霍尔流速计

XF-02霍尔流速计是根据GB1482-2010-T金属粉末流动性的测定【标准漏斗法(霍尔流速计代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作。用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。霍尔流速计装置结构1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。5、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：①安装支架②漏斗（根据实际情况）③25ml量杯④溢出盘/接收器⑤高度定位块

FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪（不锈刚材质）FT-102霍尔流速计 流动性和松装密度测量装置升级后增加如下功能：本品除配置定位角之外，配置调节平衡之水平仪装置，减少外部环境对测量结果的影响；漏斗和量杯都有定位装置，从而保证漏斗和量杯的中心在一条直线上；还装配高度测量尺固定于支架上。本仪器根据GB 1482-2010-T 金属粉末 流动性的测定 标准漏斗法(霍尔流速计)代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作的规定设计、生产。其检测方法与结果和国际上通用的检测方法具有通用性。本产品也适用于类似粉末粉体流动性和松装密度之测量。本装置适用于用标准漏斗法测定金属粉末的流动性。凡能自由流过孔径为2.5mm标准漏斗的粉末，均可采用本装置。FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪技术要求1 漏斗(小孔直径2.5mm和5.0mm各一个)漏斗不锈钢材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损。2 支架、底座和接收量筒支架用以固定漏斗。底座用于安装支架和接收量筒，请调整水平、稳固且无振动。调整支架高度并用附带的扳手固定住，将漏斗安装到支架上。接收量筒（不锈钢盘）置于底座上，用来收集粉末。3 天平（用户自备） 称量100g；精度0.05g。4 秒表测量时间能够精确到0.01s。 5 量杯本装置配备一只容积为25ml的不锈钢量杯。用户可参照国标GB 1479-84的规定完成金属粉末松装密度的测定（漏斗法）。测试步聚1 称量50g一份的样品，精确到±0.1g。2 用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中， 注意粉末必须充满漏斗下端整个小孔。3 瞬间当启开漏斗小孔并开始计时，漏斗中粉末一经流完，立即停止计时。4 记录漏斗中全部样品流完所需时间，并重复三次，取其算术平均值，时间记录精确到0.1s。注：如果当小孔启开时，粉末不流动，则可在漏斗上轻敲一下，以使粉末开始流动。但是，即使这样做了，粉末仍不流出或在测量过程中粉末停止流动，则应认为这种粉末不具有流动性。测试结果三份样品测量结果的算术平均值乘以漏斗的校正系数，以s/50g报出数据，报告数据精确到0.5s。 FT-102霍尔流速计/松装密度测定仪基本配置：架台：1套 ；漏 斗：不锈钢（Φ2.5mm、Φ5.0mm）各1只；量 杯 不锈钢（Φ31mm、25ml）1只 秒 表1只 溢料盘不锈钢1只 毛 刷1只 钢尺375px 1把 说明书；保修卡；合格证。

霍尔流速计产品简介霍尔流速计用于测定粉末流速及松装密度。适用于自由流动的金属粉末及其它粉末的测量。该测量是通过标定过的霍尔流速计漏斗来完成的。该漏斗孔径2.5毫米，斜度为60度。这些尺寸都是国际国内标准明确规定的。汇美科生产AS-300M经济型霍尔流速计与AS-300A全自动霍尔流速计。AS-300A全自动霍尔流速计能自动测量金属粉末的流速。另外，它也可以测量金属粉末的松装密度。该产品满足了研究及检测人员对于流速及松装密度更高一级的要求，被广泛应用于各个工业领域。该仪器使用传感器来感应粉体的流动，测量结束后自动停止并显示结果。完全避免了因为人为误差对测量的精度及重复性的影响，节省了操作者大量的宝贵时间。技术参数测量物理特性1：流速测量物理特性2：松装密度所需样品量：50克计时范围：1-9999秒仪器尺寸：长33 x 宽 x 31 x 高23厘米重量：16公斤产品特点霍尔漏斗满足国际国内标准要求。霍尔漏斗经进口标准粉末金刚砂标定。密度量杯按照国际标准进行标定。实时显示流动时间。自动测量，自动停止。LED显示测量结果。应用领域所有金属粉及添加物的流速的测定。全自动智能型霍尔流速计AS-300A

霍尔流速计测松装密度（AS-300A)简介霍尔流速计用于测定粉末流速及松装密度。适用于自由流动的金属粉末及其它粉末的测量。该测量是通过标定过的霍尔流速计漏斗来完成的。该漏斗孔径2.5毫米，斜度为60度。这些尺寸都是国际国内标准明确规定的。汇美科生产AS-300M经济型霍尔流速计与AS-300A全自动霍尔流速计。AS-300A全自动霍尔流速计能自动测量金属粉末的流速。另外，它也可以测量金属粉末的松装密度。该产品满足了研究及检测人员对于流速及松装密度更高一级的要求，被广泛应用于各个工业领域。该仪器使用传感器来感应粉体的流动，测量结束后自动停止并显示结果。完全避免了因为人为误差对测量的精度及重复性的影响，节省了操作者大量的宝贵时间。技术参数测量物理特性1：流速测量物理特性2：松装密度所需样品量：50克计时范围：1-9999秒仪器尺寸：长33 x 宽 x 31 x 高23厘米重量：16公斤产品特点霍尔漏斗满足国际国内标准要求。霍尔漏斗经进口标准粉末金刚砂标定。密度量杯按照国际标准进行标定。实时显示流动时间。自动测量，自动停止。LED显示测量结果。应用领域所有金属粉及添加物的流速的测定。霍尔流速计汇美科

