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检测显微镜

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检测显微镜相关的资讯

  • 手机装配显微镜可检测DNA!
    近日,科学家开发了一种通过智能手机运行的便携式显微镜,可以估计样本DNA分子的长度,发现人类基因组拷贝数变异和其他疾病的遗传特性。这种显微镜,体积较小,重量不足190克,只需要三个AAA电池就可运行的,而成本只需400美元。  2015年即将到来,科学家们预测在新的一年里,不少新技术将与我们的日常生活结合更紧密,近期来自加州大学旧金山分校的一组研究人员就研发出了一种智能手机附件,能检测样品中DNA分子的长度。  这一研究成果公布在12月10日的ACS Nano杂志上,这一附件重量仅为190克(以下),价格为400 美元,需要3节 AAA 电池。从功能上说,研究人员能利用这一附件完成拷贝数变异,以及疾病其它遗传特征的分析,这将成为现场诊断领域的又一新星。  研究人员在文章中证明了这一职能手机显微镜能分析荧光标记的DNA分子纯化溶液。首先将溶液放置在两个盖玻片之间,这样就能有效的将DNA拉升为直线,然后通过荧光显微镜附件内的蓝色激光照射在DNA上,智能手机就能完成一系列的拍照,并传送到远程服务器,计算片段长度。  一般来说设备能分析的DNA分子长度为10000~48,000 个碱基对大小,研究人员发现智能手机显微镜也能预测大约长度为约1,000 个碱基对的片段大小,这与传统的台式荧光显微镜的出错率差不多。  一些其他研究组也表示希望能利用智能手机显微镜,在缺乏必要基础设施的地区进行诊断治疗,这些地区也是最需要快速诊断传染性疾病的地方。    文章作者,电力生物工程师Aydogan Ozcan认为这一发现是个人电脑的一项革命性成果,&ldquo 看看我们早期的计算机,它们十分笨重,也很昂贵。现在计算机变得轻便,可便携了&hellip &hellip 几乎每个人都能买得起。同样,显微镜观察也会朝着这一方向发展,我们研发了小型化微观和纳米分析工具,我们能令它们更加方便使用,更加强大。&rdquo   不仅是显微镜,科学家们也研发了不少便携式的设备,如华裔科学家戴聿昌教授开发出了一种便携式细胞计数器,能在几分钟内,用扎指头的方式就能获得结果。  便携式白细胞计数器可以用于改善针对患有慢性疾病,比如白血病或其它癌症患者的门诊监测。而且也可以通过组合使用,帮助偏远地区的远程医疗,甚至可以用于宇航员,宇航员长期暴露于辐射中,利用这一设备,当他们还在太空中的时候就进行检测。  此外针对今年暴发的埃博拉病毒,意大利国家传染病研究所的研究人员也研发出了快速检测埃博拉病毒的便携设备,可在75分钟内检测出血液样本中是否存在埃博拉病毒。  这种设备采用分子生物学技术即时聚合酶链式反应。这种设备灵敏度极高,即便是微量的人类血液经过多次稀释也能检测出所含病毒,而且能够早期甄别病毒,显着减少传染风险。
  • 无需镜头的癌细胞检测显微镜问世
    据外媒报道,虽然高性能显微镜是确定癌症及其他疾病的一大利器,但它们的制作工艺复杂,且造价太高,所以这也意味着普通医院不大可能会拥有这样的医疗仪器。然而,加州大学洛杉矶分校的科学家们即将改变这种情况。  据悉,他们在近日研发了无需配备镜头就能在组织中找到癌细胞的显微镜。  该显微镜通过CCD或CMOS传感器创建人体组织类全息图像,然后通过为图像提供光源检测到组织的阴影部分,之后将它们的真实面貌在特定软件下展示出来。这款显微镜不仅能跟传统光学显微镜一样高效,而且它的制作工艺更加简单、造价也更加便宜。  不过,这并不意味着它立马可以商用。该项研究报告的联合作者Aydogan Ozcan告诉媒体,与该款显微镜配套的软件仍需要大量的改进。
  • 便携式显微镜:工业检测、科研、考古的得力助手
    便携式显微镜之所以在工业检测、科研和考古等领域得到广泛应用,主要是因为它克服了传统显微镜笨重、不易移动、操作繁琐等缺点。便携式显微镜设计紧凑,重量轻,携带方便,可以随时随地进行检测。便携式显微镜的几个典型的应用场景如下:一、表面检测在制造业中,产品的表面质量对其性能和使用寿命至关重要。便携式显微镜可以快速准确地检测产品表面的微观缺陷,如划痕、凹坑等。便携式自动对焦显微镜MSBTVTY检测喷漆划痕二、电子行业在电子行业中,对元器件的检测要求非常高。便携式显微镜可以用于观察、检测电路板、芯片等元器件的微观结构,确保其质量。同轴光金相显微镜检测晶圆示意图三、金属加工金属加工过程中,常常需要对工件进行无损检测。便携式显微镜可以通过观察金属的微观结构和质量,以及焊接点的连接质量等,检测其内部缺陷,提高工件的质量和可靠性。便携式显微镜MSA600S检测刀具划痕四、纺织行业纺织品的纤维结构和品质对其性能和外观至关重要。便携式显微镜可以用于观察纺织品的纤维结构,检测其质量和均匀性。五、考古行业便携式显微镜是分析鉴定和保护文物工作最常用的分析工具之一。由于其小巧便携、价格便宜、实用性强、操作简单等特点,越来越多的博物馆、科研机构的科技考古实验室都配备了便携式显微镜。便携式显微镜多用于观察纸张、织物、陶瓷、青铜器、石器等各类文物,也可以在考古现场对土壤等进行微观观察,是考古时最常用的工具之一。便携式显微镜看古玩六、生命科学研究在细胞生物学和解剖学研究中,便携式显微镜有助于观察细胞、组织、器官的超微结构和形态特征,以及病理变化等问题。在医学诊断中,它能够帮助医生对皮肤、黏膜等部位进行快速、准确的检测和诊断,例如用于鉴别癌细胞、真菌感染、精子计数等。随着科技的不断进步,便携式显微镜的性能和应用领域还将继续拓展,为科研和实际应用带来更多可能性。
  • Anyty(艾尼提)便携显微镜成为工业检测重要工具
    一直以来,工厂在产品检测、品质控制环节,涉及到微小物体或要检测产品的局部微小的细节,或检测要求精度较高,都要用到显微镜放大观察。而随着科技的发展,尤其是便携式显微镜的成熟和发展,以其小巧轻便、操作简单等优势在工业检测方面得到广泛应用,成为工业检测重要工具。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-WM401WIFI检测刀具 显微镜是工业检测重要仪器,在工业上观测材料、品质检测等,为提示工业制造精度具有很大的帮助。不过随着市场经济的发展,在工业产品质量控制与检测中,需要在生产环节各个节点进行品质抽检等,因此传统的显微镜存在移动不便、操作困难等弊端。 另外,品质检测人员要在普通显微镜的强光下,用显微镜的目镜观察细节,这样时间长了,不但会影响员工的用眼健康,品质检测人员流失严重,耗费大量的员工培训和管理的时间和精力,而且造成品质控制不严,影响公司的产品品质和客户信誉,从而严重影响公司的发展。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-MSBTVTY检测零部件 在这样的市场环境下,此类问题亟待解决。依托光电技术不断发展,便携式显微镜应运而生。 当前针对工业检测等方面,3R公司推出了一系列高清晰的不同规格类型的Anyty[艾尼提]便携式显微镜方案,有手持的,有直接带显示屏的,也有无线WiFi的等,当前已在工厂产品检测及品质控制等方面得到广泛应用,有效的弥补了传统显微镜的一些问题。 相比于传统显微镜,Anyty[艾尼提]便携式显微镜优势明细,小巧便携,非常适合不同的工作现场;而且具体一键自动对焦,操作简单,容易上手;自带屏幕,可进行精准测量,可拍照录像,对数据进行采集储存,便于生产检测报告等,成为工业检测重要工具。 Anyty[艾尼提]便携式显微镜3R-MSA600S筛网检测 总而言之,Anyty[艾尼提]便携式显微镜在工业检测领域广泛应用,并且能够针对不同用户提供个性化解决方案,为企业制造水平的提升提供重要产品支持和技术支持。
  • 原位检测艾滋病病毒的分子显微镜问世
    艾滋病病毒原位分析技术再次取得突破。美国科学家在上周召开的国际艾滋病会议上,展示了他们开发的全新检测技术及检测结果,这个被称为“分子显微镜”的探针能够准确检测到艾滋病病毒在细胞内外的隐藏之地。  美国过敏性和传染性疾病研究所疫苗研究中心副主任瑞查得普表示,这一分子显微镜新技术堪称神奇,它的超能力完全可以洞察到艾滋病病毒在任何细胞内的蛛丝马迹,最终能帮助弄清艾滋病病毒长时间存留的谜底,从而将其从体内彻底清除。  新技术几乎不受干扰  目前所用的检测组织中艾滋病病毒的原位分析技术都面临共同的大难题。这些探测技术,无论是利用荧光物质作标记物,还是放射性物质作标记,在精确定位组织样本中艾滋病病毒的位置时,经常难以将周围的细胞物质与目标检测物,如艾滋病病毒的RNA和DNA区别开来。这些标记物会将细胞组织当作病毒进行错误识别,对结果分析造成背景干扰。  据《科学》杂志网站报道,会议上展示的猴子不同组织中获得的艾滋病病毒的详细图片表明,新技术几乎没有受到任何干扰。美国国家癌症研究所弗雷德里克国家实验室的免疫学家杰克伊斯特,与拥有RNA显微镜的美国高级细胞诊断公司(ACD)合作开发出这一新技术,能分别或同时检测到组织中艾滋病病毒的DNA和RNA。得益于ACD公司独特的探针设计专利,RNA显微镜是目前最先进的RNA检测技术工具,实现了单个RNA在原位的可视化和量化,能够同时实现信号放大并降低背景干扰,可检测任何组织的任何基因。检测艾滋病病毒的分子显微镜就是在RNA显微镜的基础上开发的。  DNA和RNA都由互补的核苷酸对构成。捕获遗传物质的传统方法都是用称为寡聚体的核苷酸长链,在组织样本中寻找与之配对DNA或RNA链并相互配对。这些寡聚体携带着标记物,当它检测到目标物后,标记物会发出信号并拍照,研究人员可从图片中找到病毒遗传物质在组织样本中的分布位置。但是这些寡聚体分子太长,它们偶尔会犯错,与其他细胞物质结合时,并不理会那些要检测的目标序列。  分子显微镜作用原理  伊斯特的新技术包含一种更复杂的探针系统,能完全消除寡聚体带来的误打误撞。该技术的基本原理在于,先将寡聚体切成两等分,再将这两等分送到样本内寻找目标序列,只有当被分开的两段都停留在目标检测序列附近时,它们才能分别与目标序列成功配对后再重新连接起来。这意味着,寡聚体的两段只有遇到艾滋病病毒时才能分别配对并重新相遇,其他细胞物质再也无法造成干扰。  艾滋病病毒本身是RNA病毒,但它会转换成DNA形式,以便随时“潜入”人类染色体。伊斯特还与病毒学家杰弗瑞立夫逊合作,成功开发出可视化艾滋病病毒DNA的DNA显微镜。这些潜伏的病毒前体会融入人体细胞,并在受到免疫系统或抗逆转录病毒药物攻击前安然隐藏数十年之久,抗逆转录病毒无法消除艾滋病传染并治愈艾滋病患者的一大重要原因,就是这些将病毒前体“隐藏”起来的细胞的大量存在。  不放过任何一个病毒  伊斯特、立夫逊和同事们向一些猴子注射了猿类艾滋病病毒,然后对这些猴子体内的许多组织进行了原位分析。结果表明,RNA显微镜和DNA显微镜能清楚区分出细胞中潜伏的艾滋病病毒前体(即病毒DNA)、病毒RNA以及细胞外的病毒。伊斯特说:“我坚信我们的新技术不会放过任何一个病毒,它完美地将灵敏性和特定性集于一身。”  这些全新的分子显微镜能够克服治愈艾滋病道路上的几大障碍。第一大障碍是无法检测出接受抗逆转录病毒疗法的艾滋病患者血浆中的艾滋病病毒,因此研究人员难以评估一些艾滋病新疗法的具体效果,新显微镜技术将是克服现有技术障碍的有力补充。另一大障碍是无法确切知道病毒前体隐藏在体内何处,新技术能揭开这一由来已久的谜底,有助于大大缩小感染艾滋病病毒的细胞数量,更有针对地治疗患者。
  • 【清洁度显微镜微百科】产品和检测设备与时俱进
    # 始于航天,行于汽车清洁度最早的历史应用于航空航天工业,也可以用符号Sa表示。60年代初美国汽车工程师( SAE )和美国宇航工业协会( SAE )开始使用统一的清洁度标准,从而全面地应用于航空和汽车行业。机电仪表产品的清洁度是一项非常重要的质量指标。清洁度表示零件或产品在清洗后在其表面上残留的污物的量。一般来说,污物的量包括种类、形状、尺寸、数量、重量等衡量指标;具体用何种指标取决于不同污物对产品质量的影响程度和清洁度控制精度的要求。(摘自:百度百科)而汽车行业中关于清洁部件的要求,最早则由罗伯特博世公司(Robert Bosch)在1996年为了提高柴油汽车发动机共轨喷射系统的生产质量而提出的,他们在生产流程中发现小喷嘴很容易被系统中残留的污染颗粒堵塞,因此提出了生产中清洁部件的质量规范,由此诞生了零部件清洁度测试标准。此后,在汽车系统中很多可靠性问题都被归因于微粒子污染,即零部件清洁度不足。(摘自网络)产品与要求一同进化随着汽车工业的的大规模发展,汽车类产品的制造技术日益复杂,为了保障汽车的行驶安全,因此需要更高水平的污染控制能力。(当然,不仅是汽车、航空航天、重型机械和电气工程行业,技术产品日益复杂,因此对生产条件和生产部件的清洁要求也日益提高。)技术设备和部件表面上残留的污物可能会导致设备性能不可靠和/或很差;在制造过程中,设备上残留的颗粒会造成停工、延误交货时间、浪费材料和能源以及退货等问题。技术清洁度检测应用包括对ABS系统、柴油喷射器、制动卡钳、液压系统、管道、PCB、互连系统和较大重型机械部件的清洁情况进行检测。清洁度检测过程技术清洁度检测是一个包含了一系列准备步骤和检测步骤的较为复杂的过程,此文将对技术清洁度的检测过程进行概括介绍。检测之前对部件的准备工作分为如下步骤:部件清洗准备阶段始于从生产线上取下一个部件样本并进行清洗(在提取步骤之前)。提取在放置于无尘室的提取柜中去除被测部件上的颗粒。可以通过冲洗、喷洗、晃动冲洗或超声波清洗的方法去除颗粒。过滤对提取液进行过滤,并在滤膜上收集提取的颗粒(过滤材料包括纤维素、聚酯、玻璃纤维和尼龙网布)。烘干并称重滤膜被烘干,并准备接受进一步分析。滤膜烘干后,会留下所有杂质,然后,使用分析天平对其称重检测过程包括以下步骤:图像采集和载物台的移动烘干的滤膜被放置在电动显微镜的载物台上,以采集检测所需的图像。颗粒的探测观察滤膜的图像,以找到表现为明亮背景中黑色区域的颗粒。粒径的测量根据不同参数对所探测到的颗粒进行测量,这些参数包括:最大卡尺直径(与颗粒投影相切的两条平行线之间的距离)和等效圆直径。粒径的分类对颗粒进行了测量之后,将颗粒分成不同的粒径级别组。两个主要粒径等级为差值(由最小和最大粒径定义)和累积(仅由最小粒径定义)。颗粒计数外推法在滤膜中定义一个区域进行扫查,并探测其中的颗粒。这些区域可以是滤膜尺寸(整个滤膜区域)、流经区域(颗粒所覆盖的滤膜区域)、最大扫查区域(检测所能扫查的最大区域),以及检查区域(由用户定义的实际扫查区域)。颗粒计数归一化由外推法获得的颗粒计数被归一为某种比较值,从而可以对多次测量获得的结果进行比较。归一化方法包括清洗区域(归一为1000平方厘米区域的颗粒计数)、清洗体积(归一为100立方厘米区域的颗粒计数)、清洗样件(归一为单一样件的颗粒计数),以及过滤流体(归一为1毫升或100毫升过滤流体的颗粒计数)。污染水平的计算这种分类水平不是由粒径决定的,而是由(大多数国际标准)所定义污染级别中的颗粒总体数量决定的。清洁度代码的定义某些标准将测量数据的表现方式简化为简要的说明。这种清洁度代码根据标准而定义,并由粒径的级别和污染水平构成。最大审核值进行核查以获得最大审核值是一个可选步骤。如果需要获得一个最大审核值,则会在检测配置中确定,也可能会确定一个颗粒绝对数量值或者一个最大清洁度代码。反光颗粒和非反光颗粒的区分金属颗粒和非金属颗粒之间的区别是通过确定颗粒是否反光而完成的(这种区分极其重要,因为金属颗粒会造成比非金属颗粒大得多的伤害)。纤维鉴别在滤膜上探测到的纤维通常与滤膜上发现的其他颗粒来自于不同的地方(例如:纤维可能来自工作服或者抹布)。因此需要根据评估清洁度所使用的标准,识别、分析或忽略纤维。结果的复核在复核结果的过程中可能会执行以下操作:删除被错认为颗粒的项目;将靠得很近并被错认为是单个大颗粒的多个颗粒分开;将靠得很近并被错认为是不同颗粒的一个颗粒的组成部分融合在一起;修正错误的颗粒标签(例如:金属或非金属)。报告的创建技术清洁度检测报告可以包括某些颗粒采集参数的说明、颗粒分类表、颗粒区域覆盖的详细信息,以及最大颗粒的图像。CIX清洁度显微镜:为技术清洁度检测而设计技术清洁度检测向检测人员提出了一系列挑战,其中包括在检测过程中核查检测结果,同时观察反光和非反光颗粒,每天检测多个样本,基于不同的标准修正并重新计算结果,以及制作合规性报告分享结果。OLYMPUS CIX系列清洁度显微镜,特别为技术清洁度检测而设计,不仅可以迎接上述挑战,而且使用方便,可以使用户在非常舒适的条件下完成检测。OLYMPUS CIX系列清洁度显微镜的高端光学部件,硬件和软件的无缝整合,以及无需维护的可靠设计,确保了图像条件的再现性,并使清洁度检测成为一项可以轻松完成的日常任务。
