全谱直读光谱检测仪

最新型号的全谱直读光谱仪性能比较厂商及仪器型号光学系统全谱检测方式TJA IRIS AdvantageTM系列(全谱直读ICP、DCP仪器)中阶梯光栅—石英棱镜刻线：54.5条／mm，焦距381mm波长范围：　165—300nmC I D二维阵列，面积：28×28mm检测单元：512×512个感光点(262，144)BAIRD One Spark(全谱直读Spark仪器)中阶梯光栅-石英棱镜C I D二维阵列，260，000个感光点P-E Optima 3000系列(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅—光栅、棱镜双色散刻线：79条／mm，波长范围：　165—782nmS C D 面阵检测器，面积：13×19mm检测单元：235区段，6000个感光点有5000条谱线可供选用VARIAN VISTA CCD(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅-CaF2棱镜刻线：94.7条／mm，焦距：0.4m波长范围：　167—785nmC C D二维检测器，具有图象匹配技术检测单元：70，000个感光点，SPECTRO CIROSCCD(全谱直读ICP仪器)全息光栅，120—800nmC C D线阵式检测器可分析10，000条谱线SPECTROLABJ RCCD Spark(台式金属分析仪)全息光栅，175—550nmC C D线阵式检测器HILGER ASSURE Spark(台式全谱光谱仪)全息光栅，焦距200mm波长范围：170—410nm[t

直读光谱仪和ICP有吗区别，与全谱直读光谱仪有何关系。

全谱直读光谱仪有什么优点是其他光谱仪无法比拟的？

全谱直读光谱仪（FMC）一款高性价比的全谱直读光谱仪德国原装进口，采用现代最先进的CCD数码技术，实现了分析光谱的全谱直读。可以广泛适用于铝基、铜基、锌基、镁基等金属样品的成分分析。专注于有色金属样品成份的快速分析，性价比最高的有色金属成份分析仪。产品亮点•独特的喷射电极(Jet—Stream)技术可提高对不规则样品分析的精度•高分辨率的多CCD光学系统，更好的实现谱峰分离•“空气”冲洗式光学装置可降低高昂的用气成本•高再现性确保分析结果可靠•坚固耐用的设计使仪器适用于任何恶劣环境•紧凑的结构设计，节省了占用空间•快速便捷的操作•简单易用且灵活的软件•高回报率为用户的投入带来高价值•巧妙设计的全开放式火花台便于检测各种形状样品技术参数焦距400mm高度680mmCCD像素分辨率6PM宽度410mm光栅刻线数2400条/mm长度640mm波长分析范围185nm-800nm重量60KG色散0.9nm/mm(1级)电源110/230v(50/60Hz)保险丝16A慢熔保险丝[color=#

牛津全谱火花直读光谱仪怎么样?

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=69092]全谱直读光谱仪说明 [/url]

几万块的全谱直读光谱仪，有吗？

直读光谱仪又叫原子发射光谱仪，应用于铸造，钢铁，金属回收和冶炼以及军工、航天航空、电力、化工、高等院校和商检，质检等单位。随着CCD技术的不断发展，直读光谱仪开始朝小型化、全谱型方向发展。小型化仪器功耗小，占用空间小且易于维护；全谱直读光谱仪能够获得全波段范围内的光谱，满足多基体分析要求，谱线选择灵活，可以有效扣除光谱干扰，分析更准确，而多道直读光谱仪只能检测有限数量的光谱，很难做到这一点。直读光谱仪分类1.根据现代光谱仪器的工作原理,光谱仪可以分为两大类:经典光谱仪和新型光谱仪2..根据光栅所处的环境不同，可分为真空型和非真空型直读光谱仪，其中非真空型直读光谱仪又可分为空气型直读光谱仪和充惰性气体型直读光谱仪（可以测定真空紫外元素）；2.根据仪器的结构不同，又可分为多道直读光谱仪和全谱直读光谱仪，其中前者多采用光电倍增管作为检测器，后者多采用阵列检测器。4.根据色散组件的分光原理,光谱仪器可分为棱镜光谱仪, 衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪.直读光谱仪器的误差来源分析1.系统误差也叫可测误差，一般包括仪器的本身波动；样品的给定值和实际值存在一定的偏差（标准样品的元素定值方法可能和实际检测方法不一致，这样检测结果会有方法上的差异；同一种方法的检测结果也存在一定的波动）；待测样品和系列标样之间存在成分的差异，可能导致在蒸发、解离过程中的误差，如背景强度的差别和基体蒸发的差异等。 2.偶然误差是一种无规律性的误差，如试样不均匀；检测时周围的温湿度、电源电压等的变化；样品本身的成分差异等。3.过失误差是指分析人员工作中的操作失误所得到的结果，可以避免。如制样不精确，样品前处理不符合要求，控样和待测试样存在制样偏差，选择了错误的分析程序等。

