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半导体晶片霍尔效应测试仪

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半导体晶片霍尔效应测试仪相关的耗材

  • PFA 花篮酸洗蚀刻6寸半导体晶圆测试配件
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是 用途:清洗 别名:花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 少子寿命测试仪
    少子寿命测试仪性能参数? 测量原理 QSSPC(准稳态光电导) 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式:QSSPC,瞬态,寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围:1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm (或更小尺寸) 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器:200W 光源:60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户? 江苏,上海,北京,浙江,西安,四川,河北,河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称:硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 :杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期:2010年11月16日 四、本项目公告日期: 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位: 硅片少子寿命测试系统(z9264):上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪,不仅适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s,硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控,少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况,是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子,即少数载流子,是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。   半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数,导电中起到次要作用,则称它为少子。如,在 N型半导体中,空穴是少数载流子,电子是多数载流子;在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。   多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子,当它顶替晶格中的四价硅原子时,每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合,而余下的一个就不受共价键束缚,它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子,因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子,尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子,但它束缚在晶格中,不能象载流子那样起导电作用。这样,与本征激发浓度相比,N型半导体中自由电子浓度大大增加了,而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大,其浓度反而更小了。  少子浓度主要由本征激发决定,所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。   太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。   少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法(ASTM国际标准-1535)的测试原理,提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试,主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒,硅片的出厂、进厂检查,生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域,少子寿命将直接关系到成品电池的效率,是必备的检测手段。   少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度,即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数,它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响,可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。   