产品介绍 JL-A3粉体特性测试仪，依据国标GB/T1482-2010金属粉末流动性测定，标准漏斗法（霍尔流速计），GB/T1479.1-2017松装密度，GB/11986-89休止角测定法。该仪器结构实现3种测试功能，粉末流动性、安息角（又称休止角）、松装密度（又称堆积密度），是粉体行业测试粉体特性的理想仪器。 广泛应用于工业化学、电池粉末、金属行业、制药、食品、科研院校、以及质检机构等相关粉体及颗粒材料检测，是粉体行业检测粉体流动性、安息角、松装密度的理想仪器。性能指标项目指标项目指标测试项目流动性、安息角、松装密度不锈钢量杯容积25ml漏斗出口直径标配5mm（可选2.5mm或定制）不锈钢钢尺宽25mm漏斗锥度角度：60°安息角粉盘直径80mm结果输出软件计算，支持在线查看数据报告保存Word/Excel/PDF格式仪器体积300*260*260mm重量净重约5KG产品优点1.漏斗和量杯均为不锈钢（304材质），其内表面经过精心特殊打磨，具有足够的壁厚和硬度，有效防变形和过度磨损。2.多种配置，可根据测试方法灵活更换使用。3.仪器支架用以固定漏斗和粉盘，配合测试需求通过支架上的旋钮，轻松调整向上移动或向下移动。4.支架下方配有挡板开关，粉体装入漏斗前，将挡板关闭漏斗出口处，可有效防止粉体漏洒，无需人工堵住漏斗口。5.配计算软件，软件安装在电脑上，输入测试记录的数据，即可得出测试报告。报告可选中文或英文，可输出Word/Excel/PDF格式，也可以联机打印，无需人工计算，省时又方便。流动性测试步骤1.1参照标准：GB/T1482-2010金属粉末流动性测定 标准漏斗法（霍尔流速计）1.2测试原理：测量50g金属粉流过标准漏斗孔所需的时间1.3计算公式：粉体质量/流动时间1.4测试方法：1)用开关堵住漏斗底部出口，称量50g样品后倒进漏斗中，在启开漏斗出口下开关的同时开始计时。2)漏斗中粉末一经流完，立即停止计时，记录粉体全部流完所耗时间，3)至少测量3次，取其算术平均值作为最终结果，将粉重和流动时间输入计算软件求得粉末流动性。4)用时间越短的粉末流动性越好，用时越长则表示该粉末的流动性越差。安息角测试步骤2.1参照标准：GB/16913-2008粉尘物性试验方法4.5休止角测定法2.2测试原理：将足够满溢料盘的粉尘从漏斗口注入到水平料盘上；测量粉尘堆积斜面与底部水平面所夹锐角，即粉尘安息角。2.3计算公式： 料堆高度／（料堆半径减去漏斗孔径半径）2.4测试方法：1) 将安息角粉盘放到固定架上，调整高度调节手柄，使粉盘向上移动至与漏斗底部接触。此时刻度尺最低点处于0mm位置。2) 将漏斗固定架锁紧手柄拧松，调节漏斗中心点与粉盘中心对准，然后锁紧漏斗固定架。3) 将待测粉体装满漏斗，然后旋转高度调节手柄，使粉盘慢慢向下移动。粉体从漏斗中自动流出并堆积在粉盘中的小盘上。4) 当粉体堆积成一定高度并溢出小盘后停止旋转高度调节手柄，直到漏斗中的粉末停止流动。5) 通过主体支架上的刻度尺读取粉堆的高度，将粉堆高度和小盘半径数据输入计算软件，自动计算出粉体安息角。松装密度测试步骤3.1 参照标准：GB/T1479.1-2011松装密度的测定第一部分：漏斗法3.2测试原理：在松装状态下完全充满已知量杯的粉末质量，将漏斗置于量杯上部确定距离处，使粉末从漏斗自由落入量杯，以获得松装状态。3.3计算公式：粉体质量/量杯容积1) 称出标准量筒的重量，将标准量筒放在粉盘上，调整漏斗中心线与标准量筒中心线重合。2) 将样品倒入漏斗流入标准量筒内，当试样在标准量筒顶部形成锥体并开始溢出时则停止加粉体。3) 用平直的钢尺沿标准量筒上边缘轻轻刮去多余的粉体，放到天平上称量，得出粉体重量。粉体重量除以量筒体积得出粉体松装密度。4) 正常情况平行测2个试样，取其算术平均值为最终结果。如果粉体潮湿，则需要事先进行干燥。干燥的方法是将粉体放到105℃的烘箱中烘干。

ZKMD-1479霍尔流速计/松装密度仪 霍尔流速计/松装密度仪ZKMD-1479V设计标准:ISO4490,ISO 3923,GB/T1482,GB/T1479用途:用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。测试原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。装置结构:1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。6、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：① 装支架② 漏斗（根据实际情况）③ 25ml量杯④ 溢出盘/接收器⑤ 高度定位块

Aode501标准漏斗法霍尔流速计Aode501霍尔流速计是依据国家标准GB 1482-2010-T设计生产。适用于用标准漏斗法测定金属粉末的流动性。凡能自由流过孔径为2.5mm标准漏斗的粉末，均可采用本装置。其测定方法具有通用性。仪器结构　　(1)漏斗(出口孔直径2.5mm、5mm)　　漏斗为不锈钢（304材质）或黄铜材料，其内表面经过精心特殊打磨，如同镜面般光亮，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损。　　(2)支架、底座和接收器　　支架用以固定漏斗。底座用于安装支架和接收器，请调整水平、稳固且无振动。调整支架高度并用附带的扳手固定住，将漏斗安装到支架上。接收器（不锈钢盘304材质）置于底座上，用来收集粉末。(3)天平（用户自备）　　称重1Kg，精度为0.02g。　　(4)秒表　　测量时间能够精确到0.01s。　　(5)量筒　　本装置配备一只容积为25ml的不锈钢（304材质）量筒。用户可参照国标GB 1482-2010-T的规定完成金属粉末松装密度的测定（漏斗法）。测试方法1 称量50g一份的样品，精确到±0.1g。2 用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中， 注意粉末必须充满漏斗下端整个小孔。3 瞬间当启开漏斗小孔并开始计时，漏斗中粉末一经流完，立即停止计时。4 记录漏斗中全部样品流完所需时间，并重复三次，取其算术平均值，时间记录精确到0.1s。注：如果当小孔启开时，粉末不流动，则可在漏斗上轻敲一下，以使粉末开始流动。但是，即使这样做了，粉末仍不流出或在测量过程中粉末停止流动，则应认为这种粉末不具有流动性。结果计算以同样的方式测试三份样品，测量的结果算术平均值乘以漏斗的校正系数，以s/50g报出数据，报告数据精确到0.5s。

