轻元素分析仪

轻元素由于其外层电子密度低，元素荧光产额低，是XRF难以进行高灵敏度检测的元素范围。北京安科慧生通过单色化激发技术，实现对轻元素的高灵敏度激发与低背景检测，轻松将轻元素（硅、磷、硫、氯等）的检出限降低到1ppm以内，在石油化工、精细化工、环境保护、制药等领域具有广泛的应用前景。 产品特点：? 高灵敏度 世界上最高灵敏度的轻元素X射线荧光光谱仪，硫LLD：0.2ppm，氯LLD：0.1ppm，硅LLD：0.8ppm，同时可以分析元素周期表中从Na到Ti的区间元素，可以扩展分析C、N、O、F等元素；? 选择性激发 采用高通量全聚焦双曲面弯晶技术，将X射线管出射高强靶材特征谱单色化聚焦入射样品，选择性激发样品中轻元素，降低背景干扰，提升峰背比； ? 轻元素分析一体化 一次样品分析即可精确定量车用燃油中硫、氯、硅的含量，无需样品分析在多台仪器进行各个元素含量分析，缩短分析时间、降低人力物力消耗；? 高稳定性 光路固锁系统XFS（X-Ray Fixed System），工厂精密调谐后，不再产生位移或偏差，最大限度的保证了仪器的长期稳定性；? 低维护、低消耗 无需真空保护膜、无需钢瓶气体、无需复杂的仪器维护，只需要消耗样品杯和样品膜；

DM8000多元素分析仪（波散） 多道同时测量，快速、可靠、准确度高尤其适合工矿企业对多元素测量的要求采用波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术美国进口Varian公司薄铍端窗X射线管Moxtek公司0.6μm超薄聚酯探测器窗符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM8000多元素分析仪（波散）是由本公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用同时式(或称多道式)波长色散X射线荧光(WDXRF)分析技术，所有道同时测量从Na到U的任意十种元素。对大多数元素，其测量范围可低至ppm高至100%。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作人员劳动强度低、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。DM8000多元素分析仪（波散）关键部件采用进口产品，如X射线管采用Varian公司生产的400W薄铍端窗X射线管，Na、Mg等轻元素道探测器窗采用Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗，恒温室温度控制精度小于0.1℃，流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa，还具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。由此使本分析仪具有极高的精度和准确度，达到国际先进水平。本分析仪屏蔽防护的良好设计保证无任何射线泄漏，满足辐射豁免要求。DM8000多元素分析仪（波散）应用于我国水泥行业尤其显示出其优越性。这是由于该款仪器最初是为水泥行业专门开发的，其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。其性能对水泥行业来说比进口同类产品更好，而价格仅为进口同类产品的一半，具有无可比拟的价格性能比。另外国内企业售后服务的方便程度是国外企业所无法相比的。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度测量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等工矿部门的固体、液体和粉末样品中Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等的浓度分析。特点快速同时––同时式(或称多道式)，所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––波长色散XRF分析技术，具有能量色散无法企及的极高分辨率，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––样品粉碎压片或熔融，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。长期稳定––有恒温室、流气密度稳定、样品自旋等装置，还有可变增益数字多道，具极好的长期稳定性。高可靠性––固定道使仪器基本没有移动部件，且集成化程度高，环境适应能力强，从而可靠性高。软件强大––有比率或基体效应校正、偏差修正、合格率等统计、率值计算、出错提示等多种功能，还可免费 更新最新版本，根据用户要求增加软件功能。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。高性价比––无需水冷，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。原理其原理如图2所示。X射线管垂直放置，直接向上照射样品，这样可使它们之间的距离尽可能的近，从而达到最大激发效率。样品接受X射线管所发出X射线的照射将产生X射线荧光，其将进入分光室进行分光。一种元素对应一个分光室。X射线荧光经狭缝（如果分光晶体用的是弯晶）或索拉狭缝（如果分光晶体用的是平晶）射向分光晶体，经晶体分光后满足衍射条件布拉格方程的对应该元素的特征X射线荧光再经狭缝或索拉狭缝射向探测器。经探测器探测并经后面的电子线路计数后将得到该元素特征X射线荧光的强度，再经校准方程计算得到元素的浓度。图2 多道 WDXRF分析技术原理图由于其X射线荧光是经晶体按波长来区分的，所以称之为波长色散。其分辨率与探测器无关只与晶体有关，所以有很高的分辨率，相比于能量色散的要高1个数量级。关键部件进口美国Varian公司生产的薄铍端窗X射线管采用美国Varian公司生产的EG-60薄铍端窗X射线管。该X射线管是端窗的，X射线束垂直于靶，焦斑到样品距离极短，从而提高激发效率。其窗用薄铍，靶材用的是铑，所以能高效地探测轻元素。其阴极接地，消除了对高度绝缘的灯丝变压器的需要，也消除了铍窗口的电子轰击和由此产生的加热。其功率为400W，只需用风冷而不需用水冷，由于是多道同时测量，其效果相当于扫描式(或称单道式)的4000W大型X射线管。其外形图见图3。图3 EG-60薄铍端窗X射线管进口美国Moxtek公司生产的0.6μm超薄聚酯窗对于轻元素的测量，比如Na、Mg，探测器的窗是很重要的，其必须足够薄并且足够牢。本仪器采用美国Moxtek公司生产的0.6μm厚的ProLINE系列20窗，其由超薄层聚合物和涂有200埃的铝的电荷耗散层连接到坚固的金属六边形支撑框架上，从而达到低能量x射线的高透射。B（Kα）的分析都是可能的。图4为其外形图。图5是其能量与透射率关系图。图4 Moxtek的超薄聚酯窗图5 ProLINE系列能量与透射率恒温室温度控制精度小于0.1℃波长色散分析仪是个精细的仪器，特别是晶体对机械尺寸的要求极高，当温度有一定的变化而造成尺寸那怕是微小的变化时会造成强度的变化，所以分光室必须恒温。本仪器的恒温室温度控制精度小于0.1℃，并且除分光室外，其他如探测部分及其电子线路等均在恒温室内，从而使仪器不受外界温度的影响。流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa本仪器所用探测器为本公司自己开发生产的流气正比计数管，其所流过的气体的密度必须恒定才能保证探测器的稳定，本仪器流气系统采用高精度流气密度稳定装置，压力稳定度小于3Pa。具有样品自旋装置以消除样品不均匀所产生的测量误差。样品若用粉末压片的方法制备的话，如含SiO2，由于其硬度很高，磨得的颗粒大小不一，从而使样片的表面不均匀。所以本仪器设计安装了样品自旋装置以最大程度的消除样品不均匀所产生的测量误差。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个国家水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分系数D系数E系数F相关系数γNa2O-0.12816.7578×10-600.8296MgO-0.22926.0429×10-500.9968Al2O3-0.10961.2584×10-400.9945SiO2-5.11162.1326×10-500.9727SO3-0.22071.1990×10-500.9687K2O0.02677.0202×10-600.9952CaO11.48801.1060×10-500.9980Fe2O3-1.71809.9915×10-600.9967这些校准曲线的相关系数γ大部分都大于0.99，表示DM8000多元素分析仪（波散）的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）XS1标样Na2OMgOAl2O3SiO2SO3K2OCaOFe2O3标准值0.092.594.2714.430.240.3039.841.96平均示值0.072.514.3114.340.260.2939.951.95最大示值0.072.544.3614.390.270.2939.981.96最小示值0.072.504.2914.290.260.2939.921.94极差00.040.070.10.0100.060.02示值标准偏差0.0010.010.020.020.0020.00140.020.0053倍示值标准偏差0.0030.030.060.060.0060.00420.060.015GB/T176的重复性限0.050.150.200.200.150.100.250.15DM8000与国标的符合性远优远优优优远优远优优远优GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM8000多元素分析仪（波散）可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤50keV，电流：≤8.0mA，功率：≤400W探测器超薄窗流气正比计数管可测元素或其氧化物种类从Na到U的任意十种元素或其氧化物，以水泥为例（下同）具体是：Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等。测量范围Na2O，MgO，Al2O3，SiO2，SO3，TiO2，K2O，CaO，Fe2O3等分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Na2O max—Na2O min≤5%，MgO max—MgO min≤5%，Al2O3max—Al2O3min≤5%，SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，TiO2 max—TiO2 min≤5%，K2O max—K2O min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度SNa2O≤0.01%，SMgO≤0.03%，SAl2O3≤0.04%，SSiO2≤0.04%，SSO3≤0.01%，STiO2≤0.01%，SK2O≤0.01%，SCaO≤0.03%，SFe2O3≤0.02%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：180s恒温室温度36℃±0.1℃使用条件环境温度：15～28℃，相对湿度：≤75%(25℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤1.0kW尺寸及重量790mm（W）× 760mm（D）× 1200mm（H），195kg

