相位测试仪

v Keysight N5511A 相位噪声测试系统（PNTS）的量程最低达到 kl（-177 dBm/Hz），让您可以执行物理极限测量。 N5511A PNTS 可替代经典的 Keysight E5500 相位噪声测量系统v 测量能力：绝对或残余相位噪声、AM噪声、CW或脉冲载波、低电平杂散信号。提供单通道或双通道配置v 最大频率：50 kHz至3.0、26.5或40 GHz，或带外部混频器的110 GHzv 偏置频率范围：0.01Hz至160MHz。使用外部信号分析仪可获得更宽的偏移相位噪声灵敏度：-200 dBc/Hz（输入信号+23 dBm）

APPH相位噪声分析仪-高达40GHz 1MHz至40MHz的信号源分析仪APPH是一款高性能相位噪声分析仪和VOC测试仪，其型号范围为1 MHz至7、26或40 GHz。它提供了一整套必不可少的测量功能，用于评估信号源（晶体振荡器，VCO，发射机，锁相环，频率合成器等，范围从VHF到微波频率），以及有源和无源非自激振荡设备，例如放大器或频率。分隔线。带有FPGA交叉频谱引擎的混合信号系统架构可实现非常快速的信号处理和超低相位噪声灵敏度。 内置的可编程电源和低噪声调谐电压使该设备极为灵活且易于使用。描述：APPH是功能齐全的信号源分析仪，其三个型号分别高达7、26和40 GHz。它提供了一组必不可少的测量功能，用于评估从VHF到微波频率范围的信号源，以及有源和无源非自激振荡设备，例如放大器或分频器。带有FPGA互相关引擎的混合信号系统架构可实现非常快速的信号处理和超低相位噪声灵敏度。可以使用随附的桌面软件或使用远程SCPI界面进行自动化测试的单个脚本来执行测量。内置的可编程电源和低噪声调谐电压使该设备极为灵活且易于使用。全套测量功能包括：&bull 连续波和脉冲调制信号的绝对相位噪声测量，以表征振荡器，合成器，信号发生器和其他自激振荡装置&bull 连续波和脉冲调制信号的残留相位噪声测量，用于表征放大器，上/下变频器，混频器，分频器和其他非自激组件&bull 连续波信号的幅度噪声测量&bull 时间稳定性测量，以表征由相位噪声或长达几天的长期频率测量得出的艾伦偏差&bull 瞬态分析，可测量分辨率高达16ns的信号瞬变或调制&bull 压控振荡器（VCO）的全自动振荡器特性，包括频率参数，功率，电流消耗，推动和相位噪声&bull 监视单载波信号的频谱APPH适用于许多应用：&bull 实验室信号源的相位和幅度噪声测量&bull 评估脉冲信号和放大器&bull 生产线中的自动化测试&bull 分析信号的频率和功率瞬变，调制和信号的长期特征规格：频率范围APPH20G: 1 MHz至26 GHz, APPH40G: 1 MHz至40 GHz, APPH6040: 1 MHz至7 GHz输入功率范围-15至+20 dBm偏移范围0.01 Hz至100 MHz尺寸 (W x L x H), 重量467.5 x 342 x 154 mm [18.4 x 13.5 x 6.1 in], 10 kg测量功能艾伦偏差，幅度噪声（CW和脉冲），频率计数器，抖动，相位噪声（绝对和附加，CW，脉冲或突发模式），频谱监视，频率/功率/相位瞬态，VCO测试特征：APPH是一款一体式紧凑型测量系统，具有广泛的功能，可在0.001 Hz至100 MHz的偏移范围内实现低至-190 dBc / Hz的测量。通过提供内部和外部参考选项，可以增加系统的灵活性和动态范围。内部基准可以提供快速的测量设置和快速的测量，而外部基准可以改善系统的本底噪声性能。可编程的低噪声电源和偏置调谐电压端口可用于为DUT供电，而无需使用外部电源。可以使用随附的提供所有测量模式的桌面应用程序来控制APPH。另外，也可以通过以太网，USB或GPIB上的SCPI接口控制测量仪器。应用：&bull 超低相位噪声晶体振荡器分析&bull 通用相位噪声和幅度噪声分析&bull 脉冲信号分析&bull 相位噪声的高速生产测试&bull 放大器、发射机、混频器的加性相位噪声特性&bull 时钟的时间稳定性分析&bull VCO测试选件：AM幅度噪声测量LN超低噪声内部源添加了激活低噪声内部基准的选项，从而提高了近端相位噪声性能，提升绝对相位噪声测量的性能PULSE脉冲信号测量BURST突发模式相位噪声测量（需要选项TRAN）允许从窄带瞬态分析测量中得出相位噪声。可以屏蔽频率与时间的测量，以选择一个特定的时间范围，以此计算相位噪声。对于极端的脉冲调制条件，甚至非周期性的脉冲序列以及非常长或短的脉冲参数，都可以得出相位噪声。APN附加噪声测量测量非自激组件（放大器，混频器，PLL）的相位噪声TRAN瞬态分析频率，功率和相位的短期时域分析。窄带和宽带功能TSTAB时间稳定性分析长期稳定度艾伦偏差测量VCOVCO表征自动表征压控振荡器。参数是频率，Kvco，电流消耗，功率输出，推动和相位噪声。SPEC频谱监测LO内部参考输出以进行残余相位噪声测量（需要选件APN）GPIBGPIB接口WE一年保修（标准：2年）ReCal原厂测试数据重新校准（建议：两年间隔）配件APNS可追溯的AM / PN噪声标准PS061-6 GHz机械移相器PS184-18 GHz机械移相器APPH60407 GHz 信号源/相噪分析仪APPH20G26 GHz 信号源/相噪分析仪APPH40G40 GHz 信号源/相噪分析仪

微机继电保护测试仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪华宝牌微机继电保护测试仪，微机继保仪是华宝电气生产供应的，青岛市平度华宝电气有限公司研制生产的微机继电保护测试仪，微机继保仪功率大、质量好、功能全、保护完善是电力部门推荐产品HB-K20086，1、嵌入式真彩工控机也可外接笔记本电脑2、Windows XP操作系统自带恢复系统，上位机USB连接，具备GPS同步试验功能3、主控板采用DSP+FPGA结构，功放采用高效耐用高保真线性功放4、自动手动测试各种继电器、及整组试验，具有精度软件自较准功能5、输出6路电压6路电流轻松实现差动试验6、ACA6×40A或1×90A，DCA3×20A，ACV 6×120V，DCV0～250V，3U00～120V， 频率0～1000Hz，相位0～360度，时间 0～999。999S，输出功率1000VA7、外形440×180×320mm,重16Kg8、保护完善，升级简单、掌握迅速关键词：微机继电保护测试仪,智能型微机继保仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪 。 HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

哈特曼波前测试仪　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。WFS150系列特点：实时照射和相位测量CW或脉冲光源CCD相机指标：型号：DCU224M分辨率：1280× 1024快门速度：83-1460ms最大帧率：15帧/秒尺寸：34× 32× 48.3mm接口：USB2.0软件特点：计算参量照射和相位分布模式或区域的重建波前波前RMS斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示显示/输出：初始点场成像强度分布重建3D波前表列高度输出微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列 有效焦距 特点 WPS150MLA150-7AR.7mm AR膜（400-900nm） WPS150CMLA150-5C5.2mm 铬掩模（200-1100nm）　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