少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法(SEMI国际标准-1535)的测试原理,即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子,再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化,从而计算出少子寿命值,为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级,分辨率达1%,测试结果准确性好、重复性高,完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点:   适应低电阻率样片的测试需要,最小样品电阻率可达0.1ohmcm   全自动操作及数据处理   对太阳能级硅片,测试前一般不需钝化处理   能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭   可以选择测试样品上任意位置   能提供专利的表面化学钝化处理方法   对各道工序的样品均可进行质量监控:   硅棒、切片的出厂、进厂检查   扩散后的硅片   表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题: WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导)而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理? WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance(QSSPC准稳态光电导) 准稳态光电导衰减法(QSSPC)和微波光电导衰减法(MWPCD)的比较? QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量,同时可以结合 SRH模型,得出各种复合寿命,如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号,而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值,MWPCD在加偏置光的情况下,结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线,而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度,因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线,并且得到PN结的暗饱和电流密度;MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个,甚至更小的尺寸,在照射过程中,只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子,也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值,这对于寿命分布不均匀的样品来说,结果并不具备代表性。
  • 硅片PFA花篮6寸导电玻璃清洗架晶圆盒半导体
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是用途:清洗别名:花篮、承载篮用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 硅片PFA花篮4寸导电玻璃清洗架晶圆盒半导体
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是用途:清洗别名:花篮、承载篮用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 半导体致冷器
    半导体致冷器(TE)也叫热电致冷器,是一种热泵,它的优点是没有滑动部件,应用在一些空间受到限制,可靠性要求高,无致冷剂污染的场合。半导体致冷器的工作运转是用直流电流,它既可致冷又可加热,通过改变直流电流的极性来决定在同一致冷器上实现致冷或加热,这个效果的产生就是通过热电的原理。 半导体致冷器是利用半导体材料的珀尔帖效应制成的。所谓珀尔帖效应,是指当直流电流通过两种半导体材料组成的电偶时,其一端吸热,一端放热的现象。重掺杂的N型和P型的碲化铋主要用作TEC的半导体材料,碲化铋元件采用电串联,并且是并行发热。TEC包括一些P型和N型对(组),它们通过电极连在一起,并且夹在两个陶瓷电极之间;TEC组件每一侧的陶瓷电极的作用是防止由TEC电路引起的激光器管芯的短路;TEC的控制温度可达30℃-40℃,当有电流从TEC流过时,电流产生的热量会从TEC的一侧传到另一侧,在TEC上产生&Prime 热&Prime 侧和&Prime 冷&Prime 侧,这就是TEC的加热与致冷原理。是致冷还是加热,以及致冷、加热的速率,由通过它的电流方向和大小来决定。在实际应用中,TEC通常安装在热沉和组件外壳之间。其冷侧与激光器芯接触,起到致冷作用,它的热侧与散热片接触,把热量散到外部去,这也只是一种最普遍的情况。在对激光器工作温度的稳定性要求较高的场所,一般都采用双向温控,即在常温和高温时对激光器制冷,在低温环境中则制热;半导体致冷器在电流方向逆转时,原来的冷端和热端的位置就互换;则贴近激光器芯的一则就变成了热端,对激光器芯加热。
  • MPI半导体晶圆测试配件FCB Prober Card探卡
    产品概要:FCB探头卡是成熟的探头卡技术,其目的是实现半导体船舶制造上市时间(TTM)和测试成本(COT)需求。基本信息:FCB是一种解决方案,适用于早期的各种半导体生产测试,工程试验运行到大批量制造(HVM)。FCB适用于需要高信号完整性探测(Sl)或电源设备的完整性探测(PI)。技术优势:1、技术成熟2、很好的满足测试需求应用方向:应用包括尖端SiPs/SOC、WLP、图形处理器、微处理器、工业微控制器等。
  • PFA cassette4寸6寸花篮半导体硅片承载架配荣耀设备用晶圆盒8寸
    材料:PFA或四氟品牌:南京滨正红型号:NJ-ZH尺寸:2、3、4、5、6寸等用途:清洗 别名:花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花篮、太阳能硅片花篮_太阳能硅片承载器、光伏电池片花篮、光伏硅片花篮,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片. 目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮聚四氟花篮
  • PFA/fep试剂瓶取样瓶硅材新材料半导体用南京瑞尼克现货30ml60ml100ml
    PFA瓶电子半导体行业净化瓶应用于高纯水 电子纯试剂 光刻胶 硅晶片洗液 电子级清洗剂 液晶液 电路板洗液等等的取样
