在“凤凰号”火星探测器上的分析检测近日,装载在美国“凤凰号”火星探测器上的机械手臂成功掘取到了火星上含水冻冰块泥土样本。将泥土样本送到热量与气体放出分析仪(TEGA)中,进行加热并对获得的水蒸气加以分析以确定其中的成分。据美国媒体8月5日报道,亚利桑那大学的首席科学家彼得史密斯4日发表声明指出:第一次实验结果显示火星土壤与地球类似,但是经过进一步的检验发现了火星土壤成分中与地球土壤不同的方面。“凤凰”号将火星土壤样本和地球水放在烧杯中搅拌,并通过24个烧杯内置传感器检测土壤的pH值,寻找各种矿物质的痕迹。第一次检测结果显示火星土壤呈弱碱性,含有生命必需的镁、钠和氯化钾等成分,但第二次检验就发现了高活性的高氯酸盐。高氯酸盐是一种有毒化学物质,是火箭固体燃料的主要成分,烟花爆竹和其他爆炸物中也有它。 目前,还不清楚火星上高氯酸盐的成因和含量。 诸位高手,你知道在“凤凰号”火星探测器上是使用何种仪器?又是如何进行分析检测的?我们也来探测一下吧。
我是一名学生,经过培训已经会熟练操作扫描电镜一些常用的操作。暑假老师让留下做实验,申请使用S-3400N灯丝扫描电镜,于7月31日是我最后一次操作,当天有拍图像及做能谱分析,我很确定这一天仪器没有任何异常。第二天回家了,于今天返校,结果实验室老师说今天开机做扫描想做能谱分析能谱探测器显示关闭,问工程师工程师也不清楚,说要过来检查机器才能确定。有大神知道是什么原因吗?扫描电镜可以拍照,但能谱仪探测器显示关闭。
X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得最为广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。然而长期以来,大家使用的都是基于一维探测器的测量方法。Pulstec公司开发出世界首款基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。 相较于传统的X射线残余应力测定仪,新一代μ-X360n具有以下优点: 更快:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量,全过程平均约90秒。 更精确:一次测量可获得500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确。 更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。 更方便:测量精度高,无需冷却水,野外工作无需外部供电。 更强大:具备区域应力分布测量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料织构、残余奥氏体分析等功能。应用领域: 1. 机械加工领域:测量机床、焊接、铸造、锻压、裂纹等构件的残余应力。 2. 冶金行业:测量热压、冷压、炼铁、炼钢、炼铸等工业生产构件的残余应力。 3. 各种零配件制造:测量电站汽轮机制造、发动机制造、油缸、压力容器、管道、陶瓷、装配、螺栓、弹簧、齿轮、轴承、轧辊、曲轴、活塞销、万向节、机轴、叶片、刀具等工业产品的残余应力。 4. 表面改性处理:测量渗氮、渗碳、碳氮共渗、淬火、硬化处理、喷丸、振动冲击、挤压、滚压、金刚石碾压、切削、磨削、车(铣)、机械抛光、电抛光等工艺处理后构件中的残余应力。 5. 民生基础建设领域: (1)海洋领域 :测量船舶、海洋、石油、化工、起重、运输、港口等领域设备和设施的残余应力 (2)能源领域:测量核工业、电力(水利水电、热电核电)、水利工程、天然气工程等领域的设备和设施的残余应力。 (3)基础建设工程领域:测量挖掘、桥梁、汽车、铁路、航空航天、交通、钢结构等工程领域所用材料、构件及其它相关设备设施的残余应力。 6. 国防军工领域:测量武器装备、重型装备等军工产品的残余应力。http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338019181409.jpg传统的点/线探测器技术 全二维面探测器技术——通过测量应力引起的衍射角偏移,从而算出应力大小。测量时需要多次(一般5-7次)改变X射线的入射角,并且调整一维探测器的位置找到相应入射角的衍射角——施加应力后,通过测角仪得到衍射角发生变化的角度,从而计算得到应力数据——单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力——施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338058206908.gif应用软件:http://sciaps.gz01.bdysite.com/upload/201703/1490338117148580.gif二维探测器获取完整德拜环,单角度入射,一次测量 全自动软件测量残余应力,半峰宽,残余奥氏体等数据内在定位标记和CCD相机方便样品定位,操作极其简单快捷快捷进入预设各种材料测量条件,一键执行测量
化学发光免疫分析仪是极微弱光探测应用的典型设备,光子计数探头是化学发光免疫分析仪产品中主要的探测器类型。本文列举了一些化学发光免疫分析仪中与探测器相关的常见问题,并以滨松光子计数探测器为例进行了详细解析。[b][color=#cc0000]PMT在使用中有什么需要注意的安全问题?[/color][/b]1. 高压问题光子计数探头内部有1000V左右的高压,滨松公司已经做了良好的屏蔽,所以在正常使用情况下,不会有高压电击的问题,不建议可以进行探头拆解,如果拆解使用谨防高压损伤。2. 曝光损坏问题光子计数探头核心是光电倍增管,光电倍增管受到强光照射以后,会发生光敏效应,造成光子计数探头一段时间内的暗计数上升,一般在不通电的情况下,这种暗计数上升是可恢复的,需要在暗环境下静置一段时间,为加快这种恢复,可以加电在环境下静置。但是如果是带电见强光的话,可能会对PMT造成不可恢复的损坏。带电见强光是造成光子计数探头损坏的主要原因,对于这种损失我们也叫曝光损坏。3. 光窗挤压问题光子计数探头的光窗就是PMT的窗口,都是属于玻璃易碎产品,不允许大力挤压,其中有部分光子计数探头的光窗和外壳基本上在一个平面上,安装过程中要特别注意避免对光窗的挤压。[b][color=#cc0000]都说PMT对光很敏感,有可能被强光打坏,那么如何判断什么样的光对于PMT是会造成损伤的“强光”?[/color][/b]1. 对于没有通电的PMT,如果被夏天中午的太阳直射,就会造成永久损伤——所以说,只要环境光显著地弱于夏天中午的太阳直射(如日常的室内环境),是不会对没有通电的PMT造成永久损伤的。2. 对于已经通电的PMT,如果被满月的月光直射,就能使其输出饱和——所以说,强于满月月光直射的环境光对于已经通电的PMT是需要避免的。 需要强调的是,以上提到的都是会对PMT造成损伤的光强;为了在使用中得到高信噪比,PMT需要非常严格的避光,具体要求可以参考以下“测试中发现背景高/信噪比不好,从PMT的角度,有可能有哪些原因?”的问题解析。[b][color=#cc0000]测试中发现背景高/信噪比不好,从PMT的角度,有可能有哪些原因?[/color][/b]1. 漏光影响暗计数是光子计数探头的主要参数,影响暗计数因素主要有温度、漏光等因素,大部分在应用中遇到的暗计数高、本底高的问题,都是由于漏光引起的,PMT是非常灵敏的探测器,对于单光子信号就有非常好的响应,我们通常会收到客户的说法,例如:“在晚上我把灯关掉,还是暗计数很高呀;”“我没有拆开给你们提供的窗口纸呀;”“光窗我是用黑胶带贴上的”。类似这样的避光是远远不够的,远远没有达到光子计数探头要求的工作环境,光子计数探头要求的绝对暗室,不允许有任何的光线透过,所以在光子计数探头使用过程中完全避光应该是最基本的要求。如果仅仅是评价暗计数测试时候建议用黑布进行多层的包裹,并且上电稳定半小时以后进行暗计数评价。2. 温度对暗计数的影响另外一个影响暗计数的因素就是温度,工作温度升高热电子发射加剧,暗计数上升,温度降低,暗计数下降,对于化学发光免疫分析中使用的光子计数探头,一般情况温度下降到10℃以下,暗计数就变化很小了。下图为滨松H10682典型的暗计数和温度的关系图请参考。[align=center][img=,364,403]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211113230530_6115_2194_3.png!w364x403.jpg[/img][/align]3. 暗计数对化学发光免疫分析仪的影响暗计数特性和仪器的检测下限有关系,常温下(25℃)光子计数探头的暗计数都在150cps以内,而化学发光试剂发光要远强于这个数值,所以在常规的试剂体系和设备中暗计数都不会对测试造成太大影响。全自动化学发光设备中由于有温浴系统,温度一般会高于25℃,暗计数会有所上升,对于大部分的设备中都影响不大,不过在设备设计过程中要充分考虑到充分散热,尽量使得光子计数探头安装到远离热源的地方,并且做好通风散热。[b][color=#cc0000]滨松的光子计数探头的输出线性如何?如果我的化学发光仪需要更大的线性范围有没有什么方案?[/color][/b]动态范围是化学发光免疫分析仪的关注的一个重要参数,也是光子计数探头的重要参数。1. 光子计数探头线性光子计数探头的动态范围受到光电倍增管、放大电路等因素的影响,考虑到成本、功耗,一般情况下滨松的光子计数探头设计最大输出线性为5Mcps或者6Mcps,这样的线性范围完全可以满足化学发光免疫分析仪的使用。下图是滨松H10682典型是线性曲线。