薄膜磁致伸缩测量仪

申贝科学仪器 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T可用来监测X、γ辐射剂量率。用于各种γ辐射场或环境γ辐射的监测工作。仪器配有伸缩长杆，可用于测量人员不易到达或有较强放射性存在的场所，为使用人员提供有效保护。此外通过配套的RenRiRate剂量率管理软件可将存储的数据读出后分析。 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T采用双GM管，适用于环保部门、疾控、冶金、石油化工、化工、卫生防疫、进出口商检、核工业场所对放射源进行监控、搜寻和测量。 伸缩杆式x、γ剂量率测量仪REN500T 标配的RenRiRate辐射剂量管理软件 功能特点1、实时测量，显示、存储测量数据。2、宽测量范围和能量范围。3、全中文菜单式操作界面。4、数字式LCD液晶显示，高亮背光功能。5、内置2000条剂量率储存数据，可随时查看，断电不丢失。6、USB数据接口，可将数据上传到计算机。7、剂量率阈值报警功能。8、阻塞报警、探测器故障报警功能。9、电池电量实时显示。10、标配：RenRiRate软件11、适合远距离辐射监控、搜寻和测量技术规格1、测量范围：高量程版：0.1μSv/h～10 Sv/h 低量程版：0.1μSv/h～100m Sv/h 2、探 测 器： 双GM管探测器3、能量范围：30keV～7MeV 4、相对误差：≤±20%5、过载特性：＜200 Sv/h6、探头与主机通讯方式：默认有线方式（可选无线方式）7、标配长杆伸缩范围： 1.2米 - 5米8、测量时间：1～120秒可编程设置9、报 警 阈： 0.25、2.5、10、20（μSv/h）或自行设置10、通讯：USB通讯接口，仪器可存储2000条数据，并可导出到RenriRate软件11、RenriRate辐射剂量管理软件提供文字表格、曲线图形显示12、使用环境：温度-20℃～+50℃、相对湿度(在35℃温度下)≤90％13、电源：4节标准5号电池或充电电池 14、标准配置重量：约1.2 kg15、定制选择：可定制最长10米伸缩杆

TelePole II伸缩长杆式辐射测量仪产品特征:配备大字体数字显示的彩屏，读数快捷方便倾斜显示设计，很好的解决使用中读数困难的问题同时显示外接和内置探测器读数铝制长杆，提供四分之一处锁紧功能LED灯配置，用于黑暗区域测量技术参数:探测器：GM管测量范围：0.1μSv/h~10Sv/h能 量范围：65 KeV~2MeV长杆长度：1.46m~4m重量：1.95Kg防护等级：IP67

产品概述GKYWG-58磁致伸缩液位计是基于维拉利效应设计的远传式连续液位测量仪表。适用于敞开或密闭容器内的液位和界位的测量。磁致伸缩液位计由于其测量精度高，维护率低，现成为远传式连续测量液位仪表的理想选择。磁致伸缩液位计工作时，变送器的触发电路部分激励出脉冲电流，电流沿磁致伸缩线传播产生脉冲电流磁场。在磁致伸缩液位计的传感器测杆外配有磁性浮子，浮子沿测杆随液位的变化而发生位移。在浮子内部装有磁环，当脉冲电流磁场与浮子磁环磁场相遇时，浮子周围的磁场发生改变从而使磁致伸缩线在浮子停留的位置产生一个扭转波脉冲，这个脉冲以固定的速度沿磁致伸缩线传回至变送器由检测电路检出，通过中央处理器计算脉冲电流与扭转波脉冲的时间差可以准确地确定出浮子所在的位置，即液面的位置。变送器模电转换电路输出4-20mA或RS485 MODBUS信号，从而实现液位信号远传的目的。产品特点功能多，可同时测量储罐的液位、界位、单点温度、多点平均温度，选接罐旁显示器可以实现罐下显示并输出到控制室寿命长，无可动部件、少维护量精度高，操作简单，量程大安装简单，模块化设计，仪表具有自检功能功耗低，仪表采用低功耗设计，直流5V仪表即可正常工作中英文菜单可以切换，智能菜单机械电路可以实现数据迁移输出信号4~20mA/HART、RS485 MODBUS可选，可现场指示或远程进入PLC或DCS系统具有防静电、抗浪涌、抗干扰及电磁兼容设计保护电路，电源线接反不会损坏电路实用场景多，可以测量原油储罐的原油、乳化层、水、多点温度等多个参数典型应用1、石油工业（成品油储油库，通过罐表远程与存量管理系统，将磁致伸缩液位计与系统计算机构成一个理想的监控管理系统）2、化学工业（在化学工业领域里，工业储罐的选择，可以满足化工领域的要求）3、食品工业、LPG/LNG等，可满足单一或多项测量功能要求（液位、界面位、单点温度、多点温度等）

ZJ-4BN型压电薄膜D31测量仪关键词：PVDF压电薄膜D31，圆管D15, D33系数ZJ-4BN型压电薄膜d31测量仪一、产品介绍：ZJ-4BN型压电薄膜D31测试仪（静压电系数d33测量仪）是为测量压电材料的d33,D15块体，D15圆管，D31薄膜系数常数而设计的专用仪器，它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷，小压电常数的压电单晶及压电高分子材料。特别是薄膜D31系数采用拉伸悬梁臂法进行压电常数测试，是一种新的测试方法，对于研究压电材料和压电PVDF薄膜有着重要意义，在材料生产和薄膜研究中有这要意义。二、主要应用领域：无损检测超声检测，医疗超声检测，航空航天，石油天然器，汽车物联网，海军，工业，消费者程序等。三、参考标准:GB3389.4-82《压电陶瓷材料性能测试方法 纵向压电应变常数d33的静态测试》GB/T3389.5-1995《压电陶瓷材料性能测试方法 圆片厚度伸缩振动模式》四、产品主要功能：﹡测量任意压电材料的d33常数﹡测量薄膜和块体D31压电常数﹡测量块体和圆管D15系数﹡测量具有大压电常数的压电陶瓷五、主要技术指标 d33 压电常数测试仪 1、d33/d15/D31：量程:×1 档:20～7000pC/N×0.1 档:2～200pC/N； 准确度:×1±3%±1～3(pC/N)， ×0.1 档: ±2%±1～ 3(0.1pC/N)；分辨率: ×1 档:1pC/N；×0.1 档: 0.1 pC/N。2、计量标定标准样尺寸：18mm*0.8mm，老化时间：2-3年（评判压电测试仪准确性能的重要依据之一）3、极性显示：正\负4、准确度:±10%±1～3(pC/N)； 分辨率:1pC/N。5、尺寸： 测量头: Ф110×150mm；电子仪器: 260×240×120mm； 6、重量：测量头: ～4kg电子仪器: ～2kg7、极化方式：油浴+电晕（另配）配套PZT-JH10/4/8/12型压电极化装置使用8、制样：粉末成型或流延法 配套ZJ-D33-YP15型压电压片机9、电容及介电常数测试：20HZ-2000HZ 另配压电阻抗分析仪9、样品:块体，薄膜，圆片 10、尺寸：0-50MM