KD500A 电容电感测试仪一、KD500A 电容电感测试仪概述 电容电感测试仪主要是对无功补偿装置的高压并联电容组，以及电抗器的测量，其测量依据，符合SJ-255-10300电容测量仪国家标准。针对变电站现场高压并联电容器组测量时存在的问题而专门研制，它主要解决了以下问题：△ 现场测量电容器不需拆除连接线，减化试验过程、有效提高工作效率、避免损害电力设备；△ 完整参数测量，极易判别电容器的品质变化，及器件间连接导体故障；△ 大容量数据存储，微型打印机和USB通信，不需现场抄写数据，多方式保存测量数据。二、KD500A 电容电感测试仪特点△ 本仪器采用了先进的测量原理与四端测量技术，可以精确测量、测试重复性能好；△ 大屏幕高清真彩液晶显示屏（800X640点阵），汉字菜单提示操作；△ 液晶屏幕自带触屏按键，使操作直观、简单；△ 电流自动分段补偿，使全量程电流线性化，提高了仪器测量精度；△ 环境温度监测，便于电容器在不同温度下对容值的影响；△ 新一代USB通信功能简化与PC机连接，方便于测量数据传输和管理；△ 自带微型打印机，不需抄写数据，即可现场打印测试结果。三、KD500A 电容电感测试仪检测参数项目电容器1.电容值C2.电压值U3.电流值I4.频率值F5.有功功率量P7.电抗值XC8.电阻值R9.相位角φ6.无功功率值Q电感器1.电感值L2.电压值U3.电流值I4.频率值F5.有功功率量P7.电抗值XL8.电阻值R9.相位角φ6.无功功率值Q四、KD500A 电容电感测试仪技术参数△ 环境温度：-10℃ ～ +40℃；△ 相对湿度：≤90%；△ 工作电源：220V±10%工频；△ 额定频率：50Hz；△ 额定输出：25V/40A/500VA；△ 仪器体积：390×280×220mm（长×宽×高）；△ 重量：约10kg；五、测量范围及误差值电容测量档位：误差值：(1) 0.010μF ～ 0.200μF ±0.5%；(2) 0.200μF ～ 2.000μF ±0.5%；(3) 2.000μF ～ 20.00μF ±0.5%；(4) 20.00μF ～ 200.0μF ±0.5%；(5) 200.0μF ～ 20000.μF ±0.5%； 电容器无功功率：0～ 20.00Mvar误差值：±1%；电容器有功功率：0～ 20.00kW误差值：±1%；电容器损耗因数：0～ 20.00%误差值：±1%；电容器电阻分量：0～ 10.00MΩ误差值：±1%；电容器容抗分量10mΩ～ 200kΩ误差值：±1%； 电感测档位：误差值：(1) 0.10mH～ 0.200H±0.5%；(2) 2.000H～ 20.00H±0.5%；(3) 20.00H～ 200.0H±0.5%；(4) 200.0H～ 2000.H±0.5%； 电感器无功功率：0～ 20.00Mvar误差值：±1%；电感器有功功率：0～ 20.00kW误差值：±1%；电感器损耗因数：0～ 20.00%误差值：±1%；电感器电阻分量：0～ 10.00Ω误差值：±1%；电感器感抗分量：10mΩ～ 200kΩ误差值：±1%；六、钳形传感器测量范围及误差（部件）电流测量档位(AC)：误差值：0.000mA～ 50.00A±0.2%七、产品成套部件数量部件数量电容电感测试仪1钳形电流传感器1测试电压线和夹子2短接线 、接地线2电源线15A保险管250V3使用说明书1产品出厂合格证1打印纸13μF测试电容1八、公司简介 武汉雷科电力有限公司坐落于国家网络安全人才与创新基地东西湖区，是一家专注于智能电网诊断技术的高新技术企业。专注于电力系统二次测试、在线监测、检测设备的研发、生产与销售，集电力系统检测方案、电气试验及新能源检测服务于一体。经过多年匠心耕耘，公司已成为分布式故障诊断技术行业的标准制定者和领航者，公司“输电线路分布式故障诊断系统”在长达23余万公里的输电线路上累计应用超过2.8万套，成功诊断线路故障3300余次，产品质量及应用成熟度在行业内受高度认可。 雷科电力秉承“专业专注，创新创业”的企业精神。在技术上不断开拓、创新，雷科电力产品先后获得了包括国家科技进步奖、中国电力科技进步一等奖、中国南方电网公司科技进步一等奖在内的众多荣誉 在服务上周到、细致，公司建立了覆盖全国的服务网络，为客户提供7*24小时快捷、专业、标准的技术服务。雷科电力致力于成为全球智能电网诊断技术解决方案提供商。销售服务电话：、公司电话： 手机号码： 微信号码： 同手机号 网址：

产品简介ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 又称微机继电保护测试仪、六相继电保护测试仪、六相继保仪、六相微机继保仪、六相继保测试仪及工控机六相微机继电保护测试仪，六相微机继电保护测试仪是继电保护装置专用电力测试仪。六相微机继电保护测试仪是 参照《微机型继电保护试验装置技术条件》依据继电保护测试标准GB7261-2008而研发的一种新型工控微机继电保护测试仪。ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 装置有8路开入和4路开出，六相微机继电保护测试仪开关量输入电路可兼容空接点和0～250V电位接点，电位方式时，0～6V为合，11～250V为分，微机继电保护测试仪开关量可以方便地对各相开关触头的动作时间和动作时间差进行测量，UAWJ-1200A六相微机继电保护测试仪采用高速数字控制处理器作为输出核心，六相微机继电保护测试仪软件上应用32位双精度算法产生各相任意的高精度波形由于采用内部源独立处理结构，结构紧凑，修正了笔记本电脑直接控制式测控仪中因数据通信线路长、频带窄导致的输出波形点数少的问题，六相微机继电保护测试仪是继保工作者得心应手的好工具。主要特点 1、满足现场所有试验要求。本仪器具有标准的六相电压，六相电流输出，电压125V/相，电流30A/相。六相并联可达180A。既可对传统的各种继电器及保护装置进行试验，也可对现代各种微机保护进行各种试验，特别是对变压器差功保护和备自投装置，试验更加方便和完美。 2、各种技术指标完全达到电力部颁发的DL/T624-1997《继电保护微机型试验装置技术条件》的标准。 3、经典的Windows XP操作界面，人机界面友好，操作简便快捷；高性能的嵌入式工业控制计算机和8.4寸分辨率为800×600的TFT真彩显示屏，可以提供丰富直观的信息，包括设备当前的工作状态及各种帮助信息等。 4、本机Windows XP系统自带恢复功能，避免因非法关机或误操作等引起的系统崩溃。 5、配备有超薄型工业键盘和光电鼠标，可以象操作普通PC机一样通过键盘或鼠标完成各种操作。 6、主控板采用DSP+FPGA结构，16位DAC输出，对基波可产生每周2000点的高密度正弦波，大大改善了波形的质量，提高了测试仪的精度。 7、功放采用高保真线性功放，既保证了小电流的精度，又保证了大电流的稳定。 8、采用USB接口直接和PC机通讯，无须任何转接线，方便使用。 9、可连接笔记本电脑（选配）运行。笔记本电脑与工控机使用同一套软件，无须重新学习操作方法。 10、具备GPS同步试验功能。装置可内置GPS同步卡（选配）通过RS232口与PC机相连，实现两台测试仪异地进行同步对调试验。 11、配有独立专用直流辅助电压源输出，输出电压分别为110V（1A），220V（0.6A）。以提供给需要直流工作电源的继电器或保护装置使用。 12、具有软件自较准功能，避免了要打开机箱通过调整电位器来校准精度，从而大大提高了精度的稳定性。技术参数产品型号ULWJ-12001．交流电流源单相电流输出（有效值）0 - 30A/相，精度：0.2% ±5mA六相并联输出(有效值)0 - 180A/六相，同相位并联输出相电流长时间允许工作值(有效值)10A每相最大输出功率 320VA六相并联电流最大输出功率1000VA六并电流最大输出允许工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz，精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°，精度0.1°2．直流电流源直流电流输出0--±20A/相，精度：0.2% ±5mA2．交流电流源相电压输出（有效值）0--125V/相，精度：0.2% ±5mV线电压输出（有效值）0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°，精度：0.1°4．直流电压源相电压输出幅值0--±150V，精度：0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5．开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA，24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点：低阻短接信号有源接点：0-250V DC开关量输出端子4对，空接点，遮断容量：110V/2A，220V/1A6．其他时间范围1ms--9999s，测量精度：1ms体积重量体积 570 (mm)×250 (mm)×580 (mm)，约32Kg电源AC220V±10%，50Hz，10A