ZKMD-1479霍尔流速计/松装密度仪 霍尔流速仪粉末流动性测定仪ZKMD-1479C设计标准:ISO4490,ISO 3923,GB/T1482,GB/T1479用途:用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。测试原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。装置结构:1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。6、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：① 装支架② 漏斗（根据实际情况）③ 25ml量杯④ 溢出盘/接收器⑤ 高度定位块

ZH-02霍尔流速计/松装密度仪ZH-02霍尔流速计是根据GB1482-2010-T金属粉末流动性的测定【标准漏斗法(霍尔流速计代替GB1479-84、 GB1482-84标准规范制作。用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。装置结构1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。5、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。标准配件：①安装支架②漏斗（根据实际情况）③25ml量杯④溢出盘/接收器⑤高度定位块测试松装密度的步骤：用天平测量一下量杯的重量W1→用手堵住漏斗,倒入一定量的粉末,然后迅速放开手,让粉末自由流出,直到完全溢出量杯→用不锈钢尺子刮平溢出的粉末,然后在测量一下此时量杯和粉末的重量W2→然后通过计算可以得出松装密度等于(W2-W1)除以标准体积量杯V=25ml测试流速的步骤: 称量50g样品,精确到±0.1g→用手堵住漏斗底部小孔，把称量好的50g样品倒进漏斗中→ 瞬间放手让粉末开始自由落下并开始计时，漏斗中粉末一经流完，立即停止计时T→然后通过公式计算50/T得出流速.

设计标准:ISO4490,ISO 3923,GB/T1482,GB/T1479 用途:用于测试金属粉末和非金属粉末的流速和松装密度. 漏斗材料有分黄铜和不锈钢【黄铜容易氧化,不锈钢耐磨】本方法仅适用于能自由流过孔径为2.5mm或5.0mm标准漏斗的粉末。本标准的其他部分规定了不能通过孔径为5.0mm标准漏斗的粉末松装密度测定方法。测试原理:粉末从漏斗孔按一定高度自由落下充满杯子。在松装状态下，以单位体积粉末的质量表示粉末的松装密度。本标准等效采用ISO 3923/1—1979《金属粉末松装密度的测定 第1部分漏斗法》。装置结构:1、漏斗：标准漏斗小孔直径d有两种规格，一种是直径2.5 mm；一种是直径5.0 mm 备注：漏斗孔径2.5mm测试粉末的流速 漏斗孔径5.0mm测试粉末松装密度2、漏斗角度：60度3、圆柱杯：容积25±0.05 cm3,内经为31±1mm。4、杯子和漏斗的制作：杯子和漏斗应由非磁性耐腐蚀的金属材料制成，且具有足够的壁厚和硬度，以防变形和过度磨损，通常选用黄铜材料或是不锈钢材料制作。漏斗和杯子的内表面要仔细抛光。5、支架和底座：支架用于固定漏斗。底座必须水平、稳固，不得振动，供安装支架和杯子使用。漏斗小孔底部和杯子上部之间的距离为25mm，可用定位块来调节，漏斗和杯子必须同心。6、天平（用户自备）:要有足够的测量范围，称量试样能精确到0.01g。

一、产品简介 HD-LS300-A便携式流速仪（简称便携式流速仪）是为水文站、厂矿、环保监测站、农田排灌、水文地质调查等部门在野外进行明渠流速、流量测量而研制的。 二、产品用途 LS300-A便携式流速仪可配套流速旋浆传感器,，旋浆螺旋角、螺距、制作工艺和材料等都进行了重新设计，旋浆反光面采用的电镀工艺，耐磨损，信号强，起动流速、测速范围、线性度、同心度、率定系数和均方差等指标均较以往传感器有很大的改进和提高。 LS300-A流速流量测算仪作为传统型转子式流速仪器的主要配套产品，用于接收给定时段内流速仪产生的信号，并由此自动测算出该时段内平均流速、流量、可加扩展功能测量水位、计算规则断面面积。 LS300-A流速流量测算仪主要适用于接收各种干簧管式流速仪、接触丝式转子流速仪、光纤式流速仪、霍尔式流速各种流速仪产生的信号，并具有存储功能、通讯功能。 该仪器结构简易、轻巧方便、耗电省、、自动化程度高、稳定可靠，参照明渠流量测量标准，配置8高温旋桨，是国内目前一款便携式流速测量仪器。 二、技术参数 测速公式：v=a+b*R/T（m/s）（自动计算） 测速范围：0.01—4.00m/s（可到5.00m/s） 测算误差：≤1.5% 显示：4*16位液晶显示 测量方式：测杆定位测量 测量深度：0.45m 采样容量：采用mf-89可编程函数计算器读出结果值 读取方式：采用mf-89可编程函数计算器读出结果值 工作温度：0°C〜 50°C 功耗：50mA 电源：DC7.2V 通讯方式：RS232 时钟误差：小于等于2min/year 发射原件：原件寿命长，可达10000小时以上；发射光束穿透力强，可适用于一定浊度的液体 传感器：采用光纤导光，除非接触检测外，并具有防水耐温、防爆、抗强磁场和抗电器干扰等优点 仪表可以估测瞬时流量、累计流量，关于流量计算具灌溉渠道系统量水规范GB/T201303-201 三、功能特点 1.低功耗，可直流供电，手持式设计，携带方便； 2.传感器讯号线长度可定制，无需调节发射原件供电电压，简化操作； 3.发射光穿透力强，可以适用于一定浊度的液体； 4.传感器采用光纤导光，具有非接触检测、防水、防爆、耐温、抗强磁场和抗电气干扰等优点； 5.传感器头部微型设计，可应用于狭小的测量环境； 6.测量不受液体温度和质量的影响； 7.可编程函数计算器读取结果 8.仪器采用模块结构，便于检修更换 四、测量原理 流速测量：流速仪在水力推动下，其内置信号装置产生转数信号。从而，可根据某个单位时段内流速仪产生的信号总数，由以下公式计算出流速：v=a+b*R/T（m/s） v一测流时段内平均流速（m/s） b一旋桨（或旋杯）水力螺距（m） a一流速仪常数（m/s） T一测流历时（s） R—T时段内流速仪转子的总转数 对某个个体流速仪来说，b和a为定值。因此，测流时,只要测出T和R值，即可计算出流速。 流量测量：输入被测断面类型，并手工输入（或者通过辅助传感器测量）规则断面的水位、宽度计算断面面积，仪表更具Q=V*S测算流速Q值 五、测量模式 单次测量模式：仪器按“单次测量”仪表根据设置“测量时间”，和测量时间内的脉冲数，根据公式计算单位时间内的平局流速。每按一次“单次测量”测量一次流速； 连续测量模式：仪表按“测量时间”周期进行连续循环测量。 多点测量模式：先设置界面测量点位数，通常一个断面每个位置流速不一样，我们根据规范对被测断面进行多个流速点测量，获取数据后计算平均流速。

