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碳硅测试设备

仪器信息网碳硅测试设备专题为您提供2024年最新碳硅测试设备价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括碳硅测试设备参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的碳硅测试设备您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合碳硅测试设备相关的耗材配件、试剂标物,还有碳硅测试设备相关的最新资讯、资料,以及碳硅测试设备相关的解决方案。

碳硅测试设备相关的论坛

  • 【资料】碳硅分析仪的六大特点

    1.碳硅分析仪通过—种经过改进的求值方法进行工作,能自动控制重要冶金参数。它对灰白凝固铸铁自动进行测量,免去了人工操作。可以连接信号及测量数据的外部输出设备(大型远程显示器、信号灯、计算机、打印机)。   2.对白口、灰口铸铁进行C%、Si%、CEL、SC、△T、△TM、等测量,同时还附加对非合金铸铁的RM、HB、Z/H、及MEC等参数的计算   3.碳硅分析仪很容易操作,即使在昏暗的光线下也能轻易地从LED显示屏卜读出测量数据。   4、测量结果数显直读,测量时间为2-3分钟,便于铸造工程师现场配料。   5.碳硅分析仪是便携式的,可在炉台上自由移动,多台炉子可同时使用一台仪器。 资料来源于:http://www.nuojin17.com/nuojinyiqi-Article-100777/

  • 碳硅分析仪

    炉前碳硅快速分析仪准吗?如果不准一般是什么原因

  • 怎样测试硅碳样品中Fe、Cr、Al等元素含量?

    各位老师,我现在用的ICP设备是没有氢氟酸保护的,但是现在需要检测硅碳样品中的杂质含量,如果在样品预处理的时候用氢氟酸进行消解,那么后期我应该怎么操作?或者说有没有不是用氢氟酸进行消解而进行预处理的方法?恳请各位老师赐教,谢谢!