我单位最近要采购一台利曼公司的“FOUNDR-MASTER全谱直读光谱仪”，我拿不太准，因为以前也没听说过，不过价格较低，另外也是德国出品，个人觉得质量应该可以吧！不过它是CCD检测器，不知稳定性如何呢？我要的是铁基和铝基两个基体，价格40万多，是不是很便宜啊！请各位大侠帮忙！谢了。

等离子体发射光谱仪分类与“全谱直读”一词陆文伟上海交通大学分析测试中心, 上海　200030摘　要　本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题。指出“全谱直读”一词用于仪器分类的不严谨性。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词。主题词　等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅 固态检测器 全谱直读中图分类号:O657131 　　文献标识码:B 　　文章编号:100020593 (2002) 0220348202　收稿日期:2000208205 ,修订日期:2000212212　作者简介:陆文伟,1951 年生,上海交通大学分析测试中心高级工程师　　早期国外把等离子体发射光谱仪( ICP2OES) 仪器分成同时型(Simultanous) 和顺序型(Sequential) 二类。国内把色散系统区分为多色器(Polychromator) 、单色器(Monochromator) ,仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道) ,顺序型(单道扫描) 仪器[ 1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能,仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP2OES 仪器在其发展期间,又有N + 1 的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1～2 nm 内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。1991 年新的中阶梯光栅固态检测器ICP2OES 仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultaneous) 仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“Echelle grating solid state detector ICP2OES”的命名。1993 年该类仪器进入中国市场,国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗入期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[ 3 ]中。纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨,并含糊地影射二方面意思:11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 21 全部谱线的总体信号同时采集读出。从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavelength coverage range) 来看,一般仪器都在160～800 nm 左右。如有的仪器在167～782 nm ,有的在165～800 nm ,有的在175～900 nm ,有的在165～1 000 nm ,有的是在122～466 nm 基础上另加590 ,670 ,766 nm 的额外单个检测器。有的在超纯Ar 装置下短波段区扩展至134nm ,其长波段区能扩展至1 050 nm。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离“全谱”还是有距离的,而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围!实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的,不同级次的光谱波长区甚至重迭。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm 以上的间隙,其间隙随着级数增大而变小,严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在,尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应,固态检测器的分段或分个处理,都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪,光谱级次间波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条) 多得多。如目前仪器有6 000 多条的,有2 万7 千条的,有在2 万4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“全谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Direct reading) 出现在摄谱仪之后、光电倍© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片2读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活,为了适应样品分析元素高低浓度大小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(Subarray) 控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel) 控制曝光。“全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP2AES 英文缩写名词,因AES 含义面广,易与俄歇电子光谱[ 4 ]混淆,现在逐渐被ICP2OES 取代。切入实际的名词才会在发展中生存。参考文献　[ 1 ] 　化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则,中华人民共和国国家标准GB10725289.　[ 2 ] 　发射光谱仪检定规程,中华人民共和国国家计量检定规程J TG768294.　[ 3 ] 　感耦等离子体原子发射光谱方法通则 感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程,1997. (第一版) 科学技术文献出版社,现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程.　[ 4 ] 　英汉仪器仪表词汇,科学出版社,1987 (第一版) .

