紫外椭偏仪

各位好，请问哪里有椭偏仪可以提供测试？最好是在广州的

椭偏仪结构原理与发展[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63165]椭偏仪结构原理与发展[/url]

[em06] 这几种光谱型椭偏仪优势差异在哪？？？？？SENTECH椭偏仪，HJY椭偏仪，Sopra S.A.，AQUILA公司

我们实验室有一台德国进口的椭偏仪，型号为：SpecEI-2000-VIS，测量时发现同一个点测量时结果都会有偏差。几次图谱的拟合曲线不一致。有谁知道的告诉小弟一声。非常感谢。

要做毕业设计，有关椭偏仪和椭偏算法的，不知道在哪里可以找到相关的资料，望大家指教指教！~

求教大神，这是老师给的任务 用椭偏仪测薄膜反射率 求教一下 怎么测？

供大家参考！[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=55565]椭偏仪测试聚合物膜厚[/url]

最近工作上涉及到椭偏仪，想知道椭偏仪测量的优点与缺点都有什么？我看了一些资料，说椭偏仪测量存在如下缺点：1、薄膜基片如果是透明的，那么对样品的前处理会很麻烦，很费钱2、如果样品是有机物薄膜，椭偏仪很难测出结果来3、椭偏仪测量得到的数据需要手工处理，很复杂，非专业人员无法处理，暂时没有软件可以直接得薄膜的厚度、折射率、吸收系数值4、测量吸收系数时不能同时测量透射光与反射光，所以得到的吸收系数是有误差的不知道以上观点是不是正确？ 为什么薄膜的基片不能是透明的？透明的基片对薄膜厚度测量有什么影响？为什么很难得到有机物薄膜的厚度？请指教，谢谢!不知道是否还有其他缺点？

在si片上镀一层纳米碳膜，碳膜表面光洁如镜面，采用椭偏仪测量薄膜的厚度，测量时选择基底材料为si，将k设为0（透明薄膜，不知是否准确或透明薄膜如何定义？），根据SEM测量得到的薄膜厚度拟合得到一个n值(2.0921），采用此n值对类似情况下制备的薄膜进行厚度测量，测量得到的结果还行，基本与肉眼看到的薄膜厚度差别相当。不知此方法是否正确？1.是否能采用透明膜的测量方法测量碳膜？2.采用同一n值测量厚度是否合适？希望高手指点，谢谢！

检测薄板上油膜厚度的仪器，我们目前使用的是日本岛津公司生产的AEP-300椭圆仪（非椭偏仪），但已经停止生产。仪器使用多年故障逐渐增多。美国DONART公司有类似仪器，但是单片检测，不适合用于大生产。请问专家，还有没有同类仪器可供选择？

