红外号测试

产品概述ZR-1241型红外热成像口罩密合度测试仪是针对佩戴N95、普通医用外科口罩等进行实时检测口罩的密合度，并同时可以标注出具体泄露区域的高新技术产品。基于细粒度SRA-CNN图像分类算法为原理，并采用红外热成像数据，设计了一种数据驱动的深度学习图像识别模型。执行标准：GB 19083-2010 医用防护口罩技术要求—密合性要求和试验方法章节。适用场所：ZR-1241是众瑞向着高精尖设备制造迈进的里程碑之作，解决了传统检测方式的不足。智能化的产品不仅适用于口罩生产厂商的质量自控以及其他单位的质量监督，也适用于医院洁净病房、P3/P4级生物实验室以及GMP制剂车间等医疗场所和人流量、车流量大的公共场所（如车站、地铁站、机场、高速检查站、机关单位、学校、商场以及电影院）进行口罩密合度筛查。真正实现了一机打通生产到使用的全部通道，具有极高的普适性。

产品介绍 短波红外相机与TV/LLLTV相机原理类似，也是利用被观察的目标产生的辐射反射来获取图像。同时，短波红外相机也可以利用被测试目标产生的热辐射生成与热像仪类似的图像。根据以上功能描述，短波红外相机的测试可以依据测试TV/LLLTV相机原理或者根据热像仪测试原理进行。InGaAs FPAs的参数也可以用来表征短波红外相机。ST短波红外相机测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机，短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。ST测试系统由反射式平行光管，带宽光源，中温黑体，旋转靶轮，一组靶标，一组滤波片，PC，图像采集卡以及测试软件组成。产品参数平行光管光源平行光管类型反射式，离轴口径40mm口径100mm到200mm光源类型双光源模式：1）多色卤素灯2）单色LED焦距根据型号卤素灯光谱范围400-2200 nm光谱范围0.4-15μm卤素灯色温2856K在450-1700nm 范围空间分辨率不低于160 lp/mrad卤素灯动态范围0.02 mcd/m2 - 3000 cd/ m2镀膜抛物镜-铝膜，平面反射镜-金膜卤素灯调节模式光机调节，连续可调视场根据型号LED波长1060nm旋转靶轮LED动态范围10000:1型号MRW-8黑体靶孔数8孔径50 mm控制类型电动，数字温度范围50℃ 到 600℃靶标温度不确定性0.005xT直径54mm（靶孔）设置时间30 min反射式靶标一组USAF靶标，视场/畸变靶标，刀口靶标调节分辨率/稳定性0.01℃/ 0.05℃辐射式靶标一组4杆靶标,一组8个圆孔靶标，视场/畸变靶标，红外刀口靶标电脑控制RS-232 (USB 2.0)电源115-230VAC 50/60Hz

显微红外热点定位测试系统半导体器件作为现代科技社会的一大进步，却因为各种原因停滞不前，其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题，多种多样的环境因素，五花八门的故障形式，使得制造商不知所措，针对此问题，金鉴实验室联合英国GMATG公司推出显微红外热点定位系统，采用法国的ULIS非晶硅红外探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出高精智能化的测试体系，专为电子产品FA设计，整合出一套显微红外热点定位测试系统，价格远低于国外同类产品，同样的功能，但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系，正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的！”。金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代：配备20um的微距镜，可用于观察芯片微米级别的红外热分布；通过强化系统软件算法处理，图像的分辨率高达5um，能看清金道与缺陷；热点锁定lock in功能，能够精准定位芯片微区缺陷；系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率，以达到精准测温度的目的；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微光热分布系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system)，是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一（EMMI,THERMAL,OBIRCH）,是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术，可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式，通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度，软件数据算法改善信噪比。在IC分析中， 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管，以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的，无需遮光箱。金鉴显微红外热点定位测试系统优点：高灵敏度的锁相热成像缺陷定位配合电测，XRAY等对样品作无损分析选配不同镜头，可分析封装芯片及裸芯片对短路及漏电流等分析效果佳0.03℃温度分辨率，20um定位分辨率，可探测uW级功耗其他功能如真实温度测量，热的动态分析，热阻计算相对于其他缺陷查找设备（EMMI,THERMAL,OBIRCH），价格可承受与国外同类设备相比，金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著：金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCHOBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻，但挑战性低于10欧姆金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围，降低漏电阻金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常金鉴显微红外热点定位系统测试依据：GB/T 28706-2012 无损检测 金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷热点锁定（lock in）功能：温度最高点定位聚焦过程只需要一秒应用领域：PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、正向点亮漏电LED芯片,Vf偏低（左图）。反向测试芯片漏电流显示漏电流较大（右图）测试结果：显微红外热点定位热分布测试结果显示：漏电芯片上热分布不均，存在异常热点，热点即为芯片漏电缺陷点。span font-size:14px white-space:normal background-color:#bcd3e5 "="" style="color: rgb(102, 102, 102) font-family: Arial, Helvetica, sans-serif font-size: 14px text-align: justify white-space: normal "存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布，最终会导致局部温度增高。金鉴显微红外热点定位热分布系统，利用新型高分辨率微观缺陷定位技术，可在大范围内高效而准确地确定关注区域（异常点）位置。图示为在金鉴显微红外热点定位测试布设备下LED芯片漏电图：LED芯片热点定位图在金鉴显微红外热点定位测试系统中，不同模式调色板下的芯片漏电图如图所示显示：不同调色板下的LED芯片热点定位图对于受损LED来说，缺陷引起的非辐射复合几率增加，在加压增强的情况下，局部的高电场或强复合所引起的红外辐射能量被金鉴显微红外探测系统所接收，可以看到明亮的发光点或者热斑，再经过CCD图像转换处理，将其与器件表面的光学发射像叠加，就可以确认漏电造成发光点的位置。可见光与红外双重成像技术精确定位细微缺陷！案例二：金鉴显微红外热点定位系统查找紫外垂直芯片漏电点客户反馈其紫外垂直芯片存在漏电现象，送测裸晶芯片，委托金鉴查找芯片漏电点。 可见光图和热成像图融合，精准定位LED芯片热点取裸晶芯片进行外观观察，发现芯片结构完整，无击穿形貌，表面干净无污染。通过金鉴探针系统对裸晶芯片加载反向电压后，在暗室中使用显微红外热点定位系统的热点自动搜寻功能定位到了芯片上若干热点。经过可见光与热成像双重成像融合后，可以清晰观察到热点所在，即为芯片漏电缺陷处。案例三：客户送测LED芯片，委托金鉴在指定电流条件下（30mA、60mA、90mA）进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件：30mA、60mA、90mA环境温度：20~25℃/40~60%RH不同加载电流下LED芯片热分布图灯珠正常使用时，额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现，该芯片在额定电流下工作，芯片存在发热不均匀的现象，其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化，以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下（30mA、60mA、90mA）都存在发热不均的现象，芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流（90mA）使用时，我们发现过多的电流并没有转变成为光能，而是转变成为热能。案例四：某灯具厂家把芯片封装成灯珠后，做成灯具，在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象，委托金鉴查找原因。本案例，金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象，通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大，再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中，起到定位失效点的关键作用。对漏电灯珠通电光学显微镜观察：金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封，使用3V/50uA直流电通电测试，发现灯珠存在电流分布不均现象，负极一端处的亮度较高。LED芯片光分布图对漏电灯珠显微红外观察：使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量，发现芯片正负电极温度差距很大，数据显示如图，负极电极温度为129.2℃，正极电极温度为82.0℃，电极两端温差30℃。LED芯片热分布图死灯芯片正极金道FIB切割：金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割，结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构，金鉴发现： 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌，尤其ITO层呈现波浪形貌，ITO层熔点较低，正极在高温下，芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落，这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm，明显比负极100nm要厚，而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺，厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下，我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均，电极温差大，造成本案的失效真因。LED芯片正极金道FIB切割及截面形貌观察案例五：委托单位送测LED灯珠样品，要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。对大尺寸的倒装芯片进行观察：开始时样品电流为1A，此时芯片表面温度约134℃；一段时间后，电流降低到800mA，温度在切换电流后的2s内，温度下降到125℃，随后逐渐下降到115℃达到稳定；紧接着再把电流降低到500mA，10s后，温度从115℃下降到91℃。加载电流变化下大尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图对小尺寸的倒装芯片进行观察：样品在300mA下稳定时，芯片表面温度约为68℃；电流增加到500mA，10s后温度上升到99℃；随后把电流降低到200mA，13s后温度下降到57℃，此时把电流增加到400mA，芯片表面温度逐渐上升，在20s后温度达到稳定，此时温度约为83℃；最后把电流降低到100mA后，温度逐渐下降。加载电流变化下小尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图案例五：电源失效分析之热点定位委托单位电源出现失效现象，委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中，金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试，定位到电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。电源热分布图及热点定位案例六：测试原理：PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下，通常会表现出异常局部功耗分布，最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ，可快速而准确地探测细微缺陷（异常点）位置。 室温24.5℃条件下，对待测区域施加5V电压，此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示，其中红色三角形标识处即为热点所在，红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置，该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。局部漏电PCB样品红外热点定位测试 红外热点定位图 可见光图（测试区域） 红外-可见光融合图

