荧光射线元素分析仪

产品特点&blacksquare 应用于大米中的硒、铅、砷等元素、水果蔬菜等中的重金属、食用油中的铅、砷、镍、污水及地表水重金属应急监测、汽油、柴油中金属含量如铅、铁、锰、工业湿法冶金过程检测分析&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解； 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用&blacksquare 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当，分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗&blacksquare 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，无损非破坏性检测，是野外工作者很好的分析工具 分析曲线图选取若干标准样品, 对其中多种金属元素进行直接分析，其测量准确性与标准值的相对误差来考察仪器的测试准确性。 准确性和重复性对若干标准样品进行多次重复测量结果，以验证方法的准确性及稳定性。 检出限JP500 是一种单色能量色散X射线荧光分析仪，利用优越的信噪比(S/B)实现超低的元素检出限。 技术参数测量范围：Cd, Ni, Cu, Zn, As, Pb等测量时间：30s-1200s 可选探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、水质、食用油工作温度：-5 °C~50 °C电源：110-240 VAC±10%重量：9 kg尺寸：30 cm W x 23 cm L x 26 cm H

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。 主机标准配置：上照式光路系统直射模式 SDD探测器 数字多道处理器 美国进口高压进口牛津铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵 录井行业应用案例l 岩心成份普查：仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。 l 现时分析能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟； l 现场分析 独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务； 仪器性能优势：仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；准直器极大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试精确度封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。 主机标准配置：上照式光路系统直射模式 FAST-SDD探测器 数字多道处理器 高压铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵 录井行业应用案例l 岩心成份普查：仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。 l 现时分析能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟； l 现场分析 独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务； 仪器性能优势：仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；准直器大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试准确度封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；大面积厚晶体FAST-SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试稳定；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

概要：对应环境限制物质管理、可快速且简单测量有害物质的X射线荧光分析仪。型号：EA1000VX测量元素：原子序数13(Al)～92(U)样品形态：固体、粉末、液体射线源：X射线管球(Rh靶材) 管电压：最大50kV 管电流：最大1000μA检测器：多阴极半导体检测器分析领域：Φ1mm，Φ3mm，Φ5mm (自动切换)样品观察：彩色CCD摄像头滤波器：5种模式自动切换样品室：370(W) ×320(D) ×120(H)mm定性分析：能谱测量、自动辨别、KLM标示表示、差异表示定量分析：块体校准曲线、块体FP法有害物质测量功能：环境管制物质测量软件Ver.2、Dbeasy 材料辨识、分析线切换、波峰分离显示功能、波峰标记功能等数据处理：配备EXCEL、配备WORD外形尺寸：520（W）×600（D）×445（H）mm安装尺寸：1500（W）×1000（D）重量：约60kg使用电源（主机）：AC100~240V±10%单相 选购项：自动进样器、能谱匹配软件、薄膜FP软件、各种标准物质特点：1. 快速测量与之前的机器SEA1000AII相比，每个样品的测量时间*都缩短了。例如，树脂类样品测量时间缩短了约1/3，金属类则缩短了1/10。实现了处理量（每天可测样品数量）的飞跃性提高。塑料中的Cd,Pb,Hg,Br,Cr高浓度BrSb塑料中的Cd,Pb,Hg,Cr黄铜中的Cd,Pb,Hg,Br,CrEA1000VX约30秒 120秒以内200秒以内SEA1000AII 约100秒360秒以内2000秒以上 表中显示为EA1000VX与SEA100AII样品测量时间（平均值）*Cd为20 ppm，除此以外的元素是为了达到100 ppm的检测最 低限所必要的总共时间。（本公司推荐条件下实施）2. 高技术率检测器（Vortex）不需要液氮，使用最大15万cps的高计数率检测器（Vortex）测量高灵敏度化，实现快速测量及高精度测量等。3. 通过环境限制物质测量软件Ver.2的各种新功能，强化了有害物质测量功能—材料判断功能测量开始后短时间内就可测量样品的材质种类。以往，在测量前需要选择分析菜单，由于装置可以自动判断材质，不会在选择分析菜单时感到迷茫。 4. 提高操作性—操作面板根据操作面板的指示器和提示音，了解测量进度。根据测量面板的进度条，把握测量进展。 5. 各种环境限制用的标准物质除RoHS指令的管理对象元素（Cd,Pb,Cr,Hg,Br）以外，我公司也开发和制造能对应管理Cl、Sb、Sn等的标准物质。 6. 自动进样器（选购项）自动进样器最多可连续测量12个样品。 7. 通过环境限制物质测量软件Ver.2进行数据集中管理和趋势管理使用精度管理软件使测量时间变短，通过利用数据库对据点内测量数据进行的集中管理（检索、浏览、解析、编辑、印刷、报告书生成），可测量检查的效率，达到消减成本。

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR101对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.03mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.03mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR101粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 11KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险处理器 1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.03mg/kg

高精度X射线荧光元素分析仪食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 仪器原理：单色聚焦X射线荧光光谱法。其检测原理被当前2020中国药典中药材重金属检测方法收录。◆ 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品。◆ 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测。◆ 食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测产品特点样品分析：固体粉末、糊状颗粒和液体等。◆ 只需研磨粉碎，无需高温强酸消解；◆ 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；◆ 在某些元素性能方面定量准确度和定性检出限与实验室台式氢火焰原子吸收相当；◆ 分析成本低，无需任何可燃气、助燃气或氩气等消耗；◆ 对固体、粉末、液体能做到现场1-3分钟内同时实现几十种元素的分析，是野外工作者很好的分析工具；◆ 无损非破坏性检测。检出限技术参数合规性 GB2762-2017测量范围 30-1200秒元素范围Ａｌ-Ｕ之间的40种元素数据存储及输出 打印输出、以太网、USB、内部存储器、U盘I/O端口 以太网10/100、USB电源 　110-240VAC±10％、50-60Ｈｚ工作温度和湿度 -5℃-50℃、30-85％重量 　　　9ｋｇ尺寸 　30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

高精度X射线荧光元素分析仪矿产重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ E-find仪器可以针对各种类型的矿物及矿物中多种元素进行高精度分析，可高效快速进行原料或矿样品质评价。◆ 对各种类型的矿物通过基本参数法对基体进行校正，且只需简单制样就可以得到高精度的测试结果，与实验室测试结果高度一致。◆ 快速分析矿物中铁、钙、铜、锰等金属元素和磷、硫、硅等非金属元素含量。◆ 针对材料中微量元素、主量元素进行准确定量分析；应用于不同形态的硫酸钴、硫酸锰、硫酸镍等样品分析，如液体、固体、粉末等。E-find型便携高精度X射线荧光矿物分析仪专门针对钢铁冶金行业的材料快速准确检测，例如矿石、炉渣、萤石、焦炭、石灰石、耐火材料等，对重点关注的铁、铜等具有非常优异的分析检测性能，适用于企业和工厂在矿物采选、物流、贸易、冶炼加工过程中的各个环节。产品特点◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 体积小，方便室外工作，随时随地进行现场分析。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。分析曲线图E-find在矿物中铁、硅、钙、铜等元素应用分析（单位：%）重复性测试技术参数测量方式 压片法、袋装分析、样品杯旋转分析等检材 固体、粉末、液体等测量方法高精度X射线荧光光谱法HDXRF测量范围 铁、锰、铜、锌、硅、磷等40余种元素工作曲线 矿产、食品、水质等曲线激发源 X射线管，50kV,1mA探测器 高性能Fast SDD 探测器光学系统 HDXRF技术构架下的单色聚焦系统测量时间 30秒-1200秒工作温度 -5 °C~50 °C电源 110-240 VAC，50-60 Hz重量 约13Kg尺寸 32.5ｃｍW*32.2ｃｍL*26ｃｍH

