红外膜测量

testo 835-T1 红外测量仪器产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltd style=testo 835-T1 红外测量仪器

testo 835-T2 红外高温测量仪器产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-T2 红外高温测量仪器

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bondedwafers 。硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

红外高速相机配件是中红外波段(1.2-4.8微米)的线扫描相机,非常适合快速运动物体的热成像测量,它可以在 1.2-4.8微米的波段范围内实现双带(波长)线扫描。它能够测量物体的表面温度而不需要用户提供发射系数等数值，而双波长测量的功能也使得红外高速相机配件应用到表面探测,湿气成分测量等领域。 红外高速相机配件特色测量光谱范围1.2-4.8微米热电制冷，高可靠性不需要维护无移动光学器件，坚固耐用而且便携；帧频高达400Hz 双波段；红外高速相机配件应用在线产品检测 （比如塑料薄膜）；温度测量；监测金属型材，热轧钢板热图绘制检测火车发热的轴承或轮毂；水分检测 红外高速相机配件参数探测器：256像素PbSe探测器；帧频：390/1320Hz重量：约7千克；尺寸：11' ' x10.5' ' x4.5‘’ 输出：12bit Video

用途：SKR 110红外远红外辐射传感器用于测量太阳红外辐射和远红外辐射之间比率的一款设备，广泛应用于植物学、农学、气象学和建筑学等领域。技术规格：传感器余弦校正头探测器等半导体滤波器光学玻璃反应波段660nm/730nm测量范围4 μmol/m2/sec线性误差绝对校准误差典型灵敏度660nm波段：1 μAmp/30 μmol，730nm波段：1 μAmp/30 μmol，余弦误差3%方位角误差温度系数±0.1%/℃长期稳定性±2%响应时间电压输出型：10ns尺寸高69毫米×直径34毫米重量130克（带3米电缆时）防护等级IP68材质聚甲醛树酯电缆标准3米2芯屏蔽线工作温度-30~+75℃工作湿度0~100% RH产地：英国

用途：SKR 110红外远红外辐射传感器用于测量太阳红外辐射和远红外辐射之间比率的一款设备，广泛应用于植物学、农学、气象学和建筑学等领域。技术规格：传感器余弦校正头探测器等半导体滤波器光学玻璃反应波段660nm/730nm测量范围20004 μmol/m2/sec线性误差0.2%绝对校准误差典型3%，最大5%灵敏度660nm波段：1 μAmp/30 μmol，730nm波段：1 μAmp/30 μmol，余弦误差3%方位角误差1%温度系数±0.1%/℃长期稳定性±2%响应时间电压输出型：10ns尺寸高69毫米×直径34毫米重量130克（带3米电缆时）防护等级IP68材质聚甲醛树酯电缆标准3米2芯屏蔽线工作温度-30~+75℃工作湿度0~100% RH产地：英国

testo 835-H1 红外测温仪(带湿度模块)产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-H1 红外测温仪(带湿度模块)

红外热像仪配件是在第三代热成像相机的基础上采用一流的红外技术制造而成的红外热成像仪，是具有高灵敏度，采用人体工程学设计的手持式红外热像仪,非常适合各种红外成像应用。红外热像仪配件特色* 优异的热成像性能，高精度温度测量；* 折叠设计，270度旋转显示；* 自动/电动聚焦，单手即可操作；* 宽广的温度测量范围 * 激光指示器；* 高亮度LED灯；* 内置数字相机；* 宽视场IR镜头；* 自动热/冷/平均温度探测；* 实时热成像视频，可转存到电脑中；* 引导性操作提示，方便操作使用；* 新一代分析软件。红外热像仪配件参数：探测器类型：非制冷型FPA， 384x288像素光谱范围：8-14微米IFOV视场/最小焦距： 21x16度/0.4m （标准镜头）， 38x28度/0.3m (宽广镜头，选配，非标配）， 11x8.5度/1.2m (telephoto 镜头，选配，非标配）空间分辨率IFOV: 1.2mrad温度灵敏度：图像显示屏：3.2' ' , 270度可转LCD屏；成像模式：热图像，可见图像等 像仪聚焦：自动/电动；电子变焦：4X数字变焦： 连续1-8X测量温度范围：-20到250摄氏度（工业）， -20到600摄氏度（可选）， -20到1200摄氏度（可选）；

在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg

testo 835-H1 红外测温仪(带湿度模块)产品参数：红外传感器testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1光学分辨率50:150:150:1激光瞄准4点4点4点量程-30 ~ +600 °C-10 ~ +1500 °C-30 ~ +600 °C精度±1数位±2.5 °C (-30.0 ~ -20,1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0,1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程)±2.0 °C或 ±1%测量值±2.5 °C (-30.0 ~ -20.1 °C )±1.5 °C (-20.0 ~ -0.1 °C )±1.0 °C (+0.0 ~ +99.9 °C )±1%测量值(其余量程 )分辨力0.1 °C0.1 °C (-10.0 ~ +999.9 °C )1 °C (+1000.0 ~ +1500.0 °C )0.1 °CK型热电偶testo 835-T1testo 835-T2testo 835-H1量程-50 ~ +600 °C-50 ~ +1000 °C-50 ~ +600 °C精度±1数位±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)±(0.5 °C +0.5%测量值)分辨力0.1 °C0.1 °C0.1 °Ctesto湿度传感器量程0 ~ 100 % RH精度±1数位±2 %RH±0.5 °C分辨力0.1 °C0.1 %RH0.1 °Ctd仪器参数光谱范围8 ~ 14μm发射率0.10 ~ 1.00 (最小调整间隔0.01)发射率表可存储20个数值激光瞄准点开/关内存可存储200个数值报警(上限/下限)红外温度，热电偶温度报警信号声光报警操作温度-20 ~ +50 °C存储温度-30 ~ +50 °C材料/外壳ABS + PC尺寸193 x 166 x 63 mm重量514 g电池类型3节AA型电池(或USB供电)电池寿命25小时(一般25°C，不带激光和背光显示)10小时(一般25°C，不带背光显示)显示器点阵自动关闭背光：30 s仪器：120 s符合标准EN 61326-1:2006保修期1年，延长保修请登录http://www.testo.com.cn/warranty-extension_zh.htmltesto 835-H1 红外测温仪(带湿度模块)

热释电红外探测器Micro-Hybrid热释电探测器是功能强大的热红外探测器，具有出色的长期稳定性。这些传感器检测燃烧材料（如木材，油或塑料）的典型光谱辐射。 NDIR气体分析代表了热释电传感器的另一个应用领域。 红外辐射会影响传感器的活动区域。 由于热释电效应，温度的有效变化在电极上产生电荷载流子。 与大多数竞争者的LiTaO3芯片不同，Micro-Hybrid的热释电探测器使用基于MEMS技术的敏感元件。 热释电元件由安装在通过DRIE背蚀工艺制造的改良Si基膜上的〜1μm厚的PZT薄膜组成。 前电极是光学透明的，允许红外辐射被有源区域吸收。 该区域具有从1 - 25μm的宽广吸收范围。优点：Ø基于MEMS的PZT膜Ø宽广的光谱灵敏度1 - 25μmØ高调制频率200HzØ低颤噪效应指的是膜质量轻Ø非常低的温度依赖性Ø低热漂移Ø不需要冷却应用：Ø红外火焰检测实时火灾和火焰检测 - 生命和健康安全应用针对健康和生命安全以及所有工业过程应用层面上的首要需求。 红外火焰探测器在所有工业建筑物，仓库等的火灾探测是不可或缺的安全要求。 对于安全的建筑防火，红外火焰探测器保证在危险情况下立即作出及时响应，防止火灾造成损害。优点：Ø室内火灾探测Ø即使在烟雾缭绕的房间和远距离也能快速而可靠的测量Ø检测不同的火焰特征，如热量，气体（CO2，CO）或闪烁频率红外火焰检测的应用领域红外火焰探测器的功能火焰引起烟雾，烟雾，蒸汽，热量和光辐射。 可检测产生的气体一氧化碳和二氧化碳以及火焰闪烁频率。Micro-Hybrid 热释电传感器具有长时间稳定性，可提供四种芯片尺寸和两种功能模式型号特征PS1x3C2高敏感度PS1x1C2广角大视野PS1x1C8广角大视野PS1x4V1电压模式ØNDIR气体测量Micro-Hybrid提供NDIR气体分析的完整产品系列。 即使是恶劣的环境也不会阻碍我们的客户升级自己的应用。优点：快速，可重复，长期稳定地测定各种红外活性气体的浓度高精度和高分辨率的限制在低漂移下的使用寿命长，无化学反应高温能力（190°C）测量稳定性高，即使在恶劣的环境下NDIR气体分析方案确保和监测过程稳定性的气体浓度的测量，在涉及气体的所有工业过程中是至关重要的。 气体浓度的准确和可再现的检测是应用的重要组成部分，特别是在医疗和环境技术中。 此外，NDIR（非分散红外）气体分析可以在私人或工业领域进行宽带或高度选择性的有害物质检测，例如监测和检测爆炸性气体和污染物。它是测量这种气体浓度的光学分析工具。 关于与红外活性气体的光学相互作用，NDIR分析是一个快速而有效的过程。NDIR气体测量的应用领域：根据不同的功能原理和我们的元件组合，我们会结合适合您的测量任务对应气体传感器解决方案。 您可以从我们的产品查找器中订购单个产品样品或直接联系我们的NDIR气体分析专家。气体传感器CO2 气体传感器甲烷气体传感器耐190°C高温耐190°C高温红外光源JSIR 350-4JSIR 350-5JSIR 450高频率高辐射强度超高频率的手持设备"超高的辐射强度热电堆探测器TS 80TS 200高温应用高灵敏度手持设备热释电探测器电流模式电压模式极高的灵敏度极高的频率电压模式低频率我们的热释电探测器有电流和电压模式（Pyropile® ）。 电流模式探测器仅提供双极性电源（±2.2 ...±8 VDC）。控制模式电压模式电流模式电流模式感应面积1.15 x 1.150.8 x 0.80.7 x 0.325灵敏度 (V/W)950175,000125,000探测率2.09 x 10^82.2 x 10^81.7 x 10^8佳频率0.2 ... 32 … 55 取决于配置3 … 25通道数1 - 41 - 24通过不同的传感器帽来修改视野帽光圈FOV滤波片位置H2863,7mm104,6°外置H2171,5mm34,7°外置M0013,7mm76,2°内置M0011,5mm21,5°内置Pyropile - 电压模式下的热释电传感器这种高性能热释电探测器可提供多达4个通道。活性材料被分成九个较小的像素，串联连接。 因此，Pyropile® 检测器在低噪音水平下可以产生接近10倍的信号输出。 参考芯片薄膜的质量小，该探测器的特点是极低的颤噪效应，低热漂移和热噪声。 如果测量速度相当的测量任务需要更高的灵敏度，则Pyropile® 代替热电堆探测器。特征高信噪比检测灵敏度高达2.1 x 10 8 cm x Hz 1/2 / W灵敏度高达950 V / W输出：电压信号

