及垂直方向双向检测。5、滤光器:电子滤光片。激发光:485nm;发射光:520 nm和535nm。6、测量时间:样品孵育2分钟,仪器1秒钟完成检测。7、精度:使用1nM荧光素连续测量,结果稳定,差异小于0.1nM。8、仪器自带校正功能,使用单个试管完成全部试验,无清洗步骤。 主要配置:1、主机1台2、漩涡震荡仪一台3、连续加样器一套4、计算机工作站1套5、手提箱一个
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  • 透射率超过42%备有料和膜基片材质供选择备有左旋及右旋偏振两种设计圆偏振器非常适用于减少各种成像应用中的眩光,以及提高显示器在光亮环境中的可见性。这些圆偏振器能为波长介于400 – 700nm的可见光提供卓越的透射率。塑料基片能提高该产品的耐久性能,而膜基片则能提高灵活性,并根据应用需求轻松裁剪。圆偏振器备有左旋及右旋偏振两种设计供选择。通用规格波长范围 (nm):400 - 700Polarization Efficiency (%):99.90工作温度 (°C):-40 to +80Heat Resistance (°C x Hours):80 x 500
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  • 3D全偏振X荧光多元素分析仪技术指标产品名称:3D全偏振X荧光多元素分析仪产 地:美国型 号:NEX CG II厂家名称:美国理学公司分析标准:符合汽油铁、锰、铅新国标NB/SH/T 6043-2021,ASTM D7220, D4294, GB/T 17040检测元素:11钠~92铀石化行业油品经典元素检测下限(实测值): 硅Si磷P硫S氯Cl锰Mn铁Fe铅Pb1.1ppm0.8ppm0.5ppm0.4ppm0.9ppm0.7ppm0.7ppm样 品 量:5ml标准校正:康普顿散射C/H比校正X射线管:Pd钯靶,最高电压50kV, 最大功率50W偏振单色器:配置5个偏振单色器,对应于不同应用,以获得最佳的样品激发。核心结构:X光管-偏振靶/二次靶-样品-检测器的位置摆放采用Cartesian笛卡尔三维立体结构,最大程度较少背景。检 测 器:硅漂移检测器(SDD),帕尔贴电子制冷进 样 器:15位自动样品转盘数据输出:USB及以太Ethernet网线输出环境温度:18 ~ 28°C (65 ~ 82℉)相对湿度:小于75%,仪器外表及内部无凝结水其他要求:人类感受不到的振动,无腐蚀性气体、粉尘和颗粒物电 源:AC,200 ~ 240V, 1.6A (50/60Hz)尺 寸:463 x 492 x 382 mm (宽x深x高)分析仪特点:理学公司是一个具有60多年X射线仪器生产历史的专业公司,在中国已有数千台套的X射线分析检测仪器在高效地使用中。为适应不断变化的石化分析市场,理学美国工厂推出了一系列高性能,高性价比,坚固耐用的X射线荧光分析仪。使之成为国内油品分析领域行业翘楚。1. 最优化的几何设计,使X射线光程最大程度缩短,减少损耗。2. 提供固化的控制样品,方便QC控制。3. 根据需求提供标准样品。4. 外形小巧,可放置于任何实验室, 方便转运及非安装地的异地使用。5. 优异的C/H校准可用于补偿不同类型的油所导致的校准错误。6. 在检测器与样品架之间设置有一个可轻松更换的塑料膜,能够在泄露或溢出的情况下保护仪器。7. 无接触,无裁剪的样品杯膜,线性好、维护量超低。8. 未来使用过程中如遇到重要部件维修(如X光源、高压电源等),可在中国境内完成部件更换及维修,无需返厂处理。9. 备有以太网RJ-45插孔和USB端口用于输出到LIMS或U盘,数据以CSV或PDF格式提供。
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  • 圆偏振器系统 400-860-5168转1451
    位于美国新泽西的HAAS公司,成立于1992年,做为一个世界上最大的提供激光束传输类器件与装置的公司,以其产品的创新性.优质.可靠而获得业界和客户认可。  HAAS拥有经验丰富的工程设计团队,高效的加工生产组织以及最先进尖端的加工中心,为工业客户提供最高标准的易于集成且模块化的激光传输类产品。并有为使用广泛的二氧化碳激光器光纤激光器设计的标准产品,还可根据客户的要求设计定制产品。圆偏振器系统将线偏振光转化成圆偏振光
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  • 椭圆偏振测厚仪 400-860-5168转0185
    仪器简介:在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数,如:布儒斯特角法测介质膜的折射率,干涉法测膜厚,其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点,因而,椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:薄膜厚度范围:1nm-300nm; 折射率范围:1-10 测量最小示值:&le 1nm 入射光波长:632.8nm 光学中心高:80mm 允许样品尺寸:&phi 10-&phi 140mm,厚度&le 16mm 偏振器方位角范围:0° - 180° 读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:± 1nm和± 0.01 主机重量:25kg 入射角连续调节范围:20° - 90° 精度为0.05° 主要特点:仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点; 光源采用氦氖激光器,功率稳定、波长精度高; 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件,方便用户使用。