[align=center][img=,416,319]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211119139310_5058_2194_3.png!w416x319.jpg[/img][/align][align=center]H10682线性输出曲线[/align][align=left]2. 线性校正 [/align][align=left]一般情况下光子计数探头最大线性输出5-6Mcps就可以满足客户的使用,但是有个别客户提出在特殊的试剂下,需要更高的线性输出上限,一般情况下遇到这种情况下有两种处理方法:[/align][align=left]1)对试剂进行稀释,稀释以后进行测试,可以有效的降低光产额;[/align][align=left]2)对光子计数探头的输出进行线性校正,就像我们上面提到的滨松CH326配合CH297-011,在输出线性校正前,最大输出线性为6Mcps如果使用滨松CH297-011内嵌的线性校正功能最大线性输出可以达到20M,当然H10682配合CH297-011也可以实现这个功能。下图是线性校正前后滨松H10682的最大输出:[/align][align=center][img=,420,319]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211114478710_507_2194_3.png!w420x319.jpg[/img][/align][align=center]线性校正前后滨松H10682的最大输出特性曲线特性曲线[/align][align=left]另外我们也提供线性输出校正公式供用户参考,参考公式如下:[/align][align=center][img=,521,257]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211120378522_8346_2194_3.jpg!w521x257.jpg[/img][/align][align=center]N:真实计数(cps,count per second) M:测量计数(cps,count per second) t:脉冲分布率(s)[/align][align=left][/align][align=left][b][color=#cc0000]化学发光仪中PMT的安装有什么讲究?[/color][/b][/align][align=left]1. 距离 [/align][align=left]安装距离是一个用户问的比较多的问题,安装距离主要会影响PMT的探测率,例如图5所示同样面积的探测器距离点光源越远,如果不加其他光学系统的情况下,探测效率越低,而在化学发光免疫分析仪中,一般情况是直接探测,不加其他的光学系统,所以我们建议是靠近样品池,这样会保证比较好的光耦合效果。如果是安装空间有限制,可以考虑使用光纤,但是使用光纤会带来耦合效率的降低,不是特别推荐。[/align][align=center][img=,546,533]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211122145829_9433_2194_3.jpg!w546x533.jpg[/img][/align][align=center]安装距离对探测效率影响示意图[/align][align=left]2. 探测窗口大小 [/align][align=left]在全自动化学发光免疫分析仪中,大部分采用直径为1cm左右的圆形的试管,也有其他的异形的试管,当然还有使用微孔板的反应器。在化学发光免疫分析仪中使用的典型产品滨松H10682光窗尺寸为φ8,CH326光窗尺寸为φ25,一般情况下,建议用户使用PMT80%的有效面积,这样在光子计数中的能够保证比较好的稳定性和一致性,φ8mm接近试管尺寸,建议使用光窗小于φ8mm,这样可以避免由于试管和PMT的对齐问题,造成的台间差。如果使用φ25mm的产品,就不用考虑对齐问题,也可以保证探测率。 [/align][align=left]3. 窗材 [/align][align=left]一般在应用反应皿(试管)和光子计数探头窗口之间不需要加任何的隔离窗口材料,但是有些用户考虑到隔离、污染、腐蚀等因素,希望在窗口和光子计数探头进行隔离,如果有这种需求,我们建议使用石英玻璃作为窗材,并且要求窗口和光子计数探头窗口之间保持3mm以上的距离。 [/align][align=left]4. 光子计数探头接地 [/align][align=left]光子计数探头要安装到一个暗室系统中,大部分用户会用金属材质进行暗室系统的设计,利用探头提供的固定位进行探头固定。一般情况下,在化学发光分析仪设计中整个机架都要进行接地处理,暗室也和大地相连。由于探头的外壳和内部电路地相连,下如果探头外壳再和大地相连的话,可能会带来干扰,所以在探头安装时候,我们建议探头外壳不要和大地连接,采用绝缘连接,或者暗盒系统采用聚四氟乙烯的外壳。[/align][align=left][/align][align=left][b][color=#cc0000]从探测器的角度,如何校正同一型号化学发光仪的台间差?[/color][/b][/align][align=left]台间差是设备品控的重要指标,设备台间差和设备的各个部件的台间差是相关的,光子计数探头作为化学发光免疫分析仪的重要部件,它的输出差异也会对设备的台间差造成影响,怎么去减小或者消除这种差异是用户经常遇到的问题。 [/align][align=left]1. 软件校正 [/align][align=left]光子计数探头是目前来说测试极微弱光能力最强的探测器,是目前化学发光免疫分析中唯一的探测器选择,正常工作环境下探头灵敏度完全可以满足设备探测器下限信噪比的需求,对于同一个探测器,输出的结果能够反应被探测光的强度和变化,一般情况下这种变化是线性的,所以说对于一个探测器来说只要满足探测信噪比,满足输出线性,输出不受采集设备的现在,输出的绝对值大小就变的没有意义了。 在这个前提下,我们建议用户用标准试剂对每台设备进行一致性标定,在光子计数探头的输出基础上进行系数的校正,在线性范围内只需要一个系数校正即可,如果是在非线性区,需要根据实际输出情况进行校正。[/align][align=center][img=,600,386]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211126257756_6569_2194_3.jpg!w690x444.jpg[/img][/align][align=center]标准试剂校正 [/align][align=left]2. 光子计数探头出厂控制 [/align][align=left]虽然我们上面介绍了光子计数探头的只要满足信噪比情况下,台间差可以通过软件进行修正,不过也有用户希望在探头上做挑选控制,北京滨松根据用户要求,出厂前对光子计数探头例如滨松CH326进行灵敏度挑选,在内部测试条件下,可以将灵敏度离散型控制在±10%以内。[/align][align=left][/align][align=left][b][color=#cc0000]在实际使用中,PMT探头有寿命问题么?其灵敏度还会受什么因素影响?[/color][/b][/align][align=left]1. 寿命问题 [/align][align=left]光电倍增管的寿命只与输出的总电荷数有关,我们定义光子计数探头灵敏度下降50%的时间为光子计数探头的寿命。光子计数法是光电倍增管用于极微弱光探测的一种方法,相比于常规的模拟法应用,一般情况下光子计数探头平均输出电流要小很多,所以说光子计数法寿命非常长,可以达到几十万小时,在正常的工作状态下化学发光免疫分析仪设备,不需要太多考虑光子计数探头的寿命问题。 [/align][align=left]2. 温度对灵敏度影响 [/align][align=left]光电倍增的灵敏度受温度的影响,在可见光波段温度升高,光电倍增管灵敏度下降,光子计数探头也继承了光电倍增管的特性,下图所示 滨松H11123温度灵敏度变化曲线,可以看到每升高10℃灵敏度会下降2-3%。[/align][align=center][img=,690,344]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211130122400_5469_2194_3.jpg!w690x344.jpg[/img][/align][align=center]光电倍增管灵敏度随工作温度变化曲线[/align][align=left][color=#cc0000][/color][/align][align=left][b][color=#cc0000]在化学发光仪的设计中,如何减小电磁干扰对光子计数探头的影响?[/color][/b][/align][align=left]EMC特性是医疗设备必须考虑的问题,不仅仅是安全的问题,更重要的EMC对于设备稳定性的影响。滨松光子计数探头充分考虑到EMC特性的,虽然目前还没有针对光电倍增管或者光子计数探头的EMC标准,不过滨松在光子计数探头的设计和开发过程中有严格的内控指标和测试。对于光子计数探头的EMC特性主要体现下电磁干扰对光子计数探头输出稳定上的影响。 [/align][align=left]1. 磁场对光子计数探头输出的影响 [/align][align=left]光电倍增管有空间电子运动,所以在磁场作用下,电子轨迹会发生改变,影响光电倍增管的输出特性,并且不同方向的磁场影响的大小也是不同的,同样光子计数探头输出也会收到磁场影响,下图是滨松H10682输出受磁场影响的典型曲线。在全自动化学发光免疫分析仪中有大量的电磁阀和蠕动泵,这些器件在工作的时候都会产生磁场,这种磁场是光子计数探头干扰磁场的主要来源。