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薄膜无损检功率热分析仪

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薄膜无损检功率热分析仪相关的论坛

  • 【在线讲座194期】超薄薄膜的无损XPS分析,火热报名中……(2012年6月29日 14:30)

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647054_2507958_3.gif【在线讲座194期】超薄薄膜的无损XPS分析主讲人:魏义彬 Thermofisher公司 销售经理 活动时间:2012年6月29日 下午 14:30http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_647054_2507958_3.gif1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、参加及审核人数限制:限制报名人数为120人,审核人数100人。3、报名截止时间:2012年6月29日下午14:304、报名参会:http://simg.instrument.com.cn/meeting/images/20100414/baoming.jpg5、参与互动:本次讲座采取网络讲堂直播模式,欢迎大家积极发言提问。 *参会期间您还可以将有疑问的数据通过上传的形式给老师予以展示,并寻求解答*6、环境配置:只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。7、提问时间:现在就可以在此帖提问啦,截至2012年6月28日8、会议进入:2012年6月29日14:00点就可以进入会议室9、开课时间:2012年6月29日14:3010、特别说明:报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程),请注意查收,并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过,请填写完整而正确的信息哦~http://simg.instrument.com.cn/webinar/20110223/images/zb_11.gif注意:由于参会名额有限,如您通过审核,请您珍惜宝贵的学习交流机会,按时参加会议。如您临时有事无法参会,请您进入报名页面请假。无故不参会将会影响您下一次的参会报名。快来参加吧:我要报名》》》快来提问吧:我要提问》》》

  • 哪位朋友用热分析仪做过PbO+石墨的样品

    哪位朋友用热分析仪做过PbO+石墨的样品。温度达到1500摄氏度,速率10k/min。这个样品是否会有挥发,PbO+C—Pb+CO,这个氧化还原反应生产的Pb和CO对热分析的支架有没有影响。谢谢大家!

  • 热分析家族介绍、应用领域及获取信息

    热分析:在程序温度下:测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。1、热分析家族a、热重分析仪 TG在程序温度下,测量物质的质量与温度关系的技术b、差热分析仪 DTA在程序温度下,测量物质和参比物的温度差与温度关系的技术c、差示扫描量热仪 DSC在程控温度下,测量输入到物质和参比物之间的功率差与温度关系的技术d、热机械分析仪 TMA用来测量样品在非振荡载荷作用下,其样品的形变与时间、温度等函数关系的一种仪器。e、动态热机械分析仪 DMA是用来测量样品在周期交变应力作用下,其动态力学性能与时间、温度、频率等函数关系的一种仪器2、热分析应用领域热分析仪可以用于科学研究、产品开发、质量控制等多个领域。适用于生化样品、高分子材料、无机材料、矿物、含能材料、药物、食品等各种固体、液体或粉末状样品。3、热分析可以获取的信息a、熔点b、熔融热c、固化度、固化反应速率d、相转变温度e、相转变热焓f、玻璃化转变g、纯度h、比热i、反应热j、氧化诱导期k、反应动力学l、活化能测定m、结晶时间及结晶温度、结晶度n、组分分析o、添加剂含量、填料含量p、分解温度q、氧化稳定性r、与红外、质谱联用,对分解逸出气分析s、软化温度t、膨胀系数u、体积的膨胀与收缩v、应力/应变的函数关系w、薄膜/纤维的拉伸与收缩x、材料的动态力学性能y、模量、柔度z、相变角、损耗因子、阻尼特性α、次级转变β、凝胶化

  • 讨论下哪些物质对热分析仪的坩埚和支架有损伤~!

    做热分析实验几年,害怕遇到也是最担心的就是分析仪的支架或者热电偶被污染损坏。最近做实验时又损坏支架,一直想能不能总结下哪些物质在什么温度下对氧化铝坩埚或者铂金之类的支架有致命损伤?在以后的工作中也好注意~!

  • 【讨论】热分析仪器的易损件及其寿命

    [size=4][size=5][size=4]想和大家[/size] [/size]讨论一下热分析仪器(包括 DSC TGA TMA DMA ) 哪些东西比较容易坏掉和仪器某些配件的使用年限,比如说DSC 的炉子一般比较容易坏.使用年限一般是几年呢.[/size]

