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偏振能量色散射线荧光光谱仪

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偏振能量色散射线荧光光谱仪相关的耗材

  • 激光谱线高能量偏振立方分光镜
    激光谱线高能量偏振立方分光镜Laser Line High Energy Polarizing Cube Beamsplitters接触式接合,可提高损伤阈值P偏振光的透射率大于96%高消光比,比率大于1,000:1通用规格消光比:1000:1表面平整度:λ/6Damage Threshold, Pulsed:Typical: 20 J/cm2@ 1064nm 10ns, 20Hz基底:Fused Silica构造 :Cube表面质量:40-20有效孔径 (%):90激光谱线高能量偏振立方分光镜是一款易于安装,高对比度的分光镜,可替代布鲁斯特窗口片。激光谱线高功率偏振立方体分光镜具有高于 96% 的 p 偏振光透射率,以及 λ/6 的表面平整度,以最大限度减少波前畸变。 为提高激光损伤阈值,这款分光镜通过接触式UV熔融石英直角棱镜构成,而不是使用普通胶合。激光谱线高能量偏振立方分光镜适用于多种常规Nd:YAG激光波长。尺寸(mm)波长范围(nm)DWL(nm)产品编码12.7 x 12.7 x 12.7345 - 365355#88-23212.7 x 12.7 x 12.7510 - 550532#88-23312.7 x 12.7 x 12.71020 - 10901064#88-23425.4 x 25.4 x 25.4345 - 365355#33-31725.4 x 25.4 x 25.4510 - 550532#33-31825.4 x 25.4 x 25.41020 - 10901064#33-319
  • X射线荧光光谱仪样品薄膜-3025#
    质量保证正品、XRF样品薄膜、Chemplex、X射线荧光光谱仪、X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3025#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。XRF样品薄膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,薄膜样本支撑窗,XRF样本薄膜,XRF样品膜,X-ray样品薄膜,ROHS检测专用薄膜,迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜,是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3025产品信息:Etnom® ,厚度3.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 有方形托架的圆片:3025 Etnom® 3.0 μ 0.00012” 0.12mil 0.00305 mm 2.5”(63.5mm) 100片
  • X射线荧光光谱仪样品杯盒1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • EDXRF光谱仪配件
    EDXRF光谱仪配件采用最新的X射线探测器和分析技术,提供无以伦比的高速和高精度测量方案。EDXRF光谱仪配件具有紧凑的结构尺寸,可移动的样品台(XYZ样品台)和强大的光学系统,提供了超高的测量精度,非常适合珠宝行业,精密冶金的科研测量需求,适合各种固体或液体样品测量。EDXRF光谱仪配件特色广泛的应用:珠宝,考古,艺术品收藏, 刑侦, 陶瓷, 冶金,材料科学等强大的软件:独特而功能强大的软件可对所有标准元素和未知元素进行定量测量,并具有优异的测量精度。多功能化灵巧设计:提供台式仪器所有具有的最大样品室,560x720mm。可用于大型尺寸样品的分析。超快的测量速度:模块化的机械和人体工程学用户界面的软件可大大提供测量速度。是定量测量的理想工具:实时采集数据,计算各个测量的标准偏差,软件可以确定分析时间和采样程序,用于质量控制,比如生产中的3-σ测量。EDXRF光谱仪配件特点* 50KV,25W X射线管* 电动XYZ位移台,一键自动操作* 优化几何设计快速分析,精确统计测量;* 超大样品室* 视频相机辅助分析* 强大的操作软件X射线荧光光谱仪产品优势* 快速,无损定量分析Al-U所有的元素;* 测量未知样品;* 简单操作,快捷实用;* 辨认有害材料;* 定量控制制造过程能量色散X射线光谱仪又称为EDXRF光谱仪,是X射线荧光光谱仪的一种,是高速高精度测量的首选。
  • X射线荧光光谱仪样品杯2144#
    美国Chemplex样品杯XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型:XRF样品杯Sample Cups品牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国一、产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z、Xlt794、Xlt898;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。)三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3120 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 : 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3115 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 : 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:1330 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 : 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100