产品名称：CIT-3000SMQ 水泥全元素分析仪 产品说明、技术参数及配置 在国土资源部&ldquo 水泥行业专用多元素分析仪&rdquo 项目的支持下，先达公司综合了我国大、中型水泥生产的需求和建议，在原有多元素分析仪器的基础上，独立成功开发了国内领先水平的水泥全元素分析仪。该设备采用数字化谱分析技术，可以一次性分析水泥生熟料中的九种元素（Cl、K、Si、Mg、Al、S、P、Ca、Fe），自动计算三率值，可以分析各种原料的元素成分，具有分析速度快、精度高、稳定性好、操作简单、故障率低等显著特点，对水泥企业用来及时控制生产起到了很好的效果。 适用范围 水泥制造企业：原料、生料、熟料、水泥等各种成分分析； 石灰石企业：石灰石各种成分分析。 型号：CIT-3000SMQ 技术指标 分析元素：Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Fe等 样品用量：10-15克 探测器的分辨率：优于125ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 分析范围：1ppm-99.99%. 能量范围：1-30keV. 同时分析：9种元素同时分析 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 性能特点 台式结构，人性化设计，便于操作，美观大气； l采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； .采用X光管激发样品，一次激发全部九种待测元素； 高压电源：电压 0V-25kV连续可调；电流0-lmA连续可调。数码显示，精度高，无故障操作； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，无需液氮制冷，使用方便。探测器分辨率优于160eV(55Fe)； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和灵敏度； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 水泥企业专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 可一次性实现水泥中九元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 全中文Windows应用软件，操作简单。 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-25KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪满足国Ⅴ、国VI对车用汽柴油超低S检测要求超低检测限（300s）： Si: 0.7ppm， P: 0.4ppm，S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm采用 单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术 高衍射效率对数螺线旋转双曲面(LSDCC)人工晶体 高计数率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探测器 合理 kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管 符合标准：GB/T 11140ISO 20884ASTM D2622ASTM D7039ASTM D7220ASTM D7757ASTM D7536ISO 15597ASTM D6481概述DM2400型单色激发能量色散X射线荧光轻元素（Si、P、S、Cl）光谱仪，简称DM2400型MEDXRF轻元素光谱仪，是本公司集数十年X荧光光谱仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光测硫仪、X荧光多元素分析仪、波长色散X射线荧光多道光谱仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的XRF光谱仪。它采用以下技术和器件，使采用50W光管的能谱仪DM2400具有出色的再现性和稳定性，超低检出限，实已将现代科技发挥到极致。图1. MEDXRF分析技术原理图单色激发能量色散X射线荧光(MEDXRF)分析技术X射线荧光光谱仪的检出限LOD（limit of detection）是指由基质空白所产生的仪器背景信号标准偏差的3倍值的相应量，即： （1）式中，Rb为背景（本底）计数强度，N为已知浓度为C的低浓度试样的计数强度，T为测量时间。从式（1）可以看出检出限与灵敏度（N-Rb）/C成反比，与背景Rb的平方根成正比。在测量时间一定的情况下要降低检出限，就必须提高灵敏度和（或）降低背景。传统XRF，无论是EDXRF还是WDXRF，无法实现较低检出限的一个主要原因是X射线光管出射谱中连续轫致辐射的散射使得荧光光谱的连续散射背景较高。 单色激发能量色散X射线荧光 (Monochromatic Excitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) 分析技术，就是采用光学器件将X射线光管出射谱单色化，进而使得荧光光谱的连续散射背景极大地降低，同时尽可能少的降低甚至于可能的话增加所需激发X射线的单色化的线或窄能量带的强度，从而大大降低了检出限。相比传统的EDXRF降低了1至2个数量级，相比大功率（如4kw）的WDXRF也要低得多。图2.样品的XRF光谱图高衍射效率对数螺线旋转点对点聚焦人工单色晶体将X射线光管出射谱单色化的方法很多，有滤波片法，二次靶法和衍射法等。而衍射法中的双曲面衍射晶体DCC（Doubly CurvedCrystals）是单色化最好和效率最高的。衍射必须满足Bragg定律：nλ=2dsinθ （2）也就是说从源出射的射线其波长必须满足（2）式才被衍射，所以其具有极好的单色化。又由于DCC能将点源聚焦，所以有大的收集立体角，从而有极高的效率。另外，聚焦还能使照射到样品的光斑很小，从而使小面积的半导体探测器Si-PIN或SDD可以接受大部分样品较小面中的荧光射线，也就是说DCC还提高了探测效率。图3. 实线为 X 射线管的出射谱 ，红色为经LSDCC单色化的特征X射线入射谱 DCC按其曲面又分为半聚焦（Johann），全聚焦（Johansson）和对数螺线（Logarithmic Spiral）等。其中半聚焦只是部分满足衍射条件，所以经半聚焦DCC单色化的特征X射线入射谱是最差的。全聚焦是完全满足衍射条件且是点对点聚焦的。但全聚焦DCC的制造工艺极其复杂，除弯曲外它必须有一个磨成R曲面的过程，天然晶体如Si，Ge等是很脆的，极不容易磨制，而人工晶体是不可能磨制的，另外天然晶体通常在非常窄的光谱区域中衍射X射线。导致靶材特征X射线只有一部分被衍射，积分衍射率低 DM2400采用的对数螺线旋转双曲面人工晶体DM30L，是集本公司技术精英经2年的刻苦专研研制而成的专利产品。对数螺线DCC也是完全满足衍射条件的，虽然聚焦不是点对点的，而是点对面的，但由于这个面很小，一般只有2mm左右，所以可认为是点对点的。它用的是DM人工晶体，该晶体的积分衍射率是天然晶体的3到10倍，所以该晶体具有极高的效率。另外，它只需弯曲无需磨制和拼接，制造方便。图4. LSDCC点对点聚焦原理图高分辨率(123eV)高计数率(2 Mcps)的SDD探测器X射线探测器的种类有很多，有正比计数管，Si-PIN探测器和硅漂移探测器SDD等。探测器的分辨率以全能峰的半宽度表示，全能峰的净计数与半宽度无关，但其背景计数与半宽度成正比，所以分辨率越高则检出限越低。正比计数管的半宽度是半导体探测器的8倍左右，所以检出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差，且其在高计数率下分辨率急剧下降。所以SDD是其中最好的。DM2400采用德国KETEK公司生产的VITUS H20 CUBE(最高级)SDD探测器，其分辨率小于123eV，有效探测面积20mm2，计数率2 Mcps。最佳kV、mA、靶材组合的微焦斑薄铍窗X射线管激发样品的X射线能量越接近所需分析元素的吸收限，其激发效率就越高。DM30L晶体仅衍射X射线管出射谱中的高强度特征X射线，其有靶材发出。所以合理的选用靶材能得到最高的激发效率。DM2400标准型由于可测量Cl以下的元素，所以选择Ag作为靶材。选定靶材后，在X射线光管最大功率一定的情况下，如50W，合理的光管高压（kV）和电流（mA）组合能达到最大的激发效率。由于采用点对点的聚焦，所以必须采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射线能量很低，所以必须用薄铍窗X射线管。 DM2400采用50W微焦斑薄铍窗X射线管，标准型选用Ag靶，并对kV、mA进行最佳组合。标定用已知含量的7个含Si、P、S、Cl样品对仪器进行标定，得图5的工作曲线。图5. 含Si、P、S、Cl样品工作曲线这些工作曲线的相关系数γ 均大于0.999，表示DM2400光谱仪的线性误差极小。 准确度为了进一步测试分析的准确性，制备了具有不同硫含量的柴油和轻质油的五个样品，每个样品装入两个不同的样品杯中进行S准确度试验：表2. 用五个未知样品测定S分析的准确度结果样品标称值（ppm）1号样品杯（ppm）2号样品杯（ppm）柴油554.914.82柴油333.023.05汽油222.122.00汽油101010.810.2汽油252524.525.2 表2示出了获得的浓度结果（ppm），以及与标称值的比较。这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的准确度。精确度对三种，每种各装入七个不同样品杯的汽油样品进行S重复性试验：表1. S汽油样品S分析的重复性测试数据样品杯号第1种样品（ppm）第2种样品（ppm）第3种样品（ppm）11.155.3110.3221.084.929.8930.905.0510.1140.934.789.6751.014.889.5161.035.169.9070.975.269.81平均值1.015.059.89标准偏差0.0860.2010.269RSD8.6%4.00%2.69%这些结果表示在低浓度水平下，用DM2400光谱仪可以实现S的优异的重复性。 特点快速同时–所需测量元素同时快速分析，一般几十秒给出含量结果。低检出限–采用先进MEDXRF技术，LSDCC核心技术，达到超低检出限。具极高的重现性和再现性。长期稳定–采用可变增益数字多道,有PHA自动调整、漂移校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。环保节能–射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。使用方便–触摸屏操作。样品直接装入样品杯，放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。高可靠性–一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。高性价比–无需钢瓶气体，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半。是真正的高性价比产品。适用范围适用于炼油厂、检测及认证机构、油库、实验室测量范围从0.5ppm到10%的各种油品(如汽油、柴油、重油、残渣燃料油等)、添加剂、含添加剂润滑油、以及炼化过程中的产品。亦适用于各行各业任何材料中Cl以下元素的同时测量 主要技术指标测量元素Si、P、S、Cl(可选择B～Cl中的任意元素组合)X射线管电压：≤50keV，电流：≤2mA，功率≤50W，靶材：Ag（Mo、Rh、Pd、Cr等可选）探测器SDD，有效面积：20mm2，分辨率：≥123eV，计数率：≤2Mcps，入射窗：8μm铍 （AP3.3可选）检测限（300s）Si：0.12ppm，P：0.7ppm，S：0.26ppm，Cl：0.14ppm（标准型，1块LSDCC晶体）Si：0.7ppm，P：0.4ppm，S：0.15ppm，Cl：0.08ppm（增强型，3块LSDCC晶体）测量范围检测限的3倍～9.99%线性误差分析精度测S：满足GB/T 11140，ISO20884，SH/T 0842，ASTMD2622、D7039、D7220等的相关要求。 测Si：满足ASTM D7757，SH/T 0706，SH/T 0058等的相关要求。测Cl：满足ASTM D7536，ISO 15597，SH/T 0161等的相关要求。测P：满足ASTM D6481，SH/T 0296，SH/T 0631等的相关要求。系统分析时间1～999s，推荐值：微量测量为300s，常量测量为60s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤200W测量氛围自充气系统或氦气尺寸及重量540mm×500mm×450mm，35kg注：如用户认为标准型的DM2400不能满足要求，可向本公司提出，本公司可尽可能满足用户的要求。如要求更低的检测限，本公司可将晶体从1块增加到3块以降低检测限为原来的1/1.73。如要求测量F以下原子序数的元素，本公司可为用户选择AP3.3入射窗的SDD。如用户要在高S的基体下测微量Al和Si，本公司可将标准型的Ag靶改为Mo靶，以满足用户要求。

在同档次中唯一得到广大水泥企业认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。获得全国首张辐射豁免函，是真正的绿色环保产品。概述DM2100型X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用X光管激发，使仪器能长期使用而不象同位素源激发受源衰减的影响。仪器虽属小型X射线荧光能谱分析仪，但由于采用了国内首创的分谱技术，使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素（如水泥生料中的Al、Si），其测量准确度接近或达到进口大型仪器的水平，而价格只是进口大型仪器的十几分之一，特别适合我国国情。加之能克服化学分析的缺点，节约化学试剂，不污染环境，还可节约劳动力，一旦用上爱不释手。另外能真正实现生料的率值控制，提高水泥熟料的标号，其效益一年为数十万，一般小型水泥企业一年内即可收回投资。DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪现已获得实用新型专利和发明专利各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目，并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。技术参数：1．分析元素或其氧化物种类: Al、Si、S、Ca、Fe或其氧化物。2．分析范围: "控制目标值±2.5%"的范围内，由所标定的曲线决定。3．系统分析时间: 300秒(活时间)。4．分析精度：S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%，S SO3≤0.05%，SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。5．使用条件: 环境温度：5-40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220±20V，50Hz。6．整机功耗: ≤50W。7．尺寸与重量: 长×宽×高:560×470×150mm 重量:23Kg。主要特点： (1) 多成份同时快速分析,一般几分钟给出SiO2 、Al2 O3 、CaO、Fe2 O3 百分含量结果。(2) 采用国内首创的分谱技术,能真正区分相邻元素,从而准确测量相邻轻元素等。(3) 采用X光管或长寿命同位素源激发,使仪器能长期使用,而不受源衰减的影响。(4) 仪器以大液晶屏显示,操作采用中文菜单方式,操作简便。打印机能打印测量数据。(5) 采用物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂。(6) 仪器采用一体化设计,集成化程度高,可靠性好,维修方便。(7) 环境适应能力强,长期稳定性好。(8) 一体化的仪器分析系统,可独立使用,也可与配料系统联机使用。(9) 价格功能比低,适合我国国情。(10) 无三废公害,射线防护安全可靠。实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

XL3tXRF元素分析仪应用领域：金属与合金检测玩具与消费品矿井勘探与生产环境分析 产品特征:易于使用:不需要任何专 业培训或是技能独特设计:一站式系统检测,无需任何外部配件重量轻巧:单台仪器*重1.36kg很快的检测速度:瞬间提供检测结果,可使您迅捷从容的做出判定已三度获得R&D100设计大奖，也是*一获得该奖项的手持式XRF分析仪 技术参数:重量:小于1.3kg探测器:高性能GOLDD探测器语言:11种语言选择,包括简体中文/英文操作界面测试范围:S-U超过25种元素（增配轻元素滤光片可测Mg-U)测试模式:电子金属模式、塑料模式、消费品全能模式

