激光粒度及电位分析仪

仪器简介： 90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪，粒度测量采用动态光散射原理，是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理，带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；3.样品体积：1～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 4.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 5.温控范围：-5℃～110℃,±0.1℃； 6.激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 7.检测器：APD或PMT；8.相关器：4*1011线性通道，支持两路互相关； 9.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 10.散射角：15°和90°；11.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；12.电导率范围：0,20S/m；13.电泳迁移率范围：10 -10-10 -7 m2 /V.s；14.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；3.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；4.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 5.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm；2.插入式电极，耐腐蚀，可重复使用； 3.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 4.综合最新最全的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 5.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

产品简介： 90Plus PALS高灵敏度Zeta电位及粒度分析仪是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑应用案例 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用zui优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用最小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

仪器简介：PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。技术参数：1.Zeta电位部分：1)电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm2)样品体积：0.18～1.5ml3)pH值测量范围：1-144)电导率范围：0-30S/m5)电泳迁移率范围：10-11 ～10-7 m2 /V.s6)温度控制：-5 ~110℃，±0.1℃7)电场强度：0 ～ 60kV/m8)电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；2.粒度及分子量测量部分：1)粒度范围：0.3nm～10μm（与折射率，浓度，散射角有关）2)典型精度：1％3)样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)4)样品体积：1～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）5)分子量测定范围：342～2×107Dalton6)激光源：40mW固体激光器(可选5mW He-Ne激光器)7)检测器：PMT或APD8)相关器：4*1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。主要特点：ZetaPALS是目前唯一能够精确测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS（相位分析光散射）技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍！

产品介绍：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科公司（Malvern Panalytical）纳米颗粒表征技术后，在NS-90纳米粒度分析仪基础上进一步增加zeta电位测试功能而推出的新一款产品。NS-90Z具有优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和表面电位的测试需求。该仪器使用电泳光散射技术测定zeta电位，动态光散射技术测量粒子和分子粒度，以及静态光散射技术测定蛋白质与聚合物的分子量。NS-90Z融合马尔文帕纳科M3-PALS相位分析检测技术，并广泛采用全球化供应链的优质光电部件，例如进口雪崩式光电二极管（APD）检测器和He-Ne气体激光器等，加上精确的内部温控技术、密闭光纤光路以及先进软件算法，保障了数据的高重复性、准确性和灵敏度，使该型号仪器可以分析宽广的粒径、浓度及电位范围的样品。NS-90Z同时支持SOP标准操作，以及测量数据智能评估，方便用户使用。工作原理：NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型装置仪器中集成了三种技术：动态光散射技术： NS-90Z 纳米粒度及电位分析仪主要使用90度角动态光散射技术 (Dynamic Light Scattering/DLS) 来测量粒子颗粒和分子粒度。动态光散射技术也称为光子相关光谱 (Photon Correlation Spectroscopy/PCS) 技术。该技术利用光电检测器测量样品中粒子发生布朗运动所产生的散射光强波动信号，再通过数字相关器得到相关函数 (Correlation Function)，最后使用斯托克斯-爱因斯坦 (Stokes-Einstein) 方程计算出粒子的粒径与分布。通过本技术所测量的粒径是和被测量粒子以相同速度扩散的等效硬球的流体动力学直径。 静态光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射技术 (Static Light Scattering/SLS) 测量蛋白质与聚合物的分子量。静态光散射是一种非侵入技术，用于表征溶液中的分子。因粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度，使用静态光散射法可以确定蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射工作方式类似，当激光照射样品中的粒子时，粒子在各个方向上发生散射。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的时间平均强度。因这个时间平均光强不能反应信号随时间的动态变化，故称为 “静态光散射”。分子量单位为 Da（Dalton） 或g/mol。 电泳光散射技术： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪使用激光多普勒微量电泳法（Electrophoretic Light Scattering/ELS）测量zeta电位。分子和粒子在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度和zeta电位直接相关。NS-90Z使用相位分析光散射法 (Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS），成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到zeta电位平均值和分布曲线。用途： NS-90Z纳米粒度及电位分析仪是一种极高性价比的纳米颗粒表征仪器，适合需要较高粒度测量灵敏度，或者需要与使用90?散射角系统结果相同的应用。该仪器适用于对乳液、悬浮液、蛋白质等样品的分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体和乳液&bull 脂质体和囊泡&bull 粒子和表面的 Zeta 电位&bull 墨水、碳粉和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的用量以降低水处理成本&bull 缩短稳定分散体和蛋白质溶液的开发时间&bull 了解产品稳定或不稳定的原因，提高产品保质期&bull 防止形成蛋白质聚集体&bull 增加蛋白质浓度时保持稳定性 技术参数：【粒径】1.测量范围：0.3nm – 5000nm（以样品为准）2.测量原理：动态光散射法3.重复性误差：＜1%（NIST可追溯胶乳标样）4.最小样品容积：20μL5.最小样品浓度0.1mg/mL （以样品为准）【分子量】6.分子量测量范围：342 Da – 2×107 Da , 由流体动力学直径估算（动态光散射）7.分子量测量范围：9800 Da – 2×107 Da , 由德拜图计算 （静态光散射）8.测量原理：动态光散射，静态光散射9.最小样品容积：20μL（需要3-5种样品浓度）【Zeta电位】10. 测量原理：电泳光散射11. 灵敏度：10mg/mL 66kDa 蛋白质12. Zeta 电位范围：不限于-500mV~+500mV13. 最高样品浓度：40% w/v (以样品为准)14. 最小样品容积：20μL15. 最高电导率：200mS/cm16. 检测技术：M3-PALS【系统硬件】17.检测角度：90°＋13°18.激光光源：高稳定He-Ne 激光器，波长633nm，功率 4mW。19.激光安全：1类，符合CDRH 和 CE 标准20.检测器：雪崩式光电二极管（APD）检测器，QE50%21.相关器：采样时间25ns – 8000s，4000通道，1011动态线性范围22.冷凝控制方式：干燥空气吹扫*23.温度控制范围：0 °– 90°C 24.温度控制精度：± 0.1°C25.电源： AC 90 – 240V, 50 – 60Hz26.功率：50W【重量与尺寸】27.尺寸：320mm×600mm×260mm（W×D×H）28.重量：19 kg【运行环境】29.计算机配置：Intel Core 2 Duo，4GB内存，160G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 30.计算机接口： USB 2.031.操作系统：Windows 7, Windows 10 32.温度范围：15°C – 40°C33.环境湿度：20% – 70%， 无冷凝34.需外接气源性能特点：【先进的光学系统设计】 NS-90Z纳米粒度及电位分析仪在一台仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三两种技术。使用电泳光散射技术测量zeta电位，使用动态光散射技术测量粒度及分子大小，使用静态光散射技术确定蛋白质与聚合物的分子量。这种技术对整个系统的稳定性的要求极高，要求每个设计元素都必须实现优化，以确保高准确性和重现性。 NS-90Z采用光路密闭设计，防止污染。算法上使用全范围米氏理论（Mie Theory）。【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准操作程序（SOP）简化常规测量；自动调节各种样品的设置；操作简单，无须准直、校正或保养；智能化，可自动判断数据报告的质量。【高性能检测器】 使高效率的雪崩式光电二极管（APD）检测器，灵敏度远高于光电倍增管（PMT）。成本高但保障优化的测试性能。【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，4000通道，采样时间低至25ns。【稳定的激光光源和光路系统】 采用高稳定He-Ne 气体激光器确保数据的重复性，波长633nm，功率 4mW。可在300000:1的动态范围内自动调节激光衰减器。【精确的内部控温系统】 独立的循环温控槽可在0 – 90℃ 范围内任意设定，其控制精度达0.1℃，保障高重现性。软件功能：1.使用先进软件技术和界面，操作简单。2.全自动设置和测量：只需简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。3.支持SOP标准操作程序，确保操作的一致性和数据重复性。 4.测量数据的完全评估：仪器软件可根据测试条件自动判断数据报告的质量。 5.打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择图形和输入参数，就可根据不同的需要定制不同的报告。6.样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。 7.数据分析：数据以图形或表格的形式给出，分布算法适合各种样品包括单分散样品，宽分布样品以及多种模式样品。8.具有完善的介质粒度数据库