一、产品介绍美国TSI VelociCalc 9535空气流速计是具有普通仪表价位的多功能仪表。该仪表使用带有多个传感器的单探头同时测量和记录几种通风参数。它测量风速和温度，计算风量。TSI9535配备了一个可伸缩的直探头,其原理是，将一根通电加热的细金属丝（称热线）置于气流中，热线在气流中的散热量与流速有关，而散热量导致热线温度变化而引起电阻变化，流速信号即转变成电信号。使用方法快捷，精度高。广泛应用：暖通空调系统的性能、关键环境认证、测量管道截面等。二、产品参数型号95359535-A95459545-A风速范围0～30m/s风速精度读数的±3%或±0.015m/s，较大值风速分辨率0.01m/s风管尺寸1～635cm，增量为0.1cm体积流量量程实际量程是风速和风管尺寸的函数温度范围-17.8～93.3℃-10～60℃温度精度±0.3℃温度分辨率0.1℃相对湿度范围0～95％RH相对湿度精度±3%RH相对湿度分辨率0.1%RH数据存储能力12700个数据和100个数据组数据采集间隔1s～1h时间常数用户自定义工作温度主机5～45℃工作温度传感器-18～93℃-10～60℃储存温度-20～60℃器重量(带电池)0.27kg主机外部尺寸8.4cm×17.8cm×4.4cm探头长度101.6cm探头顶部直径7.0mm7.0mm探头基座直径13.0mm13.0mm可折弯探头长度16.26cm16.26cm可折弯探头直径9.5mm9.5mm供电四节AA 电池或可选AC 适配器三、产品特点1、操作简单2、准确的风速测量3、0到6,000英尺/分钟（0～30米/秒）的范围4、同时测量温度和风速5、计算风量并可在实际/标准状况之间切换6、同时显示三个测量参数7、数据记录12,700个数据和100个数据组8、可选铰接式探头版本（9535-A）

美国 KRI 霍尔离子源 eH 400上海伯东代理美国原装进口 KRI 霍尔离子源 eH 400 低成本设计提供高离子电流, 霍尔离子源 eH 400 尺寸和离子能量特别适合中小型的真空系统, 可以控制较低的离子能量, 通常应用于离子辅助镀膜, 预清洗和低能量离子蚀刻.尺寸: 直径= 3.7“ 高= 3”放电电压 / 电流: 50-300eV / 5a操作气体: Ar, Xe, Kr, O2, N2, 有机前体KRI 霍尔离子源 eH 400 特性• 可拆卸阳极组件 - 易于维护 维护时, 限度地减少停机时间 即插即用备用阳极• 宽波束高放电电流 - 均匀的蚀刻率 刻蚀效率高 高离子辅助镀膜 IAD 效率• 多用途 - 适用于 Load lock / 超高真空系统• 高效的等离子转换和稳定的功率控制KRI 霍尔离子源 eH 400 技术参数:型号eH 400 / eH 400 LEHO供电DC magnetic confinement - 电压40-300 V VDC - 离子源直径~ 4 cm - 阳极结构模块化电源控制eHx-3005A配置- - 阴极中和器Filament, Sidewinder Filament or Hollow Cathode - 离子束发散角度 45° (hwhm) - 阳极标准或 Grooved - 水冷前板水冷 - 底座移动或快接法兰 - 高度3.0' - 直径3.7' - 加工材料金属电介质半导体 - 工艺气体Ar, Xe, Kr, O2, N2, Organic Precursors - 安装距离6-30” - 自动控制控制4种气体* 可选: 可调角度的支架 SidewinderKRI 霍尔离子源 eH 400 应用领域:• 离子辅助镀膜 IAD• 预清洁 Load lock preclean• In-situ preclean• Low-energy etching• III-V Semiconductors• Polymer Substrates 1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源 Gridded 和霍尔离子源 Gridless. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展已取得多项专利. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射沉积 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源 (离子枪) 中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请参考以下联络方式 上海伯东: 叶女士 台湾伯东: 王女士T: +86-21-5046-3511 ext 109 T: +886-3-567-9508 ext 161 F: +86-21-5046-1490 F: +886-3-567-0049 M: +86 1391-883-7267 M: +886-939-653-958上海伯东版权所有, 翻拷必究！