产品特点&blacksquare 具有双曲面弯晶单色聚焦技术和先进的FP软件算法，实现了准确定性定量，检出限远优于同类产品&blacksquare JPX500 能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为彻底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级&blacksquare 适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测&blacksquare JPX500基于HDXRF 技术, 可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素&blacksquare 适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测&blacksquare JPX500可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作 者必备的筛选综合工具&blacksquare JPX500可快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素 多元素分析JPX500还可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15 种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作者必备的筛选综合工具。重复性测试JP500对各类谷物进行检测以及对农作物及食品标准物质中的镉进行多次重复测量结果，测试结果具有很高的准确性和重复性和验证方法的稳定性。检出限JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，，其卓越检测性能可以满足中国农用地土壤污染风险管控标准（GB15618-2018）要求检出限轻松应对镉元素的法规限值 0.3 mg/kg ；采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限；JPX500是一种单色能量色散Ｘ射线荧光分析仪，采用针对镉元素（Cd）激发进行了优化的单色光束，利用优越的信噪比（S/B）实现超低的元素检出限。 技术参数测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

Vanta手持式X射线荧光分析仪　　大幅提高现场和实验室的检测效率　　使用Vanta手持式X射线荧光分析仪可在任何地点立即识别材料及其化学成份。Vanta系列利用智能云连接技术提供快速、准确的元素分析和材料辨别。我们的下一代Vanta手持式XRF分析仪(Vanta Max和Vanta Core)将Vanta系列的精度、速度和耐用性与改进的人体工程学设计、精简的界面和增强的连接性相结合，提高了工作效率。使用舒适且坚固耐用，可进行全天测试Vanta分析仪采用增强型人体工程学设计，是一种可在现场和实验室长时使用的高效工具。这些分析仪坚固耐用、易于操作，能够在恶劣环境中正常运行更长的时间。　　❯ 平衡式手柄可减轻手部疲劳　　❯ 握持安全舒适，适合全天时检测　　❯ 通过了4英尺坠落测试(MIL-STD-810G)　　❯ 符合IP54评级标准，防水防尘　　❯ 标准的3年质保，可保护您的投资　　高效的工作流程　　Vanta分析仪现在更加易于使用。使用现代、直观的界面和基于浏览器的软件选项，提高了工作效率。　　❯ 可通过可选配无线连接实现无缝数据集成，在PC机、平板电脑或智能手机上查看、共享和管理XRF结果　　❯ 通过自动软件更新，可即时享受新添功能　　❯ 可添加自定义分析功能的选项，提高了应用支持的水平　　❯ 可访问Evident Connect(Evident连接)云，无缝获取数据并使用多设备管理功能　　Vanta分析仪的现代化界面易于使用和操控。　　值得信赖的XRF技术　　Vanta分析仪被全球数以千计的客户用于各种各样的应用中。以久经考验的性能为基础而打造的Vanta Max和Vanta Core分析仪，可进行精确度和准确度都很高的便携式XRF分析。　　❯ Vanta系列分析仪所Axon技术，使用超低噪声电子元件，可实现更高的X射线计数率，从而可以快速获得精确、可重复的结果。　　❯ Axon技术可使不同Vanta分析仪的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论您使用的是哪台分析仪，其开始检测与末次检测的准确性都别无二致。　　X射线荧光的工作原理　　X射线荧光(XRF)是一种利用X射线测量样件元素组成的无损检测技术。X射线荧光通过四个步骤发挥作用：　　1. 发射：分析仪发射X射线。　　2. 激发：X射线照射样件，后者发出荧光，将X射线反射回分析仪。　　3. 测量：探测器对返回的X射线进行计数。探测器测量每条X射线的能量，从而形成频谱。频谱可以告诉我们存在哪些元素以及每种元素的含量。　　4. 结果：能谱通过软件进行处理，并显示为样件的元素组成。在检测金属时，我们将得到的元素组成与某个特定的合金牌号相匹配。　　Vanta手持式X射线荧光分析仪的应用领域　　Vanta分析仪可为从合金辨别到考古遗址评估等各种各样的应用迅速提供分析结果。我们的Vanta分析仪可针对特定应用为用户提供一系列软件功能，从而可使操作员充分利用分析仪的性能。此外，其报告创建过程也得到简化，而且其分析结果还具有可追溯性。　　金属废料和汽车催化剂回收　　用于废料分拣的Vanta分析仪带有一个SmartSort功能，可以基于被测材料简单直观地延长或缩短检测时间，从而既节省了时间，又尽可能为用户提供了优质匹配结果。软件会将获得的结果与合金成分库中的数据进行自动比较，以将未知材料和已知合金进行快速匹配。用户使用牌号匹配信息功能，可为每个牌号编制信息，这些信息会在适当的情况下作为警告或指示出现在屏幕上。这些消息使操作员只需稍加培训即可轻松使用分析仪。在汽车催化剂回收方面，Vanta分析仪可快速分析贵金属含量，以进行准确的价格评估。　　环境评估　　Vanta分析仪可以方便地对土壤和其他材料进行筛查，以探测出污染金属。分析结果可以与GPS数据配对进行结果勘察，然后以无线方式被传输到地理信息系统(GIS)，以绘制出污染性金属的位置图。这款分析仪可在场地定性、环境评估、房产评估及污染物跟踪方面快速得到具有决策性的结果。　　材料可靠性鉴定(PMI)与制造工业质量控制/质量保证　　Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金，从而有助于确保精炼厂、石化工厂以及其他处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解了这些部件和机械装置使用了正确牌号的合金的情况下，就会放下心来，不用担心安全问题，尽管可能不知道材料的来源。Vanta分析仪可以测量任何样件基质上的镀 层、电涂层和其他涂层的厚度。Vanta系列分析 仪的可选全景摄像头、条形码读取器、可由用户定义的输入字段、连通性能以及丰富的数据报告功能，都可使检测人员充满信心，并提高分析仪追溯数据到野外现场的性能。　　珠宝分析和贵金属辨别　　Vanta分析仪可对包含金(Au)、银(Ag)、铂(Pt)和钯(Pd)在内的各种首饰和贵金属进行现场鉴定。该分析仪可对黄金合金(0-24K)的纯度进行准确分类，并可探测到镀金。　　科研与教育　　Vanta分析仪可提供定量元素信息，以指导研究实验，并辨别未知或复杂的材料。快速的结果使研究人员能够在适用的基于科学的项目中获得相关数据。　　地球化学、勘探和采矿　　Vanta分析仪是矿产勘探和采矿公司、地质顾问以及以地质为重点的学术、政府和研究机构的工具。它在任何环境下都能提供具有再现性的精确结果，以可靠性和坚固耐用作为设计的核心思想，以尽量缩短停工期。我们以地质中心型全球支持和培训为后盾，在协助客户开发适用的工作流程方面积累了丰富的经验，可以尽量发挥Vanta分析仪的效用。Vanta分析仪配有机载摄像头、准直器、GPS* 、探测器快门闸保护以及一系列以地质为重点的配件，将继续成为地球化学应用领域的优质选择。　　合规和安全筛查　　Vanta系列可筛查消费产品(如玩具、服装和鞋类)和电子设备中的铅(Pb)、镉(Cd)、砷(As)、汞(Hg)和铬(Cr)等有毒金属和危险物质，以遵守电气电子设备有害物质限制规定。安装了可选摄像头的Vanta分析仪可以自动归档样品图像和结果，从而成为一款完成合理测试方案的理想工具。出色的灵敏度使其能够达到较低的管制元素检出限，直观的界面可提供简单的通过/失败测定。　　*仅限Vanta Max型号。　　适合于各种预算的便携式X射线荧光分析仪型号　　无论型号如何，每台Vanta手持式X射线荧光分析仪都经过精心设计，具有耐用性和分析性能。Evident生产的Vanta分析仪可以满足各种应用和预算需求。　　Vanta Max　　Vanta Max型号具有该系列强大的分析能力，适用于包括矿产勘探、学术研究、土壤测试和环境分析在内的各种强大应用。　　Vanta Core　　Vanta Core型号兼具高速度、低检出限(LOD)和宽元素范围等特性，是快速完成合金辨别的标准选择。　　我们的承诺　　Evident是XRF技术领域中的企业，在检测质量和分析结果的准确性方面久负盛名。我们致力于通过我们的全球销售网和消费者服务团队，在产品、应用、培训和技术方面，为我们的用户提供上乘的技术支持和售后服务。　　用途广泛的X射线荧光分析仪配件　　Vanta Max和Core型号可与可选配的X射线荧光分析仪附件配套使用，包括重新设计的土壤支架、野外台座和机套，以提高野外工作的效率。　　土壤支架　　Vanta土壤支架为Vanta分析仪提供了稳固的三点支撑。使用这个配件，您无需手持分析仪，就可以完成检测。在需要进行长时检测时，这个配件有助于轻松方便地完成检测。　　野外台座　　在检测较小的物件时，如放在杯中或袋中的样品，Vanta野外台座为分析仪提供了一个轻便、移动式检测台和一个屏蔽式样品舱。在需要离开办公室到较远的地方完成检测任务时，野外台座携带简单，使用方便。　　机套　　将Vanta分析仪放在Vanta机套中，不仅可使分析仪得到安全妥善的保护，而且还可方便地携带分析仪。　　工作站　　便携式Vanta工作站由电池供电，可以随时随地进行检测。 工作站有一个连锁的盖子，并提供360度屏蔽功能，可方便地对袋装样品、预先制备的样品、液体样品或包含珠宝和电路板在内的细小物件进行检测。在这种封闭式光束设置中，用户使用Vanta基于浏览器的软件操作分析仪。　　Vanta的规格