滨松的在设计光子计数探头时候已经做了部分的磁屏蔽措施,如果用户在另外增加磁屏蔽处理起到的作用也有限,所以我们建议客户不再进行额外的屏蔽处理。距离降低磁场影响非常有效的手段,我们建议用户要尽量把探测器原理磁场干扰源,一般要求在10cm以上。[/align][align=center][img=,690,482]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211132565670_8776_2194_3.jpg!w690x482.jpg[/img][/align][align=center]H10682受磁场影响输出曲线[/align][align=left]2. 信号干扰 [/align][align=left]磁场会对输出信号造成影响,但是在化学反光免疫仪设计中并不是最棘手的问题,信号输出不稳定、波动、跳点才是最难处理的,并且一般在遇到类似问题的时候很难找到问题所在。对于信号干扰的问题,我们建议用于在设备设计之初就要进行考虑。一般要注意以下几个方面: [/align][align=left]a) 电源选择,我们建议用户选择正规的有EMC认证的电源给光子计数探头进行供电; [/align][align=left]b) 运动控制、探测电路、线路隔离; [/align][align=left]c) 光子计数探头外壳与机壳隔离; [/align][align=left]d) 信号输出线排布不横穿、横跨电磁干扰源; [/align][align=left]e) 做好整体机壳的屏蔽、接地,防止周围大功率用电器干扰。[/align][align=left][/align][align=left][b][color=#cc0000]滨松有没有针对探测器评价用的稳定光源产品?[/color][/b][/align][align=left]用户一直希望有一个稳定的光源产品能够用于探测器的评价以及设备的标定,基于需求滨松开发了稳定光源产品,一个是试管状、一个是试剂卡状,型号分别为L11416和L11494,图9是产品的基本信息,具体的产品技术信息可以参考滨松的产品样本。[/align][align=left]在这里想说明,稳定光源产品仅仅是一个能够实现稳定输出的光源,由于内部使用LED作为发光器件,所以光谱是一种窄线光谱,与化学发光试剂发光的光谱不是完全相同,所以一般不用于设备一致性的标定。我们定位这个产品主要是评价探测器的输出稳定性、评价设备的输出稳定性,用户可以根据自身的需求,进行产品的选择购买。[/align][align=left][/align][align=center][img=,690,499]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808211137111824_6299_2194_3.png!w690x499.jpg[/img][/align]
分享一篇关于低真空SEM技术的文献。《电子显微学报》2023年4月,第42卷第2期低真空扫描电子显微镜对含水、含气以及不导电样品等的表征方面有着重要应用。国仪量子公司团队基于电子轨迹追踪模拟和粒子碰撞蒙特卡洛模拟,对低真空信号探测器的工作过程进行仿真和实测,分析了探测器在不同位置和气压大小对收集效率的影响。根据模型所预测的探测电流的大致范围同实测探测电流较为一致。同时仿真分析的结果表明,空间中不同区域的放电强度有较大区别,局部区域的雪崩倍增剧烈程度与该区域的电场强度成正相关。这对探测器的形状和位置布局设计具有显著的指导意义。
“凤凰号”火星探测器携带七种探测仪器 “凤凰号”探测器是一个由3条腿支持的平台,平台直径1.5米,高约2.2米,其中心是一个多面体仪器舱,舱左右两侧各展开一面正八边形太阳能电池阵,跨度5.52米。与“火星极地着陆器”相比,“凤凰号”探测器的最大变化是提高了太阳能电池的性能。 “凤凰号”探测器将携带7种科学探测仪器,分别是: (1)机械臂(RA) 它是“凤凰号”探测器上最重要的设备,用以挖取火星表面及表面下层的土壤样品。它将挖得的样品送入着陆器搭载的“显微镜电化学与传导性分析仪”和“热与气体分析仪”中进行化验分析。 机械臂长2.35米,有4个自由度,末端装有锯齿形刀片和波纹状尖锥,能在坚硬的极区冻土表面,挖掘1米的深坑。机械臂还可为装在臂上的相机调整指向,引导测量热与电传导性的探测器插入土壤。 (2)显微镜电化学与传导性分析仪(MECA) 它是在“火星勘探者”计划中用的仪器基础上略加改进而成,包括湿化学实验室、光学显微镜、原子力显微镜和热与电传导性探测器4台仪器,用以检测土壤的元素成分以及给土壤样品拍摄成像。 (3)热与气体分析仪(TEGA) 它包括微分扫描热量计和质谱仪两部分,用以对土壤样品的吸热和散热过程进行观测记录,并对加热后释放出的挥发物进行分析。 (4)表面立体成像仪(SSI) 用以测绘高分辨率的地质图和机械臂作业区地图,进行多光谱分析和大气观测。 (5)机械臂相机(RAC) 用以拍摄机械臂采集的土壤样品的高分辨率图像,分析土壤颗粒的类型和大小。 (6)火星下降成像仪(MARDI) 用以在“凤凰号”下降过程中拍摄火星表面,堪察着陆点附近的地质情况。 (7)气象站(MS) 这是为“凤凰号”着陆器惟一专门研制的新仪器。它由激光雷达和温度压力测量装置两部分组成,用以了解当地大气的特性。
EDX对金属的极限探测含量哪位兄弟知道否?另外,请指教一下ZAF法定量分析...其和标准样品法的差异如何?
[size=18px]在平时工作中,身边总是有人在问波长色散分析仪的探测器用的是什么检测器?是什么原理?有的为啥还有需要气体的,搞的好麻烦,气体爆炸怎么办……今天我们就来聊聊[b]波长色散分析仪的检测器[/b]。波长色散的x荧光光谱仪由于要使用分光晶体,从而使得待测元素的分析仪谱线可以较好的分离,故通常使用分辨率不那么高的流气式正比计数器和NaI闪烁计数器作为光谱仪的探测器。主要说说流气式正比计数器[b]气体正比计数器又可以分为封闭式和流气式正比计数器[/b],由于封闭式正比例计数器分辨率太低,而且温差电冷能量探测器已经实用化,所以封闭式正比例计数器将会慢慢被淘汰。我们主要来说说流气式正比例计数器,一般情况下,流气式正比计数器为一个直径2cm住状体,中间有一根20-30μm的金属丝,用作前放信号和外部高压的接头,筒状体内部充入惰性气体和淬灭气体,通常为90%的氩气和10%的甲烷气体混合器,并在金属丝和柱壳间施加1400V~1800V的电压。当流气式正比计数器中的探测气体收到X射线的照射时,或产生大量的负电子和正电性氩离子组成的离子对。假设入射X射线的光子能量为E,产生离子对的有效电离能 为V,由入射X射线光子产生的平均离子对数n与入射X射线光子的能量成正比,与离子对的有效电离能成反比:n=E/V产生的电子在电压作用下会逐渐加速飞向样机金属丝,并引发进一步的氩原子电离,这一效应被称为电离增益,流气正比探测器的电离增益一般为6*10四次方。。。。经放大后的电流由电容收集,产生的脉冲电压与入射光子的能量成正比。在这里需要注意的是,脉冲高度和强度的区别。[b]脉冲高度:[/b]指由单个X射线产生的单个脉冲电压幅度。[b]X射线强度:[/b]指每秒钟测得的脉冲数。重点来了,[b]探测器的分辨率一般定义为峰高一半处所对应的谱峰宽度,简称谱峰半高宽。[/b]流气式正比计数器一般适用于较长波长的X射线探测,通常用于0.15~5nm波长的X射线探测,对于0.15以下的波长,探测的灵敏度很低,这也就是为什么目前很多的X荧光分析仪会设置有多个检测器的原因。希望这样的小知识普及能够让大家明白什么是流气式正比计数器,并且知道他的原理,这样见到这类型的分析仪就不会在这边面有疑问啦![/size]
请问能谱探测的信号除了X射线之外背散射电子能否进入探测器呢?如果不能进入分析晶体,那它是在哪里被吸收或清除的呢?准直器?窗?请多多指教!!
周一,在进行钼铁分析时发现SC探测器坏了,选用FPC测L线,还能勉强满足分析的要求,我担心更换探测器后,会对先前建立分析程序产生影响吗?
[size=16px][color=#333333] [/color][/size][b]管道火花检测装置火花探测器系 统[/b][size=16px][color=#333333][/color][/size][b]还在担心管道内的火花抑制问题吗?火花探测器用于监控与储铂接的除尘管道并且在引发储仓火灾之前熄灭每一个火花,即使火花隐藏在稠密的物料中,探头也能灵敏地探测到。 火花探测系 统是由一台或多台探测器、自动灭火组件或者监控站构成。更多咨询江西世纪行安装工程刘工(1-8-9 --7-9-9-3 --7-3-8-1) [/b]工业生产过程中,在可能产生火花的场合,安装火花探测及灭火装置是保证安 全生产的重要措施.西德GreCon公司生产火花探测器及灭火系 统已有十多年的经验,产品三千多套,欧美各国的刨花板,制糖,烟 草等工厂中都有广泛应用. 我国与西德合作制造的年产五万立方米刨花板生产线中,也引进了GreCon公司的火花探测及灭火技术,用于干燥,砂光,打磨筛选等工段的干刨花和粉尘等输送管道内的火花探测及灭火.本产品作为火花探测器配套设备,集变频控制器和泵集成于一体,可根据管路用水量的变化实现无人值守的全自动变频无极调节运行。设备具有恒压变频、方便随时改变运行参数(中文液晶汉显菜单式设置)、功能齐 全(带缺水保护、缺相保护、过流过载保护等)、操作方便简单(一次人工操作以后全自动运行)、安装方便(设备购买后直接对接进出水口和接好电源线即可)、经济实惠等典型优点。[b](各 种小型建筑自来水给水增压、工业生产流程增压、小型办公楼/写字楼供水增压、工地临时供水增压等场合理 想的智能型二次增压设备)[/b][color=#333333][b]火花探测器熄灭装置(火花报警器)[/b][/color][b]技术参数:[/b]1.