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  • 布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案,用以分析表征广泛的产品,例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。 产品简介:S2 POLAR仪器为台式偏振式能量色散X 射线荧光 (POLARIZED EDXRF) 光谱仪,采用了偏振激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定,操作简便,对整个元素周期表中的元素均具备分析性能,特别是油品之类轻基体样品中的S, Cl, Si, Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等元素有着优异的分析效果和检测限。S2 POLAR针对油品等轻基体油品,通过偏振方式增强其功能,符合ASTM D6481 ASTM D7751 ASTM D7220 ISO 13032 ASTM D4294 ISO 20847 ISO 8754 IP 336, 496, 532 JIS K2541-4和GB/T 11140等诸多国内外标准,是一款经济实惠、高度灵活的分析工具,可适用于包括现场检测等各种应用场合。 S2 POLAR• 通过偏振激发和检测设计实现优异的灵敏度和检出限• 仪器可预置油中硫,油中氯以及润滑油中Mg, P, S, Cl, Ca, Zn, Mo等诸多元素的曲线• SampleCare保护系统,最大程度确保核心部件安全性,不受液体影响• 确保X 射线安全• 完全的数据可追溯性• 符合法规• 全球在线支持• 高度灵活的分析工具,可适用于现场检测需求 S2 POLAR 光谱仪可以处理类型广泛的样品,包括固体、稀松或压片粉末、液体和滤片,重量从几毫克到更大的实体样品不等。
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  • 全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术,无机械转动部件,重复性,信噪比高2. 技术成像系技术,所有样品均可成像,对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑,覆盖全谱段,利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高,安装维护简便5. 一键式操作软件,快速简单6. 自动MAPPING扫描,分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围:450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术,可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解:1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题
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  • 仪器简介:全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术(ED-XRF)领域独树一帜。 具备多元素和多浓度(主量、微量和痕量)的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术,区别于其他X射线荧光仪, 仪器的背景最低,信噪比最佳, 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路,在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管,激发方式得到优化,以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主,次量元素,卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品,在稍稍牺牲精度的条件下,可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器, 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下, 所产生的分辨率降低,背景升高,信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力,具备了涂镀层的厚度(低至1纳米)及 成分分析功能,包括贵金属镀层分析,最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比,TURBOQUANT 更为接近(符合)实际,在此程序中采用了数十种国际标准样品,实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件,操作极为方便。采用人机功效学原理,谱图汇编,自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码,重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法),在定量分析中可充分应用,已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻,在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理,包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。
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  • 偏振测试仪 400-860-5168转4131
    确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得良好效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。
