介电常数仪

产品介绍：DZ5001介电常数仪器是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001介电常数测试仪的测试对象包括各种金属氧化物、板材、瓷器（陶器）、云母、玻璃和塑料等材料。通过测定这些材料的介质损耗和介电常数，可以进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介电常数测试仪主要应用在主要应用在科研单位、电厂、绝缘材料厂、材料科学、生物医学和环境科学等领域。性能优势：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。测量标准：GB/T 1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

介电常数测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。 工作特性 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023； b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；c．标称误差频率范围 25kHz～10MHz 固有误差≤5％±满度值的2% 工作误差≤7％±满度值的2% 频率范围 10MHz～60MHz 固有误差 ≤6％±满度值的2% 工作误差≤8％±满度值的2%电感测量范围 14.5nH～8.14H直接测量范围 1-460P 主电容调节范围 40～500pF 准确度 150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。 信号源频率覆盖范围频率范围 10kHz～70MHzCH1 10～99.9999kHz CH2 100～999.999kHz CH3 1～9.99999MHz CH4 10～70MHz 频率指示误差3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。 介电常数的定义 介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε'r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε'r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε'r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。 如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε'r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 使用平行板法测量介电常数 当使用阻抗测量仪器测量介电常数时，通常采用平行板法。平行板法在ASTM D150标准中又称为三端子法，其原理是通过在两个电极之间插入一个材料或液体薄片组成一个电容器，然后测量其电容，根据测量结果计算介电常数。在实际测试装置中，两个电极配备在夹持介电材料的测试夹具上。阻抗测量仪器将测量电容(C)和耗散(D)的矢量分量，然后由软件程序计算出介电常数和损耗角正切。 当简单地测量两个电极之间的介电材料时，在电极边缘会产生杂散电容或边缘电容，从而使得测得的介电材料电容值比实际值大。边缘电容会导致电流流经介电材料和边缘电容器，从而产生测量误差。 使用保护电极，可以消除边缘电容所导致的测量误差。保护电极会吸收边缘的电场，所以在电极之间测得的电容只是由流经介电材料的电流形成，这样便可以获得准确的测量结果。当结合使用主电极和保护电极时，主电极称为被保护电极。接触电极法 这种方法通过测量与被测材料（MUT）直接接触的电极的电容来推导出介电常数。 介电常数和损耗角正切通过以下公式 计算: 其中Cp: MUT的等效平行电容 [F] D: 耗散系数 (测量值) tm: MUT 的平均厚度 [m] A: 被保护电极的表面积 [m2] d: 被保护电极的直径 [m] ε0: 自由空间的介电常数 =8.854 x 10-12 [F/m] 接触电极法不需要制备任何材料，而且测量操作非常简单，因此得到zui广泛的使用。不过在用这种方法进行测量时，如果没有考虑到空气间隙及其影响，那么可能会产生严重的测量误差。 当电极直接接触 MUT 时，MUT 与电极之间会形成一个空气间隙。无论 MUT 两面组成得多么平坦和平行，都不可避免会产生空气间隙。这个空气间隙会导致测量结果出现误差，因为测量的电容实际上是介电材料与空气间隙串联结构的电容。 通过用薄膜电极接触介电材料的表面，可以减小空气间隙的影响。虽然需要进行额外的材料制备 (制作薄膜电极)，但可以实现zui准确的测量。 ※非接触电极法 非接触电极法从概念上来说融合了接触电极法的优势，并避免了其缺点。它不需要薄膜电极，但仍可解决空气间隙效应。根据在有 MUT 和没有 MUT 时获得的两个电容测量结果推导出介电常数。 理论上，电极间隙 (tg)应比 MUT的厚度 (tm) 略微小一点。换句话说，空气间隙(tg-tm) 应远远小于 MUT 的厚度(tm)。要想正确执行测量，必须满足这些要求。zui少要进行两次电容测量，以便使用测量结果计算介电常数。 平行板测量法的比较 方法： 接触电极 (不使用薄膜电极) 非接触电极 接触电极 (使用薄膜电极) 精度 低 中 高 适用的MUT 具有平滑表面的固体材料 具有平滑表面的固体材料 薄膜电极必须应用到表面 操作 1次测量 2次测量 1次测量 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 标签：介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 绝缘介电常数测试仪

QS37介电常数测定仪GB/T1693-2007 GB14091.概 述 介电常数测定仪GB/T1693-2007?主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。主要可以测量电容器，互感器，变压器，各种电工油及各种固体绝缘材料在工频高压下的介质损耗( tgd)和电容量( Cx)以，其测量线路采用“正接法"即测量对地绝缘的试品。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适应测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgd）及介电常数（ε）。2.技术指标2.1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pFR4＝3183.2即10K/π时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tg0～1±1.5％tgx±0.0001在Cn＝100pFR4＝318.3即1K/π时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±3pF介质损耗tg0～0.1±1.5％tgx±0.00012.2 电桥测量灵敏度 电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。 在下面的计算公式中，用户可根据实际使用情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。 DC/C或Dtgd=Ig/UwCn(1+Rg/R4+Cn/Cx) 式中：Ｕ为测量电压 伏特（Ｖ）ω为角频率 2pf=314(50Hz) Ｃｎ标准电容器容量皮法（pＦ）Ｉｇ通用指另仪的电流5X10-10安培（Ａ）Ｒｇ平衡指另仪内阻约1500欧姆Ｒ４桥臂R4电阻值3183欧姆Ｃｘ被测试品电容值皮法（ｐF）2.3 电容量及介损显示精度： 电容量±0.5%×tgδx±0.0001介 损±0.5％tgx±1×10-42.4 辅桥的技术特性： 工作电压±12V，50Hz输入阻抗1012输出阻抗0.6放大倍数0.99不失真跟踪电压0～12V（有效值）2.5 指另装置的技术特性： 工作电压±12V 在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格 二次谐波 减不小于25db 三次谐波 减不小于50db相关产品：

中航时代ZJD系类介电常数介质损耗测试仪产品介绍 一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗直读功能有介质损耗系数精度万分之一介质损耗测试范围0.0001-1介电常数直读功能无有介电常数精度千分之一介电常数测试范围0-1000LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置/数量1主机/一台 2S916夹具/一套3电感组/九只4电源线/一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）

LJD-C型介电常数测试仪一、概述： LJD-C型介电常数测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.LJD-C介电常数仪采用了多项技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至*低，消除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：1信号源DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ或200khz-100MHZ2信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3Q值测量范围1～10234Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档5电感测量范围1nH～140mH自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能6电容直接测量范围1pF～25nF 7主电容调节范围17～240pF 8准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%9信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10合格指示预置功能范围5～100011环境温度0℃～+40℃12消耗功率约25W13电源220V±22V，50Hz±2.5HzS916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置： 1 主机 一台 2电感九支3夹具一套4液体杯一套5随机文件一套 一、简介： QS37a型薄膜材料介电常数介质损耗测试仪主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。二、符合标准： GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.三、仪器特点： 1、桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线极少。2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性。3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。4、仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。四、技术指标： 1、测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF、R4=3183.2（Ω）时： 测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF、R4=318.3（Ω）时： 测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 RY2A型固体绝缘材料测试电极一、简介：本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构，能有效的消除表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场。二、主要技术指标：环境温度：20±5℃相对湿度：65±5%高低压电极之间距离：0~5mm可调百分表示值误差：0.01mm测量极直径：50mm（表面积19.6cm2）空极tgδ：≤3×10-5测试电压：2000V体积：Ф210mm H180mm重量：6kgRY2型固体绝缘材料测试电极一、概述RY2型固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器，可以在加压、加温及抽真空条件下，配以高压电容电桥在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（ε）的测量。配上高阻计还可测试体积电阻率（Pv）.二、主要性能参数高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积：￠50 mm(19.6 cm2)电极材料 ：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于6mm电极加热功率：约2*500瓦电极高温度：200°C(配上FY120B型温控仪，精度0.1°)加热时间： 30分钟电极压力：0~~1.0Mpa连续可调*大测量电压：2000V，50Hz真空度：电极可抽真空至3*10-2 Mpa尺寸重量： 长*宽*高400 mm*300 mm*400 mm，重量：15Kg

