分析比较原子探针离子探针俄歇谱仪

岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现快速便捷的样品分析。技术基于探针电喷雾离子化技术及原理（PESI）适用于化工领域，食品和生物制品领域中样品无样品制备条件下的快速质谱分析。 该仪器具有多项应用优势：1) 样品直接质谱分析，简化样品制备过程；2)容易氧化或讲解的化合物快速分析，分时段实时样品成分含量监测；3) 微量样品离子化能力，有效避免高浓度样品对质谱的污染。

电子探针简介：电子探针(EPMA)是用极细的电子束对样品表面进行照射产生特征性X射线，对特征性X射线进行分光和强度测定，得到微小区域的元素组成及样品表面元素浓度分布的分析装置。EPMA 采用波长色散型X 射线分光器（WDS），与能量色散型X 射线分光器（EDS）相比，具有高分辨率的特点。因此，EPMA与扫描型电子显微镜（SEM）配置EDS 检测器比较，可以进行更高精度和更高灵敏度的分析。 技术特点：岛津电子探针EPMA-1720系列优势在于传承52.5°的高X射线取出角技术，可以进行高灵敏度的X射线测定。高速稳定驱动的样品台，可以高精度设定分析位置和分析区域。配备各种自动功能和联动功能，电子束的设定简单易行。集多年分析经验于一体的控制?分析软件，实现了从数据采集到数据解析及报告制作的清晰易懂、操作便捷的良好操作环境。对于初学者，装备了从SEM 观察到定性分析?成图分析的简易可行的简单模式。数据浏览程序可以方便地进行数据的批次管理。

大气压分析探针 (ASAP) 质谱是原位质谱分析技术，用于升级现有的商品化液-质(LC/MS) 联用平台，快速简便分析固体、液体、组织或材料(如聚合材料)样品中挥发性和半挥发性化合物而无需样品制备和分离。 携带样品的 ASAP 探针插放于商品化的质谱离子源的源体内，热的氮气流使样品快速脱附至空气中，经电晕放电离子化产生质子化(正离子方式)或去质子化(负离子方式)离子，随后进行质谱或多级质谱定性、定量分析。ASAP 不干扰同一源体上的电喷雾(ESI)源或 APCI 源的运行，互为补充，且切换即时便捷。该离子化方式尤其适用于高端液质平台，充分展示其多级质谱的选择性碰撞碎裂能力，进行快速(30秒钟以下)鉴定和高灵敏度定量(pg 级)，以及精确质量分析能力，实现复杂混合物中化合物的快速鉴定和定量分析。成功的例子已经包括(但不限于) Bruker Qh-FTMS&trade , Thermo Ortitrap&trade , Waters Synapt HDMS，和 QTOF 等。ASAP 将成为替代现有的 EI/CI 固体分析探针的优选技术。同时，由于 ASAP 将 LC 分离和质谱分析相隔离，对于实现复杂液相色谱分离体系(如使用磷酸盐等非挥发性缓冲盐)的液质联用，将成为可能。 　例如，ASAP 用于轻松观察比较植物叶在正常气候条件下和在寒冷和黑暗条件下的不同化学变化。又比如，聚合物添加物可以 ASAP 快速鉴别，同时，在较高温度下聚合物本身热裂解，更增加鉴定可靠性。 ASAP 还可快速检测生物体液如尿样中的药物而无需样品前处理，或应用于检查钱币上的毒物等。环境污染物比如多环芳烃(PAH)，以及石油中的高馏分成份，均可以ASAP 轻松分析。产品性能：1、可升级 FT-MS、TOF、QTOF、离子阱、Orbitrap，单四极杆、三重四级杆、或其他各种类型的质谱仪2、兼容安捷伦、布鲁克、SCIEX、赛默飞、沃特斯等厂家的 LC-MS 液质质谱仪3、可分析液体、粘液、固体、粉末样品4、无需繁杂的样品制备和耗时的色谱分离5、样品分析在 30 秒内完成6、采用氮气为载气，无需消耗化学溶剂，无需处理化学废液，为“绿色”检测技术7、无需流动相，无需色谱设备及分离用消耗品（如色谱泵、色谱柱、进样器、试管）8、可供调节的实验参数少，简便易学9、不干扰 ESI 和 APCI 离子化。同一源体可安装 ASAP 和 APCI（或 ESI）离子化探针10、载气（氮气）流速取决于质谱仪随机携带的 APCI 源的氮气流速，通常为2.0-6.0 L/分之间（可依质谱仪型号不同而有所不同） 11、放电电压：利用质谱仪随机携带的 APCI（或ESI）源的放电电压12、气体加热：利用质谱仪随机携带的 APCI（或ESI） 源的加热传感功能，通常为 25℃ - 500℃（取决于自带源的温度范围）13、质量范围：取决于质谱仪本身的质量范围，通常为 5～3000 amu14、检测限：取决于质谱仪本身的灵敏度，通常为 1-10 pg 绝对量或 ppb 级浓度15、调节式探针：可调节电绝缘样品管的伸出幅度，便于灵敏度调谐16、无真空切换，样品分析在常压下进行17、工作环境条件：工作电压：230V,+/-10V；操作环境温度：10-400℃18、该仪器不属于含放射源设备或射线装置制造厂商：IonSense，Inc.（美国），大中华区代理为华质泰科生物技术（北京）有限公司。

