缺陷检测设备

钢研纳克钢管视觉表面缺陷自动检测系统：由高速CCD相机系统、同步成像光源系统、存储及图形分析服务器系统、景深自动调节的检测平台系统及软件等组成，可实现二维+三维表面缺陷连续自动检测、分类评级和记录。可以快速且有效检测裂纹、凹坑、折叠、压痕、结疤等各类缺陷，能够适应于复杂的现代钢铁工业生产环境，能够完美替代目视检测，达到无人化生产的水平。 图1 钢管视觉表检系统 图2 CCD高速相机系统1.特点独特二维+三维成像技术：二维+三维集成成像，不仅能准确检测开口缺陷深度，而且深度很浅的细小缺陷也能有效检测。二维、三维结合技术解决了目前三维检测系统只能检出有一定深度缺陷、无法检测表面深度较浅但危害性较大的缺陷的问题。相机景深自动调整技术：能够对不同规格的工件进行自动调整，实现大景深变化背景下的高清成像。卷积神经网络缺陷算法：基于深度学习的表面缺陷检测算法，能够在复杂背景下有效地减少计算时间快速的采集缺陷特征，具有领先的缺陷检出率及分类准确率。2.主要功能在线缺陷实时检测：系统在线检测折叠、凹坑、裂纹等钢管外表面常见自然缺陷缺陷高速识别：快速分析获取缺陷数量、大小、位置（在长度、宽度方向上位置）、类型等信息，显示宽度缺陷模式缺陷分类统计：可按缺陷种类、长度、深度、位置、面积、等进行分类及合格率统计。实时图像拍照：实时过钢图像以及每根钢管记录的图像的“回放”功能，可进行多个终端显示图像回放。机器自学习：系统检出的缺陷和人工核对后，进行对应缺陷的样本训练，形成机器自学习，提高同类缺陷的识别准确率3.检测效果图3 图软件主界面图4 系统分析界面图5 缺陷样本自动标注常见缺陷 划伤 辊印 结疤 裂纹图6 检测到的常见表面缺陷目前该产品已在钢管生产线投入使用，解决了长期困扰客户的表面缺陷实时检测的难题。详情可咨询钢研纳克无损检测，电话： 手机：，E-mail：

明场纳米图形晶圆缺陷检测设备产品介绍TB系列明场纳米图形晶圆缺陷检测设备为全自动宽波段图形晶圆检测系统，可为8寸/12寸晶圆提供高效、高灵敏度的缺陷检测，可广泛应用在前道、后道各工艺层中，满足不同工艺节点缺陷检测需求。产品特点①高灵敏度，可侦测更多类型关键缺陷②高数据通量和高性能数据处理，有效提高WPH③采用先进信号处理算法，显著提高信噪比④支持智能在线缺陷分类功能

【药瓶包装缺陷检测】基本说明　　药瓶包装外观缺陷检测系统主要针对口服液玻璃药瓶、塑料瓶及塑料容器进行快速、可靠的检测，项目有飞边、污渍、缺料、瓶口圆度、杂质物、孔洞、薄壁区域检测等，医药包装的检测方法除人工检测外便是更智能化自动化视觉检测设备，引用机器视觉检测，不仅可以提高药品的检测效率和准确性，更为企业降低了人工成本。药瓶机器视觉缺陷检测在制药过程中主要运用药品的生产、包装、封盒/封口、贴标、喷码、装箱等。　　【药瓶包装缺陷检测】产品功能　　不良处理缺陷检测、异物缺陷检测、瓶体尺寸缺陷检测、瓶液位判断、瓶身轧盖外观检、测贴标缺陷检测　　【药瓶包装缺陷检测】产品特点　　1.操作简单：快速建模，向导设置，直观的用户界面　　2.检测精度高：可针对不同区域设置不同的精度等X　　3.误报率低：检测误报率低　　4.检测速度：X快速度20000pcs/小时(检测不同的产品速度不同)　　5.不良存档：检测到的缺陷及不良图片存档到制定文件夹，可供操作人员针对不良追溯。　　【药瓶包装缺陷检测】适用范围　　药瓶包装外观缺陷检测系统可应用于口服液玻璃瓶体、塑料瓶及塑料容器、饮料瓶等瓶体外观缺陷在线检测。　　【药瓶包装缺陷检测】产品参数　　检测速度：250瓶/分钟--500瓶/分钟(可调)　　检测项目：(玻璃屑、金属屑、纤维、黑点、白点)、液位、轧盖、瓶盖表面印刷等　　电 压：AC3~380V 50HZ　　设备容量：14KW　　工作台高度：980mm　　适用范围：20ml~60ml口服液　　【药瓶包装缺陷检测】企业介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省级重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

高速智能验布系统主要面向纺织行业，采用基于深度学习的人工智能算法，机器视觉技术检测织物表面缺陷。只要是不正常的纹理，均可实现实时在线检出，检出率95%以上。 适用于：各种静色化纤织物，如坯布、被单、衣料、家用织物、工业织物、轮胎、成品布、染后织品、牛仔布等自动检测上。功能： 1、送卷、自动验布和收卷，实现疵点图像实时显示、自动疵点分类、位置记录、发现重大缺陷或连续性缺陷停机和报表统计等功能。 2、可按照需求对布面缺陷进行记录或标记；并能够精准定位疵点位置坐标。 3、对不同种类疵点能够按照客户标准进行评级和评分，从而自动形成整卷布评级结果，例如一等品，合格品，等外品等级。 4、布长度测量，采用分辨率1mm的独立布长度测量装置，用来标记疵点的实际位置和长度。 5、实时在线检测经密、纬密、纬斜量、实际长度、幅宽、速度等参数。特点： 1、检测速度：120m/min。 2、分辨率：径向：0.18mm，纬向：0.15mm。 3、检测幅宽：1.2~2.8m。 4、24小时工作制。 5、环境温度：0℃-40℃。

PULSAR L系列及PULSAR H系列是应用于电子、半导体工业领域的缺陷检测设备如WLP、PLP、晶圆制造前端工艺等，可实现从低分辨率到高分辨率的缺陷检测、分类、定位测量等功能。产品特点自主设计开发，拥有完全自主知识产权定位测量功能及缺陷检测功能高分辨率高数据率和高灵敏度图像处理系统高速并行的图像处理系统多功能可扩展的应用软件 产品参数