反应时间 :<0.1秒2.输出 :特定频率信号3.工作温度 :-80度~+80度4.工作电压 :5~36VDC5.工作电流 :<10MADC6.防护等级 :IP657.防 爆等级 :EXTDA21IP65T808.材质 :T6061航空铝+304不锈钢配置:2个探测+控制+报警+熄灭+联动功能:安装于除尘系 统管道,用于探测报警,熄灭和联动停风机。用途: 木业,板业,塑化,家具行业车间,切割,开料,砂光等环节生产过程中央吸尘管道适用。[b]产品优点:[/b]控制箱是火花探测系 统的核心。它负责熄灭任务、自检任务、人机交互、和记录分析所 有的事件。1、 ARM芯片,火花响应速度在纳秒(ns)级别。软件采用 EeOS实时操作系 统,零死机风险,确保火花即刻反应。系 统具备多任务的处理能力,为监控和处理每个区域的火灾隐情提供了并发的技术保障,同时节约您的投 资成本。2、 熄灭作业自动终止。系 统一旦探测不到火花,就自动停止熄灭作业;生产线可以继续运行,不需要停止,也无须人工干预,zui大程度地提高了生产效率;这种特殊功能正是该系 统区别于一般安防系 统的地方。3、 高品质人机交互体验;8寸超大液晶显示屏,LED背光;图形化操作界面,简单易用;表面强化电阻触摸屏,、耐脏、耐磨。4、 详细的事件记录。可存储多达 2000条的数据,不但为事后分析提供了可 靠的依据,更为今后更好的生产提供了有效的参考。详细记录了火花发现的时间、地点、数量、持续时间,熄灭作业的开始时间、停止时间、作业地点,系 统周期性自检的结果,各个子系 统的运行状况。所 有这些记录掉电依然可以保存,不会丢失您的任 何信息。5、 完善可 靠的自检系 统。在检测管道内火灾隐患的同时,不断地定期检测所 有模块的健康状况,保证整套系 统的良好运行;如发现损坏、断线、水压不足、漏水、系 统 断电等故障,可快速告警,通知用户。6、 可配置的联动措施。系 统配有继电器,用户可以根据实际需求配置联动继电器输出;继电器可以配合用户的除尘设备或生产线,采取进一步措施。7、 可选配的后备电源模块。该模块附带一蓄电池,可以在外接电源停电或意外断电的情况下满负荷工作 24小时,确保系 统不间断地保障您的生产安 全。8、 每个输出点均有保险丝,确保无短路风险。我们在每个保险丝槽内附带备用保险丝,贴 心备用。在发生短路后,可立刻换上备用保险丝。[align=center][img]http://www.daxuecidian.com/file/upload/202103/26/1452288241657.jpg[/img][/align][b]火花探测器熄灭装置(火花报警器)[/b][color=#333333][b][/b][/color][b]产品设计理念 火花探测系 统与增压水熄灭系 统为两个独立体,两者配合使用,前者探测到火花,后者负责熄灭,从而消 除粉尘火灾与尘暴的风险。火花探头平行对称安装在吸尘管道壁上,监测在风力输送过程中由火花产生的红外辐射,系 统监测到火花时,熄灭系 统瞬间启动,特制的喷水装置喷出的水雾填充整个管道截面,使火花整个被笼罩在水雾之间,火花瞬间熄灭,喷头为特制,熄灭用水量很少,不必担心因水量过大造成粉尘过滤装置堵塞。系 统分一级/二级报警设置,火花数量触发一级报警后,设备自动熄灭并做日志记录,系 统闪灯告知工作人员,不停机。火花数量触发二级报警后,系 统自动熄灭,喇叭声光报警,并连锁停机(可控),等工作人员检查完毕复位后,方能重新开机。本产品定位适用于灾前预防,不能代替消防产品。 产品优势 [/b]一级火花报警喷水熄灭并发出声光提示,二级火花报警输出连锁信号到外部做停机等动作,并将熄灭喷头处理结果反馈到显示屏幕上,一、二级报警火花数量可任意设置,储存火花报警记录数量无 限制(外插卡),可任意查询,并提供火花报警记录曲线图、趋势图供客户分析。远程信息模块,可将火花报警信息推送到客户指 定的短信或微 信上(包含报警发生位置、时间、火花数量、熄灭结果等),以便值班人员及时处理。 标配10寸大屏,可显示系 统工作状态、火花报警数量、时间、处理结果,以及多达上百种故障检测内容(例如探头在线、断线、接触不良、数量检测、水压检测、喷头在线检测、水流动、电磁阀开闭检测等等),有效避免发生火花报警时才发现设备无法使用造成的损失。标配德国魏德米勒UPS后备电源,即使断电也能正常工作。[b] 产品特点: 1、 探测灵敏。在研究各类火花的特征光谱曲线的基础上,选择对应的高速光敏原件,匹配探测波长范围。探头能够探测到小的火花和炽热颗粒,具有高度的灵敏性;同时,探测系 统能够穿过高密度的物料、尘埃进行探测。2、 采用光电检测技术。非接触检测,不对被检测对象有任 何的干扰,不会影响正常的生产流程;同时具备灵敏度高、稳定性好、功耗低、寿命长等优点,适合工业级的不间断工作。3、 广角探测设计,用两个探头就能完 全覆盖管道。4、 外壳坚固。探头外壳采用航空铝材料和不锈钢,轻巧坚固,耐氧化、耐腐蚀。配合专门设计的防水槽和密封圈,使得外壳整体达到了 IP67防护等级,可用于户外的严苛环境。醒目的外层黄色涂装,使您一看便知探测点的所在。5、 安装快速。探头安装采用专门的连接件,使得安装非 常容易,一个人需数分钟就能完成一个探头的安装。[/b][align=center][img]http://www.daxuecidian.com/file/upload/202103/26/1452282241657.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.daxuecidian.com/file/upload/202103/26/1452284241657.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.daxuecidian.com/file/upload/202103/26/1452284341657.jpg[/img][/align][align=center][img]http://www.daxuecidian.com/file/upload/202103/26/1452281441657.jpg[/img][/align][b]应用领域:●人造板、木材和家具等生产车间。●金属和砂石等物体在运动中产生的纤维、刨花和粉尘等环境。●大负荷的设备在运转过程中产生的火花环境。●烟 草、化工、纺织、食品、饲料、冶金、皮革、橡胶加工等产生高粉尘环境的企业。系 统主要作用●探测火花并熄灭。●干燥设备的保护。●研磨设备的保护。注意事项:1. 安装材料:a, 电缆线采用RVVP0.75*5芯,4芯和3芯(不同型号有区别)带屏蔽电缆线,接入时屏蔽线同时须接通接线器。b, 水管采用镀锌DN50管,开牙并采用液态生料带进行密封性连接。c, 电源采用AC 220V 10A ,对于供电异常的用户,须增加相应的备用电源。2. 安装标 准:a,电路布置时须独立线管,尽量不与其它动力线路并线布置。电路接头处安装保证稳固。探头安装于管道左右侧,保持正对。喷头安装于管道顶部即可。b, 水路安装是以就近原则为准,确信信号及水源的即速响应。若供水源水压不足时,如低于2公斤,和水量不足时,须增加500L储水箱以备用。公司成立已通过ISO9001质量管理体系认证,取得防 爆电气合格证、产品检验报告、防 爆电气生产许可证等,可放心购买。[/b]
近年来国内X射线探测技术发展的也相当迅猛,在日本核泄漏的事故后大家更加的重视了辐射、安全。下面我给大家分享一下我们代理的X射线探测器看看大家是否熟悉:X-123 是一个完整的X 射线探测系统,它整合于可放在手中的小盒子里。X-123 标志着Amptek 14 年的X 射线探测器研发成果。我们一直致力于开发小型、低功率、高性能、易操作的仪器。X-123 是我们这一宗旨的一个例子,它提供一个套装的XR100 X 射线探测器和电荷敏感前置放大器, DP4 数字脉冲处理器和脉冲整形器、多通道分析器及数据接口、以及 PC4-3 电源。你只需要一个5 伏的直流电源和一根USB 或RS232 接线与你的计算机相连。包括:1. X-射线探测器和前置放大器;2. 数字脉冲处理器和MCA 多通道分析器;3. 电源和PC 接口特点:• 小巧的完整系统• 易操作• 尺寸小 (2.7*3.9*1 英寸(7 * 10 *2.5 厘米)• 功率低(1.2W)• 重量轻-180g(6.3 盎司)• USB 和RS232 连接• 跟所有类型的 Amptek 探测器匹配应用:• X 射线荧光探测 (XRF)• 符合 RoHS/WEE 标准的仪器• 程控• 文物和考古• X-123 演示 探测器:• Si-PIN X 射线探测器;• 两级热电制冷.• 面积: 5 至 25 mm2• 厚度: 300 至 680 μm主要指标:• 分辨率: 峰值5.9 keV 时为145 至260 eV 半峰宽• 最佳能量范围: 1 keV 至 40 keV• 最大计数率: 最高2 × 105 cps工作原理和配置:Amptek 擅长于生产小型化、低功耗、高性能和易于操作的X 射线光谱仪。X123 在一个容器内整合了Amptek 公司标准化、高性能的X 射线光谱分析元件,其中包括XR100CR 探测器和前置放大器、DP4数字脉冲处理器和MCA 多通道分析器、以及PC4-3 电源,成为可以握在手中的集成化完整系统。而其它厂家的系统,仅前置放大器就比X123 更大、更重且更耗能。其它所需只是两根连线:一个5V 直流电源和一根USB 或RS-232 数据线。通过X123,可以很快得到高质量的[/s
能量色散的探测器阈值设定是怎么回事? 在荧光分析中阈值是什么意思? 阈值对探测分析有什么影响?
