射线工业系统

谁有《JB/T7903工业射线照相底片观片灯》标准，请传一个，万分感谢！急用！

本人一直想把X射线衍射原理和应用好好学习一下，但不知道哪本书更好？希望能有一本从入门到深入，比较系统、全面的那种书。大家帮忙给推荐一下吧？多谢了！

哪位好心人帮帮忙,我急需GB/Z 117－2006 工业X射线探伤放射卫生防护标准[em62]

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=100738]图片教程系统之：单晶X射线光洐射仪[/url]

GBZ 132-2002 工业γ射线探伤卫生防护标准[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=65435]GBZ 132-2002 工业γ射线探伤卫生防护标准[/url]

X射线行李包检查系统卫生防护标准 前言 本标准第3～5章和附录A为强制性的，其余为推荐性的。 根据《中华人民共和国职业病防治法》制定本标准。原标准GB17060-1997与本标准不一致的，以本标准为准。 X射线行李包检查系统是主要在机场、车站、海关等地利用电离辐射对行李包进行安全检查的装置。由于电离辐射对人群的可能危害，在编制本标准时，根据我国设备及其使用情况，参照采用美国联邦行政法规2lCFR1020.40有关内容。 本标准的附录A是规范性附录。 本标准由中华人民共和国卫生部提出并归口。 本标准起草单位:山东省医学科学院放射医学研究所。 本标准主要起草人:侯金鹏、邓大平、朱建国、邱玉会等。 本标准由中华人民共和国卫生部负责解释。X射线行李包检查系统卫生防护标准Radiological protection standard for X-ray luggage inspection systemGBZ127-20021 范围 本标准规定了X射线行李包检查系统(以下简称系统)及其使用的放射卫生防护技术要求和检测检验要求。 本标准适用于检查行李包的柜式X射线系统。 本标准不适用于检查行李包的便携式小型X射线机、大型集装箱安全检查的X射线系统。2 术语和定义 下列术语和定义适用于本标准。2.1 柜式X射线系统 cabinet X-ray system 柜体内安装X射线球管的系统，它用于对进入柜体内部的行李包进行X射线照射检查。在X射线产生时，该系统不仅能屏蔽辐射，并可阻挡人员进入柜体内部。 临时或偶然地配用可携式防护挡板的X射线设备(改装者除外)不视为柜式X射线系统。2.2 外表面 external surface 柜式X射线系统的外部表面，包括高压发生器、门、盖板、闩、控制旋钮和其它永久性安装的刚性器具，以及横跨任何窗口和通道口的平面。2.3 通道口 port 为传送行李包进出柜式X射线系统接受照射或限于行李包体积难于整体进入柜体内部仅进行部分照射而设计的，在X射线发射期间保持在打开状态的系统外表面的开口。2.4 门 door 为常规操作而设计的可移动或可开启的任何屏障，一般不需要工具就可打开并允许由此进入柜体内部。安装在门上的刚性器具也属于门的一部分。2.5 盖板 access panel 为维修或保养目的而设计的可移动或可开启的任何屏障或面板，只有借助工具打开才能进入柜体内部。2.6 接地故障 ground fault 意外的导体对地短路。2.7 窗口 aperture 系统外表面的任何开口，但不包括X射线发射期间仍保持打开的通道口。3 X射线行李包检查系统的放射防护技术要求3.1 系统产生辐射时，距其外表面5m任意一点的空气比释动能率不得超过5μGyh-1。3.2 系统通道口处铅胶帘的单片防护厚度不得小于0.35mm铅当量。3.3 系统的安全联锁3.3.1 系统的每个门最少需两道安全联锁。当门开启时，其中任意一个联锁就可导致高压发生器供电线路自动断开。除门以外，其它部分移动都不会使电流切断。3.3.2 每个盖板至少有一道安全联锁。盖板移开，安全联锁开关启动，系统将无法产生X射线。3.3.3 任一安全联锁引起X射线发生中断后，必须重新使用开启控制器才能产生X射线。3.3.4 系统任一独立部件的失灵不应引起多于一道的安全联锁失灵。3.4 接地故障将不应导致系统产生X射线。3.5 系统顶板上应永久安装通电指示灯和X射线发射指示灯。3.6 系统用钥匙开启控制器应确保在钥匙取下后系统不产生X射线。3.7 应确保系统安全的原始设计不被修改和变更。4 X射线行李包检查系统使用中的放射防护要求4.1 系统工作时，不允许身体的任何部位通过通道口和窗口进入射线束内。4.2 系统使用中遇紧急情况，应该按紧急停止按钮，使系统停止运行。4.3 系统使用中发现该系统的通电指示灯和x射线发射指示灯不能正常工作，应该立即停机修复。4.4 系统的安全联锁和电气性能应定期维修保养和检验，防止事故的发生。4.5 系统通道口处铅胶帘应保持完整，对破损铅帘应及时更换。4.6 系统维修时，应首先切断电源。在恢复安全联锁后，通过强制按钮进行调试。5 X射线行李包检查系统的检测检验要求5.1 对本标准3.1所规定的系统外表面辐射控制值的检测，应在门及盖板全封闭并固定到位，X射线管的电压、电流、射线束方向及散射状况的组合保证处于操作状态的系统外表面X射线辐射达到最大时，在直线距离不超过5cm，横截面不小于10cm2的接受面积上进行平均测量。系统外表面辐射测量点平面示意图见附录A(规范性附录)，要求各点测量结果中的最大值符合本标准3.1的规定。5.2 对系统进行辐射检测时，应使用经过已知能量响应校正的电离空或累积剂量计方法进行测量。5.3 对系统的任一安全联锁装置进行切断检验，应符合本标准3.3的规定。5.4 对系统的供电开关的检测，在切断供电开关时该系统不应有X射线产生。5.5 新设计、新安装的X射线行李包检查系统必须进行防护性能的验收检测。对不合格设备，改造后重新进行检测。5.6 系统辐射安全的常规检测为每年一次。附录A(规范性附录)X射线行李包检查系统外表面辐射测量点平面示意图图A.1旅客通过侧平面示意图图A.2 行李包入口侧平面示意图

