自动远光仪

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品简介远光新型智能制样系统是针对我国火电厂燃煤特点，结合公司多年燃料智能化项目实施经验，在第4代制样机基础上历时多年全新设计研发的新一代智能制样系统。该系统采用全新“水母破碎机”、“活目研磨”、“无级缩分”设计理念，有效解决行业面临的破碎残留，过筛率超标，缩分不准等传统问题。不仅结构简洁流畅，占地面积小，外观整齐大方，且样品处理适应性强，能够适应我国南北方各类燃煤的样品制备工作。产品价值1、破缩一体，密闭高效2、无级缩分，大量适应3、前置风透，大水预干4、梯级设计，分段复活5、即缩即弃，管道输送6、总线设计，简洁流畅。

全自动微孔板检测圆二色光谱仪用于不对称合成的高通量筛选。仪器直接读取微孔板样品的圆二色光谱信号（CD），使用操作与市面上大多数通过吸收或荧光作为测试信号的孔板检测器/酶标仪相同，非常方便。仪器不需要在测试时向比色池转移样品，不需要在测试结束清洗比色池，使得研发人员在面对大量样品的高通量筛选研究中，极大地减少无效的时间损耗。高通量筛选（HTS）用于不对称合成，需要快速测试对映体过量值（ee值）。传统的高效液相色谱HPLC速度慢、溶剂耗费大、仪器运行时间长。传统的圆二色CD光谱仪一次只能测一个样品。当然，通过自动进样器从微孔板转移样品到比色池可以提高测试通量，不过工作量仍然相当繁重、耗时长。CD Microplate ReaderTM圆二色谱微孔板检测仪/酶标仪为用户带来突破性的帮助，可以极大地提高不对称合成、催化中HTS的速度和效率。这项圆二色CD技术的突破是通过将一般圆二色CD光谱仪的光路配置进行转换完成的。在传统CD（卧式）中，光路的配置使得光束水平穿过装满溶液的比色池。通过将光路垂直配置，CD Microplate ReaderTM圆二色谱微孔板检测仪/酶标仪可以直接测试孔板中的样品溶液。通过XY运动台进而可以移动孔板测试所有孔的样品。不对称合成和催化的高通量筛选测试速度快相比于HPLC方法测试速度快、经济相比于传统CD的一次一个样品测试速度快相比于传统CD附加自动进样器操作简便找到不对称化合物直接读取孔板的ee值每小时可得到数千个ee值包含电脑、仪器控制软件和显示器相比于传统圆二色CD光谱仪附加自动进样器尺寸小：21” x 23” x 29” (54cm x 59cm x 74cm)技术参数：噪音背景：低至0.05 mdeg波长范围：185nm – 850nm带宽：全波长范围1nm孔板规格：96孔板，可选配其他尺寸调制频率：50kHz测试速度：单波长测试速度：96孔测试约2分钟。多波长测试速度：部分谱（如210nm – 350nm），5nm数据间隔：约30秒/孔，96孔测完用时约50分钟。全谱（185nm – 850nm），1nm数据间隔：约11分/孔，96孔测完约18小时

全自动双面紫外皮秒激光晶圆划线机设备简介：晶圆划线设备是晶元制程中不可缺少的一道工序，取代原有的工序（匀胶、曝光、显影）。设备亮点：可兼容4寸、 5寸、6寸等多种不同规格产品加工双工位同时加工，效率提升3倍采用双皮秒激光器兼容产品正反面及多面同时加工，有效保证加工效果配套晶圆机械手自动上下料，有效减少人工成本配套高精度视觉定位及检测，有效保证加工精度和检测结果自动分拣及回收NG产品，根本解决人工分拣低效的问题

X光检查机，在线全自动X光检查机，18650圆柱电池在线全自动X光检查机品牌：爱思达型号：XG5600检测产品：18650圆柱电池 18650圆柱电池在线全自动X光检查机用途：该设备主要应用于锂电行业圆柱型电池的在线或离线全自动检测。主要检测圆柱型电池里面的线有没有断，极耳极壁，正负极片对齐等的检测。我司XG5600检查机全方面一体的检测。对于不良的产品可自动判别，爱思达X光检查机能为企业带来经济效益，可为企业减少时间及人工成本。检测18650圆柱电池的内部情况爱思达的XG5600是一款不错的仪器选择。18650圆柱电池在线全自动X光检查机产品特点1、全自动检测自动检测判断，自动分拣良品与不良品。2、实时监测对所有动作、信号、硬件状态实时监测，并呈现在软件操作界面上。3、图像和数据实时在线显示同一电池的多部位检测图片和数据，在同一软件界面中显示，方便观察识别。4、安全环保整个设备安全互锁，三重防护功能，机身表面任何部位均满足安全辐射标准。18650圆柱电池在线全自动X光检查机技术参数光管光管电压MAX 110KV光管电流MAX 450uA聚焦尺寸5μm冷却方式强制冷风成像系统平板探测器有效区域54mm×48mm解析度20.8lp/mm分辨率2000*2249/1000*1124pixels检测精度重复测试精度60μm效率检测效率≥50ppm误判率≤2%漏判率0.0%产品优率≥99.5%安全标准国际辐射安全标准≤1usv/hr

全自动紫外皮秒激光晶圆切割机设备简介：晶圆切割是半导体后端封装的前工艺。 低介质晶圆激光开槽目前采用的是机械开槽然后裂片 技术。 由于激光技术逐步成熟并且成本降低。越来越多 的逐步开始引入替代机械开槽设备亮点：可兼容4寸、 5寸、6寸等多种不同规格产品加工采用紫外皮秒激光器，有效保证了加工效果自动上下料，有效减少人工成本配套高精度视觉定位，确保加工精度自动分拣及回收NG产品，根本解决人工分拣低效的问题