  • X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品3012#
    迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-3012#一、美国Chemplex XRF样品膜: 品名:XRF样品膜Sample Film 型号:所有型号CAT. NO(欢迎来电索取产品目录) 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。美国Chemplex Industries有限公司 从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE 测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性 ,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度(直径) 数量/盒有方形托架的圆片:3011 Mylar?迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254 mm 2.5”(63.5mm) 100片3012 Mylar?迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • Altechna 高能量格兰激光偏振片
    高能量格兰激光偏振片材质α-BBO, Calcite or YVO4通光孔径90%表面质量20-10 S-D透射波前畸变(TWD)光束偏差波长范围α-BBO: 200-350 nm, 300-700 nm, 700-3000 nmCalcite: 350-2300 nmYVO4: 500-4000 nm高能量Glan激光偏振器从非偏振输入产生线性偏振光,由更高等级的方解石制成。其入口和出口表面采用深度研磨和抛光技术抛光,以尽量减少表面散射。偏振器有两个逃逸窗口,允许双向使用,而拒绝光束被引导到外部光束射束。1)用于可见或近红外波长的宽带高功率偏振器2)空气间隔3)接近Brewster的角度切割4)高极化纯度5)短的长度6)双腔室内使用的逃生窗口Altechna在标准,定制或客户提供的光学器件上提供各种高性能光学镀膜。我们的涂料覆盖从深紫外(193纳米)到远红外(25微米)的波长范围,涂层的zui大部分是在波长范围内zui常见的266纳米到2微米的激光和照明光源。我们根据个人要求提供一套标准和定制涂料:?防反射涂层?高反射涂层?分束器涂层?部分反射涂层?偏光片涂层?过滤涂料?超快GDD补偿涂层?Gires-Tournois干涉镜(GTI)?可变反射镜?金属涂层在Altechna,我们的目标是以zui高的标准为不断增长的光子市场提供高损伤阈值,高质量涂层。每个涂层都是特殊的,多年来在光电领域,我们了解到灵活性是满足客户高要求的关键,因此我们的涂层采用不同的技术,分别选择不同的涂层。这里是我们在Altechna提供的涂层技术列表:?电子束蒸发?离子辅助沉积?离子束溅射?磁控溅射每种技术都是不同的,并根据光谱灵敏度,损伤阈值,硬度,表面质量等的要求使用。电子束蒸发离子辅助沉积离子束溅射磁控管溅射沉积速率10 ?/sec~10 ?/sec~3 ?/sec1-6 ?/sec每次涂布面积3000 cm23000 cm2500 cm22000 cm2导热系数LowMediumHighHigh涂层温度范围200 - 300°C20 - 100°C20 - 150°C20-100°C层数1-50~50200Up to 200密度和孔隙度PorousDenseNear bulkNear bulk粘连/耐久性LowGoodExcellentExcellent湿度敏感性YesYes, smallNoNo老化影响YesYes, smallNoNo内在应力~ 100MPaFew 100MPaFew 100 MPa消光比材料视场角,度CA, a, mmL+/-0,1, mm波长,nmOD, d, mm产品编号a-BBO6.010.031.0200 - 35025.42-GL-2235-2a-BBO6.015.038.6200 - 35030.02-GL-2235-4a-BBO6.020.048.9200 - 35038.02-GL-2235-5a-BBO6.08.025.0300 - 70025.42-GL-3570-1a-BBO6.020.043.6300 - 70038.02-GL-3570-5a-BBO6.015.033.4700 - 300030.02-GL-7030-4a-BBO6.08.024.7700 - 300025.42-GL-7030-1YVO46.510.022.5500 - 400025.42-GL-5040-2Calcite7.715.033.3350 - 230030.02-GL-3522-4a-BBO6.015.033.4300 - 70030.02-GL-3570-4YVO46.58.019.0500 - 400025.42-GL-5040-1Calcite7.712.727.5350 - 230025.42-GL-3522-3a-BBO6.010.025.0300 - 70025.42-GL-3570-2a-BBO6.012.731.5200 - 35025.42-GL-2235-3Calcite7.720.042.3350 - 230038.02-GL-3522-5a-BBO6.020.043.6700 - 300038.02-GL-7030-5Calcite7.78.024.5350 - 230025.42-GL-3522-1a-BBO6.08.031.0200 - 35025.42-GL-2235-1a-BBO6.010.025.9700 - 300025.42-GL-7030-2Calcite7.710.026.2350 - 230025.42-GL-3522-2定制你可以根据您的需求定制这个产品。如果您没有找到适合您的应用,请与我们联系,以便定制解决方案。
