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样品射线吸收近边分析

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样品射线吸收近边分析相关的耗材

  • 日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜
    SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪日本堀场SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪备件样品杯样品膜油中硫分析仪SLFA imageHORIBA的SLFA系列油中硫分析仪多年来一直是石油工业中的多数选择。我们不断的改进仪器性能,拓展仪器的适用性,来满足用户的要求。我们的X射线荧光硫分析仪符合美国ASTM D4294和ISO 8754 ,同时提供最符合成本效益的石油中的硫测量。SLFA - UV21系列操作简便,具有无与伦比的精度和准确性,符合ASTM标准D5453紫外荧光技术和ISO 20846 ,具有极佳的灵敏度,提供了更低水平级别的硫元素的测定。荧光X射线油中硫分析仪SLFA-60SLFA-60 X-ray Fluorescence Sulfur-in-Oil AnalyzerHORIBA introduces the new standard of transportable sulfur-in-oil analyzers, the SLFA-60. This instrument introduces new software and hardware features to meet the growing changes in the petroleum industry. The instrument has expanded storage of calibration curves and data can be exported using USB output.SLFA-2100/2800SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪SLFA-2100/2800荧光X射线硫分析仪是专为满足近期低硫燃料,柴油和RFG中硫元素新的检测要求。
  • X射线样品台配件
    X射线样品台配件是X射线衍射仪高温附件适合多种应用,温度范围高达-196度(液氮)到1500摄氏度,是X射线高温样品台。X射线样品台配件特点结构紧凑,温度可变,温度可选范围高达零下196摄氏度到1500摄氏度,适合所有类型的显微镜,材料科学,光谱测量和电子研究。尺寸仅为13x13x2cm,可用于真空环境或空气以及其他气体环境。温度控制精度高达0.1摄氏度,可编程控制所有类型的时间和温 度。我们还能给X射线衍射仪高温附件提供窗口(包括光学窗口和X射线窗口),用于真空环境,从而使得样品台用于任何显微镜,傅立叶变换红外光谱仪FTIR,烂漫和X射线衍射仪装置。X射线样品台配件应用X射线衍射,拉曼光谱,材料科学,张力测量,热分析,SEM,TEM, FTIR,SAXS。X射线高温样品台配件温度范围范围1: 室温-60摄氏度范围2: -5到99摄氏度范围3:-25到120摄氏度范围4:-40到120摄氏度范围5:-196到420摄氏度范围6:-196到600摄氏度类型7:室温到1000摄氏度类型8:室温到1200摄氏度类型9:室温到1200摄氏度类型10:室温到1400摄氏度类型11:室温到1500摄氏度X射线样品台配件参数尺寸:13x13x2cm电源:115-220V, AC重量: 约800g温度分辨率:0.1摄氏度材料:铝质Felles公司专卖X射线样品台,X射线衍射仪高温附件,X射线高温样品台。
  • X射线光谱分析XRF样品杯(帕纳科Panalytical适用)SC-3345
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。  品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-3345 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包
  • 牛津仪器 X射线荧光分析专用薄膜(麦拉膜)
    chemplex样品杯耗材删除美国ChemplexX射线光谱仪配件耗材删除XRF样品膜Chemplex 106耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014(美国XOS适用)耗材删除美国Chemplex XRF样品杯(适用布鲁克s8)耗材删除详细说明【产品描述】  1、产品名称:X射线荧光分析专用薄膜(麦拉膜)  2、品牌:牛津  3、产品规格:100mx75mm/卷  4、适用于台式荧光分析仪,试用型号:LabX3000、LabX3500、X-Supreme8000、MDX1000  5、其他说明:适用于测量液体里元素含量应用【产品描述】  1、产品名称:手持式荧光分析仪专用XMET样品膜,麦拉膜  2、品牌:牛津仪器  3、产品规格:100mx75mm/卷  4、适用于手持式荧光分析仪,试用型号:XMET5000、XMET5100、XMET7000、XMET7500、XMET7000e  5、其他说明:Rohs有毒有害物质测试、土壤分析
  • X射线荧光光谱分析膜TF-160#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#(SKY-160) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-160# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴
  • X射线荧光分析-美国VHG独家供应
    X射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis美国Vhg Labs佰汇兴业(北京)科技有限公司地址:北京市海淀区西八里庄路69号 西楼201室美国VHG Labs标准物质&mdash 佰汇兴业(北京)独家供应 佰汇兴业(北京)科技有限公司是美国VHG Labs中国区独家服务机构,是专业从事检验检测设备和消耗材料的高新技术企业。公司主要提供国际先进的科学试验检测设备和国际知名品牌的标准样品、化学制剂及消耗品。产品服务于各类科研院所,各大学实验室,中石油、中石化以及相关行业的研发中心、实验室等。VHG Labs 是世界最大的生产金属油基和水基标准样品的公司,为分析化学领域提供高质量的产品和服务。VHG Labs 的金属有机标样通过 ICP、AA、RDE、DC、XRF 等仪器来分析测定油和有机溶剂中的金属。另外,还提供符合 ASTM 标准的含硫、氯和金属标样用于石油类产品的检测。