中红外光源是全球首款真正点光源发射模式的红外吸收光谱光源,它发射3-11微米范围的红外光，中红外光源具有超亮的发射表面，中红外发射体积与发射波长几乎成正比，实现真正的点源发射模式。中红外光源特点广泛用于测试红外镜头，显微镜物镜和红外摄像机以及红外吸收光谱等应用。光源发射表面 3 x 6μm2，是一个真正的点源，没有任何多余的狭缝或针孔。因此，不会出现任何使用狭缝或针孔准直存在的误差。发射功率可使用电脑控制，功率水平可以根据不同相机的感光度轻松调整，得到最好的信噪比（SNR）。线宽小，光谱功率密度高，可用波长范围宽泛，非常适合量化镜头的色差，镜头色差会限制图像质量，尤其是在宽带应用，如热成像应用。先前的中红外光源使用极小的小孔以获得近似的点源，从一个微小的直径处获得足够能源。具有极高波长精度和稳定性使得它可以测量光学材料的折射率。最多可以控制多达8个激光器，这些激光器都是单独配置的，包括基于内部时钟信号的同步发射。该装置有着小型，强大和易于使用的驱动程序，允许通过PC远程控制。中红外光源产品概述真点源的发射孔径小到3×6μm2*在中红外范围3至11μm内，可用的离散波超过100个极其卓越的红外光源有着独特先进的光谱和空间功率密度低波长的不确定性小，可以精确测量色差精确的绝对波长参考基于吸收线（不确定度**只在高分辨率版本下可实现脉冲和准连续波操作（重复率高达5MHz）高稳定性的光发射配置多达8个独立波长高NA 镜头发射角 90°（全角度）（例如显微镜）*取决于个人的量子级联激光器（QCL）

中红外光纤特性ZBLAN氟化锆(ZrF4)光纤，透射范围从285 nm到4.5 μm氟化铟(InF3)光纤，透射范围从310 nm到5.5 μm多模光纤和跳线选项：纤芯尺寸： ?100- ?600 μm数值孔径：0.20- 0.26中红外单模光纤和跳线选项：ZrF4：单模工作范围2.3 - 4.1 μmInF3：单模工作范围3.2 - 5.5 μm提供光纤束和反射/散射探测光纤束灵活的生产工艺，用于标准产品和定制产品应用光谱学光纤激光器超连续谱光源环境监测医学诊断化学传感红外成像Thorlabs能够制造多种中红外光纤和光纤跳线；其他纤芯尺寸和配置的光纤还在研发当中。库存以供当天发货的标准产品包括单模和多模跳线，以及用于透射应用的分叉光纤束和用于光谱应用的反射/散射探测光纤束。这些产品中所用光纤的规格包含在下表中。如需中红外裸纤，请联系技术支持。我们的IRphotonics® 中红外光纤和跳线，基于ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)玻璃，提供出色的机械灵活性，良好的环境稳定性，分别在285 nm - 4.5 μm或310 nm - 5.5 μm光谱范围上具有较高的透射率。与我们的其余光纤选择相同，氟化物光纤也具有一系列纤芯直径、截止波长和数值孔径，适合于多种应用(请看下表中的光纤规格)。这些光纤用专有技术制造，提供shi界级的纯度、尺寸控制和强度。这种技术使我们能ji佳地控制光纤的光学和机械性质，可以实现许多种配置(更多信息，请看中红外制造标签)。氟化物光纤在中红外波长范围内提供一个平坦的衰减曲线(见曲线标签)，这是因为它们的羟基(OH)含量极低。氟化物玻璃的折射率接近石英的折射率；因此，与硫化物玻璃相比，用氟化物玻璃制成的光纤具有更低的回波损耗和更低的菲涅耳反射。氟化锆(ZrF4)光纤在中红外波段提供比氟化铟(InF3)光纤更平坦的衰减度，而InF3光纤比ZrF4光纤在更长波长下透光。通常使用于光纤跳线的石英光纤在中红外波段不透光。更多关于光纤跳线之间的不同，请看曲线标签。定制您的中红外光纤和跳线库存有多种类型的单模和多模氟化物光纤跳线，我们也提供分叉光纤束和反射/散射探测光纤束。我们正在开发许多其它纤芯和配置的跳线。裸纤手动选择超低损耗中红外光纤，满足严格的衰减要求定制纤芯和包层几何形状提供双聚合物包层功率承受能力加强跳线定制选项：光纤类型、长度、终端和套管OEM跳线镀增透膜的跳线加强型跳线，用于恶劣的环境中红外多模光纤规格Fiber TypeOperatingWavelengthaCoreDiameterAttenuationbNALong-TermBend RadiusShort-TermBend RadiusCladdingDiameterCoatingDiameterOperatingTemperatureZrF4(ZBLAN)285 nm - 4.5 μm100 ± 2 μmc0.20 ± 0.02≥155 mm≥25 mm192 ± 2.5 μm270 ± 15 μm-55 to 90 °C200 ± 10 μmc,d≥80 mm≥40 mm290 ± 10 μm355 ± 15 μm450 ± 15 μmc,e≥125 mm≥30 mm540 ± 15 μm650 ± 25 μm600 ± 20 μmc,e≤0.25 dB/m(from 2.0 - 3.6 μm)≥160 mm≥75 mm690 ± 20 μm770 ± 30 μmInF3310 nm - 5.5 μm100 ± 2 μmc≤0.45 dB/m(from 2.0 - 4.6 μm)0.26 ± 0.02≥155 mm≥15 mm192 ± 2.5 μm287 ± 15 μm-55 to 90 °Ca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m的区域(每米透过率大于50%)。b. 请看上面的曲线图。c. 库存提供使用这些光纤制造的跳线。d. 库存提供使用这些光纤制造的反射探测光纤束。e. 库存提供使用这些光纤制造的分叉光纤束。中红外单模光纤规格Fiber TypeTransmissionRangeSMOperatingWavelengthCoreDiameteraAttenuationNALong-TermBend RadiusShort-TermBendRadiusbOperatingTemperatureZrF4(ZBLAN)285 nm- 4.5 μm2.3 - 4.1 μm9 ± 0.5 μm(from 2.3 - 3.6 μm)0.19 ± 0.02@ 2 μm≥30 mm≥10 mm-55 to 90 °CInF3310nm - 5.5 μm3.2 - 5.5 μm9 ± 0.5 μm(from 3.2 - 4.6 μm)0.26 ± 0.02@ 2 μm≥30 mm≥10 mm-55 to 90 °Ca. 库存提供使用这些光纤制造的跳线。b. 测量用于?125 μm包层如有裸纤和定制跳线相关的需求，请联系技术支持。多模氟化物光纤跳线该曲线图包含五根独立的?200 μm纤芯的ZrF4光纤的测量衰减度。该数据代表我们的?100 μm, ?200 μm和?450 μm纤芯的光纤。该曲线图含有从五根独立的?600 μm纤芯的ZrF4光纤测量的衰减度。该曲线图包含从五根独立的?100 μm纤芯的InF3光纤测量的衰减度。制造能力制造ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)光纤在高达5.5 μm的中红外波段透光且损耗低灵活的生产设备和计划，可生产原型和标准产品Thorlabs的光纤拉丝制造间除了生产石英光纤外，还能生产ZBLAN氟化锆(ZrF4)和氟化铟(InF3)光纤。ZrF4和InF3光纤分别在300 nm - 4.5 μm或300 nm - 5.5 μm光谱范围上透过率较高，且没有材料吸收峰值，具有出色的机械强度和良好的环境稳定性。氟化物光纤是在中红外波段透光的理想选择。中红外波段的低衰减度由极低羟基(OH)含量辅助实现。对比于其它在中红外范围内透光的光纤，氟化物光纤还具有更低折射率和更低的色散。Thorlabs的氟化物光纤非常适合用于包含中红外光谱、光纤传感器、成像和光纤激光的应用。氟化物预成型件的生产和光纤拉丝工艺Thorlabs的氟化物光纤利用能提供shi界级纯度、尺寸控制和强度的技术制造。玻璃成分在手套箱受控环境中混合和熔化，实现高纯度。玻璃熔化后，将它倒入预成型磨具中，并进行冷却。制备之后，将预成型件装入光纤塔顶部的下料单元当中，拉丝成光纤。氟化物玻璃光纤利用与石英光纤相似的预成型技术进行拉丝。该技术已经非常成熟，并且被证实在控制光纤参数方面非常有效，比如光纤直径、同心度和折射率。氟化物玻璃的拉丝温度范围低于石英，显著缩短了冷却时间。因此，我们的氟化物光纤塔比石英光纤塔矮很多。右下图为我们氟化物光纤塔的细节。Thorlabs的中红外光纤研究人员和工程师团队在氟化物玻璃研究和开发、生产和光纤拉丝方面有许多年丰富经验。我们的团队分为两组：一组人员致力于目录产品的生产，第二组人员致力于研发和定制光纤产品的制造。它们的专业知识，加上光纤塔的灵活配置和拉丝时间表，使我们能够生产产品目录中的产品以及定制产品。关于我们定制氟化物光纤能力的详情，请联系技术支持。氟化物光纤表征和测试 Thorlabs拥有一支致力于测试和表征我们光纤产品的团队。我们精确测量每根拉伸光纤的性能，以确保其符合我们的高标准质量。广泛的测试也为我们的光纤拉丝团队提供反馈，从而能够严格控制制造过程中的每一步。客户可以要求对任何Thorlabs生产的光纤进行定制测试，然后随附出货光纤。也可根据要求测试客户提供的第三方光纤样品。可用的测试和服务在右边的列表中提供；请联系技术支持咨询。测试和表征能力光谱衰减测量UV / Visible / NIR / MIR波段SM或MM光纤和块状玻璃SM光纤截止波长测量光纤NA测量光纤玻璃/涂覆层几何图形测量，测量准确度达到亚微米级多模光纤中红外高功率屏蔽光纤拉力测试缺陷/破损分析光纤涂覆层的固化程度测试如需Thorlabs或第三方光纤的测试，请联系技术支持。中红外光纤拉丝塔示意图实验观测Thorlabs实验观测：利用多模光纤修改光束轮廓我们在此给出探索多模光纤输出光束轮廓如何受到光束入射角影响的实验测量结果。有些应用中可能需要其他诸如高帽或甜甜圈等轮廓的光束分布，而不需要一般光学元件提供的固有高斯分布。这里，我们探索了改变聚焦激光束进入多模光纤跳线时的入射角所产生的影响。将光垂直聚焦于光纤面，会产生近高斯输出光束轮廓(图1)，增大入射角则会产生高帽(图2)和甜甜圈(图3)形状的光束轮廓。这些结果展现了利用多模光纤改变光束轮廓的方法。实验中，我们使用一根M38L01纤芯?200μm、数值孔径0.39的阶跃折射率光纤跳线(裸纤型号FT200EMT)作为聚焦光束耦合的待测光纤。将输入光以0°、11°和15°入射到多模光纤的入射面，分别产生初始轮廓、高帽轮廓和甜甜圈轮廓。每次改变角度时，都要优化输入光纤的对准，同时用功率计监测输出功率，确保实现zui大的耦合。然后，在9秒的曝光时间下采集图像，并评估光束轮廓的形状。注意，曝光过程中，会在耦合光学元件之间(待测光纤之前)手动旋转1500 grit的散射片，以减少空间相干，形成干净的输出光束轮廓。假设一种光线追迹模型，存在两种沿着多模光纤传播的常见光线：(a)子午光线，每次反射之后都通过光纤的中心轴，和(b)斜光线，不通过光纤的中心轴。下面的图片展现了实验过程中观察到的三种基本光线传播情况。图4和图6分别绘制出了子午光线和斜光线通过多模光纤的传播，以及在光纤输出端的相关理论光束分布。如图6所示，斜光线沿着光纤以与半径r为圆的内部焦散线相切的螺旋路径传播。图5描绘了子午光线和斜光线的光束传播和光束分布。我们通过改变光耦合到多模光纤的入射角，修改子午光线与斜光线的传播，使输出光束从近高斯分布(主要是子午光线，请看图1)变成高帽分布(子午光线和斜光线混合，请看图2)，再变成甜甜圈分布(主要是斜光线，请看图3)。图4到图6显示的光束轮廓都在离光纤端面5 mm处获得。这些结果体现了利用标准的多模光纤跳线以一种相对低成本的方法将入射高斯轮廓修改成高帽和甜甜圈轮廓，且损耗极微。图 1.入射角为0°时获得的近高斯光束轮廓(垂直于光纤面)图 2.入射角为11°时获得的高帽光束轮廓图 3.入射角为15°时获得的甜甜圈光束轮廓图 4.对应近高斯输出轮廓的子午光线传播图 5.对应甜甜圈轮廓的斜光线传播图 6.对应高帽轮廓的子午光线和斜光线传播