  • 美国X射线荧光光谱仪杯SC-7332
    XRF样品测试杯规格、适用于牛津仪器、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-7332 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 规格:双开端口特点:进动铝 配套套筒可兼容O型环地位标签CatalogNoOD(mm)ID(mm)H(mm)V(ml)SC-7332323038.518
  • 光腔衰荡低色散高反射镜片,激光反射镜 3000-3500nm
    总览激光反射镜: 熔融石英 ( 红外) | pl-凹面 | Ø=25. 0(- 0. 1) mm | te=6. 35( ± 0. 10) mm | // 5min S1: Øe21 | 3/ 0. 2( 0. 2) [ L/ 10] | 5/ 1x0. 04 L1x0. 004 | 倒角 0. 3 减反射( 0° , 3000- 3500nm)0. 25% S2( ^): r=5000mm( ± 2%) CC | Øe21 | 3/-( 0. 5) [ L/ 4 reg.] | 5/ 1x0. 04 L1x0. 004 | 倒角 0. 3 Øe10 | 5/ 1x0. 016高反射( 0° , 3000- 3500nm) 99. 7% (低色散) T( 0° , 3250nm) ~0. 02%技术参数 产品名称111798类别激光反射镜激光器类别低散射激光镜片涂覆层材料(下面)114592涂覆层材料(背面)134671光学参数材质红外硅302形状圆形直径(Ø)25 mm (-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)平行度5ʹ 光学参数正面(S2)光学参数背面 (S1)形状凹面形状平面曲率半径5,000 mm(±2 %)测试区 Øe21倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm(±0.1 mm)测试区 Øe21曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/1x0.04 L1x0.004清洁度 5/1x0.04 L1x0.004内部测试区 Øe10 清洁度 5/1x0.016涂覆层规格 正面 (S2) (115246)涂覆层规格 背面 (S1) (126133)1st 工作范围 部分反射(0°,3000-3500nm)99.7%1st 工作范围 减反射(0°,3000-3500nm)0.25%类别 部分反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 3000 - 3500 nm高反射 99.7 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围3000-3500nmAR / HT 0.25 %2nd工作范围 T(0°,3150nm)~0.015%类别 透射率偏振 unpol.入射角 0°波长范围 3150nmT ~ 0.015 %
  • X射线荧光光谱仪样品杯
    X射线荧光光谱仪样品杯日本岛津shimadzu样品杯样品膜、牛津仪器Oxford样品杯样品膜、斯派克Spectro样品杯样品膜、布鲁克Bruker样品杯样品膜、日本精工SII样品杯样品膜、日本电子JEOL样品杯样品膜、日本理学Rigaku样品杯样品膜、日本堀场Horiba样品杯样品膜、热电Thermo样品杯样品膜、帕纳科Panalytical样品杯样品膜、尼通Niton样品杯样品膜、伊诺斯Innox-X样品杯样品膜。XRF样品杯、X-ray样品杯、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯、X-ray Cups品名:XRF样品杯Sample Cups型号:所有型号CAT. NO(欢迎来电索取产品目录)品牌:美国Chemplex(原装进口)货期:现货起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。二、Chemplex样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。XRF样品杯目录:1、产品系列:1000系列:带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯;1300系列:带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯;1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯;1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯;1545系列:适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯;1700系列:带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯;1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯;1080,1085,1850系列:带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。