霍尔效应瓶壁测厚仪

霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400用于测量非磁性材料的厚度。- 测量厚度高达24mm- 是复杂形状的瓶子、铝罐、玻璃和塑胶工件的理想测量工具- 对于复合材料，在航空或汽车行业里的形状复杂的铝或者钛部件- 用户菜单控制界面- 上下文关联的在线帮助- 统计过程控制功能- 通过数字信号处理极其准确- 探头顶端使用耐磨硬质合金- 用于重复测量的高精度的钢珠- 高达每秒20个数据的记录速度- 探头集成数字信号处理- 高达5点的多点校正- 易于读值的大屏幕霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400是便携式的厚度测量工具，可准确测量厚达10mm的材料。便携而小巧的外形使其可在生产现场和实验室进行操作。MiniTest7200FH/7400FH可简单，无损，高精度的测量非磁性材料的厚度，无论它们的大小、形状和材质如何。它还是尖角，小半径和复杂形状工件理想的测量工具。霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400技术参数MiniTest FH7200MiniTest FH7400原理静磁原理数据存储100000240000低端分辨率0.1μm（FH4）/0.2μm(FH10，FH10-M)重复性优于±(1μm+0.5%读值)记录速率1，2，5，10，20个读值每秒(可选)校准模式原厂校准，零点校准，零点+多达4点校准测量单位公制(μm，mm)，英制(mils，inch)统计图表数字数字，趋势图，柱状图接口RS232 TTL + IrDA 1.0操作温度-10℃ ~ +60℃(保存温度-20℃ ~ +80℃)尺寸/重量153mm x 89mm x 32mm / 310g供电4 x AA(LR06)电池，或可选电源(90-240V / 48-62Hz) 霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400 探头参数：型号测量范围精度使用钢球尺寸标配数量FH40-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-6mm±(10μm+1%读值)4mm50颗FH4-M0-2mm±(3μm+1%读值)1.5mm100颗0-3.5mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-5mm±(20μm+2%读值)1.5mm(磁性钢球）25颗0-6mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-9mm±(40μm+2%读值)3.0mm(磁性钢球）20颗FH100-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗FH10-M0-4mm±(5μm+1%读值)2.5mm100颗0-7mm±(10μm+1%读值)4.0mm50颗0-10mm±(20μm+1%读值)6.0mm25颗0-13mm±(20μm+1%读值)9.0mm10颗0-16mm±(40μm+2%读值)4.0mm(磁性钢球）20颗0-24mm±(60μm+2%读值)6.0mm(磁性钢球）20颗霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400结构图： 霍尔效应壁厚测厚仪Minitest FH7200/FH7400配置：主机，探头，校准桶，钢球，合格证，软件，操作手册，4电池，螺丝刀，便携箱