动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时，由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移，导致散射光信号随时间发生动态变化，该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关，而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小，颗粒大布朗运动速度低，反之颗粒小布朗运动速度高，因此动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪技术是分析样品颗粒的散射光强随时间的涨落规律，使用光子探测器在固定的角度采集散射光，通过相关器进行自相关运算得到相关函数，再经过数学反演获得颗粒粒径信息。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1、高效的光路系统：采用固体激光器和一体化光纤技术集成的光路，充分满足空间相干性的要求，极大地提高了散射光信号的信噪比。2、高灵敏度光子探测器：采用计数型光电倍增管或雪崩光电二极管，对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比； 采用边沿触发模式对光子进行计数，瞬间捕捉光子脉冲的变化。3、大动态范围高速光子相关器：采用高、低速通道搭配的结构设计光子相关器，有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾，实现了大的动态范围，并保证了相关函数基线的稳定性。4、高精度温控系统：基于半导体制冷技术，采用自适应PID控制算法，使样品池温度控制精度达±0.1℃。5、数据筛选功能：引入分位数检测异常值的方法，鉴别受灰尘干扰的散射光数据，并剔除异常值，提高粒度测量结果的准确度。6、优化的反演算法：采用优拟合累积反演算法计算平均粒径及多分散系数，基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布，测量结果的准确度和重复性都优于1%。纳米粒度及zeta电位分析仪测量纳米粒度及zeta电位分析仪是表征分散体系稳定性的重要指标zeta电位愈高，颗粒间的相互排斥力越大，胶体体系愈稳定， 因此通过电泳光散射法测量zeta电位可以预测胶体的稳定性。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪原理带电颗粒在电场力作用下向电极反方向做电泳运动，单位电场强度下的电泳速度定义为电泳迁移率。颗粒在电泳迁移时，会带着紧密吸附层和部分扩散层一起移动，与液体之间形成滑动面，滑动面与液体内部的电位差即为zeta电位。Zeta电位与电泳迁移率的关系遵循 Henry方程，通过测量颗粒在电场中的电泳迁移率就能得出颗粒的zeta电位。纳米粒度及zeta电位分析仪性能特点1.利用光纤技术集成发射光路和接收光路，替代传统电泳光散射的分立光路，使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰，有效地提高了信噪比和抗干扰能力。2.先对散射光信号进行频谱预分析，获取需要细化分析的频谱范围，然后在窄带范围内进行高分辨率的频谱细化分析，从而获得准确的散射光频移。3.基于双电层理论模型，求解颗粒的双电层厚度，获得准确的颗粒半径与双电层厚度的比值，再利用小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式，进而有效提高了纳米粒度及zeta电位分析仪的计算精度。Henry函数的取值：当双电层厚度远远小于颗粒的半径，即ka1，Henry函数近似为1.5。双电层厚度远远大于颗粒半径时，即ka1，Henry函数近似为1.0。使用小二乘曲线拟合算法对Wiersema计算的精确Henry函数值进行拟合， 得到优化Henry函数表达式.强大易用的控制软件ZS-920系列纳米粒度及zeta电位分析仪的控制软件具有纳米颗粒粒度和zeta电位测量功能，一键式测量，自动调整散射光强， 无需用户干涉，自动优化光子相关器参数，以适应不同样品，让测量变得如此轻松。控制软件更具有标准化操作(SOP)功能，让不同实验室、不同实验员间的测量按照同一标准进行，测量结果更具有可比性。测量完成自动生成报表，以可视化的方式展示测量结果，让测量结果一目了然。动态光散射纳米粒度及zeta电位分析仪的技术指标

Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪 产品简介： Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪完美结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术彻底解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。详细说明： 作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列 项目173173PlusOmniZetaPALS功 能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●● 技 术 参 数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选 件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度 ●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11 ～ 10-7 m2 /V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

简单介绍： ZetaPlus是简单、方便而且准确的电泳迁移率测量仪器，其独特的开放式样品槽设计与频谱漂移分析技术相结合，使其具有极高的分辨率，足以分辨等电点附近的多峰电泳分布情况。它的革新之处是从根本上消除了传统Zeta电位测量仪器中固有的电渗误差的影响，从而使测量变得准确而方便。详细说明：NanoBrook产品系列项目90Plus90Plus ZetaZetaPlus功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度测量范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位测量范围○－500mV～500mV电导率范围○0-20S/m电泳迁移率范围○10-10～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”工作原理ZetaPlus采用的是电泳光散射原理：带电颗粒在外加电场作用下进行运动，电荷运动使散射光产生频率漂移（多普勒频移）,采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。典型应用1.脂质体、生物胶体、医药2.陶瓷、胶乳、乳剂（食品、化妆品）3.颜料、油墨、炭黑技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5ml3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-20 S/m5）电泳迁移率范围：10-10～10-7m2 /V.s6）温度控制：-5～110℃, ±0.1℃7）电场强度：0～3.2 kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：1×103～2×1076）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪产品介绍： SZ901纳米粒度及Zeta电位分析仪是在SZ900基础上基于多年的科研成果开发的新一代纳米粒度和Zeta电位分析系统，采用动态光散射(DLS)和电泳光散射(ELS)原理分别进行纳米粒度测量和Zeta电位分析，被广泛应用于有机或无机纳米颗粒、乳液、高分子聚合物、胶束、病毒抗体及蛋白质等样品的颗粒表征及样品体系稳定性及颗粒团聚倾向性的检测和分析。 SZ901的性能和主要特点包括：◆经典90°动态光散射技术测量粒径，测量范围覆盖0.3nm – 15μm◆激光多普勒电泳技术用于Zeta电位分析，可预知分散体系的稳定性及颗粒团聚的倾向性◆加持自动恒温技术的功率可达50mW, 波长638nm的固体激光光源，仪器即开即用◆激光光源与照明光及参考光的一体化及光纤分束技术◆ 信号光与参考光的光纤合束及干涉技术◆ 集成光纤技术的高灵敏度和极低暗电流(20cps)的光子检测器◆ 常规温度控制范围可达0°C - 90°C, 可选120°C, 精度±0.1°C◆新一代高速数字相关器，动态范围大于10¹ ¹ ◆冷凝控制–干燥气体吹扫技术技术指标：测量原理动态光散射（DLS）、静态光散射（SLS）、电泳光散射（ELS）粒径测量角度90°粒径测量范围0.3nm -15μm*粒径度优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径重复性优于±1% （平均粒径，NIST可溯源标准样品）粒径测量小样品浓度0.1mg/ml粒径测量小样品量3ul*Zeta电位测量范围-600mV - +600mV电导率270mS/cm适用Zeta电位测量的粒径3nm – 100μm*电导率度±10%分子量范围340Da-2 x 107Da温度控制范围0°C - 90°C (120°C可选)温度控制精度±0.1°C光源集成恒温系统及光纤耦合的功率50mW, 波长638nm固体激光器相关器高速数字相关器，自适应通道配置检测器高灵敏度APD系统重量17kg外形尺寸365mm x 475mm x 180mm（LxWxH）

Rise-2202型全自动激光粒度分析仪此型号是一种智能型激光粒度仪，所有操作在电脑控制下自动完成，并具有自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动保存和自动打印等特殊功能。总之，只要把样品加进循环池中后点击鼠标，所有的操作全部由电脑完成，其综合性能达到国内外同类产品的先进水平。该仪器具有易于操作、便于掌握、测试速度快、结果准确性可靠、重复性好、省时省力等突出特点，是集激光技术、计算机技术、光电子技术于一体的新一代粒度测试仪器。特别适合高等院校、研究院所、大型企业的实验室选用。技术参数1、测量范围：0.1~600微米2、准确性误差：〈± 1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈± 1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220± 10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：1000× 330× 320mm6、重量：39KGRise-2202型全自动激光粒度分析仪工作原理： Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪采用最优的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2202型湿法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测分散液的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到90度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。样品分散：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪采用湿法分散，可用蒸馏水、纯净水和酒精等液体作分散介质。大功率超声器（100W）、样品分散池（400ml）与主机一体，能够充分的对被测样品进行分散。操作简便：Rise-2202型全自动激光粒度分析仪是一种智能型激光粒度仪，只需把样品加进循环池中后，所有的操作全部由电脑自动完成:自动进水、自动消除气泡、自动测试、自动排水、自动清洗、自动保存和自动打印等。测试信息设置：可根据被测样品的不同特性，预先设置超生时间、搅拌速度、循环泵速等信息并保存，下次测试时无需再次设置。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。功能强大的分析软件： PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2202型全自动激光粒度分析仪硬件简介：硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。

仪器简介：荷兰安米德(Ankersmid)已经在中国发布了其独特的粒度分析仪。针对现在的测量技术如激光衍射法和电子光学计数原理的局限性，Ankersmid的这款分析仪可以应用于更多的领域。采取的测量方法是TOT（时间转换）激光技术结。Ankersmid分析仪在测量高低浓度溶液、纤维、透明颗粒及各种颗粒的混合体时具有明显优势。利用复杂的动态粒形分析技术，我们可以清楚地给出颗粒详习粒度参数。技术参数：1.测量参数：粒度、粒形，浓度 2.测量范围：0.1-3600&mu 3.颗粒状态描述：液态、气态、气溶胶、在平面上或者在线主要特点：1.测量结果直接与颗粒大小相关，而不是二级特点推算出来 2.无需了解样品的折射指数以及其它光学特性及指标 3.能分析混合、透明、反射光的样品 4.无需对样品进行稀释 5.免校正

作为最先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达40%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，彻底解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。Omni是目前市场上功能最强大的粒度与Zeta电位分析仪。NanoBrook产品系列项目173173PlusOmniZetaPALS功能粒度测量功能●●●○分子量测量功能●●●○Zeta电位测量功能○○●●技术参数散射角15°与173°15°、90°与173°○粒度范围0.3nm-10μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○Zeta电位适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW光泵半导体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm（D），15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度●代表“有” ○代表“无”典型应用 1.蛋白、免疫球蛋白、缩氨酸、DNA、RNA、胶束 2.脂质体、外切酶体及其他生物胶体3.多糖、药物制备4.纳米颗粒、聚合物胶乳、微乳液5.油包水、水包油体系6.涂料、颜料、油漆、油墨、调色剂7.食品、化妆品配方8.陶瓷、耐火材料、废水处理、炭黑应用案例不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.粒度测量范围：0.3nm～10μm2.Zeta电位测量适用粒度范围：1nm～100μm3.样品浓度范围：0.1ppm至40%w/v(与颗粒大小和折射率有关)4.典型精度：1％5.样品类型：蛋白、纳米粒子、聚合物及分散于水或其他溶剂中的胶体样品6.样品体积：1～3ml7.分子量测定范围：342～2×107Dalton8.Zeta电位范围：-500mV～500mV9.电导率范围：0～30S/m10.电泳迁移率范围：10-11～ 10-7m2/V.s11.电场强度：0 ～ 60 kV/m12.电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯；耐腐蚀电极（选件）；微量电极（选件）13.温控范围与精度：-5℃～110℃，±0.1℃。14.pH测量范围：1-1415.激光源：35mW光泵半导体激光器（可选5mW He-Ne激光器）16.检测器：高灵敏雪崩型二极管（APD）17.相关器：4×522个物理通道，4×1011个线性通道，采用动态采样时间及动态延迟时间分配18.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数19.散射角：15°、90°与173°20.室温操作情况：10°C ～ 75°C，湿度 0% ～95%, 无冷凝21.大小及重量：233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D)，15 kg22.电源：100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W23.计算机（选件）：商用计算机，包括WindowTM软件24.自动滴定仪（选件）：独立四泵驱动，可对pH值、电导率和添加剂浓度作图