应用领域：全自动TDI线扫X光检查机主要应用于锂电行业圆柱型电池的在线或离线全自动检测。 设备功能和原理介绍：全自动TDI线扫X光检查机通过X－RAY发生器发出X射线，穿透电池内部，由线扫探测器接收X射线并成像和拍照。通过电脑相关软件对图像进行处理并自动分析和判断，确定良品和不良品，并将不良品挑选出来。 检测流程：入料拉带与前工序对接，（前工序拉带速度匹配入料拉带）。待测（圆柱电池+托杯）放入投入装置中，电池在检测拉带匀速运动至检测工位，经X射线照射电池，由成像系统和判断系统来测定正负极片的对齐度，将测定值与预设值进行比较，判断电池是否合格。测试完成后，电池进入中转拉带，然后进入分料盘快速分料， OK电池由OK拉带流出对接下一工序拉带，NG电池由NG拉带流出，并缓存（缓存数量最多100PCS）。 设备参数：项目技术参数XG5600光管光管电压Max 130 kV光管电流Max 300-309uA聚焦尺寸5-7um成像系统类型TDI线扫检测精度重复测试精度60μm效率检测效率≥120ppm误判率≤3%漏判率0.0%产品优率≥99.5%安全标准国际辐射安全标准≤1usv/hr电源AC220V/50HZ温度和湿度温度23 ℃±5 ℃相对湿度：≤10％RH

SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。主要功能与优势亚埃精度稳定的氦氖激光器保证了 0.1 &angst 的精度，用于超薄单层的薄膜厚度测量。高速SENTECH SE 401adv 激光椭偏仪的测量速度使用户能够监测单片生长和终点检测，或绘制样品的均匀性图谱。测量的椭圆角具有高稳定性和再现性原位椭偏仪 SE 401adv 可用于监测反射样品表面不同环境因素的生长和蚀刻过程。它测量椭圆角度 Ψ 和 Δ 的时间依赖性，并实时计算厚度和折射率灵活性和模块化SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪可用于从可选的、特定于应用的入射角表征单个薄膜和基板。自动准直望远镜可确保在大多数具有平坦反射表面的吸收性或透明基材上进行精确测量。集成的多角度测量支持（40° – 90°，步长为 5°）可用于确定层堆叠的厚度、折射率和消光系数。SENTECH SE 401adv是用于超薄单膜厚度测量的激光椭偏仪。SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪的选件支持微电子、光伏、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工以及更多前沿技术中的应用。SENTECH SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

产品概述远光ASM570S智能存样系统，以“人样分离，盲存盲取”为目标，采用计算机视觉分析技术、机电一体化设计，灵活组态式部署，有效实现了煤样化验样品的自动存取管理，是国内首套完全实现样品存取自动化、数字化、智能化的管理系统。产品价值1、组态设计 灵活部署2、智能识别 自动存取3、弃样预警 自动执行4、自动校准 全样自检5、双模运行 安全可靠6、高效盘点 自动校准

仪器简介：主要用于手性光学活性物质的研究。可用于有机立体化学研究、光学活性物质纯度测试、药物定量分析、天然有机化学、生物化学与宏观大分子、金属络合物化学、聚合物化学、蛋白质折叠研究、蛋白质构象研究、物理化学等技术参数：MOS-450/AF-CD-STP-A 圆二色光谱仪1) 光源: 同时装置两个光源150W氙灯及150W汞氙灯。2) 检测功能: 紫外吸收光谱,圆二色光谱,总荧光谱,光散色谱,线二色谱及荧光各相异性谱。3) 波长范围: 165~900 nm4) 波长准确度:± 0.1 nm (165-900nm)5) 光学系统: 双光栅 (1200条/mm)6) 杂散光: ＜2 x 10-4%(200nm)7) 噪声: 荧光检测: 水拉曼峰信噪比﹥2000:1 紫外检测: 5 x 10-5AU rms 圆二色检测:0.01mdeg8) 基线稳定性: ＜0.01mdeg/hr9) 采样频率: 10 u秒./每点 &ndash 1000 秒/每点。快速动力学停流装置1)混合模式: 三-四路混合, 各路独立步进电机控制。2)最小注射体积: 10uL3)每路流量范围: 0.01 &ndash 1.0mL/秒4)混合比: 可连续变化由1:1至1:1005)混合器: 球型高效率混合池。6)注射针体积:10ml7)最小死時間: 0.25毫秒(用微量检测池附件时)8)扩充能力: 冷冻淬灭,超低温停流,温度跳跃变化(Temp. Jump)及自动滴定,原位微电导检测等。9)软件: 单一软件可自动控制停流反应及光谱测量主要特点：1)一机多功能可检测: 紫外吸收光谱,圆二色光谱,总荧光谱,光散色谱, 线二色谱及荧光各相异性谱2)各路独立步进电机控制快速动力学停流装置

SENTECH RM 1000 QC反射仪设计用于快速简单地测量透明或吸收基材上的透明和半透明薄膜的厚度，用于工业生产过程中的质量控制。该工具涵盖 20 nm 至 50 μm 的膜厚范围，可用于 100 μm 的测试图案。主要功能与优势半自动桌面质量控制SENTECH RM 1000 QC是一款光学反射仪，用于对图案化基板上的薄膜和散装材料进行质量控制。它是小规模和大规模生产中随机抽样、工具鉴定和统计过程控制 （SPC） 的理想选择。通过手动晶圆处理对图案化晶圆进行质量控制SENTECH RM 1000 QC 易于手动装载。然后，对于图案化的 200 mm 晶圆，模式识别、映射测量、分析以及报告结果和统计信息都自动化。集成到实验室和晶圆厂环境中SENTECH RM 1000 QC 可选择通过 SECS/GEM 集成到制造执行系统中。灵活性和模块化SENTECH RM 1000 QC 光谱反射仪提供法向入射的反射率光谱，SENTECH SpectraRay/4 软件分析的参数包括薄膜厚度、吸收、成分、能隙、颜色和光谱带宽。模式识别用于测量结构化样本。该工具的操作流程极其简单，只需放置晶圆，启动自动化过程，工具就会返回准确的模式识别、测量和映射，以及精确、可重复的统计结果。SpectraRay/4 是用于 SENTECH RM 1000 QC 的综合光谱椭偏仪软件。它包括两种操作模式：配方模式和交互模式。配方模式允许轻松执行常规应用程序。交互模式通过交互式图形用户界面引导椭圆测量。