  • 南京瑞尼克聚四氟乙烯花篮定制4英寸可加工半导体用刻蚀晶圆片花篮清洗架
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是 用途:清洗 别名:花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 韩国SAEBYUL酒精测试仪
    韩国SAEBYUL酒精测试仪 型  号: CA2000 品  牌: 进口 价  格: 850 基本货期: 韩国SAEBYUL酒精测试仪CA2000主要技术指标: 可以准确探测气体酒精含量,且不受烟味、可乐、咖啡等非酒精类气体的干扰 韩国SAEBYUL酒精测试仪CA2000详细技术指标: CA2000酒精测试仪简介 CA2000是一种高可靠、高精度、呼吸式酒精检测仪,获美国DOT认证。CA2000核心部件采用新型高科技微变氧化物半导体,可以准确探测气体酒精含量,且不受烟味、可乐、咖啡等非酒精类气体的干扰。CA2000小巧轻便,操作简单,是便携应用的最佳选择。 显  示 三位数字显示(x.xx %BAC/BRAC) 检测范围 0.00~0.40%BAC或0.00~2.00%BRAC 检测精度 ± 0.01%(0.01BAC)或± 0.05mg/liter(0.50 BRAC) 恢复时间 30秒 预热时间 20秒 感应时间 5秒 功耗极低 一块9伏方电池可检测300次以上。 字符明亮 红色LED显示数据,夜间清晰可见。 声音报警 酒精含量超限时,蜂鸣器自动报警。 外部电源 12VDC适配器 尺寸重量 120× 60× 25(mm)、135g(含电池) 外  壳 防震注塑外壳 标准配置 主机、5只吹口、9V碱性电池、DC适配器、使用说明书、仪器盒、便携包 备  注 可外配接打印机(订货时注明) CA2000酒精测试仪操作方法: 按下电源开关,仪器进行内部自检和预热,显示从200到000的倒计时,历时20秒。 倒计时结束发出声音提示,同时绿灯变亮,表示仪器正常,可开始检测。 对准进气孔吹气5秒左右,若检测到酒精,蜂鸣器报警,红、绿灯同时闪烁。再过4秒, 显示浓度数据,若浓度在0.00和0.05之间,仅绿灯闪烁;若大于等于0.05,仅红灯闪烁,并伴有急促的声音报警。浓度数据保持15秒后仪器显示变为OFF。 若从吹气中没有检测到酒精或开机后30秒内不做任何检测,仪器显示从000变为OFF。 当仪器显示OFF时,必须关机才能重新开始测量。 酒精测试仪注意事项: ◆ 禁止往气孔内吹烟雾。气孔内不能进入液体。不要堵住出气孔。 ◆ 黄灯亮表示电源电压偏低,需更换电池。
  • PFA特氟龙4寸25片多晶硅清洗架玻璃晶片清洗架
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是 用途:清洗 别名:花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 自动半导体晶片附件
    产品名称:MappIR and MAP300品牌:美国PIKE公司产品价格:面议(RMB)PART NUMBERDESCRIPTION016-28XXMappIR Automated Semiconductor Wafer Accessory for 8" Wafers017-28XXMAP300 Automated Semiconductor Wafer Accessory for 12" WafersOptions for the MappIR and MAP300 Accessories073-3880Additional 8" Wafer Mount (MappIR only)073-3800Blank Support &ndash for custom wafers (MappIR only)017-3912Additional 12" Wafer Mount (MAP300 only)017-3980Insert to Support 8" Wafer (MAP300 only)073-3860Insert to Support 6" Wafer073-3850Insert to Support 5" Wafer073-3840Insert to Support 4" Wafer073-3830Insert to Support 3" Wafer073-3820Insert to Support 2" Wafer
  • N1015158美国PE半导体恒温温控型液体循环器批发报价
    产品介绍产品特点:半导体恒温温控型液体循环器(PCB1500)这是一种与各种温控型样品池夹具配合使用的外部液体循环器,可实现半导体恒温温控效应。这种循环器因同时具有加热和冷却能力而可提供20℃ - 60 ℃的温度范围,并且准确度可达到±0.1 ℃。本品也包括一个串行端口以及如何进行计算机程控的文件资料。订货信息:半导体恒温温控型液体循环器(PCB1500)产品描述部件编号半导体恒温温控型液体循环器 (PCB1500)N1015158公司主营:美国PE、戴安DIONEX离子色谱耗材,PE元素灯/PE石墨管/PE氘灯/PE钨灯/PE基体改进剂/PE样品杯/PE GCMS灯丝/PE ICP火炬/PE氧化铝注入管/PE雾化器大量现货!美国Perkinelmer(珀金埃尔默)耗材常备现货:元素灯、石墨管、样瓶杯、取样毛细管、进样针、雾化器、矩管、中心管、泵管、顶空瓶、隔垫、瓶盖、色谱瓶、热脱附管、干燥剂、钨灯、氘灯、铝制等
  • 猫眼式外腔可调谐半导体激光器 (CEL)
