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全反射荧光仪

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全反射荧光仪相关的资讯

  • 便携式红外衰减全反射光谱仪用于食品分析测试
    合适的食品质量检测方法十分重要,科学家利用众多方法来测试不同的污染物。最近一种红外衰减全反射(IR-ATR)仪器在食品检测领域流行起来,它可以在几乎不需要样品制备的情况下获取倏逝场吸收,同时促进对任何聚集状态中的分析物的无损分析。食品安全控制概念 | 图片来源:© Alexander Raths - stock.adobe.com最近发表在《应用光谱学》杂志上的一项研究介绍了一种便携式的红外衰减全反射(IR-ATR)食品分析设备,可用于分析食品行业中有重要意义的物质。该系统的核心是了解脂质中脂肪酸(FAs)的组成;由于正常的脂质成分是表征鱼类等食品的质量的特征指标,但易受环境因素如水质、捕捞季节和温度的影响,因此跟踪脂肪酸是理解脂质的真实特征以及它们如何影响食物质量的关键。该系统还使用了霉菌毒素和有机溶剂作为代表进行了测试。霉菌毒素是与真菌污染相关的有害次生代谢物,它们的存在可能对人体和家畜的健康产生有害影响,因此检测它们对于食品安全至关重要。至于有机溶剂,食品行业主要将其用于从食品基质中提取成分,但由于传统方法性能优越,导致绿色提取方法不太受欢迎。这两种物质对于食品加工都是必不可少的,这也解释了为什么除了脂肪酸之外,IR-ATR 系统还主要针对它们进行测试。用傅立叶变换红外光谱仪(FT-IR)对便携式IR-ATR设备与传统实验室IR-ATR设备进行了对比测试,以展示前者系统的潜在优势。使用了三种类型的模型系统,每种系统内都含有不同的样品:溶解在水中的N,N-二甲基甲酰胺((CH3)2NCH)(DMF)、溶解于乙醇中的硬脂酸(C17H35CO2H)以及溶解于甲醇中的DON(C15H20O6)。这些分析物作为典型的化合物类别,在中红外(MIR)光谱图中具有特征波段。通过两种系统的比较证实了的两者的多个因素,包括霉菌毒素的检测、FAs的分析以及有机溶剂的定量。值得注意的是,便携型系统的分析性能与标准型系统分析能力一致。然而,在该系统投入大规模使用之前仍需要进一步的工作要做。科学家在研究中指出:“未来研究旨在分析更复杂的系统,包括真正的鱼类样品和各种含有真菌污染物/霉菌毒素的谷类作物提取物,并采用先进的数据分析方法来开发无需标记的快速筛查方法。”
  • 如何精确测定LED灯反射板的反射率?
    前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点,在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛,如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成,光源装有反射板可以有效利用光源的能量,因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率,常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯,拆开发现反射板的四周是弧形表面,为获得准确的反射率,要对中间的平整表面进行测定,如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点,要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题,日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件,确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大,可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值,得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。 想获取更多信息,请拨打电话:400-630-5821。
  • 教你如何测定微小样品的透过率、反射率
    随着机器的小型化趋势,光学部件也在不断微小化,如摄像镜头中的透镜、传感器部件、光盘中的拾音器组件等。因此微小样品的准确测量十分必要。要准确获得这些微小样品的测定,需要缩小入射光束,以使光斑照射到样品上。日立开发了各种微小样品测量附件,为光电领域提高解决方案。1. 微小样品的透过率测量使用日立UH4150选配微小样品透过率测定附件和全积分球,利用φ1 mm 掩光膜即可测定透镜的透射率。图1 小尺寸透镜的外观 图2 两种透镜的透过光谱 微小样品透过率测定附件由聚光透镜、参比光束光阑以及微小样品支架构成,可准确测定微小样品和任意微小零配件的透射率。微小样品支架可搭载最大直径为φ20mm的样品,标配φ3mm的掩光膜,用户也可选配φ1mm的掩光膜等。图3 微小样品透过率测定附件 2. 微小样品镜面反射率的测定手机镜头和车载摄像头中图像传感器的红外截止滤光片尺寸微小,使用UH4150选配微小样品5度绝对反射附件即可测定滤光片的反射率。图4 红外滤光片的镜面反射光谱 可以看到滤光片在可见区的反射率低,在近红外区的反射率较高。微小5 °镜面绝对反射附件由反射附件、聚光透镜、参比光束光阑以及微小样品支架构成。与5 °镜面反射附件(标准)相比,样品位置的光束较小,支持微小样品反射光谱的测定。图5 微小样品反射率测定附件3. 微小样品的全反射率测定使用日立UH4150 搭配微小样品全反射/漫反射测量附件,测量了LED灯反射板的全反射率。图6 LED灯的反射板测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝对值,得到全反射光谱如图所示。图7 LED 灯反射板的全反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。综上案例,使用具有大型样品室的日立紫外可见近红外分光光度计UH4150,容易构建不同样品的光学测量系统,可搭配多种附件,实现低噪音测定微小样品。拨打 4006305821,获取更多信息
  • 100万!华中科技大学全内反射荧光显微镜成像系统采购项目
    项目编号:招案2022-0938(校内编号HW20220083)项目名称:华中科技大学全内反射荧光显微镜成像系统采购项目预算金额:100.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):100.0000000 万元(人民币)采购需求:采购1套全内反射荧光显微镜成像系统(详见招标文件第三部分 采购需求);合同履行期限:签订合同后90日历天内完成供货、安装、调试验收;本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 210万!上海交通大学高速激光全内反射荧光显微镜成像系统采购项目
    项目编号:1069-224Z20224671(项目编号:招设2022A00206)项目名称:上海交通大学高速激光全内反射荧光显微镜成像系统采购项目预算金额:210.0000000 万元(人民币)采购需求:序号货物名称数量简要技术规格交货期1高速激光全内反射荧光显微镜成像系统1套电动聚焦机构:备有粗微调转换旋钮(最小调焦精度:≤10nm),行程10.5mm,物镜离开 / 回复按键和记忆回位按键,最大移动速度:3mm/秒。收到信用证后180天内交货合同履行期限:收到信用证后180天内交货本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 反射高能电子衍射仪
    反射高能电子衍射仪(Reflection High-Energy Electron Diffraction)是观察晶体生长最重要的实时监测工具。它可以通过非常小的掠射角将能量为10~30KeV的单能电子掠射到晶体表面,通过衍射斑点获得薄膜厚度,组分以及晶体生长机制等重要信息。因此反射高能电子衍射仪已成为MBE系统中监测薄膜表面形貌的一种标准化技术。  R-DEC公司生产的反射式高能电子衍射仪,以便于操作者使用的人性化设计,稳定性和耐久性以及拥有高亮度的衍射斑点等特长得到日本国内及海外各研究机构的一致好评和认可。特长 ◆可远程控制调节电压,束流强度,聚焦位置以及光束偏转◆带有安全闭锁装置◆镍铁高导磁合金磁屏蔽罩◆拥有高亮度衍射斑点◆电子枪内表面经特殊处理,能实现极低放气率◆经久耐用,稳定可靠◆符合欧盟RoHS指令   低电流反射高能电子衍射仪(Low Emission Reflection High-Energy Electron Diffraction)是利用微通道板技术,大幅减少对样品损伤的同时,并且保证明亮反射电子衍射图像的新一代低电流反射高能电子衍射仪。可以用于有机薄膜材料等结晶结构的分析研究。特长◆大幅度减少电子束对样品的损伤(相当于普通RHEED的1/500-1/2800)◆带有安全闭锁装置◆搭载高亮度微通道板荧光屏◆可搭载差动抽气系统◆kSA400 RHEED分析系统兼容◆符合欧盟RoHS指令
  • X射线荧光光谱(XRF)应用日益增长
    p  作为一种快速、准无损的分析技术——a href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_self" title=""strongX射线荧光光谱(XRF)/strong/a得到了广泛的应用。为了了解当前XRF的使用范围和新领域的增长潜力,我们请一些专家对于XRF的最重要的应用领域、以及面临的挑战、与其他技术的竞争优势等问题进行了评论。/pp  XRF在地质相关领域的应用不断在增长,“地质学家、地质工程师、实验室技术人员、钻井地质学家、钻井液录入工和地球化学家都使用XRF,”陶氏化学的研究科学家Lora Brehm指出。例如,使用便携XRF系统配合井下采矿和能源勘探,以及化学地层研究是进行核心扫描。“由于电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-OES)和原子吸收光谱(AAS)需要使用酸分解样品,以至于不适于现场分析,但XRF完全可以,特别是小型化的仪器。”/pp  芝加哥洛约拉大学副教授Martina Schmeling也表达了同样的意见,“便携性和现场易用性显然是XRF的发展趋势,”并称XRF在天然气勘探等领域也可以应用,而且该方法具有非常出色的稳定性和易用性。“与质谱(MS)方法相比,XRF有很多优势,其中最主要的一点是不需要载气和其他消耗品,”她说到。“需要重点记住的一件事是,火星上有XRF,而没有ICP-MS。”/pp  华盛顿州立大学的分析化学助理教授Ursula Fittschen,从更广泛的角度看待XRF与其他技术的竞争。他指出,XRF的使用取决于分析物的含量水平和其他因素。“传统XRF仪器最具吸引力的是在耐火材料分析等应用中具有ppm级水平,”但是,她指出,对于ppb级的微量元素分析, ICP-OES是主力,只要样品量不受限制、消解又很简单。对于有限的样本,微观分析工具如全反射XRF或石墨炉原子吸收光谱可能是一个更好的选择。“对于ppt水平的检测,需要ICP-MS,”她补充道。/pp  几个专家都提到了如钢铁行业的质量控制过程中的应用,“钢铁产品的精度非常高,波散XRF是必要的,”京都大学教授Jun Kawai说,“一台有40块晶体的XRF仪器能够同时测量40个元素。”/pp  XRF在工业领域的应用不只是用于质量控制,CTL集团的首席科学家Don Broton指出。