科迈斯三元电池分析仪，便携式三元锂电池光谱仪。科迈斯手持式三元锂电池光谱分析仪检测Ni镍、Co钴、Mn锰等元素及含量，快速区分材料类型（如622型、532型、111型锂电池），正极负极，锂电池，铅酸电池，磷酸铁锂动力电池，高倍率动力电池， 三元动力电池、软包电芯，18650锂电芯、聚合物动力电芯，铝壳电芯，平板电池，拆机良品电池电芯，电动车电池组等。K1000G手持式三元锂电池光谱仪 科迈斯便携式光谱仪技术规格1、环境要求：温度为-20~50℃，相对湿度10~90%(无冷凝)，工作场地附近不能有强磁场、强振动源及高频设备。2、 防水、防尘、防扎、防摔 仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感3、激发源：大功率微型直板电子X射线管，激发电压为35kV；无高压电缆、无射频噪声、更好的X射线屏蔽、更好的散热。 固定电压35kV,电流100uA（美国Moxtek),标配Ag靶，W靶、Rh靶可以选择订制。4、采用KMX技术，更高X射线计数率，仪器内壳喷涂导电银涂料与线路板电子屏蔽布，防止电磁干扰稳定元素分辨率设计。5、探测器：Si-pin探测器，可同时记录分析数据和光谱图；Moxtek Si-PIN探测器(6 mm2 能量分辨率170eV FWHM) 测试元素：合金模式：针对锂电池常规元素定制（钴、镍、锰、铜）矿石模式（钴、镍、锰、铜、LE剩余元素）6、运算方法：KMX-FP无标样测试法，专门针对锂电池回收行业做了数据库修正；7、点触或扣动扳机控制测试开始，测试过程无需长扣扳机。根据客户需求，也可以一直按着扳机测试样品。8、安全性：扳机锁功能，可设定锁定时间。开启时，点触和扳机都无法执行操作；9、电池：原装7.2V大容量可充电锂电池，不拔电池可直接在底部查看电量；标配2个锂电池10、薄膜窗口更换：不需借助工具，即可轻松更换窗口膜；11、操作系统：Window CE 6.0工业级仪器专用操作系统，安全、放心；12、数据显示：元素可根据测试需求，调整元素显示顺序或是否显示；13、数据存储：32GB嵌入存储，标配32G MicroSD卡，可存储150000组数据及其X-Ray谱图，可扩展存储容量；14、数据导出：一种是通过存储设备SD卡或U盘，直接将数据导出；一种是通过PC软件将数据导出；15、数据格式：pdf或Excel格式，包括元素含量、图谱、图像等，并有多种模板供选；仪器设计特点：1、散热性好：超过1/2的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏，带LED背光；像素240×3204、测试数据精准：仪器软件采用基本参数法，K-1688便携式光谱仪在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；可分析Ti，V，Cr，Mn，Fe，Co，Ni，Cu，Zn，Hf，Ta，W，Re，Pb，Bi，Zr，Nb，Mo，Pd，Ag，Cd，Sn，Sb等23元素 手持XRF光谱仪在三元锂电池检测的应用 近年来，三元锂电池市场快速增长，对正负极材料的需求也日益增加。三元材料只要包括NCM(镍钴锰酸锂)和NCA(镍钴铝酸锂)两种，NCM是目前主流的三元材料。大家都知道，锂电池使用不当会引发爆炸，为了避免这种安全事故，也为了确保锂电池的使用寿命，另外在废弃回收再利用方面，也可以避免环境污染。手持XRF光谱仪在三元锂电池的应用场景有哪些呢?电池正极材料鉴别　　过去发生的诸多严重电池事故，多半是由于电池不达标引起的，手持XRF光谱仪对电池的正极材料进行元素以及元素含量的测定，确保电池达标合格。电池制造中的质量控制　　对于电池制造厂家来说，材料、半成品和成品的质量是非常重要的。科迈斯推荐的手持XRF光谱仪可以帮助检测人员可以在无损的条件下，准确地检测每一个锂电池样品，让成品检测更为快捷、高效。废旧电池的回收与分拣 废旧电池中含有大量的锰、钴、镍等重金属元素，而且其电解液中也含有六氟磷酸锂等高毒性物质及挥发物，处置不当会对环境造成严重破坏。电池在回收前，需利用先进的检测设备，现场快速准确分析检测，不仅可以避免污染环境，同时也提升了电池的利用效率、创造新的利润空间，降低电池制作的成本。手持XRF光谱仪可以对大量废日电池进行现场检测和快速分类。数秒便可得出废旧电池的型号和成分含量，为购销双方在交易时作出迅速可靠的判断提供了必要的信息。

OLIS DSM 245CPL Solo plus Circular Dichroism使用这个紧凑的全新分光光度计系统测量处于基态和激发态的手性分子。将其视为 带有 CPL的OLIS DSM 20 CD或 带有圆二色性的 OLIS CPL Solo；两者都是正确的。单光束吸光度、荧光、荧光偏振、圆偏振发光和圆二色性。有两个光谱范围可用，UV 优化或红移。应用领域：光谱扫描&动力学圆二色性光谱扫描&动力学荧光强度光谱扫描&动力学荧光各向异性光谱扫描&动力学圆偏振发光光谱扫描&动力学荧光检测圆二色性标准模型性能：吸光度荧光荧光偏振圆偏振荧光圆二色性支持升级：CLARiTY磷光寿命珀尔帖热控制薄膜支架自动滴定仪OLIS-DM-245.pdf

