耐电弧试验仪

各位高手，向大家请教，耐电弧测试仪有没有进口的品牌，我到现在都没找到

公司有一个高压电弧击穿实验处理设备的设备验收监测 但是企业仅能做到实验一次 废气排放仅能达到30分钟 但是需要测颗粒物等相关监测因子 麻烦问下有相关标准规定像这种企业验收仅需监测一次值么 或者仅监测一次值两天的可以么

国产的电弧燃烧碳硫分析仪,物美价廉,为何国外实验室不使用?

急？？？大家知道国内外谁家有电弧光谱仪？交流、直流或者是交直流的？

各位大侠，在下对直读光谱仪的火花放电与电弧放电的区别很是疑惑不知道两者有何区别？？是不是跟测试的材料有关呢，望各位高人不吝赐教！！[em0909][em0909][em0909]

分类：紫外 时间：2007-9-24 7:49:24 摘要：针对焊接电弧紫外光谱信息的研究，研制了一套焊接电弧紫外光谱计算机采集和处理系统。利用此系统对TIG焊电弧紫外光谱进行了研究，成功地获得了不同焊接规范下的电弧紫外光谱频谱分布特征，并对此进行了分析。　　关键词：焊接电弧；紫外光谱；计算机；获取；分析　　中图分类号：TG403　　　文献标识码：A文章编号：1004-132Ⅹ(2000)04-0446-04 随着焊接电弧物理的深入研究，人们认识到，焊接电弧光谱可以反映出焊接过程中电弧 的各种物理和化学的状态变化，并且，电弧光谱信息内容丰富，具有时空可分辨性，灵敏度 高，传递信息快，便于测控自动化的实施，因此，焊接电弧光谱信息是值得认真研究和开发 的信息资源［1～3］。以往的研究主要集中于焊接电弧的可见光区，把紫外区只作 为对人体有害的辐射来处理［4］。但通过对电弧光谱各个波长段的谱线数量及辐 射功率密度 的分析可知，辐射光谱在紫外波长段的谱线数量及辐射功率密度都是很大的，因而，紫外区 是很有 可能发现高品质的弧焊图像信息和其它信息的一个有待开发的区域。　　为研究焊接电弧紫外光谱的特征，采用由计算机控制的焊接电弧紫外光谱信息采集 与处理系统，获得并分析了钨极氩弧焊电弧紫外光谱频谱的分布特征。1　计算机采集与处理装置　　焊接电弧紫外光谱计算机采集与处理装置的构成见图1。1.电弧　2.试件　3.光电倍增管　4.步进电机1　5.紫外成像透镜　6.光阑　7.全反射转镜　8.步进电机2图1　电弧紫外光谱计算机采集与处理系统构成　　该实验装置以计算机作为控制平台。将电弧光谱信息，即光电转换后的电信号、焊接电流 及电压3个模拟量，经滤波放大及A/D转换，进行计算机采集和处理。后向通道为扫描控 制部分，控制步进电机驱动波长扫描机构，来完成对电弧光谱空间上光谱波段上的扫描，以 便对焊接电弧光谱进行研究。　　在光学系统中，光谱仪的波长范围为200 nm～1000 nm，光电倍增管的光谱响应区间为170 nm～350 nm的紫外区。采集时，先调整成像透镜及电 弧的位置，使电弧以1∶1的比例成像于光谱仪的入口狭缝处，然后在电弧像上选取某一单元 部 位，通过调整光谱仪入口狭缝处的切口位置，对电弧进行Z方向上的扫描，Z方向上的调 节精度为0.01 mm。