“物相鉴定和无标分析的XRF增强了制造工厂迅速评估替代材料和配方的能力,以及不同制造过程的副产品,”他说。“更好地表征这些‘废品’使其能够得到更多的循环使用,会加快带来一个绿色的未来。”/pp  维也纳大学教授Christina Streli表示,“未来,XRF在文物、环境、医学和其他领域的应用价值,将会被越来越多的人看到。”/pp  洛萨拉摩斯国家实验室的George Havrilla同意这一观点,并称,在文物研究领域XRF已经证明了它的价值。“micro XRF对艺术品的快速成像分析将给艺术起源带来新见解,”他说。“这些技术揭示了色素是在不断降解的,使我们明白,我们今天看到的一些艺术品的颜色与当初艺术家画上去时是不一样的。”/pp  Havrilla还指出,光学镊子的最新进展使得用XRF能够检测到单个细胞的“mechanical manipulation”,进而使活体细胞内容物的元素成像成为可能,这可以让我们对生物机制有新的理解。/pp  日本筑波国家材料科学研究所教授、团体领袖Kenji Sakurai,也看到了XRF进行化学状态分析的进展,包括X射线吸收精细结构(XAFS)和X射线近边吸收(XANES) 技术的XRF检测在同步加速器中应用取得的重要成就。“我相信,在科学和许多工程领域XRF化学状态分析将带来新的机遇。”/pp style="text-align: right "编译:刘丰秋/pp  span style="color: rgb(0, 0, 0) "strong更多X射线荧光光谱(XRF)仪器,请见仪器信息网仪器专场:/strong/span/ppspan style="color: rgb(192, 0, 0) "strong  /strong/spana href="http://www.instrument.com.cn/zc/75.html" target="_blank" title="" style="color: rgb(192, 0, 0) text-decoration: underline "span style="color: rgb(192, 0, 0) "strongX荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)/strong/span/a/ppbr//p
  • 程琳教授团队:毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪及其应用研究
    毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪及其应用研究邵金发,侯禹存,程琳*(北京师范大学核科学与技术学院,射线束技术教育部重点实验室 100875)摘要随着科技的发展,人们对物质的分析慢慢深入到微区领域。而微束能量色散X射线荧光作为一种高灵敏、高精度的元素分析技术,已然成为物质微区分析的有利工具。本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合,自行设计研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该谱仪在利用毛细管X光透镜的特点将X射线源发出的X射线束会聚到微米量级的同时,基于激光位移传感器开发了自动调整样品测量点到透镜出口端距离的闭环控制系统,有效的减少由于样品表面不平整或弧度带来的测量误差,弥补了现有微束X射线荧光谱仪在此方面的不足。因此,该微束X射线荧光谱仪为表面不平整文物样品的无损微区元素分析提供了解决方案。1. 引言微束能量色散X射线荧光光谱(Micro-energy dispersive X-ray fluorescence, µ-EDXRF)分析技术因其快速、准确、无损分析等优点,被广泛应用在考古、地质、环境、材料、生物等科学领域[1-8]。目前,基于实验室光源以获得微束入射X射线的方法主要有准直器限束和X射线光学器件聚焦两种。通过准直器限束获得微束入射X射线是最早在微束X射线荧光谱仪中使用的方法,具体为采用准直狭缝或小孔作为光阑放置在入射光路上,用以减小入射X射线的发散度。但与此同时,入射光束的强度会因为物理阻挡而降低,从而导致获得的特征X射线信息减弱。而多毛细管X光透镜利用X射线全反射原理,可将在空心毛细管内表面上的多次全反射的X射线会聚于焦点。因此可以实现以较大的角度收集从X射线源产生的X射线,且会聚后X射线的束斑大小可低至几十微米。同时,毛细管X光透镜对Cu-Kα的能量有高达2-3个数量级的放大倍数[9],且具有低的发散度。同时,可以将基于毛细管聚焦的微束能量色散X射线荧光分析技术与大面积扫描相结合,实现微米级表面结构和元素分布的分析测定。目前国内外存在部分商业化的微束X射线荧光谱仪,其中美国EDAX公司生产的Orbis系列微束X射线荧光谱仪,适用于部分地质和考古样品测试的[10];德国Bruker公司生产的M4 Tornado可移动式微束X射线荧光谱仪,适用于实验室或博物馆内各类样品的研究[11]。但由于部分文物样品表面并不平整或存在较大的弧度,若不对相对位置进行修正,这将使得样品测量点与毛细管X光透镜出口端的距离在测量过程中发生改变,从而影响测量结果的准确性和元素区域扫描的分辨率[12]。为解决上述问题,本实验室自行设计和开发一种新型的微束X射线荧光谱仪以及相应的计算机控制程序,并且开展了相关分析方法学的研究。2. 仪器组成本实验室设计的毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪结构示意图如图1所示,其主要由微焦斑X射线管(Mo靶,焦斑大小50μm×50μm,德国Röntgen公司)、毛细管X光透镜(Mo-Kα能量处束斑大小为31µm)、SDD X射线探测器(5.9keV时能量分辨率为145eV,铍窗有效面积25mm2)和PX5多道分析器、精度为20µm的激光位移传感器、激光笔、具有20倍放大功能的1400万像素固定焦距CCD摄像头、高精度XYZ三维样品台,以及在LabVIEW语言环境下开发的仪器控制程序等部分组成。仪器控制软件主要包括探测系统控制界面、X射线源高压控制界面、机械运动系统控制界面、CCD图像采集控制界面和氦气控制界面构成。其中主界面包含了各个控制功能系统的一些主要控制命令及输出,如图2所示。谱图显示区域在探测过程中实时显示X射线探测器探测到的谱图。此外,该仪器使用的高精度自动化三维运动平台可以满足微区的二维μ-EDXRFF分析的需求,以便实现对感兴趣区域内元素分布的分析。图1 微束X射线荧光谱仪的结构示意图图2 微束X射线荧光谱仪控制程序主界面3. 实验分析3.1 清代红绿彩瓷的分析为了评估本仪器对样品微区进行元素二维扫描分析的能力,选取一片清代红绿彩瓷的残片作为研究对象(图3)。选取图3中A(白釉)、B(红彩)、C(绿彩)进行微区的元素组成分析。实验测量时,X射线管电压40 kV,电流0.6 mA,探测活时间300 s。样品A(白釉)、B(红彩)、C(绿彩)三点的微束X射线荧光分析的能谱如图4所示,彩料中各元素化学成分采用基本参数法进行定量分析,所得的数据如表1所示。图3 清代红绿彩瓷残片与感兴趣区域图片图4 红绿彩中白釉、红彩和绿彩的μ-EDXRF光谱表1 白釉、红彩和绿彩的化学成分(质量分数,%)此外,选择如图3中2mm×2mm的感兴趣区域,使用微束X射线荧光谱仪进行µ-EDXRF二维扫描分析。进行µ-EDXRF二维扫描分析时,X射线管电压为40 kV,电流为0.6 mA,扫描步距为30 µm,每个点探测时间为1.5 s,扫描数据经软件处理得到如图5所示的元素分布图。图5 扫描区域内Pb、K、Fe、Ca、Cu、Al、Mn、Si元素的分布3.2 吉州窑古陶瓷的分析为评估本仪器对表面存在大弧度的样品进行微区元素二维扫描分析的能力,选取一片吉州窑古陶瓷的残片作为研究对象(图6)。实验开始前调节平移台使样品表面感兴趣区域清晰呈现在CCD图像中,并通过鼠标在控制界面的CCD视野中选择具体的目标扫描区域。选取图6中大小为10mm×10mm的区域进行元素二维扫描分析。µ-EDXRF二维扫描分析的测量条件与上文相同。同时,为验证本仪器“源-样”距离自动控制系统对测量结果的影响,分别在开启和关闭“源-样”距离自动控制系统的条件下进行元素二维扫描分析,扫描数据经软件处理得到如图7所示的元素分布图。图6 吉州窑古陶瓷样品与扫描区域图片图7 扫描区域内K、Ca、Zn、Fe元素分布图。a)关闭“源-样”距离自动控制系统,b)开启“源-样”距离自动控制系统通过图7与图6的比较可知,在关闭“源-样”距离自动控制系统的情况下进行µ-EDXRF二维扫描时,由于样品表面的弯曲,样品测量点与毛细管X光透镜出口端之间的距离发生变化,使得X射线光束的焦点无法与样品测量点重合。这导致测得元素分布图空间分辨率变差,同时生成的图像发生了扭曲。相反,当打开“源-样”距离自动控制系统进行测量时,由于该系统可实时调整平移台使X射线束准确照射在样品测量点上,显著降低由于样品表面弯曲带来的偏差。极大的改善了测量结果,表明该仪器在不平整样品的µ-EDXRF二维扫描中具有重要的应用价值。4. 结论本实验室将毛细管X射线聚焦技术与能量色散X射线荧光分析技术相结合,设计和研发了一种新型毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪。该微束X射线荧光谱仪在具备无损分析微小样品和样品微区的元素分布能力的同时,其基于激光位移传感器开发的“源-样”距离自动控制系统可实时调整样品测量点到透镜出口端距离,显著降低了由样品表面不平整或弧度带来的测量偏差,弥补了现有微束X射线荧光谱仪在此方面的不足。因此,其在材料科学、地球科学和文物保护等领域有着广泛的应用前景。参考文献[1] 戴珏,吴奕阳,张元璋,等.能量色散X射线荧光光谱法在检测仿真饰品中有害元素的应用[J].上海计量测试,2018,45(04):34-35.[2] 陈吉文,倪子月,程大伟,等.基于EDXRF的土壤中痕量镉的快速检测方法研究[J].光谱学与光谱分析,2018,38(08):2600-2605.[3] 陈曦,周明慧,伍燕湘,等.能量色散X射线荧光光谱仪在稻米中镉含量测定的应用研究[J].食品安全质量检测学报,2018,9(10):2331-2338.[4] 蒯丽君. 化学前处理—能量色散X射线荧光光谱法应用于矿石及水体现场分析[D].中国地质科学院,2013.[5] Rathod T, Tiwari M, Maity S , et al. Multi-element detection in sea water using preconcentration procedure and EDXRF technique [J]. Applied Radiation & Isotopes, 2018, 135.[6] Figueiredo E, M F, Araújo, Silva R J C, et al. Characterisation of Late Bronze Age large size shield nails by EDXRF, micro-EDXRF and X-ray digital radiography [J]. Applied Radiation & Isotopes Including Data Instrumentation & Methods for Use in Agriculture Industry & Medicine, 2011, 69(9):1205-1211.[7] Natarajan V, Porwal N K, Babu Y, et al. Direct determination of metallic impurities in graphite by EDXRF. [J]. Appl Radiat Isot, 2010, 68(6):1128-1131.