产品简介 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪又称三相微机继电保护测试仪及三相微机继电保护校验仪，三相微机继电保护测试仪是继电保护专用电力测试仪。三相微机继电保护测试仪具有4相电压3相电流输出，适用于各种类型继电保护装置试验。三相微机继电保护测试仪每相电压可输出120V，电流三并可输出120A，第4相电压Ux为多功能电压项，可设为4种3U0或检同期电压，或任意某一电压值的情况输出。 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪是 在参照电力部颁发的《微机型继电保护试验装置技术条件(讨论稿)》的基础上，广泛听取用户意见，总结目前国内同类产品优缺点，充分使用现代先进的微电子技术和器件实现的一种新型小型化微机继电保护测试仪。该三相微机继电保护测试仪采用高性能工控机作为控制微机，直接运行Windows操作系统，装置面板带有8.4"TFT真彩色LCD显示器、轨迹球和优化键盘，不用外接鼠标或键盘就可直接使用。装置背板设有USB口、10-100M网口、串行通信口等，可方便地进行数据存取、数据通信和进行软件升级等。该三相微机继电保护测试仪在试验的全过程及试验结果均在LCD显示屏上显示，全套汉字化操作界面，清晰亮丽，直观方便。操作控制由轨迹球和面板键盘进行。操作简单方便，只需简单的计算机知识，极易掌握。3相微机继电保护测试仪是继保测试工作者得心应手的好工具。主要特点 1、电压电流输出灵活组合： 三相微机继电保护测试仪具有标准4相电压3相电流输出，可方便地进行各种组合输出进行各种类型保护试验。每相电压可输出120V，电流三并可输出120A，第4相电压Ux为多功能电压项，可设为4种3U0或检同期电压，或任意某一电压值的情况输出。 2、操作方便：该三相微机继电保护测试仪面板设有轨迹球鼠标、优化键盘以及大屏幕TFT液晶显示器，该三相微机继电保护测试仪内置全中文Windows平台操作软件。开机即可使用，操作方便快捷。 3、双操作方式：除了单机操作外，三相微机继电保护测试仪还可以外接笔记本电脑或台式机进行操作，两种方式功能完全一致，真正完整的双操作模式。 4、新型高保真线性功放：输出端一直坚持采用高保真、高可靠性模块式线性功放，而非开关型功放，性能卓越。不会对试验现场产生高、中频干扰，而且保证了从大电流到微小电流全程都波形平滑精度优良。 5、高性能主机：该三相微机继电保护测试仪输出部分采用DSP控制，运算速度快，实时数字信号处理能力强，传输频带宽，控制高分辨率D/A转换。输出波形精度高，失真小线性好。采用了大量先进技术和精密元器件材料，并进行了专业化的结构设计，因而装置体积小、重量轻、功能全、携带方便，开机即可工作，流动试验非常方便。 6、软件功能强大：该三相微机继电保护测试仪可完成各种自动化程度高的大型复杂校验工作，能方便地测试及扫描各种保护定值，进行故障回放，实时存储测试数据，显示矢量图，联机打印报告等。 7、该微机继电保护测试仪具有独立专用直流电源输出：装置设有一路110V及220V专用可调直流电源输出。 8、接口完整：装置面板上有自带键盘和鼠标，能进行单机操作，也可通过键盘和鼠标接口外接键盘和鼠标进行操作；还带有两个USB口和RS232口，可与计算机及其它外部设备通信。 9、保护功能：散热结构设计合理，硬件保护措施可靠完善，该微机继电保护测试仪具有电源软启动功能，软件对故障进行自诊断以及输出闭锁等功能。 10、轻小型高集成单机和一体化结构：三相微机继电保护测试仪采用了大量高科技精心设计的超轻小型结构，使得整机极其小巧轻便。技术参数1．交流电流源单相电流输出（有效值）0 - 40A/相，精度：0.2% ±5mA三相并联输出(有效值)0 - 120A/三相同相位并联输出三相电流长时间允许值10A每相最大输出功率 420VA三相并联电流最大输出功率1000VA三并电流最大输出工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz，精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°，精度0.1°2．直流电流源直流电流输出0--±20A/相，精度：0.2% ±5mA3．交流电压源单相电压输出（有效值）0--125V/相，精度：0.2% ±5mV线电压输出（有效值）0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°，精度：0.1°4．直流电压源单相电压输出幅值0--±150V，精度：0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5．开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA，24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点：低阻短接信号有源接点：0-250V DC开关量输出端子4对，空接点，遮断容量：110V/2A，220V/1A6．其他时间范围1ms--9999s，测量精度：1ms体积重量体积 460 (mm)×250 (mm)×580 (mm)，约27Kg电源AC220V±10%，50Hz，10A型号对比802系列三相继电保护测试仪型号对比 型号 ULWJ-802ULWJ-802AULWJ-802Bb国产工控机台湾产工控机研华PC104工业级工控机显示屏台湾友达TFT显示屏日本夏普显示屏日本夏普显示屏功放模块国产功放模块国产插件日产功率模块全进口功放模块，稳定性极高 精度电压电流0.5级±5mA电压电流0.2级±5mA电压电流0.1级±5mA 交流电流输出(有效值)AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相 交流电压输出(有效值)AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相直流电流输出DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相直流电压输出DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相交流电流并联AC:120A,最大800WAC:120A,最大800WAC:120A,最大800W直流线电压DC:300V,最大180WDC:300V,最大180WDC:300V,最大180W交流线电压AC:250V,最大100WAC:250V,最大100WAC:250V,最大100W频率范围0--1000Hz，精度：0.001Hz0--1000Hz，精度：0.001Hz0--1000Hz，精度：0.001Hz谐波次数2--20次2--20次2--20次相位0--360°，精度：0.1°0--360°，精度：0.1°0--360°，精度：0.1°开关量输入8对8对8对点位翻转低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点开关量输出4对，遮断容量：220V/1A4对，遮断容量：220V/1A4对，遮断容量：220V/1A时间范围1ms--9999s，精度：1ms1ms--9999s，精度：1ms1ms--9999s，精度：1ms主机尺寸410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm单机重量20.5kg20.5kg20.5kg外机箱尺寸470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm包装箱尺寸540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm包装后重量38kg（采用标准进出口木箱）38kg（采用标准进出口木箱）38kg（采用标准进出口木箱）

仪器简介：HCX09A薄膜热物性测试仪 该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。技术参数： HCX09A薄膜热物性测试仪 该仪器用于测试薄膜材料热物性参数。薄膜物理指出当物体很薄时，同样材料薄膜状态的物性与容积状态的物性不一定相同，因此对薄膜物性的测量必须在薄膜状态下进行。根据物体表面温度按余弦（或正弦）规律变化时的瞬态实验模型。采用温度波法来测试薄膜材料的热物性参数，由于薄膜是有限厚的一维模型。在这一状态下，当温度振荡频率达到一定值后，利用样品上、下表面温度的相位差计算导温系数或导热系数。仪器专用于研究薄膜材料热物性特性。 主要技术参数： 1．导热系数范围：0.05～20w/m&bull k 2．仪器实现数字化测温，精度优于0.2级。 3．测量结果，准确度 ± 3% 4．计量加热功率可调节± 1%。 5.样尺寸要求：圆柱体￠15--30*5--30mm . 6.温度和保护气氛按用户要求定制。 7.配接计算机实现全自动测试分析。