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

性能技术指标　　1.煤灰成份分析仪TY-37673煤中金属元素分析技术指标:　　1.2.工作条件：　　1.2.1、工作温度：15-28℃　　1.2.2、相对湿度：40%～70%　　1.2.3、电源：AC:220V±5V　　1.3.技术性能及指标:　　1.3.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 　　1.3.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99% 　　1.3.3.测量时间：60-200秒(可调) 　　1.3.4.其检测限度*高达1PPM 　　1.3.7.能量分辨率为129±5电子伏特 　　1.3.8.温度适应范围为15℃至28℃ 　　1.3.9.电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 1.4.产品特点　　1.4.1 DHA-37673配备抽真空，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限，精确度提高了，同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。　　1.42整体结构化设计，仪器美观大方。　　1.4.3采用美国*新型的SDD探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.4.4采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高峰背比，让测量更精准。　　1.4.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。　　1.4.6八种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.4.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品*高级。　　1.4.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。　　1.4.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.4.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。　　1.4.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。　　1.4.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。　　1.4.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。　　1.4.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。　　1.4.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用 同时开盖即解除真空，安全、简单实用。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1 SDD电制冷探测器:(*新型探测器)　　2.1.1.SDD电制冷探测器 分辨率：129±5e电子伏特　　2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置(薄铍窗光管):　　2.2.1.灯丝电流*大输出：1mA 　　2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时　　2.3高压发射装置:　　2.3.1.电压*大输出：50kV 　　2.3.2.*小5kv可控调节　　2.3.3.自带电压过载保护　　2.4一体化真空系统　　2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统 　　2.4.2几何抽速：60 L/min(50Hz)　　2.4.3极限压力：6.7×10-2 Pa　　2.5多道分析器:　　2.5.1将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件 　　2.5.2*大道数：4096 　　2.5.3包含信号增强处理功能 　　2.6光路过滤模块　　2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确 　　2.6.2将准直器与滤光处整合 　　2.7准直器自动切换模块　　多达八种选择，口径分别为8-1#,8-2#,8-3#,6-4#，4-5#,1-6#,0.5-7#,0.2-8#。　　2.8滤光片自动切换模块：七种滤光片的自由选择和切换。　　2.9准直器和滤光片的自由组合模块：多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。　　2.10工作曲线自动选择模块：自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化演绎得更完美，使操作更人性，更方便。　　3.专用成分分析软件　　3.1软件简介　　专门针对矿石检测而开发(含真空控制功能)，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并　　报告显示测量结果。　　3.2功能介绍　　3.2.1、专门应对矿石中SiO2，Al2O3，Fe2O3，MgO，NaO，P2O5，CaO，MnO等化合物的测试，测量时间为60-200秒(可调)　　3.2.2、操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※自动校准仪器　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印　　※可同时显示多个光谱图　　※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然　　1.样品配置：标准样品用于制作工作曲线　　4.1样品腔　　开放式大样品腔　　半封闭样品腔(抽真空时)　　4.2标样　　标样根据客户需求银校正片　　2.标准附件　　5.1、低噪音快抽速真空　　5.2、体积小、重量轻、结构简单，易于保养和维修　　5.3、抽速快，30S即可达到真空测试要求　　5.4、极限压力可达6.7×10-2Pa　　5.5、单相AC220V供电，无须外接三相电　　3.产品保修及售后服务　　6.1对客户方操作人员免费进行培训。　　6.2安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。　　6.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。　　6.4产品终身维修。　　6.5免费提供软件升级。

仪器说明：Innov-X Systems 新推出的移动式X系列矿石分析仪，功能强大，便于携带，是同类分析仪的基准。X系列仪器采用10W，50Kv的射线管，超大探测面的探测器，多种分析模式，6个光束滤波器，是目前市场上功能最强大的移动式分析仪。这款仪器的硬件配置特别适合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探测元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析.同时也很适合测Mg, Al, Si P, S, K & Ca等轻元素。标配清单：1. X-5000主机1台；2. 用户化Microsoft Windows XP操作系统1套；3. 土壤专用测试软件Soil Beam11套；4. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；5. 土壤专用测试软件Soil Beam1套；6. 百分比含量专用测试软件Mining1套；7. 专用地球化学元素测试GeoChem模式1套；8. 数据传输线USB1条；9. 智能接驳座1个；10. 充电系统1套；11. 防水运输胶箱1个；12. U盘(内含用户手册,软件备份,PC软件等)1个；13. 快速操作指南1份；14. 校准证明1张。技术参数：尺寸外形尺寸：328x280x380mm；展开尺寸：328x690x460mm；样品室尺寸：287x145x114mm重量26lbs；11Kg环境要求环境湿度0~95%；环境工作温度-20℃~50℃；亮黄激发源0~50kV多段可选择的电压；200uA探测器SI-PIN；SDD；等不同的探测器可选择冷却系统采用了Peltier恒温冷却系统，探测器在-35℃下工作，保证仪器滤波器6个滤波片可自动切换电压、电流电压15~40kv,电流可达200uA电力要求10~240VAC；50~60Hz, 最小电力100W 主机供电系统10~240VAC；50~60Hz交流电；锂电池组、适配器，适配器DC输出16.4V 3A（可选项)显示器整机一体化设计，工业级高分辨率TFT 触摸显示彩屏10英寸，分辨率800*600显示器固定方式一体机设计,整机连体构造，可防尘,防雾,防水,极大的降低了故障率数据显示百分比%和ppm显示元素含量，动态显示，元素可排序数据存储内存504M，硬盘18.6G处理器CPUIntel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M操作系统Microsoft Windows XP ,SP2

—来自美国劳伦斯伯克利国家实验室的绿色化学分析技术技术背景 当激光作用于样品表面时，在极短时间内诱导产生含有样品物质的等离子体，等离子体产生的过程中，发射出带有样品元素信息的发射光谱，通过检测这些发射光谱，得到样品的元素信息。这种技术被称为激光诱导击穿光谱技术LIBS（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），俗称激光光谱元素分析技术，检测限可达ppm级；随着等离子的冷却，凝结的样品颗粒可输送到ICP-MS，可测量样品中的微量、痕量元素或同位素，检测限可达ppb级。 测量的元素可覆盖元素周期表中的大部分元素，高达100多种。 J200激光质谱联用元素分析仪是美国应用光谱公司APPLIED SPECTRA（ASI公司）融会美国劳伦斯伯克利国家实验室（Lawrence Berkeley National Laboratory）30多年激光化学分析基础理论研究成果推出的全球顶级产品。ASI公司由美国劳伦斯伯克利国家实验室资深科学家 Dr. Rick Russo及其团队成立。Russo博士研究领域包括：激光加热和激光剥蚀过程的机理研究；飞秒激光进样系统；利用激光剥蚀技术提高LIBS及ICP-MS 的化学分析精度；激光超声的无损检测和评估等。Russo 博士共发表学术论文300 多篇，专利22 项。ASI公司在激光应用领域具有世界领先的技术及经验。 系统介绍 J200激光质谱联用元素分析仪创造了激光等离子光谱化学分析技术的新时代，首次将LIBS技术和ICP-MS结合，将检测限提高到ppb级，并可得到样品元素的空间分布图（elements mapping)。目前已广泛用于国际高端和国家级实验室，如美国劳伦斯伯克利国家实验室、美国大克拉曼多犯罪实验室 、巴西圣保罗大学、 美国西北太平洋国家实验室等众多知名机构。 J200激光质谱联用元素分析仪基于激光诱导击穿光谱技术，实现了从氢元素到钚元素几乎全元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。此外，J200激光质谱联用元素分析仪还可将剥蚀出的纳米级固体样品微粒直接送入ICP-MS进行更精确的分析，有效避免酸溶、消解等复杂样品前处理带来的二次污染和可能的误差引入，同时还可以大大提升元素检测限，实现了ppb以下到100%的宽范围测量。 功能 快速检测土壤、植物、中草药、刑侦材料（玻璃、油墨等）、矿石、合金等样品中的： ? 常量元素N, P, K, Ca, Mg, S ? 微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl ? 痕量元素：可检测化学周期表上大部分元素 ? 其他：有机元素C、H、O和轻元素Li、Be、Na等 （其他技术很难同时分析） ? 同位素 （可升级和ICP-MS 联用测量) 应用领域 ? 土壤、植物样品检测 ? 中药元素分析 ? 刑侦微量物证分析 ? 农产品检测 ? 地质矿物分析 ? 煤粉组分检测 ? 重金属污染检测 ? 合金分析 ? 宝石鉴定 ? 材料分析等 工作原理 J200激光质谱联用元素分析仪的固体激光器产生激光作用于样品表面。当激光能量大于样品击穿门槛能量时，在样品表面形成等离子体。这些等离子体中受激光能量激发到达高能态的样品物质在迅速回迁至低能态的过程中，发射出带有样品元素种类、含量信息的发射光谱，这些发射光谱信号被智能信号收集系统收集并传输至光谱仪中进行分光，再由CCD检测器进行检测，得到元素信息。硬件特点 ? J200激光质谱联用元素分析仪可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS 系统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的 样品前处理过程及可能引入的二次污染。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配置高适连接口，轻松实现与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。 ? J200激光质谱联用元素分析仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设 置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。 ? J200激光质谱联用元素分析仪的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的 种类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。 ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀（分辨率最小可达 7nm）、夹杂物和微光斑分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。 ? J200激光质谱联用元素分析仪采用ASI专利技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样 品表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动 操作台。 ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。 软件特点 J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。 ASI公司专利的TruLIBS™ 数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™ 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™ 同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。 J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。 数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。 此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。 产地：美国应用案例1、土壤样品常量和微量元素分析 将不同来源的9个土壤标准样品压片处理，使用ASI公司的J200 激光光谱元素分析系统进行测量，并采用J200内置的专业分析软件对测量结果进行分析。并对分析结果的精确度和分类鉴别能力进行评价。图1为9个土壤标准样品的PCA三维分析结果图。这表示分析结果能良好的判断出这9个样品为不同类型的土壤。采用建立的标准曲线检测21号土壤标准物样品，以此来评价分析的准确度和精度（表1）。 2、植物样品表层及深层元素分布 将植物叶片置于金属元素溶液中至24小时，使用J200 激光光谱元素分析系统对叶片进行扫描，可见植物叶片对重金属元素吸收分布的情况。其中常量元素由LIBS系统直接测出，重金属元素由LA-ICP-MS进行测量。 采用飞秒LA-ICP-MS系统还可以对植物叶片进行深度的剖析。测量叶片内部不同部位的元素变化情况以及特定元素的分布情况。实验使用飞秒激光器，10个脉冲，脉冲1至脉冲10表示叶片的表层至内部。3、大米和糙米样品外壳及内部砷元素的分布图谱 大米是中国、韩国和日本等东亚诸国的主要农作物，大米中砷元素含量超标引发了很多食品安全问题。国际食品法典委员会标准中也明确规定铅含量不得大于0.2mg/kg ，镉含量不得大于0.1mg/kg，但仍然对砷元素含量无规定。为了建立相关标准，韩国科学技术研究院搜集了韩国市场上常见的100种大米和糙米样品，分析其中砷元素的含量及分布作为相关标准制定的科学依据。研究结果表明，砷元素主要分布在糙米和大米样品的表面，并存在砷元素含量明显的向中心递减趋势。结论：砷元素主要分布在大米和糙米的表面，打磨是降低砷元素含量的主要手段。部分文献 欢迎来电索取文献目录OlgaSyta,BarbaraWagner,Ewa Bulska,Dobrochna Zielinska,Grazyna Zo?a Zukowska,Jhanis Gonzalez,RichardRusso.Elemental imaging of heterogeneous inorganic archaeological samples by means of simultaneous laser induced breakdown spectroscopy and lasera blationin ductively coupled plasma masss pectrometry measurements.Kiran Subedi, Tatiana Trejos, Jose Almirall,Department of Chemistry and Biochemistry, Florida International University, Miami, FL 33199, USA.Forensic analysis of printing inks using tandem Laser Induced Breakdown spectroscopy and Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry万翔宇，王阳恩，熊艳，王绍龙，梅兴安；长江大学物理科学与技术学院, 湖北荆州；《激光杂志》2014年第35卷第4期.激光诱导击穿光谱对水系沉积物的分类及铬元素测定的研究李辉，王阳恩，刘庆，林佳辉，徐大海.长江大学物理与光电工程学院,湖北荆州；分段激光诱导击穿光谱的水稻种子识别Benjamin T.Manard,C.Derrick Quarles Jr,E.Miller Wyliea and Ning Xua.Laser ablation–inductively couple plasma masss pectrometry/laserinduced breakdown spectroscopy:a tandem technique for uranium particle characterizationHerveK.Sanghapi,Jinesh Jain,Alexander Bol' shakov,Christina Lopano,Dustin McIntyre,Richard Russoc.Determination of elemental composition of shalerocks by laser induced breakdown spectroscopy.Chirinos, J. R., Oropeza, D. D., Gonzalez, J., Hou, H., Morey, M., Zorba, V., & Russo, R. E. (2014). Simultaneous 3-Dimensional Elemental Imaging with LIBS and LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry. doi:10.1039/c4ja00066hChoi, S. H., Kim, J. S., Lee, J. Y., Jeon, J. S., Kim, J. W., Russo, R. E., et al. (2014). Analysis of arsenic in rice grains using ICP-MS and fs LA-ICP-MS. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1233–1237. doi:10.1039/C4JA00069BQuarles, C. D., Gonzalez, J. J., East, L. J., Yoo, J. H., Morey, M., & Russo, R. E. (2014a). Fluorine analysis using Laser Induced Breakdown Spectroscopy (LIBS). Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 29(7), 1238–1242. doi:10.1039/C4JA00061GDong, M., Mao, X. L., Gonzalez, J., Lu, J., & Russo, R. E. (2013). Carbon Isotope Separation and Molecular Formation in Laser-Induced Plasmas by Laser Ablation Molecular Isotopic Spectrometry. Atomic Spectroscopy. doi:10.1021/ac303524dHarmon, R. S., Russo, R. E., & Hark, R. R. (2013). GEOLIBS–A Review of the Application of Laser-Induced Breakdown Spectroscopy for Geochemical and Environmental Analysis. Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy. doi:10.1016/j.sab.2013.05.017Piscitelli, V., Gonzalez, J., Mao, X. L., Fernandez, A., & Russo, R. E. (2013). Micro-Crater Laser Induced Breakdown Spectroscopy-an Analytical approach in metals samples.