概述 PALS技术（PALS：Phase Analysis Light Scattering）是由布鲁克海文仪器公司开发的一项全新的Zeta电位测量技术，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍。许多从事新材料、生命科学、环境工程等新兴学科的研究人员长期以来苦于无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品进行分析，这就是因为其电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的灵敏度进行测量，ZetaPALS的出现为他们提供了准确可信的测量技术。 项目90Plus90Plus PALSZetaPALS功能粒度测量功能●●○分子量测量功能●●○Zeta电位测量功能○●●技术参数粒度范围0.3nm-6μm○分子量测定范围342～2×107Dalton○散射角15°与90°○相关器4×522个物理通道，4×1011个线性通道○适用粒度范围○1nm～100μmZeta电位范围○－500mV～500mV电导率范围○0-30S/m电泳迁移率范围○10-11～10-7m2/V.s电极○开放式永久型电极系统参数温控范围与精度－5～110℃，±0.1℃激光源35mW固体激光器检测器PMT或APD分析软件Particle Solution粒度与Zeta电位分析软件大小及重量233mm（H）×427mm（W）×481mm(D)，15kg选件BI-ZTU自动滴定仪可对PH值、电导率和添加剂浓度作图BI-870介电常数仪直接测量溶剂的介电常数值BI-SV10粘度计用于测量溶剂及溶液的粘度典型应用1.脂质体、生物胶体2.陶瓷3.颜料、油墨4.医药5.乳剂（食品、化妆品）6.废水处理7.胶乳8.炭黑 不同粒径对Zeta电位等电点的影响 不同官能团配比对等电点的影响 Zeta电位值与细胞吸收度的关系 通过调整颗粒的粒径或正负电荷官能团的比例，混合电荷修饰的纳米金颗粒其等电点可以在4～7之间明显的变化，不同比例的官能团和颗粒的静电荷对动物细胞吸收度有着重大影响。（数据摘自JACS）技术参数1.Zeta电位部分：1）Zeta电位测量适用粒度范围：0.001-100μm2）样品体积：0.18～1.5mL3）pH值测量范围：1-144）电导率范围：0-30S/m5）电泳迁移率范围：10-11～10-7m2/V.s6）温度控制：-5 ~110℃, ±0.1℃7）电场强度：0 ～ 60kV/m8）电极：永久性开放式电极，电极材料纯钯2.粒度及分子量测量部分：1）粒度范围：0.3nm～6μm（与折射率，浓度，散射角有关）2）典型精度：1％3）样品类型：任何胶体范围大小的颗粒（悬浮于清液中）4）样品体积：1～3ml5）分子量测定范围：342～2×107Dalton6）激光源：35mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）7）检测器：PMT或APD8）相关器：1011线性通道；动态可变采样时间、延迟时间、通道分配等技术；4通道输入；支持两路互相关。

品牌：久滨型号：JB6100-B品名：干湿一体激光粒度分析仪一、产品概述： 　JB6100-B是一款完全由计算机控制的全自动激光粒度仪，采用国际Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。优yuè的光路自动校对系统、干湿一键切换系统、干法电脑远端控制喂料系统等jīng心设计彰显出JB6100-B独tè yōu势。 二、应用范围：　　干湿一体激光粒度分析仪可以用来测量各种固态颗粒的粒度分布。该仪器是水泥，石油化工、陶瓷粉末、染料、颜料、煤粉、研磨料、金属粉、泥沙、矿石粉、药品、乳液、涂料、粉尘、细胞、细菌、食品、感光材料、添加剂、农药、炸药、石墨、燃料、墨汁、碳酸钙、高岭土、水煤浆、铝银浆等粒度分析的 lǐ 想仪器。

激光粒度分析仪 Topsizer详细介绍用途：既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。技术指标：1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性误差：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用折叠光路，全铝合金光学平台，长期稳固可靠；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题；探测器自动对中。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，大探测角达140度，小探测角至0.016度，无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机：1310×275×425mm循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）激光粒度分析仪 Topsizer产品优势TopSizer激光粒度分析仪是一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点。

激光粒度分析仪TopSizer介绍 激光粒度分析仪TopSizer是公司经过多年的技术积累后研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，代表了中国粒度检测与分析技术的新高度。 一、技术指标： 1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性误差：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性误差：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试*，进样器采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调（*配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：0-100% 无级连续可调。7.光路系统：双光源设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能； 采用折叠光路，高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠； 单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构。光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题； 探测器自动对中。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度，无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化； 具备SOP标准操作流程功能； 多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数； 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机：1310×275×425mm循环进样器：265×325×405mm（SCF-108），210×260×345mm（SCF-105B） 干法进样器：305×245×295mm（DPF-110） 二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使公司激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。 三、先进的光学系统 双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用同轴双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm；并有半导体蓝光辅助光源，波长0.466μm，极大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。在国产激光粒度分析仪中，这项技术为公司独jia采用。 稳定的激光光源主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，杂散光影响低，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光最大接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到最少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至极低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，最大探测角140度，最小探测角0.016度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。自动对中在几秒内即可完成，既可作为自动测量的一部分，亦可在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重复性。出色的分散系统湿法进样系统：标配SCF-108循环进样器，采用先进的循环回路设计，大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，具有高效率的分散、清洗、排干能力。内置最大功率100W超声探头，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均无极连续可调。根据需要可选择更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，可适应于各种样品测试对分散强度的要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。四、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化 流程界面清晰明了，拥有导航功能 仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面： 当仪器配置湿法自动化进样器（SCF-105B）时，上左图为湿法进样器控制面板，用户可以设置泵速、超声功率、定时超声时间、开启与关闭定时超声，可以执行进水、排气泡、清洗、排水与停止操作。自动化进样器控制面板 当仪器配置干法自动化进样器（DPF-110）时，上右图干法进样器控制面板，用户可以设置进料速率，选择气流控制模式，也可以执行自动清洗与停止等操作。多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要 体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流 具有兼容CFDA/FDA cGMP 21CFR 要求的用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能 五、卓越的仪器性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。 对大颗粒具有强大测试性能 16-20目玻璃微珠 对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力 良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次D10/μmD50/μmD90/μm113.4936.9771.64213.4636.9471.73313.5137.0671.76Average13.4936.9971.71SD0.030.060.06RSD (%)0.190.170.08 良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。 杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。 快速的测试速度TopSizer优秀快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。 超高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，最大探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。 超强适应性可选具有极强分散能力分散系统，即使对于超大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而最da程度满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。

