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进口四探针粉末测试仪

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  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 【讨论】最新产品——PFT粉末流动测试仪

    美国brookfield公司最新推出了一款PFT(Powder Flow Tester)粉体流动测试仪,因对散体粉末材料的流变研究较为少见、特提出来请大家交流讨论一下:PFT粉体流动测试仪:BROOKFIELD 粉体流动测试仪可对工业加工设备中粉体的流动行为进行快速且简便的分析;评估粉体从储存容器中的流出性;快速定性新配方的流动性能和组分调整,以满足特定产品的流动特性。对粉体的流动函数、时间固结、壁面摩擦、松装密度等进行评估分析。多种粉体流动特性数据输出:流动指数、弓状尺寸、鼠孔尺寸、料斗半角、壁面摩擦角、松装密度曲线等。应用最大颗粒尺寸:5mm, 90% 3mm混合型饮料建筑材料:- 水泥- 粉煤灰- 石膏- 熟石灰化妆品洗涤剂食品:- 谷类食物- 巧克力- 面粉- 调味品- 香料 & 调味剂矿物医药淀粉

  • ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么

    ICT测试治具在使用的过程中通常需要用到探针来进行测试,探针是电测试的接触媒介,是一种高端精密型电子五金元器件。探针的选用主要是根据ict测试治具线路板的中心距和被测点的形状而定,PCB板上所要测试的点与点之间越近,选用探针的外径也就越细。http://www.guoluzaiju.com/uploadfile/2012/0522/25741337657617.JPG通常ICT测试治具所用的探针有很多的规格,针主要是由三个部份组成:一是针管,主要是以铜合金为材料外面镀金;二是弹簧,主要琴钢线和弹簧钢外面镀金;三是针头,主要是工具钢(SK)镀镍或者镀金,以上三个部分组装成一种探针。 在选择探针的过程中应该要考虑以下几个因素: 1、探针质量需要符合要求 在ICT测试中对于探针的质量也是有很大的要求的,也就是说若是探针的质量是存在问题的,那么不仅会造成测试结果存在问题,还会造成其他的问题出现,因此人们在选择测试治具探针的时候一定要做好全面的检查工作,要保证质量2、探针型号需要符合要求 针对于ICT测试中不同的情况,不同的测试距离对于探针的型号的要求就会有很大的不同,我们应该根据不同的线路板的中心距和被测点的形状来选择探针型号。以上就是为大家总结的有关ICT测试治具的探针选用的过程中应该注意些什么的介绍,希望可以帮到大家,本文出自:http://www.guoluzaiju.com/show-267-3378.html【捷甫电子,陈勇兵,0755-89494572 http://www.guoluzaiju.com/】公司专业生产、销售ICT在线测试仪(TR-518FE、TR-518FR、TR518FV)、ICT测试治具,功能(FCT)测试治具、DIP/SMT过炉治具(载具)、自动测试系统、成型设备、BGA测试治具,提供各种ICT测试仪的维修保养。公司专注于ICT测试仪和测试治具8年。

  • 【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    【原创大赛】扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高