EL缺陷检测仪，全称为电致发光缺陷检测仪，是一种利用电致发光原理检测太阳能电池板内部缺陷的设备。它通过向太阳能电池板施加一定的电压，使电池板内部的缺陷区域产生发光现象，进而通过高清相机捕捉这些发光区域，实现对光伏板内部缺陷的精准定位和分析。产品简介：EL缺陷检测仪于光伏太阳能电池板的内部缺陷检测，可更好的帮助用户完成产品质量检测把控生产与安装风险，EL缺陷检测仪搭载2400万级红外相机可有效帮助用户发现光伏板内部直流质量问题，设备配套储能电源与Wi-Fi无线控制模块，现场的检测使用更为便捷快速。 应用场景：EL缺陷检测仪适用于光伏电站组件到货检与安装后支架上组件测试，以及仓库/实验室/工厂的组件质量检测。 可识别缺陷类型：隐裂破片碎片断栅黑心虚焊工艺污染低效率片黑边烧结过刻穿孔 产品特点优势：1、2400万级高清红外相机、EL画质更清晰2、全时自动对焦模块成像精度更高3、无线控制设备检测，快速成像4、程控恒流电源现场检测实现24小时不间断测试5、平板电脑无线检测图传查看无需相机查看检测图像6、储能电源现场检测无需任何准备即可测试7、2米碳纤维三脚架支架上组件多角度测试更便捷8、整机无线远程操作测试，一人即可完成整个项目9、三防拉杆箱携带运输轻便安全应用领域：场景工厂组件、仓库组件、电站现场组件测试、测试白天：户外防红外暗室测试；室内无太阳光环境测试夜晚：直接三脚架测试，灯光月光无影响对象晶硅组件、薄膜组件（可定制）数量单块组件成像检测 规格参数：模块配置规格相机模块像素2416万像素分辨率6000x4000芯片23.5x15.6mm、CMOS传感器红外芯片Lailx9s锗芯片 99.8%红外折射率精度1.0mm/pixel检测速度1～30s可调弱电流测试可在5A弱电流呈现清晰隐裂成像光屏蔽灯光、月光、星光、室内轻微太阳光、100辐照度以下太阳光对测试无影响检测面积4000mm*2000mm镜头18mm广角红外镜头对焦模式全时自动对焦电池980mah内存卡32GB数据线10cm电源模块容量10AH电芯高性能离锂电池输出电流8A电流精度0.1A输出电压70V电压精度0.1V负载功率100W～600W；上限不高于700W检测数量300～500块光伏板控制面板LED数显程控面板功能设置无线遥控上电断电节电模式上电10s后自动断电稳态模块恒定电源输出电流电压不受电量大小变化电路保护短路保护、断路保护、电流倒灌保护、过热保护、静电保护、电流电压自适应匹配光伏板上电线10cm交流三孔输入线直流线5m直流输出线、MC4端口对接组件电脑平板电脑华为平板 32GWi-Fi2.4G内置2.4GWi-Fi无线控制模块软件检测APP无线控制相机检测拍照，图传成像，动态视频取景定位，历史图片查看，图像下载等PC电脑软件检测自动检测，缺陷分类识别保存，文件夹日期管路，统计，增益，截图，相机参数调节，专业管理台式机软件支架系统检测支架1.5米铝合金支架检测云台支架一体式安装，360度旋转定位模块检测定位十字激光定位仪，快速定位支架上后组件位置，可提高数倍检测效率使用环境沙漠，高原，屋顶，丘陵，山坡，厂房，屋顶，雪地，大棚，农光互补，鱼光互补，风光互补，等各种环境质保售后2年质保、24H响应、72H故障解决方案、备品备件协调 配置清单：序号名称规格数量单位1EL相机2400万红外相机，全自动对焦1台2EL红外镜头18mm广角红外镜头；精度0.8mm1台3平板电脑华为荣耀 32G1台4Wi-Fi传输模块内置2.4G Wi-Fi模块1套5数据线/充电器标准1套6相机电池标准2套7检测支架2m碳纤维三脚架1套9检测云台720云台1台10EL-DC移动电源10AH储能，70V，700W，恒流恒压输出，遥控器无线控制，续航300～500块组件，10S自动断电1台11上电线5米1根12检测定位仪十字镭射激光定位，快速定位检测组件位置1套13设备拉杆箱专用三防仪器拉杆箱；1套14EL-APP检测软件无线操作相机检测，即时取景，图传查看，图片下载，历史图片查看1套15windows软件检测自动检测，缺陷分类识别保存，文件夹日期管路，统计，增益，截图，相机参数调节，专业管理台式机软件1套*适用场景光伏电站安装前测试；支架上组件测试*其他标准应用设备，市场主流产品。

仪器简介：应用： ◆ 硅片、化合物、半导体及透明材质产品表面缺陷的检查分析。技术参数：KLA-Tencor Candela CS10表面缺陷检测设备是针对半导体行业的表面缺陷的检查分析仪器。该设备利用激光扫描样品的整个表面，通过4个频道（散射光频道、反射光频道、相移频道及Z频道）的探测器所收集到的信号，快速的将缺陷（包括微粒、划伤、坑点、污染、痕迹等）进行分类，统计每一种缺陷的数量并且量测出相应的缺陷尺寸，最后给出整个表面的缺陷分布图以及检测报告。根据预先设定的标准，可以给出检测样品合格与否的判断。主要特点：◆ 标准夹具从2英寸到8英寸的样品，也可按需订制； ◆ 可用于透明的材料的表面缺陷检测； ◆ 可侦测的缺陷类型：颗粒，划伤，突起，凹坑，水渍等； ◆ 手动（CS10）和自动传输模式（CS20）； ◆ 双激光系统； ◆ 小颗粒的高灵敏度（80nm）； ◆ 强大的自动缺陷分类、统计分布和判别软件。缺陷分布图以及检测报告内的每一个缺陷都有4个频道拍到的照片储存在设备内部，这些照片可以辅助技术人员分析缺陷的成因及进行相关验证。可同时进行粗糙度、平坦度及膜厚均匀度的量测。其缺陷监测功能可以应用到不同的制程； ◆ 颗粒检测-几乎应用于所有制程的监测； ◆ 液体残留-应用于清洗及研磨； ◆ 表面粗糙度、平坦度- 应用于研磨抛光； ◆ 膜厚均匀度-应用镀膜工艺。 ◆ 内部的过滤器可以保证内部的洁净环境为10级，防止内部污染的同时该仪器还能长期保持稳定准确。拥有優秀的售后服务保障体系