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

高精度X射线荧光元素分析仪粮食重金属PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 为实现粮食中微量重金属有害元素的快速检测，XR700对设备进行了特殊的结构优化，结合先进的探测器和激发源等硬件配置将镉元素提升到先进的分析水平。◆ 不同于传统国产设备，佳谱科技采用低功率X射线管，使用独特的滤光技术，获得更加出色的检测精度，大米中镉检测下限可到0.02mg/kg。同时低功率的使用环境，带来产品的低故障率，降低产品维修成本与周期。◆ 产品重量轻，体积小，可以携带到现场快速检测，节省时间，提高效率。◆ 目前本产品可用于稻米、谷物、小麦等作物中的镉（Cd）、铅（Pb）、汞（Hg）、砷（As）、硒(Se）的快速无损检测，其检出限最低可达0.02mg/kg。◆ 2-3分钟快速筛查，5分钟对样品准确测量。◆ 辐射安全：射线防护优于国标《X射线衍射仪和荧光分析仪卫生防护标准GBZ115-2002》,符合国家辐射豁免要求。 无论在实验室还是户外场合，XR700粮食重金属分析仪都可以进行快速、方便。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差，使便携式仪器具有高端台式机的分析性能，分析性能远超常规台式机。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输。技术参数工作条件电源 110V至240 V，50/60 赫兹；12VDC-8A；电源交直流两用温度 -5C至50℃技术性能指标曲线 大米、小麦、玉米等粮食曲线功率 50kV，1mA探测器 Fast SDD硅漂移探测器重量 9.5KG冷却系统 带风扇冷却功能进样方式 采用样品侧面进样方式，降低探测器铍窗损坏和被污染风险晶体 DCC晶体实现激发X射线单色化处理器 　1.2GB四核处理器 64位、1GB RAM语言 中/英文语言切换分析模式 配备不同分析模式（30秒-900秒），以满足不同的分析应用需求分析元素 Cd、Pb、As等有害重金属元素传输方式 支持网口、USB等数据传输方式粮食 典型元素检出限：镉0.02mg/kg

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

手持光谱合金荧光分析仪，金属光谱元素分析仪的特点是什么。中间是元素浓度的百分含量，后面是理论误差！这显然是用标准化方法来检验的。因此，99.6%的水的浓度是99.99%减去其他元素的浓度！我不知道你用的是什么牌子的乐器。一般来说，如果你不为这个测试校准相应的样本，测试结果的误差仍然很大！。列表中的一些元素ED-XRF不好。元素浓度（PPM）误差（百分比误差）。中间是浓度显示，单位一般为ppm。这位朋友，首先要知道你要分析的样品是金属样品还是粉末样品，是压片法还是溶片法？同时，你使用的X射线荧光是固定通道还是扫描通道，都应该详细说明。对于元素分析，建议您首先扫描样品的角度，以确定其干扰峰，并使用仪器自己的软件校正其PhD。重新绘制了手持光谱合金荧光分析仪，金属光谱元素分析仪的曲线。1、 X射线荧光分析仪（XRF）X射线荧光分析仪（XRF）是一种能同时快速测定多元素群体的新型仪器。在X射线的激发下，被测元素的内部电子发生能级跃迁，发出次级X射线（即X荧光）。从不同角度观察了X射线的波长和能量。一分钟30次，一次10秒为什么我不能数数呢？。你买这个乐器的时候，不是厂家卖给你的，是吗？连安全指示都没给你？。手持式X射线荧光仪，绝不能一手拿样品，一手测量。好的测量条件是通过仪器上的辐射屏蔽。最正常的测量条件是将金属试样放在平面上，用一只手握住手柄，用一只手将仪器直立。无需穿防辐射服，只要能严格遵守安全操作规程。至于辐射剂量，我给你一个大概的计算。仪器在大电压大电流情况下，窗口处（直接触摸窗口）的辐射剂量大约在2msv/h，你们是合金分析仪，测的应该都是金属样品，那么就按金属样品给你隔掉四分之三的辐射的话，你受到的辐射剂量为0.5msv/h，一天6小时，一小时30次，一次10秒钟，算下来你一年的辐射剂量将近100msv..但仪器不可能一直在大电压和大电流下工作。估计你的辐射值会稍微低一点。因此，我国对X射线行业从业人员辐射安全剂量的规定如下：。年平均不超过20msv，不超过50msv。但由于四肢对X射线的敏感性较低，四肢的安全剂量为500mSv。如果你只是用手触摸，不把仪器放在身体附近进行测量，你收到的辐射值很大，但不会影响你未来的宝宝。如果把仪器放在身体附近测量，辐射值会有点可怕。综上所述：你所受到的辐射值相当大，甚至超过了安全规定。现在可以做的是：首先要严格按照仪器的安全操作手册操作。不要用左手拿样品，也不要用右手拿仪器测量。其次，你可以适当地吃一些抗氧化食物来恢复你的身体。电离辐射会在人体内产生一些对人体有害的自由基。第三，在目前的情况下，我们不必太害怕。毕竟，人的四肢并不特别害怕辐射。