中红外多模氟化物光纤跳线特性ZBLAN氟化锆 (ZrF4)波长范围285 nm - 4.5 μm，或者氟化铟(InF3)波长范围310 nm - 5.5 μmZrF4纤芯尺寸：?100 μm、?200 μm、?450 μm或?600 μmInF3纤芯尺寸：?100 μm兼容可见光波长对准光束用于光谱技术，红外对抗(IRCM)系统和医学领域菲涅尔反射损耗低：每面我们的IRPhotonics® 多模氟化物跳线设计用于中红外光谱范围的低损耗传输。它们使用Thorlabs的氟化物光纤制造，ZBLAN氟化锆(ZrF4)跳线的传输范围在285 nm至4.5 μm，而我们的氟化铟(InF3)光纤跳线的传输范围在310 nm - 5.5μm。ZrF4光纤，InF3光纤和低羟基石英光纤的比较曲线请看右边。这些氟化物光纤跳线提供与标准石英光纤跳线相似的机械灵活性，环境稳定性好，并且中红外光谱范围内的衰减曲线平稳(详情参见规格标签)。由于氟化物玻璃的透射范围低至紫外线范围，因此可见光(比如由光纤耦合激光器产生的激光)可沿着相同光纤作为对准辅助进行传播。光纤跳线的数值孔径(NA)在其特定衰减度范围上保持相对恒定(参见曲线标签)。每条跳线两端的终端接头为分别与SMA905或FC/PC连接组件兼容的金属插芯连接器(详情参见FC连接器标签)。每条跳线包括两个保护帽，它们用来保护插芯端以屏蔽灰尘和其它危害。可单独购买用于兼容FC/PC的跳线的CAPF(塑胶质)和CAPFM(金属)替换保护帽，或用于SMA905终端跳线的CAPM(橡胶)和CAPMM(金属)替换保护帽。对于光谱学和照明应用，Thorlabs还制造两根光纤的氟化物分叉光纤束。MIR Fluoride Fiber Selection GuideSingle Mode Patch CablesMultimode Patch CablesBifurcated Fiber BundlesReflection/Backscatter Probe BundlesMIR Fiber Overview氟化锆(ZrF4)光纤比氟化铟(InF3)光纤在中红外范围内提供更平坦的衰减，而InF3光纤比ZrF4光纤在更长波长下具有透明性。跳线中通常使用的石英光纤在中红外范围内不具透明性。使用建议由于氟化物玻璃比标准石英玻璃更软，因此不能用Kimwipes擦拭纸来清洁这些跳线。其它氟化物光纤特定的使用建议请参见操作标签。与无端光纤相比，这些跳线所能承受的zui大功率是受连接器限制的。取决于应用，我们推荐以约300mW的zui大CW功率使用这些跳线。中红外应用这些跳线由于它们的宽传输范围和平稳衰减度，非常适用于我们的量子级联激光器(QCL)和带间级联激光器(ICL)，它们在中红外范围内提供宽带或单波长发射。它们也与我们的SLS202L稳定型光源良好匹配，这种稳定光源提供了从可见光到中红外范围的黑体辐射光谱。我们推荐将?100 μm纤芯的跳线与我们的光谱分析仪配合使用。其它应用实例如下图所示。氟化物跳线可通过光纤转接件连接到我们的中红外光电探测器。InF3跳线的310 nm - 5.5 μm波长范围使其非常适用于利用我们稳定光源的照明应用。在这种装置中，使用一根ZrF4跳线将中红外光传播到气相光谱应用的样本腔中。(图中装置的更多信息请看这里。)In-Stock Multimode Fiber Optic Patch Cable SelectionStep IndexGraded IndexFiber BundlesUncoatedCoatedMid-IROptogeneticsSpecialized ApplicationsSMAFC/PCFC/PC to SMASquare-Core FC/PC and SMAAR-Coated SMAHR-Coated FC/PCBeamsplitter-Coated FC/PCFluoride FC and SMALightweight FC/PCLightweight SMARotary Joint FC/PC and SMAHigh-Power SMAUHV, High-Temp. SMAArmored SMASolarization-Resistant SMAFC/PCFC/PC to LC/PC裸纤规格CableItem #PrefixFiberOperatingWavelength RangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterCore/CladConcentricityNAbBend Radius(Short Term/Long Term)MF11MF12InF3Multimode310 nm - 5.5 μm≤0.45 dB/m(for 2.0 - 4.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm≤2.0 μm0.26 ± 0.02 @ 2.0 μm≥15 mm / ≥147 mmMZ11MZ12ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm≤2.0 μm0.20 ± 0.02 @ 2.0 μm≥25 mm / ≥147 mmMZ21MZ22200 ± 10 μm290 ± 10 μm≤3.0 μm≥40mm / ≥80 mmMZ41MZ42450 ± 15 μm540 ± 15 μm≤5.0 μm≥50 mm / ≥125 mmMZ61MZ62≤0.25 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)600 ± 20 μm690 ± 20 μm≤10.0 μm≥75 mm / ≥160 mm光纤的工作波长范围定义为衰减度每米的透过率50%)的区域。曲线标签中含有其它波长的NA数值孔径曲线。短期弯曲半径受到不锈钢护套的限制。曲线该标签包含了我们的氟化物光纤的衰减，数值孔径和折射率随波长变化的曲线图。下图中阴影部分表示可以保证光纤满足衰减规格的特定波长范围。我们的纤芯直径为100 μm，200 μm，和450 μm的ZrF4线缆在 2.0到3.6 μm范围上衰减度≤0.2 dB/m (每米透过率≥95%)，我们的纤芯直径为600 μm 的ZrF4线缆在2.0到3.6 μm范围上衰减度≤0.25 dB/m(每米透过率≥94%)。相比之下，我们的InF3光纤跳线在2.0到4.6 μm范围上衰减度≤0.45 dB/m (每米透过率≥90%)。在质量控制时，范围外的性能并没有经过严格检测，而且可能因工序不同而变化。为了减小因工序引起的变化，特别是在波长范围的两端，我们在不停地完善新材料的工艺。如果您担心收到的光纤不满足您的需求，关于目前提供的产品详情请联系技术支持。衰减该曲线图是从五根独立抽取的纤芯直径200 μm的ZrF4光纤测量的衰减曲线。这些数据代表我们的纤芯直径为100 μm，200 μm和450 μm光纤的数据。该图中的曲线是从五根单独抽取的纤芯直径600 μm的ZrF4光纤测量的衰减曲线。该曲线图是从五根单独抽取的纤芯直径100 μm的InF3光纤测量的衰减曲线。数值孔径这些数值孔径值是利用下图所示的折射率计算得到的。这些数值孔径值是利用下图所示的折射率计算得到的。折射率这些折射率是用Sellmeier方程计算得到的。下表列出拟合中用到的Sellmeier系数。这些折射率是将Sellmeier方程拟合测量数据得到的。下表列出拟合中用到的Sellmeier系数SellmeierEquationSellmeier CoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.55220.705674u10.74830.515736u21.0072.204519u30.0430.087503u40.1130.087505u516.18623.80739A0.96211SellmeierEquationSellmeier CoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.476273380.68462594u10.769368930.4952746u25.018354971.4841315u30.01795490.0680833u40.118650930.11054856u543.6454575924.4391868A11操作该标签描述了在日常使用中标准石英光纤跳线和氟化物光纤跳线之间的相似和不同之处。环境因素一般的实验室温度和湿度不会影响光纤的完整性。但是应该避免拉伸、直接接触液态水或水蒸气。FC接头使用标准石英光纤跳线是一般选择FC/PC或FC/APC接头，因为PC和APC抛光面为圆顶头可以使匹配的两根跳线的纤芯直接接触，从而将跳线界面之间接触损耗降到zui小。因为氟化物玻璃壁石英玻璃更软，抛光后会是平头光纤端。根据跳线的不同，光纤端可以根据插芯稍微地凹下去一点。因此，氟化物光纤跳线既不是FC/PC接头（PC指直接接触）也不是FC/APC（APC指有角度的直接接触）接头。平光纤端不会影响输出是耦合到自由空间的应用，但是在连接FC接头的光纤跳线时，比如通过匹配套管或连接头连接时会有传输损耗，因为光纤纤芯没有直接接触。由于FC终端的跳线之间的间隔一般要小于SMA905终端（使用空气间隔插芯）的跳线间的典型间隔，这些损耗经常可以被忽略。下图是一根氟化物成品跳线末端的二维图和三维图。标准FC/PC接头为圆顶型末端面FC终端的氟化物跳线有平坦的抛光末端面该图为一根平面抛光FC氟化物跳线的?100微米纤芯末端的二维表面轮廓图。X和Y轴的单位是 微米。虚线圆和直线用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据蓝色虚线圆中的绿色圆查看。该图为一根平面抛光FC氟化物跳线的?100微米纤芯末端的三维分布图。虚线圆用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据黑色圆和蓝色圆之间的的圆形凹陷来查看。入纤方式多模光纤未充满条件对于在NA较大时接收光的多模光纤来说，光耦合到光纤的的条件(光源类型、光束直径、NA)对性能有着极大影响。在耦合界面，光的光束直径和NA小于光纤的芯径和NA时，就出现了未充满的入纤条件。这种情况的常见例子就是将激光光源发射到较大的多模光纤。从下面的图和光束轮廓测量可以看出，未充满时会使光在空间上集中到光纤的中心，优先充满低阶模，而非高阶模。因此，它们对宏弯损耗不太敏感，也没有包层模。这种条件下，所测的插入损耗也会小于典型值，光纤纤芯处有着较高的功率密度。展示未充满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤过满条件在耦合界面，光束直径和NA大于光纤的芯径和NA时就出现了过满的情况。实现这种条件的一个方法就是将LED光源的光发射到较小的多模光纤中。过满时会将整个纤芯和部分包层裸露在光中，均匀充满低阶模和高阶模(请看下图)，增加耦合到光纤包层模的可能性。高阶模比例的增加意味着过满光纤对弯曲损耗会更为敏感。在这种条件下，所测的插入损耗会大于典型值，与未充满光纤条件相比，会产生较高的总输出功率。展示过满条件的图(左边)和使用FT200EMT多模光纤进行的光束轮廓测量(右边)。多模光纤未充满或过满条件各有优劣，这取决于特定应用的要求。如需测量多模光纤的基准性能，Thorlabs建议使用光束直径为光纤芯径70-80%的入纤条件。过满条件在短距离时输出功率更大；而长距离(10 - 20 m)时，对衰减较为敏感的高阶模会消失。实验观测Thorlabs实验观测：利用多模光纤修改光束轮廓我们在此给出探索多模光纤输出光束轮廓如何受到光束入射角影响的实验测量结果。有些应用中可能需要其他诸如高帽或甜甜圈等轮廓的光束分布，而不需要一般光学元件提供的固有高斯分布。这里，我们探索了改变聚焦激光束进入多模光纤跳线时的入射角所产生的影响。将光垂直聚焦于光纤面，会产生近高斯输出光束轮廓(图1)，增大入射角则会产生高帽(图2)和甜甜圈(图3)形状的光束轮廓。这些结果展现了利用多模光纤改变光束轮廓的方法。