  • 利用声学特性的无损检测技术___超声波检测技术

    利用声学特性的无损检测技术___超声波检测技术无损检测导论(2005年元月电子修订版)夏纪真 编著 第二章无损检测技术及其应用 无损检测技术的基础是物质的各种物理性质或它们的组合以及与物质相互作用的物理现象。迄今为止,包括在工业领域已获得实际应用的和已在实验室阶段获得成功的无损检测方法已达五、六十种甚至更多,随着工业生产与科学技术的发展,还将会出现更多的无损检测方法与种类。本书仅能就几个主要方面作简单扼要的介绍。除了对于工业上已经广泛应用的五大常规无损检测技术(超声波检测、磁粉检测、涡流检测、渗透检测和射线照相检测)给予一定的工艺介绍外,对其他方法仅作概念性介绍。若需对其中某项方法作深入了解时,应查阅相应方法的专业技术介绍资料。§2.1 利用声学特性的无损检测技术§2.1.1 超声波检测技术什么是超声波?超声波有什么特性?声波是指人耳能感受到的一种纵波,其频率范围为16Hz~2KHz。当声波的频率低于16Hz时就叫做次声波,高于2KHz则称为超声波。一般把频率在2KHz到25MHz范围的声波叫做超声波。它是由机械振动源在弹性介质中激发的一种机械振动波,其实质是以应力波的形式传递振动能量,其必要条件是要有振动源和能传递机械振动的弹性介质(实际上包括了几乎所有的气体、液体和固体),它能透入物体内部并可以在物体中传播。利用超声波在物体中的多种传播特性,例如反射与折射、衍射与散射、衰减、谐振以及声速等的变化,可以测知许多物体的尺寸、表面与内部缺陷、组织变化等等,因此是应用最广泛的一种重要的无损检测技术--超声检测技术。例如用于医疗上的超声诊断(如B超)、海洋学中的声纳、鱼群探测、海底形貌探测、海洋测深、地质构造探测、工业材料及制品上的缺陷探测、硬度测量、测厚、显微组织评价、混凝土构件检测、陶瓷土坯的湿度测定、气体介质特性分析、密度测定……等等。超声波具有如下特性:1)超声波可在气体、液体、固体、固熔体等介质中有效传播。2)超声波可传递很强的能量。3)超声波会产生反射、干涉、叠加和共振现象。4)超声波在液体介质中传播时,达到一定程度的声功率就可在液体中的物体界面上产生强烈的冲击(基于“空化现象”)--从而引出了“功率超声应用“技术--例如“超声波清洗”、“超声波钻孔”、“超声波去毛刺”(统称“超声波加工”)等。5)利用强功率超声波的振动作用,还可用于例如塑料等材料的“超声波焊接”。工业无损检测技术中应用的超声波检测(UltrasonicTesting,简称UT)是无损检测技术中发展最快、应用最广泛的无损检测技术,占有非常重要的地位。在超声波检测技术中用以产生和接收超声波的方法最主要利用的是某些晶体的压电效应,即压电晶体(例如石英晶体、钛酸钡及锆钛酸铅等压电陶瓷)在外力作用下发生变形时,将有电极化现象产生,即其电荷分布将发生变化(正压电效应),反之,当向压电晶体施加电荷时,压电晶体将会发生应变,亦即弹性变形(逆压电效应)。因此,利用压电晶体制成超声波换能器(探头),对其输入高频电脉冲,则探头将以相同频率产生超声波发射到被检物体中去,在接收超声波时,探头则产生相同频率的高频电信号用于检测显示。除了利用压电效应以外,在某些情况下也利用磁致伸缩效应(强磁材料在磁化时会发生变形的现象,可用作振源或用于应变测量),也有利用电动力学方法(例如本章后面叙述的电磁-声或涡流-声方法)。(3)耦合方法的确定-超声探头与被检工件之间存在空气时,超声波将被反射而无法进入被检工件,因此在它们之间需要使用耦合介质(耦合剂),视耦合方式的不同,可以分为:接触法-超声探头与工件检测面直接接触,其间以机油、变压器油、润滑脂、甘油、水玻璃(硅酸钠Na2SiO3)或者工业胶水、化学浆糊等作为耦合剂,或者是商品化的超声检测专用耦合剂。水浸法-超声探头与工件检测面之间有一定厚度的水层,水层厚度视工件厚度、材料声速以及检测要求而异,但是水质必须清洁、无气泡和杂质,对工件有润湿能力,其温度应与被检工件相同,否则会对超声检测造成较大干扰。接触法和水浸法是超声检测中最主要应用的两种耦合方式,此外还有水间隙法、喷水柱法、溢水法、地毯法、滚轮法等多种特殊的耦合方式。(4)检测条件的准备-选择适当的超声探伤仪、超声探头、参考标准试块(或者采用计算法时的计算程序或距离-波幅曲线、AVG或DGS曲线等),以及在检测前对仪器的校准(时基线校正、起始灵敏度设定等)。[/si

  • 功率分析仪有效带宽小结

    一、什么是功率分析仪有效带宽?  功率分析仪有效带宽是指功率分析仪能够测量和分析的信号的最高频率。  周期信号的频谱由幅度谱和相位谱组成。频谱的包络线每隔一个角频率时,通过零点。在某一个零点之后,谐波的幅值将会逐渐减小。通常将包含主要谐波分量的这段频率范围称为被测信号的有效带宽。  被测信号的有效带宽必须小于功率分析仪的有效带宽,换言之,功率分析仪的有效带宽必须大于被测信号的有效带宽,才不会对被测信号造成明显的衰减或失真。  功率分析仪测量信号的有效带宽与阶跃响应的上升时间成反比。  功率分析仪有效带宽是仪器频率特性中的重要指标,具有实际应用意义。在功率分析仪有效带宽内,必须集中了所测信号的绝大部分谐波分量。换句话说,若信号丢失有效带宽以外的谐波成分,不会对信号产生明显影响,这样的测量才会有意义。同样,任何系统也有其有效带宽。当信号通过系统时,信号与系统的有效带宽必须“匹配”。若信号的有效带宽大于系统的有效带宽,则信号通过此系统时,就会损失许多重要成分而产生较大失真;若信号的有效带宽远小于系统的有效带宽,信号可以顺利通过,但对系统资源是巨大浪费。二、什么情况下功率分析仪有效带宽会出现混叠现象?  当功率分析仪对连续信号进行等间隔采样时,如果不能满足采样定理,即采样频率低于功率分析仪有效带宽的两倍,采样后信号的进行频谱分析时,会出现率就会重叠,即高于采样频率一半的频率成分将被重建成低于采样频率一半的信号。这种频谱的重叠导致的失真称为混叠。这种情况下是功率分析仪有效带宽过宽或采样频率过低导致。只有提高采样频率,使之达到最高信号频率的两倍以上,或降低功率分析仪有效带宽,使其低于采样频率的二分之一,才能用采样样本正确还原信号;  抗混叠滤波器:是一个低通滤波器,用以在输出电平中把混叠频率分量降低到微不足道的程度。这种滤波器是将信号的高频信号滤去,是对原始信号的一种预处理,使信号达到跟功率分析仪有效带宽“匹配”的要求。三、什么情况下功率分析仪有效带宽可以欠采样?  有些功率分析仪采用欠采样技术,欠采样是指采样频率低于两倍的功率分析仪有效带宽,违反采样定理。但是,当信号属于较严格周期信号时,对连续多个周期尽心欠采样,而每个周期的采样序列有一个固定的延时。比如说,采样频率为100kHz,采样周期为10nS,第一个周期从0时刻开始采样,而第二个周期5nS(从二分之一采样周期)处开始采样,然后,将两个周期的采样数据合并,就得到了一个周期的200kHz采样频率的采样样本序列。欠采样技术在信号并非严格周期信号时,会有较大的误差。 信号上升时间与宽带有什么关系呢?请看:http://www.vfe.cc/NewsDetail-1819.aspx