    总览MOGlabs CEL是外腔式可调谐半导体激光器,该产品采用窄带滤波片作为波长调谐功能元件。MOGLabs猫眼半导体激光器为外腔半导体激光器提供了一个新的观点。相比于传统的Littrow和Litman-Metcalf设计,CEL使用猫眼反射镜和超窄带滤光片代替角度敏感光栅。CEL结构紧凑、稳定,对噪声不敏感。和MOGLabs控制器一起,线宽可以远低于100KHz。CEL可以选择450nm到530nm和630nm到1620nm波长范围。腔外功率可高达250mW。CEL的这种超稳定性通常只有在DFB和DBR二极管上才有,同时,CEL具有宽范围调谐能力,窄线宽,宽波长范围,对光反馈更加不灵敏,性价比更高。MOGlabs CEL是外腔式可调谐半导体激光器,该产品采用窄带滤波片作为波长调谐功能元件。MOGLabs猫眼半导体激光器为外腔半导体激光器提供了一个新的观点。相比于传统的Littrow和Litman-Metcalf设计,CEL使用猫眼反射镜和超窄带滤光片代替角度敏感光栅。CEL结构紧凑、稳定,对噪声不敏感。和MOGLabs控制器一起,线宽可以远低于100KHz。CEL可以选择450nm到530nm和630nm到1620nm波长范围。腔外功率可高达250mW。CEL的这种超稳定性通常只有在DFB和DBR二极管上才有,同时,CEL具有宽范围调谐能力,窄线宽,宽波长范围,对光反馈更加不灵敏,性价比更高。工作波长450–530nm/630–1620nm中心波长450nm输出功率250mW线宽1kHz技术参数特征 Cateye滤光片设计快压电反馈无需对齐精密波长调节 优点高性能窄线宽低成本抗噪声干扰具有低频噪声 应用激光冷却和俘获玻色-爱因斯坦凝聚离子俘获量子光学:压缩态光电磁感应透明和慢光时间和频率标准激光光谱学猫眼激光器(CEL)规格CEL v002波长/频率 450–530nm;630–1620nm高达250mW的输出功率,取决于二极管带宽 典型值 100 kHz,由配置决定调制20MHz带宽,AC或DC耦合, 20ns相位延迟,射频偏置器: 2.5GHz带宽粗调范围 取决于二极管;例如,776nm–802nm或850nm–895nm(单二极管) 光学 光束直径(1/e2)典型值0.6 x 0.3mm;取决于二极管偏振垂直线性100:1典型值(标准二极管) 热学 热电制冷器(TEC) ±14.5V 3.3A Q = 23W标准传感器 NTC 10kW标准值;AD590、592可选基部稳定性±1mK(取决于控制器)冷却 冷却水连接(通常不需要) 扫描 扫描范围20 GHz(典型值),带MOGLabs控制器,取决于二极管跳模自由扫描20 GHz(典型值),电流前馈 压电锂电池模块 电子学 保护继电器,反向二极管指示器 激光开/关(发光二极管) 调制输入SMA DC至20MHz, 或AC 10kHz至20MHz,接地选项:射频偏置器,16 MHz–2.5 GHz(低截止选型)连接器 二极管激光控制器(单电缆连接) 尺寸 尺寸紧凑型:108 x70 x83mm (LxWxH),0.5kg扩展版(如图所示):220 x 95 x 90.5 (LxWxH),1.3kg 实验测试:激光选项波长632.8000 nm激光二极管633LD60激光头板(选项)B1240(直流式,缓冲式,无簧片继电器)法拉第隔离器MFD660-03163,调谐到633nm,传输率为82% 激光二极管电流响应阈值(裸二极管)1mW at 64mA, 25°C阈值(闪烁)1mW at 56mA, 25°C最大电流,有反馈170mA, 73mW额外的空腔at 632.8nm, 25°C最大电流,无反馈180mA[λmin,λmax]-指示性粗波长调谐范围 调谐测试条件波长632.800nm@160mA,25°C,0.206V检测频率,67mW输出功率控制器序列号DLC252/A12050DIP开关(16→1)0000 0010 0000 1010 堆栈电压120V(检查DLC设置,必要时进行调整)扫描范围29GHz@160mA,25°C,0.143V检测频率,67mW输出功率CH A频率峰峰值+ 2120 mVCH B电流峰峰值- 260mV(相当于28mA峰峰值的偏差)
  • SESAM半导体可饱和吸收镜
    BATOP 现已成为用于被动锁模激光器的可饱和吸收体的世界领先供应商。可饱和吸收产品集合了各式各样的不同的器件,从可饱和吸收镜(SAM?),到可饱和输出镜(SOC)和用于透过应用的可饱和吸收体(SA)。迄今为止,可饱和吸收产品已经覆盖了800nm到2.6μm的常用激光波长范围。 微片(Microchip)由一个可饱和吸收镜和Nd:YVO4激光晶体结合,在808nm激光二极管泵浦下,经过被动调Q调制,可产生1064nm脉冲激光。微片激光器具有全固化、体积小、结构简单、适合批量化生产等特点,在许多领域得到了广泛应用,包括:激光雷达、激光测距、半导体加工、太阳能电池制造、激光打标、切割、短波红外成像、眼科和皮肤科。
  • PFA特氟龙 6寸清洗架晶片清洗花篮多晶硅玻璃清洗架
    太阳能电池硅片清洗花篮PFA四氟清洗花篮 ITO、FTO导电玻璃、硅片PFA清洗架、F4硅片花篮 品牌:瑞尼克型号:RNKHL加工定制:是 用途:清洗 别名:花篮、承载篮 用于半导体硅片,晶片,玻璃,液晶屏等清洗、腐蚀设备的承载花篮,太阳能电池片花蓝、太阳能硅片花蓝_太阳能硅片承载器、光伏电池片花蓝、光伏硅片花蓝,用于太阳能电池硅片清洗设备中,用于承载方形太阳能电池硅片,材质为PFA,本产品即在100℃以下的NaOH溶液、HCl溶液、HF等溶液中对硅片进行清洗、转换,且长期使用不变形、不污染硅片.目前的尺寸有,6寸25片、4寸25片,2寸25片的清洗花篮,单梁双梁提手,目前花篮形式有很多种,我公司也是可以定制方形,圆形晶片清洗花篮。
  • 半导体恒温温控型液体循环器(PCB1500) | N1015158
    产品特点:半导体恒温温控型液体循环器(PCB1500)这是一种与各种温控型样品池夹具配合使用的外部液体循环器,可实现半导体恒温温控效应。这种循环器因同时具有加热和冷却能力而可提供20℃ - 60 ℃的温度范围,并且准确度可达到±0.1 ℃。本品也包括一个串行端口以及如何进行计算机程控的文件资料。订货信息:半导体恒温温控型液体循环器(PCB1500)产品描述部件编号半导体恒温温控型液体循环器 (PCB1500)N1015158
  • 佰氟达半导体清洗设备配件PFA等径弯头
    半导体PFA等径弯头,作为半导体工艺中的关键元件,其在集成电路制造和封装过程中扮演着至关重要的角色。随着科技的飞速发展,半导体行业对元件的性能和精度要求越来越高,PFA等径弯头作为连接和传输的关键部件,其性能的提升对于提高半导体制造的效率和可靠性至关重要。  近年来,针对PFA等径弯头的研发与改进取得了显著进展。一方面,通过优化材料选择和制造工艺,PFA等径弯头的耐高温、耐腐蚀性能得到了显著提升,从而确保了其在高温、高湿等恶劣环境下的稳定运行。另一方面,通过精确控制弯头的弯曲半径和角度,使得PFA等径弯头在传输信号时能够保持较小的信号衰减和失真,从而提高了半导体器件的性能。  此外,随着智能制造和自动化技术的广泛应用,PFA等径弯头的生产过程也日益智能化和精细化。借助先进的自动化生产线和智能检测系统,可以实现对弯头尺寸、形状和性能的精确控制,大大提高了生产效率和产品质量。  展望未来,半导体PFA等径弯头将继续朝着高性能、高精度、高可靠性的方向发展。随着新材料、新工艺和新技术的不断涌现,我们有理由相信,PFA等径弯头将在半导体行业中发挥更加重要的作用,为集成电路制造和封装技术的进一步发展提供有力支撑。