塑料薄膜厚度测量仪随着塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料的应用，食品保鲜膜等包装品也得到了大量应用。为了确保这些包装材料的厚度和品质，需要使用厚度测量仪器进行检测。本文将介绍一种厚度测量仪器的检测原理，该仪器采用机械接触式进行测量，能够准确地测量各种材料的厚度。 该厚度测量仪器由机械框架、测量头、驱动器、传感器和测量软件等组成。在测量过程中，测量头与被测材料接触，传感器会感知测量头与被测材料之间的距离，并将距离信号传输到测量软件中进行处理和计算。 该厚度测量仪器采用机械接触式进行测量，其检测原理是利用测量头与被测材料接触时，测量头受到被测材料的顶出力，该力会使测量头的位移发生变化。测量头位移的变化量与被测材料的厚度之间存在一定的关系，通过测量位移变化量就可以计算出被测材料的厚度。 具体来说，该厚度测量仪器在测量过程中，将测量头放置在被测材料的表面，并施加一定的压力，使测量头与被测材料紧密接触。当测量头向上移动时，由于被测材料顶出力的作用，测量头的位移将发生变化。该位移变化量通过传感器传输到测量软件中，测量软件根据位移变化量和机械框架的结构参数，计算出被测材料的厚度。 该厚度测量仪器能够准确地测量各种材料的厚度，如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等。同时，该仪器还可以用于食品保鲜膜等包装材料的厚度检测。由于该仪器采用机械接触式进行测量，其具有以下优点： 1、测量精度高：由于测量头与被测材料直接接触，能够更准确地感知被测材料的厚度变化。2、稳定性好：由于机械结构比较稳定可靠，因此测量的重复性和准确性都比较高。3、适用范围广：可以用于不同材料的厚度检测，如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料以及食品保鲜膜等。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 塑料薄膜厚度测量仪 此为广告

智能磁致伸缩液位计，是基于磁致伸缩感应扭转波原理研制而成的可同时测量液位、 界面的测量仪表。由于其测量过程中不受压力、温度、介电常数等因素变化的影响，具有精度高、 稳定性好、可靠性高、使用寿命长、免维护、安全可靠等优点。被广泛应用于过程控制、石油加 工、制药、食品加工、水处理、罐区管理、加油站地下库存等领域中的液位、界面的测量与控制。 智能磁致伸缩液位计具有 HART 协议，可远程调整零点和量程。也可通过机壳内三个按键与 LCD 液晶进行各种参数调整。可组态的参数包括单位、显示上下限、阻尼、平移修正、校准上下限、数模微调校正、恢复出厂设定等。磁致伸缩液位计主要由电子部件、磁致伸缩波导丝、浮子等部分组成。测量时，电 子部件产生一个电流“激励”脉冲，该脉冲电流以光速沿波导丝向下运行，并在波导丝 周围形成周向安培环形磁场。当激励脉冲电流产生的环形磁场与浮子内永磁铁产生的偏 置磁场相遇时，浮子周围的磁场发生改变，从而使得由磁致伸缩材料做成的波导丝在浮 子所在的位置产生一个感应扭转波脉冲，该扭转波以声速由产生点向波导丝的两端传 播，传向末端的扭转波被阻尼器件吸收，传向激励端的信号则被检波装置接收，并由电 子部件测量出脉冲电流与扭转波的时间差，再乘以扭转波在波导丝中的传播速度（固定 量为 2800m/s），即可精确地计算出浮子产生扭转波的位置与测量基准点间的距离，也就是液面的位置。

FT-100 薄膜厚度测量仪薄膜厚度测量范围 （Thickness Range）: 1 nm - 1.8 mm波长范围 （Wavelength Range）: 200 nm - 1700 nm精度 （Precision）: 0.01 nm or 0.01%稳定性 (Stability): 0.02 nm or 0.03%光斑大小 （Spot Size）: Depends on objective (4 um to 200 um. 2mm） 功能： 测量薄膜厚度、光学常数，反射率和透过率单层膜或多层膜叠加层； 适用于几乎所有透明，半透明，低吸收系数的薄膜测量，包括液态膜或空气层。测试条件： 平面或曲面可配XY平台实现全样品膜厚 mapping 可集成于以上测试平台 （ 三维轮廓仪，微纳米压痕/划痕仪，摩擦磨损仪等）

一、产品概述GKYWG-58磁致伸缩液位仪是基于维拉利效应设计的远传式连续测量液位仪表。适用于敞开或密闭容器内的液位或界位的测量。磁致伸缩液位仪由于其测量精度高、维护率低，现成为远传式连续测量液位仪表的理想选择。磁致伸缩液位仪产品结构合理，精度高、维护率低。该产品已经广泛应用于石油，化工，电力，冶金，食品，制药，造纸，水处理等行业的液位测量与液位过程控制中。磁致伸缩液位仪（磁致伸缩液位仪）分类：经济型磁致伸缩液位仪高精度型磁致伸缩液位仪高压型磁致伸缩液位仪（4-20MA信号)磁致伸缩液位仪总线485型磁致伸缩液位仪可选供电型磁致伸缩液位仪双供电型磁致伸缩液位仪二、测量原理磁致伸缩液位仪工作时，变送器的触发电路部分激励出脉冲电流，电流沿磁致伸缩线传播产生脉冲电流磁场。在磁致伸缩液位仪的传感器测杆外配有磁性浮子，浮子沿测杆随液位的变化而发生位移。在浮子内部装有磁环，当脉冲电流磁场与浮子磁环磁场相遇时，浮子周围的磁场发生改变从而使磁致伸缩线在浮子停留的位置产生一个扭转波脉冲，这个脉冲以固定的速度沿磁致伸缩线传回至变送器由检测电路检出。通过中央处理器计算脉冲电流与扭转波脉冲的时间差可以精确地确定浮子所在的位置，即液面的位置。变送器模电转换电路输出4～20mA信号或RS485MODBUS信号，从而实现液位信号远传的目的。三、产品特点◎安全可靠、运行稳定◎量程大、精度高◎可进行液位、界位测量◎具有防静电、抗浪涌、抗干扰及电磁兼容设计◎高压容器承压管设计，维护无需泄压◎可用于粘稠介质、腐蚀、有毒、易燃易爆等危险场所四、安装形式磁致伸缩液位计有两种安装形式满足用户需求，包括：顶装式、侧装式。 河北光科测控设备有限公司成立于2009年，注册资金1100万，公司坐落在燕赵大地河北邯郸，占地面积70余亩，已通过ISO9001-2018质量管理体系、ISO14001-2018环境管理体系、ISO18001-2018职业健康安全管理体系三体系认证。公司主营产品：伺服液位计、磁致伸缩液位计、雷达液位计、磁翻板液位计、磁敏液位计、超声波液位计、外贴式液位计、电浮筒液位计、投入式液位计、超声波外贴开关、音叉液位开关、射频导纳物位控制器、罐旁显示仪等。在近十年的发展历程中，光科测控形成了以研发制造销售为一体的工业自动化设备生产企业，公司致力于打造：液位仪表、温度仪表等工业仪表。