  • 人工显微镜检测逐渐消失 专家疾呼挽救
    时下,各种自动化检验设备可谓日新月异,检测速度和准确性不断提高,传统的人工显微镜检查还有用武之地吗?在近日举行的2012年全国血液体液形态检验诊断学学术会议上,不少专家大声疾呼,在充分发挥现代自动化检验技术优势的同时,不应忽视以传统人工显微镜检查为主要手段的细胞形态学检查的重要价值。  一张小涂片解决了大问题  “一张小小的痰涂片,解决了困扰我一年多的慢性咳嗽。”会上,北京大学第一医院检验科王建中教授与大家分享了自己的经历,  一年前,王建中因受凉患了肺炎,此后一直断断续续地咳嗽,夜里常常咳得无法入睡。痰培养、胸透、肺功能、CT,该做的检查全做了,就是找不到原因,各种对症治疗也效果不佳。家人和同事甚至开始担心他得了肺癌。  直到有一天,王建中为自己做了一张痰涂片,显微镜下发现其中有大量嗜酸性粒细胞,表明咳嗽很可能是由过敏导致的。根据这一检验结果,在医生指导下服用相应抗过敏药物后,王建中终于治愈了病痛。  “形态学检验对疾病的诊断具有独到之处。”他深有感触地说。  据专家介绍,作为临床检验的核心和基础,形态学检验主要是在显微镜下对血液体液标本中的细胞或有形成分进行观察,是临床诊断、疗效观察、预后判断等的重要依据。  人工镜检结果还是一些疾病诊断的“金标准”。如在白血病的血液与骨髓标本中髓系原始细胞计数时,血液或骨髓涂片的显微镜下形态学检查和流式细胞仪分析两者均可用,但世卫组织最新的造血与淋巴组织肿瘤分类方案仍要求以形态学检查为准。  “即使是在临床检验技术自动化大发展的背景下,人工镜检依然是医学检验中不可缺少的重要手段。”王建中说,比如临床最常用的血尿常规检查,自动化仪器目前仍只能作为筛选手段,需要按照一定比例进行人工镜检的复检。  南方医科大学附属中山博爱医院检验科主任技师黄道连说,自动化仪器都是按照正常细胞的相关参数进行设定的,而病变细胞的结构和形态往往会发生改变,病得越重,变化越大,此时,自动化仪器就难以分辨,甚至张冠李戴,造成误诊、漏诊。  对于人工显微镜检查的重要性,很多专家不约而同地提到了曾在社会上引起轩然大波的“茶水发炎”事件。2007年和2012年,两度有记者用茶水代替尿液送到医院化验,结果被检测出炎症。虽然这一做法有违科学原理,但也从另一侧面向检验界敲响了警钟:显微镜检查的环节必不可少。“倘若检验人员能够对出现白细胞阳性的标本进行显微镜复检,也许就可以发现这一明显的谬误。”北京协和医院检验科张时民教授说。  河北医科大学第二医院检验科李顺义教授也举例说,抗凝剂在全自动血细胞分析仪上的使用,有可能造成假性血小板减少,如果不进行进一步镜检就直接发出检验报告,会导致患者接受不必要的辅助检查。  被忽视只因“费时费力还不挣钱”  让与会者感到的担忧的是,人工显微镜检查这一不可或缺的重要检验方式正在被严重忽视和弱化,成为许多医院检验科的“短板”。  这种忽视和弱化首先体现在人工镜检的比例大幅缩水,甚至被取消。“不少医院基本就不做了。”张时民说。  据了解,即使全血细胞分析仪判定为正常的标本中,也有5%是假阴性。2005年,世卫组织涂片复检协作组调查复检结果发现,每天有25%~30%的标本需要进行显微镜复检。但目前不少医院的复检率低于5%,甚至为0。  “自动化仪器主要看细胞数量的变化,而人工镜检则重点关注细胞‘质’的改变,两者本应是左右手的关系,但现在普遍是‘一手硬、一手软’。”黄道连说,他所在的检验科形态学检查做得不错,临床医生从中尝到了甜头,医院也因此非常重视人工镜检,“我们医院要求每一位住院病人在检查血常规时必须同时做血涂片。但据我了解,很少有医院这样要求”。  其次,检验人员对各种细胞的识别能力有限,难以为临床诊断提供有价值的信息。“认得出就认,认不出就当作没看见。”张时民说。  人工镜检被忽视的另一个突出表现是愿意干的人少,干着的人培训进修机会少,专业从事形态学检验的人员严重不足,不少医院采用轮岗、兼职的办法来安排人手。  “青黄不接是普遍现象。”黄道连曾对中山市4家三级医院的检验科人员进行问卷调查,仅有17%的人表示愿意从事形态学检查工作,约12%的人员接受过为期1个月以上的形态学检验诊断培训,而免疫、生化等其他检验项目的检验人员接受培训的比例则为25%~30%。  中国中医科学院广安门医院检验科刘贵建教授指出,过度倚重自动化设备,对仪器的局限性以及人工镜检的重要性认识不足,认为机器检查可以取代人工镜检,加之临床工作量激增,面对每天成百上千份的血尿标本,且要在1小时甚至半小时内出检验结果,检验人员超负荷工作,无暇完成进一步镜检,是人工镜检在检验科被忽视的主要原因。  另一个原因则是收费问题。目前,医院检验项目的收费标准主要按照耗费的物力成本计算,人工镜检所需试剂少、仪器简单,因而这一检验项目基本不收费或收费很低。在目前的医院运行机制下,对于“费时费力还不挣钱”的人工镜检,医院普遍缺乏关注热情。  张时民举例说,在该院做一套肝肾功能血脂检查的收费在300元左右,1小时自动化检验设备大约可以处理上百个标本,而一名检验医师1小时仅能处理约10个普通标本,复杂的标本甚至只能处理两三个。  “有时一张涂片看不到病变细胞,但根据经验判断觉得有问题,为了找到证据,就得多看几张甚至十几张片子,可能花费一天时间就为了找到一个恶性细胞。”黄道连说,“在美国,形态学检查被视为技术含量极高的检验项目,费用也相应较高,属于医保的限检项目。一套骨髓涂片的形态学检查收费为400美元~500美元,而我们的收费只有50元~60元。”  张时民指出,一名成熟的形态学检验技师需要至少10年的经验积累,而现在愿意待在显微镜前的人越来越少,非常不利于我国形态学检验诊断领域的发展。  形态学检查有广阔发展空间  “形态学检查是一门古老的学科,也有着广阔的发展空间,绝不应该是检验科的弱项。”上海交通大学医学院附属瑞金医院王鸿利教授说,在形态学检验的基础上发展起来许多新的检验方法,流式细胞仪就是典型代表。同时,细胞生物学、分子生物学等新兴技术领域都与形态学有关。“放弃了形态学,就放弃了临床检验学的基础。”  王建中表示,近年来逐渐发展成熟的全自动血细胞数字图像分析等现代技术,将为形态学检查的未来发展带来“革命性”的变化。“标本制备的全自动化、仪器自动获取细胞图像,可以减少人工制备标本时间,检验者可以在电脑屏幕上看到标本的显微图像,同时通过网络实现资料共享,同行间可以相互交流,这有助于提高检验诊断的效率和准确性。”  张时民认为,当前应着力加强形态学检验技术骨干的培养和基本技能的培训。在政策允许的情况下,提高形态学检查项目的收费,适当提高从事形态学检验人员的待遇。黄道连建议,应该在岗位安排、人才培养、进修培训、岗位津贴等方面实行政策倾斜,“让从事形态学检验的人员能够安心本职工作,不断提高业务水平,为临床医生提供更有价值的诊断信息”。
  • 无需显微镜也可检测细菌生长及药敏性
    美国密歇根大学的研究人员近日发明出一种新型生物传感装置,利用该装置,无需显微镜即可测量出细菌的生长过程及药敏特征。研究结果发表在1月15日的《生物传感器与生物电子学》期刊上。   科学家将这种装置称为“异步磁珠转动(AMBR)传感器”,它采用了一种可以在磁场中异步旋转的磁性小珠,任何附着到这种磁珠的物质都会降低其转速。在这项研究中,研究人员将杆状大肠杆菌附着在磁珠上,然后用AMBR传感器进行检测。  “当单个细菌附着上去后……将极大地阻碍磁珠,使磁珠旋转速率减慢到原来的四分之一”,领导这项研究的Raoul Kopelman教授解释,“若细菌再长大一点点,阻碍力将持续增大,转速也将随之变化,因而我们可测量出细菌的这种纳米级生长变化”。  利用同样的原理,该装置也可用于检测细菌的药敏性。当细菌受到药物影响停止持续生长,进而使得磁珠转速发生变化,于是研究人员便能在数分钟内知道药物是否对细菌产生了作用。  “采用这种方法,我们可以检测到小至80纳米程度的细菌生长变化,远比一台光学显微镜管用——显微镜的解析度也就大约250纳米”,文章第一作者Paivo Kinnunen说,“这种方法可以应用到任何微米级或纳米级的大小变化检测中”。  研究人员表示,这种新型生物传感装置或将有助于加快细菌感染治疗。(科学网 张笑/编译)  相关仪器:IX71型倒置光学显微镜 异步磁珠转动传感器  完成人:拉乌尔科普曼课题组  实验室:美国密歇根大学化学系、生物医药工程系、化学工程系、病理学系、应用物理计划兰道实验室 密歇根大学卫生系统临床微生物学与病毒学实验室群
  • 胤煌科技发布显微镜不溶性微粒检测仪新品
    YH-MIP-0103型显微镜不溶性微粒检测仪检测介绍药典规定:按照中国药典0903章节的要求,不溶性微粒的检测有两个方法,光阻法不溶性微粒检查和显微镜不溶性微粒检查。随着光阻法收录入药典作为不溶性微粒检查的一个方法以来,由于其操作简单,检测速度快,无需制样等优点深受广大用户的喜爱,也便成了用户偏爱和较高一种的检查方法。而显微镜法不溶性微粒慢慢淡出人们视野。随着药学的发展,尤其是制剂学的飞速进步,各式新的剂型进入临床,如注射用乳剂,常见的有丙泊酚、中长链脂肪乳、三腔袋脂肪乳等,脂质体,混悬剂,滴眼剂,混悬剂,易产生气泡剂型等。此种注射剂剂型的特殊性,无法利用常用的光阻法检测不溶性微粒,因为其样品本身的不透明性、高粘度等原因,使得采用光阻法检测会产生假性结果,因为光阻法会将样品本身和气泡也作为颗粒计入。中国药典CP中规定所有的注射剂都要做不溶性微粒项目检查,故而显微镜法不溶性微粒检查设备是非常重要的选择。常规显微镜不溶性检查的缺陷常规显微镜不溶性微粒检查大家会采用一台简单显微镜,人工进行计数。此种操作的难点是:无法避免人为的原因导致计数的偏差,主观性太强;最重要的是人为计数对实验员眼睛的要求较高,用眼过度会造成视力过早下降,引起一些不必要的眼疾;操作不规范性,测试结果重复性差YH-MIP-0103系列显微镜不溶性微粒检测仪上海胤煌科技有限公司自主研发生产的全自动显微镜不溶性微粒检测仪YH-MIP-0103系列,从样品制备到测试完成有一套完整的方案。1)直接按照药典要求出具报告;2)全自动进行滤膜全扫描,并进行颗粒图片分析;3)可以区分颗粒性质,鉴别不溶性微粒的来源,是金属还是纤维;4)按照颗粒性质进行归类分析统计;5)光阻法检测不通过时,作为光阻法不溶性微粒的一个验证;显微镜不溶性微粒检测仪设备构成样品过滤装置,烘干装置,检测分析系统,电脑等。检测分析系统可以根据用户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥利巴斯金相显微镜、徕卡金相显微镜、尼康金相显微镜等。显微镜不溶性微粒检测仪应用领域应用范围:乳剂、脂质体、滴眼剂、混悬剂、易产生气泡剂型、粘度大制剂等执行标准:中国药典CP,美国药典 USP 788、USP 789,欧洲药典 EP,英国药典 BP2013,日本药典JP等YH-MIP-0103系统介绍:组成:显微镜颗粒分析系统既可以观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;该系统包括光学显微镜、数字CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;是传统显微测量方法与现代图像处理技术结合的产品;软件:测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;专业软件控制分析过程,手动对焦,手动光强,自动扫描,自动摄入,自动分析;专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接, 数字化显微镜分析系统;数据传输:R232 接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统; 颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;显示器及打印机输出分析结果;特点:直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点; 避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;YH-MIP-0103系统介绍:胤煌科技为您奉献的专门高性价比实验室显微镜。可以轻松地根据需要进行明场、暗场、相衬、荧光、偏光等多种观察;还可以连接照相机、数码摄像头,与电脑联机工作。1)物镜:独立校正光学系统,物镜拥有更高的数值孔径,成像更加平坦,清晰范围可达视场边缘。