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射线扫描电镜

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  • 材料表征仪器之扫描电镜

    材料表征仪器之扫描电镜

    扫描电子显微镜(scanning electron microscope),简称扫描电镜(SEM)。是一种利用电子束扫描样品表面从而获得样品信息的电子显微镜。它能产生样品表面的高分辨率图像,且图像呈三维,扫描电子显微镜能被用来鉴定样品的表面结构。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/09/201309221547_465885_2063536_3.jpg扫描电镜是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的扫描电镜主要有真空系统,电子束系统以及成像系统。1、真空系统  真空系统主要包括真空泵和真空柱两部分。  真空柱是一个密封的柱形容器。  真空泵用来在真空柱内产生真空。有机械泵、油扩散泵以及涡轮分子泵三大类,机械泵加油扩散泵的组合可以满足配置钨枪的扫描电镜的真空要求,但对于装置了场致发射枪或六硼化镧枪的扫描电镜,则需要机械泵加涡轮分子泵的组合。成象系统和电子束系统均内置在真空柱中。真空柱底端即为右图所示的密封室,用于放置样品。之所以要用真空,主要基于以下两点原因:电子束系统中的灯丝在普通大气中会迅速氧化而失效,所以除了在使用扫描电镜时需要用真空以外,平时还需要以纯氮气或惰性气体充满整个真空柱。  为了增大电子的平均自由程,从而使得用于成象的电子更多。2、电子束系统  电子束系统由电子枪和电磁透镜两部分组成,主要用于产生一束能量分布极窄的、电子能量确定的电子束用以扫描成象。  电子枪:用于产生电子,主要有两大类,共三种。一类是利用场致发射效应产生电子,称为场致发射电子枪。这种电子枪极其昂贵,在十万美元以上,且需要小于10-10torr的极高真空。但它具有至少1000小时以上的寿命,且不需要电磁透镜系统。另一类则是利用热发射效应产生电子,有钨枪和六硼化镧枪两种。钨枪寿命在30~100小时之间,价格便宜,但成象不如其他两种明亮,常作为廉价或标准扫描电镜配置。六硼化镧枪寿命介于场致发射电子枪与钨枪之间,为200~1000小时,价格约为钨枪的十倍,图像比钨枪明亮5~10倍,需要略高于钨枪的真空,一般在10-7torr以上;但比钨枪容易产生过度饱和和热激发问题。  电磁透镜:热发射电子需要电磁透镜来成束,所以在用热发射电子枪的扫描电镜上,电磁透镜必不可少。通常会装配两组:  汇聚透镜:顾名思义,汇聚透镜用汇聚电子束,装配在真空柱中,位于电子枪之下。通常不止一个,并有一组汇聚光圈与之相配。但汇聚透镜仅仅用于汇聚电子束,与成象会焦无关。  物镜:物镜为真空柱中最下方的一个电磁透镜,它负责将电子束的焦点汇聚到样品表面。3、成像系统  电子经过一系列电磁透镜成束后,打到样品上与样品相互作用,会产生次级电子、背散射电子、欧革电子以及X射线等一系列信号。所以需要不同的探测器譬如次级电子探测器、X射线能谱分析仪等来区分这些信号以获得所需要的信息。虽然X射线信号不能用于成象,但习惯上,仍然将X射线分析系统划分到成象系统中。  有些探测器造价昂贵,比如Robinsons式背散射电子探测器,这时,可以使用次级电子探测器代替,但需要设定一个偏压电场以筛除次级电子工作原理  下图是扫描电镜的原理示意图。由最上边电子枪发射出来的电子束,经栅极聚焦后,在加速电压作用下,经过二至三个电磁透镜所组成的电子光学系统,电子束会聚成一个细的电子束聚焦在样品表面。在末级透镜上边装有扫描线圈,在它的作用下使电子束在样品表面扫描。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/09/201309221549_465886_2063536_3.jpg  由于高能电子束与样品物质的交互作用,结果产生了各种信息:二次电子、背反射电子、吸收电子、X射线、俄歇电子、阴极发光和透射电子等。这些信号被相应的接收器接收,经放大后送到显像管的栅极上,调制显像管的亮度。由于经过扫描线圈上的电流是与显像管相应的亮度一一对应,也就是说,电子束打到样品上一点时,在显像管荧光屏上就出现一个亮点。扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序,成比例地转换为视频信号,完成一帧图像,从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像性能参数放大倍数  扫描电镜的放大倍数M定义为:在显像管中电子束在荧光屏上最大扫描距离和在镜筒中电子束针在试样上最大扫描距离的比值 M=l/L式中l指荧光屏长度;L是指电子束在试样上扫过的长度。这个比值是通过调节扫描线圈上的电流来改变的。景深  扫描电镜的景深比较大,成像富有立体感,所以它特别适用于粗糙样品表面的观察和分析。分辨率  分辨本领是扫描电镜的主要性能指标之一。在理想情况下,二次电子像分辨率等于电子束斑直径。场深  在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。作用体积  电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。  作用体积的厚度因信号的不同而不同:  欧革电子:0.5~2纳米。  次级电子:5λ,对于导体,λ=1纳米;对于绝缘体,λ=10纳米。  背散射电子:10倍于次级电子。  特征X射线:微米级。  X射线连续谱:略大于特征X射线,也在微米级。