2、目录编号CAT.NO:目录编号CAT.NO: 外部直径 最大外部直径 高度 孔径 容量 个/包1060: 1.23”(31.2mm) / 0.93”(23.6mm) 0.96”(24.4mm) 9mL 1001065 : 1.23”(31.2mm) / 0.93”(23.6mm) 0.96”(24.4mm) 8mL 1001070 : 1.52”(38.6mm) / 0.90”(22.9mm) 1.19”(30.2mm) 13mL 1001075 : 1.51”(38.4mm) / 0.90”(22.9mm) 1.21”(30.7mm) 13mL 1001080 : 1.69”(42.9mm) 1.84”(46.7mm) 0.80”(20.3mm) 1.43”(36.3mm) 15mL 1001083 : 1.69”(42.9mm) 1.84”(46.7mm) 0.73”(18.5mm) 1.43”(36.3mm) 12mL 1001085 : 1.69”(42.9mm) 1.84”46.7mm) 0.80”(20.3mm) 1.43”(36.3mm) 12mL 1001095 : 1.71”(43.4mm) 1.77”(45.0mm) 1.57”(39.9mm) 1.50”(38.1mm) 30mL 1001330 : 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 1001330-SE: 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 1001340 : 1.54”(39.1mm) / 0.91”(23.1mm) 1.26”(32.0mm) 12mL 1001430 : 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 1001430-SE: 1.22”(31.0m) / 0.88”(22.4mm) 0.97”(24.6mm) 9mL 1001440 : 1.55”(39.4mm) / 0.88”(22.3mm) 1.27”(32.3mm) 15mL 1001440L: 1.55”(39.4mm) / 1.38”(35.1mm) 1.28”(32.5mm) 25mL 1001530 : 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 1001530-SE: 1.22”(31.0mm) / 0.91”(23.1mm) 0.94”(23.9mm) 9mL 1001540 : 1.55”(39.4mm) / 0.91”(23.1mm) 1.22”(31.0mm) 16mL 1001630杯盖: 32mm 配1530样品杯 / / / 1001640杯盖 : 40mm 配1540样品杯 / / / 1001730 : 1.21”(30.7mm) / 0.91”(23.1mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 1001730-SE: 1.21”(30.7mm) / 0.91”(23.1mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 1001740 : 1.54”(39.1mm / 0.93”(23.6mm) 1.26”(32.0mm) 11mL 1001830 : 1.22”(31.0mm) / 0.87”(22.1mm) 0.96”(24.4mm) 7mL 1001830-SE: 1.22”(31.0mm) / 0.87”(22.1mm) 0.96”(24.4mm) 7mL 1001840 : 1.54”(39.1mm) / 0.93”(23.6mm) 1.25”(31.8mm) 12mL 1001850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 1001930 : 1.23”(31.2mm) / 0.84”(21.3mm) 0.96”(24.4mm) 8mL 1001930-SE: 1.23”(31.2mm) / 0.84”(21.3mm) 0.96”(24.4mm) 8mL 1001940 : 1.55”(39.4mm) / 0.84”(21.3mm) 1.27”(32.3mm) 15mL 1001940L: 1.55”(39.4mm) / 1.39”(35.3mm) 1.27”(32.3mm) 25mL 1001935-OX: 1.23”(31.2mm) / 1.51”(38.4mm) 1.16”(29.5mm) 17mL 1002132: 1.24” (31.5mm) 1.36” (34.5mm) 1.15” (29.2mm) 1.04” (26.4mm) 9mL 1002135: 1.35” (34.3mm) 1.46” (37.1mm) 1.17” (29.7mm) 1.10” (27.9mm) 11mL 1002140: 1.58” (40.1mm) 1.75” (44.5mm) 1.17” (29.7mm) 1.38” (35.0mm) 19mL 1002143: 1.58” (40.1mm) 1.62” (41.1mm) 1.17” (29.7mm) 1.38” (35.0mm) 19mL 1002144: 1.58” (40.1mm) 1.62” (41.1mm) 1.33” (33.8mm) 1.38” (35.0mm) 19mL 1002145: 1.76” (44.7mm) 1.86” (47.2mm) 1.16” (29.5mm) 1.57” (39.9mm) 22mL 1002146: 1.76” (44.7mm) 1.86” (47.2mm) 1.32” (33.5mm) 1.57” (39.9mm) 22mL 1002195: 1.71” (43.4mm) 1.77” (45.0mm) 1.56” (39.6mm) 1.50” (38.1mm) 22mL 1003106: 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm ) / 0.2mL 1003110 : 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 0.5mL 1003115 : 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 1003120 : 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100