5X、10X、20X、30X、40X、50X、80X、100X 等可根据要求选配、经过防霉处理;2)目镜:高眼点,屈光度可调。10X 目镜视场范围有 20mm 和 22mm 两种配置。经过防霉处理;3)阿贝聚光镜:数值孔径 NA1.25,中心可调,带相衬板插孔,配孔径光阑调节装置,聚光镜孔径光阑采用与物镜色圈相同颜色的标记,方便您的使用;4)暗场聚光镜:专门用于暗场观察,安装方便;5)偏光装置:加配起偏器和验片器,您便可以轻松进行简易偏光观察;6)多功能转盘式相衬聚光镜:数值孔径 NA1.25,配置多功能相衬聚光镜,您可以配合 10X-100X 相衬物镜进行相衬观察,配合 10X-40X 物镜进行暗场观察,也可以明场观察;7)内倾式转换器:方便您放置切片,变换物镜进行观察;8)机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm,可容纳 2*50mm 快切片,配切片定位夹;X/Y 方向移动范围大于 50*50mm。低位同轴移动手轮;9)无导轨机械载物台:平台尺寸大于 100*100mm,可容纳 2*50mm 快切片,配切片定位夹;X/Y 方向移动范围大于 50*50mm,低位同轴移动手轮,调节手轮可以根据您的用手习惯任意安装在载物台的左手或右手一侧;10)电动载物台:平台行程:大于 80*70mm;行程:2000μm;定位精度:≤±5μm;典型分辨率: 单步 0.625μm;11)观察筒:双目或三目铰链式观察筒;三目分光比 20/80,可以轻松与数码摄像头或照相机连接工作;视场较高可配置到 22mm;有 48-75mm和 52-75mm 两种不同的双目瞳孔,调节距分别适用于亚洲和欧美人士使用,您可以根据自己双目距离作出灵活的选择;12)粗微动手轮高度可调:根据您手形的大小,粗微动手轮高度可调,为您的手臂带来轻松和舒适;13)照明系统:6V/20W、6V/30W 卤素灯或者 LED 多种光源可供选择。抽屉式的灯座设计让您只需简单地拔出、插入便可方便地更换灯泡;14)高效率的独立散热系统:即使在 6V/30W 卤素灯 48 小时不间断照明的环境下,机身也不会烫手,完全解决了长期困扰研究人员的机身发烫问题;15)增高器:果您体型高大,可选配增高器,保证您观察时的坐姿更加舒适;16)搬运把手:保证您移动显微镜时轻松安全;YH-MINP-0103产品配置 显微镜不溶性微粒检测仪技术参数测试范围: 1 μm - 500 μm放大倍数:40X-l000X 倍比较大分辨:0.1 μm显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)重复性误差: 5%(不包含样品制备因素造成的误差)数字摄像头(CCD):300 万像素标尺刻度:0.1 μm分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度: 1 秒分割成功率: 93%软件运行环境:Windows 2000、Windows XP接口方式:RS232 或 USB 方式供货期:30 个工作日精 确 度:±3% 典型值;重合精度:10000 粒/mL(5%重合误差);分辨率:95%(按中国药典 2010 版校准)10%(按美国药典、ISO21501 校准)YH-MIP-0103分析过程: YH-MIP-0103系统介绍:美国药典 USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27;欧洲药典 EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0;英国药典 BP2013、BP2012、2010、2009;日本药典 JP16、JP15、JP14;印度药典 IP2010 版;WHO 国际药典 IntPh 第四版;中国药典 2010 年、2015 年;GB8368 输液器具;ISO21510;ISO11171 等。GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法。可根据客户要求,植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。 创新点:显微镜不溶性微粒检测仪全自动进行滤膜全扫描,并进行颗粒图片分析,可以区分颗粒性质,鉴别不溶性微粒的来源,是金属还是纤维按照颗粒性质进行归类分析统计,检测分析系统可按客户要求配置奥林巴斯体式显微镜、奥林巴斯金相显微镜等显微镜不溶性微粒检测仪
  • 奥林巴斯晶圆半导体显微镜提升晶圆检测水平
    晶圆是制作半导体材料的主要部件,而在半导体晶圆的整体制造过程有400 至600个步骤,历时一到两个月完成。因此缺陷检测对于半导体制造过程非常重要,如果流程早期出现任何缺陷,则后续步骤中执行的所有工作都将被浪费,所以在半导体制造过程中缺陷检测是其中的关键步骤,用于确保良率和产量。这就需要用到技术先进的晶圆半导体显微镜来进行缺陷检测,主要用于识别并定位产品表面存在的杂质颗粒沾污、机械划伤、晶圆图案缺陷等问题。针对晶圆严格检测需求,奥林巴斯的MX63系列晶圆半导体显微镜,除了拥有图像清晰、易操作、检测速度快的优势之外,还针对晶圆缺陷检测做出了一系列的特殊功能,确保晶圆检测的准确性。可供选配的AL120系统的晶圆自动搬送机晶圆自动搬送机是奥林巴斯备选的,可安装在MX63系列上,使用AL120系统可实现无需使用镊子或工具,即可安全地将硅及符合半导体晶圆从晶圆匣运送到显微镜载物台上。此显微镜卓越的性能和可靠性能够安全、高效地对晶圆正面和背面进行宏观检测,同时搬送机还可帮助提高实验室工作效率。快速清洁无污染的检测奥林巴斯MX63系列晶圆半导体显微镜可实现无污染的晶片检测,其显微镜所有电动组件均安装在防护结构壳内,干净无污染,同时显微镜架、镜筒、呼吸防护罩及其他部件均采用防静电处理。另外,MX63系列采用的是电动物镜转换器,电动转换器的转速比手动物镜转换器更快更安全,在缩短检测间隔时间的同时让操作人员的手始终保持在晶圆下方,避免了潜在的污染。大尺寸晶圆一样能实现高效观察MX63系列晶圆半导体显微镜利用内置离合和XY旋钮,能够实现对载物台运动的粗调和微调,即便是针对300mm的晶片这样的大尺寸样品,载物台也能够实现高效的观察。适合所有晶圆尺寸晶圆的尺寸有很多,而奥林巴斯的晶圆半导体显微镜可配合各类150-200mm和200-300mm晶圆托架和玻璃台板使用,如果生产线上的晶圆尺寸发生变化,可更改载物台或者镜架,各种载物台均可用于检测75mm、100mm、125mm、150mm的晶圆甚至300mm的晶圆检测。晶圆检测是主要的芯片产品合格率统计分析方法之一,而在芯片的总面积扩大和相对密度提升的情况下,对晶圆的要求也不断升级,晶圆检测也越来越精细,这就需要更长的检测時间及其更为高精密繁杂的检测设备来实行检测。奥林巴斯MX63系列晶圆半导体显微镜,融合了奥林巴斯先进的光学技术和数字技术,拥有简便的直观操作和稳定的可靠性,可为用户创建简洁合理的工作流程和灵活高效的解决方案,让晶圆的检测更准确、更简单。
  • 普洛帝发布不溶性微粒检测显微镜计数系统新品
    普洛帝不溶性微粒检测显微镜计数系统PLD-MPCS2.0A不溶性微粒显微镜计数系统 不溶性微粒显微镜法 显微镜计数系统 显微镜不溶性微粒计数系统不溶性微粒显微镜计数系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;符合中国药典规范附录0903不溶性微粒检查法第二法(显微计数法}。观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;不溶性微粒显微镜计数系统微纳米颗粒计数器为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、数字 CCD 摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;测试软件具有操作员管理系统、测试标准、零件测试模板、图像存储、颗粒追踪、报告输出、清洁度分析等功能;全面自动标准选择、颗粒尺寸设定、颗粒计数,或按用户设定范围计数,自动显示分析结果,并按照相关标准确定产品等级;将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物;专业软件控制分析过程,手动对焦,手动光强(颗粒清洁度测试必须人为干预进行),自动扫描,自动摄入,自动分析;专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;全自动膜片扫描系统,无缝拼接,数字化显微镜分析系统;R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统;颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;显示器及打印机输出分析结果;直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点;避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;现实NAS、ISO等国际标准方法的认可;提供“OIL17服务星”签约式服务;不溶性微粒显微镜计数系统产品应用:大输液、小针剂、水、水乙二醇、水溶液、溶水产品等检测!完全并高于2020版《中国药典》的要求,内置药典、麻醉器具、输液器具检测标准,可直接进行各种装量的注射液、无菌粉末,及医疗器具微粒污染滤除率检测;航空、航天、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车制造、制冷、电子、半导体、工程机械、液压系统等领域;对各类液体如油田回注水、污水、自来水、纯净水、高纯水、电子级水、超纯水、口服液、酒、饮料、牛奶、清洗剂、润滑油等液体进行固体颗粒污染度检测及不溶性微粒的检测。不溶性微粒显微镜计数系统执行标准:GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法美国药典USP 788、USP 789、USP35-NF30、USP32-NF27;欧洲药典EP6.0、EP7.0、EP7.8、EP8.0;英国药典BP2013、BP2012、2010、2009;日本药典JP16、JP15、JP14;印度药典IP2010版;WHO国际药典IntPh第五版;中国药典2020年、2020年;GB8368输液器具;ISO21510;ISO11171等。0.1~3000μm的超宽范围、超高分辨率满足全球510多个标准要求。可根据客户要求,植入相应“光阻法颗粒度”测试和评判标准。不溶性微粒显微镜计数系统技术参数:订制要求:各类液体检测要求;测试范围: 1μm-500μm放大倍数:40X~l000X倍分辨率:0.1μm显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)重复性误差: 5%(不包含样品制备因素造成的误差)数字摄像头(CCD):300万像素标尺刻度:0.1μm分析项目:粒度分布、长径比分布、圆形度分布等自动分割速度: 1秒分割成功率: 93%软件运行环境:Windows 2000、Windows XP接口方式:RS232或USB方式供货期:30个工作日精 确 度:±3% 典型值;重合精度:10000粒/mL(5%重合误差);分 辨 率:95%(按中国药典2020版校准);10% (按美国药典、ISO21501校准)鉴定机构:国家西北计量测试中心(民品)售后服务:普洛帝中国服务中心/普研检测。创新点:1、我司符合药典2020版0903显微镜法的仪器2、实现上光源、下光源双向监测功能3、引入金属颗粒、非金属颗粒和纤维丝等颗粒属性检测4、微量样品0.01ml的痕量试样测试5、高分辨率可实现X100~X1000的测试不溶性微粒检测显微镜计数系统
  • 光学显微镜、电镜用于地震灾区石棉粉尘检测
    2013年4月20日上午八时零二分,四川省雅安市芦山县地区发生7.0级地震,地震造成重大人员伤亡和财产损失。地震发生后,科技部紧急研究部署四川雅安地震抗震救灾科技工作,并在科技部门户网站发布抗震救灾实用技术手册,供地震灾区选用。在抗震救灾实用技术手册中,发布了地震灾区石棉粉尘检测技术。具体信息如下:  灾后各灾区的损坏建筑的清理、拆除、重建工作非常繁重,在这个过程中,粉尘的污染是个十分重要的问题,特别是很多建筑使用了或多或少的石棉材料,由此产生的石棉粉尘会对人体健康造成危害。本手册内容为针对石棉粉尘的分析监测技术和使用了石棉材料的建筑物的拆解及石棉废弃物的安全处理处置操作技术,以备地震灾区在工作中参照采用。  地震灾区使用了石棉材料的建筑物的安全拆解及石棉废弃物的处理处置应遵循专人按章操作,严密防护,安全、妥善贮存运送,指定地点集中处置,在整个过程中均设立明显示警标志,确保在拆解、处理处置过程及处置后的环境安全的原则。在工作过程中,要针对工作现场及周边进行石棉纤维污染的监测,防止造成污染,确保人体健康。  石棉纤维的检测方法有多种,主要有光学显微镜法、电镜法、X-射线衍射法等。其中光学显微镜法原理简单、所使用光学显微镜较为常见。而电镜法则准确度比较高,可以检测出较为细小的石棉纤维颗粒。  一.固体样品的检测  可参照HJ/T 206-2005《环境标志产品技术要求 无石棉建筑制品》的分析方法。主要方法如下:  1.样品的采集  固体材料中石棉检测工作的样品采集方法如下。  在材料的不同部位取下样品若干块,取样量约50-200克左右。  2.样品的预处理  1)被测样品中有机物质的去除。采用高温烘烤方法,在马弗炉中在400-500℃的温度下加热2小时左右,除去被测样品中的有机物质。  2)块状样品的粉碎。采用机械手段进行破碎和研墨至粉末状。(若使用破碎机,粉碎时间不要太长。不然会造成石棉纤维成为细小颗粒,无法辨别)  3)纤维束状和絮状样品。用剪子剪碎后,可用研钵稍做研磨,以使缠绕成团的纤维和过粗的纤维束可以分离舒展。或用镊子等工具从边缘剥离少许。  4)将粉碎或研磨好的样品进行充分的混匀待用。  3.样品的分析  采用光学显微镜法分析参照HJ/T 206-2005《环境标志产品技术要求 无石棉建筑制品》。  采用扫描电镜检测参照ISO 14966-2002《环境空气—无机纤维颗粒计数浓度的测定—扫描电子显微镜法》。  二.空气样品中石棉纤维的检测  1.光学显微镜法  样品采集就是将含石棉尘的空气抽取通过采样滤膜,石棉尘于滤膜上透明固定后,在相衬显微镜下计数,根据所采气体体积计算出每立方厘米气体中的石棉尘的根数。  采样及测定方法参照HJ/T41-1999《固定污染源排气中石棉尘的测定-镜检法》。  2.扫描电镜法  样品采集及测定可参照ISO 14966-2002《环境空气—无机纤维颗粒计数浓度的测定—扫描电子显微镜法》。  样品采集时可使用适用于扫描电镜观测的0.2微米或者0.4微米孔径的核孔膜。采样流量5-10L/min.。采样时间根据粉尘污染情况确定,以不造成颗粒物重叠为宜。  参照ISO 14966-2002 标准,在2000倍下进行观察和计数,计数规则参照上述标准。  技术来源  单位名称: 国家环境分析测试中心  联系地址: 北京朝阳区育慧南路1号 邮编:100029  联系人: 董树屏  联系电话:13601358418  e-mail: yrhuang@cneac.com  石棉的定义及可能含有石棉材料的建筑材料  石棉定义:石棉主要有两类,一类指属于蛇纹岩类的纤维状矿物硅酸盐,即温石棉(白石棉) 另一类是指闪石类纤维状矿物硅酸盐,即阳起石、铁石棉(棕石棉、镁铁闪石-铁闪石)、直闪石、青石棉(蓝石棉)、和透闪石。  石棉粉尘是指环境中悬浮在空中的石棉微粒。直径小于3微米,长度与直径之比大于3,纤维测量长度大于5微米的石棉纤维对人体的危害最大。  我国建筑材料中使用的主要是温石棉。可能含有石棉材料的建筑材料包括:石棉水泥瓦,钢丝网石棉水泥波瓦,石棉水泥平板,TR建筑平板,石棉硅酸钙板,石棉水泥管,石棉纱、线,石棉绳,石棉布,石棉带,热绝缘石棉纸,衬垫石棉纸、板,保温石棉板,泡沫石棉,石棉衣著,石棉被等。在这些材料中水泥制品比较坚固稳定,而保温石棉板、绝缘材料、泡沫石棉的材料较为松散易碎,更易于进入空气中造成污染。
