两维调整棱镜

我用PE7000，每次开机前都吹半天的空调，刚开始棱镜温度会和室内温度保持一致。但做到后面就会上升4度左右。我用开机时测试的第一个样，到最后又测试了一次，结果高了。发现棱镜温度升高了多少，结果就高了多少。请问大家有什么好方法，控制棱镜温度和室温保持一致，即便在测试的时候也不要浮动太大。

ICP棱镜的作用是什么啊？就是中阶梯光栅＆棱镜的配合时棱镜的作用？

前天在一用户处检定一台721，波长和透射比准确度都合格，唯独杂散光高达25%。用棉签和无水酒精清洗棱镜和准直镜，并用镜片纸擦拭后，杂散光不到1%。记得有一位写过很多分光光度计修理文章的老师，介绍的最好的清洁剂并不是无水酒精，好象是50%乙醚和50%无水酒精吗？请版友指教！谢谢！

棱镜和光栅分光的区别在哪里?

1，光栅的分光精度很高，使用1200线的光栅可以达0.25nm的分辨率，提高线数甚至可以达到0.05nm及更高，当然目前共聚焦上不需要这么高。 2，光栅的分光的线性比较好，短波方向的密度与长波方向的密度一样，使用棱镜这一点会有问题，从而影响到光谱分辨率的精度。3，光栅的分光效果虽然低于棱镜，但目前已有新技术大大提高了光栅的分光效率，最终到达了很好效果。

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=18699]光栅和棱镜光谱仪的特性1.pdf[/url]

ICP棱镜中阶梯光栅作用是什么？

PE 8000 ICP棱镜扫描轮廓无效怎么回事？

[font=&]【题名】： 消色差棱镜扩束器 [font=Arial, Helvetica, sans-serif, ????][size=12px] [/size][/font][/font][font=&]【链接】：https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=9728af64a235c1946b7387c4be6b60b9&site=xueshu_se[/font]

请问是否用光栅的光度计就需要光栅和滤光片配合使用.而如果用棱镜就不需要用滤光片吗?他们在使用过程中有什么联系吗?

微分干涉差显微镜 - 简介 1952年，Nomarski在相差显微镜原理的基础上发明了微分干涉差显微镜（differential interference contrast microscope）。DIC显微镜又称Nomarski相差显微镜（Nomarki contrast microscope），其优点是能显示结构的三维立体投影影像。与相差显微镜相比，其标本可略厚一点，折射率差别更大，故影像的立体感更强。 DIC显微镜的物理原理完全不同于相差显微镜，技术设计要复杂得多。DIC利用的是偏振光，有四个特殊的光学组件：偏振器（polarizer）、DIC棱镜、DIC滑行器和检偏器（analyzer）。偏振器直接装在聚光系统的前面，使光线发生线性偏振。在聚光器中则安装了石英Wollaston棱镜，即DIC棱镜，此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光（x和y），二者成一小夹角。聚光器将两束光调整成与显微镜光轴平行的方向。最初两束光相位一致，在穿过标本相邻的区域后，由于标本的厚度和折射率不同，引起了两束光发生了光程差。在物镜的后焦面处安装了第二个Wollaston棱镜，即DIC滑行器，它把两束光波合并成一束。这时两束光的偏振面（x和y）仍然存在。最后光束穿过第二个偏振装置，即检偏器。在光束形成目镜DIC影像之前，检偏器与偏光器的方向成直角。检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光，从而使二者发生干涉。x和y波的光程差决定着透光的多少。光程差值为0时，没有光穿过检偏器；光程差值等于波长一半时，穿过的光达到最大值。于是在灰色的背景上，标本结构呈现出亮暗差。为了使影像的反差达到最佳状态，可通过调节DIC滑行器的纵行微调来改变光程差，光程差可改变影像的亮度。调节DIC滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象，通常是一侧亮，而另一侧暗，这便造成了标本的人为三维立体感，类似大理石上的浮雕。