  • 热分析仪器的基本结构单元

    热分析技术根据被测物理量的物理性质来分共有九大类、l7种方法。所组成的热分析仪器就更多了。通常热分析仪器由程序温度控制器、炉体、物理量检测放大单元、微分器、气氛控制器、显示和打印以及计算机数据处理系统7部分组成。其框图如下图所示。http://images.admin5.com/forum/201305/13/095602ulqzdgqrzt0lacnl.jpg (1)程序温度控制器 它是使试样在一定温度范围内进行等速升温、降温和恒温。通常使用的升温速率为10℃/min或20℃/min。而程序温度速率可为0.01~999℃/min。近代程序温控仪大多由微机完成程序温度的编制、热电偶的线性化、PID调节以及超温报替等功能。 (2)炉体部分 它是使试样在加热或冷却时得到支撑。炉体部分包括加热元件、耐热瓷管、试样支架、热电偶以及炉体可移动的机械部分等。炉体的温度范围最低为-269℃(液氨制冷),最高可达2800℃(在高真空下用石墨管或钨管加热,用光学高温计测温)。炉体内的均温区要大,试样放在均温区中。因为试样各部分的温度是否均匀对热分析的结果有一定的影响。 (2)炉体部分 它是使试样在加热或冷却时得到支撑。炉体部分包括加热元件、耐热瓷管、试样支架、热电偶以及炉体可移动的机械部分等。炉体的温度范围最低为-269℃(液氨制冷),最高可达2800℃(在高真空下用石墨管或钨管加热,用光学高温计测温)。炉体内的均温区要大,试样放在均温区中。因为试样各部分的温度是否均匀对热分析的结果有一定的影响。 (3)物理量检测放大单元 热分析仪器必须能随试样温度的变化及时而准确地检测试样的某些物理性质。由于绝大多数被测物理量是非电量,它们的变化往往又是很微小的,为了及时而准确地检测它们,需要把这些非电量转换成电量,加以放大,再通过定标计算出被测参数。差示测量方式可以提高测量的灵敏度和准确度,因此应用得很普遍。非电量转变为电量可以通过各种传感器来完成。例如称重传感器、位移传感器、光电传感器、热电偶传感器、声电传感器等。物理量的检测系统是各种热分析仪器的核心,也是区分各种热分析仪器的本质部分,它的性能是衡量热分析仪器水平的一个重要标志。 (4)微分器 它是把非电量传感器的放大信号经过一次微分(导数),从微分(对时间)曲线中可以更明显地看出放大信号的拐点、最大斜率等。 (5)气氛控制器 热分析仪器对试样所处的气氛条件有各种要求,因此,大多热分析仪器备有气氛控制系统。热分析对气氛条件的要求有如下原因。 ①高温下试样可能在空气中被氧化而完全改变原来的特性,故要求在真空或惰性气氛下升温,或在某种反应气氛下升温。 ②热分析与其他分析技术联用时,要求把热分析过程中所产生的气相产物利用流动载气送出。 ③要求有适当的气路把热分析过程中所产生的腐蚀性气体或有毒气体排出。 ④相当的热分析课题是研究气氛的种类、压力、流动速率以及活性程度等对热分析结果的影响。热分析仪器按气氛条件可分为高真空型、低真空型、常压型、高压型、静态型和流动型等。 (6)计算机数据处理系统 近年来,由于计算机的快速发展、软件的不断完善,大大推动了数据处理系统。首先把采集来的数据进行各种方法的滤波平滑;然后,应用软件对标准物质进行温度校正和焓变校正、长度校正、质量校正以及基线背景线的扣除等。应用软件求取试样的焓变值、熔点、晶相转变温度、玻璃化转变温度、试样成分的组成、膨胀系数等。还有一些软件需要对数学公式进行分析、简化,适合于热分析应用。例如动力学参数的求取、药品纯度的求取。 (7)显示和打印 它是把热分析曲线及其处理结果在显示屏上显示出来,并用彩色喷墨机或激光打印机打印出来。同时在显示屏上用鼠标进行各种操作。