失效分析检测公司推荐的设备，功能多多，科研利器！显微红外热分布测试系统金鉴显微红外热分布测试系统（GMATG-G5）由金鉴实验室和英国GMATG公司联合推出，采用法国的非晶硅红外ULIS探测器，通过算法、芯片和图像传感技术的改进，打造出一套高精智能化的显微红外热分布测试体系。这套测试体系专为微观热成像设计，价格远低于国外同类产品，除传统红外热成像的优势外，还具有更高精度的成像系统、更高的温度灵敏度，更便捷的操作体系，并为微观热成像研究添加诸多实用和创新的功能，是关注微观热分布的科研和生产必不可少工具。金鉴显微红外热分布测试系统已演化到第五代：配备20um的微距镜，可用于观察微米级别芯片的红外热分布；通过软件算法处理，图像的分辨率高达5μm，能看清芯片金道；高低温数显精密控温体系，可以模拟芯片工作温度；区域发射率校准软件设置，根据被测物上的不同材质，设置不同发射率，才能得到最真实的温度值；具备人工智能触发记录和大数据存储功能，适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心，自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉，性能卓著，值得信赖。与传统红外热像仪相比，金鉴显微红外热分布测试系统优点显著：应用领域：适用于LED、半导体器件、电子器件、激光器件、功率器件、MEMS、传感器等样品的研发设计、来料检验、失效分析、热分布测量、升温热分布动态采集。金鉴显微热分布与传统设备大PK：金鉴显微热分布测试系统特点：1. 20μm微距镜，通过软件强化像素功能将画质清晰度提高4倍，图像分辨率提高至5μm，可用于观察芯片微米级别的红外热分布。 LED芯片热分布图 2. 模拟器件实际工作温度进行测试，测试数据更真实有效。电子元器件性能受温度的影响较大，金鉴显微热分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，模拟器件实际工作温度进行测试，提供更为真实有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题 3. 1TB超大视频录制支持老化测试等长期实时在线监测。金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像可保存每一帧画面所有像素的温度数据，支持逐帧分析热过程和变化，可全面的观测分析温度与时间的关系、温度与空间的关系，更容易发现和确认真实的温度值，以及需要进一步检查的位置。灯具温升变化图 灯珠芯片温升变化图4. 热灵敏度和分辨率高，便于分辨更小温差和更小目标，提供更清晰的热像。 专业测温，-20℃~650℃宽温度量程，测温误差±2℃或±2%。热灵敏度0.03℃，便于分辨更小的温差和更小目标，提供更清晰的热像。红外分辨率640x480，若使用算法改进的像素增强功能，可有4倍图像清晰度，画质提升为1280x960。5. 定制化的热像分析软件，为科研和分析提供专业化的数据支持。金鉴定制PC端、APP分析软件: IR pro、JinJian IR，针对不同测试样品开发的特殊应用功能，人性化的操作界面，纠正多种错误测温方式，具备强大的热像图片分析和报告功能，方便做各个维度的温度数据分析和图像效果处理。（1） PC和手机触屏操作界面，简单易学，即开即用。 手机软件主界面 PC软件主界面（2）支持高低温自动捕捉，多个点、线、面的实时温度显示、分析功能，可导出时间温度曲线、三维温度图等测试数据。 （3）多达15种调色板，适用于不用的测试样品和场景需求，显示颜色的变化不影响温度的测试。（4） 微小器件由不同材质组成，不同材质、不同粗糙度等都影响发射率，图像上大部分对比度通常是由于发射率变化而不是温度变化引起的，因此发射率校正显得尤为重要。金鉴显微热分布测试系统可灵活设置不同区域的发射率，实现不同材质单独测量，温度测试更加准确。 （5）视频录制触发与自由定义帧频，最快25帧/秒，可精准捕捉有效的温度数据和视频图像。 （6）切换图像模式，可实现热像图和可见光图融合，可查看画面中高温区域或温度变化较大区域。 图像模式热成像-可见光融合图（7）导出热像图全部像素点温度数据值，为专业仿真软件建立温度云图等分析提供原始建模数据。 （8）温差模式，可直观获取任意两张热像图的温度差异，分析更快速精准。测试案例:案例一：不同环境温度下热分布测试金鉴显微热分布测试系统配备高精度控温体系，可实现器件在不同温度下的热分布测试。本案例模拟灯具芯片在不同环境温度下的结温及热分布状态，测试结果表明，控制环境温度达到80℃时，芯片结温122℃，继续升高环境温度可能导致芯片发光效率低下甚至芯片受损。案例二：不同厂家芯片光热分布差异以下案例中A款芯片发光最强，发热量最小，光热分布最均匀，量子效率最高。强烈建议LED芯片规格书里添加不同使用温度下的光热分布数据！做好光热分布来料检验，可以使LED最亮，温度最低，而成本最低，质量更可靠。 案例三：多芯片封装，电流密度均匀性需把控某款灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 案例四：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，金鉴显微热分布测试分析显示，芯片负极焊盘区域温度比正极焊盘区域温度高约15℃。因此，推断该芯片电流密度均匀性较差，导致正负极焊盘位置光热分布差异较大，局部热膨胀差异过大从而引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例五：显示屏模组热分布监测PCB板大屏显示模组存在过热区，过热区亮度会偏低，高温还会加速LED光源的老化，热分布不均势必会造成发光不均，影响显示模组清晰度。在显示屏分辨率快速提升的当下，光热分布不均已成为制约LED显示屏清晰度的最大因素。因此，提升LED显示屏光热分布均匀性对提高当下LED显示屏清晰度，意义重大！ 案例六：IC器件热分布测试未开封的IC器件也可观察到表面热分布图。无需化学或激光开封，金鉴的红外热分布测试系统使用更高灵敏度的探头以及更先进的图像优化技术，即可了解器件内部热分布高点和低点的区域，真正实现无损检测。案例七：LED灯具热分布测试日常使用的灯具过热容易引起电子器件故障，缩短产品使用寿命，严重甚至造成安全隐患，检测LED灯具发热均匀情况能帮助设计产品，合理布置发热部件，有效防止过热。LED灯具热分布 案例八：定位电源失效区域电源失效案例中，金鉴使用红外热分布测试系统对电源进行测试，发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重，温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下，而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作，长期使用过程中导致R5电阻失效。 电源热分布图及热点定位 案例九：OLED热分布测试OLED发光材料像素在不同温度下表现出不同的发光特性，温度的分布不均会使得OLED显示面板中各处的薄膜晶体管的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进而导致整个显示面板出现发光亮度不均。 案例十：集成电路芯片温度测试通过金鉴显微红外热分布测试系统可测试封装后集成电路芯片工作时的温度及温度场分布，也可以直接测试芯片微米大小区域的温度数据，观察芯片的温度场分布，轻松发现温度聚集点，并且能够测试芯片开启后的温升曲线，判断芯片达到热稳定的时间。 集成电路芯片工作时的热分布及局部放大热分布图 集成电路芯片通电开启后的温升曲线 集成电路芯片通电开启热分布瞬态图案例十一：热分布测试应用于PCB领域红外热分布测试用于PCB板的检测，可直观显示电路板各区域和元件的温度分布，设计阶段可用于分析电路板布局设计是否合理，最大限度地减少故障排查和维修带来的高成本。生产阶段也可及时发现可靠性隐患，因为异常组件的升温速度通常比正常的要快，通过热分布测试，许多缺陷在出厂前就能被发现。案例十二：热分布系统全辐射视频录像功能应用于GaN器件领域 电子元器件器件实际应用过程中，进行单一热像图的分析往往是不够的，例如某GaN器件，其工作时的各项性能参数受温度影响较大，因此需要监控器件开始工作瞬间直至稳定的整个温度变化过程，这就涉及到金鉴显微热分布测试系统的全辐射视频录像功能。金鉴显微红外热分布测试系统全辐射视频录像功能采样速率可达到25帧/秒，可实现1TB单个视频录制，轻松捕捉器件通电瞬间温升变化。通过逐帧分析器件的升温过程全辐射视频录像可以看出，器件通电瞬间开始升温，这个瞬间时长仅有几十个毫秒左右，并在开始通电后2分钟左右达到温度稳定，同时各项电性参数也达到稳定。GaN器件工作过程温升变化曲线 GaN器件工作过程电流变化曲线案例十三：电器开关柜红外热分布测试电气设备在生产中已广泛采用，而电气故障是不可避免的，如何排查电气故障是面临的一大问题。电气设备的初期异常通常伴随温度的变化迹象，采用红外热分布测试可在不断电状态下进行检测工作，及时发现和诊断问题。

Panlab红外活动测试仪用于研究运动活动和探索的先进系统。产品特点：Panlab红外（IR）活动测试仪可用于研究自发运动活动，站立和可选的孔板测试参数，以便在啮齿动物中进行探索。 这是一个可在白天和夜晚照明条件下轻松快速地进行药物筛选和表型鉴定的可靠系统。该系统基本上由二维（X和Y轴）方框，框架支撑和控制单元组成。 每框由16 x 16红外光束组成，以实现最佳的物体检测。 这些框可以由独立的控制单元控制，也可以直接通过SEDACOM软件控制，这样可以方便地将数据导出到计算机。ACTITRACK软件选项可用于分析动物轨迹（距离，速度，所选区域中的持续时间），为使用控制单元提供补充数据。1.模块化系统，具有无可匹敌的灵活性 - 满足任何需求2.二维（XY）IR框架，可提供最大的分辨率和精度3.优化配置幼小鼠，市场上最小的光束间距（1.3厘米）4.小巧方便（无需PCI，最小电缆和维护......）5.无需计算机即可使用（带内部存储器的独立控制单元）6.新的可选数据传输软件SEDACOM 2.07.通过ACTITRACK软件提供跟踪功能IR框架和支架LE8815 76-0127用于大鼠和正常小鼠的IR框架，45 x 45 cm，XY轴，16 x 16 IR光束，2.5 cm间隔光束LE8816 76-0128IR框架适用于小型鼠标，25 x 25 cm，XY轴，16 x 16 IR光束，1.3cm间隔光束。LE8817 76-0131支持LE 8815框架LE8818 76-0132支持LE 8816框架控制单元（一个可控制2个IR框架）LE8825 76-0134数据记录器（最长200小时内存，RS232通讯附件LE8814 76-0129透明场景1只动物（4个墙壁用于LE8815）440*440mm（旷场）LE8813 76-0130透明场景1只动物（4个墙壁用于LE8816）210*210mm（旷场）LE8821 76-0125透明场景2只动物（4个墙壁和分割器用于LE8815）需ActiTrackLE8823 76-0126透明场景2只动物（4个墙壁和分割器用于LE8816）需ActiTrack孔洞配件LE8820 76-0133适用于LE 8815框架的鼻触底座（18孔/2.4直径/1cm深度）ACTITRACK选配 追踪ACTITRACK V2.7 76-0003ActiTrack追踪软件 支持32 IR框架SEDACOM选配 数据传输和仪器控制SEDACOM V2.0 76-0406SeDaComV2.0软件，将数据传输到计算机CONRS232USB 76-0608SeDaCom附件- RS232 USB适配器LE7000 76-0114热敏打印机