布鲁克（BRUKER）探针不为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针

俄歇电子能谱仪（Auger Electron Spectrometer, AES）为微电子业常见的表面分析技术之一。原理是利用一电子束为激发源，使表面原子之内层能阶的电子游离出，原电子位置则会产生电洞，导致能量不稳定，此时外层电子会填补产生之电洞，进而释放能量传递至外层能阶电子，造成接受能量的电子被激发游离，游离的电子即为Auger电子。因其具有特定的动能，所以能依据动能的不同来判定材料表面的元素种类。PHI的710纳米探针俄歇扫描 提供高性能的俄歇（AES）频谱分析，俄歇成像和溅射深度分析的复合材料包括：纳米材料，催化剂，金属和电子设备。维持基于PHI CMA的核心俄歇仪器性能，和响应了用户所要求以提高二次电子（SE）成像性能和高能量分辨率光谱。PHI的同轴镜分析仪（CMA）提供了同轴分析仪和电子枪的几何实现高灵敏度多角度广泛收集，以便完成三维结构图，在纳米级技术的发展这是最基础的。为了提高SE成像性能，闪烁探测器（Scintillator）已被添加以提高图像质量，另再加上数码按钮的用户界面再一次的提高了易用性。在不用修改CMA和仍维持俄歇在纳米分析的优势下，再添加了高能量分辨率光谱模式，使化学态分析的可能再大大的提高。总括来说，700Xi以优越的俄歇纳米探针从世界ling先的俄歇表面分析仪器，提供了实用和成熟的技术，以满足纳米尺度所需要的广泛实验与研发的用途。同轴电子枪和分析几何和高级的俄歇灵敏度：710的场发射电子源提供了一个高亮度而直径小于6 nm的电子束以产生二次电子成像。710的同轴几何使用了“同轴式分析器（CMA）”，促使高灵敏度俄歇通过广泛角度收集进行分析，即使样品是表面平滑或复杂的形状或高表面粗糙度，都可以确保迅速完成所有分析程序。高稳定性成像平台：隔声外壳与振动隔离器提供更稳定的成像和分析。隔声外壳从真空控制面板降低频率范围从30赫兹到5K赫兹左右的20 dB的声压等级（SPL），稳定的温度大约降低系统造成SEM图像漂移。新的振动隔离器也减少了地面振动对扫描电镜图像和小面积分析的影响。增强的SE图像用户界面：PHI710增强SE成像性能，闪烁器检测器（Scintillator）已被添加在仪器上从而提高图像质量，加上数码按钮的用户界面更再次提高了使用的方便性。新的高分辨率光谱模式：随着PHI的新技术，能量分辨率可调从0.5%到0.05%。多种化学物质的状态可以更容易有效的被观察出来。PHI SmartSoft-AES用户界面：PHI SmartSoft是一个操作仪器上为用户的需要而着想的软件界面。该软件是任务导向型和卷标在顶部的显示指引用户通过引入样品，分析点的定义，并设置了分析。多个位置分析可以定义和zui佳范例的定位提供了一个强大的“自动Z轴调整”的功能。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设置了测量，并在未来可以轻易的重复以往或常用的类似测量。

TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆可与原子探针、透射电镜配套使用，有效地使原子探针和透射电镜检测结合在一起，使样品的观察和分析更加方便。TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆用来夹持透射电镜样品放到透射电镜下进行观察，可以360°旋转样品，透射电镜配套的样品杆往往功能单一，这款样品杆可以满足客户的多种的需要，适合大专院校及科研院所中与透射电镜配套使用。进口样品杆往往价格不菲，本公司的样品杆不仅功能齐全且结实耐用，价格也远低于进口设备的价格。 产品型号TEM-APT Holder电镜连用三维原子探针样品杆主要特点1）TEM-APT样品杆：三维原子探针（3DAP）和透射电镜（TEM）是先进的原子尺度表征手段。2）三维原子探针的结果不是“可视”的，需要通过数据重构再现。透射电镜能提供“直接可视”的实验结果，但是结果是二维投影的，并且很难获得三维的单个原子尺度的成分信息。基于它们各自的优势，我们开发了3DAP-TEM样品杆，可以将原子探针（APT）试样直接加载到TEM样品杆上。产品结构 产品作用（1）在TEM中直接观察APT试样上是否有令人感兴趣的区域，使样品检测工作效率增加；（2）通过大角度倾转试样，获得不同角度试样的形貌结构特征，为3DAP数据重构提供帮助；（3）TEM观察过后的试样可以直接移到APT中继续实验。将APT结果与TEM图像相结合，有 助于优化重构参数，并使3DAP结果更具有可信度。（4）在原子水平上获得了样品的组成和结构。产品性能（1）接受锥形电化学抛光的样品或聚焦离子束（FIB）制备的样品柱。（2）允许360°的图像采集和层析图像的重建，不会因楔子缺失而造成信息损失。（3）样品可以很容易地从支架上取出，然后直接转移到APT机上进行进一步表征。（4）兼容所有几何形状的极片间隙。