电离室ionization chamber 由处于不同电位的电极和限定在电极之间的气体组成,通过收集因辐射在气体中产生的电子或离子运动而产生的电讯号来定量测量电离辐射的探测器。 分为脉冲电离室和电流电离室,前者可记录单个辐射粒子的电离辐射,主要用于重带电粒子的能量和注量或注量率的测量,后者则用来记录大量辐射产生的平均效应,用于测量X射线,γ光子束,β射线和中子束的注量、注量率和剂量。 是一种核辐射探测元件。一般为圆柱形,电离室中间有一个柱状电极,它与外壳构成一个电容器。在电离室的两极加上电压,可以收集放射性射线作用产生的电离电流。根据电离电流的大小可以确定放射性活度。按照被测射线种类不同,电离室可分为α电离室、β电离室和γ电离室。[1] 一种最早的测量核辐射的气体电离探测器之一,早在191—1914年间,就用它成功地发现了宇宙线.最简单的电离室由两块平行板构成,一块接几百至几千伏正高压,一块通过电阻接地.当带电粒子经过时,使两板之间气体电离,正离子飞向阴极,电子飞向阳极.两板上产生感应电荷,在接地的电阻上就形成一脉冲信号.由于电子飞行速度比离子要大三个量级,电子将快速到达阳极,在到达前,由于是正反离子对共同贡献,脉冲上升,随着电子减少和离子被阴极吸收,脉冲慢慢下降,直到正离子被吸收.由此可见,电离室相当于简单的放电线路,不同的电离室就是选择不同的值iPiP设计出来的.如果离子收集时间为+(约为103C秒),电子的]收集时间为-(约为106+C秒),当取时,为离子脉冲H]iP]电离室,它收集了全部电子和离子,可以用它来测量带电粒子的能量.当取-<<+时为电子电离室,它比较快,可]iP]以用来测量带电粒子的强度.但由于它的脉冲辐度与离子对产生地点有关,不能直接用它来测能量.为了把电离室做得又快又能测能量,人们把它改进成屏栅电离室,可以在重离子物理中测量重带电粒子能量并鉴别粒子,也可改进为圆柱形脉冲电离室,既可测能量,又可作记数器.[编辑本段]正文 一、电离室工作原理 电离室是一种探测电离辐射的气体探测器。 气体探测器的原理是,当探测器受到射线照射时,射线与气体中的分子作用,产生由一个电子和一个正离子组成的离子对。这些离子向周围区域自由扩散。扩散过程中,电子和正离子可以复合重新形成中性分子。但是,若在构成气体探测器的收集极和高压极上加直流的极化电压V,形成电场,那么电子和正离子就会分别被拉向正负两极,并被收集。随着极化电压V逐渐增加,气体探测器的工作状态就会从复合区、饱和区、正比区、有限正比区、盖革区(G - M区)一直变化到连续放电区。 所谓电离室即工作在饱和区的气体探测器,因而饱和区又称电离室区。如图11-1所示,在该区内,如果选择了适当的极化电压,复合效应便可忽略,也没有碰撞放大产生,此时可认为射线产生的初始离子对N0恰好全部被收集,形成电离电流。该电离电流正比于N0,因而正比于射线强度。加速器的监测探测器一般均采用电离室。标准剂量计也用电离室作为测量元件。电离室的电流可以用一台灵敏度很高的静电计测量。 不难看出,电离室主要由收集极和高压极组成,收集极和高压极之间是气体。与其他气体探测器不同的是,电离室一般以一个大气压左右的空气为灵敏体积,该部分可以与外界完全连通,也可以处于封闭状态。其周围是由导电的空气等效材料或组织等效材料构成的电极,中心是收集电极,二极间加一定的极化电压形成电场。为了使收集到的电离离子全部形成电离电流,减少漏电损失,在收集极和高压极之间需要增加保护极。 当X射线、γ射线照射电离室,光子与电离室材料发生相互作用,主要在电离室室壁产生次级电子。次级电子使电离室内的空气电离,电离离子在电场的作用下向收集极运动,到达收集极的离子被收集,形成电离电流信号输出给测量单元。 二、电离室的主要性能 (一) 电离室的灵敏度 一般说来,电离室的灵敏度取决于电离室内的空[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]量。由于电离室内的气压近似为一个大气压,那么,也可以说其灵敏度正比于空气体积,因而这个体积又称“灵敏体积”,对于测量照射量(空气比释动能)的电离室,其电流服从下式的规律 或者写为: 式中 SC — 电离室的灵敏度(灵敏因子) [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff]IC[/color][/url] — 电离室的电离电流A — 照射量率Ckg s(Akg) V — 电离室的灵敏体积 a — 常数,与电离室的材料和空气密度有关,对于空气等效电离室α≈1.2×10 因此随着电离室体积增大,灵敏度增高。 (二) 电离室的能量响应 如上所述,电离室的响应(灵敏度)正比于空气比释动能率(照射量率),而不受其他影响,例如不应随能量的变化而变化,不应随温度的变化而变化等。但是由于电离室本身不能完全由空气制作,不能完全等同于空气,当辐射的能量改变后,电离室的响应(灵敏度)也随之改变,这种特性称之为能量响应。 对于剂量测量的电离室,能量响应是极为重要的性能参数:而对于剂量监测的电离室虽然也关心能量响应,但不是非常重要。 (三) 电子平衡 在加速器辐射和空气的相互作用中,加速器的光子不能直接引起电离,而是通过光电吸收、康普顿散射和电子对生成作用损失能量,产生次级电子。加速器的初级电子虽然引起电离,但是引起空气电离的主要还是次级电子。加速器光子或初级电子在与物质的作用中首先产生次级电子,而作为电离室,进入电离室空气空腔的次级电子主要在电离室的壁中产生的。由于壁的材料的密度比空气大得多,产生的电子也多,因此随着壁厚的增加,进入电离室空气灵敏体积的次级电子增加,当电离室壁厚增加到一定程度,电离室壁对次级电子的阻挡作用开始明显,并最终使得进入灵敏体积的次级电子和逃出灵敏体积的次级电子相等,我们便称这种状态为“电子平衡”,或称“电子建成”。广义的说,所谓电子平衡,是指进入测量体积元的次级电子能量等于离开该体积元的次级电子能量。当射线的能量高时,次级电子的能量也高,穿透的材料厚度增大,达到电子平衡的厚度也增大。 一般来说,只要包围收集体积空气的材料的厚度大于次级电子最大射程,电子平衡条件就可基本满足。我们稍微详细点分析。
欲买用于NDIR红外分析的探测器,推荐几款性价比好的 热释电探测器, 热电偶和热电堆也行, 碲镉汞探测器也行 发一份详细资料到信箱augustcool214@sina.com.cn,谢谢 最好有报价(大概)
火焰探测器又称感光式火灾探测器,即探测火焰燃烧的光照强度和火焰的闪烁频率的一种火灾探测器。下面工采网小编给大家介绍一下火焰探测器工作原理。火焰燃烧过程释放紫外线、可见光、红外线,在特定波长、特定闪烁频率(0.5HZ-20HZ)具有典型特征,有别于其他干扰辐射,阳光、热物体、电灯等辐射出的紫外线、红外线没有闪烁特征。火焰探测器工作原理是通过检测火焰辐射出的特殊波长的紫外线、红外线及可见光等,同时配合对火焰特征闪烁频率来识别,来探测火焰。一般选用紫外光电二极管、紫外线探测器、紫外线传感器等作为探测元件。[img=,446,450]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712011704_01_3332482_3.jpg!w446x450.jpg[/img]紫外线探测器是将一种形式的电磁辐射信号转换成另一种易被接收处理信号形式的传感器,光电探测器利用光电效应,把光学辐射转化成电学信号。光电效应可分为外光电效应和内光电效应。外光电效应器件通常指光敏电真空器件,主要用于紫外、红外和近红外等波段。具有内增益的外光电效应器件包括光电敏倍增管、像增强器等光敏电真空器件,它们具有极高灵敏度,能将极微弱的光信号转换成电信号,可进行单光子检测,其灵敏度比内电光效应的半导体器件高几个量级。内光电效应分为光导效应和光伏效应。光导效应中,半导体吸收足够能量的光子后,把其中的一些电子或空穴从原来不导电的束缚状态激活到能导电的自由状态,导致半导体电导率增加、电路中电阻下降。光伏效应中,光生电荷在半导体内产生跨越结的P-N小势差。产生的光电压通过光电器件放大并可直接进行测量。根据光导效应和光伏效应制成的器件分别称为半导体光导探测器和光伏探测器。最后给大家介绍三款性能非常优秀的紫外线探测器和紫外线二极管,都是应用在火焰检测和防紫外辐射源等领域的顶尖产品。[b]德国SGLUX 紫外光电探测器 - TOCON_ABC1[img=,298,298]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712011705_01_3332482_3.jpg!w298x298.jpg[/img]基于碳化硅的宽频紫外光电探测器,带有集成放大器TOCON是5伏供电的紫外光电探测器,带有的集成放大器使紫外辐射转化成0~5V电压输出。TOCON的输出电压引脚可以直接连接到控制器,电压计或其他带有电压输入的数据分析装置。高度现代化的电子元件和带有紫外玻璃窗的密封金属外壳可消除封装内寄生电阻路径导致的噪声或电磁干扰。对各个工业紫外传感应用来说,TOCON 是完美的解决方案,从pW/cm2水平的火焰检测到W/cm2水平的紫外固化灯控制。十种不同的TOCONs覆盖了这13个数量级范围,它们的灵敏度有所不同。TOCONs生产为紫外宽频传感器或带有过滤器进行选择性测量。在恶劣环境和极低或极高的紫外辐射中,精密电子件使TOCON成为了一个可靠的元器件。但是sglux内部生产的SIC探测器芯片使TOCON成为了永存的准传感器,以PTB所报告的强抗辐射为特点。应用在紫外辐射和火焰检测领域。[b]紫外光电探测器TOCON_ABC1特性:[/b]基于碳化硅的宽频紫外光电探测器放于TO5 外壳中,带有集中器镜头盖0…5 V电压输出峰值波长是280 nm在峰值处最大辐射(饱和极限)是18 nW/cm2 ,最小辐射(分辨极限) 是1,8 pW/cm2[b]德国SGLUX 紫外光电探测器 - TOCON_ABC10[/b][img=,298,298]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712011705_01_3332482_3.jpg!w298x298.jpg[/img]TOCON是5伏供电的紫外光电探测器,带有的集成放大器使紫外辐射转化成0~5V电压输出。TOCON的输出电压引脚可以直接连接到控制器,电压计或其他带有电压输入的数据分析装置。高度现代化的电子元件和带有紫外玻璃窗的密封金属外壳可消除封装内寄生电阻路径导致的噪声或电磁干扰。对各个工业紫外传感应用来说,TOCON 是完美的解决方案,从pW/cm2水平的火焰检测到W/cm2水平的紫外固化灯控制。十种不同的TOCONs覆盖了这13个数量级范围,它们的灵敏度有所不同。TOCONs生产为紫外宽频传感器或带有过滤器进行选择性测量。