[8] Li L, Huang Y, Sun H Y, et al. Study on the property of the production for Fengdongyan kiln in Early Ming dynasty by INAA and EDXRF [J]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2016, 381:52-57.[9] Bonfigli, Francesca, Hampai, et al. Characterization of X-ray polycapillary optics by LiF crystal radiation detectors through confocal fluorescence microscopy[J]. Optical Materials, 2016, 58: 398-405.[10] Moradllo M K, Sudbrink B, Hu Q, et al. Using micro X-ray fluorescence to image chloride profiles in concrete[J]. Cement & Concrete Research, 2016:S0008884615300636.[11] Ramos I. Pataco I M, Mourinho M P, et al. Elemental mapping of biofortified wheat grains using micro X-ray fluorescence[J]. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy, 2016.[12] Ricciardi P,Legrand S,Bertolotti G, et al. Macro X-ray fluorescence (MA-XRF) scanning of illuminated manuscript fragments: potentialities and challenges[J]. Microchemical Journal, 2016, 124:785-791.*通讯作者程琳,工学博士,美国加州大学尔湾分校访问学者。现任职于北京师范大学核科学与技术学院,教授,博导。长期从事毛细管聚焦的微束X射线分析技术的研究及相关设备的研发;目前已经成功研发出国内首台毛细管聚焦的微束X射线荧光谱仪和毛细管聚焦的X射线衍射仪等设备并开展相关的分析技术及应用研究;作为项目负责人已经承担多项国家自然科学基金、北京市自然科学基金和北京市科技计划项目等,国家自然科学基金评审专家、北京市高新技术企业评审专家和X-ray spectrometry等国际刊物审稿人。e-mail: chenglin@bnu.edu.cn
  • 普析通用河北举办《紫外、原子吸收、X射线荧光分析仪》学术交流会
    关于举办《紫外可见分光光度计、原子吸收光谱仪、X射线荧光分析仪》学术交流会邀请函随着加入WTO与国际接轨,新的要求、新的标准给仪器应用带来了更广泛的领域,同时,随着科技的发展、市场的繁荣给分析工作带来了新的仪器、新的技术。为更进一步了解仪器的原理性能,使现有的资金——购置最适用的设备;使现有的设备——发挥最出色的作用,北京普析通用仪器有限责任公司特举办此交流会,并邀请专家授课。现将有关事宜通知如下:一、日期:2006年4月26日二、讲课内容及时间安排:l上午8:45-11:45介绍讲解 李昌厚教授专程主讲紫外可见分光光度计部分1.目前国内、外紫外可见分光光度计仪器及应用的最新进展。2.紫外可见分光光度计的主要性能指标(定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性)。3.如何评价(挑选)紫外可见分光光度计使之适用于本职的分析工作。4.如何使用好紫外可见分光光度计的关键问题。l下午1:00-2:30介绍讲解 李昌厚教授专程主讲原子吸收分光光度计部分1.目前国内、外原子吸收分光光度计仪器及应用的最新进展。2.原子吸收光谱仪的主要性能指标(定义、测试方法、对分析误差的影响、应用上的重要性。)3.如何比较一台原子吸收光谱仪的功能,它给分析工作带来的优越性是什么?4.如何选择原子吸收光谱仪的最佳分析条件,及提高灵敏度的方法。l下午2:30-4:00介绍讲解 田宇纮教授专程主讲X射线荧光分析仪部分全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是近年才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF可以大大提高能量分辨率和灵敏度。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。本讲座将要介绍的就是X射线荧光分析仪在材料分析中的应用技术与最新的发展情况。三、原吸紫外主讲人: 李昌厚教授中国分析仪器学会副理事长中国光学仪器学会 物理光学仪器专业委员会 副主任中国国家技术监督局 国家级计量认证评审员中国科学院上海生物工程研究中心仪器分析室主任、研究员、博士生导师:李昌厚教授专程主讲X射线荧光分析仪主讲人: 田宇纮教授中国科学院近代物理研究所 教授X射线荧光分析仪设计与制造 专家四、会议地点:唐山饭店 多功能厅唐山市建设南路46号(唐山市百货大楼对面)报名联系人:孟令红 田凤电话:13383059598 0311-86050158 五、本次研讨会免费听取,并提供中午工作餐。六、到场请认真填写《会议信息反馈表》,及时交到会务组,凭此领取礼品。七、为提高听课质量,敬请与会者在主讲人授课时间保持手机安静。八、乘车路线:唐山市火车站汽车站坐车到唐山市百货大楼对面。车程十五分钟。 注:具体讲课时间以4月26日当天的研讨会现场安排为准,如有变动不另行通知。北京普析通用仪器有限责任公司河北联络处 2006年4月12日 参 会 回 执单位全称:部门(科、室):通讯地址:邮    编:参会人数:电    话:参会人员姓名:联 系 电 话:其他要求:注:因会场空间有限,名额仅限150人。请参会人员及时准确填写回执。并请传真至0311-86050158-810。凭此回执参加研讨会。另:如不方便发传真,也可电话及邮件报名报名联系人:田凤 联系电话:0311-86050158E-mail:hebeioffice@pgeneral.com
  • 350万!中国科学院天津工业生物技术研究所计划采购四通道全内反射超分辨荧光显微镜
    项目概况中国科学院天津工业生物技术研究所四通道全内反射超分辨荧光显微镜采购项目 招标项目的潜在投标人应在www.o-science.com;北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室获取招标文件,并于2022年06月09日 13点30分(北京时间)前递交投标文件。一、项目基本情况项目编号:OITC-G220271157项目名称:中国科学院天津工业生物技术研究所四通道全内反射超分辨荧光显微镜采购项目预算金额:350.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):350.0000000 万元(人民币)采购需求:1、采购项目的名称、数量:包号货物名称数量(套/台)是否允许采购进口产品1四通道全内反射超分辨荧光显微镜1是2、投标人可对其中一个包或多个包进行投标,须以包为单位对包中全部内容进行投标,不得拆分,评标、授标以包为单位。合同履行期限:详见采购需求本项目( 不接受 )联合体投标。二、申请人的资格要求:1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定;2.落实政府采购政策需满足的资格要求:本项目不属于专门面向中小企业单位采购的项目。3.本项目的特定资格要求:(1)在中华人民共和国境内依法注册的,具有独立承担民事责任能力,遵守国家法律法规,具有良好信誉,具有履行合同能力和良好的履行合同的记录,具有良好资金、财务状况的法人实体;(2)为本项目提供整体设计、规范编制或者项目管理、监理、检测等服务的供应商,不得参加本项目投标;(3)投标单位负责人为同一人或者存在直接控股、管理关系的不同供应商,不得参加同一合同项下的政府采购活动;(4)按本投标邀请的规定获取招标文件;(5)投标人不得为列入失信被执行人、重大税收违法案件当事人名单、政府采购严重违法失信行为记录名单的供应商。三、获取招标文件时间:2022年05月19日 至 2022年05月26日,每天上午9:00至11:00,下午13:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外)地点:www.o-science.com;北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室方式:登录东方在线www.o-science.com注册并购买。售价:¥600.0 元,本公告包含的招标文件售价总和四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点提交投标文件截止时间:2022年06月09日 13点30分(北京时间)开标时间:2022年06月09日 13点30分(北京时间)地点:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层第一会议室五、公告期限自本公告发布之日起5个工作日。六、其他补充事宜1、招标文件采用网上电子发售购买方式:1)有兴趣的投标人可登陆“东方在线”(http://www.o-science.com 招标在线频道),完成投标人注册手续(免费),已注册的投标人无需重新注册。招标文件售价:每包人民币600 元,售后不退。如决定购买招标文件,请完成标书款缴费及标书下载手续。2)投标人可以电汇的形式支付标书款(应以公司名义汇款至下述指定账号)。开户名称:东方国际招标有限责任公司开户行:招商银行北京西三环支行账 号:8620816577100013)投标人应在“东方在线”上填写开票信息。在投标人足额缴纳标书款后,标书款电子发票将发送至投标人在“东方在线”上登记的电子邮箱,投标人自行下载打印。2、以电汇方式购买招标文件的,须在电汇凭据附言栏中写明招标编号(如未标明招标编号,有可能导致投标无效)。3、投标文件的递交:考虑疫情因素,本项目将采用网络平台云会议室线上开标的方式进行。投标人应采用邮寄方式递交投标文件。投标人应充分预留投标文件邮寄、送达所需要的时间,建议选择邮寄运送时间有保障的快递公司寄送投标文件,并确保在递交截止时间前送达,逾期送达或不符合规定的投标文件恕不接受。投标文件邮寄地址:北京市海淀区西三环北路甲2号院北京理工大学西门国防科技园6号楼13层1301室;收件人:王琪;联系方式:010-68290523;4、为保证投标人代表顺利在线观看开标过程,请提前下载“腾讯会议”APP并完成注册(手机或电脑均可安装),并在投标文件密封信封上标明投标人代表的电子邮箱,以获取开标会议账号及密码。5、采购项目需要落实的政府采购政策:(1)政府采购促进中小企业发展(2)政府采购支持监狱企业发展(3)政府采购促进残疾人就业(4)政府采购鼓励采购节能环保产品七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。1.采购人信息名 称:中国科学院天津工业生物技术研究所     地址:天津空港经济区西七道32号        联系方式:陈老师 022-84861979      2.采购代理机构信息名 称:东方国际招标有限责任公司            地 址:北京市海淀区西三环北路甲2号院科技园6号楼13层01室            联系方式:窦志超、王琪010-68290502/0523            3.项目联系方式项目联系人:窦志超、王琪电 话:  010-68290502/0523