实验中，我们使用一根M38L01纤芯?200μm、数值孔径0.39的阶跃折射率光纤跳线(裸纤型号FT200EMT)作为聚焦光束耦合的待测光纤。将输入光以0°、11°和15°入射到多模光纤的入射面，分别产生初始轮廓、高帽轮廓和甜甜圈轮廓。每次改变角度时，都要优化输入光纤的对准，同时用功率计监测输出功率，确保实现zui大的耦合。然后，在9秒的曝光时间下采集图像，并评估光束轮廓的形状。注意，曝光过程中，会在耦合光学元件之间(待测光纤之前)手动旋转1500 grit的散射片，以减少空间相干，形成干净的输出光束轮廓。假设一种光线追迹模型，存在两种沿着多模光纤传播的常见光线：(a)子午光线，每次反射之后都通过光纤的中心轴，和(b)斜光线，不通过光纤的中心轴。下面的图片展现了实验过程中观察到的三种基本光线传播情况。图4和图6分别绘制出了子午光线和斜光线通过多模光纤的传播，以及在光纤输出端的相关理论光束分布。如图6所示，斜光线沿着光纤以与半径r为圆的内部焦散线相切的螺旋路径传播。图5描绘了子午光线和斜光线的光束传播和光束分布。我们通过改变光耦合到多模光纤的入射角，修改子午光线与斜光线的传播，使输出光束从近高斯分布(主要是子午光线，请看图1)变成高帽分布(子午光线和斜光线混合，请看图2)，再变成甜甜圈分布(主要是斜光线，请看图3)。图4到图6显示的光束轮廓都在离光纤端面5 mm处获得。这些结果体现了利用标准的多模光纤跳线以一种相对低成本的方法将入射高斯轮廓修改成高帽和甜甜圈轮廓，且损耗极微。有关使用的实验装置和总结结果详情，请点击这里。图 1.入射角为0°时获得的近高斯光束轮廓(垂直于光纤面)图 2.入射角为11°时获得的高帽光束轮廓图 3.入射角为15°时获得的甜甜圈光束轮廓图 4.对应近高斯输出轮廓的子午光线传播图 5.对应甜甜圈轮廓的斜光线传播图 6.对应高帽轮廓的子午光线和斜光线传播氟化铟中红外光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米和2米的长度? 长度可定制，具体联系技术支持? 硬质，?3.0 mm塑料护套? 包含两个保护帽SMA905终端的跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线：塑料端帽每根氟化物跳线都标有产品型号，关键参数以及批次。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMF11InF3Multimode310 nm - 5.5 μm≤0.45 dB/m(for 2.0 - 4.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm0.26 ± 0.02@ 2.0 μm≥15 mm / ≥147 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMF12FC/PC-Compatibleca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m(每米的透过率大于50%)的区域。b. 曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线图。c. 更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MF11L1氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，SMA905，1 mMF11L2氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，SMA905，2 mMF12L1氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，FC/PC，1 mMF12L2氟化铟光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.26，FC/PC，2 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.20? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米和2米的长度? 长度可定制，具体请联系技术支持? 硬质，?3.0 mm塑料护套? 含有两个保护端帽SMA905终端跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的线缆：塑料端帽每根氟化物跳线都标有产品型号，关键参数以及批次Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ11ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)100 ± 2.0 μm192 ± 2.5 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥25 mm / ≥147 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMZ12FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m(每米的透过率大于50%)的区域。曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线。更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ11L1Customer Inspired! 氟化锆光纤跳线，纤芯?100 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ11L2Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，SMA转SMA氟化锆跳线，2米长MZ12L1Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，FC转FC氟化锆跳线，1米长MZ12L2Customer Inspired! ?100微米纤芯，0.20NA，FC转FC氟化锆跳线，2米长氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头库存提供1米和2米的长度长度可定制，具体请联系技术支持硬质，?3.0 mm塑料护套含有两个保护端帽SMA905终端跳线：不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线：塑料端帽每根氟化物跳线都标有项目号，关键参数以及批号Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAaBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ21ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)200 ± 10 μm290 ± 10 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥40 mm / ≥80 mmSMA905Blue PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CMZ22FC/PC-Compatibleca. 光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。b. 曲线标签中有其它波长下的NA数值孔径曲线。c. 更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ21L1氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ21L2氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，SMA905，2 mMZ22L1氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 mMZ22L2氟化锆光纤跳线，纤芯?200 μm，数值孔径0.20，FC/PC，2 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20? SMA905或兼容FC/PC的金属套接头? 库存长度为1 m? 若需定制长度，请联系技术支持? ?3.8 mm不锈钢套，最小弯曲半径为50 mm? 包括两个保护端帽SMA905端口的跳线: 不锈钢端帽兼容FC/PC接头的跳线:塑料端帽光纤端帽的俯视图光纤端帽的仰视图每根氟化物跳线都刻有产品型号，关键规格。产品批号在单独的白色套管上给出。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ41L1ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤ 0.2 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)450 ± 15 μm540 ± 15 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥50 mm / ≥125 mmSMA905Stainless Steel(?3.8 mm)-55 to 90 °CMZ42L1FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。曲线标签中包含其它波长下的数值孔径曲线。由不锈钢套限制。请参见FC接头标签查看更多详情。产品型号公英制通用MZ41L1氟化锆光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ42L1氟化锆光纤跳线，纤芯?450 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 m氟化锆中红外光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20? SMA905，或带金属插芯、兼容FC/PC的接头? 库存提供1米长度? 可定制长度，具体联系技术支持? ?8.0 mm的不锈钢护套，zui小弯曲半径是140 mm? 附带两个保护帽SMA905端头的跳线: 不锈钢保护帽FC/PC端头的跳线: 塑料保护帽光纤端的俯视图光纤端的仰视图每个氟化物光纤跳线上刻有产品型号和关键规格。产品批号在单独的白色套管上给出(未图示)。Item #PrefixFiberOperatingRangeaAttenuation(Click for Plot)CoreDiameterCladdingDiameterNAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureMZ61L1ZrF4Multimode285 nm - 4.5 μm≤0.25 dB/m(for 2.0 - 3.6 μm)600 ± 20 μm690 ± 20 μm0.20 ± 0.02@ 2.0 μm≥75 mm / ≥160 mmSMA905Stainless Steel(?3.8 mm)-55 to 90 °CMZ62L1FC/PC-Compatiblec光纤的工作波长范围定义为衰减度小于3 dB/m（每米的透过率大于50%）的区域。曲线标签含有其它波长下的NA的曲线图。更多信息请看FC接头标签。产品型号公英制通用MZ61L1氟化锆光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20，SMA905，1 mMZ62L1氟化锆光纤跳线，纤芯?600 μm，数值孔径0.20，FC/PC，1 m