产品介绍：DZ5001介电常数测定仪是用于测量各种金属氧化物、板材、瓷器(陶器)、云母、玻璃、塑料等物质介质损耗和介电常数的一种仪器。应用范围：DZ5001介电常数测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。性能优势：一、自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm二、具备的技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。三、参照国标GB/T 1693-2007技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有仪器展示：

介电常数/介质损耗测试系统系统组成：1. 主机：LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表功能名称：LJD-BLJD-ALJD-C信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz 100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一醉小介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mmUSB接口不支持不支持支持 2. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）3. LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率LJD-B-ALJD-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz1014NH±5%808pF100MHZ注意: 可定制100MHz电感.LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值 三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 四 介电常数和介质损耗界面显示 LJD-C介电常数显示 LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示

介电常数/介质损耗测试系统系统组成：1. 主机：LJD-C/LJD-B/LJD-A 高频Q表功能名称：LJD-BLJD-ALJD-C信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-70MHz10KHZ-110MHz 100KHZ-160MHz信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1信号源频率精度 6位有效数3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 3×10-5 ±1个字 采样精度11BIT11BIT12BIT高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.14位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%5%5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH1nH-8.4H , 分辨率0.1nH1nH-8.4H 分辨率0.1nH1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%3%3%调谐电容主电容30-540pF主电容30-540pF主电容17-240pF电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～2.5uF1pF～25nF调谐电容误差分辨率±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF±1 pF或1%0.1pF谐振点搜索自动扫描自动扫描自动扫描Q合格预置范围 5-1000声光提示5-1000声光提示5-1000声光提示Q量程切换自动/手动自动/手动自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等F，L，C，Q，Lt，Ct波段等自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能()有有有大电容值直接测量显示功能()测量值可达2.5uF测量值可达2.5uF测量值可达25nF介质损耗系数精度 万分之三精度 万分之三精度 万分之一最小介损系数万分之一万分之一万分之一介电常数精度 千分之一精度 千分之一精度 千分之一材料测试厚度0.1mm-10mm0.1mm-10mm0.1mm-10mmUSB接口不支持不支持支持 2. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：固体：材料测量直径 Φ50mm/Φ38mm/Φ6mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm （二选一） 液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm（选配）3. LKI-1电感组电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率LJD-B-ALJD-C10.1μH±0.05μH2005pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%2006pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz1014NH±5%808pF100MHZ注意: 可定制100MHz电感. LJD-A主机和LJD-B/LJD-C区别在于可以测试精度0.0001的材料介损值 三 LJD高频介电常数及介质蒜损耗测试系统主要测试材料:1 绝缘导热硅胶,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光学胶,环氧树脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龙/涤纶,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等 四 介电常数和介质损耗界面显示 LJD-C介电常数显示 LJD-A/LJD-B/LJD-C介质损耗系数显示