  • 谢晓亮院士Science子刊:开发SRS显微镜肿瘤检测技术
    p  来自哈佛大学、密歇根大学等处的研究人员证实,可以采用定量受激拉曼散射(Stimulated Raman Scattering, SRS)显微镜来检测人类脑肿瘤浸润。这一研究成果发布在10月14日的《科学转化医学》(Science Translational Medicine)杂志上。/pp  哈佛大学谢晓亮(X. Sunney Xie) 教授和密歇根大学的Daniel Orringer博士是这篇论文的共同通讯作者。谢晓亮教授是单分子生物物理化学和相干拉曼散射显微成像的开拓者之一,其研究组在离体实验及活细胞内生物系统在单分子水平的动力学研究方面取得了不少重要的成果,尤其是单分子荧光显微技术,比如相干拉曼显微成像技术(CARS、SRS)等方面成果斐然。近年来,他又在单细胞测序技术上取得突破,发表了不少重要成果。/pp  脑肿瘤是一类常见的病因不明、来源广泛的神经系统疾病。男性多于女性,任何年龄都可发生,最多见于20-40岁之间。由于脑组织结构和生理功能的特异性,颅内肿瘤多引起显著而特异的临床症状和体征,尤其是位于重要功能区的脑肿瘤常引起病人重要功能的受损或缺失。脑肿瘤的主要根治方法是手术切除肿瘤灶,其目的在于尽可能保留脑功能皮层的情况下最大限度地切除肿瘤。将肿瘤与正常脑组织区分开来是脑肿瘤手术取得最佳结果的一个主要障碍。当前迫切需要一些能够在手术过程中显像肿瘤边缘地带的新成像技术来改善手术疗效。/pp  SRS显微镜是一种无损伤、免标记的光学方法,其能够检测原子间化学键的变化,敏感度高于红外显微镜和拉曼显微镜。谢晓亮教授曾表示,SRS显微镜是生物医学成像的一个巨大进步,开启了活细胞新陈代谢的实时监控研究。近年来,谢晓亮课题组一直在致力利用SRS显微镜来快速检测癌症组织,实现外科手术中的可视化。研究人员曾在动物模型中证实了SRS显微镜揭示神经胶质瘤浸润的能力。/pp  在这篇新文章中,研究人员利用SRS揭示出了22个神经外科患者新鲜、未处理手术样本中的脑肿瘤浸润情况。证实SRS检测肿瘤浸润与标准苏木红-伊红染色、光学显微镜检测近乎一致。SRS显微镜独特的化学对比可揭示出肿瘤浸润组织的组织细胞构成、轴突密度和蛋白质/脂质比的量化改变实现肿瘤检测。/pp  他们利用SRS生成了有关蛋白质和脂质的不同信号,并随后各自分配给它们一种颜色(蓝色和绿色),使得作者们能够将来自肿瘤的脑皮质与白质区分开来。采用SRS显微镜检测来自成人及儿童胶质母细胞瘤患者的活组织样本,不仅揭示出了显著的特征,还在组织中发现了采用传统染色看起来正常的浸润细胞。早期捕捉这样的浸润细胞至关重要,因为手术后遗留的浸润细胞几乎总是会导致癌症复发。/pp  为了确保这种SRS显微镜方法可日常用于脑肿瘤手术中,且无需专家解读。研究人员还构建出了一个目标分类器,其将不同的成像特征,如蛋白/脂质比、轴突密度和细胞构成整合为一个输出信号按照从0至1这个尺度来衡量,提醒病理学家注意肿瘤浸润。这一分类器是利用来自胶质母细胞瘤和癫痫患者的1400多张图像建立起来的,能够以 99%的准确度区分肿瘤浸润区域和非肿瘤区域。/pp  因此,这一免标记的成像技术可用于补充现有的神经手术工作流程,帮助快速客观地确定脑组织的特征及制定临床决策。/p
  • 通过SXZ 10体式显微镜提高检测质量,保证团队的工作效率
    SOPREMA是一家全球性公司,提供种类齐全的屋顶和屋面建筑围护结构系列产品。SOPREMA公司的解决方案专注于学校、制造工厂和数据中心等结构内的低坡度应用,包括改性沥青膜、聚合物液体应用膜和合成单层PVC膜。在美国的所有制造工厂中,SOPREMA都非常重视员工的安全,并致力于做出更大的贡献,在提供优质产品的同时最小化对环境产生的负面影响。SOPREMA公司已通过ISO 9001、14001和45001认证。质量保证(QA)是实现这一目标的关键因素。使用体式显微镜进行质量保证检测为了改进他们团队的质量保证(QA)检测流程,质量保证经理Amandine Tragus和研发经理Julie Shoemaker在SOPREMA公司的一个生产车间安装了一台奥林巴斯SZX10体式显微镜。在购买这台显微镜之前,SOPREMA公司的QA团队要么是在没有显微镜的情况下对材料进行目测(这种方式很慢,而且不精确),要么将材料送到第三方实验室进行验证(这种方式成本很高)。在过去的五、六年里,他们已经节省了1200多个工时,节省了大量的成本,为团队赢得了宝贵的时间。SOPREMA公司的质量保证实验室技术员Bethany Perronne使用奥林巴斯SZX10显微镜对产品进行检测更迅速、更精确地完成质量保证工作Amandine和她团队的三名技术人员对接收的每批原材料进行质量检测,而且在将成品发送给客户之前,也要使用SZX10体式显微镜进行检测,他们每周检测的成品批次多达10批。Julie强调了这台显微镜的宝贵价值,“我们SOPREMA公司非常重视产品质量,对所有来料(原材料)进行评估,对整批成品进行全面检测。对于现场出现的任何潜在问题,我们都会进行彻底分析。体式显微镜是我们成功完成每个工作流程不可缺少的工具。”SOPREMA公司的质量保证工作确保了其生产的所有成品都符合公司的特定要求,并超出客户的期望。SOPREMA公司设在密西西比州Gulfport的制造厂例如,在SOPREMA公司位于密西西比州Gulfport的工厂里,生产的主要产品之一是SG颗粒表面膜。这些产品的高反光表面必须满足美国严格的反射率要求(标题24、FBC、IECC)。使用SZX10显微镜,QA团队可以快速确认颗粒的适当分散和覆盖是否符合产品标准。以前,Amandine的团队需要花费一个小时或更长时间完成的目视检测工作,如今使用SZX10工业显微镜,只需大约5分钟就能完成。SOPREMA公司可以迅速确保将高质量产品投放到市场,而且还可使产品持续满足行业标准。SXZ10显微镜带来了意想不到的好处事实证明,使用体式显微镜捕获高质量图像,并将图像显示在屏幕上供整个团队观看,促进了团队的互助合作。团队沟通和教学培训得到了改善,而且SOPREMA公司的研发团队和质量保证团队发现他们能够更快、更准确地对需求做出反应。在与客户或其他内部部门沟通时,他们可以使用体式显微镜拍摄的图像,弥补在技术和术语表达方面的不足。正如Amandine所说,“一张图片胜过千言万语。”Julie表示认同,“如果出现问题,使用体式显微镜收集图像和证据的能力,有助于我们查明根本原因,并与我们的供应商或客户进行有效沟通。能够快速有效地诊断、沟通和解决问题至关重要。”为什么选择奥林巴斯产品?体式显微镜已经存在了几十年,而且市场上有很多型号的产品在使用。当被问及SOPREMA公司为什么决定与奥林巴斯合作时,Amandine提到了我们的客户服务。在生产车间中,时间非常宝贵,因此对于SOPREMA公司来说,一个经验丰富、以客户为导向的直销代表,以及公司所提供的售前、售后、培训和实施服务,是奥林巴斯显微镜的最终卖点。当被问及她是否仍然对自己购买的产品感到满意时,Amandine回答说:“非常满意! 在使用这个强大且好用的工具时,我们从未遇到过任何问题。”Julie补充道:“质量成本对我们来说极其重要。我们的品牌(Olympus和SOPREMA)是高品质的代名词,因此拥有这种质量可靠的成像工具,对于我们的团队来说非常棒。”
  • 环境型原子力显微镜和扫描电镜联用 助力检测橡胶样品
    设备: 日立环境型原子力显微镜 AFM5300E   日立扫描电子显微镜 SU3500背景及目的SEM是检测电子束扫描样品所生成的2次电子,背闪射电子,特征X射线等信号,得出样品结构,成分,结晶特性,元素分布等信息。另一方面,SPM是利用探针和样品表面的相互作用,表征高精度样品形貌及硬度和摩擦力,吸附力等敏感的力学物理特性及电流,电气阻抗,表层电位,压电特性,磁性等电磁物理特性。在这里我们介绍,包含氧化铅和硫磺的橡胶样品的SEM背闪射电子图像和X射线面分布像及利用SPM的形貌像(AFM像)和相位像(Phase像)的观察结果。1) Phase像根据样品表面的硬度和吸附力对比,利用共振悬臂的相位变化成像物理特性的方法。图1 SPM、SEM的检测信息和橡胶样品中的应用2) 观察结果图2 橡胶样品的SEM、SPM观察同一视野结构观察在背闪射电子像(BSE像)里重元素的对比度高,EDX元素分析得知这个区域含有铅元素和氧元素。SPM的Phase像观测中我们选用两类橡胶的弹性有较大差别的冷却温度-10℃,致使微区当中明显区分两种橡胶分布。SEM和SPM联系起来,表面的形貌和元素,结构,各种物理特性(力学特性和电磁特性)的面分析信息相结合,给基础研究,产品研发等提供更多观察及分析手段。 关于日立环境型原子力显微镜 AFM5300E,请点击:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C244320.htm关于日立扫描电子显微镜 SU3500,请点击:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/C168115.htm 关于日立高新技术公司:日立高新技术公司,于2013年1月,融合了X射线和热分析等核心技术,成立了日立高新技术科学。以“光”“电子线”“X射线”“热”分析为核心技术,精工电子将本公司的全部股份转让给了株式会社日立高新,因此公司变为日立高新的子公司,同时公司名称变更为株式会社日立高新技术科学,扩大了科学计测仪器领域的解决方案。日立高新技术集团产品涵盖半导体制造、生命科学、电子零配件、液晶制造及工业电子材料,产品线更丰富的日立高新技术集团,将继续引领科学领域的核心技术。更多信息敬请关注:http://www.instrument.com.cn/netshow/SH102446/
  • 偏光显微镜在汽车材料和医药辅料中石棉检测的应用
    内容摘要石棉的危害:石棉本身并无毒害,它的最大危害来自于它的粉尘,当这些细小的粉尘被吸入人体内,就会附着并沉积在肺部,造成肺部疾病,石棉已被国际癌症研究中心肯定为致癌物。 石棉纤维可以分裂约为0.5um的元纤维,该纤维长度一般低于5um。由于它们的化学性质非常的稳定,可以长期的漂浮在空气中或水中,持续地造成广域性污染极其微小的石棉粉尘飞散到空中,被吸入到人体的肺后,经过20到40年的潜伏期,很容易诱发肺癌等肺部疾病。 左:纤维状阳起石平行偏振器成像。右:用正交偏光镜拍摄的阳起石样本。阳起石纤维显示出明显的双折射颜色,这明显区别于玻璃纤维(无双折射)。DM4P显微镜使用透射光、20x物镜和偏光镜的成像效果 石棉纤维呈明显的分散色。温石棉是最常见的石棉。在这张图中,典型的橄榄石色系是蓝色的。介质的折射率为1.553。DM4P显微镜使用透射光、20x DS(色散染色)物镜和偏光镜的成像效果 这张图片显示了典型的洋红色分散色温石棉在E-W方向。介质的折射率为1.553。DM4P显微镜使用透射光、20x DS(色散染色)物镜和偏光镜的成像效果 石棉检测-偏光显微镜法(PLM)PLM 原理为每种矿物都有其特定矿物光性和形态特征,通过偏光显微镜观测矿物晶体形态、折光率、干涉色、2V角、延性、颜色、多色性、解理、轮廓、糙面、克线、 突起等特征鉴定石棉矿物。偏光显微镜下,温石棉为细长纤维,呈浅黄绿色或低正突出至低负突出,折光率1.540-1.550。干涉色经常是I级灰白至黄色。闪石类直闪石折射率1.605-1.710,除透闪石消光角为10-20o外,均为平行或近于平行消光。透闪石石棉为短纤维,呈无色,中正突出。横切面干涉色为I级黄白,纵切面上最高干涉色Ⅱ级橙黄。横切面对称消光,其他纵切面 均为斜消光,沿柱面方向为正延长。因此,PLM法即可以鉴定石棉种类是各国鉴定石棉普遍采用的方法之一。 针对上述问题的解决方案和满足石棉检测需求,徕卡显微系统推出三款偏光显微镜,以便通过偏光系统观察纤维的延性和形态,用色散染色性质进行区分石棉的类别,满足不同领域的用户需要: 徕卡 DM4P 专业偏光显微镜 l 半自动机型 专为科研及研发设计l 带编码的可聚焦、可调中勃氏镜l 视野直径:22/25mml 智能化自动光阑设置l 自动光源调整l 6孔物镜转盘l 内置1.6倍变焦 徕卡 DM2700P -适用于任何用户的偏光显微镜 l 手动机型l 人体工学设计:高度可调聚焦按钮l 令人满意的结果重现性l 视野直径:22/25mml LED照明及卤素灯照明l 5孔物镜转盘l 颜色编码的光阑、聚光镜设置l 聚焦锁定功能 徕卡DM750P -用于教学培训的显微镜 l 手动教学培训偏光显微镜,简单操作易使用l 178mm直径高精度旋转载物台,旋转角度360°l 视野直径:20mml 人体工学设计l 4孔物镜转盘l 可配置锥光模块l 专用ICC50Camera