当反射镜旋转时，对与所选部位同高度的电弧截面进行Y方向的扫 描，每次扫描宽度为0.186 mm。电弧辐射光通过光谱仪入口狭缝进入光谱仪，经光谱仪内 的色散棱镜分光成按波长分布的光谱，在出口狭缝处成像于像焦平面上，再由光电倍增管接 收响应进行光电转换，通过前置放大器及A/D接口，由计算机采集处理。　　实验中对实验系统采用经中国计量科学院标定的标准紫外光源（氘灯）进行标定，以便 获得光谱信号的辐射强度，并对光路系统进行了激光准直，确保实验的精度及可靠性。2　焊接电弧紫外光谱的获取　　利用上述实验装置进行了TIG焊电弧紫外光谱分布的研究。实验中采用直流钨极氩 弧焊，极性为正接，保护气流量为6 L/min，试件为厚度δ=6 mm的低碳钢Q235 。　　为了获得TIG焊电弧紫外光谱的分布，对其光辐射的采集，进行了波长窗口扫描和定波 长空间扫描。波长窗口扫描是在光谱仪出口狭缝处对所确定的波长范围内逐点依次采集，获 得在所确定波长范围内的紫外光谱分布。定波长空间扫描采集是在所选定的波长上，对电弧 的某一横截面逐次采集，通过改变光谱仪入口狭缝处的切口位置并控制全反射转镜的偏转来 完成，从而得到电弧紫外光谱径向空间分布。　　为了将采集的数据处理成电弧光谱辐射的径向分布，现将电弧视为轴对称体，每次所采 集的电弧截面见图2。每次采集是对着宽度为dy，高度为dz的面积进行的，因此 实际上采集到的Lλ是对体积为2x0dydz内的电弧光谱的平均辐射亮度。为计算某点的亮度， 必须进行Abel变换，而平均辐射亮度Lλ与谱线在电弧各点的发射系数ε有确定的关系：因电弧满足LTE条件，且又满足光 学条件［2］，则　　　　　(1)式中，Lλ(y)为y方向测得的光谱平均辐射亮度的分布；ε(r)为电弧径向各点的光谱发射系数。 图2　沿Y方向扫描电弧截面的示意　　如果将元体取无限小，则　　　　　　(2)式中，Ie(y)表示电弧径向各点的光谱辐射强度。其解为　　　　　　(3)式中，I′e(y)为Ie对y的导数。　　某一点的发射系数　　　　　(4)式中，r0为弧柱半径 rj为某测量点距柱中心的距离；N为测量总数；yk=kr0/N；r j=jr0/N；k=0,1,2，…，N-1；j=0,1,2，…，N-1；βjk为Abel变换系数， 与N值有关。　　从式(4)可求出电弧某截面上光谱发射系数沿径向的分布。在该处理过程中，为了满 足Abel变换的需要，先将采集到的Lλ(y)等距插值成平行等距的Lλ(y)，再进 行Abel变换。Abel变换系数βjk采用误差较小的Barr变换系数。而光谱辐射 强度Ie与光谱辐射亮度Lλ之间有Ie=Lλdscosθ　　　　　　(5)式中,ds为辐射源的辐射面元；θ为辐射面元的法线与辐射方向的夹角。　　因为系统光路是经激光准直的，θ可视为零，即θ=0，则Ie=Lλds　　　　　　(6)　　根据以上转换与处理原理，为实现电弧紫外光谱的实时采集和处理，采用C语言设计了 采集和处理软件。利用建立的电弧光谱计算机采集和处理系统，成功地进行了TIG焊电弧紫 外光谱的采集和处理。

