薄膜分析仪

PHI 4700薄膜分析仪产品介绍产品名称：薄膜分析仪产品型号：PHI 4700品 牌：日本ULVAC-PHI产 地：日本前言在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决制程上的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技术为基础，搭配高感度半球型能量分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析，提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇扫描纳米探针。它提供了高度自动化，成本效益的方案进行例行俄歇深度分析和微米范围的故障分析。 PHI 4700可以轻易的配备上互联网的设备，以供远程操作或监控之用。优点量化薄膜的成分 层的厚度测量检测相互扩散层 微米范围多点分析基本规格全自动多样品纵深分析: PHI 4700薄膜分析仪在微小区域之纵深分析拥有绝佳的经济效益，可在SEM上特定微米等级之微小区域快速进行深度分析。图2显示长年使用的移动电话镀金电极正常与变色两个样品之纵深分析结果，两者材质皆为镀金之锡磷合金。从电极二（变色电极）可看到金属锡扩散到镀金膜上，因为界面的腐蚀而产生氧及锡导致电极变色。高感度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高传输输入镜头可提供最高的灵敏度和大幅缩短样品侦测时间。除此之外，具有全自动的量测功能，此装置可在短时间内测量多个样品。点选屏幕上软件所显示的样品座，可以记录欲量测的位置，对产品与制程管理上之数据搜集可进行个别分析。10 kV LaB6扫瞄式电子枪：PHI的06-220电子枪是基于一个以LaB6为电子源灯丝以提供稳定且长寿命电子枪的工具，主要在氩气溅射薄膜时进行深度分析。06-220电子枪还可以：产生二次电子成像，俄歇测绘和多点分析。在加速电压调节从0.2至10千伏。电子束的最小尺寸可保证小于80纳米。浮动柱状式Ar离子枪：PHI的FIG- 5B浮动柱状式Ar离子枪:提供离子由5伏到5千伏。大电流高能量离子束被用于厚膜，低能量离子束（250-500 V）用于超薄膜。浮动柱状式，确保高蚀刻率与低加速电压。物理弯曲柱会停止高能量的中性原子，从而改善了接口定义和减少对邻近地区的溅射。五轴电动样品台和Zalar方位旋转：PHI 15-680精密样品台提供5轴样品传送：X，Y，Z，旋转和倾斜。所有轴都设有摩打及软件控制，以方便就多个样品进行的自动纵深分析。样品台提供Zalar（方位角）旋转的纵深剖析，透过减少构件与溅射在一个固定样本的位置，以优化纵深分析。PHI SmartSoft用户界面：PHI SmartSoft是一个被认同为方便用者使用的操作仪器软件。软件透过任务导向和卷标横跨顶部的显示指导用户从输入样品，定义分析点，并设定分析。多个分析点的定义和最理想样品的定位是由一个强大的&ldquo 自动Z轴定位&rdquo 功能所提供。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设立测量及其模板。可选用配备热/冷样品座样品真空传送付仪（Sample Transfer vessel）应用领域半导体薄膜产业微电子封装产业无机光电产业微摩擦学

产品简介：BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪，可准确测试滤膜、隔膜、织物、纤维、陶瓷、烧结金属等材料的通孔的最大孔径、最小孔径、平均孔径、孔径分布及渗透率，适用于研发、生产过滤材料及相关的科研单位和企业用户。BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪产品特点： 孔径测试范围：0.02-500um；多样品池设计针对不同尺寸样品，特殊样品可单独设计；具有全自动真空助润装置，可大大加速浸润时间，提高测试效率50%以上；根据待测样品不同，多种浸润液体可选；高精度双流量传感器，流量分段测量，量程互补，自动切换；高精度双压力传感器，分段压力测试，程序自动判断，自动切换；全不锈钢管路，金属硬密封，密封性好，耐压高，耐腐蚀；全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；多项专利技术保障仪器稳定性和准确性； 气体流动法薄膜孔径分析仪测试理论： 以某种膜材料为例，将膜用可与其浸润的液体充分润湿，由于表面张力的存在，浸润液将被 束缚在膜的孔隙内；给膜的一侧加以逐渐增大的气体压强，当气体压强达到大于某孔径内浸润液的表面张力产生的压强时，该孔径中的浸润液将被气体推出；由于孔径越小，表面张力产生的压强越高，所以要推出其中的浸润液所需施加的气体压强也越高；同样，可知，孔径最大的孔内的浸润液将首先会被推出，使气体透过，然后随着压力的升高，孔径由大到小，孔中的浸润液依次被推出，使气体透过，直至全部的孔被打开，达到与干膜相同的透过率； 首先被打开的孔所对应的压力，为泡点压力，该压力所对应的孔径为最大孔径； 在此过程中，实时记录压力和流量，得到压力-流量曲线；压力反应孔径大小的信息，流量反应某种孔径的孔的多少的信息；然后再测试出干膜的压力-流量曲线，可根据相应的公式计算得到该膜样品的最大孔径、平均孔径、最小孔径以及孔径分布、透过率。气体流动法薄膜孔径分析仪专业制造商贝士德,测试精度高,重复性好,气体流动法薄膜孔径分析仪提供专业的售前技术支持和优质的售后服务.

薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户。薄膜相变分析仪技术特点：1、精密光学测量技术，可进行单层、多层和超小样品的测量,且灵敏度更高2、非接触式信号采集，避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺点3、先进的光探针技术，使得采样范围最小直径可达300微米4、全自动一-键测量，操作简单，省时、省事5、超高采样速率1测量快速、准确，工作效率高6、触摸屏操作与电脑操作两种模式,测量随心所欲7、升温速率无级可调，根据实际需求任意选择8、与DSC测量相比，具有超高性价比9、科研型与基础型，满足不同需求技术规格1、仪器型号PTM17002、工作波长1550nm (特殊需要波长可定制)3、样品台温度范围:室温~120°C，温度精度+0.1°C4、采样频率1Hz5、最小采样范围直径300um6、红外非接触测温模式7、自然冷却与风冷两种降温模式8、加热速率无级可调9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线10、USB2.0高速数据接口11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参数12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据，以word形式导出测试分析报告

薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪厂商：济南兰光机电技术有限公司品牌：Labthink/兰光C206H氧气透过率测试系统基于库仑氧气分析传感器和等压法测试原理，参照ASTM D3985等标准设计制造，为高、中气体阻隔性材料提供高精度和高效率的氧气透过率测试。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏、电子等领域的薄膜、片材及相关材料的氧气透过性能测试。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪产品特点：搭载Labthink新型科技成果的ppb级库仑氧传感器，可获取更低的测试下限。参照ASTM D3985标准设计，绝对值，无需校准。超长使用寿命，是传统库仑氧传感器的三倍。具有超限报警，自动保护功能。全新彩虹桥式测试腔，采用360°气流循环恒温技术，温度稳定性更佳。测试腔内搭载高精度湿度传感器，实时监测并记录湿度变化。测试过程中，实现流量、温度和相对湿度自动化控制，精度更高。高效六腔设计，独立六套50cm2标准面积测试腔，是传统透氧检测仪器测试腔数量的三倍。支持同一条件下6个试样同时测试，数据相互独立。同一测试周期，完成的样品量从2个提升至6个。自动夹紧试样，省时省力，夹紧力度一致，密封更佳。采用Windows系统的12寸触控平板操控，操控更便捷。自动模式，输入试验温湿度，一键开启，全自动测试。智能仓盖自动开闭，声光提醒。内嵌Labthink独有的高端工业计算机，杜绝由计算机病毒等引起的系统故障，保证运行可靠性与数据存储安全性。测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，氧气或空气在薄膜的一侧流动，高纯氮气在薄膜的另一侧流动，氧分子穿过薄膜扩散到另一侧中的高纯氮气中，被流动的氮气携带至传感器，通过对传感器测量到的氧气浓度进行分析，计算出氧气透过率等结果。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪参照标准：ASTM D3985、ASTM F1307、GB/T 19789、GB/T 31354、DIN 53380-3、JIS K7126-2-B、YBB 00082003-2015测试应用：薄膜——各种塑料薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的氧气透过率测试。片材——PP片、PVC片、PVDC片、金属箔片、橡胶片、硅片等片状材料的氧气透过率测试。薄膜检测设备透氧分析仪_包材透氧性检测仪技术参数：仪器型号：C206H测试范围：0.02～200 cc/(m2&bull day)(标准面积50cm2)；0.02～400000 cc/(m2&bull day)(标准面积50cm2)（定制）；0.2～2000 cc/(m2&bull day)(MASK面积5cm2)（选配）；1～10000 cc/(m2&bull day)(MASK面积1cm2)（选配）分辨率：0.0001 cc/(m2&bull day)重复性：0.02或1%，取大者温度范围：15～50℃ ；5～60℃（选配）温度波动：±0.15 ℃ 湿度范围：0%，5～90%±2% %RH（标准温度范围内）技术规格：测试腔：6套样品尺寸：4.4” x 4.4”（11.2cm×11.2cm）样品厚度：≤120 Mil（3mm）标准测试面积：50cm2气体规格：99.999%氮气、99.5%氧气（气源自备）气源压力：≥ 40.6 PSI / 280 kPa接口尺寸：1/8” 金属管外形尺寸：600mm× 490mm× 660mm电源：120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz（二选一）净重：220Lbs（100kg）产品配置：标准配置：主机、平板电脑、取样器、真空油脂、Φ6 mm聚氨酯管选购件：GP-01气体净化装置、空压机、CFR21Part11、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注：本机压缩空气进口为Φ6 mm聚氨酯管（压力≥ 79.7 PSI / 550 kPa）；气源自备

物理特性薄膜表征系统，高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料，因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强！ 增强表面散射的影响（a）附加边界散射（b）超薄层的量子约束（c） LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统，使用正在申请专利的测量系统设计，可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片，以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用，该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行，并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备，可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD（例如热蒸发，溅射，MBE），CVD（例如ALD），旋涂，滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同（平面内）方向，并且具有很高的可比性。 基本测量单元 ： 测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数： • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下： • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