原子力显微镜探针(AFM探针)，是原子力显微镜（AFM）设备非常重要的配件耗材之一。我司提供的布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。 在实验中，用户所得到的数据通常取决于探针的质量和探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制和质量测试，具备AFM领域的专业背景，不仅能够为当前的应用提供测试结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 目前，布鲁克原子力显微镜（AFM）已被广泛应用于生命科学、材料科学、半导体、电化学等领域的纳米技术研发，应用广泛，因此所配套的探针种类也在不断增加，为了帮助客户能够便捷的选择出适合测量需求的探针型号，可通过以下的探针选型指南来更快速的找到更适合的探针类型。 原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览材料样品大气环境液下环境 智能成像 高分辨SCANASYST-AIRSCANASYST-AIR-HPISCANASYST-FLUID+SNL-10一般成像DNP-10SCANASYST-FLUIDDNP-10轻敲模式 较软样品/相位成像 OLTESPA-R3 , RFESPA-75SNL-10 , DNP-10一般样品TESPA-V2 , RTESPA-300 SNL-10 , DNP-10 快速扫描FASTSCAN-AFASTSCAN-B，FASTSCAN-C接触模式一般成像SNL-10 ,DNP-10 , MLCTSNL-10 ,DNP-10 , MLCT摩擦力显微镜ORC8-10, SNL-10， DNP-10ORC8-10, SNL-10， DNP-10 电磁学测量静电力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 磁力显微镜MESP-RC-V2, MESP-V2 表面电势测量PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 导电原子力／隧穿原子力 MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 峰值力隧穿原子力显微镜PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 扫描电容显微镜OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 扫描扩散电阻显微镜SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 压电力响应显微镜DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 生物样品 生物小分子 一般成像 MLCT, DNP, DNP-S 高分辨SNL-10, Fastscan-D, AC40细胞一般成像MLCT, DNP-10 力学测量MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC探针修饰修饰小球NP-O10 修饰分子NPG-10 力学测量 杨氏模量(E) 探针类型 弹性常数(K) 1 MpaSNL-10 SCANASYST-AIR 0.5N/m 1 MpaSAA-HPl-300.25N/m5 MpaAD-2.8-AS AD-2.8-SS2.8N/m RTESPA-1505NIm10 MpaRTESPA-150-305NIm200 MpaAD-40-AS AD-40-SS40N/mRTESPA-30040N/m100 MpaRTESPA-300-3040N/m1 GpaRTESPA-525 RTESPA-525-30200N/m 10 GpaDNISP-HS PDNISP-HS450N/m 用于高分辨成像的超尖探针Dimension Icon 大气环境ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB液下环境PeakForce-HiRs-F-BDimension Fastscan 大气环境PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A 液下环境Fastscan-D-SS *setpoint need to be around 100pN探针选型指南一、AFM探针简介每个探针都由三部分组成：tip（针尖），cantilever（悬臂梁），substrate（基片）大部分材料都是硅或者氮化硅。一般悬臂梁的形状有：矩形和三角形、Special。1）悬臂的主要参数有：spring constant（弹性系数）、resonance frequency（共振频率）、悬臂长度（宽度厚度等）、悬臂形状、悬臂的镀层、悬臂材料、悬臂梁的数目等；2）针尖tip的主要参数有：tip radius、tip geometry、tip coating、tip height等；3）不同的探针具体有不同的用途， 所以我们也从适合的样品（sample）类型、适合的AFM机型（包括非Bruker品牌的afm机型）、适合的工作模式（work mode）、适合的应用（application）对探针做了分类，可以在探针左边的帅选栏里进行相应的筛选和查询。 二、如何挑选AFM探针：1）确认待测物 如：高分子、无机物、细胞........2）确认AFM应用模式 形貌、电性、液下成像、力曲线............3）确认扫描的精度 挑选合适探针针尖1nm、2nm、7nm、10nm........?4）确认共振频率和弹性系数 取决于扫描速度、工作模式、待测物软硬度等信息注：目前网站中所展示的是较为常见的探针系列及型号，除此以外的一些 bruker（布鲁克）探针型号，如：PFQNM-LC 、PEAKFORCE SECM 等，未在网站上进行展示，如需提供报价或者具体参数，请与我公司联系，联系方式可见上方“联系我们”。 三、以下是针对大部分探针系列的简要说明：关于不同系列探针后面的 A，AW，W；-HM，-HR，-LM 等标识的说明，具体如下：1）AD 系列探针，金刚石镀层导电硅基探针，一盒 5 根。根据频率和曲率半径的不同，有不同的型号。2）CDP 和 CDR 系列、EBD-CD 探针，主要用于 insight（全自动原子力显微镜）机型上。3）CLFC 系列探针，tipless&bull CLFC-NOBO 和 CLFC-NOMB 探针，用来做 calibration，用其自身已知的悬臂 Kref（弹性系数）值来校准未知探针悬臂的 K 值。&bull 要校准的悬臂的弹性系数一般应该在 0.3Kref4）CONTV 系列的探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 CONTV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电5）DDESP 系列和 DDLTESP-V2、DDRFESP40 探针，导电，有导电金刚石涂层 tip6）DNISP 系列和 PDNISP、MDNISP-HS、NICT-MAP 探针，有手工制作的天然金刚石纳米压痕 tip，都可以做纳米压痕。7）DNP 系列探针，每个型号悬臂背面都有 Gold 镀层&bull -10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 20nm&bull DNP 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且曲率半径的标称值为 20nm&bull -S10 表示一盒 10 根针且曲率半径的标称值为 10nm&bull DNP-S 后面啥数字没有，表示一盒一个 wafer，大概有 300-400 根针，且且曲率半径的标称值为 10nm8）ESP 系列的探针&bull ESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull ESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 ESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)9）Fastscan 系列探针，专门用在 Dimension FASTSCAN 这个 AFM 机型上10）FESP 系列的探针&bull FESP 后面带 A，表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull FESP 后面带 W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating）&bull 只写了 FESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)11）FIB 系列的探针&bull -A 是一盒 5 根，且悬臂背面有 Al 镀层；否则就是一盒 5 根，但悬臂背面无镀层（nocoating）&bull 不同 AFM 机型对应的有不同型号的 FIB 探针，具体请在 AFM 探针筛选中查询12）FMV 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 FMV，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull -PT 表示表示悬臂前面（含 tip）有 Ptlr 镀层，导电13）HAR 系列探针&bull -A-10 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层14）HMX 系列探针&bull -10 表示表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，且悬臂背面有 Al 镀层15）LTESP 系列探针&bull -A 表示一盒 10 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -AW 表示一个 wafer，大概有 300-400 根针，且悬臂背面有 Al 镀层&bull -W 表示一个 wafer，但悬臂背面无镀层（no coating)&bull 只写了 LTESP，表示一盒 10 根针，但悬臂背面无镀层（no coating)16）MESP 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Magnetic CoCr 导电涂层&bull -HM 表示高磁距 high moment&bull -HR 表示高分辨高磁矩（high-resolution, high moment）&bull -LM 表示 low moment17）MLCT 系列&bull -bio 和-bio-DC 是为生物样品优化的探针，tip 的形状和高度跟 MLCT 不一样，而且-bio-DC 有热漂补偿，因此对于细胞培养和温度变化中测量的生物样品，可以考虑用这款探针。&bull MLCT-FB 的镀层比 MLCT 厚，其他方面和 MLCT一样。&bull -O 表示没有 tip。&bull -UC 表示没有镀层。tip radius 是 20nm18）MSCT 系列探针&bull MSCT-MT-A 只有一个悬臂，只能在 innova 上用。&bull -UC 表示没有镀层。MSCT 相比 MLCT 系列，针尖半径（tip radius 为 10nm）更小。19）MSNL 系列，比 MSCT 和 MLCT 系列的针尖半径更小，只有 2nm。20）MLCT\MSCT\MSNL 系列的探针，有镀层的都是 reflection gold。21）NCHV 系列，虽然参数和 rtesp-300 差不多，但其是性价比高的探针，只能做定性的分析，不能拿来做 QNM。22）NCLV 系列探针也是性价比高的探针23）NP 系列探针&bull -10UC 表示一盒 10 根，且悬臂背面无镀层&bull -W-UC 表示一盒一个 wafer，且悬臂背面无镀层&bull NP 后面跟“G”，表示悬臂前面和背面都有 Gold 镀层；NPG 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根NPG&bull -10 表示一盒 10 根&bull -O10 表示一盒 10 根，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull -OW 表示一盒一个 wafer，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有 Gold 镀层&bull NPV-10 表示一盒 10 根，且悬臂背面有 Gold 镀层24）OBL-10 探针，是不能调角度的，悬臂的倾角是±3°，不能装在 Dimension afm 上。25）PEAKFORCE-HIRS 系列探针，tip radius 只有 1nm, 而且频率都是 100KHz 以上，可以做高分辨成像。26）PFDT系列，专门用在有peakforce deep trench工作模式的Dimension icon机型上测Holes/Trenches27）PFQNE-AL 探针，导电，是专门为 peakforce KPFM 模式优化的探针。由于部分参数需要保密，目前可展示的参数不全28）PT 系列是做 STM 模式用的探针29）RESP 系列探针&bull RESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -10 表示共振频率是 10KHz&bull -20 表示共振频率是 20KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz30）RFESP 系列探针&bull RFESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RFESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull RFESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -190 表示共振频率是 190KHz&bull -75 表示共振频率是 75KHz&bull -40 表示工作频率是 40KHz31）RMN 系列探针，导电&bull 固体金属（Solid Metal）探针，有优良的导电性，并且不会出现金属涂层硅探针所产生的薄膜粘附问题。&bull 根据不同的应用对应有不同的型号可以选择32）RTESP 系列探针&bull RTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull RTESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且 一盒有一个 wafer，大概 300-400 根&bull RTESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -150 表示共振频率是 150KHz，-150-30 属于预校准探针，表示共振频率是 150KHz，且曲率半径是 30nm&bull -300 表示共振频率是 300KHz；-300-30 属于预校准探针，表示共振频率是 300KHz，且曲率半径是 30nm&bull -525 表示工作频率是 525KHz；-525-30 属于预校准探针，表示共振频率是 525KHz，且曲率半径是 30nm33）SAA-HPI 系列 探针，&bull -30 表示是预校准探针，曲率半径为 30nm&bull -SS 表示超尖探针，曲率半径的标称值为 1nm预校准的探针有：&bull SAA-HPI-30： 0.25N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-150-30： 5N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-300-30： 40N/m, k certified, controlled end radius, 一盒5根&bull RTESPA-525-30： 200N/m, k certified, controlled end radius,一盒5根34）SCANASYST 系列探针，专门为 SCANASYST（智能模式）优化的探针35）SCM 系列探针，导电，悬臂前面（含 tip）有 Conductive PtIr 或Conductive PtSi 镀层36）SMIM 系列探针，导电37）SNL 系列探针，&bull -10 表示一盒 10 根；&bull -W 表示一盒一个 wafer，大概 300-400 根38）SSRM-DIA 探针，导电39）TESP 系列探针&bull TESP 后面跟后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有 10 根&bull TESP 后面跟“AW”，表示悬臂背面有 Al 镀层，且一盒有一个 wafer，大概 300-400根&bull TESP 后面跟“D”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类的金刚石(DLC)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒 10 根&bull TESP 后面跟“DW”，表示 DLC 涂层硅探针，其表面硬化类金刚石(DLC，Diamond-LikeCarbon)涂层，目的是为了增加 tip 寿命，且一盒一个 wafer&bull TESP 后面跟“ ”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有 10 根&bull -HAR 表示具有高纵横比(HAR)探针，是具有高/深几何形状的样品在进行 tapping 模式成像下的理想选择。&bull -V2 表示高质量、新设计的探针&bull -SS 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒 10 根&bull -SSW 表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为 2nm，且一盒一个 wafer40）VITA 系列探针，做热分析或者做扫描热分析的探针，具体可以通过探针网站搜索对应 的型号和参数、适合的 AFM 机型等信息。41）VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。 OLTESPA-R3，OSCM-PT -R3（导电探针）和 OTESPA-R3，VTESP 系列探针是 visible apex 形状的探针，tip 在悬臂前端，可以用来定位。&bull VTESP 后面跟“A”，表示悬臂背面有 Al 镀层&bull -300 表示共振频率为 300KHz&bull -70 表示共振频率为 70KHz&bull -300（或-70）后面有“-W”，表示一盒一个 wafer&bull -300（或-70）后面有“ ”，表示一盒 10 根