产品概述磁致伸缩测量技术已被国际上公认为一种极可靠的精确测量液位及位移的方式，我公司自主研发的DRCM-99系列磁致伸缩液位计，是一款采用磁致伸缩技术(位置测量原理L=V×t) 的高性能液位测量仪表，采用先进的测量电路及传感技术、完善的生产工艺及严格的过程控制，保证了仪表性能的精确、稳定、可靠。该产品适用于要求测量精度高、使用环境较恶劣的各种液罐的过程液位测量和容量的测量及控制，广泛应用在石油、化工、制药、食品、饮料等行业中。工作原理液位计主要由电子仓、测杆和非接触的磁性浮球组成，测杆内装有磁致伸缩线。工作时，由电子仓内的电路产生起始脉冲，脉冲在波导丝中传输时产生沿波导丝方向前进的磁场。此磁场与浮子中的磁铁固有磁场相遇，二者磁场矢量叠加形成螺旋磁场(即磁致伸缩效应),产生瞬时扭力并在波导丝上形成一个机械扭力波，产生扭动脉冲(返回脉冲)以声速传递返回，被电子仓内的检测机构所检测，测量触发脉冲与扭力波返回脉冲的时间差，即可精确计算出液面高度。产品特点1、储罐顶部安装，结构简单，施工方便，安装成本低；2、高精度(优于0. 1%或0.5mm) 测量，输出信号为绝对位置输出，无信号漂移；3、无损耗器件，无需定期标定、维护，可靠耐用；4、可选用刚性或柔性两种探杆形式，可用量程范围300mm～20m, 适应各种工况和现场安装要求；5、本安防爆ExialICT6, 可安全使用于各种危险防爆场合；6、智能mA 型： 一体高清液晶指示，24VDC 两线制4-20mA输出，安装使用和调试操作简单方便； 标准 HART 通信协议，可通过 HART 手操器、移动PC 或仪表本身4按键对仪表进行设定和调校；7、总线数字型：智能自适应技术，程序自动跟踪调整信号强弱，软件自动修正，确保数据 采集的高可靠性和高精度；可通过测量和运算，最多可输出液位、界位、5点温度、平均 温度8个参量；标准Modbus/RTU 协议，传输距离远，抗干扰性强，布线简单，可直接与电 脑或其他设备或系统通信联网，实现多台传感器实时数据采集、显示、报警及监控；性能参数参 数指 标测量输出智能mA型：单液位，2线制4-20mA(可选HART协议)总线数字型：液位、界位、5点温度，Modbus/RTU协议数字输出液位测量液位、界位、液位+界位量 程0.30m至20m精 度0.1%F.S.或±0.5mm中最大者温度输出5个单点温度测温范围-20～+100℃测温精度±0.25℃供电电压15-30VDC输出信号4-20mA或RS485 Modbus/RTU协议电路保护反极性保护(串联二极管)瞬时保护，防雷、抗浪涌防护(线到地保护，IEC 61000-4-5)防爆认证ExialICT6(防爆证号CE13.2001)环境湿度0-100% R.H. (不结露)工作温度电子仓： -40℃~+80℃ 波导管： -40℃~+125℃容器压力依赖所选浮子承受的压力电子仓铸铝壳体/不锈钢筒体探杆材料304/316L /304外衬PTFE/FEP过程接法兰/螺纹连接(或按用户要求)电气接口M20*1.5或1/2”NPT