在恶劣环境和极低或极高的紫外辐射中,精密电子件使TOCON成为了一个可靠的元器件。但是sglux内部生产的SIC探测器芯片使TOCON成为了永存的准传感器,以PTB所报告的强抗辐射为特点。应用在紫外辐射、淬火控制和火焰检测领域。[b]紫外光电探测器TOCON_ABC10特性:[/b]基于碳化硅的宽频紫外光电探测器放于TO5 外壳中,带有衰减器0…5 V 电压输出峰值波长是290 nm在峰值处最大辐射(饱和极限)是18 nW/cm2 ,最小辐射(分辨极限) 是1,8 mW/cm2[b]德国SGLUX 紫外光电二极管 - SG01D-5LENS[img=,394,291]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712011706_01_3332482_3.jpg!w394x291.jpg[/img]SiC 具有独特的特性,能承受高强度的辐射,对可见光几乎不敏感,产生的暗电流低,响应速度快和噪音低。这 些特性使SiC成为可见盲区半导体紫外探测器的最佳使用材料。SiC探测器可以一直工作于高达170°C(338°F)的温度中。信号(响应率)的温度系数也很低, 0,1%/K。由于噪音低(fA级的暗电流), 能够有效地检测到极低的紫外辐射强度。请注意这个装置需要配置相应的放大器。(参见第3页中的典型电路)。SiC光电二极管有七个不同的有效敏感面积可供选择,从0.06 mm2 到36 mm2。标准版本是宽频UVA-UVB-UVC。四个滤波版本导致更严格的感光范围。所有光电二极管都有密封的金属外壳(TO型),直径为5.5mm的TO18 外壳或9.2mm 的TO5外壳。进一步的选项是2只引脚(1绝缘,1接地)或3只引脚(2绝缘,1接地)。[b]德国SGLUX 紫外光电二极管 SG01D-5LENS 特点[/b]宽频UVA+UVB+UVC, PTB报道的芯片高稳定性, 用于火焰检测辐射敏感面积 A = 11,0 mm2TO5密封金属外壳和聚光镜, 1绝缘引脚和1接地引脚10μW/cm2 峰值辐射约产生350 nA电流[b]德国SGLUX 紫外光电二极管 SG01D-5LENS参数:[/b][b][img=,690,365]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/12/201712011706_02_3332482_3.jpg!w690x365.jpg[/img][/b][/b][/b]
[color=#333333]全二维面探测器残余应力仪与传统一维点,线探测器残余应力仪比较区别:[/color][color=#333333](1)传统一维点,线探测器残余应力仪——sin2Ψ 1)通过测量应力引起的衍射角偏移,从而算出应力大小。测量时需要多次(一般5-7次)变X射线的入射角,并且调整一维探测器的位置找到相应入射角的衍射角 2)施加应力后,通过测角仪得到衍射角发生变化的角度,从而计算得到应力数据(2)圆形全二维面探测器残余应力仪——基于cosα方法 1)单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力 2)施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息 世界首款基于二维探测器和cosα分析方法的新一代X射线残余应力分析仪,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,总体说来它比传统方法具有如下优点:1,圆形全二维面探测器残余应力仪优点: 更快: 二维探测器获取完整德拜环,单角度一次入射测量即可完成测量,全过程平均约90秒 更精确:一次测量最多可获得500个数据点,用于拟合计算应力。无应力铁粉残余应力测定的精度为±2MPa(欧美标准无应力铁粉残余应力测定的精度要求为正常±6.9MPa,最大±14MPa.) 更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难 更方便:测量精度高, 无需冷却水、野外工作无需外部供电 更强大:有区域应力分布测量成像(Mapping)功能,软件有晶粒大小、材料织构、残余奥氏体信息分析功能2,传统一维点,线探测器残余应力仪: 1,设备笨重,不适合检测比较大的工件或设备 2,需要测角仪,每次摄入,要多点d-sin2Ψ曝光模式,互相关法计算峰位移。增加仪器成本 3,需要水冷系统,冷却液温度过高或其它流动不畅通时机器不能工作,增加仪器使用成本。 4,操作复杂,必须专业长时间培训或有经验的人员才能操作。检测时间长,每次测量必须转角,人工误差大。 5,设备故障率高,不管是,测角仪,冷却系统或测角角度有一处故障,设备就不能正常工作。 6,价格昂贵,测角仪和冷却系统大大增加了设备成本,维修费用及高。[/color]
高速响应的中波红外探测器在自由空间光通信和频率梳光谱学等新兴领域的需求逐渐增加。中长波XB?n势垒型红外光探测器对暗电流等散粒噪声具有抑制作用。近期,由中国科学院半导体研究所、昆明物理研究所、中国科学院大学和陆装驻重庆军代局驻昆明地区第一军代室组成的科研团队在《红外与毫米波学报》期刊上发表了以“非制冷势垒型InAsSb基高速中波红外探测器”为主题的文章。该文章第一作者为贾春阳,通讯作者为赵俊总工程师和张逸韵研究员。本工作制备了不同直径的nBn和pBn结构的中波InAsSb/AlAsSb红外接地-信号-接地(GSG)探测器。对制备的探测器进行了变温暗电流特性,结电容特性和室温射频响应特性的表征。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]材料生长、器件制备和测试[/b][/back][/size][/align]通过固态源分子束外延装置在2英寸的n型Te-GaSb衬底上外延生长nBn和pBn器件。势垒型器件的生长过程如下所示:先在衬底上生长GaSb缓冲层来平整表面以及减少应力和位错,接着生长重掺杂(101? cm?3)n型InAsSb接触层,然后生长2.5 μm厚的非故意掺杂(101? cm?3)InAsSb体材料吸收层。之后生长了150 nm厚的AlAsSb/AlSb数字合金电子势垒层,通过插入超薄的AlSb层实现了吸收区和势垒层的价带偏移的显著减少,有助于空穴向接触电极的传输,同时有效阻止电子以减小暗电流。最后分别生长300 nm厚的重掺杂(101? cm?3)n型InAsSb和p型GaSb接触层用于形成nBn和pBn器件结构。其中,Si和Be分别被用作n型和p型掺杂源。生长后,通过原子力显微镜(D3100,Veeco,USA)和高分辨X射线衍射仪(Bede D1,United Kingdom)对晶片进行表征以确保获得高质量的材料质量。通过激光划片将2英寸的外延片划裂为1×1 cm2的样片。样片经过标准工艺处理,包括台面定义、钝化和金属蒸镀工艺,制成直径从10 μm到100 μm的圆形台面单管探测器。台面定义工艺包括通过电感耦合等离子体(ICP)和柠檬酸基混合溶液进行的干法刻蚀和湿法腐蚀工艺,以去除器件侧壁上的离子诱导损伤和表面态。器件的金属电极需要与射频探针进行耦合来测试器件的射频响应特性,因此包括三个电极分别为Ground(接地)、Signal(信号)和Ground,其中两个Ground电极相连,与下接触层形成欧姆接触,Signal电极与上接触层形成欧姆接触,如图1(c)和(f)所示。通过低温探针台和半导体参数分析仪(Keithley 4200,America)测试器件77 K-300 K范围的电学特性。器件的光学响应特性在之前的工作中介绍过,在300 K下光电探测器截止波长约为4.8 μm,与InAsSb吸收层的带隙一致。在300 K和反向偏置为450 mV时,饱和量子效率在55%-60%。通过探针台和频率响应范围10 MHz-67 GHz的矢量网络分析仪(Keysight PNA-XN5247B,America)对器件进行射频响应特性测试。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]结果与讨论[/b][/back][/size][/align][b]材料质量表征[/b]图1(a)和(d)的X射线衍射谱结果显示,从左到右的谱线峰分别对应于InAsSb吸收层和GaSb缓冲层/衬底。其中,nBn和pBn外延片的InAsSb吸收区的峰值分别出现在60.69度和60.67度,GaSb衬底的峰值则出现在60.72度。因此,InAsSb吸收层与GaSb 衬底的晶格失配分别为-108 acsec和-180 acsec,符合预期,表明nBn和pBn器件的InAsSb吸收区和GaSb衬底几乎是晶格匹配的生长条件。因此,nBn和pBn外延片都具有良好的材料质量。原子力显微镜扫描的结果在图1的(b)和(e)中,显示出生长后的nBn和pBn外延片具有良好的表面形貌。在一个5×5 μm2的区域内,nBn和pBn外延片的均方根粗糙度分别为1.7 ?和2.1 ?。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/92230b98-4dac-4ee0-aeaa-282dcd342995.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图1 (a)和(a)分别为nBn和pBn外延片的X射线衍射谱;(b)和(e)分别为nBn和pBn外延片的原子力显微扫描图;(c)和(f)分别为制备的圆形GSG探测器的光学照片和扫描电子照片[/color][/align][b]器件的变温暗电流特性[/b]图2(a)显示了器件直径90 μm的nBn和pBn探测器单管芯片的温度依赖暗电流密度-电压曲线,通过在连接到Keithley 4200半导体参数分析仪的低温探针台上进行测量。图2(b)显示了件直径90 μm的nBn和pBn探测器在77 K-300 K下的微分电阻和器件面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线,温度下降的梯度(STEP)为25 K。图2(c)显示了在400 mV反向偏压下,nBn和pBn探测器表现出的从77 K到300 K的R?A与温度倒数(1000/T)之间的关系,温度变化的梯度(STEP)为25 K。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/a8f8001f-cd03-42f4-a32f-8b1acc94131d.