NLIR（非线性红外传感器）公司是由丹麦技术大学(DTU Fotonik)光子学工程系的3名研究人员和NLIR的首席执行官创立的一家初创公司，隶属于Nynomic集团。该公司基于新颖的上转换专利技术，开发了中红外光谱仪、单波长探测器和光源等一系列产品。相较于传统的红外光谱仪，NLIR公司的同类产品具有快几个数量级的光谱扫描速度和更高的灵敏度。上转换技术的核心是可将中红外光转换为近可见光的非线性晶体。这使得可以使用快速高效的硅基传感器来检测中红外（MIR）光。非线性中红外光谱仪的实现代表了一种新测量范式。该公司被命名为非线性红外传感器(NLIR)，以突出与当今领先的傅里叶变换红外光谱(FTIR)的MIR光谱方法的技术差异。NLIR公司开发的产品可广泛应用于中红外光谱领域，如光谱测量、光学镀膜、激光系统诊断、光纤光谱探针（样品检测）、实时工业过程监控、颜色识别、快速事件光谱分析、弱光光谱测试、自由空间光通信等。 工作原理非线性红外传感器（NLIR）的技术核心是可将中红外波长转换成近可见波长的波长转换模块，从而使Si及GaAs传感器可用于红外光探测。转换模块支持的转换波长范围从1.9-5.3 μm，通过在铌酸锂晶体中内置1064 nm高功率激光器，可以将该波长范围内的入射光信号转为682 nm-886 nm波长范围的出射光。波长转换模块仅支持垂直偏振方向的光实现波长转换，这会降低入射光的转换效率相应地也将噪声降低为原来的一半。经过转换后，有效光谱为滤除685 nm波长以下，886 nm波长以上的残留噪声后的光谱。波长转换原理示意图 波长转换模块的光谱范围大小对于光子转换效率具有重要的影响。对于光谱转换范围在大约50 nm的最小谱宽来说，光转换效率可达0.1。当光谱转换范围拓展为3.3-5.3 μm时，转换效率降低为0.005，当光谱转换效率拓展为更宽的1.9-5.3 μm时，转换效率仅有0.0005。理想转换光谱范围和转换效率的协同改变取决于很多因素。但更低的转换效率提供了测量的更多可能，尤其是在光谱应用领域。更高的转换效率，配合合适的可见光探测器，可以提供一些最快、灵敏度最高的红外光探测方法。 使用可见/近红外探测器实现中红外探测除了产生更低的等效噪声功率，近红外波长转换模块还具有其他的优势。将输出光信号通过光纤耦合进GHz GaAs传感器可以获得比传统中红外探测器更快的探测速度。10GHz甚至25 GHz 探测器都可以兼容测量。进一步而言，标准近可见光探测器通常配置有前置放大器，响应可高达GV/W，简化了输出电信号的测量。NLIR的波长转换模块是针对任何中红外实验室的通用多功能工具。客户通常需要灵活的中红外测试设备，但满足的设备往往造价昂贵。使用不同的客户可承担的探测器设计的波长转换模块可满足客户需求，在大多数情况下，波长转换模块给出的探测结果甚至优于使用传统的昂贵中红外探测器得到的结果。

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

远红外发射率测试仪 纺织品发射率红外性能测试仪用途:用于各类纺织产品，包括纤维、纱线、织物、非织造布及其制品等采用远红外发射率的方法测定其远红外性能。测试原理:将标准黑体板与试样先后置于热板上，依次调节热板表面温度使之达到规定温度，用光谱响应范覆盖5微米~14微米波段的远红外辐射测量系统分别定标准黑体板和试样覆盖在热板上达到稳定后的幅射强度，通过计算试样与标准黑体板的辐射强度之比，从而求出试样的远红外发射率符合标准:GB/T3012741远红外发射率的测定仪器特性:1、采用触摸屏控制和显示，菜单式操作模式，方便程度堪比智能手机2、核心控制部件采用自主研发组成多功能主板3、仪器表面喷涂采用优质静电喷塑工艺，整洁美观。4、采用光学调制技术，测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响5、为了确保仪器的测量精度，在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，系统自带修补功能和自定义窗口设置6、在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测进一步提高了仪器性能7、在测量过程不会损伤被测样品，操作简便，灵活性高；8、配USB接口和联机接口及操作Windows软件9、配套温自主研发测控系统

TRAL红外探测器通用测试系统用于测量在700nm到16000nm宽光谱范围内敏感的离散（或小型线性阵列）红外探测器（NIR/SWIR/MWIR/LWIR探测器或宽带探测器）的参数。可测试的红外探测器包括：光子探测器：光伏/光电导、冷却/非制冷、热辐射探测器、热电探测器等。在辐射配置中，TRAL系统使用调制光束照射被测红外探测器。探测器产生与入射红外辐射功率成正比的输出电信号。通过分析被测探测器的输出电信号和辐射功率，得到所需参数。 在光谱配置中，TRAL系统使用可变波长、可变强度辐照被测探测器。过对被测探测器输出电信号的分析，可以确定其相对光谱灵敏度。测试功能：1.辐射参数：黑体响应度，响应度，黑体探测率，归一化探测率，NEP，暗电流，量子效率。2.光谱参数：相对光谱响应3.空间参数：调制传递函数MTF和非均匀性。

产品简述：适用于测定塑料薄膜、铝箔塑膜、防水材料、金属箔片等高阻隔材料的水蒸气渗透性能。可扩展测试瓶、袋等容 器。技术参数：测量范围（膜） 0.01～40 g/(m2day) (标准) 0.1～1000 g/(m2day) (可选) 试样数量 3 分辨率 0.001 g/(m2day) 样品尺寸 Φ108mm 测试面积 50cm2 试样厚度 ≤3mm 测试模式 三腔数据独立 温控范围 15℃～55℃(分辨率±0.01℃) 控温精度 ±0.1℃控湿范围 0～100%RH 控湿精度 ±1%RH载 气 99.999%高纯氮气（气源用户自备） 载气流量 0~200ml/min（全自动控制） 气源压力 ≥0.28MPa/40.6psi 接口尺寸 1/8" 校正方式 标准膜校正 主机尺寸 350mm (L)×695 mm (W)×410mm (H) 主机重量 60Kg 电源 AC 220V 50Hz测试原理及产品描述：采用红外传感器法原理。具有一定湿度的加湿氮气在材料的一侧流动，干燥氮气在材料的另一侧以固定的流量流 动；湿度梯度差的存在，导致水蒸气从高湿侧透过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气（载 气）携带至红外传感器；传感器对载气的水蒸气浓度会产生对应的电信号；精确测量传感器电信号，计算试样的水蒸 气透过率等参数。参照标准：YBB 00092003、GBT 26253、ASTM F1249、ISO 15106-2、TAPPI T557、JIS K7129ISO 15106-3、GB/T 21529、 DIN 53122-2、YBB 00092003产品特点： 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最da限度的满足用户的个性化需求 自动流量控制：测试流量，包括载气与湿气，均须自动控制，无需人工干预； 全自动温度控制，水浴冷热控温技术，设备可在 5~40 摄氏度环境变化下拟变整机温度，可任意升温、降温，控制精度高，稳定可靠，设 备不受外部环境温度干扰； 自动湿度控制：湿度自动控制，无机械旋钮，无需人工干预； 可选触控屏操作界面 专业测试软件，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采集芯片，有效保证测试准确性与实时性 配置标准串行通讯口 一键式操作，简单方便，即学即会 全自动测试：设定测试参数，开始后测试自动进行，自动判断试验结束并保存测试结果； 激光式脉冲调制的红外传感器，长光程吸收，测量精度更高； 精密管道与阀门，专利的管道冲洗技术，保证载气的洁净度，测试效率更高； 独有的试样防侧漏密封安装技术，增强试样密封； 高效测试，氮气低消耗； 符合中国 GMP 对数据可追溯性、权限管理等功能的要求，计算机化系统完全满足医药行业需要（选购）产品配置：系统配置:测试主机、计算机、测试软件、通讯线缆、水吸收阱、取样器、氮气瓶精密减压阀、真空密封脂、打印机 选配件：容器测试附件和容器温度控制装置 备注： 气源和蒸馏水（用户自备）自动控温水蒸气透过率测试仪（红外法） 自动控温水蒸气透过率测试仪（红外法）

302远红外线放射率测试器特点：中山科学研究院技术移转，取得专利之远红外线放射率测试器，为业界唯一可于常温下、不需耗材、不受外型限制，可测量多种状态（固态、不规则形状、液态与粉体、颗粒、纺织品等）之高机能、高精确度、高再现性之远红外线放射率测试器。并可配合专用软件记录测试结果。种类:体温型测量放射率读数范围:0.01～1.00测量波长范围:5～14 &mu m温度准确度:± 0.015 ℃反应时间:500 ms放射率读取速度: 3 Sec.操作温度:24～28℃(26℃最佳)操作湿度:RH 10～95%无凝结水状态测试温度:34.0 ℃恒温器: &phi 60± 1mm恒温器设定温度: 34.0 ℃外型尺寸:18.7(H)x18.4(W)x15.0(D) cm重量:3.2Kg使用电源:AC110V, AC220V标准配置:0.95黑体片（标准26℃）选购配备:计算机操作软件暨连接模块生产地: Made in Taiwan