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。　　　　本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1 本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2 这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3　　本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。1　本规范归属于电学和电子绝缘材料ASTM D09委员会管辖，并由电学试验D09.12附属委员分会直接管理。当前版本核准于2011年8月1日。2011年8月发行。原版本在1922年批准。前一较新版本于2004年批准，即为　D150-98R04。DOI：10.1520/D0150-11。2　R. Bartnikas, 第2章, “交流电损耗和电容率测量,” 工程电介质, Vol. IIB, 实心绝缘材料的电学性能, 测量技术, 3　R. Bartnikas, 第1章, “固体电介质损耗,” 工程电介质,Vol IIA, 实心绝缘材料的电学性能: 分子结构和电学行为, 2.介电常数测试仪引用文件2.1 ASTM标准：4D374 　　　　固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 　　　　试验用塑料调节规程D1082 　　　云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 　　　用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 　　　电绝缘相关术语D5032 　　　用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 　　　　用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 　　　　室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）53.介电常数测试仪术语3.1 定义：3.1.1 这些试验方法所用术语定义以及电绝缘材料相关术语定义见术语标准D1711。3.2 本标准专用术语定义：3.2.1 电容，C，名词——当导体之间存在电势差时，导体和电介质系统允许储存电分离电荷的性能。3.2.1.1 讨论——电容是指电流电量 q与电位差V之间的比值。电容值总是正值。当电量采用库伦为单位，电位采用伏特为单位时，电容单位为法拉，即：C=q/V 　　　　　　　　　　（1）3.2.2 耗散因子（D），（损耗角正切），（tanδ），名词——是指损耗指数（K''）与相对电容率（K'）之间的比值，它还等于其损耗角（δ）的正切值或者其相位角（θ）的余切值（见图1和图2）。D=K''/K' 　　　　(2)4　相关ASTM标准，可浏览ASTM网站，www.astm.org或与ASTM客服service@astm.org联系。ASTM标准手册卷次信息，可参见ASTM网站标准文件汇总。5　该历史标准的较后批准版本参考网站www.astm.org。3.2.2.1 讨论——a：D=tanδ=cotθ=Xp/Rp=G/ωCp=1/ωCpRp　　　　　　　　(3)式中：G=等效交流电导，Xp=并联电抗，Rp=等效交流并联电阻，Cp=并联电容，ω=2πf（假设为正弦波形状）耗散因子的倒数为品质因子Q，有时成为储能因子。对于串联和并联模型，电容器耗散因子D都是相同的，按如下表示为：D=ωRsCs=1/ωRpCp　　　　　　　　(4)串联和并联部分之间的关系满足以下要求：Cp=Cs/(1 D2) 　　　　　　　　　　　　(5)Rp/Rs=(1 D2)/D2=1 (1/D2)=1 Q2　　　　　　　　　　　　　(6)　图1 并联电路的矢量图　图2 串联电路的矢量图3.2.2.2 讨论——b:串联模型——对于某种具有电介质损耗（图3）的绝缘材料，其并联模型通常是适当的模型，其总是能和偶尔要求模拟在单频率下电容Cs与电阻Rs串联（图4和图2）的某个电容器。　图3 并联电路　图4 串联电路3.2.3 损耗角（缺相角），（δ），名词——该角度的正切值为耗散因子或反正切值K''/K'或者其余切值为相位角。3.2.3.1 讨论——相位角和损耗角的关系见图1和图2所示。损耗角有时成为缺相角。3.2.4 损耗指数，K''（ε''），名词——相对复数电容率虚数部分的大小；其等于相对电容率和耗散因子的乘积。3.2.4.1 讨论——a——它可以表示为：K''=K' D=功率损耗/（E2×f×体积×常数） 　　　(7)　　　　　当功率损耗采用瓦特为单位，施加电压采用伏特/厘米为单位，频率采用赫兹为单位，体积（是指施加了电压的体积）采用立方厘米为单位，此时的常数值为5.556×10-13。3.2.4.2 讨论——b——损耗指数是国际上协定使用的术语。在美国，K''以前成为损耗因子。3.2.5 相位角，θ，名词——该角度的余切值为耗散因子，反余切值K''/K'，同时也是施加到某一电介质的正弦交流电压与其形成的具有相同频率的电流分量之间的相位角度差值。3.2.5.1 讨论——相位角和损耗角之间的关系见图1和图2所示。损耗角有时也称为缺相角。3.2.6 功率因子，PF，名词——某一材料消耗的功率W（单位为瓦特）与有效正弦电压V和电流I之间乘积（单位为伏特-安）的比值。3.2.6.1 讨论——功率因子可以采用相位角θ的余弦值（或损耗角的正弦值δ）来表示：　　　　　　（8）　　　　当耗散因子小于0.1时，功率因子与耗散因子之间的差值小于0.5%。可从下式找到它们的准确关系：　　　　　　（9）3.2.7 相对电容率（相对介电常数）（SIC）K'（εr），名词——相对复数电容率的实数部分。它也是采用某一材料作为电介质的某一给定形状电极等效并联电容Cp与采用真空（或空气，适用于多数实际用途）作为电介质的相同形状电极电容Cv之间的比值。K'=Cp/Cv　　　　　　　　　　　（10）3.2.7.1讨论——a——在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。3.2.7.2 讨论——b——从经验来看，真空在各处必须采用材料来替代，因为其能显著改变电容。电介质等效电路假设包含一个电容Cp，该电容与电导并联。3.2.7.3 讨论——c——Cx视为图3所示的等效并联电容Cp。3.2.7.4 讨论——d——当耗散因子为0.1时，串联电容大于并联电容，但是两者差值小于1%，而当耗散因子为0.03时，两者差值小于0.1%。如果测量电路获得串联部分的结果，在计算修正值和电容率之前，并联电容必须由公式5计算得出。3.2.7.5 讨论——e——干燥空气在23℃和101.3kPa标准压力下的电容率为1.000536（1）。6其从整体的背离值K'-1与温度成反比，同时直接与大气压力成正比。当空间在23℃下达到水蒸气饱和时，电容率增加至为0.00025（2,3），同时随着温度（单位为℃）从10到27℃近似发生线性变化。对于局部饱和，增加值与相对湿度成正比。4.介电常数测试仪试验方法摘要4.1 电容和交流电阻测量在一个样本上进行。相对电容率等于样本电容除以（具有相同电极形状）真空电容计算值，同时很大程度上取决于误差源分辨率。耗散因子通常与样本几何形状无关，同时也可以依据测量值计算得出。4.2 本方法提供了（1）电极，装置和测量方法选择指南；和（2）如何避免或修正电容误差的指导。4.2.1 一般的测量考虑：边缘现象和杂散电容 　　　受保护电极样本几何形状 　　　　　　　　　真空电容计算边缘，接地和间隙修正4.2.2 电极系统—接触式电极中航鼎力仪器电极材料 　　　　　　　　　　　　　金属箔片导电涂料 　　　　　　　　　　　　　烧银喷镀金属 　　　　　　　　　　　　　蒸发金属液态金属 　　　　　　　　　　　　　刚性金属水4.2.3 电极系统—非接触式电极固定电极 　　　　　　　　　　　　　测微计电极液体置换法6 括号里的粗体字参阅这些试验方法附属的参考文献清单。4.2.4 电容和交流损耗测量装置和方法选择频率 　　　　　　　　　　　　　　　　　直接和替代方法两终端测量 　　　　　　　　　　　三终端测量液体置换法 　　　　　　　　　　　精度考虑5.介电常数测试仪意义和用途中航鼎力仪器5.1 电容率——绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在靠前种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至较小。影响电容率的因子讨论见附录X3。5.2 交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至较小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。影响交流损耗的因子讨论见附录X3。5.4 相关性——当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。6.介电常数测试仪一般测量考虑6.1 边缘现象和杂散电容——这些试验方法是以电极之间的样本电容测量，以及相同电极系统的真空电容（或空气电容，适用于多数实际用途）测量或计算为基础。对于无保护的两电极测量，要求采用两个测定值来计算电容率，而当存在不期望的边缘现象和杂散电容时（它们将包含在测量读数中），变得相当复杂。对于测量用所放置样本之间的两个无保护平行板电极场合，边缘现象和杂散电容见图5和图6所述。除了要求的直接电极之间电容Cv之外，在终端a-a'看到的系统包括以下内容：

产品介绍：DZ5001介电常数测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。应用范围：DZ5001介电常数测试仪是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。测试范围：DZ5001介电常数测试仪器主要是用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。性能优势：1、电容值直接测量显示功能：测量值可达25nF2、介质损耗系数：精度万分之一/LCD直接显示3、介电常数：精度千分之一/LCD直接显示4、材料测试厚度：0.1mm-10mm参照国标GB/T 1693-2007技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

一、概述： ZJD-87介电常数测量仪-介电常数介损测试系统是我公司新研制的全自动高压介质损耗的测试系统，主要可以测量各类固体绝缘材料，如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数与介质损耗角正切的测试。该电桥主要由主桥体和测试电极、微机控制部分组成，测试结果直接在电桥自带的显示器上直接显示，并可通过专用无线通讯设备，将测试数据传输给 PC 机。ZJD-87介电常数测量仪-介电常数介损测试系统所配置的固体测试电极采用的是三电极式结构，能有效地消除表面漏电流的响，使测量电极下的电场趋于均匀电场。本电极的设计主要是参照国标 GB1409。 二、主要技术指标： A．测试部分： 1.使用环境: 0℃～＋45℃，户内；2.工作电压:220V (单相)；3.额定频率:50Hz；4.额定输出电压：2.5kV（主电源输入电压）；5.额定输出电流：≈10mA(主电源输入电流）；6.波形畸变率：＜3%；7.电容量测量范围：1pF～2000pF；8.电容量测量准确度：±0.5%Cx±1pF；9.介质损耗角测量范围：0～1.000（即：0.000%～100%）；10.介质损耗角测量准确度：±1% tgδx(读数)±0.0001；11.测量模式:自动测量；12.电极间距调节模式:电动；13.极间间距调节步进：0.01mm；14.电极试验槽可抽真空处理；15.外形尺寸:宽 350mm,深:400mm,高 500mm(含电极)；B．电极部分： 1.测量电极结构:三电极；2.测量极直径：φ70±0.1mm；3.空极 tgd：≤ 5*10-5；4.空极电容量；40±1pF；5.最高测试电压；2500V；6.实验频率：50／60Hz； 三、特点： ☆ 整个试验过程全部由微机控制，平衡速度快，准确度高。☆ 独有极间距离的自动测量及校准功能。☆ 具有多种测试模式：1．接触式测量模式（主要应用在测量厚片）；2．非接触式测量模式（主要应用在薄膜测量）；☆ 测量电极采用局部密封设计，并可对该空间进行真空处理，从而减小由于环境因素引起的数据离散性。☆ 采用大屏幕液晶显示，中文菜单，操作简单。☆ 所有测试数据直接显示，无需二次计算。如测量模式、试验电压/频率、电容量、介质损耗、介电常数，材料厚度。☆ 所有测量引线都在内部连接，外部接线极其简单。并预留外部检测接口。☆ 本仪器采用无线通讯模式，可以将数据上传到 PC 机，也可以通过 PC 机对其进行控制及测量。