SPECTRO MAXx直读光谱与布鲁克的Q4 TASMAN 全谱直读火花光谱仪比较，哪个好点？性价比

一个生产厂的筹建，很多投资者花费了大量的时间、财力、精力。大多数经营者启动建厂会有这样一个共同的出发点：先进的生产工具（设备）+精湛的技艺（人才）+质优价廉的材料（材）=性价比高的产品，通过良好的销售渠道，获得一定的市场占有率。 由于历史原因，以及生产组织的关系，直读光谱仪的使用单位，一般划在质量控制部门，但是直读光谱仪往往是与生产控制紧密衔接的，它参与生产前部分进厂原材料的控制、生产过程中产品的过程控制，后期产品的最终质量控制。可以这样说，直读光谱仪是一类重要核心设备，不是简单的化验室设备。曾经参加一些机械展会、铸造展会、有色金属行业论坛，企业的宣传上往往介绍他们公司有那些生产世界或国内一流的生产线，却忽视了直读光谱仪这类核心设备做出的品质保证。什么时候开始重视直读光谱仪这类设备呢？往往是企业出现了生产质量问题，这个时候首先大伙儿首先想到的化学成分。这就是现状。企业管理者这个时候才想到直读光谱仪品质原来这么的重要，后悔当初为了节约十几万元的成本，经过销售的轮番轰炸，认为这个行业品牌比较多，技术已经成熟了，用啥都无所谓。其实，客观的讲，直读光谱仪的选择真的需要认真对待。考虑产品的市场占有率 直读光谱仪是一个经过相当长的市场、时间的积累，才能得到用户反馈的一类产品。经过时间的推移，市场大浪淘沙，像贝尔德、阿朗等适应不了市场的变化，逐步的倒闭。考虑产品检测的适应性 往往最初筹建的时候，由于带着当前或一定时期的生产任务检测计划，只是简单的提出工艺控制环节几个关键元素或者依照当时生产产品的国家标准、行业标准、产品标准或接收方标准来进行直读光谱仪的选择。殊不知，市场变化瞬息万变，原来执行的标准随着时间的推移更改或者生产工艺控制更改，满足不了生产分析检测要求，有口难辨。为什么出现这种情况呢？从产品的检测器上，我们来说明一下。 a.PMT往往适用于超高精度、超低含量分析，厂家往往宣传管径的大小，这个是相对的一种概念，由于受到分析光室设计的大小，厂家往往从设计和成本上考量，使用PMT，而不是某些厂家宣传的管径越大，分析精度越好。 b.CCD 是全谱直读型，设计的整个波段所有元素的谱线全部可以采集。这有一个好处，由于每个元素在不同浓度下，产生的特征谱线不同，CCD可以全部采集分析。如用PMT，若分析元素含量范围大，需要配置不同多支PMT，但实际上，仪器厂家由于成本的关系，只会配置用户提出需求的分析范围的PMT，后期只能进行产品升级（这个需要具体情况分析）。这就是CCD相比PMT的优势。C.随着产品生产工艺的调整，每个生产厂会有一些独特于其它厂家的生产技艺，反应在化学成分上，有两种情况，一种增加元素，一种是延长工作分析曲线。在后续提升改造中，CCD由于是全谱直读型，相比PMT型直读光谱仪（特征谱线）有相当大的优势。考虑直读光谱仪的准确度和稳定性 直读光谱仪其实是一种预置工作曲线的分析仪器，日常的分析结果的准确度主要反应在以下两个方面：a.光谱制样水平b.标准试样的选择。在这里面不再展开解释。而以上两点做好后，仪器数据的准确度最终反应在仪器的稳定性的检测上。考察一类仪器，紫外光区的元素（C、P、S、B等）的检测一般是光谱仪品质的分水岭。为什么这样说呢？CCD类光谱仪分镀膜和不镀膜两种，为了提高信燥比，有的厂家选择镀膜（增加成本）CCD，不镀膜的厂家选择降低工作光室环境温度。经常听铸造行业的技术人员说，仪器漂的控制不住，还是忽高忽低的仪器，最好不要购买。 第四、考虑仪器的维护成本 传统的直读光谱仪的维护主要有两大部分，光学器件（镜片）和真空系统。在常年累月的工作中，机械磨损是最大的一部分。现在在论坛上，经常反应真空泵漏油、倒吸以及日常的换油（必须是原厂指定品牌）等等情况。工程师上门维修一次至少得3-4万，甚至有些严重情况，需要用户返厂或报废。随着科学技术发展，人们发现利用惰性气体内充技术，替代传统的真空泵技术，也同样获得了隔绝大气的目的，并且大大的降低了仪器的维护成本。 第五、考虑仪器的智能性 随着物联网技术的发展，一台仪器随时能通过自检系统，检测自身的部件的工作情况，会更方便的为使用提供排查问题的依据。举例：直读光谱仪一般属于一种小范围内无固定人员使用的检测仪器，对每个操作人员的使用情况记录，是产品质量追溯的依据。