产品简述： 适用于测定塑料薄膜、铝箔塑膜、防水材料、金属箔片等高阻隔材料的水蒸气渗透性能。可扩展测试瓶、袋等容 器。测试原理及产品描述采用红外传感器法原理。具有一定湿度的加湿氮气在材料的一侧流动，干燥氮气在材料的另一侧以固定的流量流动；湿度梯度差的存在，导致水蒸气从高湿侧透过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气（载气）携带至红外传感器；传感器对载气的水蒸气浓度会产生对应的电信号；精确测量传感器电信号，计算试样的水蒸气透过率等参数。■产品简述适用于测定塑料薄膜、铝箔塑膜、防水材料、金属箔片等高阻隔材料的水蒸气渗透性能。可扩展测试瓶、袋等容器。■技术参数项目参数型号WVTR-E3测量范围（膜）0.01～40 g/(m2day) (标准)0.1～1000 g/(m2day) (可选)试样数量3分辨率0.001 g/(m2day)样品尺寸Φ108mm测试面积50cm2试样厚度≤3mm测试模式三腔数据独立温控范围15℃～55℃(分辨率±0.01℃)控温精度±0.1℃控湿范围0～100%RH控湿精度±1%RH载 气99.999%高纯氮气（气源用户自备）载气流量0~200ml/min（全自动控制）气源压力≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸1/8"校正方式标准膜校正主机尺寸350mm (L)×695 mm (W)×410mm (H)主机重量60Kg 电源AC 220V 50Hz产品特点：嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验标准化，模块化，系列化的设计理念，可最-大限度的满足用户的个性化需求 自动流量控制：测试流量，包括载气与湿气，均须自动控制，无需人工干预；全自动温度控制，水浴冷热控温技术，设备可在5~40摄氏度环境变化下拟变整机温度，可任意升温、降温，控制精度高，稳定可靠，设备不受外部环境温度干扰；自动湿度控制：湿度自动控制，无机械旋钮，无需人工干预；可选触控屏操作界面 专业测试软件，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采集芯片，有效保证测试准确性与实时性 配置标准串行通讯口 一键式操作，简单方便，即学即会 全自动测试：设定测试参数，开始后测试自动进行，自动判断试验结束并保存测试结果；激光式脉冲调制的红外传感器，长光程吸收，测量精度更高；精密管道与阀门，专利的管道冲洗技术，保证载气的洁净度，测试效率更高； 独有的试样防侧漏密封安装技术，增强试样密封； 高效测试，氮气低消耗； 符合中国GMP对数据可追溯性、权限管理等功能的要求，计算机化系统完全满足医药行业需要（选购）普创始终坚持诚信、创新、专业、严谨，以踏实积淀为本，以客户诉求为中心，厚积而薄发！普创-水蒸气透过率测试仪（红外法） 普创-水蒸气透过率测试仪（红外法）

滨松近红外量子效率测试系统C13534系列近红外量子产率测量仪的基础增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm，覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同，滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合，结合JCSS级别的校准技术，可以让双通道结果无缝接合，得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源，可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料，满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。产品指标：型号C13534-31C11347-32C13534-33C13534-34C13534-35C13534-36光谱测试范围300nm—1650nm400nm—1650nm300nm—1650nm400nm—1650nm300nm—1650nm400nm—1650nm单色仪光源光源类型150W氙灯150W高能氙灯外接激光器激发波长250nm—850nm375nm—850nm300nm—800nm375nm—800nm取决于激光器带宽小于10nm（半高宽）取决于滤光片取决于激光器激发波长控制自动控制━━ C13534-11/-12多通道光谱探测器光探测器背照式线阵CCD图像传感器测量波长范围300nm—950nm400nm—1100nm300nm—950nm400nm—1100nm300nm—950nm400nm—1100nm波长分辨率2nm2.5nm2nm2.5nm2nm2.5nm光敏通道数1024C13684-01多通道光谱探测器光探测器InGaAs线阵图像传感器测量波长范围900nm—1650nm波长分辨率9nm光敏通道数256 积分球材料Spectralon尺寸3.3英寸滤光片单元滤光片型号━ND滤光片ND滤光片，长通滤光片配件：型号说明近红外测试高灵敏度测试上转换测试980nm激光器其他激光器C13534-11/-12可见光通道●●●●C13684-01近红外通道●可选●●L13688-980980nm激光器━━●━A13689-01用于外接激光器的适配接口━━━●A13687-01高灵敏度测试用的滤光片塔轮━●━━A13687-02外接激光器用的滤光片塔轮━━●●L13685-01150W高能氙灯━●━━A13686-375中心波长375nm的带通滤光片━可选━━A13686-400中心波长400nm的带通滤光片━可选━━A13686-475中心波长475nm的带通滤光片━可选━━A13686-525中心波长525nm的带通滤光片━可选━━外形尺寸图(单位: mm) 重量 约60kg应用案例；- NIR发光材料- 单线态分子氧的荧光量子产率

产品介绍TVT长程可见光-近红外相机测试系统是基于一个强度可调的光源，通过图像投影模块将一些标准的靶标投影到被测试的可见光-近红外相机，然后被测试的可见光-近红外相机生成带有畸变的图像，通过分析采集到的图像从而分析计算出相应的性能参数。TVT测试系统可以模拟黑夜（多云的夜晚）和特别亮的白天（正午的沙漠），**测试在不同照明条件下可见光-近红外相机的性能。TVT测试系统主要由以下组件组成：DAL多通道标定光源、CDT反射式光管、一组可切换的折射式光管、一组靶标、旋转靶轮、PC、一组图像采集卡、测试/控制软件（DAL光源控制软件、SUB-V测试软件、TAS-V测试软件）。TVT测试系统推荐用于测试中长距离的可见光-近红外相机。产品参数测量功能：分辨率、**小可分辨对比度MRC、MTF、畸变、视场、灵敏度、信噪比、噪声参数（NEI、FPN、非均匀性、1/f噪声、3D噪声）、坏点及其分布、响应函数（响应率、线性度、动态范围）、色彩还原度。参数描述平行光管小视场离轴反射式光管 (典型口径 100mm, 150mm 或200mm) 一组三个大视场折射式光管 (**大口径 70 mm)光源口径40 mm光源工作模式色温2856K的卤素灯，用于模拟黑夜和典型日间色温超过5000K的白色LED，用于模拟非常亮的日间光源亮度范围10 mcd/m2 - 10 kcd/m2 – D (日间模式)10 μcd/m2 - 10 kcd/m2 – DN (日间/夜间模式) (亮度范围可拓展)模拟亮度范围(近似值)D日间模式: 30 mlx - 30 klx (0.003 fc-3000 fc)DN日间/夜间模式: 30 μlx - 30 klx (0.000003 fc-3000 fc)光谱范围已标定光谱范围400-1000nm光谱模式a)宽带 b)仅VIS, c)仅NIR靶标一组6个不同对比度 USAF 1951 靶标，刀口靶，畸变靶，灰度靶, PC 通讯接口RS 232/USB 2.0 (控制光源和旋转靶轮)支持输入格式PAL, NTSC, Fire Wire, USB 2.0/3.0, analog HD, Camera Link, LVDS, GigE, SDI, DVI, HDMI系统版本1234567序号光照范围光管测试范围图像采集卡轴校准模拟距离评估软件A白天（DAL-D光源）离轴反射式基础：分辨率无无无限远无B白天/夜晚（DAL-DN光源）反射式和一套折射式标准：分辨率、MTF、畸变、视场、灵敏度、信噪比、NEI、FPN、非均匀性、1/f噪声模拟视频采集卡(PAL/NTSC) 变焦/步距FOV物镜对准误差的测量200m到无限远Movis计算机程序C与B相同，增加MRC测量增加软件支持USB2.0,3.0D超扩展:与C级相同，增加3D噪声，PVF, NPSD增加：CL, GigE, LVDS,CVBS,YpbPr,Coa-XPress, HDSDI, HD-CVI, HD-TVI, AHD, DVI, HDMI, Fire Wire技术指标：VIS-NIR可见光-近红外相机部分性能参数（仅示例，具体情况可能随配置而改变）MRC测量重复性优于6**MRC测量不确定性优于7**resolution 测量重复性优于8**resolution 测量不确定性优于9**MTF测量重复性优于0.01MTF测量不确定性优于0.02Sensitivity测量重复性优于8**Sensitivity测量不确定性优于10**NEI测量重复性优于8**NEI测量不确定性优于10**SiTF 测量重复性优于4**SiTF 测量不确定性优于8**FOV测量重复性优于1**FOV测量不确定性优于1.5**3D Noise测量重复性优于8**3D Noise测量不确定性优于10**Uniformity测量重复性优于8**Uniformity测量不确定性优于10**magnification测量重复性优于2**magnification测量不确定性优于3**NPSD测量重复性优于8**NPSD测量不确定性优于10**Bad pixels 测量重复性优于8**Bad pixels 测量不确定性优于10**Distortion测量重复性优于2**Distortion测量不确定性优于5**SNR测量重复性优于8**SNR测量不确定性优于10**Responsivity function测量重复性优于4**Responsivity function测量不确定性优于8**

● SPECTRAFIRE 解决了远红外测试时使用积分球造成 的能量损耗问题。● SPECTRAFIRE可以测试毛玻璃、半透明聚合物薄膜 等非透明样品● SPECTRAFIRE可以容易的安装到客户现有的Thermo Nicolet FTIR 红外光谱仪上 SPECTRAFIRE 是一个远红外反射率测试附件，可装配到 Thermo-Nicolet 的FTIR 光谱仪上，使用傅里叶变 换的方法进 行光谱半球反射率测试，其中使用了AZ 公司专利 的 ellipsoidal Collection半球能量收集技术，避免了传统的积分球技术对能 量的吸收损耗问题。仪器可从1.67um 到40um的范围内扫描测 试近法向半球反射率。所有的空间都可以被清除以最小化由于水和CO2造成的信号损失。法向发射率根据测试的光谱反射率数据和黑体曲线进行计算。SPECTRAFIRE 有2种测试模式，绝对测量模式和相对测量 （差分式）模式。在绝对测量模式中，近法向如射，半球反射率通过与配有校正臂的内置探测器直接测到。在这种情况下，无需校正。在相对测量（差分式）模式下，内置校正臂不起作用，而是提供一个参考样品进行背景扣除，然后测试样品。此外，该系统通过特殊标定的参考根据样品的光谱，来得到不透明样品的总半球发射率。使用Spectrafiar计算发射率并不需要知道光源的光谱，也不一定需要限定光源的色温在300K. SPECTRAFIRE 还可以用于正确的测量300K以外的发射率和非灰体的 发射率。准直的红外光束从Nicolet红外光谱仪进入到SPECTRAFIRE左边的入口处。通过一个离轴抛物面镜将该光束汇聚到样品上。样品口在系统的顶部，样品置于专利的收集器的顶部。入射光经样品反射并被收集汇聚到探测器上。探测器的信号由FTIR光谱仪进行处理。.在收集器里还内置一个光束偏离装置，用于绝对测量时的背景扣除。该偏离装置的反射率完全匹配收集器的反射率 。仪器里面的所有光学元件都镀了非保护性金膜，以获得在测试光谱范围内的最大反射率。Spectral resolution0.5 to 32/cmSpectral range2.5 to 40 microns (4000 to 250 cm -1 wave number)Sample size and geometry&ge 0.33 inches (8.3 mm) diameterDimensions: FTIR with SPECTRAFIRE attached.-Footprint: 33 x 25 inches-Height: 13.5" at the SPECTRAFIRE sample portElectrical requirement for Nicolet120 VAC, 60 HzWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. Spectroreflectometer, spectro-reflectometer and spectral reflectometer are also used interchangeably.