东润DRCM-99磁致伸缩高精度液位计 磁致伸缩测量技术已被国际上公认为一种极可靠的精确测量液位及位移的方式，我公司自主研发的DRCM-99系列磁致伸缩液位计，是一款采用磁致伸缩技术（位置测量原理L=V×t）的高性能液位测量仪表，采用先进的测量电路及传感技术、完善的生产工艺及严格的过程控制，保证了仪表性能的精确、稳定、可靠。该产品适用于要求测量精度高、使用环境较恶劣的各种液罐的过程液位测量和容量的测量及控制，广泛应用在石油、化工、制药、食品、饮料等行业中。东润DRCM-99磁致伸缩高精度液位计工作原理 液位计主要由电子仓、测杆和非接触的磁性浮球组成，测杆内装有磁致伸缩线。工作时，由电子仓内的电路产生起始脉冲，脉冲在波导丝中传输时产生沿波导丝方向前进的磁场。此磁场与浮子中的磁铁固有磁场相遇，二者磁场矢量叠加形成螺旋磁场（即磁致伸缩效应），产生瞬时扭力并在波导丝上形成一个机械扭力波，产生扭动脉冲（返回脉冲）以声速传递返回，被电子仓内的检测机构所检测，测量触发脉冲与扭力波返回脉冲的时间差，即可精确计算出液面高度。东润DRCM-99磁致伸缩高精度液位计产品特点1、储罐顶部安装，结构简单，施工方便，安装成本低；2、高精度（优于0.1%或0.5mm）测量，输出信号为绝对位置输出，无信号漂移；3、无损耗器件，无需定期标定、维护，可靠耐用；4、 可选用刚性或柔性两种探杆形式，可用量程范围300mm～20m，适应各种工况和现场安装要求；5、本安防爆ExiaIICT6，可安全使用于各种危险防爆场合；6、智能mA型：一体高清液晶指示，24VDC两线制4-20mA输出，安装使用和调试操作简单方便；标准 HART通信协议，可通过HART手操器、移动PC或仪表本身4按键对仪表进行设定和调校；7、总线数字型：智能自适应技术，程序自动跟踪调整信号强弱，软件自动修正，确保数据采集的高可靠性和高精度；可通过测量和运算，最多可输出液位、界位、5点温度、平均温度8个参量；标准Modbus/RTU协议，传输距离远，抗干扰性强，布线简单，可直接与电脑或其他设备或系统通信联网，实现多台传感器实时数据采集、显示、报警及监控；东润DRCM-99磁致伸缩高精度液位计技术指标参 数指 标测量输出智能mA型：单液位，2线制4-20mA（可选HART协议） 总线数字型：液位、界位、5点温度，Modbus/RTU协议数字输出液位测量液位、界位、液位+界位量 程0.30m至20m精 度0.1%F.S.或±0.5mm中最大者温度输出5个单点温度测温范围-50～+100℃（特殊设计可到200℃）测温精度±0.25℃供电电压15-30VDC输出信号4-20mA或RS485 Modbus/RTU协议电路保护反极性保护（串联二极管） 瞬时保护，防雷、抗浪涌防护（线到地保护，IEC 61000-4-5）防爆认证ExiaIICT6（防爆证号CE13.2001）环境湿度0-100% R.H.（不结露）工作温度电子仓:-40℃～+80℃；波导管:-40℃～+125℃容器压力依赖所选浮子承受的压力电 子 仓铸铝壳体/不锈钢筒体探杆材料304/316L /304外衬PTFE/FEP过程接口法兰/螺纹连接（或按用户要求）电气接口M20*1.5或1/2”NPT

中图仪器CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪是一款超精密接触式微观轮廓测量仪器，其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。其采用LVDC电容传感器，具有的亚埃级分辨率和超微测力等特点使得其在ITO导电薄膜厚度的测量上具有很强的优势。针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200沉积薄膜台阶高度测量仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；工作过程CP系列沉积薄膜台阶高度测量仪测量时通过使用2μm半径的金刚石针尖在超精密位移台移动样品时扫描其表面，测针的垂直位移距离被转换为与特征尺寸相匹配的电信号并最终转换为数字点云信号，数据点云信号在分析软件中呈现并使用不同的分析工具来获取相应的台阶高或粗糙度等有关表面质量的数据。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。产品应用CP系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。部分技术参数型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)样品R-θ载物台电动，360°连续旋转单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

中图仪器CP系列国产薄膜台阶高度测量仪采用了线性可变差动电容传感器LVDC，具备超微力调节的能力和亚埃级的分辨率，同时，其集成了超低噪声信号采集、超精细运动控制、标定算法等核心技术，使得仪器具备超高的测量精度和测量重复性。其主要用于台阶高、膜层厚度、表面粗糙度等微观形貌参数的测量。产品功能1.参数测量功能1）台阶高度：能够测量纳米到330μm甚至1000μm的台阶高度，可以准确测量蚀刻、溅射、SIMS、沉积、旋涂、CMP等工艺期间沉积或去除的材料；2）粗糙度与波纹度：能够测量样品的粗糙度和波纹度，分析软件通过计算扫描出的微观轮廓曲线，可获取粗糙度与波纹度相关的Ra、RMS、Rv、Rp、Rz等20余项参数；3）翘曲与形状：能够测量样品表面的2D形状或翘曲，如在半导体晶圆制造过程中，因多层沉积层结构中层间不匹配所产生的翘曲或形状变化，或者类似透镜在内的结构高度和曲率半径。2.数采与分析系统1）自定义测量模式：支持用户以自定义输入坐标位置或相对位移量的方式来设定扫描路径的测量模式；2）导航图智能测量模式：支持用户结合导航图、标定数据、即时图像以智能化生成移动命令方式来实现扫描的测量模式。3）SPC统计分析：支持对不同种类被测件进行多种指标参数的分析，针对批量样品的测量数据提供SPC图表以统计数据的变化趋势。3.光学导航功能配备了500W像素的彩色相机，可实时将探针扫描轨迹的形貌图像传输到软件中显示，进行即时的高精度定位测量。4.样品空间姿态调节功能CP系列国产薄膜台阶高度测量仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴，可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节，提高测量精度及效率。CP系列国产薄膜台阶高度测量仪是一种常用的膜厚测量仪器，它是利用光学干涉原理，通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度，具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度，包括金属、陶瓷、塑料等。如针对测量ITO导电薄膜的应用场景，CP200台阶仪提供如下便捷功能：1）结合了360°旋转台的全电动载物台，能够快速定位到测量标志位；2）对于批量样件，提供自定义多区域测量功能，实现一键多点位测量；3）提供SPC统计分析功能，直观分析测量数值变化趋势；性能特点1.亚埃级位移传感器具有亚埃级分辨率，结合单拱龙门式设计降低环境噪声干扰，确保仪器具有良好的测量精度及重复性；2.超微力恒力传感器1-50mg可调，以适应硬质或软质样品表面，采用超低惯量设计和微小电磁力控制，实现无接触损伤的接触式测量；3.超平扫描平台系统配有超高直线度导轨，杜绝运动中的细微抖动，真实地还原扫描轨迹的轮廓起伏和样件微观形貌。CP系列台阶仪应用场景适应性强，其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求，能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域内的工业企业与高校院所等科研单位，其对表面微观形貌参数的准确表征，对于相关材料的评定、性能的分析与加工工艺的改善具有重要意义。典型应用部分技术指标型号CP200测量技术探针式表面轮廓测量技术样品观察光学导航摄像头:500万像素高分辨率 彩色摄像机,FoV,2200*1700μm探针传感器超低惯量，LVDC传感器平台移动范围X/Y电动X/Y(150mm*150mm)(可手动校平)单次扫描长度55mm样品厚度50mm载物台晶圆尺寸150mm（6吋）,200mm（8吋）台阶高度重复性5 &angst , 量程为330μm时/ 10 &angst , 量程为1mm时（测量1μm台阶高度，1δ）尺寸（L×W×H）mm640*626*534重量40kg仪器电源100-240 VAC，50/60 Hz，200W使用环境相对湿度：湿度 （无凝结）30-40% RH温度：16-25℃ (每小时温度变化小于2℃)地面振动：6.35μm/s（1-100Hz）音频噪音：≤80dB空气层流：≤0.508 m/s（向下流动）恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