一、产品简介： HD-SCDPL型手持电波流速仪，该仪器采用K波段雷达对河流、污水、泥浆、海洋进行非接触式的流速测量。具有体积小巧、手持式操作、电池供电、使用简便的特点。使用中不受污水腐蚀、不受泥沙干扰，并可在100米的测量范围内进行非接触测量，确保了测量者的安全。仪器包括一个高敏感度的平面窄带雷达探头和角度计，无需任何设置，一键操作即可实现水平和垂直角度的自动校正和流速的修正测量，使用非常便捷。 二、HD-SCDPL型手持式电波（雷达）流速仪应用领域： 渠道流速监测、河流流速监测、污水流速监测、海洋流速监测、铁路桥梁施工流速监测；防汛抗洪现场应急监测、污水排放监测、其他需要现场测量的场合等。 三、HD-SCDPL型手持式电波（雷达）流速仪主要特点： 1.供单人使用，重量小于1kg，可手持测量或置于三脚架上（标配）； 2.中文界面，指引式操作，使用简单，单机可以存储2000条记录，方便管理； 3.非接触式操作，不受泥沙影响，也不受水体腐蚀； 4.手持电波流速仪多种测量模式，可单次测量；也可连续测量，可以连续测量30min；具有单机流量估算模式，可以对规则断面的河渠的流量进行估算； 5.内置可充电锂电池，可连续使用10小时； 6.内置角度感测器，可以自动修正垂直角和水平角度，内置温度传感器，方便温度检测； 7.结构具防水功能，方便野外使用； 8.仪器壳体采用ABS树脂材料，抗冲击性、耐热性、耐低温性、耐腐蚀性以及电气绝缘性，保护了测量人员雷雨天气测量的人身安全； 9.多种充电方式可选，可以使用交流、车载和移动电源充电； 四、HD-SCDPL型手持式电波（雷达）流速仪技术指标： 1.测量范围：0.15~30m/s 2.测量精度：±3%，±0.03m/s 3.电波发射角：12° 4.电波发射标准功率：10mW 5.电波发射功率：18dBm 6.电波频率：24GHz 7.防水等级：IP67 8.测量距离：100米 9.数据储存：2000个测量结果 10.角度补偿：垂直角度自动 11.使用温度范围：-30~+70℃ 12.相对湿度范围：20%~80% 13.存放温度范围：-30~+70℃ 14.电池容量：2800mAh 五、HD-SCDPL型手持式电波（雷达）流速仪产品配置： 1.流速仪主机 2.便携手提箱 3.角度传感器（内置） 4.三脚架（标配） 5.充电器 6.充电电池（内置） 7.产品说明书

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准KRI 霍尔离子源 eH 2000上海伯东代理美国原装进口 KRI 霍尔离子源 eH 2000 是一款更强大的版本, 带有水冷方式, 他具备 eH 1000 所有的性能, 低成本设计提供高离子电流, 特别适合大中型真空系统. 通常应用于离子辅助镀膜, 预清洗和低能量离子蚀刻.尺寸: 直径= 5.7“ 高= 5.5”放电电压 / 电流: 50-300V / 10A 或 15A操作气体: Ar, Xe, Kr, O2, N2, 有机前体KRI 霍尔离子源 eH 2000 特性&bull 水冷 - 与 eh 1000 对比, 提供更高的离子输出电流&bull 可拆卸阳极组件 - 易于维护 维护时, 最大限度地减少停机时间 即插即用备用阳极&bull 宽波束高放电电流 - 高电流密度 均匀的蚀刻率 刻蚀效率高 高离子辅助镀膜 IAD 效率&bull 多用途 - 适用于 Load lock / 超高真空系统 安装方便&bull 等离子转换和稳定的功率控制KRI 霍尔离子源 eH 2000 技术参数型号eH 2000 / eH 2000L / eH 2000x02/ eH 2000 LEHO供电DC magnetic confinement - 电压40-300V VDC - 离子源直径~ 5 cm - 阳极结构模块化电源控制eHx-30010A配置- - 阴极中和器Filament, Sidewinder Filament or Hollow Cathode - 离子束发散角度 45° (hwhm) - 阳极标准或 Grooved - 水冷前板水冷 - 底座移动或快接法兰 - 高度4.0' - 直径5.7' - 加工材料金属电介质半导体 - 工艺气体Ar, Xe, Kr, O2, N2, Organic Precursors - 安装距离16-45” - 自动控制控制4种气体 * 可选: 可调角度的支架 SidewinderKRI 霍尔离子源 eH2000 应用领域&bull 离子辅助镀膜 IAD&bull 预清洗 Load lock preclean&bull 预清洗 In-situ preclean&bull Direct Deposition&bull Surface Modification&bull Low-energy etching&bull III-V Semiconductors&bull Polymer Substrates1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源, 霍尔离子源和射频离子源. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射镀膜 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请联络上海伯东上海伯东版权所有, 翻拷必究！

霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、Sic，GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)，广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。产品特点-采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越 -自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确 -样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片 -产品采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅测量精确而且操作方便 -用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷应用功能-载流子类型鉴定:通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性 -载流子浓度测量:霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度 -迁移率评估:霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究 -材料电性能评估:通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