  • 透射与反射测量技术关键工具及颜色测量方法
    在现代科学研究和工业应用中,精确的物质性质测量是至关重要的。特别是在材料科学、光学工程以及生物医学领域,透射测量与反射测量技术的应用日益增多,它们在各自的领域内发挥着不可替代的作用。透射测量是指测量光线通过物质后的强度变化,以此来分析物质的特性;而反射测量则是基于光线打到物质表面后反射回来的光强变化进行分析。这两种测量技术虽然操作原理不同,但都旨在通过光与物质的相互作用来揭示物质的内在属性。一、透射测量与反射测量的比较分析透射式和反射式分光光度计均能利用光源的闪烁特性,覆盖360至750纳米范围内的全部波长光线进行照射。通过对透射光或反射光的测量,这些设备能够创建出色彩的量化图谱(即色彩“指纹”)。在反射光谱中,主要波长决定了颜色的属性。紫色、靛蓝及蓝色属于短波段,波长介于400至550纳米之间;绿色处于中波段,波长在550至600纳米;而黄色、橙色及红色表示长波段光。对于光亮增白剂(OBA)和荧光剂这类特殊物质,它们的反射率甚至可以超过100%。反射式分光光度仪通过照射光源至样本表面并记录以10纳米步长测得的反射光比例,以此来分析颜色。这种方法适用于完全不透明的物质,通过反射光的量化,可以准确测量其色彩。而配备透射功能的分光光度仪则是通过让光穿透样本,使用对面的探测器来捕获透过的光。这一过程中,探测器会测量透射光的波长及其强度,并把它们转换成平均透射率的百分比,以量化样本的特性。尽管反射模式能够用于分析半透明表面,但准确了解样本的透明度是必须的,因为这直接关系到最终数据的准确性。二、样品确实不允许光线穿透吗?测量透射率与评估不透明度并不总是等同的,因为不透明度涉及两个方面:是否能遮挡视线穿过的表面或基质,以及材料允许光线通过的程度。通常,您可能会认为您的手是不透光的,从某种角度来看,这是正确的。然而,当您把手电筒紧贴手掌并开启时,会发现光线能够从手的另一侧透射出来。半透明与透明材质的本质区别半透明材料允许光线穿透,却不允许清晰的视线通过。举个例子,经过蚀刻处理的浴室塑料门便是半透明的。相比之下,透明材料,如普通的玻璃板,可以让人从一侧清楚地观察到另一侧的物体。三、实际应用及解决方案考虑到涂料,当其涂布于墙面时,其不透明性足以覆盖下层材料,阻止透视效果。但要准确评估涂料的不透明度,我们需采用对比度分析法。一旦应用于基底,涂料通常表现出高不透明度,使得Ci7500台式色差仪成为其测量的理想工具。至于塑料,虽然肉眼看来我们可能无法通过塑料样本看穿,但它们可能具备一定的光透过性。比如,外观不透明的塑料瓶,在未经测试前其真实透光性难以判断。以过氧化氢瓶为例,其内容物若暴露于阳光下会迅速分解,因此这类瓶子通常呈棕色,以屏蔽阳光。然而,置于强烈光源下,这些瓶子是能透光的。鉴于成本考虑,过氧化氢瓶的制造尽量保持不透明。在纺织品的应用上,选择分光光度仪时需考虑具体的使用场景。美国纺织化学师与印染师协会(AATCC)推荐将样品折叠至四层以确保不透明度的测量。这一方法对于测量厚实的织物如灯芯绒裤或棉质卷料足够有效,但对于透明或薄的半透明尼龙材料,采用其他量化技术可能更为合适。请记住,在测量特定允许一定光线透过的纺织品时,按照ASTM的203%遮光测试标准,必须使用具备透射功能的分光光度仪进行测量。Ci7600台式分光光度仪、Ci7800台式分光色差仪和Ci7860台式色差仪均支持透射和反射模式测量,它们为需要同时评估不透明与半透明样本的应用场景提供了理想解决方案。这些设备能够执行三种主要测量方式:①直接透射测量:针对完全透明的样本设计,如塑料拉链袋和清晰的玻璃板。②全透射测量:适合那些允许光线穿透但视线模糊的半透明样本,比如橙汁、洗涤液以及2升容量的塑料瓶。③雾度测量:针对那些能够散射光线的半透明样本,如汽车尾灯的塑料覆盖件,这类样本散射红色光线,而不直接显露灯泡和灯丝。若您的需求仅限于测量完全不透明的表面,Ci7500台式色差仪或许更符合您的需求。然而,如果您的主要测量对象为不透明表面,偶尔也需测量一些允许光线透过的物体,那么具备透射测量功能的设备,如Ci7600台式测色仪或更高端的型号,将是更合适的选择。四、关于爱色丽“爱色丽彩通 ”总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球知名的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。如果您需要更多信息,请关注官方微信公众号:爱色丽彩通
  • 如何测量绝对反射与相对反射?
    1. 前言光照射到物体上,由于物体的表面不同,通常会发生两种反射,镜面反射和漫反射,如图所示。图1 光在物体表面的反射示意图对于玻璃、镀膜基板、滤光片等表面光滑的零部件,镜面反射率是评价其光学特性的重要参数,测定反射率最常用的仪器是紫外可见近红外分光光度计。日立紫外产品线丰富,波长测试范围涵盖紫外可见区域到近红外区域,可以满足样品不同波长下的测量需求。2. 应用数据镜面反射根据测量方式的不同,分为相对反射率和绝对反射率。客户需要根据样品特征,选择不同的测量方式。日立具有5°到75°固定入射光角度的镜面反射附件,适用于多种样品的镜面反射测量。图2 绝对反射测量图3 相对反射测量绝对反射率通常使用V-N法进行测量,直接获得样品的反射特性,应用广泛。但是对于低反射率的样品,使用相对反射测量,可以有效扩大动态范围。 2.1 石英基板的相对反射率测量 • 测量附件图4 5o 相对反射附件• 测量结果 使用紫外可见分光光度计U-3900 的5o相对反射附件,以BK7玻璃为参考标准品测定石英基板的相对反射光谱。结果表明石英基板的相对反射率约为80%。 图5 石英基板的相对反射率通过日立U-3900的选配程序包,使用相对反射率得到转换后的绝对反射率,如下图所示。如果直接测定石英基板的绝对反射率,光谱易受噪声影响。图6 石英基板转换后的绝对反射率2.2 铝平面镜和金平面镜的绝对反射率金平面镜表面涂有金膜,该金膜在红外区域具有高反射率。铝平面镜是表面涂有铝膜,在可见光区到近红外区有较高的反射率和较小的角度依赖性。两者常作为相对反射测量时的标准面。• 测量附件图7 5 o绝对反射附件• 测量结果 使用紫外可见近红外分光光度计UH4150的5°绝对反射附件分析了金平面镜和铝平面镜的绝对反射率。 图8 金平面镜和铝平面镜的绝对反射率 结果表明,在可见光区域,铝平面镜的反射率超过80%。金平面镜的反射率在可见光区域较低,但其在近红外区域的反射率较高。因此在测量样品的相对反射率时,如果需要关注近红外区域,可以使用在近红外区具有高反射率的金平面镜作为标准面。 3. 结论样品的镜面反射率有两种测量方式,相对反射率和绝对反射率。对于低反射性样品,使用相对反射附件测量其相对反射率,可以获得信噪比良好的光谱,如玻璃基板上薄膜的反射率。对于通常的样品,可以直接使用绝对反射附件测量其绝对反射率。日立提供多种镜面反射测量附件,还可根据客户需求量身定制,满足各种样品的镜面反射率测量。
  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 玻璃行业中的透射与反射色彩质量测量—色差仪
    玻璃作为一种常见的材料,广泛应用于建筑、汽车、家具等领域。在玻璃行业中,透射和反射是两个重要的性质。透射涉及玻璃对可见光的透明程度和色彩表现,而反射关乎玻璃表面镀膜的效果。本文将介绍如何使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪来监控色彩质量和测量玻璃镀膜的反射率。透射是玻璃行业中最重要的光学性质之一,它决定了玻璃对可见光的透明程度和色彩表现。当光穿过玻璃时,会受到折射现象的影响。折射是光在从一种介质传播到另一种介质时改变方向的现象。这种折射现象使得玻璃能够将光有效地传播到玻璃的另一侧,使我们能够透过玻璃看到外面的世界。在玻璃行业中,透射率是一个重要的参数。透射率定义为通过玻璃的光强与入射光强的比值。透射率越高,玻璃对光的透明度就越好。而对于特定波长的光,其透过玻璃的能量与光谱分布有关,因此,不同类型的玻璃可能对不同波长的光具有不同的透射率。透射率的测量通常使用分光光度计来完成。在线ERX55分光光度仪是高精度的测量仪器,可以用于测量透明薄膜的色彩、可见光透射和雾度,持续监控色彩质量。通过持续监控透明薄膜的色彩质量,生产厂家可以确保产品的一致性和稳定性。反射是另一个在玻璃行业中需要关注的光学现象。反射率是一个指标,用于衡量光线在物体表面反射的程度。在玻璃制造过程中,常常会在玻璃表面进行涂层处理,这些涂层能够改变玻璃的反射性能。通过合理设计涂层,可以实现特定的反射率,使玻璃在特定波长范围内表现出所需的特殊光学效果,如防紫外线、隐私保护等。玻璃作为非散射性物体,在传统的直接照明测量设备中无法准确提供色彩数据。为解决这一问题,ColorXRAG3色度分析仪成为了一种重要工具。该设备具备宽波长范围(330nm到1,000nm)和高光学分辨率(1nm),可在实验室中安装在支架上,对放置在样品支架上的玻璃板进行测量。同时,它也可用于在线测量,安装在玻璃板上方的横梁用于测量低辐射玻璃,或安装在玻璃板下方用于测量遮阳镀膜。ColorXRAG3色度分析仪具有紧凑型设计,可从距离玻璃板10mm处捕获非散射性样品的光谱数据和色彩反射值,甚至能鉴定多银层镀膜。该仪器采用氙气闪光灯,同时采用+15°:-15°、+45°:-45°和+60°:-60°三种光学结构,每秒进行一次测量,以实现全方位的色彩数据获取。其中,±15°的测量值与传统实验室测量的积分球光学结构结果相同,而±45°和±60°的测量值则可以显示不同观察角度下的色彩变化。ColorXRAG3色度分析仪的应用为玻璃行业提供了一种高效、准确的色彩测量解决方案,使生产厂家能够更好地控制透射与反射性能,提高产品质量,并满足不同市场需求,推动玻璃行业的持续发展。透射和反射是玻璃行业中非常重要的光学现象。透射性能决定了玻璃的透明度和色彩表现,而反射率则与玻璃表面的涂层处理密切相关。使用在线ERX55分光光度仪和ColorXRAG3色度分析仪,可以对玻璃产品的透射性能和反射性能进行精确测量和监控,从而保证玻璃产品的质量和性能达到预期要求。“爱色丽彩通”是丹纳赫公司旗下的品牌,总部位于美国密歇根州,成立于1958年。作为全球领先的色彩趋势、科学和技术公司,爱色丽彩通提供服务和解决方案,帮助品牌、制造商和供应商管理从设计到最终产品的色彩。
  • 国际领先水平!龙峰团队“倏逝波荧光全光纤生物传感仪器及在新污染物检测中的应用”科技成果通过专家鉴定
    倏逝波荧光免疫传感器是利用光波在波导内,以全反射方式传输时在波导界面产生倏逝波 ,结合荧光免疫分析原理进行检测的一类新型传感器。该类传感器具有特异性强、灵敏度高、检测速度快、费用低、操作简便等优点,在环境检测、医学临床、食品卫生等领域具有广泛的应用前景。近日,中国人民大学化学与生命资源学院龙峰教授团队牵头完成的“倏逝波荧光全光纤生物传感仪器及在新污染物检测中的应用”科技成果通过了专家鉴定。本次鉴定会由中国环境科学学会主办,鉴定委员会由中国环境科学研究院院士吴丰昌、中国环境监测总站研究员王业耀、北京林业大学教授孙德智、中科院电子学研究所研究员夏善红、北京市政工程设计研究总院教授级高工郄燕秋、北京大学教授刘思彤、北京师范大学教授郭学军等专家组成。鉴定委员会一致认为,该成果整体达到国际领先水平,具有显著的生态环境与社会经济效益,应用前景广阔,一致同意通过鉴定,并建议进一步扩大推广与应用。新污染物治理是全面推进美丽中国建设的重要内容,关系人民健康和生态环境安全,其中监测技术和仪器是开展新污染物治理的关键。为克服现有监测技术与仪器运行维护负担重、核心技术被国外控制、前处理复杂等困难和不足,面向我国新污染物治理体系亟需现场快速精准识别与检测的技术和装备需求,中国人民大学、清华大学、北京勤邦科技股份有限公司、力合科技(湖南)股份有限公司等单位开展多年联合攻关,创新发展了新污染物全光纤生物传感理论与技术,创制了倏逝波荧光全光纤生物传感仪器,建立了不同类型新污染物的现场快速高灵敏检测新方法,并在水环境与饮用水安全、新污染物应急监测、食品安全检测和新污染物科学研究等领域成功实现了产业化应用,对提升我国新污染物治理体系的标准化和精准化具有重要意义。龙峰教授向吴丰昌院士等专家现场介绍所研发的仪器