  • 要测试样品中的碳、氢、氧、氮、硫元素

    要测试样品中的碳、氢、氧、氮、硫元素,用什么设备比较好,请各位推荐厂家和型号,谢谢。样品有高碳材料如石墨,活性炭,硬碳,软碳,还有硅碳,氧化亚硅等材料。

  • 探测设备通过关键测试:将监测接近地球天体

    2013年04月20日 09:06 新浪科技 http://i0.sinaimg.cn/IT/2013/0420/U7917P2DT20130420090459.jpgNEOCam探测器是美国宇航局一项旨在监测近地小天体的空间望远镜项目的核心技术设备  新浪科技讯 北京时间4月20日消息,据美国宇航局网站报道,一项可以帮助美国宇航局提升其未来针对小行星和彗星侦测追踪能力的红外探测器近期通过了关键的设计阶段测试。  这一探测器名为“近地天体相机”(NEOCam),近期在模拟深空环境温度和压力条件下的测试中达到了设计指标。“近地天体相机”是未来即将计划实施的一项空间小行星探测望远镜项目的核心设备。在近期出版的《光学工程杂志》上将会公布这一探测器的设计和指标细节。  这一探测器将会被作为美国宇航局近期公布的一项新计划的组成部分,这一大胆计划将首次着眼于识别并捕获近地小行星并将其拖拽至地球附近空间供宇航员就地开展研究工作。  美国宇航局近地天体项目办公室执行主管林迪·约翰逊(Lindley Johnson)表示:“这一探测器项目的实施标志着美国宇航局‘发现项目’及其‘天体物理学研究与分析项目’对于创新技术的投入,这将改善我们未来保护地球,应对外来天体撞击风险的能力。”  所谓近地天体,一般是指距离地球轨道在2800万英里(约合4500万公里)范围内的小行星或彗星体。小行星并不会自己发光,它们只能反射太阳光。取决于一颗小天体对阳光的反照率有多高,一颗小型但具有高反光表面的小天体看上去可以和一颗较大型但是具有低反光表面的小行星显示相似的光学观测特性。因此,在光学波段进行的此类观测有时会有明显的误差。  即将发表的这篇论文的合著者,美国宇航局喷气推进实验室的NEOWISE项目首席科学家艾米·门泽(Amy Mainzer)表示:“红外探测器是一个强大的工具,可以用于小行星的分析和确认。当你使用红外探测器观察小行星,此时你所观测的是其发出的红外热辐射,这将让科学家们更精确的限定其大小,甚至还可以告诉你一些有关其组成成分的信息。”  NEOCam探测器的主要突破在于提升其性能的稳定可靠性,并显著降低其质量,以便可以被搭载在卫星上发射升空。一旦被发射,这台空间望远镜将会被定位于4倍于地月距离的位置上,在这里这台设备将不分昼夜地监视接近地球附近空间的小天体,而不会受到云层或任何其它因素的干扰。  这一设备的开发成功是10年以来美国宇航局喷气推进实验室与它的科学伙伴罗彻斯特大学(负责进行设备测试工作)以及特雷迪成像技术公司(设备的开发)之间紧密合作的成果。  罗彻斯特大学的克莱格·麦克默提(Craig McMurtry)表示:“我们很高兴的看到新一代的探测器在灵敏度方面远远超过了上一代的同类设备。”  美国宇航局的NEOWISE项目是先前WISE,即“广域红外巡天探测器”的延长任务,该探测器于2009年12月发射升空,在红外波段对整个天空扫描两次。在此期间它共拍摄了270万个天体目标的图像,从遥远的星系到地球附近的小行星和彗星。NEOWISE则完成了对太阳系内部小天体,小行星和彗星的巡天探测。该任务执行期间所取得的新发现包括21颗彗星,超过3.4万颗小行星以及134颗近地小天体。(晨风)

  • 碳硅分析仪主要产品特点

    1、测量结果数显直读,测量时间为2-3分钟,便于铸造工程师现场配料。   2、仪器操作简单,免维护,一般的炉工即可现场使用。   3.仪器是便携式的,可在炉台上自由移动,多台炉子可同时使用一台仪器。   4.仪器可测量孕育前或孕育后的铁水,这是国内仪器无法做到的,这项技术填补了国内空白。   5.仪器能自动控制重要冶金参数。它对灰白凝固铸铁自动进行测量,免去了人工操作。可以连接大型远程显示器、信号灯、计算机、打印机。金属带锯床,卧式带锯床,双柱带锯床

  • 硅铁中碳硫的分析

    我用进口和国产碳硫仪都做过硅铁的样品,碳还行吧,如C%=0.024%,测量效果好的话测量值误差在+—0.01,但仪器必须状态良好硅铁中的硫一直测不好,主要是正确度的问题,我手边的硅铁标样硫含量均在50ppm以下,无法画到一条线上大家测试硅铁有好的方法吗?

  • 【转帖】常用测试仪器设备英文名称

    常用测试仪器设备英文名称目视仪器 visual instrument卷尺 tape measure/tapeline投影机 profile projector卡尺/测径器 caliper游标卡尺 vernier caliper千分尺 micrometer电子测试仪器 electronic measuring instrument量测设备/量具 gauge计量器/计量表 meter测试装置 tester功能测试仪 function tester米尺 meter stick千分卡尺 micrometer calipers块规 block gauge显微镜 microscope金相显微镜 metallography microscope工具显微镜 measuring microscope销规/栓规 height gauge厚度尺 thickness gauge放大镜 magnifier glass立体显微镜 stereomicroscope数字万用表 digital multimeter(DMM)示波器 oscilloscope推拉力计 push-pull gauge可焊性测试仪 solderability checker能谱分析仪 Energy Dispersive X-ray Detector(EDX)测量用示波器 measuring oscilloscope高阻计 high resistance meter粘度计 viscosity meter硬度计 hardness scale出處:http://www.520qa.cn/?fromuid=4301

  • 碳膜上的硅污染

    以前看到有人说样品上总是有硅,没太注意过。昨天拿了个没用过的超薄碳膜放到电镜里,很明显的硅峰。厂家的喷碳设备肯定使用了便宜的含硅真空脂,造成蒸镀腔污染。这种污染很难清除。我贪便宜,用的是国内某著名供货商的自产商品。http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em11.gif

  • 【分享】常用测试仪器设备及医学设备英文名称!