1.中瑞祥霍尔效应测厚仪 瓶罐厚度仪型号:ZRX-18000 测厚仪是采用磁性测量原理：在被测的瓶罐内放入粒钢珠，当被测瓶罐内的钢珠靠近仪器上的测量头时，测量头上磁场的引力就把钢珠吸在瓶罐的内壁上。这时钢珠与测量头之间的距离就是被测的厚度，该厚度与该磁场的作用强度成反比关系，通过测量该磁场强度就测出了有关的厚度。仪器能沿圆周或轴向连续测量瓶子的壁厚或底厚。仪器采用彩色触摸屏液晶显示，字体清晰明亮，具有自动捕捉小值能及数据保存能。 霍尔效应测厚仪 瓶罐厚度仪 型号:ZRX-18000 主要术标： 1、 测量范围：0～8mm 2、 测量误差： = ±0.01mm。分辨率：0.001mm 3、 环境温度：0～40℃ 4、 率：15W 5、 电压：220V/50HZ 外形尺寸：长*宽*300*200*1702.便携式彩屏过氧化氢检测仪 气体检测仪 型号17921 ZRX-17921 产品特点 便携式彩屏过氧化氢检测仪配备电化学传感器，是款专注于检测空气中过氧化氢气体的便携式检测报警设备。它具有清晰的液晶显示屏及声、光、震动报警提示等能，可保证在恶劣的作环境下检测出过氧化氢的含量，并及时提示操作人员行预防。ZRX-17921 产品特点 采用外口传感器，检测灵敏度小巧、轻便、坚固，三防包胶外壳，人体学设计分辨率彩屏，数值实时显示中文菜单，操作简单方便26条大容量数据存储空间,专业数据分析处理电脑软件。开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警能行自检出众的声、光报警提示能可带数据存储（选配）： 1、大容量可存储数据空间，可存储26条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、专业的可视化数据分析上位软件维护费用低 术参数 Ø检测气体：过氧化氢Ø量 程：0-200PPMØ基本误差：＜±3%（F.S）Ø小读数：1PPMØ响应时间：≤30秒Ø传感器寿命：24个月Ø传感器类型：电化学Ø显示方式：彩色液晶屏显示Ø报警方式：声、光、震动报警Ø防标志：Ex ibdIICT3Ø检测方式：扩散式Ø电池：3.7V锂离子充电电池Ø直接读数：实时值、报警状态、电池电压Ø作温度：10~55°CØ作湿度：5~90%RHØ尺寸：55mm×25mm×15mmØ重量：200g （净重） 3.动作稳定器 手臂稳定能力仪 动作能检测仪 动作稳定性测定仪 型号 BD-II-304 动作稳定性是动作能的个重要标。本仪器是为测验保持手臂稳定 能力之用，也可以间接测定情绪的稳定程度。 主要术标： 1. 九洞：直径分别为：12，8，6，5，4.5，4，3.5，3，2.5mm。 2. 曲线槽：中央宽处宽度为 10mm, 边缘宽度为 2.2mm。 3. 楔形槽：宽度为 10mm, 宽度为 1.6mm。 4. 测试面：45°倾斜。 5. 个带缘棒的金属测试针，测试针直径为 1.5mm。 6. 测试针碰边蜂鸣器报警，与中隔板接触发光管亮。 7. 内置记时计数器，记录碰边次数与测试时间。 （1）记录碰边次数：999 次； （2）记录时间：0.001～9999 秒，4 位有效数字显示； 8. 电源适配器：直流+5V，1A； 9. 仪器尺寸：235×180×120mm 4.麦氏浊度仪 细菌比浊仪 便携式浊度计 细菌浊度检测仪 型号：ZRX-17923 1.用途概述:Summary of functionsZRX-17923 型麦氏细菌浊度仪是种通过检测悬浮液中的微生物散射光来反映微生物数量的仪器。它主要应用于药敏评价、微生物发酵和微生物检测域的细菌浊度检测。2.术标:Specifications型号Model ZRX-17923 型细菌浊度计示值Minimum readout（MCF） 0.001 MCF测量范围Measuring range（MCF） 0～6 MCF（麦氏浊度单位）量程: （0-1；1-6 ） MCF线性误差（准确度）Basic error F.S ≤2.0％F.S重复性Repeatability ≤1.0%特点 Characteristics 便携式，内置锂电池、经济型、稳定性好 外型尺寸External dimension 172×100×48 mm试样管尺寸要求 试管规格：直径16 mm、度50～100mm (其他尺寸试管可定制)样品量 不少于3mL 5.透皮扩散仪 药物透皮扩散仪 透皮吸收试验仪 型号：ZRX-17924 ZRX-17924 智能透皮扩散仪是我公司借鉴外透皮扩散实验装置推出的产品。该仪器能客观的将药物制剂通过动物活体皮肤在规定的溶剂中渗透的速度和程度反应出来，以科学的方法筛选具有透皮吸收条件的有效药物，是药物透皮释放度的标准检测方法之。 ZRX-17924 智能透皮扩散仪采用微电脑测控，数字化电路，度温度传感器及水浴恒温系统。操作简便，性能可靠，数据确。术标符合家药行业相关标准。是药厂、学校、科研单位及化妆品行业检验透皮释度的仪器。 术参数 （1）透皮杯数： 6 （2）接受池容积： 5ml(卧式)/10ml（立式）/15ml(立式) 三选，出厂标配15ml立式 （3）控温范围： 30—40℃ （4）控温度： ±0.1℃ （5）搅拌调速范围： 100—800r/min （6）转速度： ± 5% （7）电源及率： 220V± 10% 50HZ 360W2.便携式彩屏过氧化氢检测仪 气体检测仪 型号17921 ZRX-17921 产品特点 便携式彩屏过氧化氢检测仪配备电化学传感器，是款专注于检测空气中过氧化氢气体的便携式检测报警设备。它具有清晰的液晶显示屏及声、光、震动报警提示等能，可保证在恶劣的作环境下检测出过氧化氢的含量，并及时提示操作人员行预防。ZRX-17921 产品特点 采用外口传感器，检测灵敏度小巧、轻便、坚固，三防包胶外壳，人体学设计分辨率彩屏，数值实时显示中文菜单，操作简单方便26条大容量数据存储空间,专业数据分析处理电脑软件。开机时可以对显示、电池、传感器、声光报警能行自检出众的声、光报警提示能可带数据存储（选配）： 1、大容量可存储数据空间，可存储26条数据 2、方便的连续、分段存储切换操作 3、专业的可视化数据分析上位软件维护费用低 术参数 Ø检测气体：过氧化氢Ø量 程：0-200PPMØ基本误差：＜±3%（F.S）Ø小读数：1PPMØ响应时间：≤30秒Ø传感器寿命：24个月Ø传感器类型：电化学Ø显示方式：彩色液晶屏显示Ø报警方式：声、光、震动报警Ø防标志：Ex ibdIICT3Ø检测方式：扩散式Ø电池：3.7V锂离子充电电池Ø直接读数：实时值、报警状态、电池电压Ø作温度：10~55°CØ作湿度：5~90%RHØ尺寸：55mm×25mm×15mmØ重量：200g （净重） 3.动作稳定器 手臂稳定能力仪 动作能检测仪 动作稳定性测定仪 型号 BD-II-304 动作稳定性是动作能的个重要标。本仪器是为测验保持手臂稳定 能力之用，也可以间接测定情绪的稳定程度。 主要术标： 1. 九洞：直径分别为：12，8，6，5，4.5，4，3.5，3，2.5mm。 2. 曲线槽：中央宽处宽度为 10mm, 边缘宽度为 2.2mm。 3. 楔形槽：宽度为 10mm, 宽度为 1.6mm。 4. 测试面：45°倾斜。 5. 个带缘棒的金属测试针，测试针直径为 1.5mm。 6. 测试针碰边蜂鸣器报警，与中隔板接触发光管亮。 7. 内置记时计数器，记录碰边次数与测试时间。 （1）记录碰边次数：999 次； （2）记录时间：0.001～9999 秒，4 位有效数字显示； 8. 电源适配器：直流+5V，1A； 9. 仪器尺寸：235×180×120mm 4.麦氏浊度仪 细菌比浊仪 便携式浊度计 细菌浊度检测仪 型号：ZRX-17923 1.用途概述:Summary of functionsZRX-17923 型麦氏细菌浊度仪是种通过检测悬浮液中的微生物散射光来反映微生物数量的仪器。它主要应用于药敏评价、微生物发酵和微生物检测域的细菌浊度检测。2.术标:Specifications型号Model ZRX-17923 型细菌浊度计示值Minimum readout（MCF） 0.001 MCF测量范围Measuring range（MCF） 0～6 MCF（麦氏浊度单位）量程: （0-1；1-6 ） MCF线性误差（准确度）Basic error F.S ≤2.0％F.S重复性Repeatability ≤1.0%特点 Characteristics 便携式，内置锂电池、经济型、稳定性好 外型尺寸External dimension 172×100×48 mm试样管尺寸要求 试管规格：直径16 mm、度50～100mm (其他尺寸试管可定制)样品量 不少于3mL 5.透皮扩散仪 药物透皮扩散仪 透皮吸收试验仪 型号：ZRX-17924 ZRX-17924 智能透皮扩散仪是我公司借鉴外透皮扩散实验装置推出的产品。该仪器能客观的将药物制剂通过动物活体皮肤在规定的溶剂中渗透的速度和程度反应出来，以科学的方法筛选具有透皮吸收条件的有效药物，是药物透皮释放度的标准检测方法之。 ZRX-17924 智能透皮扩散仪采用微电脑测控，数字化电路，度温度传感器及水浴恒温系统。操作简便，性能可靠，数据确。术标符合家药行业相关标准。是药厂、学校、科研单位及化妆品行业检验透皮释度的仪器。 术参数 （1）透皮杯数： 6 （2）接受池容积： 5ml(卧式)/10ml（立式）/15ml(立式) 三选，出厂标配15ml立式 （3）控温范围： 30—40℃ （4）控温度： ±0.1℃ （5）搅拌调速范围： 100—800r/min （6）转速度： ± 5% （7）电源及率： 220V± 10% 50HZ 360W 6.测厚仪 薄膜测厚仪 度测厚仪 型号：ZRX-29982 适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度确测量 接触式测量原理 口测厚传感器，度重现性好 触摸屏操作 ，操作均在个平面内成，无须入退出操作 TFT真彩色液晶显示试验数据、结果 嵌入式系统，远程维护、升级 手动、循环、预约定时多种测量模式可选 测试过程自动成 内嵌大值、小值、平均值、标准差等数据统计分析能 本机内置历史数据查询能 配置微型打印机，可自动打印单次、统计报告 可采用标准厚度计量具标定、检验 多种测试量程可选 配置标准通信接口，可支持专业计算机作站软件 可支持DSM实验室数据管理系统，实现数据统管理（选购） 测量范围：0～2mm（标准） 0～10mm （可选） 分 辨 率：0.1μm 测量速度：1~25次/min（可调） 测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张） 接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张） 注：薄膜、纸张选种；非标可定制 电 源：AC 220V 50Hz 外形尺寸：330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H) 净 重：38kg 7.硬质泡沫吸水率测定仪 电子静水力学天平 型号：ZRX-29983 ZRX-29983术参数： 电子静水力学天平是专门为土方程设计的电子天平，外形新颖美观， 配有水缸、盘托，装有向轮，操作方便。 具有密电子天平的术性能 ZRX-29983特点：用于固体样品密度、体积的测量。加上人性化设计、结构新颖、操作方便， 由电子天平与静水力学装置组合而 成，密电子天平的性能，使其拥有较的 性价比。提了称量的安性，满足室内与野外不同场合的需要。 ZRX-29983能：具有自动校准、去皮、零位跟踪、单位转换、计件、百 分比等能。 交直电流两用、输出接口。 ZRX-29983术参数 称量范围(g) 5000 读数 0.1g输出接口：RS232C净重：6.82kg外型尺寸：310*330*390mm交直流两用 8.制冷压缩机性能实验台 型号：ZRX-29984 、ZRX-29984 实验目的 1.熟悉蒸汽压缩式制冷循环系统的基本结构和作原理2.了解际标准GB/T5773—2004容积式制冷压缩机性能使用方法3.利用蒸发器液体载冷剂循环法（主测法）求制冷压缩机制冷量4.利用水冷冷凝器热平衡法（辅测法）求制冷压缩机制冷量5.主、辅测制冷量相对误差的计算与分析6.制冷机组能效比的计算与分析 二、ZRX-29984 产品特点 1、实验台为立式,整体组装,带脚轮,易移动,带水箱,用户接上电源即可使用。2、实验台采用匹封闭制冷压缩机,质为F22（R11）(充灌量为2Kg),实验台主试验为蒸发器液体载冷剂循环法,辅助试验为水冷冷凝器热平衡法,其制冷循环系统和水循环系统。实验台蒸发器和冷凝器均为水换热器。 三、ZRX-29984 术参数 电压等级 AC220V额定率 3KW制冷量 632Kcal/n 循环水量 流量18L/min，扬程15m 转子流量计流量范围16～100L/h，度2.5级；封闭制冷压缩机：质R22，制冷量632Kcal/h 9.数字声波声强测量仪 型号：ZRX-29985 声强测量量程(W/cm2) 00-125声强显示分辨率(W/cm2) 00.01频率测量范围 1 10KHz-200KHz频率显示分辨率 00.01KHz操作环境温度 0 0℃-75℃待机耗 110-5W显示方式 33.2寸TFT(320*240)供电方式 两两节3.7V可充电锂电池操作方式 按薄膜按键外形尺寸(mm) 216*100*34重量(g) 365 10石油产品倾点测定仪 型号：ZRX-29986 用途及适用范围 本仪器是按照中华人民共和标准GB/T3535《石油倾点测定法》要求设计制的，适用于按上述标准规定的方法测定石油产品的倾点。 主要术规格及参数1、作电源： AC220V±10%；50Hz。2、控温类型： 室温～-40℃，或 室温～-70℃ 3、控温度： ±0.5℃ 3、制冷系统： 新型致冷压缩机。4、机 型： 槽两孔； 5、相对湿度： ≤85%。6、耗： 不大于1000W。