请问普通721分光是光栅还是棱镜？谢谢

全谱ICP中，中阶梯光栅配合棱镜起到什么作用？

[font=&]【题名】： 多棱镜扩束器的共振反射器效应[font=Arial, Helvetica, sans-serif, ????][size=12px][/size][/font][/font][font=&]【链接】： http://61.175.198.136:8083/rwt/288/http/GEZC6MJZFZZUPLSSG63B/KCMS/detail/detail.aspx?filename=LDXU198904015&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD1989[/font]

金相显微镜由灯泡宣布的光线颠末光镜组以及场镜聚集到孔径光栏，在颠末集光镜聚集到物镜的后焦面，最终颠末物镜平行照射到试样的外表。从试样反射回来的光线复进过物镜组合辅佐透镜，由半反射镜转向，颠末辅佐透镜以及棱镜形成一个被调查物体的倒竖的扩大的实像，该象再颠末目镜的扩大，就成为目镜视场中能看到的扩大的映像。孔径光阑（AS）：用于操控入射光束孔径角的巨细。不是调理光亮度用过的。宕孔径光阑调理到入射光束刚好充溢物镜时，鉴别能力为最佳，像的衬度杰出。需求注重的是替换物镜时，孔径光阑巨细应该跟着调整改动。

棱镜式激光扫描切割与载物台移动式激光扫描切割的区别

生活是一面镜子，你用什么样的心态对待它，就会得到什么样的回应。每个人都有情绪，但发脾气不仅不能解决问题，还会让一切变得越来越糟。让自己先冷静下来，再做应对，才是解决问题的最好方式。美好一天从“冷静”开始！