F10-RT 薄膜厚度测量仪同时测量反射和透射以真空镀膜为设计目标，F10-RT 只要单击鼠标即可获得反射和透射光谱。 只需传统价格的一小部分，用户就能进行全面分析、确定 FWHM 并进行颜色分析。可选的厚度和折射率模块让您能够充分利用 Filmetrics F10 的分析能力。测量结果能被快速地导出和打印。选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果

F10-AR薄膜厚度测量仪易于使用而且经济有效地分析减反涂层和镜头上的硬涂层F10-AR 是为简便而经济有效地测试眼科减反涂层设计的仪器。价格大大低于当今绝大多数同类仪器，应用几项技术， F10-AR 使线上操作人员经过几分钟的培训，就可以进行厚度测量。在用户定义的任何波长范围内都能进行最低、最高和平均反射测试。我们有专门的算法对硬涂层的局部反射失真进行校正。 我们的 AutoBaseline 能增加基线间隔，提供比其它光纤探头反射仪高出五倍的精确度。利用可选的 UPG-F10-AR-HC 软件升级能测量 0.25-15um 的硬涂层厚度。 在减反层存在的情况下也能对硬涂层厚度进行测量。无须处理涂层背面我们特殊的探头设计能抑制 1.5mm 厚基板 98% 的背面反射，使用更厚的镜头抑制的更多。就像我们所有的台式仪器一样，F10-AR 需要连接到您装有 Windows 计算机的 USB 端口上并在数分钟内即可完成设定。选择Filmetrics的优势 桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性 嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果

仪器简介：高级薄膜测定系统 NKD-8000系统综合了光学、电子学和高级分析软件，是目前测定多层薄膜和基片的折射率、吸收系数和厚度最精确、最易用的系统。NKD-8000系列产品具有全自动、可同时测定透过光谱和反射光谱，入射光角度从0° 到90° 连续改变。对分光光谱仪而言，这是一项前所未有的新功能，使得NKD-8000适用于最具挑战性的光学测量。对多层薄膜和基片的n、k和d的测定变得准确、快捷。技术参数：光谱范围 NKD-8000 350nm&mdash 1000nm ( 标准模式 ) NKD-8000v 280nm&mdash 1000nm ( 紫外增强型) NKD-8000r 800nm&mdash 1700nm ( 红 外 型 ) NKD-8000w 350nm&mdash 1700nm (宽光谱 型 ) NKD-8000e 350nm&mdash 2200nm (超宽光谱 型 ) 注：宽光谱型提供两个检测器，可以覆盖350nm到1000nm和800nm到1700nm或2200nm (仅适用nkd-8000e)，但二者不能同时用。 获得数据时间 2&mdash 10分钟，这取决于光谱范围和不同选件 数据分析时间 5秒&mdash 5分钟，取决于数据的复杂程度 光谱分辨率 1nm或2nm （可选） 光源 NKD-8000v 150W 氙弧灯 其他 高稳态100W石英钨卤灯 样品尺寸 10× 10mm到200× 250mm标准系统,100mm 直径样品的扫描台 层数 至多5层，两个未知参数 薄膜厚度范围 1nm到25um，取决于角度、偏振和波长 1nm 需要增加椭偏模块 基片 透明、半透明或半吸收或半导体 材料 电介质、高聚物、半导体和金属 精确度 对于半吸收薄膜 典型 最大 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜0.1% ＜1% 消光系数 ＜1% ＜3% 对于金属薄膜 薄膜厚度 ＜1% ＜3% 折射率 ＜1% ＜3% 消光系数 ＜1% ＜3% 重现性 透射率 ＜0.01% ＜0.1% 反射率 ＜0.01% ＜1% 折射系数 ＜0.01% ＜0.1% 入射光角度 30° 、50° 或70° （标准单元）或由客户指定的从 20° 到70° 连续可变（可变角版本）或3个位置角度 样品上的光斑尺寸 5mm(标准系统)，250um（选件） 电源 220V，50Hz，2A 或110V，60Hz，3A 外观尺寸 890× 540× 720mm 重量 105Kg 选件 多角度，可变角度，X-Y样品扫描台，多种标准尺寸品架。样品观测显微镜。手动或全软件控制的偏振选件（s-、p-或非偏振）。样品加热台。台式机或工业PC。主要特点：主要特点 ◆ 可测定波长范围从280nm到2300nm的透射和反射光谱 ◆ 在同一区域可同时测定T和R值 ◆ 可对折射率(n)，吸收系数(k) 和厚度(d)进行准确测定 ◆ 样品可在X-Y扫描台上进行扫描 ◆ 入射光角度可以是固定角度、多角度和从0° 到90° 的连续变化的角度 ◆ 可用s-、p-或非偏振光作为入射光对T和R进行测定 ◆ 可对透明基片进行测定且不需要对样品进行前处理 ◆ 内建的材料数据库 ◆ 密封的样品室 ◆ 可选择散射模式 ◆ 具有在线或离线分析功能 对T和R同时测定 KD-8000系统在同一个光斑处，同时对透过光谱和发射光谱进行测定，保证了两套数据具有直接的相关性。通过测定这些光谱，全自动的控制和分析软件系统可以从中得到n、k和d值。而且所有这些都源自同一次测定。不同散射模式的选择使得对宽广范围材料的分析成为可能，而且用户可以选择缺省模式或者高级分析模式。 功能强大的Pro-OptixTM控制和分析软件系统包括一个可编辑的数据库，它允许对材料进行预先定义，以提高分析速度。该软件的其他特点包括颜色的匹配和太阳光的计算以及金属薄膜的算法。样品可以是透明的、不透明的或者半吸收的而无需对它们特殊处理。 NKD-8000是唯一一款能全部提供上述功能的分光型光学薄膜分析系统，它为薄膜表征设立了一个标准。 可变的入射光角度 ①反射光检测 ②光束管 ③Y轴坐标 ④透射光检测器 ⑤Z轴坐标 ⑥X轴坐标 ⑦样品台 ⑧马达驱动的可变角度选择装置 NKD-8000系统提供可变的角度选择装置，它提供完全马达驱动的，可由PC机控制入射光的角度，入射角度从从0° 到90° 可自由选择。 通过使用分析软件中的集成工具就可实现对T和R的s-偏振光谱和p-偏振光谱进行独立分析或二者一起分析。 通过作为选件的X-Y扫描台可以对大尺寸样品进行扫描，样品在X、Y两个方向上的最大行程是100mm，同时保持入射光斑始终位于行程的中间。 在测定时有许多样品架备选，它们可以夹持不同类型尺寸的样品。全PC控制使这种方法对整个样品的数据收集和分析变得简单、准确和快捷。 多个角度 如果在应用中只需一些不连续的入射光角度，那么多角度选件可以提供一个满意的解决方案。从0° 到90° ，用户可自定义三个入射光角度。 附件 热台：可控制样品温度至150度，测定变温下的T和R，对测定光学涂层和基体的光谱位移十分有用。 显微镜/相机：对样品进行显微分析。 微光斑附件：将入射光斑聚焦至200微米，特别适合表征微小样品和局部区域。

准确的水分、涂层重量和薄膜厚度曲线测量，用于纸张和涂布加工的过程控制。特点易于校准、操作和标准化。自动卷材边缘检测，可调整任何卷材漂移。坚固、密封的工业框架和线性移动器可承受高温和潮湿的环境。IP65等级的近红外传感器，带窗口空气吹扫。原始数据记录选项。没有像X射线或核系统那样昂贵的法规遵守或安全问题。很容易连接到闭环控制系统或本地报警。应用可以对许多基材进行水分和涂布量检测，包括纸张、薄膜、铝箔、纺织品、离型纸、标签、胶带和标签。Guardian-HD卷材扫描系统通常用于以下应用。热熔胶和薄膜厚度湿端水基涂布重量干端有机涂布重量烘干机出口和进口水分再加湿装置（LAS、蒸汽帘和加水板）。 快速和连续的产品分析对于所有的纸张、薄膜和加工过程都至关重要，用以确保一致的高质量产品。不适当的水分控制会导致边缘卷曲和平坦问题。涂布重量和薄膜厚度直接关系到最终产品的质量。 Guardian-HD能准确地在线测量水分和涂层厚度，在窄幅或宽幅的卷材上提供分区的卷材剖面，对加工生产线进行全部的实时检测。减少浪费，提高质量通过即时识别生产中的低效问题，减少启动时间和浪费。实时数据消除了耗时的实验室测试和调整的需要。 直观的图形显示提供了关键的生产洞察力，快速识别不合规格的产品。可靠的性能Guardian-HD卷材扫描系统是为在造纸和加工应用中的挑战性条件下的可靠操作而设计，具有密封的工业框架和强大的线性移动装置。它们提供非接触、非破坏性的在线测量，不受相对湿度、产品温度变化、环境光照和温度升高的影响。与核子和X射线系统不同，近红外不需要昂贵的法规遵守和安全认证。很容易与本地系统集成Guardian HD卷材扫描系统通过3个4-20mA模拟输出和可选的标准通信协议的数据总线接口，很容易集成到本地工厂的PLC中进行闭环控制。 可选的堆栈灯警报和输出继电器，确保不符合规格的生产被立即告知，以便及时调整和减少浪费。选择你的Guardian-HD所有Guardian-HD系统都包括一个工业扫描框架、一个近红外智能传感器和本地易读的触摸屏显示器，用于交叉方向的卷材扫描和输送带及机器方向的测量。精英版卷材扫描系统强大的功能，能够同时监测和控制单个或多个GUARDIAN-HD系统。精英版 Guardian-HD卷材扫描系统连接到中央控制台的本地显示器和基于Windows的19英寸电脑。更大的显示器可用于在一个中央控制台监测多条生产线的情况。预先安装了专有的ViewerSuite软件，用于滚动报告和原始数据记录，以实现完全可追溯性和审计。完整的卷材记录包括测量值、日期、时间、长度、产品名称等。卷材扫描平均和个别区域测量自动同步滚动报告到本地网络可存储多达100个产品配方代码整个卷材中可有100个独立区域指定的传送带和机器方向趋势标准版卷材扫描系统单线监测和控制的标准功能。标准版 Guardian-HD卷材扫描系统连接到一个12英寸的操作界面，用于简单的剖析显示和控制。原始数据记录功能，可导出为.csv、.xml或.txt格式。可存储多达100个产品配方代码整个网络中可有50个独立区域点此链接进入产品详情