  • 扫描电镜SEM和透射电镜TEM的区别

    一、分析信号1、扫描电镜扫描电子显微镜的制造是依据电子与物质的相互作用。当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时,也可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。原则上讲,利用电子和物质的相互作用,可以获取被测样品本身的各种物理、化学性质的信息,如形貌、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等等。扫描电子显微镜正是根据上述不同信息产生的机理,采用不同的信息检测器,使选择检测得以实现。如对二次电子、背散射电子的采集,可得到有关物质微观形貌的信息;对X射线的采集,可得到物质化学成分的信息。2、透射电镜根据德布罗意(De Broglie,20世纪法国科学家)提出的运动的微观粒子具有波粒二象性的观点,电子束流也具有波动性,而且电子波的波长比可见光要短得多(例如200千伏加速电压下电子波波长为0.00251纳米),显然,如果用电子束作光源制成的显微镜将具有比光学显微镜高得多的分辨能力。更重要的是,由于电子在电场中会受到电场力运动,以及运动的电子在磁场中会受到洛伦兹力的作用而发生偏转,这使得使用科学手段使电子束聚焦和成像成为可能。二、功能 1、扫描电镜1)扫描电镜追求固体物质高分辨的形貌,形态图像(二次电子探测器SEI)-形貌分析(表面几何形态,形状,尺寸) 2)显示化学成分的空间变化,基于化学成分的相鉴定——化学成分像分布,微区化学成分分析1)用x射线能谱仪或波谱(EDS or WDS)采集特征X射线信号,生成与样品形貌相对应的,元素面分布图或者进行定点化学成分定性定量分析,相鉴定。 2)利用背散射电子(BSE)基于平均原子序数(一般和相对密度相关)反差,生成化学成分相的分布图像;3)利用阴极荧光,基于某些痕量元素(如过渡金属元素,稀土元素等)受电子束激发的光强反差,生成的痕量元素分布图像。4)利用样品电流,基于平均原子序数反差,生成的化学成分相的分布图像,该图像与背散射电子图像亮暗相反。5)利用俄歇电子,对样品物质表面1nm表层进行化学元素分布的定性定理分析。3)在半导体器件(IC)研究中的特殊应用:1)利用电子束感生电流EBIC进行成像,可以用来进行集成电路中pn结的定位和损伤研究2)利用样品电流成像,结果可显示电路中金属层的开、短路,因此电阻衬度像经常用来检查金属布线层、多晶连线层、金属到硅的测试图形和薄膜电阻的导电形式。3)利用二次电子电位反差像,反映了样品表面的电位,从它上面可以看出样品表面各处电位的高低及分布情况,特别是对于器件的隐开路或隐短路部位的确定尤为方便。4)利用背散射电子衍射信号对样品物质进行晶体结构(原子在晶体中的排列方式),晶体取向分布分析,基于晶体结构的相鉴定。2、透射电镜 早期的透射电子显微镜功能主要是观察样品形貌,后来发展到可以通过电子衍射原位分析样品的晶体结构。具有能将形貌和晶体结构原位观察的两个功能是其它结构分析仪器(如光镜和X射线衍射仪)所不具备的。透射电子显微镜增加附件后,其功能可以从原来的样品内部组织形貌观察(TEM)、原位的电子衍射分析(Diff),发展到还可以进行原位的成分分析(能谱仪EDS、特征能量损失谱EELS)、表面形貌观察(二次电子像SED、背散射电子像BED)和透射扫描像(STEM)。结合样品台设计成高温台、低温台和拉伸台,透射电子显微镜还可以在加热状态、低温冷却状态和拉伸状态下观察样品动态的组织结构、成分的变化,使得透射电子显微镜的功能进一步的拓宽。透射电子显微镜功能的拓宽意味着一台仪器在不更换样品的情况下可以进行多种分析,尤其是可以针对同一微区位置进行形貌、晶体结构、成分(价态)的全面分析。三、 衬度原理1、扫描电镜1)质厚衬度质厚衬度是非晶体样品衬度的主要来源。样品不同微区存在原子序数和厚度的差异形成的。来源于电子的非相干散射,Z越高,产生散射的比例越大;d增加,将发生更多的散射。不同微区Z和d的差异,使进入物镜光阑并聚焦于像平面的散射电子I有差别,形成像的衬度。Z较高、样品较厚区域在屏上显示为较暗区域。图像上的衬度变化反映了样品相应区域的原子序数和厚度的变化。质厚衬度受物镜光阑孔径和加速V的影响。选择大孔径(较多散射电子参与成像),图像亮度增加,散射与非散射区域间的衬度降低。选择低电压(较多电子散射到光阑孔径外),衬度提高,亮度降低。支持膜法和萃取复型,质厚衬度图像比较直观。 2)衍射衬度衍射衬度是来源于晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异。例如电压一定时,入射束强度是一定的,假为L,衍射束强度为ID。在忽略吸收的情况下,透射束为L-ID。这样如果只让透射束通过物镜光阑成像,那么就会由于样品中各晶面或强衍射或弱衍射或不衍射,导致透射束相应强度的变化,从而在荧光屏上形成衬度。形成衬度的过程中,起决定作用的是晶体对电子束的衍射。2、透射电镜晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究,这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候,观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量,对相衬图像的识别更加复杂。非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,即质量厚度衬度(质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量),也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的,对电子的吸收散射作用强,使电子散射到光栏以外的要多,对应较安的衬度。质量厚度数值小的,对应较亮的衬度。四、对样品要求1、扫描电镜SEM制样对样品的厚度没有特殊要求,可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来,从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察,看到的只有表面加工损伤,一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀,才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况,同时引入部分人为的干扰,对样品中厚度极小的薄层来说,造成的误差更大