1、X射线产生原理　　阴极丝在加热的情况下，会发射出热电子，在射线管的阴极和阳极之间施加高压，热电子在电场中被加速并撞击到阳极靶材料上，辐射出电磁波，产生的光谱为连续谱并存在着短波限(λmin)，相当于电子所有能量都转换成X射线，短波限与阳极材料无关。　　　　连续光谱的强度随热电子加速电压的平方成正比，与电流、阳极元素原子序数Z成正比，转换成X射线的效率与ZV成正比。当管电压超过靶材料激发电势时，连续光谱上会叠加特征光谱，特征光谱的波长与靶材料有关。特征谱线的频率为：　　　　式中：R为里德伯常数(R=109737.3/cm)；Z为原子序数；在Ka谱系中，σ=1，K=3/4。　　　　由于产生的X射线是连续谱，X射线在穿过射线管窗口材料时，低能部分的射线及低能特征射线容易被吸收，能谱的谱线发生变化　　　2、X射线与放射性同位素的比较　　　　2.1X射线测量技术的优点　　　　2.1.1测量精度和分辨率高，统计噪声低　　　　无论射线源采用何种方式，射线的产生都是随机的，并服从统计分布，存在统计涨落，根据射线衰减公式，可以得到：　　　　式中：μ表示被测物质的吸收系数；τ表示探测器的响应时间；Ks表示探测器特征系数；I表示初级X射线的强度；T表示被测材料的厚度。　　　　从式(4)可以知道，厚度的影响与射线的强度I有关。对于同位素放射源其强度不能无限制地增加，射线源强度的增加会造成辐射防护难度的增加，电离辐射危险性增大，另一方面放射源本身存在自吸收效应，射线源强度越大，自吸收效应越大。而根据公式(2)，增加X射线管的高压和阴极丝电流就可快速地增加射线的强度，来达到降低噪声的目的，对于相同的噪声等级，X射线源的响应速度也可以提高。　　　　假设在厚度为0时的噪声值为SN0，则厚度为X时的噪声为：　　　　根据式(5)，可以方便地计算出对于任意厚度时的相对统计噪声，相对统计噪声与半厚度值(射线强度衰减到一半时的厚度值)之间的关系如图4所示，其最小值时的厚度为2.9倍半厚度值。对于使用放射性同位素测量的设备，由于射线的能量是单一的，其最佳测量厚度值是2.8倍半厚度值，是固有的物理特性；对于X射线测量设备通过调整能量，使设备在整个量程内的统计噪声保持在较低的水平。