卷对卷式LB膜分析仪 请通过我们的联系我们！卷对卷式LB膜分析仪仪器用于在较长的柔性基底（如保鲜膜式柔性带状基底）上连续沉积单分子薄膜，也可把大尺寸刚性衬底粘接在皮带上进行镀膜，可进行无限多次LB薄膜沉积，可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转，沉积X,Y,Z多种类型的LB薄膜结构。同时具备垂直镀膜与水平镀膜功能。衬底可以是卷式铝箔、卷式PET塑料薄膜等。设备包含镀膜槽，卷对卷样品传动装置，卷对卷转动滑障与水平移动滑障，表面压探头与镀膜头，自动进样装置：注射泵与蠕动泵，控制器，电脑。卷对卷式LB膜分析仪仪器是一种多功能的LB莫分析仪，具有柔性镀膜，刚性镀膜，垂直镀膜，水平镀膜功能。卷对卷式LB膜分析仪液体界面单分子薄膜镀膜仪器可进行无限多次薄膜沉积，可控制柔性基底顺时针或逆时针旋转，沉积x、y、z型结构的薄膜。卷对卷式LB膜分析仪技术指标：柔性基底镀膜尺寸范围：长度可达3m，宽度可达16.5cm，柔性基底传送速度范围： 0.4625-117 mm/s，调整步阶0.007725 mm/s。镀膜井尺寸：200x180x200 mm (w-d-h)，侵入液体的zui大基片尺寸不小于170x170x170 mm (w-d-h)，兼容常规片状固体基片。表面压传感器：带2个表面压传感器，分别测量镀膜区域与补样区域的表面压值，表面压传感器灵敏度：0.01 mN/m，测量范围：0-80 mN/m。

恒奥德仪器薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 配件型号HAD-D80 按照GB4455—2006农业用聚乙烯吹塑棚膜和GB/T20202—2006农业用乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA吹塑棚膜）的要求设计制，适用于测定聚乙烯吹塑棚膜和以乙烯—乙酸乙烯酯共聚物（EVA）为主要材料，乙酸乙烯酯基（VA）平均含量不低于4%的内添加型吹塑棚膜的流滴性能。主要测试薄膜的初滴时间和流滴失效时间。可应用于科研、教学、生产企业、试验室、研究所及质量监督门。 薄膜流滴仪 双口薄膜流滴试验机 薄膜初滴时间和流滴失效时间仪 型号：HAD-D80 术参数 试验容积：28L——820×320×110mm 试验口径：φ300mm 薄膜倾角：10°、15°、20° 试验温度：室温~80℃ 控温度：0.5℃ 时间设定：0~99小时59分59.99秒 时间度：0.1S 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应

产品简介：BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪，可准确测试滤膜、隔膜、织物、纤维、陶瓷、烧结金属等材料的通孔的最大孔径、最小孔径、平均孔径、孔径分布及渗透率，适用于研发、生产过滤材料及相关的科研单位和企业用户。BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪产品特点： 孔径测试范围：0.02-500um；多样品池设计针对不同尺寸样品，特殊样品可单独设计；具有全自动真空助润装置，可大大加速浸润时间，提高测试效率50%以上；根据待测样品不同，多种浸润液体可选；高精度双流量传感器，流量分段测量，量程互补，自动切换；高精度双压力传感器，分段压力测试，程序自动判断，自动切换；全不锈钢管路，金属硬密封，密封性好，耐压高，耐腐蚀；全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；多项专利技术保障仪器稳定性和准确性； 气体流动法薄膜孔径分析仪测试理论： 以某种膜材料为例，将膜用可与其浸润的液体充分润湿，由于表面张力的存在，浸润液将被 束缚在膜的孔隙内；给膜的一侧加以逐渐增大的气体压强，当气体压强达到大于某孔径内浸润液的表面张力产生的压强时，该孔径中的浸润液将被气体推出；由于孔径越小，表面张力产生的压强越高，所以要推出其中的浸润液所需施加的气体压强也越高；同样，可知，孔径最大的孔内的浸润液将首先会被推出，使气体透过，然后随着压力的升高，孔径由大到小，孔中的浸润液依次被推出，使气体透过，直至全部的孔被打开，达到与干膜相同的透过率； 首先被打开的孔所对应的压力，为泡点压力，该压力所对应的孔径为最大孔径； 在此过程中，实时记录压力和流量，得到压力-流量曲线；压力反应孔径大小的信息，流量反应某种孔径的孔的多少的信息；然后再测试出干膜的压力-流量曲线，可根据相应的公式计算得到该膜样品的最大孔径、平均孔径、最小孔径以及孔径分布、透过率。气体流动法薄膜孔径分析仪专业制造商贝士德,测试精度高,重复性好,气体流动法薄膜孔径分析仪提供专业的售前技术支持和优质的售后服务.

玻璃薄膜介电常数试验测试仪ef——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则4等于1。对于相对电容率为10以上的无孔材料，可采用沉积金属电极。对于这些材料，电极应覆盖在试样 的整个表面上，并且不用保护电极。对于相对电容率在3〜 10之间的材料，能给出最高精度的电极是金 属箔、汞或沉积金属，选择这些电极时要注意适合材料的性能。若厚度的测量能达到足够精度时，试样 上不加电极的方法方便而更可取。假如有一种合适的流体，它的相对电容率已知或者能很准确地测出， 则采用流体排出法是最好的玻璃薄膜介电常数试验测试仪介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行 高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～2MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。介电常数测试仪中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。 概述HRJD-DP 是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率最高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。性能特点◎ 全自动一键操作可自动扫描最平稳的量程阶段◎微电脑处理器反应迅速可在最短时间内计算出最佳频段◎ 夹具数字显示◎ 4.3寸TFT液晶显示◎ 中英文可选操作界面◎ 最高2MHz的测试频率，10mHz分辨率◎ 平衡测试功能◎ 变压器参数测试功能◎ 最高测试速度:13ms/次◎ 电压或电流的自动电平调整（ALC）功能◎ V、I 测试信号电平监视功能◎ 内部自带直流偏置源◎ 可外接大电流直流偏置源◎ 10点列表扫描测试功能◎ 30Ω、50Ω、100Ω可选内阻◎ 内建比较器，10档分选和计数功能◎ 内部文件存储和外部U盘文件保存◎ 测量数据可直接保存到U盘◎ RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。◎ 介电常数测量范围可达1～105主要技术指标： ε和D性能：固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。 ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω基本准确度 0.1%显示范围 :L 0.0001 uH ～ 9.9999kHC :0.0001 pF ～ 9.9999FR,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩY, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 SD :0.0001 ～ 9.9999Q :0.0001 ～ 99999θ :-179.99°～ 179.99°测量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式 :串联方式, 并联方式量程方式:自动, 保持显示方式 :直读, Δ, Δ%触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进比较器功能:10档分选及计数功能显示器 320×240点阵图形LCD显示存储器 :可保存20组仪器设定值USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，精度：±0.02%电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显电容测量基本误差：±0.05%损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度10mm的试样精确测量。它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。微分头分辨率：10μm最高耐压：±42Vp（AC+DC）电缆长度设置：1m最高使用频率：30MHz高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃， 氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。玻璃薄膜介电常数试验测试仪式中：G——电极常数；G——空气中电极装置的电容扌G——充有校正液体时电极装置的电容,孔——校正液体的相对电容率。从G和G的差值可求得校正电容Cg；玻璃薄膜介电常数试验测试仪来计算液体未知相对电容率Ex*式中：G——校正电容；Co——空气中电极装置的电容；cc——电极常数)Cx——电极装置充有被试液体时的电容；织——液体的相对电容率。假如G、Cn和役值是在鈴是已知的某一相同温度下测定的，则可求得最高精度的馭值， 采用上述方法测定液体电介质的相对电容率时，可保证其测得结果有足够的精度，因为它消除了由 于寄生电容或电极间隙数值的不准确测量所引起的误差.玻璃薄膜介电常数试验测试仪测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。5. 1零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就 是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器 电桥(也就是互感耦合比例臂电桥)和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加 附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。 6.2谐振法适用于10 kHz〜 几百MHz的频率范围内的测量,该方法为替代法测量，常用的是变电抗 法。但该方法不适合采用保护电极。

JYPR-01透气性测试仪JYPR-01透气性测试仪，是上海菁一科技有限公司针对电池隔膜、透气膜等各种低透气量材料及相关聚合物研发的一款检测设备，适用于聚合物薄膜、不织布等各类材料的气体渗透性能测试。通过简单的操作短时间内就能完成测定。设备精确度高，操作简单，提升作业效率，售价亲民。 应用行业：无纺布、纸张，高分子胶片等各类薄膜材料透气率的测试（透气性）。 产品优势：u 全自动操作，一键测试，缩短产品测试时间，提升作业效率；u 全触摸屏设计，界面简单明了，测试流程可灵活设置；u 具备自学习模式，可实现快速测试；u 反复测定精度高、稳定性好，可长时间运行；u 仪器稳定可靠、易于维修。测试原理：在一定温度和湿度下，使试样两侧保持一定的气体压差，通过测量试样低压侧气体压力的变化，从而计算出气体透过率等参数。 采用标准物质对仪器进行校正、检定，确保检测数据的准确性、通用性。参考标准：ISO 5636-6 技术参数：产品名称透气性测试仪型号JYPR-01测量值类型气体透过率测量标头数量1个显示方法彩色触摸显示屏测量单位秒（Sec.），μm/Pa.s（ISO）测量方法使用气缸进行自动测量；用启动按钮开始进行测量；计时器设定时间后测量结果显示锁定。定时器设置测量时间（有三档选择：50秒、100秒、200秒。）测试范围从以下测量范围表中选择一个范围。数据输出RS-232供电AC220V 50Hz气压源0.25MPa (2.5Kg/cm2)外形尺寸320 x 520 x 520 mm净重23Kg 类别空气渗透性中位数1000sec.2000sec.精度范围100-50000 sec.50 -30000 sec.测试材料凹版纸，新闻纸、铜版纸，艺术纸，绝缘纸、无纺布，胶片等

