XAD是一款上照式全元素光谱分析仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,先进的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。 微小样品检测:测量面积小至0.008mm2变焦装置算法:可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm自主研发的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可准确测量先进的解谱技术:减少能量相近元素的干扰,降低检出限高性能探测器:DPP+FAST SDD 窗口面积20/50mm2X射线装置:微焦加强型射线管搭配聚焦装置上照式设计:实现对大型样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量可编程自动位移:选配自动平台,X210*Y230*Z145mm行程内无人值守自动测量多准直器自动切换1. 成分分析范围:铝(Al)- 铀(U)2. 成分检出限:1ppm3. 涂镀层分析范围:锂(Li)- 铀(U)4. 涂镀层检出限:0.005μm5. 测量直径小至□0.1*0.3mm(测量面积小至0.03mm2) 标配:测量直径小至0.3mm(测量面积小至0.07mm2)6. 对焦距离:0-30mm7. 样品腔尺寸:530mm*570mm*150mm8. 仪器尺寸:550mm*760mm*635mm9. 仪器重量:100KG10. XY轴工作台移动范围:100mm*150mm11. XY轴工作台承重:15KG广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、环保检测、地质地矿、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董、锂电行业等多种领域。选择一六仪器的四大理由:1.一机多用,无损检测(涂镀层检测-环保RoHS-成分分析)2.测量面积小至0.002mm23.可检测凹槽0-90mm的异形件4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测
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