TopSizer激光粒度分析仪——中国粒度检测与分析技术的前沿之作Topsizer激光粒度分析仪是珠海欧美克仪器有限公司经过多年的技术积累后并引进国际先机技术研发出的一款高性能激光粒度分析仪。它具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点，真正站在了当前粒度检测领域的前沿，是广受客户赞誉的国产高性能干湿法激光粒度仪。一、用途：既可测量须在液体中分散的样品，也可测量须在气体中分散的粉体材料。二、工作原理：利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化，使欧美克激光粒度仪具备重现性良好、分辨能力高、动态测量范围宽广、操作简单方便等优点。三、先进的光学系统双光源技术TopSizer激光粒度分析仪采用红蓝双光源设计，红光主光源为进口氦-氖激光器，波长0.6328μm，并有蓝光辅助半导体光源，波长0.466μm，弥补了常规设计散射光角度的盲区，大大地提高了对纳米级颗粒及少量大颗粒的分辨力。稳定的激光光源进口主光源预热时间短，输出单模偏振激光偏振比达500:1以上，光束中TEM00模占比达95%以上，且激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%，使得仪器的背景很低而且稳定，大大提高了系统对有效信号的分辨能力。直线光路设计TopSizer激光粒度分析仪光路系统采用密闭式直线光路设计，无多余反射光学部件造成的杂散光，亦无粉尘污染干扰，同时采用高精度全铝合金光学平台，确保光路稳固可靠。后傅立叶变换单镜头设计单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构，突破了傅立叶透镜的光瞳制约，使散射光接收角不受傅立叶镜头口径限制；而且单镜头光路中的折射、反射杂散光干扰被减到尽可能少，可以进一步降低仪器工作时的背景噪声至低水平，提高了仪器测量时的信噪比。长焦距的傅里叶透镜TopSizer激光粒度分析仪选用具有长焦距的傅立叶透镜，这样增加了测量窗口到光电探测器平面的距离（也就是有效焦距），从而使光电探测器能够准确探测到更小散射角度的散射光信号，大大增强了仪器对大颗粒的测试能力，仪器的测量上限达2000μm。合理分布、高感光度的进口光电探测器TopSizer激光粒度分析仪光电探测器为特殊定制的进口光电探测器，确保仪器具有较高的分辨力和灵敏度。探测通道数多达98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，探测角范围0.016-140度。结合蓝光散射信号，实现了空间全角度范围散射光能信号的无缝接收，有效保证颗粒散射光能信息的全面准确获取。智能自动对中智能软件控制自动对中系统保证了精确的光学对中。智能判断自动对中既可作为自动测量的一部分，亦可手动在屏幕上单击鼠标来完成。智能自动对中系统保证了多次测量的重现性。四、先进的高性能分散进样系统湿法进样系统：标配SCF-108A循环进样器，采用灯笼头下压式水流循环回路设计，配备大功率精确自动控制搅拌电机，可达3500转/分钟的同时减少了气泡和液体飞溅的产生，并具有高效的分散、清洗、排干能力。内置功率可达50W的高效管路超声装置，超声强度无级连续可调。标配1000毫升样品池，可根据客户需求更换容量。可选SCF-105B全自动循环进样器，除加样外的粒度测试操作均可自动控制完成。进样池采用316L不锈钢，配置高效率50W底部超声及速度可达4000转/分钟的精密搅拌装置，均连续可调。根据需要可选更多不同特性（例如微量、微量循环、耐腐蚀等）的湿法进样器。干法进样系统：标配DPF-110自动干法进样器，分散气压0.05-0.6MPa无级可调，三重可调下料机构设计，配备压电陶瓷精密振动控制单元及棕刚玉分散管，可适应于各种样品及分散强度的测试要求。内置分散压传感器和负压传感器，测试条件可追溯。测试窗口全密闭，具有负压保护装置，可有效防止窗口和主机的污染。五、功能强大的分析软件软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化，流程界面清晰明了，拥有导航功能仪器具备智能化自动化操作。能够自检和自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响。配置自动化进样器可以进行全自动干湿法粒度测试，手动测样亦有清晰的导航测试功能。完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数具备SOP标准操作流程，减少人为因素的影响，使分析测试流程标准化SOP测量控制界面：多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换 多种方式的测量数据导出，方便数据交流具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。六、优异的测试性能宽广的测量范围TopSizer的实测范围为0.02-2000um，从亚微米颗粒到毫米级颗粒均可一次性实现检测，能满足粉体行业对颗粒粒度检测与控制的各种需求。宽分布样品对大颗粒具有强大测试性能毫米级玻璃微珠对纳米、亚微米等超细颗粒具备超强识别能力100nm latex良好的重复性TopSizer采用全自动的激光校正系统、自动对中系统，从而确保了激光角度校准的准确度，避免了光路的飘移，确保测试的重复性误差小于0.5%（标准粒子D50）。取样/次良好的再现性不同主机或不同进样器之间具有良好的再现性。杰出的分辨能力Topsizer能够精确测定样品中颗粒分布的微小变化，准确反映样品的实际粒度分布，能充分满足技术研究和质量控制的需要。快速的测试速度TopSizer快速的分散系统为仪器的快速测试提供了良好前提，使常规的测试能在10秒内快速完成，大幅提升了测试的效率，更好的满足了用户的需求。高灵敏度多达98个光电探测通道，由双光源及前向、侧向、大角度、后向光电探测器组成三维立体无盲区检测系统，探测角度140度。每次测试之前，软件自动检测信噪度，使仪器对大小颗粒的微小变化有着超高的灵敏度。良好适应性可选具有优异分散能力的分散系统，即使对于大密度的金属粉末、玻璃粉末均有良好的分散效果而不沉淀，从而尽可能满足各种不同密度的颗粒粒度测试的需要。七、技术指标1.测量范围：0.02-2000μm（湿法），0.1-2000μm（干法）2.测量原理：全量程米氏散射理论3.重复性：≤0.5%（标样D50偏差）4.准确性：≤±0.6%（标样D50偏差）5.测量速度：常规测量10秒内完成6.进样方式：湿法自动化测试，标配进样器均采用带进口电机的大功率精密离心泵，搅拌速度可达4000转/分钟，内置超声，均为无级连续可调。（配SCF-105B时）；干法自动化测试，分散粒度范围:0.1-2000μm，进样器分散工作压力:0.05-0.6MPa无级连续可调，压电陶瓷晶体振动进样速度：无级连续可调。7.光路系统：双光源直线光路设计，采用进口氦-氖激光器，波长0.6328微米；并有半导体蓝光光源，波长0.466微米；激光功率始终稳定，功率波动小于0.5%；仪器设计符合国际激光安全规范，具备激光束自动防护功能；采用一体式高精度全铝合金光学平台，长期稳固可靠，探测器自动对中；单镜头设计，采用透镜后傅立叶变换结构；光路系统全封闭，有效解决粉尘污染问题。8.检测器：探测通道数98个，由前向、侧向、大角度和后向光电探测器组成三维立体检测系统，主光源探测角范围0.016-140度，整体无盲区。9.软件功能：软件设计模块化，仪器状态可视化，操作界面人性化；具备SOP标准操作流程功能；多种数据分析模型，满足不同特性样品的测试需要；有导航功能的清晰、明了的流程界面；具备人工智能，仪器具备自检功能，自动识别进样系统；每次测量前能自动测量电背景，有效消除电噪声对测试结果的影响；多种方式的测量数据导出，方便数据交流；完善、开放的样品特性参数数据库，具有常用样品折射率和吸收率参数；体积分布、表面积分布、长度分布和数量分布之间可以相互转换；具有兼容GMP附件《计算机化系统》要求的软件解决方案，具备用户分级、权限管理、数据完整性及可追溯功能。10.外观尺寸主 机： 1310×275×425mm循环进样器：240×380×370mm（SCF-108A），210×260×345mm（SCF-105B）干法进样器：305×245×295mm（DPF-110）

首先感谢您对佳航仪器的关注！我公司视“打造国产最稳定的激光粒度仪器”为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。 为满足客户对小型喷雾设备雾滴粒度测试的需求，我公司专门研发出一款JH-PW-spray微型台式喷雾激光粒度仪，JH-PW-spray采用了独特的一体式结构设计，同时融合了便携式的设计理念，使仪器的性能更加稳定，从而保证了该款仪器同时拥有优越的测试精度及测试重复性。JH-PW-spray的设计量程能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求，同时JH-PW-spray又加入了科学的防尘处理，故而能够适应各种复杂的测试环境。 激光粒度分析仪工作原理框图适用范围：JH-PW-spray适用于医疗雾化器、雾化药品、各种气雾剂、喷雾剂等小型喷雾设备的雾滴粒度检测。JH-PW-spray喷雾激光粒度分析仪主要性能特点：JH-PW-spray小巧精致，在粒度仪领域实现了真正意义上的便携，完全能够做到走哪带到哪。JH-PW-spray集成了目前国内喷雾粒度仪领域最先进的一体式结构设计，一体式结构会更加稳定，从而保证了仪器性能的高稳定性。同时JH-PW-spray光路还融合了目前最先进的防尘防震设计，无论将仪器搬到哪均无需进行光路的二次调整，大大的提高了客户的测试效率。不像某粒度仪生产厂家的喷雾粒度仪产品，每次仪器挪动位置后就要手动调整光路，给测试工作带来诸多麻烦的同时也会大大缩短仪器的使用寿命。先进的光路设计：JH-PW-spray采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计，并且采用了单光路多镜头技术，独特的高密度探测单元，让JH-PW-spray拥有了超强的小颗粒测试能力，JH-PW-spray实现了量程在0.1μm～270μm内进行无缝测试。大功率光纤输出激光器：JH-PW-spray配备了进口大功率光纤输出半导体激光器，性能稳定，寿命高达25000小时以上，极大增强了仪器的分辨能力，使小颗粒也无处藏身。光路保护：JH-PW-spray具有多重防护功能，测试过程中仪器独有的气流保护，能够有效的防止雾滴溅到镜头上影响仪器的测试效果及使用寿命。JH-PW-spray在设计上有效避免了外界自然光对测试结果的影响，使得测试结果真实可靠。超宽量程：JH-PW-spray的设计量程达到了0.1μm～270μm，能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求。强大的分析软件：JH-PW-spray配备了目前国内喷雾粒度仪最强大的分析软件，该软件能够快速处理测试过程中所有经过激光束雾滴的光散射信号并转换为粒度分布实时显示。从而有效保证测试结果具有超高的代表性，该项技术在国内处于绝对的领先地位。 主要技术参数：规格型号JH-PW-spray执行标准ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008测试范围0.1μm -270μm探测器通道数54准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差1%（国家标准样品D50值）进样方式开放式进样光路保护仪器具备光路多重保护功能激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW测量区长度60mm操作模式软件全自动操作测试速度1min/次体积612mm*230mm*325mm重量10Kg 软件功能分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同时间及不同条件下测试结果的差异，对喷射条件、喷射器质量的控制具有很强的实际意义自行DIY显示模板用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示喷入待测样品即可，测试结果的重复性更好。 完善的售后服务体系：一、售后服务1．所有仪器保修期为三年，三年内非人为及自然条件损坏无责保修； 2．出保前两个月内客户可申请上门维护仪器一次；3．出保的仪器维修仅收取成本费用；4．山东、江苏、河南、河北及京津地区24小时内到达客户现场，其余省份48小时到达客户现场（边远地区、客流高峰期及不可抗拒自然灾害除外）测试报告：