MBT-300测厚仪CanNeed-MBT-300是一款接触式测量方法，利用霍尔效应原理对非铁性材料进行可靠且高重复性的厚度测量的便携式测厚仪。仪器的操作非常简单。测量时，在被测材料的一侧按住或移动磁探头，在材料的另一侧放上或在容器里放入一个小目标钢珠。探头的霍尔效应传感器测量探头端部到目标钢珠的距离。测出的距离即刻被作为厚度读数以容易辨读的数字形式显示在屏幕上。该设备满足多项国家和国际标准。广泛应用于航天技术制造业、塑料包装业、汽车产业、玻璃制品包装业、管道测量等范畴。新特征：l 更加坚固耐用的探头l 新增5.00mm磁珠和7.00mm磁珠l 更大的测量范围，可测厚度达25.4毫米l 更大的彩色屏幕，更大的显示字体l RS-232输出l 显示实时厚度值，并自动捕捉厚度最大值、最小值、和平均值。l 快速，达到每秒16次l 准确率可达±1%l 内部数据记录储存达到95000个厚度读数l 保存校准文件并调用所保存的校准文件l 新型机身设计l 新的扩展校准包，可测厚度达25.4毫米l 带有统计数据的带状图视图技术参数 钢珠直径 厚度范围(标准探头) 精度 （基本校准） 精度 （多点校准）1/16”(1.59mm) .0004-.0900”(0.100-2.590mm)±4%±3%1/8”(3.18mm).0004-.1800”(0.100-4.570mm) ±4%±2% 3/16”(4.76mm) .0004-.2500”(0.100-6.350mm) ±3%±1%5.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-19.00mm)±3%±1%7.00mm磁珠.0004-.7500”(4.00-25.4mm)±3%±1% 准确率取决于厚度范围，详细规格说明参阅操作手册扫描速率： 高达每秒16次测量最小值、最大值模式： 快速搜索并显示厚度最小值、最大值分辨率：0.01 mm 或0.001mm（0.001或0.0001英寸） 显示：液晶显示屏，可同时显示实时读数、最小值、最大值、平均值读数、报警状态和数据文件信息 数据记录器：可存储、调用、清除和传输95000个带有数字识别码的厚度读数和文件 数据输出： 带RS-232接口，现场报告：最小值、最大值、平均值、SD 校准：两点标准校准，可达5个参考点的多点校准 差值模式：显示实际厚度和预设参考厚度之差 报警模式：可编程的可发声和可见指示的高、低报警设置点 电源：100/120/220/240 VAC,48-62 Hz 电池：可充电镍镉电池，根据背景灯使用情况可使用8-16小时，充电时间2小时 公制/英制单位：可选英寸或毫米语言： 英语/中文操作温度： 0 - +50℃尺寸： 300×190×50mm重量： 4公斤 标准配置： l 标准探头l 探头支架l 探头连接线l 用户手册l 镍制可充电池l 外部电源与充电器l 钢珠及校准套件, 包括钢珠(1/16英寸，1/8英寸，3/16英寸直径)， 校准快：0.010英寸/0.25毫米, 0.04英寸/1毫米, 0.160英寸/4毫米(测量超过0.160英寸/4毫米,可选附件)