介电常数介质损耗测量仪产品参数：信号源： DDS数字合成信号频率范围： 100KHZ-1600MHZQ分辨率： 4位有效数，分辨率0.1电感测量范围： 1nH～140mH,；分辨率0.1信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围： 1～1023自动/手动量程换档信号源频率覆盖比： 16000:1采样精度： 11BITQ测量工作误差： ＜5%电感测量误差： ＜3%电容直接测量范围： 1pF～2.5uF调谐电容误差分辨率： ±1pF或＜1%主电容调节范围： 17～540pF谐振点搜索： 自动扫描自身残余电感扣除功能： 有大电容值直接显示功能： 有介质损耗系数精度： 万分之一介质损耗测试范围： 0.0001-1 介电常数测试范围： 0-1000环境温度： 0℃～+40℃消耗功率： 约25WLCD显示参数： F,L,C,Q,LT,CT,波段等Q合格预置范围： 5～1000声光提示电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz材料测试厚度： 0.1-10mm夹具插头间距： 25mm±0.01mm夹具损耗正切值： ≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率： 0.001mm准确度： 150pF以下±1pF；150pF以上±1%测试极片： 材料测量直径Φ38mm或50mm（二选一），厚度可调 ≥ 15mm介电常数介质损耗测量仪价格

产品介绍：DZ5001介电常数分析仪是一款用来测量介电常数的仪器，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等性能优势。产品的用途：DZ5001介电常数分析住测量各种金属氧化物的介质损耗和介电常数，比如：板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。产品的应用：DZ5001介电常数测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。产品的性能优势：自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm独有技术：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。参照国标GB/T 1693-2007产品的技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪：GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1～460pF主电容调节范围30～500pF，精准度150pF以上±1％ 150pF以下±1.5pF； 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A： 频率范围10kHz～50MHz频率分段(虚拟)10～99.9999kHz100～999.999kHz1～9.99999MHz10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。Q表正常工作条件环境温度：0℃～+40℃； 相对湿度80％电源220V±22V，50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W；净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm：380×132×280 8．产品配置：a. 测试主机一台；b. 电感9只；c. 夹具一套 电感：线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz，50MHz233，2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料： 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问！！ 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司

产品名称及型号：ZJD系类介电常数测试仪一、符合标准：ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；二、主机及夹具参数：项目/型号ZJD-BZJD-AZJD-C信号源DDS数字合成信号频率范围10KHZ-70MHZ10KHZ-110MHZ100KHZ-160MHZ信号源频率覆盖比7000:111000:116000:1采样精度11BIT12BIT信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数Q值测量范围1～1000自动/手动量程Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差＜5%电感测量范围1nH～8.4H,；分辨率0.11nH～140mH；分辨率0.1电感测量误差＜3%电容直接测量范围1pF～2.5uF1pF～25uF调谐电容误差分辨率±1pF或＜1%主电容调节范围30～540pF17～240pF谐振点搜索自动扫描自身残余电感扣除功能有大电容值直接显示功能有介质损耗系数精度万分之一介电常数精度千分之一LCD显示参数F,L,C,Q,LT,CT,波段等准确度150pF以下±1pF；150pF以上±1%Q合格预置范围5～1000声光提示环境温度0℃～+40℃消耗功率约25W电源220V±22V，50Hz±2.5Hz极片尺寸38mm/50mm(二选一)极片间距可调范围≥15mm材料测试厚度0.1-10mm夹具插头间距25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率0.001mm测试极片材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm三、配置：序号标准配置单位/数量1主机一台2S916夹具一套3电感组九只4电源线一根选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm）我司经营产品包括：ZJC系类电压击穿试验仪ATI系类体积表面电阻率测试仪ZJD系类介电常数测试仪LDQ-2漏电起痕试验仪JF系类氧指数测定仪CZF系类水平垂直燃烧测定仪WDW系类电子万能试验机XRW系列热变形维卡温度测定仪XNR系类熔体流动速率测定仪ZJJ系类冲击试验机MDJ系类固体/液体等材料的密度测试仪WZY系类万能材料制样机我司产品在全国各省市、地区均有用户、其中包括：质检单位、科研院所、大中院校、国家电网、电科院、材料学院、安监局、应急管理厅、航空航天、纳米研究、能源、电子半导体、涂料、造纸、石油化工、汽车研究、大型工厂、生产企业实验室等。产品范围包括：电学、力学、燃烧、制样、建材、橡胶塑料薄膜等。介电常数测试仪产品及配套展示：

介电常数测量仪的简单介绍LJD-C型介电常数测量仪作为zui新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项先进技术。 ：LJD-C型介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪作为zui新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内zui高的160MHz.LJD-C介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪采用了多项先进技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪计算机自动修正技术和测试回路zu优化 —使测试回路 残余电感减至zui低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。技术参数：1)介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪主机LJD-C信号源: DDS数字合成信号，频率范围 100KHZ-160MHZ；信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数；Q值测量范围：1～1000；Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；电容直接测量范围：1pF～25nF；主电容调节范围： 17～240pF；准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%；信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz；合格指示预置功能范围：5～1000；环境温度：0℃～+40℃；消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz；提供厂家授权书原件及产品彩页。2)介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪测试夹具：S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆；平板电容器；极片尺寸： 38mm/50mm(二选一)；极片间距可调范围：≥15mm；夹具插头间距：25mm±0.01mm；夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）；测微杆分辨率：0.001mm；测试极片：材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm；液体杯（选配：测试液体时候需要）：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm；3)介电常数测量仪/介质损耗及介电常数测量仪/高频介电常数测量仪/工频介电常数测量仪/绝缘材料介电常数测量仪/固体介电常数测量仪电感组LKI-1：（选配0.05μH电感,用于测试100MHz）分别由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。

绝缘材料介电常数测试仪测量方法相对介电常数εr可以用静电场按以下方法测量:首先，在两极板间有真空的情况下，测试电容器的电容C0。然后，通过使用电容器极板之间的相同距离，但是在极板之间添加电介质，来测量电容Cx。那么相对介电常数可以通过下面的公式计算εr=Cx/C0在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对介电常数ε r为1.00053。因此，当在空气中使用这种电极配置的电容Ca代替C0来测量相对介电常数εr时，有足够的精度。(参考GB/T 1409-2006)对于时变电磁场，物质的介电常数与频率有关，通常称为介电系数。介电常数的定义“介电常数”(绝对介电常数ε)的定义:当电容器极板填充有电介质时，电容增加的倍数称为电介质的介电常数，用ε表示。并明确其单位为F. M-1(定义)。介电常数的单位是什么？介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。 绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪信号源DDS信号频率范围10KHz-70MHz10KHz-100MHz100KHz-160MHzQ值测量范围2～1023Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档电感测量范围4.5nH-10mH 160M：1nH-140mH电容直接测量范围1～460pF 160M:1pF-25uF主电容调节范围30～540pF 160M:17-240pF电容准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 型号频率指示误差1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围5～1000