超高真空低温四探针扫描探针显微镜美国RHK Technology 成立于1981 年。作为SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK-Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与的客户支持。凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再加上与著名科学家的紧密合作，二十多年来RHK Technology 源源不断地向全科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。变温QuadraProbe UHV 4-探针SPM系统是RHK公司生产的多探针UHV SPM系统中的一种，该系统提供了多种分析功能、配备了多个超高真空室和相应的电子控制单元与软件，可以大地满足客户全面的研究应用需要。基本系统中提供了低温4探针扫描隧道显微镜（SPM），扫描电子显微镜（SEM），样品准备室和用于传输样品和针的快速进样室。其他的设备如扫描俄歇显微镜（SAM）也可选配以满足客户特别的研究需要。技术参数：- 样品温度：10K（LHe）； 80K（LN2）- 扫描范围：1.5μm（300K）；500nm （10K）- X，Y，Z粗进针：±1.5mm/step motion- 样品定位精度：±1.5mm- STM分辨率：四个探针均可实现HOPG的原子分辨- SEM分辨率：小于20nm- 针材料：钨或者铂、金等金属修饰的钨针。 主要特点：- 四个探针都能实现原子分辨；- 真正的样品和针低温操作（10K），得到佳的高分辨谱图；- 探针与样品立地传输与准备；- 所有探针具有先进的控制操作；- 用户可编程控制的开放性控制环境；- 制冷采用Bath Cryostat构造，大地减少了液氦的消耗；- 可升到非接触式AFM；- 样品台处配有可选择的超导磁体；- 通过光纤实现样品的光学激发。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；目前通过我司购买的的开尔文探针测试系统，目前在南昌航空大学工作正常，运行稳定。。

原子探针可为研究和工业领域提供常规的高性能三维纳米分析。基于原子探针断层分析仪器和应用领域30年的成功经验，CAMECA开发了EIKOS™ 原子探针显微镜，应用于合金的快速研制和纳米级材料研究。EIKOS原子探针提供了：具有纳米级微观结构表征的三维层析成像高效率的高空间分辨率单原子探测对所有元素及其同位素的灵敏度一致定量组分测量（亚纳米至近微米级）可提供电压或电压和激光配置标准样品制备方法EIKOS可提供2种配置：EIKOS基础EIKOS系统采用反射器设计，可提供出色的质量分辨能力和信噪比。预先对准的集成反电极确保易用性和高可靠性。电压脉冲系统在各种冶金应用中提供了非常高的数据质量。EIKOS-UV完全配置的EIKOS-UV系统结合了基础EIKOS（电压脉冲，基于反射功能，预对准反电极）的所有突出特性，并增加了一个完全集成的激光脉冲模块和计算机控制的焦斑设计，以适用于更大的应用范围。 基础EIKOS系统可现场升级至EIKOS-UV。