Magna-Mike 8600 Magna-Mike 8600是一款利用简单的磁法对非铁性材料进行可靠且重复性极高的厚度测量的便携式测厚仪。Magna-Mike仪器的操作十分简单。测量时，在被测材料的一侧按住或移动磁探头，在材料的另一侧放上或在容器里放入一个小目标钢珠（或目标圆盘、目标钢线）。探头的霍尔效应传感器测量探头端部到目标钢珠的距离。测出的距离即刻被作为厚度读数以彩色大字体形式显示在屏幕上。 新添特性 l 两种坚固耐用的新型探头设计：--平直型和直角型l 可更换防磨帽--标准型、凿尖型及加强型防磨帽l 更多的目标选择--3/16和1/4英寸的目标磁珠--目标钢线l 更大的厚度测量范围，可达25.4毫米l 更大的彩色VGA显示l RS-232、USB和VGA输出l 快速测量更新率：60 Hzl 可编辑的密码式仪器锁定方式l 设计符合IP67标准l 容量扩充了的字母数字式数据记录器l 保存校准文件，并可调用所存储的校准文件l 新型台式机身结构，带有改进的仪器支架l 可将文件以.txt和CSV格式导出到MicroSD卡中l 新附件盒（校准盒）--标准试块，厚度可达9.1毫米--扩展的范围，可达25.4毫米--目标圆盘盒--目标钢线盒l 带状图视图 带有统计数据的带状图视图两种新型探头设计，带有可替换防磨帽 Magna-Mike提供平直型和直角型两种磁探头。这两种探头都配有可替换防磨帽，从而加强了探头的耐久性，降低了更换探头的费用。 可拆卸标准防磨86PR1-WC 可拆卸加强型防磨帽86PR1-EWC 可拆卸凿尖型防磨帽86PR1-CWC 测量的厚度范围在0.001毫米到25.4毫米之间 Magna-Mike为用户提供了更多的目标选项（6个不同的目标钢珠、2个目标圆盘以及1个目标钢线），以加强仪器的测量性能。 目标最小厚度最大厚度带有标准防磨帽时的精度基本校准多点校准1/16英寸（1.58毫米）钢珠（80TB1）0.0001英寸（0.001毫米）0.080英寸（2.03毫米）4%3%1/8英寸（3.17毫米）钢珠（80TB2）0.0001英寸（0.001毫米）0.240英寸（6.1毫米）4%2%3/16英寸（4.76毫米）钢珠（80TB3）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%1%1/4英寸（6.35毫米）钢珠（80TB4）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%1%新添3/16英寸（4.76毫米）磁珠（86TBM3）0.160英寸（4.06毫米）0.750英寸（19.05毫米）3%1%新添1/4英寸（6.35毫米）磁珠（86TBM4）0.160英寸（4.06毫米）1.00英寸（25.4毫米）3%1%0.500英寸（12.7毫米）平沿圆盘（80TD1）0.0001英寸（0.001毫米）0.360英寸（9.1毫米）3%2%0.250英寸（6.35毫米）V型沿圆盘（80TD2）0.0001英寸（0.001毫米）0.240英寸（6.0毫米）3%2%新添直径为0.045英寸（1.14毫米）的钢线（86TW1）0.160英寸（4.06毫米）0.500英寸（12.7毫米）3%2% 注释：测量误差 = ± [（精度× 厚度） + 0.0001英寸]测量误差 = ± [（精度× 厚度） + 0.003毫米]内置字母数字式数据记录器 Magna-Mike装有一个基于文件的扩展型字母数字式数据记录器，用于方便地存储和传输厚度读数。 数据记录器可以下述4种标准文件格式存储厚度读数：增量型、序列型、带自定义点的序列型，及两维栅格型。 l 可使用WINXL直接将数据以单独发送形式或文件发送形式传送到Excel电子数据表中l 将数据发送到其它SPC程序中l USB和RS-232两个输出l 将文件以.txt格式或CSV格式导出到可插拔MicroSD卡中l 创建机载报告直接与Excel电子数据表连接 Magna-Mike 8600带有RS-232和USB输出，可使仪器将数据直接传送到Excel电子数据表中。内置WINXL接口程序可以单独发送形式或文件发送形式传送厚度读数。 WINXL接口程序

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾EMT7065霍尔效应仪 霍尔效应仪可以测量Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。EMT7065霍尔效应仪运用先进的Keithley电子仪表，和我们在极端的条件下能够很好的整合一整套系统，我们的霍尔效应仪温度范围可以达到4K-1000K，磁场可以升级到9T。可以结合许多极端环境平台： 从4K到1000K温度不改变样品架制冷机温度可达到1000K宽泛的测量范围无需跟换腔体进行操作坚固设计并安装在冷却器的上端，换样品时不会接触到。许多标准的安装配置可用-可定制适合你的冷端或者样品架安装配置可以使用许多不同的封闭式和开放式循环制冷机提供高温系统以及温度控制器

仪器简介：该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 VDP6800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。 目前广泛应有于大学，研究所和半导体厂商。技术参数：磁场强度：0.65T/1T 常温和液氮温度(77K)下测量 输出电流：2nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-6 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品夹具： VDP6800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm 仪器重量：6kg主要特点：1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。7、可与四点探针公用系统