产品介绍 LOF移动式可见光-近红外相机测试系统通常在外场使用，与被测相机有一定距离。一组标准目标的图像直接投射到被测的可见光-近红外相机，然后被测试的可见光-近红外相机生成带有畸变的图像，通过分析采集到的图像从而分析计算出相应的性能参数。LOF测试系统适用于短程/中程相机，测试的重要参数包括分辨率、**小可分辨对比度MRC、灵敏度和动态范围。产品参数模块DAL光源，CLO3075投影系统，一组靶标，运输箱/支架，笔记本电脑，图像采集卡，TAS-V测试程序，DAL光源控制软件光源孔径直径300mm均匀孔径直径250mm光源工作模式①2856K色温卤素灯光源用于模拟白天及夜晚环境。②白光LED5000K色温光源用于模拟极亮的白天环境。光源亮度范围30μcd/m2-3kcd/m2模拟亮度范围100μlx-10000lx光谱范围标定于被测试的相机的光谱范围不宽于400-1100nm靶标一组五个不同对比度的USAF1951靶标、刀口靶标、畸变/视场靶标通信RS232/USB2.0（DAL光源的所有功能及控制）可接受的视频信号PAL、NTSC、Fire Wire、USB2.0以及可选的：HD SDI、Camera Link、LVDS、GigE总重22kg尺寸350×350×1100mm操作温度范围5°C到40°C存储温度范围5°C到55°C湿度可到95**（无冷凝）电源AC230/110V(DC12V可选)附件DC12V/AC 220V转换器版本LOF-A测试功能：分辨率，MRC。LOF-B测试功能：分辨率，MRC，MTF，灵敏度，NEI，FPN，非均匀性，SNR，畸变，FOV可选：:a)自定义光强范围 b) DAL光源内控键盘。

IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪 IR-2双波段发射率测试仪 、远红外线测试仪采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率。该仪器可测量常温样品在3～5um、8～14um、1～22um三个波段发射率。对特殊需要的用户，通过专用的控温加热装置，在常温至300℃温度范围加热样品，进行发射率变温测量。该仪器主要用于军事装备的红外隐身、红外烘烤、建材、纸张、纺织等行业对材料红外辐射特性的测量研究。目前已在西北核技术所，东南大学等单位使用。 仪器特点：1．仪器中有小型标准黑体辐射源，采用六位高精度微机控温仪(能显示到1mk)，使仪器不仅具有稳定的宽光谱测量范围，而且极大地提高了仪器在测量时的可靠性和稳定性。2．采用了独特的光学调制技术，使测量不受被测物表面辐射及环境辐射的影响。3．在仪器设计中，考虑到样品漫反射引起的测量误差，除镜反射(MR)探测通道外，还增设了专门的漫反射(DR)补偿通道，从而确保了仪器的测量精度。4．在信号及电子学处理技术上采用锁相技术和微电子技术，较好地实现了对微弱信号的探测，进一步提高了仪器性能。5．本仪器操作简单、使用方便、测量快速。6．可按需更换滤光片，在多个红外光谱波段内进行测试。7．在测量过程中不损伤被测样品。8．本仪器带RS-232串口及复位键RST。主要技术指标测量波段：3～5um、8～14um、1～22um(若用户有特殊要求，可定制不同波段滤光片)2．发射率测量范围：0.1～0.993．灵敏度NE△&epsilon ：0.0014．示值误差：± 0.02 (&epsilon 0.50)5．重复性：± 0.016．样品温度：常温(特殊用户为常温～300℃)7．样品尺寸：Ф50mm8．测量时间：3秒后按测量键E，即显示&epsilon 测量值。9．显示方法：LED数字显示，末位0.00110.电 源： 交流220V 50HZ

EMP 2000A便携式红外发射率/反射率测定仪，可在3-35微米范围内测试半球反射率测试（总半球反射率），提供法线方向和半球方向300K环境条件下的发射率测定。 可取代已经停产的业界标准GIER邓克尔DB 100 E408标准。TEMP2000A中采用的光学元件、镀膜材料决定了其还可以在更宽的波长范围进行测试。TESA2000是在温度2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250～2500纳米，主要用于太空材料太阳吸收特性测试。 波长3微米 35um（并不限定于过滤器，窗等）测量精度（镜面反射和漫样品）-灰色样本满量程的± 1％- ± 3％满量程非灰样品重复性- 满量程的± 0.5％或更好样品类型任何样品，包括金属箔，绝缘体等样品尺寸和几何形状- 平面：&ge 0.4英寸（1厘米）直径- 凹面： &ge 6.5英寸（16.5厘米）直径-凸面：&ge 1英寸（2.5厘米）直径 样品温度房间温度，环境显示的属性- 红外反射- 正常发射率（300K）-半球发射率（300K）读数数字液晶面板米可选红外发射率或反射率显示测量范围（反射率）0.00～1.00尺寸光学头：直径5.25&ldquo X 6.8&rdquo 长控制和显示单位：4.5× 7.75× 7英寸便携包：12.5× 17× 11英寸重量光学头：5磅，控制和显示单元：4磅，携带箱：11磅保1年部件和人工

用途W405型水汽透过率测定仪用于测定薄膜或薄片材料的水汽透过率（量）。适用于：1）塑料薄膜、复合薄膜、铝箔、镀铝膜等；2）各种片材、板材、橡胶、陶瓷等；3）包装容器，如瓶、袋、碗等；4）扩展应用，如太阳能背板、液晶显示屏膜、医疗贴剂等。应用于质检、药检、科研、包装、薄膜、食品、药品、日化、电子等行业。原理将预先处理好的试样固定在测试腔中间，把测试腔分为上下两个腔，压缩空气在薄膜的上腔流动，干燥氮气在下腔流动，由于湿度梯度的存在，水蒸气会从高湿腔穿过薄膜扩散到低湿腔，透过试样的水蒸气被流动的干燥氮气携带至红外传感器，通过对传感器输出的电信号得出试样的水蒸气透过率等参数。在2015年版的国家药包材标准中，红外法测水蒸气透过率被定为仲裁法。如图1-2所示：图1-2 红外法原理图符合标准：GB/T 26253-2010、YBB 00092003-2015、BS EN ISO 15106-2-2005、ASTM F1249-2013、JIS K7129-2008产品规格项目技术参数测试范围0.005~500g/（m224h）（薄膜及片材）测试精度0.001g/（m224h）（薄膜及片材）控温范围15~45℃（15~60℃可选）控温精度±0.1℃控湿范围干度=0%RH，30～90%RH，100%RH控湿精度±1%RH透过面积50.24 cm2（加装适配件支持最小至0.785 cm2）试样尺寸Φ100 mm试样厚度≤3mm试样数量1~3件载气99.999%氮气（用户自备）载气压力≥0.1MPa载气流量5~120 mL/min气源接口1/8英寸金属管外形尺寸610×550×400mm重量57.1kg功率1000W电源AC 220V，50Hz(110V电源另配)产品特点? 数据准确可靠u 我司具备由《国家质量监督检验检疫总局》批准及颁发的：水汽透过率测定仪《国家标准物质定级证书》和《国制标物》制造计量器具许可证（GBW(E)130543/4）。采用国家标准物质对仪器进行校正、检定，保证检测数据的准确性、通用性、权威性。 ? 操作简便u 专业软件支持，软件界面简单明了，容易操作，测试流程可灵活设置。u 全自动操作，一键测试，自动判断，自动停机。u 旁通、冲洗、测试、做基线程序全自动控制，实验状态实时显示。u 温度、湿度、水汽浓度、透过量四组曲线实时显示，曲线支持预览隐藏功能，支持后台数据库查询功能。u 主机配置彩色触摸屏，无需外置电脑，可实时观察温度、湿度、透过量。u 专业测试报告，报告自动生成，可导出Office、PDF等格式的文件。? 技术先进性u 温度控制：电磁程序步进控温技术，自动升温、降温；；测量精度高，精确到0.1℃。u 湿度控制：采用双气流(干气和湿气)湿度法控湿，精确到1%RH，湿度稳定。u 搭载科技前沿的ARM控制系统，可脱离计算机独立运行检测。? 测试效率高u 每腔独立测试，独立停机换样，可测三个相同或不同的样品，出三份独立的测试报告，提高有效测试效率。u 具有高、中、低阻隔三种测量模式，适应不同阻隔性的薄膜测试。u 测量精度达0.001 g/m224h，可以测铝箔等高阻隔性材料。u 加装适配附件，可测瓶、袋、碗等容器的水汽透过量。? 权限管理和数据追踪u 软件根据新版GMP附录计算机化系统的要求进行设计。u 需要用户名密码登录工作站。u 用户分为操作者和管理员等多种级别（如管理员，操作员，观察者等但不限于这些级别）。u 管理员可对各种级别进行权限调整；如增加和减少某一级别的系统控制项目。u 具有审计追踪功能（系统审计追踪、项目运行审计追踪、方法审计追踪），每次数据更改都有记录；保证了测试数据的安全性和完整性。? 计量和检定u 本仪器支持标准物质检定和校正校准；操作简单，用户只需使用标准物质进行常规测试操作，然后将测得的数据输入仪器界面即可。? 仪器稳定可靠、易于维修u 红外传感器精度高，稳定性好，可长时间运行u 传感器超范围自动保护功能，避免仪器故障时重要传感器的损坏u 功能模块化设计，便于维护。