介电常数介质损耗测试仪 产品型号：LJD-B介电常数及介质损耗主机采用了较低的台式机箱，面板采用PC丝印面板，美观大方。 各主要功能单元，除了显示部分为了显示方便和调谐测试回路，放大单元为了减小分布参数，安装在面板上外，其余都安装在机内底板上，详细请见以下图1/2两款主机：介电常数及介质损耗主机前面板各功能键说明主机1：（LJD-B）主机2：（LJD-C）介电常数及介质损耗主机前面板和外形示意图(1.2)1．工作频段选择/数字1按键，每按一次，切换至低一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。2. 主机1：工作频段选择/1按键，每按一次，切换至高一个频段工作；先按12键后,再按此键，功能为数字键1。主机2：介电常数直读功能/2按键，按一次显示为D2，再按一次切换至D4，蕞后按一次显示介电常数值；先按12键后,再按此键，功能为数字键2。3．Q值量程递减（手动方式时有效）/数字3按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键3。4．Q值量程递增（手动方式时有效）/数字4按键；先按12键后，再按此键，功能为数字键4。5．谐振点频率搜索/数字5按键，按此键显示屏第四行左部出现SWEEP时，表示仪器正工作在频率自动搜索被测量器件的谐振点，如需退出搜索，再按此键；先按12键后,再按此键，功能为数字键5。6．数字6按键，直接按是电容自动搜索，先按12键后,再按此键，功能为数字键6。7．Q值合格范围比较值设定/数字7按键，按此键后，显示屏第三行右部出现COMP字符，当Q合格时，显示OK，並同时鸣响蜂鸣器，Q不合格时，显示NO。设置Q值合格范围详细说明见后页。先按12键后,再按此键，功能为数字键7。8．Q值量程自动/手动控制方式选择/数字8按键，按此键后，显示屏第四行左部出现对应的指示：AUTO（自动），MAN（手动）；先按12键后,再按此键，功能为数字键8。9．Ct大电容直接测量/数字9（先按12键后有效）按键。10．Lt残余电感扣除/数字0(先按12键后有效) 按键。11．介质损耗系数测量/小数点(先按12键后有效) 按键。12．频率/电容设置按键：主机1：第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。(没有电容设置功能)主机2：第一次按下（频率指示数在闪烁）为频率数输入，单位为MHz。例：要输入79.5MHz，按一次此键，频率指示数在闪烁，然后输入79.5，再按一下此键完成设置。第二次按下（电容指示数在闪烁）为电容数输入，数输入要满4位。例：要输入79.5P，按二次此键，电容指示数在闪烁，然后输入0795，有效数后为0的，可以不输入0，直接再按一下此键完成设置。13．频率调谐数码开关。14．主调电容调谐（长寿命调谐慢转结构）；15．电源开关。16．液晶显示屏。17．测试回路接线柱：主机1：左边两个为电感接入端，右边两个为外接电容接入端；主机2：上边两个为电感接入端，下边两个为外接电容接入端；18．电感测试范围所对应频率范围表。B．后面板各功能键说明介电常数及介质损耗主机后面板示意图1．～220V电源输入三芯插座，内含保险丝0.5A／220V；2．信号源工作频率监测输出端（阻抗1kΩ）。主机，电感，平板电容器链接方式LJD-B 主机1：LJD-C 主机2LJD系列介电常数及介质损耗测试系统使用方法一 手动介电常数测试方法与步骤测试前主机建议预热30分钟把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上，锁止开关向上旋转。（使用完，请按OFF关闭微分尺，并且锁止开关向下旋转至水平位置）3、在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。4、被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm)，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平整。（小于0.5mm的样品测试，请参考附录三，叠加测试法）5、调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。6、再松开两片极片，把被测样品夹入平板电容上下极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，直到平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量（旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量），使主机处于谐振点（Q值蕞大值）上。7、取出S916测试夹具中的样品，这时主机又失去谐振（Q值变小），此时调节S916测试夹具的测微杆，使主机再回到谐振点（Q值蕞大值）上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4.8、计算被测样品的介电常数: Σ＝D2 / D4二 自动介电常数测试方法与步骤(需选配自动测试软件模块)自动介电常数测试时，基本步骤同手动一样，只是主机支持通过数据模块记录S916测试夹具的数据，并自动计算出介电常数。使用数据转换连接线,连接S916数据传输接口和介电常数测试主机背板上的四芯插座.（见下图）按主机键盘区“2”按键第一次，出现下图界面.当S916测试夹具夹紧待测材料，调节主机的主调电容使主机谐振，此时第二次按主机键盘区“2”按键。此时主机将保留蕞终的D2数据，并显示下图界面拿出被测材料，再次调节S916测试夹具的上下极片，直到主机再次谐振，蕞后再一次按下主机键盘区“2”按键，主机保存D4数据，并计算出介电常数的数值。显示下图界面，此时主机已经把计算出的介电常数e显示在显示屏上。按主机键盘区“LT”按键两次退出测试，结束测试。三 介质损耗测试方法与步骤主机C0值的计算方式: 其中C0值设置为20P。选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端；将调谐电容器调到200P左右，令这个电容是C4，按下仪器面板的频率搜索键，使测试回路谐振，谐振时Q的读数为Q4(注：若频率搜索未能找到蕞高Q值谐振点，可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值蕞大值的谐振点；将测试夹具接在“Cx”两端，放入材料，上下极片夹紧材料后记住夹具显示值，然后拿出材料，调回到夹具的显示数值，调节主调电容，使测试电路重新谐振，此时可变电容器值为C3，Q值读数为Q3。(注：C3数值肯定比C4要小)机构电容的有效电容为：Cz= C4－C3分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL（参考电感的技术说明）的和介质损耗系数/介质损耗正切值为把S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求），如：1MHz 时电感取100uH，15MHz时电感取1.5uH。被测样品要求为圆形，直径50.4--52mm/38.4--40mm，这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间，样品太薄或太厚就会使测试精度下降，样品要尽可能平直。调节S916测试夹具的测微杆，使S916测试夹具的平板电容极片相接为止，按ZERO 清零按键，初始值设置为0。再松开两片极片，把被测样品夹入两片极片之间，调节S916测试夹具的测微杆，到的平板电容极片夹住样品止（注意调节时要用S916测试夹具的，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2，改变主机上的主调电容容量，使主机处于谐振点（Q值蕞大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为蕞大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定），然后按一次 主机上的小数点（tgδ）键(请用绝缘材料来按，不要用手来按），在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入，记住厚度D2的值，此时显示数值为C2和Q2。取出S916测试夹具中的样品，（保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变）这时主机又失去谐振（Q值变小），再改变主机上的主调电容容量，使主机重新处于谐振点（Q值蕞大值，为了得到准确的Q值请耐心来回调节主调电容，当Q为蕞大值时候可以稍等1分钟，等Q值稳定））上。注意：多次测试同一个材料时，要求保持每次材料厚度的读数一致。第二次按下 主机上的小数点（tgδ）键，显示屏上原C2和Q2显示变化为C1和Q1，同时显示介质损耗系数tn =．x x x x x ，即完成测试。出错提示，当出现tn = NO 显示时，说明测试时出现了差错，发生了Q1 ≤ Q2和C1 ≤ C2的错误情况。附录 一显示数据介绍：C1材料拿出后，谐振时测得的电容值C2材料在夹具中，谐振时测得的电容值Q1材料拿出后，谐振时测得的Q值Q2材料在夹具中，谐振时测得的Q值CZ主机+测试夹具测得的结构电容值CL标准电感的分布电容值C0结构电容值+电感的分布电容值D2材料的厚度tn介质损耗系数/介质损耗正切值附录 二LKI-1电感组LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个，凡仪器在进行测试线圈的分布电容量，电容器的电容量，高频介质损耗，高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时，必须用电感组作辅助工具。本电感组有较高Q值，能使仪器测量时得到尖锐谐振点，因而增加其测量的准确度，各电感的有关数据如下表：电感No电感量准确度%Q值≥分布电容约略值谐振频率范围 MHz适合介电常数测试频率LJD-BLJD-C10.1μH±0.05μH1805pF20~7031~10350MHz20.5μH±0.05μH2005pF10~3714.8~46.615MHz32.5μH±5%2005pF4.6~17.46.8~21.410MHz410μH±5%2006pF2.3~8.63.4~10.555MHz550μH±5%1806pF1~3.751.5~4.551.5MHz6100μH±5%2006pF0.75~2.641.06~3.201MHz71mH±5%1508pF0.23~0.840.34~1.020.5MHz85mH±5%1308pF0.1~0.330.148~0.390.25MHz910mH±5%908pF0.072~0.260.107~0.320.1MHz1015nH±10%400≥100100MHz附录 三粘性材料以及超薄材料的测试方法一 如何测试带粘性超薄绝缘材料的介电常数1 用锡箔纸覆胶在材料的两面，上下层锡箔纸不能接触。锡箔纸厚度为DX 2 超薄材料需要叠加：叠加方式如下 250μ贴合6层后测试；200μ贴合8层后测试；175μ贴合9层后测试；125μ贴合12层后测试；100μ贴合15层后测试；75μ贴合20层后测试；50μ贴合30层后测试。3 计算公式 Σ＝(D2-2*DX)/D44 介质损耗系数测试同理二 单层薄膜材料测量，蕞薄50um（此方法误差较大，只能测试一个参考数据）1 主机频率调整到1MHz，在电感接线柱上插上6号电感，在电容接线柱上插上S916测试夹具。2 把S916测试夹具上下极片调整到0.05mm，调节主调电容，直到Q值蕞大。记录下此时的主调电容值 C1。3 把薄膜放入S916测试夹具中，再次调节主调电容，直到Q值蕞大。记录下此时主调电容值C2。使用C1-C2得到薄膜材料的电容值C3.4 1）38mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF）2）6mm极片下：Σ≈ta×C3×10-1×57.52÷2 （ta是样品厚度，单位为毫米，C3单位PF）5 此测试方法误差较大，叠厚测试比较推荐附录 四 液体材料测试1 液体材料的测试和固体方法一样。2 把S916测试夹具的下极片更换成液体杯。倒入需要测试的液体，液体应该少于液体杯1/2左右。然后按照固体材料的测试方法测试即可。