美国BELL(贝尔) 5270/5280霍尔效应便携式高斯计采用了数字信号处理技术，其动态探头校正允许测量0至30 kg，基本精度为1%，是BELL 5170/5180的替代型号。新升级的BELL 5270/5280高斯计也由原有的按键设计改为触摸屏设计。美国BELL(贝尔) 5270/5280霍尔效应便携式高斯计产品简介：5200系列霍尔效应便携式高斯计代表了磁性测量设备的新设计。该设计采用了数字信号处理技术。F.W.Bell的动态探头校正允许测量0至30 kg，基本精度为1%。主要功能包括自动调零，*小/*大/峰值保持，自动范围和相对模式。两种型号都允许用户选择高斯、特斯拉或安培/ 米读数。5280和5270均具有校正模拟输出(±3V FS)和USB通信端口。5200系列手持式高斯计的内置软件消除了复杂的校准程序。定制格式LCD上的用户提示允许快速、简单的按钮和触摸操作。*有型号都配有可拆卸的横向探头、零高斯室、说明书、硬质手提箱和锂离子充电电池。可选择轴向、超薄横向和低场探头。探测器选项：52705280STH17-0404，4横向STD18-0404，4横向STH17-0402，2横向STD18-0402，2横向SAH17-1904，4轴SAD18-1904，4轴SAH17-1902，2轴向SAD18-1902，2轴HTH17-0604，4横向HTD18-0604，4横向STB1X-0201，超薄，横向MOS51-3204，低磁场应用程序：敏感的实验室环境坚固的工业环境磁场强度验证磁性部件/电机的测量北/南及性漏磁检测美国BELL(贝尔) 5270/5280霍尔效应便携式高斯计主要功能和优势：4.3液晶触摸屏声音/亮度/黑暗模式控制使用锂离子充电电池可使用10至14小时充电时间通常为2小时USB-C 2.0远程PC控制选项512 kbit内部存储器(5280)范围内的音频/视频警报(5280)符合CE标准美国BELL(贝尔) 5270/5280霍尔效应便携式高斯计技术参数：型号52705280基本直流精度2%1.1%频率带宽DC-20千赫DC-25千赫更新率:显示模拟每秒10次更新。100K样 本/秒。每秒10次更新。100K样 本/秒。范围:超低范围低范围中档高*1G200G2公斤20公斤1G300G3公斤30公斤分辨率:超低范围低范围中档高*1毫克0.1G 1G 10G1毫克0.1G 1G 10G读数高斯、特斯拉、安培/米高斯、特斯拉、安培/米工作温度0摄氏度至50摄氏度储存温度-25℃至70℃仪表重量0.98磅（443克）尺寸8.00英寸X 3.85英寸X 1.87英寸（20.32厘米X 9.78厘米X 4.75厘米）合规EN IEC 61326-1:2021跌落试验符合IEC 61010-1:2010标准的1米跌落

霍尔效应测试系统 HET 是依据范德堡法测量材料的电运输性能参数:载流子浓度迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括 Si、ZnO、SiGe、Sic，GaAs，InGaAs，InP，GaN(N型&P型均可测量)，广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。产品特点-采用高精密度恒流源和电压表，确保仪器测试的良好准确度和高稳定性，性能优越 -自动控制磁场方向的改变，更加便捷准确 -样品装夹快速方便，且使用能够解决欧姆接触的样品芯片 -产品采用一体化、精密化设计，融入人性化的设计理念，不仅测量精确而且操作方便 -用户界面操作简单，功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验，使测试过程更加方便快捷应用功能-载流子类型鉴定:通过测量霍尔系数，可以确定电流携带者的类型，是正电荷的空穴还是负电荷的电子，从而获得半导体或导体的电子结构和能带特性 -载流子浓度测量:霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度 -迁移率评估:霍尔系数还可以用来计算载流子的迁移率，即电荷载流子在材料中移动的能力，从而对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究 -材料电性能评估:通过了解材料的电子结构、载流子类型、浓度和迁移率等信息，可以更全面地评估材料的电性能，为电子器件和电路设计提供重要参考

Lake Shore 8400系列霍尔效应测量系统结合了先进的交流和直流磁场霍尔效应测量方法，应用领域十分广泛。交流磁场测量选件非常适合测量传统直流场霍尔方法难以测量的新兴材料（迁移率低于1 cm2/Vs，包括半导体和电子材料，如光伏（太阳能电池）和热电材料、新的显示材料和有机电子材料等。8400系列霍尔效应测量系统提供了一个强大的测试平台，可以根据用户具体需求进行配置，包括变温选件、高电阻和低电阻选件以及光学通道等，极大程度上满足用户的测量需求，并大大简化实验过程。主要特征 ☛ 标准直流磁场测试迁移率范围：1 ~ 106 cm2/Vs☛ 可选交流磁场选件测试迁移率低至0.001 cm2/Vs☛ 可选变温范围15 K ~ 1273 K☛ 磁场最达2.2 T☛ 标准电阻范围：0.5 mΩ~10 mΩ，可选200 GΩ☛ 低阻选件电阻低至~0.5 μΩ可测量参数直接测量参数间接测量参数♢ 直流/交流磁场♢ 霍尔系数♢ 霍尔电压♢ 霍尔迁移率♢ 电阻率♢ 磁阻♢ 欧姆检查♢ 载流子类型♢ 四线法电阻♢ 载流子浓度♢ I-V曲线设备参数84048407DCACDCAC测量参数迁移率1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 ~ 1 × 106 cm2/Vs1 × 10-3 ~ 1 × 106 cm2/Vs载流子浓度8 × 102 ~ 8 × 1023 cm-38 × 102 ~ 8 × 1023 cm-3电阻率1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm1 × 10-5 ~ 1 × 105 Ω cm电学测试参数*标准电阻测试范围读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS读数的±0.5% ± 量程的0.5% :范德堡/Hall Bar方法 0.5 mΩ ~ 10 MΩ 读数的±0.075% ± 量程的0.05% : 最大阻值 5 MΩ 范德堡/Hall Bar方法：0.5 mΩ to 10 MΩ 样品电阻小于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS ；样品电阻大于100 Ω 时，噪声基300 nV RMS高阻选件配置读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS读数的±0.25% :范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ ~50 GΩ 读数的±1.5% :最大阻值100 GΩ 读数的±5% :最大阻值200 GΩ 范德堡/Hall Bar方法：10 kΩ to 8 GΩ 样品电阻大于10 MΩ 时，噪声基＜1250 nV RMS低阻选件配置电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电阻0.1Ω , 低电阻模式的本底电压噪声为5 nV；标准电阻模式的本底电压噪声为150 nV；本底噪声与测量中使用的电流无关NA电流±1 pA ~ ±100 mA±1 pA ~ ±100 mA恒流输出电压100 V100 V环境（磁场和温度）室温下磁场大小**(25 mm [1 in] 极头间隙)1.67 T使用标准50 mm直径极头1.35 T选用100 mm直径极头1.18 T使用标准50 mm直径极头0.95 T选用100 mm直径极头2.08 T 使用标准100 mm直径极头2.23 T 选用 50 mm直径极头1.19 T使用标准100 mm直径极头1.30 T选用 50 mm直径极头变温下磁场大小**(50 mm [2 in] 极头间隙)0.89 T使用标准50 mm直径极头0.88 T选用100 mm直径极头0.63 T使用标准50 mm直径极头0.62 T选用100 mm直径极头1.44 T使用标准100 mm直径极头 0.68 T使用标准100 mm直径极头运行交流磁场频率NA0.05 和 0.1 HzNA0.05 和 0.1 Hz样品尺寸标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm标准 10 mm × 10 mm × 3 mm可选 50 mm直径 × 3 mm系统标配温度 室温室温单点液氮模块温度77 K77 K闭循环恒温器模块温度标准闭循环恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 400 K 光学型闭循环低温恒温器：10 K (直流磁场)/15 K (交流磁场) ~ 350 K高温炉模块温度室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 室温~1,273 K 773 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 MΩ 1,273 K时读数的±1% : 最大测试电阻1 kΩ 磁体极柱直径4 英寸7 英寸极头直径标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)标准：50 mm (2 英寸)可选：100 mm (4 英寸)极头间隙（室温工作时）25 mm (1 英寸)25 mm (1 英寸)极头间隙（变温工作时）50 mm (2 英寸)50 mm (2 英寸)磁场均匀性25 mm 极头间隙, 50 mm 直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm极头间隙, 100 mm直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm325 mm极头间隙, 50 mm直径极头: ±0.35% over 1 cm325 mm 极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.05% over 1 cm350 mm极头间隙, 100 mm 直径极头: ±0.15% over 1 cm3冷却（电磁铁和电源）标准7.6 L/min , 闭循环制冷机选件10.3 L/min标准19 L/min , 闭循环制冷机选件 23 L/min三相双极性电磁铁电源最大输出±35 V ±70 A (2.5 kW)±75 V ±135 A (9.1 kW)其他附件冷却水总功耗标准4.25 kW 加闭循环制冷机时7.45 kW标准13.4 kW 加闭循环制冷机时16.6 kW