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检可以以纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷,因此纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为半导体行业中的理想技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行检测和分类。伴随光刻工艺的不断进步,使生产更小的半导体器件成为可能。 随着器件尺寸的减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷已经对器件的性能产生了限制。 因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征方法。 由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,这会损害定量成像和随后的缺陷分类。 另一方面,使用原子力显微镜 (AFM) 的自动缺陷复检 (ADR)技术以 AFM 常用的纳米分辨率能够在三维空间中可视化缺陷。 因此,ADR-AFM 减少了缺陷分类的不确定性,是半导体行业缺陷复检的理想技术。 缺陷检查和复检 随着半导体器件依靠摩尔定律变得越来越小,感兴趣的缺陷(DOI)的大小也在减小。DOI是可能降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战:合适的表征方法必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。 传统上,半导体行业的缺陷分析包括两个步骤。第一步称为缺陷检测,利用高吞吐量但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,因此,在第二步中依赖高分辨率技术进行缺陷复检。对于第二步,高分辨率显微镜方法,如透射或扫描电子显微镜(TEM和SEM)或原子力显微镜(AFM),通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少感兴趣的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。 众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,所以更佳的技术选择应不能对晶圆产生影响。那么选择采用非接触测量模式的AFM可以无创地扫描表面。不仅有高横向分辨率,AFM还能够以高垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜提供了可靠的缺陷定量所需的三维信息。 原子力显微镜 通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中实现了最高的垂直分辨率。除了接触模式外,AFM还可以在动态测量模式下工作,即悬臂在样品表面上方振荡。在这里,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。由于自动化原子力显微镜的最新发展,原子力显微镜的应用从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正在发展成为用于缺陷分析的下一代在线测量解决方案。 使用原子力显微镜自动缺陷复检 基于 AFM 的缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。最初,用户在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤非常耗时并且显着降低了吞吐量。另一方面,使用 AFM 的自动缺陷复检从 AOI 数据中导入缺陷坐标。缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆以及补偿 AOI 和 AFM 之间的载物台误差。具有比 AOI 更高位置精度的光学分析工具(例如Candela),可以减少快速中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。由于自动化,测量过程中用户不必在场,吞吐量增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径,使多次后续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。 AOI和ADR-AFM的比较 图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 对相同纳米级缺陷的缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 通过机械扫描直接缺陷表面进行成像:除了横向尺寸外,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。 缺陷三维形状的可视化确保了可靠的缺陷分类,这是通过 AOI 无法实现的。当比较利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。 这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的尺寸为 91 nm 的三分之一。 然而,在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。 AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。 用 AOI 和 ADR-AFM 确定的缺陷大小的比较清楚地表明,仅 AOI不足以进行缺陷的成像和分类。图 2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。 ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。 b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。 c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。 ADR-SEM和ADR-AFM的比较 除了ADR-AFM,还可以使用 ADR-SEM 进行高分辨率缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检,在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后进行ADR-AFM测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描位置的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可见性,图2a说明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    作者: Sang-Joon Cho, Park Systems Corp.副总裁兼研发中心总监、Ilka M. Hermes, Park Systems Europe 首席科学家利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检,通过纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷。因此,纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为当今半导体行业中最理想的技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行精确检测和准确分类。 与时俱进的光刻工艺使得生产的半导体器件越来越微小化。器件尺寸一旦减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷就限制了器件的性能使用。因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征技术。由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,进而损害定量成像和随后的缺陷分类。而原子力显微镜 (AFM) 自动缺陷复检 (ADR)技术则有效地解决了该问题。该技术利用 AFM 常用的纳米分辨率,能够在三维空间中可视化缺陷,大大减少了缺陷分类的不确定性。因此,ADR-AFM 成为了当今半导体行业缺陷复检最理想的技术。缺陷检查和复检由于摩尔定律,半导体器件变得越来越小,需要检查的缺陷(DOI)大小也在减小。DOI可能会降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率的管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战。合适的表征技术必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向分辨率和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。一般来说,半导体行业的缺陷分析包含两个步骤。第一步:缺陷检测。利用吞吐量虽高但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,接下来需要依赖高分辨率技术进行缺陷复检。第二步:缺陷复检。利用高分辨率显微镜方法,如透射电子显微镜(TEM)或扫描电子显微镜(SEM)或原子力显微镜(AFM)。通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少检查的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,而非接触测量模式的AFM则有效地避免了该影响。它不仅可以无创地扫描表面,还有高横向和垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜能提供可靠的缺陷定量所需的三维信息。原子力显微镜通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中可达到最高的垂直分辨率。除接触模式外,AFM还可以启用动态测量模式,即悬臂在样品表面上方振荡。由此,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。随着自动化原子力显微镜的更新发展,原子力显微镜的应用越来越广泛,从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正发展成为用于缺陷分析的新一代在线测量解决方案。使用原子力显微镜自动缺陷复检AFM 缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。基于此,用户最初会在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中,手动在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤不仅非常耗时还大大降低了吞吐量。另外,使用 AFM 的自动缺陷复检需要从 AOI 数据中导入缺陷坐标。而缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆及精减AOI 和 AFM 之间的载物台误差。位置精度比AOI 更高的光学分析工具(例如Candela),可以有效减少中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。自动化的测量过程无需用户在场,吞吐量还增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径和连续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可有效防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。△图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。AOI和ADR-AFM的比较图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 在相同纳米级缺陷下所产生的不同缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 则通过机械直接扫描缺陷表面进行成像。除了横宽,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。可视化的缺陷三维形状确保了缺陷分类的可靠性和精确性,而这些是AOI无法实现的。当对比分别利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,我们发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的 91 nm 尺寸的三分之一。在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,我们观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。上述比较清楚地表明,仅用AOI不足以进行缺陷的成像和分类。△图2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。ADR-SEM和ADR-AFM的比较除了ADR-AFM, ADR-SEM 也可以进行高分辨率的缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检。在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先需要通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后通过ADR-AFM进行测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可视性,图2a表明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。结论随着现代技术不断创新,半导体器件尺寸不断减小,原子力显微镜作为一种高分辨率、无创的缺陷分析方法在半导体工业中的作用越来越明显。AFM自动化的测量简化并加快了之前AFM在缺陷表征方面低效的工作流程。AFM自动化方面的进展是引入ADR-AFM的基础。在ADR-AFM中,缺陷坐标可以从之前的AOI测量中导入,随后基于AFM的表征不需要用户在场。因此,ADR-AFM可作为缺陷复检的在线方法。特别是对于一位或两位级纳米范围内的缺陷尺寸,ADR-AFM补充了传统的AOI性能,AFM的高垂直分辨率有助于进行可靠的三维缺陷分类。非接触式测量模式确保了无创伤的表面表征,并有效防止AFM针尖磨损,从而确保在许多连续测量中能够依旧保持精准的高分辨率。