科研故事：常被轻视的方法研究2012-04-22 22:14 来源：科学网 作者：徐 耀 科研浮躁的一个重要表现是，只重视实验结果（或者数据），而对获得这些结果（或者数据）的方法重视不够，所以经常对别人发表的好结果望洋兴叹，而不去下辛苦掌握些方法论。举个例子，给定一层厚度在100-200纳米的有支撑透明光学薄膜，如何准确测量其厚度和光学参数（比如最根本的折射率和消光系数）？猛一看，这似乎根本不是个问题，甚至相关的商用仪器都有很多，但深入分析一下，事情就没有那么简单。原则上，厚度和折射率、消光系数等参数均可通过椭圆偏振仪（椭偏仪）一次性获得，如果是光谱扫描型椭偏仪，则薄膜的色散曲线都可以获得。但是椭偏仪测量基于物理模型，这些模型因物质而不同，对于实际工作中千变万化的薄膜材料和结构，要么物质特殊，要么结构特殊，只要不符合仪器的模型库，测量就无法进行，当然也可以自己建立物理模型，但这个就不是购买仪器的初衷了。所以，不能指望商用仪器解决一切，还是要自己掌握其中的方法论。还是这个光学薄膜，我们建立了自己的方法论。首先，通过X射线反射谱准确测量薄膜的绝对物理厚度，这是不依赖于任何物理模型的，是由薄膜上下表面反射光干涉引起的，只要量出反射率曲线中相邻震荡峰的间隔就可以获得薄膜厚度。然后，以这个厚度为初始参数，对薄膜的透射谱进行拟合，以获得薄膜的光学参数。基于分光法的透射谱很准确，而透明基底会给椭偏仪测量带来额外误差，因此我认为对透射谱进行拟合要比依靠椭偏仪靠谱。利用透射谱拟合也要涉及几种色散模型，但这些模型是通用模型，与薄膜结构无关，经过对比研究后应该可以确定最适合的模型。在此基础上，我们可以对不同类型的薄膜区别对待，建立各自的测量方法。我们以前认为只要有了椭偏仪，薄膜测量就没问题了，没想到有了仪器，问题更多更让人烦恼，因为得到的数据常常超出正常。我们做的这些工作，不具备太多创新性，按理说不符合现在对科研的期待，但是我们掌握了方法，我认为这样的工作很有意义，一旦方法建立，就像给火车铺设了轨道。因此，仪器重要，方法论是发挥仪器作用的保障。回过头来，我们为什么经常轻视甚至忽视方法论的研究呢？我认为原因有三。第一，科研考核注重结果的显示度，科研管理偏于目标管理，而非过程管理，科研人员只盯着最终数据。第二，科研人员眼界狭窄，方法论研究往往要深入理论，而理论是很多实验研究人员不愿意碰的。第三，谁都不是哪吒三头六臂，但科研合作不足使方法论研究难以开展。我国目前花大量外汇购买的高精尖仪器很多了，但用得足、用得好的并不多，以至于功能闲置，造成极大浪费，其中对方法论的掌握不足大概是主要原因。因此，科研人员应该多关注方法论研究。

扫描电镜可以测反射率？还是椭偏仪可以？

请教一下有谁知道紫外分光光度计测试偏光度的方法或者标准，文献之类的吗？在此谢谢补充：刚又知道一点，就是有些软件可以专门测试偏光角，但是我想知道偏光角（度）的计算公式，自己编方程也可以啊，但是查不到啊？各位大虾知道的赶紧帮忙解答一下啊？

最近在用紫外滤光片检测仪器的透过率 但是发现 比色皿的架子有偏差 透射率就偏高。用重铬酸钾检测没有这个问题有谁遇到过同样的问题？

我现在需要测量ITO薄膜的厚度，透明的薄膜，大概200纳米左右。用椭偏仪行不行？是不是还需要薄膜的折射率？希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

紫外检测器走梯度洗脱程序合适吗？我知道紫外检测器可以用梯度洗脱，所以想问下做的时候用的多不多。我个人认为紫外使用梯度程序得到的结果相比ELSD很糟糕，试了很多次，基线太差了，有些低含量组分都被不平的基线遮盖了。

如题，就是一层薄膜，如果用椭偏仪的话是不是一定要知道基底的折射率阿，可是这个也是不知道的，请问还有其他办法吗？

【序号】：1【作者】：贾宏博【题名】：实验三 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：http://wenku.baidu.com/link?url=9AzjmckOe80G4AKO_wbku72TTb4gDjPAZ2aSDHxkAv3LBAes6NzQiocjgyYQIj-xHr_U6OEfxYPtwuPDL7wYESHR8go4Xqd08lOdk13G48m

请问：紫外吸收中样品和标准品对比时，它的吸收偏差的范围是多少？谢谢

经常使用紫外的人就会知道，紫外可见分光光度计里面的光学元件非常多，比如反射镜、光栅等。尤其是双光束仪器，光路结构复杂，反射镜也就装得多。试想，这么多的镜子在使用若干年后，是很难保证里面的光路不偏移。有人曾统计过分光光度计的故障原因，后来发现有相当一部分是由于光路发生了偏移，而光路偏掉了就需要比较专业的维修工程师才能把光路调整好，调整光路对于经验不够丰富的维修工程师来说是件比较困难的事情。光路偏了通常也包括光栅的位置偏了，导致波长也偏了，波长校正无法通过，读数不准确，数据产生跳动，这对于日常的分析工作造成极大的影响。如果最大限度地避免光路系统的偏移是摆在光学仪器开发者面前的一道难题。