火花直读光谱仪检测过程中的注意事项（西安国联质量检测技术股份有限公司 材料室姚超旭）仪器名称：SparkCCD 6000 火花直读光谱仪品牌：钢研纳克/ncs 型号：SparkCCD 6000波长范围：130～640nm 通道数：全谱刻线数：2700条/mm 焦距：光栅焦距500mm激发方式：火花 检测器类：电荷耦合元件（CCD）1.试样的制备A.试样应采用研磨，抛光或机加工的方式去除表面的氧化皮，脏污，镀层等影响检测结果的因素，硬度较低的有色金属不可用研磨的方式去除表面的不良因素，因为在研磨的过程中因有色金属硬度较低，会把砂轮磨下的碎屑磨进试样，导致检测结果出现偏差，如铝合金，应采用机加工方式制样B.试样检测面制备后应平整，以保证试样被测点到电极保持良好的距离，形成凝聚放电，如果不平整很可能会扩散放电，这样测出的数据无效。试样表面纹路要均匀清晰，这样火花激发出的点越充分，设备激发状态越好。C.样品的大小应符合仪器的检测要求，过小的样品可以通过配置专用夹具来实现检测，但要注意样品和电极的距离，原则上样品最小，待测面积不能小于激发点面积。2.标准化的操作A.狭缝的描迹主要是防止室内温度的变化，但狭缝定位以后一般不要随意变动，非恒温恒湿室的1天描迹一次，实验室条件比较好的恒温恒湿室一周描迹一次即可。B.全局标准化和类型标准化都是一个校正的过程，都应激发两点以上，且两点激发数据误差不得超过10%，在类型标准化之后应在分析一次标准块，观察标准化以后所做的数据是否有偏差，如有偏差应在检测试样时，对结果进行修约。C.磨标准样时不同的钢种的标快应用不同的砂轮片面，防止不同钢种研磨后的碎屑磨进其他标快，磨之前应把砂轮片用硬毛刷清理下，有条件最好用新砂轮片。3.检测时应注意的问题A.听声音，如果激发的声音较大，有漏气漏光时，试样就没有放好或表面不平整。B.查看激发放电斑点，不同牌号的金属有不同的激发点特征，如不锈钢大多中间发白有明显的激发痕迹，外圈发黑，且激发的点较大，这样就是好的，如果出现小白点或激发点较小就是不正常的。C.激发的点不能重叠，每个试样检测至少两次以上，激发点位置无气孔，杂质，砂眼等不良现象。火花直读光谱仪的检测是很注重细节的，不管是制样，标准化，检测试样，我们都应注重每一个细节。

听说德国OBLF 推出新一款MVS 1000全谱直读光谱仪，哪位大仙有资料分享学习下？

检测器作为光谱仪的核心部件，其技术的发展进步往往引领着光谱仪的发展。电荷耦合元件(CCD)技术的应用是光电直读光谱仪的一个技术发展方向，采用CCD将会降低光电直读光谱仪的生产成本及减小仪器体积。其次CCD最大的优点是全谱，可以很方便地增加检测元素的种类。此外，CCD具有良好稳定性和较长的使用寿命，CCD型光电直读光谱仪可以实现激发样品时自动完成波长校准，不再需要定期进行校准，采用CCD技术可实现模块化、易于校准、抗振动。和传统的光电倍增管(PMT)技术相比，CCD发展较晚，作为新型检测器件，还存在一定的局限性。首先CCD没法如PMT那样每个通道都做优化。其次，CCD在应用中为了降低暗电流需要降温，这与光学系统需要恒温相矛盾。CCD目前还无法应用一些高速采样技术，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保证多块CCD的一致性，以及处理多块CCD之间的接收空白区，也是一个问题。此外，当前CCD技术已经可以满足中端分析应用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和长期精度方面和PMT还是有差距。虽然目前CCD还有一些不足之处，但是大家认为CCD在光电直读光谱仪中的应用是值得期待的。PMT到现在已经发展60多年了，是一种经典成熟的技术。而CCD技术正处于飞速的发展变化之中，可以预期CMOS(互补金属氧化物半导体)技术很快会应用于CCD当中，这些技术的不断发展会促使CCD发展到更高的水平。近些年CCD器件发展已经相当成熟，能够满足一般的分析要求，针对细分市场，各种特殊用途的CCD不断产生。CCD与PMT结合是目前解决全谱检测并满足微量和痕量分析的最优选择，但同时满足两种类型检测器的采样控制和系统的完美结合目前仍然是该类仪器的制造难点。