  • 小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱
    小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱售后服务◆负责将设备运输到客户指定地点的一楼,并承担相关费用◆工程师亲自上门,免费安装调试设备至正常运作◆工程师会免费培训贵公司设备使用人员,使其具备日常操作及维护之能力◆发货之日起,对设备进行免费保固壹年(天灾、电力异常、操作及保养不当、自行检修或改装而造成的损坏除外);半年一次到厂定期保养;技术支援终生免费◆我司技术力量雄厚,对其他厂家的环试产品(包含国外同类产品)也能提供维修、改造、升级和长期的维护服务,欢迎来电咨询。小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱安全功能:1.独立限温报警系统,超过限制温度即自动中断运行,并声光报警提示操作者。保证实验安全运行不发生意外。2.温度偏高、偏低和超温报警。3.压缩机过热、过流、过载保护,风机过热保护,缺水保护等。方便的数据处理(选配)可连接打印机或485通讯接口,具有USB数据转移接口(U盘),用电脑显示,并打印温湿度和时间曲线,为试验过程数据储存与回放提供有力保证。用途范围:小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱适用于生物化工、航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元器件在高低温或湿热环境下,检验其各项性能指标。小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱产品特点:1.国际品牌压缩机和循环风机,使温度分布均匀。环保制冷剂(R134a)效率高,能耗低,促进节能。2.独特风道循环系统,保证工作室温湿度均匀,直径¢25mm测试孔,便于操作于测试。3.采用进口304镜面不锈钢内胆,四角半圆弧过渡,搁板支架可以自由装卸,便于箱内的清洗工作。4.多段可编程控制,可以简化复杂的试验过程,真正实现自动控制和运行。(交变箱具有此功能)产品设计:1.顺应世界环保潮流,全新无氟设计,绿色环保。2.采用干湿球式或电容式湿度传感器,多功能多段可编程温湿度控制器,模糊PID控制器,控温控湿精确波动小。3.进口温湿度控制器寿命长,高精度CFL20字×6行LCD显示器,键盘输入,操作简便。小型半导体恒温恒湿试验箱;中型恒温恒湿试验箱规格型号:型号AP-HX-80AP-HX-150AP-HX-225AP-HX-408AP-HX-800AP-HX-1000内容积(L)801502254088001000内部尺寸(cm)40×50×4050*60*5050×75×6060×85×80100×100×85100×100×100外部尺寸(cm)90*90*15095*150*10595×165×115105×175×135145×190×135145×190×155重量(Kg)300320350400600700性能温度范围-73℃,-60℃-40℃,-20℃,0℃, 150℃, 180℃湿度范围20%RH~98%RH温度波动度±0.5℃升温速率≥3°C/min降温速率≥1°C/min材料内体材料SUS304镜面不锈钢板外壳材料SUS304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板(喷塑)绝缘材料恒温恒湿箱专用超细玻璃棉 聚胺脂泡沫调节器制冷方式机械式二元制冷方式制冷机全封闭(法国泰康或德国谷轮)压缩机制冷剂R23/ R404A冷凝方式风冷或水冷加热器镍铬合金不锈管加热器鼓风机离心风机气流方式宽带式强迫气流循环(上出下进)控制器操作界面恒温恒湿机专用液晶触摸显示屏,中英文切换运转方式恒定运转、程序运转程序记忆容量120组可编程序、每个程序最大999(段)设定指标范围温度:-100℃ 300℃分辨率温度:0.01℃输入PT100或T型热电偶控制方式PID控制通讯功能恒温恒湿机专用RS-232接口(配送光盘)打印功能日本横河6点记录仪(选购件)附属功能上下限报警、自诊断、报警显示(故障原因)、定时装置(自动开机、关机)
  • 半导体可饱和吸收镜 太赫兹SAM
    BATOP 现已成为用于被动锁模激光器的可饱和吸收体的世界领先供应商。可饱和吸收产品集合了各式各样的不同的器件,从可饱和吸收镜(SAM?),到可饱和输出镜(SOC)和用于透过应用的可饱和吸收体(SA)。迄今为止,可饱和吸收产品已经覆盖了800nm到2.6μm的常用激光波长范围。 微片(Microchip)由一个可饱和吸收镜和Nd:YVO4激光晶体结合,在808nm激光二极管泵浦下,经过被动调Q调制,可产生1064nm脉冲激光。微片激光器具有全固化、体积小、结构简单、适合批量化生产等特点,在许多领域得到了广泛应用,包括:激光雷达、激光测距、半导体加工、太阳能电池制造、激光打标、切割、短波红外成像、眼科和皮肤科。Please check ourOptics stock.
  • 高质量无机半导体纳米晶
    本品利用&ldquo 绿色&rdquo 合成法,采用高稳定性半导体纳米晶及复合纳米 晶进行大规模合成制备。性能稳定,特点为CdSe及CdSe/ZnS核- 壳结构,不含有机磷,获得与传统合成工艺同样的效果。可广泛的 应用于发光二极管,太阳能电池,激射材料,生物映像,传感器件 等领域。上图为具有不同发射波长的CdSe/ZnS核-壳结构纳米晶的紫外- 可见吸收光谱和荧光光谱. 其荧光峰位分别为: (a) 517 nm (b) 527 nm (c) 572 nm (d) 615 nm. 图中照片为相应产品在365 nm紫外灯 照射下的实物照片。
  • 半导体激光器电源