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  • SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪,该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态(SOP),并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑,即插即用,可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量,软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中,SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序,并测量该过程产生的消光比(PER)。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间,并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转,保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外,SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件,如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性:确定偏振状态 (SOP),包括所有四个斯托克斯参数、PER(偏振消光比)、偏振度 (DOP)、椭圆度等。USB 2.0 供电设备(控制、数据传输和电源)在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容,包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域:耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下,保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态,然而在实际中,保偏光纤会在很小程度上影响偏振态,如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等,这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比(PER) 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射,即光纤偏振轴(也称为慢轴和快轴)如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准,见下右图。对于两个偏振轴,传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时,辐射会分成两个垂直分量,分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处,传播速度的差异会导致相移,这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度,则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移,则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示,如下图所示。在该图中,线性 SOP 位于球体的赤道上,圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η,偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量,对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点,即圆的中心,通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步:1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态,以引起出口极化波动。然后,一个圆圈自动拟合到数据点上,并显示平均值和PER(min)。在所示示例中,庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整,并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间,光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时,达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量,揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量,激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件,例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器,通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光,右旋圆偏振光位于北极,左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数:光纤偏振态测量仪配置选项:光纤偏振态测量仪交付标准:SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件: SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7, WINDOWS 10, WINDOWS Vista/XP (32/64 bit)DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电:上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商,产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等,涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等;可为客户提供完整的设备安装,培训,硬件开发,软件开发,系统集成等服务。