产品简介A-650型X荧光分析仪是佳谱仪器多年研发，专为有色金属、黑色金属、选矿及冶炼、地质行业定制的一款高端分析仪器。技术规格测量元素范围从钠（Na）到铀（U）测量浓度范围ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）测量对象状态粉末、固体、液体元素分析能力一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素分辨率129eV±5eV分析精度RSD≤0.1%（国标标样）分析时间单次测试时间可调制冷方式电制冷，无需任何耗材大样品腔尺寸400mm x 340mm x 80mm抽真空样品腔尺寸φ100mm×h75mm外观尺寸700mmx510 mmx336mm工作电源AC 220V ±5V、50Hz工作环境室内温度 15～30℃；相对湿度 ≤80% （不结露）整机重量56KG性能特点分析效率速度快、精度好、效率高，采用自主研发的分析软件能在1-120秒内同时完成从11钠（Na）至92铀（U）之间几十种元素的同步准确分析功能优势1. 外形设计：大方美观、坚固耐用、多重安全防护模式。2. 准直滤光系统：准直器+多组合滤光片，软体自动切换，满足各种测试应用。3. 采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更准。4. 多维散热系统：优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全5. 辐射安全系统：多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级别6. 真空系统：选择抽真空系统，优化测试环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度，大大扩展A-650型分析仪的分析能力。7. 独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本硬件优势核心部件整套进口1. 探测器：原装美国Amptek硅漂移SDD探头，分辨率低至129eV±5eV，能量线性和能量分辨率俱佳，高峰背比。2. X射线管：功率50W、管电压5-50KV 、管电流0-1000uA；长寿命X射线管。3. 高压电源：功率50 W、电压0 -50 KV、电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。4. 信号处理器：采用进口信号处理器，适应高分辨率和高计数率，自调放大倍数，道数： 4096。软件优势美国丹纳赫和我司共同研发的X荧光分析软件中文版，该软件融合经验系数法、理论α系数法、线性拟合、二次曲线、强度校正、含量校正等多种分析方法，全面保证测试数据的准确性。仪器配置系统标配1. 数字多道型SDD探测器2. X射线源3. 高压电源4. 性噪比电子线路系统5. 光路增强系统6. 8准直+5滤光片7. 数字多道分析器8. 抽真空系统9. 品牌喷墨打印机10. 品牌计算机11. X荧光全元素分析软件12. 样品杯、保险丝13. 光谱专用稳压电源（选配）系统选配1. 光谱专用研磨机（选配）2. 光谱专用熔样机（选配）3. 光谱专用制粉机（选配）4. 熔样铂金坩埚（选配）5. 光谱仪专用压片机（选配）产品应用A-650光谱仪可分析以下样品及元素（氧化物）：样品类别元素类别烧结矿/球团矿TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等高炉渣/转炉渣TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等精炼渣Al、Ca、Si、Mg、Fe、Ti等预熔渣Ca、Mg、Al、Si、Fe、P、S等铝酸钙Si、Al、Fe、Ca、Mg等铁酸钙Fe、Al、Ca、Si、S、P等富锰渣Mn、Fe、P、S、Si、Al、Ca等元素铁精粉/铁矿石TFe 、Si、Ca、Mg、Al、Mn、Ti、P、S、K、V等赤铁矿/磁铁矿TFe、K、Na、S、P、Al、Si、Mg、Ca、Mn、Zn、Cu、Ti等铅锌矿Pb、Zn、Ag、Cu、Sn、Fe、S、Cd、Mo、As等锰矿Mn、Si、P、S、Al、Ti、K、Zn、Ca、Mg等钛矿Ti、Mn、Fe、Si、P、S、Al、K、Zn、Ca、V、Cu、Mg等铜矿Mn、Fe、S、Cu、Pb、As、Au、Cd、Zn、Ag、Mg等铬铁矿Fe、P、S、Al、Cr、Ca、Mg、Si等耐火材料高硅质粘土Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、S、P等高铝质矾土Al、Fe、Ti、Na、K、Mn、Ca、Mg、Si、P等高镁质镁砂Mg、Ca、Si、Al、Fe等刚玉白刚玉Al、Na、Si、Ca、Fe等棕刚玉Al、Si、Ti、Fe等黑刚玉Al、Si、Ti、Fe等铬刚玉Al、Na、Cr、Fe等锆刚玉Zr、Si、Al、Na、Fe、Ti、Ca、Mg、K等水泥生料/熟料Si、Al、Fe、Ca、Mg、K、Na、 S、Cl-等石灰石S、P、Al、Si、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等白云石S、P、Al、Si、K、Na、Fe、Ti、Mn、Sr、Ca、Mg等硅灰石Si、Ca、Fe、Al、Ti、Mg等蛇纹石Mg、Si、K、Na、Ca、Fe、Ti、Mn、Al、S、P等莫来石Al、Si、Fe、Ti、Ca、Mg、K、Na等镁铝尖晶石Al、Mg、Ca、Si、Na、Fe等萤石Ca、P、S、Si、Al、Fe、

真空型矿产元素分析仪EDX 9000B矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X一、产品介绍 能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，先进的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。 在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的常备仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。 二、主要用途主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。三、性能特点☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率 ☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；☆.先进的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。 四、技术指标1.分析元素范围：Na-U铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV） 4.测量范围：1～45KeV；6.高压：5kV～50kV；7.管流：5μA～1000μA；8.整机额定功率：50W；9.CDD摄像头分辨率：500万像素；10.真空泵额定功率：550W；11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa） 12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整） 13.仪器重量：65Kg；14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm 聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X