LEAP 5000 是 CAMECA 推出的先进的三维原子探针，具有三种基本配置：LEAP 5000 R / XR & XS。借助局部电极原子探针 (LEAP) 显微镜，科学家和工程师可以以近原子尺度分辨率对材料进行三维分析，深入了解材料的纳米结构是如何影响其功能特性。通过 LEAP 显微镜获取的信息，研究人员便可以将纳米尺度上发生的现象与宏观尺度上的特性联系起来。CAMECA LEAP 5000 三维原子探针通过深入解析材料的纳米结构，开拓新的研究路线。

岛津原位探针离子化质谱仪DPiMS-2020 是基于岛津单四极质谱分析仪LCMS-2020同时配备探针电喷雾离子源为一体的新型质谱分析仪。该仪器通过精密的探针取样式设计在无需样品制备的情况下实现快速便捷的样品分析。技术基于探针电喷雾离子化技术及原理（PESI）适用于化工领域，食品和生物制品领域中样品无样品制备条件下的快速质谱分析。 该仪器具有多项应用优势：1) 样品直接质谱分析，简化样品制备过程；2)容易氧化或讲解的化合物快速分析，分时段实时样品成分含量监测；3) 微量样品离子化能力，有效避免高浓度样品对质谱的污染。岛津DPiMS-2020原位探针离子化质谱仪信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于岛津DPiMS-2020原位探针离子化质谱仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

仪器简介：EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。 技术参数：应用： 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点： 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光栅控制，增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

KP 超高真空开尔文探针系统开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-XTeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导高分辨率太赫兹近场成像 非接触式薄膜电阻半导体成像MMIC器件特性分析 无损检测芯片时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数TeraSpike TD-800-X-HR HRS Max. spatial resolution3 μm20 μmPC gap size1.5 μm2 μmDark current @ 1 V Bias 0.5 nA 0.5 nAPhotocurrent (*) 1 μA 0.6 μAExcitation wavelength700 .. 860 nmAvg. excitation power0.1 .. 4 mWConnection typeSMP元素路径: body p img当前已输入818个字符, 您还可以输入9182个字符。

高温四探针电阻率测试仪一.概述：采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求，软件实时绘制出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线图谱，及过程数据值的报表分析.二.适用行业：:用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。三.型号及参数：规格型号FT-351AFT-351BFT-351C1.方块电阻范围 10-5～2×105Ω/□10-6～2×105Ω/□10-4～1×107Ω/□2.电阻率范围10-6～2×106Ω-cm10-7～2×106Ω-cm10-5～2×108Ω-cm3.测试电流范围0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA10mA ---200pA4.电流精度±0.1%读数±0.1读数±2%5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤10%PC软件界面显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式双电测量8.四探针仪工作电源AC 220V±10%.50Hz 30W 9.误差≤3%（标准样片结果≤15%温度(选购) 常温 --400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃气氛保护（气体客户自备）常用气体如下：氦(He)、氖(Ne)、氩(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均为无色、无臭、气态的单原子分子温度精度冲温值：≤1-3℃；控温精度：±1°C升温速度：常温开始400℃--800℃需要15分钟；800℃-1200℃需要30分钟；1400℃-1600℃需要250分钟—300分钟高温材料采用复合陶瓷纤维材料，具有真空成型，高温不掉粉的特征PC软件 测试PC软件一套，USB通讯接口，软件界面同步显示、分析、保存和打印数据！ 电极材料 钨电极或钼电极 探针间距 直线型探针，探针中心间距：4mm；样品要求大于13mm直径标配外（选购）： 电脑和打印机1套；2.标准电阻1-5个 高温电源： 供电：400-1200℃ 电源220V，功率4KW；380V 1400℃-1600℃电源380V；功率9KW： 配套方案：解决各材料状态 --固态、液态、气态、颗粒状 电阻、电阻率、电导率测量

开尔文探针表面光电压谱开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种灵敏的表面分析技术。我们的开尔文探针系统包括：□单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□超高真空(UHV)开尔文探针；□湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP)ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□2毫米，50微米探针；□功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□表面势和样品形貌3维地图；□探针扫描或样品扫描选配；□彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□备用的针尖放大器； 仪器的特色 □分辨率的功函数和表面势，稳定性和数据重现性；□该领域内，拥有好的信噪比；□快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□所有开尔文探针参数的全数字控制；ON非零探测 Off Null detectionHR高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

探针材料：氮化硅；针尖形状：球形；微球材料：二氧化硅或者聚苯乙烯；微球直径：2微米至18微米；背面涂层：有；Microsphere probe悬臂参数：1 频率：力常数：长度：形状：2 频率：力常数：长度：形状：3 频率：力常数：长度：形状：为什么选择微球探针1 利用AFM检测细胞的力学性质主要受测量参数（针尖形状和加载速率）和检测位置的影响，而生物样品异质性强，如细胞核区和细胞质区刚度差别很大，球形探针和细胞接触面积大，大大减少了异质性造成的误差。另外研究发现锥形探针获得的细胞杨氏模量大大高于钝化针尖和球形探针，而钝化针尖和球形探针之间无显著差异。2 使用球形探针能够更准确地估算针尖与样品之间的接触面积，从而可以利用更加准确的模型对力曲线进行拟合。每种探针采用的相应的模型：锥形探针采用Sneddon模型，球形探针采用Hertz模型。3 球形探针与细胞之间的接触面积大，即使压入深入大时也能够避免对细胞的损伤，从而可以实现细胞膜下结构的力学性质检测。4 原子力显微镜的探针除了能够作为力学表征工具，还能够作为机械刺激工具研究细胞的力学响应性。而相比常规探针，较大的球形探针能够更好的模拟细胞所处微环境的机械刺激，因此也更适用于细胞力学响应性研究中

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统 主要特点： ● 功函分辨率 3meV ● 扫描面积：5mm to 300mm（四种型号，每种型号扫描面积不同） ● 扫描分辨率：317.5nm ● 自动高度调节 应用领域： ● 有机和非有机半导体 ● 金属 ● 薄膜 ● 太阳能电池和有机光伏材料 ● 腐蚀 升级附件： ● 空气光发射系统 ● 表面光电压(QTH or LED) ● SPS表面光电压光谱(400-1000nm) ● 金或不锈钢探针，直径0.05mm to 20mm ● 相对湿度控制和氮气环境箱