BOS-XPRAY喷雾激光粒度分析仪 我公司视“打造国产最稳定的激光粒度仪器”为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。为满足客户对小型喷雾设备雾滴粒度测试的需求，我公司专门研发出一款BOS-XPRAY微型台式喷雾激光粒度仪，BOS-XPRAY采用了du特的一体式结构设计，同时融合了便携式的设计理念，使仪器的性能更加稳定，从而保证了该款仪器同时拥有优越的测试精及测试重复性。BOS-XPRAY的设计量程能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求，同时PW-spray又加入了科学的防尘处理，故而能够适应各种复杂的测试环境。适用范围：BOS-XPRAY适用于医疗雾化器、雾化药品、各种气雾剂、喷雾剂等小型喷雾设备的雾滴粒度检测。 BOS-XPRAY喷雾激光粒度分析仪主要性能特点：BOS-XPRAY小巧精致，在粒度仪领域实现了真正意义上的便携，完全能够做到走哪带到哪。BOS-XPRAY集成了目前国内喷雾粒度仪领域zui先进的一体式结构设计，一体式结构会更加稳定，从而保证了仪器性能的高稳定性。同时BOS-XPRAY光路还融合了目前zui先进的防尘防震设计，无论将仪器搬到哪均无需进行光路的二次调整，大大的提高了客户的测试效率。不像某粒度仪生产厂家的喷雾粒度仪产品，每次仪器挪动位置后就要手动调整光路，给测试工作带来诸多麻烦的同时也会大大缩短仪器的使用寿命。先进的光路设计：BOS-XPRAY采用了夫琅禾费衍射原理和典型的平行光路设计，并且采用了单光路多镜头技术，du特的高密度探测单元，让BOS-XPRAY拥有了超强的小颗粒测试能力，BOS-XPRAY实现了量程在0.1μm～270μm内进行无缝测试。大功率光纤输出激光器：BOS-XPRAY配备了进口大功率光纤输出半导体激光器，性能稳定，寿命高达25000小时以上，极大增强了仪器的分辨能力，使小颗粒也无处藏身。光路保护：BOS-XPRAY具有多重防护功能，测试过程中仪器独有的气流保护，能够有效的防止雾滴溅到镜头上影响仪器的测试效果及使用寿命。BOS-XPRAY在设计上有效避免了外界自然光对测试结果的影响，使得测试结果真实可靠。超宽量程：BOS-XPRAY的设计量程达到了0.1μm～270μm，能够满足喷雾设备领域内绝大多数用户的粒度测试需求。强大的分析软件：BOS-XPRAY配备了目前国内喷雾粒度仪最强大的分析软件，该软件能够快速处理测试过程中所有经过激光束雾滴的光散射信号并转换为粒度分布实时显示。从而有效保证测试结果具有超高的代表性，该项技术在国内处于jue对的领先地位。 主要技术参数：规格型号BOS-XPRAY执行标准GB/T 19077-2016/ISO 13320:2009测试范围0.1μm -270μm探测器通道数54准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差1%（国家标准样品D50值）进样方式开放式进样光路保护仪器具备光路多重保护功能激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW测量区长度60mm软件功能分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同时间及不同条件下测试结果的差异，对喷射条件、喷射器质量的控制具有很强的实际意义自行DIY显示模板用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示喷入待测样品即可，测试结果的重复性更好。操作模式软件全自动操作测试速度1min/次体积612mm*230mm*325mm重量13Kg

● 具有优良的测量重复性及大颗粒、小颗粒测量准确性。● 采用简洁的系统结构，可靠性好，可免维护或更少的维护（免费保修两年）。● 强大的软件功能，支持报告设计及自定义计算，可使用编程语言。● 超高性价比，为中小企业精心打造的，用得起、用得好的激光粒度分析仪。● 超强的纳米颗粒测量。结构原理PL600型智能激光粒度分析系统，是根据颗粒对光的散射原理，从散射光能的分布中反演出被测颗粒的粒度分布。颗粒在激光束的照射下，其散射光的角度与颗粒的大小成反比关系，大颗粒的散射角较小，小颗粒的散射角较大。该仪器采用全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构。具有测量的重复性好、动态范围宽、测量速度快、操作简单方便及稳定可靠、易维护等优点，是一种适用面较广的粒度分析仪；可以用来测量各种固体粉末、乳液颗粒的粒度分布。适用领域该仪器广泛适用于磨料、打印耗材、建材、电池、非金属矿、粉末冶金、精细化工、生物医药、石油能源、涂料、颜料、陶瓷、农药、食品等领域的各种颗粒粒度大小的测量。性能指标1. 测试范围：0.02～1000μm2. 重复性误差：1% （D50偏差）3. 进样方式：湿法4. 采集频率：3000次/秒5. 测试时间：1～2分钟6. 探测单元数：55个7. 激光器：进口半导体激光器8. 工作环境： 5～35℃（温度），＜85%（相对湿度）9. 输出数据： 粒度分布表、粒度分布图、平均粒径、中位径、比表面积等10. 外观尺寸：（L×W×H）：695×265×296mm（主机）11. 超声波功率： 120W功能特征● 简洁可靠的光路及结构1. 全量程的米氏散射理论、智能搜索算法及简洁稳定系统结构，大幅度提高了样品测量的重复性及大小颗粒测量的准确性。2. 透镜后傅立叶变换结构，使最大接收角不受傅立叶镜头口径限制。3. 进口半导体激光发射器，低电压供电，具有更快、更好的稳定性及可靠性（预热5分钟后即可进行测量，远远优于氦-氖激光器30分钟以上的预热时间）。4. 精密超低偏置电流的数据处理电路，能够处理极其微弱信号，扫描频率达到3000次/秒。5. 独创的一体化激光器及后置对中调节锁紧机构，可实现免维护及防止运输或挪动过程中零环移位造 成的测试偏差。6. 窗口材质采用超硬光学玻璃及不锈钢，耐磨、易清洗，维护方便。7. 全量程测量，勿需更换镜头，使用更方便。8. 水平直线光路布置，光路结构稳定可靠。9. 底座采用硬铝制作，结构轻便稳定性好；10. 外壳采取了防震、防尘、防潮、防辐射设计，便于运输和在恶劣环境下工作。11. 结构紧凑，占用空间小，能够节约宝贵的实验室空间。12. 湿法进样系统采用离心增压泵，低电压供电，更安全并可连续线性调速。● 强大易用的软件系统1. 具有手动及SOP标准操作流程功能，可以大大减少人为因素的影响，使测试流程标准化。2. 多种分析模式：单峰模式、通用模式、增强模式、多重窄峰。3. 支持结果模拟，能将当前分析结果模拟成其它原理仪器的测量结果（如库尔特、图像仪等）。4. 支持报告设计及自定义计算，用户可根据需要自定义报告模板，并可使用编程语言进行计算，完成各种特殊要求。5. 超过百种的样品折射率；并提供光学参数优化功能，对样品折射率进行优化调整。6. 采用类似“文件资源管理器”的文件浏览方式，报告文件打开、查找更加简便快捷。7. 多种报告窗口：记录、分析结果、百分报告、筛分报告、拟合报告、统计报告、趋势报告、平均报告等；并可对记录进行排序，使用多种方式调整报告窗口大小（整页、页宽、100%等）。8. 可任意输入样品折射率（包括实部和虚部），系统自动完成参数计算，无需用户额外操作。9. 支持报告数据导出到doc、xls、pdf、jpg、bmp、html等多种文件格式。10. 支持多种界面外观设置。

首先感谢您对佳航仪器的关注！我公司视“打造国产最稳定的激光粒度仪器”为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。JH2020-L自上市以来赢得了广大客户的一致好评。JH2020-L属于干法全自动激光粒度仪，被广泛应用到粉体行业，我公司针对不同行业设计了不同模板，客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。 智能型干粉激光粒度分析仪控制系统原理图JH2020-L激光粒度分析仪主要性能特点：光路升级为双镜头设计：严格参考国际标准，有效提高样品分散的有效光程，避免因计算带来的误差，使测量结果更准确，采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在最短的焦距获得最大量程，有效提高仪器的分辨能力；独特的小探头排布，让2010拥有了小颗粒测试能力。优越的自动对中系统及电脑操作系统彰显出JH2020-L人性化设计。高稳定光路优化：独具匠心的设计让JH2020-L拥有了先进的高稳定光路，它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器，优良的配置使JH2020-L拥有了稳定性；主要光路采取了全封闭设计，保证了仪器在复杂环境长时间测试。★全密封光纤半导体激光器：采用了高稳定、长寿命的全密封进口光纤半导体激光器，优良的稳定性让JH5200-H拥有了超强的测试重复性，寿命大于3万小时。★激光器功率监测及自动调整：采用了恒功率激光器，实时对激光功率进行检测并自动调整功能，有效避免长期使用造成的激光功率衰减的问题。同时采用了恒流恒压高滤波激光电源有效延长了激光器寿命，正常使用达3万小时以上。★激光器智能管理系统：JH2020-L率先增加了激光器智能管理系统，智能管理系统实时监测仪器的工作状态，一旦接收到工作的命令智能管理系统会瞬间点亮激光器，高性能激光器会在3秒内达到稳定的工作状态。样品测试完毕后智能管理系统会自动关闭激光器，激光器基本上不会衰减，理论上可以终身不需要更换激光器。独特的干法分散系统：JH2020-L分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计，使JH2020-L对干粉的分散更加均匀，超强的负压保证了进料的连续性及均匀性，有效避免测试过程中干粉的相互粘连。喂料方式全新升级：升级后的分散好的样品直接进入测量区，能够有效解决了由于样品的二次团聚带来的测试结果不准确的问题；目前国内就我们一家采用这个方式，进口仪器也是采用的这个方式，别的厂家分散完还要通过一个软管会导致样品再次团聚。 探测器：JH2020-L探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计，保证了仪器全量程内无缝探测，使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统，可实现仪器的一键自动对中，彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害，有效延长了仪器的使用寿命。防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。独特的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更稳定可靠。光路自动校对：光路微变，仪器可以自行对光路进行调节，避免手动调节时损坏探测器。管道无残留：测试完成后管道内无残留样品，不会对下次测试造成干扰。计算机控制喂料：测试人员可借助计算机精准控制仪器进料量。 软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。 光路自动对中功能图主要技术参数：规格型号JH2020-L执行标准ISO 13320:2009；GBT 19077-2016测试范围0.1μm -800μm探测器通道数87准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差1%（国家标准样品D50值）喂料方式机械无级调速振动喂料，软件控制无油静音空压机具有粉尘过滤功能，保证测试准确性冷干机冷冻式干燥机可过滤空气中的水分，保证分散效果误操作保护仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW激光器智能管理系统实时监测仪器的工作状态，一旦接收到工作的命令智能管理系统会瞬间点亮激光器，高性能激光器会在3秒内达到稳定的工作状态镜头双镜头设计，进口佳能镜头分散方法高压空气分散智能操作模式软件智能全自动控制操作光路对中光路自动校对软件功能测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果自行DIY用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求显示模板粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。测试速度1min/次（不含样品分散时间）体积980mm*410mm*450mm重量35Kg