现代工业自动化生产中涉及到各种各样的检验、生产监视和零件识别应用，如汽车零配件批量加工的尺寸检查和自动装配的完整性检查、电子装配线的元件自动定位、IC上的字符识别等。通常这种带有高度重复性和智能性的工作是由肉眼来完成的，但在某些特殊情况下，如对微小尺寸的精确快速测量、形状匹配以及颜色辨识等，依靠肉眼根本无法连续稳定地进行，其它物理量传感器也难以胜任。人们开始考虑用CCD照相机抓取图像后送入计算机或专用的图像处理模块，通过数字化处理，根据像素分布和亮度、颜色等信息来进行尺寸、形状、颜色等的判别。这种方法是把计算机处理的快速性、可重复性与肉眼视觉的高度智能化和抽象能力相结合，由此产生了机器视觉测试技术的概念。表面缺陷检测设备系统性能参数：1，能实现对红外截止滤光片的双面检测；2，能自动识别崩边、划伤、灰尘和点子、印子等四种表面缺陷特征；3，具备次品自动分拣功能；4，检测精度达到10μm；5，检测速度达到180片/分钟。东富达科技在线检测设备详情请咨询：

电池缺陷检测仪XG5000广泛应用电池行业检测电池的内部缺陷和实效分析。用户可以通过这款仪器获得高质量、高放大倍率、高分辨率的电池内部图像，对电池内部的正负极以及内部结构进行检测。电池缺陷检测仪XG5000具有标配超高性能90KV 的X射线管，可检测5微米的缺陷，最大几何放大倍率可达到48X.优质的优质的影像品质，高对比度，可检测到微小密度/灰度差异，便携式的操作方式更易于用户的行为。 电池缺陷检测仪XG5000所配备的软件功能 一 【测量功能】 1、直线距离、点线距离、圆直径、同心圆、点与圆心距离等测量 。 【图像浏览功能】2、可以调出原来的图片，进行比对，方便对异常现象的分析。3、选择任意图像，可以选择原先图片的检测设定条件，方便快速分析。 二 【步进功能】 载物台可以依设定好的程序，自动按照程序的功能，在检测量大形状单一的产品时有一定的优势。可以方便控制X光管和相机移动的方向和间隔时间，也可以设置不同检测点的X射线条件（电压，电流）进行不同效果检查。三【自动导航功能】 用鼠标点击导航图像任意一点，X光管和相机自动移动到想要被检测的地方。也可以回看上次保存的各个点位置和被测条件（如电流，电压等），被测图像在屏幕上可视化，操作简单，直观，定位准确.导航图像中有十字光标，便于操作人员识别。电池缺陷检测仪XG5000特色1、配置有免维护的密封管型微焦点X射线管。2、运动装置配备滚珠丝杆，同步轮步进驱动，使运动更加平滑，精度高，噪声小等优点。3、高压电源与光管是一体式的，工作更稳定、可靠。4、光管自动保护功能：无任何操作20min后自动断电进入保护状态。5、机器自动保护功能，任何一扇门开启，设备立刻进入停机保护状态，立刻停止发射X光。6、累计光管适用时间自动计时，角度倾斜及自动导航功能为选项。7、在软件操作界面上的X光&ldquo 开关&rdquo 按钮，可以用颜色来区分&ldquo 开&rdquo &ldquo 关&rdquo 。8、X光管使用时间的统计可以在菜单上显示。9、成像画面随鼠标指示位置移动，当鼠标点击成像画面某点位置时，某点位置移动到成像区域中央。10、鼠标点到之处，鼠标滚轮能实现成像图像的放大、缩小功能。11、软件加刻度或测量标尺。电池缺陷检测仪XG5000技术参数项目型号 XG5000光管X-Ray Tube光管类型/Tube style闭管，电源一体式光管电压/Tube voltage90kV光管电流/Tube current200&mu A（软件限值89&mu A）冷却方式/Cooling mode强制风冷几何放大倍率/Geometricmagnification time12-48 XX光管和图像增强/X-ray tube and intensifierX轴/Axis X16"(400mm)Y轴/Axis Y18"(450mm)X光管/X-ray tube Z轴/Axis Z6"(150mm)增强屏/Image intensifier视场/Field of view range2"/4"解析度/Analyse75/110 lp/cmX-Ray外壳尺寸/Dimension1028X1025X1840mm重量/Weight约760kg电源/Power供电方式/Power supply ACAC250 10A计算机Computer品牌/BrandHP 操作系统/Operation SystemWindows XP显示器/Display22"宽屏液晶显示器主机8200 Elite CMT/New core i3-2100(3.1G/3M/2)/2G(1*2G)DDR3 1333/500G(SATA)/DVD/No FDD//USB Keyboard/USB Optical Mouse/3-3-3/机箱智能电磁锁/Power Assistant辐射安全标准Radiation Safety Standard&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)&le 1uSv/hr(国际安全辐射标准)工作环境Working environment温度Safety Operating Temp.22± 3℃我司生产包括电池缺陷检测仪、离子污染测试仪等方面的仪器都有良好的保修制度。

【金属表面检测系统功能】1.操作便捷操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。2.稳定性高可连续工作在极端温度和厂房环境中。3.高精度检测方案可检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。4.远程数据库可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便 离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。5.定位标识功能每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。6.输入输出报警当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。7.报表统计及打印报表统计及打印EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

正业半导体芯片缺陷自动检测技术 正业科技多年聚焦检测领域，专注X光检测创新技术解决方案，技术成熟，经验丰富，针对这一行业痛点，和国内知名半导体公司已开展合作，开发全新的自动检测解决方案，顶替进口单机设备。 要实现自动检测，对检测的效率及自动识别的能力及算法提出更高的技术要求，经过项目组的努力，目前已经取得突破性进展，半导体芯片缺陷自动检测技术的识别功能及关键检测指标已得到客户的认可，即将推出自动检测设备，未来将为更多的半导体客户解决检测的难题，助力行业发展！ 目前半导体芯片缺陷类型：有线脱焊、塌线、跪线、弧度低、断颈、平颈、多die、弧度高、多余线、重复焊线、无线脱焊、颈部受损、胶水厚、线尾长、球厚/球大/球畸形等。 ▲良品及部分缺陷类型

东富达科技SMART VISION系统可以采用连续检测或者触发检测，应用中采用线扫描的取像方式，使用不同的打光方式把气泡和结石同玻璃本体区别开来，再使用专用的视觉检测软件进行处理，并把检测到的瑕疵的坐标发送给打标设备做标记从而进行分选。机器视觉玻璃瑕疵缺陷检测系统可以检测到的最小的瑕疵为0.01mm，可以自动记录气泡和结石的数量，便于调整工艺；同时具有图像及检测数据自动存储功能，可以存储良品图片或不良品图片，输出检测数据；友好的人机界面，支持自定义的VB,VC界面；可以设定多级用户权限，方便维护。随着行业经济的迅速发展，减少废品的生成，提高质量控制能力，已经成为加工行业面临的一个重要课题。而机器视觉技术不但可以满足生产制造行业在降低人力成本、提高生产效率方面的需求，而且可以满足高科技新兴行业发展方面的需求，不断助力各大行业稳步发展。