  • 《场发射扫描电镜的理论与实践》新书发布

    [font=宋体]到人类对自然的探索永无止境,为了了解和研究自然,人类最初通过肉眼来观察自然中的各种现象。但是人眼的观察能力有限,在正常情况下,人眼可分辨的最小尺寸约为[/font]0.2 mm[font=宋体]。为了把人眼的观察范围拓展到微观领域,就必须借助显微镜,将微观形貌放大,来满足人眼观察的需要。[/font][font=宋体]不管哪种类型的显微镜,其工作原理都相似,一束极细的照明光束[/font]([font=宋体]电子束[/font])[font=宋体]以一定的方式照射到样品上,照明光束[/font]([font=宋体]电子束[/font])[font=宋体]和样品间的相互作用产生带有样品信息的信号,将这些信号收集、放大和成像,形成样品的放大图像,最后被记录介质记录。[/font][font=宋体]扫描电镜以聚焦电子束为照明源,聚焦电子束以周期性方式逐点逐行扫描样品,产生带有样品信息的各种信号,包括背散射电子、二次电子和特征[/font]X[font=宋体]射线。信号接收装置收集、放大和处理这些信号,从而获得微区放大图像和微区元素组分信息。[/font][align=left][font=宋体]如何使用扫描电镜?如何处理电镜获得的微观图像?[/font][/align][align=center][font=宋体][img=,225,304]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/04/202404231030103572_8293_1603833_3.png!w225x304.jpg[/img]《场发射扫描电镜的理论与实践》[/font][/align][align=center][font=宋体]作者:李永良,徐驰,李文雄,张月明 著[/font][/align][align=center][font=宋体]出版社:人民邮电出版社[/font][/align][align=center][font=宋体]出版时间:2024-4[/font][/align][align=center][font=宋体]书号:9787115631954[/font][/align][align=left][font=宋体]内容简介[/font][/align][align=left][font=宋体] [/font][/align][align=left][font=宋体]场发射扫描电镜的出现,标志若扫描电镜进入一个崭新的时代,扫描电镜技术取得了巨大进步。新型电子枪、浸没式物镜、穿镜二次电子探测器、模拟背散射、E×B和电子束减速等新技术的应用,极大地提高了扫描电镜的性能,场发射扫描电镜已经成为各类分析测试实验室必备的仪器。[/font][/align][align=left][font=宋体]本书系统地论述了扫描电镜基础理论、扫描电镜的结构和成像原理,通过实操案例详细地介绍了扫描电镜的调试和参数选择,重点介绍了样品制备及场发射扫描电镜在生物、环境和材料领域中的应用。 本书适合材料、化学、生物、微电子、半导体和环境等领域的科研院所和高校相关专业师生阅读,可为相关行业研究人员和从业者提供有益参考。 [/font][/align][align=left][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left]本书特点[/align][align=left][/align][align=left]1. [font=宋体]理论研究[/font]+[font=宋体]实践操作的强大作者团队[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left][font=宋体]本书作者[/font][font=宋体]李永良在北京师范大学分析测试中心电镜室从事电子显微镜的教学和测试工作30余年,具有丰富的扫描电镜操作和分析经验,能够深入了解初学者、进阶者在不同使用阶段面临的具体问题,同时有多位具有丰富扫描电镜使用和管理经验的从业者共同编著,提供专业的指导和帮助。[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left] [/align][align=left][/align][align=left]2. [font=宋体]从电镜结构到成像原理,帮助读者全面了解场发射扫描电镜[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left][font=宋体]本书系统论述了场发射扫描电镜的理论与实践。在前两个章节分别介绍了扫描电镜基础理论、结构和成像原理。[/font]=[font=宋体],能够帮助刚接触到扫描电镜的实验室新手、行业新入门者建立牢固的基础,应对更多更复杂的实验室使用场景。[/font][/align][align=left][/align][align=left]3. [font=宋体]从参数选择到样品制备再到问题图像处理,从实践角度指导操作[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left]仪器的调试和工作参数对扫描电镜的最终图像影响很大,本书通过实操案例介绍了扫描电镜的调试过程及不同工作参数对图像的影响,总结了包括粉末样品、截面样品等一些常见样品的制备方法,结合具体图像分析了图像散焦、辐照损伤等问题图像处理的办法。[/align][align=left][/align][align=left]4. [font=宋体]具体案例出发,展示扫描电镜在多个领域的具体应用[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left][font=宋体]本书分别选择扫描电镜在植物花粉、纳米材料、[/font]PM?s[font=宋体]颗粒物、建筑材料、沉积膜、磁性粉末和纳米催化剂等方面的应用,列举了大量的实例和图片,希望为帮助多个学科领域的读者正确理解扫描电镜。[/font][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left]推荐读者[/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left] [/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left]本书的读者包括开设相关课程的部分职业学校的学生、生化环材物理等学科的大学生、研究生以及电镜操作人员。 [/align][align=left]扫描电镜已经普及,在国内部分高职院校开设了培训课程,很多大学也开设了扫描电镜的选修课或者培训课程,本书可以作为参考书,也适合于企业、研究所的电镜培训班使用。[/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left]作者简介[/align][align=left][/align][align=left][font=宋体]李永良 北京师范大学分析测试中心副研究员,1988年入职北京师范大学分析测试中心电镜室,从事电子显微镜的教学和测试工作30余年,在国内外期刊上合作发表论文超150篇,其中第一作者论文38篇。 徐驰 北京师范大学核科学与技术学院讲师、硕士生导师,兼任北京师范大学分析测试中心透射电子显微镜主管工程师。中国核学会射线束技术分会理事,主要研究方向为金属材料辐照损伤、极端环境材料腐蚀机理,以及[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相[/color]等离子体氧化技术应用。 李文雄 2005年进入电子显微镜行业,从业以来,努力将碎片化的销售和管理经验进行系统化梳理。中国人民大学商学院硕士,中国人民大学北京校友会副秘书长,中国人民大学西南校友会副会长。 张月明 2017年毕业于钢铁研究总院,师从李卫院士,研究领域为稀土永磁材料。数年来一直致力于电子显微镜的推广工作,对电子显微镜在金属及磁性材料领域的应用有独到见解,现就职于日立科学仪器(北京)有限公司。 [/font][/align][align=left][font=宋体][/font][/align][align=left][font=宋体][img=,690,1190]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/04/202404231038403967_1874_1603833_3.jpg!w690x1190.jpg[/img][/font][/align][align=left][/align][align=left][/align][font=宋体][/font][align=left] [/align]

  • 【原创】扫描电镜系统

    扫描电镜系统(包括X 射线能谱仪)主要用于金属样品的微观形貌观察和微区成分分析,由于其具有分辨率(3nm)高、可从几倍连续放大到数十万倍、景深大、制样简单,可进行微区成分分析等特点,在金属材料领域进行的材料及工艺实验研究中,扫描电镜系统在显微断口观察与分析、显微组织观察与分析、疑难组织鉴别、微区成分分析、缺陷鉴定、相分析和失效分析等方面发挥了其它检测手段无法替代的关键性作用.