  • 利用原子力显微镜对半导体制造中的缺陷进行检测与分类
    利用原子力显微镜进行的自动缺陷复检可以以纳米级的分辨率在三维空间中可视化缺陷,因此纳米级成像设备是制造过程的一个重要组成部分,它被视为半导体行业中的理想技术。结合原子力显微镜的三维无创成像,使用自动缺陷复查对缺陷进行检测和分类。伴随光刻工艺的不断进步,使生产更小的半导体器件成为可能。 随着器件尺寸的减小,晶圆衬底上的纳米级缺陷已经对器件的性能产生了限制。 因此对于这些缺陷的检测和分类需要具有纳米级分辨率的表征方法。 由于可见光的衍射极限,传统的自动光学检测(AOI)无法在该范围内达到足够的分辨率,这会损害定量成像和随后的缺陷分类。 另一方面,使用原子力显微镜 (AFM) 的自动缺陷复检 (ADR)技术以 AFM 常用的纳米分辨率能够在三维空间中可视化缺陷。 因此,ADR-AFM 减少了缺陷分类的不确定性,是半导体行业缺陷复检的理想技术。缺陷检查和复检随着半导体器件依靠摩尔定律变得越来越小,感兴趣的缺陷(DOI)的大小也在减小。DOI是可能降低半导体器件性能的缺陷,因此对工艺良率管理非常重要。DOI尺寸的减小对缺陷分析来说是一个挑战:合适的表征方法必须能够在两位数或一位数纳米范围内以高横向和垂直分辨率对缺陷进行无创成像。传统上,半导体行业的缺陷分析包括两个步骤。第一步称为缺陷检测,利用高吞吐量但低分辨率的快速成像方法,如扫描表面检测系统(SSIS)或AOI。这些方法可以提供晶圆表面缺陷位置的坐标图。然而,由于分辨率较低,AOI和SSIS在表征纳米尺寸的DOI时提供的信息不足,因此,在第二步中依赖高分辨率技术进行缺陷复检。对于第二步,高分辨率显微镜方法,如透射或扫描电子显微镜(TEM和SEM)或原子力显微镜(AFM),通过使用缺陷检测的缺陷坐标图,对晶圆表面的较小区域进行成像,以解析DOI。利用AOI或SSIS的坐标图可以最大限度地减少感兴趣的扫描区域,从而缩短缺陷复检的测量时间。众所周知,SEM和TEM的电子束可能会对晶圆造成损伤,所以更佳的技术选择应不能对晶圆产生影响。那么选择采用非接触测量模式的AFM可以无创地扫描表面。不仅有高横向分辨率,AFM还能够以高垂直分辨率对缺陷进行成像。因此,原子力显微镜提供了可靠的缺陷定量所需的三维信息。原子力显微镜通过在悬臂末端使用纳米尺寸的针尖对表面进行机械扫描,AFM在传统成像方法中实现了最高的垂直分辨率。除了接触模式外,AFM还可以在动态测量模式下工作,即悬臂在样品表面上方振荡。在这里,振幅或频率的变化提供了有关样品形貌的信息。这种非接触AFM模式确保了以高横向和垂直分辨率对晶圆表面进行无创成像。由于自动化原子力显微镜的最新发展,原子力显微镜的应用从学术研究扩展到了如硬盘制造和半导体技术等工业领域。该行业开始关注AFM的多功能性及其在三维无创表征纳米结构的能力。因此,AFM正在发展成为用于缺陷分析的下一代在线测量解决方案。使用原子力显微镜自动缺陷复检基于 AFM 的缺陷复检技术的最大挑战之一是将缺陷坐标从 AOI 转移到 AFM。最初,用户在 AOI 和 AFM 之间的附加步骤中在光学显微镜上手动标记缺陷位置,然后在 AFM 中搜索这些位置。然而,这个额外的步骤非常耗时并且显着降低了吞吐量。另一方面,使用 AFM 的自动缺陷复检从 AOI 数据中导入缺陷坐标。缺陷坐标的导入需要准确对准晶圆以及补偿 AOI 和 AFM 之间的载物台误差。具有比 AOI 更高位置精度的光学分析工具(例如Candela),可以减少快速中间校准步骤中的载物台误差。以下 ADR-AFM 测量包括在给定缺陷坐标处的大范围调查扫描、缺陷的高分辨率成像和缺陷分类。由于自动化,测量过程中用户不必在场,吞吐量增加了一个数量级。为了保持纳米级的针尖半径,使多次后续扫描依旧保持高分辨率,ADR-AFM 采用非接触式动态成像模式。因此,ADR-AFM 可防止探针针尖磨损并确保对缺陷进行精确地定量复检。图1:用AOI和ADR-AFM测定的缺陷尺寸的直接比较,见左侧表格。右侧显示了所有六种缺陷的相应AFM形貌扫描。突出的缺陷称为Bump,凹陷的缺陷称为Pit。AOI和ADR-AFM的比较图1比较了 AOI 和 ADR-AFM 对相同纳米级缺陷的缺陷复检结果。AOI 根据散射光的强度估计缺陷的大小,而 ADR-AFM 通过机械扫描直接缺陷表面进行成像:除了横向尺寸外,ADR-AFM 还测量缺陷的高度或深度,从而可以区分凸出的“bump”和凹陷的“pit”缺陷。 缺陷三维形状的可视化确保了可靠的缺陷分类,这是通过 AOI 无法实现的。当比较利用 AOI 和 ADR-AFM 确定缺陷的大小时,发现通过 AOI 估计的值与通过 ADR-AFM 测量的缺陷大小存在很大差异。对于凸出的缺陷,AOI 始终将缺陷大小低估了一半以上。 这种低估对于缺陷 4 尤其明显。在这里,AOI 给出的尺寸为 28 nm ,大约是 ADR-AFM 确定的尺寸为 91 nm 的三分之一。 然而,在测量“pit”缺陷 5 和 6 时,观察到了 AOI 和 ADR-AFM 之间的最大偏差。 AOI将尺寸在微米范围内的缺陷低估了两个数量级以上。 用 AOI 和 ADR-AFM 确定的缺陷大小的比较清楚地表明,仅 AOI不足以进行缺陷的成像和分类。图 2:ADR-AFM 和 ADR-SEM 之间的比较,a) ADR-SEM 之前遗漏的凸出缺陷的 AFM 图像。 ADR-SEM 扫描区域在 AFM 形貌扫描中显示为矩形。 b) 低高度 (0.5 nm) 缺陷的成像,ADR-SEM 无法解析该缺陷。 c) ADR-SEM 测量后晶圆表面上的电子束损伤示例,可见为缺陷周围的矩形区域。ADR-SEM和ADR-AFM的比较除了ADR-AFM,还可以使用 ADR-SEM 进行高分辨率缺陷复查。ADR-SEM根据AOI数据中的DOI坐标,通过SEM测量进行自动缺陷复检,在此期间,高能电子束扫描晶圆表面。虽然SEM提供了很高的横向分辨率,但它通常无法提供有关缺陷的定量高度信息。为了比较ADR-SEM和ADR-AFM的性能,首先通过ADR-SEM对晶圆的相同区域进行成像,然后进行ADR-AFM测量(图2)。AFM图像显示,ADR-SEM扫描位置的晶圆表面发生了变化,在图2a中,AFM形貌显示为矩形。由于ADR-AFM中ADR-SEM扫描区域的可见性,图2a说明ADR-SEM遗漏了一个突出的缺陷,该缺陷位于SEM扫描区域正上方。此外,ADR-AFM具有较高的垂直分辨率,其灵敏度足以检测高度低至0.5nm的表面缺陷。由于缺乏垂直分辨率,这些缺陷无法通过ADR-SEM成像(图2b)。此外,图2c通过总结高能电子束对样品表面造成的变化示例,突出了电子束对晶片造成损坏的风险。ADR-SEM扫描区域可以在ADR-AFM图像中识别为缺陷周围的矩形。相比之下,无创成像和高垂直分辨率使ADR-AFM非常适合作为缺陷复检的表征技术。结论随着现代技术中半导体器件尺寸的不断减小,原子力显微镜作为一种高分辨率、无创的缺陷分析方法在半导体工业中的作用越来越明显。AFM测量的自动化简化并加快了之前AFM在缺陷表征方面低效的工作流程。AFM自动化方面的进展是引入ADR-AFM的基础,在ADR-AFM中,缺陷坐标可以从之前的AOI测量中导入,随后基于AFM的表征不需要用户在场。因此,ADR-AFM可作为缺陷复检的在线方法。特别是对于一位或两位级纳米范围内的缺陷尺寸,ADR-AFM补充了传统的AOI,AFM的高垂直分辨率有助于可靠的三维缺陷分类。非接触式测量模式确保了无创伤表面表征,并防止AFM针尖磨损,从而确保在许多连续测量中能够维持高分辨率。作者:Sang-Joon Cho, Vice President and director of R&D Center, Park Systems Corp.Ilka M. Hermes, Principal Scientist, Park Systems Europe.
  • 智能显微镜载片真的可以检测癌症吗?科学家带你一探究竟
    最近,一项发表在《Nature》杂志一篇题目为“Colorimetric histology using plasmonically active microscope slides”的文章表明:通过在纳米尺度上修改传统显微镜载玻片的表面,生物结构和细胞呈现出一种鲜明的颜色对比,可以用来立即检测疾病。在过去五年里,项目负责人Brian Abbey教授一直在La Trobe大学与联合发明人Eugeniu Balaur博士共同研发这项技术。Abbey教授说:“目前的组织成像方法通常依赖于染色或标记细胞,以便使它们在显微镜下可见。即使有了染色或标记,对病理学家来说,检测癌细胞仍然具有挑战性,有些样本可能会被误诊,尤其是在疾病的非常早期阶段。最近纳米技术的突破使我们能够操纵光与生物组织的相互作用,使异常细胞看起来与健康细胞有不同的颜色。将我们幻灯片上的图像与传统染色法进行比较,就像在看彩色电视,而你之前看到的都是黑白的。”在这项研究中,来自拉La Trobe分子科学研究所的研究人员与Peter MacCallum癌症中心的联合首席研究员、副教授Belinda Parker的团队合作,对新技术进行试验,以帮助诊断非常早期的乳腺癌。这项研究是与来自加文医学研究所、墨尔本皇家医院、奥利维亚牛顿-约翰癌症研究所、墨尔本大学和澳大利亚国立大学的同事合作进行的。目前的技术可能意味着很难区分早期形式的乳腺癌和良性病变,特别是当复杂组织中没有很多形状异常的细胞时。NanoMslide使这种诊断变得更加容易。Parker副教授也是La Trobe大学的兼职副教授,他解释道:“当我第一次在纳米载玻片的显微镜下观察组织时,我非常兴奋,我第一次看到癌细胞突然出现在我面前。它们与周围组织的颜色不同,很容易将它们与周围的细胞区分开来。NanoMslide将补充目前正在使用的现有染色剂,以实现更一致的癌症诊断。基于我们对NanoMslide的初步发现,我们认为这个平台在早期乳腺癌诊断中非常有用,但在其他癌症中,我们只是试图在复杂组织或血液样本中提取一些癌细胞。”Abbey教授的团队能够通过利用墨尔本纳米制造中心提供的开放获取设备和专业知识来开发他们的幻灯片技术,墨尔本纳米制造中心是澳大利亚国家制造设施维多利亚节点的旗舰设施。该团队将与墨尔本纳米制造中心、澳大利亚全国的制造设施网络合作,开始生产更多的玻片,以进入市场,并解决广泛的医疗和非医疗成像问题。拉筹伯大学副校长John Dewar AO教授表示:“纳米玻片的发明及其在改进癌症诊断中的应用凸显了拉筹伯大学这样的大学在研究创新方面发挥的重要作用,而这些研究创新有能力改善人们的生活。随着这一非凡的发明从一个辉煌的概念转化为一个可能挽救生命的解决方案,La Trobe已经证明,当卓越的研究创新与强大的行业合作伙伴结合在一起时,可以实现什么。”
  • 奥林巴斯智能激光显微镜,亚微米3D测量检测新体验
    随着工业制造水平的不断提高,制造出的各类工业产品也越来越智能化,产品的升级随之而来的是产品的检测要求也越来越精细,对检测的设备也提出了更高的要求,尤其是半导体、平板显示、电子器件、高精密电路板制造以及材料等领域,所需要的显微镜检测设备越发精细化,不仅要极其精确还得智能。在众多的显微镜公司及显微镜产品中,奥林巴斯公司是世界中具有先进光学技术的代表企业,多年来一直在显微镜领域攻克难关,进行光学技术的创新,推出了与时俱进的奥林巴斯激光显微镜OLS5100,颠覆了传统激光显微镜,将大数据、科技智能等高端技术融入了新一代的3D测量激光显微镜中,助力我国工业领域的发展。奥林巴斯LEXT OLS5100是全新的一代激光显微镜,它可观察纳米范围的台阶,可测量亚微米级别的高度差,还可测量从线到面的表面粗糙度,在这些方面上的测量上,OLS5100通过它的智能物镜选择助手和智能实验管理助手,以非接触、非破坏的观察方式轻松实现3D观察和测量,容易、准确、快速!何为智能物镜选择助手?它如同机器人一样,给它下达指令,就能给你完成你想要的目的。智能物镜助手也一样,它能帮助您确定哪款物镜最适合用于样品表面的粗糙度测量。它通过三个步骤就能完成你对物镜的选择:首先,启动智能物镜选择助手功能。 第二,点击开始。第三,它就会确定并告诉你所选择的物镜是否适合当前被检测的样品。这样一来,就能顺利减少因错误选择物镜造成的实验时间浪费,同时还能让测量结果保持稳定,不受操作员技能水平的影响。智能实验管理助手,它是一个帮助用户管理实验计划、采集和分析的软件。在测量过程中可根据软件生成的定制实验计划扫描样品,所有的检测分析过程全部显示在屏幕上,这样的可视化可让用户在分析中更容易发现问题,优化检测结果,从而节省更多的时间和人力。制造业在变革,智能化转型升级是必然的结果,奥林巴斯不断开拓打造世界先进的测试和测量解决方案,为各行各业提供好用方便的检测武器。而奥林巴斯激光显微镜OLS5100顺应改革潮流,除了出色的激光共焦光学系统获得更加清晰的图像外,还配备了智能物镜选择助手和智能实验管理助手,无需制备样品、非接触面粗糙度分析和高效率的亚微米3D测量强大功能,测量精确、可靠稳定的奥林巴斯激光显微镜成为了制造研发和质量保障的重要设备。
  • CIX100清洁度显微镜可支持材料检测分析