产品介绍德国德图testo805迷你红外温度计，仪器仅80mm长，非常易于随身携带，适用于日常频繁使用的场合，如：超市验货及冷冻物品的检测和食品工厂生产过程的快速测量等应用。德国德图testo805迷你红外温度计的特点：小巧，易于携带最大值/最小值显示扫瞄模式适用于持续性测量防水型保护软套（IP65），可选配高精准度测量，保证被测产品质量防水型的保护软套及小巧的外观设计使仪器不易损坏，耐用性强通用技术参数红外测量范围, -25 ~ +250 ° C红外测量精度, ± 3 ° C (-25 ~ -21 ° C) ± 2 ° C (-20 ~ -2.1 ° C) ± 1 ° C (-2 ~ +40 ° C)± 1.5 ° C (+40.1 ~ +150 ° C) ± 2% 测量值 (+150.1 ~ +250 ° C)分辨率, 0.1 ° C (-9.9 ~+199.9 ° C) 1 ° C (其它量程)储存温度, -20 ~ +65 ° C操作温度, 0 ~ +50 ° C电池类型, 3V 钮扣型电池 (CR 2032)电池使用时间, 40 h重量, 28 g尺寸, 80 x 31 x 19 mm外壳材质, ABS

红外热成像仪 红外热像仪对应参数及价格红外热像仪配置测温范围空间分辨率红外分辨率价格选型一-20℃~300℃2.2mrad160*120像素12000元选型二-20℃~350℃2.2mrad160*120像素26500元选型三-20℃~600℃1.25mrad320*240像素64000元选型三-20℃~1200℃1.31mrad320*240像素95200 红外热像仪（带有可见光相机，能够拍摄高质量的红外融合照片，并有多种融合显示方式，用户可以选择最合适自己的方式来观察目标。采用3.5寸液晶显示屏，屏幕可翻转，具有专业的PC分析软件。可广泛应用于电力、建筑、电子、冶炼、能源、铁路、汽车、石化。产品特点：1.可旋转3.5寸“TFT高清液晶彩屏2.支持PAL和NTSC视频输出，对所拍摄的图像进行观测3.六种模式调色板更适合现场快速、清晰地捕捉问题点4.固定中心点测温/全屏最高/最低温度自动捕获5.温度修正:环境温度/辐射率/湿度/距离6.可设置高低温度报警，快速判断减少工作误差，提高工作效率7.仪表最高支持2GB图像拍摄储存、回放8.可选择自动调整图像，或者手动调节图像的色温中值和色温范围，提高观测清晰度9.拍摄时可通过图像冻结/激活功能在主机上进行简单分析10.充电锂电池可连续工作3小时,有效节约购买电池的成本11.IP54:防水防尘12.25G/2G:抗冲击、抗震动能力13.工作模式可选：标准模式、节能模式14.自动校准温度15.提供标准版测温分析软件，可对红外图像中的任意点测温分析探测器类型非制冷焦平面红外分辨率160*120像素视场角/最小成像距离20°×15°/0.1m空间分辩率2.2mrad可见光分辨率640*480全彩色像素图像模式红外/可见光/画中画/融合对焦方式手动工作波段8~14um温度灵敏度≤0.08℃@30℃温度测量范围-20℃~400℃测温精度±2°C 或者 ±2% （两者取大值）特殊功能屏幕规格3.5"TFT屏，可旋转调色板铁红/反铁红/彩虹/羽红/黑热/百热图像调节手动或者自动调节图像格式*TIR.CCD(可见光）视频输出支持PAL(50Hz)或者NTSC（60Hz)复合视频测温模式4个可移动点，最高/最低温度捕捉,等温分析参数修正辐射率，距离，环境温度，相对湿度温差计算√报警设置可设置高低温度报警激光指示√图像保持√图像存储/回放/删除支持2G SD卡温度单位℃/℉照明灯有语言中/英文可选恢复出厂设置√工作模式可选择（标准模式、节能模式）可设置自动关机分析软件专业级测温分析软件，可对红外图像中的任意点测温分析。具备报告编辑功能，生成WORD报告防水防尘IP54抗冲击/震动25G/2G一般特征电源可充电锂电池机身颜色红色 + 灰色机身重量600g（含电池）700g(含电池UTi380D)机身尺寸220mm X 215mm X 80mm标准配件充电锂电池、座充、2G存储卡、读卡器、视频线、镜头盖、遮光罩、PC软件光盘标准包装纸箱、工具箱，说明书、保修卡山东省消防电气检测箱配备序号设备名称量程检测用途1红外热像仪（-20℃-350）℃用于电气装置发热部分表面温度的测量2超声波放电/泄漏检测仪20KHz-100KHzz用于定位或检测空气泄漏时产生的超声波音源的位置，各电气设备的连接处有无放电现象3非接触式测温仪（100-600）℃用于测量导线接头及端子连接点的温度4袖珍式漏电电流表0-150mA用于中性线或保护中性线异常电流的测定5真实有效值钳形表0-2000A主要用于测量相线电流6钳式接地电阻测试仪0-20Ω用于测量导线重复接地电阻7数字兆欧表（绝缘电阻测试仪）0-2000MΩ用于测量导线相间绝缘电阻以及各相线对地绝缘电阻8钳形电流表0-2000A用于测量相线电流9数字温湿度计（-10℃-50）℃用于检测现场环境温湿度条件的测定10电子秒表0-9:59' 59' ' 用于时间的检测11组合工具/日常检测使用工具12数字测电笔/用于插座检测13活动电源盘/日常检测使用工具145m钢卷尺0-5m用于距离的检测15游标卡尺0-200mm用于导线直径等数据的检测16数码相机/用于检测过程中隐患部位的拍照17塞尺0-100mm用于检测裸露导线和接地线之间的厚度18剩余电流测试仪5-100mA用于检测剩余电流动作保护器的动作性能19消防电气检测箱HL-621S盛放以上仪器产品名称数量备注红外测温仪1测温范围-10℃-900℃；发射率范围：0.1-1.0；距离系数：50︰1；测温精确度：读数的1℃；红外热像仪1测温范围-10℃-350℃；发射率范围：0.1-1.0；测温精确度：读数的±2%或±2℃；光谱响应8um-14um；图像储存和回放超声波探测仪1频率响应：20KHz～50KHz；测温精确度：读数的±1%普通钳形表1电流：OA～600/600A AC/DC电压：OV～600/600V 电阻：200MΩ；精度2.5级真有效值钳形表1AC/DC电流：OA～600/600A AC/DC电压：OV～600/600V 电阻：60MΩ；测量精确度：读数的±2.5%漏电电流测试仪1里程：10mA～1A；测量精确度：读数的±2.5%绝缘电阻测试仪1测量范围： 250V 0.01 MΩ～10000 MΩ；精度2%钳式接地电阻测1电阻：里程0.1Ω～1200Ω；精确度的±(1.5%+0.1Ω) 分辨率0.1Ω；电流：量程1MA~30A,精确度的±(2.5%+20mA) 分辨率最大可钳导体尺寸32mm低欧姆表1电阻：4Ω～24Ω 最小电流：0.2A谐波分析仪1测量范围：0.05A~19.9A 精度：±10%；测量频率：基波、3、5、7、9次高次谐波消防电气检测箱交流电路分析仪1量程：1MS-6500S,精度1.0%±2MS，30MA，精度：1.0%±0.2MA剩余电流发生器1工作电压：220V AC电压频率：50HZ/60HZ输出电流：AC 0.1mA-1000mA输出精度：±0.2％ 或0.1级调节模式：无极可调插座检测仪1用于插座相线的检测电笔11000V

ATR红外光纤探头配件是采用红外光纤的高精度衰减全反射探头,ATR探头，用于中红外波段的在线吸收光谱测量。ATR红外光纤探头配件应用与可替代 ATR环光纤一起用于液体，浆体和无需样品制备的柔软表面的成分分析，也可以用于医疗诊断，通过简单触摸（自动目标识别）ATR-环到皮肤或组织，远程渐逝吸收生物体内分子光谱。