  • 【已应助】扫描电镜技术及其应用>

    扫描电镜技术及其应用出版社:厦门大学 作 者:郭素枝 开 本:16开 ISBN:7561525192 页 数:169 出版日期:2006-02-01 第1版 第1次印刷 导 语 本书是作者根据多年来从事扫描电镜技术工作及制样技术的实践经验,并结合扫描电镜技术的最新进展和一些典型的应用实例,以及为研究生讲授《生物电子显微技术》和《仪器分析》课程中“扫描电镜技术及其应用”所用讲义的基础上编写而成的。作者认为,本书的出版可为应用扫描电镜技术研究的科研人员提供具有实用价值的参考资料,也可为各个学科的教学、科研人员参考使用。此外,本书还可作为研究生、本科生的教材。 目 录 第一章 扫描电镜概述第一节 发展背景一、光学显微镜的极限分辨率二、扫描电镜的研制历程第二节 扫描电镜的类型及其展望一、扫描电镜类型介绍二、展望第二章 扫描电镜的用途第一节 在生命学科中的应用一、植物学二、动物学三、医学四、占生物学五、考古学第二节 在其他基础学科中的应用一、材料学二、物理学三、化学第三节 在工业中的应用一、半导体工业二、陶瓷工业三、化学工业四、石油工业五、食品科学第三章 扫描电镜的工作原理和结构第一节 工作原理和主要结构一、工作原理二、主要结构第二节 扫描电镜成像原理和成像过程一、成像原理三、扫描电镜的特点第三节 影响扫描电镜图像形成和图像质量的因素一、影响图像形成的因素二、影响图像细节清晰的因素三、影响图像反差的因素第四章 扫描电镜的使用第一节 扫描电镜的操作一、电镜启动二、样品的安装三、观察条件的选择四、观察图像的操作方法第二节 扫描电镜图像常出现的质量问题一、产生的原因二、损伤三、污染四、放电第五章 扫描电镜微区成分分析技术第一节 概述第二节 X射线波谱分析一、波谱仪的基本原理和分析特点二、波谱仪的结构和工作原理三、检测中常见的问题四、X射线波谱的注释五、分析方法第三节 X射线能谱分析一、能谱仪的基本原理和分析特点二、能谱仪的结构和工作原理三、能谱仪的操作要点四、能谱仪伪峰的识别五、能谱MCS分析模式六、能谱仪和波谱仪的比较第四节 X射线荧光谱分析一、分析原理和分析特点二、在样品室中X射线源的结构三、分析条件的选择第五节 X射线成分分析技术的应用一、在生物学领域中的应用二、在材料科学中的应用三、特殊试样的应用第六节 扫描电镜成分分析技术的发展前景第六章 样品的常规制备方法第一节 对样品处理的要求一、研究样品表面要处理干净二、研究样品必须彻底干燥三、非导体样品的导电处理四、保护样品研究面五、要求标记物要有形态第二节 取样、清洗、固定一、取样二、粗样清洗三、样品固定第三节 脱水一、脱水剂二、脱水的原理与要求三、脱水方法第四节 干燥一、干燥要求二、干燥方法第五节 粘样一、粘样的目的二、粘贴样品的材料三、注意事项第六节 样品的导电处理一、金属镀膜法二、导电染色法第七章 扫描电镜的暗室技术第一节 暗室概况一、暗室设计与设备要求二、暗室的工作内容三、暗室技能四、暗室常用的药品及其性能、作用五、安全灯的选用和控制第二节 底片的冲洗工艺一、D-76和D-72显影液配方二、定影液配方三、显影与定影的原理四、胶卷的冲洗程序五、胶卷冲洗中常出现的问题六、冲洗胶卷时应注意的事项七、底片的保存及注意事项第三节 照片的冲洗工艺一、照片的冲洗程序二、正确曝光是保证照片质量的关键三、影响印放的正确曝光的因素四、影响显影效果的主要因素第四节 底片和照片缺陷的处理技术一、提高底片和照片的反差二、底片减薄三、底片加厚第五节 实验废液处理一、废液的收集二、废液的处理三、废液处理的注意事项第八章 扫描电镜图像计算机处理和储存技术第一节 计算机处理图像一、二次电子图像的计算机处理过程二、二维图像的计算机处理三、计算机进行图像的三维重构四、图像识别技术五、计算机的图像处理语言第二节 计算机储存图像一、计算机储存图像的特点二、全自动图像处理技术第九章 不同试样的制备方法介绍第一节 生物样品制备技术一、孢子的固定二、酵母的固定三、原生动物的固定四、植物组织的特殊固定方法五、单固定快速脱水法六、鱼类细胞单固定半程序微波辐射法七、贴壁培养细胞的单固定氯化金染色法八、血细胞制样方法九、血细胞E花环样品制备十、明胶膜收集游离细胞的制样方法十一、单细胞藻类的制样方法十二、菌落制样方法十三、细菌液体培养物制样方法十四、真菌熏蒸制样方法十五、酵母菌苯乙烯割断扫描电镜观察十六、原生质体的制样方法十七、染色体的制样方法十八、植物花粉粒的制备技术十九、叶表皮制样方法二十、木材立方体扫描样品制备技术二十一、植物材料的冷冻割断制备技术二十二、动物器官的制样技术二十三、线虫扫描电镜样品的制备二十四、池塘底泥中轮虫冬卵的扫描电镜观察二十五、鱼类耳石日轮超微结构的扫描电镜观察二十六、肾结石的扫描电镜观察二十七、扫描电镜连续观察长毛发的方法二十八、针插或乙醇浸泡标本的样品制作二十九、扫描电镜样品的导电法三十、包埋与非包埋切片的样品处理方法三十一、免疫扫描电镜方法第二节 非生物样品制备技术一、块状导电样品制备二、粉末样品制备三、土壤试样的制备四、显示三维物理结构的制样技术五、斜剖金相面技术六、蚀坑技术主要参考文献

  • 【分享】扫描电镜与能谱仪使用技巧培训

    扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧主办单位: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训时间:2007年10月15日-18日培训费用:4000元/人.四天(含培训费、证书费、资料费、正餐费)( 每单位两人以上可有折扣)培训证书: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书课程对象:电镜操作工程师 电子工艺工程师 品质工程师 管理工程师 质检人员培训报名中心:报名电话:020-87236986-212 传真:020-87237185Email:xiongey@ceprei.com 联系人:熊小姐【主讲专家】施明哲, 中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性研究分析中心高级工程师,三十年来主要从事扫描电子显微镜、X射线能量谱仪和波谱仪的操作、应用研究工作。是当前扫描电镜行业广泛知名的专家,在电子光学和真空技术方面有丰富的工作经验,在会议和刊物上发表了十多篇专业水平较高的文章,并参与编写《半导体失效机理及分析》一书。参与的科研工作曾多次获得所一等奖、二等奖;获国家级技术进步二等奖二次,三等奖一次。课时安排:日期时间授课内容10月15日8:30-12:00扫描电镜理论学习14:00-17:0010月16日8:30-12:0014:00-17:00扫描电镜演示与答疑10月17日8:30-12:00能谱仪理论学习14:00-17:0010月18日8:30-12:0014:00-17:00能谱仪演示与答疑课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章、扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理1.3扫描电镜结构1.4扫描电镜的分辨力1.5扫描电镜图像的形成第二章、高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离2.4 使用强磁物镜的方式第三章、扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:电镜图像演示及答疑第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2. 吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨力第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨力3.谱仪分辨力4. 伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定量分析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作及答疑[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=65572]报名表[/url][color=red]【由于该附件或图片违规,已被版主删除】[/color]