  • 请大家分享一下热分析仪器出过的问题

    仪器最重要就是运行正常,但感觉热分析仪还是比较难伺候的,公司上年九月下旬购买的同步热分析,就已经让工程师跑一趟维修了,原因是毛刺比较厉害,工程师一来到就整个拆了,全部重装再测试,弄得确切的原因是什么都不知道,如果说是样品污染,那么空烧怎么就没搞掂了,或者他怎么不清洁传感器呢?所以很模糊呢,问他也是说有可能样品污染的原因,但他的处理手法就不像了。虽然这样修下来节约时间,但是我们用户就搞不懂是什么原因了。有经验的板油们分享一下你们用热分析仪的经验吧,好的坏的也说一下,可以的话当然是把原因也说一下,让像我这些新手好好学习,样品应该也是重要因素,什么样品避免测定或者用什么方法让仪器损害减少到最低,……,希望大家踊跃分享http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09505.gif

  • 薄膜综合物性分析仪(导热,赛贝克,电阻率,霍尔,迁移率

    薄膜综合物性分析仪(导热,赛贝克,电阻率,霍尔,迁移率

    薄膜综合物性分析仪(导热系数,电导率,电阻率,赛贝克系数,霍尔系数,迁移率 载流子浓度 发射率)同步测量苏需要的热物性参数,消除样品的几何尺寸,样品物质组分和热分布不均的影响,结果非常具有可靠性。可测量30nm-30μm的涂层与薄膜样品,样品面积约25mm²采用芯片式设计,样品于传感器紧密接触,构成一个缩小的热带发导热测量模型,可配置锁相放大器,以适应3ω法对样品的in-plance和cross-plance导热进行测量。可以适应不同材质样品。无论是金属,陶瓷,半导体等无机薄膜还是有机薄膜,都可以用TFA测量模块化设计, 根据需求,添加测量模块。1:瞬态导热测量磨坏:锁相放大器 配置3ω测量单元,可测平面,交叉面导热系数,比热等2: 霍尔效应测量模块: 配置磁场单元,可测霍尔电压,迁移率,载流子浓度。3 低温附件模块:-150°-400°C 样品两侧均安装LN2管道, 有利于样品两侧温度控制。导热系数:稳态热带法,3ω法。电阻于霍尔系数:范德堡法赛贝克:静态直流法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581948_3060548_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581949_3060548_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581950_3060548_3.png

  • 【求助】SDT Q600综合热分析仪的检测范围有哪些?谢谢大家!

    大家好,SDT Q600综合热分析仪的检测范围有哪些?我从搜集的资料来看,Q600综合热分析仪可以检测“熔点、沸点、固相转变临界点、居里温度、玻璃转化温度、结晶时间、结晶温度、结晶度、融化热、反应热、多成分材料的组成、材料的热稳定性、材料氧化安定性、氧化诱导期、固化速度与程度、反应动力学、裂解动力学、水份和挥发物质的含量”等,但是玻璃转化温度据我所知没法测量,请大家帮忙,非常感谢!