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  • XY系列偏振无关液晶空间光调制器--可定制一款偏振无关的纯相位空间光调制器。光能利用效率加倍,工作波长可达1550nm。创新性的LCoS SLM! 姓名:陈工(Jack)电话:(微信同号)邮箱:XY向列型偏振无关空间光调制器美国BNS公司新近推出一款偏振无关的空间光调制器,该产品使用硅基液晶技术,可以用于多个领域,作为基本组件,例如:光纤通信网络,加强型显微成像和高分辨率自适应光学系统。目前,BNS开发的这款产品已经商业化,具有高分辨率,偏振不相关,纯相位调制等特点。这款仪器的独特之处在于克服了使用现有的LCoS和MEMS原理的技术限制和障碍,开启一片新应用领域。偏振无关LCoS vs. 标准LCoS来自通信光纤的光的偏振状态会由于温度或者机械应力的改变而发生变化。而目前主流用于光控制的液晶空间光调制器都是偏振相关的,这就要求在系统设计中加入一连串的额外光学元件来锁定光的偏振态,必然直接影响其光网络的集成度。如果采用偏振无关的液晶空间光调制器,则会省去这些额外光学元器件,让光网络设计更加容易,集成化程度更高!。在显微成像领域,可对所有偏振态进行调制的空间光调制器(SLM),在光的利用效率方面,是一个极大的飞跃。尤其对于如单分子荧光显微镜这样的弱光应用领域,我们的偏振无关空间光调制器具有非凡的应用价值。偏振无关LCoS vs. MEMS模拟MEMS分辨率 — 由于用模拟方式控制许多机械驱动器很复杂,相比LCoS器件,MEMS器件的阵列尺寸很受限制。由于新的灵活带宽组合已经广泛应用于化光网络,MEMS器件的驱动器数量限制,制约了光网络的灵活性。同时,分辨率(像元数量)也是一个问题,在一些较复杂的显微镜,自适应光学(AO)系统应用中,需要复杂的相位全息图或者相位模式图以提取信号信息,例如如数字全息应用。在这些应用中,分辨率(像素数量)也是一个至关重要的因素。使用偏振不相关的LCoS可以很好的避免使用MEMS的缺陷,兼顾设计复杂同时提高使用灵活性。XY偏振无关SLM——光路设计与搭建BNS公司开发的XY向列型偏振无关空间光调制器(PI SLMs),产品设计可实现多功能,用于各种典型光学试验环境中,操作简便。XY向列型PI SLMs可以优化相位调制量,在设定的波长可实现相位阶全段(2π)调制。这款SLMs不论入射光有什么偏振状态,都可实现纯相位调制,可优化光路设计,方便光路搭建。产品特点:256x256分辨率偏振无关,效率加倍模拟寻址控制工作波长可达1550nm应用:光通信,灵活结构光纤网络,加强型显微成像,高分辨率自适应光学
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  • 偏振机芯组件 400-860-5168转4585
    这是一款具有偏振探测性能的非制冷红外机芯组件,适用于长波红外偏振成像,能够在红外热成像基础上获得反射光的偏振信息。 产品特点 ●具有偏振探测性能的非制冷红外焦平面探测器 ●微偏振阵列直接集成到像元上 光是一种横波,在与光的传播方向垂直的二维空间中光矢量可能有各种振动状态,称之为光的偏振态。按照光矢量端点轨迹的不同,光的偏振态可分为五种,即自然光、部分偏振光、线偏振光、圆偏振光和椭圆偏振光。 图1 光的五种偏振态 图中红色箭头表示光矢量,黑色箭头表示光矢量末端运动方向 红外偏振探测是在红外强度探测基础上,通过获得每一点的偏振信息而增加信息维度的一种技术,不仅能获得目标二维空间的红外强度信息,而且能获得图像上每一点偏振信息。利用增加的偏振维度,可增强伪装、暗弱等目标与背景的差异,提高目标探测与识别能力 当前常见的红外偏振探测方法包括分时法、分振幅法、分孔径法和焦平面阵列法。前三种方法涉及复杂的光学系统,体积大、成本高,而且需要外置偏振片,外置偏振片与红外探测器之间存在相当的距离,经过偏振片的光线在红外探测器焦平面的不同像元上会形成串扰。本探测器采用内置集成焦平面阵列法,将微偏振阵列直接集成到像元上,只需一个探测器即可实现实时偏振信息获取,且无像元间串扰问题,相比分时法、分振幅法、分孔径法具有明显优势。技术参数●探测器 非制冷焦平面探测器●分辨率 640×512●像元间距 17μm●工作波段 8~14μm●功耗 ≤1.8W●供电范围 DC6~15V●启动时间 ≤6s●偏振形式 内置集成式●偏振方向 0°,45°,90°,135°或者0°,45°,90°●工作温度 ﹣40℃~﹢60℃ ﹣50℃~﹢70℃●NETD ≤50mK(@F/1,25℃)●帧频 50Hz ●视频输出 1路模拟视频输出,PAL制; 1路数字视频输出,cameralink基本模式;●通讯方式 UART、RS232(二选一,UART默认电平3.3V)●主要控制功能 手动快门校正等 ●重量 ≤95g(不含cameralink标准接口) 产品特征 本探测器采用直接在像元上生长金属光栅的方式实现微偏振阵列与焦平面的集成。目前,我司研制的偏振探测器有两种超像元规格,每个超像元由4个像元组成,这四个像元彼此不等价,每个像元代表一种透偏特性。 超像元中的灰色箭头表示透偏方向。其中A类超像元中的数字1、2、3、4分别代表90°、45°、0°、135°透偏方向,B类超像元中的数字1、2、3分别代表90°、45°、0°透偏方向,4表示无偏振结构的空白像元。两种超像元对应的焦平面阵列示意图如下:产品应用 红外偏振探测已在多个领域获得了广泛的应用,限于实验条件,我们仅对若干生活场景进行了数据采集和处理,取得了良好的效果,下面展示几组偏振图像。良好的可视化效果:偏振度高的区域用彩色显示,更符合人眼的视觉习惯。识别隐藏目标:隐藏在树下和墙边的车辆在偏振图像中被凸显出来。 别表面轮廓:强度图像中不可分辨的轮廓在偏振图像中清晰可辨。图中左侧为红外强度图像,中间和右侧为采用两种融合方案的偏振图像。 识别路面:柏油路面具有很高的偏振度,在偏振图像中与周围环境具有明显的对比度,偏振探测器有望应用于辅助驾驶。 抗干扰:偏振探测能够识别强度图像中无法辨别的伪装目标并将之消除。下图中真实目标通过偏振处理用彩色突出出来。 结构尺寸 标准Cameralink接口机芯尺寸在长度为53.8mm,具体如下; 图4标准接口Cameralink接口尺寸正面图 图5标准接口Cameralink接口尺寸侧视图 图6标准接口Cameralink接口尺寸侧视图
