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红外薄膜法
仪器信息网红外薄膜法专题为您提供2024年最新红外薄膜法价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括红外薄膜法参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的红外薄膜法您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合红外薄膜法相关的耗材配件、试剂标物,还有红外薄膜法相关的最新资讯、资料,以及红外薄膜法相关的解决方案。
红外薄膜法相关的方案
ASTM F1249塑料薄膜-薄板水蒸气透过率测试仪(红外线传感器法)
采用红外传感器法原理。具有一定湿度的加湿氮气在材料的一侧流动,干燥氮气在材料的另一侧以固定的流量流动;湿度梯度差的存在,导致水蒸气从高湿侧透过薄膜扩散到低湿侧;在低湿侧,透过的水蒸气被流动的干燥氮气(载气)携带至红外传感器;传感器对载气的水蒸气浓度会产生对应的电信号;精确测量传感器电信号,计算试样的水蒸气透过率等参数。
偏振调制红外反射吸收光谱法(PM-IRRAS)测量薄膜
本文介绍了偏振调制红外反射吸收光谱(PM-IRRAS)的概况、系统以及薄膜测量的样品数据。
傅里叶变换显微红外光谱法鉴定多层复合薄膜成分
多层复合薄膜是近几年发展最快的一种包装材料。因为单一品种的薄膜已不能满足有效保护商品和美化商品的要求。而复合薄膜则能取长补短,成为性能优良的包装材料,现在复合薄膜的品种已达数百种,复合层数也由开始的二层发展到十多层,分析鉴定此类复合材料的组分,对其特性研究及生产控制具有重要作用。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上。 精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。 通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中,3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点(在焦点处,可见光将被吸收,如用于驱动加热电机的的热吸收器),并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池(在硅太阳能电池内,红外光将被直接转化成电能)。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示:当入射角小于等于50° 时,3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时,为了保持薄膜效能,应将薄膜紧密贴合于玻璃之上(不得起皱)。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量,评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动,以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器(同时还可以透射近红外线),并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。
光学薄膜的测量
功能性薄膜是一种高分子材料,根据其功能性应用在不同的场景中,其中对于薄膜光学性能的表征,是评估薄膜质量的分析方法之一。最常见的是评估其反射率和透过率。日立紫外可见近红外分光光度计UH4150 优异平行光束,确保透过率和反射率的准确测量。
塑料薄膜的杯式法、电解法和红外法的测试
三种测试方法的测量结果大体相同。这为多种方法测量塑料薄膜水蒸气透过量的实验室数据对比提供了一定的数据基础。 水蒸气可经溶解、扩散穿透塑料药包材,进入包装内药品,引发包装内固体药物潮解、变质和霉败;也可以经液体药品穿透塑料药包材,进入环境,导致液体药品溶液体积减少,溶质浓度增大,引发不良后果。因此,测量并根据药品性质选择阻隔水蒸气性能合适的塑料药包材,对保障包装内药品的质量具有重要意义。
拉曼光谱法检验香烟盒外包装薄膜的研究
目前法庭科学中,对香烟盒外包装薄膜的检验方法主要有红外光谱法、小角X射线散射法、差示扫描量热法、X射线荧光光谱法[4-9]等。拉曼光谱法具有无损、快速、准确、样品不需要前处理等优势,在农业、医药、化学等领域得到了广泛的应用。