AQUATRAN 3/38 WVTR 分析仪水蒸气渗透分析仪 AQUATRAN-W 3/38 H 由于其4测试腔，可以同时测试4个阻隔样品。新的双膜水平测试舱可以拆卸，便于样品制备，用户友好的操作界面提供了实时测试状态与目标限值的对比。 高精度检出限低至 0.05 g/（m2*day）全自动温度、流量和相对湿度控制简化了测试，并提供了良好的可重复性 较好的吞吐量良好的传感器响应时间，缩短了总体测试时间双膜可拆卸测试舱允许一次测试 4 个样品，所需空间更少自动测试方法，一键启动测试TruSeal 氮气环流密封可以消除许多测试中对*对零点的需求，从而缩短总体测试时间 AQUATRAN-W 3/38 H 分析仪可以测试高低阻隔膜的水蒸气透过率（WVTR）。它采用长寿命调制红外传感器，符合 ASTM F1249 标准。该分析仪在 0.05 到 200 g/（m2*day）的宽检测范围内提供了较准确和可重复的测试结果。 技术参数AQUATRAN 3/38 H 高吞吐量单位温度控制范围20 °C 至 40 °C ± 0.2 °C薄膜测试腔测试气体的湿度控制100% 和 50% 至 90% 相对湿度 ± 3 相对湿度未遮蔽薄膜的测试范围（50 cm2）0.05 至 100 g/（m2 x day）0.003 至 6.45 g/（100 in2 x day）遮蔽薄膜的测试范围（5 cm2）0.5 至 1000 g/（m2 x day）0.03 至 64.5 g/（100 in2 x day）薄膜分辨率0.02 g/（m2 x day）0.0013 g/（100 in2 x day）薄膜可重复性0.05 g/（m2 x day）或 2%，以较大者为准薄膜尺寸4 英寸 x 4 英寸标准，薄膜厚度高达 20 Mil薄膜测试面积50 cm2 标配物理规格 15.5 英寸高 x 12 英寸宽 x 23 英寸深（39.4 cm x 30.4 cm x 58.0 cm） 95 磅（43.1 kg）电气要求 电压：100 - 240 VAC 50/60 Hz 功耗不超过：700 VA

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式LB膜分析仪（KN 2005）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试 4. 总槽体表面积： 322 cm2 5. 最大扩展槽体表面积： 148.4 cm2 6. 最小压缩槽体表面积： 40.5 cm2 7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. 总亚相容积：387 ml15. 测试槽（过吊带中线）亚相容积：226 ml16. 镀膜井尺寸：20 x56 x 65 mm（长 x 宽 x高）17. 最大基材尺寸：3 x 52 x63 mm或2英寸 18. 最大镀膜冲程： 80 mm19. 镀膜速度：0.1 – 108 mm/min20. 电源： 100...240 VAC21. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

缎带型Langmuir/LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。缎带型Langmuir/LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备。与常规型的L/LB膜分析仪相比，KSV NIMA L/LB缎带型膜分析仪可以提供更高的表面压力。使用缎带取代滑障，可以制备更规整的单分子层膜，同时更高的堆积密度，可以提供许多新的应用前景。缎带型Langmuir/LB膜分析仪主要有两款：缎带型Langmuir膜分析仪和缎带型LB膜分析仪。通过简单的更换槽体，任何KSV NIMA Langmuir或LB膜分析仪均可更换为缎带型膜分析仪，同理也可将缎带型膜分析仪更换为常规型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响缎带型Langmuir/LB膜分析仪几乎与常规型的膜分析仪的工作原理一致，唯一的区别是缎带型Langmuir/LB膜分析仪的压缩机理为缎带，而常规型的为滑障。缎带插入亚相中，将单分子层封闭起来，提供完美的膜限制空间。KSV NIMA缎带型膜分析仪的机理如下：图2 缎带型Langmuir/LB膜分析仪工作原理：1. 压缩； 2. 扩张3. 技术参数3.1 缎带式Langmuir膜分析仪（KN 1007）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试4. 槽体表面积（扩展）： 148.4 cm25. 槽体表面积（压缩）： 40.5 cm26. 槽体内部尺寸：358 x 90 x 10 mm（长 x 宽 x高）7. 滑障速度: 0.1-270 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. Langmuir测试槽亚相容积：322 ml15. 电源： 100...240 VAC16. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett/Langmuir槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 对称缎带压缩为标准的均匀压缩方法。6. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。7. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。8. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

薄膜拉力机_薄膜拉伸强度试验仪_包装薄膜电子拉力机用于塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、离型纸、保护膜、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力等性能测试。 了解详细信息，敬请致电济南兰光0531-85068566技术特征：XLW(PC)是一款专业用于测试各种软包装材料拉伸性能等力学特性的电子拉力试验机；其超高的精度（0.5级）保证了测试的准确性；七种独立试验程序、多种规格力值传感器、以及七档试验速度选择，可以满足用户的各种试验条件；智能的操作软件不仅方便用户操控设备，还提供了多种数据分析和比对等实用功能。 √ 0.5级的测试精度，有效的保证了试验结果的准确性√一台试验机集成拉伸、剥离、撕裂等七种独立的测试程序，为用户提供了多种试验项目选择√ 1000mm的超长行程可以满足超大变形率材料的测试√ 多种规格的力值传感器以及七档试验速度选择，为用户不同试验条件的测试提供了便利√ 微电脑控制、菜单式界面、PVC操作面板、以及大液晶屏显示，方便用户快速操作√ 限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置，保证用户的操作安全√ 专业的操控软件提供了成组试样统计分析、试验曲线叠加分析、以及历史数据比对等多种实用功能√ 支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告薄膜拉力机_薄膜拉伸强度试验仪_包装薄膜电子拉力机测试原理：将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变化和位移变化，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。执行标准：ISO 37、GB 8808、GB/T 1040.1-2006、GB/T 1040.2-2006、GB/T 1040.3-2006、GB/T 1040.4-2006、GB/T 1040.5-2008、GB/T 4850-2002、GB/T 12914-2008、GB/T 17200、 GB/T 16578.1-2008、 GB/T 7122、 GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 17590、ASTM E4、 ASTM D882、 ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、 ASTM F904、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130薄膜拉力机_薄膜拉伸强度试验仪_包装薄膜电子拉力机技术指标：规格：500N（标配）；50N、100N、250N（可选）；750N、1000N（可定制）精度：0.5级试验速度：50 100 150 200 250 300 500mm/min试样数量：1件试样宽度：30mm（标配夹具）；50mm（可选夹具）行程：1000 mm外形尺寸：450mm(L)×450mm(W)×1410mm(H)电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz净重：68kg仪器配置：标准配置：主机、通用夹具、专业软件、通信电缆选购件：计算机、标准压辊、试验板、取样刀、浮辊式夹具、非标夹具

FR-pOrtable:一款精准&性价比高的薄膜表征设备 FR-pOrtable（便携式FR） 是一款独特设备，为精准测试单层或者 多层的透明和半透明的薄膜的光学特性提供了关键解决方案。使用 者可以在350nm-1000nm的特殊光谱范围内完成薄膜反射比的测试。 特征分析： FR-pOrtable是由一个微型3648像素16位分辨率的光谱仪和一个 高稳定的白炽灯和LED组成的混合光源组成的，光源的平均寿命 20000h。其紧凑型的设计和定制的反射探头保证了性能测试的高精准性以及可重复性。并且，既可以安装在台面上，又可以转化为手持式的厚度测试仪，轻松实现便携实时操作。性能分析：1、 USB接口供电，无需电源线。2、 真正的便携，用探头检测样品。3、 采用软塑料头，适合野外应用。4、 占地小，可以在办公室内表征薄膜特性。5、 市场最低价。软件：FR-Monitor软件系统提供了多种应用和多种功能的能力。它不但能够实时的监测吸光率，透射率和反射率光谱，而且也包含了用于精准测试独立的薄膜厚度（10nm到100μm）和光学常数（n&k）的白光反射光谱法（WLRS）运算（ThetaMetrisis TM），支持（在透明或者部分透明或者全反射的衬底上）多层薄膜（10层）的测试。不需要高深的光学知识，只要有基本的电脑技巧、一台电脑，轻松实现膜厚测量！用户评论暂无评论发评论问商家白光干涉测厚FR-pOrtable的工作原理介绍白光干涉测厚FR-p

原位薄膜应力测量系统，又名原位薄膜应力计或原位薄膜应力仪！MOS美国技术（US 7,391,523 B1）！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！ 采用非接触激光MOS技术；不但可以准确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；客户可自行定义选择使用任意一个或者一组激光点进行测量；并且这种设计可以保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；适合各种材质和厚度薄膜应力分析； 该设备已经广泛被各个学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University 2套，Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute，西安交通大学，中国计量科学院等）、半导体制和微电子造商（如IBM.，Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC，Nissan ARC,Nichia Glass Corporation）等所采用； 相关产品： 薄膜应力仪（薄膜应力测量仪）：为独立测量系统，同样采用先进的MOS技术，详细信息请与我们联系。设备名称：薄膜应力测量系统，薄膜应力测试仪，薄膜应力计，薄膜应力仪，Film Stress Tester, Film Stress Measurement System 主要特点： 1.自主专用技术：MOS 多光束传感器技术； 2.单Port(样品正上方)和双Port(对称窗口)系统设计； 3.适合MOCVD, MBE, Sputter，PLD、蒸収系统等各种真空薄膜沉积系统以及热处理设备等； 4.薄膜应力各向异性测试和分析功能； 5.生长速率和薄膜厚度测量；（选件） 6.光学常数n&k 测量；（选件） 7.多基片测量功能；（选件） 8.基片旋转追踪测量功能；（选件） 9.实时光学反馈控制技术，系统安装时可设置多个测试点； 10.专业设计免除了测量受真空系统振动影响；测试功能： 1. 实时原位薄膜应力测量 2.实时原位薄膜曲率测量 3.实时原位应力薄膜厚度曲线测量 4.实时原位薄膜生长全过程应力监控等 实时原位测量功能实例：曲率、曲率半径、薄膜应力、应力—薄膜厚度曲线、多层薄膜应力测量分析等；