型号规格：真空压片模具 品牌：PIKE 真空压片模具是为红外光谱分析而制作样品片的工具。为了透射测量，用液压机和压片模具制作13毫米的KBr片是最常用的方法。制作过程也有许多标准程序，如USLP和ASTM方法。这种方法的优势在于制作高质量的样品片、重复性好；由于有多种压力可选，更有能力涉及较难制样的样品。真空压片模具具有以下特色：带负压接口的不锈钢基座，带一个13mm样品套，2个压力砧片和柱塞。所有部件都是用淬过火的不锈钢材料制成。接触样品的表面都是刨光的。2个O型圈分别是用来固定柱压和基座的。 制样过程：将第一片压力砧片放入模具腔中，再将事先于混合好的KBr和待测样品的混合物铺在压力砧片上。将第二片压力砧片盖在其上，柱塞随后放入模具腔中。将整套模具放入液压机中加压，通过真空接口联接真空装置，除去样品中的潮气。将形成的样品片从模具中取出，放在2"x3"标准的样品架上即可分析测试。

testo 885 - 专业型320 ×240像素高清晰红外热像仪产品参数:testo 885-1testo 885-2testo 885-2 套装红外探测器（像素）320 x 240热灵敏度（NETD）帧频9 Hz/33 Hz*温度范围-20 ... 350 °CSuper红外超像素功能可更换的长焦镜头11° x 9°自动对焦1.200 °C 的高温组件测量地址自动识别功能激光标记表面湿度分布成像功能湿度测量、无线与；湿度探头* * *（自动与测量值； 实时传输）录音功能全辐射测量包括视频记录器功能太阳能模式镜头保护玻璃额外的电池快速电池充电器* 条件性选配项，需咨询德图及相关代理商 标配可选配不可用仪器标配: 坚固防水仪器箱,专业IRsoft软件、仪器保护软套, SD卡，USB线，主机，可充电锂电池，电源, 三脚架连接件testo 885 - 专业型320 ×240像素高清晰红外热像仪

NIRS XDS 近红外单色仪订货号: 2.921.0010NIRSystems 光谱仪的研发过程倾注了光谱领域长达 50 年所积累的经验。这项独一无二的技术改善了高分辨率下的信噪比，增加了准确度并提高了精度。获取专利的单色仪和模块化结构的测量模块系统使 NIRSystems 仪器成为可见光和近红外波长范围（400－2500 nm）内所有可以想到的样品类型进行光谱测量时不可或缺的工具。该测量模块可以方便地更换，即使在运行过程中也毫无问题。由此用户可在所有应用领域中享受高度的灵活性。

中红外单模氟化物光纤跳线特性氟化锆(ZrF4)光纤的单模工作范围为2.3 μm -4.1 μm，氟化铟(InF3)光纤为3.2μm- 5.5μm氟化锆(ZrF4)光纤的传输范围285 nm - 4.5 μm，氟化铟(InF3)光纤则为310 nm- 5.5 μm兼容可见光波长对准光束用于光谱学、环境传感和医学领域菲涅尔反射损耗低：每面我们的单模氟化物跳线IRPhotonics® 设计用于中红外光谱范围内的低损耗传输。这些单模跳线使用Thorlabs的氟化物光纤制造，氟化锆(ZrF4)光纤跳线的单模工作范围为2.3-4.1μm，而氟化铟(InF3)光纤跳线的单模工作范围为3.2 - 5.5μm。氟化锆ZrF4光纤和氟化铟InF3光纤衰减度的对比图请看右边曲线图。这些氟化物光纤跳线提供与标准石英光纤跳线相似的机械灵活性，环境稳定性好，并且中红外光谱范围内的衰减曲线平稳。由于氟化物玻璃的透射范围低至紫外线范围，因此可见光(比如由光纤耦合激光器产生的激光)可沿着相同光纤作为对准辅助进行传播。注意，由于可见光低于截止波长，因此它将仿佛在多模光纤中一样传播。 这些光纤跳线的数值孔径(NA)在特定SM工作范围上保持相对恒定(曲线图参见曲线标签)。MIR Fluoride Fiber Selection GuideSingle Mode Patch CablesMultimode Patch CablesBifurcated Fiber BundlesReflection/Backscatter Probe BundlesMIR Fiber Overview氟化锆(ZrF4)单模光纤跳线提供比氟化铟(InF3)光纤更低的衰减，但是氟化铟光纤对长波长的透光率比氟化锆光纤更大。关于其它衰减曲线，请参见曲线标签。每根跳线两端的终端接头为分别与FC/PC或FC/APC连接组件(详情参见FC连接器标签)兼容的陶瓷插芯连接器，并进行平面抛光或斜角面抛光。在对背反射较敏感的设置中，我们推荐使用斜角面FC连接器。每根跳线包括两个保护帽，它们用来保护插芯端不受灰尘和其它危害。可单独购买CAPF(塑料质)和CAPFM(金属)替换保护帽。使用建议由于氟化物玻璃比标准石英玻璃更软，因此不能用Kimwipes擦拭纸来清洁这些跳线。其它氟化物光纤特定的使用建议请参见操作标签。与无端光纤相比，这些跳线所能承受的zui大功率是受连接器限制的。取决于应用，我们推荐以约300mW的zui大CW功率使用这些跳线。每根氟化物跳线都标有产品型号、批次和主要规格。Stocked SM Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated CablesAR-Coated TEC SilicaHR-Coated SilicaBeamsplitter-Coated SilicaLow-Insertion-Loss SilicaMIR Fluoride Fiber中红外应用由于SM工作范围与我们的带间级联激光器(ICL)的发射范围重叠，因此若将这些跳线与我们的光谱仪结合使用，可以实现激光输出光谱的低损耗测量。其它应用实例见下图。单模氟化物跳线中的信号可以通过一个反射式准直器耦合到自由空间。FiberPorts可替代反射式准直器使用，它提供5个自由度的自由空间耦合，以及旋转调节。规格：Bare Fiber SpecificationsFiberZrF4Single ModeInF3Single ModeTransmission Range285 nm - 4.5 μm310 nm - 5.5 μmSM Operating Wavelength Range2.3 - 4.1μm3.2 - 5.5 μmAttenuation (Click for Plot)≤0.3 dB/m (Max) 0.15 dB/m (Typical)(for 2.3 - 3.6 μm)≤0.45 dB/m (Max)(for 3.2- 4.6 μm)Mode FieldDiametera(Click for Plot)10.75 μm @ 2.5 μm 14.80 μm @ 3.39 μm10.66 μm@3.39μmCutoff Wavelength≤2.3 μm≤3.2 μmNumerical Aperture (NA)b0.19 ± 0.02 @ 2.0 μm0.26 ± 0.02 @ 2.0 μmCore Diameter9 ± 0.5 μmCladding Diameter125 +1/-2 μmCore/Clad Concentricity≤2.0 μmBendRadius (ShortTerm/Long Term)≥10 mm / ≥40 mm≥10 mm / ≥30 mm模场直径（MFD）是一个标称值。它是近场中1/e2功率水平处的直径。更多信息请见模场直径定义标签。曲线标签包含其它波长处的NA曲线。曲线该标签包含氟化物光纤的以波长为自变量的衰减（测量值）曲线、弯曲衰减（测量值）曲线、模场直径（计算值）曲线和数值孔径（计算值）曲线。下面所显示的是单模跳线的数据；不同跳线之间可能会不同。如果您不确定这些光纤是否适用于您的应用请联系技术支持。衰减该曲线包含了我们单模ZrF4光纤的衰减测量值。曲线中的蓝色阴影区域表示单模波长工作范围（2.3-3.6 μm），橙色阴影区域表示光纤依然具有传输性，但为多模操作。截止波长用垂直虚线表示，是多模运行的起点，并随波长的变化而变化。接近1.9 μm处的峰值对应二阶模衰减。该曲线包含了我们单模InF3光纤的衰减测量值。曲线中的绿色阴影区域表示单模工作波长范围，衰减值≤0.45 dB/m，蓝色阴影区域表示单模工作波长范围，没有保证的衰减规格。橙色阴影区域表示光纤依然具有传输性，但为多模操作。截止波长用垂直虚线表示，是多模运行的起点，并随波长的变化而变化。接近2.9 μm处的峰值对应二阶模衰减。该曲线包含了用于我们单模ZrF4光纤的单环在五个不同弯曲半径时衰减测量值。曲线中的阴影区域表示单模波长范围（2.3 - 3.6 μm）。该曲线包含了用于我们单模InF3光纤的单环在四个不同弯曲半径时衰减测量值。曲线中的蓝色和绿色阴影区域表示单模波长范围（3.2 - 5.5微米）。色散该曲线包含了我们单模ZrF4光纤的计算的色散曲线，具有大约1.6微米的零色散波长。曲线中的阴影区域表示单模波长范围（2.3 - 3.6微米）。曲线包含了我们单模InF3光纤的计算的色散曲线，具有大约1.7微米的零色散波长。曲线中的阴影区域表示单模波长范围（3.2 - 5.5微米）。数值孔径该曲线包含了我们单模ZrF4光纤的数值孔径，根据以下曲线中的折射率。曲线中的阴影区域表示单模波长范围（2.3 - 3.6微米）。该曲线包含了我们单模InF3光纤的数值孔径，根据以下曲线中的折射率。曲线中的阴影区域表示单模波长范围（3.2 - 5.5 μm）。折射率.这里显示的折射率是将Sellmeier方程与测量数据拟合获得的。右表给出了拟合中所用的Sellmeier系数。SellmeierEquationSellmeierCoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.54630.705674u10.75660.515736u21.7822.204519u30.0000.087503u40.1160.087505u521.26323.80739这些折射率是将Sellmeier方程与测量数据拟合获得的。右表给出了拟合中所用的Sellmeier系数。SellmeierEquationSellmeierCoefficientsCoefficientCoreCladdingu00.476273380.68462594u10.769368930.4952746u25.018354971.4841315u30.01795490.0680833u40.118650930.11054856u543.6454575924.4391868操作 该标签描述了在日常使用中标准石英光纤跳线和氟化物光纤跳线之间的相似和不同之处。物理操作 弯折为了保护，氟化物跳线使用塑料护套(PVDF聚合物)，所以比典型的跳线护套更硬。只要护套不被强迫弯折，光纤不会受损伤。如果超过弯折限制塑料护套会变色。对于规定的弯折半径请参考下面的表格。关于光纤因为弯折导致的衰减的更多信息，请见曲线标签。 存储因为氟化物玻璃比标准石英玻璃更软，所以更容易刮伤，所以在跳线在不使用时盖上保护盖尤其重要。用于FC终端跳线的CAPF和CAPFM替换保护帽可单独购买。 清洁使用FS200光纤检测仪检查光纤头。如果有颗粒物，首先尝试使用缓流压缩空气吹去。如果压缩空气不够，可以使用我们的FCC-7020光学接头清洁器或MC-5擦镜纸来清洁。 请注意Kimwipes非常容易刮伤光纤头，所以不能使用。 重新抛光服务如果光纤头刮伤，Thorlabs可以免费重新抛光(由客户负责来回的运费)。请联系技术支持使用该服务。环境因素 一般的实验室温度和湿度不会影响光纤的完整性。但是应该避免拉伸、直接接触液态水或水蒸气。寿命终止处理 如果您要在本地废弃这种光纤跳线，请遵守所有适用的当地法规和条例，请注意氟化物玻璃主要由掺合氟化锆或氟化铟的氟化钡组成。FC接头使用标准石英光纤跳线是一般选择FC/PC或FC/APC接头，因为PC和APC抛光面为圆顶头可以使匹配的两根跳线的纤芯直接接触，从而将跳线界面之间接触损耗降到zui小。因为氟化物玻璃壁石英玻璃更软，它们在抛光后会是平面光纤端。根据跳线的不同，光纤端面可能相对插芯稍微地凹下去一点。因此，氟化物光纤跳线既不是FC/PC接头（PC指直接接触）也不是FC/APC（APC指有角度的直接接触）。平面光纤端面不会影响输出是耦合到自由空间的应用，但是在连接FC接头的光纤跳线时，比如通过匹配套管或连接头连接时会有传输损耗，因为光纤纤芯没有直接接触。由于FC终端的跳线之间的间隔一般要小于SMA905终端（使用空气间隔插芯）的跳线间的典型间隔，这种损耗经常可以被忽略。下图是一根氟化物成品跳线末端的二维图和三维图。标准FC/PC接头有圆顶端面FC终端的氟化物跳线有平坦的抛光末端面AFC终端氟化物光纤跳线有一个8度角抛光斜面该图为一根?100微米纤芯、平面抛光的FC氟化物光纤跳线末端的二维表面轮廓图。X和Y轴的单位都是微米。虚线圆和直线用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据蓝色虚线圆中的绿色圆查看。该数据代表我们所有平面抛光的FC氟化物光纤跳线。该图为一根?100微米纤芯、平面抛光的FC氟化物光纤跳线末端的三维分布图。虚线圆用于眼睛观察指导。金属插芯和跳线内侧的界面根据黑色圆和蓝色圆之间的的圆形凹陷来查看。该数据代表我们所有平面抛光的FC氟化物光纤跳线。模场直径定义模场直径（MFD）的定义 模场直径（MFD）是单模光纤中传输的光束尺寸的一个量度。它是波长、纤芯直径和纤芯和包层折射率的一个函数。虽然许多光都被限制在纤芯传播，仍有一部分会在包层中传播。对于高斯分布，MFD是光功率降低到峰值水平的1/e2时的直径。 MFD的测量MFD的测量通过远场中的可变通光孔径方法（VAMFF）来完成。在光纤输出的远场处放置一个通光孔径，然后测量强度。在光路中放置连续变小的通光孔径，测量每个通光孔径下的强度水平；然后以功率和孔径半角（或数值孔径）为坐标作图得到数据。使用彼得曼第二定义确定MFD，该方法是不假设功率分布特定形状的数学方法。使用汉克尔变换可以从远处测量值确定近场处的MFD大小。左图是通过光纤传播的光束的强度分布。右图是通过光纤传播的光束的标准强度分布，图中标注了MFD和纤芯直径。氟化锆单模光纤跳线，2.3 - 4.1 μmItem #PrefixFiberSMOperatingWavelengthAttenuation(Max/Typical)(Click for Plot)Mode FieldDiametera(Click for Plot)CutoffWavelengthDiameter(Core/Cladding)NAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureP1-23ZZrF4Single Mode2.3 - 4.1 μm≤0.3 dB/m /0.15 dB/m(for 2.3 - 3.6 μm)10.75 μm @ 2.5 μm14.80 μm @ 3.39 μm≤2.3 μm9 ± 0.5 μm /125 +1/-2 μm0.19 ± 0.02@ 2.0 μm≥10 mm /≥40 mmFC/PC-CompatiblecRed PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CP3-23ZFC/APC-Compatiblec模场直径（MFD）是一个标称值。它是近场中1/e2功率水平处的直径。更多信息请见模场直径定义标签。曲线标签中包含其它波长时的NA曲线。请见FC接头标签获取更多细节。产品型号公英制通用P1-23Z-FC-1单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/PC，1米P1-23Z-FC-2单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/PC，2米P1-23Z-FC-5单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/PC，5米P3-23Z-FC-1单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/APC，1米P3-23Z-FC-2单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/APC，2米P3-23Z-FC-5单模氟化锆光纤跳线，2.3 - 4.1 μm，FC/APC，5米单模氟化铟光纤跳线，3.2 - 5.5 μmItem #PrefixFiberSMOperatingWavelengthAttenuation(Click for Plot)Mode FieldDiametera(Click for Plot)CutoffWavelengthDiameter(Core/Cladding)NAbBend Radius(Short Term/Long Term)ConnectorsJacketOperatingTemperatureP1-32FInF3Single Mode3.2 - 5.5 μm≤0.45 dB/m(for 3.2 - 4.6 μm)10.66 μm@ 3.39 μm≤3.2 μm9 ± 0.5 μm /125 +1/-2 μm0.26 ± 0.02@ 2.0 μm≥10 mm /≥30 mmFC/PC-CompatiblecGreen PVDF(?3 mm)-55 to 90 °CP3-32FFC/APC-Compatiblec模场直径(MFD)是标称值。它是近场中1/e2功率等级处的直径。详情请看MFD定义标签。曲线标签包含其它波长下的NA曲线图。详情请看FC接头标签。产品型号公英制通用P1-32F-FC-1单模氟化铟光纤跳线，3.2 - 5.5 μm，FC/PC，1米长P1-32F-FC-2单模氟化铟光纤跳线，3.2 - 5.5 μm，FC/PC，2米长P3-32F-FC-1单模氟化铟光纤跳线，3.2 - 5.5 μm，FC/APC，1米长P3-32F-FC-2单模氟化铟光纤跳线，3.2 - 5.5 μm，FC/APC，2米长