  • X射线荧光光谱消耗品 样品杯
    X射线荧光光谱消耗品XRF样品杯Double Open-End CupsClosed End CupsXRF样品杯薄膜XRF配件Cup Press PlatesCup Positioning GuidesSample Cup TraysPellet Caps For XRF Analysis of Powders
  • X射线荧光光谱分析膜TF-160#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#(SKY-160) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-160# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴
  • X射线荧光光谱仪样品杯-2144#
    美国Chemplex XRF样品杯、X射线荧光光谱仪样品杯(适用布鲁克s8)-2144#美国Chemplex XRF样品杯: 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO2144 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:部分有现货 起订量:1包以上(100个/包)。 日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。XRF样品杯目录: 1000系列:带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯; 1300系列:带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯; 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; 1500系列:带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯; 1545系列:适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯; 1700系列:带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯; 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; 1080,1085,1850系列:带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。 目录编号CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包2144 : 1.58” (40.1mm) 1.62” (41.1mm) 1.33” (33.8mm) 1.38” (35.0mm) 19mL 100
  • 超快薄膜偏振片
    超快薄膜偏振片1.适用于钛:蓝宝石和镱掺杂激光器2.高达0.3 J / cm2 @ 200 fs @ 800nm损伤阈值3.优化分散S和P的最小色散超快薄膜偏振片采用薄膜涂层技术,可在近红外波长范围内实现zui佳性能。这些偏振器具有高损伤阈值,非常适用于高功率激光器,包括Ti:蓝宝石和掺镱激光源。透射偏振器可在偏振器的两侧具有偏振涂层,而反射偏振器由输入面上的偏振涂层和输出面上的抗反射涂层组成。订购信息消声系数对比度波长范围 (nm)透射率 (%)20:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts#88-23560:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-23620:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts#88-23760:1Rs:Rp60:1980 - 1090-#88-238技术数据
  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
  • TF-160#(SKY-160)X射线荧光光谱分析膜
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#(SKY-160) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-160# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴
  • 手动偏振附件
    适用于HITACHI(日立)、Horiba JY 荧光光谱仪用于荧光偏振的测量,配置激发侧和发射侧偏振片,波长范围可选择,230-850nm或380-750nm
  • 800nm 高色散超快反射镜