    目视仪器 visual instrument卷尺 tape measure/tapeline投影机 profile projector卡尺/测径器 caliper游标卡尺 vernier caliper千分尺 micrometer电子测试仪器 electronic measuring instrument量测设备/量具 gauge计量器/计量表 meter测试装置 tester功能测试仪 function tester米尺 meter stick千分卡尺 micrometer calipers块规 block gauge显微镜 microscope金相显微镜 metallography microscope工具显微镜 measuring microscope销规/栓规 height gauge厚度尺 thickness gauge放大镜 magnifier glass立体显微镜 stereomicroscope数字万用表 digital multimeter(DMM)示波器 oscilloscope推拉力计 push-pull gauge可焊性测试仪 solderability checker能谱分析仪 Energy Dispersive X-ray Detector(EDX)测量用示波器 measuring oscilloscope高阻计 high resistance meter粘度计 viscosity meter硬度计 hardness scale

  • 做的碳硅材料,求助分析一下红外光谱

    做的碳硅材料,求助分析一下红外光谱

    [color=#444444]求大神分析一下1618的峰以及是否含有Si-C,C-O[/color][color=#444444][img=,690,304]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/07/201907041106210927_145_1827556_3.jpg!w690x304.jpg[/img][/color]

  • ICP-OES 测试硅元素不稳定,

    使用PE550设备进行硅元素测试,结果值与标准值相差很大。 使用HF,HNO3溶样,进样系统耐HF。但每次就是进行测试空白时,硅的每秒计数值不稳定,开始很高,多测几次,又变低了,不像金属元素,总是很稳,从而造成硅元素差异很大。 测试方法要求使用上述溶液,溶液。 该问题应如何解决,求大神帮助,谢谢![img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/02/202302142136215243_8020_5073098_3.png[/img]

  • 【求助】中红外平行光的产生

    专家好,本人现用普通中红外光源(碳硅灯等)做实验,可是实验要求高精度的红外平行光,而一般用凸镜的方法又达不到精度要求,而常见的平行光管又不适合中红外光源。请问各位专家还有其他什么方法或仪器可以得到中红外平行光吗?希望知道的能帮帮我,万分感激。

  • 【原创大赛】高纯硅中超痕量级钛元素分析测试干扰源及其消除方法探讨

    这篇文章,其实大约在去年做Ti的时候就意识到这个问题,只是当时并没有特别在意。后来领导认为Ti的测试数据有问题,而且发了篇文章(参考文献1)给我们看,文章中写到当硅中的Ti含量高于10ppbw的时候,电池片的转换效率将降低50%。然而实际工艺的结果与分析测试的Ti完全不相符——实际的转换效率未有明显变化。那时我意识到可能是哪里出问题了。 后来仔细想想,才想起Si、O、F、H四种元素的组合全面覆盖了Ti的5中稳定核素46、47、48、49、50。 鉴于这个原因,后来也做了一些实验,发现无论怎么改变方法,BEC始终无法降低。最佳的结果也就是测试到待测液中1ppb左右。 有感于此,遂将之前的想法以及在论坛中和大家讨论的结果整理一下,也算作一篇原创吧。 在此感谢版内的timstoicpms、tuxlin、nphfm2009等各位老师的指点。在做样过程中也和安捷伦的AE请教过,很感谢他们不厌其烦地回答我的问题。