首先感谢您对佳航仪器的关注！我公司视“打造国产稳定的激光粒度仪器”为己任，以科技创品牌、质量闯市场、信誉赢天下为方针，全力打造超稳定、高性价比的国产激光粒度仪器。JH2010自上市以来赢得了广大客户的一致好评。JH2020-H属于干法全自动激光粒度仪，国内采用了双镜头技术，测试更稳定，达到国际先进水平，被广泛应用到粉体行业，我公司针对不同行业设计了不同模板，客户可根据自己需要选择水泥模版、磨料模版等等。智能型干粉激光粒度分析仪控制系统原理图 JH2020-H激光粒度分析仪主要性能特点：先进的光路设计：JH2020-H采用会聚光傅立叶变换测试技术保证在最短的焦距获得量程，有效提高仪器的分辨能力；小探头排布，让2010拥有了超强的小颗粒测试能力。优越的自动对中系统及电脑操作系统彰显出JH2020-H人性化设计。★全密封光纤半导体激光器：采用了高稳定、长寿命的全密封进口光纤半导体激光器，优良的稳定性让其拥有了超强的测试重复性，寿命大于3万小时。★激光器功率监测及自动调整：采用了恒功率激光器，实时对激光功率进行检测并自动调整功能，有效避免长期使用造成的激光功率衰减的问题。同时采用了恒流恒压高滤波激光电源有效延长了激光器寿命，正常使用达3万小时以上。★激光器智能管理系统：率先增加了激光器智能管理系统，智能管理系统实时监测仪器的工作状态，一旦接收到工作的命令智能管理系统会瞬间点亮激光器，高性能激光器会在3秒内达到稳定的工作状态。样品测试完毕后智能管理系统会自动关闭激光器，激光器基本上不会衰减，理论上可以终身不需要更换激光器。高稳定光路优化：独具匠心的设计让JH2020-H拥有了先进的高稳定光路，它采用了高稳定、大功率光纤输出激光器，优良的配置使JH2020-H拥有了超强的稳定性；主要光路采取了全封闭设计，保证了仪器在复杂环境长时间测试。独特的干法分散系统：JH2020分散系统在法国理论数据的基础上进行了优化设计，使JH2020-H对干粉的分散更加均匀，超强的负压保证了进料的连续性及均匀性，有效避免测试过程中干粉的相互粘连。 探测器：JH2020-H探测器采用了主探测器与副探测器结合的全新设计，保证了仪器全量程内无缝探测，使测试更加准确。主探测器设计了自动对中系统，可实现仪器的一键自动对中，彰显人性化设计。同时有效避免手动对中对探测器的损害，有效延长了仪器的使用寿命。防尘、防震设计：仪器整体进行了密封设计，大幅提高了内部元器件使用寿命。独特的悬浮式结构能有效避免外界震动对仪器的干扰，使结果测试更可靠。光路自动校对：光路微变，仪器可以自行对光路进行调节，避免手动调节时损坏探测器。管道无残留：测试完成后管道内无残留样品，不会对下次测试造成干扰。计算机控制喂料：测试人员可借助计算机控制仪器进料量。软件：符合药典GMP规定，具有电子签名、权限设置、数据追踪、数据不可更改等功能。对于制药行业客户，可以提供3Q认证。 光路自动对中功能图 主要技术参数：规格型号JH2010-L执行标准ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008测试范围0.1μm -1250μm探测器通道数101准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差1%（国家标准样品D50值）喂料方式机械无级调速振动喂料，软件控制无油静音空压机具有粉尘过滤功能，保证测试准确性冷干机冷冻式干燥机可过滤空气中的水分，保证分散效果误操作保护仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW激光器智能管理系统实时监测仪器的工作状态，一旦接收到工作的命令智能管理系统会瞬间点亮激光器，高性能激光器会在3秒内达到稳定的工作状态镜头进口佳能镜头分散方法高压空气分散智能操作模式软件智能全自动控制操作光路对中光路自动校对测试速度1min/次（不含样品分散时间）体积980mm*410mm*450mm重量35Kg软件功能测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果自行DIY用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求显示模板粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。

休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520原理：属于湿法基本型激光粒度分析仪，采用Mie式散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术特点湿法循环分散系统，保证颗粒保证测试过程中无颗粒沉积现象，测试排水后无废液积存现象，保证了第二次测试精度，使测试结果更真实可靠 同时XCLD-520加入了超声防干烧技术、超声功率可调技术、循环转速可调、光纤输出半导体激光器等重大改进。休辰水泥颗粒激光粒度分析仪XCLD-520技术参数：规格型号XCLD-520（标配）XCLD-520H（高配）（定制款）执行标准ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008测试范围0.1μm -600μm0.1μm -800μm探测器通道数6666准确性误差1%（国家标准样品D50值）重复性误差0.5%（国家标准样品D50值）免排气泡具备免排气泡设计，无气泡干扰数据更准确误操作保护仪器具备误操作自我保护功能，仪器对误操作不响应激光器参数进口光纤输出大功率激光器 λ= 650nm, p10mW分散方法超声频率：f=40KHz,功率：p=80W,时间：随意可调 具备超声防干烧循环、搅拌循环搅拌一体化设计，转速：100-33950rpm转速可调循环流量额定流量：0-10L/min可调 额定功率：25W样品池自行设计沸腾式样品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常测试微量进样仪器可选配微量全自动测试装置,10毫升即可循环测试（选配）软件功能分析模式包括自由分布、R-R分布和对数正态分布、按目分级统计模式等，满足不同行业对被测样品粒度统计方式的不同要求统计方式体积分布和数量分布，以满足不同行业对于粒度分布的不同统计方式统计比较可针对多条测试结果进行统计比较分析，可明显对比不同批次样品、加工前后样品以及不同时间测试结果的差异，对工业原料质量控制具有很强的实际意义自行DIY显示模板用户自定义要显示的数据，根据粒径求百分比、根据百分比求粒径或根据粒径区间求百分比，以满足不同行业对粒度测试的表征方式。径距、一致性、区间累积等等测试报告测试报告可导出Word、Excel、图片（Bmp）和文本（Text）等多种形式的文档，满足在任何场合下查看测试报告以及科研文章中引用测试结果多语言支持中英文语言界面支持，还可根据用户要求嵌入其他语言界面。智能操作模式真正全自动无人干预操作，无人为因素干扰，您只需按提示加入待测样品即可，测试结果的重复性更好。操作模式电脑操作测试速度1min/次（不含样品分散时间）体积980mm*410mm*450mm重量35Kg休辰水泥颗粒激光粒度分析仪

公司概况 法国CORDOUAN 技术公司成立于2007年，致力于纳米颗粒复合介质的尺寸表征。经过短短四年时间，CORDOUAN已成为N3（纳米粒子，纳米材料，纳米技术）的全球参考，为纳米颗粒和纳米材料的表面特征提供创新解决案。 CORDOUAN为客户提供的颗粒度，屈光计，电泳，电子显微镜和样品制备仪和器配件解决方案的连贯和广泛的产品组合。法国CORDOUAN仪器广发应用于：合成的聚合物和官能化的金属纳米颗粒、 原油萃取，改善化妆品凝胶的质量的，胶体形式的特殊油墨，生物学研究和细胞分析等的开发。 产品简介 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo 是创新型纳米粒度Zeta电位分析系统，通过远程光学探头，进行原位在线测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。动态光散射（DLS）和激光多普勒电泳（LDE） 技术，可提供高分辨率，准确和快速的粒度、ZETA电位测 以及远程原位测量。 工作原理 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo是基于增强型动态光散射（DLS）技术的纳米级悬浮和胶体特性的独特表征仪器。Zeta电位部分是基于重新审视的现代版激光多普勒电泳 （LDE）技术，提供独特且无与伦比的测量分辨率。它是CORDOUAN的粒度分析仪VASCO的补充，用于研究胶体溶液的稳定性质。 技术创新 高分辨纳米粒度和zeta电位分析仪Amerigo独特的样品池，双厚度控制系统，可实现精确测量，通过远程光学探头，进行原位非接触测量和反应动力学，用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。 ● 二氧化硅棱镜制成的嵌入式样品池 ● 独特的双厚度控制器系统 ● 直接测量原油等深色/浓缩样品，不需要稀释。 性能参数 ● 粒径范围：0.5nm-10μm ● zeta电位范围：±500mV ● 结合Wallis和Vasco Kin的功能，具有高分辨测量能力 ● 非接触远程测量纳米粒度的动力学分析 ● zeta电位的可编程动力学实验（zeta 对 温度/pH/时间） ● 动态时间切片功能，可进行数据后处理 ● 可选高浓度Flex探头 典型案例 应用范围 ◆ 纳米颗粒的合成和功能研究 ◆ 药物输送系统优化 ◆ 制造过程中的质量控制 ◆ 电泳物理学的基础研究 ◆ 化妆品和工业乳液稳定性研究 ◆ 纳米颗粒制备和合成工艺优化 ◆ 先进的胶体稳定性分析和优化 ◆ 油墨/颜料的分散性和聚合物的表征

NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪产品介绍：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后，在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能，能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪采用动态光散射技术测量粒子和颗粒的粒度，采用电泳光散射技术测定颗粒Zeta电位和电位分布，同时兼有静态光散射技术用于测定蛋白质与聚合物等的分子量。NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位检测分析技术，提升了仪器的电位分析性能，升级了兼容多种样品池 (选配) 功能，可分析样品浓度和粒度范围也得到了明显提升。与此同时，仪器广泛采用全球化供应链的优质光电部件及Scrum软件迭代升级开发模式，使其具有高品质并能随用户需求变化升级管理和报表功能。进口雪崩式光电二极管(APD)检测器、He-Ne气体激光器光源和高性能相关器等优质硬件，加上精确的内部温控装置、密闭光纤光路设计以及先进的软件算法，共同保障了数据的高重现性、准确性和灵敏度。NS-90Z Plus支持SOP标准化操作，具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理及电子签名功能以及具有测试数据质量智能反馈和优化建议，方便用户使用。工作原理：NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一种紧凑型仪器中集成了三种测试技术：动态光散射技术NS-90Z Plus 纳米粒度及电位分析仪使用经典的90°角动态光散射(Dynamic Light Scattering/DLS)技术来测量粒子和颗粒的粒度。该技术利用光电检测器测量样品中粒子由布朗运动所产生的散射光强涨落信号，通过数字相关器计算得到相关函数(Correlation Function)以分析颗粒的扩散速率，再以斯托克斯-爱因斯坦(Stokes-Einstein)方程计算出颗粒的粒径与分布。本技术所测量的粒径为流体动力学等效直径，通过相同扩散速率的硬球进行等效直径计算而得。动态光散射法也称为光子相关光谱法(Photon Correlation Spectroscopy/PCS)。NS-90Z Plus动态光散射光路图电泳光散射技术 NS-90Z Plus使用电泳光散射(Electrophoretic Light Scattering/ELS)技术测量颗粒滑移层的Zeta电位。颗粒在人为施加的电场作用下做电泳运动，其电泳运动速率和Zeta电位直接相关，以亨利方程进行表述。NS-90Z Plus使用恒流模式下的快慢场混合激光多普勒相位分析法(Mixed mode measurement, phase analysis light scattering/M3-PALS)，成功解决了毛细管电渗对测试的影响，并且在一次测试过程中同时得到Zeta电位平均值和电位分布曲线。电泳光散射技术可测量最大粒径至100μm左右的样品的Zeta电位 (取决于样品属性及制备) 。Zeta电位的概念图NS-90Z Plus电泳光散射光路图静态光散射技术 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪使用静态光散射(Static Light Scattering/SLS) 技术以非侵入式表征溶液及胶体中的蛋白质单体、聚集体或聚合物等粒子的摩尔质量，即分子量。在德拜法分子量计算的描述中，粒子产生的散射光强度正比于重均分子量的平方以及粒子浓度。通过使用德拜法测量一组浓度梯度的样品静态散射光强度，可以计算蛋白质与聚合物的分子量。与动态光散射技术不同的是，静态光散射技术是测量一段时间内散射光的平均强度。分子量单位为 Da(Dalton) 或g/mol。NS-90Z Plus静态光散射德拜图法分析纳米粒子分子量用途： NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是一款高性价比的纳米颗粒粒径和纳微米颗粒Zeta电位的表征仪器，适用于对粒度和电位分布表征有较高灵敏度需求的材料分析，以及需要与使用90散射角粒径测试系统结果相同的应用。该仪器适用于对分子、蛋白质、聚合物、胶体、乳液、悬浮液及各种复杂配方制剂体系等样品的测试分析。典型应用：&bull 胶体和乳液表征&bull 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发&bull 脂质体和囊泡的开发&bull 蛋白质及其聚集体的评价&bull 电极浆料及助剂的粒径、分散和稳定性表征&bull 涂覆材料分散性能预测&bull 纳米金等高电导率溶胶的改性&bull 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进&bull 优化水处理中絮凝剂的使用&bull 胶体、乳液、浆料稳定性评价&bull 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数性能特点：【先进的高信噪比光学设计】 NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪在一台紧凑仪器中集成了电泳光散射、动态光散射和静态光散射三种光学原理技术。通过优化的光学设计、光纤光路传输设计及高性能光源、信号采集和处理硬件，提高了散射光信号识别能力并减少了杂散光干扰，确保了仪器测试结果的高准确性、灵敏度和重现性，拓展了适宜的样品测试范围。动态光散射粒径测量示意图【易使用、免维护的系统设计】 NS-90Z Plus采用密闭式光路设计防止污染，日常使用主机无需维护。采用可替换的多种类可选的比色皿样品池，使用简便，可同时制备多个样品依次检测，效率更高。亦可清洗样品池重复使用，无需复杂的仪器或探测装置的维护。比色皿样品池【高光学性能、稳定且长寿命的气体激光光源】 采用进口高稳定He-Ne气体激光器确保数据的重现性，波长632.8nm，功率4mW。He-Ne气体激光器的光束发散角、单色性、温度电压波动稳定性、相干性皆远优于半导体固体激光器。NS-90Z Plus所使用的气体激光管采用硬封装工艺确保激光管中氦氖气体惰性工作物质终身无损失，激光管寿命达到10年以上，且在生命周期内其光学品质几乎没有变化，确保了测试数据始终可信，且无需用户校准。由于He-Ne气体激光器相干性能显著优于半导体固体激光器，仅需较低的功率即可产生满足测量需求的散射光信号，同时具有更低的杂散光噪声使样品分析灵敏度更高。仪器可在330000:1的动态范围内通过衰减器自适应调节激光强度。【报告可自定义多种参数输出】 NS-90Z Plus具有完备的纳米粒度和Zeta电位分析功能。可以输出Z平均直径、多分散指数PI、各粒径分布峰的峰值粒径和含量等参数，同时可输出体积和数量分布 (使用全范围米氏理论(Mie Theory)计算) 。可输出Zeta电位、电位分布等参数。可自定义报告【高性能检测器】 使用高量子效率(QE)的雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm，灵敏度远高于光电倍增管(PMT)且噪音更低。高成本的优质APD部件保障了仪器卓越的测试性能。APD性能图【研究级数字相关器】 使用高速数字相关器，多于4000通道， 1011动态线性范围，最短采样时间间隔可低至25ns，结合先进的相关算法，最短子测量时间可缩短至1.68s。典型相关曲线示意图【精确的内部控温系统】 独立的帕尔贴循环温控装置可在0-120℃范围内任意设定，升温降温速度快，控制精度最高可达0.1℃，保障测试结果高重现性。【恒流模式的M3-PALS快慢场混合相位检测技术】 NS-90Z Plus融合马尔文帕纳科的M3-PALS技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分布的信息。相比上一代产品，NS-90Z Plus能满足具有更高电导率的样品的Zeta电位和电泳迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。快慢场混合相位检测Zeta电位分布、相位、频移及电压和电流图【升级的专家指导功能提升测试水平】 NS-90Z Plus测试后会在数据质量指南模块下自动生成智能化专家指导意见，为如何进一步优化测试或样品处理提供可行方案建议。该技术可以同时协助用户快速判读更准确的粒度、Zeta电位和电位分布结果，有利于减少测试数据的错误，及时发现和改善因方法或环境发生变化而引起的测试质量变化。数据质量指南【具有符合CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》要求的审计、权限管理与电子签名等功能】用户权限配置和管理功能示意图审计追踪功能示意图【功能丰富的软件优化用户体验】 提供标准化操作程序(SOP)简化常规测量；自动配置各种样品的最佳硬件和算法设置，亦可手动设置；操作简单，无须准直、校正或额外保养；智能化，可自动判断数据报告的质量并给出优化建议。1. 使用先进SCRUM软件迭代 开发模式，基于当前主流软件开发技术的新颖界面设计，操作简单易用，可根据行业应用和法规变化不断升级软件以与之匹配。2. 全自动硬件设置和测量：只需最简单的培训即可设置仪器，包括样品池位置、数据记录、分析和结果显示。电位测试的设置界面（部分）及分析模型选择示意图3. 支持SOP标准化操作程序，避免了测试操作和参数设置的不一致，从而提高数据的重现性。 SOP标准化操作程序4. 智能化测量数据的系统评估：仪器分析软件可根据测试条件和结果自动智能判断数据报告的质量，并针对质量不佳的测试给出改善建议。包含测试报告的质量评价、问题产生的原因、如何使用这些数据、如何改进这些数据等等。5. 打印或屏幕显示报告使用简单；含报表设计器，只需在指定的位置选择所需的结果图表，就可根据不同的需要定制不同的报告。自定义报表功能演示6. 样品数据和结果存储在测量文件中，方便进行数据的比较。7. 数据分析：数据以图形或表格的形式呈现且可一键导出；多种分析模式可供选择，以适合包括单分散样品、宽分布样品在内的多种样品测试；具有多种数据分类、分组、排序、筛选、统计和趋势分析功能。Z-均粒径值趋势图8. 具有完善的介质粘度数据库，并可根据给定的温度自动计算常见缓冲体系的粘度。介质粘度数据库典型测试结果：1. NS-90Z Plus良好的重现性——60nm标号乳胶微球标样 (Thermal，标称值：62±3nm)2. NS-90Z Plus提升了粒径上限分析性能——10μm标号标样的测试**：采用微毛细管样品池进行粒度分析。3. NS-90Z Plus卓越的分辨力——60nm、200nm双标样混合样品4. NS-90Z Plus电位和电位分布的测量——ZTS1240电位标样 可用于粒径测试 可用于Zeta电位测试 可用于分子量测试标配附件：12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012) 可替换型，无污染最少样品量1mL适用于水或乙醇作为分散介质的粒度测试可搭配可选的通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)用于Zeta电位测试折叠毛细管样品池(DTS1070)可替换型，无污染使用扩散障碍法时，可实现最少样品量20μL的测试适用于水或乙醇作为分散介质的Zeta电位测试可使用标准化的微量无渗鲁尔接头，搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用恒流模式下可用于测试数百次低电导率样品12mm方形玻璃样品池(PCS8501) 最少样品量1mL玻璃材质，适用于绝大多数水性或非水性溶剂或介质的测试可选配附件：微毛细管样品池(ZSU1002)由样品池基座和可替换型方形微毛细管组成最少样品量3μL可更准确地测试1μm以上的颗粒粒径测量上限最高可拓展至15μm通用“插入式”样品池套件(ZEN1002)最少样品量0.7mL可搭配12mm方形聚苯乙烯样品池(DTS0012)用于水性样品的测试可搭配12mm玻璃样品池(PCS1115)用于水性或非水性样品的测试便于多样品同时制样，加快测试流程高浓度Zeta电位样品池套件(ZEN1010)适用于无法稀释或高浓度的水性样品的测试可搭配MPT-3自动滴定仪(ZSU1001)使用技术参数：【粒径】1. 测量范围*：0.3nm - 10μm (取决于样品)2. 测量原理：动态光散射法(DLS)3. 重复性误差：≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)4. 最小样品容积*：20µ L5. 最小样品浓度：≤ 1mg/mL (取决于样品)6. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)7. 最小子测试时间：1.68s【分子量】8. 分子量测量范围： 980 - 2×107 Da (取决于样品)，静态光散射德拜法342 - 2×107 Da (取决于样品)， 动态光散射计算【Zeta电位】9. Zeta 电位范围：无实际限制10. 适用测试的粒径上限：不小于100μm (取决于样品)11. 最大电泳速率：＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s12. 测量原理：电泳光散射法(ELS)13. 最高样品浓度：40% w/v (取决于样品)14. 最小样品容积：20μL15. 最高样品电导率：260mS/cm16. 检测技术：快慢场混合模式相位分析(M3-PALS)，恒流模式【系统】17. 激光光源：高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。18. 整机激光安全：I类19. 检测角度： 90，1320. 检测器：雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE80%@632.8nm21. 相关器：采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围22. 冷凝控制：干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源)23. 温度控制范围：0 - 120 ℃24. 温度控制最高精度：± 0.1 ℃25. 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能【重量与尺寸】26. 主机尺寸：322×565×245 mm (W×D×H)27. 主机净重：19 kg【运行环境】28. 电源要求： AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A29. 功率：最大值100W，典型值45W30. 推荐计算机最低配置： Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上31. 计算机接口： USB 2.0或更高32. 推荐操作系统： Windows 10或Windows 11专业版33. 环境要求：温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝*可选微毛细管样品池扩展粒度分析上限至15μm的样品，最小样品量仅需3μL.**尽管我们已竭力确保本材料中信息的正确性和完整性，仍保留随时更改本材料中任何内容的权利。