  • SpectraBlack 超低反射率漫反射目标板
    更易表征激光雷达和飞行时间 (ToF) 传感系统由于缺乏光谱平坦的光学反射材料,因此很难了解激光雷达和 ToF 系统在低反射率 (5%) 下的灵敏度。Labsphere (蓝菲光学)的 Spectrablack 漫反射目标板和材料有效解决了这个问题。Spectrablack 是一种低反射率、耐磨损的吸光材料,非常适合用于室内近标准传感器测试应用,以及OEM光学系统中的遮光/预防散射光。应用:ToF 和 LIDAR 低反射率范围测试遮光/吸光:利用微孔表面的吸光效果预防光学系统、光学测量仪器、相机等中的散射光降低光谱仪和分光光度计杂散光非反光片和一般遮光材料典型反射率*250 – 380 nm:1.5%380 – 780 nm:1.0 %780 – 2500 nm:1.1 %*反射值可能会有所不同。
  • 微型光谱仪之反射检测
    1、技术简介  光在两种物质分界面上改变传播方向又返回原来物质中的现象,叫做光的反射。正是因为光在物体表面发生的反射,我们的眼睛才能感知到周围的世界的颜色与景象。反射是通过光入射到物体表面后在不同波长段的反射率差异引起。光谱仪获得的反射光谱信息就像人眼所见到的视觉内容一样,但是光谱信息更为数据化、更客观。反射测量可以测试物体的颜色,或者通过判定物体的反射光谱差异进行多样品的筛选和品控。 镜面 粗糙表面图5.1 反射原理图  2、 应用说明  由于某些检测样本的特殊性,不能完全依赖于化学方法进行检测,反射光谱模型作为一种迅速、高性价比的检测方法,可以作为化学分析方法在其他应用领域的替代方案,甚至可以直接用来测试粉末状样品。反射光谱检测方法不能判定是否适用于被测目标样本的原有模样,所以还是需要尝试多次对照测试它们的反射光谱,提高光谱数据的准确性。  化学分析的方法可以用来提高最低检出限,并确定掺杂成分,但是光学的方法可以进行预先的快速查看与筛选。将反射光谱检测与化学计量学相结合,利用可见光和近红外漫反射光谱提供快速、无损的检测。在实际检测中,可以分析不同的样本之间的差异。数学上来说,主成分包含在了定义的所有波长多维空间的范围内。主成分使我们能够获得多维数据集和重要维度,然后从无意义的噪音中分离出有意义的信息。  食品安全:香料检测,香蕉成熟度分析,芒果与鳄梨区分检测等   自然环境:水体汞污染监测,农作物分析等  3 、典型产品和配置  颜色检测配置:  1. 光谱仪  2. 光源  3. 积分球:积分球可以180° 收集样品表面的反射光,所以它能尽可能多地收集样品表面的反射光。反射式积分球还能使用在弯曲表面,或者颜色测量。它能将样品表面发射的光很好地在积分球内部进行匀化,然后再耦合到光谱仪。反射光通过圆形的入射光孔径进入积分球,然后经过分球内壁涂抹的特殊涂层材料的均匀反射。图2 积分球示意图  4. 反射探头:当需要快速测量样品或者应用在样品表面非常小的采样点时,反射探头既可以测量镜面反射,也可以测量漫反射,而且可以基于光源和光谱仪的配置不同,选择不同类型的扩大波长范围的反射探头。探头的发射光和反射光是同一方向的,接收到的光是反射光的一部分,所以使用反射探头测量反射光谱是一种相对测量。图3 反射探头  5. 采样附件(光纤、滤光片、透反射支架、动态样品台等):透反射支架用来固定反射探头的标准配件,同时也可以用于透射测量。使用透反射支架,可以有效地减少光源对样品的过度加热,对于生物样品或者有机样品,还有那些低熔点的样品非常重要 动态样品台,基于样品台旋转或者直线移动来对样品进行测量,并获得测量的平均信号。这种测量方式避免了结果的多样性,提高了样品测量的均一性结果,特别是对于谷物、种子和土壤类等不均一的样品,是比较理想的选择。 图4 反射支架和样品台  6. 准直透镜:在做反射测量时,准直透镜可以使用在光纤的末端来准确地固定入射光和反射光的角度。镜面发射或者漫反射都可以使用这样的测量方式,但是我们需要固定夹具来对测量系统进行固定。准直透镜必须预先调焦来避免光束的发散,来保证获得更好的光谱。  7. 光谱仪控制软件图5 反射检测典型配置  典型配置  典型产品:高灵敏度光谱仪,光源,滤光片,积分球,透反射支架,动态样品台,准直透镜  4 、应用文章  4.1 香料掺假检测图6 不同香料检测光谱  4.2 香蕉成熟度检测图7 不同成熟度香蕉光谱图  4.3 芒果与鳄梨区分检测图8 芒果与鳄梨检测光谱  4.4 基于SPR快速检测花生过敏源图9 过敏源光谱  4.5 无人机智能农业检测 图10 无人机农业检测光谱图  4.6 农作物成分检测图11 农作物成分光谱图  4.7 水体汞污染监测图12 水体检测光谱图(来源:海洋光学)
  • 镀膜片基底背面反射的影响——低反射率样品表征
    当光线照射到两种介质的分界面上时,一部分光线改变了传播方向返回原来的媒介中继续传播,这种现象称为光的反射。在自然界中,光的反射存在着镜面反射、漫反射和逆反射三种现象。光的反射示意图镜面反射是在光线入射到一个非常光滑或有光泽的表面上时发生的。光线在物体表面反射的角度和入射的角度,度数相同但方向相反。如果物体的表面和光源成精确的直角,那么反射光线会完整地反射回光源方向。光的漫反射是一种最常见的反射形式。漫反射发生在光线入射到任何粗糙表面上, 由于各点的法线方向不一致,造成反射光线无规则地向不同的方向反射。只有很少一部分光线可以被反射回光源方向,所以漫反射材料只能给人眼提供很少的可视性。逆反射(背面反射)是指反射光线从靠近入射光线的反方向,向光源返回的反射。当入射光线在较大范围内变化时,仍能保持这一特性。当石英片上镀膜后,石英片的逆反射会对镜面反射的结果有明显的影响。本文采用日立的UH4150紫外可见近红外分光光度计、5°绝对反射附件和60mm积分球测试分析逆反射的影响。 下面是2种不同工艺需求的测试数据图:左图为同一批次的2个镀膜样品,变量为基底是否进行了涂黑处理。通过数据可以明显的发现:涂黑处理后的反射率明显降低,在1370nm附近的反射率约为0.3%,这是因为涂黑处理使得基底的背面反射(逆反射)尽可能地消除。 右图为另一种工艺的产品,直接对样品进行测试,不需要额外的处理,可以得到1300 ~ 1600 nm范围内反射率低于0.2%的效果,符合产品的预期。一般遇到测试反射率低于0.5%的指标需求时,建议使用标准片测试。×总结根据测试的目的需求,基底是否处理对实际的测试结果有很大影响。样品的反射率测试,需要考虑背面反射的影响。日立的紫外可见近红外分光光度计UH4150结合镜面反射附件,可以准确的表征低反射率的样品性能。——the end——公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。
  • 光学薄膜透射反射性能检测方法进展
    随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用PerkinElmer紫外可见近红外光谱仪配置可变角度测试附件,直接测试样品不同角度下绝对反射率、透射率曲线,无需参比镜校准,操作简单方便,测试结果更加准确。附件为变角度绝对反射、变角度透射率测试附件,如下图所示,检测器和样品台均可以360度旋转,通过样品台和检测器配合旋转,测试不同角度下透射和反射信号。PerkinElmer Lambda1050+ 光谱仪自动可变角附件光路图图1 仪器外观图固定布局 工具条上设置固定宽高背景可以设置被包含可以完美对齐背景图和文字以及制作自己的模板下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。样品变角度透射测试采用自动可变角附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据,自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线,一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试,无需多次操作,测试曲线如下图所示。图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据样品变角度透射/反射曲线测试同一个样品,可以通过软件设置一次性测试得到样品透射和反射率曲线,如下图所示,该样品在可见波长下反射率大于99.5%,透射率低于0.5%,可同时表征高透和减反性能。图3 样品45度透射和反射曲线测试NIST标准铝镜10度反射率曲线测试采用自动可变角附件测试NIST标准铝镜10度下反射率曲线,如下图所示,黑色曲线为自动可变角附件测试曲线,红色为NIST标准值曲线,发现两条测试曲线完全重合,进一步证明测试系统的可靠性,可以准确测试样品的光学数据。图4 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试(红色为NIST标准曲线)样品变角度全波长反射曲线测试(200-2500nm)软件设置不同的测试角度和偏振方向,自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线,如下图所示,200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比,尤其是在紫外区(200-400nm),可以完成各波长范围的反射性能测试。图5 样品全波段(200-2500nm)变角度反射率测试不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线,该样品在1200nm以上属于高反射率,反射率大于99.5%,同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况,该波段下吸收峰非常尖锐,同时吸收峰较多,需要仪器具备高分辨率,从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。图6 膜系设计验证样品45度反射率测试双向散射分布函数(BSDF)测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外,自动可变角附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号,可以得出样品不同角度下的透射分布函数(BTDF)和反射分布函数(BRDF)信号,最终得到双向散射分布函数(BSDF)。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数(BSDF)、双向反射分布函数(BRDF)、双向透射分布函数(BTDF)等光学参数测试,测试结果如下图所示:图7 BRDF和BTDF测试如下图所示,测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线(BRDF + BTDF),从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。图8 样品不同波长下BSDF(BRDF+BTDF)测试窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计,自动可变角测试附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品,即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽,也需要准确测试截止区吸光度值(OD值),可直接切换标准检测器进行检测。图9 用于生物识别的滤光片透射和OD值测试数据图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据综上,采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光谱仪,搭配自动可变角测试附件、标准检测器、积分球等多种采样附件,可以组合出完备的材料光学性能测试平台,满足光学镀膜测试的多样化需求,更加准确便捷地得到样品的光学检测数据。