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K和300K3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm 3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：1 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic or manual current selection自动或手动模式(电流控制磁场模式)4-2Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-3Routine and enhanced software常规和增强软件4-4Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-5Electromagnet电磁体4-6Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-7Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-8Automatic field calibration自动现场标定4-9Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-10Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-11Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-12Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)4-13Van der Pauw and bar shape (bridge-type) Hall samples支持范德堡和霍尔巴法测试霍尔5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module, the magnet power supply and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、磁场电源、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件界面

MMR Hall Effect Measurement System controlled continuously variable temperature MMR可控连续变温霍尔效应测试系统1. 功能描述： 测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数2. 测试范围： Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、 迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。3. 磁场强度： 0.5T 电磁场，磁场强度可以定制选择4. 温度区域: 70K ~730K； 80K ~580K； 80K ~730K； 300K ~730K5. 电阻率范围：10-6~1013 Ohm*cm6. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms7. 载流子浓度：102~1022cm-38. 迁移率: 10-2~109 cm2/volt*sec 仪器优点：1. 采用van der Pauw法测试 2. 最大可测25mmX25mm样品，提供两种样品装载方式：弹簧探针、引线治具，以及两个杜瓦瓶：全封闭和带玻璃窗口各一 个 3. 配备电脑和相应的控制软件，测试过程以及设备内各个单元均由软件控制,永磁体需要手动翻转样品，电磁场测试过程全自 动。测试数据能够方便的储存和导出 4. 模块化设计，可升级到温度范围更广、磁场更大的系统，也可升级成塞贝克测量系统 5. 测试过程中，由于致冷或加热所引起的样品振动幅度在um量级或更优 6. 在同一个样品室下进行变温霍尔效应的测试，最大变温范围70K~730K。避免更换样品室给测试带来的不方便性和不连贯 性，其他品牌低温和高温需要在高温和低温两个样品室下测试7.允许在一定气体环境下测试8.提供石英透明窗口，可以测试光激发下电阻率

美国MMR公司，与斯坦福大学合作开发了专利的致冷器，其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K)，并将其应用在以下测量系统，提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计，客户可根据实际要求配置系统，也方便日后升级。其主要客户有Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD，中科院等。霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。主要参数：1. 样品固定方式：弹簧探针或引线治具2. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）3. 磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）4. 温度稳定度：=0.1K5. 温度响应：1K/sec 6. 致冷片：10X14 mm7. 电阻率：10-4~1013 Ohm*cm8. 载流子迁移率：1~107 cm2/volt*sec9. 载流子浓度：103~1019cm-310. 电流范围：1 pA~100mA11. 电压范围：+/-2.4V，最小可测到6X10-6 V12. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G OhmsTel: 86 21 62083715

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.45T 永磁体3-2-2磁场类型：永磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K(液氮温度)或室温3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：2.5 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-2Routine and enhanced software常规和增强软件4-3Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-4Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-5Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-6Automatic field calibration自动现场标定4-7Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-8Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-9Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-10Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件

霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

HL9900 霍尔效应测试仪应用程序通过霍尔效应测量，可以确定以下特性:电阻率/电导率流动性散装/单张载体浓度掺杂类型霍尔系数磁阻垂直/水平阻力比特性Van der Pauw, Hall Bar和Bridge测量符合ASTM F-76标准简单的探针系统，方便，快速的样品吞吐量紧凑的工作台设计宽电流范围，包括自动电流装置，以尽量减少样品加热用户自定义电场限制，以避免低温下的冲击电离效应可选的高阻抗缓冲放大器/电流源扩展片电阻率测量到1011 Ω/平方HL9950 -可变温度单元Van der Pauw, Hall Bar和Bridge测量符合ASTM F-76标准简单的探针系统，方便，快速的样品吞吐量紧凑的工作台设计宽电流范围，包括自动电流装置，以尽量减少样品加热用户自定义电场限制，以避免低温下的冲击电离效应可选的高阻抗缓冲放大器/电流源扩展片电阻率测量到1011 Ω/平方

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点：1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一][HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)]产品规格：1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)；测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户：HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所...