SciAps X系列 XRF 是专为现场金属材料分析，野外矿物元素分析及土壤重金属分析而研发的一款手持元素分析设备，采用的X射线荧光技术，分析速度快，结果准确，操作简单，整体设计适用野外高温，雨淋，多尘等多变的作业环境。具有以下特点：分析速度快且精度高X系列XRF 分析仪是美国Don Sackett 博士所带领的团队继 XT, Alpha, Omega, Delta系列XRF元素分析之后的研发第5代手持XRF分析仪器；采用了新进的硬件及软件.体积小，轻便便于携带便携X射线分析仪器的使用者希望新一代的X射线分析仪器更小更轻。将用户的需求和我们数10年积累的XRF知识结合，轻，，分析速度更快，分析效率更高的手持式X射线分析仪器X系列问世了。重约1.34斤。高清显示技术采用术显示屏，结果在所有光照条件下都清晰可见质量好，耐用 独特不锈钢防护罩，SciAps X 分析仪采用工业级双层探测器保护技术，极大的降低了X分析仪损坏的风险，降低了后期拥有成本。操作简单，兼容性好的操作平台SciAps X 系列分析仪与手机一样运行安卓系统，操作简单，兼容性好，可以通过蓝牙或无线与电脑及打印机连接，分享与打印测试结果。SciAps XRF X-555 软件特点及应用软件特点：与X 系列的其它仪器相比，SciAps X-550 采用一种新的X射线管及全新的分析方法，该方法将现场材料分析的速度又提高了一个档次，且一步降低了贵金属元素的检测限值。卓越的性能始于的手持式XRF技术，由55千伏X射线管引领，可对银、镉、锡、锑和钡等关键元素实现超低检测限。从Mg到U，多达三个自动光束设置在整个周期表中提供性能。所有这些都在一个坚固的仪器中，配备的软件和出色的散热性能。主要应用：采矿一流的轻元素性能，可实现镁、铝、硅、磷和硫等元素的超低检测限，同时还具有足够的功率，可在探路者Ag、Sn、Sb和稀土元素等重元素上实现令人印象深刻的精度，再加上稀土元素检测功能，构成采矿的工具。 可以立即对露天矿场的爆破孔样本进行即时筛查，从而减少了对矿场实验室的依赖。 实验室测试分析前对样本进行预筛选，以最大程度地提高实验室检测效率。 辨别矿化趋向及异常现象，定义钻孔位置，扩展土壤样本的勘察边界。 采用适当抽样方法，提高对地下矿石品位的控制能力。 矿石品位和过程控制 及时分析矿样元素及含量，对矿石交易价格提供理论依据 对储矿堆材料的分析有助于制造厂的配料和给料操作。 对进料、沉淀物、精矿及尾料进行实时分析。 分析精矿和金条中的杂质元素。 在铜厂和贵金属厂中，作为液体比重测定过程的一部分，对废液进行检测环境土壤XRF质量保证与质量控制（QA/QC）在金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制（QA/QC）是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。SciAps 便携式XRF 合金分析仪被广泛用于从小型金属材料加工厂到大型的机械制造商的各种制造业，已成为质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的首选仪器。稀土地质调查，矿产普查与勘探SciAps X系列分析仪的机身设计坚固耐用，性能稳定，精度高，可以在各种艰苦条件下正常操作，是野外探矿及矿区现场品位分析不可或缺的设备。 支持野外目标区域现场，大范围，大量采样测样，获取该区域岩石、碎片、土壤、沉积物等定性化学成份及定量性数据结果，结合GPS 功能和专业软件，绘制目标区域元素含量分布图，为目标区域矿产资源预测、勘查、评价及开发利用提供第一手的地化信息。 为矿权交易，分配勘探的预算经费提供第一手的地化信息。油气勘探现场检测钻机取出的各类样品，即时给出样品种元素的种类及含量，帮助地质专家及工程师及时判断需钻孔的位置，深度，在泥浆录井，高级勘探与钻井等等领域应用广泛环境治理和治理可以使用X系列分析仪，分析仍在使用和已经关闭的矿场（山）或附近场地的土壤、沉积物、灰尘、尾矿中的元素及含量，为环境监控治理提供数据依据。各环监部门可使用X系列分析仪快速检测目前区域法规规定需控制的金属元素重量及含量，收集并归档环境监控的量化记录。地矿相关专业学术科研与教育X系列分析有助于完成大学校园内实验室中进行的实验，支持本科生和研究生完成科研项目，并在日常的教学活动中，帮助地矿相关专业教师完成教学任务。由于X系列分析XRF分析仪可以迅速提供结果，因此不仅可以帮助学生们了解现代分析方式，辨别各种样本，而且还可以加深学生们对矿物沉积以及与矿床研究相关的矿石成因等知识的了解。 X555系列分析的优势2018年X系列分析经过多品牌性能评估，多层级筛选比较, 成功入围美国各大石油公司及其检测单位采购名录，产品具有以下优势：1. X系列发布时间2018年3月，是目前市面上新款手持XRF分析仪，拥有的运算方法和技术的元器件，体积更小，重量更轻2. 2秒就可以出测试结果，目前市面上畅销的仪器均为10年左右研发的产品，速度相对比较慢，需10-15秒才能完成一个样品测试；因此一台X系列分析仪的效率约等于5-7台畅销仪器效率3. 在检测量一定的情况下，因X射线管理论寿命已固定，X系列分析仪单个样品分析时间缩短，所以X射线管使用时间延长，X分析仪后期拥有成本变低。关键元素的稳定性及检测极限变得更低，特别是稀土元素。因为传统40KV电压的XRF用L线可以完成大多数稀土元素的检测L线会受到很多普通元素严重干扰，而55千伏仪器则可以直接测试稀土元素的K线，测试结果更加可靠准确。SciAps X-555分析仪技术规格尺寸与重量外形尺寸：184x114x267mm；重量=1.35KG（带电池2.98磅）环境要求-12℃到55℃★激发源★探测器25mm2SDD探测器（有效面积）应用矿石成分分析X射线过滤多位置滤波器， 优化光束分析范围38个标准元素: La, Ce, Pr, Nd, Sm Eu, Gd, Y, Ti, V, Cr, Mn,Fe, Co, Ni,Cu, Zn, As, Se, Sr, Rb, Zr, Nb, Mo, Te, Ag, Cd, Sn,Sb, Ba, Ta, W, Au, Hg, Tl, Pb, Bi, U。可根据用户需求添加其它元素。可根据用户要求添加。★显示器2.7英寸彩色电容触摸屏- 400MHz高通Adreno 3062D/3D图形加速器★通讯/数据传输同过Wifi，蓝牙，USB连接到打印机，手机，PC电脑等 设备。处理器CPU1.2GHz Quad ARM Cortex A53 64/32-bit, 随机存储：2GB LPDDR3,存储16GB eMMC脉冲处理器数字化率在80 MSPS 8K通道MCA USB 2.0，用于高速传输数据到主机处理器。数字滤波在FPGA中实现的高通量脉冲处理20ns - 24us的峰值时间。电源可内置充电锂离子电池，换电池时不需要关机；客户可根据需要直接连外接交流电源供电。校准和牌号基本参数法。支持经验系数法修正校准检验外置316不锈钢用于校准验证和能量验证安全双重密码保护，使用时输入密码（用户级）和仪器内部设置密码（管理员）法规CE, RoHS, USFDA 注册, 加拿大 RED 法规

LEA-500 激光全元素分析仪可在几分钟内分析元素周期表中的所有元素LEA-500 是一款功能强大的现代化仪器，结合了光谱学，激光和软件方面的创新技术，可对样品中的所有化学元素进行测量，以及进行二维、三维元素分布成像和深层分析 通用性(分析不同材料时无需重启仪器) 简便快速的分析(几乎不需要样品制备) 最高的分析灵活性(样品形状和大小的变化可能是无限的) 分析速度快 测量范围广(从 0.1ppm~100%) 高精度测量和稳定性 每个样品分析的成本低，消耗品最少LEA-500 是研究，创建新材料和加工技术的理想工具最广泛应用的最便捷，最有效的分析技术 玻璃，陶瓷，水泥 黑色和有色金属冶金，合金和炉渣 地质行业，矿物，矿石 钾盐和肥料 纯金属中的痕量杂质 塑料和橡胶 建筑材料，粘土、沙子 土壤，环保行业 原材料的提取和加工 化学试剂 药用原料 生物材料 考古文物 半导体行业 农业(食品、饲料、茶叶、植物)快速多元素定性和定量分析 一次同时测量轻元素和重元素 宽浓度范围内的高灵敏度和高精度测量 使用 XYZ 电动位移台和视频成像系统分析样品上的设定点 XY 位移台步进精度为:1um 分析点的尺寸为:50um~1.2mm 可分析杂质和缺陷 可逐层分析 分析深度：1um~100um 涂层和薄膜分析能力 可以 10um 扫描步长绘制样品表面的元素含量分布图 可分析固态和粉末状样品 可分析的最少样品量：50ng 可分析的最大尺寸：75×75×40mm 不需要更改样品的聚合状态 通过初始激光脉冲可清洁样品表面二维元素分布成像LEA-500 是科学研究，创建新材料和加工技术的理想工具仪器的光学设计可以分析小范围不均匀样品中的化学成分，提供元素分布成像和逐层分析。 LEA-500 的独特功能可为每个客户的独特应用提供最佳分析结果：比如：检测地质材料中的化学元素，分析金属合金中杂质含量分布的不均匀性，检测杂质和缺陷的化学成分，分析元素浓度。焊接接缝、建筑建材中有害化学物质的深层浓度分析，石材建筑和玻璃的质量控制等。LEA-500 的独特设计使其成为具有高分析性能和最低检测限的极具吸引力的仪器 双光束光学设计 热稳定结构 光谱范围:175-800 nm 高通量无像差系统，焦距为 500 mm 色散0.5nm/mm(对于3600l/mm光栅)至 1.0 nm / mm(对于 1800 l / mm光栅) 在保护气体的气氛中运行通过以下方式可提供高达 0.01 ppm 的检出限和高重现性: 双脉冲纳秒激光器作为双脉冲的光谱激发源 高能量和空间稳定性 在非常宽的范围内自动控制能量和空间参数新设计的仪器允许在一个激光脉冲中记录大部分可检测元素可靠的设计，创新技术可实现最大的准确性和稳定性，符合最高质量标准。独特的样品室设计，可选装自动进样器 用 100 倍视频摄像机选择分析区域 真空系统可至1mm汞柱 分析系统有气氛保护 电动多位(12 位)样品架 同时加载各种样本并自动切换样本 二维元素分布成像完整的分析软件包，用于校准，评估和报告 全自动测量  只需单击一下即可启动整个分析循环  在分析过程中自动聚焦在样品表面上  样品表面观察，选择任何点或区域进行分析 化学元素分布的三维成像分析 逐层元素分析 光谱数据库

S1 TITAN手持式荧光光谱仪是质量控制（QA/QC）、材料分析（PMI）、土壤环境检测，矿石分析、混料识别、废料分拣（Recycling）、牌号识别（Grade ID）等领域的检测设备。 S1 TITAN小巧的设计，准确的测量精度，抵抗恶劣环境的能力，更加适合用户在各种环境中使用，如高温、高压、潮湿，甚至是雨中作业时设备正常运转，使用起来更加轻巧方便。元素测量范围：Mg-U行业应用：1、石油化工 2、航空航天 3、金属回收与分类 4、质量控制 5、 6、钢铁 7、电站电厂 8、锅炉、容器、管道等1、机械制造与加工 2、贵重金属分析 3、 汽车 布鲁克S1 TITAN 配件，防扎探测器，不但可以保护探测器窗口被尖锐金属材料（如刨花和细丝）所扎坏，同时还可以快速准确地分析几乎任何材料。防扎探测器降低了探测器被扎的几率，从而避免了因更换探测器所产生的成本及困扰。1、认证TITAN防扎探测器可以保护探测 2、防扎探测器的降低了昂贵探测器被扎的几率 3、不会降低分析性能，即使是对轻元素 4、使停工期降至低 5、消chu在废料测量中的担忧 6、结果平均功能 7、电池电量显示 8、颜色代码显示 9、声音提示功能 10、节电功能铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类布鲁克手持式光谱仪，布鲁克手持光谱仪,布鲁克手持式荧光光谱仪，S1 TITAN手持式荧光光谱分析仪，布鲁克S1 TITAN合金分析仪代理商，手持式光谱仪中国经销商，性价比高的手持式X荧光光谱仪，手持式合金元素分析仪，手持式x射线荧光光谱仪，布鲁克手持光谱仪厂家，布鲁克手持式光谱仪中国，上海手持光谱仪销售，进口手持光谱仪，手持光谱仪价格，手持光谱仪多少钱，布鲁克手持式光谱，布鲁克多功能手持式荧光光谱仪，德国布鲁克手持光谱仪，美国布鲁克手持式光谱仪，便携式金属多元素分析仪，手持式金属多元素分析仪，便携式XRF金属元素分析仪，手持式合金光谱分析仪，手持式XRF光谱合金分析仪，成都便携式金属元素分析仪，进口便携式金属元素分析仪，S1 TITAN便携式金属元素分析仪，进口品牌手持光谱分析仪，便携式x射线荧光光谱分析仪，德国手持式X荧光光谱仪，布鲁克荧光光谱合金分析仪，S1 TITAN便携式合金光谱仪，布鲁克手持X射线荧光光谱仪，手持式ROHS分析仪，进口手持rohs检测仪,布鲁克手持式光谱仪代理商，便携式无损金属元素分析仪，便携式手持贵金属检测仪，美国手持光谱仪，德国手持光谱仪，进口品牌手持式光谱仪，便携式光谱仪价格，布鲁克携式光谱合金分析仪，贵金属检测，能量色散X射线荧光光谱仪，xrf分析仪，不锈钢光谱分析仪，xrf手持式，xrf检测仪，xrf便携式光谱仪，便携光谱仪厂家，元素光谱分析仪，光谱金属检测仪。

简介该产品采用X射线荧光（XRF）法，自动对环境空气中的PM₂ .₅ 进行连续采集、处理、分析，可同时监测铅、铬、镉、砷、铜、锌等30种以上元素成分浓度水平。产品特点● 配有氦气置换系统，检测灵敏度高，特别适用于轻元素的检测；● 双层铅板全封闭防护，确保X射线无泄漏；● 开门自动截断X射线管高压并界面警示；● 6档滤光片可切换，满足不同元素的测量；● 耗材管理系统，及时提醒耗材更换。

