变频介质损耗测试仪

LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTSThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features?Integrated Power Meter?Up to 80 dB Attenuation?Typical Insertion Loss ?Remotely Program Sweep Settings?Adjustable step sizes?USB PC Interface w/Remote Operation?Absolute/Relative Attenuation Settings?Calibrated at 1310/1550?Sealed Rugged Case?Lowest Cost Hand Held VOA?4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion LossReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual

FTE5000 损耗测试仪 带ORL和视频探头The FTE-5000combines four functions for testing optical networks together in one unit. It brings together a -55dB ORL meter, power meter, laser source and video scope capability with IEC61300-3-35 method “B” Pass/Fail End face Grading Map (probe sold separately).The FTE-5000 is a full featured ORL Loss Test Set. It has 4” super bright color touch screen display with large easy to read characters. It performs optical return loss measurements to -55db at up to three wavelengths and is an automated loss test set with dual or triple wave Light sources. The power meter uses an InGaAs detector which is calibrated at 850,1300, 1310, 1490, 1550 and 1625nm, with a dynamic range of -77dBm. These units are available in single, dual, triple or quad wavelength configurations and displays measurements up to three wavelengths at one time. In the Autotest mode, the master unit changes wavelengths at a fixed rate and informs the slave unit of the wavelength currently being measured. Use this method to test up to three wavelengths at a time and store the loss measurements for each of the lasers fired during the test. Up to 5000 tests may be stored and recalled via the unit’s USB port. Use TTI’s CertSoft PC application software for downloading stored data and organizing the information or use the Android Bluetooth virtual instrument application for remote operation.The information from OTDR, LTS, ORL and video scope may be combined to offer a comprehensive report for all of your network testing needs.The FTE-5000 also includes a video scope (probe sold separately). Use the video scope to ensure the integrity and cleanliness of the connectors being tested. Use the modulation feature to perform fiber identification function. The power meter will identify modulated signals at 270, 1000 and 2000 Hz produced a modulate light source.Features?Optical Loss/ORL Tester?ORL Measurement Range to -55 dB?PM with -77 dBm Dynamic Range?IEC61300-3-35 method “B” Video Scope(Probe Sold Separately)?Auto Test Up To Three Wavelengths?Automated Loss Measurements?Auto Wavelength Switching?Universal PM and LS Adapters?Storage for 5,000 Test?Bright Color Display?Rechargeable NiMH Batteries?USB Interface?Free Report Software?On-Board Help FeatureOrdering InformationFTE-5000-8513LTS with 850/1300nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-1315LTS with 1310/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-345LTS with 1310/1490/1550nm Light Source and Video Scope (Probe Sold Separately)FTE-5000-QUADLTS with 850/1300/1310/1550nm Light Source (No Video Scope Capability)VIS300Video Probe for use with FTE-7000, FTE-1700 and FTE-5000 seriesGeneral SpecificationsDisplay4 in Color TFTStorage Locations5000Battery/Operating Time4 AA Rechargeable NiMH / 6 hrsPower RequirementsWall Mount, Universal 100-240V47-63 Hz 9 VDC Center Positivewith, US, UK, Continental Europe, and Australian PlugsOperating Temperature Range-10 to 45 CDimensions(w/o rubber boot )7.62” L x 3.88” W x 1.56” H(194mm L x 99mm W x 40mm H)Weight0.52 KgAccessories ProvidedFC, ST, SC adaptors for both Power Meter and Light Source, rubber boot, battery,power supply/charger, manual and software on CD and USB cablePower Meter SpecificationsDetector TypeInGaAsConnector Type2.5mm InterchangeableDynamic Range+5 to -77dB (CATV - +25 to -57dB)Auto Test Range0 to -40dBCalibrated Wavelengths850,1300,1310,1490,1550,1625nmUnits of MeasurementdBm, dB, mW, μW and nWPower Measurement Uncertainty± 0.18 dB under reference conditions, ± 0.25 dB from 0 to -65 dBm,± 0.35 dB from 0 to +5 dBm and from -65 to -77 dBmUnits of MeasurementdBm, dBResolution.01 dBModulation Modes DetectedCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzLight Source SpecificationsFiber TypeSingle Mode, MultimodeWavelengths Available850,1300,1310,1490,1550 and 625 nm ±20nmas Unit is EquippedOutput Power0 dBm, 1mw(-3dBm @ 1625nm)Output Stability± .05 dB / 24 hrs @ constant temp,, ± .02 dB/C temperature coefficientLaser Safety ClassificationClass I Safety Per FDA/CDRH and IEC-825-1 RegulationModulation ModesCW, 270 Hz, 1000 Hz, 2000 HzSpectral WidthORL MeterOptical Return Loss Dynamic Range0-55 dBORL WavelengthsSM Source WavelengthsOptical Return Loss Accuracy± 1dB @ -40db reflectionResolution0.01 dB