    800nm 高色散超快反射镜780 - 830nm下的反射率 99.8% ( P 偏振)5° AOI下的群延迟色散为 -1300fs2适用于 Ti:sapphire 超快激光器的脉冲压缩超快啁啾镀膜800nm 高色散超快反射镜具有基于色散光干涉的优化多层镀膜,具有低群延迟色散 (GDD) 和高反射率的特点。在 5°设计入射角 (AOI) 下, 这些反射镜的 GDD 为 -1300 fs2且 P 偏振的最低反射率为 99.8%. 这些超快反射镜的高色散设计能控制三阶和更高阶的色散,并提供较高的光束稳定性。800nm 高色散超快反射镜适用于 Ti:sapphire 激光器等超快脉冲的脉冲压缩和色散补偿。标准英制尺寸,并采用熔融石英基片,具有10-5 表面质量和λ/10 表面平整度。通用规格设计波长 DWL (nm):800入射角 (°):5波长范围 (nm):780 - 830DWL时的反射 (%) :99.9% (typical, p-polarization)厚度 (mm):6.35 ±0.2镀膜类型:Dielectric基底:Fused Silica涂层规格:Ravg99.8%, GDD = -1300 fs2@ 780 - 830nm (p-polarization)Rabs99.9% @ 800nm (typical, p-polarization)GDD Specification:-1300fs2@ 780 - 830nm有效孔径 (%):80后表面:Commercial Polish涂层:Ultrafast (780-830nm)表面质量:10-5Wedge (arcmin):10 ±5Irregularity (P-V) @632.8nm:λ/10Minimum Reflectivity :99.8% @780 - 830nm (p-polarization)产品信息Dia. (mm)产品编码12.70#12-33025.40#12-331技术数据:
  • 厚度12.0μ m射线荧光膜-3024#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3024产品信息:Polypropylene聚丙烯,厚度12.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。XRF样品薄膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,薄膜样本支撑窗,XRF样本薄膜,XRF样品膜,X-ray样品薄膜,ROHS检测专用薄膜,迈拉膜、麦拉膜、 RoHS/WEEE优质拉伸膜,是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在XRF样本杯内的物质。有方形托架的圆片:3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • ANOW PM2.5重金属XRF在线监测PTFE卷膜
    环境空气在线监测用PTFE卷膜这种PTFE卷膜为疏水、带支撑型,具有高流速的同时对颗粒物具有高的截留率,保证了分析结果的准确性。适用于环境PM2.5中重金属的分析(XRF法)、放射性α和β粒子在线监测等。产品特点疏水性滤膜、吸湿性低带支撑设计,抗拉强度大流速快、截留率高执行标准HJ 829-2017 环境空气 颗粒物无机元素的测定 能量色散X射线荧光光谱法技术参数滤膜疏水PTFE(带支撑)孔径1μm、3μm、5μm、10μm颜色白色表面平整尺寸卷芯内径 宽度 长度40mm30mm20m注:可定制其他尺寸
  • 飞秒激光偏振片
    飞秒激光偏振片,皮秒激光偏振片,激光偏振片由孚光精仪进口,孚光精仪公司是中国规模最大的进口光学器件和仪器供应商!精通光学,服务科学,欢迎垂询。飞秒激光偏振片专业用于飞秒激光。优化的工作角度入射角是70-74度之间。该飞秒激光偏振片透过p光而反射s光。适合高功率激光或高能量激光应用,适合内腔和外腔应用。透射型激光偏振片:偏振片两面偏振镀膜,P光透过率可优化达到Tp94% 或最佳的偏振比Tp:Ts20:1反射型激光偏振片:仅在偏振片入射面上偏振镀膜,出射面上p光s光增透镀膜。经过优化Rs98% 或者偏振比高达Rs:Rp60:1.特点:1)飞秒激光偏振片非常适合飞秒激光应用,具有低的GVD 2)皮秒激光偏振片具有宽的工作波段,有效分开s和p光飞秒激光偏振片标准参数 材料:UVFS直径公差:+0.0/-0.12mm厚度公差: +/-0.2mm净孔径: 90%表面质量:20-10 scratch&dig表面平整度:Lambda/10 @633nm平行度:消光比Tp/Ts: 200:1入射角:72度激光损伤阈值:5J/cm210ns 1064nm现有产品:750-850nm 和 980-1090nm各种消光比的透射型和反射型薄膜偏振片。中国领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 2μ m 高色散宽带超快反射镜
    2μm 高色散宽带超快反射镜?2000 - 2200nm 之间的反射率 99.9%?5° AOI下的GDD 为 -1000fs2?适用于 2μm 高色散宽带超快反射镜设计用于钬 (Tm) 和铥 (Ho) 激光器的脉冲压缩,以及腔内色散补偿. 这些反射镜在 5° 入射角 (AOI) 下具有 -1000fs2的高负群延迟色散 (GDD), 允许脉冲压缩 99.9% (P-偏振), juedui反射率达到 99.95% 以上. 由于优良的光谱性能、低损耗和可靠的 GDD,2μm 高色散宽带超快反射镜特别适用于 2μm 薄型激光振荡器.这些高色散反射镜有 12.7mm 和 25.4mm 两种标准尺寸,非常适合集成到飞秒激光系统中.通用规格设计波长 DWL (nm):2000入射角 (°):5厚度 (mm):6.35 ±0.01镀膜类型:Chirped Ultrafast (2000-2200nm)反射率 (Rp%):99.9后表面:Commercial Polish平行度(弧分):10典型应用:Thulium and Holmium Lasers波长范围 (nm):2000 - 2200DWL时的反射 (%) :99.95基底:Fused Silica涂层规格:Ravg 99.9% @ 2000 - 2200nm (p-polarization)平均群延迟色散 (fs2):-1000 (p-polarization)有效孔径 (%):80表面质量:10-5Irregularity (P-V) @ 632.8nm:λ/10订购信息:Dia. (mm)产品号12.70#11-41325.40#11-414技术数据:
  • XRF样品杯、射线荧光样品器1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • 2μm 高色散宽带超快反射镜
    2μm 高色散宽带超快反射镜?2000 - 2200nm 之间的反射率 99.9%?5° AOI下的GDD 为 -1000fs2?适用于 ?宽带超快啁啾镀膜通用规格表面质量:10-5典型应用:Thulium and Holmium Lasers平行度(弧分):10有效孔径 (%):80后表面:Commercial Polish反射率 (Rp%):99.9涂层规格:Ravg99.9% @ 2000 - 2200nm (p-polarization)GDD Specification:-1000fs2@ 2000 - 2200nm (p-polarization)波长范围 (nm):2000 - 2200镀膜类型:Dielectric涂层:Chirped Ultrafast (2000-2200nm)设计波长 DWL (nm):2000厚度 (mm):6.35 ±0.01入射角 (°):5基底:Fused Silica产品介绍2μm 高色散宽带超快反射镜采用超快啁啾镀膜,并设计用于钬 (Tm) 和铥 (Ho) 激光器的脉冲压缩,以及腔内色散补偿。这些反射镜在 5° 入射角 (AOI) 下具有 -1000fs2的高负群延迟色散 (GDD), 允许脉冲压缩 99.9% (P-偏振), 绝对反射率达到 99.95% 以上. 由于优良的光谱性能、低损耗和可靠的 GDD,2μm 高色散宽带超快反射镜特别适用于 2μm 薄型激光振荡器.这些高色散反射镜有 12.7mm 和 25.4mm 两种标准尺寸,非常适合集成到飞秒激光系统中.技术数据产品信息Dia. (mm)产品编码12.70#11-41325.40#11-414
  • 金属线栅偏振分光镜
    金属线栅偏振分光镜(1)即使在大入射角范围内依旧可实现高对比度(2)即使在大入射角范围内依旧可实现低颜色转移(3)非准直光源应用的理想之选金属线栅偏振分光镜专为使用非准直光源(例如宽带白光源)的应用而设。金属线栅偏振分光镜中包含了一款金属线栅偏振片,胶合在两个精确高容差直角棱镜之间。分光镜的每一面均涂上了一层增透膜,在每个表面上提供低于0.5%的平均反射率。此外,这些分光镜可在400-700nm的光谱范围和±25°的大圆锥角维持其对比度。Contrast (typical)WavelengthIncident Cone of Light±5°±10°±15°±20°±25°400 - 500nm2,100:12,000:11,600:11,400:11,100:1500 - 600nm4,000:13,900:12,900:12,600:11,900:1600 - 700nm6,000:15,500:14,200:13,800:12,500:1效率 (Tp*Rs)尺寸 (mm)产品号≥65% for a ±25° cone of light10.0 x 10.0 x 10.0#36-059≥65% for a ±25° cone of light20.0 x 20.0 x 20.0#36-060≥65% for a ±25° cone of light25.4 x 25.4 x 25.4#89-604
  • 色散棱镜
    色散棱镜用于将光束分离成不同分量波长,或将色散添加到系统中。 通常以最小偏差角度使用,使得入射角和出射角相等,棱镜放大倍数为1,反射损耗低。 色散棱镜用高品质表面抛光的N-BK7,紫外级熔融石英,N-F2和Suprasil 1等材料,适合高功率使用。 等边棱镜具有更多的分散性, 等腰棱镜具有更好的p偏振透射。可以定制尺寸,材料和涂层。 Pellin Broca棱镜用于90°的波长分离。 将单波长相对于输入光束偏离90°,多波长偏离90°左右。表面质量10-5,通光孔径大于85%。损伤阈值15 J/cm2, 20 nsec, 20 Hz @ 1064 nm,面形精度λ/10 p-v at 633 nm ,角度误差:α: ±30 arc min,β: ±2°。
  • LN2探测器
    LN2探测器是美国进口的高性能固态能量色散X射线能谱仪探测器。 SiLi探测器可用于所有应用,也可用于特殊的多元件设计。低能量响应LN2探测器提供优异的轻元素X射线响应。 低能x射线在硅中不会渗透很远,因此大多数事件发生得非常接近晶体的前接触,其中电荷的分数容易损失。 这可能导致峰值变宽,拖尾甚至能量转换。 ILN2探测器特殊前接触技术对于最小化这些影响至关重要,从而获得了卓越的光谱性能,直到铍K X射线。最终,在光谱低能量端的X射线检测器的效率取决于入口窗口的选择。 IXRF提供全面的检测器窗口,以适应所有应用。高能量响应诸如X射线荧光(XRF)的应用通常在宽范围的能量下需要良好的光谱响应。 IXRF系统的Si(Li)晶体可根据应用使用不同的有源厚度。 在更高的X射线能量下,更深的晶体更有效。 IXRF的Si(Li)晶体即使在高能量下也保持了优异的背景峰值和低尾部性能。SiLi探测器的典型规格有效面积(mm2)10305080分辨率[MnKa](eV)127133139148峰值:背景20000:120000:115000:110000:1
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