S1 TITAN手持式矿石分析仪是Bruker公司新推出的手持式XRF矿石分析仪，它以巨人般的威力，走在检测技术的前沿。 S1 TITAN手持式矿石分析仪打破了实验室环境的限制，无需真空盒氦气保护就能分析Mg、Al、Si、S、P等轻元素。实现现场实时多重样式，快速分析矿石品位，进行矿石评定，品位控制，岩芯检测，矿脉分析，回执矿石分布图等，是地质勘查、矿山开采、矿产贸易、环境监测的工具。 手持式矿石分析仪测量矿种:各种金属、非金属、贵重金属和金属矿采矿和勘探-现地址化学分析：勘探：手持式矿石分析仪S1 TITAN轻质化、易携带的设计，方便了在勘探现场直接探测并定位有潜在矿产的区域，测量钻孔岩心，判定矿床的深度和分布情况矿石分析：一旦发现矿产地点，手持式矿石分析仪S1 TITAN可快速分析矿床矿石质量控制：矿产定位且开始开采后，手持式矿石分析仪S1 TITAN可对每辆货车内的矿石进行检测，提供矿石的详细品级信息，为即将流入加工厂的矿石进行筛选，提高原料矿石的质量加工和浓度分析：矿石加工过程中，手持式矿石分析仪S1 TITAN可测定样品的浓度复原和整治：当采矿作业进入尾声，手持式矿石分析仪S1 TITAN可用于末了分析，并协助完成土地复原主要应用：主要分析矿体、矿块、矿粉、矿渣、精矿、粗矿、尾矿；还可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥浆；粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层等。领域：勘查、岩心检测、开采过程控、品位控制、环境分析地质化学痕量测定：痕量元素、矿石探途元素土壤或沉积层中的污染物、修复检查、催化转化器地质化学常量测定：主要和微量元素、含金属矿石、工业矿物、精矿、铝土矿手持式矿石分析仪测量范围(Mg-U)：Mg，Al，Si，P，S，Cl，K，Ca，Sc，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，As，Se，Rb，Sr，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Te，Cs，Ba，Hf，Ta，W，Re，Pt，Au，Hg，Pb，Bi，Th，U等。铂悦仪器（上海）有限公司主要代理各类手持式光谱仪，布鲁克手持式矿石分析仪，BRUKER布鲁克矿石元素分析仪，矿石分析仪，便携式矿石分析仪，进口手持式矿石分析仪，德国手持XRF矿石元素分析仪，美国手持矿石元素分析仪，布鲁克手持式矿石分析仪，手持矿石光谱仪，布鲁克德国便携式XRF分析仪，便携式XRF检测仪，手持光谱仪，布鲁克手持荧光光谱仪，手提式S1 TITAN荧光光谱元素分析仪，手持式矿石品位分析仪，手持式XRF矿石分析仪。

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元M4 TORNADO微区X射线荧光成像光谱仪PLUS能够检测出C（6）-Am（95）间元素的微区X射线荧光成像光谱仪。作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的新产品，M4 TORNADOPLUS又增添了功能，例如孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。更轻、更快、更深M4 TORNADOPLUS采用轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，高通量脉冲采样，BRUKER孔径管理系统（AMS）可以获取大景深，对表面不平整样品分析具有优势。轻元素检测M4 TORNADOPLUS能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个优化的Rh靶X射线光管。与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADOPLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。随着功能性的增强，M4 TORNADOPLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。应用实例-萤石和方解石的区分萤石（CaF2）和方解石（CaCO3）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。利用轻元素探测器，M4 TORNADOPLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而鉴别这两种矿物。图：鉴别萤石与方解石 左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm2；扫描分辨率：800×460pixels 右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。应用实例-电路板由于AMS的场深度深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的高点失焦，显得模糊。右图: AMS系统加载下图像显示高景深，组件聚焦在更大的景深范围内。

性能特点1、仪器体积更小、重量更轻，方便携带。2、高速处理芯片，先进的算法和高效的软件相配合，使得仪器分析速度更快。3、选用进口高性能X光射线发射管和超高分辨率探测器，结合数字多道处理技术，使得TrueX手持式X荧光光谱仪具有超高分析精度。4、工业电阻触摸屏，相比电容屏具有更优异的背光性能，在野外强光下依然清晰可见，同时免除野外特殊环境脱手套操作的危险性。5、 具有MSBUS总线的智能电池、实时监控电池、备用电池可直接查看电池剩余容量。6、用户可自定义创建专业报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。7、内置DoubleBeam ?技术自动感知仪器前方有无样品，提高射线的安全性和防护等级。且自动根据外部环境亮度调节显示器亮度。8、可将设备联入互联网，可远程对仪器进行设置及检修。9、TrueX内置的全新净强度拟合算法，优化了光谱解析过程，使得TrueX拥有与实验室大型设备相媲美的极低检出限。10、TrueX内置的Ultrashort?光路设计，在无需充氮情况下，显著提高轻元素Mg、Al、Si、S、P激发效果。11、内置的全方位环境感应系统。使得TrueX能够实时感知周围环境变化，并自动做出参数调整，以适用高低温、粉尘、阴暗潮湿等条件下的元素分析。应用领域及特征性能卓越(用于现场，无损，快速，准确)元素符号中英显示，精度高，速度快，接近实验室级的分析水平，可直观显示合号和元素百分比含量(元素可达到小数点后三位)及ppm含量。整个分析过程仅需数秒便可完成，合号鉴别只需1~2秒钟，一键式操作，即使非技术人员也可轻松掌握。无损检测(NDT)在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织，整个测试过程无任何损伤。浪声分析软件LANScientific专业管理分析软件可以让您轻松设置安全用户口令，定制化、个性化及附有公司LOGO的分析报告，轻松实现对仪器的远程操控；用户可编辑合号库、添加合号及企业自定义牌号；自动校准、诊断仪器故障；可通过互联网实现软件升级。废旧回收及分拣废旧金属的回收、再利用，繁杂多样的合金种类及材质，进行现场分析检测分拣。为购销双方在交易时作出迅速可靠的判定。铁合金(不锈钢等)、铜合金、铝合金、铜铁合金、铅锡合金、混杂合金等金属成分的定量分析以及现场的快速材料鉴定和分拣。应用领域及安全、标准(电厂、机械、石化、军工等等)合金材料鉴别(PMI) 来料检验；库存材料管理；安装材料复检，预防在石化建设，金属冶炼，压力容器，电力电站，石油化工，精细化工，制药，铸造，航空航天等行业中，混料或使用不合格的材料会产生严重的安全事故，过程设备材质安全。适应美国材料与试验协会(ASTM)、标准(GB)、UNS、电力行业标准(DL)、API、JIS、GMP、TSG、机械行业标准(JB)等行业及国际国内标准。质量控制与质量保证(QC/QA)及有效防错(PKKA-YOKE)在金属加工制造行业中，材料(原料)、半成品、成品的质量控制与质量保证(QC/QA)及有效防错(PKKA-YOKE)是必不可少的，混料或使用不合格材料必给企业带来损失。小型金属材料加工厂到大型飞机制造商的各种制造业。数据处理与企业资源计划(ERP)USB、WIFI、无线蓝牙等多种方式进行数据传输，文件可采用EXCEL，PDF等格式，用户可自定义创建测试报告：包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)；可提供云数据服务。企业资源计划(ERP)生产资源计划管理。分析元素Mg，Al，Si，P，S，Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Se，Zr，Nb，Mo，Rh，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi可分析的合金家族铁基合金系列(不锈钢、铬/钼合金钢、低合金钢、工具钢、无缝钢)镍基合金系列(镍合金、镍/钴超合金)钴基合金系列钛基合金系列铜基合金系列(青铜、黄铜、铜镍合金等)高温合金(钼钨合金 )铝基合金其他合金TrueX手持式合金分析仪(XRF)是锅炉、容器、管道、制造等高温高压行业对生产过程中进行材料可靠性鉴别(PMI)的重要手段。在钢铁冶炼、有色金属、航空航天、武器制造、潜艇船舶等军、民国家重点工程行业的生产过程中对金属材料进行识别。在石化精炼、精细化工、制药、电力电站、航空航天等工程安装施工过程中对金属材料进行识别从而确保设备验收、材料验收，达到工程指定要求。是废旧金属回收再利用行业中进行金属识别的有力工具。TrueX广泛应用于质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用情景中，合号鉴别、金属成分快速分析，解决工业化基础的原材料分析难题，TrueX手持式合金分析仪集成了浪声前沿的科研创新，是生产过程中对金属材料进行识别的有力工具。同时用户可根据自身需求，打造专属个性化分析系统。内置工厂牌号库包含380种合号，此外内置包括模具、电力、石油化工等特殊行业专业牌号库，解决特种行业应用时各个国家牌号换算问题，此外内置两个扩展用户自定义扩容合号库，能同时分析的合金多达600多种，能分析超过一万种合金材料。

EDX-9000B XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪矿产检测专家Simply the Best美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率真空测试环境提供最优轻元素检测效果无损元素分析涵盖11Na to 92U适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了最先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了最优的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能， 使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的最佳工具之一。ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：• 铁矿• 铜矿• 铝土矿• 贵金属矿产• 稀土矿• 原料• 磷酸盐• 煤炭• 铅锌矿• 锰矿• 镍矿• 石灰石• 粘土• 石膏• 玻璃• 土壤• 水泥• 耐火材料及其他等EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等产品特点作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：• 无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果• 强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响• 50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率• 能同时进行元素和氧化物成分分析• 多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全• 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高• 友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像• 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差• 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位矿产元素检测专家EDX9000B仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm仪器重量: 45Kg元素分析范围：Na11-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管：50W高功率铍窗光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线熔片机电源线电子秤测试薄膜矿石标准样仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子功能强大而界面友好的测试软件界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了一键初始化仪器，基体自动匹配自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度可实时刷新测量结果简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线可定制化测试报告，一键打印磁铁矿样品10次测试稳定性报告测量次数/元素Fe(%)SiO2(%)TiO2(%)MnO(%)Zn(%)S(%)P(%)Pb(%)K2O(%)1_165.40146.69360.11230.04890.00900.83090.01180.00760.06841_265.43366.65750.10380.04650.00950.90920.01210.00750.06671_365.36036.71270.11320.04950.00930.89030.01190.00710.06771_465.39356.72330.12780.04830.00970.83030.01170.00680.06841_565.38126.71450.10580.04930.00970.83030.01170.00660.06841_665.39056.74210.10210.05030.00970.83030.01170.00650.06841_765.36036.70410.10750.04950.00930.89030.01190.00710.06771_865.41616.72800.10860.04610.00930.89380.01150.00740.06681_965.43206.70360.11820.05120.00960.90050.01200.00790.06691_1065.45466.77070.10720.05020.00970.88680.01210.00670.0677平均值Average65.40246.71500.11070.04900.00950.86930.01180.00710.0677标准偏差SD0.03160.03000.00770.00160.00020.03400.00020.00050.0007相对标准偏差RSD0.0483%0.4466%6.9348%3.3142%2.5743%3.9090%1.6512%6.6142%1.0337%测量次数/元素Na2O (%)MgO (%)Al2O3 (%)As (%)Cr (%)Ni (%)Cu (%)Sn (%)CaO (%)1_10.02030.75230.52220.00650.16360.07600.04760.01310.63591_20.02320.81340.52300.00610.15840.07870.04880.01140.63361_30.02130.80590.54070.00710.16670.07960.04940.01440.63451_40.02160.76350.52340.00720.16400.07610.04850.01310.62671_50.02230.78150.53340.00720.16400.07510.04850.01310.62671_60.02220.73110.55120.00720.16400.07410.04850.01310.62671_70.02120.75590.54070.00710.16670.07560.04940.01440.63451_80.02490.77370.52330.00680.15760.07600.04710.01310.63241_90.02040.77120.51230.00640.16590.07500.04750.01400.62411_100.02360.80170.54350.00710.16630.07300.04890.01300.6414平均值Average0.02210.77500.53140.00690.16370.07590.04840.01330.6317标准偏差SD0.00150.02610.01230.00040.00330.00200.00080.00090.0054相对标准偏差RSD6.6056%3.3702%2.3177%5.8244%1.9863%2.5892%1.6256%6.5508%0.8578%