仪器简介：激光粒度分析仪是通过测量颗粒群的衍射(散射)谱经计算机进行处理来分析其颗粒分布的。可用来测量各种固态颗粒、测量雾滴，气泡及任何二相悬浮颗粒状物质的粒度分布，测量运动颗粒群的粒度分布。它不受颗粒的物理、化学性质的限制。有超声、循环的样品分散系统，测量范围广，自动化程度高，操作方便，测试速度快，测量结果准确、可靠、重复性好。是石油化工、陶瓷、染料、水泥、煤粉、研磨材料、金属粉末、泥沙、矿石、雾滴、乳浊液等粒度分析的理想仪器。技术参数：主要技术指标 准 确 度：体积(重量)不确定范围达到GBW(E120009C)标准物质用于一般仪器鉴定规程的要求 测量速度：单次光学采样20微秒并行,处理时间少于1分钟 测量方式：静态、液态、液态循环 结果输出：打印，各级颗粒体积（重量）与颗粒数的直方图、百分比、累计百分比、D10粒径、D50粒径、D90粒径、峰值粒径、个数平均粒径、重量平均粒径、面积平均粒径、比表面积、拟合精度 型号 分数级 浓度要求 测量范围 特点 JL-9100型 32级 0.002%--0.2% 0.1-111.6um 激光衍射法 JL-9000型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7um 适合（D501.um） JL-9200型 32级 0.02%--1% 0.1-334.7&mu m 具有自动制样装置 SKL-06型 32级 0.002%-0.2% 0.1-111.6 半导体激光器适合教学使用 SKL-07型 36级 0.002%-0.2% 0.1-334.7um 米氏散射理论,多量程颗粒测量

仪器简介： 作为领先将背向光散射技术（Back-Scattering）引入高浓度粒度分析的厂家，布鲁克海文公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合13°、90°与173°三个散射角度的Omni多角度粒度及高灵敏Zeta电位分析仪，实现在同一台粒度分析仪中，即可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，可达40%w/v。此外，Omni采用全新的硬件PALS技术测量Zeta电位，与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍，可适用于诸如低介电常数、 高粘度、 高盐度以及等电点附近这些测量条件下的样品测量。 技术参数： 1.粒度范围：0.3nm～15μm（与折射率，浓度，散射角有关）； 2.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 3.典型精度：1％； 4.样品类型：任何胶体范围大小的颗粒(悬浮于清液中)；5.样品体积：0.01～3ml，50μL微量样品池，10μL微量样品池（最新）； 6.分子量测定范围：342～2*107Dalton； 7.温控范围：-5℃～120℃,±0.1℃； 8.pH值测量范围：1-14； 9.激光源：40mW固体激光器（可选5mW He-Ne激光器）； 10.检测器：APD；11.相关器：4*1011线性通道；4通道输入；支持两路互相关； 12.自动趋势分析：对时间、温度及其他参数； 13.散射角：13°、90°与173°；14.电泳测量适用粒度范围：0.001-100μm；15.电导率范围：0-30S/m；16.电泳迁移率范围：10 -11-10 -7 m2 /V.s；17.pH测量范围：1-14； 选件： 1.微流变：检测弱结构溶液的粘弹性信息；2.表面膜电位：固体表面膜电位测量；3.实时在线测量：粒度及Zeta电位实时在线测量；4.自动滴定仪：可对PH值、电导率和添加剂浓度作图；5.介电常数仪：直接测最溶剂的介电常数值；6.粘度计：用于测量溶剂及溶液的粘度； 7.21CFR软件 符合FDA要求的21CFR part II操作模式软件和仪器材料； 主要特点： 1.高灵敏性，粒度测量范围：0.3nm～15μm； 2.突破性的三检测角度设计，测量角度：15°、90°和173°；3.硬件PALS技术，灵敏度高1000倍，适用于高盐浓度、有机溶剂、油相体系； 4.浓度范围：0.1ppm至40%w/v； 5.可作为在线检测器与GPC/SEC连接，并通过SLS、DLS、光强和粒径监测聚集过程； 5.综合全新的粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件； 6.强大的数据分析功能，可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析. 典型应用：1.蛋白、缩氨酸、胶束、多糖、药物制备、脂质体、外切酶体；2.聚合物胶乳、微乳液、油包水、水包油体系；3.涂料、颜料、油漆、食品、化妆品配方；4.陶瓷、耐火材料、炭黑、废水处理。

Rise-2016型干法激光粒度分析仪技术指标：1、测量范围：0.1～800微米2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W5、外观尺寸：950×330×300mm6、重量：40KGRise-2016型干法激光粒度分析仪仪工作原理： Rise-2016型干法激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据大小不同的颗粒在各角度上散射光强的变化反演出颗粒群的粒度分布数据。 颗粒测试的数据计算一般分为无约束拟合反演和有约束拟合反演两种方法。有约束拟合反演在计算前假设颗粒群符合某种分布规律，再根据该规律反演出粒度分布。这种运算相对比较简单，但由于事先的假设与实际情况之间不可避免会存在偏差，从而有约束拟合计算出的测试数据不能真实反映颗粒群的实际粒度分布。 无约束拟合反演即测试前对颗粒群不做任何假设，通过光强直接准确地计算出颗粒群的粒度分布。这种计算前提是合理的探测器设计和粒度分级，给设备本身提出很高的要求。Rise-2016型干法激光粒度分析仪采用优质的非均匀性交叉三维扇形矩阵排列的探测器阵列和合理的粒度分级，从而能够准确地测量颗粒群的粒度分布。分散方法 Rise-2016型干法激光粒度分析仪是一款高性能的仪器。系统包括激光粒度仪、自动干法分散系统、静音无油空气压缩机、高效冷凝器等部分组成。在干法状态下，样品通过自动干粉进样器均匀输送到高压气流中，在高压气流的带动下连续高速喷射到分散器中，在到达分散器出口处样品已经被充分分散，穿过激光束之后样品进入收集器中，同时电脑立刻显示出粒度分布信息。1. 干法分散，不需要任何分散剂和溶剂。分散原理如下图所示 分散管摩擦产生的剪切力 颗粒间碰撞产生的摩擦剪切力 颗粒和分散管壁之间的碰撞2. 采用静音无油空气压缩机，配以高效冷凝器，保证产生纯净压缩空气；3. 瞬时分散、瞬时测量，测试精度快，分析效率高，从进样到出结果一分钟内完成；Rise-2016型干法激光粒度分析仪技术特点：测试稳定的基础：只有系统能够提供稳定的光信号，才能够充分保证测试数据的稳定。Rise-2016型干法激光粒度分析仪选用He-Ne气体激光光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，使用寿命大于25000小时，能够很好的为系统提供稳定的激光源信号。数据可靠的保证：保证测试数据可靠首先是信号探测系统的设计合理，被测样品分散效果的优劣和被测样品的均匀程度是得出真实结果的另一决定性因素。探测器：光电探测系统设计独特，灵敏度高，主检测器一个，辅助检测器多个，采用非均匀性交叉三维扇形矩阵排列，最大检测角达到105度，充分保证了信号探测的全面性。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，光路免调。功能强大的分析软件：PADMAS颗粒粒度测量分析系统（Particle Diameter Measure & Analysis System）功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自定义分级、按目分级和数量分布等多种格式。在0.02~2000微米内默认分级130级，在量程范围内，从1~130级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，有四个自定义参数根据需要自行输入，重量比表面积与体积比表面积可以互换。粒度数据可保存到EXCEL。支持中、英文格式测试报告打印，页眉和页脚可根据需要进行修改，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。可根据用户需要增加其他处理功能。操作简便：标准、量化、简单的操作能够在短时间内熟练掌握，测试数据过程在1分钟内完成。可视性强：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察仪器运行状况、测试数据波动清况，分析所测数据的真实性、可靠性。标准、量化、简单的操作，有效缩短了测试时间，降低了对操作人员的要求。设备维护：全面的技术培训和内容详尽的使用操作说明书、软件在线帮助使操作人员能准确操作、解决疑问、排除故障。技术支持：根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。Rise-2016型干法激光粒度分析仪硬件简介： 硬件设计先进，按照Q/01RZ01-2004标准生产，元器件专业制造，性能稳定可靠，无易损配件。