X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪X射线荧光镀层测厚仪属于菲希尔的产品，HELMUT FISCHER(菲希尔)在涂层硬度侧厚、镀层硬度测厚、材料分析、微纳米硬度测试和材料测试等领域为您提供最先进的产品和最完善的解决方案。X射线荧光镀层测厚仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。X射线荧光镀层测厚仪，材料分析仪也可测量金属元素的等。我司除了X射线荧光测厚仪还有元素分析仪，金镍厚度测量仪，孔铜测厚仪，面铜测厚仪，涂镀层测厚仪，台式涂层镀层测厚仪，铜箔测厚仪，绿油测厚仪，油墨测厚仪，各领域的测厚仪。

高精度X射线荧光元素分析仪土壤重金属元素PRODUCT INFORMATION产品介绍◆ 满足GB15618-2018中对土壤中重金属的筛查及管控要求，其中对镉的合规要求是0.3mg/kg,而E-max系列检测极限可以达到0.05mg/kg。◆ 现场快速对样品进行实验室级别的分析，比手持机操作安全性好，比传统台式机重量轻、便携性强。◆ 无论在实验室还是户外场合，E-max产品都可以进行快速、方便的操作，从而有助于用户根据现场分析结果立即采取对应措施。E-max系列重金属分析仪，是专为环保、农业部、监察执法、环境修复、第三方检测机构等相关部门开发的一款产品，采用单波长X射线荧光分析技术，其对环境土壤中的多种重金属有出色的分析性能，尤其是对镉元素有极为出色的灵敏度。产品特点◆ 设备PDA与仪器主机一体嵌入式不可拆卸设计，使用可靠；◆ 采用独立风道散热方式，避免长时间的工作，导致元件温度升高进而导致数据偏差；◆ 仪器在300s-600s以内即可对土壤中的将近40余种重金属进行定性定量分析；◆ 辐射安全防护功能：仪器通过辐射安全剂量认证，保证了设备使用的安全性。◆ 独特的侧面进样，防止样品的泄漏，避免了频繁的更换窗口防护膜。◆ 独特的样品杯设计，将进样与采样简单化，进样量少，简化现场制样流程。◆ 独特的光路设计，先进的单波长激发技术及软件算法，大幅提高检测精度、减少测试误差。◆ 采用嵌入式系统，高分辨率液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，有效提升数据传输和运算能力。◆ 数据导出专业、全面、可进行Excel编辑。◆ 强大的数据存储能力，能够连续存储至少10000次检测记录。◆ 支持蓝牙打印功能。◆ 支持4G、5G远程数据传输重复性测试检出限技术参数测试时间 30秒-1200秒测量范围 AI-U数据存储及输出内部存储和U盘，USB和WiFi输出网络连接方式 有限网络或无线WiFi工作温度 -5 °C~50 °C工作湿度 ≤85%重量 小于9Kg尺寸 30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

DM2100 X荧光多元素分析仪在同档次中真正得到广大水泥企业认可的获全国首张辐射豁免函是真正的绿色环保产品采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术本公司专有的分谱技术、次级滤光片、薄铍窗正比计数管、特殊的光路系统等符合标准GB/T176JB/T11145JC/T1085概述DM2100 X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用能量色散X射线荧光(EDXRF)分析技术，薄铍窗充气正比计数管、次级滤光片、特殊的光路系统、硬质样品比例法和本公司专有的分谱技术，从而使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素(如水泥生料中的Al、Si)，其测量准确度达到进口同类仪器的水平。其符合国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的相关要求，符合行业标准JC/T1085—2008《水泥用X射线荧光分析仪》，符合行业标准JB/T11145—2011《X射线荧光光谱仪》。只要压个片就能在310秒内测出物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度。图1 EDXRF分析技术原理图DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪已获得实用新型专利（专利号：ZL200620040917.5）和发明专利（专利号：200610025556.1）各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目（编号：200607406），并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。图2 2021款面板图DM2100X荧光多元素分析仪的2021款除保持了原有DM系列X荧光分析仪所具有的外形美观、一体化、连续测量标准样法、分析时不接触不破坏样品、无需化学试剂、数据储存能力大等优点外，进行了以下重大改进：(1) 大屏幕彩色触摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和键盘，改善了用户的操控体验。(2) 新的大规模集成电路CPU代替原老的如80C31等CPU，没有数据总线与外部设备或外部芯片直接连接，极大地提高了系统的可靠性，基本消灭了死机现象。(3) 用贴片电路代替原立式电路，减少了电路板的面积，并能大规模机械化生产，极大地提高了硬件的可靠性，使仪器的返修率降到最底。(4) 用热敏打印机代替了原来的针打印机。(5) 用最新设计的采用CPLD，FPGA，DSP等技术的多道脉冲幅度分析器及可变增益放大器代替原单道脉冲幅度分析器及固定增益放大器，极大地提高了仪器的长期稳定性。DM2100X荧光多元素分析仪的2021款的推出是本公司实现自我超越的成果，必将使本公司在X荧光分析仪领域保持长久的国内领先地位。适用范围主要用于水泥生料、熟料、水泥和原料等物料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度测量，并通过测量生料中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度来控制熟料的质量，通过测量熟料和水泥中CaO的浓度来确定混合材的参杂量，通过测量水泥中SO3的浓度来控制水泥的质量。可单机使用，也可联机使用为生料配料自动控制系统提供检测讯号，形成“分析仪---微机---皮带秤”自动控制系统。除水泥工业外，也可用于发电厂、砖瓦厂、冶金、石油、地质矿山等部门的固体、液体和粉末样品中Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3的浓度分析。特点快速同时––所需测量元素同时快速分析，一般几分钟给出浓度结果。高准确度––采用国内首创的分谱技术，能真正区分相邻元素，从而准确测量相邻轻元素。使用方便––触摸屏操作。样品粉碎压片放入仪器后只需按[启动]键即可，真正实现一键操作。环保节能––射线防护达豁免要求。分析时不接触不破坏样品，无污染，无需化学试剂，也不需要燃烧。长期稳定––采用可变增益数字多道，有增益调整、比率校正、偏差修正等功能，具极好的长期稳定性。高可靠性––一体化设计，集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强，可靠性高。功能强大––有合格率统计、率值计算、出错提示等，还可根据用户要求增加软件功能。数据传存––可存储海量数据，支持掉电后保持数据，并可随时查看。并可将存储数据传输到PC机。高性价比––无需气体、真空、稀释，运行维护成本极低。价格为国外同类产品的一半，适应我国国情。校准X荧光分析方法是一种参考方法，校准是为得到定量的结果所必须的。XRF光谱仪通过比较已知标样与未知样的光谱强度来得到定量分析的结果。其某元素的浓度计算式（即校准曲线）为：C＝D＋EIC＋FIC 2 （1）式中，IC =f(I0)，I0为原始强度，IC 为处理后强度，D、E、F是由校准确定的系数。校准的方法是：用光谱仪测量一系列校准标准样品或有证标准样品的每种元素强度，利用回归分析，例如最小二乘法，确定（1）式的系数。用已知浓度的11个水泥生料标准样品对光谱仪进行校准，得到的数据如表1。表1. 水泥生料标准样品校准结果数据成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3系数D-2.89-3.460.2713.440.12系数E57.1432.415.7622.032.32系数F00000相关系数γ0.99120.99800.99270.99350.9967这些校准曲线的相关系数γ均大于0.99，表示DM2100X荧光多元素分析仪的线性误差极小。重复性对同一水泥生料样品，进行11次测量，得到各元素的重复性数据如表2。表2. 生料标准样品重复性测量数据分析（%）成分Al2O3SiO2SO3CaOFe2O3标准值1.4610.752.5247.421.30平均示值1.1.3510.642.5047.381.36最大示值1.4710.722.5247.571.39最小示值1.2410.562.4847.281.33极差0.230.160.040.290.06示值标准偏差0.06500.04610.01270.07750.02163倍示值标准偏差0.1950.1380.0380.2330.065GB/T176的重复性限0.200.200.150.250.15DM2500与国标的符合性优优远优优远优按国家标准GB/T 176—2017《水泥化学分析方法》的重复性要求，光谱仪的重复性必须满足：其示值标准偏差的3倍不大于GB/T176的重复性限。从表2可以看出DM2100X荧光多元素分析仪可以实现优异的重复性。主要技术指标X射线管电压：≤10keV，电流：≤0.5mA，功率：≤5W探测器超薄铍窗正比计数管测量范围Al2O3、SiO2、SO3、CaO、Fe2O3分析范围均可调节，通过校准选定测量范围宽度Al2O3max—Al2O3min≤5%， SiO2 max—SiO2 min7≤%，SO3 max—SO3 min≤5%，CaOmax—CaOmin≤7%， Fe2O3 max—Fe2O3 min ≤5%。测量精度S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.06%，S SO3≤0.02%，SCaO≤0.08%，S Fe2O3≤0.03%。符合标准GB/T 176—2017，JC/T1085—2008，JB/T11145—2011等系统测量时间1～999s，推荐值：310s使用条件环境温度：5～40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220V±20V，50Hz，≤150W尺寸及重量560mm（W）× 470mm（D）× 150mm（H），23kg实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