薄膜摩擦系数测试仪 薄膜开口性测定仪 薄膜摩擦系数检测仪MXD-02摩擦系数测试仪适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节材料生产质量工艺指标，满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。了解详情请致电：济南兰光0531-85068566薄膜摩擦系数测试仪 薄膜开口性测定仪 薄膜摩擦系数检测仪技术特征微电脑控制、液晶显示数据、结果、曲线菜单式界面、PVC操作面板GB、ISO、ASTM多种测试标准方法可选试验速度可设、可调支持任意滑块质量动摩擦、静摩擦、动静摩擦试验模式自由选择单件、成组试验的结果统计分析处理多种报告模式原始数据再分析、成组曲线叠加比较微型打印机RS232接口网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输 薄膜摩擦系数测试仪 薄膜开口性测定仪 薄膜摩擦系数检测仪技术指标负荷量程：0 ~ 5 N精 度：0.5级行 程：70 mm、150 mm滑块质量：200g（标准）注：其他质量滑块可定制，系统支持任意滑块质量试验。试验速度：100 mm/min、150mm/min注：其他速度可调整。电 源：AC 220V 50Hz外形尺寸：630 mm（L）×360 mm（B）×230 mm（H）净 重：33kg 薄膜摩擦系数测试仪 薄膜开口性测定仪 薄膜摩擦系数检测仪执行标准：GB 10006、GB/T 17200、ISO 8295、ASTM D1894、TAPPI T816仪器配置：标准配置：主机、微型打印机、200g滑块选购件：专业软件、通信电缆、500g非标滑块

薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪基于压差法测试原理，专业适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片在各种温度下的气体透过率、溶解度系数、扩散系数、渗透系数的测定。符合GB、ISO、ASTM等多项标准要求。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪产品特点：全新彩虹桥式测试腔，采用360°气流循环恒温技术，温度稳定性更佳。原装进口高精度真空传感器，实现0.01～0.09 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa超高阻隔材料的准确测试。原装进口气动控制系统，具有超低故障率和超长使用寿命，确保系统整体密封良好，保障测试精度。原装进口真空泵，极限压可达0.2Pa，抽真空速率提升。系统自动控制真空泵，无需人工开闭，增效降耗。兰光特有的试验过程高精度自动补压技术，实现高压腔压差恒定，压力变化小于0.2 kPa。支持10kPa～150kPa范围内灵活设定高压腔压力，系统精确保压。高效六腔设计，独立六套标准面积测试腔，是传统透气检测仪器测试腔数量的三倍。支持同一条件下6个试样同时测试，数据相互独立。中、低阻隔性材料，测试时间＜4小时（含抽真空时间）。高阻隔性材料，测试时间＜8小时（含抽真空时间）。自动夹紧试样，省时省力，夹紧力度一致，密封更佳。采用Windows系统的12寸触控平板操控，操控更便捷。自动模式，输入试验温度，一键开启，全自动测试。智能仓盖自动开闭，声光提醒。专业试验模式，提供了灵活丰富的控制功能，满足科研需要。提供气体透过率曲线、气体透过系数曲线、温度曲线。超宽的温度范围，满足在不同极限温度下的阻隔性测试（选配）。超宽的测试范围，满足各类材料的阻隔性测试（定制）。支持H2、CH4等危险气体测试（定制）。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，首先对低压腔（下腔）进行真空处理，然后对整个系统抽真空；当达到规定的真空度后，关闭测试下腔，向高压腔（上腔）充入一定压力的试验气体，并保证在试样两侧形成一个恒定的压差（可调）；这样气体会在压差梯度的作用下，由高压侧向低压侧渗透，通过对低压侧内压强的监测分析，从而得出所测试样的各项阻隔性参数。参照标准：ISO 15105-1、ISO 2556、GB/T 1038-2000、ASTM D1434、JIS K7126-1、YBB 00082003测试应用：薄膜——各种塑料薄膜、纸塑复合膜、共挤膜、镀铝膜、铝箔复合膜、玻纤铝箔纸复合膜等膜状材料的气体透过率测试。片材——PP片、PVC片、PVDC片、金属箔片、橡胶片、硅片等片状材料的气体透过率测试。薄膜透气仪_薄膜氧渗透仪_薄膜渗透测试仪技术参数：仪器型号：C106H测试范围：0.01～50,000 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa分辨率：0.001 cm3/ m2• 24h• 0.1MPa温度范围：15～50 ℃；5～60℃（选配）温度分辨率：0.01 ℃温度波动：±0.15 ℃湿度范围：0%，5～90%±2%（定制）%RH（标配温度范围内）真空分辨率：0.01 Pa真空精度：示值±0.2%（传感器规格的1%-100%）测试腔真空度：≤ 10 Pa技术规格：测试腔：6套样品尺寸：4.4” x 4.4”（11.2cm×11.2cm）样品厚度：≤120 Mil（3mm）标准测试面积：38.48cm2试验气体：O2、N2、CO2等气体（气源用户自备）试验压力：10 kPa~150 kPa（任意设定）压力波动：0.2 kPa气源压力：79.7 PSI / 550 kPa接口尺寸：Φ6 mm聚氨酯管外形尺寸：600mm × 490m m × 660mm电源：120VAC±10% 60Hz / 220VAC±10% 50Hz（二选一）净重：220Lbs（100kg）产品配置：标准配置：主机、平板电脑、真空泵（英国）、取样器、真空油脂、Φ6 mm聚氨酯管选购件：空压机、CFR21Part11、GMP计算机系统要求、DataShieldTM数据盾备注：本机压缩空气进口为Φ6 mm聚氨酯管（压力≥ 79.7 PSI / 550 kPa）；气源自备

KSV NIMA Langmuir-Blodgett膜分析仪KSV NIMA Langmuir及Langmuir-Blodgett膜分析仪（以下简称 KSV NIMA LB膜分析仪）是在Langmuir薄膜的制备、表征（包括显微镜）和Langmuir-Blodgett膜的沉积领域方面应用最广泛的一款全球领先仪器。KSV NIMA Langmuir 及Langmuir-Blodgett膜分析仪可用于单分子层膜的制备及表征，并可精确控制分子的横向堆积密度。KSV NIMA LB膜分析仪可研究分子在单分子层时具有的独特性质，并可采用Langmuir-Blodgett或Langmuir-Schaefer沉积技术转移这些单分子层。通过精确控制厚度、分子取向及堆积密度可制备单层或多层分子膜。应用KSV NIMA LB膜分析仪可在气-液，液-液相界面上制备可控制堆积密度的不溶性单层膜（Langmuir膜），并将此有序功能性膜转移到固体表面（Langmuir-Blodgett 膜），这在纳米技术领域有广泛的应用价值:生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）结构变化及反应药物传输及行为有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料如纳米管、纳米线、石墨烯等表面反应 聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附表面活性剂及胶体合成胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）技术Langmuir-Blodgett膜分析仪Langmuir-Blodgett膜分析仪与Langmuir膜分析仪非常相似，它也可以进行膜的制备和研究。此外，LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头。在所需的堆积密度下（通常为固相），镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上。镀膜井可以在Langmuir膜下方为固体样品提供空间。 Langmuir-Blodgett (LB)沉积过程是将样品从单分子层中垂直拉出，而Langmuir-Schaefer (LS)沉积过程是将样品水平地置于界面上（不需要槽上带有镀膜井）。 通过反复沉积技术可制备一定厚度的纳米膜。当采用LB技术，亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。 将Langmuir膜转移到样品上，其密度，厚度及均一性等性质将会保留，从而实现了制备不同组分的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比，Langmuir-Blodgett沉积方法受功能性分子的分子结构的限制影响很小。这意味着Langmuir-Blodgett技术是唯一能够进行自下向上的组装方法。在沉积表面上测试可以使用以下方法深入研究沉积表面：界面红外反射吸收光谱仪(KSV NIMA PM-IRRAS)石英晶体微天平(Q-SENSE QCM-D)表面等离子共振仪(SPR)电导率测量仪紫外可见吸收光谱仪原子力显微镜X射线反射器透射电子显微镜椭圆偏振仪X射线光电子能谱仪常规Langmuir-Blodgett系统常规KSV NIMA Langmuir-Blodgett沉积槽的尺寸有小型，中型和大型。小型、中型的LB沉积槽与超小型的Langmuir沉积槽具有相同的框体，但增加了一个镀膜头。不同尺寸和形状的槽体可以使用一个框架。 在基材上沉积的LB膜样品尺寸可从几个平方毫米到几十平方厘米。镀膜井的尺寸限制了基材的尺寸。LB镀膜头可装于LS沉积组件中，进行基材的单侧镀膜。 交替镀膜沉积槽交替镀膜沉积槽可用于两种材料的交替层镀膜，包括两个槽体，两个表面压力传感器和两对滑障。基材可以按照您需要的顺序从任意两种单分子层或水间移动。该槽有两种尺寸，标准型和大型。KSV NIMA表征仪器界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带偏振模块的红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测，并可提供不同的分辨率和其他分析数据选项。表面电位测量仪（SPOT）使用振动盘技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供诸如堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水界面的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。KSV NIMA LB软件KSV NIMA LB软件非常直观，操作简单方便。它为客户提供了涵盖经典的Langmuir及Langmuir-Blodgett膜实验在内的各种预编程序。这些程序可根据用户的需求自行修改，可记录大量的数据及参数，并对相关数据进行作图分析。可记录的参数包括数据点的数目、时间、滑障位置、滑障速度、槽体面积、分子面积、浸渍位置、浸渍速度、层数、转移比、累计转移量、温度、pH值及表面电位等。 标准程序包括：压缩/松弛等温线：测量表面压与单位平均分子面积、剩余面积、时间或其他测量参数之间对应的函数关系。分析单分子层动力学（酶动力学、单分子层的水解、聚合或其他零级反应）。分析单分子层的渗透、溶解度、与生物分子（酶、蛋白质、多肽等）的结合。等体积线及等压线：表面压/温度的增大或减小、表面压/时间或表面压/任意需要测量的参数等，均可进行作图分析。剪切流变学：在一定表面压力下，通过振动滑障来检测粘弹性。浸渍：Langmuir-Blodgett及Langmuir-Schaefer模块可控制并监测表面压、浸渍速度、冲程长度、沉积过程、转移比。 当完成一个实验后，用户可在数据还原与分析界面进行进一步的数据分析。选中一个实验后，对应的实验数据也会显示。不同的实验数据可在同一图表中展示并进行比较。软件也可计算出其他相关数据并进行输出。比如有最新材料性质的信息，即可通过查看和编辑实验设置重新进行数据计算。测量实例图1：药物开发该图显示了在空气-缓冲剂溶液界面上，抗寄生虫药物的单分子层的表面压-面积（紫色）及表面电势-面积（浅蓝色）等温线。观察发现，在平均分子面积为140?2处有明显表面压-面积等温线转变，而在表面电势-面积等温线中并没有转变。这就表明此转变并非发生相变，而是该药物在这一平均分子面积时发生了聚合，二聚或构象转变。图2：高压缩单分子层膜该图显示通过传统的KSV NIMA Langmuir中型槽（浅蓝色）和KSV NIMA Langmuir锻带滑障槽（深蓝色）得到的DPPC单分子层的表面压-面积等温线。在两条曲线最大表面压处观测到差异表明KSV NIMA Langmuir锻带滑障槽可以在更高的堆积密度压缩（和保持）单分子膜。 图3：表面反应该图显示，在空气-缓冲液界面处，以壳聚糖溶液作为亚相，将β-乳球蛋白注射到DMPA（醋酸甲孕酮）单分子层后表面压力随时间的变化关系。β-乳球蛋白首先吸附在单分子层上（A部分），随后借助壳聚糖从单分子层移出（B部分）。PM-IRRAS的研究证实了壳聚糖-蛋白质复合物的形成及蛋白质从单分子层上的完全移除。产品优势最优的性能得益于独特的设计专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可作为探针，以满足不同的需求。开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸和放置都极其方便。Langmuir 及Langmuir-Blodgett槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。坚固的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。 薄型框架设计能够实现与PM-IRRAS(红外光谱)，布鲁斯特角显微镜，荧光显微镜，X射线等光学表征技术的联用。对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，而任意仪器均可实现单一滑障压缩。居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。完全掌控您的实验强大且直观的软件可以满足初学者和经验丰富用户的需求。它是KSV NIMA L和LB的核心组件，该软件能够全程控制并实时显示：表面压力滑障位置滑障速度在沉积过程中（LB）基材位置浸渍速度（LB）温度pH（选件）表面电势（选件）界面单元上的操作按键以及数显功能可帮助用户不使用软件即可做好测量前的准备工作。综合操作手册对设置仪器及进行一些基础实验作了详细介绍。KSV NIMA 公司同样提供大量仪器信息及技术支持以帮助用户更充分的使用仪器。 您的终身合作伙伴独有的可替换性槽体、高度模块化设计，不需要购买新的框架，即可实现KSV NIMA Langmuir及Langmuir-Blodgett膜分析仪各型号之间的灵活切换。客户可根据实验体系的需要进行调整。例如，将Langmuir槽体更换成Langmuir-Blodgett槽体，或者选择不同尺寸的槽体等。 使用大型框架和中型Langmuir槽体搭建的KSV NIMA Langmuir膜分析仪。 除了交替镀膜槽体外，其他所有槽体（直接或使用新槽体升级）都可与KSV NIMA 表面电位传感器，布鲁斯特角显微镜（KSV NIMA BAM 和KSV NIMA MicroBAM）及PM-IRRAS等表征仪器联用。 仪器设计全部采用耐用性组件，在使用了20多年后，一些仪器性能依然良好。 可提供多种配件（如水平浸渍钳夹，表面电位仪，pH探针等）。 灵活性在KSV NIMA，我们理解这种分子尺度的实验，仪器要求会因研究方向而有差异，而我们所提供的标准产品可能不够完全满足您的实验要求。如有特殊实验需求，请与我们联系，以寻求合适的解决方案。