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  • 偏振光纤(偏振起偏光纤)所属类别: ? 光纤/光纤器件 ? 特种光纤/光子晶体光纤 产品简介 偏振光纤(780nm—1550nm) 高性价比偏振光纤和起偏器! 偏振光纤(Polarizing fiber,即PZ 光纤)是一种特殊光纤,即在光纤中只能传播一种偏振态的光。通常偏振光纤(PZ)都是通过特殊的设计结构(如化蝶结型)来产生较高的双折射效应,这种双折射效应会使特定偏振方向的光沿着光纤传播,而其他偏振方向的光则会受到较高的光学损耗,迅速衰减。 偏振光纤、PZ fiber、PZ、单偏振光纤、蝴蝶结型偏振光纤、熊猫型偏振光纤、偏振控制器、起偏光纤、Polarizing fiber偏振光纤(Polarizing fiber)是一种特殊的光纤,类似于偏振起偏器,在这种光纤中有且只能使一种偏振态的光通过,其他偏振态的光则在较高的消光比(30dB)作用下迅速消失。PZ光纤是通过一个特殊的结构设计(蝴蝶结型、老虎型)产生较高的双折射效应进而产生较高的消光比引起其他偏振态的光迅速消失。此外,偏振光纤(PZ)在不同的波长处都具有较宽的偏振带宽(100nm)、高消光比(30dB)和低衰减特性,且偏振带宽及消光比可以通过盘卷PZ光纤线圈直径的大小进行调节(称为光纤排布)。当PZ线圈直径变小时其偏振带宽也会随之变窄,并向低波长方向偏移。偏振带宽定义为快轴20dB与慢轴3dB之间的波长范围。与线偏振不同,基于偏振光纤(PZ)的起偏器是一个全光纤方案,能够提供优越的消光比、低衰减和良好的温度稳定性。 主要特点:l 老虎型(Tiger)设计结构 l 偏振带宽: 100nm l 高消光比:30dB l 设计波长(nm):780、840、1060、1310、1550 主要应用:u 光纤陀螺仪;u 光纤激光器;u 线偏振器;u 相干通信;u 冷原子实验;u 光纤电流传感器; 图1、偏振光纤(PZ)工作原理及偏振带宽示意图 图2、偏振偏光纤应用于冷原子项目示意图 图2、光纤陀螺仪组件和光纤电流传感器应用 如您有需求或想要进一步了解抗辐射光纤(Rad Hard fiber),请登录上海昊量光电设备有限公司,拨打电话:或! 分享到 : 人人网 腾讯微博 新浪微博 搜狐微博 网易微博 相关产品 空间光-单模光纤耦合稳定系统 超宽带起偏器(消色差偏振片) 光子晶体光纤/微结构光纤(PCF) 陀螺专用保偏光纤 径向偏振转换器/径向偏振片/径向偏振器
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  • 偏振相机 400-860-5168转4585
    许多视觉系统都试图克服玻璃、塑料和金属等反光表面产生的动态或多余光线、反射、朦胧和眩光影响。Blackfly S 机器视觉摄像头具有 Sony 的传感器偏振和 Spinnaker SDK 内置的防眩光功能,提供便于实施、轻量化且可靠的解决方案,以应对这种充满挑战的情况。 Blackfly S 摄像头对曝光、增益、白平衡和颜色校正进行精确动态控制,以传感器偏振方式在单帧图像中从四个角度捕获光线,可显著降低系统复杂度和应用设计。当前的系统依靠偏光分束镜后的多摄像头和滤光器,或配备一个旋转滤光器或一个非常复杂、慢速旋转的大滤光轮的单摄像头。通过同时传感整个传感器的所有偏振光的角度和强度,配备偏振传感器的Blackfly S 摄像头与现有的解决方案相比,增加了速度,减小了体积、复杂度和耗电量。支持的摄像头型号Blackfly S GigE 摄像头,带传感器偏振BFS-PGE-123S6P-C:1230 万像素,10 FPS,Sony IMX253MZR,偏振BFS-PGE-51S5P-C:500 万像素,24 FPS,Sony IMX250MZR,偏振-单色BFS-PGE-51S5PC-C:500 万像素,24 FPS,Sony IMX250MYR,偏振-RGB Blackfly S USB3 摄像头,带传感器偏振 BFS-U3-51S5PC-C:500 万像素,75 FPS,Sony IMX250MYR,偏振-RGB BFS-U3-51S5P-C:500 万像素,75 FPS,Sony IMX250MZR,偏振-单色产品特性 超高性价比 GenIcam通用协议,对软件和外围设备具良好兼容性,简化开发工作。超紧凑的金属外壳,29 x 29 x 30 mm,36 g 240MB超高帧缓存,确保数据传输稳定性 供电范围宽(8-24V),避免电压不稳造成的烧机现象 产品应用01:去强反光应用 去除物体表面的强反光是偏振相机的典型应用之一。在工业现场,通常需要对待测物进行打光处理,待测物表面会经常会出现如图1左图的强反光现象,在图像上呈现为过曝现象,影响待测物体的检测识别。偏振相机通过计算数据信息中的偏振分量强度后,从pixel级别上去“减除”偏振信息,最终输出如图1右图中的非过曝光图像。该应用不仅在工业现场有实际需求,在智能交通领域,由于前挡玻璃的强光反射,相机很难看清车内的乘员信息如图2左,通过偏振相机内部处理滤除偏振信息后,车内情况清晰的被捕捉到如图2右。 图1左工业现场去强反光应用 图1右工业现场去强反光应用 图2左智能交通去强反光应用 图2右智能交通去强反光应用02:检测物体表面缺陷 表面缺陷检测是工业现场常见的检测之一,传统的方式都采用了基于黑白亮度的检测方式,如图3左图,通过图像上的亮度成像差异,来判断手机膜上是否存在划痕。这种检测方式对光源的角度依赖性高,检测一个被测物体,往往需要多角度打光,多次拍摄,现场检测效率不高。