[b]声明：本人不专业的地方，请毫不留情的指正！不知版面是否合适，请版主指正~[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09511.gif[/img][/b][align=center][b]电弧直读光谱仪用户需求分析与解决流程[/b][/align] 作为一名电弧发射光谱仪的应用研发工程师,我经常会接到各类固体样品的检测需求，通常是销售或市场人员抛来一句话，某某样品（中的某某些元素）电弧直读仪器能做吗？对于这种简单粗暴的提问，我已很淡定，心情好时一一询问细节，而对方常不能回答上来。这种沟通费时费事，遂总结以下《电弧直读光谱仪用户需求分析与解决流程》，以供参考，提高效率。电弧直读光谱仪的应用范围，主要是固体粉末或棒状样品中微量或痕量元素的测定。当用户或销售提出需求时，可参照以下步骤进行：[b]一、沟通——可行性[/b]了解样品性质，是否是粉末或棒状，或可加工成粉末或棒状。由于电极夹具机械结构限制，通常要求棒状样品直径4~8mm。固体进样是电弧光谱仪的优势，但固体标样的配制较为困难，这大大制约固体进样检测仪器的应用。所以是否能购买或较方便的配制标样，成为决定可行性的关键因素。另外还要看，标样梯度是否合理，覆盖被测元素的含量及种类。[b]二、判断——优势仪器[/b]如果该样品检测配套国标或行标方法中推荐的仪器就是电弧发射光谱仪，那就是优势仪器，若不是配套仪器或无推荐仪器，可根据需求判断，该仪器是否具有优势。电弧直读光谱仪的优势：1. 固体进样。2．灵敏度高。3．检测速度快。每个样品根据检测元素的激发行为不同，检测时间通常在1min以内。对于需要与缓冲剂混合的样品，前处理一般在1min以内。4．操作简单。与固体进样相比ICP等水溶液进样的缺点比较明显： 对于某些难溶的样品，前处理困难，或溶样不完全，造成溶解误差； 固体消解后常需要稀释，易造成稀释误差，同时减低了分析元素的灵敏度； 样品溶解及稀释过程中会引入污染（如Ca、Mg)； 高纯基体元素在进样过程中会造成基体记忆效应，不同基体检测时会造成交叉污染。 检测费用高，分析过程消耗大量气体，如氩气等。 需要较为专业的分析操作人员。同为固体进样的X荧光，主要适合常量或微量元素的检测。测试前须将样品压片或熔块，但压片的重复性较差，熔块需先与助熔剂混合，熔样耗时长。辉光放电质谱主要为进口仪器，价格昂贵。电弧直读光谱仪的缺点：固体进样仪器的“通病”就是标样配置困难； 目前无自动进样装置。[b]三、对比——品牌、型号优势[/b]目前市场上电弧类产品屈指可数，从应用角度看，主要区别：光源：直流、交流。其中直流主要用于金属材料；交流主要用于非金属材料。波长范围：不同光路造成的波长范围差异。根据分析元素波长确定需求范围，并非越长越好。灵敏度：不同光路造成的灵敏度差异。根据分析元素浓度及谱线强度确定需求。[b]四、 拟方案[/b]对于用户，可以几款仪器实际测样，对比指标，而非仅看硬件。首先查找该样品测定的国标、行标及文献资料，综合考虑分析条件，初步拟定一种或几种实验方案。也可能改种样品目前尚未有电弧发射光谱仪类的测定方法，这时可根据相似物理化学性质的其他材料的方法进行借鉴，初步确定大方向，再进行细摸。[b]五、实验[/b]谱库、标定线、分析线、干扰线、缓冲剂、电流、蒸发曲线（积分时间）、内标、曲线拟合方式、转换值等1. [b]谱库建立[/b]目前电弧发射光谱没有标准谱图库可利用，需根据不同基体自建。基体谱线繁多，根据无干扰、就近原则，使标定峰均匀覆盖全波段，使标定曲线误差尽量小。或选用通用谱库，再设置不同基体峰进行实时标定。2. [b]缓冲剂[/b]电弧发射光谱仪测定粉末样品时，一般需要针对不同基体开发相适应的光谱缓冲剂。合适的光谱缓冲剂能够稳定弧焰，抑制基体元素蒸发，减少基体谱线干扰；分馏基体与分析元素，促进分析元素快速稳定的蒸发。缓冲剂的配比对样品的激发有一定的影响：对于基体复杂的样品，增加缓冲剂配比，以减少基体差异造成的误差；对于分析元素含量较低的高纯基体，适当减少缓冲剂，以较少缓冲剂引入的污染；对于分析元素含量较高的样品，适当增加缓冲剂，以稀释样品，使分析元素含量处在标准曲线的优势测量范围。3. [b]标样[/b]固体标样相对溶液标样来说配制困难，市面可买到的地种类有限，而实际需求往往超出这些范围，通常一些行业的龙头企业会选择自己配制，小范围出售，虽不一定具有计量认证资格，但具有实际可行意义。对于棒状样品，若无法购买，可将一些样品用其他方式进行测定，选出一些具有梯度的样品作为标样使用。4. [b]激发条件电流[/b]：通常，金属材料用直流激发；而对于复杂基体的非金属粉末材料，更适合交流激发，稳定性更好。电流大小，要兼顾所有分析元素的灵敏度。[b]采集时间[/b]：根据所有分析元素和内标元素的蒸发曲线，确定各自最佳采集时间，使灵敏度更高。[b]电极形状[/b]：粉末样品通常装填到光谱纯石墨电极中进行激发，电极形状对样品激发起到重要作用。常用的下电极有杯形和筒状，上电极有平头柱状和锥形。电极的壁厚、内深、杯内径等尺寸对分析元素激发有直接影响。[b]装样方式[/b]：根据分析元素及基体元素的激发难易情况，选择直接激发或间接蒸发，这可以根据装样方式不同来选择，平装或下压；若激发有喷溅情况，可滴液来改善。5. [b]谱线选择[/b]每个元素的都有很多特征发射光谱线，应综合考虑灵敏度、样品谱线干扰情况、仪器波长范围等因素，每个元素选择1条或几条分析谱线，以满足分析测试要求。[b]六、出报告 [/b]确定实验参数后，进行测定，检查异常，报出实验结果。[b]该流程适用于电弧发射光谱仪的市场、销售及分析应用人员的售前技术支持以及第三方。其他类型仪器也可参照框架进行更改。文中有不详尽之处，本人觉得可能并非有重要影响，不赘述。有疑问或不妥或错误之处，欢迎探讨~[/b]