高端圆二色光谱仪 J-1700特点 J-1700专为更苛刻的近红外CD应用而设计。除了增强的远紫外线能力，研究人员探测分子在NIR光谱区域的手性活性现在有能力获得波长高达2500 nm的数据。 InGaAs检测器具有900-2500nm的波长范围，而PMT范围从163-950nm。自动检测器互换允许研究人员获得远紫外和近红外测量，而不必手动切换检测器。将光栅单色仪添加到双棱镜单色仪设置提供低杂散光和高光强度，产生在大光谱范围内具有高信噪比的CD信号。 NIR-CD应用从金属配位络合物的构象和手性研究到纳米材料的调谐手性性质不同。另外，磁性圆二色性（MCD）可以与NIR-CD结合使用以探测发色团的电子结构以及诱导化合物中的手性。规格&bull 自动检测器切换： PMT(紫外-可见), InGaAs (近红外), InSb (选配) &bull 自动光源切换： 150W 或450W 氙灯(紫外-可见) ，150W钨灯 (近红外) &bull 单色器系统自动调整：双棱镜+光栅分光可选附件 帕尔贴温度控制 积分球（漫反射）附件 波长扩展 微量样品池 自动滴定 荧光圆二色 荧光附件 旋光色散附件 停留附件（快速反应动力学） 线二色 高通量圆二色 磁圆二色附件 液相圆二色联用流通池附件

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CIS / ALS / 光传感器晶圆测试仪SG-O产品介绍：提供您在 CIS / ALS / 光传感器晶圆级测试中所需的一切SG-O 是一款 CIS /ALS / Light-Sensor 晶圆测试仪，它结合了高度均匀的光源和半自动晶圆探测器。高度均匀光源可以提供从 400nm 到 1700nm 的连续白光光谱，以及在许多不同波长下具有一定 FWHM 的单色光输出。探测器可以处理最大。200mm 晶圆尺寸和尺寸大于 1cm x 1cm 的单芯片。SG-O 集成了超低噪音热卡盘，可提供 -60°C 至 180°C 的温度范围，具有快速的升温速度和稳定性。SG-O 提供您在 CIS / ALS / 光传感器设计验证或工艺良率检查中所需的一切。特色:高度均匀的光源1. 从 UV 到 SWIR 的宽光谱范围2. 超过 50mm x 50mm 区域的高度均匀性超过 98%3. 超稳定光强度，可维持不稳定性 0.2% 长达10小时以上4. 高光强动态范围，高达 140dB可编程自动探测器1. 200mm ~ 10mm 晶圆或芯片处理能力2. 用于最准确可靠的 DC / CV、RF 测量3. 稳定的功能显微镜系统4. 整合硬件控制面板5. 自动晶圆装载机6. 智能晶圆映射宽温低噪音卡盘1. 模块化卡盘2. -80°C 至 180°C 的宽温度范围3. 先进的 CDA 热控制技术，高斜坡率和高 T 稳定性4. 用于精确 CIS / ALS/ 光传感器晶圆测试的超低噪声系统设计SG-O CIS / ALS / Light-Sensor 测试仪（晶圆级）系统图。高度均匀的光源由 PC-1 控制。光输出由光纤引导到光学均化器以产生均匀的光束。显微镜和均质器由 PC-1 的自动平移台控制，以切换位置和功能。Prober 系统为 MPI TS2000，由 PC-2 控制。卡盘台的位置也由 PC-2 控制。热卡盘温度可控制在 -55 ℃ 至180 ℃ ，涵盖了大部分 IC 测试温度范围。光强度由一个 Si 光电探测器和一个 InGaAs 光电探测器通过皮安电流表检测和校准。高度均匀的光源光谱范围：400nm 至 1700nm色温：3000K 至 5200K均匀照明面积：42mm x 25mm，工作距离 200mm照度均匀度：优于98%短期光不稳定性：≤ 1% 超过 1 小时长期光不稳定性：≤ 1% 超过 10 小时DUT与最后一个光学组件之间的工作距离：≥200mm工作距离单色光生成： 1. 10nm FWHM 中心波长：420nm, 450nm, 490nm, 510nm, 550nm, 570nm, 620nm, 670nm, 680nm, 710nm, 780nm, 870nm 2. 25nm FWHM 中心波长：1010nm, 1250nm, 1450nm 3. 45±5nm FWHM 中心波长： 815nm 4. 50nm FWHM 的中心波长：1600nm 5. 60±5nm FWHM 中心波长：650nm 6. 70±5nm FWHM 的中心波长：485nm, 555nm 7. 100±5nm FWHM 的中心波长：1600nm带外透光率 ≤ 0.01%带通区峰值传输 ≥ 80%中心波长容差：(a) ≤ ±2nm；(b)~(g) ≤ ±5nmFWHM 容差：(a) ≤ ±2nm；(b)~(g) ≤ ±5nm可变衰减器：PC 控制的 3-decade 分辨率，至少 1000步半自动晶圆探针：晶圆尺寸能力：200mm、150mm、100mm 晶圆和尺寸大于 1cm x 1cm 的单芯片晶圆处理：单晶圆，手动进料型半自动化：一步手动对准教和自动模步进XYZ 平台卡盘 XY 载物台行程：210mm x 300mm卡盘 XY 平台分辨率：优于 0.5um夹头 XY 平台精度：优于 2.0um卡盘 XY 平台速度：最慢：10 微米/秒，最快：50 毫米/秒Chuck Z 载物台行程：50mmChuck Z 平台分辨率：0.2um卡盘 Z 平台精度：±2.0umTheta 平台Theta 载物台行程：± 5 度运动范围Theta 分辨率：优于 0.01 度Theta 精度：0.1 度卡盘卡盘平整度 ≤ 10um卡盘热操作：-60°C 至 200°C25°C 时的卡盘泄漏： 25°C 时在 10V 偏压下每个电压 ≤ 20fA卡盘剩余电容 ≤ 95fF探针卡探针卡尺寸：4.5 英寸至 8 英寸长探针卡座与压板之间的间隙：≥ 7.5mm微型腔室EMI 屏蔽：在 1kHz 至 1MHz 范围内 ≥ 30dB系统交流噪声：≤ 5mVp -p光谱辐照度计光谱范围：400nm 至 1600nm波长分辨率：400nm 到 1000nm 增加步长 1nm；1000nm 到 1600nm 增加步长 3.5nm主要表现 SG-O 系统的操作软件。对于高度均匀光源控制软件，SG-O 提供光源系统控制和光强测量。提供了各个光学组件的 Labview 功能调色板、驱动程序 / DLL 文件。该软件控制所述平移台以促进照射大是在零件的设备。集成链接的整合包括发送 / 接收命令，例如芯片步进、芯片对齐 / 探测等。来自 SG-O 显微镜系统的 CIS / ALS / 光传感器芯片图像SG-O 的高度均匀光源具有一个超稳定的光引擎，在整个波长范围内，短期或长期的光强不稳定性均优于 0.2%。