用途：X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪，操作灵活简单，是各个行业元素分析的理想工具。基于行业认可的能量色散X射线荧光（EDXRF）技术，X-MET8000 系列性能强大、可靠性高，只需要一个按键就能保证快速、无损材料分析。 应用广泛：废旧金属分拣，材料可靠性鉴定，无损金属检测，矿物勘探，符合性检测，土壤分析等。 测量原理：X射线是指波长为0.001-50nm的电磁辐射，由于X射线的能量较高，原子的内层电子吸收X射线的能量后会激发成为自由电子。然后，外层的电子会填补内层电子的空位，这就是电子迁跃，电子跃迁的同时会放射X射线荧光。电子跃迁的能量等于两电子能级之间的能量差，因此，X射线荧光的能量或波长是具有特征性的，与元素有一一对应的关系。只要测出荧光X射线的波长，就可以知道元素的种类。此外，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此可以进行元素的定量分析。 特点： “一键”分析：操作简单，只需简单培训 大图标触摸屏界面易于操作，尺寸大的彩色触摸屏，采用图标操作的用户界面在任何天气条件下都能呈现很好的可视度 简单强大的安全数据下载系统，灵活的报告导出格式，并具有wifi功能 强大数据下载功能，灵活的报告格式 经久耐用的设计 广泛的金属牌号库 快速准确的分析 长达10-12小时的电池量，充电一次可以使用一整天 技术规格：探测器采用硅漂移(SDD)高分辨率探测器，分辨率优于150eV靶材采用Rh靶材X射线光管，电压40KV，电流50uA测试窗口9毫米重量1.5公斤（含电池）认证CE防护通过IP54（NAME3）防水防尘测试，提供SGS认证书工作温度-10~+50℃供电电池持续使用时间10~12小时，110/230V，50/60HZ直流电源充电器显示屏4.3英寸Ban view Anti 彩色防反光触摸屏操作系统采用更稳定简洁的Linux操作系统，用户可建立数据库操作语言提供两块可充电可显示电量的锂电池，可12种语言操作界面包括：英文、简体和繁体中文、韩语、日语、德语、法语、波兰语、意大利语、西班牙语、葡萄牙语和俄语通讯可通过USB传输数据，无需特殊软件在浏览器页面即可运行设备 也可通过U盘导出数据和谱图并提供专用U盘；或使用wifi或蓝牙在线网络共享报告编辑器报告编辑器用于生成客户自定义模板和报告。检测结果和报告可生成CSV格式或防篡改PDF格式，确保原始数据的安全性测试方法提供土壤样品基本参数法（FP法）：可测试土壤及矿物样品中的 Ag， As， Au， Ba， Ca， Cd， Cr， Co， Cu， Fe， Hg， K， Mn， Mo， Ni， Pb， Pt， Rb， Se， Sr， Sn， Sb， Ta， Th， Ti， Tl， V， W， Zn， Zr Br.等28种元素；提供由中国国标GSS土壤标样校准的符合中国土壤样品测试的检量线法，符合EPA 6200方法要求

秉承X荧光光谱仪20多年研发经验，天瑞元素录井分析仪EDX5500H再次推动了岩石中元素含量向具体化、快速化方向的发展。将Ｘ射线荧光分析(XRF)用于岩屑录井这项技术的独到之处在于：通过岩屑化学元素组合特征的分析来识别岩性，再通过岩性的组合特征分析来判断层位，因此适合于任何钻井条件下的岩屑录井。高效真空形成条件及高灵敏半导体探测器保障对岩心中的元素具有超低的检出限，为录井平台提供更有意义的具体数据特征；更宽的元素检出范围满足多种元素的同时检测需求；同时引入了目前先进的4096道数字多道技术，采用进口超薄铍窗有高激发效率的X射线管，使仪器计数率更高，稳定性更好，适用面更广；优化了光路结构、软硬件可靠性，真空腔体使之性能更好、更便携；独特的抗震性设计，高保护光路设计使得该仪器通过了第三方权威机构高低温、高低频电动振动及湿热等使用认证；在现场测试、在线检测以及各类地质勘察多元素检测中充分发挥作用。 主机标准配置：上照式光路系统直射模式 SDD探测器 数字多道处理器 美国进口高压进口牛津铍窗X射线管 智能测试软件 校正模块内置 封闭式定向散热系统高阻尼可动防震缓冲支脚 定制CCD高清摄像头整套设备包括: Ｘ荧光分析主机、电脑、打印机、粉碎机、压片机、真空泵 录井行业应用案例l 岩心成份普查：仅需简单前处理，微量多种元素成分尽在掌握。 l 现时分析能快速、现场追踪岩心数据，圈定油气边界。单个样品30多种元素测试仅需1~4分钟； l 现场分析 独特的减震、超小的真空腔、超稳固样品静态控制结构设计使仪器可以应对各种现场环境的检测任务； 仪器性能优势：仪器外形小巧，简洁大方，可用于车载和实验室，使用方法简单，测试效率高；测试时上照式光路设计加上真空测试腔有效杜绝现场环中粉尘对探测器的污染；准直器极大化设计使样品受激光斑达150mm2 保证测试信号的丰富性，提高测试精确度封闭式定向风冷散热保证X射线管工作温度稳定，延长X射线管寿命；分析样品速度快，快可达60S，并且可同时分析40种元素；高阻尼可动支脚防震设计加上超稳真空控样设计保证了每一个样品与光管、探测器几何关系时刻相一致，屏蔽现场震动所造成的影响；大面积厚晶体SDD探测器，配上Rh靶X光管以及良好的散热性，有力地确保测试高效稳定；X射线屏蔽设计和高分子材料及安全联动装置有效保证无辐射外漏，让测试人员安全放心使用；