【手机辅料缺陷检测】基本说明国辰机器人专注产品外观缺陷检测多年，可针对手机辅料外观尺寸缺陷检测进行非标定制，手机辅料缺陷检测设备可快速针对缺陷瑕疵进行筛选归类。【手机辅料缺陷检测】产品特点　　检测设备主要是用来检测产品的外观尺寸、产品瑕疵、表面缺陷、外观划痕、表面毛刺、污点等。主要针对的是手机辅料外观缺陷检测。【手机辅料缺陷检测】产品性能　　高适用性：该设备可按要求定制，适用于多种手机外观缺陷检测。　　高效率：设备运行速度快、精度高，一台设备可替代多个人工检测，极大提高了产品的检测效率，降低了生产成本，保证了产品质量。　　高检出率：设备使用X创的光学检测方案，能够检测出所有规定的外观缺陷并对其进行分类判定。【手机辅料缺陷检测】适用范围　　手机辅料外观缺陷检测系统需要用到工业机器视觉检测应用系统，包括数字图像处理技术、机械工程技术、控制技术、光源照明技术、光学成像技术、传感器技术、模拟与数字视频技术、计算机软硬件技术、人机接口技术等。　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

正业科技成立于1997年，专业从事精密检测仪器的研发与生产，近年来公司自主、合作研发、生产的产品仪器离子污染测试仪、外观检查机、X光检查机、特性阻抗测试仪，UV激光切割机，UV激光打孔机，X-RAY检测仪，BGA焊点检测仪等40余咱仪器适用于硬/挠性板的测试仪器设备，同时我司仪器也向锂电、SMT行业辐射。我司生产的BGA焊点检测仪主要用于SMT行业检测检测封装好的物品的内部结构，看是否有断痕，气泡，焊点检测，电路的短路等。例如在检测多层基版是否短路，在电容器中是否有气泡，光纤电缆线的铜丝是否断裂，SMT贴片电感检测，SMT贴片电容检测，电池检测中正负极是否对位等问题。X 射线可以穿透基板的表面看到基板的内部电路。BGA焊点检测仪（X-RAY检测仪）是利用X射线的穿透能力对BGA焊点的断路、焊锡点不足，缺陷、气泡，线路连接等问题进行检测。我司生产的BGA焊点检测仪（X-RAY）主要是检测封装好的产品，通过X光透视检测内部结构，我司的X-RAY检测仪是无损检测，如您有产品需要透视内部结构的都可以咨询我司，您也可直接拿样品到我司进行现场检测。

Candela8520表面缺陷检测系统Candela8520第二代集成式光致发光和表面检测系统，设计用于对碳化硅和氮化镓衬底上的外延缺陷进行高级表征。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8520检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。 它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。Candela 8520为氮化镓晶圆提供表面和光致发光的缺陷检测，对氮化镓位错、凹坑和孔洞进行检测和分类，用于氮化镓反应器的缺陷控制。其功率应用包括基于碳化硅的透明晶圆检查和晶体缺陷分类，如基面位错、微管、堆叠层错缺陷、条形堆叠层错缺陷、晶界和位错，以及对三角形、胡萝卜形、滴落物和划痕等形貌缺陷进行检测。功能检测宽带隙材料上的缺陷，包括直径达200毫米的碳化硅和氮化镓（衬底和外延)支持各种晶圆厚度对微粒、划痕、裂纹、沾污、凹坑、凸起、KOH蚀刻、胡萝卜形与表面三角形缺陷、基平面位错、堆叠层错、晶界、位错和其他宏观外延干扰进行检测应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业工艺设备监控其他高端化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

水下电磁探测仪，依托于水下机器人进行水下结构的检测，可检测水下构件内部结构缺陷，脱空情况，钢筋混凝土裸露情况。可以在桥梁日常养护工作中起到非常积极的作用本公司自主研发的Silurian 水下缺陷检测系统，已获得相关发明专利。系统以介电常数差异为物理基础，使用高频电磁波进行非破坏性探测，通过剖面扫描的方式获得水下结构物的扫描图像，该系统不仅可以用于地层岩溶、断层构造探测，还可应用于工程混凝建筑特别是水利水电大坝体裂缝、混凝土内钢结构隐患、隧道衬砌完整性等隐患排查。本系统可对坝体及其它混凝土建筑进行快速动态扫描，z高速度可达3m/s,高效识别毫米级裂缝及内部缺陷，作业效率较常规探测方式有极大提升，完美克服了结构物裂缝监测传统作业的高精度与检测效率的矛盾。是水下混凝土裂缝、缺陷检测的z优解决方案。应用场景：水坝各个位置的混凝土外部及内部缺陷桥梁水下混凝土缺陷满水涵洞内部缺陷系统特点：适合各类复杂水工结构体和各种不同姿态工作可对水工结构体内部破损及缺陷进行分析对隐伏破损具有很好的分辨能力受水环境影响小，灵敏度高

FSD200μ自动宏观缺陷检测系统简介睿励微电子设备(上海)有限公司生产的自动宏观缺陷检测系统（FSD200u），具有快速，准确，可靠和低成本等优点，可用于工艺及产品质量检测，从而提高硅片制造的良率和品质。系统特性FSD200u适用于150mm至200mm硅片，两系统均可用于有图案及无图案硅片(Patterned and Un-patterned Wafers)。可用于硅片进厂(IQC)和出厂的检验(OQC) 、化学机械抛光（CMP）、光刻(Photolithography）、刻蚀（Etch）、薄膜(Thin Film) 、硅穿孔 (TSV) 集成封装等工艺，检测出各个工艺过程里关键的缺陷。可高速扫描硅片的全表面，自动存储硅片全景图像、缺陷分类，和输出缺陷检测结果。大量减低工程判断耗费时间，强化工艺监控 (SPC)，并结合硅片成品管理(Ink-out)。