    ?这款高功率半导体激光器电源,半导体激光器驱动电源是专业为高功率激光二极管或DPSSL而设计的激光二极管电源。半导体激光器电源,半导体激光器驱动电源,激光二极管电源可提供高达10A的电流,并具有Peltier半导体制冷的控制功能,紧凑设计,具有广阔的通用性。半导体激光器电源并提供LD保护功能,使得电流缓慢上升 (软启动功能),具有限制电流,限制温度以及过热保护的功能。领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!半导体激光器电源,半导体激光器驱动电源,激光二极管电源电源参数Laser diode current source current range0.4 to 10 ALaser diode current increment/decrement step0.004 ALaser diode voltage limit range1.5 to 3 VLaser diode voltage limit increment/decrement step0.001 VNTC (termoresistor) value @25degC10 kOhmTEC driver current (each channel)up to 4 AExternal power supply voltage100-240 V AC to +5 V DCInternal pulse generator frequencies (effective only on ALTx10A-2TEC-LCD-Modulation (OEM version))single shot - 1kHz - 2kHz - 5kHz - 10kHz, other upon requestDimensions126.7mm x 51mm x 18.5mm*******************************************************************LD current modulationAs optional accessoryModulation frequencyfrom Single Shot to 500kHzCurrent Rise/Fall timeExternal TTL trigger signal0-5 V
  • 小型半导体高低温温控箱;小型高低温温控箱
    小型半导体高低温温控箱;小型高低温温控箱详细介绍:可程式恒温恒湿环境试验机能模拟各种温湿度环境满足GB/T2423, GJB150A1/4各种恶劣环境下的可靠性机稳定性能等参数,将给您提供预测和改进产品质量及可靠性的依据。该系列产品适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在湿热环境下、检验其各项性能指标。小型半导体高低温温控箱;小型高低温温控箱主要优势:1.采用圆弧造型及雾面线条处理,高质感外观,并采用平面无反作用把手,操作容易,安全可靠 2.全封闭结构,采用强力循环马达,低嗓音冷冻装置 3.附有防震台垫,使得机台在运转过程中能保持安静及稳定 4.具有被测试件通电测试功能(负载测试) 5.采用飞利浦照明窗口灯、内置耐高温除雾装置,便于观察箱内产品试验情况 6.具有多种保护装置,性能安全可靠。广西恒温恒湿试验箱生产商|河南触控式恒温恒湿箱|恒温恒湿价格执行与满足标准:GB/T10589-1989低温试验箱技术条件GB/T10586-1989湿热试验箱技术条件GB/T10592-1989高低温试验箱技术条件GB2423.1-89低温试验Aa,AbGB2423.1-93(IEC68-2-3)恒定湿热试验CaMIL-STD810D方法502.2GB/T2423.4-93(MIL-STD810)方法507.2程序3GJB150.9-8温热试验GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验小型半导体高低温温控箱;小型高低温温控箱主要技术参数:1.内部尺寸:(W×H×D)65×85×80cm(尺寸多,有不同型号)2.外部尺寸:(W×H×D)105×175×135cm(尺寸多,有不同型号)3.重量:约400Kg4.调温调湿方式:平衡调温调湿方式(BTHC)PID智能调节5.温度范围:0 ℃, -20 ℃, -40 ℃, -60 ℃, -70 ℃ ~150 ℃ 20%-98%R.H6.温湿度控制精度:±0.2℃ ±2.5%RH7.温湿箱内均匀度:±0.5℃ ~±0.2℃ ±4.0%RH8.控制器解析精度:±0.01%℃ ±1%R.H9.升温速率:≥ 2.5°C/min10.降温速率:平均1°C/min11.内体材料:SUS#304 镜面不锈钢板13.外壳材料:SUS#304拉丝不锈钢板或防锈处理冷轧钢板(喷塑)14.绝缘材料:超细玻璃棉 聚胺脂泡沫15.制冷方式:机械式二元制冷方式16.制冷机:全封闭(法国泰康或德国谷轮)压缩机17.制冷剂:R23/ R404A18.冷凝方式:风冷或水冷19.加热器:镍铬合金不锈管加热器20.加湿器:不锈钢加湿筒21.鼓风机:离心风机22.气流方式:宽带式强迫气流循环(上出下进)23.恒温恒湿仪操作界面:液晶触摸显示屏,中英文切换24.运转方式:恒定运转、程序运转25.程序记忆容量:120 组可编程序、每个程序最大100 (段)26.设定指标范围:温度:-100℃ 300℃ 湿度:99.9%R.H27.分辨率:温度:0.1℃ 湿度:0.1%R.H28.输入:PT100或T型热电偶29.控制方式:PID控制30.通讯功能:RS-232 接口31.打印功能:日本横河6点记录仪(选购件)32.附属功能:上下限报警、自诊断、报警显示(故障原因)、定时装置(自动开机、关机)、相序保护33.供水方式:循环供水34.供水箱:内置手拉式(30Kg容量)35.水质:电阻率500Ω.M36.标准配置:观察窗(双层中空钢化玻璃)1个 测试孔¢50mm(位于左边)1个 样品架2层,箱内照明灯(荧光灯)1个 供水箱1个 37.安全装置:电源用漏电保护器,防干烧装置,水系统保护装置,极限高低温保护,温度偏差报警,压缩机超压,过载,缺水,缺相等保护。小型半导体高低温温控箱;小型高低温温控箱售后服务用户的满意是我们服务的宗旨,完善的售后服务使您解除一切后顾之忧,我们坚信一个好的企业卖出去的不仅仅是一台好的产品,更重要的是良好的服务。东莞市爱佩试验设备有限公司负责对本公司产品提供以下售后服务:1.技术培训:操作使用、日常维护保养、常见故障检测和排除2.定期回访:设备巡检,排除故障隐患,传递最新消息3.备品、备件专项储备支持4.售后服务部提供维修服务的快速响应5.专职维修人员确保及时、有效地排除故障
  • 偏振应力测试仪