如果原来方法中规定了柱子的内径，现在的新柱子发生了改变，比原来细了，那么是否应该按照比例对进样量做相应的调整呢？

[center][B]显微镜的七种观察方式[/B][/center]一、明视野观察（Brightfield） 明视野镜检是大家比较熟悉的一种镜检方式，广泛应用于病理、检验，用于观察被染色的切片，所有显微镜均能完成此功能。二、暗视野观察（Darkfield） 暗视野实际是暗场照明发。它的特点和明视野不同，不直接观察到照明的光线，而观察到的是被检物体反射或衍射的光线。因此，视场成为黑暗的背景，而被检物体则呈现明亮的象。 暗视野的原理是根据光学上的丁道尔现象，微尘在强光直射通过的情况下，人眼不能观察，这是因为强光绕射造成的。若把光线斜射它，由于光的反射，微粒似乎增大了体积，为人眼可见。 暗视野观察所需要的特殊附件是暗视野聚光镜。它的特点是不让光束由下至上的通过被检物体，而是将光线改变途径，使其斜射向被检物体，使照明光线不直接进入物镜，利用被检物体表面反射或衍射光形成的明亮图象。暗视野观察的分辨率远高于明视野观察，最高达0.02—0.004三、相差镜检法（Phasecontrast） 在光学显微镜的发展过程中，相差镜检术的发明成功，是近代显微镜技术中的重要成就。我们知道，人眼只能区分光波的波长（颜色）和振幅（亮度），对于无色通明的生物标本，当光线通过时，波长和振幅变化不大，在明场观察时很难观察到标本. 相差显微镜利用被检物体的光程之差进行镜检，也就是有效地利用光的干涉现象，将人眼不可分辨的相位差变为可分辨的振幅差，即使是无色透明的物质也可成为清晰可见。这大大便利了活体细胞的观察，因此相差镜检法广泛应用于倒置显微镜。 相差显微镜的基本原理是，把透过标本的可见光的光程差变成振幅差，从而提高了各种结构间的对比度，使各种结构变得清晰可见。光线透过标本后发生折射，偏离了原来的光路，同时被延迟了1/4λ（波长），如果再增加或减少1/4λ，则光程差变为1/2λ，两束光合轴后干涉加强，振幅增大或减下，提高反差。在构造上，相差显微镜有不同于普通光学显微镜两个特殊之处： 1.环形光阑（annulardiaphragm）位于光源与聚光器之间，作用是使透过聚光器的光线形成空心光锥，焦聚到标本上。 2.相位板（annularphaseplate）在物镜中加了涂有氟化镁的相位板，可将直射光或衍射光的相位推迟1/4λ。分为两种： 1） A+相板：将直射光推迟1/4λ，两组光波合轴后光波相加，振幅加大，标本结构比周围介质更加变亮，形成亮反差（或称负反差）。 2） B+相板：将衍射光推迟1/4λ，两组光线合轴后光波相减，振幅变小，形成暗反差（或称正反差），结构比周围介质更加变暗四、微分干涉称镜检术（DifferentialinterferencecontrastDIC） 微分干涉镜检术出现于60年代，它不仅能观察无色透明的物体，而且图象呈现出浮雕壮的立体感，并具有相衬镜检术所不能达到的某些优点，观察效果更为逼真。 原理： 微分干涉称镜检术是利用特制的渥拉斯顿棱镜来分解光束。分裂出来的光束的振动方向相互垂直且强度相等，光束分别在距离很近的两点上通过被检物体，在相位上略有差别。由于两光束的裂距极小，而不出现重影现象，使图象呈现出立体的三维感觉。 