    扫描探针显微镜废针的改造再利用及分辨率的提高前言:扫描探针显微镜(SPM)一般操作模式有轻敲模式,接触模式,非接触模式等。我们实验室一般采用接触和轻敲模式,由于这两种模式都会与样品有接触,这就不可避免的给探针尖端造成磨损使其变钝,由于针尖较粗,探针的侧面将先于针尖与样品发生接触,从而引起所成图像的失真,将导致扫描出来的图片有严重的“加宽效应”影响图像准确度,造成探针严重浪费增加检测成本。本人在一次做纳米颗粒搬迁实验的过程中,本来是想用探针去移动一个细小颗粒a,结果颗粒粘附到针尖上了,之后扫描出来的粉末颗粒尺寸明显变小,如下图(一)B图和C图作对比明显(框定区域为扫描区域)B图颗粒大于C图。通过这个现象,如果在磨损后的探针针尖上,堆积上一层金字塔形纳米级的金颗粒,会不会使磨损的探针针尖变得更加尖锐呢?如果可以的话以此①可以提高扫描样品时探针的分辨率②减小由于探针针尖不够尖锐带来的“加宽效应”③可以使磨损探针再利用减少耗材成本。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480183_2224533_3.jpg图(一)原理:通过对钝探针针尖堆积纳米金颗粒使其变得尖锐,如图二http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011628_480184_2224533_3.jpg图(二)实验设备:BRUKER布鲁克公司的扫描探针显微镜,仪器型号:Nanoman VSLeica莱卡的高真空镀膜仪,型号:LEICA EM SCD 500 探针为多次使用后磨损严重的废针,如图三http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480185_2224533_3.jpg图(三)实验过程:选取一块玻璃片,取少量粉末颗粒分散在其上,然后在玻璃片上划一道刻痕做个标记。目的是为了保证整个扫描过程都能找到同一个区域同一个粉末上做比较,以次确保实验的有效性,如图四http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480186_2224533_3.jpg图(四)随机选取一颗探针,不做任何处理在标记处扫描图像。如下图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312020832_480224_2224533_3.jpg图(五)在图像里头随机选取两个粉末,上面颗粒命名为A,下面颗粒命名为B,进行测量其尺寸分别为A=163nm,B=204nm;如图五http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011629_480187_2224533_3.jpg图(六)取下探针放在另一快玻璃片上,然后放如高真空镀膜仪内,镀膜时间为20s。取出玻璃片拿下探针,可以明显看到玻璃片上探针放置处遮挡了玻璃片没有镀上膜的痕迹。如图六http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480188_2224533_3.jpg图(七)装上探针,寻找到同一区域,同一粉末颗粒,仪器使用的扫描速率尺寸等条件不变。扫描后对颗粒测量A=127nm; B=172nm.如图七http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/12/201312011630_480189_2224533_3.jpg[

  • 电子探针测试碳纤维的氧元素分布问题

    各位专家各位朋友大家好!请教一下用电子探针测试碳纤维径向元素分布的问题(纤维直径20um左右,由于不是成品导电性不好)我的测试方法,是将纤维(直径20um左右)埋在树脂里制成金相,打磨抛光后,露出纤维截面,喷碳后,用导电胶粘在电子探针样品台上,在显微镜里观察纤维,但纤维总是飘动,且看不清,原因应该是导电不好或者是我的金相没有制备好。由于电子束难以聚集在纤维上,没能测出纤维截面上径向的氧元素分布。想请教一下你们是怎么做的呢?这个问题也困扰了我很久,期待大家的回复。

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

  • 【分享】AFM探针分类及各探针优缺点

    AFM探针分类及各探针优缺点   AFM探针基本都是由MEMS技术加工 Si 或者 Si3N4来制备. 探针针尖半径一般为10到几十 nm。微悬臂通常由一个一般100~500μm长和大约500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微悬臂大约100μm长、10μm宽、数微米厚。   利用探针与样品之间各种不同的相互作用的力而开发了各种不同应用领域的显微镜,如AFM(范德法力),静电力显微镜EFM(静电力)磁力显微镜MFM(静磁力)侧向力显微镜LFM(探针侧向偏转力)等, 因此有对应不同种类显微镜的相应探针。   原子力显微镜的探针主要有以下几种:   (1)、 非接触/轻敲模式针尖以及接触模式探针:最常用的产品,分辨率高,使用寿命一般。使用过程中探针不断磨损,分辨率很容易下降。主要应用与表面形貌观察。   (2)、 导电探针:通过对普通探针镀10-50纳米厚的Pt(以及别的提高镀层结合力的金属,如Cr,Ti,Pt和Ir等)得到。导电探针应用于EFM,KFM,SCM等。导电探针分辨率比tapping和contact模式的探针差,使用时导电镀层容易脱落,导电性难以长期保持。导电针尖的新产品有碳纳米管针尖,金刚石镀层针尖,全金刚石针尖,全金属丝针尖,这些新技术克服了普通导电针尖的短寿命和分辨率不高的缺点。   (3)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备,分辨率比普通探针差,使用时导电镀层容易脱落。   (4)、大长径比探针:大长径比针尖是专为测量深的沟槽以及近似铅垂的侧面而设计生产的。特点:不太常用的产品,分辨率很高,使用寿命一般。技术参数:针尖高度 9μm;长径比5:1;针尖半径 10 nm。   (5)、类金刚石碳AFM探针/全金刚石探针:一种是在硅探针的针尖部分上加一层类金刚石碳膜,另外一种是全金刚石材料制备(价格很高)。这两种金刚石碳探针具有很大的耐久性,减少了针尖的磨损从而增加了使用寿命。   还有生物探针(分子功能化),力调制探针,压痕仪探针