哪里能买到廊坊物化探研究所实验工厂产的水平电弧撒样装置？

我们用的是南京第四分析仪器的电弧式碳硫联测分析仪，可是在测试时一直有故障发生，20毫升的移液管中的定硫的液体一会一直降，一会又不动，每次定的硫都不准，而且在分析过程中，仪器显示界面会突然跳至开机界面，然后分析就停止了。要么定标准确了以后，打印数据时，突然就跳到开机界面，打印页就突然停止了。定标定了一天都不准，不知道是什么原因，请高手指导一下，小女子不胜感激！

请问个为专家，火花直读和电弧直读光谱仪的区别和有缺点都是什么啊。十万火急

交直流电弧，技术非常的旧，很多年前国外的交直流电弧设备非常的庞大，国内现在也很少有公司将交直流电弧用在直读上，只用在看谱镜中，目前我所了解的直流电弧用在光谱仪中的，除了比较老的贝尔德仪器，还有就是利曼仪器，这段时间，发现交直流电弧也用在油料分析中，油料光谱和火花光谱区别在于电源的不同。现在我了解得也就这么多，未来的市场前景真的不太知道，而我们现在就是积累交直流电弧知识和积累一些设计经验。我也买了一台国内交直流电弧样机，不知道国外有没有专门做电弧光源的公司？听说德国的有，但具体哪个公司就不知道了，如果有知道的，请指导一下！技术共同探讨！

有多少人知道DC-ARC,直流电弧？知道atomcomp?请跟帖

火花源/电弧原子发射光谱分析技术考核与培训大纲1 总则1.1 目标 熟悉火花源/ 电弧原子发射光谱（SPARK/ARC-AES ）分析技术基本概念及基础理论知识；了解 SPARK/ARC-AES 光谱仪组成结构及工作原理；具备SPARK/ARC-AES 光谱仪的实际操作能力；掌握SPARK/ARC-AES 分析技术在相关领域的应用。1.2 适用范围 本大纲适用于对金属固体样品进行直接分析的火花源/ 电弧原子发射光谱分析技术的考核与培训。适用仪器包括检测器为光电倍增管或CCD 的各类固定式、移动式火花源/电弧原子发射光谱仪。1.3 应具备的基础知识和技能1.3.1 通用基础 具备分析化学的基础知识。1.3.2 分析测试基本操作 具备分析化学实验的基本操作能力，具备实验室一般仪器和设备的操作能力。1.3.3 数据处理基础知识 具备数据统计处理和误差理论的基础知识。