图3右图是采用偏振相机输出的DOP信息成像得到的图像,DOP信息相对表面缺陷表现出了非常高的灵敏度,采用DOP信息去检测表面缺陷,可以减少系统复杂度,提高检测效率。 图 3左表面缺陷检测 图 3右表面缺陷检测03:检测不同材质物体 不同材质的物体,对偏振光的响应(反射强度以及电场方向角度变化)会存在差异,在一些基于灰度或者彩色相机无法区分的场合,偏振相机也许是解决问题的选择。如图4所示,丛林中的一辆车和环境比较相似,采用传统不易区分,而通过偏振相机输出的AOP信息,车辆信息被凸显出来,这在搜救设备上会有很大的意义。 图 4 丛林中的车04:透明物体内部应力 偏振相机另一个特别的应用是检测透明物体内部应力。被测物内部应力的均匀性,会影响透过被测物的偏振光,通过偏振相机输出的DOP或者AOP信息,可以将内部应力分布可视化。如图5所示,b图是基于亮度相机拍摄图像,a图是偏振相机的AOP信息,清晰的反应了直尺内部应力的分布情况。 图5 直尺内部应力图 偏振相机在早期只出现在实验室设备中,基于SONY新技术的偏振相机,将这种技术从实验室带到了工业现场。它的应用远远不止前面提到的几种,其它的应用比如导航,水下拍摄,去雾霾拍摄等等。 技术参数
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  • 自动椭圆偏振测厚仪 400-860-5168转0185
    仪器简介:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。技术参数:规格与主要技术指标: 测量范围:1nm-4000nm 折射率范围:1-10 测量最小值:&le 1nm 入射角:20° - 90° 精度&le 0.05° 度盘刻度:每格1度 允许样品尺寸:&phi 10-&phi 140mm,厚度&le 16mm 偏振器方位角范围:0° - 180° 外形尺寸:680*390*310mm 测量膜厚和折射率重复性精度分别为:0.5nm和0.005 主机重量:26kg 仪器测量精度:± 0.5nm(薄膜厚度在10-100nm时) 光学中心高度:80mm 成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件 成套性:主机、电控系统、USB接口、配套软件(需配计算机)主要特点:产品特点: 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率,具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器,功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接,配套软件功能齐全,具有多样数据采集及处理方式,适用于不同用户的需要。
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  • 结晶石英波片- Altechna S波片材料:结晶石英表面质量:S-D : 10-5透射波前失真,P-V:λ/ 10 @ 632.8 nm延迟公差@ 20°C:: ±λ/ 300光圈清晰: ?5 - 76.2毫米增透膜:每个表面的Ravg 0.2%LIDT: 10 J /cm?@ 1064 nm,10 ns,10 Hz安装: 黑色或者白色阳极氧化金属支架深圳因诺尔科技有限公司代理的Altechna S波片由具有双折射的材料制成。通过双折射材料的非常和普通光线的速度与它们的折射率成反比。当两个光束重新组合时,这种速度差异产生相位差。在任何特定波长下,相位差由延迟器(波片)的厚度决定。半(λ/ 2)波片。入射在半波晶体石英波片上的线性偏振光束作为线性偏振光束出现,但是旋转使得它与光轴的角度是入射光束的两倍。因此,半波片可用作连续可调的偏振旋转器。这种波片用于旋转偏振面,以及用于电光调制,并且当与偏振立方体结合使用时用作可变比率分束器。四分之一(λ/ 4)波片 - 薄膜补偿器。如果线性偏振入射光束的电场矢量与四分之一波片的延迟器主平面之间的角度是45°,则出射光束是圆偏振的。当四分之一波片被双重通过时,例如通过镜面反射,它起到半波片的作用并将偏振面旋转到一定角度。四分之一波片用于从线性极化产生圆形,反之亦然,以及椭圆光度法,光泵浦,抑制不需要的反射和光学隔离。零级波片通常是优选的,因为它们对波长,入射角和温度的变化***不敏感。标准波片基于空气间隔结构,可用于高功率应用。对于10ns脉冲10ns,损伤阈值大于20J / cm 2。Altechna波片由优质激光级晶体石英材料制成。深圳因诺尔科技有限公司另提供Altechna 高能波片(High Energy Waveplates),消色差波片(Achromatic Waveplates),中红外波片(Mid-IR Waveplates), Dieletric涂层光学器件, 金属涂层光学元件, 镜头, 棱镜, 过滤器, 旋转三棱镜, 偏振光学, 波片, 薄膜偏振器, 格兰型偏振器, 偏光立方体, 激光晶体, 非线性晶体, 无源Q开关晶体, 光折变晶体, 激光配件, 扩束器, 电动衰减器, 手动衰减器, 大孔径衰减器
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  • 产品说明偏振分光棱镜,由两个直角棱镜的斜边胶合或者光胶而成,在斜面镀上偏振分光膜,入射光中的P-偏振光透射,而S-偏振光被反射。所有的光束入射出射表面一般均镀制了增透膜。非偏振光透过PBS后,沿传播方向出射的为纯净的P偏振,侧面反射的是S偏振,透过的P偏振有较好的消光比,其消光比根据镀膜的不同,调整范围大。PBS可用作起偏、检偏、光强调节等场合。