SiC碳化硅功率器件动态特性测试系统 我们专业致力于功率元器件的测试仪器设备，主要致力于碳化硅器件的测试仪器设备。 我们的优势在于能够深入的进行理论运用到实践中。技术能力和实践能力的结合，才能在市场上推出使用方便，测试结果准确的高技术产品 我们的工程师具有超过20年的大功率半导体专业设计及测试评估的经验 如有任何需求，欢迎与我们联系各种电子测试的需求。 全面的测试方案：双脉冲测试 用于碳化硅二极管 和FETs检测 高压器件 1.2 kV - 1.7 kV - 3.3 kV - 4.5 kV 及更高 功率器件（包括模块） 电压可调至：50 A ( 500 A )清晰的开关波形 非常低且非常容易判断寄生现象精确 包含分析和补偿程序为模具，紧凑型包装，模块组件而设计 裸芯片, TO220, TO247, TO254, 任何碳化硅模块模块化和前瞻性 新包装和模块化的可调谐开关插头高温测试 DUT 集成化加热器- 可调谐到 250°C快速 快速部署，测试周期 短标准和具体应用 集成化或定制栅极驱动器；寄生现象可调谐高性能系统 工业等级设计及制造安全 IEC61010安全标准设计 技术规格动态特性主要针对于是碳化硅技术中的功率器件的特性，也同样应用于碳化硅技术的的各种仪器设备的特性。基于碳化硅技术的半导体功率器件动态性能测试是我们的核心技术。随着碳化硅测试设备的快速发展需要对带宽和寄生原件的测试需求。如：负载感应器和直流电等寄生元器件将会成为碳化硅功率器件的使用方案。功能：描述SiC离散变量的动力学行为配置：在相位腿配置的二极管mosfet(或IGBTs)设备等级：优化的额定电压600V到4500V 优化额定电流10A到50A包装：可与TO220,TO247,TO254包接口的装置系统接受其他包的fixture输入电压：230Vac, 50Hz，单相接地保护输入电流：8A保险丝额定值：10A，T，250V直流电压范围：100V to 4500V开关电流范围：10A to 50ADUT温度:热板温度可调至200℃

WPA-100镜头双折射应力测试仪快速定量测量透明材料的应力双折射分布相位差、双折射和内部应力分布操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 小型镜头双折射分布測量系統WPA-100最适合用來检测手机镜头的双折射/相位差以雙折射/相位差結果為基準自動判定合格與否鏡片的雙折射現象，會造成鏡片的成像性能(MTF)下降。這是因為決定光線折射角度的折射率因入射偏光而呈現不穩定的狀態。智慧型手機所使用的鏡片需要高度解析度，因此減少雙折射現象，及掌控雙折射的數值，是製造智慧型手機鏡片時，不可缺少的動作。WPA-100-S正符合這樣的需求，並能以高速完成各項測量。 WPA-100小镜片双折射应力测试仪产品特点： 大的测试范围图表功能CSV格式输出快轴/慢轴可选择自动的合格与否判定 l 可升级至满足小于φ10mm的透镜的检测。l 自动选择图形区域和自动判定合格与否的功能。 WPA-100 小镜片双折射应力测试仪主要参数表：型号WPA-100-S测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288（≒11万）pixels测量波长523nm,543nm,575nm产品尺寸200x275x309.5mm观测到的面积11.6x15.8mm自身重量和电源重量9kg和4kg电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View (for WPA-100-S)

泄漏电流测试仪用于测量电器的工作电源（或其他电源）通过绝缘或分布参数阻抗产生的与工作无关的泄漏电流,是衡量电器绝缘性好坏以及产品安全性能的主要指标。RK2675AM泄漏电流测试仪适用于家电产品，电脑周边设备，电机产品，通信产品，灯饰产品，小家电制品，照明设备，电子零组件，变压器，马达，压缩机，电热管，电线，电缆，整机等，以及强电系统的泄漏电流的测试。产品特点 1、可测量各种低压用电设备的泄漏电流 2、测试电压，泄漏电流和测试时间均为数字显示 3、泄漏电流值及测试时间均可预置 4、泄漏电流超限时有声光报警 5、测试相位能自动/手动转换 6、测试时间、报警值可连续设定 技术参数技术规格泄漏测试工作电压AC 0-250V±5% ±2个字泄漏电流测试范围AC 0-2mA/2mA-20mA 两档±5% ±3个字泄漏电流报警值AC 0.1-2mA/2mA-20mA 两档±5% ±3个字（可连续任意设置报警值）时间范围1-99s（连续设定和手动±1%）输出波形50Hz正弦波工作条件环境温度0～40℃ 相对温度不大于75% 大气压力101.25kPa电源220±10% 50z±2Hz

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

卧式光弹系数测试仪型号：ANA6000P-H（图示带钠光灯光源和加载架的光弹仪）产品简介：产品名称：卧式光弹系数测试仪型 号：ANA6000P-H应 用：高精度测量光弹材料（如各种玻璃）的光弹系数，以图像形式直观观察被测件的应力分布和应力集中情况。安赛斯光弹系数测试仪(ANA6000P-H)是应用偏振光干涉原理对应力作用下能产生人工双折射材料做成的力学构件模型进行实验应力测试的仪器，简称光弹仪。应用它可以通过模型在实验室内进行大型建筑构件、水坝坝体、重型机械部件的应力和应力分布的测试，并可以在模型上直接看到被测件的全部应力分布和应力集中情况。主要技术参数：&bull 测试面积（即光源尺寸）：70- 180mm；&bull 应力双折射量程：&bull 基本型: 1/4波长（以红光为例：157.5nm）；&bull 增强型：2296nm (通过蓝绿光双波长法测试和解包裹处理)；&bull 测试分辨率与精度：&bull 应力双折射测试分辨率：0.05nm, 精度：0.5nm；&bull 光弹系数测试分辨率：0.1 nm/cm/MPa,， 精度：0.2 nm/cm/MPa。产品特色：本产品与立式光弹仪具有相同工作原理，但为了提高测试精度，采取了以下措施：（1） 采用了高质量的偏振光学器件，以保证光的偏振特性和质量；（2） 采用了单色性更好的光源，如钠光灯和激光；（3） 强化了光束的准直性（平行性）传播，以减少光在传播过程与理想偏振状态的偏离；（4） 采用了远心成像透镜，以提高成像质量。（5） 以增量法进行光弹系数计算；（6） 数据处理全自动化，并自动生产测试报告。光弹仪工作原理设：圆盘试件（直径D, 厚度d）受对径压缩载荷 F 的作用，试件中心点O 的主应力分别是： （1）根据应力-光学定律，应力双折射材料的主应力差与相位差（&varphi ）的关系如下： （2）其中C 为待求的光弹系数，λ 为测试光的波长。将（1）（2）关联起来，有： （3）通过光弹实验确定圆形试件中心点的位相差&varphi ，即可得到光弹系数。光弹仪光路原理图实验示意及应用范围： 利用应力双折射性质，在工程上可以制成各种机械零件的透明塑料模型，然后模拟零件的受力情况，观察、分析偏振光干涉的色彩和条纹分布，从而判断零件内部的应力分布。对径压缩圆盘的相位差场分布应力双折射信息圆盘径向受压实验： U型块压弯组合实验：光弹性方法直观,能直接显示应力集中区域，并准确给出应力集中部分的量值；它不但可以得到便捷应力而且能够求的结构的内部应力。特别是这一方法不受形状和载荷的限制，可以对工程复杂结构进行应力分析。获取更多产品咨询，请联系安赛斯（ANALYSIS）工作人员，400 8816 976