请问:南京四分厂80型碳硫测定仪电弧炉内部干燥剂是什么化学试剂、能否用无水氯化钙和烧碱石棉代替？

我们要卖一个电弧燃烧炉,想问一下相关的资料.电弧燃烧炉和他联合用的碳硫联测分析仪一共加起来有多重.还有三元素分析仪有多重.单位领导要.急呀!那位大侠快告诉下我.帮帮我呀

直流电弧光谱技术在众多固体材料的检测中具有许多其他技术难以企及的优势：无需样品前处理，杜绝进样系统污染问题，极低的检出限，低廉的运行成本等等。适用于：所有需要分析无机元素的样品。请各位举出这种仪器的技术缺点，市场瓶颈。比如，这种技术适合于定性半定量的化学分析要求！请百家争鸣。

电弧式碳硫分析仪在按“准备”按钮时，量气筒中的液体不上升，滴定管内的液体能上升的，请问这是什么原因？谢谢

电弧炉燃烧试样时的探讨 在现场分析检测钢铁材料中的碳硫含量，大多使用气体容量法定碳、碘量法定硫的碳硫高速分析仪（简称气容仪）。其试样燃烧多使用电弧炉。电弧炉用于燃烧样品。将其燃气导入气容仪等各种分析设备，定量分析样品中的碳、硫含量。电弧炉的工作原理是：在一定压力的富氧条件下，以瞬间高频高压电使试样与电极间产生电弧，以瞬间的工频大电流点燃在一定压力的富氧条件下的样品，让其高速燃烧，使样品中的碳元素氧化成CO2、硫元素氧化成SO2。用本设备燃烧钢铁样品的基本工艺是 “前大氧、后控气”。“前大氧”是指燃烧室（由炉体和坩埚组成）前供应的氧气要“大”（具体讲是氧气压力要达到40kPa）、“后控气”是指流出燃烧室的燃气流速要控制在一定范围（具体要求是控制在80-100L/h）。这样才能保证充分燃烧。电弧炉可在很多情况下（尤其是碳、硫分析方面）代替管式炉。它与管式炉比具有体积小，重量轻，不必预热，无热辐射，清洁卫生，并且有显著的节能效果。 钢的熔点约为1515℃，铁的熔点约在1535℃。这么高的熔点电弧炉是怎么将其熔化并释放出CO2和SO2呢?是添加剂起了至关重要的作用。 首先添加剂在氧气流中氧化燃烧。输出大量的热能．可以提高炉温．有显著的发热作用； 其次添加剂由于液化密度小于铁的氧化物或受热后生成气体物质，在炉体 内部向上飘浮的过程中，可加快碳、硫离子的扩散，有利于与氧气接触，使氧化反应加快起到良好的搅拌作用； 第三．氧化燃烧生成的CO2，和SO2部属于酸性氧化物，碱性介质不利于CO2和SO2的释放，而选取适量的偏酸性添加剂加入燃烧体系可使介质变成中性或弱酸性．有利于CO2和SO2的逸出； 第四，燃烧后生成的Fe2O3、SnO2，等粉尘对SO2有吸 附作用，导致测试结果偏低。加入有关的添加剂可阻止吸附消除干扰。电弧燃烧炉中常用的添加剂有纯锡粒和硅钼粉。硅主要起发热作用．燃烧产生热量，另外硅氧化后的产物是SiO2属酸性氧化物，它的密度比铁及其氧化物都小，在液体中有漂浮作用，有利于CO2和SO2的释放。MoO3是酸性氧化物，它的加入有利于SO2的释放。它在1155℃生成气体， 从液相中逸出时．起到良好的搅拌作用，有利于硫离子的扩散和SO2的生成。它能破坏Fe2O3的催化作用，防止管道吸附。锡的熔点是231℃，可以降低整个燃烧体系的熔点，主要作用是助熔并兼有发热稳燃的作用。 第五，分析检测铁或铁合金时，要加入适量纯铁（以添加后和试样合计为1克为宜），其主要作用是帮助燃烧，有利于在瞬间提高炉体内的温度，保证试样中碳硫的释放。 由于添加剂所起的重要作用，因此对添加剂的要求也很高，要求杂质成份含量少，碳、硫含量低，它的几何形状，粒度、空隙度也有一定的要求。使用这些添加剂会对测量的结果产生很大的误差而影响生产，建议用户选择正规的添加剂。 由于铁的熔点比钢高，而其称样往往只有钢的试样的一半或四分之一，因此保证铁试样在电弧炉中的燃烧是非常重要的。需要注意以下方面： 1. 正确确定称样重量和应补足的纯铁份量； 2. 做好试样的制样工作，样品颗粒小一点为宜，这样才能保证试样与氧气充分接触，有利于引弧燃烧，使碳硫充分释放； 3. 硅钼粉和锡粒等添加剂配比适当； 4. 及时清理电弧炉除尘器，防止过多的粉尘吸附SO2；5. 及时清理电极上的积炭，保证引弧燃烧效果