产品应用应用于单光子、双光子、多光子生物荧光成像、拉曼成像、超分辨成像光谱成像、PCR光纤通信航空航天产品优势具有应力小消光比高、光束偏转角小宽工作波段定制化:可根据用户需求定制不同参数的偏振分光棱镜技术参数单波长PBS标准品型号使用波长消光比材料尺寸(mm)TVS-PBS-355-S355>500:1>1000:1>10000:1K9JGS110.0*10.0*10.012.7*12.7*12.715.0*15.0*15.020.0*20.0*20.025.4*25.4*25.4TVS-PBS-532-S532TVS-PBS-633-S633TVS-PBS-808-S808TVS-PBS-880-S880TVS-PBS-1064-S1064TVS-PBS-1310-S1310TVS-PBS-1550-S1550光洁度60/40,40/20光束偏折<3 arc minutes波前畸变<λ/4@633 nm透过率Tp>95%,Ts<0.1%镀膜斜面镀偏振分光膜,端面镀增透膜宽带PBS标准品型号使用波长消光比材料尺寸(mm)TVS-PBS-450-650-S450-650 nm>500:1>1000:1>10000:1ZF材料10.0*10.0*10.012.7*12.7*12.715.0*15.0*15.020.0*20.0*20.0TVS-PBS-650-950-S650-950 nmTVS-PBS-900-1200-S900-1200 nmTVS-PBS-1200-1600-S1200-1600 nm光洁度60/40,40/20光束偏折<3 arc minutes波前畸变<λ/4@633 nm透过率Tp>95%,Ts<0.1%镀膜斜面镀偏振分光膜,端面镀增透膜NPBS标准品型号使用波长消光比材料尺寸(mm)TVS-NPBS-450-650-S450-650 nmT/R=46/46|Ts-Tp|<5%|Rs-Rp|< 5%K9JGS110.0*10.0*10.012.7*12.7*12.715.0*15.0*15.020.0*20.0*20.0TVS-N PBS-650-950-S650-950 nmTVS-N PBS-900-1200-S900-1200 nmTVS-N PBS-1200-1600-S1200-1600 nm光洁度60/40,40/20光束偏折<3 arc minutes波前畸变<λ/4@633 nm镀膜斜面镀偏振分光膜,端面镀增透膜产品性能
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  • Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备,数据处理和高速单色仪,FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集,双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点,使得数据采集分析更加简便,易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术,可在3分钟以内实现高分辨的样品测试(190-2100 nm),校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验,UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制,可用于各种样品的精确测量,最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍,从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计,可灵活拓展,以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商,UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术,相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角,Ψ (0-90,Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus:190 - 885 nmUVISEL Plus NIR:190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动:55º - 90º,步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器
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  • 自动偏振光实验装置 400-860-5168转0185
    该机器将电控系统、光具座有机的结合在一起,具有良好的整体特色,并将光的偏振状态直接显示在计算机上,使实验的安排和整理更加简便和明晰。 实验内容:1. 自然光转化为线偏振光的演示(二向色性起偏、双折射起偏、反射起偏)验证马吕斯定律 2. 线偏振光转化成圆偏振光、椭圆偏振光的演示3. 光的偏振状态的测量4. 波片特性实验仪器成套性:组合导轨及滑座、进口偏振片(带框)、自动X轴旋转架、可变口径二维架、650nm半导体激光器(含电源)、1/2波片(带框)、1/4波片(带框)、接收器架、电控箱、接收器(附架)、USB接口、系统软件、电源线等。用户需自备电脑及打印机
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  • 超宽带偏振态测量仪 400-860-5168转2831
    超宽带偏振态测量仪美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期优势和信誉,超宽带偏振测量仪(Broad Wavelength Polarimeter)结合了Meadowlark Optics公司的液晶可变相位延迟器技术和偏振技术,具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。液晶偏振态测量仪因为没有旋转的波片、马达或其它运动部件,不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题,可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。