薄膜水蒸气透过率检测方法
可见薄膜水蒸气透过率(量)检测方法主要分为两类,分别是称重法(WVTR-RC6称重法水蒸气透过率)和传感器法(WVTR-AE3电解法水蒸气透过率及WVTR-E3红外法水蒸气透过率测试仪)。
薄膜厚度的红外或近红外区域半导体晶片自动分析
测量厚度的光学方法适用于各种材料的研究和开发,如新型电介质和半导体涂层。这些方法的主要优点是提供无损和非接触的测量,以及从亚nm到!m的广泛测量范围。JASCO可以根据薄膜厚度、多层数和基材提供最合适的测量和分析方法
薄膜过滤法菌落自动计数解决方案
薄膜过滤法利用液体的流动能力和微孔滤膜的截留能力,能够在较短时间内快速有效地将微生物富集在滤膜上。迅数科技整合多年研发经验、历经多次试验与技术创新,于2022年推出全新的HD2000型滤膜菌落计数仪,为薄膜过滤法的菌落自动计数问题提供解决方案。
瑞典百欧林:光刻胶薄膜的溶涨性能研究
采用具有耗散功能的石英晶体微天平(QCM-D)和红外光谱技术研究了不同类型光刻胶薄膜的溶涨性能及其影响因素。
薄膜过滤法菌落自动计数解决方案
薄膜过滤法即滤膜法,它利用液体的流动能力和微孔滤膜的截留能力,通过滤器的抽滤作用,能够在较短时间内快速有效地将微生物富集在滤膜上。迅数科技整合多年研发经验、历经多次试验与技术创新,于2022年推出全新的HD2000型滤膜菌落计数仪,为薄膜过滤法的菌落自动计数问题提供解决方案。
UV-8000分光光度计探究半导体ZAO薄膜的光学性能
半导体透明导电氧化薄膜(TCO)具有优异的光学和电学性能,可见光区高透射率,红外区高反射率和微波强衰减性,同时具有低的电阻率,是功能材料中具有特色的一类薄膜, 已广泛应用于太阳能电池、真空电子器件、防护涂层、电磁屏蔽等领域中。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
我们研究了将多角度光谱应用到薄膜的光学表征和多层镀膜逆向工程上。UMA 作为安捷伦的新型先进分光光度附件(安装在 Agilent Cary 5000 UV-Vis NIR 分光光度计上),可以提供多角度、s 偏振态和 p 偏振态下的反射率和透射率数据。验证了测量数据的准确性,并证实了从紫外到近红外的宽光谱范围内,在入射角最高达到 40° 的情况下,所有的测量数据均具有很好的准确性。与传统的光谱分析相比,多角度光谱光度测定为研究人员提供了更多的实验信息。我们的研究表明,新的 UMA 分光光度计附件可以为各种光学镀层的表征及逆向工程问题的解决提供实验信息。
用薄膜过滤法进行微生物限度检查
本篇《用薄膜过滤法进行微生物限度检查》由赛多利斯专家分享企业如何使用膜过滤来检测微生物污染,并说明了赛多利斯的Microsart® 等系统设计用于进行膜过滤过程更简单、更安全。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法
GB 6672-2001塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法:
利用 Cary 全能型测量附件深入研究薄膜响应 —解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月2 日,第 20 卷,14 号。 高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确性和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据 。 测量数据集中每一个点的随机误差(随机噪音)都会有所不同,文献指出,随机误差对于表征结果影响很小。但是,系统误差一般来说会造成光谱表征偏移,或导致 T 和 R 曲线的大幅度波长变化,尤其对于薄膜参数精确测定的影响更为显著。
聚乙烯薄膜的应用以及双向拉伸PVA薄膜的检测方法
PVA薄膜根据所用PVA树脂的聚合度、醇解度的不同以及加工生产方法不同,可分为以下3大类型:水溶性PVA薄膜、难溶性PVA薄膜和双向拉伸PVA薄膜.由于PVA薄膜具有众多优良的特性,现已被广泛的应用于各个领域,市场十分广阔,目前,PVA薄膜主要广泛应用于我国农业、食品等行业的包装材料。就现在行业中PVA薄膜的使用情况,Labthink兰光将在本文中结合VAC系列压差法气体渗透仪、有机气体透过率测试系统、智能电子拉力试验机、热缩试验仪等检测仪器,着重介绍双向拉伸PVA薄膜的质量控制检测技术。了解关于更多相关仪器信息,您可以登陆济南兰光公司网站查看具体信息或致电0531-85068566咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。