  • 【分享】扫描电镜系统

    扫描电镜系统(包括X 射线能谱仪)主要用于金属样品的微观形貌观察和微区成分分析,由于其具有分辨率(3nm)高、可从几倍连续放大到数十万倍、景深大、制样简单,可进行微区成分分析等特点,在金属材料领域进行的材料及工艺实验研究中,扫描电镜系统在显微断口观察与分析、显微组织观察与分析、疑难组织鉴别、微区成分分析、缺陷鉴定、相分析和失效分析等方面发挥了其它检测手段无法替代的关键性作用.

  • 扫描电镜有危害吗?电磁辐射能屏蔽吗?你怎么看?

    作为电磁辐射的危害,人们对手机、微波炉早有认识。谈到扫描电镜的危害大多时间都涉及到检测x-射线却没有检测出来。其实扫描电镜的电磁辐射远远大于手机,而且这种电磁辐射包围了我们的整个身体。凡是非线性元件工作时都会产生电磁辐射。扫描电镜却是由数不清的非线性元件组成。你那一部收音机在电镜室,无论哪个波段只能听到刺耳的干扰声。这个方法也是业余检测微波炉电磁辐射的好方法。我认为我就是电磁辐射的受害者。给大家提个醒注意掌握好工作进度。在飞机上、电梯里一样能打手机,可见电磁辐射基本上不能屏蔽。

  • 【培训】扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧

    http://www.rac.ceprei.com/dongtai_details.asp?category_id=55&news_Id=231扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧 2005-7-1 课程对象电子工艺工程师 品质工程师 管理工程师 质检人员师资介绍:施明哲, 高级工程师,二十多年来主要从事扫描电子显微镜、X射线能量谱仪和波谱仪的操作、应用研究工作。在电子光学和真空技术方面有丰富的工作经验,在会议和刊物上发表了十多篇专业水平较高的文章,并参与编写《半导体失效机理及分析》一书。参与的科研工作曾多次获得所一等奖、二等奖;《VLSI失效分析技术》获国防科学技术二等奖。培训时间:05年9月12日~16日培训地点:电子五所院内培训费用:4000元/人.五天培训证书 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书课时安排:日期 时间 授课内容9月12日 9:00-12:00 扫描电镜理论学习 14:00-17:00 同上9月13日 8:30-12:00 同上 14:00-17:00 同上9月14日 8:30-12:00 扫描电镜演示与答疑 14:00-17:00 能谱仪理论学习9月15日 8:30-12:00 同上 14:00-17:00 同上9月16日 8:30-12:00 同上 14:00-17:00 能谱仪演示与答疑联系人:韩越,李华 电话:020-87236986 传真:020-87237185网址:www.rac.ceprei.com EMAIL: han@ceprei.com培训报名表单位名称 专业领域 参加课程 联系人工作部门/职位联系电话传真Email参加人数 备注 说明:1,请详细填写报名表格,发传真或Email给我们。2,收到您的报名表后,本中心客户代表会致电给您进一步确认培训细则。3,现场以现金或支票方式支付1)费用包括:培训费、资料费、证书费、午餐费2)时间安排 报到:9月12日上午8:00~8:304,食宿自理,需要在广州住宿的客户,我室可以帮忙联系酒店:电子五所招待所:020-87237064 标准双人间:168元/天. 普通三人间:118元/天.课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章:扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理1.3扫描电镜结构1.4扫描电镜的分辨率1.5扫描电镜图像的形成第二章:高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离2.4 使用强磁物镜的方式第三章:扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:计算机图像演示第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2.吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨率第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨率3.谱仪分辨率4.伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定 量 分 析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作

  • 场发射扫描电镜和热发射扫描电镜电子枪性能问题

    场发射扫描电镜和热发射扫描电镜电子枪性能问题

    扫描电镜高质量应用,意味着高分辨高信噪比,在一定扫描电镜时间内,追求小束斑大电流,对于钨灯丝和六硼化X阴极材料的热发射枪扫描电镜,束斑尺寸增加,束斑电流增大,图像信噪比提高,但分辨率降低。束斑尺寸和束斑电流关系如下图LaB6和W,二者呈线性关系,很好理解。但场发射枪扫描电镜,高分辨范围内,在束斑尺寸也就是分辨率变化很小情况下,束斑电流变化两个数量级,接近100倍,这是什么原因呢? 见下图 Feild Emssion Gun 曲线小驰请有操作经验的兄弟姐妹解惑,谢谢!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/03/201703161732_01_3123849_3.jpg

  • 【原创】扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧研讨班

    信息产业部电子第五研究所(中国赛宝实验室)将举办《扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧研讨班》。欢迎大家参加《扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧研讨班》课程对象电镜操作人员 电子元器件失效分析工程师 电子工艺工程师 品质工程师师资介绍:施明哲, 高级工程师,二十多年来主要从事扫描电子显微镜、X射线能量谱仪和波谱仪的操作、应用研究工作。在电子光学和真空技术方面有丰富的工作经验,在会议和刊物上发表了十多篇专业水平较高的文章,并参与编写《半导体失效机理及分析》一书。参与的科研工作曾多次获得所一等奖、二等奖;《VLSI失效分析技术》获国防科学技术二等奖。培训时间:06年9月18日——22日培训地点:电子五所院内培训费用:4000元/人.五天培训证书 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书课时安排:日期时间授课内容9月18日9:00-12:00扫描电镜理论学习14:00-17:009月19日8:30-12:0014:00-17:009月20日8:30-12:00能谱仪理论学习14:00-17:009月21日8:30-12:0014:00-17:009月22日8:30-12:00扫描电镜/能谱仪演示与答疑14:00-17:00扫描电镜/能谱仪实际操作与典型照片讲解联系方式:联系人:韩越,李华 电话:020-87236986 传真:020-87237185网址:www.rac.ceprei.com EMAIL: han@ceprei.com培训报名表单位名称专业领域参加课程联系人工作部门/职位Email联系电话传真参加人数备注说明:1,请详细填写报名表格,发传真或Email给我们。2,收到您的报名表后,本中心客户代表会致电给您进一步确认培训细则。3,现场以现金或支票方式支付1)费用包括:培训费、资料费、证书费、午餐费,食宿自理。2)时间安排 报到:9月18日上午8:00—9:004,需要在五所招待所住宿的客户,可以联系:020-87237064,标准双人间:168元/天。课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章:扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理 1.3扫描电镜结构1.5扫描电镜的分辨率1.6扫描电镜图像的形成第二章:高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离 2.4 使用强磁物镜的方式第三章:扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:计算机图像演示第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2.吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨率第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律 X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨率3.谱仪分辨率4.伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定 量 分 析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析: 第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作