    偏振应力测试仪(1)适合应力模式检测(2)适用于测试透镜硬度构成(3)随附携带箱这款便利的便携式偏振应力测试仪适合检查液晶、塑料和宝石内的应力模式。该偏振应力测试仪可显示裸眼或众多放大镜不可见的断裂痕迹和瑕疵。此外,该偏振应力测试仪可用于检查透镜的硬度构成,因为它可以显示只有正确硬化的透镜才具备的马耳他十字标记。该应力测试仪的尺寸为: 3" x 3"(折叠时),或 3" x 6" (打开时)。随附黑色携带箱。订购信息:Polarized Stress Tester库存#34-521技术参数与相关资料构造Polarizing Film类型Linear PolarizerRoHS不符合标准
  • 偏振测试仪
    偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性,如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片,其中包含设计用于测试线性偏振光,以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片,本测试仪可识别偏振旋转方向,以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片,或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果,请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时,建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699
  • MPI半导体晶圆测试射频电缆配件
    产品概要:MPI为射频和毫米波测量应用提供了出色的软电缆和附件选择,可实现完整的射频探头系统集成。基本信息:测试电缆晶圆级测量系统中的RF电缆必须满足许多特殊要求:较佳的电缆长度,重量,大小和相位稳定性,温度范围和公连接器的设计,MPI可以提供两个系列的RF电缆-高端MMC和入门级MRC-涵盖从18 GHz开始的整个频率范围。电缆组件有两种标准长度,分别为120厘米和80厘米,以与探头系统的占地面积和VNA的位置相匹配。转接器提供高质量的RF和高端毫米波适配器,以应对常规系统重新配置以及与不同类型的测试仪器集成的挑战。波导管波导段用于将基于波导的RF探头与VNA毫米波头(转换器)的输出端口相连,该端口的使用频率从V波段(50 GHz)开始。由于采用统一的设计,MPI波导段可与任何类型的变频器和MPI探头系统兼容。同时,它们提供了很大限度的系统测量动态范围。标准产品涵盖了广泛的频率范围:从V波段(WR15,从50 GHz到75 GHz)到G波段(WR-5,从140 GHz到220 GHz)。对于220 GHz以上的测量,MPI工程师建议将RF探头直接安装到转换器的波导端口。技术优势:1、测试电缆稳定性较高2、高质量的RF和高端毫米波适配器3、MPI波导段具有良好的兼容性应用方向:主要用于射频和毫米波测量应用。
  • IC半导体级 SIO2 二氧化层硅片 热氧化工艺 单氧双氧单双抛
    低维材料在线商城可为客户订制不同参数的二氧化硅氧化片,质量优良;氧化层厚度、致密性、均匀性和电阻率晶向等参数均按照国标执行。热氧化物表面形成二氧化硅层。在氧化剂的存在下在升高的温度下,给过程称为热氧化。通常生长热氧化层的在水平管式炉中。温度范围控制在900到1200摄氏度,使用湿法或者干法的生长方法。热氧化物是一种生长的氧化物层。相对于CVD法沉积的氧化物层,它具有较高的均匀性和更高的介电强度。这是一个极好的作为绝缘体的介电层。大多数硅为基础的设备中,热氧化层都扮演着非常重要的角色,以安抚硅片表面。作为掺杂障碍和表面电介质。应用范围:1,刻蚀率测定2,金属打线测试3,金属晶圆4,电性绝缘层产品名称:4英寸二氧化硅抛光硅片 (SiO2)生长方式:直拉单晶(CZ) 热氧化工艺直径与公差:100±0.4mm掺杂类型:N型(掺磷、砷、锑) P型(掺硼)晶向:\电阻率:0.001-50(Ω?cm) 可按客户要求定制工艺数据:平整度TIR: 0.3μm)现有规格:50nm 100nm 200nm 300nm 500nm 1000nm 2000nm用途介绍:用于工艺等同步辐射样品载体、PVD/CVD镀膜做衬底、磁控溅射生长样品、XRD、SEM、原子力、红外光谱、荧光光谱等分析测试基底、分子束外延生长的基底、X射线分析晶体半导体类型1英寸2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸8英寸单面抛光片1英寸2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸8英寸双面抛光片可定制2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸8英寸二氧化硅片(SiO2)不可定制2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸可定制切割片、研磨片可定制2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸不可定制区熔本征高阻不掺杂硅片可定制2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸不可定制单晶硅棒1英寸2英寸3英寸4英寸5英寸6英寸不可定制注:本商城提供多系列多规格的硅片,标价仅为一种规格,如需多种规格请与客服联系。
  • 半导体激光器
    半导体激光器筱晓光子供应半导体激光器,具有体积小、结构紧凑、驱动电路集成化的特点。同时,该系列半导体激光器具有最佳的光束质量和调制性能,适合于工业仪器和设备的集成化开发。Cobolt MLD 系列半导体激光器,可以单独用于实验室研究,也可以用于各类分析仪器和计量设备的OEM系统集成。