经皮电阻测试的意义 皮肤作为具有局部和全身作用的药物的给药途径近年来受到了相当大的关注。然而,药物透过皮肤并发挥其药理活性的主要障碍是皮肤的固有屏障角质层(stratum corneum,SC)。角质层是皮肤的最上层,由充满角蛋白的角质细胞和细胞间脂质组成。在进行药物、化妆品透皮扩散试验(IVPT)和3D表皮模型体外功效评价时,以目视、电阻抗值(Trans-Epidermal Electrical Resistance,TEER )和经皮水分流失量(Trans-pidermal Water Loss,TEWL )等为指标,进行猪皮、鼠皮,培养皮肤等离体皮肤切片模型的功能完整性评价(Integrity test)，使用皮肤屏障合格的皮肤模型试样对保证试验结果的准确性非常重要。AS-TZ1经皮电阻测试仪特点：● 通过测量电阻抗进行离体皮肤的屏障完整性的评估筛选，可以减少药物透皮吸收试验，化妆品功效测试的数据偏差● 通过电阻抗可评价皮肤试样的屏障功能● 测量时间为数秒● 通过施加低频交流，可获得稳定的测量值● 可进行阻抗和相位显示● 通过电池驱动，可在各种环境下使用AS-TZ1经皮电阻测试仪的操作过程将待测试用的实验皮肤切片（如实验用猪皮、鼠皮等动物离体皮肤，3D重组表皮模型等）夹在两个腔体之间（如Franz扩散池的供给池和受体池），每个腔体中注入0.9%的NaCl溶液，并在每个腔体中插入氯化银电极，测量电极之间的电阻抗。评价方法因使用的细胞而异，作为经皮吸收实验的准备，根据电阻抗测定结果对使用的皮肤膜进行特性评价和筛选。此外，屏障功能降低的角质层细胞往往具有较低的阻抗，从水和角质层的电阻抗来评价生物皮肤屏障功能。 AS-TZ1经皮电阻测试仪规格型号AS-TZ1测试原理低频交流电阻测量测量参数电阻、延迟相位测量范围阻抗 0.5-99KΩ 相位角 0-90度 重复性±2%（0.1-10 kΩ）±1%（10-99 kΩ）测量电极氯化银、银电极各1根电压5V 工作频率12Hz屏幕尺寸65x15mm机身尺寸190x60x200mm电源6VDCAS-TZ1经皮电阻测试仪的应用1. 制药行业皮肤外用药、经皮给药等制剂研发体外透皮试验中离体皮肤完整性评价相关研究2. 外用药、经皮给药制剂配方研发中渗透促进剂( chemical penetration enhancers）的筛选

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

一、产品介绍ABX-R2-A型剩余电流动作特性测试仪是按照标准GB16917.1-2014/GB16916.1-2014制作的，它是专门用于小型漏电断路器动作特性的自动校验。仪器以ARM-7高速处理器为核心，配以高速真有效值A/D转换器和带市电跟踪的DSS正弦信号发生器及功率放大器，仪器自动输出电流，可进行动作电流、动作时间等试验项目，是塑壳漏电断路器校验的理想设备。 1、产品外观 仪器由液晶显示屏、电源、输出开关、输出插座等部分，操作简便、显示清晰，美观大方。2、功能特点?24位高速高精度真有效值AD转换，对动作电流及电压进行精确采样?高速处理器对动作时间进行精确采样?支持标准Modbus-RTU通讯协议?支持常规产品动作电流快速选择及非常规产品动作电流单独设置?32位嵌入式处理器，高速处理大量通讯数据?RS232/485全速率异步串行通信接口，zui大波特率可达115200bps?输入输出信号隔离保护，工作安全?软硬件看门狗WDT设计，保证系统稳定?配置参数存储于flash存储器，掉电不丢失，永jiu保存?软硬件抗干扰设计，可适应电磁环境较为恶劣的场合 3、性能指标?工作电源：AC220V±10%。?工作功耗：zui大300W。?人机界面：5寸液晶屏?电流、电压显示精度：1级；电流分辨率0.1mA；电压辨率0.1V。?电流输出范围：AC：0~2000mA,?隔离电压输出：50V,187V,220V,242V.，?计时精度：5mS，分辨率1mS。?A型相位选择：0度(800mA)、90度(500mA)、135度(300mA)?A型极性选择：正极、负极、正极+DC6mA、负极+DC6mA。?工作环境：-20～70℃，90%RH（无凝结）。?存储环境：-30～75℃，90%RH（无凝结）。?外型尺寸：49*37*34(L×W×H，mm)。?重量：约20kg。 二、工作原理剩余电流动作特性测试仪直接将市电压通过档位切换及调节后供给试品电压输入端，同时信号板采集市电频率及相位同步产生正弦信号经功率放大后得到试品的模拟漏电流施加到试品上，主控板分别采集试品输入电压、输出电压及漏电流后，通过软件分析计算后得到试品的动作电流及动作时间等数据。其原理框图如下： 三、操作说明界面按钮操作说明 【A/AC型】；切换A型或AC型【电流极性】：在进入A型操作界面后调节电流极性【角度】：在进入A型界面后调节角度（0°，90°，135°）【DC6mA】：在A型界面调节±6mA【功能键】：进入界面后，可以调节起始比例（起始电流百分比），上升速率（调节测试速度），手/自动切换，地址设置{点击【旋钮】选择项目，旋转【旋钮】进行调节}【校准】：进入后可手动调节输出电流大小，与标准表对比【ABC相】：在4P产品测试时可以点击选择漏电流施加在那一相（默认A相）【时间倍数】：在时间测试时使用，输出电流会是当前档位电流乘以【时间倍数】（默认1倍，再次点击会改变倍数）【电流档位±】：在测试项目时，点击增加或减小电流档位【电压档位±】：在测试项目时，点击增加或减小电压档位【电流】：漏电电流（缓变）测试界面【时间】：按一次为漏电时间（突加）测试，按两下进入【闭合测试】：测试合闸断开【按钮】测试产品按钮【测试】为手动状态下，启动按钮 开机自动进行测试画面功能界面介绍

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)　图1 并联电路的矢量图　图2 串联电路的矢量图3.2.2.2 讨论——b:串联模型——对于某种具有电介质损耗（图3）的绝缘材料，其并联模型通常是适当的模型，其总是能和偶尔要求模拟在单频率下电容Cs与电阻Rs串联（图4和图2）的某个电容器。　图3 并联电路　图4 串联电路3.2.3 损耗角（缺相角），（δ），名词——该角度的正切值为耗散因子或反正切值K''/K'或者其余切值为相位角。3.2.3.1 讨论——相位角和损耗角的关系见图1和图2所示。损耗角有时成为缺相角。3.2.4 损耗指数，K''（ε''），名词——相对复数电容率虚数部分的大小；其等于相对电容率和耗散因子的乘积。3.2.4.1 讨论——a——它可以表示为：K''=K' D=功率损耗/（E2×f×体积×常数） 　　　(7)　　　　　当功率损耗采用瓦特为单位，施加电压采用伏特/厘米为单位，频率采用赫兹为单位，体积（是指施加了电压的体积）采用立方厘米为单位，此时的常数值为5.556×10-13。3.2.4.2 讨论——b——损耗指数是国际上协定使用的术语。在美国，K''以前成为损耗因子。3.2.5 相位角，θ，名词——该角度的余切值为耗散因子，反余切值K''/K'，同时也是施加到某一电介质的正弦交流电压与其形成的具有相同频率的电流分量之间的相位角度差值。3.2.5.1 讨论——相位角和损耗角之间的关系见图1和图2所示。损耗角有时也称为缺相角。3.2.6 功率因子，PF，名词——某一材料消耗的功率W（单位为瓦特）与有效正弦电压V和电流I之间乘积（单位为伏特-安）的比值。3.2.6.1 讨论——功率因子可以采用相位角θ的余弦值（或损耗角的正弦值δ）来表示：　　　　　　（8）　　　　当耗散因子小于0.1时，功率因子与耗散因子之间的差值小于0.5%。可从下式找到它们的准确关系：　　　　　　（9）3.2.7 相对电容率（相对介电常数）（SIC）K'（εr），名词——相对复数电容率的实数部分。它也是采用某一材料作为电介质的某一给定形状电极等效并联电容Cp与采用真空（或空气，适用于多数实际用途）作为电介质的相同形状电极电容Cv之间的比值。K'=Cp/Cv　　　　　　　　　　　（10）3.2.7.1讨论——a——在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。3.2.7.2 讨论——b——从经验来看，真空在各处必须采用材料来替代，因为其能显著改变电容。电介质等效电路假设包含一个电容Cp，该电容与电导并联。3.2.7.3 讨论——c——Cx视为图3所示的等效并联电容Cp。3.2.7.4 讨论——d——当耗散因子为0.1时，串联电容大于并联电容，但是两者差值小于1%，而当耗散因子为0.03时，两者差值小于0.1%。如果测量电路获得串联部分的结果，在计算修正值和电容率之前，并联电容必须由公式5计算得出。3.2.7.5 讨论——e——干燥空气在23℃和101.3kPa标准压力下的电容率为1.000536（1）。6其从整体的背离值K'-1与温度成反比，同时直接与大气压力成正比。当空间在23℃下达到水蒸气饱和时，电容率增加至为0.00025（2,3），同时随着温度（单位为℃）从10到27℃近似发生线性变化。对于局部饱和，增加值与相对湿度成正比。4.介电常数测试仪试验方法摘要4.1 电容和交流电阻测量在一个样本上进行。相对电容率等于样本电容除以（具有相同电极形状）真空电容计算值，同时很大程度上取决于误差源分辨率。耗散因子通常与样本几何形状无关，同时也可以依据测量值计算得出。4.2 本方法提供了（1）电极，装置和测量方法选择指南；和（2）如何避免或修正电容误差的指导。4.2.1 一般的测量考虑：边缘现象和杂散电容 　　　受保护电极样本几何形状 　　　　　　　　　真空电容计算边缘，接地和间隙修正4.2.2 电极系统—接触式电极中航鼎力仪器电极材料 　　　　　　　　　　　　　金属箔片导电涂料 　　　　　　　　　　　　　烧银喷镀金属 　　　　　　　　　　　　　蒸发金属液态金属 　　　　　　　　　　　　　刚性金属水4.2.3 电极系统—非接触式电极固定电极 　　　　　　　　　　　　　测微计电极液体置换法6 括号里的粗体字参阅这些试验方法附属的参考文献清单。4.2.4 电容和交流损耗测量装置和方法选择频率 　　　　　　　　　　　　　　　　　直接和替代方法两终端测量 　　　　　　　　　　　三终端测量液体置换法 　　　　　　　　　　　精度考虑5.介电常数测试仪意义和用途中航鼎力仪器5.1 电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在靠前种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至较小。影响电容率的因子讨论见附录X3。5.2 交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3。5.4 相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。6.介电常数测试仪一般测量考虑6.1 边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。除了要求的直接电极之间电容Cv之外，在终端a-a'看到的系统包括以下内容：