Proto X射线衍射残余应力分析系统依据的原理是晶体物质晶面间距与入射波长和波峰角衍射之间存在着以下定量关系，即布拉格定律： 2d sinθ = λ。 其中 d 为晶体的晶面间距，λ为入射X射线波长，θ为最大波峰衍射角。当晶体的晶面间距在受应力σ发生变化时，由测角仪测量θ的变化，就可以得到晶面间距变化或应变Δd，继而由物质模量得到物体所受应力。Proto iXRD——便携式残余应力分析系统是世界上最小、最轻和最快的x射线衍射应力分析系统。作为测试残余应力特性领域的先锋，Proto开发了作为该领域内经典的iXRD。 iXRD有着模块化的软件，界面友好、简单，容易操作。内置应用程序，能被连接和同步运行，允许连接四个iXRD同时运行。另外iXRD-COMBO 实验室/便携式综合应力分析系统。既可作为实验室用又可在野外用，使iXRD更具灵活性。iXRD-COMBO联合了实验室系统的便利、安全和iXRD的多种功能。世界上没有其他象iXRD-COMBO的系统。X射线衍射残余应力分析系统可用于测量残余应力、外加应力、静载应力、总应力、残余奥氏体。

希望对大家的学习有所帮助！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=31475]ccdtest单晶X射线衍射仪试验系统.rar[/url]

