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[color=#3f3f3f] 日前,大连市检验检测认证技术服务中心正式挂牌。副市长靳国卫参加仪式并揭牌。[/color][color=#3f3f3f] 该中心整合了原隶属于7个市直属部门的8家事业单位,业务覆盖检验检测和认证的多个领域,拥有国家级检验检测资质11个,省级资质7个。主要负责政府下达的检验检测认证任务,同时开展应急检验及风险监测、预警、评估等全链条检验检测数据分析,为政府制定政策、监管措施、风险管理、应急管理提供大数据技术支撑。此外还担负质量标准、技术规范、检验方法的研究、制定、修订、复核、再评价等职能,积极开展科学技术研究及成果转化,为重大国计民生项目提供技术支持。[/color][color=#3f3f3f][/color][color=#3f3f3f] 该中心负责人介绍,未来将着力发挥人才和技术优势,积极参与国际实验室认证和国家级、省级重点实验室建设,打造检验检测和认证技术服务的大连品牌,助力大连市建设良好营商环境、经济社会发展。[/color]
上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 2017年能力验证机构名称: 上海出入境检验检疫局机电产品检测技术中心 联系人:杨荣静、史颖地址:上海市浦东新区民生路1208号(200135) 电话:021-38620819、38620876邮编:200135 电子邮箱:yangrj@shciq.gov.cn;shciqsmec@163.com食品项目联络人:郑世华:13817565933、021-38620628 序号 计划名称 测试/测量项目 项目是否获 PTP认可 对应CNAS-AL06的领域代码 对应CNAS-AL07的PT子领域 测试/测量/校准方法 报名时间 实施时间 备注(费用) 1 绕组温升测试 绕组温升 (电阻法) 是 040701/040703/040705/040801/040905/041101/041201/041301/041401/042601 检测/电气/电学试验 IEC 60335-1:2010, IEC 60034-1:2010, IEC 60745-1:2006, IEC 62841-1:2014 2017全年 2017全年 分发,一对一能力验证(3000元) 2 插头放电测试 插头放电剩余电压值 是 040701/040703/040705/041101/041201/041401 检测/电气/电学试验 GB 4706.1-2005、GB 3883.1-2014、GB 4943.1-2011、GB 8898-2011、IEC 60335-1-2010、IEC 60745-1:2006、IEC 60065:2011、IEC 60950-1:2012、IEC 62841-1 :2014 2017全年 2017全年 分发,一对一能力验证(3000元) 3 单元式空调机能效测试 制冷量、制冷功率、制热量、制热功率 是 040706 检测/电气/性能测试 GB/T 17758-2010 GB/T 7725-2004 2017全年 2017全年 传递,一对一能力验证(8000元) 4 待机功耗的检测 待机功耗 是 040301 检测/电气/性能测试 IEC 62301:2011 IEC 62087:2011 GB 12021.7-2005 GB 21520-2008 GB 21521-2014 GB 24850-2013 GB 12021.6-2008 2017全年 2017全年 分发,一对一能力验证(3000元) 5 泄漏电流测试 泄漏电流 是 040203/040701/040703/040705/040801/040905/041101/041201/041301/041401/042601 检测/电气/电学试验 GB4706.1-2005 GB4943.1-2011 GB3883.1-2008 GB3883.1-2014 GB13960.1-2008 GB 7000.1-2007 2017全年 2017全年 分发,一对一能力验证(3000元) 6 葡萄酒中总糖、山梨酸和锰含量的测定 [
[align=center][size=24px]利用中心切割技术实现杂质峰检测的实验记录[/size][/align][align=center]概述[/align]化工品纯度分析过程中,与样品主要组分分离度较差的低含量杂质的定量较为困难,主峰的严重拖尾可能会使得色谱峰的识别和积分发生问题。中心切割手段可以用以应对此类微量杂质的检测工作。[align=center]背景介绍[/align]某化工企业用户分析某卤代烃类气体样品,当分析纯度较高的样品时,由于主峰超载造成的拖尾较为严重,某些较为重要的杂质恰巧处于主峰拖尾部分。如果含量较低,杂质的色谱峰可能会表现为肩峰造成色谱积分的困难。并且由于主峰的干扰,杂质峰的准确积分相对比较困难。该用户采用的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url]实验分析条件:[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]: Shimadzu [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]gc[/url]-2030 AF色谱柱: HP-Al2O3,50m*0.53mm*15um柱温: 80℃,恒温分流比: 10:1进样体积: 1mL,采用气密性注射器进样检测器: FID, 200℃进样口温度: 200℃用户色谱分析样品的典型谱图如图1所示,主峰的拖尾部分存在强度较低的两个杂质峰,当杂质浓度更低时容易发生积分不良问题。[align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111022100485932_7531_1604036_3.jpg[/img][/align][align=center]图1 用户样品的原始谱图[/align][align=center]中心切割的实验记录[/align]用户采购Shimadzu的AFT中心切割模块试图处置此问题,(AFT模块与Agilent的Deans Switch技术类似)。选用三根规格相同的HP-Al2O3毛细管、两个FID检测器并组合AFT模块进行系统搭建,系统的结构如图2所示。[align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111022100489057_3322_1604036_3.jpg[/img][/align][align=center]图2 系统结构图[/align][align=center]实验谱图[/align]样品进样的瞬间Col2色谱柱串联在Col1色谱柱之后,当样品中的主要组分流入Col2色谱柱之后,在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]gc[/url]编制中心切割程序控制AFT动作进行流路切换。主峰拖尾的小半部分以及杂质进入进入Col3色谱柱并在检测器2上出峰,此时杂质峰的响应受主组分拖尾的影响变小,可以改善杂质峰的积分和检出限,如图3中的紫色谱图所示。[align=center][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111022100490536_7461_1604036_3.jpg[/img][/align][align=center]图3 中心切割谱图[/align]