产品介绍：DZ5001介电常数测试仪是南京大展检测仪器，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试范围：DZ5001介电常数检测仪是介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。应用范围：DZ5001介电常数测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有性能优势：自动扣除功能大电容值直接测量显示功能： 测量值可达25nF介质损耗系数： 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数： 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度： 0.1mm-10mm参照国标GB/T 1693-2007

介电常数测试仪器LJD-BLJD-B介电常数测试仪器是我公司zui新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测定仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心，真正实现了介质损耗及介电常数测定仪的数字化，电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时，再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下，只要能找到谐振点，都能直接读出电感、电容值，大大扩展了电感的测量范围，而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测定仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源，具有信号失真小，频率jing确、信号幅度稳定的优点，更保证了测量精度的jing确性。介电常数测定仪还采用了标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程手动或自动转换，自动稳幅等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，使得新表在使用时更为方便，测量值更为jing确。 介电常数测定仪能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。二、工作特性1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差频率范围20kHz～10MHz；固有误差≤5％±满度值的2％；工作误差≤7％±满度值的2％；频率范围10MHz～60MHz；固有误差≤6％±满度值的2％；工作误差≤8％±满度值的2％。2．电感测量范围：14.5nH~8.14H3．电容测量： 1~ 460直接测量范围 1～460pF主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则4．信号源频率覆盖范围频率范围10kHz～50MHz频率分段（虚拟）10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5．Q合格指示预置功能预置范围：5～1000。6．介质损耗及介电常数测定仪正常工作条件a. 环境温度： 0℃～+40℃；b．相对湿度： 80％；c．电源： 220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率： 约25W；b．净重： 约7kg；c. 外型尺寸： （l×b×h）mm：380×132×280。