请问工业管道拍片（可能是X射线）对GCMS有影响吗？拍片时候（在辐射范围）需要关机吗？

http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em0816.gif X射线检测系统点激此处链接X射线实时成像系统:对于批量大、要求检测效率高的零件，是一种非常实用有效的检测手段，它具有动态观察、形态真实、检测效率高的特点，并可采用计算机图像处理装置对射线图像进行处理，使检测灵敏度进一步提高。 主要应用领域，金属铸件，塑料橡胶等。本系列产品对于不同形状和大小，钢、铝、陶瓷、复合材料或橡胶等不同材料的工件均可提供高质量的实时监测内部裂纹、分层等。 用于非金属、轻金属、铸造件、各种合金、压力容器等进行X射线无损检测。主要检测焊接缺陷（裂纹、气孔、夹渣、未溶合、未焊透等）以及腐蚀和装配缺陷。XRAY微焦点工作原理和发展：在伦琴先生发现X-Ray后的不久，他就认识到X-Ray可以用于材料检测。但直到上世纪70年代，X-Ray才开始被用于工业领域。由于当时电子产品的微小化以及对元部件可靠性要求的提高，人们极其关注在微米范围内的材料缺陷分析。如今微米焦点X-Ray检测已经稳定地被应用于无损害材料检测，并且通过不断的技术革新将在更广泛的工业领域中被使用. 　基本原理　在微米焦点X-Ray检测的过程中，扇形的X-Ray穿过待检样品，然后在图像接收器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由以下三点决定：放大率、分辨率及对比度。图像分辨率(清晰度)主要由X射线源的大小决定，微米焦点X-Ray放射管的射线源只有几个微米。图像的几何放大率由X光路的几何性质决定(图1)，在实际应用中可达到1000至2500倍。　具体物体的微小部分在图片上的表现力主要是由该部分的本身属性在X光图上产生的对比度决定。对比度主要由物体内部的不同厚度，及不同材料(如印制线路板上的铜印制导线)，对光线的不同程度吸收而引起的。举例来说，样品A和B拥有相同的厚度，如果A的原子序数较B大，则它对射线的吸收性能较B强。C与B的组成物质相同，若C比B薄，则其对射线的吸收性能比较弱。对比度除与X-ray本征特性有关外，在技术上的局限是由X射线探测器的性质决定的。对图像增强器而言，只有吸收差别达到至2%，才能在X光图中清晰地呈现出来。　 　X射线管当高速带电粒子突然被减速时，X-Ray就产生了。在简单的X射线管中，电子从热阴极中出来，通过一个电场，向阳极加速。在撞到阳极时停止，同时释放出X射线。碰撞区域的大小就是X射线源的大小，它以毫米为单位，在这种情况下我们只能得到很不清晰的画面。通过微焦点X射线管的使用，就能改变这种状况。电子通过阳极上的一个小孔进入磁电子透镜，该透镜中的磁场力使电子束聚焦在阴极靶上一个直径只有几微米的焦点上。通过这种方式X射线源变得很小，在高放大率的情况下能得到分辨率在微米范围内的清晰图像。新研制的纳米射线管通过多个透镜的使用分辨率将达到500nm。　 X射线探测器 传统的X-Ray探测器是一个射线照相胶卷，它拥有良好的空间分辨率(在10μm内)和对比度(0.5%)和可以保存的检测结果等特点。它的缺点是曝光和冲洗都需要好几分钟的时间。针对这种情况，人们在图像增强器上装了拍摄被检测样品动感画面的影像链接，可是仍然只能得到比较粗糙的分辨率。在物体细节显微检测中，可以通过微焦点X光技术消除这个缺点。在足够大的几何放大率的情况下，图像清晰度只同X射线源的大小有关，因此最小的细节也能被清晰地拍摄下来。新研制的数码X射线探测器在理想状态下将两种图像接受方式合为一体：既能提供动态图像,又能拥有完美的对比度。　 　应用领域 如今微米X光技术主要应用于电子工业中的过程控制和缺陷分析。在元件组装中首先是隐藏焊点的检测，如：BGA封装中的气孔，浸润缺陷，焊桥，及其它的性质，如：焊料的多少，焊点的位移等。在半导体工业中，X光系统作为稳定的工具被应用于集成电路封装中内部连接的无损害检测。因此，在高分辨率的基础上可以检测到直径只有25微米的焊接连线上的最小坏点(图2)，及芯片粘接上的气孔在温度降低时晶体的粘合反应等。在多层印制电路板的的制造中，各个板面的排列将被连续地监控。在这里X光系统能精确地测量特别是处于内层位置的结构及焊环宽度，是制造过程优化的基础。此外，如在层间电路金属连通过程中，通过该技术还可以在X光图上清晰地辨认短路及断路，确定它们的位置并作出分析.

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=100743]图片教程系统之：多晶X射线衍射仪[/url]