  • 【求助】粉末涂料粒度测试仪器选择

    想买台仪器来测喷粉的粉末涂料的粒度分布,哪位行家有好的推荐:另:干法分散好还是湿法分散好?用什么分散介质合适?涂料的主要基质是树脂,还有一些填充料及消光料,如硫酸钡、碳酸钙等,估计粒度范围0~120μm,希望最佳分布范围10~70μm,中位粒径希望大约35μm。

  • 【资料】使用接地电阻测试仪的一些注意事项

    接地电阻测试仪广泛的使用于电力、邮电、铁路、石油、化工、通信、矿山等部门测量各种装置的接地电阻以及测量低电阻的导体阻值。在使用过程中偶尔会出现一些小问题。  接地电阻测试仪注意事项如下几点:  1、使用接地电阻测试仪的时候注意电流极插入土壤的位置,应使接地棒处于零电位的状态。  2、测试宜选择土壤电阻率大的时候进行,如初冬或夏季干燥季节时进行。下雨之后和土壤吸收水分太多的时候,以及气候、温度、压力等急剧变化时不能测量。  3.接地电阻测试仪的一些开关元件不能单独跨接在有源电路中作差模保护,为避免电源短路,必须串接限压元件。  4.用作差模保护的直流高压发生器件,其限制电压必须小于被保护设备所能承受的最高安全电压。  5、被测地极附近不能有杂散电流和已极化的土壤。  6、接地线路要与被保护设备断开,以保证测量结果的准确性。  7、探测针应该远离地下水管、电缆、铁路等较大金属体,其中电流极应远离10m以上,电压极应远离50m以上,如上述金属体与接地网没有连接时,可缩短距离1/2~1/3。  8.流过直流高压发生器件的浪涌电流必须小于其脉冲峰值电流。压敏电阻应按其降额特性选择。  9、当接地电阻测试仪的检流计灵敏度过高时,可将电位探针电压极插入土壤中浅一些,当检流计灵敏度不够时,可沿探针注水使其湿润。  10、连接线应使用绝缘良好的导线,以免接地电阻测试仪有漏电现象。相关资料来源于:http://www.chem17.com/st176094/Article_140284.htmlhttp://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09506.gif

  • 探针磨损与损坏问题

    有没有哪位大神,总结过关于探针磨损的注意事项以及损坏掉的探针的特征之类的问题,求分享一下。最近试验总是出现测出的图像很奇怪的现象,拉长,斜向拉长,或者图形轮廓不明显,以及波形不匹配等等问题,求教哪些是参数引起的,那些可能是探针已经损坏了。

  • 新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针测试结果对比 P-Si

    新旧探针的对比。请查阅~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09503.gif新针轮廓和形貌都很好。但是貌似还是有点点失真。估计是激光不稳定啊~下次扫出更好的再与大家分享~http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09501.gifhttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/07/201207101217_376794_2435835_3.jpg