Keyword:偏振态测量仪,Polarimeter,Liquid Crystal Polarimeter,液晶偏振态测量仪,SOP,DOP,偏振度,偏振态,偏振态测定仪系统,偏振态测量系统,偏振测量仪,LCPM,偏振分析仪,偏振态分析仪Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪可直接通过计算机的USB接口进行控制,为测量的速率和便捷性提供了保障,这款偏振测量仪在计算机的控制下每秒的测量10次可量化偏振态的斯托克斯(Stokes)参数,同时将偏振态图形化地显示成庞加球(Poincaré Sphere)、偏振椭圆(Polarization Ellipse)或者运行图;Meadowlark Optics的偏振测量仪控制软件采用独特算法,其提供了高精度和多功能校正;可以说Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪是一套便携精密和紧凑(小体积)的偏振态测量系统。 邦加球:偏振椭圆:运行图:Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪的偏振度测量精度≤1%,斯托克斯矢量的分辨率为0.001,工作频率为10Hz,波长的校正精度为±3nm,在保证测量精度的情况下可对光功率为1μW的光波实现偏振态的测量;由于液晶材料对温度比较敏感,为了保证PMI工作的稳定性,该超宽带偏振测量仪配有温度控制选项,以实现实时实地的恒温状态。Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪有可见光(450-1100nm)和近红外(900-1700nm)两种版本,及光纤耦合和自由光路两种不同配置。优势:超宽带(450-1100nm和900-1700nm可选)无运动部件偏振度测量精度≤1%斯托克斯矢量分辨率0.001偏振态跟踪LabVIEW VI程序库简易化操作界面光纤和自由光路输入方式可选可测量功率为1μW的光波偏振态规格:订购信息:可选配件:尺寸:
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  • 偏振测量仪 400-860-5168转3067
    偏振测量仪PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑,并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。另外,Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列,该系列的探头内置。 应用:自由空间或光纤光偏振测量消光比测量偏振度测量作为PMD5000系统中偏振测量单元琼斯(Jones)和米勒(Mueller)矩阵测量 指标:输入功率范围:-60dBm~10dBm方位角精度:0.25o椭率角精度:0.25o归一化Stokes参数精度:S1,S2,S30.005偏振度精度:± 0.5%波长范围:VIS系列: 400-700nmIR1系列: 700-1000nmIR2系列: 1000-1350nmIR3系列: 1300-1700nm最大测量速率:333次/秒光纤输入接口:FC/PC(或根据客户要求)自由空间输入:&Phi 3mm,发散角3mrad模拟界面:输出:S1,S2,S3,功率/dBm,DOP(Stokes矢量)输入:触发数字界面:输出:S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差热机时间:15min工作温度范围:5-40oC 消光比测试仪基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法,可用于保偏光纤的调节等。 应用:保偏光纤消光比测量保偏光纤到连接器的调节保偏光纤到光源的调节 指标:波长范围800-1700 nm最大消光比40 dBER精度*0.5 dBER分辨率0.1 dB角度精度*0.5° 角度分辨率0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ~ +10 dBm)工作温度5 to 40 ° C输入电压100V, 115V, 230V +15%/-10%所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效* 输入功率 -30 dBm&dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪特点:测量达40dB消光比内置RS232接口宽波长范围:400-1000nmVIS,850-1650nmIRER分辨率 0.01dB,角度分辨率0.3oER测量准确读1dB,角度准确度0.5o测量达2W连续光功率便携式设计记录模式,可连续测量连接头可换低成本,CE认证应用:光通讯器件制造自动调节质量控制和测量产品开发器件或系统故障排除 标准产品指标1: 型号ER-100-IRER-100-1290/1650-ER=40ER-100-VIS波长范围850-1650nm1290-1650nm400-700nm600-1000nm 2消光比范围30dB 850-1290nm35dB 1290-1650nm40dB 1290-1650nm30dB动态范围47dB40dB消光比准确度± 1dB消光比分辨率0.01dB角度准确度3± 0.5o角度分辨率0.3o刷新频率(ER)2.7Hz刷新频率(相对功率)650Hz输入功率450uW~1.0mW通讯接口RS232电源5通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器尺寸65 x 90 x 184 mm重量0.48 kg工作温度-10° ~ 50° C存放温度-30° ~ 60° C存放湿度90%1.测试条件,1550nm线形偏振光源,热机30min,温度23± 2° C2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头3.高精度的FC连接头4.无衰减器,带衰减器可进行高功率测量,其波长需要指定。5.标准设备为北美供电标准,其他需单独购买
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