急需这份资料《工业射线照相影像质量评价》http://scholar.ilib.cn/Abstract.aspx?A=yxjs200301011

X射线是由德国物理学家伦琴在80多年前首先发现的。它曾轰动了世界。开始时没有搞清它的性质，就以代数中的未知数“X”来命名，所以大家称它为X射线。其实它和无线电波、可见光、红外线、紫外线一样，都是一种电磁波，不过它的波长较短，只有可见光波长的几万分之一而已。 X射线的发现，在科学史上是一个划时代的事件，它为我们打开了原子能时代鳆大门。现在工业探伤，地质研究都离不开它，医学上更为重要，不仅用于诊断，还用它来治疗疾病，挽救了大量在死亡线上挣扎的“苦人儿”，对人类作_出了不可磨灭的贡献。但随着X线的发现和使用，同时也招来了前所未有的放射线危害。1902年报道了第一例由于X射线照射引起的皮肤癌，1912年又发现了第一例X射线工作者的白血病，从此就逐步引起了人们对X射线危害的重视，经过医学家和生物学家多年来的观察研究，发现X射线通过人体组织时，使构成组织的细胞损伤和人体内的液体发生电离，导致火体组织和细瓶的结构、功能发生改变或破坏。这种损害作用和x光机的性能、防护条件，接受射线照射量的多少有关。X光机的照射量可通过仪器测定。一般说，剂量小，损害轻，剂量大，损害重，而且剂量在人体内能够累积。剂量学中所用的单位有伦琴(简称伦)、拉德和雷姆等，在不同情况下用不同单位。如测量X光机本身时用伦琴作单位，人或生物吸收的量则用拉德作单位，在防护时常用雷姆作单位。对X射线来说，上述这些单位的数值近似《为便于理解，比如说，100拉德相当于100伦琴或雷姆》。 剂量多少与主要危害 1，如果短时间内全身受到lOO拉德以上剂量照射，就会得急性放射病；当剂量达到600拉德时，就有致命危险。得了急性放射病，金身各系统各器官都会受到损伤，最明显的是血掖制造障碍，血细胞破坏，出血、岖吐、腹泻、发烧，病人抵抗力下降，严重的甚至可能、因大出血或败血症而死亡。 2，如果全身长期受到远远超过每年5雷姆的慢性照射，人就感到疲乏、无力、头昏、头痛，失眠或嗜睡、记忆力减退、消瘦等。详细检查一下，发现血液有改变，尤其是白血球、血小板减少，内分泌、生殖等系统都有不同程度的病变。这可能是患了慢性放射病。其中极少数人，在数年至数十年后，还可能得白血病和其它恶性肿瘤。据美国20-10年代的统计，放射科医生的白血病要比其他医生高若干倍。日本1996～1972年分析发现，放射工作人员的皮肤癌明显增高。 3，射线对生殖系统也有明显的危害，能杀死生殖细胞，或使生殖细胞结构发生改变。据有人认为，男子受到50拉德X线照射，可使精景显著减少，200拉德以上照射，精子就消失，女子受到150拉德以上照射，可引起月经暂停如剂盈继续增大，可引起永久停经。因而上述情况可能引起不育，但对性欲的影响一般较小。另外还可能引起流产和死胎增加，或使他们的后代发生先天性畸形。根据有人观察，人体只要经过一次X线透视，就会使人体内的细胞染色体畸变增加，而染色体是遗传物质的贮存库。当受到100拉德剂量照射时，会使畸变率增加一倍。因此，为了保护人类后代，国际放射防护专门机构提出；具有生育年龄的人，30年内总的照射剂量不要超过5雷姆。

X射线衍射仪简称XRD（ X-ray diffractometer ），特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence )，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=100736]图片教程系统之：X射线分析法[/url]

X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁分析仪的研制成功，钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及，形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面；八十年代后期，采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注，但到了九十年代初期，国产的源激发正比计数管多元素分析仪，以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场，成为以水泥工业为主要对象的中档产品；世纪之交前后，针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪，随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说，目前在水泥制造业，X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择，同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子，从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。 1．X射线荧光分析基本原理 荧光，顾名思义就是在光的照射下发出的光。X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。 从原子物理学的知识我们知道，对每一种化学元素的原子来说，都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，处于激发态，这时，其他的外层电子便会填补这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的，称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量，便可以确定相应元素的存在，而特征X射线的强弱（或者说X射线光子的多少）则代表该元素的含量。 量子力学知识告诉我们，X 射线具有波粒二象性，既可以看作粒子，也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式：E=hc/λ。显然，无论是测定能量，还是波长，都可以实现对相应元素的分析，其效果是完全一样的。 2．X射线荧光分析仪的分类 2.1. 根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类，也就是通常所说的能谱仪和波谱仪，缩写为EDXRF和WDXRF。 通过测定荧光X射线的能量实现对被测样品的分析的方式称之为能量色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为能谱仪，通过测定荧光X射线的波长实现对被测样品分析的方式称之为波长色散X射线荧光分析，相应的仪器称之为X射线荧光光谱仪。 2.2. 根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可分为源激发和管激发两种：用放射性同位素源发出的X射线作为原级X射线的X荧光分析仪称为源激发仪器；用X射线发生器（又称X光管）产生原级X射线的X荧光分析仪称为管激发仪器。 2.3. 就能量色散型仪器而言，根据选用探测器的不同，X射线荧光分析仪可分为半导体探测器和正比计数管两种主要类型。 2.4. 根据分析能力的大小还可分为多元素分析仪器和个别元素分析仪器。这种称呼多用于能量色散型仪器。 2.5. 在波长色散型仪器中，根据可同时分析元素的多少可分为，单道扫描X荧光光谱仪、小型多道X荧光光谱仪和大型X荧光光谱仪。[color=#DC143C]发错版面，已经有人发过－－－熊猫[/color]