  • 【求助】有关扫描电镜及能谱的标准

    我们准备申请实验室认可项目,扫描电镜及能谱的标准好象很少,有一个GB/T 17359 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量通则,不知道通则可否作为申报项目?另外通则上面涉及了有标样测量,而我们用的能谱是EDAX公司生产的能谱,工程师说主要适合无标样测量,可是无标样测量之后C含量非常不准,给结果带来影响很大,是不是也要建立标样数据库呢?

  • 【原创】中国赛宝实验室~扫描电镜与能谱仪使用技巧培训

    扫描电镜SEM和能谱仪EDAX的使用技巧主办单位: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训时间:2007年10月15日-18日培训费用:4000元/人.四天(含培训费、证书费、资料费、正餐费)( 每单位两人以上可有折扣)培训证书: 中国赛宝实验室可靠性研究分析中心培训证书课程对象:电镜操作工程师 电子工艺工程师 品质工程师 管理工程师 质检人员培训报名中心:报名电话:020-87236986-212 传真:020-87237185Email:xiongey@ceprei.com 联系人:熊小姐【主讲专家】施明哲, 中国赛宝实验室(信产部电子第五研究所)可靠性研究分析中心高级工程师,三十年来主要从事扫描电子显微镜、X射线能量谱仪和波谱仪的操作、应用研究工作。是当前扫描电镜行业广泛知名的专家,在电子光学和真空技术方面有丰富的工作经验,在会议和刊物上发表了十多篇专业水平较高的文章,并参与编写《半导体失效机理及分析》一书。参与的科研工作曾多次获得所一等奖、二等奖;获国家级技术进步二等奖二次,三等奖一次。课时安排:日期时间授课内容10月15日8:30-12:00扫描电镜理论学习14:00-17:0010月16日8:30-12:0014:00-17:00扫描电镜演示与答疑10月17日8:30-12:00能谱仪理论学习14:00-17:0010月18日8:30-12:0014:00-17:00能谱仪演示与答疑课程内容提纲 第一部分:扫描电镜第一章、扫描电镜1.1 慨论1.2扫描电镜原理1.3扫描电镜结构1.4扫描电镜的分辨力1.5扫描电镜图像的形成第二章、高分辨扫描电子显微镜2.1 场发射扫描电子显微镜2.2 SE和BSE之差做为信号的方式2.3 工作距离2.4 使用强磁物镜的方式第三章、扫描电子显微镜的实践3.1 扫描电子显微镜的操作3.2 扫描电子显微镜图像的毛病3.3 扫描电子显微镜的保养3.4 扫描电子显微镜的安装条件3.5 扫描电子显微镜的验收与维护3.6小结第四章:电镜图像演示及答疑第二部分:能谱分析第一章、引 言第二章、EDS系统的工作原理1.系统概述2. 吸收和处理过程3.计数率的考虑4.谱仪的分辨力第三章、X 射线的产生和与物质的相互作用1.萤光产额2.连续辐射的产生3.莫塞莱定律X射线定性分析4.X射线的吸收5.二次发射(萤光)第四章、X射线测量第五章、能量定性分析1.检出限2.探测器的效率3.空间分辨力3.谱仪分辨力4. 伪峰(“artifact”peaks)5.定性分析结果的表示方法第六章、电子显微镜的操作及其参数的选择1.加速电压2.电子源3.孔径光栏选择4.镜筒的合轴5.样品/探测器的几何条件第七章、定量分析1.脉冲计数统计误差2.块状试样的定量分析第八章、能谱的定性和定量分析的方法与步骤1.定性分析概述2.定量分析概述第九章、能谱失真与杂散幅射 1.谱峰的失真2.背底的失真3.杂散辐射第第十章、能谱的验收与维护第三部分:实际操作及答疑