便携式磁致伸缩流量计比对装置是用于校准或比对流量计的工具便携式(磁致伸缩)明渠流量计采用磁致伸缩原理，当磁致伸缩液位传感器的永磁铁浮子沿着测量杆随水位的变化而上下移动时，利用浮子和测量杆在与不同磁场相交时产生脉冲信号的时间长度计算磁场相交点的位置，从而计算出被测明渠堰槽内指定位置的水位高度，再根据相应明渠堰槽的水位-流量关系，计算出流量。51 外观要求5.1.1 便携式(磁致伸缩)明渠流量计的表面涂层应喷涂均匀，表面涂、镀层不应有起泡、龟裂或脱落以及划伤、变形等现象，金属零件不应锈蚀及损伤。5.1.2便携式(磁致伸缩)明渠流量计的各部件连接应牢固可，开关按键操作应灵活，显示部分应清晰完整。5.2功能要求5.21基本功能5.2.1.1 应能够显示时间、液位、流量和累积流量等数据及相应的数据曲线。5.2.1.2 应能够自动记录液位、流量和累积流量等数据，并能够存储和查询记录的数据，能够至少保存1 年以上的数据。5.2.2 测量功能5.2.2.1 便携式(磁致伸缩)明渠流量计应具备对巴歌尔槽、三角堰、矩形缺口壁堰等明渠堰槽的水位和流量的测量功能，堰槽类别和堰槽参数可自行选择和设定，不同明渠堰槽水位-流量计算公式应符合 JIG 711 的规定。5.2.2.2便携式(磁致伸缩明流量计的液位显示分率应不大于0. m:流量显示分率应不大于 0.001 m'/h。5.2.23 流量单位应至少包括 L/s 和 m/，不同单位之间应能够相互转换5.2.3比对功能5.2.3.1 应能够自动实时采集水污染源现场安装的超声波明渠污水流量计的液位、流量和累积流量等数。5.2.3.2 应能够将同一时刻使携式(磁致伸缩)明渠流量计和超声波明渠污水流量计的液位数据和累积流量数据进行自动比对，并对比对结果进行自动记录、存储、显示和输出。产品参数项目性能A型B型C型监测原理磁致伸缩超声波超声波流量监测范围由堰槽类型和水位确定传感器量程1米(标配)、2米(选配)液位分辨率0.01mm0.1mm0.5mm液位测量误差≤0.1mm≤0.5mm≤1mm流量测量误差≤±2%传感器量程1米(标配)、2米(选配)计时误差≤0.5‰输出方式RS232或USB工作电源适配器AC 220V±10%，50Hz，内置锂电池

Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪F80-C膜厚测量仪使生产晶片的测量变得简单实惠工艺工程师希望薄膜厚度测量是快速容易的，现在高精度的厚度成像技术让 Filmetrics 可以快速建立配方，并且拥有快速的测试速度，而且价格仅仅是同行业测量设备的小部分。 F80 可以应用在化学机械抛光、化学气相沉积、蚀刻等工艺中，这是晶片追索工艺工程师所期待的。新技术= 低成本与传统的测量工具不同， F80 不需要高精度的移动硬件去找寻微小的测试 pads，相反的，它可以快速的测量每个 pad 附近数以千计点的厚度，然后处理“厚度成像”结果，进而找到正确的厚度。可以替换昂贵的移动硬件，进而节约很高的成本。使用方便因为使用厚度成像技术， F80 不依赖过时的基于视频的图像识别技术，这意味着在 CMP 应用中通常会遇到的前后表面光对照比不同的问题，在 F80 系统中是不存在的。 也意味着配方的建立更自动化和直观，数据可以及时存，从而节省了时间，训练及减少误操作引发的错误。快速因为厚度成像技术， 300 毫米晶片在 F80 上扫描 21 点仅仅只需要 29 秒的时间，非常快速。Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪Filmetrics 薄膜厚度测量仪测厚仪

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。薄膜测量仪器反射膜厚仪RM 1000和RM 2000扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量. 紫外-近红外光谱葩围 RM 1000 430 nm-930 nm RM 2000 200 nm - 930 nm 高分辨率自动扫描 反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。综合薄膜测量软件FTPadv Expert宽光谱范围和高光谱精度 SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。 没有光学器件运动（步进扫描分析器原理） 为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量 通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实 现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件 SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互 模式和用于常规应用的配方模式.激光椭偏仪SE400adv亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。 扩展激光欄偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚. 高速测量 我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。综合薄膜测量软件FTPadvExp测量n, k,和膜厚 该软件包是为R（入）和T（入）测量的高级分析而设计的。 查层膜分析 可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率. 大量色散模型 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数 将计算得到的光谱调整到实测光谱。

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪仪器名称：CHY-02测厚仪制造商：山东泉科瑞达仪器设备有限公司仪器品牌：泉科瑞达BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪是一种利用机械接触原理来测量BOPP（双向拉伸聚丙烯）薄膜厚度的仪器。BOPP薄膜因其良好的透明性、光泽性、机械强度和化学稳定性，广泛应用于食品包装、烟草包装、印刷复合等领域。以下是对BOPP薄膜厚度接触式测量仪的详细介绍：BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪测量原理BOPP薄膜厚度接触式测量仪的工作原理是通过机械接触的方式，将薄膜夹持在两个测量面之间，通过测量头下降到薄膜上产生的压力，利用位移传感器或压力传感器来测量薄膜的厚度。BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪技术特点高精度：采用高精度的位移传感器，确保测量结果的准确性。自动化：自动化结构设计简化操作过程，提高效率。用户界面：配备微电脑控制系统和大液晶显示，PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。自动升降：测量头自动升降，减少人为因素造成的误差。多种测量模式：支持自动和手动两种测量模式。数据管理：系统自动统计、打印等实用功能，方便获取测试结果。标定：配置标准量块用于系统标定，保证测试精度。应用范围BOPP薄膜厚度接触式测量仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等多种材料的厚度测量。BOPP薄膜厚度测量仪 高精度纸张厚度检测仪 机械接触式膜厚仪执行标准该仪器通常符合多项国家和国际标准，如ISO 4593、ISO 534、GB/T 6672、GB/T 451.3、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411等。技术指标测试范围：0～2mm，0～6mm，12mm（可选）分辨率：0.1μm重复性：0.8μm（不同型号可能有所差异）测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）测量压力：17.5±1 kPa（薄膜）；100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）纸张