因产品配置不同, 价格货期需要电议, 图片仅供参考, 一切以实际成交合同为准美国 KRI 霍尔离子源 Gridless eH 系列 美国 KRI 霍尔离子源 eH 系列紧凑设计, 高电流低能量宽束型离子源, 提供原子等级的细微加工能力, 霍尔离子源 eH 可以有效地以纳米精度来处理薄膜及表面, 多种型号满足科研及工业, 半导体应用. 霍尔离子源高电流提高镀膜沉积速率, 低能量减少离子轰击损伤表面, 宽束设计有效提高吞吐量和覆盖沉积区. 整体易操作, 易维护. 霍尔离子源 eH 提供一套完整的方案包含离子源, 电子中和器, 电源供应器, 流量控制器 MFC 等等可以直接整合在各类真空设备中, 例如镀膜机, load lock, 溅射系统, 卷绕镀膜机等.美国 KRI 霍尔离子源 eH 特性 无栅极 高电流低能量 发散光束 45可快速更换阳极模块 可选 Cathode / Neutralize 中和器美国 KRI 霍尔离子源 eH 主要应用 辅助镀膜 IBAD溅镀&蒸镀 PC表面改性、激活 SM沉积 (DD)离子蚀刻 LIBE光学镀膜Biased target ion beam sputter deposition (BTIBSD) Ion Beam Modification of Material Properties (IBM)例如1. 离子辅助镀膜及电子枪蒸镀2. 线上式磁控溅射及蒸镀设备预清洗3. 表面处理4. 表面硬化层镀膜5. 磁控溅射辅助镀膜7. 偏压离子束磁控溅射镀膜霍尔离子源 eH 系列在售型号:型号eH400eH1000eH2000eH3000eH Linear中和器F or HCF or HCF or HCF or HCF阳极电压50-300 V50-300 V50-300 V50-250 V50-300 V离子束流5A10A10A20A根据实际应用散射角度4545454545气体流量2-25 sccm2-50 sccm2-75 sccm5-100 sccm根据实际应用本体高度3.0“4.0“4.0“6.0“根据实际应用直径3.7“5.7“5.7“9.7“根据实际应用水冷可选可选是可选根据实际应用F = Filament HC = Hollow Cathode xO2 = Optimized for O2 current 1978 年 Dr. Kaufman 博士在美国创立 Kaufman & Robinson, Inc 公司, 研发生产考夫曼离子源, 霍尔离子源和射频离子源. 美国考夫曼离子源历经 40 年改良及发展. 离子源广泛用于离子清洗 PC, 离子蚀刻 IBE, 辅助镀膜 IBAD, 离子溅射镀膜 IBSD 领域, 上海伯东是美国考夫曼离子源中国总代理.若您需要进一步的了解 KRI 霍尔离子源, 请查看官网或咨询叶女士上海伯东版权所有, 翻拷必究！

产品介绍 JL-A3粉体特性测试仪，依据国标GB/T1482-2010金属粉末流动性测定，标准漏斗法（霍尔流速计），GB/T1479.1-2017松装密度，GB/11986-89休止角测定法。该仪器结构实现3种测试功能，粉末流动性、安息角（又称休止角）、松装密度（又称堆积密度），是粉体行业测试粉体特性的理想仪器。 广泛应用于工业化学、电池粉末、金属行业、制药、食品、科研院校、以及质检机构等相关粉体及颗粒材料检测，是粉体行业检测粉体流动性、安息角、松装密度的理想仪器。性能指标项目指标项目指标测试项目流动性、安息角、松装密度不锈钢量杯容积25ml漏斗出口直径标配5mm（可选2.5mm或定制）不锈钢钢尺宽25mm漏斗锥度角度：60°安息角粉盘直径80mm结果输出软件计算，支持在线查看数据报告保存Word/Excel/PDF格式仪器体积300*260*260mm重量净重约5KG产品优点1.漏斗和量杯均为不锈钢（304材质），其内表面经过精心特殊打磨，具有足够的壁厚和硬度，有效防变形和过度磨损。2.多种配置，可根据测试方法灵活更换使用。3.仪器支架用以固定漏斗和粉盘，配合测试需求通过支架上的旋钮，轻松调整向上移动或向下移动。4.支架下方配有挡板开关，粉体装入漏斗前，将挡板关闭漏斗出口处，可有效防止粉体漏洒，无需人工堵住漏斗口。5.配计算软件，软件安装在电脑上，输入测试记录的数据，即可得出测试报告。报告可选中文或英文，可输出Word/Excel/PDF格式，也可以联机打印，无需人工计算，省时又方便。流动性测试步骤1.1参照标准：GB/T1482-2010金属粉末流动性测定 标准漏斗法（霍尔流速计）1.2测试原理：测量50g金属粉流过标准漏斗孔所需的时间1.3计算公式：粉体质量/流动时间1.4测试方法：1)用开关堵住漏斗底部出口，称量50g样品后倒进漏斗中，在启开漏斗出口下开关的同时开始计时。2)漏斗中粉末一经流完，立即停止计时，记录粉体全部流完所耗时间，3)至少测量3次，取其算术平均值作为最终结果，将粉重和流动时间输入计算软件求得粉末流动性。4)用时间越短的粉末流动性越好，用时越长则表示该粉末的流动性越差。安息角测试步骤2.1参照标准：GB/16913-2008粉尘物性试验方法4.5休止角测定法2.2测试原理：将足够满溢料盘的粉尘从漏斗口注入到水平料盘上；测量粉尘堆积斜面与底部水平面所夹锐角，即粉尘安息角。2.3计算公式： 料堆高度／（料堆半径减去漏斗孔径半径）2.4测试方法：1) 将安息角粉盘放到固定架上，调整高度调节手柄，使粉盘向上移动至与漏斗底部接触。此时刻度尺最低点处于0mm位置。2) 将漏斗固定架锁紧手柄拧松，调节漏斗中心点与粉盘中心对准，然后锁紧漏斗固定架。3) 将待测粉体装满漏斗，然后旋转高度调节手柄，使粉盘慢慢向下移动。粉体从漏斗中自动流出并堆积在粉盘中的小盘上。4) 当粉体堆积成一定高度并溢出小盘后停止旋转高度调节手柄，直到漏斗中的粉末停止流动。5) 通过主体支架上的刻度尺读取粉堆的高度，将粉堆高度和小盘半径数据输入计算软件，自动计算出粉体安息角。松装密度测试步骤3.1 参照标准：GB/T1479.1-2011松装密度的测定第一部分：漏斗法3.2测试原理：在松装状态下完全充满已知量杯的粉末质量，将漏斗置于量杯上部确定距离处，使粉末从漏斗自由落入量杯，以获得松装状态。3.3计算公式：粉体质量/量杯容积1) 称出标准量筒的重量，将标准量筒放在粉盘上，调整漏斗中心线与标准量筒中心线重合。2) 将样品倒入漏斗流入标准量筒内，当试样在标准量筒顶部形成锥体并开始溢出时则停止加粉体。3) 用平直的钢尺沿标准量筒上边缘轻轻刮去多余的粉体，放到天平上称量，得出粉体重量。粉体重量除以量筒体积得出粉体松装密度。4) 正常情况平行测2个试样，取其算术平均值为最终结果。如果粉体潮湿，则需要事先进行干燥。干燥的方法是将粉体放到105℃的烘箱中烘干。