  • 热分析应用

    "热分析"这个词具有广泛的含义,根据国际热分析和量热协会组织(1CTAC)的定义,热分析是指在程序温度下,测量物质的物理性质与温度关系的一类技术。热分析技术包括热重分析(TG)、离析气体检测(EGD)、离析气体分析(EGA)、放射热分析、热离子分析;差热分析(DTA)、差示扫描量热(DSC)、热机械分析(WA)、热声计、热光学计、热电子计、热电磁计等。   随着各种技术的相继问世,热分析已在各个领域中得到应用。从矿物、天机物、金属、陶瓷到聚合物、电子材料、有机物、药物、食品和生物器官,热分析被应用于每一个研究领域,并逐渐扩展到工业生产和质量控制中。   本文概述了1997-1998年热分析方法的进展与应用;所选文献多为某一领域的综述性文献。 1.热分析仪器、技术与方法   关于热分析领域新仪器和方法的发展与应用已有数篇综述[1-6],其总的发展趋势是新技术的进步,应用领域的延伸;样品重量的减少,扩散和渗透到生产线,使用计算机和机器入。在DSC,DTA领域的一个进展是调制式示差扫描量热仪、热分析仪(modulated DSC, modulated DTA)的出现[7,8]。它在传统DSC线性加热或冷却基础上叠加了一个正弦的温度加热速率,再利用傅里叶转换不断地对调幅热流进行计算,从而得到比传统DSC更多的信息,如总热流、调幅热流、可逆热流、不可逆热流及热容。同时具有高灵敏度和高分辨率,弥补丁传统DSC不能同时具备高灵敏度和高分辨率的不足。MDESC已经在高分子表征的几个方面被证实有特殊用途,包括将复杂转变分离成易解析的部分,提高检测微弱转变的灵敏度,由一个实验过程直接测量热流和比热变化。在食品方面,比如冰冻食品的加工和储存。冷冻食品的脆性,蛋白质的变性等方面都有应用。   由热分析仪与其它仪器的特长和功能相结合,实现联用分析,扩大分析内容,是现代热分析仪发展的一个趋势。已有商品化的各类联用量热仪,比如热重分析仪与叮红外分析仪,色谱仪,质谱仪的联用等。另外值得一提的是同时联用技术。它是在程序控温下,对同一试样同时采取两种或多种分析技术进行分析,其优点是显而易见的。近期发展的有紫外-可见光示差扫描热卡量热仪(DPC)、微调制热分析仪及微热机械仪等。微调制热分析仪、微热机械是原子力显微镜与微量调制热分析及热机械分析技术相结合的结果。将传统的AFM的探针用极微小的热电阻取代,同时用于加热及温度测量,以AFM分析显示材料的形貌、相应位置的热传导及热扩散区域分布和物理性质的变化。显微镜分析与热分析、热机械分析相结合为其在诸如材料科学、制药学、催化剂、薄膜、电子成分、法医科学及生物体系等领域的应用及研究提供了有力的手段。   在最近的二十年、光声及光电技术被引入量热研究,用于浓缩材料的热性质研究和各种材料、结构的热波探测[9]。在制药工业应用的反应量热仪可以通过中央个人电脑控制16个反应参数并由屏幕进行监测[10]。在微反应器中用小型化的量热仪监视热物理反应的可能性已经讨论[11]。用于测定燃料燃烧热的热弹量热仪其两个发展方向是测量及数据处理的高度自动化和无水热弹量热仪的发展[12]。动力学量热法是基于温度调制方法和绝热方法发展起来的,可以得到动力学热容数据。这是与材料的动力学相关的一个基本量,Jeong对其进展进行了综述[13]。动力学量热仪已被用于过冷液体的慢弛豫研究。自由模式动力学研究方法用于DSC研究中,提供了一种可靠的数学表达式来描述化学反应[14]。Marison对生物反应量热仪进行了综述[15]。滴定量热仪被主要应用于四个主题的研究[16]:(1)水溶液中的配对焓和溶质-溶质相互作用参数;(2)离子表面活性剂形成胶束的解体;(3)蛋白-配体相互作用[17];(4)高分子吸附剂上被吸附物的吸附。滴定量热还被用于某些反应热的测定[18]。 2.热分析方法的应用 2.1 材料,化工和炸药推进剂  DSC被用于研究无机玻璃的结构松弛过程[19],铁酸盐不锈钢结构变化[20]、金属氧化物和玻璃的热力学和化学结构[21]以及多孔材料相转变[22]、材料防火性测试[23]及气体性质研究[24]等。此外,DSC非常适合热硬化性粉末涂料性质的测定,二者被认为是完美的搭配[25]。热分析方法还被用于黑色物质(碳、焦碳和活性炭)的分析[26],研究有机添加剂对水泥水合特性的改变[27,28]等。热分析方法被认为是研究高能材料特别是推进剂稳定性的最重要最有前途的工具之一,被用于推进剂反应性、反应机理、储存时间以及炸药安全性等研究[29-32]。 2.2 有机化学  在有机化学,尤其是物理有机化学领域,热分析方法得到了广泛的应用。一方面被用于反应机理的研究,例如不同构型己二醇的乙酰化反应的量热研究[33],有机随机网状物中的向列型相到各向同性相的转变[34]。利用热分析方法可以测定反应的生成焓、活化能以及晶格能、张力能等热力学数据。例如系列卤化有机铵的标准摩尔生成焙和品格能[35]、含氢键的柔性有机网络的客体键合的平衡、动力学和能力学研究[36]及非平面环共扼分子的共振和张力能[37]等。Belichmeier提供了一种由DSC曲线测定有机反应活化能的简单而有效的方法[38]。另一方面,热分析仪被用于合成条件的控制。例如,用差示扫描量热仪可以方便地控制反应条件,实现杂环的合成[39]。热分析方法还被用于新合成产物的表征[40,41]以及多组份有机物质的纯度测定[42]。 2.3 高分子聚合物  在高分子领域,DSC、DTA已成为表征合成高分子的常规手段[43-47]。另一方面,还被用于高分子性质研究,如聚酯的热力学[48]、高分子填充物和有机酸的相互作用[49]、富有稀土化合物的高分子的性质[50]、氧化诱导时间[51]、细菌共聚多酯的性质[52]、工业乳剂的聚合[53]及聚合物上一些无机和有机离子的离子交换热化学[54]等。利用光差示扫描量热计还可以检测高分子的聚合效率[55]。 2.4 物理化学  量热技术,尤其是浸入和流体吸附量热法,气体吸附微量量热法在表面化学领域有着广泛的应用[56-59]。已被用于评价不同碳材料的化学性质(表面性质、亲水/疏水性、酸/碱性)和物理性质(表面积、孔径分布等)[60],研究金属纤维,真空蒸发膜和单晶的吸附性质[61],基于PEO,LiI和高表面无机氧化物的复合固态电解液的热性质[62]等。量热技术的发展对热力学的贡献是显而易见的[63-65]。它被用于超声实验[66]、薄膜反应热力学和动力学[67]、表面活性剂在固液界面的吸附和热力学[68]、无机阴离子的交换萃取和吸附反应热[69]、荷电金属氧化物/电解液界面的离子吸附的热效应[70]、混合物界面测定[71]、有机液体的热可逆性凝胶化的结构研究[72]、硝酸钠和高氯酸钠溶液在298.15K水-有机混合相中的热化学[73]以及工业中重要的聚合物和胶体在水分散中溶胶-凝胶转变[74]等。DSC是研究固体热性质的最惯用的直接测定方法。它被广泛用于计算无定性材料结晶过程的动力学参数[75]、玻璃态结晶氰基金刚烷的亚稳态[76]、无定型材料的低温性质[77]、液晶的高压性质[78]以及热容的测定[79-81]。由扫描和控压扫描量热仪可测定有机液体和聚合物在宽的压力和温度范围内的热物理性质[82]。热分析方法还是研究相平衡及相图的有力工具[83-85]。 2.5 生物化学  热分析法在生物化学领域得到了广泛的应用,并发展了专门的生物微量量热仪。热分析法被用于研究模型DNA三联体和四联体的稳定性和结构及其与小配体的相互作用[86]、脂双分子层的斜中间相的相转变[87]、测定胰岛素敏感性[88]、抗体分子剖析[89]、药物-DNA相互作[90]、肽和磷脂双分子膜的相互作用[91]、淀粉酶和相关酶的DSC,ITC[17]、蛋白质稳定性的热力学[92]、肌球蛋白和微丝蛋白的DSC研究[93]及酵母生长抑制研究[94]等。 2.6 制药、食品营养及环保  在制药领域使用DSC、TGA及TM(热显微镜)进行药物多形性和热分析[95]、药物定量控制和多形系统描述[96]、制药技术中的液晶系统分析[97]等。热分析方法还被用于食品营养领域[98-100],如热带植物生产的淀粉的物理性质和分子特点[101]、食物中蛋质、糖、脂等大分子的DSC研究[102]、并且是人体能量平衡、营养状态的评价手段之一[103]。在环保领域进行了铬对土壤中有机物质生物降解影响的量热分析[104],利用热分析结合萃取和重液分离部分确定了空气悬浮微粒中碳元素和可溶、难溶有机物的总量[105]。