仪器名称型号X射线光电子能谱（XPS）日立 EA6000VX主要技术参数1、快速扫描凭借相当大150万CPS的高计数率检测器完成高灵敏度的测量，以及借助相当大250 mm×200 mm范围扫描的快速电动样品台，实现快速扫描测量。对于范围为100 mm×100 mm的情况，可在2～3分钟内检测出端子部分的铅并确定其位置2、连续多点测量相当多可指定500个测量位置进行连续多点测量。由于采用自动测量方式，因此在测量大量样品是，也可发挥高效率3、高精密重合通过Telecentric Lens系统和高速?9?9高精度XY平台，将元素扫描像和光学成像进行重合对微小部品的中心部分的目标元素也能进行简单观察。相当大250 mm×200 mm上方观察，并且能够实现广域位置相当小误差为100 μm以内的精确定位。 应用范围1、微小部位测量在FT系列中被公认的测量镀膜膜厚仪器就是由EA6000VX。不用说极薄的镀金等膜厚测量，即便是在进行镀膜钟所含的Pb等有害物质分析的膜压测量的同时也可进行膜厚测量。比如也可进行无铅焊锡镀层及引线框架上Sn镀层，无电解Ni镀膜中所含的有害物质的浓度测量2、环境中限制物的测量RoHS等限制物的高灵敏度测量，短时间内测出树脂、金属等中含有的微量环境限制物。对复合样品也可专注到特定部位进行测量 3、轻元素测量通过安装充氦选购项，可以分析钠开始的轻元素。测量中能够独立运转的氦气系统。将使用成本相当大化降低。 仪器特点1、透过扫描机能笔记本、手机等不能透过外包装看到内部构造的产品，无需拆解就可得到不仅仅是基板上的Pb，甚至其他各种元素的扫描图。通过比较X射线照射后得到的元素扫描图像，可以了解关于产品内部部件构造的各种情报2、异物检测EA6000VXEA6000VX通过快速扫描功能可以在几分中内检测出宽广范围（相当大250 mm×200 mm）内含有的几十μm的微小金属异物，并查明其具体位置。也可检测出树脂等有机物内部还有的微小、微量金属异物。3、相对安全、安心的操作性自动接近、防止冲撞功能操作台上样品一旦设定好启动后，自动测量出样品的相当大高度，移动到相当适合的测量高度。即便是复杂形状的样品，操作员也可轻松测量。另外，即便通过操作指南调整了测量高度，由于安装了防止冲撞传感器，因此不会使样品受到损伤。

仪器简介：专门针对RoHS/ELV/玩具/包装/首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量能同时测量Cl/Cr/As/Se/Br/Cd/Sb/Ba/Hg/Pb等元素 DM2300型X荧光分析仪（或称X荧光光谱仪）(英文名为DM2300 EDXRF Analyzer)是由上海爱斯特电子有限公司集数十年X荧光分析仪的研究经验，在公司原有的DM系列X荧光钙铁分析仪、测硫仪、铝硅分析仪、多元素分析仪等的基础上研制推出的一种达到国际先进水平的分析仪器。仪器采用了能量色散X射线荧光（Energy Disperse X Ray Fluorescence）（EDXRF）分析技术，能分析从铝(原子序数13)到铀(原子序数92)的所有元素，对大多数元素分析的含量可低至1ppm高至100%，还能进行镀层厚度测量。具有分析速度快、精度高、人为误差小、操作简便、只需一次性投资、无污染等特点，故广泛应用于电子电气、建材、冶金、石油、化工、地质、矿山等各行各业。对于RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量，目前有多种方法，但绝大部分的测量方法都非常烦琐，特别是制样那更是复杂，且时间很长，又污染环境。而X荧光分析法虽然准确度较差，但它分析速度快、操作简单、无污染、制样方便或根本无需制样，能对绝大部分产品作出正确判定，而少量不能判定的产品再用其他方法，从而达到先筛选的目的，使测量方便了许多。所以X荧光分析法作为RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素测量的筛选法，得到全世界所有国家的确认。如我国国家质量监督检验检疫总局最近颁布了六个有关RoHS的检测方法标准，其第一个标准就是：SN/T 2003.1-2005 《电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第一部分：X射线荧光光谱定性筛选法》。对每一个需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位，X荧光分析仪是不可缺少的。DM2300型X荧光分析仪是本公司诸多X荧光分析仪中一款专门针对RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的测量而设计开发的产品。它采用X光管激发，光管高压的电压和电流连续可调，具有多个滤色片和准直器并可自动转换，能使仪器达到最高的激发效率、最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限；它采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰；它采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品；它的样品室体积达480 mm× 350 mm× 125mm，能测量大件物品；它的设计对屏蔽防护极好，无三废公害；其测量准确度及检出限达到进口同类仪器的水平，而价格只是进口同类仪器的几分之一，特别适合我国国情。凭借着本公司数十年X荧光分析仪的研究经验，凭借着本公司数十年在X荧光分析领域的良好口碑和重要地位，我们相信：DM2300型X荧光分析仪定将得到广大需要测量RoHS指令、ELV指令、玩具、包装、首饰等中有害元素及无卤化中卤素的单位的认可，成为国外同类产品的替代品，为我国的检测事业和环境保护作出一定的贡献。技术参数：(1) 分析元素种类：Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等。(2) 有害元素及卤素含量分析范围： 5～3000ppm。(3) 系统分析时间： 300s (典型值)。(4) 分析精度： 理想状态下，测量绝对精度为2～3ppm； 一般状态下，测量相对误差为10%。(5) 检出限： &le 2 ppm。(6) X射线光管： 高压：&le 50kV， 电流：&le 1mA，均连续可调。(7) 准直器： Ф1mm、Ф3mm、Ф5mm、Ф7mm共4个可自动切换。(8) 系统能量分辩率： 对于MnK5.9keV的X射线，其半高宽：&le 155 eV。(9) 长时间稳定性： 开机1小时后，整机8小时稳定性：峰位和峰面积相对标准偏差均小于0.1%。(10) 样品室体积： 长× 宽× 高：480 mm× 350 mm× 125mm。(11) 使用条件： 环境湿度：5～30℃，相对湿度&le 80%(25℃)，供电电源：220± 20V，50Hz。(12) 整机功耗： &le 150W。(13) 尺寸与重量： 长× 宽× 高：503 mm× 412 mm× 478mm；重量：45Kg。主要特点：(1) 采用EDXRF物理分析方法，分析中不接触、不破坏样品，无需化学试剂等其他辅助材料。(2) 多元素同时快速分析，一般几分钟给出Cl氯、铬Cr、砷As、硒Se、溴Br、镉Cd、锑Sb、钡Ba、汞Hg、铅Pb等元素的ppm含量结果。(3) 采用X光管激发，光管高压的电压和电流可调，使仪器达到最高的激发效率和最佳的计数率。。(4) 具有4个滤色片和4个准直器，可任意自动转换组合，使仪器达到最佳的计数率和最高的峰背比，从而有极高的精度和很小的检出限。(5) 采用高分辨率的PIN半导体探测器，有效避免元素的相互干扰。(6) 采用高分辨率的CCD摄像头，样品平台可移动，从而保证测量目标位置的准确。(7) 由计算机进行显示、操作和数据处理，从而使操作简便，分析快速准确。(8) 仪器集成化程度高，可靠性好，维修方便。环境适应能力强，长期稳定性好。(9) 采用内标方法及具有自主知识产权的分谱技术，在无标准样品时亦可准确分析样品。(10) 样品室体积大，能测量大件物品。(11) 价格功能比低，适合我国国情。(12) 设计对屏蔽防护极好，无三废公害，射线防护安全可靠。