产品介绍：1）控制系统由程序电脑主机构成，故障率低，可靠性强，操作简单，易于维护。2）切割传动方式通过直线电机转动，提高设备切割精度。3）切割马达采用高精度旋转马达。4）切割采用切割头方式切割。5）切割Z轴在切割过程中可以自动下移设定距离（可以在程序界面里单独设定Z轴速度和位移）。6）可以实现圆切割和好线切割。7）可以兼容切割8inch(200mm直径）/12inch(300mm直径）硅片。8）加工时有安全窗口观察设备内部的加工情况，安全窗口激光透过率需保证操作人员的安全。技术参数 ：技术规格加工片子尺寸 需要换切割载台 8寸、12寸 切割深度 切穿 激光器功率 激光器出口出 W 50工作台承载方式 大理石 工作台行程 mm 150 移动量解析度 mm 0.001X轴 单步步进量 mm 0.001 定位精度 mm （单一误差）0.004以内/5 重复精度 mm 0.003 工作台行程 mm 150 移动量解析度 mm 0.001Y轴 单步步进量 mm 0.001 定位精度 mm （单一误差）0.004以内/5 重复精度 mm 0.003其他规格： 电源 AC 两相220-240V50HZ 最大耗电量 KW 1.8 压缩空气共给压力 MPa 0.4-0.8 排风量（工厂自备） m³ /min 5 设备尺寸（长x宽x高） mm 1400x1170x1800 设备重量 KG 995 排风口口径 mm 100应用范围：该设备为硅片割圆设备，主要应用于大尺寸硅片切割成小尺寸硅片。

晶圆级磁光克尔测量仪利用极向磁光克尔效应(MOKE)，快速全局检测晶圆膜堆的磁性。非接触式测量，避免了传统磁性表征对晶圆的破坏，可应用于图形化前后的样品检测。晶圆级垂直磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试:磁场:最大垂直磁场优于2.5T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS)，适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1um,静态抖动0.25 um。晶圆级面内磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试，磁场:最大面内磁场优于1.4T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS),适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1 um,静态抖动0.25 um 样品360°任意角度旋转。功能及应用场景垂直/面内MRAM磁性存储器、磁传感器膜堆的磁滞回线测量 自动提取磁滞回线信息,，如自由层和钉扎层Hc、Hex、Ms等 可自动进行连续逐点扫描，生成晶圆磁特性分布图 系统预置多点扫描模式:单点、阵列、径向分布,自定义位置列表 系统提供手动加载或全自动操作方式,满足研发/生产需求。

J-1500型高性能圆二色光谱仪 日本分光株式会社成立于1958年，是在东京教育大学光学研究所开发研制出红外分光光度计的成果后成立为企业的。半个多世纪以来，一直专注于光学分析仪器的研发、制造、推广及销售。J-1100、J-1500型圆二色光谱仪是系列中的新型号，其先进的技术和卓越的性能，再一次证实了日本分光在世界手性光学光谱领域的领导地位。主要应用: * 光学活性化合物的结构测定 * 蛋白质，多肽，核酸的构象研究 * 反应动力学 * 热变性，化学变性研究 * 化合物绝对构型的研究 * 为生物大分子研究，蛋白质二级结构提供圆二色谱等技术参数： * 光谱范围：163?950nm(標準PMT) 400?1250nm(可选PMT) 800?1600nm(可选InGaAs) * 光谱带宽：0.01?16nm * 分 辨 率：0.025nm * 杂 散 光：小于0.0003%(200 nm) * 测量范围：±8000mdeg * 噪 音：0.004mdeg 185nm 0.007mdeg 200nm 0.007mdeg 500nm * 扫描方式：自动响应，连续，步进 * 扫描速度：1~10000nm/min * 耗 氮 量：使用时一般3~5 L/min操作模式及选配附件： * 圆二色谱 CD * 旋光色散谱 ORD * 线二色谱 LD * 圆偏振发光谱 CPL * 荧光圆二色谱 FDCD * 停流圆二色谱 SFCD * 停流吸收/荧光谱 Stopped Fow Abs/Fluorescence * 液相色谱手性检测 LCCD * 磁圆二色谱 MCD * 近红外圆二色谱 NIRCD * 总荧光谱 TF * 扫描荧光谱 SF * 自动滴定 Auto-Titration * 双光束紫外光谱 Double Beam UV

Novator二次元影像仪全自动测量仪将传统影像测量与激光测量扫描技术相结合，实现2.5D和3D复合测量。可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator二次元影像仪全自动测量仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。还支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，大幅提升测量效率；具有可独立升降和可更换RGB光源，可适应更多复杂工件表面。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。 激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。 4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。测量界面Novator二次元影像仪全自动测量仪特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。高度测量配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量 3D形貌测量搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。最大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的极限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的最大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