  • 《中国能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)市场调研报告(2019)》正式发布
    p style="text-align: justify text-indent: 2em "span style="text-indent: 2em "能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)以其快速、对试样无损、多种元素同时分析、分析成本低等优点,在许多领域中发挥着巨大的作用/spanbr//pp style="text-align: justify text-indent: 2em "为了更系统地了解近年来我国ED-XRF的技术与应用进展、未来发展趋势及市场情况等,strong仪器信息网特组织了“能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)”市场调研。/strong通过对业内专家、ED-XRF相关主流厂商技术负责人当面或电话咨询,对广大ED-XRF用户进行线上问卷调研、线下咨询交流,对政府采购网ED-XRF的中标信息、ED-XRF相关标准及仪器信息网相关专场信息进行统计分析等多种形式展开调研,并对相应信息进行统计分析。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "基于上述的调研结果,strong仪器信息网撰写完成了《中国能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)市场调研报告(2019)》。报告介绍了ED-XRF技术的基本情况、主流产品、近两年发布的新产品等,同时详细分析了我国ED-XRF用户的地区分布、专业类别、单位性质等信息,另外还对2018年我国ED-XRF市场的总体情况及热点应用进行了分析,报告还分析了国产和进口ED-XRF用户对产品的满意度、售后的评价,以及用户购买购买ED-XRF的途径等信息。/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "本次调研活动得到了广大用户、企业以及业内专家的大力支持,共有两百余位ED-XRF的专家和用户参与了此次调研。在此,谨对他们表示最衷心的感谢。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "a href="https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192" target="_blank"span style="color: rgb(84, 141, 212) "strong报告链接:https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192/strong/span/a/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "如对本报告感兴趣,也可通过邮箱(wuyou@instrument.com.cn)联系我司相关人员,咨询报告相关细节。/pp style="text-align: justify text-indent: 2em " /pp style="text-align: center text-indent: 0em "strong中国能量色散X-射线荧光光谱仪(ED-XRF)市场调研报告 (2019)/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong报告目录/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第一章 ED-XRF技术概述 1/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.1 ED-XRF技术简介 1/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2 ED-XRF技术发展趋势 1/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.1 仪器小型化、专用化 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.2多功能化、智能化 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.2.3 一机多用 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3 ED-XRF近年受关注技术 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3.1 全反射X-射线荧光光谱(TXRF) 2/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "1.3.2 微束X-射线荧光光谱(μ-XRF) 3/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第二章 ED-XRF产品概况 4/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.1 ED-XRF主流产品概况 4/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2 2018-2019年ED-XRF新产品概况 5/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.1 HORIBA XGT-9000 X射线显微分析仪 5/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.2 四川新先达 CIT-3000SY X-荧光元素录井仪 6/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.3 SciAps X-50土壤分析仪 7/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.4 赛默飞(尼通)Niton XL5手持式矿石分析仪 8/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.5 朗铎科技FAS 2100手持式X射线荧光光谱仪 9/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "2.2.6 奥林巴斯Vanta Element手持式X射线荧光光谱仪 10/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第三章 ED-XRF用户调研分析 11/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.1 ED-XRF用户单位性质分布 11/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.2 ED-XRF用户地域分布 11/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.3 ED-XRF类型分析 12/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.4 用户拥有ED-XRF数量分析 13/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.5 ED-XRF主要用途分析 14/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "3.6 ED-XRF使用频率分析 14/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第四章 ED-XRF市场概况分析 16/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "4.1 2018年中国ED-XRF市场情况分析 16/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "4.2 ED-XRF热点应用或市场需求分析 18/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第五章 ED-XRF政府采购招中标分析 19/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1 2018年ED-XRF政府采购招中标情况分析 19/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.1采购单位性质分布 19/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.2 ED-XRF中标类型分布 20/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.3 ED-XRF中标品牌分布 20/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.1.4 ED-XRF中标价格区间分布 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2 各类单位采购ED-XRF品牌及品类交叉分析 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2.1 各单位采购ED-XRF品类分析 21/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "5.2.2 各类型ED-XRF不同品牌出货量分析 22/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong第六章 用户对ED-XRF评价分析 24/strong/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.1 用户采购ED-XRF的关注因素分析 24/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.2 国产与进口ED-XRF故障率对比分析 24/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3 国产与进口ED-XRF用户满意度对比分析 26/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.1 售前服务满意度 26/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.2 产品性能满意度 27/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.3产品价格满意度 28/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.4售后技术支持满意度 30/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.3.5售后维修满意度 31/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.4 ED-XRF售后服务问题分析 32/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "6.5 用户获取ED-XRF信息及采购渠道方式分析 34/pp style="text-align: justify text-indent: 2em "strong结论 35/strong/p