广州标际专注包装检测仪器十年，高新技术企业，国家计算机软件认证企业。广州标际所生产的水蒸气透过量测试仪（红外法）适用于包装薄膜，片材，太阳能背板等的水蒸气透过率的检测太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）工作原理：采用红外传感器法测试原理。即试样将测试腔分为上下两个腔，具有稳定湿度的氮气在薄膜的上腔流动，干燥氮气在下腔流动；由于湿度梯度的存在，水蒸气会从高湿腔穿过薄膜扩散到低湿腔；透过试样的水蒸气被流动的干燥氮气携带至红外传感器，通过传感器输出的电信号得出试样的水蒸气透过率等参数。对于包装容器而言，干燥氮气则在容器内流动，容器外侧处于高湿状态。太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）功能用途：W402水汽透过率测定仪采用红外传感器法测试原理，是一款集机械、电子、软件为一体的高精密实验用测试设备。适用于塑料薄膜、复合膜、片材、金属箔片及及塑料、橡胶、纸质、玻璃、金属等材料的瓶、袋、罐、盒等包装容器水蒸汽透过率的测试。通过PC连接，本设备配套的专业软件能方便地对该测试仪执行实时控制，参数设置，实验结果保存及打印等功能。太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）符合标准：ISO 15106-2、 ASTM F1249、 TAPPI T557、 JIS K7129太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）技术参数：测试范围：0.001～100 g/m2· 24h（薄膜，加面罩可达0.02～1000 g/m2· 24h）　 0.0001～0.5 g/pkg· d（包装件，加面罩可达0.00001～0.07 g/pkg· d可选）控温范围：15℃～45℃控温精度：± 0.1℃控湿范围：0%RH、30%RH～90%RH控湿精度：± 1%RH试样数量：2件试样尺寸：108 mm x 108 mm测试面积：50 cm2试样厚度：&le 3 mm载气：高纯氮气（气源用户自备）载气压力：0.28MPa/40.6psi载气流量：0～200 mL/min 太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）产品特点：红外传感器法测试。主机通过USB与计算机相联，主机配置24万真彩触摸屏，可进行各项参数设定操作，可显示测试曲线及报告，主机自身配有运行系统，可脱离计算机独立运行。采用国际先进电磁控温技术，程序步进方式能自如控制温度升降，无须外接附件，控温精度精确到0.1℃。湿度控制采用双气流湿度法控制，控湿精度高、湿度稳定。双测试腔设计。拥有双腔控压，压力自动平衡功能。自动判断，自动停机。传感器自动保护功能。测试过程全自动监控。透过率、湿度、水汽浓度、温度等参数曲线自动记录，连续显示。能监控试验参数对结果的影响。嵌入式计算机系统平台。功能模块化，测试、校正等功能相互独立，良好的数据分析能力，操作十分便利。加装包装膜测试适配附件可测试高透性膜。加装包装件测试附件可测试塑料瓶、塑料袋等包装件的水汽透过率。简单易用的操作界面。可查阅编辑打印试验报告。太阳能背板水蒸气透过量测试仪（红外法）配置：主机一台、密封脂一支、裁样器一件、测试软件一套、通讯电缆一副、1/8英寸铜管5m选配：包装件测试附件、密封脂、面罩用户自备氧气（99.999%）高纯度气体一瓶，减压阀一件、计算机一台

系统应用CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统（HP ATR FT-MIR）能够在真实的实验条件下、在较宽的压力和温度范围内、在充分搅拌下，在线监测高压/超临界（SCF）体系物理转变或化学反应微观动态过程诱导的高压原位红外光谱监测仪器。该仪器能够在0.1～40 MPa、20～200℃以及在0～1000 rpm的磁力搅拌下稳定工作，探测高压/超临界体系的相行为以及各组分之间的相互作用，监测活性物种的产生及其随压力、温度、时间等的衍变，研究微观动态变化过程的动力学和机理。 背景说明有机官能团红外光谱的特征峰会随分子间或分子内的相互作用而发生极其细微的变化，高压原位红外光谱可实时监测超临界二氧化碳（scCO2）体系中的物理过程或化学反应过程中红外吸收光谱的变化，动态指示相应的二组分体系分子间相互作用的衍变过程，这有助于探究分散质在气态及scCO2中微观的溶剂化作用机理，揭示亲CO2的物质易溶于scCO2的本质。高压原位光谱是一种可用于在线监测超临界体系中进行的物理转变或者化学反应过程的高压实验技术。实时探测超临界流体（SCF，Supercritical Fluids，二氧化碳、水、氨、乙烷、乙烯、戊烷等）体系的相行为及各组分之间的相互作用，探索温度及压力等条件对其影响机制。该技术对于认识SCF体系的变化规律、调控反应过程、促进SCF技术的应用等方面具有重要作用。红外光谱（IR）是分子选择性吸收红外福射、振动能级跃迁产化的分子吸收光谱。并且红外光谱具有特征性强、扫描速度快、操作简便及能分析各种状态下的样品的优点，是基团分析、分子结构表征及化合物鉴定的一种有效方法。由于IR光谱具有上述特点，应用IR光谱呈现的分子结构信息，能够很清楚地分析化学反应历程及各组分间的相互作用。尤其是能在不同温度、压力等反应条件下，体系分子间相互作用会使得相互作用分子的电子分布将不可避免的发生改变，导致分子内部一些化学键的键长和极性稍微改变。化学键的键长、极性和强度变化也会引起溶质中相关共价键的振动吸收频率和(或)强度随之而发生敏感的变化，并且能够实时采用红外光谱技术灵敏的监测，用分子振动来阐述化学反应历程及其间各组分相互作用的机制。这对深刻认识化学反应实质，无疑具有重要意义。FT-IR对极性共价键非常敏感，因此FT-IR就成为一种探究分散质－scCO2体系的分子间相互作用的有效技术手段。HP ATR FI-IR可测量高浓度样品，实时监测scCO2体系中的物理化学变化过程中红外吸收光谱的变化。因此，HP ATR FI-IR被认为是研究scCO2体系溶剂化作用和化学反应过程的有效方法。因此自主设计研发的高压原位中红外光谱在线监测装置（HP ATR FT-MIR）可以在不同压力或温度条件下，实时在线监测scCO2与分散质组成的二组分体系的相行为及溶剂化作用过程。 技术优势CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统（HP ATR FT-MIR）采用在高压反应釜的内部设置相对独立的红外传感器，将红外光传感元件衰减全反射晶体从高压样品池底部的承压壳体中剥离。红外传感器采用耐压性能和中红外光透过性能好、折射率高的晶体材料作为衰减全反射棱镜，减小衰减全反射棱镜的体积以及红外传感器的承压截面面积，提高了系统的耐压性能；采用反射仓、光导纤维以及红外传感器设置分析光路，将红外光谱仪的红外发光器发出的中红外光经反射仓和光导纤维传输到红外传感器探测平面上实现与高压反应釜内部待测样品的有效耦合，使通过红外传感器的分析光路相对独立而不受高压反应釜位置偏移等因素的影响，克服了现有衰减全反射式高压原位红外监测装置结构复杂、光路校准繁琐、检测不准确的弊端；采用在高压反应釜( 高压红外样品池) 的下方设置电磁搅拌器，在监测过程中对待测样品进行搅拌，提高了传质扩散速率及测试效率、改善待测样品中各组分混合的均匀性、提高在线光谱测试结果的代表性和重现性。CEL-HPATR4000高压原位红外光谱测试系统（HP ATR FT-MIR）具有设计合理、使用方便、监测准确等优点，可用于高压和超临界条件下的物理转变和化学反应过程的在线监测。 技术参数规格参数红外高压样品池（反应釜）50ml，标配316L不锈钢 （选配哈氏合金）样品池蓝宝石视窗 2个适用体系超临界体系、高压体系、均相反应体系适用光谱范围4000～500cm-1磁力搅拌1500rpm压力40Mpa温度200℃（473K），PID控制，程序升温光纤双头导光纤维，红外传感器1套阀门管路美国世伟洛克Swagelok，1/16inch高压液体进料泵美国SSI Series Ⅱ选配FT-IR红外光谱仪（PE、岛津、布鲁克、热电等） 高压原位HP ATR FT-MIR光谱系统示意图1.二氧化碳气瓶，2.冷却泵，3.高压注射泵，4.计量泵，5.气液三通阀，6.真空泵，7.氮气三通阀门，8.氮气瓶，9.压力传感器，10.进样阀门，11.ATR红外传感器，12.排气阀门，13.测温热电偶，14.IR光导纤维，15.反射仓，16.计算机，17.FT-IR红外光谱仪，18.高压反应釜(红外样品池)，19.加热器，20.磁力搅拌，21.控温热电偶，22.控制器，22-1.电磁揽拌器调速器，22-2.温度控制器，22-3.温度显示器，22-4.压力显示仪。不同压力下FP2-COOH+scCO2体系的原位红外光谱

产品介绍VINIS简易可见光-近红外相机测试系统可以作为一种低成本的解决方案。通过使用手动调节的卤素光源LS-MAH(标准版本光源未校准)，代替经过校准的DAL光源。手动靶标槽代替电动旋转靶轮。VINIS一般仅作为一个投影系统提供目标，不提供计算机和测试软件。与典型的TVT测试系统相比，以上设计上的变化使得价格显著降低。同时，LS-MAH光源提供了一系列版本，这一特性使VINIS适应不同的应用。 VINIS简易测试系统包括以下模块：1. CDT离轴反射式光管（提供3种不同口径和焦距的光管可供选择）；2. LS-MAH光源（不同配置可选）；3. TAMAH靶标匹配环；4. 一组靶标产品参数表1 光管参数型号CDT660HRCDT11100HRCDT15150口径60mm110mm150 mm焦距600 mm1000 mm1500 mm分辨率60 lp/mrad110 lp/mrad130 lp/mrad表2 LS-MAH光源参数参数描述光源类型卤素灯光源直径40 mm光谱范围覆盖400nm 到 2000nm发射光谱色温2856K 的光源在400nm 到1100nm的光谱见下图光强调制方式手动旋转光机衰减片对应旋钮光强调节范围覆盖 60 mcd/m2 到 6 kcd/m2 – 基础版本光谱调节方式人工插入滤光片 (升级配置可提供)光源动态范围至少105 – 基础配置发射角度朗伯光源，发射角度不超过15°是否校准基础版本：无校准工作温度+5°C到+35°C储存温度-5°C到+55°C湿度不超过 90** (无冷凝)尺寸280x260x230mm重量8 kg