  • 【分享】了解荧光探针

    在紫外-可见-近红外区有特征荧光,并且其荧光性质(激发和发射波长、强度、寿命、偏振等)可随所处环境的性质,如极性、折射率、黏度等改变而灵敏地改变的一类荧光性分子,包括有机试剂或金属螯合物。   最常用于荧光免疫法中标记抗原或抗体,亦可用于微环境,如表面活性剂胶束、双分子膜、蛋白质活性点位等处微观特性的探测。通常要求探针的摩尔吸光系数大,荧光量子产率高;荧光发射波长处于长波且有较大的斯托克斯位移;用于免疫分析时,与抗原或抗体的结合不应影响它们的活性。  也可用于标记待定的核苷酸片断,用与特异性地、定量地检测核酸的量。如Ca2+荧光探针:钙黄绿素(Calcein),Fluo-3,Fura-2/AM Mg2+荧光探针:Mag-Fura-2,[Dy-Mn]聚合物

  • 寻电子探针测试常用标准

    我是一个电子探针的新手,想找一些定量分析相关的资料,网上看到有一些电子探针分析的标准,可不知道哪里有卖的?各位,谢了!

  • AFM在接触模式下探针的选择问题

    大家好,我是新手,最近在准备实验的过程中遇到了一些问题,在网上一直找不到答案,特向各位请教。 最近在做一个测量弹性系数的实验,需要用到原子力显微镜的接触模式,同时对探针的弹性系数要求比较大,约为1~5N/m。接触式探针的弹性系数一般小于1N/m,不能满足实验要求,请问弹性系数较大的轻敲式探针可以用于AFM的接触模式吗? 另外,厂家提供的探针弹性系数为一个范围值,需要怎样测定探针的准确弹性系数,可以用共振法测得共振频率,再结合探针的外形尺寸来测得弹性系数吗?

  • 药厂对于粉末需要测量参数?

    提到测量粉末 主要就是从两方面入手一、粉末的粗细度分布情况,俗称粒度大小的分布情况,二、粉末的物理特性,如 分散度、凝集度、振实密度、松装密度、流动性、安息角、抹刀角、崩溃角、差角等等。 要想知道我们所测的粉体粒度的粗细度分布情况,早些年我们所采用的粒度分布仪,随着科学的发展和进步现在我们采用的大都是激光粒度仪。激光粒度仪:是专指通过颗粒的衍射或散射光的空间分布(散射谱)来分析颗粒大小的仪器。根据能谱稳定与否分为静态光散射粒度仪和动态光散射激光粒度仪。为什么采用激光作光源? 激光是一种具有良好准直性、单色性的光源,由于它的单色性,当颗粒进入到激光束中时,可以得到清晰的光散射能谱分布,而这些能谱分布与粒径有关。国外的激光粒度仪性能虽好但价格昂贵且安装调试返修等事宜相对麻烦现国内很多激光粒度仪的厂家,并且产品性能稳定,安装调试及售后服务方便。在这里我们先推荐一款性价比及使用企业比较多的两款型号1、GJ03-S01激光粒度仪/激光粒度分布仪 2、GJ03-Z01全自动激光粒度分布仪/全自动激光粒度仪 这两款的主要区别就在于全自动激光粒度仪进样方式是采用全自动蠕动循环系统有机溶剂微量样品系统;下面我们来看一下粉体的物理特性通常根据药厂自身情况如我们其他特性无需测量 只需要测密度 那我们就单买振实密度仪或是松装密度仪,如果只测粉末的流动性那么就单配霍尔流速计就可以了,以免其他项目不测 买综合特性测试仪浪费money。如果所有的参数 :散度、凝集度、振实密度、松装密度、流动性、安息角、抹刀角、崩溃角、差角,都测 那我建议配置一台粉体综合特性测试仪。这样的话比单独一项项买省钱。综合特性测试仪国内只有为数不多的厂家生产,不想激光粒度仪的厂家那么多。这里呢我们只推荐一款供大家参考GJ03-09粉体综合特性分析仪。