  • HORIBA荧光用户研究成果荣登《Scientific Reports》
    CuInS-ZnS基长寿命高效纯Mn发射量子点研究意义:Mn掺杂的半导体量子点,除了具有非掺杂量子点的固有特性外,还因其大斯托克斯位移所带来的零自吸收效应,可有效降低发光二管和量子点激光器中的能量损失;同时其毫秒量级的长荧光寿命,可排除生物体自荧光干扰,构筑长寿命窄带隙无Cd材料在能源和生物医药等领域具有显著优势。半导体量子点的生长和性质是当今研究的热点,它一般指尺寸小于10nm的半导体纳米材料,可被广泛用在电子、医药、化工、军事、航空航天等领域。宁波工程学院材料学院“微纳米结构与器件”团队采用热注入法,通过工艺的精细控制与优化,实现了CuZnInS核壳结构及其Mn掺杂浓度的有效控制,将目前国际上所报道的长发光寿命提高近2倍。该研究成果于2014年年底发表于《Nature》旗下的国际知名期刊《Scientific Reports》。锰掺杂铜锌铟硫半导体量子点的结构示意图及光学性能在实验过程中,团队采用HORIBA公司的FluoroMax-4P-TCSPC进行了荧光稳态、量子效率和寿命测量,配合材料的合成制备用于分析材料的生长机制和发光机理。 查看原文:www.nature.com/srep/2014/141217/srep07510/full/srep07510.html 宁波工程学院官网报道:www.nbut.cn/010/158216.html 关于“微纳米结构与器件团队”团队主要从事无机非金属半导体微纳米结构及其器件应用基础研究,从发展可控生长的纳米材料制备方法、研究其新颖的物理化学特性到其器件应用,重视规律性的探索,取得了一些系统性实验结果。 课题组简介: clxy.nbut.edu.cn/newsshow.aspx?id=1386&NoId=00060002 关于FluoroMax-4P稳瞬态荧光光谱仪作为荧光光谱仪设计和研发的全球,经过70多年的经验积累,HORIBA不断推陈出新,完善了FluoroMax系列产品,使其具备了如下功能:1、超高灵敏度——实现痕量和微量样品测试2、全反射光学系统——避免色差导致的能量损失和光度值误差3、高稳定性设计——使用维护简单4、高度自动化——一键测量分析5、多种检测器可选——检测范围扩展至~1650nm6、超强的附件兼容能力——如显微镜、发光效率测试系统、偏振、变温模块等7、高性能荧光、磷光寿命测试功能——寿命测试范围25ps-1s关注我们HORIBA光谱学院:www.horibaopticalschool.com邮箱:info-sci.cn@horiba.com微信二维码:
  • 光伏材料的角度分辨反射/透射分析
    光学镀膜材料在太阳能行业应用广泛:由化学气相沉降法生成的氧化锌涂层,自然形成金字塔形表面质地,在薄膜太阳能电池领域被用于散射太阳光。将不同折射系数的高分子材料排列组成的全息滤光镜,将太阳光在空间上分成不同颜色的色带(棱镜一样),将不同响应波长的光伏电池调到每个波长的焦距处,从而形成一种新型的多结太阳能电池。位于硅太阳能电池前部的纳米圆柱形硅涂层起米氏散射的作用,因此增加了在更宽入射角范围和偏振情况下的光被太阳能电池的吸收。曲面型光电模块的渲染和原理图。3M可见镜膜能够使模块在可见光区表现为镜像,而在近红外光区变为黑色。对于所有的光学涂层——特别是那些非垂直角度接收阳光或者阳光入射的涂层,表征波长、角度和偏振测定的反射和入射就尤为关键。PerkinElmer公司的自动化反射/透射附件ARTA,可以测定任何入射角度、检测角度、S和P偏振光在250-2500nm的范围内的谱图,从而告诉我们:所有的入射光都去哪儿啦?装备了ARTA的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计样品3M可见光镜膜:吸收紫外光,反射可见光,透过红外光。仪器PerkinElmer公司的LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计。150mm积分球,Spectralon涂层积分球包含硅和InGaAs检测器,检测样品200-2500nm的范围内的总透射谱和总反射谱。装备了150mm积分球的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计ARTA,配备PMT和InGaAs检测器的积分球(60mm),能在水平面上围绕样品旋转340°,进行角度分辨测量。3M薄膜固定在ARTA样品支架上的照片实验结果用150mm积分球附件测量的3M薄膜的总反射和总透射谱图。薄膜在750nm附近具有预期的突变,在此处有将近100%的可见光反射率和约90%的红外光透射率。3M薄膜对于s(左图)和p(右图)偏振光的角度分辨反射谱图。对于所有的偏振情况,直至50˚的范围内反射到透射的转变都很急剧,但是有轻微的蓝移。对于入射角在约50˚以上的情况,s偏振光的转换终止,并且薄膜开始失去对光谱的分光功能。这种情况的一个明显后果就是在冬天或者纬度高于30˚的区域的夏季月份,曲面型光电镜片的工作效率都很低。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • 定制镜面反射测量附件
    1. 镜面反射附件可以用来干什么呢? 镜面反射与我们的日常生活密切相关,如利用镜面反射进行照明和聚集能量的日光灯灯罩、高原上的太阳灶,另外,一些显示器面板,如电脑、手机的显示屏,需要使用增透膜(AR涂层),减少镜面反射,从而让屏幕的画面更清晰,减少鬼影和光斑。 在研发生产或质量检测中,需要对这些元件进行镜面反射测定,据此评价它们的性能。由于这些元件的种类多样,需要测定不同固定角度下的镜面反射,因此定制不同入射角的镜面反射附件可以直接测定不同元件的镜面反射率,提高评价效率。可用于测定光学玻璃,塑料,滤光片,镜子等样品。能够为从事玻璃,滤光片及化学领域的客户带来解决方案。2.镜面反射附件是什么样子的呢? 日立紫外-可见-近红外分光光度计UH4150在镜面反射测量中,可以提供4种固定入射角的标准选配附件,分别是5°,12°,30°和45°。凭借丰富的研发经验,日立可以定制不同固定入射光角度的镜面反射附件。附件的详细信息,请点击以下链接。https://www.instrument.com.cn/netshow/sh102446/s926340.htm有任何关于日立定制附件的问题,请拨打: 400-630-5821
  • 定制高反射样品测定附件
    1. 为什么需要定制高反射样品测定附件?一些光学镜,DVD或蓝光光碟,相机等的光学组件,反射率接近100 %,测定这类样品时,使用VN法得到的测量结果会超过100 %,不能得到样品的实际反射率。定制高反射率测定附件则可以解决这个问题,测定结果不会超过100 %,而且重现性高,这是光学薄膜领域进行研究的有利工具。使用VN法45度镜面反射附件和定制高反射样品测定附件对同一高反射样品重复测量五次,结果如图所示。可以看到定制高反射样品测定附件得到了高重现性和高精度的数据。 数据对比2. 定制的高反射样品测定附件是什么样的呢?这款附件是日立工程师和客户一起研发的,是只有日立才有的测量技术。入射光的角度为固定45度角,使用两个样品进行测量,光在两个样品之间进行多次反射。 附件详细信息猛戳以下链接: https://www.instrument.com.cn/netshow/sh102446/s926991.htm 有任何关于定制附件的问题,请拨打电话:400-630-5821
  • 高端仪器国产化:中国研成首台国产光频域反射仪
    近日,上海交大和江苏骏龙电力科技公司合作研制的国内首台光频域反射仪工程化样机在江苏靖江装备调试完成。该设备不仅能侦测和定位故障点,在2000米长的光纤网络内,定位精度更可达毫米级别。参与现场验收的北京理工大学光电学院教授孙雨南认为,该成果已达世界先进水平。  在接受《中国科学报》采访时,孙雨南表示,目前光纤检测手段很多,包括光纤本身特性检测以及光纤通信链路(信号)检测仪器等,但绝大多数,特别是高端仪器基本依靠国外进口,不仅价格高,有些还潜伏保密问题。  光频域反射仪(OFDR)仍是国外少数几家公司拥有的高端仪器。与其类似的仪器是光时域反射仪(OTDR),已经广泛使用在工程和实验室,但被国外产品占据国内市场。而且OFDR的性能与OTDR有很多不同,其测量故障点的分辨率(最小距离)可以到毫米量级甚至更小,这在许多特种设备和大型工程分布式传感网络,特别是军事装备上的应用显得尤其重要。  高端仪器国产化的问题,国内已经呼吁多年。2010年,国家自然科学基金委设立科学仪器专项(&ldquo 863&rdquo 计划项目),开展光频域反射仪设备的自主研制,上海交通大学主持了该项目的研究。同年,江苏骏龙电力科技股份有限公司正式与上海交通大学合作,依托区域光纤通信网与新型光通信系统国家重点实验室,共同开展光频域反射仪的产品化开发。  此次通过验收的产品,正是上海交大和骏龙电力4年合作的结晶。验收组专家一致认为,该产品核心技术具有原创性和自主知识产权,打破了国外垄断。继美国LUNA后,骏龙电力成为全球第二家能自主研发光频域反射仪的厂家。  在谈到此类产品的应用前景时,北京凌云光子技术有限公司总经理李丽告诉《中国科学报》,该产品可广泛应用于航空航天、国防建设、智能电网、大型工程建设及装备、安全生产监测等方面。这些专用光纤网络的特点是,总长度在10千米以下,但是在有限的空间内密度很高,一旦发生光纤中断等故障,缺乏有效的诊断定位手段。过去大多依靠经验判断故障可能发生的部位,然后通过更换办法确认,效率不高、成本大。李丽预测,随着人力成本的上升,用精密仪器代替人工来检测光纤问题一定是一个可预期的、快速的过程。
  • 光的反射和折射定律改变将衍生新型光学元件