VHG Labs符合ASTM、NIST 等国际标准,通过ISO9001:2000和ISO/IEC17025:2005认证,所有产品配有全面分析证明书(Certificate Of Analysis,COA)美国VHG Labs主要产品如下:石油类标准样品 Pertoleum Standards标准废油分析 Standards for Used Oil Analysis废油分析 PTP Program for Used Oil Analysis单元素磨损金属有机标准 Single-Element, Wear Metal Metallo-Organic Standards多元素金属磨损标准 Multi-Element Wear Metal Standards内部标准 Internal Standards金属添加剂标准 Metal Additive Standards基体空白和溶剂 Matrix Blanks and Solvents稳定磨损金属标准 Stabilizer for Wear Metal Standards多元素冷却剂标准 Multi-Element Coolant Standard燃料稀释标准 Fuel Dilution Standards裂纹检测的参考标准 Crackle Test References卡尔费休滴定认证参考标准 Karl Fischer Titration Certified Reference Standards烟尘含量标准 Soot Content Standards氮、硫、氯金属标准 Standards for S, N, Cl and Metals单元素无硫金属有机标准 Single Element Sulfur-Free Metallo-Organic Standards金属有机标准 Metallo-Organic ConcentratesX射线荧光分析 Internal Standards for XRF Analysis喷雾抑爆剂AA分析 Ionization Suppressant for AA Analysis氮标准 Nitrogen Standards硫和金属油标 Sulfur and Metals in Oil Standards聚硫石油标准 Polysulfide Oil StandardsSulfur in Mineral Oil StandardsSulfur in Diesel Fuel StandardsSulfur in Isooctane StandardsSulfur in Kerosene StandardsSulfur in Crude Oil StandardsSulfur in Residual Oil Standards基体油和溶剂 Matrix Oils and Solvents硫和氯的标准 Sulfur and Nitrogen Standards紫外荧光硫标准 Sulfur Standards for UV Fluorescence标准比色法硫标准 Sulfur Standards for Ratiometric Colorimetry硫醇和硫化氢标准 Mercaptan and Hydrogen Sulfide Standards含硫化合物的选择性检测 Sulfur Compounds by Selective Detection氯油标准 Chlorine in Oil Standards标准汽油中的含铅量分析 Standards for Lead in Gasoline Analysis油品物理测试标准 Petroleum Physical Test Standards闪点参考资料 Flash Point Reference Materials粘度参考资料 Viscosity Reference Standards倾点参考资料 Pour Point Reference Materials浊点参考资料 Cloud Point Reference Materials冰点参考资料 Freezing Point Reference Materials蒸馏标准 Distillation StandardsTAN和TBN参考资料 TAN and TBN Reference Materials水/酸基标准样品 Aqueous Standards单元素标准 Single Element StandardsA+单元素标准 A+ Single Element StandardsNIST的高性能ICP-AES标定 NIST High Performance ICP-AES ProtocolSpeciation Standards同位素标准 Isotopic Standards原子吸收标准 Atomic Absorption Standards基体改进制、电离缓冲器和释放剂 Matrix Modifiers, Ionization Buffers and Releasing Agents离子色谱法和湿化学标准 Ion Chromatography and Wet Chemistry Standards阴离子标准 Anion Standards阳离子标准 Cation Standards洗脱液Eluents多离子标准 Multi-Ion Standards湿化学标准水质分析 Wet Chemistry Standards for Water Analysis水质量检验样品 QC Check Samples for Water Supply (WS)水污染质量检验样品 QC Check Samples for Water Pollution (WP)多元素标准的 ICP-AES 和 ICP-MS 分析 Multi-Element Standards for ICP-AES and ICP-MS 多元素标准 Multi-Element StandardsICP-MS调节、优化和内部标准 ICP-MS Tuning, Optimization and Internal Standards普通环境标准 General Use Environmental Standards微量金属元素检验样品 QC Check Samples for Trace Metals国际环境标准 International Environmental Standards饮用水,TCLP和污水标准 Drinking Water, TCLP and Water Pollution StandardsSecond Source Standards Pair-MatchedSpiking SolutionsEPA Method Standards Cross Reference ChartEPA Methods 200.7 & 6010 for ICP-AESEPA Methods 6010 & CLP for ICP-AESEPA Method 200.8 for ICP-MSEPA Method 6020 and CLP for ICP-MS固体标准样品 Solid StandarsX射线荧光光谱法标准,符合RoHS/WEEE XRF Standards for RoHS/WEEESolid Standards (S & N)Binder和成型材料,研磨添加剂 Binder and Briquetting Materials, Grinding AdditivesSoils for QC & Reference分析仪器配件及耗材 Instruments Consumables自动杯和管 Autosampler Cups and TubesICP 和 ICP-MS 耗材 ICP and ICP-MS Consumables蠕动泵管 Tubing for Peristaltic PumpsFlaring Tool for Peri-Pump TubingMixing Tees for Sample IntroductionNebulizers and Sample DeliveryTorches, Spray Chambers & AccessoriesICP-MS法锥 ICP-MS ConesICP-MS法锥维修工具包 ICP-MS Maintenance KitAA 和 GFAA 消耗品 Consumables for AA and GFAAGFAA管及耗材 GFAA Tubes & Parts氢化物和汞冷蒸汽用品 Hydride and Hg Cold Vapor Supplies空心阴极灯 Hollow Cathode LampsX 射线荧光光谱消耗品 Consumables for XRFXRF样品杯 XRF Sample CupsXRF样品杯薄膜 Thin Film for XRF Sample CupsXRF配件 Accessories & Tools for XRF气相分析消耗品 Consumables for Gas Analysis石墨坩埚 Graphite Crucibles