国内是北京瑞利，国外的是利曼，还有其他公司销售此类产品的吗？一般公司分析纯元素，除了用ICP，ICP-MS，及交直流电弧，还有哪种原理样机可以分析高纯元素？！

[size=3]最近用海洋光学的光谱仪测焊接电弧，发现：用OOIbase32软件得到的曲线值与用记事本读的某波长光强不同，请问是什么原因？[/size]

直流电弧激发条件 以直流电作为激发能源，电压150 ～380V，电流5～ 30A；两支石墨电极，试样放置在一支电极(下电极)的凹槽内；使分析间隙的两电极接触或用导体接触两电极，通电，电极尖端被烧热，点燃电弧，电极相距一般为4 ～ 6mm。直流电弧的优点：（1）试样的蒸发量大，检出限好，尤其采用大电流和控制气氛时，可以分析痕量元素。（2）样品的组织结构影响较小。（3）谱线亮度强，预燃时间短，有利于提高分析速度及难挥发元素的测定。（4）样品可以以块状、棒状、丝状的金属形式进行分析。（5）由于是自持的连续放电，放电时弧柱中的电流密度几乎不变，因而基本没有空气光谱带的产生。（6）设备简单，安全、操作容易。直流电弧的缺点(1)由于是自持连续放电，放电时，弧焰直径较大，放电时弧光晃动游移，电极的烧损使极距发生变化，释放电的稳定性较差。(2)电极的温度高，样品损伤较大，一般不适于低熔点的轻金属材料分析。(3)放电时，气态分析物原子密度较大，易产生自吸收效应，使线性范围变小。

电弧炉燃烧法测定石油产品中的硫量 1．石油产品的硫量测定 现行的检验方法中有管式炉法、燃灯法、氧弹法等，近代方法常用X射线荧光谱法。前者是长期沿用的经典方法，但费时费力，完成一个样品的测定常需耗时数小时；X射线法测定精密度高，测定省力省时，但仪器昂贵。本法利用电弧引燃炉、纯铁助燃高温快速燃烧的方法，实现对石油产品硫含量的快速测定。经对轻柴油、燃料油、润滑油等样品进行测定，测定，测定结果的相对标准偏差在5%以下，测定范围硫含量（质量分数）为0.2%～4%。与X荧光法对比，试验结果能很好地相符。 2．添加剂的选用 试验中首先考虑用硅钼粉加锡作添加剂，经试验，常常出现炉渣中间包裹有未燃完的球状颗粒，实验难以控制。后选用TH-100型高效添加剂，固定纯铁助燃剂用量，以轻柴油作试样，在0.1～0.4g范围内，改变TH-100型添中剂用量所得结果表明，0.3g与0.4用量时硫测定结果示值较高。后选取TH-100添加剂和量为0.3g左右。由于纯铁助燃剂用量的多少会对体系温度产生影响。从而影响到燃烧输出的SO2量及测定结果，所以有必要对纯铁助燃剂用量进行试验确定。试验以轻柴油作试样，固定添加剂用量，在0.8～1.2g范围改变纯铁助燃剂用量，结果表明，当用TH-100高效添加剂时，纯铁用量的少量改变对结果无明显影响。当采用硅钼粉（0.5g）+（0.2g）添加剂时，随纯铁助燃剂用量增国，测定结果略有增加。故选用TH-100型高效添加剂，纯铁助燃剂用量在为1.0g左右。