磁致伸缩液位传感器的原理是利用两个不同磁场相交时产生一个应变脉冲信号，然后计算这个信号被探测所需的时间周期，从而换算出准确的位置。这两个磁场一个来自磁环中的永磁铁，另一个来自传感器电子仓中的电子部件产生的激励脉冲。激励脉冲沿传感器内用磁致伸缩材料制造的波导丝以声速运行。当与磁环中的永磁场相交时，由于磁致伸缩现象，波导丝产生的机械振动形成一个应变脉冲。应变脉冲很快便被电子仓中的感测电路探测到。EH浮球式磁致伸缩液位传感器从产生激励脉冲的一刻到应变脉冲被探测到总的时间乘以固定的声速，我们便能准确的计算出磁铁的位置变化。这个过程是连续不断的，所以每当浮球位置改变时，新的位置会被迅速测量出来。由于输出信号是真正的值，而不是比例的或需要再放大处理的信号，所以不存在信号漂移或变值的情况，更不必像其他传感器那样需要定期重标。EH为浮球式液位传感器系列，有效行程30mm～5000mm，两端缓冲行程可根据客户需求定制。电子仓部分可以拆卸，方便安装，头部带有LED显示灯能直观反应产品工作状况。输出信号多样，内置进口波导丝作为测量单元，经DSP数字信号处理，精度高，无温漂，无接触，寿命长达二十年；测杆耐高温，耐腐蚀，耐压可达64MPa，可以使用客户绝大部分液位测量环境。

耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 应用领域：可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数，如热扩散系数、热导率、吸热系数和界面热阻。 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 产品特点：- 精确的微米级薄膜导热测量方法- 可提供RF测量模式（后加热-前检测）和FF测量模式（前加热-前检测）- Nano TR遵循国际校准标准 耐驰 NanoTR 热反射法薄膜导热系数测量仪 技术参数：Nano TR温度范围RT，RT … 300°C（选配）测量模式RF/FF样品尺寸10×10 … 20×20mm薄膜厚度30nm … 20μm（取决于样品种类和测量模式）热扩散系数0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns光束直径 100μm激光功率 100mW详细参数，敬请垂询 *价格范围仅供参考，实际价格与配置、汇率等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

磁致伸缩位移传感器的原理是利用两个不同磁场相交时产生一个应变脉冲信号，然后计算这个信号被探测所需的时间周期，从而换算出准确的位置。这两个磁场一个来自磁环中的永磁铁，另一个来自传感器电子仓中的电子部件产生的激励脉冲。激励脉冲沿传感器内用磁致伸缩材料制造的波导丝以声速运行。当与磁环中的永磁场相交时，由于磁致伸缩现象，波导丝产生的机械振动形成一个应变脉冲。应变脉冲很快便被电子仓中的感测电路探测到。从产生激励脉冲的一刻到应变脉冲被探测到总的时间乘以固定的声速，我们便能准确的计算出磁铁的位置变化。这个过程是连续不断的，所以每当滑块位置改变时，新的位置会被迅速测量出来。由于输出信号是真正的优良值，而不是比例的或需要再放大处理的信号，所以不存在信号漂移或变值的情况，更不必像其他传感器那样需要定期重标。DP为磁悬浮滑块式，此款有效测量行程50-5000mm，上下缓冲可以根据客户需要定制。输出信号多样。内置进口波导丝作为测量单元，经DSP数字信号处理，精度高，无温漂，无接触，寿命长达二十年；外壳表面阳极处理，防腐蚀；可以适用在大多数应用场合

包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪仪器名称：CHY-02测厚仪制造商：山东泉科瑞达仪器设备有限公司仪器品牌：泉科瑞达包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪是一种高精度的测量设备，主要用于测量塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。以下是对接触式包装薄膜厚度测量仪的详细介绍：包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪产品特征高精度测量：采用机械接触式测量原理，通过精密的位移传感器测量薄膜材料的厚度。自动升降测头：在测试过程中，测量头自动升降，减少人为因素造成的误差。操作简便：配备大液晶屏显示，操作界面直观，支持手动和自动两种测量模式。数据管理：实时显示测量结果，包括最大值、最小值、平均值和标准偏差，方便数据分析。系统标定：配置标准量块用于系统标定，确保测试精度和数据一致性。打印功能：系统支持数据实时显示、自动统计和打印，方便获取测试结果。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪技术参数测试范围：0～2mm（标配），可选配0～6mm或0～12mm的测量范围。分辨率：0.1μm，确保极高的测量精度。测量压力：17.5±1 kPa（薄膜），50±1 kPa（纸张），适应不同材料的测量需求。接触面积：50mm² （薄膜），200mm² （纸张），可根据测试材料选择。电源：AC 220V 50Hz，符合多数实验室的电源要求。外形尺寸：设备体积适中，便于实验室内安置。净重：大约26kg，便于移动和携带。执行标准该仪器符合多项国家和国际标准，如GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等。包装薄膜厚度测量仪 高精度接触式测厚仪应用领域广泛应用于塑料薄膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度测量，适用于包装材料生产过程中的质量控制、研发与技术创新等领域。仪器配置标准配置通常包括主机、微型打印机、标准量块等。可选配件包括专业软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码等。

Filmetrics-F40薄膜厚度测量仪 结合显微镜的薄膜测量系统Filmetrics的精密光谱测量系统让用户简单快速地测量薄膜的厚度和光学常数，通过对待测膜层的上下界面间反射光谱的分析，几秒钟内就可测量结果。 当测量需要在待测样品表面的某些微小限定区域进行，或者其他应用要求光斑小至1微米时，F40是你的好选择。使用先前足部校正显微镜的物镜，再进行测量，即可获得精准的厚度及光学参数值。只要透过Filmetrics的C-mount连接附件，F40就可以和市面上多数的显微镜连接使用。C-mount上装备有CCD摄像头，可以让用户从电脑屏幕上清晰地看样品和测量位置。* 取决于材料1.使用5X物镜参考2.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2 薄膜样品连续测量100次所得厚度值的标准偏差的平均值3.是基于连续20天，每天在Si基底上对厚度为500纳米的SiO2薄膜样品连续测量100次所得厚度值的2倍标准偏差的平均值选择Filmetrics的优势桌面式薄膜厚度测量的专家24小时电话，E-mail和在线支持所有系统皆使用直观的标准分析软件附加特性嵌入式在线诊断方式免费离线分析软件精细的历史数据功能，帮助用户有效地存储，重现与绘制测试结果相关应用半导体制造 生物医学原件&bull 光刻胶 &bull 聚合物/聚对二甲苯&bull 氧化物/氮化物 &bull 生物膜/球囊壁厚度&bull 硅或其他半导体膜层 &bull 植入药物涂层微电子 液晶显示器&bull 光刻胶 &bull 盒厚&bull 硅膜 &bull 聚酰亚胺&bull 氮化铝/氧化锌薄膜滤镜 &bull 导电透明膜