低插入损耗单模光纤跳线特性低插入损耗(典型值)：0.3 分贝 (600 - 800 nm)0.5 - 0.6 分贝(405 - 532 nm和488 - 633 nm)0.9 分贝(320 - 430 nm)有效波段范围：320 - 430 nm，405 - 532 nm，488 - 633 nm或是633 -780 nm可选的接头有(皆为2.0 毫米的窄口接头):FC/PCFC/APCFC/PC转FC/APC具有每根跳线单独测试的数据附带两个CAPF防尘帽Thorlabs公司提供两头带有FC/PC或FC/APC接头的低插入损耗单模跳线。此外，我们还提供FC/PC转FC/APC跳线。这些小纤芯跳线由我们自己的工厂中用zui先进的设备进行制造，每一根都经过人工挑选，保证光纤具有很小的公差以及匹配的插芯。它们都经过测试，保证了其低损耗特性。这里提供的跳线设计用于320 - 430 nm，400 - 532 nm，488 -633 nm，或者633 - 780nm光波范围的信号传输，在低插入损耗跳线之间分别具有典型0.9 dB，0.5-0.6 dB或者0.3 dB插入损耗。我们的FC/PC跳线具有较高的50分贝(典型值)回波损耗，FC/APC跳线具有60分贝(典型值)回波损耗。每根光纤跳线的测量性能参数都在其附带的规格表中有详细介绍。在标准跳线中，光纤参数(如纤芯-包层偏心度或纤芯与跳线中心的不对准程度)都会有微小的差异。在使用标准匹配套管对准单模跳线的纤芯时，其小纤芯会使这些差异更加严重，或是导致更高的插入损耗。通过广泛地挑选和测试过程，我们的低插入损耗跳线具有高同心度、对心良好的纤芯，可以极大地减小跳线的插入损耗(请参看对比标签了解更多细节)。生产低插入损耗跳线的流程的di一步是人工挑选纤芯-包层同心度高于典型值、小公差光纤外径的光纤，从而与插芯进行匹配。每个插芯也是通过人工进行挑选，从而使插芯内径与光纤尺寸相匹配，并匹配插芯的纤芯-外径同心度。这样就可以保证光纤能够zui紧凑地被包裹，并具有zui佳同心度，保证低插入损耗性能。插芯经过机器抛光，光纤纤芯与接头插销之间的对准公差为±5度。zui后，跳线的插入损耗通过测试，直到符合you秀跳线的标准。通过人工挑选光纤和插芯，Thorlabs公司的低插入损耗跳线能够具有出色的性能和质量。我们还提供匹配套管用于连接FC转FC、SMA转SMA和FC转SMA接头。这些匹配套管可以将背向反射zui小化，保证每个连接光纤末端的纤芯能够很好地对准。我们特别推荐使用我们更小公差的ADAFCPM2精密PM匹配套管，被用于达到下面说明书提到的插入损耗。每根跳线有两个防尘帽，能够防止插芯末端受到尘土和其它污染物的污染。我们也单独销售保护FC/PC终端CAPF塑料光纤帽和CAPFM金属螺纹光纤帽。Stock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch CablesAR-Coated Patch Cables如果您在我们的库存中找不到适合您应用的跳线，Thorlabs公司还提供定制低插入损耗跳线服务。请联系技术支持了解报价。此外，点击下面表格中连接有标准跳线定制且当天发货服务。用我们的Centroc测试设备所测得的结果，显示了标准跳线(左)和低插入损耗跳线(右)的典型纤芯角度对准和同心度。规格：Item # PrefixP1-305P-FCP3-305P-FCP5-305P-FCAPCP1-405P-FCP3-405P-FCP5-405P-FCAPCConnector TypeFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFiber TypeSM300SM400Operating Wavelength320 - 430 nm405 - 532 nmCutoff Wavelength≤310 nm305 - 400 nmInsertion Loss (Max/Typ.)a1.5 dB / 0.9 dB1.0 dB / 0.5 dB (1 m and 2 m Long Cables)1.0 dB / 0.6 dB (5 m Long Cables)Mode Field Diameter2.0 - 2.4 μm @ 350 nm2.5 - 3.4 μm @ 480 nmKey Width2.0 mm (Narrow)Cable Length Tolerance+0.075/-0.0 mJacket Type?3 mm FT030-YCladding Diameter125 ± 1.0 μmCoating Diameter245 ± 15 μmNumerical Aperture0.12 - 0.14Max Attenuationb≤70 dB/km @ 350 nm≤50 dB/km @ 430 nm≤30 dB/km @ 532 nmOperating Temperature0 to 70 °CStorage Temperature-45 to 85 °C与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在405 nm波段下使用低插入损耗的跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。zui大衰减度数据针对无端接头的光纤。Item # PrefixP1-460P-FCP3-460P-FCP5-460P-FCAPCP1-630P-FCP3-630P-FCP5-630P-PCAPCConnector TypeFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFC/PCFC/APCFC/PC to FC/APCFiber TypeSM450SM600Operating Wavelength488 - 633 nma633 - 780 nmCutoff Wavelength350 - 470 nma500 - 600 nmInsertion Loss (Max/Typ.)b1.0 dB / 0.5 dB (1 m and 2 m Long Cables)1.0 dB / 0.6 dB (5 m Long Cables)0.8 dB / 0.3 dBMode Field Diameter2.8 - 4.1 μm @ 488 nm3.6 - 5.3 μm @ 633 nmKey Width2.0 mm (Narrow)Cable Length Tolerance+0.075/-0.0 mJacket Type?3 mm FT030-YCladding Diameter125 ± 1.0 μmCoating Diameter245 ± 15 μmNumerical Aperture0.10 - 0.14Max Attenuationc≤50 dB/km @ 488 nm≤15 dB/km @ 630 nmdOperating Temperature0 to 70 °CStorage Temperature-45 to 85 °C光纤经过手工挑选，以确保更高的截止波长。在截止波长附近的单模操作需要考虑发射条件。与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm（SM450跳线）或是630 nm（SM600跳线）波段，配合一个ADAFCPM2匹配套管利用另一根低插入损耗的跳线进行测试。zui大衰减度数据针对无端接头的光纤。衰减度是zui差值，针对zui短波长的情况。对比405 纳米跳线对比T上图包含了Thorlabs公司长1米、2米的低插入损耗（LIL）跳线和标准跳线之间的示例对比数据。上述数据下长1米的LIL跳线具有-0.37分贝的平均插入损耗，长2米的LIL跳线具有-0.39分贝的插入损耗，长5米的LIL跳线具有-0.59分贝的插入损耗，而长1米的标准跳线具有-2.48分贝的插入损耗，长2米的标准跳线具有-2.44分贝的插入损耗，长5米的标准跳线具有-2.42分贝的插入损耗。5米跳线所测得的插入损耗稍高，这是因为我们没有对光纤的损耗进行校准。我们的LIL跳线的平均插入损耗与标准跳线相比平均高～7倍。T在测试我们跳线的插入损耗时，我们将波长为405乃的光纤耦合激光光源耦合到精选的跳线中；跳线输出功率经过测试和调节，保证不同跳线的数值基本相同。每根待测光纤经过检查、清洁并连接到匹配套管上，然后记录下跳线的输出功率。这样一来，就可以进行光纤插入损耗的均匀性测量，并与其它跳线的插入损耗进行对比。测试过程如右图所示。损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制，包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如，接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值，但是，光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南，估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导，用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件；如果有元件并未指定zui大功率，用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该，以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括，但不限于，光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论，请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时，光会入射到这个界面。如果光的强度很高，就会降低功率的适用性，并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言，高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化，进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时，没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层，再进入插芯中，而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强，就可以熔化环氧树脂，使其气化，并在接头表面留下残渣。这样，光纤端面就出现了局部吸收点，造成耦合效率降低，散射增加，进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长，出于以下几个原因。一般而言，短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小，且产生更多的散射光，则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险，可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品，用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤，损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源，以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前，一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的，没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外，如果是裸纤，使用前应该剪切，用户应该检查光纤末端，确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统，用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好，然后在高功率下使用。熔接质量差，会增加光在熔接界面的散射，从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时，用户应该使用低功率；这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头，有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言，光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作，但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面)，光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性，然后再提高输入或输出功率，遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议，有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中，在取得zui佳耦合前，光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时，会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中，可以增大适用的功率，因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备，并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射，或在熔接界面局部形成高热区域，从而损伤光纤。连接光纤或组件之后，应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率，同时周期性地验证所有组件对准良好，耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时，大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出，从而在局部形成产生高热量，进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤，以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如，大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用，因为前者可以提供更佳的光束质量，更大的MFD，且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用，因为这些应用与高空间功率密度相关。320 - 430 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationbNAJacketLengthP1-305P-FC-1FC/PCSM3001.5 dB/0.9 dB320 - 430 nm≤310 nm2.0 - 2.4 μm @ 350 nm≤70 dB/km @ 350 nm0.12 -0.14FT030-Y1mP1-305P-FC-22mP3-305P-FC-1FC/APC1mP3-305P-FC-22mP5-305P-PCAPC-1FC/PC to FC/APC1ma. 与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。产品型号公英制通用P1-305P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm， FC/PC接头P1-305P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，2米长，320 - 430 nm，FC/PC接头P3-305P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm，FC/APC接头P3-305P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，2米长，320 - 430 nm，FC/APC接头P5-305P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，1米长，320 - 430 nm，FC/PC转FC/APC接头405 - 532 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-405P-FC-1FC/PCSM4001.0 dB/0.5 dB405 - 532 nm305 - 400 nm2.5 - 3.4 μm @ 480 nm≤50 dB/km @ 430 nm≤30 dB/km @ 532 nm0.12 -0.14FT030-Y1mP1-405P-FC-22mP1-405P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP3-405P-FC-1FC/APC1.0 dB/0.5 dB1mP3-405P-FC-22mP3-405P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP5-405P-FC-1FC/PC to FC/APC1.0 dB/0.5 dB1ma. 与另一低插入损耗光纤跳线配接时的插入损耗值。将低插入损耗单模跳线在405 nm波长下，搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。c. 所述的衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短设计波长。产品型号公英制通用P1-405P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/PCP1-405P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，405 - 532 nm，FC/PC接头P1-405P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，405 - 532 nm，FC/PC接头P3-405P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/APCP3-405P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，405 - 532纳米，FC/APCP3-405P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，405 - 532纳米，FC/APCP5-405P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，405 - 532纳米，FC/PC转FC/APC接头488 - 633 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-460P-FC-1FC/PCSM4501.0 dB/0.5 dB488 - 633 nm350 - 470 nm2.8 - 4.1μm @ 488nm≤50 dB/km @ 488 nm0.10 -0.10 -0.14FT030-Y1mP1-460P-FC-22mP1-460P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP3-460P-FC-1FC/APC1.0 dB/0.5 dB1mP3-460P-FC-22mP3-460P-FC-51.0 dB/0.6dB5mP5-460P-FC-1FC/PC to FC/APC1.0 dB/0.5 dB1ma. 与另一根低插入损耗的光纤跳线配接时的插入损耗值。在488 nm波长下使用低插入损耗单模跳线和一个ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. 手选光纤来保证更高的截止波长。对于截止波长附近的单模操作，需考虑发射条件。c. zui大衰减数据针对无端接头的光纤。产品型号公英制通用P1-460P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/PCP1-460P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，488 - 633 nm，FC/PC接头P1-460P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，488 - 633 nm，FC/PC接头P3-460P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/APCP3-460P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，488 - 633纳米，FC/APCP3-460P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，488 - 633纳米，FC/APCP5-460P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，488 - 633纳米，FC/PC转FC/APC接头633 - 780 nm低插入损耗单模光纤跳线Item #ConnectorsFiberTypeInsertion Loss(Max/Typ.)aOperatingWavelengthCutoffWavelengthMode FieldDiameterMaxAttenuationb,cNAJacketLengthP1-630P-FC-1FC/PCSM6000.8 dB/0.3 dB633 - 780 nm500 - 600 nm3.6 - 5.3 μm @ 633 nm≤15 dB/km @ 630 nm0.10 -0.10 -0.14FT030-Y1mP1-630P-FC-22mP1-630P-FC-55mP3-630P-FC-1FC/APC1mP3-630P-FC-22mP3-630P-FC-55mP5-630P-FC-1FC/PC to FC/APC1ma. 与另一低插入损耗的光纤配接时的插入损耗。在630 nm波长下将低插入损耗单模跳线搭配ADAFCPM2匹配套管进行测试。b. 波长范围是截止波长和光纤不再传输的边缘波长之间的光谱区域，它表示光纤以低衰减度传输TEM00模的区域。对于这种光纤，边缘波长通常比截止波长长200nm。c. 衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短波长。zui大衰减度数据针对的是无端接头的光纤。d. 衰减度是zui差情况的值，针对的是zui短波长。产品型号公英制通用P1-630P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633- 780纳米，FC/PCP1-630P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，633 - 780 nm，FC/PC接头P1-630P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，633 -780 nm，FC/PC接头P3-630P-FC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633 - 780纳米，FC/APCP3-630P-FC-2低插入损耗单模光纤跳线，长2米，633 - 780纳米，FC/APCP3-630P-FC-5低插入损耗单模光纤跳线，长5米，633 - 780纳米，FC/APCP5-630P-PCAPC-1低插入损耗单模光纤跳线，长1米，633 - 780纳米，FC/PC转FC/APC接头