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-Z (纵向场微探针)TeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：l 太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导l 高分辨率太赫兹近场成像 l 非接触式薄膜电阻半导体成像l MMIC器件特性分析 l 无损检测芯片l 时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数?TeraSpike TD-800-Z- A-500G Max. spatial resolution 8 μm PC gap size 5 μm Dark current @ 1 V Bias 0.4 nA Photocurrent (*) 0.5 μA Excitation wavelength 700 .. 860 nm Avg. excitation power 0.1 .. 4 mW Connection type SMP

仪器简介：ESPion高级朗缪尔探针（Advanced Langmuir Probes for Electrical Plasma Characterisation）可快速、可靠、精确地进行等离子体诊断，是最先进可靠的朗缪尔探针（Langmuir Probe）。技术参数：应用： 蚀刻/沉积/ 清洁等离子体 脉冲等离子体操作 离子密度 (Ni & Gi) 电子温度(Te) 电子能量分布(EEDF) 电子密度(Ne) 等离子体电位 Debye 长度,悬浮电位主要特点： 获得数据速度：每秒15次扫描，通过D-O-E-界面可以自动、半自动或手动分析 Hiden在被动射频补偿方面处于领先地位，在所有的商业化探针中 ESPion 具 有最高的屏蔽阻抗(4.25Mohm at 13.56 MHz cf. 100kohm) 高温等离子体操作时的气体制冷多感应器链，使用者可调谐至其他频率 参考探针补偿用于抵制较低频率影响，例如等离子体电位漂移(例如，反应室 内腔阳极氧化所致) 或噪音(例如，供电源引起) ESPion 是所有商业化探针中最快速的脉冲等离子体探针，ESPsoft 包括所有 必需的标准脉冲选通电路 300、600、915mm 自动线性驱动器可选，互锁隔离阀， 90°探针，组合式 线性－旋转驱动器可选 自清洗循环，防止探针尖端污染 经由RS232、RS485、Ethernet LAN 和 ESPsoft软件控制

最高温度 1650°c测量范围 0.1mΩ-100MΩ温度精度 ±0.25°c最快测量 6.4ms更多功能 高温四探针、退火高温I-V特性测试高温真空测量高温气氛测量高温烧结/退火高温四探针测量 消除电网谐波对采集精度的影响高温四探针测试仪采用直排四探针法设计原理测量。主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能，参考美国 A.S.T.M 标准设计。重复性与稳定性更好，采用双屏蔽高频测试线缆，提高测试参数的精确度，同时抗干扰能力更强。本设备也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 搭配Labview系统开发的Huacepro软件，具备弹性的自定义功能，可进行介电温谱、频谱、升温速度、测量参数等设置，符合功能材料测试多样化的需求。电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制，当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数据，设备重新启动后可恢复原有试验数据。 源测量仪器的精密耦合特点相对分立仪器具有许多优点。例如，它具有更短的测试时间，通过减少GPIB的流量并简化了远程编程接口。它还保护被测设备在偶尔过载、热失控等情况下不被损坏。电流源和电压源都可设置回读使器件测量完整性最大化。如果回读达到可编程容限的极限，那么该源就被钳位在此极限，从而提供错误保护。 华测系列阻抗分析仪是华测仪器电子事业部采用当前先进的自动平衡电桥原理研制成功的新一代阻抗测试仪器，为国产阻抗测试仪器的最新高度。也彻底超越了国外同类仪器，在测量10Hz-50MHz的频率瓶颈；解决了国外同类仪器只能分析、无法单独测试的缺陷；采用单测和分析两种界面，让测试更简单。得益于先进的自动平衡电桥技术，在10Hz-50MHz的频率范围可以保证0.05%的基本精度。 快达5ms的测试速度及高达50M的阻抗测试范围可以满足元件与材料的测量要求，特别有利于低损耗(D)电容器和高品质因数(Q)电感器的测量。四端对的端口配置方式可有效消除测试线电磁耦合的影响，将低阻抗测试能力的下限比常规端配置的仪器向下扩展了十倍。 消除不规则输入的自动平均值功能 更强数据处理及内部屏蔽华测近红外高温炉配合吉时利数字源表进行四探针电阻测量，让测试更加稳定可靠，吉时利数字源表系列专用于要求紧密结合源和测量 的测试应用。全部数字源表型号都提供精密电压源和电 流源以及测量功能。每款数字源表既是高度稳定的直流 电源也是真仪器级的6位半万用表。此电源的特性包括 低噪声、精密和回读。此万用表的功能包括可重复性高和低噪声。最终形成了紧凑、单通道、直流参数测试仪。 在工作时，这些仪器能用作电压源、电流源、电压表、电流表和欧姆表。源和阱（4象限）工作，0.012%基础测量精度（6位半分辨率）。 2线、4线电压源和测量感测1700读数/秒（4位半分辨率），通过GPIB通过/失效比较器用于快速提供高速感测线接触检查功能，在半导体、功能材料行业吉时利数字源表是适于特性析和生产测试等广泛应用的重要源表。目前国内高温加热大都为管式炉或马弗炉，主要原理为加热丝或硅碳棒对炉体加热，加热与降温过程速度慢，效率低下。也无法实现温度的高精度测量，加热区域也存在不均匀的现象，华测仪器通过多年研究开发了一种可实现高精度，高反射率的抛物面与高质量的加热源相配置，在高速加热及高速冷却时，具有良好的温度分布。 可实现宽域均热区，高速加热、高速冷却 ，用石英管保护加热试样，无气氛污染。可在高真空，高纯度气体中加热 。设备可组成均热高速加热炉，温度斜率炉，阶段加热炉。 它提高了加热试验能力。 同电阻炉和其他炉相比，红外线反射炉节省了升温时间和保持时间及自然冷却到室温所需时间，再试验中也可改写设定温度值。从各方面讲，都节省试验时间并提高实验速度。 同高频炉相比，不需特殊的安装条件及对加热试样的要求。同电阻炉一样安装简单，有冷却系统安全可靠。以提高试验人员的工作效率，实现全新的温度控制操作！高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。 1、高速加热与冷却方式高能量的红外灯和镀金反射方式允许高速加热到高温。同时炉体可配置水冷系统，增设气体冷却装置，可实现快速冷却。2、温度高精度控制近红外镀金聚焦炉和温度控制器的组合使用，可以精确控制样品的温度(远比普通加温方式)。此外，冷却速度和保持在任何温度下可提供高精度。3、不同环境下的加热与冷却加热/冷却可用真空、气氛环境、低温（高纯度惰性气体 静态或流动），操作简单，使用石英玻璃制成。红外线可传送到加热/冷却室。 更强的扩展能力，实现一机多用█ 多功能真空加热 炉，可实现高温、真空、气氛环境下电学测试 █ 采用铂金材料作为测量导线、以减少信号衰减、提高测试精度 █ 设备配置水冷装置，降温速度更快、效率更高█ 可实现高温下四探针电阻谱等测量功能█ 进口温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更精准█ 近红外加热，样品受热更均匀，不存在感应电流，达到精准测量█ 10寸进口触摸屏设计，一体化设计机械结构，更加稳定、可靠 █ 采用进口高频测试线，抗干扰能力更强，采集精度更高█ 99氧化铝陶瓷绝缘，配和铂金电极夹具█ huace pro 强大的控制分析软件与功能测试平台系统相互兼容温度范围： RT-800 (最高1650)°C 控温精度：±0.25°C 升温斜率：10°C/min（可设定） 测试范围 : 0.1mΩ-100MΩ 加热方式：近红外加热 冷却方式：水冷 输入电压：110~220V 样品尺寸：φ＜25mm，d＜4mm 电极材料：碳化钨针 夹具辅助材料：99氧化铝陶瓷 测量方式：直接四探针 测试功能：I-V、R-T等 数据传输：4个USB接口 设备尺寸：600x500x350mm动态测量范围：电流：10pA to 10A 电压：1µ V to 200V四象限工作 0.012%的精确度，5&half 的分辨率 可程控电流驱动和电压测量钳位的 6位线电阻测量 在4&half 数位时通过GPIB达1700读数/秒 可选式接触检查功能