SPOT中波红外焦平面阵列空间响应测试系统是扫描式光斑投影系统，它将高亮度的小光斑投射到被测MWIR FPA表面上，同时测量其输出信号。它可以直接测量MWIR FPA传感器的空间响应分布函数，也可间接测量这些成像传感器的MTF和串扰。SPOT测试系统的各部件结构如下，包括光斑投影系统和扫描系统。测试原始红外FPA传感器时，SPOT还可以配置与FPA相匹配的高动态范围电路。相较竞争对手，SPOT测试系统的主要优势是提供了高能量(至少4 mW)的极小光斑(通常是8μm)用以测试。这种高能量密度可以检测到光电二极管制造过程中传感器感光层上的微小缺陷。设备特性：? 可控制光斑的空间位置，光强? 测量FPA单个像元输出的信号，通过反卷积来计算结果? 测量IR FPA的空间响应函数? 计算MTF和串扰? 全自动测试系统? 软件提供调焦功能产品参数 参数描述被测传感器传感器类型制冷式 MWIR FPAs 响应范围 1 um 到 5.5 um可供选择的被测传感器SWIR FPAs, VIS-NIR FPAs, UV FPAs像元尺寸典型尺寸 8um 可选 8 umFPA 分辨率SXGA 格式 1280 x 1024响应率0.1 A/W配件需提供读取设备和杜瓦瓶光斑投影系统大功率4 mW光斑直径在百分之七十 能量时 6 um功率调节范围大于100光学部件近似**，达到衍射极限控制方式USB接口，PC控制扫描系统XY扫描范围不小于 10x10 mm扫描分辨率粗略移动 – 2.5 um 移动 - 0.5 um调焦范围18 mm调焦分辨率0.5 um控制方式USB接口，PC控制环境要求工作温度+5oC 到35oC储藏温度-5oC 到55oC工作湿度不超过百分之八十五储藏湿度不超过百分之九十

Brower TC-1H红外线速度测试仪产品描述：速度测试套件是一款无线计时系统，无须传输线可以对任意长距离进行计时，也可进行往返跑与敏捷性测试附加传感器可以将起跑分成若干阶段进行测试（最多可存储9个记录）内存中可分别记忆199次测试结果Brower TC-1H红外线速度测试仪品牌：美国Brower产品名称：速度测试套件产品编号：产品描述：速度测试套件是一款无线计时系统，无须传输线 可以对任意长距离进行计时，也可进行往返跑与敏捷性测试 附加传感器可以将起跑分成若干阶段进行测试（最多可存储9个记录） 内存中可分别记忆199次测试结果可选配件1:USB连接口，教练可将传感器中数据传输至电脑，并将其打印或引入测试训练分析表中，与WIN XP兼容 可选配件2: 起跑显示表具有4位显示，可以与手持秒表同时显示时间，100英尺外可见产品规格：配有4个红外线传感器（带4个三脚架），1个接触式起跑板，1个手持秒表，1个USB接口，1个9V电池，小包以及使用手册

扩散式甲烷气体检测仪MS104K-CH4简介：MS104K扩散式甲烷气体测试仪是一款移动式快速检测甲烷气体浓度的复合型气体检测仪，最多可以同时检测1～4种气体，具有大容量数据存储功能。采用2.31寸高清彩屏实时显示浓度，选用进口品牌选用进口品牌（霍尼韦尔、日本根本、英国CITY、英国阿尔法、英国Dynament、瑞士Membrapor等）的气体传感器，主要检测原理有：电化学、红外、催化燃烧、热导、PID光离子。MS104K扩散式甲烷气体检测仪特点：●防水溅、防尘、防爆、防震，本安电路设计，抗静电，抗电磁干扰，通过国标测试和CPA计量器具型式认证●防护级别IP65●2.31寸高清彩屏显示实时浓度、报警、时间、温度、湿度、存储、通信、电量、 充电状态等信息，菜单界面采用高清仿真图标显示各个菜单的功能名称●大容量数据存储功能，标配10万条数据存储容量。支持实时存储、定时存储，或只存报警浓度数据和时间、支持本机查看、删除数据，也可通过USB接口将数据上传到电脑，用上位机软件分析数据和存储、打印。●USB充电接口，过充、过放、过压、短路、过热保护，5级电量显示●采用3000mAh可充电高分子聚合物电池，可长时间连续工作●声光报警、振动报警、视觉报警、欠压报警、故障报警、关闭报警。●报警值可设，报警方式可选低报警、高报警、区间报警●可以选配同时检测1～4种气体，单位自由切换单位可选：PPM、mg/m3、Vol%、LEL%、PPHM、ppb、mg/L●三种显示模式可切换：同时显示四种气体浓度、大字体循环显示单通道气体的浓度、实时曲线，各通道之间自动循环或手动循环可切换，可设置是否显示大小值、气体名称，可查看历史记录。●中英文界面可选择，默认中文界面●数据恢复功能●零点自动跟踪，长期使用不受零点漂移影响。●多级校准●浓度校准误操作自动识别并阻止。●支持OEM或ODM订制，可以选配RS485通讯●选配环境温湿度测量功能，更多其他功能或通讯接口可订制。MS104K扩散式有毒有害气体检测仪显示界面： 多合一显示界面 曲线显示界面 单一显示界面 （单一气体检测情况下，多合一界面无法显示） MS104K扩散式甲烷气体检测仪技术参数：检测气体甲烷、有毒气体易燃易爆类气体等，1～4种气体随意组合。选配：温湿度测量。应用场合石油、化工、医药、环保、燃气配送、仓储、烟气分析、空气治理等所有需要便携式快速检测气体浓度的场合。检测范围0～1、10、100、1000、5000、50000、100000ppm、200毫克/升、99.99%LEL、20%、50%、99.99%Vol可选，其他量程可订制。分 辨 率0.01ppm或0.001ppm（0～10 ppm）；0.01ppm（0～100 ppm），0.1ppm（0～1000 ppm），1ppm（0～1000 ppm以上），0.01毫克/升（0～200%毫克/升）、0.1%LEL、0.01%Vol、0.001%Vol。检测原理电化学、催化燃烧、红外、热导、PID光离子等，根据气体类型、量程、现场环境和用户需求而定。传感器寿命电化学原理2～3年，氧气2年或6年可选，红外原理5～10年，催化燃烧3年，热导5年，PID光离子2～3年。允许误差值≤±3%F.S （更高精度可订制）线 性 度≤±2%重 复 性≤±2%不确定度≤±2%响应时间T90≤30秒恢复时间≤30秒工作环境温度：-40℃～+70℃，湿度：≤10～95%RH样气温度-40℃~+70℃ ，选配高温采样降温过滤手柄，可检测400度或更高温度的烟气浓度温湿度测量选配：温度-40℃~+70℃，精度0.5℃；湿度0～99.99%，精度3%RH工作电源3.7VDC，2100mAh大容量可充电高分子聚合物电池显示方式2.31寸高清彩屏检测方式扩散式测量。标定流量500毫升/分钟报警方式声光报警、振动报警、声光+振动报警、关闭报警可设通讯接口USB（充电与通讯），选配RS485通讯接口数据存储标配大容量数据存储。防护等级IP65防爆类型本质安全型防爆标志Exia IIC T4 Ga 防爆证号：CNEx16.3092执行标准GB 15322.3-2019《测量范围为0-99.99%LEL的便携式可燃气体传感器》GB 3836.1—2010 《爆炸性气体环境用电气设备 通用要求》GB 3836.4—2010 《爆炸性气体环境用电气设备 本质安全型“i”》外型尺寸130×68×34mm(L×W×H)重 量200g（气体组合不同，略有差异）标准附件说明书、合格证、保修卡、USB充电器（含数据线） 、背夹、彩色包装盒（选配铝合金仪器箱）选配项温湿度测量功能、外置气体采样泵、1.2 m 可伸缩采样手柄（1-10米软管，标准长度1米）、0.4米不锈钢采样手柄（带粉尘过滤器，不可伸缩）应用场合：石油、化工、医药、环保、烟气分析、空气治理等所有需要检测气体浓度的场合

主要特性概要： SWIR相机(短波红外) 是重要的监控用光电相机。首先，InGaAs技术的发展与成熟促进了低成本短波红外相机的发展；其次，InGaAs相机在非常暗的夜晚会非常灵敏因此可以生成更为清晰的图像；再次，工作在可见光/近红外波段的短波红外相机相比与TV/LLLTV相机来说在不洁净的空气环境中不容易损坏；另外，短波红外相机比起红外热像仪来说在使用小光学系统可以生成更高分辨率的图像。 ST测试系统原理图 短波红外相机与TV/LLLTV相机原理类似，也是利用被观察的目标产生的辐射反射来获取图像。同时，短波红外相机也可以利用被测试目标产生的热辐射生成与红外热像仪类似的图像。根据以上功能描述，短波红外相机的测试可以依据测试TV/LLLTV相机原理或者根据红外热像仪测试原理进行。InGaAs FPAs的参数也可以用来表征短波红外相机。 ST测试系统使用一系列不同的靶标来投影标准靶标图形到被测试的短波红外相机，短波红外相机生成畸变的靶标图像由计算机采集并由人眼主观或者软件来计算得到短波红外相机的重要参数。ST测试系统包括了反射式平行光管，带宽光源，中温黑体，旋转靶轮，一组靶标，一组滤波片，PC，图像采集卡以及测试软件组成。 特征：一、支持 模拟三种不同的情况：1）反射多色辐射结构（系统采用SAL光源）；2）发射辐射配置（系统采用MTB中温黑体）；3）单色光源配置（SAL光源配置带通滤波器）。二、支持 测试光学口径不大于100mm短波红外相机；三、支持 模拟很暗的夜晚环境以及很亮的白天环境；四、支持 模拟目标的温度可达600oC；五、模块: CDT1000平行光管，SAL光源，MTB-2D中温黑体，MRW-8旋转靶轮，一组靶标，1550nm带通滤波片，图像采集卡，MTB控制程序，SAL控制程序，TAS-S程序；六、计算机化测试系统，半自动测试短波红外相机的重要参数；1） Mode I：分辨率，MRC（最小可分辨对比度），MTF（调至传递函数），Distortion（畸变），FOV（视场），灵敏度，SNR（信噪比），NEI（噪声等效输入），FPN（固定图形噪声），non-uniformity（非均匀性）等；2）Mode II：MRTD（最小可分辨温差，MDTD（最小可探测温差），MTF（调至传递函数），NETD（噪声等效温差），FPN（固定图形噪声）等；3）Mode III：（Mean Detectivity（平均探测率），Noise Equivalent Irradiance（噪声等效辐亮度），噪声，动态范围等。结构参数：平行光管光源平行光管类型反射式，离轴口径40mm口径100mm到200mm光源类型双光源模式： 1） 多色卤素灯2） 单色LED焦距根据型号 卤素灯光谱范围400-2200 nm光谱范围0.4-15μm卤素灯色温2856K在450-1700nm 范围空间分辨率 不低于160 lp/mrad卤素灯动态范围0.02 mcd/m2 - 3000 cd/ m2镀膜准直镜-铝，主镜-金卤素灯调节模式连续调节视场根据型号LED波长1060nm旋转靶轮LED动态范围10000:1型号MRW-8黑体靶孔数8孔径50 mm控制类型电动，数字 绝对温度范围50 oC 到 600 oC靶标温度不确定性0.005xT直径54mm设置时间30 min反射式靶标一组USAF靶标，视场/畸变靶标，刀口靶标调节分辨率/稳定性0.01oC/ 0.05oC 辐射式靶标4杆靶标,一组8个圆孔靶标，视场/畸变靶标，红外刀口靶标电脑控制RS-232 (USB 2.0)电源115-230VAC 50/60Hz