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

KDHG-F1 互感器综合特性测试仪是一种专门为测试互感器：伏安特性、变比、极性、误差曲线、计算拐点、交流耐压和二次侧回路检查等设计的多功能现场试验仪器。实验时仅需设定测试电压、电流值，设备便能够自动升压/升流，并将互感器的伏安特性曲线或变比、极性等实验结果快速显示出来，支持数据保存和现场打印，不但省去手动调压、人工记录、描曲线等繁琐劳动，还能通过USB接口将测试数据上传到电脑进行编辑保存或打印。操作简单方便，提高工作效率，是一种性价比较高的高科技产品。伏安特性测试基于先进的变频原理，输出仅180V的交流电压和5A（峰值15A）的交流电流，却能应对拐点高达45KV的CT测试。功能全面，可用于各种型号CT、PT的励磁、变比、相位、极性、二次绕组电阻、负荷、比差以及角差等稳态或暂态特性测试。自动给出拐点电压/电流、10％误差曲线、5％误差曲线、准确限值系数（ALF）、仪表保安系数（FS）、二次时间常数(Ts)、剩磁系数(Kr)、准确级、饱和和不饱和电感等参数。可遵照GB1208-2006(IEC60044-1)、GB16847-1997(IEC60044-6)等不同的标准对CT、PT进行测试和计算。界面友好美观，5.7寸图形LCD显示、全中文图形界面。采用旋转光电鼠标操作，操作简单，快捷方便，极易掌握。装置可存储3000组测试数据，掉电不丢失。面板自带打印机，可自动打印生成的试验报告。测试方便，除了负荷测试外，其他各项测试都是基于同一接线。

凝点倾点测定仪,全自动凝点倾点测试仪铁路凝点倾点测定仪,地铁全自动凝点倾点测试仪,机车专用凝点倾点测定仪华宝电气与华豪电力研制生产的凝点倾点测定仪测试仪采用微机控制、高性能制冷器，具有故障自我诊断功能，分析试样速度快,重复性好,准确，大屏LCD显示器 中文显示,向导式操作是电力石化试验人员的得力助手。HB-ND+， QQ11231349681、适用标准：GB/T510、GB3535，能测凝点倾点2、微机控制 中文液晶显示,向导式操作,测定过程全部自动化(自动制冷控温，自动检测),实现对试样的自动化分析3、采用高性能制冷器 具有故障自我诊断功能4、分析试样速度快,结果准确、重复性好、稳定可靠、操作简便5、重复性：凝点 2℃，倾点 3℃，制冷极限：温差＞70℃6、温度检测：铂电阻(Pt100Ω) 信息储存：100个数据7、适用于炼油厂、电力、铁路、航运、石油公司及油料商业部门对轻质油的凝点倾点的测定关键词：凝点倾点测定仪,自动凝点倾点测试仪,凝点测定仪,全自动倾点测试仪铁路凝点倾点测定仪,地铁全自动凝点倾点测试仪,机车专用凝点倾点测定仪主要产品：微机继电保护测试仪、瓦斯继电器校验台、气体继电器校验仪、大电流发生器、热继电器校验仪、检漏继电器校验仪、电缆芯线对号器、直流高压发生器、高压数字兆欧表、变压器油耐压测试仪、直流电阻测试仪、回路电阻测试仪、电缆故障测试仪、多功能电力参数测试仪、模拟断路器(开关)、试验变压器、交直流耐压装置、伏安特性综合测试仪、智能钳型相位伏安表、核相器、开关动特性测试仪、变压器变比组别测试仪、变压器容量损耗测试仪、单/双钳式接地电阻测试仪、有载分接开关测试仪、液体介损电阻率测试仪、绝缘油含气量测试仪、气体密度继电器校验仪详情请登录：或或查询。HB是华宝电气的简称，购买时请认准青岛华宝电气以防假冒

美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量，能够准确测试激光器光源的超低相位噪声。通过方便快捷的软件界面进行操作，能够瞬间测试3Hz以下的激光器线宽，无需复杂的搭建系统。产品特点：n 超窄线宽/频率噪声测试n 快速实时测量n 瞬时线宽和扩展线宽分析n 无需低噪声参考光源 n 接受客户定制，升级可选项：n 测量范围覆盖620nm~2.2μmn 超低噪底n RIN测试n 扩展补偿频率范围到500MHzn 扩展输入光功率范围主要参数：参数1530-1565nm输入（其它波长可定制）频率噪声灵敏度10Hz100Hz1kHz1MHz标准噪底250 Hz/√Hz50 Hz/√Hz10 Hz/√Hz3 Hz/√Hz超低噪底选项50 Hz/√Hz10 Hz/√Hz2 Hz/√Hz0.2 Hz/√Hz洛伦兹线宽灵敏度10 Hz 10 μS (标准噪底)0.5 Hz 10 μS (超低噪底)相位噪声噪底-160 ± 2 dBc/Hz 10 MHz线宽测试范围（FWHM）标准噪底：1 kHz ~ 10MHz (10 ms)超低噪底：3 Hz ~ 30 kHz ( 10 ms)动态范围60 dB光输入功率范围+5 dBm ~ +15 dBm (PM-FC/APC)偏移频率范围10Hz ~ 1MHz测量类型零差相位/频率噪声RIN选项（噪底：-158 ± 2 dB/Hz1 MHz）带宽分辨率0.1 Hz ~ 200 kHz