  • 扫描电镜能谱测试常见入门问题浅析

    扫描电镜能谱测试常见入门问题浅析

    [size=16px][b]此为分享引用,所有权归原微信公众号,原文链接:[/b]https://mp.weixin.qq.com/s/fWhR_Woh2nbT0jEdYQoP4A[/size][align=center][size=16px][b]扫描电镜能谱测试常见入门问题浅析[/b][/size][/align][size=16px] 扫描电镜测试中,除了获得样品的微观表面形貌,经常还会使用到配置的能谱对样品进行元素分析。本短文结合理化中心扫描电镜配置的能谱,针对我校课题组测试中几个常见问题,为需要进行能谱分析的同学做个简单的解析。[/size][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]1、能谱(EDS)是什么?[/color][/size][/b][/align][font=&][/font] [size=16px]扫描电镜中配置的能谱全称为能量色散谱仪(Energy Dispersive Spectroscopy,EDS),用于检测元素特征X射线能量。不同的元素其外层电子向内壳层空位跃迁时,释放出的X射线能量不同,即为特征X射线,因此可以根据特征X射线能量进行元素判定。以一张能谱图为例,横坐标为X射线能量,通过峰在横坐标中的数值与元素特征X射线进行匹配来判定为某种元素。纵坐标代表收集到的信号强度,根据信号强度通过算法来计算某元素的相对含量。如Fe存在K[/size][font=Arial, sans-serif][size=13px]α[/size][/font][size=16px]6.3996和L[/size][font=Arial, sans-serif][size=13px]α[/size][/font][size=16px]0.7048为主的两个能量的特征X射线峰。[/size][align=center][size=16px][img=,690,346]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231646292764_7097_1613111_3.jpg!w690x346.jpg[/img][/size][/align][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]2、打个能谱?[/color][/size][/b][/align][size=16px] 经常有同学会说:[/size][size=16px]“我的样品再顺道打个能谱。[/size][size=16px]”其实打个能谱并不是以为的那样的顺道和简单。[/size][size=16px]能[/size][size=16px]谱常用的测试分:[/size][size=16px]点、线和面三种方式,需要根据实际测试[/size][size=16px]的目的要求进行方式选择。[/size][size=16px] 点(Point&ID):某个点位置或者选择的区域内元素的定性/定量分析。[/size][align=center][size=16px][img=,690,243]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231647044451_413_1613111_3.jpg!w690x243.jpg[/img][/size][/align][size=16px] 线(Linescan):通过曲线对两点之间元素相对含量高低变化的线展示。[/size][align=center][size=16px][img=,690,249]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231647187090_7216_1613111_3.jpg!w690x249.jpg[/img][/size][/align][size=16px] 面(Mapping):通过颜色亮度对选择区域内元素相对含量高低对比的面展示。[/size][align=center][img=,690,270]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231647311213_4281_1613111_3.jpg!w690x270.jpg[/img][/align][size=16px]因此“打个能谱”只是能说明需要用能谱这个设备,具体需要分析测试什么还是需要进一步明确的。理化中心扫描电镜配置的为牛津仪器的能谱,其软件Aztec。软件中点、线和面选项显示如下图:[/size][align=center][size=16px][img=,690,456]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231647502564_2247_1613111_3.jpg!w690x456.jpg[/img][/size][/align][align=center][size=16px] [/size][/align][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]3、要测什么元素?[/color][/size][/b][/align][size=16px] 在能谱测试前,一般都需要知道测什么目标元素,为什么要知道需要测什么元素呢?[/size][size=16px]这个主要是由于根据元素特征X射线能量强度来大概判断一下能谱测试条件以及可能需[/size][size=16px]要避免的重峰干扰误导。[/size][size=16px]例如需要测Fe元素,其主特征X射线峰Kα能量为6.3996,因此为激发出Kα线,因此电镜加速电压需高于此值,一般推荐加速电压为特征X射线[/size][size=16px]能量的2-3倍。[/size][size=16px]此外,有些化合物元素特征X射线能量接近,容易引起干扰误导。[/size][size=16px]如代表性的化合物硫化钼,S元素的Kα为2.3075,Mo元素的Lα为2.2932,两者非常接近,容易引起重峰干扰。[/size][size=16px]类似的常见元素Al(1.4866)和Br(Lα1.4805);[/size][size=16px]以及P(Kα2.0134),Zr(Lα2.0424)和Pt(Mα2.0485)。[/size][size=16px]一般能谱的电脑桌上都会有如下图展示不同元素特征X射线能量的鼠标垫,便于进行加速电压和重叠峰的判断。[/size] [align=center][img=,690,343]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231648353646_4888_1613111_3.jpg!w690x343.jpg[/img][/align][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]4、给出的相对含量准吗?[/color][/size][/b][/align][size=16px] 能谱的定量分析基于在特定条件下对收集到一定量的特征X射线信号进行某种算法处理,再与特定条件下标准品校正或者与软件自带的标准库进行校正计算。因此涉及到特定的测试条件、样品的要求、数据处理的算法以及标准校正,且目前针对原子序数在11以下的元素尚未有准确通用的算法,所以能谱的定量分析是相对比较复杂的问题。针对我校以如纳米颗粒、纳米薄膜、有机复合物等等各类科研样品,与能谱进行定量分析对样品的要求和算法存在一定的差异,因此提供的相对含量为参考值。[/size][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]5、纳米颗粒和薄膜进行能谱分析需要注意什么?[/color][/size][/b] [/align][size=16px] 在利用扫描电镜对纳米颗粒和薄膜进行能谱分析时尤其需要注意加速电压的影响。[/size][size=16px]加速电压越高,入射电子的能量能越[/size][size=16px]高,在样品中可穿透和散射的范围越大,伴随着产生的X射线信号范围也越大。[/size][size=16px]如下图模拟,入射电子在1kV加速电压时,在硅中散射范围主要在20nm区域内;[/size][size=16px]在5kV时,散射的主要范围扩大到300nm区域,因此5kV时X射线可产生的范围从入射点扩大到数百纳米。[/size][size=16px][/size][align=center][img=,690,223]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231650040545_4479_1613111_3.jpg!w690x223.jpg[/img][/align][size=16px]因此在对纳米颗粒和薄膜进行能谱分析时,需要考虑入射电子实际影响的区域范围,往往打的是某个点,但是由于样品小或者很薄,入射电子已经穿透样[/size][size=16px]品,载体或者衬底都已经被激发出X射线了。[/size][align=center][b][size=18px][color=#ff9900]6、能谱的分辨率为什么经常没有扫描电镜高?[/color][/size][/b][/align][size=16px] 我校从事纳米材料研究的课题组比较多,也经常用扫描电镜和能谱进行样品表征。[/size][size=16px]对于几十纳米的颗粒往往出现扫描电镜能拍得非常清晰,但为什么能谱却达不到扫描电镜的图片效果?[/size][size=16px]扫描电镜拍的形貌是二次电子成像,二次电子由于能量比较低,一般不超过50eV,主要是在样品表面10nm以内深度发射出来的,因此它能非常有效地显示样品的表面形貌。[/size][size=16px]能谱收集的是X射线,入射电子在样品内散射的范围都可以产生X射线,而X射线穿透能力非常强,因此能谱收集到的X射线来源于整个入射电子散射范围,因此对表面细节的分辨率低于二次电子。[/size][size=16px]其次,在利用扫描电镜对微观纳米材料进行相貌表征时,为获得好的表面细节分辨率,往往会采取尽量低的加速电压低的束流,而在进行能谱分析时,为激发出元素特征X射线以及保证一定的X射线信号强度,往往需要较高的加速电压和较大的束流,两者的增加均会进一步加大入射电子的散射范围,进一步降低能谱对表面细节的分辨率。[/size][align=center][size=12px][img=,690,571]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111231651245778_2996_1613111_3.jpg!w690x571.jpg[/img][/size][/align][size=16px] 对扫描电镜能谱分析感兴趣的同学可以观看曾毅老师在仪器信息网的网络讲堂视频-- X射线能谱技术研究[/size][size=16px]https://www.instrument.com.cn/webinar/video_103719.html,[/size][size=16px]或者参阅《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同编著,华南理工出版社。[/size]

  • 扫描电镜的辐射问题??