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。

随着超生检测又被重视，超声检测渐渐取代射线的主位置，射线检测很快退居二线。请问专家们射线检测能有多久的主作用？以前是100%射线的，因为要节约成本，现在都改为100%手工超声+20%射线。中物检测－专业无损检测系统解决方案服务商

[url=http://baike.baidu.com/image/8b527d278fe8dd10918f9de9][img]http://imgsrc.baidu.com/baike/abpic/item/8b527d278fe8dd10918f9de9.jpg[/img][/url]X射线衍射仪是利用[url=/view/59839.htm]衍射[/url]原理,精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域.　　X射线衍射仪是利用X射线衍射原理研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，广泛应用于各大、专院校，科研院所及厂矿企业。　　基本构造　X射线衍射仪的形式多种多样, 用途各异, 但其基本构成很相似, 图4为X射线衍射仪的基本构造原理图, 主要部件包括4部分。　　（1） 高稳定度X射线源　提供测量所需的X射线, 改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长, 调节阳极电压可控制X射线源的强度。　　（2） 样品及样品位置取向的调整机构系统　样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块。　　（3） 射线检测器　检测衍射强度或同时检测衍射方向, 通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据。　　（4） 衍射图的处理分析系统　现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统, 它们的特点是自动化和智能化。

本视频简单的向大家介绍了什么是X射线成像仪，以及它的主要组成部分即X射线源、高精度样品台、光学物镜耦合的CCD探测器、计算机图形控制系统:同时介绍了X射线成像仪的工作流程、应用范围

放射线是一种对人体有害的物质。从事放射线工作的人，由于长期接触放射线物质所释放的γ射线、β射线、χ射线、α射线等各种射线，若防护措施不力，往往会对身体产生伤害。射线对身体的伤害主要是破坏蛋白质的合成，同时还可造成神经系统、内分泌系统的调节障碍，从而造成机体物质代谢、神经调节和内分泌系统的紊乱，引起头昏头痛、恶心呕吐、白血球下降、贫血等症状。为防止射线对人体的伤害，除要加强必要的预护措施外，在饮食方面也有必要通过合理饮食来增加机体对放射损害的抵抗能力。根据放射线对人体可能造成的伤害，饮食应注意以下几点：