氦质谱检漏仪光无源器件检漏上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 182 TD+ 成功应用于光无源器件检漏光无源器件是不含光能源的光功能器件的总称。光无源器件在光路中都要消耗能量，插入损耗是其主要性能指标。光无源器件有光纤连接器、光开关、光衰减器、光 纤耦合器、波分复用器、光调制器、光滤波器、光隔离器、光环行器等。它们在光路中分别实现连接、能量衰减、反向隔离、分路或合路、信号调制、滤波等功能。 本文主要介绍上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪在无源器件中的检漏应用。无源器件检漏原因：光无源器件是光纤通信设备的重要组成部分，也是其它光纤应用领域不可缺少的元器件。具有高回波损耗、低插入损耗、高可靠性等特点。光无源器件对密封性的要求极高，如果存在泄漏会影响其使用性能和精度，光通信行业的漏率标准是小于 5×10-8 mbar.l/s，因此需要进行泄漏检测。氦质谱检漏法利用氦气作为示踪气体可精确定位，定量漏点，替代传统泡沫检漏和压差检漏，目前已广泛应用于光无源器件的检漏。无源器件检漏客户案例：深圳某知名光通信上市公司，为提高效率，需求大抽速高效的检漏仪，经过上海伯东技术工程师的选型，最终采购氦质谱检漏仪 ASM 182TD+ 用于光无源器件的检漏。光无源器件检漏方法：由于无源器件体积小，且无法抽真空或直接充入氦气，我们采用“背压法”检漏，具体做法如下。1.将被检无源器件放入真空保压罐，压力和时间根据漏率大小设定2.取出无源器件，使用空气或氮气吹扫表面氦气3.将无源器件放入真空测试罐，测试罐连接氦质谱检漏仪4.启动氦质谱检漏仪，开始检漏

日本JASCO 圆二色光谱仪 J-1500 圆二色光谱仪已经成为生物分子表征，绝对构型和立体化学分析测定的重要的技术之一。自从1961年推出第一台圆二色光谱仪后，JASCO已经设计和制造众多高性能圆二色光谱仪。经过半个多世纪的技术积累，JASCO很自豪地推出了第八代圆二色光谱仪J-1500。仪器性能● 增强型真空紫外区测量 J-1500的创新光学系统允许测量真空紫外区域中的CD光谱至163nm。低于200nm的真空紫外区域对于生物分子是至关重要的，特别是在计算蛋白质二级结构的过程中。● 卓越的杂散光和快速扫描功能● 良好的线性和CD动态范围●同时多通道测试 先进的四通道锁相放大器可同时采集多达四个数据通道，包括CD，吸光度，线性二色性（LD），荧光，荧 光检测CD（FDCD），荧光检测LD（FDLD）和荧光各向异性。可选附件 帕尔贴温度控制 积分球（漫反射）附件 波长扩展 微量样品池 毛细管附件 自动滴定 荧光圆二色 荧光附件 旋光色散附件 停留附件（快速反应动力学） 线二色 高通量圆二色 磁圆二色附件 液相-圆二色联用附件

JASCO日本分光株式会社1961年研制生产出圆二色光谱仪投入科研使用后，经多年发展，圆二色光谱仪（ＣＤ）产品技术和各项性能均稳定可靠，随着产品及技术升级，JASCO推出手性全系列产品如圆二色光谱仪、振动圆二色光谱仪、圆偏振发光测量系统、旋光仪等，其先进的技术和更加卓越的性能满足和实现手性物质各方面复杂研究应用。仪器介绍振动圆二色光谱仪是研究各种手性物质的重要表征手段,其中一个非常重要的应用在于分子构型的判定，FVS-6000用于以手性分子构造解析，测定红外区域振动圆偏光二色性的装置。可以获得糖类等在UV/VIS区域没有吸收化合物的光学活性信息以及分子构型判定。拥有先进的DSP电子技术和自动校准功能，可以轻松获得指纹区VCD信号。VCD是研究各种手性物质的重要表征手段,其中一个非常重要的应用在于分子构型的判定 仪器特点1.配备液氮制冷检测器，有助于消除基线漂移，保持长时间基线稳定性2.可测量范围850-3200cm-1,可扩展范围750-4000cm-13.采用28度入射角干涉仪、聚光效率高的光学系统4.光学系统、样品室、检测器都可以进行吹扫、可不受大气的影响稳定测量5.通过使用只透过VCD光谱测量目标吸收带的窄带滤光片（选项），可以实现微小波峰测试6.高强度陶瓷光源，提供充足能量。7.VFT-4000现有JASCO红外光谱仪FT/IR-4000/6000系列的扩张组件、振动圆偏光二色性测定装置利用FVS-6000测试樟脑和蒎烯的图谱：

中图仪器Novator二次元影像测量仪自动测量具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。从精确测量到质量控制，从自动化检测到无损检测，Novator二次元影像测量仪自动测量基于自动边缘提取、自动修剪、自动对焦、测量合成、图像合成等人工智能技术，可以自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。 5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。还有特殊化应用功能以及SPC分析功能，以及单视野闪测功能等。由于不同行业和领域的测量需求各不相同，中图影像仪功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。 Novator二次元影像测量仪自动测量仪器特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。频闪照明和飞拍功能可进行高速测量，测量效率提升5~10倍。如在半导体领域，针对含有小特征多尺寸且无序排列的样品测量，Novator影像仪的飞拍测量模式，在平台快速移动过程中就完成特征提取，使测量流程更流畅，测量时间更短。测量外形尺寸320mm×160mm，含有25920个圆的模具，仅需耗时5分钟，针对此类特征密集排布型工件，飞拍测量充分发挥其优势，对比传统影像测量仪，测量时长由 1小时缩短至 5 分钟，测量效率提升 10 余倍，且测量精度无损失。 部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