DIC显微镜的物理原理完全不同于相差显微镜，技术设计要复杂得多。DIC利用的是偏振光，有四个特殊的光学组件：偏振器（polarizer）、DIC棱镜、DIC滑行器和检偏器（analyzer）。偏振器直接装在聚光系统的前面，使光线发生线性偏振。在聚光器中则安装了偌玛斯斯棱镜，即DIC棱镜，此棱镜可将一束光分解成偏振方向不同的两束光（x和y），二者成一小夹角。聚光器将两束光调整成与显微镜光轴平行的方向。最初两束光相位一致，在穿过标本相邻的区域后，由于标本的厚度和折射率不同，引起了两束光发生了光程差。在物镜的后焦面处安装了第二个偌玛斯斯棱镜，即DIC滑行器，它把两束光波合并成一束。 这时两束光的偏振面（x和y）仍然存在。最后光束穿过第二个偏振装置，即检偏器。在光束形成目镜DIC影像之前，检偏器与偏光器的方向成直角。检偏器将两束垂直的光波组合成具有相同偏振面的两束光，从而使二者发生干涉。x和y波的光程差决定着透光的多少。光程差值为0时，没有光穿过检偏器；光程差值等于波长一半时，穿过的光达到最大值。于是在灰色的背景上，标本结构呈现出亮暗差。为了使影像的反差达到最佳状态，可通过调节DIC滑行器的纵行微调来改变光程差，光程差可改变影像的亮度。调节DIC滑行器可使标本的细微结构呈现出正或负的投影形象，通常是一侧亮，而另一侧暗，这便造成了标本的人为三维立体感，类似大理石上的浮雕

[font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=18px]14日起，江苏省常州市钟楼区清云澜湾项目工地调整为高风险地区，两地调整为中风险地区。[/size][/font]

【共同社2月22日电】正在日本访问的中国国务委员唐家璇22日在东京陆续会晤了日本公明党代表太田昭宏和自民党出身的前首相安倍晋三。围绕中国产饺子在日致人中毒事件，双方一致认为应冷静应对力争早日解决问题。此外太田还表示有意于5月访华，对此唐家璇表示欢迎。 　 据日方称，唐家璇就饺子事件表示，在中日两国人民间建立相互理解和友好感情非常重要。太田也表示，应该以冷静的态度解决此事。 日中警方信息交换会议闭幕 中方介绍工厂情况。来源:日本共同网

今天CNAS认可委通知如下3月25日至28日，秘书处内部办公室将集中进行调整。工作人员的电话有可能出现短时间接不通或断线的情况。由此给您带来的不便，敬请谅解！

不知道大家一般根据什么原则调整图像的亮度和对比度啊，有什么指标技巧可以分享吗？主要是两个指标都可以调的话，不知道怎么确定最佳的范围。光凭眼睛感觉很难判断，不同人的差异太大。

两个化合物的极性比较相近，想要调整实验条件进行分离，不知道应该如何进行调整？ 色谱柱：watersC-18（4.6x250mm，5um） 流动相：乙腈，水

如下图，某个样品测试峰型，如何调整其背景，结果更合理?VARIAN的ICP，一般默认FITTED的两点积分，可以自主扣背景，测试目标元素Ni,默认波长221.648nm[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/03/201903211044336735_2607_2140715_3.png[/img]