γ 射线是不带电的中性粒子(也即是电磁波), 波长短于0.2埃的电磁波。首先由法国科学家P.V.维拉德发现，是继α、β射线后发现的第三种原子核射线。γ射线是因核能级间的跃迁而产生，原子核衰变和核反应均可产生γ射线 ，其静止质量等于零,也称为光子. 当γ射线和物质相互作用时,同带电粒子与物质的相互作用情况大不相同,γ射线不能使物质直接电离和激发,也没有射程的概念.γ 射线与物质相互作用有3种主要形式, 即光电效应,康普顿效应和电子对效应. 能量较低的γ射线, 在物质中主要产生光电效应 中等能量时,主要产生康普敦效应 而能量较高时, 主要是电子对效应. 3种效应都会产生能使物质的原子电离或激发的次级电子, 而次级电子在物质中的射程不长,所以在考虑对γ射线的屏蔽时,不需要另外采取防护措施. 这就是说, 3种效应产生次数的多少,即是物质吸收γ辐射多少的标志. 理论和实践都证明, 光电效应正比于吸收物质的原子序数Z的4次方,康普顿效应正比于Z/A, 而电子对效应正比于Z 平方.因此屏蔽γ射线时,以采用原子序数高的重物质为最好,例如铅. 通过对γ射线谱的研究可了解核的能级结构。γ射线有很强的穿透力，工业中可用来探伤或流水线的自动控制。γ射线对细胞有杀伤力，医疗上用来治疗肿瘤。 γ射线是一种强电磁波，它的波长比X射线还要短，一般波长＜0．001纳米。在原子核反应中，当原子核发生α、β衰变后，往往衰变到某个激发态，处于激发态的原子核仍是不稳定的，并且会通过释放一系列能量使其跃迁到稳定的状态，而这些能量的释放是通过射线辐射来实现的，这种射线就是γ射线。 γ射线具有极强的穿透本领。人体受到γ射线照射时，γ射线可以进入到人体的内部，并与体内细胞发生电离作用，电离产生的离子能侵蚀复杂的有机分子，如蛋白质、核酸和酶，它们都是构成活细胞组织的主要成份，一旦它们遭到破坏，就会导致人体内的正 常化学过程受到干扰，严重的可以使细胞死亡。 γ射线在物质中的吸收 [flash]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2009814235322_01_0_3.swf[/flash]g射线通过物质时，由于光电效应、康普顿效应和电子对生成而损失能量，并逐渐被物质吸收。物质对g光子阻挡能力用半值厚度(half value layer)表示，半值厚度即使g光子活度减弱一半所需要的物质厚度。半值厚度与入射光子能量和介质密度有关，入射光子能量越低，介质密度越大则半值厚度越小，即物质对射线的阻挡作用越强。故g射线常用密度大的物质进行防护

各位大佬，麻烦请问《环境γ辐射计量率测量技术规范》HJ1157-2021涉及到的监测仪器是什么样的？如何布点测试？与《工业γ射线探伤放射防护标准》GBZ132-2008以及《工业X射线探伤放射防护要求》GBZ117-2015的监测仪器有什么区别？要三个标准都能做的话选什么样的仪器？