ZJD-87工频介电常数试验仪一、符合标准：GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长存内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 GB/T 5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量 二、产品概述：ZJD-87型工频介电常数试验仪是一款专为实验室研制的高精度高压电桥，突破了传统的电桥测量方式，采用变频电源技术，利用单片机和现代化电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算；达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、全自动数字化、操作简便；工频介电常数试验仪广泛适用于电力行业中变压器、互感器、套管、电容器、避雷器等设备及相关绝缘材料的介损和介电常数的测量。三、技术指标：准确度：Cx:±（读数×0.5%+0.5pF）；tgδ:±（读数×0.5%+0.00005）；ε：0.5%；抗干扰指标：变频抗干扰（40-70Hz），最大输入电流5A； 内置最高10KV测试电压输出，可调分辨率1V；电容量范围：内施高压：3pF～60000pF/10kV；60pF～1μF/0.5kV；外施高压：3pF～1.5μF/10kV；60pF～30μF/0.5kV；外接量程扩展器时可以测试几千安培下高压电器的介损值；分辨率：最高0.001pF，4位有效数字；计算机接口：标准RS232接口；外形尺寸：8U标准机箱；仪器重量：25kg；离子位移极化—— Ionic Polarization电介质中的正负离子在电场作用下发生可逆的弹性位移。 正离子沿电场方向 移动，负离子沿反电场方向移动。由此形成的极化称为 离子位移极化。离子在电场作用下偏移平衡位置的移动相当于形成一个感生偶极矩。离子位移极化所需时间大约为10-12～10-13秒 。不以热的形式耗散能量，不导致介电损耗。介质损耗&bull 损耗的形式&bull 介质损耗的表示方法&bull 介质损耗和频率、温度的关系&bull 无机介质的损耗介质损耗定义：电介质在单位时间内消耗的能量称为电介质损耗功率，简称电介质损耗。或：电场作用下的能量损耗，由电能转变为其它形式的能，如热能、光能等，统称为介质损耗。它是导致电介质发生热击穿的根源。损耗的形式：电导损耗：在电场作用下，介质中会有泄漏电流流过，引起电导损耗。 实质是相当于交流、直流电流流过电阻做功，故在这两种 条件下都有电导损耗。绝缘好时，液、固电介质在工作电 压下的电导损耗是很小的， 极化损耗：只有缓慢极化过程才会引起能量损耗，如偶极子 的极化损耗。 游离损耗：气体间隙中的电晕损耗和液、固绝缘体中局部放 电引起的功率损耗称为游离损耗。介质损耗的表示：当容量为C0=?0S/d的平板电容器上 加一交变电压U=U0eiwt。则：1、电容器极板间为真空介质时， 电容上的电流为：2、电容器极板间为非极性绝缘材料时，电容上的电流为：3、电容器极板间为弱导电性或极性，电容上的电流为：G是由自由电荷产生的纯电导，G=?S/d， C=?S/d如果电荷的运动是自由的， 则G实际上与外电压额率无关；如果这些电荷是被 符号相反的电荷所束缚， 如振动偶极子的情况，G 为频率的函数。介质弛豫和德拜方程：1）介质弛豫：在外电场施加或移去后，系统逐渐达到平衡状 态的过程叫介质弛豫。 介质在交变电场中通常发生弛豫现象，极化的弛豫。在介质上加一电场，由于极化过程不是瞬时的，极化包括两项：P(t) = P0 + P1(t)P0代表瞬时建立的极化(位移极化)， P1代表松弛极化P1(t)渐渐达到一稳定值。这一滞后 通常是由偶极子极化和空间电荷极 化所致。 当时间足够长时， P1(t)→ P 1 ∞ ， 而总极化P(t) → P∞ 。2）德拜(Debye)方程：频率对在电介质中不同的驰豫现象有关键性的影响。 设低频或静态时的相对介电常数为ε(0)，称为静态相对介电常数；当频率ω→∞时，相对介电常数εr’ →ε∞（ ε∞代表光频 相对介电常数）。则复介电常数为：影响介质损耗的因素：1、频率的影响ω→0时，此时不存在极化损 耗,主要由电导损耗引起。 tgδ=δ/ωε，则当ω→0时， tgδ→∞。随着ω升高，tgδ↓。随ω↑，松弛极化在某一频率开始跟不上外电场的变化， 松弛极化对介电常数的贡献 逐渐减小，因而εr随ω↑而↓。 在这一频率范围内，由于ωτ 1，故tgδ随ω↑而↑。当ω很高时，εr→ε∞，介电常数仅 由位移极化决定，εr趋于最小值。 由于ωτ 1，此时tgδ随ω↑而↓。 ω→∞时，tgδ→0。tgδ达最大值时ωm的值由下式求出:tgδ的最大值主要由松弛过程决定。如果介质电导显著变大，则tgδ的最大值变得平坦， 最后在很大的电导下，tgδ无最大值，主要表现为电导损耗特征：tgδ与ω成反。2、温度的影响当温度很低时,τ较大，由德拜关系式可知，εr较小，tgδ也较小。此时，由于ω2τ21,由德拜可得：随温度↑，τ↓，所以εr、tgδ↑当温度较高时，τ较小，此时ω2τ21随温度↑，τ↓，所以tgδ ↓。这时电导上升并不明显，主要决定于极化过程：当温度继续升高，达到很大值时， 离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr↓。此时电导损耗剧烈↑，tgδ也随温度 ↑而急剧上升↑。3.湿度的影响 &bull 介质吸潮后，介电常数会增加，但比电导的增加要慢，由于电导损耗增大以及松驰极化损耗增加，而使tgδ增大。 &bull 对于极性电介质或多孔材料来说，这种影响特别突出，如，纸内水分含量从4％增加到10％时，其tgδ可增加100倍。降低材料的介质损耗的方法（1）选择合适的主晶相：尽量选择结构紧密的晶体作为主晶相。（2）改善主晶相性能时，尽量避免产生缺位固溶体或填隙固溶体，最好形成连续固溶体。这样弱联系离子少，可避免损耗显著增大。 (3)尽量减少玻璃相。有较多玻璃相时，应采用“中和效应"和“压抑效应"，以降低玻璃相的损耗。 (4）防止产生多晶转变，多晶转变时晶格缺陷多，电性能下降，损耗增加。 (5）注意焙烧气氛。含钛陶瓷不宜在还原气氛中焙烧。烧成过程中升温速度要合适，防止产品急冷急热。 (6)控制好最终烧结温度，使产品“正烧"，防止“生烧"和“过烧"以减少气孔率。此外，在工艺过程中应防止杂质的混入，坯体要致密。

补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。

绝缘管材工频介电常数测试仪一、范围GB1409绝缘材料介电常数介质损耗测试仪：规格：符合GB1409、GB5654及GB/T1693, ASTM D150-1998（2004） 固体电绝缘材料的交流损耗特性及介电常数的试验方法其采用了西林电桥的经典线路，内附0-3000的数显高压电源及100PF标准电容器，并可按用户要求扩装外接标准电容绝缘管材工频介电常数测试仪二、介电常数介质损耗测试仪技术参数2-1测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF R4=3183.2（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF R4=318.3（Ω）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.00012-2电桥测量灵敏度电桥在使用过程中，灵敏度直接影响电桥平稳衡的分辨程度，为保证测量准确度，希望电桥灵敏度达到一定的水平。通常情况下电桥灵敏度与测量电压，标准电容量成正比。在下面的计算公式中，用户可根据实际情况估算出电桥灵敏度水平，在这个水平上的电容与介质损耗因数的微小变化都能够反应出来。ΔC/C或Δtgδ=Ig/UωCn(1+Rg/R4+Cn/Cx)式中: U 为测量电压 伏特 (V)ω为角频率2πf=314(50Hz)Cn标准电容器容量 法拉(F)Ig通用指零仪的电流5×10-10 安培(A)Rg平衡指零仪内阻约1500 欧姆(Ω)R4桥臂R4阻值3183 欧姆(Ω)Cx被测试品电容值 法拉(pF)2-3工作电压说明在使用中，本电桥顶A，B对V点的电压高不超过11V，R3桥臂各盘的电流不超过下列规定：10×1kΩ 1max≤15mA10×100Ω 1max≤120mA10×10Ω l max≤150mA用户在使用前应注意以上的问题。如不清楚，可根据实验电压及标准电容量，按以下公式来计算出大概的工作电流。I=ω V C2-4辅桥的技术特性：不失真跟踪电压0～11V（有效值）2-5指零装置的技术特性：在50Hz时电压灵敏度不低于1×10-6V/格电流灵敏度不低于2×10-9 A/格二次谐波 减不小于25dB三次谐波 减不小于50dB

玻璃介电常数测试仪Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。10．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。玻璃介电常数测试仪性能特点：1. 平板电容器 极片尺寸：φ25.4mm\φ50mm 极片间距可调范围和分辨率：≥10mm，±0.01mm2. 园筒电容器 电容量线性：0.33pF / mm±0.05 pF长度可调范围和分辨率：≥0～20mm，±0.01mm3. 夹具插头间距：25mm±1mm4. 夹角损耗角正切值：≤4×10－4（1MHz时）5、数显电极玻璃介电常数测试仪维修保养本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，或者作为定期检查，要检测以下几个指标：1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。4. 用精密电容测量仪（±0.01pF分辨率）测量园筒电容器，电容呈线性率，从0~20mm，每隔1mm测试一点，要求符合工作特性要求。玻璃介电常数测试仪介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。玻璃介电常数测试仪许多不同物质的介电常数都大于1。这些物质通常被称为绝缘材料或绝缘体。常用的绝缘体包括玻璃、纸、云母、各种陶瓷、聚乙烯和特定的金属氧化物。绝缘体用于交流。泡沫由聚苯乙烯2.2.6与聚苯乙烯、聚氯乙烯、聚氨酯等树脂制成。介电常数可分为相对介电常数和有效介电常数。通常我们说的介电常数是相对介电常数，硅的相对介电常数是11.9。(AC)，声波(AF)和无线电波(RF)的电容器和传输线。