Flowprobe 是一种实时的原位动态微萃取技术，是美国橡树岭国家实验室的 Gary Van Berkel 博士发明了静态液滴萃取表面分析 （LESA）之后的又一创新发明。该技术基于液相微临界表面取样探针 (LMJ-SSP) 原理，其萃取效率在商品化的原位电离技术中首屈一指，适用于细胞、组织、聚合物等平面类样品的药物分布研究、癌症分析、微生物聚类分析等方面，并与主流质谱兼容（如 Thermo、Bruker 和 SCIEX 等 ）。How it works?1）通过连续流动的溶剂将材料表面溶解2）通过电喷雾（ESI）电离离子化分析物flowprobeTM 是 DESI 2D 系统的升级版，为实时动态微萃取探针技术，基于液相微临界表面取样探针 (LMJ-SSP) 原理，通过外套管连续输送溶剂至细胞、组织、或材料表面，高效微萃取代谢物、脂质、肽等标记物、或活性及毒性成分，再以内套管连续将萃取液泵流至电喷雾喷口进行 ESI 离子化。探针的萃取部位可借助摄像头实时调控，以动态获取表面、组织、或细胞内物质的分子信息。该技术适用于药物分布研究、癌症筛查和微生物聚类分析。可在中等空间分辨率（~630μm）条件下快速勾画分子轮廓，又可利用 DESI 2D 在高空间分辨率（~50μm）条件下实现精准医学研究和细胞内连续采样分析。flowprobe 是一种直接进样方法，通过实时，连续流体原位微萃取，可以提升现场采样和扫描的效率。这种创新技术还采用了高精度探头以及光学图像引导表面运动控制。加速药物分布研究和快速组织分析可在较低分辨率下进行快速的轮廓分析精准医学，细胞内连续采样DESI 2D 系统通过改造设计即可体验 flowprobe 的优势应用领域flowprobe是一种可进行连续、实时微萃取的突破性快速进样技术，结合了连续流体微萃取和电喷雾电离的诸多优点，可实现高效的单点采样和连续扫描。这种创新的质谱技术还采用了高精度喷雾头和图像引导的运动控制，使研究工作更加快速高效。其主要应用包括：高通量无损组织病理学分析、法医毒理学分析、过程分析、细菌代谢、微生物鉴定与表征、干血斑分析、时间分辨药物定量等等。flowprobe 生产商为美国 Prosolia 公司。大中华区为华质泰科生物技术（北京）有限公司。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 轻敲模式—Rtespa 300 Rtespa 300，适用于轻敲模式/TappingMode，适用于软硬适中的样品。Tap300：40N / m，300kHz，不对称针尖，铝反射涂层。 布鲁克生产的MPP系列探针，是高性能和高质量成像的AFM探针行业标杆，适用于各种各样的样品。10根一盒装硅探针，用于TappingMode和其他非接触模式，适用于各种AFM。新的Rtespa 系列探针，相较于传统的MPP，进行了技术改良及优化，拥有更好的成像：加工中控制的悬臂几何尺寸、锐利的针尖，减小了AFM最小可检测尺寸，更长的针尖减小挤压膜阻尼。 新的设计改进了以下几方面:?更严格的尺寸规格，以改善探针的一致性?针尖与悬臂的更紧密结合，使激光更容易定位?改进探针质量和外形?该探针适用于任何AFM，若需要无铝涂层，请选择RTESP-300。 详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在广泛的应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 我们的开尔文探针系统包括：□ 单点开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 扫描开尔文探针(大气环境及气氛控制环境)；□ 超高真空(UHV)开尔文探针；□ 湿度控制的腐蚀开尔文探针； 扫描开尔文探针系统 (ASKP) ASKP系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器；□ 24个月超长质保期； 仪器的特色□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受　　　　　　　　　　　　　　　样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation mode SM 实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signal UC 用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parameters DC 电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effects PP 平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode SA 信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection) WA 功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting DC 所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection Parameters QT 针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolution DE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software OC 输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuit FC 法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield) RS 金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample 额外选配项 SPV 表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware Package RH 相对湿度腔 Relative Humidity Chamber AC 控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas Inlet EDS 外部数据示波镜 External Digital Oscilloscope OPT 彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts ST 针尖置换 Replacement Tips GCT 镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement Tips XYZ 25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage 应用领域 吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学；