  • 热重差热分析仪测粉末样品初始质量持续下降?

    实验室用的日立STA7300热重差热分析仪,在测试粉末样品时,样品的初始质量会一直下降,多时可以达几十个微克。是否通吹扫气体并不影响,烘干后的样品也会质量下降,而金属等块状样品则没有这个现象。还有哪些原因呢?

  • 同步热分析仪中坩埚的选择

    同步热分析仪进行试验少不了试验坩埚的应用,那么它该怎么选择呢?  1.三氧化二铝坩埚(陶瓷坩埚)。在TGA实验中是常用的坩埚,它对绝大多数样品比较稳定,不与样品发生反应,且在室温到1650℃范围内,三氧化二铝坩埚没有热反应,三氧化二铝坩埚的熔点超过1700℃,可以重复使用,但清洗过程稍微麻烦。   2.铂金坩埚。铂金坩埚也是可以重复使用的坩埚。铂金坩埚具有很好的导热性能,与陶瓷坩埚相比,在同步热分析仪中使用铂金坩埚,可以获得较好的同步DSC测试结果。但是需要注意的是铂有可能成为某些样品的催化剂,所以使用前要仔细分析。铂金坩埚的熔点在1770℃。进行高温测试时,铂金坩埚可能与某些金属及化合物形成共熔点,坩埚的熔点降低,导致坩埚粘在传感器上。解决金属样品和铂金坩埚形成合金这一问题,可以通过在铂金坩埚底部加入一薄层氧化铝粉末,然后将金属样品放在氧化铝粉末上面。   3.铝坩埚。铝坩埚在TGA实验中使用只能进行低温实验,高温度不能超过600℃,因为铝坩埚的熔点为600℃。铝坩埚的热传导很好,坩埚臂及底部均较薄,所以测试的同步DSC信号较好。而且铝坩埚可以很好地密封。所以对于希望用同步热分析仪测试DSC结果,且测试温度低于600℃,可以选择铝坩埚。  4.蓝宝石坩埚。蓝宝石坩埚的成分也为三氧化二铝,可以重复使用。蓝宝石坩埚具有更强的稳定性和阻隔性,尤其适合测试在高温下容易分解和穿透普通氧化铝坩埚的高熔点金属,如钢。而普通陶瓷坩埚虽然成分也是三氧化二铝,但其具有多孔结构,容易使熔体透过。蓝宝石坩埚的熔点也超过1700℃。  5.对于同步DSC,要想获得较好的DSC信号,尽量选择金属坩埚。  6.如果样品发泡或者会从坩埚中溅出,要在坩埚上加带孔的盖子。  TGA测试期间,坩埚当然是开口的。但是在实际测试前将坩埚密封也是比较重要的,因为这样可以防止样品在测试前与空气接触,可以防止在实验前样品中的水分挥发。实验开始前可以将坩埚立即钻孔,在进行实验,这一过程在自动进样器上可以很好地完成。  通常情况下TGA实验使用的坩埚为70uL的氧化铝坩埚。但有时热重实验也需要使用其他特殊的坩埚。如果希望在热重测试的同时获得比较好的同步DSC曲线,可以使用70uL的铂金坩埚或者使用40uL的铝坩埚(温度低于600℃)。如果样品的挥发组分非常少,或者非常不均匀,这种情况要使用尽可能多的样品。这时要使用更大的坩埚,如150uL的铂金坩埚或者氧化铝坩埚或者使用900uL的氧化铝坩埚。

  • 薄膜表面穿透孔的孔径检测

    我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!

  • 综合热分析仪是不是DSC基线不稳?

    综合热分析仪是不是DSC基线不稳?

    用耐驰的综合热分析仪STA 449 F3 烧了好几种材料,包括玻镁板粉末和硅酸铝纤维,目的是测材料比热。基线都是如下往上扬,硅酸铝纤维减去基线之后的DSC曲线出现了负值,我想说是不是基线上扬得太厉害,高温时减去的数值太多以致出现负值?基线:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/10/201210231244_398712_2412898_3.jpg硅酸铝纤维DSC:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/10/201210231245_398713_2412898_3.jpg

  • STA同步热分析仪有哪些应用?