HSPM-07RT室温永磁铁霍尔测试系统由高精度霍尔测试仪、室温永磁铁夹具平台、测试电脑及软件组成，可在固定磁场下实现霍尔效应的测量，系统结构桌面式结构设计、体积小，测试效率高，是实验室快速检测和工厂质检的不二选择。系统有77K液氮单点选件，提供样品在77K低温下完成霍尔效应测量。 系统采用科学合理的共地设计，内部电学信号线全部采用三同轴线缆，保障了高阻半导体材料的测量，可以准确测量出样品的的载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。室温永磁铁夹具平台，可以轻松移动和翻转磁场，能同时满足快速霍尔和直流霍尔测试，采用PCB插拔样品卡设计，兼顾范德堡和霍尔巴样品。系统特点：&bull 磁场优于 0.7T（室温测量）；磁场优于0.5T（液氮单点选件）&bull 永磁铁通过滑轨移动，可以轻松翻转，同时兼顾快速霍尔和直流霍尔测试&bull 简单的插拔样品卡设计，可实现快速方便的样品处理，兼顾霍尔巴和范德堡样品的霍尔测试&bull 样品卡包含弹簧铍铜探针四探针样品卡、折弯钨探针四探针样品卡和焊接样品卡，满足不同样品测试需求&bull 科学合理的共地和三同轴结构设计，保障了系统高阻测试性能，电阻可至100GΩ&bull 测试腔有气路阀门，可通入氮气、氩气进行保护，也可抽取真空&bull 可增添77K低温选件，测试液氮单点温度下的霍尔参数测试材料：&bull 热电材料：碲化铋、碲化铅、硅锗合金等&bull 光伏材料/太阳能电池：A硅（单晶硅、非晶硅）、CIGS（铜铟镓硒）、碲化镉、钙钛矿等&bull 有机材料：OFET、OLED等&bull 透明导电金属氧化物TCO：ITO、AZO、ZnO、IGZO（铟镓锌氧化物）等&bull 半导体材料：SiGe、InAs、SiC、InGaAs、GaN、SiC、InP、ZnO、Ga2O3等&bull 二维材料：石墨烯、BN、MoS2等参数和指标：主机型号HSPM-07RT标准电阻范围10mΩ-100GΩ迁移率 10-2 -106 cm2/VS载流子浓度 8x102 -8x1023/cm3霍尔电压分辨率为1μV电压激励范围100nV ~ 10V电流激励范围10pA ~ 100mA测试方法范德堡或霍尔巴样品测试四探针样品卡样品尺寸：25mm*25mm焊接样品卡样品尺寸：10mm*10mm可选样品尺寸：50mm*50mm样品接触方式手动探针扎针或焊接样品温度室温，可选77K单点样品环境气氛（氮气或氩气）或真空磁场0.7T（室温）0.5T（液氮单点）永磁铁运动方式手动水平移动及翻转运动磁铁间隙20mm（室温）30mm（77K单点选件）磁场均匀区10mm*10mm*10mm优于5%

耐高压高灵敏度单极霍尔开关1. 规格说明商品名称耐高压高灵敏度单极霍尔开关（单极感应N极）感应方式磁铁感应电源电压5-24VDC检测距离有效检测距离0-10mm负载电流不超过40MA输出形式NPN三线常闭型输出状态无磁场时输出高电平，有磁场时输出低电平检测物体金属材料外接引线30cm外形规格M6×0.75，全螺纹，长度10mm接线方式红线正极，黑线负极，黄线信号，请勿接反典型应用无刷电机换向、流量传感器、位置传感器、速度传感器2. 详细参数（Ta=25℃，Vsup=5V）参数符号最小值典型值最大值单位电源电压VSUP3.8540V工作电流ISUP69mA输出电流Isink30mA输出上升时间Tr1us输出下降时间Tf1.5us工作点Bop306080Gauss释放点Brp104060Gauss回差Bhys102040Gauss工作温度Ta-40125℃3. 磁电转换特性该传感器设计用于北极响应。当磁通密度（B）大于工作点Bop时，输出以低电平，输出保持不变，直到磁通量（B）小于释放点Brp时，输出以高电平。该产品20元/只，100只起订。

华中区销售工程师 周钟平电话：邮箱： 霍尔效应测试系统依据范德堡法测量材料的电运输性能参数：载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。霍尔效应测试系统产品特点自主知识产权产品。采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越。自动控制磁场方向的改变，更加方便准确。样品装夹方式快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。产品工业外观采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅赏心悦目而且操作方便。智能化的用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷。霍尔效应测试系统测试实例山东大学钛酸锶陶瓷样品测试结果太原理工硅化镁样品测试结果霍尔效应测试系统技术参数型号HET-RTHET-HT磁场强度6800Gs5000Gs磁场稳定性±2％/每年温度范围RT100K~600K（可连续变温）温控精度\±0.5K输出电流100pA-100mA迁移率1-107cm2/Volt-sec阻抗10-6 -107?CM载流子浓度107 -1021cm-3样品测量板样品边长5-20mm，厚度10nm-3mm样品边长5-15mm，厚度10nm-1mm主机尺寸570x545x380，单位mm\重量50kg80kg霍尔效应测试系统技术原理　　采用范德堡法测量材料的霍尔系数和电阻率。范德堡法可测量任意形状、厚度（d）均匀的薄片样品的霍尔系数和电阻率，样品和四个电极联接，相邻的电极通入电流，在另一对电极之间测量电位差，利用电极1、2和2、3通入电流分别做两次测量，测得电阻RA和RB，然后根据范德堡公式推导出样品的电阻率ρ和R构成如下关系：　　在垂直样品的磁场（感应强度B）作用下，电流通过样品的一对不相邻电极，如由电极1到电极3，测得电极2、4之间的电位差V2,4 （VH），可计算出霍尔系数。

v 系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升级，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等v 该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500Kv 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sqv 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-3v 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cmv 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板最大样品测量直径：25mm