热电堆红外探测器每个热电堆探测器的基座由所谓的热电偶形成。 由于两种不同金属（塞贝克效应）的热扩散电流，它会产生一个电压。应用:远距离温度测试“应用是由客户设备的设计来定义的。我们的产品组合提供准时和整体测量的产品。”（Micro-Hybrid有限公司研发部主管Steffen Biermann先生）工艺和产品温度是制造工艺的重要物理指标。 监测温度确保生产线的高质量水平。 远程温度测量非常适用于大距离，移动部件或适用于各种工业领域的高温应用。优点：响应时间短无反应测量，对测量对象无影响没有破坏连续实时监控温度临界时间我们在-20°C至190°C的外壳温度范围内提供不同测量要求的传感器类型。 我们的探测器适用于高温测量的大多数应用领域。应用产品准时的温度测量TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1积分温度测量TS1 × 200B-A-D3.55-1-Kr-A1高温环境下的温度测量TS1 × 80B-A-D0.48-1-Kr-B1-190NDIR红外气体分析Micro-Hybrid提供NDIR气体分析的完整产品系列。 即使是恶劣的环境也不会阻碍我们的客户升级自己的应用。优点：快速，可重复，长期稳定地测定各种红外活性气体的浓度高精度和高分辨率的限制在低漂移下的使用寿命长，无化学反应高温能力（190°C）测量稳定性高，即使在恶劣的环境下NDIR气体分析方案确保和监测过程稳定性的气体浓度的测量，在涉及气体的所有工业过程中是至关重要的。 气体浓度的准确和可再现的检测是应用的重要组成部分，特别是在医疗和环境技术中。 此外，NDIR（非分散红外）气体分析可以在私人或工业领域进行宽带或高度选择性的有害物质检测，例如监测和检测爆炸性气体和污染物。它是测量这种气体浓度的光学分析工具。 关于与红外活性气体的光学相互作用，NDIR分析是一个快速而有效的过程。NDIR气体测量的应用领域：根据不同的功能原理和我们的元件组合，我们会结合适合您的测量任务对应气体传感器解决方案。 您可以从我们的产品查找器中订购单个产品样品或直接联系我们的NDIR气体分析专家。气体传感器CO2 气体传感器甲烷气体传感器耐190°C高温耐190°C高温红外光源JSIR 350-4JSIR 350-5JSIR 450高频率高辐射强度超高频率的手持设备"超高的辐射强度热电堆探测器TS 80TS 200高温应用高灵敏度手持设备热释电探测器电流模式电压模式极高的灵敏度极高的频率电压模式低频率特征：使用BiSb / Sb等优良材料获得良好的热电堆效应：高探测灵敏度*灵敏度高达295 V / W配合Micro-Hybrid相关产品使用，一致性好*高达7.2 x 108 cm Hz1 / 2 / W结构概况用于高温应用的热电堆探测器在高温环境下对机器和过程进行温度监测是一个挑战。 我们的高温热电堆探测器完全符合各种工业应用中的高温等特殊要求。特征：应用环境温度可高达190°C焊接滤波片（可选）高灵敏度耐高湿适合化学分析过程抵御侵蚀性气体如甲烷，二氧化硫等用于不同的温度范围和测量任务的热释电传感器可以在这里找到：信号作为测量对象温度的函数测量物体温度变化时的信号II通过改变环境温度来修改信号修改我们的热电堆传感器可以在我们广泛的可应用范围内进行调节：传感器芯片，红外滤波片等。 通过这种方式，可以在各种应用条件下始终获得优良的测量结果。产品选择TS1x200B-A-D3.55单通道热电堆探测器基于MEMS技术的用于NDIR气体分析的高敏感热电堆探测器。灵敏度[V / W]100D* [cmHz½/W]3.6x10^8光圈[mm²]:3.55 dia工作温度[°C]-20 … +70封装模式TO39应用NDIR气体分析通道数1TS1x200B-B-D2.4单通道热电堆探测器基于MEMS技术的用于NDIR气体分析的高度敏感的热电堆探测器。灵敏度[V / W]100D* [cmHz½/W]3.6x10^8光圈[mm²]:2.4 dia工作温度[°C]-20 … +70封装模式TO46应用NDIR气体分析通道数1TS1x80B-A-D0.48单通道热电堆探测器基于MEMS技术的拥有较小有效区域的热电堆探测器 推荐用于使用带通滤波器的温度测量。灵敏度[V / W]295D* [cmHz½/W]7.2x10^8光圈[mm²]:0.48 dia工作温度[°C]-20 … +85封装模式TO39应用温度测量通道数1TS1x80B-A-D0.75单通道热电堆探测器基于MEMS技术的具有较小有效区域的热电堆探测器 推荐用于带有带通滤波器(8-14µm)的温度测量。灵敏度[V / W]295D* [cmHz½/W]7.2x10^8光圈[mm²]:0.75 dia工作温度[°C]-20 … +85封装模式TO39应用温度测量通道数1TS1x80B-A-D0.75-… -180单通道热电堆探测器基于MEMS技术的具有较小有效区域的热电堆探测器 推荐用于在高温环境下使用带通滤波器（8-14 Lm）进行温度测量。灵敏度[V / W]295热电堆探测器D* [cmHz½/W]D* [cmHz½/W]7.2x10^8热电堆探测器光圈[mm²]:光圈[mm²]:0.75 dia热电堆探测器工作温度[°C]工作温度[°C]-20 … +180封装模式TO39热电堆探测器应用应用温度测量热电堆探测器通道数通道数1TS2x200B-A-S1.5双通道热电堆探测器用于NDIR气体分析的基于MEMS技术的带有窄带滤光片的高灵敏度热电堆双探测器。灵敏度[V / W]100D* [cmHz½/W]3.6x10^8光圈[mm²]:1.5 x 1.5工作温度[°C]-20 … +70封装模式TO39应用NDIR气体分析通道数2TS4x200B-A-S1.5四通道热电堆探测器用于NDIR气体分析的基于MEMS技术的带有窄带滤波器的四通道热电堆探测器。灵敏度[V / W]100D* [cmHz½/W]3.6x10^8光圈[mm²]:1.5 x 1.5工作温度[°C]-20 … +70封装模式TO39应用NDIR气体分析通道数4TS4xQ200B-A-S1.5四通道热电堆探测器基于薄膜技术的高灵敏度四通道热电堆检测器，带窄带过滤器，用于气体分析。通过“单芯片”解决方案对接电气和物理通道参数。灵敏度[V / W]80D* [cmHz½/W]2.95x10^8光圈[mm²]:1.5 x 1.5工作温度[°C]-20 … +70封装模式TO39应用NDIR气体分析通道数4