    关于扫描电镜的辐射问题,大家是怎么看待的?在学校实验室与设备管理处的网站上看到有关于涉辐人员的体检和申领营养费的相关通知请问,大家做扫描电镜管理工作的前辈们。有没有关注这方面的问题???

  • 招操作扫描电镜以及透射电镜样品制样员

    西安交通大学电信学院国际电介质中心透射电镜实验室是正在建设的世界一流电镜实验室,负责人为“千人计划”学者贾春林教授。实验室所配置的透射电镜有一台FEI Titan G2物镜球差校正电镜,一台JEOL ARM200F聚光镜球差校正电镜,以及一台JEOL2100常规电镜,另外扫描电镜有FEI Helios600i FIB,FEI Quanta250FEG ESEM以及全套的透射电镜,扫描电镜样品制备系统。目前我们希望招两名技术人员一名会制备透射电镜样品,以及可以熟练使用Gatan公司样品制备系统;一名会使用扫描电镜,负责两台电镜的日常维护,使用以及学生的培训。本科学位,并有相关经验者优先考虑。请发送简历至tem@mail.xjtu.edu.cn请注意,目前两个岗位是劳务派遣,合同3年一签。

  • 扫描电镜(SEM)分辨率的四个基本影响要素

    扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。[align=center][b][color=#ff0000]扫描电镜的优点[/color][/b][/align]①有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调;②有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构;③试样制备简单。[align=center][b][color=#ff0000]影响扫描电镜(SEM)的几大要素[/color][/b][/align][b][color=#ff0000]分辨率[/color][/b]影响扫描电镜的分辨本领的主要因素有:A. 入射电子束束斑直径:为扫描电镜分辨本领的极限。一般,热阴极电子枪的最小束斑直径可缩小到6nm,场发射电子枪可使束斑直径小于3nm。B. 入射电子束在样品中的扩展效应:扩散程度取决于入射束电子能量和样品原子序数的高低。入射束能量越高,样品原子序数越小,则电子束作用体积越大,产生信号的区域随电子束的扩散而增大,从而降低了分辨率.C. 成像方式及所用的调制信号:当以二次电子为调制信号时,由于其能量低(小于50 eV),平均自由程短(10~100 nm左右),只有在表层50~100 nm的深度范围内的二次电子才能逸出样品表面, 发生散射次数很有限,基本未向侧向扩展,因此,二次电子像分辨率约等于束斑直径。当以背散射电子为调制信号时,由于背散射电子能量比较高,穿透能力强,可从样品中较深的区域逸出(约为有效作用深度的30%左右)。在此深度范围,入射电子已有了相当宽的侧向扩展,所以背散射电子像分辨率要比二次电子像低,一般在500~2000nm左右。如果以吸收电子、X射线、阴极荧光、束感生电导或电位等作为调制信号的其他操作方式,由于信号来自整个电子束散射区域,所得扫描像的分辨率都比较低,一般在l 000 nm或l0000nm以上不等。[b][color=#ff0000]放大倍数[/color][/b]扫描电镜的放大倍数可表示为M =Ac/As式中,Ac—荧光屏上图像的边长;As—电子束在样品上的扫描振幅。一般地,Ac 是固定的(通常为100 mm),则可通过改变As 来改变放大倍数。目前,大多数商品扫描电镜放大倍数为20~20,000倍,介于光学显微镜和透射电镜之间,即扫描电镜弥补了光学显微镜和透射电镜放大倍数的空挡。[b][color=#ff0000]景 深[/color][/b]景深是指焦点前后的一个距离范围,该范围内所有物点所成的图像符合分辨率要求,可以成清晰的图像;也即,景深是可以被看清的距离范围。扫描电子显微镜的景深比透射电子显微镜大10倍,比光学显微镜大几百倍。由于图像景深大,所得扫描电子像富有立体感。电子束的景深取决于临界分辨本领d0和电子束入射半角αc。其中,临界分辨本领与放大倍数有关,因人眼的分辨本领约为0.2 mm, 放大后,要使人感觉物像清晰,必须使电子束的分辨率高于临界分辨率d0 :电子束的入射角可通过改变光阑尺寸和工作距离来调整,用小尺寸的光阑和大的工作距离可获得小的入射电子角。[b][color=#ff0000]衬 度[/color][/b]包括:表面形貌衬度和原子序数衬度。表面形貌衬度由试样表面的不平整性引起。原子序数衬度指扫描电子束入射试祥时产生的背散射电子、吸收电子、X射线,对微区内原子序数的差异相当敏感。原子序数越大,图像越亮。二次电子受原子序数的影响较小。高分子中各组分之间的平均原子序数差别不大;所以只有—些特殊的高分子多相体系才能利用这种衬度成像。

  • 【分享】扫描电镜和透射电镜的区别

    [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=124993]扫描电镜和透射电镜的区别[/url]分享:扫描电镜和透射电镜的区别

  • 场发射扫描电镜

    请问场发射扫描电镜(FE-SEM)的原理是什么,比钨丝灯的优势在哪儿?

  • 扫描电镜的透射模式

    各位大虾,请问扫描电镜的透射模式(TSEM)不是STEM,是怎么回事,国内哪个单位的扫描电镜能做这个模式,谢谢

  • 请推荐场发射扫描电镜

    用途:SE,SEM拍照,EDS成分分析,另外配阴极发光(CL)拍照发现用普通的扫描电镜照出来的照片不够清晰,所以考虑买台场发射的。请各位大侠推荐一款较好的场发射扫描电镜,同时如果能报一下大概的价位更好了。谢谢!

  • 请教:扫描电镜和透射电镜的知识

    请教:我最近要设计一个失效分析实验室,其中要用到扫描电镜和透射电镜,但我对这两种设备了解甚少,哪位有这方面的照料.比如安装和使用的要求,对工作环境的要求:对供电电压,环境温度有没有特殊要求等,  我是菜鸟!

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