1．信号稳定，测试误差小。2．可适用高带宽阻抗测试仪阻抗条测试，损耗较小。适用于多种阻抗测试仪

微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）产品介绍：MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶（玻璃/塑料）、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准（软件或测试夹具）定制。执行标准：《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南（试行）》《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分：用真空衰减法无损检验包装泄漏》技术优势：● 内置10吋触摸屏电脑 与外置电脑可选； ● 单样检测过程用时在15S内（管路、腔体的抽真空，保压和样品测试时间）； ● 可精确显示泄漏孔径（≥1μm）及泄漏量 ； ● 测试腔与主机为分体布局，一套测试腔适用5种以上规格试样； ● 测试腔为铝合金或不锈钢制造，气动夹持； ● 内置流量计，一键完成流量校准； ● 具备零点、漏孔、流量3种校准方式； ● 测试结果具备压力衰减、泄漏孔径、泄漏流量三种判断模式 ● 测试结果流量误差≤0.1sccm ● 真空分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi ● 具备（kpa/mbar/pa/psi）等测试单位转换 ● 可检测西林瓶，输液袋，隐形眼镜、奶粉罐，电子配件等各种软、硬试样的正负压力衰减测试； 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T） 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100（T）

损耗极低的激光光学器件，对于要求极低损耗的镀膜光学器件应用, 筱晓光子可提供R 99.995 %、总损失小于10 ppm的反射镜。此类超级反射镜片可用于环形激光器陀螺仪组件或光腔衰荡应用。对超抛光基材加工低吸收、低散射镀膜时，我们会采用改进型IBS镀膜机。而为了保证清洁度，此类机器会存放在专用的超清洁室内，并且与生产相关的基材预处理和后期处理流程全部在此清洁室内完成。 此外，超清洁室内还配置有多种测量设备，如检测流程所使用的白光表面光度仪和高分辨率显微镜。利用定制光腔衰荡设置可以确定反射量（精度可达小数点后四位）以及损耗。 而测定以上数值必须使用表面粗糙度小于 1 ? rms的超抛光基材。为了保证反射镜成品的品质，还会使用白光表面光度仪进行质量检测中心波长1572nm技术参数产品特点：低损耗可定制不同尺寸入射角：0deg/45deg可选 应用领域：TDLAS光腔衰荡基材以及镀膜参数：材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(?)12.7，25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5? 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 ?e20测试区 ?e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004 内部测试区?e 10清洁度 5/2x0.0161st 工作范围 高反射(45°,15572nm)99.995%1st 工作范围 减反射(0°,1450-1650nm)0.2%类别：高反射率偏振：unpol.入射角 45°波长范围:1572 nm高反射 99.995 %类别 减反射偏振 unpol.入射角 0°波长范围 1450 - 1650 nm AR / HT 0.2 %2nd 工作范围 T(0°,1550nm)~0.005%类别：透射率偏振： unpol.入射角 45°波长范围：1550 nmHT ~ 0.005 % 镀膜曲线：HRs,p(45°,1570-1580nm)99.995%

这款低损耗反射镜是欧洲进口的全球领先的激光高反镜片，又称为低损耗激光反射镜或低损耗高反镜或低损耗激光高反镜，它采用全球领先的离子束镀膜技术，提供接近于100%的反射率。Low loss HR mirrors are also referred to as IBS mirror due to ion-beam coating technology. The mirrors provide maximum reflectance at certain wavelength range and certain angle of incidence (AOI).IBS technology stands out by multiple advantages against other coating techniques. Due to fully automated control of deposition process coatings distinguish by high repeatability, sharper features, tighter tolerances. IBS thin films feature higher density, durability, high-damage-threshold, impenetrable to water vapor, which make them resistant to environmental conditions such as heat, humidity and pressure.IBS coatings distinguish by nearly all specification being supreme to the ones provided by other coating technologies. It allows to minimize scatter in the dielectric layers which is limiting factor, then reflectivity higher than 99,9% is targeted.Our selection of ion-beam sputtered coatings covers wavelength range of 343 - 1550 nm.Provide maximum reflectance at certain wavelength range and certain angle of incidence (AOI)Coatings are provided by ion beam sputtering (IBS) techniqueResistant to environmental conditionsVarious dimensions are available on requestMass production capabilities: 1’000 pieces per monthHigh repeatabilityReflectivity higher than 99,9%