  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • TF-160#(SKY-160)X射线荧光光谱分析膜
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、X射线荧光光谱分析、美国Premier样品膜TF-160#(SKY-160) 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-160# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴
  • 氮化硅薄膜窗-X射线用
    X射线透射显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗口 产品概述: X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低),穿透能力越差,所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作(即薄膜与光束成一定角度)时,也需要较薄的薄膜窗口,便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成,由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅(0-250MP)薄膜,因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸:1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸:2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸:3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度: 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度:50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品(30-500nm),但要100片起订。 本产品为一次性产品,不建议用户重复使用,本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标: 透光度: 对于X射线用窗口,500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果,对于软X射线(例如碳边吸收谱),100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性: 真空适用性数据如下:   薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度: 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定(粗糙度小于1nm),对于X射线应用没有任何影响。 温度特性: 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品,能够承受1000度高温,非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性: 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点: 1、 同步辐射X射线(紫外或极紫外)透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底,适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境,利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜(薄膜直接沉积在窗口上)。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后,窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底,也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献:PRL
  • 射线荧光样品器、XRF样品杯SC-3332
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯--SC-3332 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:所有型号CAT. NO(欢迎来电索取产品目录) 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。 一、美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。  二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录:目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-333223mm25mm32mm10mL100个/包
  • XRF样品杯、射线荧光样品器SC-4231
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、XRF样品杯、X-ray样品杯、美国Premier样品杯-SC-4231 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO4231 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。 一、美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。  二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品杯目录:目录编号CAT. NO高内径外径容积数量SC-423124mm25mm32mm12mL100个/包
  • 射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯
    美国Chemplex样品杯XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型:XRF样品杯Sample Cups品牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国一、产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z、Xlt794、Xlt898;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。)三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。
  • XRF样品杯、射线荧光样品器1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1800系列:带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • 纳米X射线显微镜