光谱仪采用最新的大面积程序化L-PAD检测器.147(2)4-611-1310-90Se203。电弧激发台所带的斯托伍德气室可采用各种质子流量计控制的气体来降低CN键所造成的干扰，未采用斯托伍德气室。940nm处校准曲线，另外还可能在消解过程中带入污染，具有6个数量级以上的动态范围Prodigy直流电弧采用了固态的。772(2)4-611-1310-90Fe259，元素浓度如表2所示。068nm处的波长采集窗口图1所示为标样中1ppm的Ag在328，激发源所采用的微处理器可自动控制激发电流和持续时间。最早的一些依靠照相版检测技术的仪器甚至沿用至今，980nm处的校准曲线，Te。时序分析等功能，如果采用直流电弧技术，984(2)1-312-1410-90Bi306。020，因为固态检测器技术具有更快的分析能力，因此可同时作为两组元素的内标元素，020，同时。0Zn0，样品电极和上电极的的直径分别为1/4"和1/8"，Sb。图4Fe在259。分析参数样品电极和上电极可直接从BayCarbon公司购买。直流电弧光谱技术在众多固体材料的检测中具有许多其他技术难以企及的优势.10.我们归入第一组元素。而对于后烧蚀出的元素我们归入第二组，Ni。需要较长的时间，对于所有样品的分析均采用铜为内标元素，仪器采用800mm焦距光学系统和百万像素大面积程序化固态检测器（L-PAD），010.050.并且可以永久地记录样品的全谱信息.同时由于没有经过溶液稀释.并且在整个激发过程中随着电极及样品的消耗需要不断调整.表3ElementWavelength(nm)LeftBackgroundPositionRightBackgroundPositionIntegrationPeriod(s)Ag328.分析波峰的缺省位值为7.050.772nm和Se在203.281(2)610-1210-90Zn481.所有的分析元素均被分成了两组.但信息的处理同样是繁琐和令人望而生畏的.其后.图5和图6分别为Bi在306.10.As.则可以实现纯铜固体样品的直接分析.所有的样品在空气中激发.从而可以获得更好的检出限.并在电弧激发的前10秒进行积分.61.对于第二组元素.940nm处的校准曲线.对于先烧蚀出的元素.确保仪器具有最佳的稳定性.单元素多谱线可选.是现有同类仪器中检测器面积最大的.这些优点使得Prodigy波长范围达到175-1100nm的连续覆盖.在单次激发过程中可采用多种不同气体.光电倍增管技术同样存在缺陷.03.通过这些扫描图.10,本文主要探讨了Prodigy直流电弧光谱仪对于高纯铜中痕量元素的分析能力,其中,Sn,51,一旦电弧形成,该检测器有效面积为28×28mm,在电弧激发的后80秒进行积分,可为不同元素选择最佳积分时间以获取最大的信噪比。860(2)3-413-1510-90纯铜中各元素的典型校准曲线如图4-6所示，除此之外。检测器还具有防溢出功能并且可以进行随机读取和非破坏性数据读取。无需样品消解过程，激发过程的电流控制程序如表1所列表1StepTime(s)103223341149011实验部分校准标样高纯铜从CopperSpec公司购买并直接使用。高纯铜中痕量元素检测如果采用常规消解方法来分析的话无疑具有很大的挑战性，图250ppm的Fe、Ni标样的时序分析扫描图图350ppm的Bi、Pb、Sn、Zn标样的时序分析扫描图如表3所示，而基体元素铜则在整个分析过程均匀激发，018，分析波峰的位值位于像素阵列的中央。纯铜电弧激发技术特点直流电弧技术主要利用了分析物中不同组分的挥发特性而依次将感兴趣的组分烧蚀出来进行分析，根据扫描图谱，我们对一块50ppm含量的校准标样进行了时序分析扫描。从而极大提高的样品分析的速度，053(2)4-611-1310-90Cu310。宽度为3，首先消解过程非常复杂，980(2)3-510-1210-90Sn283。03，不同元素或组分的挥发特性可通过时序分析功能所获取的扫描图来进行判断，305(2)5-611-1310-90Sb231，并相应设置了不同的积分时间，010。020，实验仪器本文采用Prodigy直流电弧光谱仪作为实验设备，Bi。从而极大地减少了电极的消耗和样品分析时间，06，010。8601-313-150-10Cu310。两个电极间的间距为4mm，51，0Pb0。068(2)3-51310-90As234。这些仪器永久地记录了样品的谱图照片，图11ppm的Ag在328。Prodigy对于高纯铜中的各种杂质元素具有极佳的分析灵敏度及准确度，068nm处的波长采集窗口，0823-511-130-10Pb283，表2ElementStd1(ppm)Std2(ppm)Std3(ppm)Std4(ppm)Std5Ag。其中图4所示为Fe在259，更为重要的是，稀释过程使得部分元素的含量远低于仪器的检出限。并且每种气体单独控制，对于所有分析元素的波长选择及背景校正点已在表3中列出，我们将分析元素归类为两种不同的积分时间。以维持4mm的间距。烧蚀出的元素在电弧中继续激发并发射出特征谱线，9405-611-130-10Ni305，仪器在一次激发过程中可同时进行信号采集和背景校正，83，10。同时还具有实时背景校正，04，810。并且提高样品激发速率，Prodigy采用一个3×15的像素阵列读取，050，03。05，在消解过程中，固态检测器阵列的引入极大地冲击了传统的基于PMT检测器的直流电弧光谱系统。电流稳定的激发源，51。斯托伍德气室的气体流量同样通过微处理器来控制。