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图2 从77K到300K温度下直径90 μm的nBn和pBn探测器单管芯片(a)暗电流密度-电压曲线;(b)微分电阻和器件面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线;(c)R?A随温度倒数变化曲线[/color][/align][b]器件暗电流的尺寸效应[/b]由于势垒型红外探测器对于体内暗电流可以起到较好的抑制作用,因此研究人员关注与台面周长和面积有关的表面泄露暗电流,进一步抑制表面漏电流可以进一步提高探测器的工作性能。图3(a)显示了从20 μm到100 μm直径的nBn和pBn器件于室温工作的暗电流密度和电压关系,尺寸变化的梯度(STEP)为10 μm。图3(b)显示从20 μm-100 μm的nBn和pBn探测器的微分电阻和台面面积的乘积R?A随反向偏压的变化曲线。图3(d)中pBn器件的相对平缓的拟合曲线说明了具有较高的侧壁电阻率,根据斜率的倒数计算出约为1.7×10? Ωcm。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/e7fba8aa-eabe-40a4-a863-6ebcdd264744.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图3 从20 μm到100 μm直径的nBn和pBn器件于室温下的(a)暗电流密度和电压变化曲线和(b)R?A随反向偏压的变化曲线;(c)在400 mV反偏时,pBn和nBn器件R?A随台面直径的变化;(d)(R?A)?1与周长对面积(P/A)变化曲线[/color][/align][b]器件的结电容[/b]图4(a)显示了使用Keithley 4200 CV模块在室温下不同直径的nBn和pBn探测器的结电容随反向偏压的变化曲线,器件直径从20 μm到100 μm按照10 μm梯度(STEP)变化。对于势垒层完全耗尽的pBn探测器,预期器件电容将由AlAsSb/AlSb势垒层电容和InAsSb吸收区耗尽层电容的串联组合给出,其中包括势垒层和上接触层侧的InAsSb耗尽区。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/c09b63df-6442-42f2-b548-df4f539db6eb.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图4 (a)在室温下不同直径的nBn和pBn探测器的结电容随反向偏压的变化曲线;(b)反偏400 mV下结电容与台面直径的变化曲线。[/color][/align][b]器件的射频响应特性[/b]通过Keysight PNA-X N5247B矢量网络分析仪、探针台和飞秒激光光源,在室温和0-3 V反向偏压下,对不同尺寸的nBn和pBn探测器在10 MHz至67 GHz之间进行了射频响应特性测试。根据图5推算出在3V反向偏压下的40 μm、50 μm、70 μm、80 μm、90 μm、100 μm直径的圆形nBn和pBn红外探测器的3 dB截止频率(f3dB)。势垒型探测器内部载流子输运过程类似光电导探测器,表面载流子寿命对响应速度会产生影响。[align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/95acbbf7-8557-4619-b4cd-5829d636aced.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图5 在300 K下施加-3V偏压的40 μm、50 μm、70 μm、80 μm、90 μm、100 μm直径的nBn和pBn探测器的归一化频率响应图[/color][/align][align=center][img]https://img1.17img.cn/17img/images/202401/uepic/541829b0-a336-4b7e-a75b-0a15f8dfd06a.jpg[/img][/align][align=center][color=#0070c0]图6 不同尺寸的nBn和pBn探测器(a)3 dB截止频率随反向偏压变化曲线;(b)在3 V反向偏压下的3 dB截止频率随台面直径变化曲线[/color][/align]图6(a)展示了对不同尺寸的nBn和pBn探测器,在0-3 V反向偏压范围内的3 dB截止频率的结果。随着反向偏压的增大,不同尺寸的器件的3 dB带宽也随之增大。因此,在图6(a)中观察到在低反向偏压下nBn和pBn器件的响应较慢,nBn探测器的截止频率落在60 MHz-320 MHz之间而pBn探测器的截止频率落在70 MHz-750 MHz之间;随着施加偏压的增加,截止频率增加,nBn和pBn器件最高可以达到反向偏压3V下的2.02 GHz和2.62 GHz。pBn器件的响应速度相较于nBn器件提升了约29.7%。[align=center][size=18px][back=#ffff00][b]结论[/b][/back][/size][/align]通过分子束外延法在锑化镓衬底上生长了两种势垒型结构nBn和pBn的InAsSb/AlAsSb/AlSb基中波红外光探测器,经过台面定义、工艺钝化工艺和金属蒸镀工艺制备了可用于射频响应特性测试的GSG探测器。XRD和AFM的结果表示两种结构的外延片都具有较好的晶体质量。探测器的暗电流测试结果表明,在室温和反向偏压400 mV工作时,直径90 μm的pBn器件相较于nBn器件表现出更低的暗电流密度0.145 A/cm2,说明了该器件在室温非制冷环境下表现出低噪声。不同台面直径的探测器的暗电流测试表明,pBn器件的表面电阻率约为1.7×10? Ωcm,对照的nBn器件的表面电阻率为3.1×103 Ωcm,而pBn和nBn的R?A体积项的贡献分别为16.60 Ωcm2和5.27 Ωcm2。探测器的电容测试结果表明,可零偏压工作的pBn探测器具有完全耗尽的势垒层和部分耗尽的吸收区,nBn的吸收区也存在部分耗尽。探测器的射频响应特性表明,直径90 μm的pBn器件的响应速度在室温和3 V反向偏压下可达2.62 GHz,对照的nBn器件的响应速度仅为2.02 GHz,相比提升了约29.7%。初步实现了在中红外波段下可快速探测的室温非制冷势垒型光探测器,对室温中波高速红外探测器及光通讯模块提供技术路线参考。[b]论文链接:[/b][url]http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/article/abstract/2023157[/url][来源:MEMS][align=right][/align]
在人为温室气体排放中,地面点源排放占比最高。典型的点源排放主要包括火电、钢铁、石化、化工等重点行业固定点源及高架点源等工业点源排放。此外,城市也是二氧化碳排放的主要来源,包括地面交通、城市餐饮集中区等典型城市点源排放,废弃物处理行业的废弃物填埋场和污水处理过程点源排放,以及农林畜牧养殖业点源排放等。针对地面点源温室气体监测,又分为原位点式探测和开放光路区域式探测两种方式,代表性检测技术有NDIR、TDLAS、CRDS、OA-ICOS和FTIR。原位点式探测仪器,其内部设计有密封式或开放式吸收池,面向的是环境中特定位置处或密闭舱室内的温室气体监测,仪器便携性好,可以通过移动监测仪器实现不同点位的温室气体原位探测,适用于小范围区域的气体排放监测,代表性检测仪器包括美国Licor公司生产的NDIR便携式CO2分析仪、Picarro公司生产的CRDS高精度CO2/CH4/N2O分析仪、中国科学院安徽光机所研制的OA-ICOS高精度CO2/CH4分析仪等。开放光路区域式探测仪器,利用一对收发光学端,面向开放区域下的温室气体监测,适用于几十米至几百米范围的较大空间尺度监测,代表性检测仪器包括安徽蓝盾光电子股份有限公司生产的TDLAS开放光路长光程CO2/CH4分析仪和中国科学院安徽光机所研制的FTIR开放光路CO2/CH4分析仪。
美“凤凰号”探测器首次发现火星下雪 并且找到了火星上曾经存在液态水的最新证据 火星上也有下雪!美国凤凰号火星探测器已经探测到来自火星云层的降雪,而且找到了火星上曾经存在液态水的最新证据。 美国航空航天局(NASA)今天(9月29日)公布了凤凰号火星探测器的最新科学成果。凤凰号上一个用来收集火星大气层和火星表面相互作用的激光设备已经探测到火星降雪,降雪来自凤凰号着陆点上空大约四千米的火星云层,数据显示降雪在到达火星表面前已经气化。 负责凤凰号气象检测系统的加拿大约克大学教授吉姆怀特威说,火星上下雪的景观从来没有被发现过,科学家未来将寻找可能降落火星表面的降雪。 除了首次发现降雪,凤凰号还找到了火星上存在碳酸钙和粘土的线索。碳酸钙是石灰石的主要成分,在地球上,绝大部分碳酸盐和粘土只有在液态水的作用下才能形成。这些证据来自凤凰号上的热力与释出气体分析仪(TEGA)及电化学传导性显微镜分析仪( MECA)。 凤凰号采集到的火星土壤样本被装入“热力与释出气体分析仪”进行加热,结果释放出无色气体,经质谱仪分析,这种气体就是二氧化碳,而且释放气体的温度与大家熟知的碳酸钙释放二氧化碳温度一致。通过电化学传导性显微镜分析仪检测,发现土壤样本中钙的浓度与碳酸钙缓冲液的钙含量一致。此外,通过凤凰号上的原子力显微镜分析,土壤中有一些表面光滑的微粒,这些微粒与粘土十分相像。 截至9月29日,原计划运转三个月的凤凰号火星探测器已经工作了一百二十七天。因火星公转的原因,凤凰号着陆点的太阳照射越来越少,随着太阳能的逐步衰减,凤凰号的活动将逐渐减少。科学家表示,十月底,因为电力不足,机械臂将停止工作,预计今年底凤凰号将停止运转。在能量耗尽前,科学家将尝试开启凤凰号上的麦克风,期望记录下来自火星的神秘声音。
[font=&][color=#666666]水生态环境监测是生境保护的前提和基础,针对长江流域水系点多面广、复杂多样、瞬息万变等特点,对监测手段提出了更高的要求。目前,针对大型地表水系的水质监测方式仍以人工取样结合实验室化学分析或现场手持式仪器分析为主,存在方法滞后、手段单一、频次偏低、面源缺失等问题。因此,迫切需要新体制监测技术,突破实时快速、面源定量等现实需求,为长江水系统综合模拟提供可靠数据源。在此背景下,本文提出了一种具有完全自主知识产权的精细光谱探测与计量分析技术,开发了地基、空基等体系技术与装备,在相关项目支持下,开展了体系化技术的示范应用,在长江干流关键断面、三峡示范区和鄱阳湖示范区进行了空—地立体监测,取得了良好效果。监测数据经云平台接入“长江模拟器”,为其综合运行提供了快速实时数据支持,也为未来流域大型水系综合监测提供了新方法和应用典范。[/color][/font]
XRF荧光分析仪一般使用的是Si PIN探测器和SDD探测器,几乎全靠进口。目前国内有能生产这种探测器的厂家吗?