红外显微镜配件专门为微电子研发和制造而设计的显微镜，它是一款科研级显微热成像仪，在微米尺度给出电子器件和芯片的温度分布，能够非接触式地测量电子器件的温度分布，查找热点hotspots。红外显微镜配件对于分析和诊断半导体器件热表现非常有用，可用于探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷 测量热阻封装 确立热设计规则等领域，可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。就MEMS的研发而言：空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止，还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度，红外成像显微镜能够给出20微米空间分辨率的热分布图像，是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。红外显微镜配件光学载物台：坚固而耐用，具有隔离振动的功能；聚焦位移台：用于相机的精密聚焦和定位；X-Y位移台：用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中； 热控制台： 具有加热和制冷功能，用于精密器件的温度控制；红外显微镜配件应用*半导体IC裸芯片热检测 *探测集成电路的热点（hotspots）和短路故障*探测并找到元件和电路板上缺陷 *测量半导体结点温度（结温）*辨别固晶/焊线/点胶缺陷*测量封装热阻 *确立热设计规则 *激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析*光纤光学热成像检测*半导体气体传感器的热分析*测量微交换器的热传输效率 *微反应器的热成像测量*微激励器的温度测量*生物标本温度分析 *材料的热性能检测*红外显微镜热流体分析 热分析软件红外显微镜配件分析软件。 这种软件能够帮助您非常容易而快速地获得温度信息，同时，它可以产生实时的（real time）带状图、拍摄并回放图像序列以及在图像上选择任何大小形状的区域，从而为您提供不同视角和建设性的数据分析手段。

红外叶表面温度传感器，红外叶表面温度传感器，试剂，操作，说 明：1、基本参数说明：（在使用本传感器前必须先了解以下参数） 1）RTD温度信号输出： Vt (Td为转换后数字量) 2）RTD环境温度： Ta (单位为℃) 3）红外信号输出电压： Vo (Vd为转换后数字量) 4）红外物体温度： To (单位为℃)2、传感器类型参数： 1）电压型红外叶表面温度传感器： 供电电压范围：5～12V（7～24V供电时需定制，另外功耗将增加4mA） 输出电压信号：0～2.5V 理论测温范围：0～100℃ 平均功耗电流：0.45mA 注意：在此，测温范围与电压信号范围不是线性对应关系！ 2）电流型红外叶表面温度传感器： 供电电压范围：7～24V 输出电流信号：0～25mA 理论测温范围：0～100℃ 平均功耗电流：4～25mA 注意：在此，测温范围与电压信号范围不是线性对应关系！红外叶表面温度传感器，红外叶表面温度传感器，试剂，操作，说 明，功能及特点： .具备环境温度信号采集、输出功能； .采用集成性红外热电堆温度传感器； .测量精度较高，重复性、一致性较好； .采用环氧树脂封装，防水抗震性好； .电压输出式传感器具备低功耗特点。4、适用范围： .可广泛用环境、温室、实验室等的红外温度测量。

红外窗口片是一个可以透过紫外线，可见光和红外线的光学窗口，红外窗口片用于高压电检查中的热成像扫描和紫外扫描成像，保护热成像相机或紫外相机安全。 红外窗口片功能特殊环境下的高电压开关接触处和母线连接点，传统的热电偶，测温探头，光纤，诸如精确的温度测量是无法进行的。红外窗是一个可以透过紫外线，可见光和红外线的光学窗口，在开关柜内安装有最新专利技术的红外窗口，可以轻松方便地扫描热成像，即使开关柜工作时也可以扫描。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

仪器主要指标及成套性：测量红外反射光谱（光栅红外用）用途：用于精密分析仪器附件

Axetris 红外光源产品系列Axetris公司的热辐射红外源，具有黑体辐射的特性，产品具有低功耗，高辐射率及使用寿命长的特点。作为专利技术，我们的设计是在热电阻元件的表面上涂敷了一层介质薄膜，该元件是固定在一个微小的硅基片上的。Axetris的红外光源是封装在紧凑型的TO-39基座外壳内，还可以选择带保护帽及带反射面的结构。这些结构可以配置蓝宝石，氟化钙，氟化钡，锗等材质的光窗。Axetris的红外光源非常适用于那些要求极高的辐射率，极高的稳定性及低功耗的紧凑型红外气体检测器主要应用：测量原理：非分光红外光谱法（NDIR），光声红外光谱法（PAS）或者衰减全反射比（ATR）傅里叶变换红外光谱法。被测气体种类：CO, CO2, VOC, NOx, NH3, SOx, SF6，碳氢气体，湿度，麻醉气体，制冷剂，呼吸酒精气体等。医疗应用领域：二氧化碳测定仪，麻醉气体检测，呼吸功能监测，肺功能监测，呼吸酒精气体检测。汽车/运输应用领域：尾气排放检测，呼吸酒精气体检测（酒后驾驶闭锁装置），通风系统需求控制。HVAC应用领域：通风系统需求控制，制冷剂检测。安保&工业应用领域：可燃气体分析仪，气体检测器，孵化箱等。技术优点：具有黑体辐射的特性（2 - 14 μm ）高辐射率快速的电调制功能（无须斩波轮）极高的调制度辐射转化效率高低功耗使用寿命长坚固的MEMS设计（通过IEC6721-3-7 Class7M3的认证要求，但不包括带氟化钙，氟化钡材质光窗的产品。）

产品特点：?优异的性价比，低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。?中文化操作介面，入门简易、沟通无障碍。?提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。?采用标准样品验证膜厚精度与再现性，确保追溯体制的完整。?显微镜聚焦下的微距口径测量。产品规格： 测量规格膜厚范围200nm~20μm波长范围400nm~780nm膜厚精度±1nm以内重复更现性(2σ)0.5nm以内选配品样品台尺寸200mm×200mm以内可容制化测量口径（10倍物镜时）Φ20μm、Φ40μm、Φ60μm电脑设备需支援至少三个USB以上之笔记型或桌上型电脑作业系统WindowsXP/7（32bit）测量物镜5倍、10倍、20倍软件功能膜质解析N：折射率、k：吸光系数膜厚测量法FFT法、波峰-波谷法、曲线近似法（Fitting）应用范围： 半导体晶圆膜、FPD薄膜材料、树脂膜、光阻膜、氧化膜、包装膜、光学镀膜、抗反射膜、透明或半透明膜层应用范例：Si基板上99.4nm的SiO2膜Si基板上1018.2nm的SiO2膜

固定式红外温度传感器/在线式红外测温仪 型号:ZRX-26688红外测温仪可以不接触目标而通过测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度。非接触红外测温仪大的优点，使用户可以非常方便地测量难以接近或移动的目标。ZRX-26688红外测温仪为一体化集成式红外测温仪，传感器、光学系统与电子线路共同集成在金属壳体内；ZRX-26688易于安装，金属壳体上的标准螺纹可与安装部位快速连接；同时，ZRX-26688还有各型选件（例如吹扫保护套、90°可调安装支架、三维可调安装支架、数字显示表等）以满足各种工况场合要求。● 基本性能保护 IP65（NEMA-4）环境温度 0~60℃存储温度 -20~80℃相对湿度 10~95%（不结露）材料 不锈钢尺寸 98mm×18mm(长度×直径)电缆长度 1m（标准），3m， 15m及规格（定制）● 电气参数工作电源 24VDC大电流 50mA输出信号 4-20mA● 测量参数光谱范围 8~14um温度范围 0~200℃光学分辨率 15：1响应时间 300ms(95%)发射率 0.95固定测温精度 测量值的±2%或±2.0℃，取大值（环温：23℃±5℃）重复精度 测量值的±1%或±1℃，取大值（环温：23℃±5℃）