Ecopia为全球霍尔效应测试仪的领导者。针对半导体材料的霍尔效应测试，Ecopia有多个系列、型号的产品推荐给不同要求的霍尔效应仪客户。 HMS-3300 / HMS-3500高温霍尔效应测试仪使用HMS-3000霍尔主机。HMS-3300 / HMS-3500高温霍尔效应仪的变温磁体包使用5500高斯的永磁体组，高温样品板通过温控仪手动控温，温度范围：常温 ~ 300摄氏度 (或500摄氏度)，磁体换向通过磁体组的手动平移实现。 总的来说，HMS-3300 / HMS-3500是一款手动调温的高性价比成熟霍尔效应测试仪。

HMS-7000 光电霍尔效应测试仪相比于传统的变温霍尔效应测试仪，变温光模霍尔效应测试仪可以通过改变照射在样品上的不同波长范围的光源（红、绿、蓝光源），得出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数等半导体电学重要参数随光源强度变化的曲线。 光学模块 通过HMS-7000主机及霍尔效应测试仪软件控制光源及马达自动完成测试，并绘制出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数随光源强度变化的曲线如下：

产品介绍Hall effect Measurement System 霍尔效应测量系统一、产品简介:Hall Effect Measurement System offers an innovative solution on Van der Pauw and Hall Bar measurements. Its unique design allows users to measure the samples between 80K to 500K with ultimate resolution and accuracy. All magnet moves and temperature changes can be done automatically without changing any components.ezHEMS™ enables data logging and plotting of wide range material properties I-V curves, resistance, resistivity, sheet resistance, magnetoresistance, carrier concentration, Hall mobility, Hall coefficient as a function of temperature.霍尔效应测量系统为van der波夫和hallbar测量提供了一个创新的解决方案。它独特的设计允许用户测量在80k到500k之间的最终分辨率和准确性。所有磁体移动和温度变化可以自动完成，不改变任何组件。ezHEMS支持数据记录和绘制宽范围材料属性；I -v曲线、电阻、电阻率、片电阻、磁阻、载流子浓度、霍尔迁移率、霍尔系数作为温度的函数。二、ezHEMS技术规格. Resistivity Measurement Range:10-5 to 109 -cm (sample dependent)电阻率测量范围：10-5至109Ω-cm（取决于样品）. Mobility: 0.1 to 107 cm2 / Volt-sec (sample and field dependent)迁移率：0.1至107cm2 / Volt-sec（取决于样品和磁场）. Concentration: 107 to 1021 per cm3 (sample dependent)流子浓度：每立方厘米107至1021（取决于样品）. Current Source: ±2 nA to ±20 mA, ±12V compliance电流源：±2 nA至±20mA，符合±12V. Minimum Hall voltage measurable: 0.1 μV最小可测量霍尔电压：0.1μV. Supports Van der Pauw as well as Hall bar shaped samples支持Van der Pauw以及Hall Bar样品. Magnetic Field: φ70mm, minimum 0.6 Tesla (±5%) permanent magnet, 1Tesla (±5%) magnet is optional磁场：φ70mm，最小0.6Tesla（±5％）永磁体，1Tesla（±5％）磁体可选. 77-500K & 300-773K temperature range with ±0.2 K resolution.温度范围为77-500K和300-773K及±0.2 K分辨率. Pt-100 resistance thermometer Pt-100电阻温度计. Heater and PID temperature controller 加热器和PID温度控制器. Entire temperature range in a single system 每个系统中均有全面的温度调节范围. Computer control through USB interface 电脑通过USB接口进行控制. Samples sizes from 5x5 mm to 20 mm x 20 mm & with thickness ≤6 mm样品尺寸从5x5mm到20mm x 20 mm以及厚度≤6mm. Automated movement of magnets controlled by ezHEMS Control Software Fully automated measurement sequences三、软件系统由ezHEMS的控制软件控制的磁体自动运动可以全自动测量序列. The ezHEMS Measurement System Software ezHEMS测量系统软件. Software Capabilities: Enables data logging and plotting of different measured quantities I-V curve, resistance, resistivity, sheet resistance, magneto resistance, carrier conc., Hall mobility, Hall coefficient etc. as a function of sample temperature (Full functionality of the software depends on the purchased options.)软件功能：启用不同测量数据的数据记录和绘图 I-V曲线，电阻，电阻率，薄层电阻，磁阻，载流子浓度，霍尔迁移率，霍尔系数等作为样品温度的函数（软件的全部功能取决于购买的选项）。.Provides the measured data in tabular form 以表格形式提供测量数据. LabVIEW™ drivers LabVIEW™ 驱动程序规格如有更改，不再另行通知。

产品详情 美国MMR 霍尔效应测量系统 H5000 美国 MMR 公司，与斯坦福大学合作开发了专利的致冷器，其具有世界上最小的震动(埃米级别)、宽控温范围(70~730K)及高温度稳定性(0.1K)，并将其应用在以下测量系统，提高了系统的整体性能。 各个系统均采用模块设计，客户可根据实际要求配置系统，也方便日后升级。 霍尔效应测量系统主要用于研究光电材料的电学特性，利用范德堡测量技术测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。整套系统主要包括控制器、样品室、磁场三部分。 主要参数： 1. 样品固定方式：弹簧探针或引线治具2. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）3. 磁场：5000Gauss 永磁铁，5000Gauss 电磁场， 1.4T 电磁场（可选）4. 温度稳定度：=0.1K5. 温度响应：1K/sec6. 致冷片：10X14 mm7. 电阻率：10-4~1013 Ohm*cm8. 载流子迁移率：1~107 cm2/volt*sec9. 载流子浓度：103~1019cm-310. 电流范围：1 pA~100mA11. 电压范围：+/-2.4V，最小可测到 6X10-6 V12. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms 参考客户： Standford Univ, University of Cambridge, AT&&Bell Labs, NASA, IBM, Intel, AMD，中科院，深圳大学，华南理工大学，上海光机所，上海微系统所，四川大学，上海交通大学，常州大学，东北大学，厦门大学，新疆理化研究所，北京物理所等。

韩国Ecopia霍尔效应测量系统HMS3000，HMS5000 韩国Ecopia霍尔效应测量系统主要用于研究半导体材料/光电材料的电学特性，可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型 主要参数：样品固定方式：弹簧探针或引线治具温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）磁场：5000Gauss永磁铁，5000Gauss电磁场， 1.4T电磁场（可选）温度稳定度：=0.05K温度响应：1K/sec致冷片：10X14 mm电阻率：10-6~1013 Ohm*cm载流子迁移率：10-2~109 cm2/volt*sec载流子浓度：102~1022cm-3电流范围：0.1 pA~10mA电压范围：+/-2.5V，最小可测到6X10-6 V电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms常用型号：HMS3000， HMS5000