同样是Si(Li)晶体的探测器仪器,如何选择?主要是看晶体的面积,晶体面积越大,探测效率越高,灵敏度越高,性能越好,价格越贵。目前国际市场的上晶体面积从5mm2 8mm2,10mm2.,15mm2 30mm2……都有一般认为15mm2以上的晶体为高灵敏度晶体。同时需要注意分辨率指标,一般来说晶体面积越小,分辨率越好。晶体面积越大,分辨率数会越大。当分辨率满足170eV内时,应选择较大的晶体,已获得较好的灵敏度和分析效率。当然晶体面积与价格成正比。SDD 晶体与Si(Li) 晶体在技术上有何不同?SDD晶体技术是一种新的技术,出现在市场上约6-7年时间。国内市场常见到的有晶体面积 5mm2 8mm2,10mm2 由于该晶体的厚度仅有0.3mm., 因此对高能端的元素探测器效率较低。而对低能端的元素具有较好的探测器效率。因此,该种晶体的探测器适用于11-29号Ka线范围和其它La线元素的分析。目前这种技术仍在完善中。一般常用于扫描电镜能谱仪上使用。在荧光能谱仪上不适合多元素同时分析的工作Si(Li) 晶体具有较长时间的生产历史,(20世纪60年开始面试)具有稳定的性能,分析元素范围可达 4号Be -- 92号 U 晶体厚度达3mm以上。可满足高能端元素的分析要求。适合多元素同时分析要求 Si(Li)晶体 丨 SDD 晶体晶体面积 10mm2,15mm2,30mm2 50mm2 丨 5mm2 8mm2,10mm2,30mm2晶体厚度 3mm 丨 0.3mmMn Ka 分辨率129-155eV 丨 149eV --165eVKa 分析元素范围0.3mm 丨 0.3mmMn Ka 分辨率260eV 149eV --165eVKa 分析元素范围 10 KeV 丨 10KeV历史 2001 丨2002国际市场价格2000USD-4000USD 丨12000USD-20000USD由于该探测器分辨率较差,因此不能分析相邻的元素,如Ni,Cu, Zn 不能同时分析
[b]生命探测技术简介生命探测技术是震后应急救援关键技术之一。现有的生命探测技术,包括雷达生命探测技术、光学生命探测技术、声波震动生命探测技术、红外生命探测技术4种。雷达生命探测仪是目前世界上较先进的生命探测仪器,它主动式的探测方式使其不易受到温度、湿度、噪音、现场地形等不利因素的影响,电磁信号的连续发射机制更增加了它区域性侦测的功能。视频生命探测仪主要是利用摄像头进行可视性探测,可简单地理解为“胃镜”,通过探头伸入灾害现场细小缝隙,可以直观地发现被困人员。由于成像单元的像素高低、探头的直径大小、探杆长度、探头能否转动的不同,适用的范围不一样,音频生命探测仪应用了音频声波的基本原理。被困者呻吟、呼喊、爬动、敲打等发出音频声波或震动波,被高敏感度的传感器探头接收、过滤、放大,可以直接被救援者收听。红外生命探测仪能经受住救援现场的恶劣条件,探测出遇难者身体的热量,利用红外探测器、光学成像物镜将红外辐射能转换成电信号,经处理后通过电视屏或监测器显示红外热像图,从而帮助救援队员很快确定被埋在废墟底下或隐藏在尘雾后面的遇难者的位置,有“天使的眼睛”之称]。目前红外生命探测仪的技术比较成熟,价格也相对较低,良好的性价比促使它普遍装备于各国的抢险救援部门,应用广泛。[/b]
无论何种分析仪器均离不开有效的探测手段,建议开办一个探测器版,各种不同仪器的用户可以在这里找到共同语言,共同交流探测器方面的知识
2013年04月20日 09:06 新浪科技 http://i0.sinaimg.cn/IT/2013/0420/U7917P2DT20130420090459.jpgNEOCam探测器是美国宇航局一项旨在监测近地小天体的空间望远镜项目的核心技术设备 新浪科技讯 北京时间4月20日消息,据美国宇航局网站报道,一项可以帮助美国宇航局提升其未来针对小行星和彗星侦测追踪能力的红外探测器近期通过了关键的设计阶段测试。 这一探测器名为“近地天体相机”(NEOCam),近期在模拟深空环境温度和压力条件下的测试中达到了设计指标。“近地天体相机”是未来即将计划实施的一项空间小行星探测望远镜项目的核心设备。在近期出版的《光学工程杂志》上将会公布这一探测器的设计和指标细节。 这一探测器将会被作为美国宇航局近期公布的一项新计划的组成部分,这一大胆计划将首次着眼于识别并捕获近地小行星并将其拖拽至地球附近空间供宇航员就地开展研究工作。 美国宇航局近地天体项目办公室执行主管林迪·约翰逊(Lindley Johnson)表示:“这一探测器项目的实施标志着美国宇航局‘发现项目’及其‘天体物理学研究与分析项目’对于创新技术的投入,这将改善我们未来保护地球,应对外来天体撞击风险的能力。” 所谓近地天体,一般是指距离地球轨道在2800万英里(约合4500万公里)范围内的小行星或彗星体。小行星并不会自己发光,它们只能反射太阳光。取决于一颗小天体对阳光的反照率有多高,一颗小型但具有高反光表面的小天体看上去可以和一颗较大型但是具有低反光表面的小行星显示相似的光学观测特性。因此,在光学波段进行的此类观测有时会有明显的误差。 即将发表的这篇论文的合著者,美国宇航局喷气推进实验室的NEOWISE项目首席科学家艾米·门泽(Amy Mainzer)表示:“红外探测器是一个强大的工具,可以用于小行星的分析和确认。当你使用红外探测器观察小行星,此时你所观测的是其发出的红外热辐射,这将让科学家们更精确的限定其大小,甚至还可以告诉你一些有关其组成成分的信息。” NEOCam探测器的主要突破在于提升其性能的稳定可靠性,并显著降低其质量,以便可以被搭载在卫星上发射升空。一旦被发射,这台空间望远镜将会被定位于4倍于地月距离的位置上,在这里这台设备将不分昼夜地监视接近地球附近空间的小天体,而不会受到云层或任何其它因素的干扰。 这一设备的开发成功是10年以来美国宇航局喷气推进实验室与它的科学伙伴罗彻斯特大学(负责进行设备测试工作)以及特雷迪成像技术公司(设备的开发)之间紧密合作的成果。 罗彻斯特大学的克莱格·麦克默提(Craig McMurtry)表示:“我们很高兴的看到新一代的探测器在灵敏度方面远远超过了上一代的同类设备。” 美国宇航局的NEOWISE项目是先前WISE,即“广域红外巡天探测器”的延长任务,该探测器于2009年12月发射升空,在红外波段对整个天空扫描两次。在此期间它共拍摄了270万个天体目标的图像,从遥远的星系到地球附近的小行星和彗星。NEOWISE则完成了对太阳系内部小天体,小行星和彗星的巡天探测。该任务执行期间所取得的新发现包括21颗彗星,超过3.4万颗小行星以及134颗近地小天体。(晨风)
公司想做一台X射线荧光设备,用于检测铜元素,使用AMPTEK探测器,请问如何通过VC++调用AMPTEK探测器探测到的光谱数据?另外,光谱分析的算法是怎样的呢,可以使用matlab仿真吗?
单位PW4400一直正常使用,前两天偶尔出现数据分析不准确,重新分析后正常;今天开始数据异常,监控样品强度波上下动较大,在分析样品时出现pulse shift correction locking error报警,厂家工程师说探测器放大板故障需重新更换;有没有其他方法暂时稳定荧光仪?
http://b.hiphotos.baidu.com/baike/w%3D268/sign=27a70225acaf2eddd4f14eefb5110102/2cf5e0fe9925bc310dce7dbb5edf8db1cb137005.jpg请问图中半导体探测器是在什么行业中应用的呢,这个探测器可以进行元素分析吗,这个探测器与常用的Si-Pin SDD有什么区别。另外X射线荧光用的探测器与X射线辐射剂量检测用的探测器有什么区别?
用能量色散分析P、S等轻元素 用什么样的探测器更有利于分析 望各位朋友一起讨论