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器ASTMD150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法1本标准是以固定代号D150发布的。其后的数字表示原文本正式通过的年号；在有修订的情况下，为上一次的修订年号；圆括号中数字为上一次重新确认的年号。上标符号（ε）表示对上次修改或重新确定的版本有编辑上的修改。本标准经批准用于国防部所有机构。1.介电常数测试仪范围1.1本试验方法包含当所用标准为集成阻抗时，实心电绝缘材料样本的相对电容率，耗散因子，损耗指数，功率因子，相位角和损耗角的测定。列出的频率范围从小于1Hz到几百兆赫兹。注1：在普遍的用法，“相对”一词经常是指下降值。1.2这些试验方法提供了各种电极，装置和测量技术的通用信息。读者如对某一特定材料相关的议题感兴趣的话，必须查阅ASTM标准或直接适用于被测试材料的其它文件。2,31.3本标准并没有完全列举所有的安全声明，如果有必要，根据实际使用情况进行斟酌。使用本规范前，使用者有责任制定符合安全和健康要求的条例和规范，并明确该规范的使用范围。特殊危险说明见7.2.6.1和10.2.1。

橡胶介电常数测试仪由BH916测试装置（夹具）、GDAT型高频Q表、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。1、《BH916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。BH916介质损耗测试装置是本公司最新研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。 2、基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的最高成就，随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取最高的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。 　　 GDAT高频Q表的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入GDAT)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。 4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（BH916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感 GDAT高频Q表频率范围20KHz-60MHz/200KHz-160MHz频率指示误差3×10-5±1个字主电容调节范围30-500/18-220pF主调电容误差1%或1pFQ测试范围2～1023 BH916测试装置平板电容极片Φ50mm/Φ38mm可选间距可调范围≥15mm夹具插头间距25mm±0.01mm测微杆分辨率0.001mm夹具损耗角正切值≦4×10-4 （1MHz) 橡胶介电常数测试仪电感测量a．测量范围：0.1μH～1H。b．分 档：分七个量程。0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。 橡胶介电常数测试仪振荡频率a．振荡频率范围：25kHz～50MHz；b．频率分档：25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。c．频率误差：2×10±1个字。Q合格指示预置功能，预置范围：5～999。 橡胶介电常数测试仪工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80%；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 高频介质样品（选购件）： 在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性 介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

产品介绍：介电常数测试仪是介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有

介电常数测试仪的使用和功能 介电常数测试仪的使用和功能介电常数, 用于衡量绝缘体储存电能的性能. 它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。 介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。介电常数测试仪就是测量绝缘材料的介电常数能力 介电常数的定义介电常数描述的是材料与电场之间的相互作用。介电常数 (K*)等于复数相对介电常数(ε*r)，或复数介电常数(ε*)与真空介电常数(ε0)的比值。复数相对介电常数的实部(ε' r) 表示外部电场有多少电能储存到材料中；对于绝大多数固体和液体来说，ε' r1。复数相对介电常数的虚部(ε"r) 称为损耗系数，表示材料中储存的电能有多少消耗或损失到外电场中。ε"r始终0，且通常远远小于ε' r。损耗系数同时包括介电材料损耗和电导率的效应。如果用简单的矢量图表示复数介电常数，那么实部和虚部的相位将会相差90°。其矢量和与实轴(ε' r)形成夹角δ。通常使用这个角度的正切值tanδ或损耗角正切来表示材料的相对“损耗”。 注意事项：测试装置使用结束后，请及时关闭液晶显示屏的电源，可延长电池的寿命。如果电池发出电压低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既可取下十字盖冒，更换电池。2．本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，可以送生产厂家定期检查，要检测以下几个指标：平板电容器二极片平行度在0-5mm间连续不超过0.05 mm。圆筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。 介电常数测试仪特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～160MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

BQS37型高压电桥主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgδ）及介电常数（ε）。 测量范围及误差 在Cn＝100pF R4＝3183.2（Ω）（即10K/π）时 测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF--20000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～1±1.5％tgδx±1×10-4在Cn＝100pF R4＝318.3（Ω）（即1K/π）时测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF--2000pF±0.5% Cx±2pF介质损耗tgδ0～0.1±1.5％tgδx±1×10-4辅桥的技术特性 工作电压±12V，50Hz输入阻抗10-12　Ω输出阻抗0.6 Ω放大倍数0.99不失真跟踪电压 0～12V（有效值）指另装置的技术特性 工作电压±12V在50Hz时电压灵敏度不低于1X10-6V／格， 电流灵敏度不低于2X10-9A／格二次谐波 减不小于25db三次谐波 减不小于50db RY1型绝缘油介损测量电极（油杯） RY1型绝缘油介损测量电极（俗称：油杯）是用于对各种电缆油，变压器油，电容器油等液体绝缘材料的介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（εr）和直流电阻率（ρ）的精密测量。 RY1型绝缘油介损测量电极在原理和结构上参考了IEC标准，与在我国广泛应用的瑞士Tettex2930性能指标一样. 本产品是一种带有屏蔽保护极，极间距离为2mm圆柱形空气电容器.它能有效地压抑和消除杂散电容影响，提高测量精度.与我公司生产的YG122液体电极专用控温仪配合使用时还能十分方便地没量在规定温度（室温～180℃范围内）的介质损耗因数和介电常数。主要技术指标（1）两极空间距离 2mm（2）空杯电容量 60±5pF（3）最大测量电压 工频2000V（4）空杯tgδ ≤5*10-5（5）液体容量 约40cm3（6）电极材料 不锈钢（7）体积 240mm（直径）*220mm（高）（8）重量 约10kGYG122型液体电极专用控温仪 YG122型液体电极专用控温仪是新一代的绝缘油测量电极的专用控温智能化装置，可与国际通用的圆柱型绝缘油电极配套使用。保证绝缘油在规定时间内到达所需温度，并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素（tgδ）、相对介电常数（er）进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制，能彻底消除电网电压、环境温度变化等的影响，具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式，使设定误差真正达到零。输入输出都有光藕隔离。本产品还具有内部硬件线路自我诊断功能，保证工作的安全、可靠。主要技术指标 测温范围 0～199.9℃测温精度 ±1+0.1℃控温范围 室温～199.9℃控温稳定度 ±（1+0.1）℃由室温加热至控温值：不大于60min在控制温度恒定时间不大与15min加热功率： 1000W（包括内、外加热器） 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 ， 也是北广公司一直追求的宗旨。 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者，帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 北京北广精仪仪器设备有限公司

一、概述： ZJD-C型介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项领先技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性：*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3．Q值测量范围：1～10234．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6．电容直接测量范围：1pF～25nF 7．主电容调节范围： 17～240pF 8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1% 9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz10．合格指示预置功能范围：5～100011．环境温度：0℃～+40℃；12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：数显式微杆，平板电容器：极片尺寸： 38mm极片间距可调范围：≥15mm夹具插头间距：25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）测微杆分辨率：0.001mm测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1：分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套