[align=center][b]火花直读光谱仪检测过程中的注意事项[/b][/align][align=center][b]国联质检材料室——姚超旭[/b][/align]仪器名称：SparkCCD 6000 火花直读光谱仪品牌：钢研纳克/ncs 型号：SparkCCD 6000波长范围：130～640nm 通道数：全谱刻线数：2700条/mm 焦距：光栅焦距500mm激发方式：火花 检测器类：电荷耦合元件（CCD）1.试样的制备A.试样应采用研磨，抛光或机加工的方式去除表面的氧化皮，脏污，镀层等影响检测结果的因素，硬度较低的有色金属不可用研磨的方式去除表面的不良因素，因为在研磨的过程中因有色金属硬度较低，会把砂轮磨下的碎屑磨进试样，导致检测结果出现偏差，如铝合金，应采用机加工方式制样B.试样检测面制备后应平整，以保证试样被测点到电极保持良好的距离，形成凝聚放电，如果不平整很可能会扩散放电，这样测出的数据无效。试样表面纹路要均匀清晰，这样火花激发出的点越充分，设备激发状态越好。C.样品的大小应符合仪器的检测要求，过小的样品可以通过配置专用夹具来实现检测，但要注意样品和电极的距离，原则上样品最小，待测面积不能小于激发点面积。2.标准化的操作A.狭缝的描迹主要是防止室内温度的变化，但狭缝定位以后一般不要随意变动，非恒温恒湿室的1天描迹一次，实验室条件比较好的恒温恒湿室一周描迹一次即可。B.全局标准化和类型标准化都是一个校正的过程，都应激发两点以上，且两点激发数据误差不得超过10%，在类型标准化之后应在分析一次标准块，观察标准化以后所做的数据是否有偏差，如有偏差应在检测试样时，对结果进行修约。C.磨标准样时不同的钢种的标快应用不同的砂轮片面，防止不同钢种研磨后的碎屑磨进其他标快，磨之前应把砂轮片用硬毛刷清理下，有条件最好用新砂轮片。3.检测时应注意的问题A.听声音，如果激发的声音较大，有漏气漏光时，试样就没有放好或表面不平整。B.查看激发放电斑点，不同牌号的金属有不同的激发点特征，如不锈钢大多中间发白有明显的激发痕迹，外圈发黑，且激发的点较大，这样就是好的，如果出现小白点或激发点较小就是不正常的。C.激发的点不能重叠，每个试样检测至少两次以上，激发点位置无气孔，杂质，砂眼等不良现象。火花直读光谱仪的检测是很注重细节的，不管是制样，标准化，检测试样，我们都应注重每一个细节。[align=right][b] 国联质检材料室——姚超旭[/b][/align]

最近做用710-Es全谱直读等离子发射光谱仪检测电解质和电解液中的金属离子杂质含量，在检测过程中，遇到的主要问题是，钙，镁和钠的标准曲线总是校正不了，这个问题全是因为标液没有配好吗？容易污染？是否还有其他问题，或者我应该怎么去避免这些问题。还有就是我现在刚开始接触ICP，还不是很熟悉，在做ICP时，有什么要注意的，我现在有个课题，是关于方法的改进，可以提高金属离子的准确度，我应该从哪几方面着手，我应该查阅什么资料？？？

如何提高直读光谱仪检测结果的准确性

直读光谱仪什么金属材料都可以检测吗?或者说，直读光谱主要是用来检测金属材料的吗？

直读光谱仪能否检测铝中间合金？如铝铜，铝锶，铝硼，含量甚至达到30%

直读光谱仪检测的样品有厚度要求吗？担心准备的样品薄了

火花直读光谱仪检测过程中的注意事项 （西安国联质量检测技术股份有限公司 姚超旭）仪器名称：SparkCCD 6000 火花直读光谱仪品牌：钢研纳克/ncs 型号：SparkCCD 6000波长范围：130～640nm 通道数：全谱刻线数：2700条/mm 焦距：光栅焦距500mm激发方式：火花 检测器类：电荷耦合元件（CCD）1.试样的制备A.试样应采用研磨，抛光或机加工的方式去除表面的氧化皮，脏污，镀层等影响检测结果的因素，硬度较低的有色金属不可用研磨的方式去除表面的不良因素，因为在研磨的过程中因有色金属硬度较低，会把砂轮磨下的碎屑磨进试样，导致检测结果出现偏差，如铝合金，应采用机加工方式制样B.试样检测面制备后应平整，以保证试样被测点到电极保持良好的距离，形成凝聚放电，如果不平整很可能会扩散放电，这样测出的数据无效。试样表面纹路要均匀清晰，这样火花激发出的点越充分，设备激发状态越好。C.样品的大小应符合仪器的检测要求，过小的样品可以通过配置专用夹具来实现检测，但要注意样品和电极的距离，原则上样品最小，待测面积不能小于激发点面积。2.标准化的操作A.狭缝的描迹主要是防止室内温度的变化，但狭缝定位以后一般不要随意变动，非恒温恒湿室的1天描迹一次，实验室条件比较好的恒温恒湿室一周描迹一次即可。B.全局标准化和类型标准化都是一个校正的过程，都应激发两点以上，且两点激发数据误差不得超过10%，在类型标准化之后应在分析一次标准块，观察标准化以后所做的数据是否有偏差，如有偏差应在检测试样时，对结果进行修约。C.磨标准样时不同的钢种的标快应用不同的砂轮片面，防止不同钢种研磨后的碎屑磨进其他标快，磨之前应把砂轮片用硬毛刷清理下，有条件最好用新砂轮片。3.检测时应注意的问题A.听声音，如果激发的声音较大，有漏气漏光时，试样就没有放好或表面不平整。B.查看激发放电斑点，不同牌号的金属有不同的激发点特征，如不锈钢大多中间发白有明显的激发痕迹，外圈发黑，且激发的点较大，这样就是好的，如果出现小白点或激发点较小就是不正常的。C.激发的点不能重叠，每个试样检测至少两次以上，激发点位置无气孔，杂质，砂眼等不良现象。火花直读光谱仪的检测是很注重细节的，不管是制样，标准化，检测试样，我们都应注重每一个细节。