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。薄膜测量仪器反射膜厚仪RM 1000和RM 2000扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量. 紫外-近红外光谱葩围 RM 1000 430 nm-930 nm RM 2000 200 nm - 930 nm 高分辨率自动扫描 反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。综合薄膜测量软件FTPadv Expert宽光谱范围和高光谱精度 SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。 没有光学器件运动（步进扫描分析器原理） 为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量 通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实 现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件 SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互 模式和用于常规应用的配方模式.激光椭偏仪SE400adv亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。 扩展激光欄偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚. 高速测量 我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。综合薄膜测量软件FTPadvExp测量n, k,和膜厚 该软件包是为R（入）和T（入）测量的高级分析而设计的。 查层膜分析 可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率. 大量色散模型 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数 将计算得到的光谱调整到实测光谱。

一、 产品介绍：微生物限度仪，基于薄膜过滤法的原理，与微生物培养器（M50）配套使用，通过液泵的抽滤作用，在系统内部形成负压，供试品在压差作用下被过滤，可能存在的微生物被滤膜截留，通过冲洗滤膜（如有必要），除去抑菌成分，然后反浇培养基进行培养，已检验供试品含菌量。主要用于各类水质、药品、食品等介质中微生物检测及实验室中进行除菌、除微粒等。具有操作过程不易受到污染、易于清洁等特点。二、 工作原理：将供试品注入微生物限度培养器内，通过检验仪自带内置进口隔膜液泵负压抽滤，将供试品中微生物截留在滤膜上，用取膜器取出滤膜，转移至配置好的固体培养基上，菌面朝上，平贴。盖上盖子形成封闭的培养盒，置于相应的恒温培养箱内培养并计数。三、适用范围：&bull 制药：纯化水、注射用水、眼用制剂、原料药、胶囊、生物制品、片剂、口服制剂；&bull 食品：纯净水、矿泉水、饮料；&bull 化工：各种需测试微生物水样；&bull 化妆品：各种用水及产品；&bull 控疾：江、河、湖、海、水样。四、主要特点：1. 过滤杯采用独特的唇形密封设计，不使用夹钳和 O 型圈，确保无泄漏操作和均匀的微生物回收率；2. 滤膜预先灭菌，即拆即用，可将主要污染物源降到最低,提高检测可靠性；3. 直接抽滤排液，无需抽滤瓶，安装使用方便；4. 内置进口隔膜液泵，效率更高；5. 小巧的机身，减少对操作台面积的占用；6. 防水开关，简洁方便；7. 过滤头可选单联及多联（三联或六联），可同时抽滤，提高工作效率，每个滤头也可独立控制，方便操作人员灵活使用；8. 过滤头可快速拆装，能单独湿热灭菌；9. 过滤头可以火焰快速灭菌，方便连续实验操作；10. 采用单面圆弧型过滤片，方便更换；11. 仪器表面经镜面处理，便于清洁和消毒；12. 支持不锈钢滤杯定制，更好地满足客户需求。五、产品参数：规格参数单联JC-WX100三联JC-WX300六联JC-WX600外形尺寸（mm）295*210*170355*210*170660*210*170裸机重量（Kg）3.70kg4.85kg9.85kg工作功率6W6W11W适用滤膜直径48mm48mm48mm有效过滤直径40mm40mm40mm过滤头数量1个3个6个检测方法薄膜过滤法抽滤方式隔膜泵负压抽滤，无需抽气瓶过滤头灭菌方式湿热灭菌、火焰枪快速灭菌电源电压220V+10V频率50Hz噪音≤60dB注：支持不锈钢滤杯定制六、产品配件：

电解分析法透湿仪 薄膜透湿仪 高阻隔材料水蒸气透过量测试仪C330H水蒸气透过率测试系统——本产品基于电解法水分分析传感器的测试原理，参照ISO 15106-3标准设计制造，为中、高水蒸气阻隔性材料提供宽范围、高效率的水蒸气透过率检测试验。适用于食品、药品、医疗器械、日用化学、光伏电子等领域的薄膜、片材、纸张、包装件及相关材料的水蒸气透过性能测试。产品优势：只为精准——新型电解法水分分析传感器；先进流体力学和热力学设计的专利测试集成块；空间立体恒温技术；独立监测各腔测试情况的温湿度传感器；高效合规——同时测试3个相同试样，符合平行试验的标准要求；支持同一条件下3个不同试样测试；节省人力——自动温度、湿度控制；简便易用——搭载Windows10系统的12寸触控平板操作；快速自动测试；自动数据管理的DataShieldTM数据盾系统；C330H水蒸气透过率测试系统产品特点：1、专利的传感器技术——Labthink自主研制的新型电解法水分分析传感器，具有卓越的精准性、重复性和寿命，作为一种库仑电量式传感器，传感器信号遵循法拉第原理，拥有非常高的灵敏度。2、新一代先进测试集成块——先进热力学和流体力学分析设计的专利三腔一体测试集成块结构。支持三个相同或不同试样的同步测试。3、自动温度、湿度控制——设备内部温度、湿度自动调节。测试腔各自安装温湿度传感器监测温湿度情况，控制测试过程更加精准。4、易用高效的系统功能——搭载高性能处理器和Windows10操作系统，通用各种软件和设备；自动测试模式，不需人工调整快速获得精确结果；专业测试模式，提供了灵活丰富的仪器控制功能，满足个性化科研需要；独有DataShieldTM数据盾系统，对接用户数据集中管理要求，支持多种数据格式导出；采用可靠安全算法，防止数据泄露；支持通用有线和无线局域网，选配专用无线网，支持接入第三方软件。5、先进的用户服务意识——坚持以用户为中心的服务理念使Labthink造就了成熟的产品定制系统流程，可以提供灵活周到的个性化定制服务。测试原理：将预先处理好的试样夹紧于测试腔之间，具有稳定相对湿度的氮气在薄膜的一侧流动，干燥氮气在薄膜的另一侧流动；由于湿度差的存在，水蒸气会从高湿侧穿过薄膜扩散到低湿侧；在低湿侧，透过的水蒸气被流动的干燥氮气携带至电解水分传感器，不同的水蒸气浓度产生不同的电量，通过分析计算得出浓度数值，进而计算试样的水蒸气透过率。对于包装件而言，干燥氮气则在包装件内流动，包装件外侧处于高湿状态。参照标准：ISO 15106-3、ASTM F3299、GB/T 21529、YBB 00092003-2015C330H水蒸气透过率测试系统技术参数：测试范围：0.005～50 g/(m2day) (标准)；0.0003～3.223 g/(100in2day)；0.000025～0.25 g/(pkgday)(包装件)分辨率：0.001 g/(m2day)重复性：0.005 g/(m2&bull day)或2%，取大者测试温度：10～55℃ ±0.2℃测试湿度：5%RH～90%RH±1%RH，100%RH附加功能：包装件测试(最大3L)：可选DataShieldTM数据盾：可选GMP计算机系统要求：可选CFR21 Part11：可选C330H水蒸气透过率测试系统技术规格：测试腔：3样品尺寸：108mm×108mm样品厚度：≤3mm标准测试面积：50cm2载气规格：99.999%高纯氮气（气源用户自备）气源压力：≥0.28MPa/40.6psi接口尺寸：1/8 英寸金属管