chy-c2a薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度测量仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。chy-c2a薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度测量仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告chy-c2a薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度测量仪执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817chy-c2a薄膜测厚仪 薄膜厚度仪 薄膜厚度测量仪技术指标：负荷量程：0 ～ 2 mm（常规）　　　　　0 ～ 6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上信息由Labthink兰光 济南兰光机电技术有限公司发布！济南兰光，包装检测仪器优秀供应商，国际知名品牌，专业致力于为包装、食品、医药、日化、印刷、胶粘剂、汽车、石化、生物、建筑及新能源等领域提供行业咨询、产品销售、售后服务和风险控制。成立至今，公司秉承“以客户为中心”的服务理念，已为全球一万家科研机构、第三方检测机构以及企业品管部门提供了全面、专业、精准的包装产品质量控制解决方案。如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

薄膜厚度测量仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜厚度测量仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

宏伟仪表磁致伸缩液位计HW工作时，信号检测单元发出询问电流脉冲，该脉冲沿着波导丝产生一个环行脉冲磁场。在传感器外管配有浮子，悬浮于变化的液面上下移动。由于浮子内装有一组***磁铁，所以浮子同时产生一个磁场。当询问电流脉冲磁场与浮子磁场相互作用，产生一个“扭曲”脉冲或称“返回”脉冲，“返回”脉冲沿着波导丝向上传输，传至拾振器上。根据“返回”脉冲与询问电流脉冲的时间差，计算出浮子的实际位置，从而可***地测得液位。产品***应用于工业过程控制、石油加工、制药、食品加工、水处 理、加油站地下库存等领域中的液位、温度、密度、界面 情况等物理参数的监测、警报与控制。磁致伸缩液位传感器/磁致伸缩液位计/液位计功能特点：1、非接触式测量2、***、高稳定性、高可靠性3、使用寿命长4、多种信号输出方式选择5、具有反向极性保护功能6、防雷击、放射频干扰7、结构精巧、环境适应性强8、不需定期重标和维护9、可监测带压或不带压液罐的液位10、隔离防爆(可选)11、安装方便磁致伸缩液位传感器技术指标：1、量程范围：0—12米，( 可根据用户要求定制) ；2、工作电源：24VDC ；3、信号输出：4-20mA标准电流信号 ；4、测量精度：±1mm或0.3%FS(电流输出型) ；5、工作压力：≤ 4.0Mpa ；6、介质要求：密度≥0.5g/cm3 、粘度≤0.005Pa.s ；7、工作温度：T1:0~70 ℃、 T2：-25~+80 ℃、 T3：-40~+85℃；8、重复性误差：优于0.01%FS；9、分辨率：优于0.01%FS10、迟滞： 优于0.01%FS11、温度影响：±0.007%FS/ ℃12、零点调整范围：20%FS13、满量程调整范围：20%FS14、频率响应时间：0.2~5ms (根据量程大小而定 )；15、连接形式：法兰连接；16、防爆标志：隔爆型 :EXd Ⅱ BT417、外壳防护等级：IP6518、测杆承受的压力： ≤34Mpa宏伟仪表磁致伸缩液位计HW

一、产品简介磁致伸缩式静力水准仪是一种高精密液位测量系统，该系统适用于测量多点的相对沉降。在使用中，静力水准系统是将多个静力水准仪安装于多个监测点上，其中选择一个监测点作为基准参照点，各个静力水准仪连通在一起而使得各个静力水准仪内部液体的液面处于同一水平面上，这样当某个监测点出现沉降时，各个静力水准仪内部液体的液面高度会发生变化，每个静力水准仪通过各自内部测量装置测量出各自内部液体的液面高度，各个静力水准仪各自的液面高度信息传输至后台系统，后台系统经过计算便能得到各监测点相对于基准参考点的相对沉降。主要应用在大桥、隧道、桥梁、地铁、大坝、 基坑、大型储罐等垂直位移监测。磁致伸缩位移（液位）传感器，是利用磁致伸缩原理、通过两个不同磁场相交产生一个应变脉冲信号来准确地测量位置的。测量元件是一根波导管，波导管内的敏感元件由特殊的磁致伸缩材料制成的。测量过程是由传感器的电子室内产生电流脉冲，该电流脉冲在波导管内传输，从而在波导管外产生一个圆周磁场，当该磁场和套在波导管上作为位置变化的活动磁环产生的磁场相交时，由于磁致伸缩的作用，波导管内会产生一个应变机械波脉冲信号，这个应变机械波脉冲信号以固定的声音速度传输，并很快被电子室所检测到。由于这个应变机械波脉冲信号在波导管内的传输时间和活动磁环与电子室之间的距离成正比，通过测量时间，就可以高度精确地确定这个距离。由于输出信号是一个真正的绝对值,而不是比例的或放大处理的信号,所以不存在信号漂移或变值的情况,更无需定期重标。二、应用领域1、轨道交通路基沉降监测2、地铁支撑墙沉降监测3、隧道上部山体及建筑物4、高速公路路基、边坡沉降检测5、桥墩、基坑沉降检测6、核电站、大型水电站7、大坝及水利枢纽、高层建筑的基础8、综合管廊沉降监测三、产品组成1、左右两个透气阀；2、顶部设有灌液口，人工灌液时使用；3、两侧五芯防水航空接插件；4、快速液管接口；5、航空级铝合金氧化外壳；6、配套固定安装支架，调平螺杆；7、内陪液体可视化刻度标尺；8、高度集成，一体化设计，底部串连出线。四、产品特点1、内置温度补偿传感器，数据长期稳定；2、数字信号RS485-（MODBUS-RTU输出）；3、分辨率高压0.01mm；4、高精度：0.1mm5、无需导气管，省成本，现场安装更便捷快速；6、单有的数据处理方式，支持通过广播指令来冻结同一时间点总线上所有的设备数据，然后再开始采集，有利于各种动态监测场合的数据采集分析。 7、单设备使用时可设置主动上报功能，可设置正常值时上报周期，超阀值时上报周期，上下限阀值可设置。五、技术参数项目参数测量介质水、防冻液、硅油（订货时需注明）测量形式磁致伸缩原理量程0～100mm，0～300mm,0～500mm量程可定制温度量程-40~100℃综合精度0.1%FS（含温漂）分辩率0.01mm输出信号RS485-RTU供电电压12V DC（12～30VDC）补偿温度-20～50℃介质温度-40～85℃环境温度-40～80℃电气连接四芯防水航空插，直接引线防护等级Ip67外壳材料航空铝合金，氧化处理过程连接导液管:Ф10mmPU管（10x6.5）