为什么现在国内没有一个用直读光谱检测锡基合金的标准？有什么技术原因不能用直读光谱来检测锡基合金呢？

需要直读光谱仪对锡基合金进行成分分析，希望哪家有这台仪器可对外接受检测，可站内联系！

1、光电直读光谱主要特点：SPECTROMAXx型直读光谱仪性能特点介绍激发光源:最新全数字化（DDD）等离子光源，不需辅助间隙，能完成单基体和多基体分析任务火花台板使用时限及冷却方式:开放式火花台，适合于各种形状大小(最重可分析30Kg)的样品分析，能选配各种小样品分析夹具（最细可分析0.8mm细丝,最薄可分析0.1mm薄片），火花台板能完成至少30万次激发，空气冷却入射光方式:直射式采光+1根光导纤维采光导光光学系统数量:2个，一个专为紫外光设计，一个专为可见光设计光栅个数及刻线数:二块全息光栅，刻线数分别为3600，2400条/mm光室恒温控制:温度稳定的罗兰圆结构，光室需恒温在35±0.5°C，自动描迹最大通道容量及分析基体,程序:全谱接收，有效波长范围内全元素分析，分析通道不增加费用，能完成多基体和多程序分析，以后增加无需增加硬件，方便灵活工作曲线:在德国用国际标样预制持久工作曲线，用户无需花大量的金钱和时间在现场制作工作曲线，且厂家随机提供仪器漂移校正标样分析软件及数据管理软件:专用Windows XP操作软件，界面友好，操作简单，专用数据管理软件实现数据的再现存储2、全谱直读等离子发射光谱仪主要特点：1.一维色散＋32个CCD检测器设计，检测器无需超低温冷却，无需氩气吹扫保护2.全波长覆盖，唯一为130－770nm的波长范围，唯一可以分析ppm级卤素3.专利密闭充氩循环光路系统，检测190nm以下谱线，无需气体吹扫4.3秒实现真正全谱数据采集，分析速度最快5.所有气体流量采用质量流量计计算机控制，矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高3、便捷式直读光谱技术参数：1.16块CCD作为接收器，对分析基体，元素无限制2.光栅焦距400mm，分辨率好，精度高3.波长范围174--520nm，可分析C，P，S，B，Sn4.工作温度：0-50度5.重量24公斤主要特点：1.采用全新设计的光学系统，密封吹氩气，使仪器免受外界环境影响2.ICAL标准化功能，实现了1块标准化样品完成所有程序的校准工作3.多种特殊形状样品夹具，满足各种分析要求4.WINDOWS 2000软件，高硬件配置，多种输出接口，并可上网传输数据5.采用交直流双电源，应用范围不受限制

感觉直读和全谱很矛盾，是否全谱直读只是广告语言？全谱：1、横坐标的波长范围---测试样品的波长在这个范围；2、横坐标的分辨率高；3、纵坐标的信号识别好；同时保证检出限和宽的线性范围；4、纵坐标的噪声低；包括火炬噪声、分光元件噪声、电子起伏噪声；直读：一次测出全部波长区间的数据如果设计考虑全谱，分辨率和信号识别是个矛盾当然全谱和直读也是矛盾。或者，放弃分辨率或信号识别能力？那就不是全谱了