创新点：1: 内置帕尔贴控温，提高精度和稳定性；2：有旋光度/比旋度/浓度/糖度及自定义模式；3：LED冷光源代替传统钠光灯和卤钨灯；4：符合21CFR Part 11审计追踪，药典及电子签名；5：支持网络打印，支持数据统计检索；6：多级权限管理，权限可自由配置；7：8寸触摸彩屏，人性化操作界面；8：系统自带自动校准系统。上海卓光GP系列旋光仪是测定物质旋光度的仪器。通过旋光度的测定，可以分析确定物质的浓度，含量及纯度等，广泛地应用于医药、石油、食品、化工、香精、香料、制糖等行业及相关的高校和科研院所。 软件功能：审计追踪：完整版审计追踪和用户分级权限管理， 超级管理员可以修改所有人密码和用户名并可追溯，超级管理员可以修改所有操作员权限，用户帐号有禁用和启用两个功能，人员更替暂时不用删除账户，可以锁定，使用时可以解封，U盘导出PDF和Excel数据防篡改功能。比较完善的审计追踪，登录、退出、修改数据、时间、操作步骤、导出U盘等应有相关记录。用户管理：分级管理，超级管理员分配权限，管理员可以建立多个用户，每个使用者可以使用各自的用户名，登录时输入用户名和密码，用户帐号有禁用和启用两个功能最高权限可修改他人用户名和密码，并可追踪。数据检索功能：方便用户在大量数据库中快速找到想要的数据图谱功能：测试过程中可实时显示图谱，方便做分析内存：可扩展至64G软件升级：支持U盘自动升级，无需返厂主要技术参数：测量模式：旋光度、比旋度、浓度、糖度、自定义光 源：卤素光源+高精度的干涉滤光片工作波长：589.3nm（可切换）测试功能：单次、多次、连续测量方式测量范围：旋光度±90° 糖度±259°Z*分 辨率：0.0001° (旋光度）*示值误差：±0.003°重 复 性：（标准偏差s）0.0005°（旋光度）*温控范围：10℃-60℃(帕尔贴)控温精度：±0.1℃显示方式：8英寸TFT真彩触摸屏试 管：标配 100mm耐腐蚀控温型、200mm、100mm普通玻璃型透 光 率：0.01%*网 络：无线WIFi连接自动校准：有/（常规标准管）用户管理：有/四级管理通信接口：USB连接、RS232连接、VGA、以太网数据存储：32G*审计追踪：有*软件升级：U盘自动升级电子签名：有预存测量方法：500以上多功能数据检索：有自定义公式编辑：有多种文件格式导出:PDF和Excel*打印机：兼容WIFI无线激光打印机和ZG针式/热敏打印机*网络文库：有*图谱分析：实时图谱分析通信接口：USB/键盘/鼠标/通用打印机/ VGA/以太网*用户账户：冻解启停功能语言：中文/英文导出文件验证高等级防护MD5：有用户分级和权限设定：4级*用户找回密码：有*用户名可修改追溯：有修改日期时间追溯：有准确度：符合JJG536-2015中0.01级其他选配件：鼠标、键盘连接、通用打印机/无线网路打印机电 源：220V±22V，50Hz±1Hz，250W仪器净重：28kg

GP80全自智能旋光仪创新点：1: 内置帕尔贴控温，提高精度和稳定性；2：有旋光度/比旋度/浓度/糖度及自定义模式；3：LED冷光源代替传统钠光灯和卤钨灯；4：符合21CFR Part 11审计追踪，药典及电子签名；5：支持网络打印，支持数据统计检索；6：多级权限管理，权限可自由配置；7：10寸触摸彩屏，人性化操作界面；8：系统自带自动校准系统。9：符合GBT14454.5-2008/GBT35887-2018等上海卓光GP系列旋光仪是测定物质旋光度的仪器。通过旋光度的测定，可以分析确定物质的浓度，含量及纯度等，广泛地应用于医药、石油、食品、化工、香精、香料、制糖等行业及相关的高校和科研院所。审计追踪：完整版审计追踪和用户分级权限管理， 超级管理员可以修改所有人密码和用户名并可追溯，超级管理员可以修改所有操作员权限，用户帐号有禁用和启用两个功能，人员更替暂时不用删除账户，可以锁定，使用时可以解封，U盘导出PDF和Excel数据防篡改功能。比较完善的审计追踪，登录、退出、修改数据、时间、操作步骤、导出U盘等应有相关记录。用户管理：分级管理，超级管理员分配权限，管理员可以建立多个用户，每个使用者可以使用各自的用户名，登录时输入用户名和密码，用户帐号有禁用和启用两个功能最高权限可修改他人用户名和密码，并可追踪。数据检索功能：方便用户在大量数据库中快速找到想要的数据图谱功能：测试过程中可实时显示图谱，方便做分析内存：可扩展主要技术参数：测量模式：旋光度、比旋度、浓度、糖度光 源：LED冷光源+高精度的干涉滤光片*工作波长：589.3nm/546nm（可选）测试功能：单次、多次、连续测量方式测量范围：旋光度±90° 糖度±259°Z*最小读数：0.0001° (旋光度）*示值误差：±0.003°重 复 性：（标准偏差s）0.002°（旋光度）*温控范围：10℃-60℃(帕尔贴)*控温精度：±0.1℃*显示方式：10英寸TFT真彩触摸屏试 管：标配 200mm耐腐型控温试管/100mm耐腐蚀控温型)，200mm、100mm普通玻璃型透 光 率：0.01%自动校准：有/（常规标准管）用户权限管理：有/四级管理通信接口：USB连接、RS232连接、VGA、以太网数据存储：32G审计追踪：有方法库：有电子签名：有预存测量方法：有测量数据库：32G*多功能检索：有自定义公式编辑：有多种文件格式导出:PDF和ExcelWIFI打印：无线WIFI打印功能云服务：有其他：标配（200mm耐腐型控温试管和100MM耐腐蚀控温试管，常规玻璃管100MM和200MM）通信接口：USB/键盘/鼠标/通用打印机/ VGA/以太网操作系统：有*语言：中文/英文/德语（自动切换）导出文件验证高等级防护MD5：有用户分级和权限设定：4级用户登录密码保护：有修改日期时间追溯：有仪器等级：0.01级其他选配件：鼠标、键盘连接、通用打印机/无线网路打印机电 源：220V±22V，50Hz±1Hz，250W仪器净重：28kg