kSA MOS UltraScan采用非接触MOS（多光束光学传感）激光技术；不但可以对薄膜的应力、表面曲率和翘曲进行准确的测量，而且还可二维应力 Mapping成像统计分析；同时准确测量应力、曲率随温度变化的关系。基于kSA MOS，kSA MOS Ultra Scan使用二维激光阵列扫描绘制半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等各种抛光表面的二维曲率、翘曲度和薄膜应力分布图。kSA MOS Ultra Scan适用于室温条件下测量需求，实现晶元全自动2D扫描测量，同时获得3D图。部分参考用户：中国计量科学研究院电学与量子所、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、中国科学院上海技术物理研究所、北京航空材料研究院、苏州大学、中国科学院成都光电技术研究所中国科学院力学所、华南理工大学材料学院、中国空间技术研究院、阿里巴巴达摩院、清华大学、天津理工大学、上海大学、中国科学院兰州空间技术物理研究所、中国航空制造技术研究院、深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司；Harvard University ，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University ， Karlsruhe Research Center，Max Planck Institute，IBM.，Seagate Research Center, Phillips Semiconductor, NEC，Nissan ARC, Nich ia Glass Corporation等。相关产品： *实时原位薄膜应力仪（kSA MOS Film Stress Tester）：同样采用先进的MOS技术，可装在各种真空沉积设备上（如：MBE, MOCVD, sputtering, PLD, PECVD, and annealing chambers ects），对于薄膜生长过程中的应力变化进行实时原位测量和二维成像分析； *薄膜热应力测量系统（kSA MOS Thermal-Scan Film Stress Tester） 技术参数：1.XY双向程序控制扫描平台扫描范围：300mm；2m（可选）；二维应力分析2.扫描速度：可达20mm/s（x,y）；3.XY双向扫描平台扫描步进/分辨率：1 μm；4.平均曲率分辨率：20km，5×10-5 1/m (1-sigma)；5.薄膜应力测量范围：3.2×106到7.8×1010dynes/cm2（或者3.2×105Pa to7.8×109Pa）(1-sigma)；6.应力测量分辨率：优于0.32MPa或1% (1-sigma) 7.应力测量重复性：0.02MPa(1-sigma)；8.平均曲率重复性：5×10-5 1/m (1 sigma) (1-sigma)；9.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、全样品扫描；10.成像功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析；11.测量功能：曲率、曲率半径、应力强度、应力和翘曲等；12.二维激光阵列测量技术：不但可以对样品表面进行二维曲率成像分析；而且这种设计能保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效避免外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；主要特点： 1.MOS多光束技术（二维激光阵列）； 2.自动光学追踪技术； 3.程序化控制扫描模式：选定区域、多点线性扫描、面积扫描； 4.成像扫描功能：样品表面2D曲率成像，定量薄膜应力成像分析； 5.测量功能：曲率、曲率半径、薄膜应力、薄膜应力分布和翘曲等； 6.适用于各种薄膜应力测量，及半导体晶圆、光学镜面、玻璃、透镜等表面曲率、面型测量。测试实例：

KSV NIMA Langmuir膜分析仪KSV NIMA Langmuir及Langmuir-Blodgett膜分析仪是在Langmuir薄膜的制备、表征（包括显微镜）和Langmuir-Blodgett膜的沉积领域方面应用最广泛的一款全球领先仪器。KSV NIMA Langmuir 及Langmuir-Blodgett膜分析仪可用于单分子层膜的制备及表征，并可精确控制分子的横向堆积密度。KSV NIMA膜分析仪可研究分子在单分子层时具有的独特性质，并可采用Langmuir-Blodgett或Langmuir-Schaefer沉积技术转移这些单分子层。通过精确控制厚度、分子取向及堆积密度可制备单层或多层分子膜。应用在气-液，液-液相界面上制备可控制堆积密度的不溶性单层膜（Langmuir膜），并将此有序功能性膜转移到固体表面（Langmuir-Blodgett 膜），这在纳米技术领域有广泛的应用价值:生物膜及生物分子间的相互作用细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）结构变化及反应药物传输及行为有机及无机涂料具有光学、电学及结构特性的功能性材料新型涂料如纳米管、纳米线、石墨烯等表面反应 聚合反应免疫反应、酶-底物反应生物传感器、表面固定催化剂表面吸附和脱附表面活性剂及胶体合成胶体稳定性乳化、分散、泡沫稳定性薄膜的流变性扩张流变界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）技术Langmuir膜分析仪Langmuir膜分析仪适用于制备、改性和研究Langmuir膜。位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层均可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，为研究单分子层的行为提供了可能。 将材料沉浸在浅池（称顶槽）中的亚相中，可以得到Langmuir膜(3)。在滑障的作用下，表面的单分子层可以被压缩（2）。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器（4）进行控制。 Langmuir膜分析仪可以让您推断当限制二维空间后特定分子是如何堆积在一起的。表面压力-面积等温线可以提供给您每个分子的平均面积和单分子层的可压缩性。 在一个典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)，最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。KSV NIMA Langmuir膜分析仪可测量：测试 信息等温 结构、面积、相互作用、相变、压缩率、迟滞等压/等容 单分子层的稳定性和松弛表面电位 单分子层的电化学性能表征扩张流变 膜的粘弹性动力学 注入亚相中酶的动力学电导率 横向电导率环境监控 pH值及温度常规Langmuir系统Langmuir槽包括一个盛有亚相（一般为水）和单分子层的槽体，调整单分子层面积的滑障和一个监控表面压力的天平。常规的KSV NIMA Langmuir槽有以下几种尺寸：特小型槽、小型槽、中型槽和大型槽。特小型槽的体积最小，但是表面积比小型槽大。三种较小的槽体均采用相同的框架，可随时调整不同尺寸的槽体。液-液槽或高压缩槽采用更大的框架，但同样适用于较小型槽体。不同型号的槽体如下所述。 液-液槽液-液槽可用于油-水界面的单分子层研究。当与高压缩槽联用时，液-液槽可以进行油-水界面的粘弹性研究。 高压缩槽（ISR槽）高压缩槽的槽体更长更窄，压缩比更高。高压缩槽为界面剪切流变仪（ISR）的使用而设计，但是也可以与其他表征仪器联用，让联用仪器更为高效。 显微镜槽显微镜槽与标准槽体的尺寸相同，槽体中配备一个蓝宝石窗口，可通过波长大于200 nm的光线(适用于可见光或紫外光谱)。对于某些尺寸的槽体，可配置带有玻璃窗口的倒置显微镜。 锻带滑障槽锻带滑障槽可用于Langmuir或Langmuir-Blodgett沉积法。与常规系统中的浮动滑障相比，这种专门为肺部表面活性剂研究所设计的PTFE涂层的玻璃纤维锻带可以提供更高的堆积密度（例如DPPC这种表面张力超过70 mN/m的分子）。KSV NIMA表征仪器界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带偏振模块的红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测，并可提供不同的分辨率和其他分析数据选项。表面电位测量仪（SPOT）使用振动盘技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供诸如堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水界面的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。KSV NIMA LB软件KSV NIMA LB软件非常直观，操作简单方便。它为客户提供了涵盖经典的Langmuir及Langmuir-Blodgett膜实验在内的各种预编程序。这些程序可根据用户的需求自行修改，可记录大量的数据及参数，并对相关数据进行作图分析。可记录的参数包括数据点的数目、时间、滑障位置、滑障速度、槽体面积、分子面积、浸渍位置、浸渍速度、层数、转移比、累计转移量、温度、pH值及表面电位等。 标准程序包括：压缩/松弛等温线：测量表面压与单位平均分子面积、剩余面积、时间或其他测量参数之间对应的函数关系。分析单分子层动力学（酶动力学、单分子层的水解、聚合或其他零级反应）。分析单分子层的渗透、溶解度、与生物分子（酶、蛋白质、多肽等）的结合。等体积线及等压线：表面压/温度的增大或减小、表面压/时间或表面压/任意需要测量的参数等，均可进行作图分析。剪切流变学：在一定表面压力下，通过振动滑障来检测粘弹性。浸渍：Langmuir-Blodgett及Langmuir-Schaefer模块可控制并监测表面压、浸渍速度、冲程长度、沉积过程、转移比。 当完成一个实验后，用户可在数据还原与分析界面进行进一步的数据分析。选中一个实验后，对应的实验数据也会显示。不同的实验数据可在同一图表中展示并进行比较。软件也可计算出其他相关数据并进行输出。比如有最新材料性质的信息，即可通过查看和编辑实验设置重新进行数据计算。产品优势最优的性能得益于独特的设计专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可作为探针，以满足不同的需求。开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸和放置都极其方便。Langmuir 及Langmuir-Blodgett槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。坚固的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。 薄型框架设计能够实现与PM-IRRAS(红外光谱)，布鲁斯特角显微镜，荧光显微镜，X射线等光学表征技术的联用。对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，而任意仪器均可实现单一滑障压缩。居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。完全掌控您的实验强大且直观的软件可以满足初学者和经验丰富用户的需求。它是KSV NIMA L和LB的核心组件，该软件能够全程控制并实时显示：表面压力滑障位置滑障速度在沉积过程中（LB）基材位置浸渍速度（LB）温度pH（选件）表面电势（选件）界面单元上的操作按键以及数显功能可帮助用户不使用软件即可做好测量前的准备工作。综合操作手册对设置仪器及进行一些基础实验作了详细介绍。KSV NIMA 公司同样提供大量仪器信息及技术支持以帮助用户更充分的使用仪器。 您的终身合作伙伴独有的可替换性槽体、高度模块化设计，不需要购买新的框架，即可实现KSV NIMA Langmuir及Langmuir-Blodgett膜分析仪各型号之间的灵活切换。客户可根据实验体系的需要进行调整。例如，将Langmuir槽体更换成Langmuir-Blodgett槽体，或者选择不同尺寸的槽体等。 使用大型框架和中型Langmuir槽体搭建的KSV NIMA Langmuir膜分析仪。 除了交替镀膜槽体外，其他所有槽体（直接或使用新槽体升级）都可与KSV NIMA 表面电位传感器，布鲁斯特角显微镜（KSV NIMA BAM 和KSV NIMA MicroBAM）及PM-IRRAS等表征仪器联用。 仪器设计全部采用耐用性组件，在使用了20多年后，一些仪器性能依然良好。 可提供多种配件（如水平浸渍钳夹，表面电位仪，pH探针等）。 灵活性在KSV NIMA，我们理解这种分子尺度的实验，仪器要求会因研究方向而有差异，而我们所提供的标准产品可能不够完全满足您的实验要求。如有特殊实验需求，请与我们联系，以寻求合适的解决方案。