Wavelength [ nm ]405445473488515640660Wavelength precision± 5 nmPower [ mW ]10050806025100100Beam divergence (full angle) [ mrad ]Spatial modeTEM00, M2 Beam diameter at aperture700 um ± 100 umBeam symmetry 0.90:1Noice, 250 Hz - 2 MHz (rms)Power stability over 8 hoursSpectral linewidth (FWHM)Polarization ratio 1:100ModulationDigital modulationInput signal: 0 to 3.3 - 5.0 V TTLbandwidthDC - 150 MHzextinction ratio 10,000:1Rise / Fall timeAnalogue modulationInput signal: 0-1 V ( 1 kOhm or 50 Ohm)bandwidthDC - 2 MHzextinction ratio 10,000:1Rise / Fall timeRemote ON - OFFInput signal: 0 to 3.3 - 5.0 V TTLfrequencyDC - 500 KHzextinction ratio1 : infRise / Fall timeMaximum base plate temperature50 ℃Total system power consumptionCommunicationRS - 232 or USBModel number structureWavel-06-01-pwr-100 (CDRH: Control box with key-switch included)Wavel-06-01-pwr-200 (OEM: Auto - start mode)Warranty12 monthsNoteOutput beam diameter can be tailored to specific customer requirements
  • L波段 SOA非线性半导体光放大器 1610nm 13dBm
    L波段 SOA非线性半导体光放大器是一种偏振不敏感光学放大器,具有先进的外延晶片生长和光电封装技术,可在宽光谱带宽上实现高输出饱和功率、低噪声系数和大增益。工作波长1610nm中心波长1610nm输出功率13dBm技术参数特征宽带光高输出功率低偏振灵敏度多量子阱或体结构应用助推光光放大器电信与数据通信损失补偿电/光学特性(Tsub=25°C,CW,)参数符号PL-SOA-A-A81-W1610-PAPA最小典型最大工作电流IOP-120 mA150 mA正向电压VF-1.2V2.0V中心波长λC1600nm1610nm1620nm信号增益 (@ Pin = -20 dBm)G15dB--3dB带宽BW40nm--ASE波纹(RMS)δG--0.5dB饱和输出功率 (@ -3 dB)PSAT7dBm--偏振相关增益PDG--1.5dB噪声系数NF--7dB热敏电阻(@ 25℃)RTH9.5KΩ10KΩ10.5KΩTEC电压VTEC2.3VTEC电流ITEC0.9A 绝对最大值参数参数符号PL-SOA-A-A81-W1610-PAPA最小最大最大操作电流(CW)IOP max200mA反向电压VR2V芯片操作温度(CW)TSOA25℃30℃外壳温度(CW)TC0℃70℃TEC 电压VTEC-4.0VTEC电流ITEC-1.8A存储温度TSTG-40℃85℃存储湿度5%RH85%RH
  • 小型半导体冷热冲击试验箱;中型冷热冲击试验箱
    ?小型半导体冷热冲击试验箱;中型冷热冲击试验箱用途Application小型半导体冷热冲击试验箱;中型冷热冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温和极低温的连续环境下所能承受的程度,借以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害,适用的对象包括金属、塑料、橡胶、电子。。。等材料,可作为其产品改进的依据或参考。◆小型半导体冷热冲击试验箱;中型冷热冲击试验箱特点Features一、三箱设备区分为高温区、低温区、测试区三部分,测试样品完全静止于测试区。采用独特之蓄热、蓄冷结构,强制冷热风路切换方式导入测试区,冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。二、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,执行冷热冲击条件时,可选择2箱或3箱之功能并具有高低温试验机的功能,相比于2箱冲击它还可选择做常温冲击。◆执行与满足标准Standardsimplementedandmet.GB/T2423.1-2008低温试验方法TestmethodoflowtempemturetestGB/T2423.2-2008高温试验方法TestmethodofhightemperaturetestGB/T2423.22-2012温度变化试验TestoftemperaturechantgeGJB150.5-86温度冲击试验TestoftemperatureshockGJB360.7-87温度冲击试验TestoftemperatureshockGJB367.2-87温度冲击试验TestoftemperatureshockQC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等◆多种欧美名牌企业进口压缩机(Compressor)为达到顾客对产品做极低的温度测试,爱佩科技为设备配备了复叠式制冷系统。并采用低温级为R23或R508B,高温级为R404或R507的“绿色环保”制冷剂,根据美国环保部门标准,该类制冷剂禁用日期还未确定;为使该制冷系统获取更佳的制冷效果,爱佩科技为机械配备了世界著名企业法国泰康(TECUMSEH)公司生产的全封闭式压缩机,对于设备制冷有更高要求的则采用德国比泽比(Bitzer)或德国谷轮公司(DWMCOPELAND)生产的半封闭式压缩机,顾客可以很方便的从制冷行业中购买到其配件乃整机,不用担心售后麻烦及维修成本。 2、温度范围及升降温恢复时间可安客户要求非标订制 ※注:1、另可供客户尺寸大小非标订制 3、温度分布均匀测试方法,依照内箱离各边1/10距离有效空间量测。安全装置漏电断路器(200.220.380VAC)配线用断路器(400/415VAC)高温试验箱温度过升防止用温度开关低温试验箱温度过升防止用温度开关试验区温度过升过冷防止器(控制器)试验区温度过冷过冷防止器(另外装备)高温试验箱温度过升防止器(控制器)低温试验箱温度过升防止器(控制器)
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