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面最顶部的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV业界最高分辨率的测试系统。 特点 ● 最高的功函/表面电势分辨率：1-3meV（2mm探针） ● 与压电系统相比采用音圈驱动具有很高的驱动噪声抑制 ● 过零信号检测系统极大的提高了分辨率，信噪比性能无与伦比 ● 测试和扫描时探针尖与样品的高度调节功能可得到稳定的、可靠的和重复的结果 ● 探针参数全部采用数字控制系统参数 ● 2mm and 50μm探针 ● 功函分辨率1-3meV（2mm探针），5-10meV（50μm探针，光学防震台） ● 手动高度控制（25.4mm KP 平移） ● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 过零信号检测系统抑制寄生电容 软件性能 ● 数字控制所有开尔文探针参数 ● 简单的信号优化设置过程 ● 快速测量模式用于跟踪实时功函变化(1000points/min at ~20meV分辨率) 选件 ● 样品加热器 Sample Heater ● 可升级至扫描系统 ● 可升级至RHC系统 ● 表面光电压模块SPV020 and SPS030 ● 镀金探针

硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。

导体材料电阻率测试仪GB/T 11073硅片径向电阻率变化的测量方法提要探针与试样压力分为小于0.3N及0.3 N¯ 0.8N两种。以下文件中的条款通过本标准的引用商成为本标准的条款。但凡注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括订正的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的新版本。但凡不注日期的引用文件，其新版本适用于本标准。GB/T 1552硅、储单晶电阻率测定直排四探针法样品台和操针架样品台和探针架应符合GB/T152 中的规定。样品台上应具有旋转360"的装置。其误差不大于士5"，测量装置测量装置的典型电路叉图1，范围本标准规定了用直排四探针测量硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的方法。本标准适用于测量直径大于15.9mm的由外延、扩散、离子注人到硅片表面上或表面下形成的薄层的平均薄层电阻。硅片基体导电类型与被测薄层相反。适用于测量厚度不小于0.2 μm的薄层，方块电阻的测量范围为10A-5000n.该方法也可适用于更高或更低照值方块电阻的测量，但其测量准确度尚未评估。使用直排四探针测量装置、使直流电流通过试样上两外探件，测量两内操针之间的电位差，引人与试样几何形软有关的修正因子，计算出薄层电阻。覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.

开尔文探针(Kelvin Probe)是一种非接触无损震荡电容装置，用于测量导体材料的功函数(Work Function)或半导体、绝缘表面的表面势(Surface Potential)。材料表面的功函数通常由最上层的1-3层原子或分子决定，所以开尔文探针是一种最灵敏的表面分析技术。 扫描开尔文探针系统 (SKP)：SKP5050系统是一款可以被大多数客户所接收的高端扫描开尔文探针系统，它是在SKP基础之上包括了彩色相机/TFT显示器、2毫米和50微米探针、外部数字示波镜等配置，其规格如下：□ 2毫米，50微米探针；□ 功函数分辨率 1-3 meV(2毫米针尖)，5-10 meV(50微米针尖)；□ 针尖到样品表面高度可以达到400纳米以内；□ 表面势和样品形貌3维地图；□ 探针扫描或样品扫描选配；□ 彩色相机、调焦镜头、TFT显示器和专业的光学固定装置；□ 参考样品(带相应的扫描开尔文探针系统的形貌)；□ 备用的针尖放大器； 仪器特色：□ 全球第一台商用的完全意义上的开尔文探针系统；□ 最高分辨率的功函数和表面势，最好的稳定性和数据重现性；□ 非零专利技术(Off-null,ON) ——ON信号探测系统在高信号水平下工作，与基于零信号原理(null-based,LIA)的系统相比，不会收到噪声的影响拥有高灵敏度；□ 高度调节专利技术 ——我们的仪器在测量和扫描时可以控制针尖的高度。因为功函数受样品形貌的影响，针尖与样品表面距离的调节意味着数据的高重现性且不会漂移；□ 该领域内，拥有最好的信噪比；□ 快速响应时间 ——测量速度在0.1-10秒间，远快于其他公司产品；□ 功能强的驱动器 ——选用Voice-coil(VC)驱动器，与通常的压电驱动器相比，VC驱动器频率要稳定得多、控制的针尖振幅大得多、支持平行多探针操作、支持不同直径探针操作；□ 所有开尔文探针参数的全数字控制；ON 非零探测 Off Null detection HR 高度调节模式 Height Regulation modeSM实际开尔文探针信号监控 Monitoring of the actual Kelvin probe signalUC用户通道，同时测量外部参数 User Channels, simultaneous measurement of external parametersDC电流探测系统去除漂移效应 Current Detection system rejects stray capacity effectsPP平行板震动模式 Ideal, Parallel Plate Oscillation ModeSA信号平均 Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)WA功函数平均 Work Function Averaging, Difference and Absolute reportingDC所有探针及探测参数的数字控制 Digital Control of all Probe and Detection ParametersQT针尖快速改变 Quick-change Tip, variable spatial resolutionDE 数据输出 Data Export to Excel, Origin, or 3rd party softwareOC输出通道 Output Channel: TTL switching of external circuitFC法拉第笼(电磁干扰防护罩) Faraday Cage (EMI Shield)RS金-铝参考样品 Gold-Aluminium Reference Sample额外选配项SPV表面光伏电压软硬件包 Surface Photovoltage Software and Hardware PackageRH相对湿度腔 Relative Humidity ChamberAC控制气体进口的环境单元 Ambient Cell for controlled Gas InletEDS外部数据示波镜 External Digital OscilloscopeOPT彩色相机 Color Camera, TFT Screen and Optical MountsST针尖置换 Replacement TipsGCT镀金的针尖替换 Gold Coated Replacement TipsXYZ25.4毫米手动3维控制台 3-axis 25.4 mm Manual Stage应用领域：吸附，电池系统，生物学和生物技术，催化作用，电荷分析，涂层，腐蚀，沉积，偶极层形成，显示技术，教育，光/热散发，费米级扫描，燃料电池，离子化，MEMs，金属，微电子，纳米技术，Oleds，相转变，感光染色，光伏谱学，高分子半导体，焦热电，半导体，传感器，皮肤，太阳能电池，表面污染，表面化学，表面光伏，表面势，表面物理，薄膜，真空研究，功函数工程学； 参考用户：吉林大学、哈工大、大连理工大学、湖南大学、浙江大学、复旦大学、华中科技大学、华南理工大学、合肥工大、中科院纳米中心、中科院理化所、中科院高能所等...