交替型LB膜分析仪1. 产品简介KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。LB（Langmuir-Blodgett）膜分析仪为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，是LB膜的沉积领域应用最广泛的一款全球领先设备。LB膜分析仪配备了镀膜井和镀膜头，在所需的堆积密度下，镀膜头可以用来将Langmuir膜转移到固体基材上，镀膜井可以在Langmuir膜下为固体样品提供空间。将Langmuir膜转移到样品上，密度，厚度及均匀性等性质将会保留，从而实现了制备不同组成的多分子层结构的可能。与其他有机薄膜沉积技术相比，LB沉积方法受功能性分子的分子结构限制影响很小，这意味着LB技术是唯一能够进行自下向上的一种组装方法。交替型LB膜分析仪为我公司LB膜分析仪系列中的一款特色产品。它可用于两种材料的交替层镀膜，包括两个槽体，两个表面压力传感器和两对滑障。该槽有两种尺寸，标准型和大型。2. 工作原理位于气-液或液-液界面处不可溶的功能性分子、纳米颗粒、纳米线或微粒所形成的单分子层可定义为Langmuir膜。这些分子能够在界面处自由移动，具有较强的流动性，易于控制其堆积密度，研究单分子层的行为。将材料沉积在浅池（称顶槽）中的水亚相上，可以得到Langmuir膜。在滑障的作用下，单分子层可以被压缩。表面压力即堆积密度可以通过Langmuir膜分析仪的压力传感器进行控制。在进行典型的等温压缩测试时，单分子层先从二维的气相(G)转变到液相(L)最后形成有序的固相(S)。在气相中，分子间的相互作用力比较弱；当表面积减小，分子间的堆积更为紧密，并开始发生相互作用；在固相时，分子的堆积是有序的，导致表面压迅速增大。当表面压达到最大值即塌缩点后，单分子层的堆积不再可控。图1 单分子层膜状态受表面压力增加的影响LB膜沉积过程是将样品从单分子层中垂直拉出（图2a），通过反复沉积技术可制备多层LB膜（图2b），亲水性及疏水性样品均可在液相或气相中沉积为单分子层。图2 (a). LB沉积过程示意图；(b). 多层单分子膜的制备交替型LB膜分析仪的镀膜过程如图3所示。当使用两个单分子层压缩沉积池和一个空白沉积池时，可实现交替镀膜，浸渍过程可在3个沉积池中选择任意路径多次循环（图3a）；在共同的亚相（浅蓝色）上方，有两种不同的单分子层（紫色和深蓝色）（图3b）；上臂将样品向下通过单分子膜，由下臂接住样品。沉积循环也可从亚相开始，进行第一层镀膜（图3c）；下臂可根据需要旋转到另一单分子层的沉积池或空白沉积池中，改变沉积池（图3d）；下臂提起样品，传递给上臂（样品从任意一侧通过两个单分子层中任意一个），进行第二层镀膜（图3e）。图3 (a). 交替沉积池构造示意；(b). 样品在在夹具上；(c). 第一层镀膜；(d). 改变沉积池；(e). 第二层镀膜3. 技术参数3.1 大型交替LB膜分析仪（KN2004）1. 槽体材质：固体烧结，无孔PTFE材质，快速限位孔固定，可拆卸清洗或更换为多种其他功能性槽体，含双侧导流槽，内置水浴系统接口2. 框体特性：33 mm槽体高度调节，天平可XYZ三维定位调节，含安全限位开关，含搅拌、pH测量、样品注射辅助系统等接口3. 系统设计：模块化设计，可独立进行表面压测量和镀膜实验，可原位进行表面红外、表面电势、布鲁斯特角图像、界面剪切等测试4. 槽体表面积： 930 cm2 (*2)5. 槽体内部尺寸：775 x 120 x 10 mm（长 x 宽 x高, *2）6. 温度范围：-10 oC – 60oC7. 滑障速度: 0.1-200 mm/min8. 滑障速度精度: 0.1 mm/min9. 测量范围：0-300 mN/m（铂金板）；0-1000 mN/m（铂金棒）10. 天平最大负荷: 1 g11. 天平定位调节： 360° x 110mm x 45 mm（XYZ）12. 传感精度: 0.1μN/m13. 表面压测试元件： 标准Wilhelmy白金板，W19.62 x H 10mm，符合EN 14370:2004国际标准。其他选项：Wilhelmy白金板（W10 x H10 mm）、液/液Wilhelmy铂金板（W19.62 x H7 mm）、Wilhelmy纸板、白金棒14. Langmuir-Blodgett测试槽亚相容积：6000 ml15. 镀膜井尺寸：半圆形,半径133mm, 深度128mm16. 最大基材尺寸：3 x 129 x114 mm或4英寸17. 镀膜速度：0.1 – 85 mm/min18. 电源： 100...240 VAC19. 频率： 50...60 Hz4. 产品优势及亮点4.1 产品优势1. 专为极度精确测试设计的超敏感表面张力传感器。铂金属板，铂金属棒及纸板都可用作探针以满足不同的需求。2. 开放性的设计便于槽体在框架上的放置及不同槽体的快速更换，同时便于清洗槽体表面。3. 当需要清洁或更换新槽体时，槽体在框架上的拆卸/放置极其方便。4. Langmuir-Blodgett槽体是由便于清洁、可靠耐久的整块纯聚四氟乙烯构成，其独特的设计能够防止槽体和镀膜井发生泄漏，同时避免了使用胶水及其他封装材料造成的潜在污染。5. 滑障由亲水性的迭尔林聚甲醛树酯制成，可提高单分子层的稳定性。可根据客户需要提供疏水性的聚四氟乙烯压缩滑障。稳健的金属构架能够防止滑障随着时间的推移而变形。6. 对称滑障压缩为标准的均匀压缩方法，但任意仪器均可实现单一滑障压缩。7. 居中的镀膜井有利于单分子层LB沉积的均一性。8. 通过外部循环水浴对铝制底板进行加热/冷却，以控制亚相的温度（水浴为分开销售）。9. 通过调整框架撑脚，可快速而准确地校准槽体水平。当需要放置显微镜时，框架撑脚也可很容易地从槽体上拆除。4.2 产品亮点4.2.1 联用或相关分析技术本产品可与界面红外反射吸收光谱仪(PM-IRRAS)，布鲁斯特角显微镜(BAM)，界面剪切流变仪（ISR），荧光显微镜，X射线等光学表征技术联用或对样品进行后续分析。具体如：1. 红外反射吸收光谱(KSV NIMA PM-IRRAS)2. 石英晶体微天平(Q-Sense QCM-D)3. 表面等离子共振仪4. 电导率测量仪5. 紫外可见吸收光谱仪6. 原子力显微镜7. X射线反射器8. 透射电子显微镜9. 椭圆偏振仪10. X射线光电子能谱仪等4.2.2 本公司可提供联用仪器简介1. 界面红外反射吸收光谱仪（PM-IRRAS）带极化模块的界面红外反射吸收光谱仪主要用来决定分子的取向和化学组成。2. 布鲁斯特角显微镜（BAM）可进行薄膜的均一性、相行为和形貌的单分子层成像和光学观测。3. 表面电位测量仪（SPOT）使用无损振荡板式电容技术来监测薄膜的电位变化，从而对单分子层的电学性质进行表征。提供堆积密度和取向等信息，可对任何Langmuir等温测试进行补充。4. 界面剪切流变仪（ISR）这种独特的剪切流变仪可以测量界面处的粘弹性。适用于气-液或油-水的研究，在控制表面压的同时，可对粘弹性进行分析。5. 产品应用5.1 应用范围l 生物膜及生物分子间的相互作用? 细胞膜模型（如：蛋白质与离子的相互作用）? 构象变化及反应? 药物传输及行为l 有机及无机涂料? 具有光学、电学及结构特性的功能性材料? 新型涂料:纳米管、纳米线、石墨烯等l 表面反应? 聚合反应? 免疫反应、酶-底物反应? 生物传感器、表面固定催化剂? 表面吸附和脱附l 表面活性剂及胶体? 配方科学? 胶体稳定性? 乳化、分散、泡沫稳定性l 薄膜的流变性? 扩张流变? 界面剪切流变（与KSV NIMA ISR 联用）5.2 客户发表成果（部分）1. Q. Guo et al., J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 630-631. (IF= 11.444)2. Kumaki et al., Macromolecules 1988, 21, 749-755. (IF= 5.927)3. S. Sheiko et al., Nature Materials 2013, 12, 735-740. (IF= 36.4)4. Q. Zheng et al., ACS Nano 2011, 5(7), 6039–6051. (IF= 12.033)5. Azin Fahimi et al., CARBON 2013, 64, 435 – 443. (IF=6.16)6. Xiluan Wang et al., J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 6338–6342. (IF= 11.444)7. Zhiyuan Zeng et al. Adv. Mater. 2012, 24, 4138–4142. (IF= 15.409)注：相关资料如有变化，恕不另行通知，瑞典百欧林科技有限公司对资料中可能出现的纰漏免责，更多资料欢迎来电询问。