    公司新收购了一台STA同步热分析仪,可以串联红外和质谱,我们是食品药品环境器械工业品检测的第三方检测,请问大家在哪些项目可以应用?

  • 热分析仪器及配套耗材

    [size=18px][color=#ff0000][font=微软雅黑, sans-serif] 本公司自成立以来, 一直致力于铝、铂金、铜、氧化铝、氧化锆等各种材质的热分析坩埚的研制与开发,是国内唯一专业生产热分析坩埚的厂家。产品主要有铝坩埚、铜坩埚、铂金坩埚、氧化铝坩埚、氧化锆坩埚坩埚等, 外形尺寸为直径4--100MM, 高度1--140MM的各种规格,品种齐全,长年备有现货。氧化铝坩埚可在17000℃高温下长期使用。氧化锆陶瓷坩埚, 使用温度高达2200℃。具有耐酸碱、耐气体侵蚀、抗冲刷等良好性能,广泛用于冶金、电子、航天等不同的领域。[/font][font=微软雅黑, sans-serif][/font][/color][/size][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]   公司专业生产DSC差示扫描量热仪、SDTA差热分析仪、TGA热重分析仪等各种热分析仪专用的氧化铝、氧化锆等材质坩埚已有近二十年的历史,为国内首家生产企业,最小壁厚可达到0.2—0.3mm。适用于德国林赛斯Linseis、美国PE、美国TA、德国耐驰NETZSCH、瑞士梅特勒Mettler、法国塞塔拉姆SETARAM、日本岛津Shimadzu、日本理学Rigaku、日本精工SII、德国布鲁克AXS等,并提供来样来图加工定制。先后为北京光学仪器厂、上海天平仪器厂、德国NETZSCH、法国SETARAM、美国TA等国内外先进的热分析仪器厂商供货,产品质量得到国内知名高校和科研院所的首肯,远销港台、欧美、中东等地。[/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000][/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]欢迎试用对比,我们将竭诚为您提供最优质的产品和服务。QQ:71885649,微信:sunming457134[/color][/size][/font]

  • 热分析仪器及配套耗材

    [size=18px][color=#ff0000][font=微软雅黑, sans-serif] 本公司自成立以来, 一直致力于铝、铂金、铜、氧化铝、氧化锆等各种材质的热分析坩埚的研制与开发,是国内唯一专业生产热分析坩埚的厂家。产品主要有铝坩埚、铜坩埚、铂金坩埚、氧化铝坩埚、氧化锆坩埚坩埚等, 外形尺寸为直径4--100MM, 高度1--140MM的各种规格,品种齐全,长年备有现货。氧化铝坩埚可在17000℃高温下长期使用。氧化锆陶瓷坩埚, 使用温度高达2200℃。具有耐酸碱、耐气体侵蚀、抗冲刷等良好性能,广泛用于冶金、电子、航天等不同的领域。[/font][font=微软雅黑, sans-serif][/font][/color][/size][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]   公司专业生产DSC差示扫描量热仪、SDTA差热分析仪、TGA热重分析仪等各种热分析仪专用的氧化铝、氧化锆等材质坩埚已有近二十年的历史,为国内首家生产企业,最小壁厚可达到0.2—0.3mm。适用于德国林赛斯Linseis、美国PE、美国TA、德国耐驰NETZSCH、瑞士梅特勒Mettler、法国塞塔拉姆SETARAM、日本岛津Shimadzu、日本理学Rigaku、日本精工SII、德国布鲁克AXS等,并提供来样来图加工定制。先后为北京光学仪器厂、上海天平仪器厂、德国NETZSCH、法国SETARAM、美国TA等国内外先进的热分析仪器厂商供货,产品质量得到国内知名高校和科研院所的首肯,远销港台、欧美、中东等地。[/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000][/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]欢迎试用对比,我们将竭诚为您提供最优质的产品和服务。QQ:71885649,微信:sunming457134[/color][/size][/font]

  • 热分析仪器及配套耗材

    [size=18px][color=#ff0000][font=微软雅黑, sans-serif] 本公司自成立以来, 一直致力于铝、铂金、铜、氧化铝、氧化锆等各种材质的热分析坩埚的研制与开发,是国内唯一专业生产热分析坩埚的厂家。产品主要有铝坩埚、铜坩埚、铂金坩埚、氧化铝坩埚、氧化锆坩埚坩埚等, 外形尺寸为直径4--100MM, 高度1--140MM的各种规格,品种齐全,长年备有现货。氧化铝坩埚可在17000℃高温下长期使用。氧化锆陶瓷坩埚, 使用温度高达2200℃。具有耐酸碱、耐气体侵蚀、抗冲刷等良好性能,广泛用于冶金、电子、航天等不同的领域。[/font][font=微软雅黑, sans-serif][/font][/color][/size][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]   公司专业生产DSC差示扫描量热仪、SDTA差热分析仪、TGA热重分析仪等各种热分析仪专用的氧化铝、氧化锆等材质坩埚已有近二十年的历史,为国内首家生产企业,最小壁厚可达到0.2—0.3mm。适用于德国林赛斯Linseis、美国PE、美国TA、德国耐驰NETZSCH、瑞士梅特勒Mettler、法国塞塔拉姆SETARAM、日本岛津Shimadzu、日本理学Rigaku、日本精工SII、德国布鲁克AXS等,并提供来样来图加工定制。先后为北京光学仪器厂、上海天平仪器厂、德国NETZSCH、法国SETARAM、美国TA等国内外先进的热分析仪器厂商供货,产品质量得到国内知名高校和科研院所的首肯,远销港台、欧美、中东等地。[/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000][/color][/size][/font][font=微软雅黑, sans-serif][size=18px][color=#ff0000]欢迎试用对比,我们将竭诚为您提供最优质的产品和服务。QQ:71885649,微信:sunming457134[/color][/size][/font]

  • 热分析仪故障排除经验分享

    本人从事热分析仪器售后等服务已经15年时间,特别对于TA,METTLER仪器更有心得。如有兴趣者欢迎来信、来电切磋!richard@thermoforce.net; 021-60480748

  • 请教:如何选择合适的热分析仪器检测产品?