紫外测石油类质控偏低，质控不稀释直接上机测试。质控没有摇匀，有影响么？

各位高手，紧急求助！我在使用偏光紫外可见光谱表征染料在薄膜中的取向及偏光性研究，可搭建的平台存在问题。比如，我用GLAN-TAYLOR 棱镜起偏，可棱镜的透过率多次检测都不一致。还有偏光镜的透光轴也未能精确标定。测同一样品是检测重复率有问题。我的研究主题为等离子增强染料偏光性能。总之问题很多，希望有高手能在搭建平台，及实验方案方面还有好的建议可指点一二。 多谢！！！

紫外荧光定硫仪是目前国内最先进的硫元素同步测定仪，广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。　　仪器采用紫外荧光法测定总硫的含量，系统关键部件采用进口元件，使得整机性能有了可靠的保证。　　仪器适用于测定石腊油、柴油、汽油、润滑油、燃料油、液化气及天然气，以及其它油品、化工原料及成品的总硫含量。　　工作原理：　　仪器采用紫外荧光法测定原理，样品经高温氧化反应，其中的硫化物宣地转化为SO2.样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量成正比，再经微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。

紫外荧光定硫仪是目前国内最先进的硫元素同步测定仪，广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。　　仪器采用紫外荧光法测定总硫的含量，系统关键部件采用进口元件，使得整机性能有了可靠的保证。　　仪器适用于测定石腊油、柴油、汽油、润滑油、燃料油、液化气及天然气，以及其它油品、化工原料及成品的总硫含量。　　工作原理：　　仪器采用紫外荧光法测定原理，样品经高温氧化反应，其中的硫化物宣地转化为SO2.样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量成正比，再经微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量

遇到一台紫外可见分光光度计，在用[u][color=#800080]透射比标准滤光片[/color][/u]计量时候发现投射比的偏差大于国家规定的2%，检查仪器的波长准确度 和稳定性都是正常的，饿光斑也正常灯也是正常的。滤光片和反射镜也是正常的。不知道这种情况主要出在哪里，有没有知道的啊。

三用紫外分析仪据说我们这边是用来检测荧光物质的。采用石英玻璃紫外灯管及滤色片组成，两组光源的波长分别为254nm和365nm。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/11/201111302318_334406_2423053_3.gif

紫外荧光定硫仪是目前国内zui先进的硫元素同步测定仪，广泛被应用到检测液体、固体、气体样品中的硫含量。　　仪器采用紫外荧光法测定总硫的含量，系统关键部件采用进口元件，使得整机性能有了可靠的保证。　　仪器适用于测定石腊油、柴油、汽油、润滑油、燃料油、液化气及天然气，以及其它油品、化工原料及成品的总硫含量。　　工作原理：　　仪器采用紫外荧光法测定原理，样品经高温氧化反应，其中的硫化物宣地转化为SO2.样品气经过膜式干燥器脱去其中的水份，进入反应室。SO2经紫外线照射，产生特定波长的光谱，由光电倍增管检测接收。发射的荧光强度和原样品中硫的含量成正比，再经微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号，通过测量其大小即可计算出相应样品的含硫量。

使用紫外分光光度计时，被测物质浓度大时，通常会出现负偏离现象，即是曲线会偏离开始时的直线向下弯曲，请大侠解释一些原因。

在做2019年地表水石油类紫外法盲样考核，标曲做出来Y=0.0448x+0.0033，R2=0.9996，符合标曲要求。但做了两个浓度的质控样（6.18和14.5），6.18做出4.46，14.5做出10.0。都是按照证书直接稀释上机的，不知道哪个环节会导致结果偏低这么多。哪位老师遇到过请教一下，谢谢！！