显微硬度计操作简便、结果可靠，在国内得到广泛使用。但搬运及使用不当时，压痕常尝偏离视场中心。如压痕仍在视场内，调整中心并不围难。当压痕偏离视场较远时，用常规方法就很难抗到压痕。我们根据多年使用体会，总结了下面的简单方法，效果很好。无论压痕偏离乡远，调整中心工作都可在半小时内完成。1 基本步骤(1)调整载物台在导轨上的运动轨迹与压头至观场中心的连线平行；(2)将视场中二维寻找臣痕变为平行导轨方向的一维寻找压痕。2 方法(1)将载物台推至最右端，仅在导轨上推动裁物台，连缓打出一串压痕，且相邻压痕阃的距离即载物台每次以左移量应小于视场直径， 保证在一个视场内可出现两个以上压痕。压痕之问的连线即为载物台在导轨上的运动轨迹(2)将载物台推至左端，松开导轨紧固螺栓及载台左右限位螺钉。(3)前后移动并稍转动导轨，观察压窟连线在视中的位置。由于压痕成一长串．故原二维找点简化为在垂直于导轨运动方向的一维找线。将压痕连线调至与视场水平直径重台时固定导轨。(4)再打一压痕，调节载物台左右限位螺钉，至压痕在视场中心，即平行于导轨方向一维找点。3 说明(1)进行以上调整时．不可拧动载物台的水平，垂直橱节螺杆。(2) 当确信加载零点可靠时，可取最小载荷在极软试洋上不卸载直接推动载物台划出一道压痕线．再完成前述找线及找点步骤。

在实际测量折射率时，我们使用的入射光不是单色光，而是使用由多种单色光组成的普通白光，因不同波长的光的折射率不同而产生色散，在目镜中看到一条彩色的光带，而没有清晰的明暗分界线，为此，在阿贝折射仪中安置了一套消色散棱镜（又叫补偿棱镜）。通过调节消色散棱镜，使测量棱镜出来的色散光线消失，明暗分界线清晰，此时测得的液体的折射率相当于用单色光钠光D线（5890*!）所测得的折射率nD。1.阿贝折射仪的使用方法（1）仪器安装:将阿贝折射仪安放在光亮处，但应避免阳光的直接照射，以免液体试样受热迅速蒸发。用超级恒温槽将恒温水通入棱镜夹套内，检查棱镜上温度计的读数是否符合要求（一般选用（20.0±0.1）℃或（25.0±0.1）℃）（2）加样:旋开测量棱镜和辅助棱镜的闭合旋钮，使辅助棱镜的磨砂斜面处于水平位置，若棱镜表面不清洁，可滴加少量丙酮，用擦镜纸顺单一方向轻擦镜面（不可来回擦）。待镜面洗净干燥后，用滴管滴加数滴试样于辅助棱镜的毛镜面上，迅速合上辅助棱镜，旋紧闭合旋钮。若液体易挥发，动作要迅速，或先将两棱镜闭合，然后用滴管从加液孔中注入试样（注意切勿将滴管折断在孔内）。（3）调光:转动镜筒使之垂直，调节反射镜使入射光进入棱镜，同时调节目镜的焦距，使目镜中十字线清晰明亮。调节消色散补偿器使目镜中彩色光带消失。再调节读数螺旋，使明暗的界面恰好同十字线交叉处重合。（4）读数:从读数望远镜中读出刻度盘上的折射率数值。常用的阿贝折射仪可读至小数点后的第四位，为了使读数准确，一般应将试样重复测量三次，每次相差不能超过0.0002，然后取平均值。2.阿贝折射仪的使用注意事项阿贝折射仪是一种精密的光学仪器，使用时应注意以下几点:（1） 使用时要注意保护棱镜，清洗时只能用擦镜纸而不能用滤纸等。加试样时不能将滴管口触及镜面。对于酸碱等腐蚀性液体不得使用阿贝折射仪。（2） 每次测定时，试样不可加得太多，一般只需加2～3滴即可。（3） 要注意保持仪器清洁，保护刻度盘。每次实验完毕，要在镜面上加几滴丙酮，并用擦镜纸擦干。zui后用两层擦镜纸夹在两棱镜镜面之间，以免镜面损坏。（4） 读数时，有时在目镜中观察不到清晰的明暗分界线，而是畸形的，这是由于棱镜间未充满液体若出现弧形光环，则可能是由于光线未经过棱镜而直接照射到聚光透镜上。（5） 若待测试样折射率不在1.3～1.7范围内，则阿贝折射仪不能测定，也看不到明暗分界线。3.阿贝折射仪的校正和保养阿贝折射仪的刻度盘的标尺零点有时会发生移动，须加以校正。校正的方法一般是用已知折射率的标准液体，常用纯水。通过仪器测定纯水的折光率，读取数值，如同该条件下纯水的标准折光率不符，调整刻度盘上的数值，直至相符为止。也可用仪器出厂时配备的折光玻璃来校正，具体方法一般在仪器说明书中有详细介绍。阿贝折射仪使用完毕后，要注意保养。应清洁仪器，如果光学零件表面有灰尘，可用鹿皮或脱脂棉轻擦后，再用洗耳球吹去。如有油污，可用脱脂棉蘸少许汽油轻擦后再用擦干净。用毕后将仪器放入有干燥剂的箱内，放置于干燥、空气流通的室内，防止仪器受潮。搬动仪器时应避免强烈振动和撞击，防止光学零件损伤而影响精度