GB/T 21529薄膜和薄片水蒸气透过率的测定--电解传感器法
山东普创工业科技有限公司,让科技改变生活,让您的工作更简单!GB/T 21529塑料薄膜和薄片水蒸气透过率的测定电解传感器法由山东普创工业科技有限公司自主研发生产。
深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月 2 日,第 20 卷,14 号[1]。高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
塑料薄膜和薄片抗冲击性能试验方法 自由落镖法
GB/T9639的本部分规定了在给定高度的自由落镖冲击下,测定塑料薄膜和薄片试样破损数量达50%时的能量。以冲击破损质量表示。本部分适用于塑料薄膜和厚度小于1 mm的薄片。
薄膜穿刺力试验仪
薄膜穿刺力试验仪主要用于检测薄膜或薄片材料的穿刺强度。通过试验,可以评估材料在受到穿刺时的性能,如抵抗穿刺的能力、穿刺发生时的力和位移等。这对于评估材料的适用性和安全性具有重要意义,例如在医疗、包装、建筑材料等领域中使用的薄膜或薄片材料。薄膜穿刺力试验仪的检测结果可以为材料的设计、生产和应用提供参考,帮助改进材料的性能,提高其安全性和可靠性。同时,通过与其他材料的对比,也可以评估不同材料的优缺点,为材料的选择和替代提供依据。薄膜穿刺力试验仪的检测对于材料性能的评估、质量的控制以及产品的研发和应用都具有重要的意义。
采用改进型激光脉冲法测量块状和薄膜材料的热扩散率
本方案介绍了一种基于广泛使用的激光脉冲法技术开发的块状和薄膜材料热扩散率测量技术,这种技术的核心是测量激光脉冲发出时间与脉冲到达探测器所需时间。同时采用实验室搭建的试验装置和计算模型,模拟了探测器的响应和由于空气对流所带来的热损失。这种方法的优点是可以不需要在真空条件下就可以准确测量热扩散率。在试验中,激光脉冲照射一端固定在热沉上另一端自由悬浮的长试样,通过电阻温度传感器,测量激光热脉冲在已知距离上的传输。对银线进行了测量,测量结果与参考值吻合的很好。作为一个重要的应用,这种方法测量其他方法很难测试的薄膜的试样热扩散率。例如我们测量了附着在陶瓷衬底上的石墨烯薄膜。通过采用计算模型和简单试验过程,可以有效和准确的各种薄膜材料的导热系数。
微波消解薄膜
薄膜是一种薄而软的透明薄片。用塑料、胶粘剂、橡胶或其他材料制成。薄膜科学上的解释为:由原子,分子或离子沉积在基片表面形成的二维材料。例如光学薄膜、复合薄膜、超导薄膜、聚酯薄膜、尼龙薄膜、塑料薄膜等等。薄膜被广泛用于电子电器,机械,印刷等行业。薄膜材料是指厚度介于单原子到几毫米间的薄金属或有机物层。电子半导体功能器件和光学镀膜是薄膜技术的主要应用。我们选择一种薄膜样品,将其剪碎后进行微波消解,探索最适合的消解参数,有利于后续对多种无机元素的快速准确测定。
深入分析薄膜的光学特性——使用 Agilent Cary 全能型测量附件解决光谱振动问题
关于此项工作的更多详细信息首次发表于 Optics Express 16129,2012 年 7 月 2 日,第 20 卷,14 号[1]。高质量多层光学镀膜的设计师和制造商需要使用可靠的方法来准确测量薄膜材料的光学常数。他们通常使用紫外-可见-红外分光光度计测得样品在标准入射和接近标准入射情况下的透射率 (T) 和反射率 (R)。了解所生成数据的准确度和任何误差的来源(随机或系统)将可以得到更可靠的样品表征数据[2,3]。
薄膜热收缩的试验方法
GB 13519-1992聚乙烯热收缩薄膜:本标准规定了聚乙烯热收缩薄膜的产品分类,技术要求、试验方法、检验规则和标志,包装、运输、贮存。本标准适用于以低密度聚乙烯树脂为主要原料,采用管膜法成型的热收缩薄膜。
微-纳米薄膜材料的热导率测量-薄膜热导率测试系统(TCT)-上海昊扩华东大区总代理
本仪器采用 3ω测试方法, 利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量,可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,其涵盖范围包括高等院校及科研院所、集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件。
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