  • [求助]高碳钢分析硅的溶样方法

    碳含量1.0左右,铬含量1.5左右的钢材,用钼兰法测试硅时,用硝酸、盐酸+过氧化氢等溶解均会出现不溶的黑色物质(碳??),资料上说应该过滤,但是过滤太麻烦了,请教有没有更简单、效果好的方法请问为什么显色后颜色会不断退色,吸光度会不断降低呢?谢谢

  • 硅的测试

    硅的测试

    用标液配置了十来种元素的混标来测试低合金钢。标液画的工作曲线线性都999.测试已知样品,唯独硅元素测试结果不准结果低。请有用6300测试硅的同仁给予帮助。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667997_2923355_3.jpg

  • 【求购】求多晶硅锭红外探伤仪

    是专门用于多晶硅生产中的硅块硅棒硅片的裂缝、杂质、黑点、阴影、微晶等缺陷探伤的仪器。红外探伤测试仪能够穿透420~480mm深度的硅块。

  • 有机硅TGA的一个怪现象(是碳化吗?)

    有机硅TGA的一个怪现象(是碳化吗?)

    因为我们公司分析的产品是有机硅产品,所以一般做TGA选用的是氮气气氛,这次也不例外。结果烧完发现残渣整个发黑了。因为做过别的测试,知道样品的填料是气相二氧化硅,不应该是黑色的,就怀疑可能是里面的聚合物碳化了。重新测试样品,先氮气加热至850度,再切换成空气,发现残渣是白色的了,可是在切换空气这一段并没有失重,反而有些许增重。因为从现象上来分析,应该是碳化而导致变黑了。而且整个样品都变黑了,应该不会量太小,但空气灼烧却没有任何失重,有点迷惑,希望有高手能帮忙分析下,谢谢。

  • 继电保护测试仪的价格是多少?贵吗?

    继电保护测试仪的价格是多少?贵吗?

    继电保护测试仪是电气设备检测中经常使用的检测仪器。它能准确、快速地检测到每个继电保护装置的一些潜在故障和问题,帮助电力检测工人锁定问题点,使继电保护装置能够正常工作,保护电力需求。继电保护测试仪贵吗?哪些因素影响价格?让我们一起解释一下!  [url=http://www.kvtest.com/jibao/][b]继电保护测试仪[/b][/url][b]的价格是多少?贵吗?[/b]  根据目前的市场情况,继电保护测试仪的价格范围差距很大,一般从几千元到几十万元不等。事实上,这并不难理解。价格取决于产品的性能、质量和品牌。一般来说,对于需求量不高的小企业或公司,他们通常会选择主要的继电保护测试仪设备,这几乎是不够的。自然价格可能只需要几千元或几万元;然而,对于大型企业来说,所需的测试功能越来越精细,因此所需的设备要求可能很高,导致价格很高。[align=center][img=继电保护测试仪产品,484,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312281856064522_1335_6337156_3.jpg!w484x300.jpg[/img][/align]  至于继电保护测试仪的价格从几千到几十万不等,是不是很贵?事实上,与一些电力检测设备相比,这个价格不是很高。  [b]影响继电保护测试仪价格的因素有哪些?[/b]  根据市场调查报告,影响继电保护测试仪价格的主要因素有以下六点:品牌、型号、功能、性能、可靠性和市场需求。  1、设备的品牌和型号:继电保护测试仪的价格因品牌和型号而异。一般来说,知名品牌的设备价格较高,但性能和可靠性也相对较好。  2、设备的功能和性能:设备的功能和性能也是影响价格的关键因素。例如,一些高端继电保护测试仪可能具有更多的测试功能和更高的性能参数,因此价格也会更高。  3、市场需求:市场需求也会影响继电保护测试仪的价格。如果市场需求量大,设备价格可能会相应上涨。相反,如果市场需求量小,设备价格可能会下降。  查看更多关于继电保护测试仪的产品,欢迎来:http://www.kvtest.com/jswz/2200.html

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