一、产品简介静力水准系统是一种高精密液位测量系统，该系统适用于测量多点的相对沉降。在使用中，静力水准系统是将多个静力水准仪安装于多个监测点上，其中选择一个监测点作为基准参照点，各个静力水准仪连通在一起而使得各个静力水准仪内部液体的液面处于同一水平面上，这样当某个监测点出现沉降时，各个静力水准仪内部液体的液面高度会发生变化，每个静力水准仪通过各自内部测量装置测量出各自内部液体的液面高度，各个静力水准仪各自的液面高度信息传输至后台系统，后台系统经过计算便能得到各监测点相对于基准参考点的相对沉降。主要应用在大桥、隧道、桥梁、地铁、大坝、 基坑、大型储罐等垂直位移监测。磁致伸缩位移（液位）传感器，是利用磁致伸缩原理、通过两个不同磁场相交产生一个应变脉冲信号来准确地测量位置的。测量元件是一根波导管，波导管内的敏感元件由特殊的磁致伸缩材料制成的。测量过程是由传感器的电子室内产生电流脉冲，该电流脉冲在波导管内传输，从而在波导管外产生一个圆周磁场，当该磁场和套在波导管上作为位置变化的活动磁环产生的磁场相交时，由于磁致伸缩的作用，波导管内会产生一个应变机械波脉冲信号，这个应变机械波脉冲信号以固定的声音速度传输，并很快被电子室所检测到。由于这个应变机械波脉冲信号在波导管内的传输时间和活动磁环与电子室之间的距离成正比，通过测量时间，就可以高度精确地确定这个距离。由于输出信号是一个真正的绝对值,而不是比例的或放大处理的信号,所以不存在信号漂移或变值的情况,更无需定期重标。二、应用领域1、轨道交通路基沉降监测2、地铁支撑墙沉降监测3、隧道上部山体及建筑物4、高速公路路基、边坡沉降检测5、桥墩、基坑沉降检测6、核电站、大型水电站7、大坝及水利枢纽、高层建筑的基础8、综合管廊沉降监测三、产品组成1、左右两个透气阀；2、顶部设有灌液口，人工灌液时使用；3、两侧五芯防水航空接插件；4、快速液管接口；5、航空级铝合金氧化外壳；6、配套固定安装支架，调平螺杆；7、内陪液体可视化刻度标尺；8、高度集成，一体化设计，底部串连出线。四、产品特点1、内置温度补偿传感器，数据长期稳定；2、数字信号RS485-（MODBUS-RTU输出）；3、分辨率高压0.01mm；4、高精度：0.1mm5、无需导气管，省成本，现场安装更便捷快速；6、单有的数据处理方式，支持通过广播指令来冻结同一时间点总线上所有的设备数据，然后再开始采集，有利于各种动态监测场合的数据采集分析。 7、单设备使用时可设置主动上报功能，可设置正常值时上报周期，超阀值时上报周期，上下限阀值可设置。五、技术参数项目参数测量介质水、防冻液、硅油（订货时需注明）测量形式磁致伸缩原理量程0～100mm，0～300mm,0～500mm量程可定制温度量程-40~100℃综合精度0.1%FS（含温漂）分辩率0.01mm输出信号RS485-RTU供电电压12V DC（12～30VDC）补偿温度-20～50℃介质温度-40～85℃环境温度-40～80℃电气连接四芯防水航空插，直接引线防护等级Ip67外壳材料航空铝合金，氧化处理过程连接导液管:Ф10mmPU管（10x6.5）

GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定GB/T6672机械测量法薄膜厚度测量仪_膜厚计膜厚测试仪技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg

F54-XY-200 薄膜厚度测量仪自动薄膜厚度测绘系统 借助F54-XY-200先进的光谱反射系统，可以快速轻松地测量200 x 200mm样品的薄膜厚度电动XY工作台自动移动到选定的测量点并提供快速的厚度测量，达到每秒两点。您可以从数十种预定义的极性，矩形或线性测量坐标图案中选择，也可以创建自己编辑的不受限制的测量点数量。此桌面系统只需几分钟即可完成设置，任何具有基本计算机技能的人都可以使用。图案表面的显微测量F54-XY-200具有集成的显微镜和实时摄像头，可以精确监控膜厚测量点。小尺寸的测量光斑允许测量有图案的样品，并且可以改善在较粗糙的材料上的测量性能。 FILMAPPER软件-测量自动化测绘模式生成器内置的测绘图案生成器使您可以轻松的生成测量样品相关区域所需的坐标图案，从而节省了数据采集时间。以下是您可以调整的自定义测绘属性的一些参数:样品形状:圆形或矩形径向，矩形或线性图案中心和边缘去除点密度

薄膜厚度测量仪_薄膜测厚仪（C640可自动进样）C640薄膜测厚仪品牌：Labthink济南兰光机电技术有限公司C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。设备技术特征：1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现世界先进的测试稳定性、重复性及精度。2、高效——采用高效率、自动化结构设计，有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能，为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件，具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；支持Labthink特有的DataShieldTM数据盾系统（可选配置），为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）应用材料：基础应用：薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定扩展应用：金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定技术指标：① C640M型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.8μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg② C640H型号参数：测试范围（标配）：0～2mm分辨率：0.1μm 重复性：0.4μm测量范围（选配）：0～6、0～12mm测量间距：0～1000mm（可设定）进样速度：1.5～80mm/s（可设定）附加功能：自动进样机：可选配置DataShieldTM数据盾：可选配置GMP计算机系统要求：可选配置测量方式：机械接触式测量压力及接触面积：薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）净重：26kg