GP80全自智能旋光仪创新点：1: 内置帕尔贴控温，提高精度和稳定性；2：有旋光度/比旋度/浓度/糖度及自定义模式；3：LED冷光源代替传统钠光灯和卤钨灯；4：符合21CFR Part 11审计追踪，药典及电子签名；5：支持网络打印，支持数据统计检索；6：多级权限管理，权限可自由配置；7：10寸触摸彩屏，人性化操作界面；8：系统自带自动校准系统。9：符合GBT14454.5-2008/GBT35887-2018等上海卓光GP系列旋光仪是测定物质旋光度的仪器。通过旋光度的测定，可以分析确定物质的浓度，含量及纯度等，广泛地应用于医药、石油、食品、化工、香精、香料、制糖等行业及相关的高校和科研院所。审计追踪：完整版审计追踪和用户分级权限管理， 超级管理员可以修改所有人密码和用户名并可追溯，超级管理员可以修改所有操作员权限，用户帐号有禁用和启用两个功能，人员更替暂时不用删除账户，可以锁定，使用时可以解封，U盘导出PDF和Excel数据防篡改功能。比较完善的审计追踪，登录、退出、修改数据、时间、操作步骤、导出U盘等应有相关记录。用户管理：分级管理，超级管理员分配权限，管理员可以建立多个用户，每个使用者可以使用各自的用户名，登录时输入用户名和密码，用户帐号有禁用和启用两个功能最高权限可修改他人用户名和密码，并可追踪。数据检索功能：方便用户在大量数据库中快速找到想要的数据图谱功能：测试过程中可实时显示图谱，方便做分析内存：可扩展主要技术参数：测量模式：旋光度、比旋度、浓度、糖度光 源：LED冷光源+高精度的干涉滤光片*工作波长：589.3nm/546nm（可选）测试功能：单次、多次、连续测量方式测量范围：旋光度±90° 糖度±259°Z*最小读数：0.0001° (旋光度）*示值误差：±0.003°重 复 性：（标准偏差s）0.002°（旋光度）*温控范围：10℃-60℃(帕尔贴)*控温精度：±0.1℃*显示方式：10英寸TFT真彩触摸屏试 管：标配 200mm耐腐型控温试管/100mm耐腐蚀控温型)，200mm、100mm普通玻璃型透 光 率：0.01%自动校准：有/（常规标准管）用户权限管理：有/四级管理通信接口：USB连接、RS232连接、VGA、以太网数据存储：32G审计追踪：有方法库：有电子签名：有预存测量方法：有测量数据库：32G*多功能检索：有自定义公式编辑：有多种文件格式导出:PDF和ExcelWIFI打印：无线WIFI打印功能云服务：有其他：标配（200mm耐腐型控温试管和100MM耐腐蚀控温试管，常规玻璃管100MM和200MM）通信接口：USB/键盘/鼠标/通用打印机/ VGA/以太网操作系统：有*语言：中文/英文/德语（自动切换）导出文件验证高等级防护MD5：有用户分级和权限设定：4级用户登录密码保护：有修改日期时间追溯：有仪器等级：0.01级其他选配件：鼠标、键盘连接、通用打印机/无线网路打印机电 源：220V±22V，50Hz±1Hz，250W仪器净重：28kg

中图仪器Novator全自动高精度2.5次元影像检测仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。产品优势稳固移动平台、高测量精度1.精密大理石机台，稳定性好，精度高。2.精密线性滑轨和伺服控制系统，超低分贝静音级运动。3.三轴全自动可编程检测，实现复杂特征批量检测。激光扫描成像、3D复合测量1.支持点激光轮廓扫描测量，进行高度方向上的轮廓测量。2.支持线激光3D扫描成像，可实现3D扫描成像和空间测量。3.VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。频闪照明光源、高速硬件飞拍1.具备频闪照明光源，支持频闪和普通双模式。2.支持飞拍模式测量，测量效率提升5~10倍。3.融入中图闪测仪的拼接测量功能，发挥综合优势。可更换RGB表光、独立升降表光1.可更换RGB表光和白色表光，适应多种复杂颜色和材料表面。2.表光可独立升降，更好的观察样品表面。3.支持六环八分区表面光、透射光、同轴光分段编程控制。自动测量，批量更快1.程序匹配工件坐标系，自动执行测量流程。2.支持CAD图纸和Gerber图纸导入，坐标系匹配测量。3、CNC固定坐标系模式下，可快速精确地进行批量测量。操作简单，轻松无忧1.具备大幅面导航相机，快速实现工件定位。2.具有镜头防撞功能，轻松无忧。3.一体化操作界面，任何人都能轻松设定和测量。Novator全自动高精度2.5次元影像检测仪可实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具、计量检测等领域。 测量界面测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。高度测量Novator全自动高精度2.5次元影像检测仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元影像测量仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。 部分技术指标型号Novator432行程范围X(mm)400Y(mm)300Z(mm)200图像传感器高清彩色工业摄像机显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X照明系统透射光远心透射照明（绿色）表面光6环8分区分割照明（白光）；选配，可更换RGB光源同轴光LED光3D扫描成像测量Z向测量范围5mm扫描宽度30mm支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持传感器配置选配，(1)接触式探针；(2)白光共焦；(3)三角激光外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(Kg)650恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。