低损耗HR镜直径公差+0/-0.1 mm厚度公差±0.1 mm通光孔径90%表面质量20-10 S-D表面厚度保护性倒角涂层附着力和耐用性Per MIL-C-675A激光损伤阈值的报告www.altechna.com/lidt由于离子束涂覆技术，低损耗HR镜也被称为IBS镜。 反射镜在特定的波长范围和一定的入射角（AOI）下提供zui大的反射率。IBS技术与其他涂层技术相比具有多重优势。 由于沉积过程涂层的全自动控制区分高重复性，更清晰的特点，更严格的公差。 IBS薄膜具有更高的密度，耐用性，高损伤阈值，不透水蒸汽，使其能抵抗诸如热，湿度和压力等环境条件。IBS涂料几乎所有的规格都与其他涂料技术所提供的规格相区别。 它允许zui小化作为限制因素的电介质层中的散射，然后以高于99.9％的反射率为目标。 我们选择的离子束溅射镀膜覆盖波长范围343 - 1550 nm。1 在特定波长范围和一定入射角（AOI）下提供zui大反射率2 离子束溅射（IBS）技术提供涂层3 耐受环境条件4 各种尺寸可根据要求提供5 批量生产能力：每月1000件6 高重复利用率7 反射率高于99.9％Altechna在标准，定制或客户提供的光学器件上提供各种高性能光学镀膜。我们的涂料覆盖从深紫外（193纳米）到远红外（25微米）的波长范围，涂层的zui大部分是在波长范围内最常见的266纳米到2微米的激光和照明光源。我们根据个人要求提供一套标准和定制涂料：?防反射涂层?高反射涂层?分束器涂层?部分反射涂层?偏光片涂层?过滤涂料?超快GDD补偿涂层?Gires-Tournois干涉镜（GTI）?可变反射镜?金属涂层在Altechna，我们的目标是以zui高的标准为不断增长的光子市场提供高损伤阈值，高质量涂层。每个涂层都是特殊的，多年来在光电领域，我们了解到灵活性是满足客户高要求的关键，因此我们的涂层采用不同的技术，分别选择不同的涂层。这里是我们在Altechna提供的涂层技术列表：?电子束蒸发?离子辅助沉积?离子束溅射?磁控溅射每种技术都是不同的，并根据光谱灵敏度，损伤阈值，硬度，表面质量等的要求使用。电子束蒸发离子辅助沉积离子束溅射磁控管溅射沉积速率10 ?/sec~10 ?/sec~3 ?/sec1-6 ?/sec每次涂布面积3000 cm23000 cm2500 cm22000 cm2导热系数LowMediumHighHigh涂层温度范围200 - 300°C20 - 100°C20 - 150°C20-100°C层数1-50~50200Up to 200密度和孔隙度PorousDenseNear bulkNear bulk粘连/耐久性LowGoodExcellentExcellent湿度敏感性YesYes, smallNoNo老化影响YesYes, smallNoNo内在应力~ 100MPaFew 100MPaFew 100 MPa尺寸，毫米基材材料AOI, deg反射率，％波长，nm产品编号?25.4 x 5UVFS099.9343 - 3551-OS-2-0254-5-[1B00-IBS]?25.4 x 5UVFS099.94001-OS-2-0254-5-[1C00-IBS]?25.4 x 6BK7099.9515501-OS-2-0254-6-[1V00-IBS]?25.4 x 5UVFS45Rs99.95, Rp99.84001-OS-2-0254-5-[1C45-IBS]?25.4 x 6BK745Rs99.98, Rp99.9315501-OS-2-0254-6-[1V45-IBS]?25.4 x 5UVFS45Rs99.97, Rp99.93515 - 5321-OS-2-0254-5-[1F45-IBS]?25.4 x 5UVFS099.94515 - 5321-OS-2-0254-5-[1F00-IBS]?25.4 x 5UVFS099.951030 - 10641-OS-2-0254-5-[1PR00-IBS]?25.4 x 5UVFS45Rs99.98, Rp99.931030 - 10641-OS-2-0254-5-[1PR45-IBS]?25.4 x 5UVFS45Rs99.9, Rp99.7343 - 3551-OS-2-0254-5-[1B45-IBS]?25.4 x 5UVFS45Rs99.98, Rp99.938001-OS-2-0254-5-[1K45-IBS]?25.4 x 5UVFS099.958001-OS-2-0254-5-[1K00-IBS]定制你可以根据您的需求定制这个产品。如果您没有找到适合您的应用，请与我们联系，以便定制解决方案。

美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，简介，说明书，办事处，总代，操作步骤：美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，是专门为检测50/60Hz电力线，有电设备和设施，视频显示终端等周围的电磁场强度而设计，为工程师，工业卫生学者以及人身安全健康专家等人员提供电力环境的准确测试工具液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，配置，软件，标准配置，校准计量：标配：电磁场两用探头（单轴），显示部分，绝缘手柄，使用手册，便携箱选件：HI3616远方显示器，HI4413 RS232光纤MODEM，三脚架HI3604工频场强测试仪技术参数：频率响应:30-2000Hz频率响应:±0.5dB(50-1000Hz)±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围：1 V/m –200 kV/m磁场测量范围：0.2mG-20 gauss检测： 单向响应： 真有效值存储： 内置，最多127个读数环境： 温度：10-40℃ 湿度：5%-95%不冷凝美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，工频场强测试仪

HI3604工频场强测试仪,HI3604场强仪，现货，价格22000，液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。咨询热线：15300030867，欢迎您的来电咨询！HI3604工频场强测试仪,HI3604场强仪，现货，价格22000，技术参数，操作指南：功能描述频率范围30-2000Hz频率响应±0.5dB(50-1000Hz)；±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围1 V/m –200 kV/m磁场测量范围0.2mG-20 gauss检测单向响应真有效值存储内置，最多127个读数环境：温度10-40℃湿度5%-95%不冷凝标准附件标配：电磁场两用探头（单轴），显示部分，绝缘手柄，使用手册，便携箱可选附件HI3616远方显示器，HI4413 RS232光纤MODEM，三脚架持有证书CE美国HOLADAY公司提供从5赫兹到400千赫兹的低频电场磁场检测仪。所有产品均可配全向或单轴探头，响应迅速，显示真有效值。HI3600系列被广泛的应用于检测多种场合的电磁场强度，如电脑显示器，视频显示终端，输电线和有电设备，工业热处理设备，家用设备等。HI3603/HI3604电磁场强度测试仪具有电磁场两用探头（单轴），数字显示，图表显示，数据记录，磁场单位可选择（高斯，特斯拉，安培/米）和波形输出功能。可选光隔离远程输出/控制或RS232光调制解调器用于远方显示或数据收集。标准配置有绝缘手柄电池，使用手册和便携箱。HI3603 ： 专用于检测计算机和电视显示器产生的电磁场检测方法遵循美国国家标准电场测量范围： 2-300 kHz，1-2000V/m磁场测量范围： 8-300kHz，1-2000mA/mHI3604：专用于检测50/60Hz电线，有电设备和设施，视频显示终端等周围的电磁场，是电力环境安全防护检测的有效工具。频率范围：30-2000Hz电场测量范围：1 V/m –200 kV/m磁场测量范围：0.2mG-20 gaussHI3624（A）ELF/工频磁场强度测试仪 配置单轴磁场探头，价格低廉，响应频率宽低频率补偿可选择为5 Hz或者30 Hz响应频率上限为2000 Hz自动量程0.2-20 gauss操作更方便远程探头可用来查找磁场源3624频响范围30---2000HZ 3624A频响范围50---2000HZHI-3627 ELF磁场强度测试仪 测量任何ELF磁场源所产生的磁场，包括单，多相电气电路，视频显示终端，家用电线，设施和输电线等。响应频率范围5-2000 Hz磁场强度范围0.2mG-20 gauss全向探头，真有效值读数满足国际标准和瑞典测试标准HI3637 VLF磁场强度测试仪 精确检测从视频显示终端到工业热处理设备等的磁场宽频率响应范围2-400 kHz测试范围6 nT-400μT，全向探头，真有效值显示满足国际标准和瑞典测试标准HI3638ELF/VLF电场强度测试仪可测量ELF/VLF频率范围5Hz-400 kHz；MPR I和II电场强度探头接口和其他输出接口是光隔离的四量程自动选择，测量范围1-40,000伏/米

JHMK多点残余应力测试仪器JHMK多点残余应力测试仪器是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统，在软件进行设置后，自动实时计算残余应力，并实时显示和保存应力应变数值，使测量直观明了，精度高。JHMK多点残余应力测试仪器应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力：各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求，仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。5.适合各种应变花，设置简单方便，并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡，不损失测量范围，程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线，并生成残余应力报告；8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息，可搜南京聚航网查看详情，电联聚航。