立式光弹仪型号：ANA6000P-V产品简介：产品名称：立式光弹仪型 号：ANA6000P-V应 用：测试 SiC晶圆、手机膜、显示屏、石英玻璃等器件内部的应力双折射/残余应力，以图像形式直观观察被测件的应力分布和应力集中情况。安赛斯光弹系数测试仪(ANA6000P-V)是应用偏振光干涉原理对应力作用下能产生人工双折射材料做成的力学构件模型进行实验应力测试的仪器，简称光弹仪。应用它可以测试 SiC晶圆、手机膜、显示屏、石英玻璃等器件内部的应力双折射/残余应力，以图像形式直观观察被测件的应力分布和应力集中情况。主要技术参数：1. 测试面积（即光源尺寸）标准尺寸为300 mm×300mm，其它尺寸可以定制，最大600mm×500mm；2. 相机参数2248*2048原始分辨率，输出4幅1224*1024的偏振图像。帧率36或79。3. 应力双折射量程 基本型: 量程为工作波长的1/4（以红光为例，量程即157.5nm）；增强型：2296nm。需要采用蓝、绿两种颜色的光源进行测试，并进行相位解包裹处理； 3. 测试分辨率与精度以 0.8mm 厚的钙钠玻璃为例：应力测试的分辨率为 0.2MPa：应力测试的精度：1.0MPa。应力双折射的测试分辨率：0.1nm, 精度：1.0nm；产品特色：与传统/常规的光弹仪相比，本光弹仪具有如下特点：1. 结构简单主要部件包括：偏振光源、倾斜平台（用于晶体试件测试）、滤光片转轮、像素偏振相机、高配笔记本电脑（内存 16G 以上）及处理软件，不含任何可旋转的光学偏振器件。2. 操作简单，可以实现快速甚至实时测试 只需一次拍照即可同时获取试件的相位差场和主应力方向场，避免了传统方法在定量测试时的复杂操作，且在平面应力的条件下可以分离出各应力分量；3. 灵敏度高且不受环境光的干扰测试灵敏度是传统光弹法/设备的两倍（物理灵敏度），且无论相位差多小，都可以用最大的灰度梯度图像表示（显示灵敏度高）；由于采用不同偏振图像之间的相减运算，使得测试几乎不受环境光的干扰。4. 多种测试波长可选并快速切换切换方式包括RGB 三色 LED 光源（中心波长分别为：625nm、525nm 和 465nm）的切换以白光光源下不同的窄带滤光片的轮换。5. 可以根据客户要求定制产品在某些特殊情况下，客户需要用自己的相机和光源，我们可以根据需要对产品进行定制，最大程度满足客户的需要。安赛斯光弹仪工作原理设：圆盘试件（直径D, 厚度d）受对径压缩载荷 F 的作用，试件中心点O 的主应力分别是： （1）根据应力-光学定律，应力双折射材料的主应力差与相位差（&varphi ）的关系如下： （2）其中C 为待求的光弹系数，λ 为测试光的波长。将（1）（2）关联起来，有： （3）通过光弹实验确定圆形试件中心点的位相差&varphi ，即可得到光弹系数。光弹仪光路原理图实验示意及应用范围： 利用应力双折射性质，在工程上可以制成各种机械零件的透明塑料模型，然后模拟零件的受力情况，观察、分析偏振光干涉的色彩和条纹分布，从而判断零件内部的应力分布。对径压缩圆盘的相位差场分布 应力双折射信息圆盘径向受压实验： U型块压弯组合实验：光弹性方法直观,能直接显示应力集中区域，并准确给出应力集中部分的量值；它不但可以得到便捷应力而且能够求的结构的内部应力。特别是这一方法不受形状和载荷的限制，可以对工程复杂结构进行应力分析。获取更多产品咨询，请联系安赛斯（ANALYSIS）工作人员，400 8816 976

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTMD150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

橡胶塑料介电常数测试仪主要测试橡胶，塑料等产品的有效电容率得出介电常数值 有效的电感一套可任意更换 实现不同的频率 可达到70M 赫兹 可以测试固体也可以测试液体：介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε' r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε' r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε' r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε' r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。橡胶塑料介电常数测试仪技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目GDAT-A频率范围10kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～160MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。 电极分开调节 圆筒电极 与平板电极 分开测量不能用一体电极 精度较差！ 特点：量程高，精度好！无需换算彩色触摸屏系统可设置 无需切换广公司自主研发电性能专业检测仪器 序号设备名称设备型号测试指标备注1电压击穿试验仪BDJC10KV-50KV介电强度、泄漏电流介电强度、泄漏电流2体积表面电阻测定仪BEST-121体积电阻率、表面电阻率液晶显示3体积表面电阻率测定仪BEST-212体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试4体积表面电阻率测定仪BC-330体积电阻率、表面电阻率液晶触摸、电阻率直接测试,可打印存储5导体电阻率测定仪BEST -19导体电阻率触摸屏6半导体电阻率测定仪BEST-300C半导体电阻率触摸屏7高频介电常数测试仪GDAT--A介电常数、介质损耗测试频率50HZ-160MHZ8工频介电常数测试仪BQS-37A介电常数、介质损耗测试频率50HZ9耐电弧试验仪BDH-20KV耐电弧微机控制、触摸屏控制10高压漏电起痕试验仪BLD-6000V高压等级测试电压6KV11耐电痕化指数测定仪BLD-600V漏电痕迹、电痕化CTI\PTI电压600V12拉力试验机BWN系列13氧指数试验仪经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、准检测 保质保量 准检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术创新理念 储备开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造精良的检测仪器。

介电常数测试仪的使用和功能 介电常数测试仪的使用和功能介电常数, 用于衡量绝缘体储存电能的性能. 它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。 介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。介电常数测试仪就是测量绝缘材料的介电常数能力 介电常数的定义介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε' r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε' r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε' r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε' r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 注意事项：测试装置使用结束后，请及时关闭液晶显示屏的电源，可延长电池的寿命。如果电池发出电压低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既可取下十字盖冒，更换电池。2．本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，可以送生产厂家定期检查，要检测以下几个指标：平板电容器二极片平行度在0-5mm间连续不超过0.05 mm。圆筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。 介电常数测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～160MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