如何使用影像亮度色度计进行 FPD 自动光学检测在产线上及产线的最终检测中，主要有三种方法可对高速生产过程中的平板显示屏 (FPD) 进行光学检测： 1) 人工检测 —— 轻松处理比较复杂的测试要求。但与电子测试方法相比，它相对缓慢，变化较大2) 基于机器视觉的检测 —— 非常快捷，测试简单。但很多测试不能反映出人的视觉体验3) 基于影像亮度色度计的检测 —— 在速度上介于上述两种方法之间。能够像人那样进行“目测”，而且具有高度的可靠性和可重复性 使用影像亮度色度计系统和相关分析软件，可以评估 FPD 的亮度、色彩均匀度和对比度，并识别 FPD 上的缺陷，这种用途已经被广为接受。影像亮度色度计和机器视觉之间的基本差别在于：影像亮度色度计可以精确地匹配人类视觉感知，包括对光线和色彩均匀度 (以及不均匀性 )的感知。 在本文中，我们将描述如何在全自动测试系统中使用影像亮度色度计，在高速度、大批量的生产环境中识别和量化缺陷。本文内容涵盖测试设置，以及可以执行的测试范围 – 从简单的点缺陷检测到复杂的 Mura检测和评估。测量挑战影像亮度色度计系统是基于 CCD 的影像系统，经过校准之后，它对光线、亮度和色彩的反应与 CIE 模型定义的标准人工观察者相同。可精确地同时测量亮度、色彩及其空间关系。测试时，系统会生成数据，并可随时使用这些数据来确定显示屏均匀性和对比度性能。此外，还可对均匀度差异进行分析，以识别和定位潜在的显示屏缺陷。显示屏测量和分析面临的三大重要挑战是： 1) 识别与人类视觉感知具有高度关联性的缺陷2) 量化缺陷的严重程度3) 快速执行高重复度的分析 缺陷的分析和量化可以作为依据，帮助我们确定导致缺陷的显示屏组件，以及接下来采取的行动 – 例如废弃显示屏或返回进行修理 – 从而提高质量测试的效率，还可以降低成本。与人工视觉检测相比，使用影像亮度色度计的测试更加快捷和灵活，重复度更高，另外它在匹配人类视觉感知方面的精确度高于机器视觉。 影像亮度色度计可以精确地捕获 FPD 上的光线和色彩变化的空间关系，这一优点使得这种测试方法非常适用于评估视觉性能。测量组件和测试通过指定适当的自动测试序列，影像亮度色度计可用于获取广泛、精确的高分辨率数据，以描述特定显示屏的性能。对于典型测试序列，此类测量数据通常可在几秒钟至一分钟之内获取，具体时间取决于显示屏技术和分辨率。使用新的 Mura缺陷分析技术，这些影像可用于确定与物理原因直接相关的各种缺陷之间的细微差异。 要使用影像亮度色度计进行显示屏的自动测量和分析，需要使用组合测量控制和分析软件。我们针对此应用开发的系统整体结构如图 1 所示。该系统的主要组件包括：(1) 科研级影像亮度色度计系统；(2) 基于 PC 的测量控制软件，它不仅控制影像亮度色度计，还控制待测试设备上的测试影像显示；以及 (3) 一套能够运行各种测试的影响分析函数。因此，该系统可针对各种显示屏缺陷 (例如点缺陷、线缺陷和 Mura)提供量化自动检测。 实施的部分测试包括：图 1. FPD AOI 测试设置，影像亮度色度计处在自动软件控制下显示屏缺陷检测应用显示屏缺陷分为很多类型，例如像素缺陷和行缺陷、屏幕制造的物理疵点 (例如脱层 )、屏幕损坏 (例如划痕 )、影像均匀度的疵点 (例如 Mura)。利用对视觉感知的最新研究，我们可以根据人工观察者发现这些缺陷的明显程度 (或者是否明显 )，通过数字方式对这些缺陷进行分类。这个分析过程速度很快，而且重复度很高。它适用于多种显示屏技术，包括液晶、等离子、OLED 和投影显示屏。 在本文中，我们通过分析多个显示屏，演示这些缺陷检测和分类方法。图 2 显示了存在行缺陷的显示屏的光学测量，分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 3 所示。行缺陷是一种比较容易确定根源的缺陷；其起因是液晶屏故障。 图 2.存在可视行缺陷的显示屏屏幕的光学测量。 图 3.行缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的；屏幕上为用户指明了缺陷位置。 图 4 显示了存在点缺陷的显示屏的光学测量；分析软件在显示屏影像上识别和指示这个缺陷，如图 5 所示。如果分析确定该故障的起因是液晶屏像素停滞，则可将点缺陷归类为像素故障。但是，从单个角度直视并不能区分死像素与显示屏玻璃背面微粒之间的差异。在此情况下，需要进行第二道检验以识别故障原因。 图 4.存在点缺陷的显示屏的光学测量 – 您能看到吗？ 图 5.点缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件识别的，并在显示屏屏幕上标记，我们放大了该点，让它更容易看到。Mura的检测和分类可能比较复杂。 Mura通常是亮度和色彩的不均匀性，覆盖较大的不规则区域。如果发现亮度和色彩对比度超过了可感知的阈值，则表示检测出 Mura。但是，由于人工感知这些对比度取决于多个因素，包括视距、空间频率和方向，因此我们无法通过查看对比度的简单绝对值，来识别相关 Mura。 在对显示屏缺陷的人类视觉感知建模方面，我们最近取得了进展，这使我们能够从“最小可觉差”(JND)的角度来量化 Mura。基于人工观察员的采样，我们定义了 JND 标度，如果 JND 差异为 1，则从统计上无法察觉；在绝对标度上，JND 为 0，表示没有可视的空间对比度，JND 绝对值为 1，表示第一个可察觉空间对比度 – 这样就能针对各种显示屏技术对显示缺陷进行分级。因此，我们可以处理亮度和色彩的空间分配的影像亮度色度计测量，以创建影像的 JND 映射，其中 Mura缺陷在与人类视觉感知直接关联的前提下进行了分级。图 6 显示了存在 Mura缺陷的显示屏，经过分析后，我们在显示屏影像上识别了该缺陷，如图 7 所示。 图 6.对存在 Mura缺陷的显示屏进行影像亮度色度计测 量，您能够找到这个缺陷吗？图 7.该 Mura缺陷是由影像亮度色度计 AOI 软件在显示屏上识别的。它的范围与 JND 值一同显示。图 8 和图 9 显示了识别 Mura的步骤。作为中间步骤，它会生成一个差异影像，显示相对于参考影像的亮度偏差。然后计算显示屏的 JND 映射。请注意，图 7 所示的 Mura测试有意忽略了 JND 影像中的明显边缘效应。这些效应可以简单地单独识别和分类。识别 Mura缺陷并不是基于各区域之间的对比度计算的简单数学计算。首先， Mura区域的大小和形状各不相同。其次，人工感知 Mura的能力受到其他一些因素的制约 – 视频、空间频率和色彩。 图 8.差异图片显示了相对于计算参考影像的偏离。Mura的位置突出显示。图 9.显示了显示屏 JND 映射的“伪彩色图像”。显示屏边缘的漏光和明显 Mura缺陷标识为较大的 JND 值。基于影像亮度色度计的 AOI 测试系统可以快速可靠地识别和量化显示屏缺陷。为确定或分类缺陷根源，从而确定显示屏的状态，有时需要人工检测。很多情况下，例如图 3 所示的行缺陷，识别的缺陷及其起因之间存在一对一关系。在这些情况下，我们可以即时对缺陷进行分类，而且无需人工检测。而在其他一些情况下，例如某些 Mura缺陷，缺陷可能有多种原因，因此我们需要更多信息帮助进行分类。执行这种分类的一种高效方法是让人工操作员确定哪种原因是正确的。当需要人工分类时，为了提高效率，TrueTest 会向操作员指示需要进一步检验的缺陷的位置和详细信息。可以在人工判断基础上进行加速，例如专门针对需要分类的缺陷，以及提供适当的细节。 对于图 4 和 图 5 中所示的点缺陷，操作员可以知道暗点的准确位置和相关信息，从而快速确定该缺陷是死像素，还是显示屏玻璃背面的微粒。 总结本文档所述的影像亮度色度计 AOI 测试方法可以应用于多种显示屏技术， FPD(液晶、等离子、OLED)和投影显示屏均可使用。这些方法提供与人工视频感知相关的快速可重复测量，能够通过数字方式标识缺陷特征，因而不仅可以识别显示屏缺陷，还能够按原因对缺陷进行分类。这使我们能够在制造应用中对显示屏进行一致测量，并根据用户定义的标准，自动确定显示屏是否通过测试。更加重要的是，它还可以自动确定修补措施 (例如返工或废弃 )。