    超高分辨率非破坏性3D成像 Nano XCT-100是世界唯一的对微米体积样品进行3D观察的实 验室超高分辨率CT扫描系统。精密的X射线聚焦光学系统提供了 50nm的成像分辨率,将X射线CT的能力大大延伸至纳米尺度。当吸 收衬度很低时,集成的Zernike相位衬度成像技术增强了所有边缘和 界面的可视性。nanoXCT-100提供了可靠的3D体积信息,而其它截 面成像技术和破坏性方法只能获得部分信息。 应用: - 生命科学和生物医学研究 - 半导体封装技术开发和失效分析 - 先进材料科学研究 - 石油天然气勘探分析
  • 测试杯规格、射线荧光样品器SC-3345
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、土壤样品杯、美国Premier样品杯SC-3345 一、美国Premier XRF样品杯: 美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。 Premier XRF样品杯能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。 为了对样品杯与XRF仪器提供的样品夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样品杯前请告知您使用过的样品杯型号(CAT. NO),或X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样品夹持设备的内径、高度和孔径。  品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO SC-3345 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT. NO 高 内径 外径 容积 数量SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100个/包
  • 铍窗伽马射线封装
    纯铍加工品/铍封装一、成分 Be98%、及以上二、He泄露率 5×10-9以下[Pa・m3/s]三、标准尺寸 圆形φ10mm~φ90mm公差±0.2mm正方形宽度:0~120mm,长度~120mm公差±0.2mm,(75mm以上尺寸±0.5mm)各种形状及尺寸定制板厚板厚公差t0.03~0.10mm±0.01mmt0.10~0.30mm±0.05mmt0.30~2.0mm±0.1mm四、铍(Be) 材料在X射线中的优势 ※ 优异的X线穿透性,硬X射线:波长较短为0.05-0.1Å ,软X-射线:波长较长为0.1-10Å 。波长在0.001-2.5Å范围的为X射线,波长较短,难以穿透高密度物质,低密度的铍(Be)可以实现极强的穿透能力。吸收系数约低,意味着穿透能力越强。故:在波长为0.1-数Å的X-射线中 Be元素的穿透力大大强于Al元素※ X线照射所产生的二次放射线较少。※ 软X射线产生高密度离子,高效快速消除静电。五、铍元素的特征※ 重量轻,刚性大是铝密度的2/3,弹性系数是其3~4倍。※ 耐热性优异,在轻量金属中,融点最高。※ 声音传播速度快,音色通透明亮,“纯铍振膜”多被顶级音响及耳机采用。※ X射线的穿透率高,系数说明。铍元素 Be铝元素 Al鉄 Fe原子号41326原子量9.01326.9855.85结晶构造六方最密充填面心立方α,δ:体心立方γ:面心立方密度 [g/cm3]1.842.697.86弾性係数 [kN/mm2]27575205融点 [℃]1,2856601,530比热 [J/(kg・K)]1,779921461热传导率 [W/(m・K)]18022275线性膨胀系数 [/K]11.6×10-623.6×10-611.7×10-6声音的传播速度 [m/s]12,6006,4205,950抗拉强度[N/mm2]275-635100-490600-650屈服强度 [N/mm2]205-410100-410205-235延伸率 [%]1-203050-60六、应用领域※ 医疗行业※ 光电离 ※ X线分析设备 ※ X线安检设备 ※ 电子显微镜※ 同步辐射实验室※ 伽马射线探测
  • 赛诺普Xenocs X射线成像模块
    InXight X射线成像模块InXight是Xeuss 3.0的X射线成像可选模块,它可以在X射线散射测量和X射线成像之间进行快速自动切换。这大大提高了Xeuss 3.0仪器的测试能力,测量尺寸范围从埃米级到毫米级。全面认识您的样品对聚合物,泡沫,复合材料,生物材料等新应用的开发,不仅需要了解他们的材料结构,还需要评估生产过程和使用条件的影响。通过测量加工材料或异质材料的宏观结构,结合Xeuss 3.0散射测量,其中InXight模块有助于理解宏观结构的非均质性和纳米或原子结构之间的关系。大面积X射线探测视野以及低至几十微米的分辨率,是进行局部区域测量的理想选择。通过快速切换测量配置,InXight可以在进行原位动态研究时同时采集X射线图像和X射线散射图谱。分析的典型材料包括聚合物、复合材料、玻璃或薄的无机样品。X射线源在散射和成像之间的自动快速切换InXight正在申请专利的测量配置包括一个X射线成像源,该X射线成像源产生一个锥形光束,大范围照射位于Xeuss 3.0样品台上的样品,并将X射线透射图像投射到Q-Xoom探测器上。 X射线源快速自动切换,可确保在同一样品上连续自动进行X射线散射和X射线成像。InXight X射线成像模块 具有InXight X射线成像模块的Xeuss 3.0 获取从埃米级到毫米级的样品结构信息 通过成像选取目标,研究散射信息 在原位SAXS/WAXS实验过程中,结合X射线成像可监测样品变化。
  • X射线荧光光谱仪样品杯2144#
    美国Chemplex样品杯XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。产品类型:XRF样品杯Sample Cups品牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国一、产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z、Xlt794、Xlt898;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。)三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。
  • X射线荧光光谱仪样品杯盒1850#
    XRF样品杯、X荧光光谱仪样品杯、射线荧光样品器、美国Chemplex样品杯1850# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号:CAT. NO:1850 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1850 : 1.69”(42.9mm) 1.87”(47.5mm) 0.77”(19.6mm) 1.41”(35.8mm) 13mL 100
  • X射线胶片用的封套\牛津样品膜TF-160#