    公司做汽车电池产品,现在对电池内外硅胶的要求:电芯部分的硅胶在电池工作过程中,温度为40-60℃的样子,要求导热系数达到3.0;而电池外部硅胶部分要求阻燃,600℃不会着火,极限条件下700℃左右着火,这外面的硅胶导热系数在0.2的样子。电芯部分硅胶最小尺寸在直径0.2mm,外面硅胶最小尺寸在直径3mm。请问选择怎样的导热分析仪来检测分析,从而判别硅胶材料是否达要求。或者能通过别的检测手段实现目的吗?请各位前辈不吝赐教,多指点一二,非常感谢!

  • 采用光热法进行涂层测厚的技术-----涂魔师非接触无损测厚仪

    采用光热法进行涂层测厚的技术-----涂魔师非接触无损测厚仪

    [b]涂魔师非接触无损测厚仪采用领先的光热法 (ATO)工作原理[/b][url=http://www.tumoshi.com/flex]涂魔师非接触无损测厚仪[/url]采用非接触式无损测厚专利技术ATO,它能测量湿漆、固化前的粉末涂料实时精准得出干膜厚度,或者直接测量固化后的涂层厚度。涂魔师适用于各种涂料类型和所有颜色(包括白色等浅色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他基于光热法、激光和超声波原理的设备相比,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等测量优势。[align=center][img=,480,480]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/11/202011171428151193_9795_928_3.jpg!w480x480.jpg[/img][/align][b]轻松拿起设备,即可实现一键测厚[/b]涂魔师非接触无损测厚仪是一款具有独特设计且功能齐全的非接触式精准测厚设备,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场。精确监控涂装工艺全过程,通过优化工艺能节省高达25%的涂装材料消耗量,有效节约生产时间并降低返喷率。[b]手持式非接触膜厚分析仪特色功能测湿膜直接显示干膜厚度[/b]在生产前期非接触式测量未固化的涂层直接得出涂层的干膜厚度,如粉末涂料、油漆等[b]非接触式无损测厚领先专家[/b]采用先进的热光学专利技术,无需接触或破坏产品表面涂层,在允许变化角度和工作距离内即可轻松测量膜厚[b]无需严格控制测量条件[/b]允许测量各种颜色的涂料(不受浅色限制);适用于外形复杂的工件(如曲面、内壁、边角、立体等隐蔽区域)[img]http://www.tumoshi.com/public/img/bg-img/benefits.png[/img][b]适合生产车间现场使用[/b]便携灵活的手持式设计,能够连续实时测量生产线上的移动工件,对于摇摆晃动的工件都能精确测量膜厚[b]数据自动记录及生产全过程[/b]100%测量数据安全自动储存于云端,实现生产工艺的统计及不间断追溯,高效监控膜厚真实情况[b]测量时间短,一键即可完成膜厚测试[/b]涂魔师非接触无损测厚仪测量精度高且操作简单,测试时间仅需0.5秒[b][url=http://www.tumoshi.com/flex#collapseOne]技术参数-涂魔师手持式非接触膜厚分析仪,高精度镀层测厚仪[size=10px][font=FontAwesome][/font][/size][/url][url=http://www.tumoshi.com/flex#collapseOne][size=10px][font=FontAwesome][/font][/size][/url][/b]烘干前湿漆 测量范围:1-400 微米固化前的粉末涂料 测量范围:1-400 微米固化后粉末涂料/烘干后干漆 测量范围:1-1000 微米测量时间:0.3 秒允许测量距离:2 – 15 厘米允许倾斜角度:±45°能否测量运动工件:允许相对标准偏差: 1%(取决于涂层/基材类型)访问测试数据方式:通过ERP和浏览器实时访问数据IP防护等级:IP20[b][url=http://www.tumoshi.com/flex#collapseTwo]MP Bolagen Industri AB公司的涂装团队经理对涂魔师手持式非接触膜厚分析仪的评价[size=10px][font=FontAwesome][/font][/size][/url][url=http://www.tumoshi.com/flex#collapseTwo][size=10px][font=FontAwesome][/font][/size][/url][/b]“我们决定在涂装工艺早期使用涂魔师来控制我们的工艺,从而保证使用正确的喷粉量,这样我们就不会消耗过多的粉末涂料。因此我们能确保生产高质量产品的同时避免了返工和保护了环境。”

  • 薄膜表面穿透孔的孔径检测

    我现在使用的薄膜,可以渗透水蒸气,但是不能透过液态水。所以想找相关得仪器测试测试一下薄膜表面能够穿透薄膜的孔的大小,做过扫面电镜和比表面积及孔径分析仪的检测,扫面电镜只能看到薄膜表面的凹坑,不能确定这个凹坑是否穿透薄膜。孔径分析也是这样,测得都是凹坑的孔径分布。但我现在想做穿透孔的测试,望大神们给予建议,谢谢!

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