    关于清洁度# 无处不在的清洁度检测 对于现代工业及制造业而言,清洁度的检测已经成为生产制造过程中非常重要的一个环节。我们在之前的推送中,已经和大家对清洁度进行了一系列科普,如果您想对清洁度有更全面的认知,可以点击以下链接查看我们撰写的内容: 【技术清洁度微百科】 案例分析喷油器在发动机电控系统中的作用为控制喷油量的执行器,故其故障主要表现为喷油量不准确,可能出现喷过量或喷油量不足的情况,轻则造成发动机燃烧不均匀,缺火或者熄火;大排量发动机由于扭矩较大,喷油器故障导致常喷时发动机可能熄火,最后可能导致出现活塞泵油现象而顶弯连杆重大事故,由此看来解决由喷油器清洁度造成的故障成为行业内亟待解决的重大问题。奥林巴斯CIX100可以快速、准确、自动化的检查喷油器的清洁度,可以检查颗粒大小从2.5um-42mm之间的颗粒。 现代工业标准的清洁度要求较为繁复,囊括了如VDA 19.1、VDA19.2、ISO 16232、ISO 4406、ISO 4407、USP 788、ASTM E1216-11:2016、NAS1638:1964和各类公司规范。 而CIX100系统是专为自动化清洁度检测推出的整体解决方案,该系统几乎满足各类清洁度指标。该系统设计用于满足通过一次扫描,即可检测小至2.5 μm的污染物,并可区分金属颗粒、非金属颗粒和纤维。所有部件均已针对高生产率系统数据的精确性、可再现性、可重复性以及无缝集成进行优化。通过将直观的工作流程与关键任务自动化相结合,不但有助于加快检测速度,同时还可极大地减少人为错误和污染样品的风险。奥林巴斯清洁度显微镜CIX100还支持材料检测分析,可支持的材料解决方案包括晶粒度截点法、晶粒度面积法、铸铁分析、非金属夹杂物分析、层厚度分析、枝晶间距测量、相分析、孔隙率和涂层厚度测量等。CIX100:技术清洁度检测高效方案保证精度和重复性:设备由高水准的光学技术、高灵敏彩色摄像头、简练的智能的软件构成,提供稳定的操作结果;操作性:根据易于理解的工作流程,人为操作控制到最少,无关技能和经验,任何人都能得到可靠准确的数据;高速扫描:金属/非金属一次扫描即可分类,高速拼图,3分钟左右即可扫完整个滤膜,实时显示结果,NG/OK提早预判。标准全面:支持汽车、航空航天、医疗等行业的清洁度标准,一次扫描即可获取图像和数据,多种国际清洁度标准可自由切换。
  • 文献速递 | 肿瘤药物反应检测平台以ECHO荧光显微镜为成像辅助研究
    2020年,我国新发癌症达457万,而因癌症死亡的人数超过300万,因此更有效、更合理的癌症治疗方案开发逐渐被人重视。在之前的癌症治疗中,对可用药物的反应检测,如肿瘤缩小,通常需要几周到几个月的时间,无法代表肿瘤的动态敏感性。新近开发的植入式微型装置(IMD),用于将微量化疗剂局部输送到活肿瘤的狭窄区域;随后可以取出组织并进行分析,以评估药物反应。这种方法有可能快速筛选多种药物,但需要手术切除组织,并且仅在切除组织时的单个时间点评估药物反应。本文研究者开发了一个新的检测平台——“肿瘤实验室”植入式微型设备(LIT-IMD)平台,可直接用于对活肿瘤内的细胞死亡药物反应进行成像,无需切除或处理。LIT-IMD是将微型成像探针、植入式微型设备、活细胞检测技术结合在一起,将其插入活肿瘤中,IMD将多个药物微剂量输送到空间离散的位置,同时,它局部释放微量的荧光细胞死亡检测剂(碘化丙锭PI,PI结合双链DNA,但只能进入已经破坏细胞膜的细胞;因此,它在失去膜完整性的晚期凋亡和坏死细胞中积累),扩散到暴露于药物的组织中,并在细胞死亡部位积累。集成的小型化荧光成像探针对每个区域成像,以评估药物诱导的细胞死亡。研发者使用LIT-IMD对鼠肿瘤模型8小时多种药物的反应进行评估,目前评估细胞死亡的金标准方法是荧光成像和荧光组织化学(IHC)分析,研究者将肿瘤成像与金标准荧光显微镜和组织病理学进行对比,使用Echo Revolve荧光显微镜进行标准成像,LIT-IMD成像结果明显与Echo Revolve荧光显微镜图片存在相关性。(b)将来自活肿瘤组织(第一列)中的M-2CFM成像的荧光信号与相应的Echo Revolve荧光显微镜(第二列)和免疫组织化学(IHC)(第三列)进行比较,在组织切片和处理后成像。在荧光和IHC图像上,方框表示与活体肿瘤中由M-2CFM探针成像的组织区域相对应的大约400 × 300 µm的感兴趣区域。在IHC图像上,“X”表示药物释放的位置;“V”表示活的肿瘤组织。经过训练的图像分类器能够从染色的IHC图像中定量确定非存活指数(非存活除以存活肿瘤),然后将其与实验荧光图像相关联。该平台是第一个完全集成的平台,可用于原位评估多种化疗反应。Echo Revolve荧光显微镜在该成像平台研制过程中通过良好的成像效果和参数帮助研发者确定平台拍摄效果和仪器性能,帮助其优化和完善平台。Revolve正倒置一体显微镜Revolve显微镜展现了其非凡的灵活性,可以轻松地实现正置和倒置显微镜转换,创新性地把正倒置显微镜合二为一,开启了显微镜Hybrid时代。☑ 视网膜屏显示技术:比拟目镜人眼观察效果。☑ 全视野观察: 更清晰,更方便。☑ 多通道荧光:多达4个EPI荧光通道,无须暗室,就可以轻松快速地完成多色荧光显微分析。☑ 自动化操作:通过iPad Pro点触操控相机及荧光通道之间的切换,实现了完全自动化操作。☑ App应用软件:基于IOS的Echo App是与Apple团队合作研发的专业显微镜软件。☑ 精湛的工艺尽显高端品质:实现非凡的性能。
  • 560万!广东省微生物分析检测中心场发射扫描电子显微镜及辅助设备采购项目
    项目编号:GZGK22P104A0358Z项目名称:广东省科学院微生物研究所(广东省微生物分析检测中心)场发射扫描电子显微镜及辅助设备采购项目采购方式:公开招标预算金额:5,600,000.00元采购需求:合同包1(场发射扫描电子显微镜及辅助设备):合同包预算金额:5,600,000.00元品目号品目名称采购标的数量(单位)技术规格、参数及要求品目预算(元)最高限价(元)1-1显微镜场发射扫描电子显微镜及辅助设备1(套)详见采购文件5,600,000.00-本合同包不接受联合体投标合同履行期限:见“标的提供时间”要求。
  • 奥林巴斯公司最新发布LEXT OLS4500 纳米检测显微镜
    奥林巴斯公司非常荣幸地宣布,将于6月3日在日本、中国、韩国和泰国发布LEXT OLS4500 纳米检测显微镜。LEXT OLS4500是一种工业用新型显微镜,能够进行无缝放大观察,实现从几百微米到几纳米的测量。  LEXT OLS4500 纳米检测显微镜将激光显微镜与扫描探针显微镜*3(SPM)组合在同一台机器上,从而允许更大范围放大倍率下的观察与测量(从50倍到100万倍)。奥林巴斯公司与Shimadzu公司联合开发了LEXT OLS4500。  LEXT OLS4500集成了激光显微镜功能,对于复杂表面非接触性3D测量,具有行业领先的可重复性*1和准确性*2保证,新的功能比如一键单击即可自动获取3D图像,图像获取速度大约是现有奥林巴斯各种型号产品的两倍。  ● 主要特性  LEXT OLS4500 纳米检测显微镜功能上的新特性:  单一扫描区域里的高分辨率观察和高精确性测量  设计便于新手操作,包括自动3D图像获取功能  3D图像获取速度大约是现有奥林巴斯各型产品的两倍  组合了光学显微镜、激光显微镜和探针显微镜功能的一体机  ● 发布背景  近年来,随着便携式数据装置和工业设备变得越来越小,性能越来越高,而使用人员同时还要求这些产品中使用的传感器和其它电子组件更加小型化,性能更强。由于这些组件也要求严格的质量控制,因此也需要能够测量表面特性,比如梯度和粗糙度的高度可靠的3D形状测量器械。同时,需要细微表面特性量化控制的行业范围扩展迅速,包括自动和特色材料部。相应地,样本的特性也更多样化,包括具有复杂形状,或粘连特性的样本,尤其对于研发中使用,以及生产过程中使用的器械,对其的要求日益增加。奥林巴斯3D测量激光显微镜LEXT系列可以观察并测量尺寸从几百微米到亚微米的样品,卓越的3D表面特性的能力使其在工业和专业研究领域得到广泛使用。目前,奥林巴斯公司已添加了新的型号,以满足在更大范围里以更高的精确性进行测量和观察的要求。  ● 主要特性  LEXT OLS4500纳米检测显微镜的特性  1. 高分辨率观察和更大范围的高准确性测量  由于大范围上的测量通常要使用低放大倍率,因此此类图像的清晰范围有个限制。为解决这个问题,新的显微镜可以实施高分辨率观察,并使用拼接功能在大范围上实施高精确性测量,即将625幅不同放大倍率的图像组合在一起,从而可以用高分辨率来识别小的区域。而过去的大多数激光显微镜一直用于研发,及其相关领域,以观察很小的样本,以高精确性来观察很大的范围的能力也在工业中开启了显微镜作为质量控制工具的先河。  2. 设计易于新手操作,包括自动3D图像获取功能  传统上3D成像需要复杂的设定(亮度和上下限)。采用新的智能扫描模式后,用户一键单击即可获取3D图像。该功能设计允许即使是初次使用者,获取的结果也等同于经验丰富的操作者。  3. 3D图像获取的速度大约是现有奥林巴斯各种型号的两倍  新型的Ultra-Fast型号获取3D图像的速度大约是现有Fast型号的两倍,比Fine型号快九倍。加速了样品观察和测量,大幅提高了效率。  4. 单一器械组合了光学显微镜、激光显微镜和探针显微镜*5功能  SPM技术与LEXT OLS4100功能的组合意味着可以用很大范围的放大倍率来进行观察和测量,从几十倍到100万倍。也就是说可以将该显微镜用于3D测量,从微米范围里相对比较大的样本到纳米尺寸的样本。此外,使用光学或激光显微镜功能,该显微镜可以快速而准确地切换到超高放大倍率SPM观察(大约100万倍),而不会丢失要观察的位置的踪迹。比如,在研究所里对新材料实施形状测量时,可以实施各种类型的观察,而不用变换样本,并且能够以最适合的放大倍率进行测量。  *1: 反复的测量值之间的偏差程度。计量学里的技术词汇。  *2: 测量值与其真实值的差距。计量学里的技术词汇。  *3: 通过探针机械式地在样本表面移动的纳米级别的观察和测量技术。  *4: 1纳米是十亿分之一米。  *5: 扫描探针显微镜将探针靠近样本表面,实现纳米级的观察和测量。
  • 西安交通大学医学院第一附属医院570.00万元采购共聚焦显微镜,色谱检测器
    详细信息 西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购国际招标公告(1) 陕西省-西安市 状态:公告 更新时间: 2022-09-09 西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购国际招标公告(1) 项目编号:0617-224124HZ2079 公告类型: 招标公告 招标方式:国际公开 截止时间:2022-09-30 09:30:00 招标机构: 西北(陕西)国际招标有限公司 招标地区:陕西省 招标产品:激光共聚焦显微镜 所属行业: 光学仪器 购买标书 西北(陕西)国际招标有限公司受招标人委托对下列产品及服务进行国际公开竞争性招标,于2022-09-09在中国国际招标网公告。本次招标采用传统招标方式,现邀请合格投标人参加投标。 1、招标条件 项目概况:激光共聚焦显微镜 1套、小动物超声 1套 资金到位或资金来源落实情况:本项目为财政性资金,预算金额为人民币570万元。 项目已具备招标条件的说明:已具备 2、招标内容 招标项目编号:0617-224124HZ2079 招标项目名称:西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购 项目实施地点:中国陕西省 招标产品列表(主要设备): 序号 产品名称 数量 简要技术规格 备注 1 激光共聚焦显微镜 1套 *3.6 最高扫描分辨率:单次扫描最大分辨率≥8192 x 8192像素;至少支持8bit及16bit等多个灰度级自由可选;*3.7 内置光谱型荧光检测器≥3个,所有荧光检测器全部为全光谱型超高灵敏度检测器(GaAsP PMT或HyD S),光子探测效率 QE≥45%,所有检测器均支持光子计数检测模式,每个检测器的开关、增益、电压独立调节;*4.1 提供Airyscan/N-STORM/Lightning/STED中的一种超高分辨率模块,分辨率:XY方向上≤120nm,Z方向≤270nm;*5.2 电动聚光镜,数值孔径≥0.55,工作距离≥26mm; 具体要求详见第八章技术规格 2 小动物超声 1套 *3.1 种类:小鼠心脏专用探头;*4.1.3 扫描速率:最高帧频≥1000帧/秒 具体要求详见第八章技术规格 3、投标人资格要求 投标人应具备的资格或业绩:1)凡是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区的法人或其他组织均可投标; 2)投标人须提供投标产品中华人民共和国境内的销售业绩清单(含客户名称、设备名称及型号、合同签署时间、联系人等)或合同复印件; 3)投标人有依法缴纳税收及社会保障资金的良好记录。(境外投标人不适用); 4)投标人参加政府采购活动前3年内在经营活动中没有重大违法记录;(境外投标人不适用) 5)投标人必须在机电产品招标投标电子交易平台上注册有效,网址:http://www.chinabidding.com。 是否接受联合体投标:不接受 未领购招标文件是否可以参加投标:不可以 4、招标文件的获取 招标文件领购开始时间:2022-09-09 招标文件领购结束时间:2022-09-19 是否在线售卖标书:否 获取招标文件方式:现场领购 招标文件领购地点:西安市南二环西段58号成长大厦10层标书发售处 招标文件售价:¥500/$80 其他说明:有意向的投标人可在领购期每天8:30~11:30时,13:30~16:30时(北京时间),持单位介绍信及购买人身份证原件及复印件在西北(陕西)国际招标有限公司10层标书发售处购买招标文件。(发售联系人:王艳华 029-89651830) 5、投标文件的递交 投标截止时间(开标时间):2022-09-30 09:30 投标文件送达地点:陕西省西安市南二环西段58号成长大厦10层会议室(南二环与朱雀路十字西南角) 开标地点:陕西省西安市南二环西段58号成长大厦10层会议室(南二环与朱雀路十字西南角) 6、投标人在投标前应在____( https://____)或机电产品招标投标电子交易平台( https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 7、联系方式 招标人:西安交通大学医学院第一附属医院 地址:西安市雁塔西路277号 联系人:张老师 联系方式:029-85324027 招标代理机构:西北(陕西)国际招标有限公司 地址:西安市南二环西段58号成长大厦10层至14层(南二环与朱雀路十字西南角) 联系人:李建飞 周小方 联系方式:029-85592879 电子邮箱:xbzbs4@163.com 8、汇款方式: 招标代理机构开户银行(人民币): 交通银行西安长安大学支行 招标代理机构开户银行(美元):中行西安市南郊支行 账号(人民币):611301151018010003843 账号(美元):103606570428 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容:共聚焦显微镜,色谱检测器 开标时间:2022-09-30 09:30 预算金额:570.00万元 采购单位:西安交通大学医学院第一附属医院 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:西北(陕西)国际招标有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购国际招标公告(1) 陕西省-西安市 状态:公告 更新时间: 2022-09-09 西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购国际招标公告(1) 项目编号:0617-224124HZ2079 公告类型: 招标公告 招标方式:国际公开 截止时间:2022-09-30 09:30:00 招标机构: 西北(陕西)国际招标有限公司 招标地区:陕西省 招标产品:激光共聚焦显微镜 所属行业: 光学仪器 购买标书 西北(陕西)国际招标有限公司受招标人委托对下列产品及服务进行国际公开竞争性招标,于2022-09-09在中国国际招标网公告。