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.设备明细：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T 电磁体 （0.5T 永磁体 / 1.4T 电磁体 两种磁场可选）3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜± 1 %3-3测试样品：3-3-1样品测试仓：全封闭、带玻璃窗口3-4温 度：3-4-1温度区域：80K ~730K3-4-2温控精度：0.1K3-4-3温控稳定性：± 0.1 K3-5电阻率范围：10-6~1013 Ohm*cm3-6电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms3-7载流子浓度：102~1022cm-33-8迁移率：10-2~109 cm2/volt*sec3-9输入电流：3-9-1电流范围：0.1 pA~10mA3-9-2电流精度：2%3-10输入电压：3-10-1电压范围：± 2.5V,最小可测到6× 10-6V3-10-2电压分辨率：3× 10-7V3-10-3电压精度：2%

美国 高斯计 数字式霍尔效应电磁场强计产品介绍： 美国 高斯计 数字式霍尔效应电磁场强计代表磁性测量设备的最新设计。该设计采用了数字信号处理技术。动态探头校正允许测量从 0 到 30 kG，基本精度为 1% 。主要功能包括自动零，min./max./peak 保持，自动范围和相对模式。这两种型号都允许用户选择高斯、特斯拉或安培 / 米的读数。5280 和 5270 都具有一个校正后的模拟输出（±3V FS）和一个USB 通信端口。 用户在自定义格式的 LCD 上的提示允许快速，简单的按钮和触摸 操作。所有型号都配备了一个可拆卸的横向探头，零高斯室，使用说明书，硬手提箱，和一个锂离子可充电电池。轴向、超薄横 向和低场探头可作为选择。产品特点：&bull Subark4.3"液晶触摸屏&bull 声音 / 亮度 / 暗模式的控制 &bull 锂离子电池 10 到 14 小时 &bull 通常收费时间为 2 小时&bull 沙痂 USB-C 2.0&bull 远程个人电脑控制选项 &bull 512 kBit 内存（5280）&bull 在范围内时的视听警报（5280）&bull 符合 SubarkCE应用场所：&bull 直流/交流电机测试&bull 磁体测量及分类&bull 磁场分布测试&bull 扬声器品质控制&bull 工具剩磁测量&bull 实验室应用&bull 无损探伤应用&bull 发电厂/变电站干扰磁场测量技术参数：号FWBELL5170FWBELL5180基本精度2% 1%频率范围 DC - 20 kHz DC - 40 kHz屏幕显示采样率4次/秒4次/秒模拟输出采样率-200K次/秒量程 3档3档低量程 200G300G中量程 2KG3KG高量程 20KG30KG分辨率 0.1G 0.1G单位 Gauss, Tesla,A/M Gauss, Tesla, A/M显示位数 3 1/2 LCD 3 3/4 LCD模拟输出 - +3V F.S.模拟输出 -USB工作温度0℃ 至 +50℃储存温度-25℃ 至 +70℃电源 4节AA电池或外接电源尺寸 (长 x 宽 x深) 6.9" (175 mm) x 3.9" (100 mm) x 1.44" (37mm)5180高斯计探头HTD18-0604 4英寸(10.16cm)横向探头STD18-04044英寸(10.16cm)横向探头（标配探头）STD18-04022英寸(5.08cm)横向探头SAD18-19044英寸(10.16cm)轴向探头SAD18-1902 2英寸(5.08cm)轴向探头5170 高斯计探头HTH17-06044英寸(10.16cm)横向探头STH17-04044英寸(10.16cm)横向探头（标配探头）STH17-04022英寸(5.08cm)横向探头SAH17-19044英寸(10.16cm)轴向探头SAH17-19022英寸(5.08cm)轴向探头5170/5180高斯计通用探头 STB1X-0201超薄横向探头(厚度：0.02英寸/0.508mm)MOS51-3204 低场探头5170/5180高斯计通用配件 YA-111校零盒（适用于轴向、横向、低场探头）PSRD-5电源适配器，+5VDC输出、110VAC输入PSRI-5电源适配器，+5VDC输出、220VAC输入

PHYS TECH GmbH RH2035 霍尔效应测试仪器1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：1T 电磁体3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜± 1 %10年内磁场变化＜± 0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K(液氮温度)或室温3-4电阻率范围：1 µ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：25 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：± 10V3-9-2电压分辨率：1&mu V 4.仪器特点：4-1Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-2Routine and enhanced software常规和增强软件4-3Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-4Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-5Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-6Automatic field calibration自动现场标定4-7Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-8Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-9Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-10Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统) 5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点：1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一][HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)]产品规格：1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)；测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户：HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所、华南理工、天合光能...

产品介绍测量包括：• 迁移率测试• DC HEMS: 10^6cm2/Vs to 10cm2/Vs• AC HEMS: 10cm2/Vs to 0.1cm2/Vs• 载流子浓度测试• 电阻率测试• 电阻测量• 低电阻范围 1uohm to 1Mohm• 宽电阻范围 1uohm to 100Gohm• 高电阻范围 1ohm to 100Gohm• 范德堡法测试范围• 霍尔巴法测试 磁帽:• 可更换帽• 标准25mm• 在0-130mm间距连续可调• 更大帽直径可选,50mm,75mm 电磁铁:• ±2.5T@100mmgapwith25mmpoleface• ±35V, ±70A电源• 磁场±IT@25mmpolegap• 线圈电阻: 0.5 ? (20°C)• 水冷温度选项:• 低温 3K-300K• 高温300K-1273K 纳米磁学高斯计:• 磁场扫描采用集成高斯计• 磁场校准采用霍尔探头• 高灵敏度的磁场测量• 所有参数可通过软件控制 样品架:• 4,6 or8范德堡或霍尔巴测试设计• 易于样品安装与弹簧连接• 5mmx5mm样品大小(提供更大选件)• 多个样品安装 控制器和软件:• 使用我们软件可逐层的进行迁移率分析• 基于C# 的全自动软件分析• 非常宽的温度测试范围,3-1,300K• 采用高斯计进行磁场的控制• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试• 提供软件终身升级上海睿忱英国 NanoMagnetics 仪器 HEMS 霍尔效应测量系统, 多样品实验, 非常适合材料研究等应用.