低损耗反射镜 和 cw/ns-Laser [1030–1064 nm] 连续/纳秒激光镜片反射率和透光率的主要曲线低损耗反射镜的反射特性曲线和中心波长的定义（CWL） 和带宽 (__)低损耗反射镜的透射特性曲线和中心波长的定义（CWL） 和带宽 (__) CWLRCWL[%]TCWL[ppm]λR[%]T[ppm]SubstrateDimensionsNo.ImperfectionsItem #350(±7) nm 99.973035 nm99.9650? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140970140949520(±10) nm 99.992065 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140969140964640(±15) nm 99.9920100 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140968140965760(±15) nm 99.99515110 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140967140966960(±20) nm 99.99520110 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409921409741 045(±20) nm 99.99520120 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409731409711 260(±20) nm 99.99515190 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409911409751 392(±20) nm 99.99515200 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409891409761 550(±20) nm 99.9950130 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409871409771 670(±20) nm 99.9925180 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409861409801 980(±20) nm 99.9940180 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.0161409841409812 300(±30) nm 99.9940220 nm99.99100? 12.7 I t 6.35 I CC 1000? 25.0 I t 6.35 I CC 1000R13S13?e85/ 2 x 0.016?e205/ 2 x 0.04 I ?e10 5/ 2 x 0.016140983140982cw/ns-Laser [1030–1064 nm]连续/纳秒激光镜片a Laser Mirror 0° 激光反射镜b Pump Mirror 0° 泵浦镜c1 Turning Mirror 22.5 – 45°, 1030 – 1064 nm 调谐镜c2 Turning Mirror 22.5 – 45°, 515 – 532 nm 调谐镜d1 Turning Mirror 45°, 1030 – 1064 nm 调谐镜d2 Turning Mirror 45°, 515 – 532 nm 调谐镜l1 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1030 nm 非偏振分束器l2 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1064 nm 非偏振分束器l3 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 515 nm 非偏振分束器l4 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 532 nm 非偏振分束器n Separator 45° 分离器o1 Thin Film Polarizer 56°, 1030 nm 薄膜偏振片o2 Thin Film Polarizer 56°, 1064 nm 薄膜偏振片o3 Thin Film Polarizer 56°, 515 nm 薄膜偏振片o4 Thin Film Polarizer 56°, 532 nm 薄膜偏振片p Window 0° 窗片a Laser Mirror 0° Layertec激光反射镜Coating 141321HR s,p (0 – 10°, 1030 – 1064 nm) 99.95 %LIDT6/ 50 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270 μm YERTECSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141864? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141868? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.063141866b Pump Mirror 0° Layertec泵浦镜S2: Coating 141325HR s,p (0–10°, 1030–1064 nm) 99.95 %R s,p (0–10°, 808 nm) S1: Coating 141355AR s,p (0–10°, 808 nm) LIDT6/ 30 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270 μmLAYERTECSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141877? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141881c1 Turning Mirror 22.5–45°, 1030–1064 nm Layertec调谐镜Coating 141496Ag + multilayerHR s,p (22.5–45°, 1030–1064 nm) 99.7 %for application outside the resonatorno transmission @ VIS / NIRSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141942? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.06314194525 × 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.0414195425 × 36 mm | t 6.35 mmE25/ 4 x 0.0414195850 × 50 mm | t 9.5 mmF35/ 4 x 0.063141960c2 Turning Mirror 22.5-45°, 515-532 nm Layertec调谐镜Coating 141497Ag + multilayerHRs,p (22.5-45°, 515-532nm) 99.7 %for application outside the resonatorno transmission @ VIS / NIRSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.0414194925 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.04141956d1 Turning Mirror 45°, 1030-1064 nm Layertec调谐镜Coating 141327HRs,p (45°, 1030 -1064 nm) 99.95 %LIDT6/ 50 J/cm2 1064 nm 7 ns ? 270μmSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 6.35 mmA45/ 1 x 0.04141896? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141500? 50.0 mm | t 9.5 mmC35/ 4 x 0.06314190425 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.0414195325 x 36 mm | t 6.35 mmE25/ 4 x 0.0414195750 x 50 mm | t 9.5 mmF35/ 4 x 0.063141959d2 Turning Mirror 45°, 515 - 532 nm Layertec调谐镜Coating 141329HRs,p (45°, 515-532 nm) 99.9%LIDT6/ 10 J/cm2 532 nm 7 ns 10Hz ?270μmSubstrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.0414194625 x 25 mm | t 6.35 mmD25/ 3 x 0.04141955l1 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1030 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141335PRs,p (45°, 1030 nm) = 50 (±3) %I Rs - Rp I S1: Coating 141331ARs,p (45°,1030 - 1064 nm) I Rs - Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141604L2 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 1064 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141338PRs,p (45°, 1064 nm) = 50 (±3) %I Rs – Rp I S1: Coating 141331ARs,p (45°, 1030-1064 nm) I Rs – Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141607L3 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 515 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141344PRs,p (45°,515 nm) = 50 (±3) %I Rs – Rp I S1: Coating 141341ARs,p (45°,515-532 nm) I Rs –Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141608L4 Non-Polarizing Beamsplitter 45°, 532 nm Layertec非偏振分束器S2: Coating 141346PRs,p (45°, 532 nm) = 50 (±3) %I Rs - Rp I S1: Coating 141341ARs,p (45°, 515 - 532 nm) I Rs - Rp I Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141609N Separator 45° Layertec分离器S2: Coating 141359HRs,p (45°,515- 532nm) 99.8 %Rs (45°, 1030 - 1064nm) Rp (45°, 1030- 1064nm) S1: Coating 141377ARs,p (45°, 1030-1064 nm) Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141892? 25.0 mm | t 6.35 mmB45/ 3 x 0.04141895O1 Thin Film Polarizer 56°, 1030 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141352TFP (56° *, 1030 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %O2 Thin Film Polarizer 56°, 1064 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141353TFP (56° *, 1064 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141536O3 Thin Film Polarizer 56°, 515 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating141350TFP (56° *, 515 nm) Rs 99.9% Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0 %Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141537O4 Thin Film Polarizer 56°, 532 nm Layertec薄膜偏振片S2: Coating 141351TFP (56°*, 532 nm) Rs 99.9 % Rp *specifications will be achieved by ±2° angle adjustmentS1: Uncoated Brewster angle ? Rp (56°) ~ 0%Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141539P Window 0° Layertec窗片S2+S1: Coating 141348AR (0°, 515-532 nm) AR (0°, 1030-1064 nm) Substrate DimensionsNo.ImperfectionsItem #? 12.7 mm | t 1 mmA25/ 1 x 0.04141890? 25.0 mm | t 3.05 mmB35/ 3 x 0.04141885德国Layertec公司创建于 1990年. 凭借多年在光学镜片的设计开发和生产经验，已成为全球知名的光学镜片厂商，LAYERTEC的镜片品质非常出众,广泛赢得客户的赞誉。光学镜片应用波长范围从157-2940nm,包括了科研以及工业上主流的激光器的应用，材质有YAG, Sapphire,CaF2,IR-fused silica,Fused Silica,BK7，尺寸大部份为0.5inch-2inch。Layertec专注于提供激光光学元件的镀膜，波长范围从 VUV（157nm及以下） 到 NIR波段（～4um）。最常见的光学镀膜类型是高反射镜（从正入射或者AOI=45°的转向镜），用于输出耦合的部分反射镜，以及分束器和用于窗口和透镜的抗反射膜。对于更复杂的激光器镀膜，包括3个以上波长的高反射率（例如激光器波长和倍频波长），以及3个以上波长的高透射率（例如泵浦波长，倍频或者抑制其他激光波长）。宽带反射镜，针对平滑群延迟和群延迟色散光谱优化的反射镜，这些在宽带激光输出应用中会用到，例如染料激光器，钛宝石激光器，光参量震荡器（OPO）和飞秒激光器。除了反射率和透射率，激光应用的镀膜必须满足低光学损耗和高激光损伤阈值。在VIS和NIR波段的溅射光学镀膜具有低杂散光和低吸收损耗（数量级都在10–5）。磁控溅射镀膜的HR镜反射率或者部分反射镜的反射透射率之和都超过99.9%。最近测量了在溅射和蒸发镀膜中的NIR波长吸收损耗都在3-30ppm。在VIS-NIR波长范围，蒸发镀膜会产生杂散光损失大约10-3级，在UV和VUV波长可以达到10-2。尽管如此，蒸发镀膜在UV波长的吸收损耗比较低。在CW和纳秒激光器光学元件的损伤主要跟热效应有关，例如增大的吸收，镀膜材料的固有吸收或者缺陷造成的吸收， 或者 镀膜较差的热导率 以及较低的熔化温度。 高能量的镀膜要求控制镀膜材料的固有特性以及减少膜层的缺陷。皮秒和飞秒激光元件的激光损伤主要是场强效应造成的。针对这类激光器的高功率镀膜要求非常特殊的设计。根据ISO 11254-1 (cw- LIDT and 1 on 1–LIDT, 例如单脉冲 LIDT), ISO 11254-2 (S on 1, 例如多脉冲 LIDT) 以及 ISO 11254-3 (一定数量的脉冲LIDT )标准中对激光损伤阈值LIDT的定义要求激光系统工作在单频模式下，精确的光束诊断和在线/离线损伤探测系统。因为这个原因，数量有限的配有少数几种激光器的测量系统可以使用（例如Laserzentrum Hannover 公司的1064nm）。对于比较特殊的激光器波长例如氩离子激光器（488nm或者514nm），没有测量系统可以用来验证LIDT数据。