仪器简介：面对美国CPSIA/HR4040法案、ASTM F963-08标准；欧盟RoHS/WEEE、EN-71法令，各出口型企业纷纷使出浑身解数积极应对，产品品质管控重点在于如何把握“供应商来料”、“生产过程”、“最终出货”三个环节，然而高昂的送检费用与漫长的检测周期让许多企业苦不堪言，原料成本的上涨和生产效率的低下更让众多企业雪上加霜，Thermo Scientific Niton XRF提供一系列的解决方案，为您的企业保驾护航。Thermo Scientific Niton XRF Analyzers问世于1987年，拥有二十多年生产及应用经验，经过无数客户的验证，得到行业的肯定，并且已经成为现场材料分析的检测标准。在航天航空、石油化工、矿产勘测、合金分析、废金属回收、环境分析、消费品制造等领域以及对应CPSIA/HR4040、RoHS/WEEE、EN-71等法令的检测均有广泛应用。*全球第yi台便携式XRF*美国海关及欧盟多国海关均在使用*美国消费品安全委员会（CPSC）及欧洲产品安全实施委员会（PROSAFE）均在使用*全球销量已经突破20000台赛默飞世尔科技（Thermo Fisher Scientific纽约证交所代码：TMO），是全球科学服务领域的专业生厂商。我们致力于帮助客户使世界更健康，更清洁，更安全。公司年销售额超过105亿美元，拥有员工约34，000人，在全球范围内服务超过350，000家客户。主要客户类型包括：医药和生物公司，医院和临床诊断实验室，大学、科研院所和政府机构，以及环境与工业过程控制装备制造商等。公司借助于Thermo Scientific和Fisher Scientific这两个主要的品牌，帮助客户解决在分析化学领域从常规的测试到复杂的研发项目中所遇到的各种挑战。技术参数：重量 ＜1.3kg尺寸 9.60×9.05×3.75英寸 （244×230×95.5mm）激发源 高性能微型X射线管 金靶，50kV/40uA 、银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素探测器 高性能Si PIN 探测器电池 可充电锂离子电池 （可续航使用10个小时）显示器 角度可0～90度调节的高亮度VGA彩色触摸屏标准分析范围 从Ti到U中，28个标准元素：Cl,Br,As,Hg,Cd,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Sn, Hf, Ta, W, Re, Pb, Bi, Se, Sb （非标准元素亦可分析，需根据具体情况协商确定）充氦装置 选购充氦装置可增加对轻元素的分析：Mg、Al、Si、P、Ru数据存储 可存储超过10,000个数据和谱图模式 金属分析模式、塑胶分析模式、全自动分析模式、产品油漆涂层模式数据输入 触摸屏及键盘主要特点：●精度高，接近实验室水平的分析精度●角度可调的VGA彩色触摸屏，用户界面先进、直观，操作方便●简体中文显示●高强度、高密封性设计，防水及抗冲击性好●可实现对现场材料进行完全无损的快速检测●仪器无需外接PDA，抗电脑病毒能力强●仪器一体化程度高，具有防尘防水功能，操作便捷●通过内置USB接口或蓝牙通讯设备，可直接向电脑或网络存储设备传输数据●随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制●自动存储10,000点以上的分析数据及图谱●XL3t系列不含放射性同位素激励源●具有自动校准、诊断和故障报告功能●可通过Internet实现软件升级●操作简便，即使是非技术人员也可轻松掌握●体积小，重量轻，仅1.3kg●NITON NDT软件可对仪器进行定制，设置用户权限，生成定制报告和打印分析证书，还可以实现对仪器的远程操控●选配充氦装置，仪器可增加S、Mg、Al、Si、P等轻元素的分析●选配3mm小点瞄准模式，满足小面积不同材料之检测需要●选配集成CCD摄像头，可实时对检测区域进行拍照

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

产品优势　　1.高性能进口X射线发射管和高分辨率探测器，结合数字多通道处理技术，使TrueX手持式矿石分析仪具有更高的分析精度。　　2.压力因数可根据海拔高度自动调整，压力模型参数可根据海拔高度反应自动调整。 轻元素的激发作用增加了40％，稀土元素的激发作用增加了30％。　　3.设备可以连接到Internet，并且可以远程设置和维修设备。　　4.内置的GPS经纬度数据和高程数据可以结合使用，通过导入第三方GIS分析软件来快速评估矿藏或地质环境灾区，从而构建元素含量的地理三维分布图。　　可分析的矿石种类　　铁矿(赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)　　铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)　　铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)　　钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)　　钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)　　钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)　　铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)　　镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)　　其它矿类　　产品特点　　1.仪器尺寸更小，重量更轻，便于携带。　　2.高速处理芯片，先进的算法和高效的软件使仪器分析更快。　　3.工业电阻触摸屏具有比电容屏更好的背光性能，即使在强光下仍然可以清晰地看到，同时避免了在特殊环境下操作的危险。　　4.机身采用防滑耐磨流线型设计，非常轻巧，便于携带和运输，融合了尖端的科学研究和波音的创新。　　5，支持仪器电池热插拔，可以在工作状态下更换电池，无需关机。　　6.用户可以创建定制的专业报告，包括公司徽标，公司地址，测试结果，光谱和其他样品信息（例如产品说明，产地，批号等）。　　相关客户还搜素：　　矿石元素分析仪，innov矿石元素分析仪，niton矿石元素分析仪，便携矿石元素分析仪，便携式矿石元素分析仪，便携式矿石元素分析仪vcr，便携式式金属矿石元素光谱分析仪，便宜的矿石元素分析，多元素矿石分析仪，二手矿石元素分析仪，二手矿石元素分析仪器价格，国产矿石元素分析仪，国丰矿石铁元素分析，简便矿石元素分析仪器，简单矿石元素分析，金矿石光谱分析元素项目，金矿石光谱全分析元素项目，金矿石全分析的9种元素，金矿石有害元素分析，金元素矿石分析仪，近红外矿石元素分析，矿石的多元素分析，矿石的多元素分析包括哪些，矿石的多元素分析仪，矿石的元素分析，矿石多元素分析，矿石多元素分析仪，矿石多元素化学分析，矿石多元素检测分析，矿石分析仪 元素范围 钼，矿石分析有多少种元素，矿石各元素分析误差表，矿石钴 镍 锂元素分析，矿石化学全分析主要有哪些元素，矿石化学元素分析，矿石化学元素全分析，矿石化验的多元素分析，矿石金属元素分析，矿石金元素分析报告单，矿石全元素分析，矿石全元素分析标准，矿石全元素分析论文，矿石全元素分析相和，矿石全元素分析样化验报告，矿石全元素分析有多少，矿石如何做元素分析，矿石如何做元素分析原理，矿石微量元素分析，矿石微量元素分析仪，矿石与化学元素分析论文，矿石元素成分分析，矿石元素成分分析仪，矿石元素成分分析仪器，矿石元素的分析，矿石元素分析，矿石元素分析 火焰法，矿石元素分析报告，矿石元素分析方法，矿石元素分析机构，矿石元素分析检测的标准，矿石元素分析检测相关的书，矿石元素分析检测仪，矿石元素分析设备，矿石元素分析手册，矿石元素分析书籍，矿石元素分析样化验报告，矿石元素分析仪 二手，矿石元素分析仪 原理，矿石元素分析仪6，矿石元素分析仪报价，矿石元素分析仪的使用，矿石元素分析仪二手，矿石元素分析仪构造，矿石元素分析仪价格，矿石元素分析仪价格 矿石分析仪，矿石元素分析仪品牌，矿石元素分析仪器，矿石元素分析仪器价格，矿石元素分析仪原理，矿石元素分析用物理检测准确吗，矿石元素分析允许值，矿石元素含量分析，矿石元素快速分析仪，矿石元素全分析报告单，矿石元素全分析价格，矿石中Ag元素的物相分析，矿石中常见元素的化学分析，矿石中的元素含量分析，矿石中分散元素分析规程，矿石中金属元素化学分析，矿石中金属元素化学分析方法研究，矿石中金元素分析，矿石中微量元素分析仪，矿石中稀土元素定性分析，矿石中元素的定性和半定量分析，矿石中元素分析，矿石中元素分析标准，尼通XL3T950矿石元素分析仪，尼通矿石元素分析仪，尼通手持式矿石元素分析仪，镍矿石元素分析仪，牛津矿石元素分析仪，硼镁铁矿石中硼元素的分析，铅锌矿石组合样分析元素，青岛矿石化学元素全分析，如何分析矿石中是否含有金元素，如何使用矿石元素分析仪，山东金属矿石元素分析，山东金属矿石元素分析仪，山东矿石元素分析，设计矿石元素分析，什么矿石元素分析仪好，手持矿石元素分析仪，手持矿石元素分析仪产品构成，手持式矿石元素分析仪，手持式矿石元素分析仪价格，手持式矿石元素分析仪使用指南，手持式矿石元素分析仪应用，手提式矿石元素分析仪，台式矿石元素分析仪，铁矿石 有害元素行为分析，铁矿石多元素分析，铁矿石多元素分析仪，铁矿石化学全分析元素包含哪些，铁矿石全元素分析，铁矿石全元素分析的要求，铁矿石微量元素分析，铁矿石微量元素分析仪，铁矿石元素分析，铁矿石元素分析标准，铁矿石元素分析方法，铁矿石元素分析仪，铁矿石中常见元素的分析，铁矿石中各种元素化验分析，铁矿石中硼元素的分析，铁矿石中铁元素分析，铁矿石组合分析包括哪些元素，铜矿石化学全分析元素，铜矿石主要分析哪些元素，潍坊矿石元素分析仪，携带矿石元素分析仪，岩矿石光谱全分析元素项目，野外矿石元素分析仪，一般用什么仪器分析矿石元素，铀矿石分析哪些元素，元素矿石光谱仪元素分析，郑州矿石元素分析

XAU-4CS是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.03mm2（加长测量时间可小至0.01mm2）变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm自主研发的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm2探测器光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小于0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：500mm*360mm*215mm8.仪器尺寸：550mm*480mm*470mm9.仪器重量：45KG10.XY轴工作台移动范围：50mm*50mm11.XY轴工作台承重：5KG广泛应用于半导体行业、新能源行业、5G通讯、五金建材、航空航天、环保行业、汽车行业、贵金属检测、精密电子、电镀行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-30mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