太阳能光伏检测设备是一种用于检测太阳能光伏板和光伏电站性能和质量的仪器。其中，EL缺陷检测仪是其中的一种重要类型，它可以通过电致发光（EL）技术来检测光伏板中的缺陷和问题。EL缺陷检测仪利用晶体硅的电致发光原理，通过高分辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像，获取并判定组件的缺陷。这种检测方式具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点，是提升光伏组件品质的关键设备。通过EL缺陷检测仪的检测，可以全面掌握太阳电池内部问题，为改进生产工艺提供依据，提升产品质量。同时，可以对问题组件进行及时返修，尽可能的降低损失。除了EL缺陷检测仪，太阳能光伏检测设备还包括其他多种类型，例如IV曲线测试仪、光功率测试仪、环境模拟测试箱等。这些仪器可以对光伏板和光伏电站的各项性能指标进行全面检测，确保其性能和质量符合相关标准和要求。总之，太阳能光伏检测设备是确保光伏板和光伏电站性能和质量的重要工具，而EL缺陷检测仪则是其中的一种重要类型。通过使用这些仪器，可以有效地提高光伏产品的质量和可靠性，促进光伏产业的发展。

无锡市东富达科技有限公司(DFDMVT)是一家专业从事表面缺陷检测识别技术研究和应用的高科技公司。拥有自主知识产权的“Smart Vision智能检测系统”在金属、薄膜、玻璃、无纺布、光伏、造纸等行业的质检过程运用中起到了提高产品质量，降低人工成本，改善生产工艺等的重大作用，已为多家全球500强企业及上市公司服务，包括神钢集团、新日铁住金、三星显示、理士电池、双星彩塑、开尔新材等。 多年机器视觉检测技术的研究与应用实践，使我们拥有了一支高水平、高学历的研发团队，其中硕士以上学历成员占60%以上。 多年的行业总结，使我们拥有了成熟的光学成像技术、图像处理算法以及定制化的系统解决方案，完全取代了人工检测，并达到标准的产品质量控制。同时，公司自有的光学研发实验室可为不同行业客户提供个性化的系统解决方案。 东富达科技自始至终贯彻“精于质量 专于服务”的企业经营理念，致力于为广大客户提供专业的产品和服务。

HDST-II纱团智能在线检测系统，纱团在传送带上匀速通过，使用光电开关来感知纱团是否到达，触发固定在传送带上、下方的相机，进而获取图像，经过专用电缆传送实时图像到工业级的高速计算机，进行图像的实时处理和分析，检测到缺陷时就及时报警或停车，提示人工处理。 产品特点： 1、一体式操作设备，人机界面，操作简易。 2、专用光源，稳定，可靠，光衰小。 3、高性能、全密封、自然散热的工业计算机，避免现场灰尘、毛丝的影响。 4、检测对象：纱团底部和顶部检测，有粘性膜和热缩膜，有各种不同半径大小的纱团；产品优势： 1、检测缺陷：可以检测现场常见的缺陷，以下是一些检测到的异物图像： 2、对于各种黑色或淡黑色油污、热缩过程产生的烧焦纱团部分以及黄色、红色等彩色异物均可通过本系统检测到。 3、由于生产过程中会有彩色塑料包装的纱团，其会对检测过程产生影响，并且彩色塑料包装的纱团也是不需要检测的，因此我们已经在算法上排除了对彩色塑料包装的纱团的检测。 4、我们采用具有完全自主知识产权的人工智能算法、深度自学习功能的神经网络算法，对于不同大小、塑料膜、光源的衰减或更换新的光源，能够自动调整算法，以优异的性能检测异物和缺陷。 5、发现缺陷时，停车并报警，并自动保存缺陷发生时的时间和图像到数据库，统计疵点和具体时间。同时，剔除机构自动将缺陷纱团分拣到人工确认区域；剔除机构只负责把纱团放置到输送线，（剔除机构根据现场情况由客户制定）技术指标：检测原理图：