  • 【分享】微孔分布测试仪的主要特性

    微孔分布测试仪主要应用领域:催化剂,广泛用于石化、化工、医药、食品、农业、精细化工等领域;吸附剂,如活性炭、分子筛、活性氧化铝等,广泛用于环保领域;颜填料,无机颜料、碳酸钙、氧化锌、氧化硅、矿物粉等;陶瓷材料原料,氧化铝、氧化锆、氧化钇、氮化硅、碳化硅等;炭黑、白炭黑、纳米碳酸钙等用于橡塑材料的补强剂等;新型电池材料,如钴酸锂、锰酸锂、石墨等电极材料;发光稀土粉末材料;磁性粉末材料,如四氧化三铁、铁氧体等;纳米粉体材料,包括纳米陶瓷材料、纳米金属材料,纳米银粉、铁粉、铜粉、钨粉、镍粉等;其他,如超细纤维、多孔织物、复合材料、沉积物、悬浮物等  微孔分布测试仪的主要特性:  测试时间:多点BET法比表面积平均每个样品15分钟,孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟  主要功能:可实行BET比表面积(多点及单点)测试,Langmuir比表面积测试,炭黑外比表面积测定,吸附、脱附等温曲线测定,BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定;  真空系统:极限真空度6×10-2Pa  微孔分布测试仪测量范围:比表面积≥0.01M2/g至无规定上限,孔尺寸0.7~400nm;  样品数量:可同时测定1-4个样品;  测量精度:≤±2%;  微孔分布测试仪的压力控制:高精度压力传感器,数字显示,精度0.2%,独特的充气与抽气速度自动控制系统  运行方式:高度自动化,智能化,长时间运行可以无人看管自行测试  测试气体:高纯氮气(不用氦气),氮气消耗量极小  微孔分布测试仪的吸附过程:样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出,液氮消耗极少  软件系统:在Windows平台上,提供过程控制和数据采集、处理、报告系统,多种测试方法可自由方便选择,在计算机屏幕上,同步显示吸、脱附,比表面积及微孔分布测量仪测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据;本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便;

  • 求购二手探针台

    要求:进口的, 12寸,二手的手动探针台,带显微镜。如有此仪器的请联系我,具体的配置可再详谈。邮箱:2401493191@qq.com

  • 【原创大赛】基于高光谱成像技术的虫草粉末无损鉴定的实验探索

    【原创大赛】基于高光谱成像技术的虫草粉末无损鉴定的实验探索

    摘要通过近红外高光谱成像技术建立对冬虫夏草粉末的真假鉴别及含量判断的无损检测方法。方法:1、通过光谱范围为1um~2.5um的高光谱相机对真假及不同含量的虫草粉末进行高光谱反射光谱采集。2、通过反射率校正、噪声与背景去除后,通过主成分分析变换(PCA)提取真假样本,再通过偏最小二乘法变换(PLSA)对样本含量进行分析判断。结论:通过近红外高光成像技术可以准确的对虫草粉的真假进行差别,并可对虫草粉有效含量进行评判,含量评判准确性有待进一步验证。1、 实验部分 1.1 仪器与样本 仪器:测试仪器为北京卓立汉光仪器有限公司自主开发的高光谱分选仪-GaiaSorter-N25(如图1)。光谱范 围1~2.5um,光谱分辨率10nm,帧速100fps。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_648459_488_3.jpg 样本:由青海唐古拉药业公司提供的10种[/s

  • 粉末样品的电化学性能测试?

    我们实验室主要是做粉末样品的形貌研究的,如聚苯胺、氢氧化镍等,最近买了一台电化学工作站CHI660D,但是不太清楚如何进行粉末样品的测试,所以请请教一下做过类似测试的老师和同学。我看文献上有先将样品和乙炔黑、PTFE混合,然后涂到镍网或者玻碳电极上进行测试的,不知道大家是不是这样测试的。还有,想请教下乙炔黑和PTFE那里有购买的,还有镍网,再次感谢~~

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