碳氢元素分析仪，碳氢元素分析仪价格【鹤壁创新仪器】供应的碳氢元素分析仪可广泛用于测定煤和其它有机物中“碳”和“氢”元素的含量。被测试样在高温条件下于氧气流中燃烧生成水和二氧化碳，用吸水剂和二氧化碳吸收剂分别吸收，根据吸收剂的增重计算出碳和氢的百分含量。准确度符合GB/T476要求。 碳氢元素分析仪 技术参数:测定范围：碳（1-100） %，氢 （0-20）% 测定精度符合：GB/T476-2008要求测温精度：0.2级 控温范围：（100-1100）℃ 控温精度：±10℃第 一节炉炉膛温度：850℃， 额定功率：1200W，恒温区长：60㎜第二节炉炉膛温度：800℃， 额定功率：1500W，恒温区长：80㎜第三节炉炉膛温度：600℃，额定功率：800W。 工作电源：AC220V±22V 50HZ±1HZ外形尺寸（㎜）：1200×350×450重量：53Kg我们致力于为煤质分析仪器领域提供具有国内先进水平的高性价比的煤炭检测设备和煤质化验室整体解决方案，拥有多项煤质分析仪器方面的关键技术和高素质科研专家及生产技术人员，具有强大的开发能力与完善的质量监控体系，并建立了完善的销售和售后服务体系。鹤壁市创新仪器仪表有限公司（总部）地址：河南省鹤壁市山城区朝阳街19号邮编：458000电话：手机：（0)（24小时）联系人：常经理传真：Q Q：e-mail：web：www.chuangxinyiqi. com煤质分析仪器、煤炭化验设备（碳氢元素分析仪，碳氢元素分析仪价格） 请认准鹤壁创新仪器 国内知名品牌 五星级服务 让您用的放心碳氢元素分析仪器 碳氢氮元素分析仪 碳氢分子修复仪 氢元素测定仪 碳氢氮元素分析仪说明书 碳氢分析仪 碳氢分析仪品牌 总碳氢分析仪 碳氢元素检测仪 碳氢元素测定仪 碳氢元素 固体物料碳氢元素 碳氢元素检验仪 碳氢元素分析仪 快速自动测氢仪 快速测氢仪 快速自动测氢仪厂家 快速自动一体测氢仪 碳氢元素测定仪 电厂煤炭测氢仪 炼钢厂煤炭自动测氢仪 化工厂煤碳氢元素分析仪 焦化厂碳氢元素分析仪

一、产品介绍 能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，先进的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。 在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC)是必不可少的，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的常备仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。 二、主要用途主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。三、性能特点☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率 ☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；☆.先进的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射完全符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。 四、技术指标1.分析元素范围：Na-U铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV） 4.测量范围：1～45KeV；6.高压：5kV～50kV；7.管流：5μA～1000μA；8.整机额定功率：50W；9.CDD摄像头分辨率：500万像素；10.真空泵额定功率：550W；11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa） 12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整） 13.仪器重量：65Kg；14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm实测谱图 五、使用特点

XAD是一款上照式全元素光谱分析仪，可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚，也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析，先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。微小样品检测：测量面积小至0.008mm2变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法：AI(3)-U(92)元素的成分分析，Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积20/50mm2探测器X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计：实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移：选配自动平台，X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1.成分分析范围：铝（Al）- 铀（U）2.成分检出限：1ppm3.涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）4.涂镀层检出限：0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm（测量面积小至0.03mm2） 标配：测量直径小至0.3mm（测量面积小至0.07mm2）6.对焦距离：0-30mm7.样品腔尺寸：530mm*570mm*150mm8.仪器尺寸：550mm*760mm*635mm9.仪器重量：100KG10.XY轴工作台移动范围：100mm*150mm11.XY轴工作台承重：15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由：1.一机多用，无损检测（涂镀层检测-环保RoHS-成分分析）2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素，重复镀层，同种元素不同层亦可检测

J200 LIBS元素分析系统系统功能J200 LIBS元素分析系统为高灵敏度和高准确性分析而设计，许多元素检测限可达ppm个位数，用于样品基质中多元素定量定性分析。J200实现了从氢元素到钚元素的测量，包括H、N、O等轻元素以及卤族等其他传统分析方法（包括ICP-MS）不能测量的元素。系统设计确保每个激光脉冲的可重复性。J200 LIBS元素分析系统将LIBS技术和ICP-MS相结合，将剥蚀出的样品固体微粒直接送入ICP-MS系统做进一步分析，避免酸解等样品前处理过程带来的二次污染和误差引入。同时，实现ppb级至百分含量的测量范围，还能进行元素空间分布制图（elements mapping)。系统在分析同位素的同时还能进行主量元素分析。工作原理系统采用激光诱导击穿光谱（LIBS）技术，通过短激光脉冲在样品表面产生高能等离子体，在等离子体反应过程中，发射出具有离散光谱峰的光，收集这些光进行光谱分析。每种元素与LIBS的某一个或多个谱峰对应，通过鉴定不同的光谱峰，可以快速确定样品化学组成；峰强度信息可用于量化样品中元素的含量。随着化学计量软件的发展和激光烧蚀应用基础研究的进步，研究人员正在将LIBS技术应用于各行各业样品基质的定性和定量分析。J200 LIBS元素分析系统基于劳伦斯伯克利实验室30多年激光剥蚀基础理论研究成果，系统分析快速、可靠、准确、环保，可适应从实验室到现场再到生产车间的多种应用环境。检测范围J200 LIBS元素分析系统可分析各种样品，包括土壤、植物、矿石、生物组织、刑侦材料（玻璃、油墨等）、合金、半导体、绝缘体、塑料、薄涂层和电子材料等等。检测元素种类具体包含：常量元素N, P, K, Ca, Mg, S微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl等化学周期表上大部分元素有机元素C、H、O、N轻元素Li、Be、Na等（ICP-MS难同时测量）同位素（升级与ICP-MS 联用)应用领域常规土壤元素分析、土壤污染检测、刑侦微量物证分析、煤粉组分分析、矿石检测、生物组织分析、农产品分析、合金分析、宝石鉴定、各种材料分析等。可靠硬件优化等离子体光收集。J200 LIBS采用独特的聚光光学设计，将大量的等离子光耦合到检测模块，实现高灵敏度测量。提高分析准确性和可重复性。J200的导航激光和自动传感器相结合，解决样品表面凹凸不平导致剥蚀不均的问题。激光稳定阀使到达样品表面的激光能量稳定一致，系统标配3D全自动操作台。系统可升级与ICP-MS连用，在进行LIBS元素分析的同时，将样品剥蚀颗粒送入ICP-MS系统，实现更多分析。弥补ICP-MS不能测量部分轻元素的不足，也避免了复杂样品前处理及由此引入的二次污染和误差。系统可与市面上多数ICP-MS联用。系统标配固体样品室，还可选择配置气体或液体样品室，通过设置可自动切换光路，实现固、液、气体样品室自动切换。系统硬件采用模块化设计，方便更新。激光器和探测器可根据样品的种类及用户研究进行升级。系统具备两个成像系统。广角成像用于整体观察样品，确定采样区域；另一成像系统用于放大样品选定区域进行采样。激光能量和光斑大小连续可调，激光脉冲稳定一致，实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑分析（zui小5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。强大软件系统软件能够对所有硬件进行控制。提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。TruLIBS&trade 数据库是等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS&trade 数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线；各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒；允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。系统内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得准确的定性和定量分析结果。具有单变量和多变量校准曲线制定功能。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好；多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的干扰，提高分析准确性。数据分析软件还整合了PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能，可以对样品进行快速分类鉴别。系统软件还可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，展示样品的元素空间分布。产地：美国

一体化的解决方案，拓宽您的分析潜力EMA 502元素分析仪CHNS-O是准确可靠的碳、氢、氮、硫和氧的测定解决方案，适用于制药和生命科学、有机化学、石油化学和能源、环境、农学、食品和饲料等工业领域。EMA 502元素分析仪CHNS-O分析有助于确定未知化合物的结构，以及评估合成化合物的结构和纯度。按照官方参考方法工作，EMA 502执行CHNS测定和O测定只需几分钟，不需要任何附加组件或额外的外部模块。EMA 502是一种安全的分析仪，不需要刺激性化学品或耗时的分析步骤。只需设置您的下一次分析，就可以从样品中获取丰富的信息!通用性和生产力，独特的舒适操作EMA 502的设计为24/7,一年365天无人值守的情况下工作，并具有快速和简单的日常维护。一次处理多达117个样品，EMA 502杰出的电子自动进样器和微天平连接到PC直接称重数据传输。可直接传输称量数据，因此效率极高，确保了最高的样品通量。EMA 502分析固体、半固体和液体样品的碳含量可达20毫克，由于VELP正品的消耗品，精心制造的最长寿命，使运营成本降至最低。只需一台功能强大的仪器和快速更换配置，就能成功面对元素分析中的多种分析挑战。轻松设置并执行您的CHNS分析，然后通过独有的连接面板切换到O模式!稳定的性能、经过验证的准确性和经过测试的可靠性EMA 502是一个灵活和强大的分析仪，设计用于实现卓越的可靠性和优质的准确性。TCD检测技术确保了极其准确和可重复性的结果，RSD值为0.2%(磺胺酸)。结果由EMASoftTM软件自动计算，接收EMA 502元素分析仪的实时数据。通过气相色谱柱和TCD，甚至在检查结果之前，就能全面了解分析输出，使分析过程和路径的实时视图，在整个仪器寿命周期内具有优质的性能。EMA 502元素分析仪工作原理EMA 502 - CHNS流程图CHNS分析首先将样品置于VELP燃烧炉中，在高于1000℃的温度下燃烧，以获得元素化合物。VELP Vcopper&trade 是一种高活性铜粉的配方，放置在反应管的下部，帮助将NOX还原为N2。气流然后到达气相色谱柱烘箱，确保均匀和模块化的温度导致所有元素的完全分离，最终检测由TCD。在分析O元素时，样品在炉内进行热解，然后通过一个化学吸附装置，在那里所有杂质都被吸收，然后到达气相色谱柱和TCD进行检测。利用EMASoft&trade 软件实现无与伦比的易用性和数据安全性EMASoft&trade 软件是功能强大的VELP解决方案，用于控制和操作EMA 502元素分析仪。EMASoft&trade 具有友好的界面，可一目了然地显示所有相关信息:结果、数据库和仪器工作条件。可从预安装的方法库中选择并创建定制的方法。一个简单的校准曲线创建的所有元素，允许测试任何样品矩阵没有记忆的影响。点击几下就可以开始分析几个步骤即可改变配置，用gif动画教程受益于显示TCD检测到的气体的实时图表当反应管耗材耗尽时，一个专门的维护菜单会发出警报结果表显示了在图表上直接选择分析的平均值、SD和RSDEMA 502软件可以通过可选的21 CFR Part 11软件包进行升级，适用于需要符合FDA法规的制药、化妆品和食品行业实验室。通过VELP Ermes云平台提供终极支持，实现效率最大化，改善工作流程EMA 502具有VELP Ermes物联网云平台的独特连接选项，该智能实验室解决方案允许减少常规操作，因为无论在哪里，在任何时候都能实时监测您的分析。只需使用个人电脑、智能手机或平板电脑，就可以管理多个仪器、耗材、工作流程、分析数据和仪器工作条件。即时的事件和警报通知可以告知分析的情况，远程分析的中断保证了对实验室过程的完全控制。只允许组织中的特定人员访问仪器和数据，并决定你是否愿意直接与VELP或授权服务中心共享信息，以受益于减少的诊断时间和增强的服务支持， 从而实现最高的系统正常运行时间。通过VELP的Ermes云平台，CHNS-O的实验体验确定达到了一个新的水平。TEMS&trade 技术节省时间、能源、金钱和空间EMA 502元素分析仪CHNS-O与创新的TEMS&trade 优势合作，实现了无可比拟的节约。节省时间：快速加热，减少浪费的时间节约能源：限制能源消耗，从而减少二氧化碳2排放节约金钱：减少每次分析的成本节省空间：紧凑的占地面积节省了宝贵的实验室工作台空间