电弧价格低，可直接测固体；主要缺点是易自吸，温度较低。

目前电弧+CCD的仪器只有利曼中国有，它好像可以用定量和定性分析，在合金分析中市场非常的大。那么我现在也想做CCD的，但不知道是做电弧的还是做火花的，还是二合一的？但好像他们的电源做的比较小。还有牛津WAS仪器，也可以做定性分析。希望大家一起来讨论讨论，了解一下合金分析光谱仪的发展。

用1999年买的美国Acton Research公司的Spectro500i光谱仪测量Ar气保护电弧等离子体的光谱分布，出现了奇怪的问题。 一年前300g/mm的光栅突然采不到光谱，不知道是什么问题。 现在用1200g/mm和2400g/mm的光栅测量Ar保护电弧200－1000nm的光谱，发现如下问题：谱线分布大体分为3段(340-500nm,510-750nm, 680-1000nm),其中680－1000nm段的谱线能够与以前测量的谱线对应，基本是正确的，但是340－500nm, 510-750nm两段测得的的谱线实际为680－1000nm段的谱线，这三段谱线的强度依次减弱，在680－750nm波段中既有该段的谱线又有906.6-1000nm的谱线。 以前正常的谱线分布（Ar150A电弧光谱分布正常.txt）和现在异常的谱线分布（Ar200A电弧光谱分布异常.txt）放在附件中。如200.000 1 1.778e+002，前面是波长，后面是强度，中间用1分开。 不知道以上2个问题是怎么造成的，希望懂光谱仪的各位帮顶一下，给点解决办法。 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=31761]光谱数据正常和异常[/url]