产品综述 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪频率范围可达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz，集双端口矢量网络分析、电缆和天馈线测试、矢量电压测量、频谱分析（通道功率、邻道功率、占用带宽、干扰分析、频率计数）、场强测量、功率测量等多项功能于一体，为您提供强大的综合测试能力！双端口矢量网络分析：可快速准确地对射频微波网络参数进行测量，提供对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等多种显示格式，且提供时域测量选件。电缆和天馈线测试：可实现对天馈线、传输线、电缆等射频微波网络的驻波比、回波损耗、阻抗、电缆损耗等参数进行测量，具有不连续点定位（DTF）功能，可方便地测量馈线、电缆中的阻抗不连续点。矢量电压测量：采用一体化方案代替传统的矢量电压计，可对电缆及其他一些被测件的电长度进行测试。频谱分析：可对电磁环境下频谱特性进行测量，是一台标准功能的频谱分析仪。 场强测量：用户界面友好、测试灵敏度高，配合相应的测试天线，可有效监视电磁波谱，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。 功率测量：配置USB功率探头，可实现大动态范围、高精度功率测量，也可通过频谱输入口进行功率监测。主要特点测试功能丰富：天馈线测试、矢量网络分析、频谱分析、场强测量、功率监测、矢量电压测量、USB功率测量等体积小、重量轻、三级环境适应性，便于机动携带和特殊场合测试8.4寸液晶触摸屏，操作简便，人机界面友好，结果显示直观测试数据可存储调用，提供三种存储介质：内部存储器、USB外部存储器、SD外部存储器可电池供电，适合野外使用，智能电源管理，具有剩余电量指示和低电量告警功能，具有休眠节能功能具有八个独立光标显示功能，光标位置可随手指滑动具有数据存储、回放和比较功能具有USB、LAN等接口，可实现程控和数据传输网络分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列网络分析频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，提供标准的S参数矢量网络分析测量能力，可进行放大器、滤波器、衰减器、双工器等器部件S参数测试，显示格式包括对数、线性、相位、群延时、Smith圆图、极坐标、驻波比等。频谱分析：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列频谱分析功能（频谱分析、通道功率、占用带宽、邻道功率比、频率计数）频率范围为9kHz~6.5GHz、100kHz~18GHz/26.5GHz/40GHz，具有频率范围覆盖宽、灵敏度高、动态范围大、相位噪声好等特点，可实现快速、高效的信号侦测和测量。可同时显示3条迹线，并且有标准、取样、正峰值、负峰值、均值等不同的检波器模式选择。具有干扰分析、频谱图、瀑布图、数据记录和回放功能。电缆和天馈线测试（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪作为电缆和天馈线测试仪能够对电缆、馈线等被测件的回波损耗、电压驻波比、阻抗、电缆损耗、故障点距离进行测量，回波损耗和故障点距离测量将帮助您确定天馈线系统中导致系统性能下降的具体原因。内置一些常用电缆、馈线参数，方便使用。矢量电压测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列矢量电压测量频率范围为30kHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz、50MHz~40GHz，可对被测件的电长度和相移进行匹配测量，可进行反射和传输测试。USB功率测量(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列可通过选用电科思仪872XX系列USB连续波/峰值功率探头进行功率测量，可以测试频率高达40GHz的射频/微波功率。功率监测(选件)：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪也可通过频谱输入口进行功率监测测量，频率范围10MHz~6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz。场强测量（选件）：4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列配合相应的测试天线还可进行场强测量，广泛应用于空间电磁环境监测和无线电管理。支持用户天线，允许用户定义自己的天线。支持列表扫描频谱分析、天馈线测试、网络分析等除频率扫描外，还都支持列表扫描方式，各个段内参数相互独立。支持上下极限线频谱分析、天馈线测试、网络分析都支持极限线测试。极限线可以作为一个可视的参考，也可作为PASS/FAIL判断的依据，如果测试数据超过上极限线或者低于下极限线，扬声器将发出“滴”的声音来提醒用户数据已经超差。中英文菜单，易使用机内提供中英文两种菜单，一键切换，非常方便。休眠节能功能具有休眠节电功能，休眠时间可设置，休眠功能开启时，若在一定时间没有操作，会自动关闭显示或关机，节省电能，有效延长电池工作时间和电池使用寿命。更多的光标数提供多达8个独立的光标，可显示光标所在位置的参数，也可进行最大、最小或峰值的搜索，每个光标都提供△模式，使测试读数更加容易。另外显示屏左侧的标尺可方便对测试结果的好坏进行判断。U盘自动软件升级4957B/D/E/F提供可用于软件升级及数据备份的USB接口，您可以方便地利用U盘对仪器进行软件升级及维护，只需几步操作，简单快捷，升级完毕重启仪器即可。典型应用 4957B/D/E/F射频/微波综合测试仪系列体积小、重量轻、携带方便，测试参数多，测试功能全面，非常适合多参数测试场合，可电池供电，是各种微波电子设备现场工程安装、调试、日常维护维修的有力工具，可广泛运用于雷达、通信、广播电视、无线电管理等各领域，也是高校教学的选择。雷达主要性能参数测试作为功能齐全的综合测试仪，4957B/D/E/F在高达6.5GHz/18GHz/26.5GHz/40GHz频率可完成雷达天馈、发射和接收等分系统的主要性能参数测试，包括天馈分系统的驻波比、反射系数、插入损耗、回波损耗和阻抗特性等，发射分系统的发射信号频率、频谱特性等，接收分系统的中心频率、增益、差损、带宽、动态范围等。有线电视、无线通信等领域多参数测试有线电视、蜂窝电话系统、数字移动通信运营商和设备制造商等利用4957B/D/E/F在现场对频谱分布、天馈线接触性能、器部件的S参数、馈通功率等进行一体化测试。

ES-516A等系列雷击浪涌测试仪输出精度，操作简单智能，广泛用于各个工业领域。◆ 产品特点1、被测样品容量范围AC:0~220V/20A DC:0~110V/20A2、试验电压范围：0.1kV~6kV3、波形光滑，无毛刺现象4、耦合去耦合网络自动切换5、浪涌电压、相位输出6、每次浪涌冲击，波形在屏幕上实时显示（选配）7、浪涌冲击后，支持样品损坏报警。8、自动储存报告，模板可选9、设备稳定性好，10、支持HDMI、USB高清触控投屏◆ 符合标准IEC61000-4-5标准、GB/T17626.5、EN61000-4-5、美国ANSI◆ 技术参数雷击浪涌测试仪规格容量 ES-516A ES-516BAC: 0~220V/20A DC: 0~110V/20A AC: 0~220V/32A DC: 0~110V/32A浪涌电压输出范围 0.1kv~6kV浪涌电流范围 0.05kA~3kA步进电压 0.1kV~2kV自由设定输出电压精度 ＜±5%输出电压极性 正极、负极、正负交替、负正交替输出波形 浪涌综合波开路电压波 :1.2us 脉冲宽度:50us短路电流波 :8us 脉冲宽度:20us阻抗 2Ω、12Ω、40Ω耦合方式 共模、差模耦合电容 差模9uF，共模18uF退耦电感 1.3mH脉冲间隔时间 7~600s可调节（根据脉冲电压范围而定）注入角度 异步、同步相位角 0~359°，角度分辨率为1°可调标准相位 0°、90°、180°、270°IEC标准 内置，直接调出即可按照IEC或者GB/T标准测试脉冲次数 1~9999次触发方式 自动、手动、外部触发绝缘电阻 电源输入端与外壳间电阻大于10MΩ耐压 电源输入端与外壳间 AC：1500V时长一分钟交流耦合去耦合网络 内置单相三线自动耦合去耦合网络直流耦合去耦合网络 内置直流自动耦合去耦合网络网络切换方式 自动切换被测样品容量 AC：0~220V/20A Max DC：0~110V/20A Max操作系统 Android屏幕 1280×800LCD彩色液晶触摸显示，支持10点触控语言 中文、英文切换其他接口 HDMI、RS485、USB等二次开发 支持RS485程控使用环境 温度：10℃~40℃，湿度：30%~70%设备供电 AC：100~250V@50Hz/60Hz外形尺寸 4U/19"标准机箱重量 14kg◆ 应用领域低压电器、通讯通信、仪器仪表、家用电器、轨道交通、医疗器械、汽车电子、电力、灯具照明、工业设备等等

岩联技术YL-SWS面波测试仪是一款具备安全防爆箱、24位高性能AD、专有向导式软件操作设计等功能，主要适用于查明地下地质构造工程的产品。 产品用途：1、 岩联YL-SWS面波测试仪用于查明地下地质构造，划分覆盖层及进行岩性分层。2、瞬态面波测试仪地质体卓越振动周期检测，波速测试等。3、 探测滑坡体的滑动带和滑动面起伏形态。4、面波测试仪探测构造破碎带；探测地下隐埋物体、古墓遗址、洞穴和采空区。符合规范：《多道瞬态面波勘察技术规程JGTT143-2004》 YL-SWS特点：1、岩联YL-SWS面波测试仪采用安全防爆箱，封闭式接头，整机防水性好；2、面波测试仪有双屏工作模式，现场操作和远程操控更直观、高效；3、瞬态面波测试仪有低功耗平台+嵌入式操作系统，仪器功耗更低，连续工作时间大于12小时，同时可外接；4、YL-SWS面波测试仪电源扩展工作时间；5、面波测试仪24位高性能AD，各通道同步采样，采样间隔准确，为反演提供真实可靠的数据；6、通道可任意进行扩展，通道数可至252道；7、有向导式软件操作设计，操作简单快捷；8、YL-SWS面波测试仪同时支持有线、无线两种工作方式，无线稳定距离大于50米。 YL-SWS面波测试仪性能参数：型号YL-SWS面波测试仪主控单元外置笔记本显示屏4.7”真彩液晶显示屏供电模式内置高性能复充锂电池≥12小时数据传输USB工作模式有线/无线可选采样间隔4~40000uS 分档可选采样分辨率24位AD动态范围110dB道间串扰1/500通道相位误差0.1ms频率带宽0.1~5000Hz通道数12/24工作温度-20℃ ～ +55℃ 面波测试仪配置：YL-SWS主机1台　平板电脑1台 触发传感器1套GD-28，30m面波检波器12个单只串小折射线1根　电源适配器1个12.6V/3A　手机U盘1个8G，存储数据，内含典型数据、典型报告、使用说明书、采集软件升级提醒文档、面波勘探原理PPT等。仪器箱1个X280黄色　拟合软件1套附件1份说明书、产品合格证、测试证书检波器支架15个2个备用合金垫板1个橡胶垫板1个地震锤1个