测量包括：• 迁移率测试• DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs• AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs• 载流子浓度测试• 电阻率测试• 电阻测量• 低电阻范围 1uohm to 1Mohm• 宽电阻范围 1uohm to 100Gohm• 高电阻范围 1ohm to 100Gohm• 范德堡法测试范围• 霍尔巴法测试 磁帽:• 可更换帽• 标准25mm• 在0-130mm间距连续可调• 更大帽直径可选,50mm,75mm 电磁铁:• ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface• ±35V, ±70A电源• 磁场±IT@25mmpolegap• 线圈电阻: 0.5 ? (20°C)• 水冷温度选项:• 低温 3K-300K• 高温300K-1273K 纳米磁学高斯计:• 磁场扫描采用集成高斯计• 磁场校准采用霍尔探头• 高灵敏度的磁场测量• 所有参数可通过软件控制 样品架:• 4,6 or8范德堡或霍尔巴测试设计• 易于样品安装与弹簧连接• 5mmx5mm样品大小(提供更大选件)• 多个样品安装 控制器和软件:• 使用我们软件可逐层的进行迁移率分析• 基于C# 的全自动软件分析• 非常宽的温度测试范围,3-1,300K• 采用高斯计进行磁场的控制• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试• 提供软件终生升

Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法，应用领域十分广泛。交流磁场测量选件非常适合测量传统直流场霍尔方法难以测量的新兴材料（迁移率低于1 cm2/Vs，包括半导体和电子材料，如光伏（太阳能电池）和热电材料、新的显示材料和有机电子材料等。8400系列霍尔效应测量系统提供了一个强大的测试平台，可以根据用户具体需求进行配置，包括变温选件、高电阻和低电阻选件以及光学通道等，极大程度上满足用户的测量需求，并大大简化实验过程。主要特征 ☛ 标准直流磁场测试迁移率范围：1 ~ 106 cm2/Vs☛ 可选交流磁场选件测试迁移率低至0.001 cm2/Vs☛ 可选变温范围15 K ~ 1273 K☛ 磁场最达2.2 T☛ 标准电阻范围：0.5 mΩ~10 mΩ，可选200 GΩ☛ 低阻选件电阻低至~0.5 μΩ可测量参数直接测量参数间接测量参数♢ 直流/交流磁场♢ 霍尔系数♢ 霍尔电压♢ 霍尔迁移率♢ 电阻率♢ 磁阻♢ 欧姆检查♢ 载流子类型♢ 四线法电阻♢ 载流子浓度♢ I-V曲线设备参数84048407DCACDCAC测量参数迁移率1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs载流子浓度8 × 102 ~ 8 × 1023 cm-38 × 102 ~ 8 × 1023 cm-3电阻率1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm电学测试参数*标准电阻测试范围读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法 0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS高阻选件配置读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS低阻选件配置电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电流±1 pA ~ ±100 mA±1 pA ~ ±100 mA恒流输出电压100 V100 V环境（磁场和温度）室温下磁场大小**(25 mm [1 in] 极头间隙)1.67 T使用标准50 mm直径极头1.35 T选用100 mm直径极头1.18 T使用标准50 mm直径极头0.95 T选用100 mm直径极头2.08 T 使用标准100 mm直径极头2.23 T 选用 50 mm直径极头1.19 T使用标准100 mm直径极头1.30 T选用 50 mm直径极头变温下磁场大小**(50 mm [2 in] 极头间隙)0.89 T使用标准50 mm直径极头0.88 T选用100 mm直径极头0.63 T使用标准50 mm直径极头0.62 T选用100 mm直径极头1.44 T使用标准100 mm直径极头 0.68 T使用标准100 mm直径极头运行交流磁场频率NA0.05 和 0.1 HzNA0.05 和 0.1 Hz样品尺寸标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm系统标配温度 室温室温单点液氮模块温度77 K77 K闭循环恒温器模块温度标准闭循环恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 400 K 光学型闭循环低温恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 350 K高温炉模块温度室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 磁体极柱直径4 英寸7 英寸极头直径标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)极头间隙（室温工作时）25 mm (1 英寸)25 mm (1 英寸)极头间隙（变温工作时）50 mm (2 英寸)50 mm (2 英寸)磁场均匀性25 mm 极头间隙, 50 mm 直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm极头间隙, 100 mm直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm325 mm极头间隙, 50 mm直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm3冷却（电磁铁和电源）标准7.6 L/min , 闭循环制冷机选件10.3 L/min标准19 L/min , 闭循环制冷机选件 23 L/min三相双极性电磁铁电源最大输出±35 V ±70 A (2.5 kW)±75 V ±135 A (9.1 kW)其他附件冷却水总功耗标准4.25 kW 加闭循环制冷机时7.45 kW标准13.4 kW 加闭循环制冷机时16.6 kW

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K和300K3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm 3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：1 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic or manual current selection自动或手动模式(电流控制磁场模式)4-2Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-3Routine and enhanced software常规和增强软件4-4Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-5Electromagnet电磁体4-6Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-7Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-8Automatic field calibration自动现场标定4-9Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-10Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-11Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-12Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)4-13Van der Pauw and bar shape (bridge-type) Hall samples支持范德堡和霍尔巴法测试霍尔5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module, the magnet power supply and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、磁场电源、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件界面