溶出度测试仪配件是一款自动药物溶出度仪,用于测量药物或化学物质在设定温度下的溶解情况，溶出度测试仪配备了蠕动泵和分光光度计，是领先的进口自动溶出度测试仪。溶出度测试仪配件特点六杯六杆,桨杆等采用进口SUS316不锈钢。数字读取提供连续更新的精确轴速度。水浴温度可设定到所需温度。旋转度可无限变化，可设定到任意所需速度。水浴温度均匀。全自动智能化控制温度、转速及时间三个参数。可以随意预置参数；分时显示预置值和实时值。溶出度测试仪配件应用用于药片，胶囊，药丸，固体剂型以及各种药品的溶出度测试，药品质量控制，研发。适合科研院所和制药企业的实验室使用。溶出度测试仪配件参数转速：10-250rpm电力：220V/50Hz安全功能：低水位，过热，防漏电温度：数字温度控制系统加热器：900W重量：62kg孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括溶出度测试仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品.我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务,确保中国用户以极低的成本享受进口优质产品的良好体验。关于溶出度测试仪参数,溶出度测试仪应用,溶出度测试仪特点的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

美国HI3604，HOLADAY-HI3604，HI3604美国工频场强测试仪，简介，办事处，说明书，售后服务，远方显示器 美国HI3604，HOLADAY-HI3604，HI3604美国工频场强测试仪，是专门为检测50/60Hz电力线，有电设备和设施，视频显示终端等周围的电磁场强度而设计，为工程师，工业卫生学者以及人身安全健康专家等人员提供电力环境的准确测试工具。液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。美国HI3604，HOLADAY-HI3604，HI3604美国工频场强测试仪，简介，办事处，说明书，售后服务，远方显示器，配置，软件，标准配置，校准计量：标配：电磁场两用探头（单轴），显示部分，绝缘手柄，使用手册，便携箱选件：HI3616远方显示器，HI4413 RS232光纤MODEM，三脚架HI3604工频场强测试仪技术参数：频率响应:30-2000Hz频率响应:±0.5dB(50-1000Hz)±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围：1 V/m –200 kV/m磁场测量范围：0.2mG-20 gauss检测： 单向响应： 真有效值存储： 内置，最多127个读数环境： 温度：10-40℃ 湿度：5%-95%不冷凝美国HI3604，HOLADAY-HI3604，HI3604美国工频场强测试仪，简介，办事处，说明书，售后服务，远方显示器

红外 (IR) 薄膜分束器Ø3 - 5µm 的平均 R/T 比为 45/55Ø没有来自第二表面反射的重影Ø消除光束位移Ø还提供用于 VIS-NIR 的薄膜分束器红外 (IR) 薄膜分束器采用安装在铝制框架中的薄硝化纤维素分束膜，设计为具有 3 - 5µm 的 45R/55T 分束比。 薄硝酸纤维素膜消除了第二表面反射和光束位移，同时最大限度地减少了光路长度的变化。 铝制框架在框架下侧具有安装孔，便于安装和集成到 OEM 系统中。红外 (IR) 薄膜分束器是 MWIR 应用的理想选择，包括 MWIR 成像、红外光谱、火焰检测和红外探测器的一般用途。注意：这些分束器的硝化纤维膜非常薄且易碎。 不得接触膜，只能使用空气进行清洁。 我们建议使用鼓风机，因为来自压缩空气的力可能会损坏膜。通用规格基材:Nitrocellulose反射/透射比 (R/T):45/55波长范围 (nm):3000 - 5000镀膜:Dielectric镀膜规格:45/55 @ 3000 - 5000nm构造 :Pellicle外壳:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5表面质量:40-20厚度 (μm):2 +0.3/-0.2产品型号Dia. (mm)CA (mm)产品编码19.0512.7#19-28034.9025.4#19-28163.5050.8#19-28288.9076.2#19-283114.30101.6#19-284165.10152.4#19-285技术数据低损耗 IBS 镀膜激光偏振器Ø1064nm Nd:YAG 设计波长Ø在 45° AOI 具有 10,000:1 的高消光比Ø低损耗离子束溅射 (IBS) 镀膜Ø采用 10-5 表面质量的 UV 熔融石英基片低损耗 IBS 镀膜激光偏振器用于传输 p 偏振光，同时反射 s 偏振光，消光比高达 10000:1。这些偏振器具有离子束溅射 (IBS) 镀膜，设计用于在 45° 入射角下实现最佳的低损耗性能。它们由紫外熔融石英基片制成，与高功率激光器一起使用时可将热效应降至低，并且具有 10-5 的激光级表面质量。低损耗 IBS 涂层薄膜激光偏振器非常适合与 1064nm Nd:YAG 激光器一起使用，以分离或组合 s 偏振和 p 偏振激光。如果您的应用需要具有定制尺寸、镀膜或其他激光应用要求的低损耗 IBS镀膜激光偏振器，请与我们联系。注意：这些光学元件边缘上的箭头指向薄膜偏振片镀膜。产品型号DWL (nm)消光比CA (mm)表面质量Dia. (mm)厚度 (mm)产品编码106410,000:12010-525.406.35#16-747爱特蒙特光学® F-Theta 透镜Ø激光扫描应用的理想选择Ø扫描场上的衍射受限，波前误差低Ø长工作距离和大扫描区域Ø还提供振镜、扩束器和激光源Edmund Optics® F-Theta 透镜旨在在扫描系统的图像平面提供平场，并与检流计、扩束器和激光源结合使用。 这些 F-Theta 透镜具有紧凑的外形，提供高达 273 毫米的各种焦距和高达 164 毫米 (X) x 164 毫米 (Y) 的大扫描场。 这些透镜针对常见的光纤激光源和 Nd:YAG 基波或二次谐波进行了优化，设计波长为 532nm 和 1064nm，具有通用安装螺纹，可轻松集成到振镜系统中。 爱特蒙特光学® F-Theta 透镜是用于激光扫描和激光加工应用（包括激光打标、雕刻、切割、钻孔和 3D 建模）的经济高效的解决方案。产品型号DWL (nm)扫描角 (°)扫描场 (mm)类型WD (mm)产品编码532±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens94.5#15-185532±25.00101.8 x 101.8F-Theta Lens193.5#15-1861064±18.6035.4 x 35.4F-Theta Lens72.1#15-1781064±22.6856.5 x 56.5F-Theta Lens107.9#15-1791064±22.6286.0 x 86.0F-Theta Lens171.2#15-1801064±28.50116.2 x 116.2F-Theta Lens188.1#15-1811064±25.00157.0 x 157.0F-Theta Lens304.6#15-1821064±24.10164.0 x 164.0F-Theta Lens313.0#15-183光散射膜Ø散射 UV 到 NIR 范围的照明光线Ø柔性聚合物基片Ø易于根据尺寸进行切割Ø另外提供玻璃散射片L光散射膜由 TAC 聚合物材料制成，可对 UV 到 NIR 范围的照明光线提供散射。可以轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用轻松地根据尺寸对这种薄膜进行切割，以满足应用要求，可以使用光学胶粘剂将其粘附到玻璃表面。光散射膜非常适用于机器视觉、视觉检测和自动检测应用，以散射LED 光源，从而产生无热点的均匀照明。若您的应用需要自定义尺寸的光散射膜，或需要将光散射膜层压到光学组件（例如光学窗口片、有色玻璃和聚合物偏振片）上，请联系我们。通用规格涂层:Uncoated厚度 (mm):0.13 ±0.005波长范围 (nm):300 - 1100注意:Protective film on both surfaces should be removed before use产品型号涂层尺寸 (mm)产品编码Uncoated100 x 100#17-683Uncoated300 x 300#17-682技术数据E 系列无边缘运动光学反射镜安装座Ø用于安装分光镜和透射式光学元件的 120° 无边缘Ø价格实惠Ø对实验和 OEM 系统不可或缺的安装座E 系列无边缘运动光学反射镜安装座可提供许多对于研发、原型制造和系统集成领域的应用而言不可或缺的功能。这些安装座具有 120° 切口，非常适用于安装分光镜和透射式光学元件，若以 45° 角安装，还能容纳更宽的光束路径。两个 M6 x 0.25 (101.6 TPI) 调节螺丝可提供平稳的移动，可以通过手或内六角扳手（扳手大小 2mm）驱动，以实现翻转和倾斜的光学调整与对齐 (±3.5°)。可以拆卸调节螺丝旋钮，从而使外形更紧凑。E 系列无边缘运动光学反射镜安装座具有安装孔，这些孔是埋头孔（设计目的为容纳 M4 或 8-32 安装硬件）和 M6 x 1.0 内螺纹孔（用于提高安装的多用性，以及与TECHSPEC® 公制不锈钢安装接杆和底座接杆的直接兼容性）。通用规格光学类型:Circular调节螺丝数目:2构造 :Aluminum Plates, Stainless Steel Screws, and Brass Thread BushingsMin. Thickness of Compatible Optics (mm):2微倾斜角度 (°) :±3.5微翻转角度 (°) :±3.5调节螺丝螺距 (mm):0.25Compatible Post:M6 x 1.0, M4 x 0.7, 8-32产品型号兼容光学大小 (mm)Optical Axis Height产品编码12.5/12.725.40#17-27825/25.425.40#17-27950/50.838.10#17-280