新华社日内瓦4月3日电（记者吴陈 王昭）诺贝尔奖得主、美籍华人物理学家丁肇中3日公布了其主持的阿尔法磁谱仪项目（AMS）首批研究成果。他当天对新华社记者表示，尽管这一成果具有突破性，但仍应保持冷静。 暗物质和暗能量是现代天文学和物理学最大的谜团之一，它们是为了解决宇宙学观测与理论上的矛盾而提出来的。AMS项目的首要目的就是寻找宇宙中的暗物质及其起源。 丁肇中3日晚间在位于瑞、法边境的欧洲核子研究中心阿尔法磁谱仪项目办公室告诉记者，目前AMS收集到40万个正电子，远远超出人们的想象。此前包括美国费米望远镜等项目都曾观察到过量正电子现象，但数据误差很大，而AMS的误差只有1%，“相当于肉眼和精密显微镜的区别。” 刊登在新一期《物理评论快报》的研究成果显示，在5亿至100亿电子伏特区间内，正电子占正电子和电子总和的比例随能量的增加而减小；在100亿到2500亿电子伏特的区间内，比例递增；到2500亿电子伏特之后，比例曲线基本变平。正电子比例能谱没有随时间改变，同时高能正电子不是来自空间某个特定的方向。 丁肇中解释说，这些成果表明了：正电子比例随着能量增加继续上升；比例上升是很平衡的，没有出现峰值；正电子来源没有特定方向，“这三点都支持正电子来源于暗物质，可是没有完全的证据。” 他指出，要确认正电子是由暗物质粒子碰撞、湮灭产生的，还需观测到正电子比例上升到峰值后是否有骤降。如果观察到骤降，说明来自暗物质对撞；如缓慢下降，则可能来自脉冲星。 丁肇中说，作为AMS这样一个大型物理实验项目的负责人，必须保持冷静，因此对正电子的来源持开放态度，“最重要的是把数据准确地拿出来，不要有误差，”他说，“千万不能有偏见。” 丁肇中说，可能还要花一段时间才能最终确定这些正电子“到底是怎么来的”。他说，目前收集到的数据是AMS预期收集数据的10%左右，这个项目还是“刚刚开始”，还有很多未知等待科学家们去探测。 阿尔法磁谱仪探索暗物质问与答 新华社记者 钱铮 诺贝尔奖得主、美籍华人物理学家丁肇中及其团队3日公布了其主持的阿尔法磁谱仪项目的首批研究成果，实验观察到宇宙射线流中正电子存在的比率符合关于暗物质存在的理论预测。虽然目前尚没有充分证据排除其他可能性，但这批成果向最终找到暗物质存在的可靠证据又迈进了一步。 那么，究竟什么是暗物质，科学家们为何孜孜不倦地追寻暗物质的足迹，怎样才能捕捉到这种看不见的物质，阿尔法磁谱仪项目又是怎样的一个科学项目呢？ 问题之一：什么是暗物质？ 答：暗物质是宇宙中看不见的物质。现在我们看到的天体，要么发光，如太阳，要么反光，如月亮，但有迹象表明，宇宙中还存在大量人们看不见的物质。它们不发出可见光或其他电磁波，用天文望远镜观测不到。但它们能够产生万有引力，对可见的物质产生作用。 迄今的研究和分析表明，暗物质在宇宙中所占的份额远远超过目前人类可以看到的物质。宇宙中最重要的成分是暗物质和暗能量，暗物质占宇宙25%，暗能量占70%，我们通常所观测到的普通物质只占宇宙质量的5%。 问题之二：探测暗物质有何意义？ 答：暗物质被认为是宇宙研究中最具挑战性的课题。目前，暗物质的存在已经被人们普遍接受。人们认为暗物质促成了宇宙结构的形成，如果没有暗物质就不会形成星系、恒星和行星，更谈不上今天的人类了。暗物质的存在是通过天文观测推测出来的，然而目前被广泛认可的粒子物理学标准模型预言的62种基本粒子中不包含能解释暗物质的基本粒子，因此，探测和研究暗物质很可能导致物理学界新的革命。 问题之三：如何探测暗物质？ 答：暗物质的探测方法主要分为直接探测法和间接探测法。所谓直接探测法是指直接探测暗物质粒子和原子核碰撞所产生的光学、声学、电子学信号。由于发生碰撞的概率很小，产生的信号也很微弱，通常要把探测装置安装在地下深处。暗物质的间接探测法主要是观测暗物质粒子衰变或互相作用后产生的正电子、反质子、中微子等稳定粒子。由于地球大气的影响，在地面上无法精确测定粒子的能谱，这类实验必须要在空间进行。 阿尔法磁谱仪项目实际上是一个大型粒子物理实验，首要目的是寻找宇宙中的暗物质及其起源。暗物质碰撞会产生额外的正电子，这些正电子的特征会被阿尔法磁谱仪精确地测量到。 问题之四：阿尔法磁谱仪是如何制造的？ 答：阿尔法磁谱仪主结构的主体是一个外径1.3米、内径1.15米、高0.8米的空心高强度铝制圆柱体。永磁体呈条状插入主结构，其磁场强度高达1400高斯。主结构由中国航天科技一院设计，磁体则由中科院电工所制造，采用的是新型高磁能积钕铁硼材料。 “阿尔法磁谱仪1”于1998年6月随美国“发现”号航天飞机升空开始科学探索，但最终没能发现反物质和暗物质。此后，科学家开始研制“阿尔法磁谱仪2”。他们曾尝试用超导磁体代替永磁体。尽管这种方法可以产生更强的磁场，但超导磁体需要液氦冷却，太空中无法补充液氦，这样磁谱仪寿命只有3年。而使用永磁体的磁谱仪的使用寿命长达18年至20年，所以专家们决定沿用永磁体。此外，“阿尔法磁谱仪2”在“阿尔法磁谱仪1”的基础上增加了若干新的子探测器。 问题之五：阿尔法磁谱仪是如何工作的？ 答：阿尔法磁谱仪的主要本领是能够探测到太空中“流窜”的粒子。这一本领基于其强大而特殊的磁场。带电粒子进入磁场后轨迹会发生变化，不同带电粒子的轨迹变化也不同，而不带电的粒子的轨迹则不会发生变化，因而观测粒子进入这一磁场后轨迹是否变化，变化程度有什么不同，就可以推知这是何种粒子。与天文望远镜观测物质发出的可见光和电磁波不同，磁谱仪直接观测粒子本身。因而，磁谱仪能够发现天文望远镜无法发现的暗物质等。（新华社北京4月4日电）