产品名称：CIT-3000SYB能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟ROHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高精度的分析测试设备。 适用范围 适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）和卤素检测； 型号：CIT-3000SYB 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用美国航天技术的Si (PIN)半导体探测器计数，配合专利的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV； 40KV-钨靶微型X射线管； 采用2048道多道分析器，分析精度更高； 一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机； 测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单； 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据。 技术指标 分析元素范围：Na-U 元素含量分析范围：1ppm -99.99% 探测器能量分辨率优于150eV 最低检出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm, Pb≤2ppm,Cl≤20PPm 校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据 测量范围：1－40KeV 高压：0kV-40kV 管流：0μA-100μA 专业的稳定电源：AC 220V±1%，50HZ（采用国内最先进的高品质稳压电源1000VA） 检测时间：120S～600S（时间随样品而调整） 圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm； 工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃ 工作环境相对湿度：≤99%（不结露） 额定功率：50W 仪器重量：25Kg 仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm 仪器配置 仪器主机一台 进口电制冷半导体探测器 X光管（0-40KV） 高压电源 品牌计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

在同档次中唯一得到广大水泥企业认可的，能同时测量Al、Si、S、Ca、Fe的X荧光多元素分析仪。获得全国首张辐射豁免函，是真正的绿色环保产品。概述DM2100型X荧光多元素分析仪是由本公司研制生产的一种达到国际先进水平的分析仪器。它采用X光管激发，使仪器能长期使用而不象同位素源激发受源衰减的影响。仪器虽属小型X射线荧光能谱分析仪，但由于采用了国内首创的分谱技术，使小型仪器也能准确测量相邻的轻元素（如水泥生料中的Al、Si），其测量准确度接近或达到进口大型仪器的水平，而价格只是进口大型仪器的十几分之一，特别适合我国国情。加之能克服化学分析的缺点，节约化学试剂，不污染环境，还可节约劳动力，一旦用上爱不释手。另外能真正实现生料的率值控制，提高水泥熟料的标号，其效益一年为数十万，一般小型水泥企业一年内即可收回投资。DM2100型X荧光多元素分析仪现已销售近千台，是国内销量最多的。目前国内生产多元素分析仪的企业不少，但真正能在水泥企业用上的只有DM2100型X荧光多元素分析仪。并且购买该仪器的用户没有一家不在使用、不产生效益的。DM2100型X荧光多元素分析仪现已获得实用新型专利和发明专利各一项，被认定为上海市高新技术成果转化项目，并已获上海市科技创新基金，获全国首张辐射豁免函。技术参数：1．分析元素或其氧化物种类: Al、Si、S、Ca、Fe或其氧化物。2．分析范围: "控制目标值±2.5%"的范围内，由所标定的曲线决定。3．系统分析时间: 300秒(活时间)。4．分析精度：S Al2O3≤0.07%，SSiO2≤0.07%，S SO3≤0.05%，SCaO≤0.09%，S Fe2O3≤0.05%。5．使用条件: 环境温度：5-40℃，相对湿度：≤85%(30℃)，供电电源：220±20V，50Hz。6．整机功耗: ≤50W。7．尺寸与重量: 长×宽×高:560×470×150mm 重量:23Kg。主要特点： (1) 多成份同时快速分析,一般几分钟给出SiO2 、Al2 O3 、CaO、Fe2 O3 百分含量结果。(2) 采用国内首创的分谱技术,能真正区分相邻元素,从而准确测量相邻轻元素等。(3) 采用X光管或长寿命同位素源激发,使仪器能长期使用,而不受源衰减的影响。(4) 仪器以大液晶屏显示,操作采用中文菜单方式,操作简便。打印机能打印测量数据。(5) 采用物理分析方法,分析中不接触、不破坏样品,无需化学试剂。(6) 仪器采用一体化设计,集成化程度高,可靠性好,维修方便。(7) 环境适应能力强,长期稳定性好。(8) 一体化的仪器分析系统,可独立使用,也可与配料系统联机使用。(9) 价格功能比低,适合我国国情。(10) 无三废公害,射线防护安全可靠。实用新型专利号：ZL200620040917.5发明专利号：200610025556.1高新技术成果转化项目编号：200607406

Horiba X射线荧光分析仪可快速地测定电子部件中的有害元素的含量。它能对电子电器产品中所含有的有害物质如铅、汞、铬、镉、溴等元素进行快速而准确的分析。另外，通过CCD摄像头可以非常清晰的观察样品表面，选取所需要的测试点，操作简单。 Horiba X射线荧光分析仪技术参数： ★ Pb/Hg/Cd/Br检出下限2ppm, Cr检出下限5ppm ★ 使用1.2mm/3mm X射线导管专利技术（XGT）实现微小区域的高灵敏度分析 ★ 采用大型试样室（460X360X150㎜） ★ 试样为塑料、金属、纸、涂料、油漆等，并实现无损检测 ★ 可使用CCD照相机（50倍）指定试样的位置 （业内首家。X射线?光学同轴照射） ★ 测定可一键实现简单操作 ★ 自动元素干扰修正、厚度补偿 ★ 数据输出到EXCEL并可依据管理值实现自动判定功能

分析原理 能量色散X射线荧光分析法 分析元素 Si～U(Cd/Pb高精度型)Na～U(φ1.2 mm/φ3 mm切换方式型) 检出下限(Cd/Pd) Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm 样品形状 最大460×360 mm(高150 mm) 样品室气氛 大气 X射线管 靶材 Rh 管电压 最大50 kV 管电流 最大1 mA X射线照射径 Φ3 mm(同时搭载：φ1.2mm ) 检测器 高纯硅检测器 XEROPHY 液氮罐容量 3升 液氮消耗量 每日1升以下(不开机时不用) 光学图像观察 倍率 50倍(X射线同轴) 软件 定性分析：自动定性或手动定性 定量分析：检量线法照射直径3mm时基础参数法 (1)标准法 (2)1点校正 用户设定功能 可以按照用户事先编好的条件，按照程序自动进行分析和定量分析 计算机 CPU Pentium IV 1.8 GHz 以上 内存 1GB 以上 硬盘 120 GB 以上 OS Windows XP 监视器 17寸 CRT(任选：17寸 LED) 打印机 彩色喷墨打印机 周围温度 10～35 ℃(性能温度)/ 5～40 ℃(动作温度) 周围湿度 5～31 ℃时温度范围：最大相対湿度80 %以下31～40 ℃时温度范围：相対湿度50 %以下 电源 AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz 消耗电力 1.3 kVA 以下(含计算机、CRT、打印机) 设备重量 约 265 kg(不含桌子、计算机) 外形尺寸 分析单元 610(W)×750(D)×500(H)mm 信号处理单元 220(W)×500(D)×480(H)mm