北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

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少子寿命测试仪性能参数？ 测量原理 QSSPC（准稳态光电导） 少子寿命测量范围 100 ns-10 ms 测试模式：QSSPC,瞬态，寿命归一化分析 电阻率测量范围 3&ndash 600 (undoped) Ohms/sq. 注入范围：1013-1016cm-3 感测器范围 直径40-mm 测量样品规格 标准直径: 40&ndash 210 mm （或更小尺寸） 硅片厚度范围 10&ndash 2000 &mu m 外界环境温度 20° C&ndash 25° C 功率要求 测试仪: 40 W 电脑控制器：200W 光源：60W 通用电源电压 100&ndash 240 VAC 50/60 Hz -------------------------------------------------------------------------------- 少子寿命测试仪成功使用用户？ 江苏，上海，北京，浙江，西安，四川，河北，河南等地的硅料生产企业及半导体光伏拉晶企业等等。 一、采购项目名称：硅片少子寿命测试系统、溶剂净化系统等 二、采购代理机构 ：杭州求是招标代理有限公司 三、确定成交日期：2010年11月16日 四、本项目公告日期： 2010年11月4日、11月5日 五、项目成交单位： 硅片少子寿命测试系统(z9264)：上海瞬渺光电技术有限公司 -------------------------------------------------------------------------------- 相关资料下载 少子寿命测试仪一款功能强大的少子寿命测试仪，不仅适用于硅片少子寿命的测量，更适用于硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等多种不规则形状硅少子寿命的测量。少子测试量程从1&mu s到6000&mu s，硅料电阻率下限达0.1&Omega .cm(可扩展至0.01&Omega .cm)。测试过程全程动态曲线监控，少子寿命测量可灵敏地反映单晶体重金属污染及陷阱效应表面复合效应等缺陷情况，是原生多晶硅料及半导体及太阳能拉晶企业不可多得少子寿命测量仪器。 少子，即少数载流子，是半导体物理的概念。 它相对于多子而言。 　　半导体材料中有电子和空穴两种载流子。如果在半导体材料中某种载流子占少数，导电中起到次要作用，则称它为少子。如，在 N型半导体中,空穴是少数载流子，电子是多数载流子；在P型半导体中,空穴是多数载流子,电子是少数载流子。 　　多子和少子的形成:五价元素的原子有五个价电子，当它顶替晶格中的四价硅原子时，每个五价元素原子中的四个价电子与周围四个硅原子以共价键形式相结合，而余下的一个就不受共价键束缚，它在室温时所获得的热能足以便它挣脱原子核的吸引而变成自由电子。出于该电子不是共价键中的价电子，因而不会同时产生空穴。而对于每个五价元素原子，尽管它释放出一个自由电子后变成带一个电子电荷量的正离子，但它束缚在晶格中，不能象载流子那样起导电作用。这样，与本征激发浓度相比，N型半导体中自由电子浓度大大增加了，而空穴因与自由电子相遇而复合的机会增大，其浓度反而更小了。 　少子浓度主要由本征激发决定，所以受温度影响较大。 少数载流子寿命(简称少子寿命)是半导体晶体硅材料的一项重要参数,它对半导体器件的性能、晶体硅太阳能电池的光电转换效率都有重要的影响.分别介绍了常用的测量晶体硅和晶体硅太阳电池少子寿命的各种方法,包括微波光电导衰减法(MW-PCD),准稳态光电导方法(QSSPC),表面光电压(SPV),IR浓度载流子浓度成像(CDI),调制自由载流子吸收(MFCA)和光束(电子束)诱导电流(LBIC,EBLC) 少子寿命是描述半导体 材料特征方程的基本参数之一,对器件特性的精确描述起着重要作用,特别是对以PN结为基本结构的器件,额外载流子的产生与复合在PN结的状态转换过程中起着决定性的作用,因而少子寿命是决定PN结型器件工作特性的关键材料参数之一。 　　太阳电池的转换效率主要依赖于基区的少子寿命.少子寿命越长光照产生的过剩载流子越可能到达PN结,受PN结电场分离后对外产生光电流,同样由于暗电流的降低可增加太阳电池的开路电压,所以大部分生产商都在生产前检验原始材料的一些关键性参数,光伏工业生产中最常见的测试就是少子寿命的测试,通过对原始材料的寿命测量预测成品太阳电池的效率。 　　少子寿命测试仪采用微波光电导衰减法（ASTM国际标准-1535）的测试原理，提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试，主要是通过904nm波长的激光激发出硅片,硅棒或硅锭体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而判断该硅片,硅棒或硅锭的缺陷、沾污情况。该设备主要应用于硅棒，硅片的出厂、进厂检查，生产工艺过程的沾污检测等。特别是在太阳能领域，少子寿命将直接关系到成品电池的效率，是必备的检测手段。 　　少子寿命测量仪可测量半导体的少子寿命。少子寿命值反映了太阳电池表面和基体对光生载流子的复合程度，即反映了光生载流子的利用程度。少子寿命是半导体晶体硅材料的一项关键性参数，它对晶体硅太阳能电池的光电转换效率有重要的影响，可以说硅电池的转化效率和少子寿命成正向相关对应关系。 　　少子寿命测量仪采用微波光电导衰减法（SEMI国际标准-1535）的测试原理，即通过激光激发出硅体内的非平衡载流子，再通过微波反射的探测手段来测试少数载流子引起的电导率的变化，从而计算出少子寿命值，为半导体提供低成本、快速、无接触、无损伤的少数载流子寿命的测试。该仪器测量少子寿命的精度达到ns级，分辨率达1％，测试结果准确性好、重复性高，完全能满足太阳能级硅电池的少子寿命测试。目前该方法是最受市场接受的少子寿命测试方法 主要特点: 　　适应低电阻率样片的测试需要，最小样品电阻率可达0.1ohmcm 　　全自动操作及数据处理 　　对太阳能级硅片，测试前一般不需钝化处理 　　能够测试单晶或多晶硅棒、片或硅锭 　　可以选择测试样品上任意位置 　　能提供专利的表面化学钝化处理方法 　　对各道工序的样品均可进行质量监控： 　　硅棒、切片的出厂、进厂检查 　　扩散后的硅片 　　表面镀膜后的硅片以及成品电池常见问题： WT-2000与WCT-120测少子寿命的差异？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导）而WT2000是微波光电导。 WCT-120准稳态光电导法测少子寿命的原理？ WCT用的是Quasi-Steady-State Photoconductance（QSSPC准稳态光电导） 准稳态光电导衰减法（QSSPC）和微波光电导衰减法（MWPCD）的比较？ QSSPC方法优越于其他测试寿命方法的一个重要之处在于它能够在大范围光强变化区间内对过剩载流子进行绝对测量，同时可以结合 SRH模型，得出各种复合寿命，如体内缺陷复合中心引起的少子复合寿命、表面复合速度等随着载流子浓度的变化关系。 MWPCD方法测试的信号是一个微分信号，而QSSPC方法能够测试少子寿命的真实值，MWPCD在加偏置光的情况下，结合理论计算可以得出少子寿命随着过剩载流子的变化曲线，而QSSPC直接就能够测得过剩载流子浓度，因此可以直接得出少子寿命与过剩载流子浓度的关系曲线，并且得到PN结的暗饱和电流密度；MWPCD由于使用的脉冲激光的光斑可以做到几个到十几个，甚至更小的尺寸，在照射过程中，只有这个尺寸范围的区域才会被激发产生光生载流子，也就是得到的结果是局域区域的差额寿命值，这对于寿命分布不均匀的样品来说，结果并不具备代表性。