X射线波长小于0.01nm的称超硬X射线，在0.01～0.1nm范围内的称硬X射线，0.1～10nm范围内的称软X射线。X射线具有很强的穿透力，医学上常用作透视检查，工业中用来探伤。长期受X射线辐射对人体有伤害。X射线可激发荧光、使气体电离、使感光乳胶感光，故X射线可用电离计、闪烁计数器和感光乳胶片等检测。晶体的点阵结构对X射线可产生显著的衍射作用，X 射线衍射法已成为研究晶体结构、形貌和各种缺陷的重要手段。特点　　X射线的特征是波长非常短，频率很高，其波长约为（20～0.06）×10-8厘米之间。因此X射线必定是由于原子在能量相差悬殊的两个能级之间的跃迁而产生的。所以X射线光谱是原子中最靠内层的电子跃迁时发出来的，而光学光谱则是外层的电子跃迁时发射出来的。X射线在电场磁场中不偏转。这说明X射线是不带电的粒子流，因此能产生干涉、衍射现象。　　X射线谱由连续谱和标识谱两部分组成 ，标识谱重叠在连续谱背景上，连续谱是由于高速电子受靶极阻挡而产生的 轫致辐射 ，其短波极限λ 0 由加速电压V决定：λ 0 = hc /( ev )为普朗克常数， e 为电子电量， c 为真空中的光速。标识谱是由一系列线状谱组成，它们是因靶元素内层电子的跃迁而产生，每种元素各有一套特定的标识谱，反映了原子壳层结构 。同步辐射源可产生高强度的连续谱X射线，现已成为重要的X射线源。　　X射线具有很高的穿透本领，能透过许多对可见光不透明的物质，如墨纸、木料等。这种肉眼看不见的射线可以使很多固体材料发生可见的荧光，使照相底片感光以及空气电离等效应，波长越短的X射线能量越大，叫做硬X射线，波长长的X射线能量较低，称为软X射线。当在真空中，高速运动的电子轰击金属靶时，靶就放出X射线，这就是X射线管的结构原理。　　放出的X射线分为两类：　　（1）如果被靶阻挡的电子的能量，不越过一定限度时，只发射连续光谱的辐射。这种辐射叫做轫致辐射，连续光谱的性质和靶材料无关。　　（2）一种不连续的，它只有几条特殊的线状光谱，这种发射线状光谱的辐射叫做特征辐射，特征光谱和靶材料有关。X射线的危害x射线和其他辐射线，一般对人的伤害分为两种，一是通过能量传递，对人体细胞的DNA进行破坏，称为物理效应，还有一种是，由射线对人体组织内水发生电离，产生自由基，这些自由基再和生物大分子发生作用，导致不可逆损伤，称为生物效应。x射线以生物效应为主。辐射作用于生物体时能造成电离辐射，这种电离作用能造成生物体的细胞、组织、器官等损伤，引起病理反应，称为辐射生物效应。辐射对生物体的作用是一个非常复杂的过程，生物体从吸收辐射能量开始到产生辐射生物效应，要经历许多不同性质的变化，一般认为将经历四个阶段的变化： ①物理变化阶段：持续约10-16秒，细胞被电离； ②物理-化学变化阶段：持续约10-6秒，离子与水分子作用，形成新产物； ③化学变化阶段：持续约几秒，反应产物与细胞分子作用，可能破坏复杂分子；④生物变化阶段：持续时间可以是几十分钟至几十年，上述的化学变化可能破坏细胞或其功能。辐射生物效应可以表现在受照者本身，也可以出现在受照者的后代。表现在受照者本身的称为躯体效应（按照显现的时间早晚又分为近

高稳定度X射线源。样品及样品位置取向的调整机构系统。射线检测器。衍射图的处理分析系统

Vip用户 v2691234 在 X射线衍射仪（XRD）版 被 禁止发帖 1 天，被封原因：广告。系统将会在 2013/3/6 自动解封，如有什么意见，请在投诉建议版投诉，特此通告！！ --------仪器论坛管理员

X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁分析仪的研制成功，钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及，形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面；八十年代后期，采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注，但到了九十年代初期，国产的源激发正比计数管多元素分析仪，以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场，成为以水泥工业为主要对象的中档产品；世纪之交前后，针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪，随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说，目前在水泥制造业，X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择，同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子，从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。

X射线荧光分析作为工业分析技术经历了几十年的发展历程，在水泥制造业已得到广泛应用。我国水泥工业中X射线荧光分析技术的应用和发展，基本上是在近25 年中实现的。上个世纪七十年代末八十年代初，一方面随着大量新型干法水泥生产线的成套引进，大型X荧光光谱仪开始出现在我国水泥工业，另一方面，随着钙铁分析仪的研制成功，钙铁分析仪在水泥生产过程控制中迅速普及，形成了高端产品和低端产品两翼齐飞的局面；八十年代后期，采用管激发、Si(Li)半导体探测器的X射线荧光能谱仪曾一度受到关注，但到了九十年代初期，国产的源激发正比计数管多元素分析仪，以其简单实用的结构和价格低廉的优势迅速进入市场，成为以水泥工业为主要对象的中档产品；世纪之交前后，针对工业分析应用开发的小型多道X荧光光谱仪，随着我国水泥工业结构调整的步伐得以大量应用。可以说，目前在水泥制造业，X射线荧光分析仪的应用是处于百花齐放的时代。这种局面给用户带来了多种选择，同时也形成一些误区。本文试图跳出X荧光分析技术领域学术研究和商业行为的圈子，从水泥制造业应用X荧光分析技术的角度，提出一些避免误区的观点。