Vanta系列：坚固耐用、 改进创新、 高效多产 Vanta分析仪是我们为用户提供的手持式X射线荧光（XRF）设备，可以为那些要求在野外环境获得实验室分析水平的用户，进行快速元素分析和合金辨别。 Vanta手持式XRF分析仪是一款坚固耐用的设备。 Vanta分析仪坚固耐用的机身结构设计使其不会轻易受到损伤，因此可以工作更长的时间，并降低用户的拥有成本。 Vanta系列分析仪的界面浏览简单直观，而且用户可以对其软件自行配置，所以操作人员在接受了少量的培训后，就可以轻松地使用分析仪，用户也因此会获得分析量，并迅速获得投资回报。 Vanta分析仪使用其特有的创新型Axon技术，无论在何种环境中或工作条件下，都可以为用户提供的结果，并有助于生产率的提高。在极端恶劣的条件下具有超乎寻常的耐用性能。 卓越的分析性能。 可选的Wi-Fi和蓝牙功能，可使用户实时进行数据分享。 可以应用云技术。 简单直观的用户界面。坚固耐用 仪器损坏会耗费时间和金钱。 Vanta分析仪是一款坚固耐用的设备，可以正常运行更长的时间，而且其拥有成本不高。Vanta分析仪的机身坚固耐用，可以在最艰苦的工作环境中正常工作，这款分析仪具有以下特性：通过了美国国防部标准（MIL-STD-810G）中的防坠落测试， 在分析仪被撞落或挤落时，可以减少其受到损伤的危险，避免用户支付昂贵的修理费用。 Vanta设备还符合IP65评级标准，具有防尘和防水的特性，即使在挑战性的环境中，也可以免受各种危险因素的侵害。* 分析仪可以在-10 °C到50 °C的温度范围内连续正常工作，因此操作人员只需极短的时间等待分析仪冷却。** C系列和M系列型号分析仪配备有探测器遮光器，可避免分析仪受到穿孔损伤，因此用户可以对粗糙的表面进行分析，而丝毫不用担心分析仪会损坏。 改进创新 从第检测开始直到结束，Vanta分析仪每次都能为用户提供相同的准确结果。 Vanta系列分析仪所特有的Axon技术，使用超低噪声电子设备，在每秒钟之内可达到的X射线计数率，从而可以获得的结果。 由于Vanta分析仪将Axon技术与新款四核处理器结合在一起使用，因而这款分析仪具有非同寻常的响应能力，突破了同类设备操作性能的极限，可使用户在极短的时间内获得结果。 Axon技术可使不同Vanta仪器的各次检测都具有非同一般的高重复性能，因此无论用户使用的是哪台仪器，检测与其都会是相同的。 高效多产 Vanta分析仪可以提高用户的分析量，并使数据归档操作简单易行。 用于特定应用的各种软件功能可以提高用户的生产效率，从而使用户获得投资回报。简单直观的用户界面（UI）可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能。 用户可以自行决定主屏幕上显示的特性和功能。 通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单。 在任何光线条件下，触摸显示屏都具有清晰、明亮、可读的特性。 符合人体工程学要求的按钮以及工业级别的操控杆按钮，可使用户在戴着手套的情况下，也能轻松地浏览分析仪的用户界面。 嵌入式GPS功能可以将准确的GPS坐标与结果一起存储，以便建立文档并绘制元素位置的映射图。 可选5百万像素全景摄像头；将带有XRF数据的图像与GPS坐标综合在一起使用。 简洁的报告制作和归档操作，具有追溯数据到野外的性能。 可以应用云技术

聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X一、产品介绍 能量色散X荧光分析仪利用EDXRF技术，采用X光管产生X射线激发样品，先进的SDD探测器探测元素特征X射线，2048道数字化全谱分析，可以分析包括轻元素在内几十种元素，具有分析速度快、分析精度高、分析范围广、稳定性好、操作简单等特点。 在铜合金等金属制造行业中，材料、半成品、成品的质量保证与质量控制(QA/QC，该仪器是质量体系中材料确认、半成品检验、成品复检的常备仪器。生产者可以控制合金中的元素各成分含量，提高产品性能、减少次品和废品，提高经济效益。 二、主要用途主要用于铜合金、铝合金、锌合金、铸铁等原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值，炉前合金的快速分析和成品分析。三、性能特点☆.采用了美国新型的电致冷硅漂移SDD半导体探测器，具有高分辨率（125eV）和高探测效率 ☆.采用高真空度测样装置，消除了空气对低能X射线的阻挡，满足RoHS或合金检测时对轻元素的准确分析；☆.采用大功率的正高压X光管和高压发生器，提高了对轻重元素的检测下限，实现了对多种元素的同时快速检测分析；☆.自动开盖，无限平台的设计适应多种不同大小规格样品的检测，可以测量固体、 液体、粉末样品；☆.内置彩色CCD摄像头，使用户可以精确定位检测区域及时记录所测样品图像信息；☆.一体化的设计，使得仪器的性能稳定可靠、故障率低；☆.采用USB-CAN适配器与计算机进行通信，使用方便；☆.自动切换的滤片装置有效的降低了光管的散射本底，提高了仪器测量的峰谷比和分辨率，使得重元素和微量元素的测量更准确；☆.先进的全数字化多道谱仪让仪器测量时的数据采集和处理更加快速准确，极大的提高了仪器的稳定性和抗干扰的能力；☆.自带数据库管理系统的全中文测量软件让仪器的测量更加方便，操作更加简单；☆.多重安全的防护设计，使仪器的整机辐射符合国家辐射防护标准，让用户用的放心。 四、技术指标1.分析元素范围：Na-U铜合金：Cu、Ag、Sn、Ni、Fe、Si、Zn、S、Cd、Pb、Cr、Zr、Mg、Co、Mn、Sb、Al、As 、P、Se、Te等；铸铁：Ti、As、Si、P、Al、Cu、Sb、Nb、Ni、Mo、Mn、Cr、V、Mg等；不锈钢：Mn、Mo、Ni、Cu、Cr、P、S、Si、V、W、Ti、Pb、Alt、Co、Nb、Sn、As、Sb、Bi、Zn等；2.元素含量分析范围：0.07ppm～99.9%；3.探测器：电致冷硅漂移SDD半导体探测器（分辨率优于139eV） 4.测量范围：1～45KeV；6.高压：5kV～50kV；7.管流：5μA～1000μA；8.整机额定功率：50W；9.CDD摄像头分辨率：500万像素；10.真空泵额定功率：550W；11.10秒钟真空度可达10-2Pa （高真空区域10-1～10-5Pa） 12.检测时间：120s～300s（时间随样品不同可调整） 13.仪器重量：65Kg；14.仪器尺寸：720（W）X440（D）X435（H）mm 聚创 EDXRF技术金属元素X荧光分析仪JC-350X

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单