    中国学生在哈佛大学做博士后研究发现  人工界面改写光的反射和折射定律  光的折射和反射定律是几何光学的基础。但是美国哈佛大学物理学家用一系列实验演示了光线的传播可以不遵从这些经典定律。这意味着,或许有一天当你用一块平面镜端详自己容貌时,看到的却是哈哈镜的变形效果。  光在不同介质中的传播速度不一样。当一束光从空气中斜射向水中,光束的传播方向会发生改变,这就是所谓的折射现象。它的准确表述即折射定律是很多年前由物理学家斯涅尔、数学家笛卡尔以及费马确立的。这一定律表明,光线在界面的折射角仅由光在两种物质中的传播速度决定。而早在古希腊时期由欧几里德发现的反射定律更简单:光的反射角等于入射角。  经典的反射和折射定律都很自然地认为一个界面仅仅是区分两种物质的理想边界,换句话说,是两种介质而不是它们的截面影响了光的传播。哈佛大学研究人员的创新在于意识到界面可以成为决定光的传播的因素。他们的实验表明,精巧设计的界面能够干预光的传播。  研究人员利用硅片和空气界面处一层薄薄的金属阵列来演示一系列违背经典反射和折射定律的现象。这个阵列中的每个组成单元都类似微小的英文字母“V”,其大小和间距都远小于光的波长以及入射光束横截面的尺寸。这些“V”字形的单元的大小、夹角和朝向都不同,这样设计是为了控制光波和不同单元的相互作用时间:每个金属“V”都类似一个光的陷阱,能够将光波“囚禁”一段时间再释放出来。  阵列的设计使得这个“囚禁”时间沿界面从右向左线性增加,这样即使垂直入射,光束不同部分经历不同的时间延迟,透射以及反射光束就不再沿着垂直于界面的方向传播了。而当光以倾斜的角度入射,按不同的“界面”设计,反射和折射光可以被操纵朝向任何方向。反射角不一定等于入射角,反射光甚至可以被“反弹”回光源方向,而不是像一般情况那样折向远离光源方向。这就是平面镜可以有哈哈镜的效果的原因。  这项成果2日发表在美国新一期《科学》杂志上,第一作者虞南方目前在哈佛大学工程和应用科学学院做博士后研究,虞南方2004年本科毕业于北京大学电子学系,2009年在哈佛大学获博士学位。  利用界面来控制光束不同部分的时延是一个具有革新意义的概念。虞南方告诉新华社记者,他们已用这种人工界面产生了“光涡旋”,这种奇异的光束在空间里螺旋前进,因而可以用来操纵旋转微小的悬浮颗粒。他预计,这一概念将衍生出一系列有用的光学元件,比如可以纠正相差的超薄平面聚焦镜片、可以采集大范围入射阳光的太阳能汇聚装置。哈佛大学目前已就这一成果提出专利申请。
  • 铂悦仪器参加中国环境学会年会
    技术年会8月23日在陕西省西安市召开。年会以“环保科技创新助力污染防治攻坚战”为主题,生态环境部副部长、中国环境科学学会理事长黄润秋出席年会开幕式并作重要讲话。来自各地生态环境系统科研机构、产业界代表约3500人出席开幕式。开幕式由中国环境科学学会秘书长王志华主持,陕西省人民政府副省长赵刚在开幕式上致辞。 铂悦仪器专业提供环境检测分析整体解决方案,TXRF全反射X射线荧光光谱仪 S2 PICOFOX,可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,含量范围100,检出限到2pg。 TXRF全反射X射线荧光光谱仪 S4 TSTAR在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。S1 TITAN手持式土壤分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb(铅),As(砷),Cd(镉),Hg(汞),Cu(铜),Ni(镍),Zn(锌),Cr(铬)等有害元素,能够实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测,从而进行控制排放和污染治理,人们的健康和生命。 铂悦仪器不拥有高品质的产品,更培养了专业的销售、技术和售后服务团队,本着客户至上的原则,从客户的实际需求出发,铂悦仪器为每一位客户量身订制*适合的综合解决方案,并提供持续而良好的售后服务,由此也获得了广大客户的信任与。铂悦展台现场交流咨询 参展仪器:TXRF全反射X射线荧光光谱仪 S2 PICOFOX痕量分析 TXRF 光谱仪快速多元素痕量分析可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量分析,元素范围13Al-92U,含量范围ppb至,检出限到2pg。 行业应用:水、废水、土壤中的污染元素;血液、尿液、组织中的有毒元素;食品、医药、刑侦、环保、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。TXRF全反射X射线荧光光谱仪 S4 TSTAR数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析,检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围,可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。行业应用: 药品 检测活性药物成分中的催化元素:液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品 粮农组织和世卫组织的食品*标准:大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测 环境监测:地表水,废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。 S1TITAN手持式土壤分析仪是Bruker公司推出的XRF荧光光谱仪。S1 TITAN手持式土壤分析仪实现了快速、准确分析土壤中的有害金属元素Pb(铅),As(砷),Cd(镉),Hg(汞),Cu(铜),Ni(镍),Zn(锌),Cr(铬)等有害元素,能够实时对厂区、矿区、重工业区周边的环境进行监测,从而进行控制排放和污染治理,人们的健康和生命*。分析范围:S,K,Ca,Ba,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Mo,Pd,Ag,Cd,Sn,Sb,W,Pb,Cs,Te,U,Th,Hg,Sc,Au,Ce,Y,P,Hf,Nb,Ac,Nd等40多种元素。对土壤中常见的重金属元素Pb,As,Cd,Hg,Cu,Ni,Zn,Cr等灵敏度好。野外、实验室均能使用,轻松分析土壤中重金属元素,方便、快捷。主要分析土壤、沙粒、污泥、固体废弃物、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。
  • 太阳能材料反射率测定方法
    材料的表面反射率是目前太阳能行业中最常关注的测试项目之一。这类测试所涉及到的样品种类繁多,包括金属反射涂层、半导体材料与涂层以及防护玻璃上面的防反膜等。很多材料的反射同时包含了镜面反射和漫反射两种类型,这对测试方法是否能将光谱干扰降到最低、获得准确的反射率数据提出了挑战。材料表面的反射类型:A.镜面反射;B.漫反射镜面反射镜面反射率可以用不同类型的镜面反射附件(例如VW型反射附件、VN型反射附件和通用反射附件URA)进行测量。VN型反射附件(单次样品反射)和VW型反射附件(两次样品反射)是根据背景(V)和样品(N和W)测量模式的几何光路而命名。背景和样品测量模式切换过程中镜子的移动是手动操作的。URA是一种可变角度、单次样品反射的VN型附件,其中镜子的移动和入射角度的选择完全由软件控制电子步进马达自动调节。PerkinElmer的通用反射附件URA漫反射漫反射率可以用积分球进行测量。测试光线分别经过参比光路和样品光路中的光学元件,通过Spectralon积分球表面开口,进入球体内部的参比窗口和样品反射窗口。积分球体积越大,开口率越小,测试准确率越高。PerkinElmer 150mm积分球内部检测器前面安装了具有Spectralon涂层的挡板,避免了样品初次反射光线进入检测器。PerkinElmer的150mm积分球及光路示意图■ 测试样品 样品描述1镜面反射成分很少的漫反射材料2反射强度较低的镜面涂层3中等反射强度的镜面涂层4反射强度较高的镜面半导体材料■ 光谱结果 样品1(左上)、2(右上)、3(左下)、4(右下)的光谱。黑色曲线为150mm积分球测量结果,红色曲线为60mm积分球测量结果,绿色光谱曲线为URA测量结果。样品1:150mm积分球测量的光谱强度更高,因为该积分球的窗口面积比例低于60mm积分球。因此更多的样品漫反射光线可以被收集起来,更接近准确值。样品2:150mm积分球测量结果与URA附件测量结果非常接近。60mm积分球测量结果的反射率偏高,这是因为热点区域主导并且富集了检测器所测量的光线。此外,积分球内部的漫反射光线很少,因此基本没有光线通过开放窗口逃离。样品3:60mm积分球测量的光谱存在波长漂移和强度平移的问题。150mm积分球与URA附件测量的光谱之间存在一些不规则的差异。样品4:60mm积分球和URA附件的测试结果差异明显(5%R),150mm积分球与URA附件所测量的样品光谱也不再重叠。结论镜面反射非常强或者完全是镜面反射的样品需要使用URA、VN或者VW等绝对镜面反射率附件进行测量。太阳能行业的一些材料具有很强的镜面反射,但是也含有少量的漫反射成分。对于这种类型的样品,可以使用150mm积分球来测量。通过测量铝镜消除热点产生的光谱干扰,获得可以接受的绝对反射率数据。如果样品与参比铝镜的反射率比较接近,可以获得最佳的测试结果。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • 首个中红外波长超级反射镜制成
    来自奥地利、美国和瑞士的科学家组成的国际科研团队,研制出了首个中红外波长范围超级反射镜,有望用于测量微量温室气体或用于切割和焊接的工业激光器等领域。研究论文发表于最新一期《自然通讯》杂志。在可见光波长范围内,现有金属反射镜的反射率为99%。在近红外范围,专用反射镜涂层的反射率高达99.9997%;但迄今最好的中红外反射镜的反射率为99.99%,光子丢失率是近红外超反射镜的33倍。人们一直希望将超反射镜技术扩展到中红外领域,以促进很多领域取得重大进展,如测量与气候变化有关的微量气体、分析生物燃料,以及提升广泛应用于工业和医疗领域的切割激光器和激光手术刀的性能等。此次,研究团队研制出的中红外超反射镜的反射率高达99.99923%。为制造出中红外超级反射镜,研究团队结合传统薄膜涂层技术与新型半导体材料和方法,开发出一种新涂层工艺。为此,他们先研制出直径为25毫米的硅基板,然后让高反射半导体晶体结构在10厘米的砷化镓晶片上生长,接着将其分成更小的圆形反射镜,再将这些反射镜安装到硅基板上,得到了超级反射镜并证明了其性能。研究人员指出,这款新型超反射镜的一个直接应用是显著提高中红外气体分析光学设备的灵敏度,可准确计量微量环境标志物,如一氧化碳等。
  • 日立应用|平板液晶电视中反射膜的光学评估
    液晶电视给我们的生活增添了更多光彩,几乎每家每户都在使用液晶电视获取信息或娱乐消遣。其中增亮膜、反射膜、扩散膜、导光板等是液晶模组的重要组成部分。分光光度计是检查光学组件特性的有利工具,今天我们重点介绍平板液晶电视中反射膜的评估。液晶模组内部结构液晶模组中的反射膜通过将光从导光板反射到正面来提高亮度。因此要求反射膜具有极好的反射特性,从而对光进行有效的利用。反射膜使用日立紫外-可见-近红外分光光度计UH4150搭配5°绝对反射附件、积分球检测器评估液晶显示屏中的反射膜。实验测量了三种反射膜的反射率,结果如图4所示。5°绝对反射附件 三种反射膜的反射光谱各反射膜的光反射率光源:D65视角:2°结果表明,样品C有最高的反射率,可以更好的利用光,增加显示的亮度和效果。日立紫外-可见-近红外分光光度计UH4150具有优异的平行光束特征,确保反射率和透过率的准确测定,大型样品仓和多种多样的附件,满足液晶模组中不同组件的评估。 UH4150公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。
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