EEG脑电系统和fNIRS近红外脑成像系统都是测量大脑活动的可靠技术，但是技术特点非常不同，并且各有优劣。来自荷兰的脑电设备供应商TMSi和近红外脑成像供应商Artinis紧密合作，打造了EEG与fNIRS同步测试方案。方案从硬件和软件两方面进行深度整合。软件:Artinis的近红外脑成像软件OxySoft可以在采集近红外数据的同时还可以同步采集EEG数据，两种模态数据同步和整合。硬件：TMSi公司专门为SAGA脑电系统打造了环形电极，让fNIRS的近红外光极探头更容易和电极一起布置，并且位置重复性更好。了解更多信息请浏览SAGA脑电系统和Artinis近红外脑成像系统OxyMonBrite、OctaMon。

ASTM F1249红外法水蒸气透过率测试仪 应用范围 薄膜： 适用于各种塑料薄膜、复合膜水蒸气透过率的定量测定，如：铝箔复合膜、镀铝膜、PVC 硬片、药用铝箔、 共挤膜、流延膜、太阳能背板等。 容器： 适用于各种瓶、盒、袋等包装容器水蒸气透过率的定量测定，如：各种口服及外用液体瓶、各种药用固体 瓶等药品包装容器；包装盒、酸奶杯等各种食品包装容器。 主要特点 1. 红外法测试原理 2. 三腔独立测试 3. 计算机控制，试验全自动，一键式操作 4. 智能模式等多种试验模式可选择，可满足各种标准、非标测试 5. 可支持容器测试 （选购） 6. 三腔循环介质控温，各自独立温度传感器实时监控试验温度 7. 试验湿度可自行设置、调节 8. 数据审计追踪、溯源；系统日志记录 9. 5 级用户权限管理 10. 温度、流量、湿度、透过率等曲线显示 11. 支持 DSM 实验室数据管理系统，可实现数据统一管理。（另购） 测试原理 薄膜： 将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间，使试样两侧存在一定的湿度差，由于试样两侧湿度差的存在，水 蒸气会从高湿侧向低湿侧扩散渗透，在低湿侧，水蒸气被干燥载气携带至水分析传感器，通过对传感器电 信号的分析计算，从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。 容器： 容器的外侧是高湿气体，内侧则是流动的干燥气体，由于容器内外湿度差的存在，水蒸气将穿透容器壁进 入容器内部，进入容器内部的水蒸气将由流动的干燥载气携带至水分析传感器，通过对传感器电信号的分 析计算，可得到容器的水蒸气透过率等结果。 执行标准 GB/T 26253-2010、ISO 15106-2、 ASTM F1249、TAPPI T557、 JIS K7129 产品配置 标准配置： 主机、计算机、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氮气瓶减压阀、取样器、 真空脂、取样刀 选 购 件： 容器测试辅具、湿度装置、标准膜、真空脂、取样刀、DSM 实验室数据管理系统。

功能用途 W403水汽透过率测定仪适用于对食品、药品、电子、日化等包装材料，如：高阻隔薄膜、共挤膜、铝箔、镀铝膜、输液袋、片材、涂覆膜、太阳能背板、玻璃纸、陶瓷薄片；还适用于瓶、袋、罐等容器的水汽透过量阻隔性测试。工作原理 采用红外传感器法测试原理。将预先处理好的的试样固定在测试腔中间，把测试腔分为上下两个腔，相对稳定湿度的氮气在薄膜的上腔流动，干燥氮气在下腔流动；由于湿度梯度的存在，水蒸气会从高湿腔穿过薄膜扩散到低湿腔；透过试样的水蒸气被流动的干燥氮气携带至红外传感器，通过传感器输出的电信号得出试样的水蒸气透过率等参数。对于包装容器而言，干燥氮气则在容器内流动，容器外侧处于高湿状态。符合标准ISO 15106-2、 ASTM F1249、 TAPPI T557、 JIS K7129、GB/T26253技术参数 测湿范围0.001~100 g/（m2?24h）分 辨 率0.001 g/（m2?24h）（薄膜及片材）控温范围15℃~45℃（5℃~55℃可选）控温精度±0.1℃控湿范围0﹪RH，30~90%RH ，100%RH控湿精度±1%RH试样数量3传感器数量3个试样尺寸Φ100mm，透过面积50.24 cm2，样品厚度≤2mm载气种类99.999%高纯氮气（气源用户自备）载气压力≥0.1Mpa接口尺寸1/8英寸金属管流量0~100mL/min外形尺寸610mm×550mm×400mm功率500W重量80kg电源220V，50Hz（110V电源另配）产品特点 ◆温度控制：采用国际先进电磁控温技术，程序步进控温方法，能自动控制温度升降，无须外接附件，控温精度精确到0.1℃。 ◆湿度控制：采用双气流湿度法控制，控湿范围大、精度高、湿度流量稳定，避免外挂湿度导致装置体积大、故障多等缺点。 ◆仪器具备标准气体校正和标准膜校正两种校正方式，行业唯一通过国家标准气体认证，数据准确性可与国家实验室比对。 ◆自动判断，自动停机。 ◆多种自动保护功能：超范围测试，停电数据自动保存，误操作提示等。 ◆软件操作简单，测试过程全自动。透过量、水汽浓度、湿度、温度等参数曲线自动记录，连续显示。能监控参数间的互相影响，能监控测试全过程。 ◆功能模块化，设置、测试、基线、校正、报告等功能相互独立，良好的数据分析能力，操作十分便利。◆快速测试功能，适用于产品评估性测试。 ◆内置独立运行系统，可以脱离计算机独立运行检测。 ◆主机可外接USB进行软件升级，数据备份以及故障诊断。 ◆两个测试腔可以独立和交叉测试两个不同样品，实现高效测试。配置 主机、专业测试软件、通讯电缆、Φ100裁样器、1/8英寸铜管、密封脂、卡套接头，加水器，专用工具、标准测试片、鼠标 用户自备：氮气（99.999%），减压阀、计算机一台 选购件：包装件测试附件、标准膜、密封脂、特殊样品专用夹具、减压阀、计算机一台测试应用基础应用薄膜适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材适用于各种工程塑料、橡胶、建材等片状材料的水蒸气透过率测试。如PP片材、PVC片材、PVDC片材等纸张、纸板及其复合材料适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试，如烟包镀铝纸、纸铝塑复合片材等容器用于塑料、橡胶、纸、纸塑复合、玻璃、金属等材料做成的瓶、袋、罐、盒、桶的水蒸气透过率测试，如可乐瓶、花生油桶、利乐包装、真空包装袋、金属三片罐、塑料化妆品包装、牙膏软管、果冻杯等扩展应用容器封盖用于各种容器封盖的密封性能测试液晶显示屏膜适用于液晶显示屏膜的水蒸气透过率测试太阳能背板适用于太阳能背板的氧气透过率测试药品塑料瓶、保健品瓶用于药品瓶、保健品塑料瓶的水蒸气透过率测试，如眼药水瓶，输液袋及保健品塑料瓶等塑料管材用于各种材料管子的水蒸气透过率试验，如PPR管材医药泡罩用于医药泡罩整体水蒸气透过率的测试无菌护创膜、医用膏药贴剂用于无菌护创膜、医用膏药贴剂等材料的水蒸气透过率测试汽车油箱塑料油箱以其质量轻、缓冲震动、易于成型等优点在汽车上大量应用，但其对燃油的阻隔性能至关重要，本设备可提供塑料燃油箱的阻隔性测试电池塑料外壳电瓶内装有电解液，电瓶的塑料外壳的阻隔性能直接影响电瓶的寿命，本设备可用于电瓶的塑料外壳的阻隔性试验方便面、纸杯、纸碗用于方便面纸碗、一次性纸杯等材料的整体性水蒸气透过性测试注意： 广州标际始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，本公司保留修改权与最终解释权。

红外法水蒸气透过率测试仪W203H水蒸气透过率测试仪基于红外法测试原理，为中、高阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种高阻隔材料的水蒸气透过率的测定。产品特征◎ 高精度红外水分传感器，提高了测试的准确性和稳定性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 三个测试腔完全独立，可同时测试三种相同或不同的试样◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 一体式测试结构，三个腔在同一温湿度下进行测试，确保不同测试腔的测试条件的一致性◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理仪器采用红外传感器法测试原理，将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间，试样两侧存在一定的湿度差，由于湿度梯度的存在，水蒸气会从高湿腔向低湿腔扩散，在低湿腔，水蒸气被载气携带至红外传感器，进入传感器时会产生同比例的电信号，通过对传感器电信号的分析计算，从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。 测试应用适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜、防水透气膜等膜状材料的水蒸气透过率测试适用于各种工程塑料、橡胶，建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的水蒸气透过率测试，如PP片材、PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试红外法水蒸气透过率测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备