    土壤样品杯膜、XRF測試用的麥拉膜材質、美国Premier样品膜TF-160# 品名:XRF样品膜Sample Film 型号: CAT. NO TF-160# 品牌:美国Premier Lab (原装进口) 货期:现货 起订量:1盒以上。一、美国Premier XRF样品膜:美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域,以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film)以其极低的(几乎不含)杂质和厚度均匀而严格生产,极好的柔韧性和抗化学腐蚀性,保证检测结果的可靠性和重现性,被广泛应用于XRF样品制备、检测过程,适用于各类X-ray光谱仪(XRF:WD-XRF、ED-XRF)。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测,适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。二、Premier 样品膜特点: 有卷状和片状,多种规格、尺寸、数量可供选择; 柔韧性强、方便、耐用; 极佳的X-ray射线穿透性,适合各类XRF光谱仪; 极佳的抗化学腐蚀性能,不溶于有机溶剂,不污染待测样品; (几乎不含)痕量杂质,特别适合于轻质元素的限量检测。三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。四、XRF样品膜目录:美国Premier X-ray样品膜种类:(1)、Hostaphan膜;(2)、Kapton膜:聚酰亚胺膜,卡普顿膜;(3)、Mylar膜:聚酯薄膜,迈拉膜,麦拉膜;(4)、Polypropylene膜:聚丙烯膜。目录编号:CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述TF-160 Mylar迈拉膜 6.0μ(0.24mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar?Rolls连续卷轴
  • x射线定硫仪消耗品样品薄膜,迈拉膜,样品杯
    Chemplex样品薄膜 型号:090,250 品牌:Chemplex 产地:美国 一、产品介绍: 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测,WEEE检测和一般材料成分分析时,由于样品的不规则(特别是液体、粉末等),需要借助样品杯和薄膜辅助检测;但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中,只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料? 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础: 使用方便快捷; 避免造成待测样品污染; 优越的分析物透射比与强度; 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性极佳,与样品杯组合使用,适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 林奥仪器作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品! 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X 射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、 Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世,在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外,薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成,托框能够在组装过程中自动分离,留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时,薄膜物质并不会被直接处理,这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时,薄膜将自动从托架上分离,留下绷紧的无皱样本支撑窗。106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416、CAT.NO:426等Cat. No.TypeThicknessFormatSizeQty/Pack446-5Kapton?7.5 μm (0.3mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)50090Ultra-Polyester?1.5μm (0.06mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)95Etnom?1.5μm (0.06mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)100Mylar?2.5μm (0.1mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)100-PPMylar?2.5μm (0.1mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)106Mylar?2.5μm (0.1mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500107Mylar?2.5μm (0.1mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000150Mylar?3.6μm (0.14mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)150-PPMylar?3.6μm (0.14mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)156Mylar?3.6μm (0.14mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500157Mylar?3.6μm (0.14mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000250Mylar?6.0μm (0.24mil)Roll3.0" (76.2mm)300' (91.4m)250-PPMylar?6.0μm (0.24mil)Roll - PrePerf3.0" (76.2mm)300' (91.4m)256Mylar?6.0μm (0.24mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)500257Mylar?6.0μm (0.24mil)Precut Circles2.5" (63.5mm)1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来,一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域,拥有多系列独有的特色产品线以及产权,以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、技术支持、服务周到、准时交货为原则,几乎所有的产品有库存。w我公司代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品:XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物(块/粉)、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室,是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家!