电力设备 变电站GIS缺陷X光检测探伤 X射线无损数字成像系统气体绝缘全封闭组合电器（GIS）设备结构复杂，由断路器、隔离开关、接地开关、互感器、避雷器、母线、连接件和出线终端等组成，内部充有SF6绝缘气体，给解体检修工作带来很大的困难，且检修工作技术含量高，耗时长，停电所造成的损失大。通过对GIS设备事故的分析发现，大部分严重事故，未能通过现有的检测手段在缺陷发展初期被发现，导致击穿、烧损等严重事故的发生。&ensp 通过GIS设备局放监测，结合专家数据库和现场经验，可大致判断GIS设备局放类型，进行大致的定位，但无法明确GIS设备内部的具体故障。结合X射线数字成像检测系统，对GIS设备进行多方位透视成像&ensp ，配合专用的图像处理与判读技术，实现其内部结构的“可视化”与质量状态快速诊断，极大地提高GIS设备故障定位与判别的准确性，提高故障诊断效率，为整个设备的运行安全与质量监控提供一种全新的检测手段。对GIS设备局放可能造成的危害及其影响范围和程度，提出相应策略，采取相应的措施，对电网的安全、稳定、经济运行具有重要意义。电力设备 变电站GIS缺陷X光检测探伤 X射线无损数字成像系统 采用X射线数字成像技术，可对GIS设备进行多方位透视成像&ensp ，配合专用的图像处理与判读技术，实现其内部结构的可视化与质量状态快速诊断，显著提高GIS设备故障定位与判别的准确性，提高故障诊断效率。

KLA Candela光学表面缺陷分析仪（OSA）可对半导体及光电子材料进行先进的表面检测。Candela系列既能够检测Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板，又能对SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料进行检测，成为其制程中品质管理及良率改善的有力工具。 Candela系列采用光学表面分析（OSA）专用技术，可同时测量散射强度、形状变化、表面反射率和相位转移，为特征缺陷（DOI）进行自动侦测与分类。OSA检测技术结合散射测量、椭圆偏光、反射测量与光学形状分析等基本原理，以非破环性方式对Wafer表面的残留异物，表面与表面下缺陷，形状变化和薄膜厚度的均匀性进行检测。Candela系列拥有良好的灵敏度，使用于新产品开发和生产管控，是一套极具成本效益的解决方案。 二、 功能 主要功能 1. 缺陷检测与分类 2. 缺陷分析 3. 薄膜厚度测量 4. 表面粗糙度测量 5. 薄膜应力检测 技术特点 1. 单次扫描中结合四种光学检测方法的单机解决方案，可实现高效的自动化缺陷检测与分离； 2. 对LED材料的缺陷进行自动检测，从而增强衬底的质量管控，迅速确定造成缺陷的根本原因并改进MOCVD品质管控能力； 3. 满足多种工业要求，包括高亮度发光二极管（HBLED），高功率射频电子器件，透明玻璃基板等技术； 4. 在多个半导体材料系统中能更灵敏的检测影响产品良率的缺陷。 5. 自动缺陷分类功能(Auto Defect Classification)(Particle, Scratch, Pit, Bump, and Stain Detection) 6. 自动生成缺陷mapping。 技术能力 1. 检测缺陷尺寸0.3μm； 2. 大样品尺寸：8 inch Wafer； 3. 超过30种DOI的缺陷分类。 三、应用案例 1. 透明/非透明材质表面缺陷检测 2. MOCVD外延生长成膜缺陷管控 3. PR膜厚均一性评价 4. Clean制程清洗效果评价 5. Wafer在CMP后表面缺陷分析

【手机玻璃缺陷检测】基本说明　　国辰手机玻璃盖缺陷检测系统采用高像素线阵相机加特殊组合LED光源，获取高清图像后，通过视觉检测系统进行处理，能检测出表划痕、凹坑、丝印不良、杂质、异色等外观缺陷，从而能大幅缩减传统的目检人员。【手机玻璃缺陷检测】工作原理　　1. 手机玻璃盖缺陷检测系统一次可获取多张不同光源，不同角度的盖板影像，可以检测出不同的缺陷。特别对2.5D玻璃的P面、R角的缺陷有X创的解决方案，支持3D手机玻璃盖板缺陷检测　　2. 国辰机器人手机玻璃盖缺陷检测系统算法拥有多项发明专利，不需要手机玻璃盖板的CAD设计图案。具有自适应性，可以根据盖板的不同区域进行自动识别和分类　　3. 手机玻璃盖缺陷检测系统可检出的不良缺陷包括：划痕、牙边、凹坑、丝印不良、杂质、异色等【手机玻璃缺陷检测】适用范围　　手机玻璃盖缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等电子产品检测。【手机玻璃缺陷检测】公司介绍　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

医用纱布表面缺陷检测系统使用人工智能技术，结合工业相机可在材料生产过程中全面检测材料表面质量，正确提供疵点各项参数，可检测断经、断纬、破洞、油污、经纬污、双纬、稀弄、粗节纱、空织、松紧经、圈纬、小散丝、松纬、经起毛、开口不清等瑕疵，统计和分析各类疵点，提供生产统计质检报告，为生产提质增效。医用纱布表面缺陷检测系统适用范围：工业级玻纤布，棉布，纱布等各类纺织面料及薄膜、铝箔等。产品特点1、系统采用原装进口CCD工业相机，实现各种幅宽在线自动检查，实时采集纱布的缺陷信息，拍照、记录、存档 2、系统实时显示品种名称、卷号卷长、幅宽、缺陷数量、周期缺陷数量、产品匀度等信息。并且系统实时跟踪信息，识别缺陷并自动报警 3、系统对检测出的有表面缺陷的产品提供等比例照片、位置信息、长宽度、面积、类型、时间、周期性等一系列相关信息 4、系统对周期性的缺陷提供实时报警，并可准确判断周期性缺陷的来源，方便客户及早定位故障部位 5、系统依据日期时间、卷号存储并统计缺陷数据，生成缺陷报表存档，报表可根据客户需求随时打印 6、系统可与挑片机构通讯链接，将有缺陷的产品剔除7、检测系统界面分工明确，简洁易懂。

三维尺寸及表面缺陷检测仪是一款用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。 可用于测量内/外径，测量线径，测量基本的长度、角度和弧度，毛边缺陷检测，缺口缺陷检测，真圆度检测和圆心距检测。 MatliX是一款简便的用于圆形零件和异形零件的尺寸和表面控制的视觉检测设备。MatliX可以检测产品的表面，控制主要的缺陷，例如：划痕、毛边、缺料、小孔、复膜、真圆度、同心度等。ScrappiX是一款针对圆形及异形件尺寸和表面外观控制的革命性设备。ScrappiX是目前最先进的产品，可以检测工件的所有表面。PhoeniX是我们视觉检测设备中的最新款，可检测圆形和异形件的尺寸和表面外观缺陷。PhoeniX是UTP Vision目前最前沿的产品，通过使用透过玻璃的光学检测手段可控制工件的所有表面外观(可检测工件的最大尺寸为38mm)。