本次招标采用传统招标方式,现邀请合格投标人参加投标。 1、招标条件 项目概况:激光共聚焦显微镜 1套、小动物超声 1套 资金到位或资金来源落实情况:本项目为财政性资金,预算金额为人民币570万元。 项目已具备招标条件的说明:已具备 2、招标内容 招标项目编号:0617-224124HZ2079 招标项目名称:西安交通大学医学院第一附属医院激光共聚焦显微镜及小动物超声采购 项目实施地点:中国陕西省 招标产品列表(主要设备): 序号 产品名称 数量 简要技术规格 备注 1 激光共聚焦显微镜 1套 *3.6 最高扫描分辨率:单次扫描最大分辨率≥8192 x 8192像素;至少支持8bit及16bit等多个灰度级自由可选;*3.7 内置光谱型荧光检测器≥3个,所有荧光检测器全部为全光谱型超高灵敏度检测器(GaAsP PMT或HyD S),光子探测效率 QE≥45%,所有检测器均支持光子计数检测模式,每个检测器的开关、增益、电压独立调节;*4.1 提供Airyscan/N-STORM/Lightning/STED中的一种超高分辨率模块,分辨率:XY方向上≤120nm,Z方向≤270nm;*5.2 电动聚光镜,数值孔径≥0.55,工作距离≥26mm; 具体要求详见第八章技术规格 2 小动物超声 1套 *3.1 种类:小鼠心脏专用探头;*4.1.3 扫描速率:最高帧频≥1000帧/秒 具体要求详见第八章技术规格 3、投标人资格要求 投标人应具备的资格或业绩:1)凡是来自中华人民共和国或是与中华人民共和国有正常贸易往来的国家或地区的法人或其他组织均可投标; 2)投标人须提供投标产品中华人民共和国境内的销售业绩清单(含客户名称、设备名称及型号、合同签署时间、联系人等)或合同复印件; 3)投标人有依法缴纳税收及社会保障资金的良好记录。(境外投标人不适用); 4)投标人参加政府采购活动前3年内在经营活动中没有重大违法记录;(境外投标人不适用) 5)投标人必须在机电产品招标投标电子交易平台上注册有效,网址:http://www.chinabidding.com。 是否接受联合体投标:不接受 未领购招标文件是否可以参加投标:不可以 4、招标文件的获取 招标文件领购开始时间:2022-09-09 招标文件领购结束时间:2022-09-19 是否在线售卖标书:否 获取招标文件方式:现场领购 招标文件领购地点:西安市南二环西段58号成长大厦10层标书发售处 招标文件售价:¥500/$80 其他说明:有意向的投标人可在领购期每天8:30~11:30时,13:30~16:30时(北京时间),持单位介绍信及购买人身份证原件及复印件在西北(陕西)国际招标有限公司10层标书发售处购买招标文件。(发售联系人:王艳华 029-89651830) 5、投标文件的递交 投标截止时间(开标时间):2022-09-30 09:30 投标文件送达地点:陕西省西安市南二环西段58号成长大厦10层会议室(南二环与朱雀路十字西南角) 开标地点:陕西省西安市南二环西段58号成长大厦10层会议室(南二环与朱雀路十字西南角) 6、投标人在投标前应在____( https://____)或机电产品招标投标电子交易平台( https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 7、联系方式 招标人:西安交通大学医学院第一附属医院 地址:西安市雁塔西路277号 联系人:张老师 联系方式:029-85324027 招标代理机构:西北(陕西)国际招标有限公司 地址:西安市南二环西段58号成长大厦10层至14层(南二环与朱雀路十字西南角) 联系人:李建飞 周小方 联系方式:029-85592879 电子邮箱:xbzbs4@163.com 8、汇款方式: 招标代理机构开户银行(人民币): 交通银行西安长安大学支行 招标代理机构开户银行(美元):中行西安市南郊支行 账号(人民币):611301151018010003843 账号(美元):103606570428
  • 天津空港出入境检验检疫局采购生物显微镜等检测仪器
    中招国际招标有限公司受天津空港出入境检验检疫局的委托,就天津空港出入境检验检疫局检测仪器采购项目(项目编号:TC160S4HS)组织采购,评标工作已经结束,成交结果如下:  一、项目信息  项目编号:TC160S4HS  项目名称:天津空港出入境检验检疫局检测仪器采购  项目联系人:薛文  联系方式:010-62108014  二、采购单位信息  采购单位名称:天津空港出入境检验检疫局  采购单位地址:天津市河西区浦口道6号  采购单位联系方式:侯威 022-65661244  三、采购代理机构信息  采购代理机构全称:中招国际招标有限公司  采购代理机构地址:北京市海淀区皂君庙14号院9号楼512室  采购代理机构联系方式:薛文 010-62108014  四、成交信息  招标文件编号:TC160S4HS  本项目招标公告日期:2016年07月06日  成交日期:2016年07月15日  总成交金额:6.78 万元(人民币)  成交供应商名称、地址及成交金额:  1包:  成交供应商名称:天津普达科技有限公司  成交供应商地址:天津市南开区航天道26号农科大厦707室  成交金额:22200 元  2包:  成交供应商名称:天津奥佳科技股份有限公司  成交供应商地址:天津市南开区鞍山西道258号  成交金额:45600 元  谈判小组、询价小组、磋商小组成员名单及单一来源采购人员名单:  李惠民、孙桂玲、李凯、韦国海  五、项目用途、简要技术要求及合同履行日期:  1包:  设备名称:生物显微镜  2包:  设备名称:生物培养箱  *“生物培养箱”为协议供货设备,投标人需为总局2016年协议供货商(投标人需提供相关证明材料)。  六、成交标的名称、规格型号、数量、单价、服务要求:  1包:生物显微镜  2包:生物培养箱  七、其它补充事宜
  • 使用OLS5100激光共聚焦显微镜对功能性薄膜进行检测
    食品包装、工业材料和医疗应用中使用的薄膜表面具有各种特性,如透明度、光泽度、防水性、防污性和非粘附性。表面处理和加工工艺用于增加各种表面功能。为了评估薄膜的表面处理和加工质量,测量表面粗糙度至关重要。这项检测会测量薄膜表面细微不平整的粗糙度,并对其进行数值量化。测量表面粗糙度的一种方法是使用3D激光共焦显微镜。在一次实验中,我们试图使用聚乙烯薄膜(食品保鲜膜)和抗静电薄膜来验证薄膜中的静电和表面粗糙度之间是否存在关系。为了进行粗糙度测量,我们使用了LEXT OLS5100 3D激光共聚焦显微镜。继续阅读以了解结果!目视比较抗静电薄膜与聚乙烯薄膜的表面状况我们能够使用OLS5100 3D激光共聚焦显微镜目视确认了这两种薄膜的表面状况。OLS5100 显微镜使用405 nm紫激光束扫描样品表面以采集3D数据。该系统与可适应405 nm波长并减少像差的专用LEXT物镜配对,可以清晰地捕获传统光学显微镜和普通激光显微镜难以捕获的精细图案和缺陷。光学系统也是非接触式的,因此,即使是薄膜等柔软样品,也无需担心会造成表面损坏。红色激光(658 nm:0.26 μm 线距)与紫色激光(405 nm:0.12 μm 线距) 在此图中,您可以清楚地看到聚乙烯薄膜的表面没有奇特的形状,并具有轻微的不平整。相比之下,抗静电薄膜则存在周期性亚微米到几十纳米的锯齿状不平整。50倍物镜下的聚乙烯薄膜(食品保鲜膜)与50倍物镜下的抗静电薄膜 量化抗静电薄膜与聚乙烯薄膜的表面状况接下来,通过使用相同的3D激光共聚焦显微镜测量表面粗糙度,量化了这两种薄膜表面的视觉不平度差异。在这一步中,重要的是选择合适的透镜来观察样品,以获得较为可靠的测量结果。得益于Smart Lens Advisor,OLS5100显微镜可以轻松确定*所选物镜是否适合样品。在本例中,系统确定专用LEXT 50倍物镜适用于薄膜的粗糙度测量。显微镜使用50倍物镜测量这两种薄膜时获得了以下结果:测量中值得注意的粗糙度参数为Sq、Sz、Sa、Sdr和Sal。以下是对这些参数的概括说明:Sq(均方根高度)、Sz(最大高度)和Sa(算术平均高度)这些参数表示与平均表面相比的不平度大小。在本例中,值较大的抗静电薄膜表示不平度较大。Sdr(界面扩展面积比)Sdr表示表面积的增长率。在本例中,具有较小Sdr值的聚乙烯薄膜表面积较小。相比之下,由于表面的不平度较大,抗静电薄膜的表面积较大。Sal(自相关长度)虽然大多数参数评估的是高度方向的粗糙度,但Sal是少数关注横向(如条纹和颗粒密度)的参数之一。Sal值越小表示形状越陡、颗粒越细。相反,Sal值越大则表示表面的不均匀形状越平缓。因此,我们可以得出结论,抗静电薄膜的Sal值越小,在不均匀表面上的颗粒状越精细。用表面粗糙度数据测定薄膜静电静电量的三个主要决定性因素是接触面积、摩擦力和湿度。在本文中,我们重点关注的是与表面粗糙度密切相关的接触面积。一般来说,物体之间的接触面积越大,产生的静电荷就越多。在这个实验中,我们可以看到物体之间接触面积小的抗静电薄膜比接触面积大的聚乙烯薄膜产生的静电小。与聚乙烯薄膜更光滑的表面相比,抗静电薄膜较大的不平度减小了接触面积。您可以在下面看到电荷量与表面粗糙度数据的关系:抗静电薄膜与聚乙烯薄膜(食品保鲜膜)
  • 新型纳米力学成像探针实现原子力显微镜下DNA的直读检测和高分辨成像
    p  近日,中国科学院上海应用物理研究所物理生物学研究室与上海交通大学、南京邮电大学合作,基于DNA纳米技术发展了一系列DNA折纸结构并作为纳米力学成像探针,实现了原子力显微镜下对基因组DNA的直读检测和高分辨成像。相关结果发表于《自然-通讯》(Nature Communications 2017, 8, 14738)。/pp  DNA折纸结构是利用DNA碱基互补配对原则,通过程序性设计将M13 DNA在上百条DNA短链的辅助下折叠成指定几何形状。上海应物所博士张宏陆等在研究员樊春海指导下,并与晁洁、师咏勇等合作,通过设计DNA折纸结构作为原子力显微镜的纳米力学成像探针,在单分子水平下实现了对DNA分子的特异性标记和单核苷酸变异性(SNP)的直读检测。相较于基于荧光成像的直读方法,这种新技术将分辨率提升一个数量级,可达到远超光学衍射极限的10 纳米分辨。基于DNA纳米折纸结构设计的探针为原子力显微镜的图像获取提供了精确的标尺和丰富的选择,为遗传分析等生物学应用提供了新的工具。进一步,他们还将该方法与之前发展的纳米PCR和单倍型分析技术(Nature Nanotechnology 2011, 6, 639)结合,实现了单分子水平的遗传样本单倍型分析。这种单分子水平的单倍型分析通量高,可靠性好,有望用于易感基因的发现、疾病相关基因的鉴定和药物设计等方面。/pp style="text-align: center "img title="W020170419526524657437.jpg" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201704/insimg/5ce2d220-65c2-4a85-8844-d5d4e94428db.jpg"/  /pp/pp style="text-align: center "上海应物所等在DNA折纸纳米力学成像探针设计方面取得进展/pp/pp/p
  • AI显微镜面世,20分钟内自动检测出疟疾寄生虫
    p  据世界卫生组织统计,每年,有32亿人处于罹患疟疾的风险之中,导致约1.98亿例疟疾病例(不确定范围为1.24亿至2.83亿)以及估计发生58.4万例疟疾死亡病例(不确定范围为36.7万人至75.5万人)。而在欠发达地区的国家,这一疾病的患病率和死亡率出奇的高,每年有近百万人死于疟疾,研究人员估计全世界将近一半的人口有被感染的风险。其中很大一部分原因就是这些地区的专业疾病诊断人员的缺失。/pp style="TEXT-ALIGN: center"img title="8A1A4B8EF670E7B2198B764BCACD3497FCED2DB1_size163_w700_h525.jpg" style="HEIGHT: 338px WIDTH: 450px" border="0" hspace="0" src="http://img1.17img.cn/17img/images/201711/noimg/a1d5ce7e-5e8e-49ea-abd3-69febdce02f0.jpg" width="450" height="338"//pp  不过随着人工智能领域的发展,这一状况有望得到改善。近日,雷锋网了解到,中国公司麦克奥迪宣布与比尔梅琳达盖茨基金会支持的 Global Good 基金合作推出一款用于疟疾检测的显微镜EasyScan Go,这并不是一款普通的显微镜,而是用人工智能技术驱动的显微镜。运用自定义图像识别软件,EasyScan Go 能在 20 分钟内识别和计数血片中的疟疾寄生虫。/pp  “疟疾是在显微镜切片上最难识别的疾病之一”, 戴维 · 比尔 (David Bell), Global Good 全球健康技术总监表示:“通过让实验室技术员操作人工智能显微镜,我们可以克服两个主要障碍用于对抗变异寄生虫——改善了病例管理中的诊断及标准化了跨地域和时间的识别。/pp  这款合作开发的AI显微镜量产后将会大大降低疟疾检测的人工成本,欠发达地区运用人工智能显微镜可以自动化检测过程,有效缓解资源贫乏造成的专业人员短缺的现状。/p
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