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北京朋利驰科技有限公司生产产品：可燃气体测试仪，接地电阻测试仪，大地网测试仪，土壤电阻率测试仪，等电位测试仪，环路电阻测试仪，回路电阻测试仪，直流电阻测试仪，防雷元件测试仪，浪涌保护器安全巡检仪，智能高压绝缘电阻测试仪，压敏电阻测试仪，标准电阻，感烟探测器功能试验器，感温探测器功能试验器，数字照度计，线型光束感烟探测器滤光片，超声波流量计等。序号仪器设备名称配置台数主要性能要求甲级乙级1. 激光测距仪√√量程：0-150m2. 测厚仪√√金属厚度测量，超声波3. 经纬仪√√量程：0-360°，分辨率：2″4. 拉力计√√量程：0-40kgf；指针式5. 可燃气体测试仪√√适用气体：可燃气体6. 接地电阻测试仪√√测试电流：20mA（正弦波），分辨率：0.01Ω7. 大地网测试仪√测试电流：3A，分辨率：0.001～99.999Ω，频率可选8. 土壤电阻率测试仪√√四线法测量，测试电流：20mA（正弦波）分辨率：0.01Ω9. 等电位测试仪√√测试电流: ≥1A，四线法测试，分辨率：0.001Ω，具备大容量锂电池；10.环路电阻测试仪√√电阻测量分辨率：0.001Ω，电流测量分辨率：1μA 11.防雷元件测试仪√√测试器件：MOV，具备大容量锂电池。12.绝缘电阻测试仪√√0-1000MΩ13.表面阻抗测试仪√√测量范围：103-1010Ω14.静电电位测试仪√√测量范围：±20kv15.数字万用表√√电压、电流、电阻测量，分辨率：3位半16.防爆对讲机√防爆对讲17.标准电阻√√10-3~105欧姆，功率1/2w，线绕型18.钢卷尺√√分辨率：0.01m19.游标卡尺√√量程：0-150mm20.防雷检测仪器携带箱（选配）●●用于上述设备的存放和携带，内衬激光开模高倍海绵：对仪器提供坚实保护。

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热电偶测温仪,铸造温度测试仪W330手提式熔炼测温仪一、应用领域1、专门为冶炼、铸造等行业在熔炼过程中快速测量熔融金属温度而研制的高精度专用温度测量仪器2、仪器与相适应的热电偶配合可在钢液、铁液、铜液、铝液、锌液等多种熔炼场合进行快速精密测温二、功能特点1、便携式设计，测温仪与测温抢一体化，全金属外壳，坚固耐用2、采用耐震且高亮度的LED数码管，显示清晰，适用于恶劣工作环境3、具有温度测成自动保持，灯光及音响同步提示测温结束4、断偶、超量程、电源欠压等报警提示，仪器不使用时自动断电5、高速抗千扰工业单片机处理数据，具有较强的抗千扰能力7、高精度高速A/D转换器，速度快，精度高8、多层保护的耐高温精密型粗线径的补偿导线，精度高，寿命长，防止高温烧毁及牵拉缠绕损坏电缆9、特别定制的智能式充电器，智能快速充电，电池充满自动停止，即使不拔掉电源插头也不会因过充电而损坏电池，延长电池的使用寿命和免除更换电池的麻烦 热电偶测温仪,铸造温度测试仪三、主要技术参数1、测量范围和适用场合：单铂铑KS-602，0～1750℃；钢、铁、铜、铝液测温单铂铑KR-602，0～1750℃；钢、铁、铜、铝液测温双铂铑KB-602，500～1800℃；高温钢液测温钨铼KW-602，0～2000℃；钢、铁、铜液测温镍铬-镍硅K，0～1000℃；铝、锌液测温2、测量精度：≤±0.2％±1℃3、分辨率：1℃4、响应时间：1S5、工作条件：温度0～50℃；湿度5～80％RH6、存贮条件：温度－20～60℃；湿度5～90％RH7、电源：DC6V±10％（高容量镍氢可充电电池）8、配用热电偶：S、B、W、R、K 五种热电偶同机可配四、仪器的组成1、手提式测温仪：1台 2、智能充电器：1只3、测试杆（1.5m可定制）：1只4、铜头：1只5、选配件：热电偶

硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪，使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点，硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。硬度测试仪配件特点专用于配套SHORE A，SHORE D型橡胶硬度计，其测试原理更科学，结构更紧凑、合理，使测试的稳定性和准确度进一步得到提高使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。硬度测试仪配件参数E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机；外形尺寸： 100*212*250(mm)便携式硬度测试仪参数可选配SHOR结构更紧凑、合理，操作简单 净重：10 Kgs孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计，硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

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GATTA-STED NANORULER作为第一种超分辨率显微镜技术，STED(受激辐射损耗技术）方法彻底改变了光学显微镜。有了GATTA-STED系列的纳米尺子，现在终于有了足够的校准探针。单色纳米尺子携带两个由高量子产率染料ATTO 647N密集排列而成的荧光标记。我们提供50纳米，70纳米，90纳米和120纳米尺寸的标记距离。此外，我们还提供了一种新的设计，包含两个不同荧光团的三个发射点，可以获得非常引人注目的图像。多色纳米尺有三个发射点，尺寸为140 nm (ATTO 647N和ATTO 594)。我们还可以根据您的要求设计特殊的解决方案。所有的纳米样品将在一个密封的玻璃载片上，你可以舒服地直接放在你的显微镜上。订购选单

灰熔融性测试仪配件测量煤炭或焦炭专业的特征熔融温度、变形（DT）、软化（ST）、半球温度（HT）、流动温度（FT）。 灰熔融性测试仪配件特点 高度自动化：环境温度下自动加载，再度判别4个特征温度 一次性可加载9个样品 实时监测：装备有CCD相机，实时监测监测过程，计算机显示和存储图像 精确测试结果：高清彩色相机确保图像清晰，更容易判断特征温度 二次核查测试结果：测试完成后测试图片存储下来，可二次核查图片和温度 精密控制炉温，超低气体消耗 方便使用：基于Windows系统软件，一台计算机可控制多台煤炭灰熔融性测试仪 灰熔融性测试仪配件符合标准ISO540固体矿产燃料硬煤和焦炭可熔性分析ASTM D1857-04-09 煤炭和焦炭可熔性测量GB/T219-2008煤炭可熔性分析灰熔融性测试仪配件参数测量能力：5个/批 最高温度： 1600℃ 温度分辨率：1℃ 炉材料：莫来石 加热器件：酸化镍,钼棒 加热速率：20+/-5℃/分钟 （900℃) 测试气体：氧化气体，气体流量法 电源： 220V,50Hz, 2400W 尺寸：550x850x854mm 重量：100kg

产品概要：MPI为射频和毫米波测量应用提供了出色的软电缆和附件选择，可实现完整的射频探头系统集成。基本信息：测试电缆晶圆级测量系统中的RF电缆必须满足许多特殊要求：较佳的电缆长度，重量，大小和相位稳定性，温度范围和公连接器的设计，MPI可以提供两个系列的RF电缆-高端MMC和入门级MRC-涵盖从18 GHz开始的整个频率范围。电缆组件有两种标准长度，分别为120厘米和80厘米，以与探头系统的占地面积和VNA的位置相匹配。转接器提供高质量的RF和高端毫米波适配器，以应对常规系统重新配置以及与不同类型的测试仪器集成的挑战。波导管波导段用于将基于波导的RF探头与VNA毫米波头(转换器)的输出端口相连，该端口的使用频率从V波段(50 GHz)开始。由于采用统一的设计，MPI波导段可与任何类型的变频器和MPI探头系统兼容。同时，它们提供了很大限度的系统测量动态范围。标准产品涵盖了广泛的频率范围：从V波段(WR15，从50 GHz到75 GHz)到G波段(WR-5，从140 GHz到220 GHz)。对于220 GHz以上的测量，MPI工程师建议将RF探头直接安装到转换器的波导端口。技术优势：1、测试电缆稳定性较高2、高质量的RF和高端毫米波适配器3、MPI波导段具有良好的兼容性应用方向：主要用于射频和毫米波测量应用。