Candela 8420表面缺陷检测系统Candela 8420是一种表面缺陷检测系统，它使用多通道检测和基于规则的缺陷分类，对不透明、半透明和透明晶圆(如砷化镓、磷化铟、钽酸锂、铌酸锂、玻璃、蓝宝石和其他化合物半导体材料)提供微粒和划痕检测。 8420表面缺陷检测系统采用了专有的OSA（光学表面分析仪）架构，可以同时测量散射强度、形貌变化、表面反射率和相位变化，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。只需几分钟即可完成全晶圆检测，并生成高分辨率图像和自动化检测报告，同时附带缺陷分类和晶圆图。产品说明Candela 8420晶圆检测系统可以检测不透明、半透明和透明晶圆（包括玻璃、单面抛光蓝宝石、双面抛光蓝宝石）的表面缺陷和微粒；滑移线；砷化镓和磷化铟的凹坑和凸起；表面haze map；以及钽酸锂、铌酸锂和其他先进材料的缺陷。8420表面检测系统用于化合物半导体工艺控制（晶圆清洁、外延前后）。其先进的多通道设计提供了比单通道技术更高的灵敏度。CS20R配置的光学器件经过优化，可用于检测化合物半导体材料，包括光敏薄膜。功能检测直径达200毫米不透明、半透明和透明化合物半导体材料上的缺陷手动模式支持扫描不规则晶圆支持各种晶圆厚度适用于微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污等宏观缺陷应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洁工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控行业包括垂直腔面发射激光器在内的光子学LED通信（5G、激光雷达、传感器）其他化合物半导体器件选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)CS20R配置用于检测光敏薄膜

Candela 8720表面缺陷检测系统Candela 8720先进的集成式表面和光致发光(PL)缺陷检测系统可以捕获各种关键衬底和外延缺陷。采用统计制程控制(SPC)的方法来进行自动晶圆检测，可显著降低由外延缺陷导致的良率损失，最大限度地减少金属有机化学气相沉积(MOCVD)反应器的工艺偏差，并增加MOCVD反应器的正常运行时间。产品说明Candela 8720晶圆检测系统采用专有的光学技术，可同时测量两个入射角的散射强度。它可以捕捉到形貌变化、表面反射率、相位变化和光致发光，从而对各种关键缺陷进行自动检测与分类。应用包括射频、功率和高亮度LED的氮化镓检测，能够检测裂纹、晶体位错、小丘、微坑、滑移线、凸点和六角凸点以及外延缺陷。8720检测系统还可用于其他高端化合物半导体工艺材料的缺陷检测，例如用于LED、垂直腔面发射激光器和光子学应用的砷化镓和磷化铟。 功能对直径达200毫米的高端化合物半导体材料进行缺陷检测。支持各种晶圆厚度适用于宏观和微观缺陷，如裂纹、多量子阱扰动、微粒、划痕、凹坑、凸起和沾污缺陷 应用案例衬底质量控制衬底供应商对比入厂晶圆质量控制(IQC)出厂晶圆质量控制(OQC)CMP（化学机械抛光工艺）/抛光工艺控制晶圆清洗工艺控制外延工艺控制衬底与外延缺陷关联外延反应器供应商的对比工艺机台监控 行业高亮度LED、微型LED包括AR|VR氮化镓的射频和氮化镓的功率应用通信（5G、激光雷达、传感器）其他高端化合物半导体器件 选项SECS-GEM信号灯塔金刚石划线金刚石划线校准标准离线软件光学字符识别(OCR)光致发光

【笔记本脚垫缺陷检】基本说明　　笔记本脚垫缺陷检测是国辰机器人生产研发的检测产品,可针对检测物品提供产品成份分析报告,协助提升产品性能,研发等一站式服务.一对一客户服务定制检测.节约客户时间.　　【笔记本脚垫缺陷检】产品特点　　1.缺陷识别:可快速识别瑕疵缺陷并异常报警 　　2.统计分析:实时统计检测数据，记录当前生产情况　　3.自动贴标:自动高效检测外观缺陷及反光标签的色差，并做标记　　4.瑕疵检测:检测多种瑕疵，包括过喷，卡断，拉丝，缺墨，暗痕，白点，颗粒，毛屑，三伤，字符不良，缩水等瑕疵　　5.智能管理:能管理系统平台,可同时坚持多台，系统记录瑕疵　　6.检测精度:据客户的检测需求, 针对工件的尺寸大小及检测精度需求可灵活的搭配不同型号的机器和方案　　【笔记本脚垫缺陷检】适用范围　　笔记本脚垫缺陷检测系统可应用于手机外壳、手机玻璃盖、尺寸检测、手机辅料、鼠标外观、笔记本脚垫、键盘瑕疵、键盘平面度、笔记本内部瑕疵等各类3c电子产品检测。　　杭州国辰机器人科技有限公司(浙江智能机器人省X重点企业研究院，简称“浙江智能机器人研究院”)成立于2015年7月，位于杭州钱塘江畔的萧山国家经济技术开发区内，是一家以机器人核心关键技术开发与应用、机器人自动化系统集成、机器人教育以及机器人多元化产业发展，并重点致力于智能服务机器人研发与产品化的企业实体。国辰服务机器人产品可应用于小区,门岗,酒店,景区,讲解,营业厅,厂房,仓库,机房,实验室等多种场景，可提供智能机器人,服务机器人,巡检机器人,喷涂机器人,迎宾机器人,管家机器人,酒店机器人,景区机器人,讲解机器人,仓库机器人,布匹缺陷视觉检测,agv叉车,无人搬运机器人,导游机器人以及营业厅机器人等多种智能服务机器人产品。

Lumina AT1薄膜缺陷检测仪产品特点：实现亚纳米薄膜涂层、纳米颗粒、划痕、凹坑、凸起、应力点和其他缺陷的全表面扫描和成像。实用于透明、硅、化合物半导体和金属基底。在3分钟内扫描并显示150毫米晶圆。可以标刻出缺陷的位置，以便进一步分析。可容纳高达300 x 300 mm的非圆形和易碎基板。能够通过一次扫描分离透明基板上的顶部/底部特征。系统优势的四个检测通道：偏光（污渍、薄膜不均匀性） 坡度（划痕、表面形貌）反射率（内应力、条纹）暗场（颗粒、夹杂物）AT1应用：1.透明基底上的缺陷2.单层污渍或薄膜不均匀性3.化合物半导体的晶体缺陷在化合物半导体基底和外延生长层上检测和分类多种类型的晶体缺陷AT1的多用途：所有缺陷类型薄厚基板透明和不透明基板电介质涂层金属涂层键合硅片开发和在线生产AT1规格参数：AT1 软件使用来自多个探测器任意组合的数据生成缺陷图和报告：地图和位置缺陷数量彩色编码缺陷缺陷尺寸