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偏振光强度差技术是库尔特仪器中的一项专利技术,对这一技术有如下疑问,请专家解答。1、从其结构图上看,样品中先以传统傅立透镜光路测量后,再经过偏振光强度差测量单元,然后再将这两部分测量信息合成处理?2、在傅立叶光路中,没有背向检测器,也说是说小颗粒的信息完全是由偏振光强度差检测单元来获得?3、这一仪器是干湿两用吗?
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我是新手。请各位帮忙。实验室有一台Leica DMRM显微镜,但是没有说明书。我想要给我的液晶样品拍一张偏振光显微照片,但是我不知道光路中第一片偏振光滤镜(polarizer)在哪里,似乎第二片偏振光滤镜(analyzer)是在显微镜左上部并且可以360度旋转,同时我注意到显微镜右上部有一个可作90度旋转的Lambda Plate(?)。因此无论怎样调节,都得不到暗场(两块偏振光滤镜互相垂直的情况),因为我不知道怎样加入或者取开第一片偏振光滤镜(polarizer)。请各位提供一些偏振光显微镜的使用信息。谢谢。