  • X射线荧光光谱分析专用标准物质
    X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%
  • X射线样品杯样品膜
    X射线样品杯样品膜迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜美国XOS定硫仪Sindie样品杯1850现货耗材删除X荧光分析仪XOS薄膜200335-02耗材删除美国XOS备件200334-01耗材删除美国Chemplex XRF薄膜样本支撑窗CAT. No.3014(美国XOS适用)耗材删除XOS定硫仪样品膜200335-1和XOS定硫仪样品杯膜200335-2耗材删除XOS定硫仪样品杯200334-1耗材删除美国XOS样品杯490016-01样品杯490016-02耗材删除
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--1330# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:1330 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 1400系列:带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯; CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 1330 : 1.21”(30.7mm) / 0.90”(22.9mm) 0.97”(24.6mm) 7mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3120# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3120 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3120 : 1.20”(30.5mm) / 0.91”(23.1mm ) / 5.5mL 100
  • 射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115#
    XRF样品测试杯规格、射线荧光样品器、X荧光光谱仪样品杯、美国Chemplex样品杯--3115# 品名:XRF样品杯Sample Cups 型号: CAT. NO:3115 品牌:美国Chemplex(原装进口) 货期:现货 起订量:1包以上(100个/包)。一、美国Chemplex XRF样品杯: 美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的知名厂商。 Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国商标局授予知识产权地位。二、Chemplex 样品杯特点: Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。  三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF:日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 CAT.NO: 外部直径 外部直径 高度 孔径 容量 个/包 3115 : 1.20”(30.5mm) / 0.99”(25.1mm) / 1.0mL 100
  • X射线荧光膜、土壤样品杯膜、聚丙烯膜3024#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Polypropylene聚丙烯膜、ROHS测试膜--美国Chemplex-3024#现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3024产品信息:Polypropylene聚丙烯,厚度12.0μm,直径76.2mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。3024 Polypropylene聚丙烯 12.0 μ 0.00050” 0.50mil 0.0127 mm 3.0”(76.2mm) 100片
  • 锂影 多位样品台 其他X射线仪配件
    苏州锂影科技有限公司X射线衍射仪用多位粉末样品架产品信息X射线衍射仪用多位粉末样品架为锂影科技为日本理学smartlab衍射仪开发的一种部件,已经获得专利授权(201922379738.4)。也可以针对其它公司的各种衍射仪进行改造。 该样品架配合衍射仪的XY样品台使用,可以实现5个粉末样品的自动位置切换、高度对准以及XRD的测试,大大提升了仪器操作的便捷性。尤其是可以用其在夜间进行多个样品的自动连续测试,可以提高仪器测试效率。 耗材配件售后服务1、免费上门安装:否 2、保修期:1年 3、是否可延长保修期:是4、保内维修承诺:免费维修或更换5、报修承诺:24小时内响应,7日内解决问题6、免费仪器保养:无7、免费培训:1人次网上培训8、现场技术咨询:有 苏州锂影科技有限公司为您提供高端衍射仪个性化定制服务
  • X射线转换屏
    这款X射线转换屏是欧洲进口的优质闪烁体转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种X射线转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这X射线转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄成像荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的X射线转换屏,高分辨率的X射线荧光屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。
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